DE102008013898A1 - Opto-electronic element has semiconductor body, which has semiconductor layer sequence, where semiconductor layer sequence has two main surfaces, which are opposite to each other - Google Patents

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Abstract

The opto-electronic element (1), has a semiconductor body, which has a semiconductor layer sequence (3). The semiconductor layer sequence has two main surfaces (4,5), which are opposite to each other and are provided at its surface. A carrier (2) is arranged on a side of the semiconductor body, where the side faces the semiconductor layer sequence. Independent claims are included for the following: (1) an arrangement of an opto-electronic element; and (2) a method for manufacturing an opto-electronic element.

Description

Die Erfindung betrifft ein optoelektronisches Bauelement, eine Anordnung und ein Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements.The The invention relates to an optoelectronic component, an arrangement and a method for producing an optoelectronic component.

In der US 6641284 B2 wird eine Lichtquelle beschrieben, die einen parabolischen Reflektor zur Kollimation von Licht einer LED benützt. Die LED wird dabei im Fokus des Reflektors angeordnet und hat einen größeren Abstrahlwinkel, als jener reflektierte Lichtstrahl mit dem Reflektor. Eine optionale zusätzliche Kollimationslinse ist derart vor der LED angeordnet, dass jene Strahlen, die über den Parabolreflektor gehen würden, kollimiert werden. Die LED's sind in einer linearen Reihe angeordnet.In the US 6641284 B2 describes a light source that uses a parabolic reflector to collimate light from an LED. The LED is arranged in the focus of the reflector and has a larger beam angle, as that reflected light beam with the reflector. An optional additional collimating lens is positioned in front of the LED such that those rays that would pass through the parabolic reflector are collimated. The LEDs are arranged in a linear row.

In der DE 102004013226 A1 wird eine LED-Reflektor-Einheit beschrieben, bei der eine Mehrzahl von LED-Elementen wärmeleitend auf einem Substrat angeordnet sind und eine räumlich gekrümmte Reflektor-Einheit anstrahlen. Die ein- oder mehrfach reflektierte Strahlung wird durch eine beispielsweise kreis- oder linienförmige Öffnung mit etwa entgegengesetzter Richtung ausgekoppelt.In the DE 102004013226 A1 An LED reflector unit is described in which a plurality of LED elements are arranged in a heat-conducting manner on a substrate and illuminate a spatially curved reflector unit. The single or multiple reflected radiation is coupled out by an example circular or linear opening with approximately opposite direction.

Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist, ein optoelektronisches Bauelement zu schaffen, das eine gute Abstrahlung von elektromagnetischer Strahlung ermöglicht. Außerdem soll ein Verfahren angegeben werden, durch welches es ermöglicht wird, in einfacher Weise ein optoelektronisches Bauelement mit guter Abstrahlung von elektromagnetischer Strahlung herzustellen.The The object of the present invention is an optoelectronic component to create that good radiation of electromagnetic radiation allows. In addition, a method is specified will be made easier by which it is made possible Way an optoelectronic device with good radiation of produce electromagnetic radiation.

Diese Aufgabe wird gelöst durch die Merkmale der unabhängigen Patentansprüche. Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.These Task is solved by the characteristics of the independent Claims. Advantageous embodiments and developments The invention are characterized in the subclaims.

Gemäß eines ersten Aspekts zeichnet sich die Erfindung aus durch ein optoelektronisches Bauelement mit einem Halbleiterkörper, der epitaktisch gewachsen ist und der eine Halbleiterschichtenfolge umfasst, die zumindest eine erste Hauptfläche und eine gegenüberliegende zweite Hauptfläche an seiner Oberfläche umfasst, und einem Träger mit zumindest einem Reflektor, wobei der Reflektor ausgebildet ist, elektromagnetische Strahlung, die von dem Halbleiterkörper emittiert wird, zu reflektieren und zwar derart, dass sie zumindest teilweise unter Umgehung der ersten Hauptfläche des Halbleiterkörpers aus dem Halbleiterkörper emittiert wird. Der Träger ist auf der der ersten Hauptfläche der Halbleiterschichtenfolge zugewandten Seite des Halbleiterkörpers angeordnet und ist von einem Aufwachssubstrat für den Halbleiterkörper verschieden.According to one In the first aspect, the invention is characterized by an optoelectronic Component with a semiconductor body that has grown epitaxially and which comprises a semiconductor layer sequence that is at least a first major surface and an opposite one second major surface on its surface, and a support having at least one reflector, wherein the Reflector is formed electromagnetic radiation generated by the semiconductor body is emitted to reflect and that such that they are at least partially bypassing the first major surface of the semiconductor body from the semiconductor body is emitted. The carrier is on the first major surface the semiconductor layer sequence facing side of the semiconductor body is arranged and is of a growth substrate for the semiconductor body different.

Bei dem optoelektronisches Bauelement handelt es sich um ein Halbleiterbauelement, welches bevorzugt eine Halbleiterschichtenfolge aufweist, die geeignet ist, eine elektromagnetische Strahlung zu emittieren. In diesem Fall wird durch das optoelektronische Bauelement elektromagnetische Strahlung vorzugsweise in eine Hauptabstrahlrichtung ausgesendet, welche ausgehend von der Halbleiterschichtenfolge in eine entgegengesetzte Richtung des Trägers weist. Beispielsweise ist das optoelektronische Bauelement ein Lumineszenzdiodenchip, insbesondere ein UV-Lumineszenzdiodenchip. Das optoelektronische Bauelement ist auch geeignet einen Strahlungsempfänger zu bilden, beispielsweise einen Sensor. In diesem Fall werden sehr gute Empfangseigenschaften ermöglicht. Beispielsweise kann die lichtempfangende Fläche eines Detektors vergrößert werden.at the optoelectronic component is a semiconductor component, which preferably has a semiconductor layer sequence that is suitable is to emit an electromagnetic radiation. In this Case becomes electromagnetic by the optoelectronic component Radiation preferably emitted in a main emission direction, which starting from the semiconductor layer sequence in an opposite direction the wearer points. For example, the optoelectronic component a luminescence diode chip, in particular a UV luminescence diode chip. The optoelectronic component is also suitable for a radiation receiver to form, for example, a sensor. In this case will be very good reception properties possible. For example, can the light-receiving surface of a detector increases become.

Dadurch, dass der Reflektor zumindest teilweise ein reflektierendes Material aufweist, ist es insbesondere möglich, elektromagnetische Strahlung, die beispielsweise von einem Lumineszenzdiodenchip emittiert wird, auszukoppeln und somit in eine gewünschte Abstrahlrichtung oder einen gewünschten Abstrahl-Raumwinkel umzulenken. Somit kann eine gute Effizienz des optoelektronischen Bauelements erreicht werden. Da der Reflektor nicht an die Dimension des Halbleiterkörpers gebunden ist, wird beispielsweise eine Strahlaufweitung ermöglicht. Somit kann zum Beispiel eine Flächenlichtquelle ausgebildet werden. Durch geeignete Wahl des Materials kann die Absorption der emittierten elektromagnetischen Strahlung minimiert werden und beispielsweise ein UV-Lumineszenzdiodenchip ausgebildet werden.Thereby, that the reflector at least partially a reflective material In particular, it is possible to use electromagnetic Radiation emitted, for example, from a Lumineszenzdiodenchip is to decouple and thus in a desired direction of radiation or to redirect a desired radiation solid angle. Thus, a good efficiency of the optoelectronic component be achieved. Because the reflector does not match the dimension of the semiconductor body is bound, for example, a beam expansion is possible. Thus, for example, a surface light source may be formed become. By suitable choice of the material, the absorption of the emitted electromagnetic radiation can be minimized and, for example a UV luminescence diode chip can be formed.

Der Träger kann beispielsweise transparente Keramiken oder Kristalle umfassen, welche zum Beispiel im Vergleich zu Glas hohe Wärmeleitfähigkeiten aufweisen können. Dadurch kann zum Beispiel entstehende Wärme der Halbleiterschichtenfolge vorteilhaft abgeführt werden und ein besonders zuverlässiger Betrieb des optoelektronischen Bauelements kann ermöglicht werden.Of the Carrier, for example, transparent ceramics or Crystals include, for example, which are high compared to glass May have thermal conductivities. As a result, for example, resulting heat of the semiconductor layer sequence be advantageously dissipated and a particularly reliable Operation of the optoelectronic component can be made possible become.

In einer vorteilhaften Ausgestaltung ist der Reflektor zumindest teilweise konkav ausgebildet.In In an advantageous embodiment, the reflector is at least partially concave.

Durch eine derartige Ausbildung des Reflektors kann eine verbesserte Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung ermöglicht werden. Auch kann elektromagnetische Strahlung, die beispielsweise von einem Lumineszenzdiodenchip emittiert wird, in eine gewünschte Abstrahlrichtung oder einen gewünschten Abstrahl-Raumwinkel umgelenkt werden. Somit kann die Effizienz des optoelektronischen Bauelements gesteigert werden.By Such a design of the reflector can be an improved coupling the electromagnetic generated in the semiconductor layer sequence Radiation can be enabled. Also can be electromagnetic Radiation emitted, for example, from a Lumineszenzdiodenchip is, in a desired direction of radiation or a desired Radiation solid angle are deflected. Thus, the efficiency of the Optoelectronic device can be increased.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung ist der Reflektor zumindest teilweise konvex ausgebildet.In a further advantageous embodiment the reflector is at least partially convex.

Durch eine derartige Ausbildung des Reflektors kann eine verbesserte Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung ermöglicht werden. Auch kann elektromagnetische Strahlung, die beispielsweise von einem Lumineszenzdiodenchip emittiert wird, in eine gewünschte Abstrahlrichtung oder einen gewünschten Abstrahl-Raumwinkel umgelenkt werden. Somit kann die Effizienz des optoelektronischen Bauelements gesteigert werden.By Such a design of the reflector can be an improved coupling the electromagnetic generated in the semiconductor layer sequence Radiation can be enabled. Also can be electromagnetic Radiation emitted, for example, from a Lumineszenzdiodenchip is, in a desired direction of radiation or a desired Radiation solid angle are deflected. Thus, the efficiency of the Optoelectronic device can be increased.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung ist der Reflektor zumindest teilweise parabolisch ausgebildet.In In a further advantageous embodiment, the reflector is at least partially parabolic.

Durch eine derartige Ausbildung des Reflektors kann eine verbesserte Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung ermöglicht werden. Somit kann die Effizienz des optoelektronischen Bauelements gesteigert werden.By Such a design of the reflector can be an improved coupling the electromagnetic generated in the semiconductor layer sequence Radiation can be enabled. Thus, the efficiency of the Optoelectronic device can be increased.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung ist der Reflektor zumindest teilweise zylinderförmig ausgebildet.In In a further advantageous embodiment, the reflector is at least partially cylindrical.

Durch eine derartige Ausbildung des Reflektors kann eine verbesserte Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung ermöglicht werden. Somit kann die Effizienz des optoelektronischen Bauelements gesteigert werden.By Such a design of the reflector can be an improved coupling the electromagnetic generated in the semiconductor layer sequence Radiation can be enabled. Thus, the efficiency of the Optoelectronic device can be increased.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung ist der Reflektor zumindest teilweise kugelförmig ausgebildet.In In a further advantageous embodiment, the reflector is at least partially spherical.

Durch eine derartige Ausbildung des Reflektors kann eine verbesserte Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung ermöglicht werden. Somit kann die Effizienz des optoelektronischen Bauelements gesteigert werden.By Such a design of the reflector can be an improved coupling the electromagnetic generated in the semiconductor layer sequence Radiation can be enabled. Thus, the efficiency of the Optoelectronic device can be increased.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung umfasst die Halbleiterschichtenfolge einen aktiven Bereich, welcher zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung ausgebildet ist.In In a further advantageous embodiment, the semiconductor layer sequence comprises an active area, which is used to generate electromagnetic Radiation is formed.

Bevorzugt umfasst der Halbleiterkörper III-V-Halbleitermaterialien. Mit III-V-Halbleitermaterialien können bei der Strahlungserzeugung vorteilhaft hohe interne Quanteneffizienzen erzielt werden.Prefers the semiconductor body comprises III-V semiconductor materials. III-V semiconductor materials can be used in radiation generation advantageously high internal quantum efficiencies can be achieved.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung ist die Halbleiterschichtenfolge zumindest teilweise elastisch ausgebildet.In A further advantageous embodiment is the semiconductor layer sequence at least partially elastic.

Dadurch, dass die Halbleiterschichtenfolge zumindest teilweise elastisch ausgebildet ist, ist es beispielsweise möglich, dass durch das optoelektronische Bauelement elektromagnetische Strahlung vorwiegend in einer gewünschten Abstrahlrichtung oder einem gewünschten Abstrahl-Raumwinkel ausgesendet wird. Beispielsweise kann eine Strahlaufweitung ermöglicht werden. Somit kann eine gute Effizienz des optoelektronischen Bauelements erreicht werden. Beispielsweise kann die Halbleiterschichtenfolge Galliumnitrid (GaN) umfassen mit zum Beispiel einem durchschnittlichen Elastizitätsmodul von etwa 297GPA.Thereby, that the semiconductor layer sequence is at least partially elastic is formed, it is possible, for example, that the optoelectronic component electromagnetic radiation predominantly in a desired direction of radiation or a desired Radiation solid angle is emitted. For example, a beam expansion be enabled. Thus, a good efficiency of the optoelectronic Component can be achieved. For example, the semiconductor layer sequence Gallium nitride (GaN) include, for example, an average Young's modulus of about 297GPA.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung ist zur Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung auf der ersten Hauptfläche und/oder der zweiten Hauptfläche der Halbleiterschichtenfolge zumindest ein Auskoppelprisma ausgebildet.In a further advantageous embodiment is for decoupling the electromagnetic radiation generated in the semiconductor layer sequence on the first major surface and / or the second major surface the semiconductor layer sequence formed at least one Auskoppelprisma.

An den Grenzflächen der Halbleiterschichtenfolge erfolgt ein Sprung der Brechungsindizes von dem Material der Halbleiterschichtenfolge einerseits zu dem umgebenden Materials andererseits. Dadurch kommt es zu einer Brechung der elektromagnetischen Wellen beim Übergang von der Halbleiterschichtenfolge in die Umgebung. Je nach Winkel, in dem eine elektromagnetische Welle beziehungsweise ein Photon auf die Grenzfläche auftrifft, kann es zur Totalreflektion kommen. Aufgrund der bevorzugt parallelen Oberflächen der Halbleiterschichtenfolge trifft die reflektierte elektromagnetische Welle im gleichen Winkel auf der gegenüber liegenden Grenzfläche auf, so dass auch dort Totalreflektion auftritt. Die Folge ist, dass sich die elektromagnetische Welle in der Halbleiterschichtenfolge tot läuft und somit nichts zur Abstrahlung beitragen kann. Dadurch, dass Maßnahmen wie beispielsweise ein Auskoppelprisma vorgesehen sind zur Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung, wird der Winkel verändert, in dem eine elektromagnetische Welle auf die Oberfläche auftrifft. Somit kann eine verbesserte Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung ermöglicht werden. Insbesondere kann eine Auskopplung etwa durch eine zumindest partielle Mikroprismenstrukturierung einer Hauptfläche verbessert werden. Durch ein Auskoppelprisma kann beispielsweise in dem Bereich des Auskoppelprismas ein anderer Auftreffwinkel einer elektromagnetischen Welle auf eine Grenzfläche entstehen als in zu dem Auskoppelprisma benachbarten Bereichen der Hauptfläche. Folglich können sich in verschiedenen Bereichen der Hauptflächen unterschiedliche Lagen der Grenzflächen ergeben, was die Auskopplung von elektromagnetischer Strahlung verbessern kann.At the interfaces of the semiconductor layer sequence takes place Jump of the refractive indices of the material of the semiconductor layer sequence on the one hand to the surrounding material on the other. This comes there is a refraction of the electromagnetic waves during the transition from the semiconductor layer sequence to the environment. Depending on the angle, in which an electromagnetic wave or a photon If it strikes the interface, it can cause total reflection come. Due to the preferably parallel surfaces of Semiconductor layer sequence meets the reflected electromagnetic Wave at the same angle on the opposite interface on, so that even there total reflection occurs. The result is, that the electromagnetic wave in the semiconductor layer sequence Dead runs and thus can contribute nothing to the radiation. The fact that measures such as a Auskoppelprisma provided are for decoupling the generated in the semiconductor layer sequence electromagnetic radiation, the angle is changed, in which an electromagnetic wave on the surface incident. Thus, an improved outcoupling of the in the semiconductor layer sequence generated electromagnetic radiation. In particular, a decoupling can be achieved by an at least partial Microprism structuring of a major surface improved become. By a decoupling prism can, for example, in the area of the decoupling prism another angle of impact of an electromagnetic Wave on an interface arise as in to the decoupling prism adjacent areas of the main area. Consequently, you can different in different areas of the main areas Layers of the interfaces show what the coupling of can improve electromagnetic radiation.

Insbesondere können die Maßnahmen zur Verbesserung der Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung wie beispielsweise ein Auskoppelprisma auf beiden Hauptflächen der Halbleiterschichtenfolge vorgesehen sein.In particular, the measures for improving the decoupling in the semiconductor layer sequence generated electromagnetic radiation such as a Auskoppelprisma be provided on both major surfaces of the semiconductor layer sequence.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung sind zur Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung die erste Hauptfläche und/oder die zweite Hauptfläche der Halbleiterschichtenfolge zumindest partiell aufgeraut.In a further advantageous embodiment are for decoupling the electromagnetic generated in the semiconductor layer sequence Radiation the first major surface and / or the second major surface of the Semiconductor layer sequence roughened at least partially.

Insbesondere kann eine verbesserte Auskopplung elektromagnetischer Strahlung aus der Halbleiterschichtenfolge durch eine zumindest partielle Oberflächenstrukturierung einer Hauptfläche ermöglicht werden. Somit kann eine verbesserte Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung ermöglicht werden. Insbesondere kann eine Auskopplung etwa durch eine Rauhigkeitserhöhung zumindest eines Teils einer Hauptfläche verbessert werden. Werden Aufrauungen der Oberfläche vorgesehen, so ist dadurch eine unregelmäßige Oberfläche gebildet, die die Auskopplung von elektromagnetischer Strahlung verbessern kann.Especially can be an improved coupling of electromagnetic radiation from the semiconductor layer sequence by an at least partial Surface structuring of a major surface allows become. Thus, an improved outcoupling of the in the semiconductor layer sequence generated electromagnetic radiation. In particular, a decoupling can be achieved by increasing the roughness at least a part of a main surface can be improved. If roughening of the surface is provided, it is characterized an irregular surface formed, which improve the decoupling of electromagnetic radiation can.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung ist auf der von dem Träger abgewandten Seite der Halbleiterschichtenfolge und/oder auf der von dem Träger zugewandten Seite der Halbleiterschichtenfolge eine Stromverteilungsstruktur angeordnet.In a further advantageous embodiment is on the of the carrier opposite side of the semiconductor layer sequence and / or on the from the carrier side facing the semiconductor layer sequence a current distribution structure arranged.

Insbesondere übernimmt die Stromverteilungsstruktur eine elektrische Funktion und ist derart beschaffen, dass sie zur Stromaufweitung dient. Ein zugeführter Strom kann in der Stromverteilungsstruktur auf verschiedene Bereiche der Halbleiterschichtenfolge verteilt werden. Dadurch kann eine verbesserte Erzeugung der elektromagnetischen Strahlung in der Halbleiterschichtenfolge ermöglicht werden. Somit kann die Effizienz des optoelektronischen Bauelements gesteigert werden.In particular, takes over the power distribution structure is an electrical function and is such that it serves to stream expansion. A supplied stream can be applied to different areas of the power distribution structure Semiconductor layer sequence are distributed. This can be an improved Generation of the electromagnetic radiation in the semiconductor layer sequence be enabled. Thus, the efficiency of the optoelectronic Component can be increased.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung ist auf der dem Träger zugewandter Seite der Halbleiterschichtenfolge zumindest eine Verspiegelung angeordnet.In a further advantageous embodiment is on the the carrier facing side of the semiconductor layer sequence at least one Verspiegelung arranged.

