DE102008048572A1 - Light ray's impact point recognizing device, has light source for emitting light ray, and reflecting element formed of two single reflectors, where one of single reflectors is changeable by adjustment - Google Patents
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Abstract
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Feststellen des Auftrefforts eines Lichtflecks auf einem flächigen Element. Solche Lichtflecke entstehen, wenn ein Lichtstrahl auf einen Detektor oder einen Reflektor trifft und dort einen Lichtpunkt erzeugt. Solche Vorrichtungen mit einen Lichtstrahl aussendenden Vorrichtungen und entsprechenden Detektoren und ggf. Reflektoren werden beim Ausrichten von Anlagen, Maschinen und Maschinenteilen oft eingesetzt.The The present invention relates to an apparatus and a method for determining the point of impact of a light spot on a flat surface Element. Such spots of light arise when a ray of light hits a detector or a reflector hits and there a light spot generated. Such devices emitting a light beam Devices and corresponding detectors and possibly reflectors be used when aligning plants, machines and machine parts often used.
In
der Vergangenheit wurden für solche Zwecke Messuhren verwendet.
Oft wurden auch Drähte gespannt. Die Einführung
von optischen Geräten zur Ausrichtung hat den Vorteil,
dass die mit Spiel behafteten und im rauen industriellen Gebrauch
mitunter verbogenen mechanischen Elemente, die bei der Verwendung
von Messuhren erforderlich sind, nicht im gleichen Umfang benötigt
werden. Optische Vorrichtungen und Verfahren zur Ausrichtung von
Anlagen, Maschinen und Maschinenteilen sind aus der
Solche Vorrichtungen und Verfahren haben oft Probleme damit, Schwankungen in der Intensität des Laserstrahls korrekt zu erfassen, besonders wenn als Detektoren Fotodioden oder Position Sensitive Devices (PSD's), die auf Fotodioden basieren, eingesetzt werden. Weiter ist bei analogen mehrdimensional auslesbaren Sensoren eine aufwändige Linearisierung notwendig. Die rechnerische oder elektronische Erfassung pixelorientierter Detektoren ist wiederum schwierig, insbesondere wenn nur eine einzige Aufnahme zur Bestimmung des Auftrefforts des Lichtflecks verwendet wird.Such Devices and methods often have problems with it, fluctuations to correctly detect in the intensity of the laser beam especially if as detectors photodiodes or position sensitive Devices (PSDs) based on photodiodes are used. Next is in analog multi-dimensional readable sensors one elaborate linearization necessary. The mathematical or electronic Detecting pixel-oriented detectors is again difficult, in particular if only one photograph was taken to determine the place of Light spot is used.
Über die Lösung dieser Probleme hinaus ist es Aufgabe der vorliegenden Erfindung, solche lichtoptischen Vorrichtungen zur Feststellung des Huftreffpunkts eines Lichtorts weiter im Hinblick auf Genauigkeit und Auflösung zu verbessern. Insbesondere ist es Aufgabe der vorliegenden Erfindung, höhere Genauigkeit und höhere Ortsauflösung der bereits bekannten elektronischen Elemente durch eine Verbesserung der elektronischen und digitalen Auswertung zu erreichen. Zusätzlich ist es eine Aufgabe, mit der verbesserten Auswertung auch den Abstand des flächigen Elements von der Lichtquelle zu bestimmen. Eine weitere Aufgabe besteht in der Reduzierung der Zahl der eingesetzten Bauelemente.about the solution to these problems, it is the task of the present Invention, such light-optical devices for detection the haunting point of a light spot further in terms of accuracy and to improve resolution. In particular, it is the task of the present invention, higher accuracy and higher Spatial resolution of the already known electronic elements by improving the electronic and digital evaluation to reach. In addition, it is a task with the improved Evaluation also the distance of the planar element of to determine the light source. Another task is the Reduction in the number of components used.
Diese Aufgaben werden dadurch gelöst, dass in neuartiger Weise ein Reflektor eingesetzt wird, der aus mehreren einzelnen, mechanisch beweglichen reflektierenden Elementen besteht. Diese mechanische Beweglichkeit der Einzelspiegel, also eine Änderung ihrer Ausrichtung relativ zum einfallenden Lichtstrahl, ist die Eigenschaft der Einzelspiegel, die in der vorliegenden Erfindung ausgenutzt wird.These Tasks are solved in a novel way a reflector is used, consisting of several individual, mechanical consists of movable reflective elements. This mechanical Mobility of the individual mirror, so a change in their Orientation relative to the incident light beam is the property the single mirror, which is exploited in the present invention.
