DE102006044214B4 - Microscope, in particular a polarization and / or a fluorescence microscope - Google Patents

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Abstract

Mikroskop (1) mit einem Beleuchtungsstrahlengang (15) und einem Abbildungsstrahlengang (16), der sich von einem Objekt zu einem Detektor und/oder einem Tubus (122) erstreckt und in dem ein erstes und ein zweites Ablenkmittel (23, 24) und eine ein Objekt abbildende Abbildungsoptik (6) angeordnet sind, wobei der Abbildungsstrahlengang (16) in Form eines Weitfeld-Abbildungsstrahlengangs ausgebildet ist, wobei das erste Ablenkmittel (23) einen ersten Teil des Abbildungslichts in eine erste Richtung (25) ablenkt, das zweite Ablenkmittel (24) einen zweiten Teil des Abbildungslichts in eine zweite Richtung (26) ablenkt und beide Ablenkmittel (23, 24) einen dritten Teil des Abbildungslichts zur visuellen Betrachtung durch einen Bediener des Mikroskops (1) durchlassen und das erste und das zweite Ablenkmittel (23, 24) den ersten und den zweiten Teil des Abbildungslichts hin zu einem Dokumentationsabgang (30) des Mikroskops (1) ablenken, an dem mindestens eine Detektionseinrichtung (27) angebaut ist, wobei das von den beiden Ablenkmitteln (23, 24) abgelenkte Abbildungslicht simultan mit der Detektionseinrichtung (27) detektierbar ist, wobei die Abbildungsoptik (11) im Strahlengang des dritten Teils des Abbildungslichts mindestens ein Zwischenbild (12) des Objekts erzeugt und wobei zwischen den beiden Ablenkmitteln (23, 24) und der mindestens einen Detektionseinrichtung (27) keine Mittel vorgesehen sind, die ein weiteres Zwischenbild erzeugen.A microscope (1) having an illumination beam path (15) and an imaging beam path (16) extending from an object to a detector and / or a tube (122), and in which first and second deflection means (23, 24) and wherein the imaging beam path (16) is in the form of a wide-field imaging beam path, wherein the first deflection means (23) deflects a first part of the imaging light in a first direction (25), the second deflection means (16). 24) deflects a second portion of the imaging light in a second direction (26) and both deflection means (23, 24) pass a third portion of the imaging light for visual viewing by an operator of the microscope (1) and the first and second deflection means (23, 23; 24) deflect the first and the second part of the imaging light toward a documentation exit (30) of the microscope (1), to which at least one detection device (27) is attached wherein the imaging light deflected by the two deflection means (23, 24) is detectable simultaneously with the detection device (27), wherein the imaging optics (11) generates at least one intermediate image (12) of the object in the beam path of the third part of the imaging light and wherein the two deflection means (23, 24) and the at least one detection device (27) no means are provided which generate a further intermediate image.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Mikroskop und insbesondere ein Polarisations- und/oder ein Fluoreszenzmikroskop. Das Mikroskop umfasst einen Beleuchtungsstrahlengang und einen Abbildungsstrahlengang. Der Abbildungsstrahlengang erstreckt sich von einem Objekt zu einem Detektor und/oder zu einem Tubus. Der Abbildungsstrahlengang weist eine ein Objekt abbildende Abbildungsoptik auf und ist in Form eines Weitfeld-Abbildungsstrahlengangs ausgebildet. Im Abbildungsstrahlengang sind ein erstes und ein zweites Ablenkmittel vorgesehen. Mit dem ersten Ablenkmittel ist ein Teil des Abbildungslichts in eine erste Richtung ablenkbar. Mit dem zweiten Ablenkmittel ist ein weiterer Teil des Abbildungslichts in eine zweite Richtung ablenkbar.The present invention relates to a microscope and in particular a polarization and / or a fluorescence microscope. The microscope comprises an illumination beam path and an imaging beam path. The imaging beam path extends from an object to a detector and / or to a tube. The imaging beam path has an imaging optical unit imaging an object and is designed in the form of a wide-field imaging beam path. In the imaging beam path, a first and a second deflection means are provided. With the first deflection means, a part of the imaging light can be deflected in a first direction. With the second deflection means, a further part of the imaging light can be deflected in a second direction.