Die Verspiegelung ermöglicht es, elektromagnetische Strahlung zu reflektieren und beispielsweise aus der dem Träger gegenüber liegender Hauptfläche aus dem Halbleiterkörper abzustrahlen. Da die Halbleiterschichtenfolge bevorzugt durch beide Hauptflächen elektromagnetische Strahlung aussendet, geht die reflektierte elektromagnetische Strahlung nicht verloren, sondern wird in die entgegen gesetzte Richtung emittiert.The Mirroring allows electromagnetic radiation to reflect and for example from the carrier opposite lying main surface of the semiconductor body radiate. Since the semiconductor layer sequence preferably by both major surfaces emits electromagnetic radiation, the reflected electromagnetic goes Radiation is not lost, but is in the opposite direction Direction emitted.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung umfasst das optoelektronische Bauelement zumindest einen ersten elektrischen Kontaktbereich, der mit der ersten Hauptfläche der Halbleiterschichtenfolge elektrisch leitend verbunden ist.In A further advantageous embodiment comprises the optoelectronic Component at least a first electrical contact area, with the first main surface of the semiconductor layer sequence electrically is conductively connected.

Über den ersten elektrischen Kontaktbereich kann Strom zugeführt werden, um eine elektrische Kontaktierung des optoelektronischen Bauelements zu ermöglichen. Der erste elektrische Kontaktbereich ermöglicht den Anschluss des optoelektronischen Bauelements in vereinfachter Weise.about The first electrical contact area can be supplied with power be an electrical contact of the optoelectronic To enable component. The first electrical contact area allows the connection of the optoelectronic device in a simplified Wise.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung umfasst das optoelektronische Bauelement zumindest einen zweiten elektrischen Kontaktbereich, der mit der zweiten Hauptfläche der Halbleiterschichtenfolge elektrisch leitend verbunden ist.In A further advantageous embodiment comprises the optoelectronic Component at least a second electrical contact area, the one with the second main surface of the semiconductor layer sequence is electrically connected.

Über den zweiten elektrischen Kontaktbereich kann Strom zugeführt werden, um eine elektrische Kontaktierung des optoelektronischen Bauelements zu ermöglichen. Der zweite elektrische Kontaktbereich ermöglicht den Anschluss des optoelektronischen Bauelements in vereinfachter Weise.about Power can be supplied to the second electrical contact region be an electrical contact of the optoelectronic To enable component. The second electrical contact area allows the connection of the optoelectronic component in a simplified way.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung ist auf der der Halbleiterschichtenfolge zugewandten Seite des ersten elektrischen Kontaktbereichs und/oder des zweiten elektrischen Kontaktbereichs eine Verspiegelung vorgesehen.In A further advantageous embodiment is on the semiconductor layer sequence facing side of the first electrical contact area and / or the second electrical contact area provided a mirror coating.

Die Verspiegelung ermöglicht es, die Absorption der elektromagnetischen Strahlung in Bereichen zumindest eines elektrischen Kontaktbereichs zu verringern. Elektromagnetische Strahlung kann durch die Verspiegelung reflektiert werden und beispielsweise auf der gegenüber liegenden Hauptfläche ausgesendet werden. Somit geht die reflektierte elektromagnetische Strahlung nicht verloren, sondern kann in entgegen gesetzter Richtung emittiert werden. Somit kann die Effizienz des optoelektronischen Bauelements gesteigert werden.The Mirroring allows the absorption of the electromagnetic Radiation in areas of at least one electrical contact area reduce. Electromagnetic radiation can be through the mirroring be reflected and, for example, on the opposite lying main surface are sent out. Thus, the reflected electromagnetic radiation is not lost, but can be emitted in the opposite direction. Thus, can the efficiency of the optoelectronic device can be increased.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung sind der erste elektrische Kontaktbereich und/oder der zweite elektrische Kontaktbereich streifenförmig, insbesondere rahmenförmig ausgestaltet zur Stromverteilung auf verschiedene Bereiche der Halbleiterschichtenfolge.In a further advantageous embodiment, the first electrical Contact area and / or the second electrical contact area strip-shaped, in particular frame-shaped designed to distribute power to different Areas of the semiconductor layer sequence.

Ein zugeführter Strom kann somit besonders gut auf verschiedene Bereiche der Halbleiterschichtenfolge verteilt werden. Dadurch kann eine verbesserte Erzeugung der elektromagnetischen Strahlung in der Halbleiterschichtenfolge ermöglicht werden. Somit kann die Effizienz des optoelektronischen Bauelements gesteigert werden.One supplied power can thus be particularly good at different Regions of the semiconductor layer sequence are distributed. This can an improved generation of electromagnetic radiation in the semiconductor layer sequence are made possible. Thus, can the efficiency of the optoelectronic device can be increased.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung umfasst die Halbleiterschichtenfolge aneinander angrenzender Schichten einen n-dotierten Indiumgalliumnitrid-Bereich und einen p-dotierten Indiumgalliumnitrid-Bereich.In a further advantageous embodiment, the semiconductor layer sequence comprises one another an n-doped Indiumgalliumnitridbereich and a p-doped Indiumgalliumnitridbereich.

Dadurch kann eine verbesserte Erzeugung der elektromagnetischen Strahlung in der Halbleiterschichtenfolge ermöglicht werden. Somit kann die Effizienz des optoelektronischen Bauelements gesteigert werden.Thereby can be an improved generation of electromagnetic radiation be made possible in the semiconductor layer sequence. Consequently can increase the efficiency of the optoelectronic device become.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung weist der Träger eine Trägerfolie auf.In a further advantageous embodiment, the carrier a carrier film on.

Die Trägerfolie kann aus einem transparenten Material sein, um die Abstrahlung aus der Halbleiterschichtenfolge in Richtung des Trägers zu ermöglichen. Die Trägerfolie kann beispielsweise elektrisch leitend ausgestaltet werden oder es wird zumindest eine Kontaktbahn vorgesehen, während die restlichen Bereiche der Trägerfolie nicht leitend sind. Zumindest auf der der Halbleiterschichtenfolge zugewandten Seiten der Trägerfolie kann zumindest eine Kontaktbahn vorgesehen sein, um eine elektrische Kontaktierung des optoelektronischen Bauelements zu ermöglichen. Für die Kontaktbahnen ist es von Vorteil, wenn leitfähige und gleichzeitig transparente Materialien verwendet werden, was bei transparenten leitenden Oxiden der Fall ist. Ein geeignetes Material ist Indium-Zinnoxyd (ITO), durch welches vorzugsweise die Kontaktierung erfolgt, so dass kein Metall notwendig ist.The Carrier film may be made of a transparent material, to the radiation from the semiconductor layer sequence in the direction to enable the wearer. The carrier foil can be designed, for example, electrically conductive or at least one contact track is provided while the remaining areas of the carrier film are not conductive. At least on the semiconductor layer sequence facing sides of the carrier film At least one contact track may be provided to provide electrical contact to enable the optoelectronic device. For the contact tracks it is beneficial when conductive and at the same time transparent materials are used, what with transparent conductive oxides is the case. A suitable material is indium tin oxide (ITO), through which preferably the contacting takes place, so that no metal is necessary.

Transparente leitende Oxide (transparent conductive oxides, kurz „TCO") sind transparente, leitende Materialien, in der Regel Metalloxide, wie beispielsweise Zinkoxid, Zinnoxid, Cadmiumoxid, Titanoxid, Indiumoxid oder Indiumzinnoxid (ITO). Neben binären Metallsauerstoffverbindungen, wie beispielsweise ZnO, SnO2 oder In2O3 gehören auch ternäre Metallsauerstoffverbindungen, wie beispielsweise Zn2SnO4, CdSnO3, ZnSnO3, MgIn2O4, GaInO3, Zn2In2O5 oder In4Sn3O12 oder Mischungen unterschiedlicher transparenter leitender Oxide zu der Gruppe der TCOs. Weiterhin entsprechen die TCOs nicht zwingend einer stöchiometrischen Zusammensetzung und können auch p- oder n-dotiert sein.Transparent conductive oxides ("TCO" for short) are transparent, conductive materials, usually metal oxides, such as zinc oxide, tin oxide, cadmium oxide, titanium oxide, indium oxide or indium tin oxide (ITO), in addition to binary metal oxygen compounds, such as ZnO, SnO 2 or In 2 O 3 also include ternary metal oxygen compounds such as Zn 2 SnO 4 , CdSnO 3 , ZnSnO 3 , MgIn 2 O 4 , GaInO 3 , Zn 2 In 2 O 5 or In 4 Sn 3 O 12 or mixtures of different transparent conductive Furthermore, the TCOs do not necessarily correspond to a stoichiometric composition and may also be p- or n-doped.

Die Trägerfolie kann ein Kunststoffmaterial enthalten. Für die Trägerfolie bevorzugte Materialien sind beispielsweise Glas, ein Epoxidharz, PET, ein Polymer, insbesondere Polyimid, beispielsweise Kapton, oder eine Kombination dieser Materialien. Darüber hinaus enthält die Trägerfolie bevorzugt Kohlefasern. Diese können beispielsweise in einen Polymerfilm eingebettet sein und eine höhere thermische Leitfähigkeit aufweisen als der Polymerfilm, so dass sich daraus vorteilhafterweise insgesamt ein haftender und thermisch leitender Bereich des Trägers ergibt. Außerdem kann die Trägerfolie ein Glasgewebe, insbesondere ein Silikat, aufweisen. Insbesondere sind auch ITO (Indium-Zinnoxyd)-beschichtete Glasfolien geeignet.The Carrier film may contain a plastic material. For the carrier film preferred materials are, for example Glass, an epoxy resin, PET, a polymer, in particular polyimide, for example Kapton, or a combination of these materials. Furthermore The carrier film preferably contains carbon fibers. These can be embedded, for example, in a polymer film be and a higher thermal conductivity have as the polymer film, so that advantageously Overall, an adhesive and thermally conductive region of the carrier results. In addition, the carrier film, a glass fabric, in particular a silicate. In particular are also ITO (Indium-tin oxide) -coated glass sheets suitable.

Gemäß eines zweiten Aspekts zeichnet sich die Erfindung aus durch eine Anordnung mit einem optoelektronischen Bauelement gemäß des ersten Aspekts und einer transparenten Folie, die zumindest eine Kontaktbahn trägt, wobei die Kontaktbahn mit dem zweiten elektrischen Kontaktbereich des optoelektronischen Bauelements elektrisch leitend verbunden ist.According to one second aspect, the invention is characterized by an arrangement with an optoelectronic component according to the first aspect and a transparent film, the at least one Wear contact track, wherein the contact track with the second electrical contact region of the optoelectronic component electrically is conductively connected.

Die transparente Folie kann die Abstrahlung elektromagnetischer Strahlung aus der Halbleiterschichtenfolge in entgegen gesetzter Richtung des Trägers ermöglichen und gleichzeitig mittels zumindest einer Kontaktbahn eine elektrische Kontaktierung des optoelektronischen Bauelements ermöglichen. Durch die Anordnung kann der Halbleiterkörper zwischen zumindest einer transparenten Folie und dem Träger aufgenommen werden, wobei auch der Träger eine transparente Folie umfassen kann. Die transparente Folie wird zumindest mit einer Kontaktbahn vorgesehen, während die restlichen Bereiche der Trägerfolie nicht leitend sein müssen. Zumindest auf der der Halbleiterschichtenfolge zugewandten Seite der transparente Folie ist zumindest eine Kontaktbahn vorgesehen, um eine elektrische Kontaktierung des optoelektronischen Bauelements über den zweiten elektrischen Kontaktbereich zu ermöglichen. Besonders vorteilhaft ist die Anordnung für eine Mehrzahl von optoelektronischen Bauelementen, da zum Beispiel für eine Mehrzahl von optoelektronischen Bauelementen mit zumindest einer Kontaktbahn eine elektrische Kontaktierung gleichzeitig ermöglicht werden kann. Für die zumindest eine Kontaktbahn werden bevorzugt leitfähige und gleichzeitig transparente Materialien verwendet wie die transparenten leitenden Oxide. Ein geeignetes Material ist Indium-Zinnoxyd (ITO).The transparent film can be the emission of electromagnetic radiation from the semiconductor layer sequence in the opposite direction enable the wearer while using at least one contact track electrical contacting of the optoelectronic Allow component. By the arrangement, the semiconductor body between at least one transparent film and the carrier be taken, whereby the carrier is a transparent Can include film. The transparent film is at least one Contact track provided while the remaining areas the carrier film need not be conductive. At least on the semiconductor layer sequence facing side of the transparent Foil is provided at least one contact track to an electrical Contacting of the optoelectronic component via the allow second electrical contact area. Especially advantageous is the arrangement for a plurality of optoelectronic Components, for example, for a plurality of optoelectronic Components with at least one contact track an electrical contact can be simultaneously enabled. For the least a contact track are preferably conductive and at the same time transparent Materials used as the transparent conductive oxides. One suitable material is indium tin oxide (ITO).

Die transparente Folie kann ein Kunststoffmaterial enthalten. Für die transparente Folie bevorzugte Materialien sind beispielsweise Glas, ein Epoxidharz, PET, ein Polymer, insbesondere Polyimid, beispielsweise Kapton, oder eine Kombination dieser Materialien. Darüber hinaus enthält die transparente Folie bevorzugt Kohlefasern. Diese können beispielsweise in einen Polymerfilm eingebettet sein und eine höhere thermische Leitfähigkeit aufweisen als der Polymerfilm, so dass sich daraus vorteilhafterweise insgesamt ein haftender und thermisch leitender Bereich der transparenten Folie ergibt. Außerdem kann die transparente Folie ein Glasgewebe, insbesondere ein Silikat, aufweisen. Beispielsweise ist die transparente Folie als ITO (Indium-Zinnoxyd)-beschichtete Glasfolie ausgebildet.The transparent film may contain a plastic material. For the transparent film preferred materials are, for example Glass, an epoxy resin, PET, a polymer, in particular polyimide, for example Kapton, or a combination of these materials. About that In addition, the transparent film preferably contains carbon fibers. These can be embedded, for example, in a polymer film be and a higher thermal conductivity have as the polymer film, so that advantageously Overall, an adhesive and thermally conductive region of the transparent Foil results. In addition, the transparent film can Glass fabric, in particular a silicate, have. For example the transparent film as ITO (indium-tin oxide) -coated glass sheet educated.

In einer vorteilhaften Ausgestaltung weist die Kontaktbahn Indium-Zinnoxyd auf.In an advantageous embodiment, the contact track indium tin oxide on.

Indium-Zinnoxyd, ein transparentes leitendes Oxid, ermöglicht besonders vorteilhaft das Ausbilden zumindest einer leitfähigen und gleichzeitig transparenten Kontaktbahn. Somit kann die Abstrahlung elektromagnetischer Strahlung aus der Halbleiterschichtenfolge in entgegen gesetzter Richtung des Trägers verbessert werden und gleichzeitig mittels zumindest der einen Kontaktbahn eine elektrische Kontaktierung des optoelektronischen Bauelements ermöglicht werden. Zum Beispiel kann auch ein heterogener Metall-Indium-Zinnoxyd-Mischkontakt verwendet werden, der beispielsweise Gold umfassen kann.Indium tin oxide, a transparent conductive oxide, especially allows Advantageously, the formation of at least one conductive and at the same time transparent contact track. Thus, the radiation electromagnetic radiation from the semiconductor layer sequence in be improved in the opposite direction of the carrier and at the same time by means of at least one contact track an electrical contact of the optoelectronic component are made possible. To the An example may also be a heterogeneous metal-indium-tin oxide mixed contact may be used, which may include gold, for example.

Gemäß eines dritten Aspekts zeichnet sich die Erfindung aus durch eine Anordnung mit zumindest einem optoelektronischen Bauelement gemäß des ersten Aspekts, wobei die Anordnung eine Vielzahl von epitaktisch gewachsenen Halbleiterkörpern umfasst, wobei die Halbleiterkörper jeweils die Halbleiterschichtenfolgen umfassen, die in einer Matrix angeordnet und elektrisch kontaktiert sind, wobei die Matrix auf dem Träger angeordnet ist.According to one third aspect, the invention is characterized by an arrangement with at least one optoelectronic component according to the first aspect, wherein the arrangement has a plurality of epitaxial grown semiconductor bodies, wherein the semiconductor body each comprise the semiconductor layer sequences arranged in a matrix and electrically contacted, wherein the matrix on the support is arranged.

Eine derartige Anordnung kann durch die Vielzahl der Halbleiterkörper zum Beispiel eine hohe Beleuchtungsstärke und/oder eine hohe Beleuchtungsdichte ermöglichen. Die Anordnung kann mindestens zwei optoelektronische Bauelemente umfassen, welche auf dem Träger angeordnet sind. Beispielsweise kann die Anordnung vier optoelektronische Bauelemente umfassen, auch kann Anordnung zum Beispiel zwanzig optoelektronische Bauelemente umfassen.A Such an arrangement can be achieved by the multiplicity of semiconductor bodies For example, a high illuminance and / or a enable high illumination density. The arrangement can comprise at least two optoelectronic components, which on the carrier are arranged. For example, the arrangement Four optoelectronic components include, can also arrangement for Example include twenty optoelectronic devices.

In einer vorteilhaften Ausgestaltung umfasst die Anordnung eine Vielzahl von Reflektoren, die jeweils ausgebildet sind, elektromagnetische Strahlung, die von dem jeweiligen Halbleiterkörper emittiert wird, zu reflektieren und zwar derart, dass sie zumindest teilweise unter Umgehung der jeweiligen ersten Hauptfläche des jeweiligen Halbleiterkörpers aus dem jeweiligen Halbleiterkörper emittiert wird.In According to an advantageous embodiment, the arrangement comprises a plurality reflectors, which are each formed electromagnetic Radiation emitted by the respective semiconductor body is to reflect, in such a way that it at least partially bypassing the respective first main surface of the respective Semiconductor body from the respective semiconductor body is emitted.

Dadurch, dass die Reflektoren zumindest teilweise reflektierendes Material aufweisen, ist es insbesondere möglich, elektromagnetische Strahlung, die beispielsweise von Lumineszenzdiodenchips emittiert wird, auszukoppeln und somit in eine gewünschte Abstrahlrichtung oder einen gewünschten Abstrahl-Raumwinkel umzulenken. Somit kann eine gute Effizienz der Anordnung der optoelektronischen Bauelemente erreicht werden. Da die Reflektoren nicht an die Dimension der Halbleiterkörper gebunden sind, wird beispielsweise eine Strahlaufweitung ermöglicht. Somit kann zum Beispiel eine Flächenlichtquelle ausgebildet werden. Durch geeignete Wahl des Materials kann zum Beispiel die Absorption der emittierten elektromagnetischen Strahlung minimiert werden und beispielsweise eine Anordnung von UV-Lumineszenzdiodenchips ausgebildet werden.Thereby, that the reflectors at least partially reflective material In particular, it is possible to have electromagnetic Radiation that emits, for example, of LED chips is to decouple and thus in a desired direction of radiation or to redirect a desired radiation solid angle. Thus, a good efficiency of the arrangement of the optoelectronic Components can be achieved. Because the reflectors are not up to the dimension the semiconductor body are bound, for example allows a beam expansion. Thus, for example a surface light source can be formed. By a suitable choice of the material can, for example, the absorption of the emitted electromagnetic Radiation are minimized and, for example, an array of UV LED chips are formed.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung sind die Reflektoren jeweils zumindest teilweise konvex und/oder konkav ausgebildet.In a further advantageous embodiment, the reflectors each at least partially convex and / or concave.