In
der einfachsten Form der Erfindung, siehe
Dabei
können nach der Lichtquelle
Erfindungsgemäß ist
dabei der Reflektor
Wenn in einer Matrix von Einzelspiegeln zunächst zeilenweise und dann spaltenweise einzelne Spalten und Zeilen nacheinander so geschaltet werden, dass sie den Detektor nicht mehr treffen, ändert sich die Signalstärke auf dem Detektor. Werden nun Signalstärken auf dem Detektor den einzelnen weggeklappten Spiegelelementen zugeordnet, so kann der Auftreffort des Lichtflecks auf dem Reflektor mit hoher Auflösung und hoher Genauigkeit bestimmt werden. Tatsächlich kann so ein Profil, also eine Verteilung der Intensität über den Ort, für den jeweiligen Lichtfleck aufgenommen werden.If, in a matrix of individual mirrors, individual columns and rows are switched one row at a time and then one column at a time so that they no longer hit the detector, the signal strength on the detector changes. If signal strengths on the detector are now assigned to the individual mirror-folded mirror elements, the point of incidence of the light spot on the reflector can be determined with high resolution and high accuracy. In fact, such a profile, ie an Ver Sharing of the intensity over the place to be recorded for each light spot.
Wenn
nun zusätzlich zur Stärke des gesamten Signals
auf dem Detektor auch noch der Auftreffort auf dem Detektor gemessen
wird, z. B. durch Verwendung von PSDs oder pixelorientierter Detektoren,
wie sie z. B. in Digitalkameras verwendet werden, kann außer
dem Auftreffort auf dem Reflektor auch der Auftreffort auf dem Detektor
ausgelesen werden. So ist es möglich, dann nicht nur den
parallelen Versatz, sondern auch den Winkelversatz zu bestimmen.
In den in der
In
der in
Ein wichtiges Element der vorliegenden Erfindung ist es, dass es einerseits möglich ist, durch Auswertung des Detektorsignals den Auftreffort des Lichtstrahls auf dem Reflektor zu bestimmen, indem der Effekt der Änderung der Ausrichtung der Einzelspiegel auf das Detektorsignal aufgenommen wird. Andererseits wird mit der vorliegenden Erfindung durch die Änderung der Ausrichtung der Einzelspiegel auch die Erfassung des Auftrefforts des Lichtstrahls auf dem Detektor verbessert, indem das auftreffende Signal in mehreren hintereinander erfolgenden Aufnahmen bei verschiedener Ausrichtung der Einzelspiegel erfasst wird.One important element of the present invention is that on the one hand is possible by evaluating the detector signal the impact location of the light beam on the reflector to determine the effect the change in the orientation of the individual mirror on the Detector signal is recorded. On the other hand, with the present Invention by changing the orientation of the individual mirror also the detection of the location of the light beam on the detector improved by the impinging signal in several consecutive taking pictures with different orientation of the individual mirror is detected.
Weiter
ist es mit der Erfindung möglich, auch die Entfernung zwischen
der Lichtquelle und dem reflektierenden Element zu bestimmen. Dies
kann dadurch erreicht werden, dass die Form und die Signalstärke
des Lichtflecks auf dem Detektor einerseits aus der Charakteristik
der Lichtquelle und der abbildenden Elemente
In
In
der im Zusammenhang mit
In
einer anderen besonders vorteilhaften Ausführungsform der
Erfindung ist es vorgesehen, dass der MEMS-Spiegel gleichzeitig
auch als Fotodetektor ausgeführt ist. Das heißt,
dass jeder Einzelspiegel des flächigen Elements, also des
Reflektors, gleichzeitig zum Beispiel als Fotodiode ausgeführt
ist oder auch als ein Pixel eines CCD- oder CMOS-Detektors. Ein
Fotodetektor und das reflektierende Element fallen dann zusammen.
Es ist möglich, auf einen der beiden Detektoren
In
der
In
der
Mit der vorliegenden Erfindung kann also die Genauigkeit bestehender Vorrichtungen in mehrfacher Hinsicht verbessert werden, indem die bestehenden Vorrichtungen durch die Einfügung eines aus mehreren Einzelspiegeln bestehenden reflektierenden Elements erweitert werden, das seinerseits andere Elemente ersetzen kann, wie z. B. Strahlteiler oder Fotodetektoren.With The present invention can therefore the accuracy of existing Devices can be improved in several ways by the existing devices by the insertion of one of several Single mirrors be expanded to existing reflective element, which in turn can replace other elements, such as B. beam splitter or Photodetectors.
Erstens kann die Zahl der gemessenen Auftrefforte erhöht werden. So ist eine bessere Mittelung möglich. Zweitens wird die Genauigkeit gesteigert, indem zum Beispiel immer Zeilen und Spalten von Spiegeln oder sogar einzelne Spiegel in ihren Auswirkungen auf die Signalstärke und/oder den Auftreffort untersucht werden können. Drittens wird die digitale Auswertung der die Detektorsignale zwar aufwändiger, aber auch stark verbessert. So können nun den z. B. spalten-/zeilenweise ausgelenkten Spiegeln Signalstärken und ggf. Signalorte einzelner Teile des Lichtflecks zugeordnet werden. In Zusammenhang mit der Berechnung der Intensitätsverteilung und Ortsverteilung eines Lichtflecks kann nun auch der Abstand zwischen Lichtquelle und flächigem Element berechnet werden. Dies war vor der Erfindung nicht möglich.First the number of measured points of incidence can be increased. So a better averaging is possible. Second, the Accuracy increased by, for example, always rows and columns of mirrors or even individual mirrors in their effects the signal strength and / or the impact location are examined can. Third, the digital evaluation of the detector signals Although more complex, but also greatly improved. So can now the z. B. column / line deflected mirrors signal strengths and possibly signal locations of individual parts of the light spot are assigned. In connection with the calculation of the intensity distribution and spatial distribution of a light spot can now also the distance between Calculated light source and planar element. This was not possible before the invention.