Ein Mikroskop der eingangs genannten Art ist beispielsweise aus der US 5 926 283 A bekannt und wird insbesondere im Life-Science-Bereich, also insbesondere in der bio-medizinischen Grundlagenforschung eingesetzt. Hier gibt es Anwendungen, bei welchen dynamische zelluläre Prozesse ablaufen, welche mikroskopisch beobachtet werden. Diese Prozesse sollen auch aufgenommen bzw. festgehalten oder dokumentiert werden, was allerdings Probleme bereitet. Solche dynamischen Prozesse laufen in der Regel relativ schnell ab und es sind daher viele Bilder des Objekts pro Zeiteinheit aufzunehmen und abzuspeichern, um die zeitliche Veränderung des Objekts und somit solche dynamischen Prozesse geeignet zu dokumentieren.A microscope of the type mentioned is, for example, from US 5,926,283 A is known and is used in particular in the life science sector, ie in particular in basic bio-medical research. There are applications in which dynamic cellular processes occur, which are microscopically observed. These processes should also be recorded or recorded or documented, but this causes problems. As a rule, such dynamic processes take place relatively quickly, and it is therefore necessary to record and store many images of the object per time unit in order to appropriately document the temporal change of the object and thus such dynamic processes.

Gerade in der Fluoreszenzmikroskopie werden einzelne Objektbereiche mit mehreren unterschiedlichen Fluoreszenzmarkern spezifisch markiert. Bei den Fluoreszenzmarkern handelt es sich insbesondere um mit Fluoreszenzfarbstoffen versehene Molekülbausteine, welche sich an komplementäre Objektbereiche spezifisch anlagern und somit diese Objektbereiche mit dem entsprechenden Fluoreszenzfarbstoff markieren. Dementsprechend müssen zum Sichtbarmachen der spezifisch markierten Objektbereiche die Fluoreszenzfarbstoffe mit Licht geeigneter Wellenlänge beleuchtet werden und das Fluoreszenzlicht muss bevorzugt ohne das Anregungslicht der Detektionseinrichtung zugeführt werden. Falls nun einzelne Objektbereiche mit mehreren unterschiedlichen Fluoreszenzmarkern bzw. Fluoreszenzfarbstoffen spezifisch zu markieren sind und diese zur Dokumentation des dynamischen Prozesses simultan aufgenommen und abgespeichert werden sollen, ist dies derzeit allenfalls mit einem Fluoreszenzmikroskop in Verbindung mit einer Farbkamera möglich, falls es für die verwendeten unterschiedlichen Fluoreszenzfarbstoffe einen einzigen geeigneten Strahlteiler-Filter gibt, welche in der Lage ist, lediglich das Fluoreszenzlicht der unterschiedlichen Fluoreszenzfarbstoffe zu der Detektionseinrichtung durchzulassen und das jeweilige Anregungslicht nicht zur Detektionseinrichtung gelangen zu lassen. Mit einem solchen so genannten Dual- oder Tripple-Band-Filter ist man jedoch auf der bio-medizinischen Anwendungsseite auf wenige Fluoreszenzfarbstoffe festgelegt, so dass einige Experimente auf Grund dieser Limitation überhaupt nicht möglich sind. Die Strahlengänge dieser einzelnen Fluoreszenzkanäle verlaufen koaxial und werden mit ein und derselben aktiven Detektorfläche detektiert.Especially in fluorescence microscopy, individual object areas are specifically marked with several different fluorescence markers. The fluorescent markers are, in particular, molecule building blocks provided with fluorescent dyes which specifically attach to complementary object areas and thus mark these object areas with the corresponding fluorescent dye. Accordingly, to make the specifically marked object areas visible, the fluorescent dyes must be illuminated with light of a suitable wavelength, and the fluorescent light must preferably be supplied to the detection means without the excitation light. If individual object areas with several different fluorescence markers or fluorescent dyes are to be specifically marked and these are to be simultaneously recorded and stored for documentation of the dynamic process, this is currently possible with a fluorescence microscope in conjunction with a color camera, if it is for the different fluorescent dyes used there is a single suitable beam splitter filter which is capable of transmitting only the fluorescent light of the different fluorescent dyes to the detection device and not allowing the respective excitation light to reach the detection device. With such a so-called dual or triple-band filter, however, one is limited to a few fluorescent dyes on the bio-medical application side, so that some experiments are not possible at all due to this limitation. The beam paths of these individual fluorescence channels are coaxial and are detected with one and the same active detector surface.