Durch eine derartige Ausbildung der Reflektoren kann eine verbesserte Auskopplung der in den Halbleiterschichtenfolgen erzeugten elektromagnetischen Strahlung ermöglicht werden. Auch kann elektromagnetische Strahlung, die beispielsweise von Lumineszenzdiodenchips emittiert wird, in eine gewünschte Abstrahlrichtung oder einen gewünschten Abstrahl-Raumwinkel umgelenkt werden. Somit kann die Effizienz der Anordnung der optoelektronischen Bauelemente gesteigert werden.By Such a design of the reflectors can be improved Decoupling of the electromagnetic generated in the semiconductor layer sequences Radiation can be enabled. Also can be electromagnetic Radiation that emits, for example, of LED chips is deflected in a desired direction of radiation or a desired radiation solid angle become. Thus, the efficiency of the arrangement of optoelectronic devices be increased.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung umfassen die jeweiligen Halbleiterschichtenfolgen jeweils den aktiven Bereich, welche jeweils zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung unterschiedlicher Wellenlänge ausgebildet sind, um eine Mischung der elektromagnetischen Strahlung der jeweiligen Halbleiterschichtenfolgen zu ermöglichen.In In another advantageous embodiment, the respective ones comprise Semiconductor layers each follow the active region, which respectively for generating electromagnetic radiation of different Wavelength are designed to be a mixture of electromagnetic To allow radiation of the respective semiconductor layer sequences.

Durch eine Verwendung von elektromagnetischer Strahlung unterschiedlicher Wellenlänge kann eine Farbmischung ermöglicht werden. Zum Beispiel kann die Anordnung eine Halbleiterschichtenfolge eines optoelektronischen Bauelements mit einem aktiven Bereich zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung im sichtbaren roten Bereich des Farbspektrums des Lichts umfassen und eine weitere Halbleiterschichtenfolge eines weiteren optoelektronischen Bauelements mit einem aktiven Bereich zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung im sichtbaren blauen Bereich des Farbspektrums des Lichts umfassen. Zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung im sichtbaren roten Bereich des Farbspektrums des Lichts kann die Halbleiterschichtenfolge zum Beispiel Aluminiumindiumgalliumphosphid (AlInGaP) umfassen und zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung im sichtbaren blauen Bereich des Farbspektrums des Lichts kann die weitere Halbleiterschichtenfolge zum Beispiel Indiumgalliumnitrid (InGaN) umfassen. In diesem beispielhaften Fall kann die Mischung der elektromagnetischen Strahlung der Halbleiterschichtenfolgen eine elektromagnetische Strahlung im sichtbaren violetten Bereich des Farbspektrums des Lichts erzeugen. Durch Mischung elektromagnetischer Strahlung unterschiedlicher Wellenlänge kann beispielsweise die Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung in einem beliebigen Bereich des Farbspektrums des Lichts ermöglicht werden. Bevorzugt kann auch die Erzeugung von weißem Licht durch Farbmischung ermöglicht werden.By a use of electromagnetic radiation of different Wavelength allows color mixing become. For example, the arrangement may be a semiconductor layer sequence an optoelectronic component with an active region for Generation of electromagnetic radiation in the visible red Area of the color spectrum of the light include and another semiconductor layer sequence a further optoelectronic component with an active Area for the generation of electromagnetic radiation in the visible blue region of the color spectrum of the light. To produce of electromagnetic radiation in the visible red region of the Color spectrum of the light, the semiconductor layer sequence, for example Aluminum indium gallium phosphide (AlInGaP) include and for generation of electromagnetic radiation in the visible blue region of the Color spectrum of the light, the further semiconductor layer sequence For example, indium gallium nitride (InGaN). In this exemplary Case can follow the mixture of the electromagnetic radiation of the semiconductor layers an electromagnetic radiation in the visible violet area of the Create color spectrum of the light. By mixing electromagnetic Radiation of different wavelengths can, for example the generation of electromagnetic radiation in any Range of the color spectrum of the light are made possible. Preferably, the generation of white light by Color mixing are possible.

Gemäß eines vierten Aspekts zeichnet sich die Erfindung aus durch ein Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements gemäß des ersten Aspekts mit den Schritten: Ausbilden einer zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung geeigneten Halbleiterschichtenfolge auf einem Aufwachssubstrat, Ausbilden eines von dem Aufwachssubstrat verschiedenen Trägers mit zumindest einem Reflektor, wobei der Reflektor bestimmungsgemäß dazu ausgebildet ist, elektromagnetische Strahlung, die von der Halbleiterschichtenfolge emittiert wird, zu reflektieren und zwar derart, dass sie zumindest teilweise unter Umgehung einer dem Träger zugewandten ersten Hauptfläche der Halbleiterschichtenfolge emittiert wird, und Koppeln der Halbleiterschichtenfolge mit dem Träger, so dass der Reflektor elektromagnetische Strahlung, die von der Halbleiterschichtenfolge emittiert wird, reflektieren kann und zwar derart, dass sie zumindest teilweise unter Umgehung der dem Träger zugewandten ersten Hauptfläche der Halbleiterschichtenfolge emittiert wird.According to a fourth aspect is apparent the invention by a method for producing an optoelectronic component according to the first aspect, comprising the steps of: forming a semiconductor layer sequence suitable for generating electromagnetic radiation on a growth substrate, forming a support other than the growth substrate with at least one reflector, the reflector being designed as intended is to reflect electromagnetic radiation emitted by the semiconductor layer sequence, in such a way that it is emitted at least partially bypassing a first main surface of the semiconductor layer sequence facing the carrier, and coupling the semiconductor layer sequence to the carrier, so that the reflector electromagnetic radiation, which is emitted by the semiconductor layer sequence, can reflect in such a way that they emit at least partially, bypassing the first main surface of the semiconductor layer sequence facing the carrier is iert.

Die Halbleiterschichtenfolge wird bevorzugt derart ausgebildet, dass diese geeignet ist eine elektromagnetische Strahlung zu emittieren. In diesem Fall wird durch das optoelektronische Bauelement elektromagnetische Strahlung vorzugsweise in eine Hauptabstrahlrichtung ausgesendet, welche ausgehend von der Halbleiterschichtenfolge in eine entgegengesetzte Richtung des Trägers weist. Die Halbleiterschichtenfolge kann auch als Empfänger von elektromagnetischer Strahlung ausgebildet werden, beispielsweise als Sensor. In diesem Fall können durch ein derartiges Herstellungsverfahren die Empfangseigenschaften des Strahlungsempfängers verbessert werden. Beispielsweise kann die lichtempfangende Fläche eines Detektors vergrößert werden.The Semiconductor layer sequence is preferably formed such that this is suitable to emit electromagnetic radiation. In this case, the optoelectronic component becomes electromagnetic Radiation preferably emitted in a main emission direction, which starting from the semiconductor layer sequence in an opposite Direction of the carrier points. The semiconductor layer sequence can also act as a receiver of electromagnetic radiation be formed, for example as a sensor. In this case, you can by such a manufacturing method, the receiving properties of the radiation receiver can be improved. For example can increase the light-receiving area of a detector become.

In einer vorteilhaften Ausgestaltung wird die Halbleiterschichtenfolge zumindest teilweise elastisch ausgebildet und derart mit dem Träger gekoppelt, dass die Halbleiterschichtenfolge zumindest teilweise gekrümmt ausgebildet wird.In In an advantageous embodiment, the semiconductor layer sequence at least partially elastic and so with the carrier coupled, that the semiconductor layer sequence at least partially is formed curved.

Dadurch, dass die Halbleiterschichtenfolge zumindest teilweise elastisch ausgebildet wird, ist es beispielsweise möglich, dass durch das optoelektronische Bauelement elektromagnetische Strahlung vorwiegend in einer gewünschten Abstrahlrichtung oder einem gewünschten Abstrahl-Raumwinkel ausgesendet wird. Beispielsweise kann eine Strahlaufweitung ermöglicht werden. Somit kann eine gute Effizienz des optoelektronischen Bauelements erreicht werden. Beispielsweise kann die Halbleiterschichtenfolge Galliumnitrid (GaN) umfassen mit zum Beispiel einem durchschnittlichen Elastizitätsmodul von etwa 297GPA.Thereby, that the semiconductor layer sequence is at least partially elastic is formed, it is possible, for example, that the optoelectronic component electromagnetic radiation predominantly in a desired direction of radiation or a desired Radiation solid angle is emitted. For example, a beam expansion be enabled. Thus, a good efficiency of the optoelectronic Component can be achieved. For example, the semiconductor layer sequence Gallium nitride (GaN) include, for example, an average Young's modulus of about 297GPA.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird auf der Halbleiterschichtenfolge eine erste elektrisch leitfähige Kontaktmaterialschicht auf der ersten Hauptfläche der Halbleiterschichtenfolge ausgebildet.In A further advantageous embodiment is on the semiconductor layer sequence a first electrically conductive contact material layer on the first main surface of the semiconductor layer sequence educated.

Die erste Kontaktmaterialschicht ermöglicht die elektrische Kontaktierung des optoelektronischen Bauelements in einfacher Weise.The first contact material layer allows the electrical Contacting of the optoelectronic component in a simple manner.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird zur Ausbildung eines ersten elektrischen Kontaktbereichs die erste Kontaktmaterialschicht derart strukturiert, dass zumindest ein von der ersten Kontaktmaterialschicht befreiter Bereich der Halbleiterschichtenfolge ausgebildet wird.In a further advantageous embodiment is to form a first electrical contact region, the first contact material layer structured such that at least one of the first contact material layer liberated region of the semiconductor layer sequence is formed.

Über den ersten elektrischen Kontaktbereich kann Strom zugeführt werden, um eine elektrische Kontaktierung des optoelektronischen Bauelements zu ermöglichen. Der erste elektrische Kontaktbereich ermöglicht den Anschluss des optoelektronischen Bauelements in vereinfachter Weise.about The first electrical contact area can be supplied with power be an electrical contact of the optoelectronic To enable component. The first electrical contact area allows the connection of the optoelectronic device in a simplified Wise.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird der zumindest eine von der ersten Kontaktmaterialschicht befreite Bereich der Halbleiterschichtenfolge an seiner Oberfläche zumindest partiell aufgeraut.In In another advantageous embodiment, the at least one Released from the first contact material layer region of the semiconductor layer sequence at least partially roughened on its surface.

Durch eine zumindest partielle Oberflächenstrukturierung kann eine verbesserte Auskopplung elektromagnetischer Strahlung aus der Halbleiterschichtenfolge ermöglicht werden. Somit kann eine verbesserte Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung ermöglicht werden. Insbesondere kann eine Auskopplung etwa durch eine Rauhigkeitserhöhung zumindest eines Teils einer Hauptfläche verbessert werden. Werden Aufrauungen der Oberfläche vorgesehen, so ist dadurch eine unregelmäßige Oberfläche gebildet, die die Auskopplung von elektromagnetischer Strahlung verbessern kann.By an at least partial surface structuring can an improved coupling of electromagnetic radiation from the Semiconductor layer sequence are made possible. Thus, can an improved outcoupling in the semiconductor layer sequence generated electromagnetic radiation. In particular, a decoupling can be achieved by increasing the roughness at least a part of a main surface can be improved. If roughening of the surface is provided, it is characterized an irregular surface formed, which improve the decoupling of electromagnetic radiation can.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird die Halbleiterschichtenfolge über die strukturierte erste Kontaktmaterialschicht mit dem Träger gekoppelt.In In a further advantageous embodiment, the semiconductor layer sequence is over the structured first contact material layer with the carrier coupled.

Dadurch wird es ermöglicht, dass der Reflektor elektromagnetische Strahlung, die von der Halbleiterschichtenfolge emittiert wird, reflektieren kann und zwar derart, dass sie zumindest teilweise unter Umgehung der dem Träger zugewandten ersten Hauptfläche der Halbleiterschichtenfolge emittiert werden kann.Thereby It allows the reflector to be electromagnetic Radiation emitted by the semiconductor layer sequence, can reflect in such a way that they at least partially bypassing the carrier facing the first main surface the semiconductor layer sequence can be emitted.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird eine zweite elektrisch leitfähige Kontaktmaterialschicht auf einer der ersten Hauptfläche gegenüberliegenden zweiten Hauptfläche der Halbleiterschichtenfolge ausgebildet.In In a further advantageous embodiment, a second is electrically conductive contact material layer on one of the first Main surface opposite second major surface formed of the semiconductor layer sequence.

Die zweite Kontaktmaterialschicht ermöglicht die elektrische Kontaktierung des optoelektronischen Bauelements in einfacher Weise.The second contact material layer allows the electrical Contacting of the optoelectronic component in a simple manner.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird zur Ausbildung eines zweiten elektrischen Kontaktbereichs die zweite Kontaktmaterialschicht derart strukturiert, dass zumindest ein von der zweiten Kontaktmaterialschicht befreiter Bereich der Halbleiterschichtenfolge ausgebildet wird.In a further advantageous embodiment is to form a second electrical contact region, the second contact material layer structured such that at least one of the second contact material layer liberated region of the semiconductor layer sequence is formed.

Über den zweiten elektrischen Kontaktbereich kann Strom zugeführt werden, um eine elektrische Kontaktierung des optoelektronischen Bauelements zu ermöglichen. Der zweite elektrische Kontaktbereich ermöglicht den Anschluss des optoelektronischen Bauelements in vereinfachter Weise.about Power can be supplied to the second electrical contact region be an electrical contact of the optoelectronic To enable component. The second electrical contact area allows the connection of the optoelectronic component in a simplified way.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird der zumindest eine von der zweiten Kontaktmaterialschicht befreite Bereich der Halbleiterschichtenfolge an seiner Oberfläche zumindest partiell aufgeraut.In In another advantageous embodiment, the at least one Released from the second contact material layer region of the semiconductor layer sequence at least partially roughened on its surface.

Durch eine zumindest partielle Oberflächenstrukturierung kann eine verbesserte Auskopplung elektromagnetischer Strahlung aus der Halbleiterschichtenfolge ermöglicht werden. Somit kann eine verbesserte Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung ermöglicht werden. Insbesondere kann eine Auskopplung etwa durch eine Rauhigkeitserhöhung zumindest eines Teils einer Hauptfläche verbessert werden. Werden Aufrauungen der Oberfläche vorgesehen, so ist dadurch eine unregelmäßige Oberfläche gebildet, die die Auskopplung von elektromagnetischer Strahlung verbessern kann.By an at least partial surface structuring can an improved coupling of electromagnetic radiation from the Semiconductor layer sequence are made possible. Thus, can an improved outcoupling in the semiconductor layer sequence generated electromagnetic radiation. In particular, a decoupling can be achieved by increasing the roughness at least a part of a main surface can be improved. If roughening of the surface is provided, it is characterized an irregular surface formed, which improve the decoupling of electromagnetic radiation can.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird während oder nach der Strukturierung der ersten Kontaktmaterialschicht und/oder der zweiten Kontaktmaterialschicht zumindest ein Auskoppelprisma auf der Oberfläche der Halbleiterschichtenfolge ausgebildet.In a further advantageous embodiment is during or after the structuring of the first contact material layer and / or the second contact material layer on at least one decoupling prism formed the surface of the semiconductor layer sequence.

Durch das Vorsehen eines Auskoppelprismas wird eine verbesserte Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung ermöglicht, da der Winkel verändert wird, in dem eine elektromagnetische Welle auf die Oberfläche auftrifft. Insbesondere kann eine Auskopplung etwa durch eine zumindest partielle Mikroprismenstrukturierung einer Hauptfläche verbessert werden. Durch ein Auskoppelprisma kann beispielsweise in dem Bereich des Auskoppelprismas ein anderer Auftreffwinkel einer elektromagnetischen Welle auf eine Grenzfläche entstehen als in zu dem Auskoppelprisma benachbarten Bereichen der Hauptfläche. Folglich können sich in verschiedenen Bereichen der Hauptflächen unterschiedliche Lagen der Grenzflächen ergeben, was die Auskopplung von elektromagnetischer Strahlung verbessern kann. Insbesondere können die Maßnahmen zur Verbesserung der Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung wie beispielsweise ein Auskoppelprisma auf beiden Hauptflächen der Halbleiterschichtenfolge ausgebildet werden.By the provision of a decoupling prism becomes an improved decoupling the electromagnetic generated in the semiconductor layer sequence Radiation allows, as the angle is changed, in which an electromagnetic wave on the surface incident. In particular, a decoupling may be achieved by at least one partial microprism structuring of a major surface be improved. By a decoupling prism can, for example in the region of the decoupling prism another angle of incidence one electromagnetic wave arise on an interface as in areas of the main surface adjacent to the decoupling prism. Consequently, in different areas of the main surfaces can different layers of the interfaces yield what the Extraction of electromagnetic radiation can improve. Especially may be the measures to improve the decoupling the electromagnetic generated in the semiconductor layer sequence Radiation such as a decoupling prism on both major surfaces the semiconductor layer sequence can be formed.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung werden die erste Kontaktmaterialschicht und/oder die zweite Kontaktmaterialschicht derart aufgebracht, dass die der Halbleiterschichtenfolge zugewandten Seiten zumindest teilweise verspiegelt sind.In In a further advantageous embodiment, the first contact material layer and / or the second contact material layer is applied such that the semiconductor layer sequence facing sides at least partially are mirrored.

Das Vorsehen der Verspiegelung ermöglicht es, dass elektromagnetische Strahlung reflektiert wird und beispielsweise aus der dem Träger gegenüber liegender Hauptfläche aus dem Halbleiterkörper abgestrahlt werden kann. Da die Halbleiterschichtenfolge bevorzugt durch beide Hauptflächen elektromagnetische Strahlung aussendet, geht die reflektierte elektromagnetische Strahlung nicht verloren, sondern wird in entgegen gesetzter Richtung emittiert.The Providing the mirroring allows electromagnetic Radiation is reflected and, for example, from the carrier opposite major surface emitted from the semiconductor body can be. As the semiconductor layer sequence preferably by both Main surfaces emitting electromagnetic radiation goes the reflected electromagnetic radiation is not lost, but is emitted in the opposite direction.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird der Reflektor zumindest teilweise konkav ausgebildet.In In a further advantageous embodiment, the reflector is at least partially concave.

Durch eine derartige Ausbildung des Reflektors kann eine verbesserte Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung ermöglicht werden. Auch kann elektromagnetische Strahlung, die beispielsweise von einem Lumineszenzdiodenchip emittiert wird, in eine gewünschte Abstrahlrichtung oder einen gewünschten Abstrahl-Raumwinkel umgelenkt werden. Somit kann die Effizienz des optoelektronischen Bauelements gesteigert werden.By Such a design of the reflector can be an improved coupling the electromagnetic generated in the semiconductor layer sequence Radiation can be enabled. Also can be electromagnetic Radiation emitted, for example, from a Lumineszenzdiodenchip is, in a desired direction of radiation or a desired Radiation solid angle are deflected. Thus, the efficiency of the Optoelectronic device can be increased.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird der Reflektor zumindest teilweise konvex ausgebildet.In In a further advantageous embodiment, the reflector is at least partially convex.

Durch eine derartige Ausbildung des Reflektors kann eine verbesserte Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung ermöglicht werden. Auch kann elektromagnetische Strahlung, die beispielsweise von einem Lumineszenzdiodenchip emittiert wird, in eine gewünschte Abstrahlrichtung oder einen gewünschten Abstrahl-Raumwinkel umgelenkt werden. Somit kann die Effizienz des optoelektronischen Bauelements gesteigert werden.By Such a design of the reflector can be an improved coupling the electromagnetic generated in the semiconductor layer sequence Radiation can be enabled. Also can be electromagnetic Radiation emitted, for example, from a Lumineszenzdiodenchip is, in a desired direction of radiation or a desired Radiation solid angle are deflected. Thus, the efficiency of the Optoelectronic device can be increased.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird der Reflektor zumindest teilweise parabolisch ausgebildet.In In a further advantageous embodiment, the reflector is at least partially parabolic.

Durch eine derartige Ausbildung des Reflektors kann eine verbesserte Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung ermöglicht werden. Somit kann die Effizienz des optoelektronischen Bauelements gesteigert werden.By such a design of the reflector In this case, an improved decoupling of the electromagnetic radiation generated in the semiconductor layer sequence can be made possible. Thus, the efficiency of the optoelectronic device can be increased.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird der Reflektor zumindest teilweise zylinderförmig ausgebildet.In In a further advantageous embodiment, the reflector is at least partially cylindrical.