Weiter ist es möglich, dem Lichtfleck bestimmte geometrische Formen zu geben. Bisher wurde in dieser Beschreibung von einem Lichtfleck gesprochen, der im Normalfall über einen mehr oder weniger punktförmigen oder elliptischen Querschnitt verfügt. Es kann aber auch sinnvoll sein, den Lichtstrahl so aufzuweiten oder auszublenden, dass auf dem flächigen Element eine Linie entsteht. Auch andere Figuren, wie Fadenkreuze, Sterne, Ringe oder Gittermuster können mit der vorliegenden Erfindung verwendet werden.Further It is possible, the light spot certain geometric shapes to give. So far in this description was a light spot usually speaking about one more or less has point-shaped or elliptical cross-section. But it may also be useful to expand the light beam so or hide that on the sheet element a Line arises. Also other figures, such as crosshairs, stars, rings or lattice patterns can be used with the present invention become.
Bei Auswahl einer geeigneten Form kann die digitale oder elektronische Auswertung entsprechend gewählt werden. Wenn z. B. eine gerade Linie als Form des Lichtstrahls gewählt wird, so kann die Ansteuerung der Einzelspiegel in einem ersten Versuch zeilen- und spaltenweise erfolgen. Wird nur eine einfache Fotodiode als Detektor verwendet, so kann aufgrund des Ergebnisses dieser ersten Messung eine zweite vorgenommen werden, bei der das Ergebnis der im Computer vorgenommenen Anpassung einer Geraden an die Orte der Einzelspiegel, deren Bewegung die höchste Verringerung des Signals auf der Fotodiode mit sich brachte. Dann werden nur noch diese Spiegel in ihrer Ausrichtung verändert, so dass der von ihnen reflektierte Teil der Lichtlinie nicht mehr auf die Fotodiode gelangen kann. Auf der Basis dieser zweiten Messung können dann iterativ diejenigen Einzelspiegel ermittelt werden, deren Auslenkung das Signal auf der Fotodiode ganz zum Verschwinden bringt. Wenn diese dann einmal ermittelt sind, kann weiter in einer komplementären Vergleichsmessung durch Auslenken nur der nach den bisherigen Ergebnissen nicht getroffenen Einzelspiegel überprüft werden, ob sich jetzt das Signal der Fotodiode nicht verringert. Es versteht sich, dass die hier für eine Lichtlinie vorgenommenen Überlegungen auch auf andere geometrische Figuren angewendet werden können. Es können auch die bekannten Verfahren zur Auswertung von Signalen auf bildgebenden Sensoren herangezogen werden, die nicht notwendigerweise den oben beschriebenen iterativen Prozess umfassen.at Selection of a suitable form can be digital or electronic Evaluation be selected accordingly. If z. Legs straight line is chosen as the shape of the light beam, so can control the individual mirrors in a first attempt row- and in columns. Will only use a simple photodiode as Detector can be used as a result of this first Measurement can be made a second, in which the result of the made in the computer adjusting a straight line to the places of Single mirror, whose movement is the highest reduction of the signal on the photodiode. Then only even these mirrors changed their orientation, so that the Part of the light line reflected from them no longer on the photodiode can get. On the basis of this second measurement can then iteratively those individual levels are determined whose deflection the Signal on the photodiode completely disappears. If those Once determined, may continue in a complementary Comparison measurement by deflecting only after the previous results untreated individual mirrors are checked, if now the signal of the photodiode does not decrease. It understands itself, that the reflections made here for a line of light can also be applied to other geometric figures. It can also the known methods for the evaluation of Signals are used on imaging sensors, not necessarily include the iterative process described above.
Vorrichtung
und Verfahren der vorliegenden Erfindung können vorteilhaft
nicht nur, wie in der
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNGQUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION
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Claims (17)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102008048572A DE102008048572A1 (en) | 2008-09-23 | 2008-09-23 | Light ray's impact point recognizing device, has light source for emitting light ray, and reflecting element formed of two single reflectors, where one of single reflectors is changeable by adjustment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE102008048572A DE102008048572A1 (en) | 2008-09-23 | 2008-09-23 | Light ray's impact point recognizing device, has light source for emitting light ray, and reflecting element formed of two single reflectors, where one of single reflectors is changeable by adjustment |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102008048572A1 true DE102008048572A1 (en) | 2010-03-25 |
Family
ID=41693856
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102008048572A Withdrawn DE102008048572A1 (en) | 2008-09-23 | 2008-09-23 | Light ray's impact point recognizing device, has light source for emitting light ray, and reflecting element formed of two single reflectors, where one of single reflectors is changeable by adjustment |
Country Status (1)
Country | Link |
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