Daher verfolgt der optische Aufbau gemäß der US 5 926 283 A den Ansatz, ein Mikroskop mit einer einem Spektrometer vergleichbaren Einheit vorzusehen, mit welchem eine bildfeldweise Objektdetektion mehrerer Fluoreszenzkanäle simultan möglich ist.Therefore, the optical structure according to the US 5,926,283 A the approach of providing a microscope with a comparable unit to a spectrometer, with which an image field-wise object detection of multiple fluorescence channels is simultaneously possible.

Unter einer bildfeldweisen Objektdetektion bei einem Mikroskop in diesem Zusammenhang und insbesondere im Sinn der vorliegenden Erfindung ist zu verstehen, dass der Abbildungsstrahlengang in Form eines Weitfeld-Abbildungsstrahlengangs ausgebildet ist. Mit anderen Worten werden von dem Objekt zweidimensionale Bilder erzeugt und/oder detektiert.An image field-wise object detection in a microscope in this context and in particular in the sense of the present invention is to be understood that the imaging beam path is in the form of a wide-field imaging beam path. In other words, two-dimensional images are generated and / or detected by the object.

Der aus der US 5 926 283 A bekannte optische Strahlengang weist ein aus mehreren optischen Komponenten bestehendes bildumkehrendes Modul auf, welches an einen Dokumentationsport eines Mikroskops adaptierbar ist und welches ein Zwischenbild des Mikroskops mit einer weiteren Abbildungsstufe zu verdoppeln oder zu vervierfachen in der Lage ist. Dies ist aufwendig, da viele optische Komponenten vorzusehen und aufeinander anzupassen bzw. zu justieren sind. Weiterhin muss an die weitere Abbildungsstufe hohe Anforderungen hinsichtlich der Abbildungseigenschaften gestellt werden, insbesondere an die monochromatischen und chromatischen Abbildungseigenschaften, um bei den meist hochauflösenden Anwendungen Farbfehler bei der Abbildung zu vermeiden. Transmissionsverluste, hervorgerufen durch die zusätzlich eingebrachten Grenzflächen der verwendeten Optik, erzeugen unter anderem zusätzliches Falschlicht auf Grund von Mehrfachreflexionen mit der Konsequenz einer weiteren Kontrastminderung, was insbesondere bei schwachen Fluoreszenzsignalen äusserst nachteilig ist.The from the US 5,926,283 A known optical beam path has a consisting of a plurality of optical components image-reversing module, which is adaptable to a documentation port of a microscope and which is an intermediate image of the microscope with a further imaging stage to double or quadruple in a position. This is expensive, since many optical components provide and adapt to each other or to adjust. Furthermore, high demands have to be placed on the imaging quality of the further imaging stage, in particular on the monochromatic and chromatic imaging properties, in order to avoid color aberrations in the image for the most high-resolution applications. Transmission losses, caused by the additionally introduced interfaces of the optics used, generate additional false light due to multiple reflections with the consequence of a further reduction in contrast, which is extremely disadvantageous, in particular in the case of weak fluorescence signals.

US 5 926 283 A offenbart ein Spektrometer mit achromatischen Linsen zum Darstellen eines zweidimensionalen Zwischenbildes an einer internen Feldblende. Das von diesem Zwischenbild ausgehende Licht wird mit weiteren Linsen kollimiert und nachfolgend spektral aufgespaltet. Das nach Wellenlängen aufgespaltete Licht wird auf einen Detektor abgebildet. US 5,926,283 A discloses an achromatic lens spectrometer for displaying a two-dimensional intermediate image at an internal field stop. The light emanating from this intermediate image is collimated with further lenses and subsequently spectrally split. The wavelength-split light is imaged onto a detector.

Aus der EP 1 424 579 A1 ist eine Beleuchtungsvorrichtung für ein Mikroskop bekannt, die einen halbdurchlässigen Spiegel aufweist, der das aus einer Lichtquelle stammende Licht in zwei Strahlen teilt. Die beiden Strahlen werden jeweils einem Anregungsfilter zugeführt und anschließend mittels eines weiteren halbdurchlässigen Spiegels wieder zusammengeführt. From the EP 1 424 579 A1 For example, a microscope illumination apparatus is known which comprises a semitransparent mirror which splits the light from a light source into two beams. The two beams are each supplied to an excitation filter and then brought together again by means of a further semitransparent mirror.