Durch eine derartige Ausbildung des Reflektors kann eine verbesserte Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung ermöglicht werden. Somit kann die Effizienz des optoelektronischen Bauelements gesteigert werden.By Such a design of the reflector can be an improved coupling the electromagnetic generated in the semiconductor layer sequence Radiation can be enabled. Thus, the efficiency of the Optoelectronic device can be increased.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird der Reflektor zumindest teilweise kugelförmig ausgebildet.In In a further advantageous embodiment, the reflector is at least partially spherical.

Durch eine derartige Ausbildung des Reflektors kann eine verbesserte Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge erzeugten elektromagnetischen Strahlung ermöglicht werden. Somit kann die Effizienz des optoelektronischen Bauelements gesteigert werden.By Such a design of the reflector can be an improved coupling the electromagnetic generated in the semiconductor layer sequence Radiation can be enabled. Thus, the efficiency of the Optoelectronic device can be increased.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird das Aufwachssubstrat von der Halbleiterschichtenfolge entfernt.In In a further advantageous embodiment, the growth substrate removed from the semiconductor layer sequence.

Dadurch wird es ermöglicht, dass der Träger mit der Halbleiterschichtenfolge auf der Seite der Halbleiterschichtenfolge gekoppelt wird, auf der sich das Aufwachssubstrat befindet oder auf der gegenüberliegenden Seite.Thereby it is made possible that the carrier with the semiconductor layer sequence is coupled on the side of the semiconductor layer sequence, on the the growth substrate is located or on the opposite Page.

Ist das Aufwachssubstrat beispielsweise auf der der zweiten Hauptfläche der Halbleiterschichtenfolge zugewandten Seite der Halbleiterschichtenfolge angeordnet, so kann das Aufwachssubstrat zunächst für die notwendige Stabilität der Halbleiterschichtenfolge sorgen und so beispielsweise eine verbesserte Realisierung der Kontaktmaterialschicht oder später auch des Kontaktbereichs und der Maßnahmen zur Verbesserung der Auskopplung von elektromagnetischer Strahlung wie zum Beispiel das Auskoppelprisma auf der ersten Hauptfläche ermöglichen. Nachfolgend kann die Halbleiterschichtenfolge auf der bereits strukturierten Seite mit dem Träger gekoppelt werden, so dass auf der gegenüberliegenden Seite das Aufwachssubstrat entfernt und die zweite Seite bearbeitet werden kann. Dann können auf der zweiten Hauptfläche der Halbleiterschichtenfolge beispielsweise die Kontaktmaterialschicht, der Kontaktbereich oder die Maßnahmen zur Verbesserung der Auskopplung von elektromagnetischer Strahlung wie zum Beispiel das Auskoppelprisma realisiert werden.is the growth substrate, for example, on the second major surface the semiconductor layer sequence facing side of the semiconductor layer sequence arranged, the growth substrate may initially for the necessary stability of the semiconductor layer sequence and so for example, an improved realization of the contact material layer or later also the contact area and the measures to improve the extraction of electromagnetic radiation such as the decoupling prism on the first main surface enable. Subsequently, the semiconductor layer sequence coupled to the carrier on the already structured side so that on the opposite side the growth substrate removed and the second page can be edited. Then you can the second main surface of the semiconductor layer sequence, for example the contact material layer, the contact area or the measures to improve the extraction of electromagnetic radiation such as the Auskoppelprisma be realized.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung wird eine Vielzahl der optoelektronischen Bauelemente hergestellt, wobei die optoelektronischen Bauelemente jeweils die Halbleiterschichtenfolgen umfassen, die in einer Matrix angeordnet und elektrisch kontaktiert werden, wobei die Matrix auf dem Träger angeordnet wird.In In another advantageous embodiment, a plurality of produced optoelectronic components, wherein the optoelectronic Components each comprise the semiconductor layer sequences, the are arranged in a matrix and electrically contacted, wherein the matrix is placed on the carrier.

Insbesondere können eine Mehrzahl von optoelektronischen Bauelementen im Wesentlichen gleichzeitig hergestellt werden. In diesem Fall umfasst das Verfahren insbesondere ein Zerteilen eines Grundkörpers zum Vereinzeln der optoelektronischen Bauelemente aus ihrem gemeinsamen Verbund. Besonders bevorzugt ist der Grundkörper ein Wafer oder ein Grundträger, auf dem die Halbleiterschichtenfolge oder mehrere solcher Halbleiterschichtenfolgen aufgebracht werden können.Especially can be a plurality of optoelectronic devices be made substantially simultaneously. In this case In particular, the method comprises a division of a basic body for separating the optoelectronic components from their common Composite. Particularly preferably, the base body is a wafer or a base support on which the semiconductor layer sequence or several such semiconductor layer sequences are applied can.

In einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung werden die jeweiligen Halbleiterschichtenfolgen derart ausgebildet, dass die Halbleiterschichtenfolgen jeweils zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung unterschiedlicher Wellenlänge ausgebildet sind, um eine Mischung der elektromagnetischen Strahlung der jeweiligen Halbleiterschichtenfolgen zu ermöglichen.In a further advantageous embodiment, the respective Semiconductor layer sequences formed such that the semiconductor layer sequences each for generating electromagnetic radiation of different Wavelength are adapted to a mixture of electromagnetic radiation to enable the respective semiconductor layer sequences.

Durch eine Verwendung von elektromagnetischer Strahlung unterschiedlicher Wellenlänge kann eine Farbmischung ermöglicht werden. Durch Mischung elektromagnetischer Strahlung unterschiedlicher Wellenlänge kann beispielsweise die Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung in einem beliebigen Bereich des Farbspektrums des Lichts ermöglicht werden. Bevorzugt kann auch die Erzeugung von weißem Licht durch Farbmischung ermöglicht werden.By a use of electromagnetic radiation of different Wavelength allows color mixing become. By mixing electromagnetic radiation different Wavelength, for example, the generation of electromagnetic Radiation in any area of the color spectrum of light be enabled. Preferably, the generation of white light through color mixing.

Ausführungsbeispiele der Erfindung sind im Folgenden anhand der schematischen Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:embodiments The invention are described in more detail below with reference to the schematic drawings explained. Show it:

1 eine dreidimensionale Ansicht eines optoelektronischen Bauelements, 1 a three-dimensional view of an optoelectronic component,

2 einen Querschnitt durch ein optoelektronisches Bauelement, 2 a cross section through an optoelectronic device,

3 eine Draufsicht auf eine Hauptfläche eines optoelektronischen Bauelements, 3 a top view of a main surface of an optoelectronic device,

4 eine Anordnung eines optoelektronischen Bauelements und einer transparenten Folie, 4 an arrangement of an optoelectronic component and a transparent film,

5 eine weitere Ausführungsform eines optoelektronischen Bauelements, 5 a further embodiment of an optoelectronic component,

6A bis 6G ein optoelektronisches Bauelement in verschiedenen Phasen der Herstellung, und 6A to 6G an optoelectronic component in different phases of the manufacture mentions, and

7 eine beispielhafte Anordnung von optoelektronischen Bauelementen in einer Matrix. 7 an exemplary arrangement of optoelectronic devices in a matrix.

In der 1 ist eine dreidimensionale Ansicht eines optoelektronischen Bauelements 1 gezeigt, welches einen Halbleiterkörper und einen Träger 2 umfasst.In the 1 is a three-dimensional view of an optoelectronic device 1 showing a semiconductor body and a carrier 2 includes.

Der Halbleiterkörper umfasst eine Halbleiterschichtenfolge 3. Die Halbleiterschichtenfolge 3 umfasst zumindest eine erste Hauptfläche 4 und eine gegenüberliegende zweite Hauptfläche 5. Der Halbleiterkörper ist epitaktisch auf einem Aufwachssubstrat 6 (6A) gewachsen. Insbesondere ist die Halbleiterschichtenfolge 3 eine Epitaxieschichtenfolge. Das optoelektronisches Bauelement 1 ist derart ausgebildet, dass zumindest auf der zweiten Hauptfläche 5 senkrecht zu dieser Fläche in eine Hauptabstrahlrichtung H elektromagnetische Strahlung emittiert werden kann.The semiconductor body comprises a semiconductor layer sequence 3 , The semiconductor layer sequence 3 includes at least a first major surface 4 and an opposite second major surface 5 , The semiconductor body is epitaxially grown on a growth substrate 6 ( 6A ) grown. In particular, the semiconductor layer sequence is 3 an epitaxial layer sequence. The optoelectronic component 1 is formed such that at least on the second major surface 5 perpendicular to this surface in a main emission H electromagnetic radiation can be emitted.

Insbesondere kann das optoelektronische Bauelement 1 auch derart ausgebildet sein, dass zumindest auf der zweiten Hauptfläche 5 senkrecht zu dieser Fläche entlang einer Hauptempfangsrichtung H' elektromagnetische Strahlung empfangen werden kann.In particular, the optoelectronic component 1 be formed such that at least on the second major surface 5 perpendicular to this surface along a main receiving direction H 'electromagnetic radiation can be received.

Das optoelektronische Bauelement 1, welches zum Erzeugen elektromagnetischer Strahlung ausgebildet ist, zeichnet sich insbesondere durch folgende charakteristische Merkmale aus:

  • – die Epitaxieschichtenfolge weist eine Dicke im Bereich von 20 μm oder weniger, insbesondere im Bereich von 10 μm auf; und
  • – die Epitaxieschichtenfolge enthält mindestens eine Halbleiterschicht mit zumindest einer Fläche, die eine Durchmischungsstruktur aufweist, die im Idealfall zu einer annähernd ergodischen Verteilung des Lichtes in der epitaktischen Epitaxieschichtenfolge führt, d. h. sie weist ein möglichst ergodisch stochastisches Streuverhalten auf.
The optoelectronic component 1 , which is designed to generate electromagnetic radiation, is characterized in particular by the following characteristic features:
  • - The epitaxial layer sequence has a thickness in the range of 20 microns or less, in particular in the range of 10 microns; and
  • The epitaxial layer sequence contains at least one semiconductor layer having at least one surface which has a thorough mixing structure which, in the ideal case, leads to an approximately ergodic distribution of the light in the epitaxial epitaxial layer sequence, ie it has as ergodically stochastic scattering behavior as possible.

Ein Grundprinzip des optoelektronischen Bauelements 1, welches zum Emittieren elektromagnetischer Strahlung ausgebildet ist, ist am Beispiel eines Dünnschicht-Leuchtdioden-Chips beispielsweise in I. Schnitzer et al., Appl. Phys. Lett. 63 (16), 18. Oktober 1993, 2174–2176 beschrieben, deren Offenbarungsgehalt insofern hiermit durch Rückbezug aufgenommen wird.A basic principle of the optoelectronic component 1 , which is designed to emit electromagnetic radiation, is the example of a thin-film light-emitting diode chip, for example in I. Schnitzer et al., Appl. Phys. Lett. 63 (16), 18 October 1993, 2174-2176 described, the disclosure of which is hereby incorporated by reference.

Im Ausführungsbeispiel nach 1 sind mehrere Maßnahmen entsprechend verschiedener Aspekte der Erfindung umgesetzt. Die einzelnen Maßnahmen können auch in abweichenden Ausführungen der Erfindung separat voneinander realisiert werden.In the embodiment according to 1 Several measures are implemented according to various aspects of the invention. The individual measures can also be realized separately in different embodiments of the invention.

Bei der beispielhaften Ausgestaltung nach 1 ist die Halbleiterschichtenfolge 3 vorgesehen, welche einen aktiven Bereich 7 umfasst, der zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung ausgebildet ist. Zur Erstellung einer Mehrzahl von optoelektronischen Bauelementen 1 wird beispielsweise ein großflächiger Schichtenverbund in einzelne Halbleiterschichtenfolgen 3 zerteilt. Diese so genannte Vereinzelung kann beispielsweise durch Sägen geschehen. In der folgenden detaillierten Beschreibung von Ausführungsbeispielen der Erfindung wird der Aufbau eines einzelnen optoelektronischen Bauelements 1 beschrieben beziehungsweise ein Verfahren zur Herstellung eines solchen optoelektronischen Bauelements 1. Selbstverständlich erstreckt sich die Erfindung auch auf die gemeinsame Herstellung einer Vielzahl gleichartiger optoelektronischer Bauelemente 1, die später vereinzelt werden.In the exemplary embodiment according to 1 is the semiconductor layer sequence 3 provided, which is an active area 7 includes, which is designed to generate electromagnetic radiation. For creating a plurality of optoelectronic components 1 For example, a large-area layer composite into individual semiconductor layers 3 divided. This so-called separation can be done for example by sawing. In the following detailed description of embodiments of the invention, the structure of a single optoelectronic device will be described 1 described or a method for producing such an optoelectronic device 1 , Of course, the invention also extends to the joint production of a plurality of similar optoelectronic components 1 , which are later isolated.

Der Träger 2 des optoelektronischen Bauelements 1 ist auf der der ersten Hauptfläche 4 der Halbleiterschichtenfolge 3 zugewandten Seite des Halbleiterkörpers angeordnet und ist von dem Aufwachssubstrat 6 für den Halbleiterkörper verschieden. Der Träger 2 umfasst zwei Reflektoren 8, wobei die Reflektoren 8 ausgebildet sind, elektromagnetische Strahlung, die von dem Halbleiterkörper emittiert wird, zu reflektieren und zwar derart, dass sie zumindest teilweise unter Umgehung der ersten Hauptfläche 4 des Halbleiterkörpers aus dem Halbleiterkörper emittiert wird. Insbesondere sind die Reflektoren 8 zumindest teilweise zylinderförmig ausgebildet. Die Reflektoren 8 können beispielsweise auch zumindest teilweise parabolisch, kugelförmig oder prismenförmig ausgebildet sein.The carrier 2 of the optoelectronic component 1 is on the first major surface 4 the semiconductor layer sequence 3 disposed facing side of the semiconductor body and is of the growth substrate 6 different for the semiconductor body. The carrier 2 includes two reflectors 8th , where the reflectors 8th are formed to reflect electromagnetic radiation emitted by the semiconductor body, in such a way that they at least partially bypassing the first main surface 4 of the semiconductor body is emitted from the semiconductor body. In particular, the reflectors 8th at least partially cylindrical. The reflectors 8th For example, they may also be at least partially parabolic, spherical or prism-shaped.

Auf der von dem Träger 2 abgewandten Seite der Halbleiterschichtenfolge 3 und auf der von dem Träger 2 zugewandten Seite der Halbleiterschichtenfolge 3 ist eine Stromverteilungsstruktur 9 angeordnet.On the from the carrier 2 remote side of the semiconductor layer sequence 3 and on the of the carrier 2 facing side of the semiconductor layer sequence 3 is a power distribution structure 9 arranged.

Das optoelektronische Bauelement 1 umfasst einen ersten elektrischen Kontaktbereich 10 und einen zweiten elektrischen Kontaktbereich 11. Über die elektrischen Kontaktbereiche kann Strom zugeführt werden, um eine elektrische Kontaktierung des optoelektronischen Bauelements 1 zu ermöglichen. Der erste elektrische Kontaktbereich 10 ist mit der ersten Hauptfläche 4 der Halbleiterschichtenfolge 3 über die Stromverteilungsstruktur 9 elektrisch leitend verbunden. Der zweite elektrische Kontaktbereich 11 ist mit der zweiten Hauptfläche 5 der Halbleiterschichtenfolge 3 über die Stromverteilungsstruktur 9 elektrisch leitend verbunden. Der zweite elektrische Kontaktbereich 11 ist vorzugsweise im zentralen Bereich der zweiten Hauptfläche 5 vorgesehen. Er bedeckt vorzugsweise eine Fläche von nur 10 bis 20 Prozent der zweiten Hauptfläche 5, so dass eine ausreichend große Fläche zur Abstrahlung von elektromagnetischer Strahlung zur Verfügung steht.The optoelectronic component 1 includes a first electrical contact area 10 and a second electrical contact area 11 , Current can be supplied via the electrical contact regions in order to make electrical contact with the optoelectronic component 1 to enable. The first electrical contact area 10 is with the first major surface 4 the semiconductor layer sequence 3 via the power distribution structure 9 electrically connected. The second electrical contact area 11 is with the second major surface 5 the semiconductor layer sequence 3 via the power distribution structure 9 electrically connected. The second electrical contact area 11 is preferably in the central area of the second major surface 5 intended. It preferably covers an area of only 10 to 20 Percent of the second major area 5 , so that a sufficiently large area for the emission of electromagnetic radiation is available.

Auf der der Halbleiterschichtenfolge 3 zugewandten Seite des ersten elektrischen Kontaktbereichs 10 ist eine Verspiegelung 12 vorgesehen. Durch die Verspiegelung 12 wird in der Halbleiterschichtenfolge 3 erzeugte elektromagnetische Strahlung, welche normalerweise auf den ersten elektrischen Kontaktbereichs 10 treffen würde und dort mit verhältnismäßig großer Wahrscheinlichkeit absorbiert wird, durch die Verspiegelung 12 zurück in die Halbleiterschichtenfolge 3 reflektiert, wobei diese elektromagnetische Strahlung sodann auf die gegenüberliegende Grenzfläche auftrifft und dort die Halbleiterschichtenfolge 3 verlassen kann. Mit einer Verspiegelung 12 vorgesehene Kontaktbereiche bewirken also eine Effizienzsteigerung, da weniger elektromagnetische Strahlung absorbiert wird, sondern ein größerer Anteil der insgesamt erzeugten elektromagnetischen Strahlung in die Hauptabstrahlrichtung H emittiert werden kann.On the the semiconductor layer sequence 3 facing side of the first electrical contact area 10 is a mirroring 12 intended. Through the mirroring 12 becomes in the semiconductor layer sequence 3 generated electromagnetic radiation, which normally on the first electrical contact area 10 would meet and is absorbed there with relatively high probability, by the mirroring 12 back into the semiconductor layer sequence 3 reflected, this electromagnetic radiation then impinges on the opposite interface and there the semiconductor layer sequence 3 can leave. With a mirroring 12 Provided contact areas thus cause an increase in efficiency, since less electromagnetic radiation is absorbed, but a larger proportion of the total generated electromagnetic radiation in the main emission direction H can be emitted.

Bevorzugt umfasst der Halbleiterkörper III-V-Halbleitermaterialien. Diese zeichnen sich durch eine besonders hohe Effizienz zur Strahlungserzeugung aus. III-V-Halbleitermaterialien sind zur Strahlungserzeugung im ultravioletten (InxGayAl1-x-yN) über den sichtbaren (InxGayAl1-x-yN, insbesondere für blaue bis grüne Strahlung, oder InxGayAl1-x-yP, insbesondere für gelbe bis rote Strahlung) bis in den infraroten (InxGayAl1-x-yAs) Spektralbereich besonders geeignet. Hierbei gilt jeweils 0 ≤ x ≤ 1, 0 ≤ y ≤ 1 und x + y ≤ 1, insbesondere mit x ≠ 1, y ≠ 1, x ≠ 0 und/oder y ≠ 0. Mit III-V-Halbleitermaterialien, insbesondere aus den genannten Materialsystemen, können weiterhin bei der Strahlungserzeugung vorteilhaft hohe interne Quanteneffizienzen erzielt werden.The semiconductor body preferably comprises III-V semiconductor materials. These are characterized by a particularly high efficiency for generating radiation. III-V semiconductor materials are used for generating radiation in the ultraviolet (In x Ga y Al 1-xy N) over the visible (In x Ga y Al 1-xy N, in particular for blue to green radiation, or In x Ga y Al 1- xy P, in particular for yellow to red radiation) to the infrared (In x Ga y Al 1-xy As) spectral range is particularly suitable. In each case 0 ≦ x ≦ 1, 0 ≦ y ≦ 1 and x + y ≦ 1, in particular with x ≠ 1, y ≠ 1, x ≠ 0 and / or y ≠ 0. With III-V semiconductor materials, in particular from the said material systems, can be achieved in the generation of radiation advantageously high internal quantum efficiencies.

Die Halbleiterschichtenfolge 3 aneinander angrenzender Schichten umfasst vorzugsweise einen n-dotierten Indiumgalliumnitrid-Bereich 13 (2) und einen p-dotierten Indiumgalliumnitrid-Bereich 14 (2). Die Halbleiterschichtenfolge 3 weist typischerweise eine Höhe kleiner als 20 μm, bevorzugt kleiner als 10 μm auf. Als untere Grenze für die Dicke der strahlungsemittierenden Halbleiterschichtenfolge 3 ist beispielsweise 1 μm vorgesehen. Die Obergrenze liegt zum Beispiel bei ca. 20 μm.The semiconductor layer sequence 3 Adjacent layers preferably comprise an n-doped indium gallium nitride region 13 ( 2 ) and a p-type indium gallium nitride region 14 ( 2 ). The semiconductor layer sequence 3 typically has a height less than 20 microns, preferably less than 10 microns. As a lower limit for the thickness of the radiation-emitting semiconductor layer sequence 3 For example, 1 micron is provided. The upper limit is, for example, about 20 microns.

Das in 1 gezeigte optoelektronische Bauelement 1 kann mit einer Abdeckschicht versehen werden, um das optoelektronische Bauelement 1 zu schützen beziehungsweise es in eine größere Einheit einzubetten. Die Abdeckschicht kann ein Konvertermaterial enthalten, welches durch Lumineszenz die von der Halbleiterschichtenfolge 3 erzeugte und emittierte elektromagnetische Strahlung ganz oder teilweise in elektromagnetische Strahlung einer anderen Wellenlänge, die typischerweise längerwellig ist, umwandelt. Leuchtstoffe werden dabei von der in der Halbleiterschichtenfolge 3 erzeugten elektromagnetischen Strahlung angeregt, so dass sie selber Strahlung emittieren. Das Konvertermaterial kann wie genannt in die Abdeckschicht integriert sein, es kann aber auch eine zusätzliche Konverterschicht ausgebildet werden.This in 1 shown optoelectronic component 1 can be provided with a cover layer to the optoelectronic device 1 protect or embed it in a larger unit. The cover layer may contain a converter material, which by luminescence from the semiconductor layer sequence 3 generated and emitted electromagnetic radiation wholly or partly into electromagnetic radiation of a different wavelength, which is typically longer wavelength converts. Phosphors are in this case of the in the semiconductor layer sequence 3 generated electromagnetic radiation so that they emit radiation itself. As mentioned, the converter material can be integrated into the cover layer, but an additional converter layer can also be formed.

In 2 ist ein Querschnitt durch das optoelektronische Bauelement 1 gezeigt, welches den Halbleiterkörper und den Träger 2 umfasst.In 2 is a cross section through the optoelectronic device 1 showing the semiconductor body and the carrier 2 includes.

Der Halbleiterkörper umfasst die Halbleiterschichtenfolge 3, welche zumindest die erste Hauptfläche 4 und die gegenüberliegende zweite Hauptfläche 5 umfasst. Der Träger 2 des optoelektronischen Bauelements 1 ist auf der der ersten Hauptfläche 4 der Halbleiterschichtenfolge 3 zugewandten Seite des Halbleiterkörpers angeordnet und ist von dem Aufwachssubstrat 6 für den Halbleiterkörper verschieden. Der Träger 2 umfasst zumindest den einen Reflektor 8, wobei der Reflektor 8 ausgebildet ist, elektromagnetische Strahlung, die von dem Halbleiterkörper emittiert wird, zu reflektieren und zwar derart, dass sie zumindest teilweise unter Umgehung der ersten Hauptfläche 4 des Halbleiterkörpers aus dem Halbleiterkörper emittiert wird. Insbesondere ist der Reflektor 8 zumindest teilweise zylinderförmig ausgebildet. Der Reflektor 8 kann beispielsweise auch zumindest teilweise parabolisch, kugelförmig oder prismenförmig ausgebildet sein.The semiconductor body comprises the semiconductor layer sequence 3 which is at least the first major surface 4 and the opposite second major surface 5 includes. The carrier 2 of the optoelectronic component 1 is on the first major surface 4 the semiconductor layer sequence 3 disposed facing side of the semiconductor body and is of the growth substrate 6 different for the semiconductor body. The carrier 2 includes at least the one reflector 8th , where the reflector 8th is designed to reflect electromagnetic radiation emitted by the semiconductor body, in such a way that it at least partially bypassing the first main surface 4 of the semiconductor body is emitted from the semiconductor body. In particular, the reflector 8th at least partially cylindrical. The reflector 8th For example, it may also be at least partially parabolic, spherical or prism-shaped.

Bei der beispielhaften Ausgestaltung nach 2 ist die Halbleiterschichtenfolgen 3 vorgesehen, welche den aktiven Bereich 7 umfasst, der zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung ausgebildet ist.In the exemplary embodiment according to 2 is the semiconductor layer sequences 3 provided which is the active area 7 includes, which is designed to generate electromagnetic radiation.

Die Halbleiterschichtenfolge 3 weist typischerweise eine Höhe kleiner als 20 μm, bevorzugt kleiner als 10 μm auf. Die Halbleiterschichtenfolge 3 aneinander angrenzender Schichten umfasst vorzugsweise den n-dotierten Indiumgalliumnitrid-Bereich 13 und den p-dotierten Indiumgalliumnitrid-Bereich 14.The semiconductor layer sequence 3 typically has a height less than 20 microns, preferably less than 10 microns. The semiconductor layer sequence 3 Adjacent layers preferably comprise the n-doped indium gallium nitride region 13 and the p-doped indium gallium nitride region 14 ,

Eine auf Nitrid-Verbindungshalbleitern basierende Halbleiterschichtenfolge bedeutet im vorliegenden Zusammenhang, dass die aktive Epitaxie-Schichtenfolge oder zumindest eine Schicht davon ein Nitrid-III/V-Verbindungshalbleitermaterial, vorzugsweise AlnGamIn1-n-mN umfasst, wobei 0 ≤ n ≤ 1, 0 ≤ m ≤ 1 und n + m ≤ 1. Dabei muss dieses Material nicht zwingend eine mathematisch exakte Zusammensetzung nach obiger Formel aufweisen. Vielmehr kann es einen oder mehrere Dotierstoffe sowie zusätzliche Bestandteile aufweisen, die die charakteristischen physikalischen Eigenschaften des AlnGamIn1-n-mN-Materials im Wesentlichen nicht ändern. Der Einfachheit halber beinhaltet obige Formel jedoch nur die wesentlichen Bestandteile des Kristallgitters (Al, Ga, In, N), auch wenn diese teilweise durch geringe Mengen weiterer Stoffe ersetzt sein können. Ein optoelektronisches Bauelement 1, das einen Nitrid-Verbindungshalbleiter aufweist, emittiert hauptsächlich Strahlung mit einer Wellenlänge im kurzwelligen Bereich des sichtbaren optischen Spektrums.A semiconductor layer sequence based on nitride compound semiconductors in the present context means that the active epitaxial layer sequence or at least one layer thereof comprises a nitride III / V compound semiconductor material, preferably Al n Ga m In 1 nm N, where 0 ≦ n ≦ 1 , 0 ≤ m ≤ 1 and n + m ≤ 1. This material does not necessarily have to have a mathematically exact composition according to the above formula. Rather, it may comprise one or more dopants as well as additional constituents which do not substantially alter the characteristic physical properties of the Al n Ga m In 1-nm N material countries. For the sake of simplicity, however, the above formula contains only the essential constituents of the crystal lattice (Al, Ga, In, N), even if these may be partially replaced by small amounts of other substances. An optoelectronic component 1 comprising a nitride compound semiconductor mainly emits radiation having a wavelength in the short wavelength range of the visible optical spectrum.

Im Ausführungsbeispiel nach 2 sind mehrere Maßnahmen entsprechend verschiedener Aspekte von Ausgestaltungen der Erfindung umgesetzt. Die einzelnen Maßnahmen können auch in abweichenden Ausführungen der Erfindung separat voneinander realisiert werden.In the embodiment according to 2 Several measures are implemented according to various aspects of embodiments of the invention. The individual measures can also be realized separately in different embodiments of the invention.

Eine erste Maßnahme ist eine zumindest teilweise Aufrauung 15 der ersten Hauptfläche 4 und der zweiten Hauptfläche 5 der Halbleiterschichtenfolge 3, wobei durch die Aufrauungen 15 eine Verbesserung des Auskoppelverhaltens der in der Halbleiterschichtenfolge 3 erzeugten elektromagnetischen Strahlung erreicht wird. Die elektromagnetische Strahlung findet im Bereich der Aufrauungen 15 sehr unterschiedliche Austrittswinkel vor, so dass die Wahrscheinlichkeit, nicht in einem zur Totalreflektion führenden Winkel auf die Grenzfläche aufzutreffen, erhöht ist. Diese Aufrauungen 15 werden vorzugsweise durch Ätzen, also in einem nasschemischen Verfahren erzeugt. Kristalle besitzen üblicherweise auf der oberen und unteren Seite unterschiedliche Eigenschaften beim Ätzen, so dass es von Vorteil sein kann, die verschiedenen Seiten mit unterschiedlichen Methoden aufzurauen bzw. zu strukturieren.A first measure is an at least partial roughening 15 the first main area 4 and the second major surface 5 the semiconductor layer sequence 3 , where by the roughening 15 an improvement of the coupling-out behavior in the semiconductor layer sequence 3 generated electromagnetic radiation is achieved. The electromagnetic radiation takes place in the area of the roughening 15 very different exit angles, so that the probability not to impinge on the interface in an angle leading to the total reflection is increased. These roughenings 15 are preferably produced by etching, that is, in a wet-chemical process. Crystals usually have different etching properties on the upper and lower sides, so it may be advantageous to roughen the different sides with different methods.

Eine weitere Maßnahme ist das Vorsehen von zumindest einem Auskoppelprisma 16 jeweils auf der ersten Hauptfläche 4 und der zweiten Hauptfläche 5 der Halbleiterschichtenfolge 3, das anstelle der Aufrauungen 15 oder auch in Kombination mit diesen vorgesehen werden kann. Durch das Auskoppelprisma 16 wird ebenfalls der Winkel, in dem eine elektromagnetische Welle auf die Grenzfläche zur Umgebung auftrifft, gegenüber den angrenzenden Bereichen der ersten Hauptfläche 4 oder der zweiten Hauptfläche 5 verändert. Somit besteht eine erhöhte Wahrscheinlichkeit, dass eine elektromagnetische Welle, die in diesen Bereich eindringt, bereits zuvor an einer anderen Stelle der ersten Hauptfläche 4 oder der zweiten Hauptfläche 5 reflektiert wurde.Another measure is the provision of at least one decoupling prism 16 each on the first main surface 4 and the second major surface 5 the semiconductor layer sequence 3 that instead of the roughening 15 or can be provided in combination with these. Through the decoupling prism 16 Also, the angle at which an electromagnetic wave impinges on the interface with the environment is opposite to the adjacent areas of the first main surface 4 or the second major surface 5 changed. Thus, there is an increased likelihood that an electromagnetic wave entering this area will be previously located elsewhere on the first major surface 4 or the second major surface 5 was reflected.

Auskoppelprismen 16 werden fotolithographisch strukturiert. Als Ätzmaske kann eine Schicht z. B. aus SiO2 oder SiN Verwendung finden. Danach kann eine trockenchemische Ätzung erfolgen.outcoupling prisms 16 are structured by photolithography. As an etching mask, a layer z. B. from SiO 2 or SiN find use. Thereafter, a dry chemical etching can take place.

Eine dritte Maßnahme ist eine zumindest teilweise Verspiegelung 12 der Unterseiten von dem ersten elektrischen Kontaktbereich 10 und dem zweiten elektrischen Kontaktbereich 11, welche mit der ersten Hauptfläche 4 beziehungsweise der zweiten Hauptfläche 5 Halbleiterschichtenfolge 3 elektrisch leitend verbunden sind. Die Unterseiten sind dabei diejenigen Seiten der elektrischen Kontaktbereiche 10, 11, welche zu der Halbleiterschichtenfolge 3 weisen. Durch die Verspiegelungen 12 wird in der Halbleiterschichtenfolge 3 erzeugte elektromagnetische Strahlung, welche normalerweise auf die elektrischen Kontaktbereiche 10, 11 treffen würde und dort mit verhältnismäßig großer Wahrscheinlichkeit absorbiert wird, durch die Verspiegelung 12 zurück in die Halbleiterschichtenfolge 3 reflektiert, wobei diese elektromagnetische Strahlung sodann auf die gegenüberliegende Grenzfläche auftrifft und dort die Halbleiterschichtenfolge 3 verlassen kann. Mit Verspiegelungen vorgesehene Kontaktbereiche 10, 11 bewirken also eine Effizienzsteigerung, da weniger elektromagnetische Strahlung absorbiert wird, sondern ein größerer Anteil der insgesamt erzeugten elektromagnetischen Strahlung emittiert wird.A third measure is at least partial mirroring 12 the bottoms of the first electrical contact area 10 and the second electrical contact area 11 , which with the first main surface 4 or the second major surface 5 Semiconductor layer sequence 3 are electrically connected. The undersides are those sides of the electrical contact areas 10 . 11 leading to the semiconductor layer sequence 3 point. Through the mirroring 12 becomes in the semiconductor layer sequence 3 generated electromagnetic radiation, which normally on the electrical contact areas 10 . 11 would meet and is absorbed there with relatively high probability, by the mirroring 12 back into the semiconductor layer sequence 3 reflected, this electromagnetic radiation then impinges on the opposite interface and there the semiconductor layer sequence 3 can leave. Contact areas provided with reflective coatings 10 . 11 So cause an increase in efficiency, since less electromagnetic radiation is absorbed, but a larger proportion of the total generated electromagnetic radiation is emitted.

Eine weitere Maßnahme zur Bildung von Auskoppelstrukturen kann beispielsweise der Einsatz eines photonischen Kristalls sein z. B. als zusätzliche Schicht auf zumindest einer der Hauptflächen 4, 5 der Halbleiterschichtenfolge 3. Vorzugsweise umfasst der photonische Kristall eine Mehrzahl von ersten Bereichen mit einem ersten Brechungsindex und eine Mehrzahl von zweiten Bereichen mit einem zweiten Brechungsindex. Besonders bevorzugt sind die Bereiche regelmäßig angeordnet. Die regelmäßige Anordnung kann einem eindimensionalen, zweidimensionalen oder dreidimensionalen Gitter entsprechen. Insbesondere kann der photonische Kristall die Struktur eines zweidimensionalen Gitters aufweisen. Dabei entspricht der Abstand zwischen zwei benachbarten ersten Bereichen beziehungsweise zwei benachbarten zweiten Bereichen der Gitterkonstante. Der photonische Kristall erzielt seine Wirkung am besten, wenn die Gitterkonstante an eine Wellenlänge der von dem Halbleiterkörper erzeugten Strahlung angepasst ist. Vorzugsweise entspricht der Abstand zwischen zwei benachbarten ersten Bereichen beziehungsweise zwei benachbarten zweiten Bereichen ungefähr der Wellenlänge der von der Halbleiterschichtenfolge 3 erzeugten Strahlung. Besonders bevorzugt liegt der Abstand zwischen 10–9 m und 10–6 m. Dadurch kann bewirkt werden, dass ein Teil der Strahlung, der unter einem Winkel gleich oder größer als dem Grenzwinkel ϑ auf den photonischen Kristall auftrifft, derart umgelenkt wird, dass er unter einem Winkel kleiner als dem Grenzwinkel ϑ auf eine Strahlungsauskoppelfläche auftrifft und somit auskoppeln kann.Another measure for the formation of coupling-out structures can be, for example, the use of a photonic crystal z. B. as an additional layer on at least one of the major surfaces 4 . 5 the semiconductor layer sequence 3 , Preferably, the photonic crystal comprises a plurality of first regions having a first refractive index and a plurality of second regions having a second refractive index. Particularly preferably, the areas are arranged regularly. The regular arrangement may correspond to a one-dimensional, two-dimensional or three-dimensional grid. In particular, the photonic crystal may have the structure of a two-dimensional lattice. In this case, the distance between two adjacent first regions or two adjacent second regions corresponds to the lattice constant. The photonic crystal achieves its effect best when the lattice constant is adapted to a wavelength of the radiation generated by the semiconductor body. The distance between two adjacent first regions or two adjacent second regions preferably corresponds approximately to the wavelength of the semiconductor layer sequence 3 generated radiation. Particularly preferred is the distance between 10 -9 m and 10 -6 m. This can cause a portion of the radiation, which impinges on the photonic crystal at an angle equal to or greater than the critical angle θ, to be deflected such that it impinges on a radiation decoupling surface at an angle smaller than the critical angle θ and thus able to decouple ,

Der photonische Kristall kann neben der optischen Funktion eine elektrische Funktion übernehmen und derart beschaffen sein, dass er zur Stromaufweitung dient, dass heißt der über Kontaktbereiche 10, 11 zugeführte Strom wird in dem photonischen Kristall auf eine im Vergleich zu den Kontaktbereichen 10, 11 größere Fläche der Halbleiterschichtenfolge 3 verteilt.The photonic crystal can take on an electrical function in addition to the optical function and be designed such that it serves to stream expansion, that is, the contact over che 10 . 11 supplied current is in the photonic crystal to one compared to the contact areas 10 . 11 larger area of the semiconductor layer sequence 3 distributed.

Als Abwandlungen der gezeigten und beschriebenen Ausgestaltung können die elektrischen Kontaktbereiche 10, 11 auf den Auskoppelprismen 16 vorgesehen werden. Ebenso ist ein Versatz der oberen und unteren elektrischen Kontaktbereiche 10, 11 möglich, so dass eine unterschiedliche räumliche Lage entsteht.As modifications of the embodiment shown and described, the electrical contact areas 10 . 11 on the decoupling prisms 16 be provided. Likewise, an offset of the upper and lower electrical contact areas 10 . 11 possible, so that a different spatial situation arises.

Das in 2 dargestellte optoelektronische Bauelement 1 kann mit einer Abdeckschicht versehen werden, um das Bauelement zu schützen beziehungsweise ihn in eine größere Einheit einzubetten. Die Abdeckschicht kann ein Konvertermaterial enthalten, welches durch Lumineszenz, die von der Halbleiterschichtenfolge 3 erzeugte und emittierte elektromagnetische Strahlung ganz oder teilweise in elektromagnetische Strahlung einer anderen Wellenlänge, die typischerweise längerwellig ist, umwandelt. Leuchtstoffe werden dabei von der in der Halbleiterschichtenfolge 3 erzeugten Strahlung angeregt, so dass sie selber Strahlung emittieren. Das Konvertermaterial kann wie genannt in die Abdeckschicht integriert sein, es kann aber auch eine zusätzliche Konverterschicht ausgebildet werden.This in 2 illustrated optoelectronic component 1 can be provided with a cover layer to protect the component or to embed it in a larger unit. The cover layer may contain a converter material, which is formed by luminescence, that of the semiconductor layer sequence 3 generated and emitted electromagnetic radiation wholly or partly into electromagnetic radiation of a different wavelength, which is typically longer wavelength converts. Phosphors are in this case of the in the semiconductor layer sequence 3 generated radiation so that they emit radiation itself. As mentioned, the converter material can be integrated into the cover layer, but an additional converter layer can also be formed.

Vorzugsweise sind die anhand von 2 beschriebenen Maßnahmen zur Verbesserung der Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge 3 erzeugten elektromagnetischen Strahlung bei dem optoelektronischen Bauelement 1 nach 1 ebenfalls vorgesehen.Preferably, the basis of 2 described measures for improving the decoupling in the semiconductor layer sequence 3 generated electromagnetic radiation in the optoelectronic device 1 to 1 also provided.