DE 10 2004 044 629 A1 offenbart eine Vorrichtung und ein Verfahren zum simultanen Nachweis mehrerer Spektralbereiche eines Lichtstrahls, insbesondere zum simultanen Nachweis mehrer Spektralbereiche eines Detektionslichtstrahls in einem vorzugsweise konfokalen Scanmikroskop. DE 10 2004 044 629 A1 discloses an apparatus and a method for the simultaneous detection of multiple spectral regions of a light beam, in particular for the simultaneous detection of multiple spectral regions of a detection light beam in a preferably confocal scanning microscope.

Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Mikroskop der eingangs genannten Art anzugeben und weiterzubilden, mit welchem eine simultane Detektion dynamischer Prozesse eines mit dem Mikroskop untersuchten Objekts mit einfacheren Mitteln und verbesserten Detektionseigenschaften möglich ist.The present invention is therefore based on the object of specifying and developing a microscope of the type mentioned above, with which a simultaneous detection of dynamic processes of an object examined by the microscope with simpler means and improved detection properties is possible.

Das erfindungsgemässe Mikroskop der eingangs genannten Art löst die voranstehende Aufgabe durch die Merkmale des Patentanspruchs 1.The inventive microscope of the type mentioned solves the above problem by the features of claim 1.

Erfindungsgemäss ist zunächst erkannt worden, dass die eingangs genannten dynamischen Prozesse in relativ einfacher und unaufwendiger Weise dokumentiert werden können, wenn die hierfür erforderlichen Ablenkmittel unmittelbar in den Strahlengang des Mikroskops integriert werden und hierbei keine weitere optische Abbildung vorzusehen. Hierdurch sind in ganz besonders vorteilhafter Weise weniger optische Komponenten in dem Abbildungsstrahlengang vorzusehen, was einerseits eine Reduzierung der Herstellungskosten und andererseits einen reduzierten Justageaufwand mit sich bringt, da weniger Komponenten aufeinander zu justieren sind. Weiterhin treten durch die reduzierte Anzahl der optischen Komponenten weniger Lichtverluste, Abbildungsfehler und/oder (Mehrfach)-Reflexionen an Grenzflächen im Abbildungsstrahlengang auf, so dass eine erhöhte Detektionseffizienz bei verbesserten Abbildungseigenschaften erzielbar ist. Dies ist insbesondere bei in der Regel schwachen Fluoreszenzlichtsignalen von grossem Vorteil. In erfindungsgemässer Weise ist daher keine zusätzliche optische Abbildung vorgesehen, um das von den zwei Ablenkmitteln abgelenkte Licht mit der Detektionseinrichtung zu detektieren. Unter einer Vermeidung einer weiteren oder zusätzlichen Abbildung im Sinn der vorliegenden Erfindung ist insbesondere zu verstehen, dass das von einem Ablenkmittel bzw. das von den zwei Ablenkmitteln abgelenkte Licht unter Umständen mit strahlformenden optischen Mitteln (z. B. Linsen) formbar ist. Es ist allerdings kein optisches Mittel vorgesehen, welches ausgehend von dem herkömmlichen bzw. bestehenden Strahlengang des Mikroskops ein weiteres reales Bild bzw. Zwischenbild erzeugt, um das von den zwei Ablenkmitteln abgelenkte Licht mit der Detektionseinrichtung zu detektieren. Bevorzugt sind daher zwischen den Ablenkmitteln und der mindestens einen Detektionseinrichtung oder ab der Stelle des Strahlengangs, ab welcher der Abbildungsstrahlengang lediglich zur Detektion des von den Ablenkmitteln abgelenkten Lichts dient, keine Mittel zur zusätzlichen optischen Abbildung vorgesehen.According to the invention, it has first been recognized that the dynamic processes mentioned at the outset can be documented in a relatively simple and inexpensive manner if the deflection means required for this purpose are integrated directly into the beam path of the microscope and do not provide any further optical imaging. As a result, fewer optical components can be provided in the imaging beam path in a particularly advantageous manner, which on the one hand entails a reduction of the manufacturing costs and, on the other hand, a reduced adjustment effort, since fewer components have to be adjusted to one another. Furthermore, due to the reduced number of optical components, fewer light losses, aberrations and / or (multiple) reflections occur at interfaces in the imaging beam path, so that increased detection efficiency can be achieved with improved imaging properties. This is of great advantage, in particular with normally weak fluorescent light signals. In accordance with the invention, therefore, no additional optical imaging is provided in order to detect the light deflected by the two deflection means with the detection device. By avoiding further or additional imaging in the sense of the present invention, it is to be understood in particular that under certain circumstances the light deflected by a deflection means or that deflected by the two deflection means can be shaped with beam-shaping optical means (eg lenses). However, no optical means is provided which, starting from the conventional or existing beam path of the microscope, generates a further real image or intermediate image in order to detect the light deflected by the two deflection means with the detection device. Therefore, no means for additional optical imaging are preferably provided between the deflection means and the at least one detection device or from the point of the beam path, from which the imaging beam path only serves to detect the light deflected by the deflection means.