In der Draufsicht auf das optoelektronische Bauelement 1 nach 3 ist zu erkennen, dass der zweite elektrische Kontaktbereich 11 rahmenförmig auf der zweiten Hauptfläche 5 der Halbleiterschichtenfolge 3 angeordnet ist. Der Vorteil der rahmenförmigen Ausgestaltung ist, dass wenig Fläche verbraucht wird, so dass die für die Strahlungsemission zur Verfügung stehende Fläche maximiert wird. Gleichzeitig ist aber eine gute Stromverteilung über die Oberfläche des optoelektronischen Bauelements 1 gesichert. An einer Ecke des optoelektronischen Bauelements 1 ist eine Bondfläche 17 zu erkennen, die zur späteren Kontaktierung des optoelektronischen Bauelements 1 mit Leiterbahnen oder Bonddrähten dient. Vorzugsweise sind die anhand von 2 offenbarten Maßnahmen zur Verbesserung der Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge 3 erzeugten elektromagnetischen Strahlung bei dem optoelektronischen Bauelement 1 nach 3 ebenfalls vorgesehen, in der Figur aber nicht dargestellt.In the plan view of the optoelectronic component 1 to 3 it can be seen that the second electrical contact area 11 frame-shaped on the second major surface 5 the semiconductor layer sequence 3 is arranged. The advantage of the frame-shaped design is that little area is consumed so that the area available for radiation emission is maximized. At the same time, however, there is a good current distribution over the surface of the optoelectronic component 1 secured. At a corner of the optoelectronic device 1 is a bonding surface 17 to recognize, for later contacting the optoelectronic device 1 used with conductor tracks or bonding wires. Preferably, the basis of 2 disclosed measures for improving the decoupling in the semiconductor layer sequence 3 generated electromagnetic radiation in the optoelectronic device 1 to 3 also provided, but not shown in the figure.

Die 4 zeigt eine dreidimensionale Ansicht des optoelektronischen Bauelements 1. Wie in der 3 sind auch in dieser Figur die Maßnahmen zur Verbesserung der Auskopplung von elektromagnetischer Strahlung nicht dargestellt. Im Unterschied zu der Ausführung nach den 2 und 3 ist bei der 4 vorzugsweise im zentralen Bereich der zweiten Hauptfläche 5 ein geschlossener zweiter elektrischer Kontaktbereich 11 vorgesehen. Er bedeckt beispielsweise eine Fläche von nur 10 bis 20 Prozent der zweiten Hauptfläche 5, so dass eine ausreichend große Fläche zur Abstrahlung von elektromagnetischer Strahlung zur Verfügung steht.The 4 shows a three-dimensional view of the optoelectronic device 1 , Like in the 3 In this figure, the measures for improving the decoupling of electromagnetic radiation are not shown. Unlike the execution after the 2 and 3 Is at the 4 preferably in the central region of the second major surface 5 a closed second electrical contact area 11 intended. For example, it covers an area of only 10 to 20 percent of the second major surface 5 , so that a sufficiently large area for the emission of electromagnetic radiation is available.

In der 4 ist zu erkennen, wie das optoelektronische Bauelement 1 mit einer transparenten Folie 18 gekoppelt werden kann. Der Träger 2 des optoelektronischen Bauelements 1 ist auf der der ersten Hauptfläche 4 der Halbleiterschichtenfolge 3 zugewandten Seite des Halbleiterkörpers angeordnet und ist von dem Aufwachssubstrat 6 für den Halbleiterkörper verschieden. Der Träger 2 umfasst zumindest zwei Reflektoren 8, wobei die Reflektoren 8 ausgebildet sind, elektromagnetische Strahlung, die von dem Halbleiterkörper emittiert wird, zu reflektieren und zwar derart, dass sie zumindest teilweise unter Umgehung der ersten Hauptfläche 4 des Halbleiterkörpers aus dem Halbleiterkörper emittiert wird. Insbesondere sind die Reflektoren 8 zumindest teilweise zylinderförmig ausgebildet. Die Reflektoren 8 können beispielsweise auch zumindest teilweise parabolisch, kugelförmig oder prismenförmig ausgebildet sein.In the 4 can be seen how the optoelectronic device 1 with a transparent foil 18 can be coupled. The carrier 2 of the optoelectronic component 1 is on the first major surface 4 the semiconductor layer sequence 3 disposed facing side of the semiconductor body and is of the growth substrate 6 different for the semiconductor body. The carrier 2 includes at least two reflectors 8th , where the reflectors 8th are formed to reflect electromagnetic radiation emitted by the semiconductor body, in such a way that they at least partially bypassing the first main surface 4 of the semiconductor body is emitted from the semiconductor body. In particular, the reflectors 8th at least partially cylindrical. The reflectors 8th For example, they may also be at least partially parabolic, spherical or prism-shaped.

Der Träger 2 weist eine Trägerfolie 19 auf. Die Halbleiterschichtenfolge 3 ist zwischen der transparenten Folie 18 und der Trägerfolie 19 aufgenommen. Zumindest die transparenten Folie 18, wahlweise auch die Trägerfolie 19, ist aus einem transparenten Material, um die Abstrahlung zu ermöglichen.The carrier 2 has a carrier film 19 on. The semiconductor layer sequence 3 is between the transparent film 18 and the carrier film 19 added. At least the transparent foil 18 , optionally also the carrier film 19 , is made of a transparent material to allow the radiation.

Die transparente Folie 18 und auch die Trägerfolie 19 können ein Kunststoffmaterial enthalten. Für die transparente Folie 19 und die Trägerfolie 19 bevorzugte Materialien sind beispielsweise Glas, ein Epoxidharz, PET, ein Polymer, insbesondere Polyimid, beispielsweise Kapton, oder eine Kombination dieser Materialien.The transparent foil 18 and also the carrier foil 19 can contain a plastic material. For the transparent film 19 and the carrier film 19 preferred materials are for example glass, an epoxy resin, PET, a polymer, in particular polyimide, for example Kapton, or a combination of these materials.

Darüber hinaus enthalten die transparente Folie 18 und die Trägerfolie 19 bei einer bevorzugten Ausführungsform Kohlefasern. Diese können beispielsweise in einen Polymerfilm eingebettet sein und eine höhere thermische Leitfähigkeit aufweisen als der Polymerfilm, so dass sich daraus vorteilhafterweise insgesamt eine haftende und thermisch leitende Trägerschicht ergibt.In addition, contain the transparent film 18 and the carrier film 19 in a preferred embodiment, carbon fibers. These may for example be embedded in a polymer film and have a higher thermal conductivity than the polymer film, so that advantageously results in an overall adhesive and thermally conductive support layer.

Außerdem können die transparente Folie 18 und die Trägerfolie 19 ein Glasgewebe, insbesondere ein Silikat, aufweisen. Insbesondere sind auch ITO (Indium-Zinnoxyd)-beschichtete Glasfolien geeignet.In addition, the transparent film 18 and the carrier film 19 a glass fabric, in particular a silicate, have. In particular, ITO (indium-tin oxide) -coated glass foils are also suitable.

Auf der dem optoelektronischen Bauelement 1 zugewandten Seite der transparenten Folie 18 kann zumindest eine Kontaktbahn 20 vorgesehen sein, die mit dem zweiten elektrischen Kontaktbereich 11 elektrisch leitend verbunden ist, um eine elektrische Kontaktierung des optoelektronischen Bauelements 1 zu ermöglichen. Insbesondere kann auch auf der dem optoelektronischen Bauelement 1 zugewandten Seite der Trägerfolie 19 zumindest eine Kontaktbahn 21 vorgesehen sein.On the optoelectronic device 1 facing side of the transparent film 18 can at least one contact track 20 be provided with the second electrical contact area 11 is electrically connected to an electrical contact of the optoelectronic device 1 to enable. In particular, also on the optoelectronic component 1 facing side of the carrier film 19 at least one contact track 21 be provided.

Die transparente Folie 18 und wahlweise die Trägerfolie 19 können entweder insgesamt elektrisch leitend ausgestaltet werden oder es werden nur Leiterbahnen wie in 4 dargestellt realisiert, während die restlichen Bereiche nicht leitend sind.The transparent foil 18 and optionally the carrier film 19 can either be made electrically conductive overall or it will only strip conductors as in 4 shown realized while the remaining areas are non-conductive.

Für die Kontaktbahnen 20, 21 ist es von Vorteil, wenn leitfähige und gleichzeitig transparente Materialien verwendet werden, z. B. "transparent conductive Oxide" (TCO). Vorzugsweise weisen die Kontaktbahnen 20, 21 Indium-Zinnoxyd (ITO) auf, so dass kein Metall notwendig ist.For the contact tracks 20 . 21 it is advantageous if conductive and transparent materials are used, for. B. "transparent conductive oxides" (TCO). Preferably, the contact tracks 20 . 21 Indium tin oxide (ITO) on, so that no metal is necessary.

Vorzugsweise sind die anhand von 2 offenbarten Maßnahmen zur Verbesserung der Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge 3 erzeugten elektromagnetischen Strahlung bei dem optoelektronischen Bauelement 1 nach 4 ebenfalls vorgesehen, in der Figur aber nicht dargestellt.Preferably, the basis of 2 disclosed measures for improving the decoupling in the semiconductor layer sequence 3 generated electromagnetic radiation in the optoelectronic device 1 to 4 also provided, but not shown in the figure.

5 zeigt eine weitere Ausführungsform des optoelektronischen Bauelements 1, welches den Halbleiterkörper und den Träger 2 umfasst. Der Halbleiterkörper umfasst die Halbleiterschichtenfolge 3. Der Träger 2 des optoelektronischen Bauelements 1 ist auf der der ersten Hauptfläche 4 der Halbleiterschichtenfolge 3 zugewandten Seite des Halbleiterkörpers angeordnet und ist von dem Aufwachssubstrat 6 für den Halbleiterkörper verschieden. Der Träger 2 umfasst beispielsweise acht Reflektoren 8, wobei die Reflektoren 8 ausgebildet sind, elektromagnetische Strahlung, die von dem Halbleiterkörper emittiert wird, zu reflektieren und zwar derart, dass sie zumindest teilweise unter Umgehung der ersten Hauptfläche 4 des Halbleiterkörpers aus dem Halbleiterkörper emittiert wird. Insbesondere sind die Reflektoren 8 zumindest teilweise parabolisch ausgebildet. Die Reflektoren 8 können beispielsweise auch zumindest teilweise kugelförmig, zylinderförmig oder prismenförmig ausgebildet sein. 5 shows a further embodiment of the optoelectronic component 1 , which the semiconductor body and the carrier 2 includes. The semiconductor body comprises the semiconductor layer sequence 3 , The carrier 2 of the optoelectronic component 1 is on the first major surface 4 the semiconductor layer sequence 3 disposed facing side of the semiconductor body and is of the growth substrate 6 different for the semiconductor body. The carrier 2 includes, for example, eight reflectors 8th , where the reflectors 8th are formed to reflect electromagnetic radiation emitted by the semiconductor body, in such a way that they at least partially bypassing the first main surface 4 of the semiconductor body is emitted from the semiconductor body. In particular, the reflectors 8th at least partially parabolic. The reflectors 8th For example, they may also be at least partially spherical, cylindrical or prism-shaped.

Auf der der Halbleiterschichtenfolge 3 zugewandten Seite des Trägers 2 ist eine Verspiegelung 12 vorgesehen. Durch die Verspiegelung 12 wird in der Halbleiterschichtenfolge 3 erzeugte elektromagnetische Strahlung durch die Verspiegelung 12 zurück in die Halbleiterschichtenfolge 3 reflektiert, wobei diese elektromagnetische Strahlung sodann auf die gegenüberliegende Grenzfläche auftrifft und dort die Halbleiterschichtenfolge 3 verlassen kann.On the the semiconductor layer sequence 3 facing side of the carrier 2 is a mirroring 12 intended. Through the mirroring 12 becomes in the semiconductor layer sequence 3 generated electromagnetic radiation through the mirroring 12 back into the semiconductor layer sequence 3 reflected, this electromagnetic radiation then impinges on the opposite interface and there the semiconductor layer sequence 3 can leave.

Der erste elektrische Kontaktbereich 10 ist vorzugsweise rahmenförmig auf der ersten Hauptfläche 4 der Halbleiterschichtenfolge 3 angeordnet. Der Vorteil der rahmenförmigen Ausgestaltung ist, dass wenig Fläche verbraucht wird, so dass die für die Strahlungsemission zur Verfügung stehende Fläche maximiert wird. Gleichzeitig ist aber eine gute Stromverteilung über die Oberfläche des optoelektronischen Bauelements 1 gesichert. Vorzugsweise sind die anhand von 2 offenbarten Maßnahmen zur Verbesserung der Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge 3 erzeugten elektromagnetischen Strahlung bei dem optoelektronischen Bauelement 1 nach 5 ebenfalls vorgesehen, in der 5 aber nicht dargestellt.The first electrical contact area 10 is preferably frame-shaped on the first major surface 4 the semiconductor layer sequence 3 arranged. The advantage of the frame-shaped design is that little area is consumed so that the area available for radiation emission is maximized. At the same time, however, there is a good current distribution over the surface of the optoelectronic component 1 secured. Preferably, the basis of 2 disclosed measures for improving the decoupling in the semiconductor layer sequence 3 generated electromagnetic radiation in the optoelectronic device 1 to 5 also provided in the 5 but not shown.

Anhand der 6A bis 6G wird nachfolgend erläutert, welche Schritte nach einem Verfahren durchgeführt werden, um ein optoelektronisches Bauelement 1 herzustellen.Based on 6A to 6G is explained below, which steps are performed by a method to an optoelectronic device 1 manufacture.

In einem ersten Schritt (6A) wird auf einem Aufwachssubstrat 6 eine zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung geeignete Halbleiterschichtenfolge 3 ausgebildet. Dies erfolgt durch epitaktisches Aufwachsen mehrerer unterschiedlicher Schichten, die vorzugsweise einen Nitrid-Verbindungshalbleiter enthalten, auf einem Saphir- oder SiC-Substrat. Die Halbleiterschichtenfolge 3 umfasst zumindest eine erste Hauptfläche 4 und eine gegenüberliegende zweite Hauptfläche 5, wobei das Aufwachssubstrat 6 vorzugsweise auf der der zweite Hauptfläche 5 zugewandten Seite der Halbleiterschichtenfolge 3 angeordnet ist.In a first step ( 6A ) is grown on a growth substrate 6 a semiconductor layer sequence suitable for generating electromagnetic radiation 3 educated. This is done by epitaxially growing several different layers, preferably containing a nitride compound semiconductor, on a sapphire or SiC substrate. The semiconductor layer sequence 3 includes at least a first major surface 4 and an opposite second major surface 5 wherein the growth substrate 6 preferably on the second major surface 5 facing side of the semiconductor layer sequence 3 is arranged.

In der 6B ist ein weiterer Herstellungsschritt dargestellt, bei dem auf die Halbleiterschichtenfolge 3 eine erste Kontaktmaterialschicht 22 auf der ersten Hauptfläche 4 aufgebracht wird. Die erste Kontaktmaterialschicht 22 ist elektrisch leitfähig. Besonders vorteilhaft ist, wenn die Herstellung der ersten Kontaktmaterialschicht 22 so erfolgt, dass sich auf der Unterseite eine Verspiegelung 12 bildet, die in der Halbleiterschichtenfolge 3 erzeugte elektromagnetsiche Strahlung ohne Verluste beziehungsweise mit nur geringen Verlusten reflektiert. Die Verspiegelung 12 wird beispielsweise durch eine Silberschicht oder eine silberhaltige Schicht realisiert.In the 6B is shown a further manufacturing step, in which the semiconductor layer sequence 3 a first contact material layer 22 on the first main surface 4 is applied. The first contact material layer 22 is electrically conductive. It is particularly advantageous if the production of the first contact material layer 22 so that takes place on the bottom of a mirror coating 12 forms in the semiconductor layer sequence 3 generated electromagnetic radiation without losses or with only slight losses reflected. The mirroring 12 is realized for example by a silver layer or a silver-containing layer.

Die erste Kontaktmaterialschicht 22 kann auf der Halbleiterschichtenfolge 3 ganzflächig aufgebracht sein. Alternativ kann die erste Kontaktmaterialschicht 22 partiell an den Stellen, z. B. durch eine Maske, aufgebracht sein, an denen später Kontaktbereiche ausgebildet sein sollen.The first contact material layer 22 can on the semiconductor layer sequence 3 be applied over the entire surface. Alternatively, the first contact material layer 22 partially in places, z. B. by a mask, be applied to which later contact areas should be formed.

Bei der Darstellung gemäß 6B ist die erste Kontaktmaterialschicht 22 ganzflächig aufgebracht.In the presentation according to 6B is the first contact material layer 22 over the entire surface introduced.

In dem Herstellungsschritt nach 6C wird die erste Kontaktmaterialschicht 22 strukturiert, so dass erste elektrische Kontaktbereiche 10 stehen bleiben und der Rest der ersten Kontaktmaterialschicht 22 entfernt wird. Somit entsteht zumindest ein von der ersten Kontaktmaterialschicht 22 befreiter Bereich der Halbleiterschichtenfolge 3. Gleichzeitig oder in einem nachfolgenden Schritt kann die erste Hauptfläche 4 der Halbleiterschichtenfolge 3 zumindest teilweise mit Aufrauungen 15 versehen werden, um die Auskopplung von in der Halbleiterschichtenfolge 3 erzeugter elektromagnetischer Strahlung zu verbessern. In einer alternativen Ausgestaltung des Verfahrens wird das Aufrauen durchgeführt, bevor die erste Kontaktmaterialschicht 22 aufgebracht wird. Nach der Strukturierung der ersten Kontaktmaterialschicht 22 ist dann die Aufrauung 15 bereits vorhanden.In the manufacturing step after 6C becomes the first contact material layer 22 structured so that first electrical contact areas 10 stop and the rest of the first layer of contact material 22 Will get removed. Thus, at least one of the first contact material layer is formed 22 liberated area of the semiconductor layer sequence 3 , At the same time or in a subsequent step, the first main surface 4 the semiconductor layer sequence 3 at least partially with roughening 15 be provided to the coupling of in the semiconductor layer sequence 3 to improve generated electromagnetic radiation. In an alternative embodiment of the method, the roughening is carried out before the first contact material layer 22 is applied. After structuring the first contact material layer 22 is then the roughening 15 already exists.

In einem weiteren Herstellungsschritt gemäß 6D wird ein Träger 2 mit der Halbleiterschichtenfolge 3 über die Reste der ersten Kontaktmaterialschicht 22 gekoppelt, die nach 6D nur noch aus dem ersten elektrischen Kontaktbereich 10 besteht. Der Träger 2 des optoelektronischen Bauelements 1 ist wird auf der der ersten Hauptfläche 4 der Halbleiterschichtenfolge 3 zugewandten Seite des Halbleiterkörpers angeordnet und ist von dem Aufwachssubstrat 6 für den Halbleiterkörper verschieden. Der Träger 2 umfasst zumindest einen Reflektor 8, wobei der Reflektor 8 ausgebildet ist, elektromagnetische Strahlung, die von dem Halbleiterkörper emittiert wird, zu reflektieren und zwar derart, dass sie zumindest teilweise unter Umgehung der ersten Hauptfläche 4 des Halbleiterkörpers aus dem Halbleiterkörper emittiert wird. Insbesondere wird der Reflektor 8 zumindest teilweise zylinderförmig ausgebildet.In a further manufacturing step according to 6D becomes a carrier 2 with the semiconductor layer sequence 3 over the remnants of the first contact material layer 22 coupled, after 6D only from the first electrical contact area 10 consists. The carrier 2 of the optoelectronic component 1 is on the first major surface 4 the semiconductor layer sequence 3 disposed facing side of the semiconductor body and is of the growth substrate 6 different for the semiconductor body. The carrier 2 includes at least one reflector 8th , where the reflector 8th is designed to reflect electromagnetic radiation emitted by the semiconductor body, in such a way that it at least partially bypassing the first main surface 4 of the semiconductor body is emitted from the semiconductor body. In particular, the reflector 8th at least partially cylindrical.

Der Reflektor 8 kann beispielsweise auch zumindest teilweise parabolisch, kugelförmig oder prismenförmig ausgebildet werden.The reflector 8th For example, it may also be at least partially parabolic, spherical or prismatic.

Nach dem Koppeln mit dem Träger 2 ist die Stabilität der Halbleiterschichtenfolge 3 für die weitere Bearbeitung durch den Träger 2 sichergestellt, so dass das Aufwachssubstrat 6 entfernt werden kann. Der entsprechende Schritt ist in der 6E dargestellt. Das Ablösen des Aufwachssubstrats 6 kann beispielsweise durch ein Laserablöseverfahren erfolgen, wie es beispielsweise aus der WO98/14986 bekannt ist. Im Wesentlichen wird bei einem Laserablöseverfahren durch das Aufwachssubstrat 6 hindurch eine Grenzfläche zwischen dem Aufwachssubstrat 6 und der Halbleiterschichtenfolge 3 mit elektromagnetischer Strahlung, vorzugsweise Laserstrahlung, bestrahlt, so dass an der Grenzfläche durch Absorption der Strahlung eine Materialzersetzung stattfindet. Dadurch lassen sich das Aufwachssubstrat 6 und die Halbleiterschichtenfolge 3 im Wesentlichen zerstörungsfrei voneinander trennen. Das Aufwachssubstrat 6 kann sogar wieder verwendet werden. Alternativ kann die Ablösung des Aufwachssubstrats 6 durch Ätzen oder ein sonstiges geeignetes Abhebeverfahren erfolgen.After coupling with the carrier 2 is the stability of the semiconductor layer sequence 3 for further processing by the wearer 2 ensured so that the growth substrate 6 can be removed. The appropriate step is in the 6E shown. The detachment of the growth substrate 6 can be done for example by a laser stripping process, as for example from the WO98 / 14986 is known. Essentially, in a laser stripping process by the growth substrate 6 through an interface between the growth substrate 6 and the semiconductor layer sequence 3 with electromagnetic radiation, preferably laser radiation, irradiated, so that takes place at the interface by absorption of the radiation, a material decomposition. This allows the growth substrate 6 and the semiconductor layer sequence 3 essentially separate non-destructively. The growth substrate 6 can even be used again. Alternatively, the separation of the growth substrate 6 by etching or any other suitable lifting method.

Um auch auf der anderen Seite eine zur Abstrahlung elektromagnetischer Strahlung und gleichzeitig Kontaktierung geeignete Flächenstruktur zu erhalten, wird in einem weiteren Herstellungsschritt gemäß 6F eine zweite elektrisch leitfähige Kontaktmaterialschicht 23 auf einer der ersten Hauptfläche 4 gegenüberliegenden zweiten Hauptfläche 5 der Halbleiterschichtenfolge 3 aufgebracht. Wie auch bei der ersten Kontaktmaterialschicht 22 wird die zweite Kontaktmaterialschicht 23 nachfolgend strukturiert (6G), so dass ein zweiter elektrischer Kontaktbereich 11 und zumindest ein von der zweiten Kontaktmaterialschicht 23 befreiter Bereich der Halbleiterschichtenfolge 3 ausgebildet wird. Besonders vorteilhaft ist, wenn die Herstellung der zweiten Kontaktmaterialschicht 23 so erfolgt, dass sich auf der Unterseite eine Verspiegelung 12 bildet, die in der Halbleiterschichtenfolge 3 erzeugte elektromagnetsiche Strahlung ohne Verluste beziehungsweise mit nur geringen Verlusten reflektiert. Die Verspiegelung 12 wird beispielsweise durch eine Silberschicht oder eine silberhaltige Schicht realisiert. Gleichzeitig oder nachfolgend kann eine Aufrauung 15 der zweiten Hauptfläche 5 erfolgen, um die Auskopplung zu verbessern. Während dieser abschließenden Bearbeitungsschritte wird die Stabilität wie oben genannt durch den Träger 2 gewährleistet.In order to obtain a surface structure suitable for the emission of electromagnetic radiation and simultaneously contacting on the other side as well, in a further production step according to FIG 6F a second electrically conductive contact material layer 23 on one of the first main surfaces 4 opposite second major surface 5 the semiconductor layer sequence 3 applied. As with the first contact material layer 22 becomes the second contact material layer 23 structured below ( 6G ), leaving a second electrical contact area 11 and at least one of the second contact material layer 23 liberated area of the semiconductor layer sequence 3 is trained. It is particularly advantageous if the production of the second contact material layer 23 so that takes place on the bottom of a mirror coating 12 forms in the semiconductor layer sequence 3 generated electromagnetic radiation without losses or with only slight losses reflected. The mirroring 12 is realized for example by a silver layer or a silver-containing layer. At the same time or subsequently, a roughening 15 the second major surface 5 done to improve the decoupling. During these final processing steps, the stability is as stated by the wearer 2 guaranteed.

Insbesondere können statt oder zusätzlich zu der Aufrauung 15 der Hauptflächen 4, 5 auch zumindest ein Auskoppelprisma 16 oder andere Maßnahmen, die dazu geeignet sind, die Auskopplung von in der Halbleiterschichtenfolge 3 erzeugter elektromagnetischer Strahlung zu verbessern, eingesetzt werden.In particular, instead of or in addition to the roughening 15 the main surfaces 4 . 5 also at least one decoupling prism 16 or other measures that are suitable for the decoupling of in the semiconductor layer sequence 3 be used to improve generated electromagnetic radiation.

Sowohl das Aufrauen als auch das Erzeugen von Auskoppelprismen 16 kann durch Ätzen erfolgen, d. h. es werden Strukturen in die bestehende Hauptfläche geätzt. In einer anderen, alternativ anzuwendenden Technik erfolgt die Bearbeitung der Hauptflächen mit einem Ionenplasma auf trockenchemischem Weg.Both roughening and generating decoupling prisms 16 can be done by etching, ie, structures are etched into the existing major surface. In another technique, which can be used as an alternative, the treatment of the main surfaces with an ion plasma takes place in a dry chemical way.

Die Halbleiterschichtenfolge 3 wird bevorzugt derart ausgebildet, dass diese geeignet ist eine elektromagnetische Strahlung zu emittieren. In diesem Fall wird durch das optoelektronische Bauelement 1 elektromagnetische Strahlung vorzugsweise in eine Hauptabstrahlrichtung H ausgesendet, welche ausgehend von der Halbleiterschichtenfolge 3 in eine entgegengesetzte Richtung des Trägers 2 weist. Die Halbleiterschichtenfolge 3 kann auch als Empfänger von elektromagnetischer Strahlung ausgebildet werden, beispielsweise als Sensor. In diesem Fall können durch ein derartiges Herstellungsverfahrens die Empfangseigenschaften des Strahlungsempfängers verbessert werden. Beispielsweise kann die lichtempfangende Fläche eines Detektors vergrößert werden.The semiconductor layer sequence 3 is preferably formed such that it is suitable for emitting electromagnetic radiation. In this case, the optoelectronic component 1 emitted electromagnetic radiation preferably in a main emission direction H, which starting from the semiconductor layer sequence 3 in an opposite direction of the wearer 2 has. The semiconductor layer sequence 3 can also be used as Emp be designed by electromagnetic radiation, for example as a sensor. In this case, by such a manufacturing method, the reception characteristics of the radiation receiver can be improved. For example, the light-receiving area of a detector can be increased.

In 7 ist ein Querschnitt durch eine beispielhafte Anordnung einer Mehrzahl der optoelektronischen Bauelemente 1, beispielsweise vier optoelektronische Bauelemente 1, gezeigt, welche jeweils auf dem Träger 2 angeordnet und elektrisch kontaktiert sind. Auch kann eine Mehrzahl der optoelektronischen Bauelemente 1 in einer weiteren beispielhaften Matrix angeordnet sein, wie beispielsweise eine Anordnung von zwanzig optoelektronischen Bauelementen 1 entsprechend einer 4×5-Matrix.In 7 is a cross-section through an exemplary arrangement of a plurality of optoelectronic devices 1 , For example, four optoelectronic devices 1 , which are each shown on the carrier 2 are arranged and electrically contacted. Also, a plurality of the optoelectronic components 1 in another exemplary matrix, such as an array of twenty optoelectronic devices 1 according to a 4 × 5 matrix.

Die optoelektronischen Bauelemente 1 umfassen jeweils die Halbleiterschichtenfolge 3, welche jeweils zumindest die erste Hauptfläche 4 und die gegenüberliegende zweite Hauptfläche 5 umfasst. Die Halbleiterschichtenfolgen 3 umfassen jeweils den aktiven Bereich 7, welcher zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung ausgebildet ist.The optoelectronic components 1 each comprise the semiconductor layer sequence 3 , which in each case at least the first main surface 4 and the opposite second major surface 5 includes. The semiconductor layers follow 3 each include the active area 7 , which is designed to generate electromagnetic radiation.

Die Halbleiterschichtenfolgen 3 können jeweils zumindest teilweise elastisch ausgebildet sein und beispielsweise derart mit dem Träger 2 gekoppelt werden, dass die Halbleiterschichtenfolge 3 jeweils zumindest teilweise gekrümmt ausgebildet werden. Beispielsweise kann die Halbleiterschichtenfolge Galliumnitrid (GaN) umfassen mit zum Beispiel einem durchschnittlichen Elastizitätsmodul von etwa 297GPA.The semiconductor layers follow 3 can each be at least partially elastic and, for example, with the carrier 2 be coupled, that the semiconductor layer sequence 3 each formed at least partially curved. For example, the semiconductor layer sequence may comprise gallium nitride (GaN) with, for example, an average modulus of elasticity of about 297GPA.

Der Träger 2 umfasst beispielsweise vier Reflektoren 8, wobei die Reflektoren 8 ausgebildet sind, elektromagnetische Strahlung, die von den Halbleiterkörpern emittiert wird, zu reflektieren und zwar derart, dass sie zumindest teilweise unter Umgehung der jeweiligen ersten Hauptfläche 4 des jeweiligen Halbleiterkörpers aus dem Halbleiterkörper emittiert wird. Die Reflektoren 8 sind bevorzugt zumindest teilweise konkav oder konvex ausgebildet. Die Reflektoren 8 können beispielsweise zumindest teilweise zylinderförmig oder kugelförmig ausgebildet sein. Auch können die Reflektoren 8 zum Beispiel zumindest teilweise parabolisch ausgebildet sein oder eine andere Ausgestaltung umfassen.The carrier 2 includes, for example, four reflectors 8th , where the reflectors 8th are formed to reflect electromagnetic radiation emitted by the semiconductor bodies, in such a way that they at least partially bypassing the respective first main surface 4 of the respective semiconductor body is emitted from the semiconductor body. The reflectors 8th are preferably formed at least partially concave or convex. The reflectors 8th For example, they may be at least partially cylindrical or spherical. Also, the reflectors can 8th For example, be at least partially parabolic or comprise another embodiment.

Zum Beispiel können die aktiven Bereiche 7 der Halbleiterschichtenfolgen 3 jeweils zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung unterschiedlicher Wellenlänge ausgebildet sein, um eine Mischung der elektromagnetischen Strahlung der jeweiligen Halbleiterschichtenfolgen 3 zu ermöglichen.For example, the active areas 7 the semiconductor layer sequences 3 may be formed in each case for generating electromagnetic radiation of different wavelengths, in order to follow a mixture of the electromagnetic radiation of the respective semiconductor layer sequences 3 to enable.

Die Erfindung ist nicht auf die dargestellten Ausführungsbeispiele beschränkt, vielmehr sind zahlreiche Abwandlungen möglich und von der Erfindung umfasst. Insbesondere sind zusätzlich zu dem Reflektor 8 die verschiedenen Maßnahmen zur Verbesserung der Auskopplung von elektromagnetischer Strahlung nicht nur in Verbindung miteinander einsetzbar, sondern auch jeweils für sich genommen allein. Auch sind die Verspiegelungen 12 der Kontaktbereiche 10, 11 nicht mit den Aufrauungen 15 beziehungsweise Auskoppelprismen 16 notwendigerweise in Kombination einzusetzen, sondern jede der Maßnahmen kann unabhängig voneinander verwendet werden.The invention is not limited to the illustrated embodiments, but numerous modifications are possible and encompassed by the invention. In particular, in addition to the reflector 8th the various measures for improving the decoupling of electromagnetic radiation not only used in conjunction with each other, but also taken alone alone. Also, the mirrors are 12 the contact areas 10 . 11 not with the roughening 15 or decoupling prisms 16 necessarily to use in combination, but each of the measures can be used independently.

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Zitierte PatentliteraturCited patent literature

  • - US 6641284 B2 [0002] - US 6641284 B2 [0002]
  • - DE 102004013226 A1 [0003] - DE 102004013226 A1 [0003]
  • - WO 98/14986 [0158] WO 98/14986 [0158]

Zitierte Nicht-PatentliteraturCited non-patent literature

  • - I. Schnitzer et al., Appl. Phys. Lett. 63 (16), 18. Oktober 1993, 2174–2176 [0111] I. Schnitzer et al., Appl. Phys. Lett. 63 (16), 18 October 1993, 2174-2176 [0111]

Claims (43)