In einer ganz bevorzugten Ausführungsform weicht die erste Richtung, unter welcher ein Teil des Abbildungslichts mit dem ersten Ablenkmittel aus dem Abbildungsstrahlengang abgelenkt wird, von der zweiten Richtung, unter welcher ein weiterer Teil des Abbildungslichts mit dem zweiten Ablenkmittel aus dem Abbildungsstrahlengang abgelenkt wird, ab. Im Konkreten könnten die zwei Ablenkmittel das Licht in die erste und die zweite Richtung im Wesentlichen in eine Raumrichtung abgelenkt werden, wobei die zwei Richtungen jedoch gegeneinander einen Winkel aufweisen, welcher wenige Grad aufweist, z. B. 0,5 Grad bis 5 Grad.In a very preferred embodiment, the first direction, under which part of the imaging light is deflected out of the imaging beam path with the first deflection means, deviates from the second direction, under which a further part of the imaging light is deflected with the second deflection means out of the imaging beam path. Specifically, the two deflection means could deflect the light in the first and second directions substantially in a spatial direction, but the two directions have an angle with each other which is a few degrees, e.g. B. 0.5 degrees to 5 degrees.

In Abhängigkeit der jeweiligen bio-medizinischen Anwendung kann es erforderlich sein, mehr als lediglich zwei Teile des Abbildungslichts simultan zu detektieren. Daher ist in einer bevorzugten Ausführungsform mindestens ein weiteres Ablenkmittel vorgesehen, mit welchem ein weiterer Teil des Abbildungslichts aus dem Abbildungsstrahlengang in eine weitere Richtung ablenkbar ist.Depending on the particular bio-medical application, it may be necessary to simultaneously detect more than just two parts of the imaging light. Therefore, in a preferred embodiment, at least one further deflection means is provided with which a further part of the imaging light can be deflected from the imaging beam path in another direction.

In einer bevorzugten Ausführungsform wird das von den Ablenkmitteln abgelenkte Licht von einer Detektionseinrichtung detektiert. Grundsätzlich ist es möglich, das von den zwei Ablenkmitteln abgelenkte Licht mit jeweils einer Detektionseinheit der Detektionseinrichtung getrennt zu detektieren, beispielsweise mit einer Kamera, welche zwei nebeneinander angeordnete CCD-Chips aufweist. Bevorzugt wird allerdings das von den Ablenkmitteln abgelenkte Licht lediglich von einer Detektionseinrichtung detektiert. Dies könnte mit einem Chip einer in Form einer CCD-Kamera ausgebildeten Detektionseinrichtung erfolgen.In a preferred embodiment, the light deflected by the deflection means is detected by a detection device. In principle, it is possible to separately detect the light deflected by the two deflection means, in each case with a detection unit of the detection device, for example with a camera which has two CCD chips arranged next to one another. However, the light deflected by the deflecting means is preferably only detected by a detection device. This could be done with a chip formed in the form of a CCD camera detection device.

Das von den Ablenkmitteln abgelenkte Abbildungslicht ist gemäß einer bevorzugten Ausführungsform von der Detektionseinrichtung jeweils räumlich getrennt voneinander detektierbar. So wird das von dem ersten Ablenkmittel abgelenkten Licht mit der Detektionseinrichtung flächig bzw. zweidimensional detektiert. Das von dem zweiten Ablenkmittel abgelenkte Licht wird mit der Detektionseinrichtung ebenfalls flächig bzw. zweidimensional detektiert, wobei die beiden flächigen Bereiche sich nicht oder allenfalls nur unwesentlich (z. B. an einem Randbereich) räumlich überlappen und aneinander angrenzen können.The imaging light deflected by the deflection means is in each case spatially separated from each other detectable by the detection device according to a preferred embodiment. Thus, the light deflected by the first deflection means is detected with the detection device two-dimensionally or two-dimensionally. The light deflected by the second deflection means is also detected with the detection device in a planar or two-dimensional manner, wherein the two area areas are not or at most only insignificantly (eg on a Border area) spatially overlap and can adjoin one another.

Die Detektionseinrichtung könnte eine CCD-Kamera oder eine CMOS-Kamera aufweisen. Die Kamera könnte einen aktiven Detektionsbereich mit einer Diagonalen von 1 Zoll bis 1/4 Zoll aufweisen, wobei der aktive Detektionsbereich auch nur 0,5 Zoll bis 0,125 Zoll aufweisen könnte, da der CCD-Chip am Randbereich weitere Elektronik aufweisen kann, dort jedoch keinen aktiven Detektionsbereich aufweist.The detection device could comprise a CCD camera or a CMOS camera. The camera could have an active detection area with a diagonal of 1 inch to 1/4 inch, and the active detection area could be as small as 0.5 inch to 0.125 inch since the CCD chip may have other electronics at the periphery, but none there having active detection area.

Das erste und/oder das zweite Ablenkmittel könnte einen Strahlteiler aufweisen. Als Strahlteiler könnte in Abhängigkeit des angestrebten Mikroskopieverfahrens ein Polarisationsstrahlteiler oder ein wellenlängenselektiver Strahlteiler vorgesehen sein. Falls eine polarisationsmikroskopische Anwendung durchgeführt wird, könnte der Strahlteiler einen Polarisationsstrahlteiler aufweisen.The first and / or the second deflection means could comprise a beam splitter. Depending on the desired microscopy method, a polarization beam splitter or a wavelength-selective beam splitter could be provided as a beam splitter. If a polarization microscopic application is performed, the beam splitter could comprise a polarization beam splitter.

Falls eine fluoreszenzmikroskopische Anwendung durchgeführt wird, könnte der wellenlängenselektive Strahlteiler derart ausgebildet sein, dass mindestens ein vorgebbarer Wellenlängenbereich des Lichts reflektierbar und ein hiervon sich unterscheidender, vorgebbarer weiterer Wellenlängenbereich des Lichts transmittierbar ist. Der wellenlängenselektive Strahlteiler könnte in herkömmlicher Weise eine beschichtete Glasplatte aufweisen, wobei angestrebt ist, den so genannten Cross-Talk zu minimieren. Der Cross-Talk ist dann minimiert, wenn das Anregungslicht nahezu vollständig aus dem Abbildungsstrahlengang ausgeblendet bzw. abgeblockt wird und das Fluoreszenzlicht nahezu vollständig zur Detektionseinheit geleitet wird. Auch das Anregungs- und Fluoreszenzlicht anderer Fluoreszenzfarbstoffe sollten ebenfalls von dem wellenlängenselektiven Strahlteiler aus dem Abbildungsstrahlengang ausgeblendet werden, so dass lediglich Fluoreszenz- bzw. Abbildungslicht des gewünschten Fluoreszenzfarbstoffs mit der Detektionseinrichtung detektiert wird.If a fluorescence microscopic application is carried out, the wavelength-selective beam splitter could be designed in such a way that at least one predeterminable wavelength range of the light is reflectable and a further, specifiable, further wavelength range of the light can be transmitted. The wavelength-selective beam splitter could conventionally comprise a coated glass plate, with the aim of minimizing so-called cross-talk. The cross-talk is then minimized when the excitation light is almost completely faded out or blocked out of the imaging beam path and the fluorescent light is conducted almost completely to the detection unit. Also, the excitation and fluorescent light of other fluorescent dyes should also be hidden from the wavelength-selective beam splitter from the imaging beam path, so that only fluorescent or imaging light of the desired fluorescent dye is detected with the detection device.