Optoelektronisches Bauelement (1) mit – einem Halbleiterkörper, der epitaktisch gewachsen ist und der eine Halbleiterschichtenfolge (3) umfasst, die zumindest eine erste Hauptfläche (4) und eine gegenüberliegende zweite Hauptfläche (5) an seiner Oberfläche umfasst, und – einem Träger (2) mit zumindest einem Reflektor (8), wobei der Reflektor (8) ausgebildet ist, elektromagnetische Strahlung, die von dem Halbleiterkörper emittiert wird, zu reflektieren und zwar derart, dass sie zumindest teilweise unter Umgehung der ersten Hauptfläche (4) des Halbleiterkörpers aus dem Halbleiterkörper emittiert wird, wobei der Träger (2) auf der der ersten Hauptfläche (4) der Halbleiterschichtenfolge (3) zugewandten Seite des Halbleiterkörpers angeordnet ist und von einem Aufwachssubstrat (6) für den Halbleiterkörper verschieden ist.Optoelectronic component ( 1 ) with a semiconductor body which has grown epitaxially and which has a semiconductor layer sequence ( 3 ) comprising at least a first major surface ( 4 ) and an opposing second major surface ( 5 ) on its surface, and - a support ( 2 ) with at least one reflector ( 8th ), the reflector ( 8th ) is adapted to reflect electromagnetic radiation emitted by the semiconductor body in such a way that it at least partially bypasses the first main area (FIG. 4 ) of the semiconductor body is emitted from the semiconductor body, wherein the carrier ( 2 ) on the first main surface ( 4 ) of the semiconductor layer sequence ( 3 ) facing side of the semiconductor body and from a growth substrate ( 6 ) is different for the semiconductor body. Optoelektronisches Bauelement (1) nach Anspruch 1, wobei der Reflektor (8) zumindest teilweise konkav ausgebildet ist.Optoelectronic component ( 1 ) according to claim 1, wherein the reflector ( 8th ) is at least partially concave. Optoelektronisches Bauelement (1) nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei der Reflektor (8) zumindest teilweise konvex ausgebildet ist.Optoelectronic component ( 1 ) according to one of the preceding claims, wherein the reflector ( 8th ) is at least partially convex. Optoelektronisches Bauelement (1) nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei der Reflektor (8) zumindest teilweise parabolisch ausgebildet ist.Optoelectronic component ( 1 ) according to one of the preceding claims, wherein the reflector ( 8th ) is at least partially parabolic. Optoelektronisches Bauelement (1) nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei der Reflektor (8) zumindest teilweise zylinderförmig ausgebildet ist.Optoelectronic component ( 1 ) according to one of the preceding claims, wherein the reflector ( 8th ) is at least partially cylindrical. Optoelektronisches Bauelement (1) nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei der Reflektor (8) zumindest teilweise kugelförmig ausgebildet ist.Optoelectronic component ( 1 ) according to one of the preceding claims, wherein the reflector ( 8th ) is formed at least partially spherical. Optoelektronisches Bauelement (1) nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem die Halbleiterschichtenfolge (3) einen aktiven Bereich (7) umfasst, welcher zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung ausgebildet ist.Optoelectronic component ( 1 ) according to one of the preceding claims, in which the semiconductor layer sequence ( 3 ) an active area ( 7 ), which is designed to generate electromagnetic radiation. Optoelektronisches Bauelement (1) nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem die Halbleiterschichtenfolge (3) zumindest teilweise elastisch ausgebildet ist.Optoelectronic component ( 1 ) according to one of the preceding claims, in which the semiconductor layer sequence ( 3 ) is at least partially elastic. Optoelektronisches Bauelement (1) nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem zur Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge (3) erzeugten elektromagnetischen Strahlung auf der ersten Hauptfläche (4) und/oder der zweiten Hauptfläche (5) der Halbleiterschichtenfolge (3) zumindest ein Auskoppelprisma (16) ausgebildet ist.Optoelectronic component ( 1 ) according to any one of the preceding claims, in which for decoupling in the semiconductor layer sequence ( 3 ) generated electromagnetic radiation on the first main surface ( 4 ) and / or the second main surface ( 5 ) of the semiconductor layer sequence ( 3 ) at least one decoupling prism ( 16 ) is trained. Optoelektronisches Bauelement (1) nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem zur Auskopplung der in der Halbleiterschichtenfolge (3) erzeugten elektromagnetischen Strahlung die erste Hauptfläche (4) und/oder die zweite Hauptfläche (5) der Halbleiterschichtenfolge (3) zumindest partiell aufgeraut sind.Optoelectronic component ( 1 ) according to any one of the preceding claims, in which for decoupling in the semiconductor layer sequence ( 3 ) generated electromagnetic radiation the first main surface ( 4 ) and / or the second main surface ( 5 ) of the semiconductor layer sequence ( 3 ) are at least partially roughened. Optoelektronisches Bauelement (1) nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem auf der von dem Träger (2) abgewandten Seite der Halbleiterschichtenfolge (3) und/oder auf der von dem Träger (2) zugewandten Seite der Halbleiterschichtenfolge (3) eine Stromverteilungsstruktur (9) angeordnet ist.Optoelectronic component ( 1 ) according to any one of the preceding claims, in which on the of the carrier ( 2 ) facing away from the semiconductor layer sequence ( 3 ) and / or on that of the carrier ( 2 ) facing side of the semiconductor layer sequence ( 3 ) a power distribution structure ( 9 ) is arranged. Optoelektronisches Bauelement (1) nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem auf der dem Träger (2) zugewandter Seite der Halbleiterschichtenfolge (3) zumindest eine Verspiegelung (12) angeordnet ist.Optoelectronic component ( 1 ) according to one of the preceding claims, in which on the said carrier ( 2 ) facing side of the semiconductor layer sequence ( 3 ) at least one mirroring ( 12 ) is arranged. Optoelektronisches Bauelement (1) nach einem der vorstehenden Ansprüche mit zumindest einem ersten elektrischen Kontaktbereich (10), der mit der ersten Hauptfläche (4) der Halbleiterschichtenfolge (3) elektrisch leitend verbunden ist.Optoelectronic component ( 1 ) according to one of the preceding claims, having at least one first electrical contact region ( 10 ), with the first main surface ( 4 ) of the semiconductor layer sequence ( 3 ) is electrically connected. Optoelektronisches Bauelement (1) nach einem der vorstehenden Ansprüche mit zumindest einem zweiten elektrischen Kontaktbereich (11), der mit der zweiten Hauptfläche (5) der Halbleiterschichtenfolge (3) elektrisch leitend verbunden ist.Optoelectronic component ( 1 ) according to one of the preceding claims with at least one second electrical contact region ( 11 ), which is connected to the second main surface ( 5 ) of the semiconductor layer sequence ( 3 ) is electrically connected. Optoelektronisches Bauelement (1) nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem auf der der Halbleiterschichtenfolge (3) zugewandten Seite des ersten elektrischen Kontaktbereichs (10) und/oder des zweiten elektrischen Kontaktbereichs (11) eine Verspiegelung (12) vorgesehen ist.Optoelectronic component ( 1 ) according to one of the preceding claims, in which on the semiconductor layer sequence ( 3 ) facing side of the first electrical contact area ( 10 ) and / or the second electrical contact region ( 11 ) a mirror coating ( 12 ) is provided. Optoelektronisches Bauelement (1) nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem der erste elektrische Kontaktbereich (10) und/oder der zweite elektrische Kontaktbereich (11) streifenförmig, insbesondere rahmenförmig ausgestaltet sind zur Stromverteilung auf verschiedene Bereiche der Halbleiterschichtenfolge (3).Optoelectronic component ( 1 ) according to one of the preceding claims, in which the first electrical contact region ( 10 ) and / or the second electrical contact area ( 11 ) are strip-shaped, in particular frame-shaped, for distributing current to different regions of the semiconductor layer sequence ( 3 ). Optoelektronisches Bauelement (1) nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem die Halbleiterschichtenfolge (3) aneinander angrenzender Schichten einen n-dotierten Indiumgalliumnitrid-Bereich (13) und einen p-dotierten Indiumgalliumnitrid-Bereich (14) umfasst.Optoelectronic component ( 1 ) according to one of the preceding claims, in which the semiconductor layer sequence ( 3 ) of adjacent layers has an n-doped indium gallium nitride region ( 13 ) and a p-doped indium gallium nitride region ( 14 ). Optoelektronisches Bauelement (1) nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem der Träger (2) eine Trägerfolie (19) aufweist.Optoelectronic component ( 1 ) after egg Nem of the preceding claims, wherein the carrier ( 2 ) a carrier film ( 19 ) having. Anordnung mit einem optoelektronischen Bauelement (1) nach einem der vorstehenden Ansprüche und einer transparenten Folie (18), die zumindest eine Kontaktbahn (20) trägt, wobei die Kontaktbahn (20) mit dem zweiten elektrischen Kontaktbereich (11) des optoelektronischen Bauelements (1) elektrisch leitend verbunden ist.Arrangement with an optoelectronic component ( 1 ) according to one of the preceding claims and a transparent film ( 18 ), which has at least one contact track ( 20 ), wherein the contact track ( 20 ) with the second electrical contact region ( 11 ) of the optoelectronic component ( 1 ) is electrically connected. Anordnung nach Anspruch 19, wobei die Kontaktbahn (20) Indium-Zinnoxyd aufweist.Arrangement according to claim 19, wherein the contact track ( 20 ) Indium tin oxide. Anordnung mit zumindest einem optoelektronischen Bauelement (1) nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die Anordnung eine Vielzahl von epitaktisch gewachsenen Halbleiterkörpern umfasst, wobei die Halbleiterkörper jeweils die Halbleiterschichtenfolgen (3) umfassen, die in einer Matrix angeordnet und elektrisch kontaktiert sind, wobei die Matrix auf dem Träger (2) angeordnet ist.Arrangement with at least one optoelectronic component ( 1 ) according to one of the preceding claims, wherein the arrangement comprises a plurality of epitaxially grown semiconductor bodies, wherein the semiconductor bodies each follow the semiconductor layers ( 3 ) arranged in a matrix and electrically contacted, the matrix on the support ( 2 ) is arranged. Anordnung nach Anspruch 21, wobei die Anordnung eine Vielzahl von Reflektoren (8) umfasst, die jeweils ausgebildet sind, elektromagnetische Strahlung, die von dem jeweiligen Halbleiterkörper emittiert wird, zu reflektieren und zwar derart, dass sie zumindest teilweise unter Umgehung der jeweiligen ersten Hauptfläche (4) des jeweiligen Halbleiterkörpers aus dem jeweiligen Halbleiterkörper emittiert wird.Arrangement according to claim 21, wherein the arrangement comprises a multiplicity of reflectors ( 8th ), each of which is designed to reflect electromagnetic radiation emitted by the respective semiconductor body in such a way that it at least partially bypasses the respective first main area (FIG. 4 ) of the respective semiconductor body is emitted from the respective semiconductor body. Anordnung nach einem der Ansprüche 21 oder 22, wobei die Reflektoren jeweils zumindest teilweise konvex und/oder konkav ausgebildet sind.Arrangement according to one of claims 21 or 22, wherein the reflectors each at least partially convex and / or are concave. Anordnung nach einem der Ansprüche 21 bis 23, wobei die jeweiligen Halbleiterschichtenfolgen (3) jeweils den aktiven Bereich (7) umfassen, welche jeweils zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung unterschiedlicher Wellenlänge ausgebildet sind, um eine Mischung der elektromagnetischen Strahlung der jeweiligen Halbleiterschichtenfolgen (3) zu ermöglichen.Arrangement according to one of claims 21 to 23, wherein the respective semiconductor layer sequences ( 3 ) each the active area ( 7 ), which are each designed to generate electromagnetic radiation of different wavelengths, in order to produce a mixture of the electromagnetic radiation of the respective semiconductor layer sequences ( 3 ). Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements (1) mit den Schritten: – Ausbilden einer zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung geeigneten Halbleiterschichtenfolge (3) auf einem Aufwachssubstrat (6), – Ausbilden eines von dem Aufwachssubstrat (6) verschiedenen Trägers (2) mit zumindest einem Reflektor (8), wobei der Reflektor (8) bestimmungsgemäß dazu ausgebildet ist, elektromagnetische Strahlung, die von der Halbleiterschichtenfolge (3) emittiert wird, zu reflektieren und zwar derart, dass sie zumindest teilweise unter Umgehung einer dem Träger (2) zugewandten ersten Hauptfläche (4) der Halbleiterschichtenfolge (3) emittiert wird, und – Koppeln der Halbleiterschichtenfolge (3) mit dem Träger (2), so dass der Reflektor (8) elektromagnetische Strahlung, die von der Halbleiterschichtenfolge (3) emittiert wird, reflektieren kann und zwar derart, dass sie zumindest teilweise unter Umgehung der dem Träger (2) zugewandten ersten Hauptfläche (4) der Halbleiterschichtenfolge (3) emittiert wird.Method for producing an optoelectronic component ( 1 ) comprising the steps: - forming a semiconductor layer sequence suitable for generating electromagnetic radiation ( 3 ) on a growth substrate ( 6 ), - forming one of the growth substrate ( 6 ) different carrier ( 2 ) with at least one reflector ( 8th ), the reflector ( 8th ) is designed to emit electromagnetic radiation emitted by the semiconductor layer sequence ( 3 ) is reflected, in such a way that it at least partially bypassing a the carrier ( 2 ) facing the first main surface ( 4 ) of the semiconductor layer sequence ( 3 ), and - coupling the semiconductor layer sequence ( 3 ) with the carrier ( 2 ), so that the reflector ( 8th ) electromagnetic radiation emitted by the semiconductor layer sequence ( 3 ) is emitted, in such a way that it at least partially bypassing the the carrier ( 2 ) facing the first main surface ( 4 ) of the semiconductor layer sequence ( 3 ) is emitted. Verfahren nach Anspruch 25, bei dem die Halbleiterschichtenfolge (3) zumindest teilweise elastisch ausgebildet wird und derart mit dem Träger (2) gekoppelt wird, dass die Halbleiterschichtenfolge (3) zumindest teilweise gekrümmt ausgebildet wird.Method according to Claim 25, in which the semiconductor layer sequence ( 3 ) is formed at least partially elastic and so with the carrier ( 2 ), that the semiconductor layer sequence ( 3 ) is formed at least partially curved. Verfahren nach Anspruch 25 oder 26, bei dem auf der Halbleiterschichtenfolge (3) eine erste elektrisch leitfähige Kontaktmaterialschicht (22) auf der ersten Hauptfläche (4) der Halbleiterschichtenfolge (3) ausgebildet wird.Method according to Claim 25 or 26, in which on the semiconductor layer sequence ( 3 ) a first electrically conductive contact material layer ( 22 ) on the first main surface ( 4 ) of the semiconductor layer sequence ( 3 ) is formed. Verfahren nach Anspruch 27, bei dem zur Ausbildung eines ersten elektrischen Kontaktbereichs (10) die erste Kontaktmaterialschicht (22) derart strukturiert wird, dass zumindest ein von der ersten Kontaktmaterialschicht (22) befreiter Bereich der Halbleiterschichtenfolge (3) ausgebildet wird.Method according to Claim 27, in which for the formation of a first electrical contact region ( 10 ) the first contact material layer ( 22 ) is structured in such a way that at least one of the first contact material layer ( 22 ) liberated area of the semiconductor layer sequence ( 3 ) is formed. Verfahren nach Anspruch 28, bei dem der zumindest eine von der ersten Kontaktmaterialschicht (22) befreite Bereich der Halbleiterschichtenfolge (3) an seiner Oberfläche zumindest partiell aufgeraut wird.The method of claim 28, wherein the at least one of the first layer of contact material ( 22 ) freed area of the semiconductor layer sequence ( 3 ) is at least partially roughened on its surface. Verfahren nach Anspruch 28 oder 29, bei dem die Halbleiterschichtenfolge (3) über die strukturierte erste Kontaktmaterialschicht (22) mit dem Träger (2) gekoppelt wird.Method according to Claim 28 or 29, in which the semiconductor layer sequence ( 3 ) over the structured first contact material layer ( 22 ) with the carrier ( 2 ) is coupled. Verfahren nach einem der Ansprüche 25 bis 30, bei dem eine zweite elektrisch leitfähige Kontaktmaterialschicht (23) auf einer der ersten Hauptfläche (4) gegenüberliegenden zweiten Hauptfläche (5) der Halbleiterschichtenfolge (3) ausgebildet wird.Method according to one of claims 25 to 30, wherein a second electrically conductive contact material layer ( 23 ) on one of the first main surfaces ( 4 ) opposite second major surface ( 5 ) of the semiconductor layer sequence ( 3 ) is formed. Verfahren nach Anspruch 31, bei dem zur Ausbildung eines zweiten elektrischen Kontaktbereichs (11) die zweite Kontaktmaterialschicht (23) derart strukturiert wird, dass zumindest ein von der zweiten Kontaktmaterialschicht (23) befreiter Bereich der Halbleiterschichtenfolge (3) ausgebildet wird.Method according to Claim 31, in which for the formation of a second electrical contact region ( 11 ) the second contact material layer ( 23 ) is structured in such a way that at least one of the second contact material layer ( 23 ) liberated area of the semiconductor layer sequence ( 3 ) is formed. Verfahren nach Anspruch 32, bei dem der zumindest eine von der zweiten Kontaktmaterialschicht (23) befreite Bereich der Halbleiterschichtenfolge (3) an seiner Oberfläche zumindest partiell aufgeraut wird.The method of claim 32, wherein the at least one of the second layer of contact material ( 23 ) freed area of the semiconductor layer sequence ( 3 ) is at least partially roughened on its surface. Verfahren nach einem der Ansprüche 27 bis 33, bei dem während oder nach der Strukturierung der ersten Kontaktmaterialschicht (22) und/oder der zweiten Kontaktmaterialschicht (23) zumindest ein Auskoppelprisma (16) auf der Oberfläche der Halbleiterschichtenfolge (3) ausgebildet wird.Method according to one of claims 27 to 33, wherein during or after the structuring of the first contact material layer ( 22 ) and / or the second contact material layer ( 23 ) at least one decoupling prism ( 16 ) on the surface of the semiconductor layer sequence ( 3 ) is formed. Verfahren nach Anspruch 27 oder 31, bei dem die erste Kontaktmaterialschicht (22) und/oder die zweite Kontaktmaterialschicht (23) derart aufgebracht werden, dass die der Halbleiterschichtenfolge (3) zugewandten Seiten zumindest teilweise verspiegelt sind.A method according to claim 27 or 31, wherein the first layer of contact material ( 22 ) and / or the second contact material layer ( 23 ) are applied such that the semiconductor layer sequence ( 3 ) facing sides are at least partially mirrored. Verfahren nach Anspruch 25, bei dem der Reflektor (8) zumindest teilweise konkav ausgebildet wird.Method according to Claim 25, in which the reflector ( 8th ) is formed at least partially concave. Verfahren nach Anspruch 25, bei dem der Reflektor (8) zumindest teilweise konvex ausgebildet wird.Method according to Claim 25, in which the reflector ( 8th ) is formed at least partially convex. Verfahren nach Anspruch 25, bei dem der Reflektor (8) zumindest teilweise parabolisch ausgebildet wird.Method according to Claim 25, in which the reflector ( 8th ) is formed at least partially parabolic. Verfahren nach Anspruch 25, bei dem der Reflektor (8) zumindest teilweise zylinderförmig ausgebildet wird.Method according to Claim 25, in which the reflector ( 8th ) is formed at least partially cylindrical. Verfahren nach Anspruch 25, bei dem der Reflektor (8) zumindest teilweise kugelförmig ausgebildet wird.Method according to Claim 25, in which the reflector ( 8th ) is formed at least partially spherical. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem das Aufwachssubstrat (6) von der Halbleiterschichtenfolge (3) entfernt wird.Method according to one of the preceding claims, in which the growth substrate ( 6 ) of the semiconductor layer sequence ( 3 ) Will get removed. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem eine Vielzahl der optoelektronischen Bauelemente (1) hergestellt wird, wobei die optoelektronischen Bauelemente (1) jeweils die Halbleiterschichtenfolgen (3) umfassen, die in einer Matrix angeordnet und elektrisch kontaktiert werden, wobei die Matrix auf dem Träger (2) angeordnet wird.Method according to one of the preceding claims, in which a plurality of the optoelectronic components ( 1 ), wherein the optoelectronic components ( 1 ) each of the semiconductor layer sequences ( 3 ) arranged in a matrix and electrically contacted, the matrix on the support ( 2 ) is arranged. Verfahren nach Anspruch 42, bei dem die jeweiligen Halbleiterschichtenfolgen (3) derart ausgebildet werden, dass die Halbleiterschichtenfolgen (3) jeweils zur Erzeugung von elektromagnetischer Strahlung unterschiedlicher Wellenlänge ausgebildet sind, um eine Mischung der elektromagnetischen Strahlung der jeweiligen Halbleiterschichtenfolgen (3) zu ermöglichen.A method according to claim 42, wherein the respective semiconductor layers are sequences ( 3 ) are formed such that the semiconductor layer sequences ( 3 ) are each designed to generate electromagnetic radiation of different wavelengths in order to produce a mixture of the electromagnetic radiation of the respective semiconductor layer sequences ( 3 ).
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8648357B2 (en) 2007-12-14 2014-02-11 Osram Opto Semiconductor Gmbh Radiation-emitting device

Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3023126C2 (en) * 1979-07-09 1985-07-04 Tokyo Shibaura Denki K.K., Kawasaki, Kanagawa Semiconductor luminous display device
DE3148843C2 (en) * 1981-12-10 1986-01-02 Telefunken electronic GmbH, 7100 Heilbronn Multiple light emitting diode arrangement
WO1998014986A1 (en) 1996-10-01 1998-04-09 Siemens Aktiengesellschaft Method for separating two material layers and electronic components produced therewith
DE10041328A1 (en) * 2000-08-23 2002-03-14 Osram Opto Semiconductors Gmbh Packaging unit for semiconductor chips
US20020176251A1 (en) * 2001-05-23 2002-11-28 Ivoclar Vivadent Ag Lighting apparatus for guiding light onto a light polymerizable piece to effect hardening thereof
US6641284B2 (en) 2002-02-21 2003-11-04 Whelen Engineering Company, Inc. LED light assembly
WO2004053933A2 (en) * 2002-12-06 2004-06-24 Cree, Inc. Composite leadframe led package and method of making the same
EP1503433A2 (en) * 2003-07-31 2005-02-02 LumiLeds Lighting U.S., LLC Mount for semiconductor light emitting device
EP1521313A2 (en) * 2003-10-03 2005-04-06 LumiLeds Lighting U.S., LLC Integrated reflector cup for a light emitting device mount
DE102004013226A1 (en) 2004-03-18 2005-09-29 Andreas Friedrich Roithner LED reflector unit e.g. for vehicle lamp, has LED elements and reflector unit for producing ray of light which is produced exclusively by reflected light by optical opening being uncoupled
US20060013003A1 (en) * 2004-06-30 2006-01-19 Taiwan Oasis Technology Co., Ltd. High illumination light emitting diode
DE102005040558A1 (en) * 2005-08-26 2007-03-01 Osram Opto Semiconductors Gmbh Method for producing a luminescence diode chip and luminescence diode chip
WO2007041877A1 (en) * 2005-10-14 2007-04-19 Lucea Ag Planar led light source with efficient light emission
US20070170454A1 (en) * 2006-01-20 2007-07-26 Cree, Inc. Packages for semiconductor light emitting devices utilizing dispensed reflectors and methods of forming the same
DE19947044B9 (en) * 1999-09-30 2007-09-13 Osram Opto Semiconductors Gmbh Surface-mountable optoelectronic component with reflector and method for producing the same
DE112005003083T5 (en) * 2004-12-14 2007-10-31 Cree, Inc. Mounting substrates for semiconductor light emitting devices and packages with cavities and cover plates and method of packaging the same

Patent Citations (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3023126C2 (en) * 1979-07-09 1985-07-04 Tokyo Shibaura Denki K.K., Kawasaki, Kanagawa Semiconductor luminous display device
DE3148843C2 (en) * 1981-12-10 1986-01-02 Telefunken electronic GmbH, 7100 Heilbronn Multiple light emitting diode arrangement
WO1998014986A1 (en) 1996-10-01 1998-04-09 Siemens Aktiengesellschaft Method for separating two material layers and electronic components produced therewith
DE19947044B9 (en) * 1999-09-30 2007-09-13 Osram Opto Semiconductors Gmbh Surface-mountable optoelectronic component with reflector and method for producing the same
DE10041328A1 (en) * 2000-08-23 2002-03-14 Osram Opto Semiconductors Gmbh Packaging unit for semiconductor chips
US20020176251A1 (en) * 2001-05-23 2002-11-28 Ivoclar Vivadent Ag Lighting apparatus for guiding light onto a light polymerizable piece to effect hardening thereof
US6641284B2 (en) 2002-02-21 2003-11-04 Whelen Engineering Company, Inc. LED light assembly
WO2004053933A2 (en) * 2002-12-06 2004-06-24 Cree, Inc. Composite leadframe led package and method of making the same
EP1503433A2 (en) * 2003-07-31 2005-02-02 LumiLeds Lighting U.S., LLC Mount for semiconductor light emitting device
EP1521313A2 (en) * 2003-10-03 2005-04-06 LumiLeds Lighting U.S., LLC Integrated reflector cup for a light emitting device mount
DE102004013226A1 (en) 2004-03-18 2005-09-29 Andreas Friedrich Roithner LED reflector unit e.g. for vehicle lamp, has LED elements and reflector unit for producing ray of light which is produced exclusively by reflected light by optical opening being uncoupled
US20060013003A1 (en) * 2004-06-30 2006-01-19 Taiwan Oasis Technology Co., Ltd. High illumination light emitting diode
DE112005003083T5 (en) * 2004-12-14 2007-10-31 Cree, Inc. Mounting substrates for semiconductor light emitting devices and packages with cavities and cover plates and method of packaging the same
DE102005040558A1 (en) * 2005-08-26 2007-03-01 Osram Opto Semiconductors Gmbh Method for producing a luminescence diode chip and luminescence diode chip
WO2007041877A1 (en) * 2005-10-14 2007-04-19 Lucea Ag Planar led light source with efficient light emission
US20070170454A1 (en) * 2006-01-20 2007-07-26 Cree, Inc. Packages for semiconductor light emitting devices utilizing dispensed reflectors and methods of forming the same

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
I. Schnitzer et al., Appl. Phys. Lett. 63 (16), 18. Oktober 1993, 2174-2176

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8648357B2 (en) 2007-12-14 2014-02-11 Osram Opto Semiconductor Gmbh Radiation-emitting device

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