In einer konkreten Ausbildungsform könnte das erste Ablenkmittel an einem Prisma angeordnet sein, beispielsweise in Form einer mit einer Beschichtung versehenen Grenzschicht des Prismas. Das zweite Ablenkmittel könnte an einer Keilplatte oder an einem weiteren Prisma angeordnet sein, wobei die Keilplatte zwischen dem ersten Ablenkmittel und der Detektionseinrichtung angeordnet sein könnte. Damit die erste Richtung sich von der zweiten Richtung unterscheidet könnte die Keilplatte oder das weitere Prisma nicht parallel verlaufende Oberflächen aufweisen. An der einen Oberfläche der Keilplatte könnte das zweite Ablenkmittel vorgesehen sein, nämlich ebenfalls in Form einer mit einer Beschichtung versehenen Oberfläche. Alternativ könnte das erste und das zweite Ablenkmittel allein durch eine Keilplatte oder ein entsprechendes Prisma gebildet sein, wobei die beiden im Strahlengang angeordneten Oberflächen jeweils mit einer spezifischen Beschichtung versehen sind.In a specific embodiment, the first deflection means could be arranged on a prism, for example in the form of a boundary layer of the prism provided with a coating. The second deflection means could be arranged on a wedge plate or on another prism, wherein the wedge plate could be arranged between the first deflection means and the detection device. In order for the first direction to be different from the second direction, the wedge plate or the further prism could have non-parallel surfaces. On one surface of the wedge plate, the second deflection means could be provided, namely also in the form of a surface provided with a coating. Alternatively, the first and the second deflection means could be formed solely by a wedge plate or a corresponding prism, wherein the two surfaces arranged in the beam path are each provided with a specific coating.

Das erste und/oder das zweite Ablenkmittel könnte einen Reflektor aufweisen. Insbesondere wenn das erste Ablenkmittel als Fluoreszenzstrahlteiler ausgebildet ist kann es zweckmäßig sein, dass das zweite Ablenkmittel einen Reflektor aufweist. Falls dann beide Ablenkmittel im Abbildungsstrahlengang des Mikroskops vorgesehen sind, kann in Abhängigkeit des gesamten Strahlengangs des Mikroskops das Objekt während der Detektion mit der Detektionseinrichtung nicht mit dem Okular beobachtet werden.The first and / or the second deflection means could comprise a reflector. In particular, if the first deflection means is designed as a fluorescence beam splitter, it may be expedient for the second deflection means to have a reflector. If both deflection means are then provided in the imaging beam path of the microscope, the object can not be observed with the eyepiece during detection with the detection device as a function of the entire beam path of the microscope.

Eine solche Konfiguration könnte auch bei Polarisationsanwendungen vorteilhaft sein. Dann könnte das erste Ablenkmittel einen Polarisationsstrahlteiler und das zweite Ablenkmittel einen Reflektor aufweisen. Das erste Ablenkmittel könnte in diesem Fall zwischen dem zweiten Ablenkmittel und der Detektionseinrichtung angeordnet sein.Such a configuration could also be advantageous in polarization applications. Then, the first deflection means could comprise a polarization beam splitter and the second deflection means could comprise a reflector. The first deflection means could in this case be arranged between the second deflection means and the detection device.

In einer ganz besonders bevorzugten Ausführungsform sind die zwei Ablenkmittel beabstanded von einer Zwischenbildebene im Abbildungsstrahlengang angeordnet sind. So könnten die zwei Ablenkmittel in einem Bereich des Abbildungsstrahlengangs angeordnet sein, in welchem der Strahlengang kollimiert oder konvergierend bzw. divergierend ausgebildet ist. Obwohl grundsätzlich die zwei Ablenkmittel auch in unmittelbarer Nähe einer Zwischenbildebene des Abbildungsstrahlengangs angeordnet sein könnten, wird dies jedoch nicht bevorzugt.In a very particularly preferred embodiment, the two deflection means are arranged spaced apart from an intermediate image plane in the imaging beam path. Thus, the two deflection means could be arranged in a region of the imaging beam path in which the beam path is collimated or converging or divergent. Although in principle the two deflection means could also be arranged in the immediate vicinity of an intermediate image plane of the imaging beam path, this is not preferred.

In einer ganz besonders bevorzugten Ausführungsform sind das erste und/oder das zweite Ablenkmittel in einem Bereich des Abbildungsstrahlengangs angeordnet, in welchem üblicherweise ein Strahlteiler des Mikroskops angeordnet ist. Ein solcher Bereich des Abbildungsstrahlengangs könnte dort sein, wo üblicherweise ein Neutral-, Fluoreszenz-, Polarisationsstrahlteiler oder ein Reflektor angeordnet ist. In kommerziell erhältlichen Mikroskopen sind solche Strahlteiler bzw. Reflektoren in Filterschiebern oder Filterrädern angeordnet. So kann an einer solchen Stelle ein Reflektor oder ein Neutral-Strahlteiler reversibel in den Strahlengang eingebracht werden, um nämlich das Abbildungslicht vollständig oder zu einem entsprechenden Anteil (abhängig von den Reflexions- bzw. Transmissionseigenschaften des Neutral-Strahlteilers) in Richtung des Dokumentationsports des Mikroskops zu leiten, wobei bei der Verwendung eines geeigneten Neutral-Strahlteilers ein Anteil auch zu dem Okular und somit zur visuellen Beobachtung durch einen Mikroskopbediener geleitet wird. Daher können die zwei Ablenkmittel in einen Filterschieber bzw. in ein Filterrad integriert werden und – in Abhängigkeit der Ausgestaltung des Filterschiebers bzw. Filterrads – reversibel in den Abbildungsstrahlengang eingebracht werden. Hierdurch kann in ganz besonders vorteilhafter Weise zwischen einem herkömmlichen Mikroskopmodus und einem Mikroskopmodus mit einer simultanen Detektion mehreren Weitfeldbilder umgeschaltet werden, wodurch das erfindungsgemäße Mikroskop vielseitig für die speziellen Life-Sicence Anwendungen genutzt werden kann.In a very particularly preferred embodiment, the first and / or the second deflection means are arranged in a region of the imaging beam path in which a beam splitter of the microscope is usually arranged. Such an area of the imaging beam path could be where usually a neutral, fluorescence, polarization beam splitter or a reflector is arranged. In commercially available microscopes, such beam splitters or reflectors are arranged in filter slides or filter wheels. Thus, at such a point, a reflector or a neutral beam splitter can be reversibly introduced into the beam path, namely the imaging light completely or in a corresponding proportion (depending on the reflection or transmission properties of the neutral beam splitter) in the direction of the documentation of the microscope with the use of a suitable neutral beam splitter, a portion is also directed to the eyepiece and thus for visual observation by a microscope operator. Therefore, the two deflection means can be integrated in a filter slide or in a filter wheel and - Design of the filter slide or filter wheel - are reversibly introduced into the imaging beam path. As a result, in a particularly advantageous manner, a plurality of wide field images can be switched between a conventional microscope mode and a microscope mode with simultaneous detection, as a result of which the microscope according to the invention can be used in a versatile manner for the special life-care applications.

Ganz besonders bevorzugt ist daher vorgesehen, dass das von dem ersten und/oder dem zweiten Ablenkmittel abgelenkte Licht zu einen Dokumentationsabgang bzw. Dokumentationsport des Mikroskops abgelenkt wird. An diesem Dokumentationsport mit einer in der Regel genormten Anbauschnittstelle könnte eine CCD-Kamera adaptiert werden, mit welcher simultan zwei bzw. mehrere Weitfeldbilder ein und desselben Objekts detektiert werden können.It is therefore very particularly preferable for the light deflected by the first and / or the second deflection means to be deflected to a documentation exit or documentation port of the microscope. At this documentation port with a generally standardized attachment interface, a CCD camera could be adapted, with which simultaneously two or more wide-field images of the same object can be detected.

Wie bereits angedeutet, könnte das erste und/oder das zweite Ablenkmittel an einem Filterschieber oder an einem Filterhalterrad angeordnet sein. Mit dem Filterschieber bzw. Filterrad könnten entweder motorisch oder manuell die darin bestückten Komponenten jeweils in den Abbildungsstrahlengang verbringbar sein. Falls zumindest eines der beiden Ablenkmittel motorisch in den Abbildungsstrahlengang einbringbar ist, könnten in Abhängigkeit des Motorisierungsgrads des Mikroskops auch noch weitere Komponenten motorisch aktivierbar bzw. deaktivierbar sein, um nämlich bei einer entsprechend bedienergesteuerten Anwahl die erforderlichen und richtigen Strahlteiler, Fluoreszenzfilter und/oder Polarisationsfilter in dem Strahlengang des Mikroskops zu positionieren.As already indicated, the first and / or the second deflection means could be arranged on a filter slide or on a filter holder wheel. The filter slide or filter wheel could be used either in the imaging beam path, either mechanically or manually, for the components fitted therein. If at least one of the two deflection means can be introduced into the imaging beam path by motor, depending on the degree of motorisation of the microscope, further components could be motor-activated or deactivated, namely with a correspondingly operator-controlled selection of the required and correct beam splitters, fluorescence filters and / or polarization filters to position the beam path of the microscope.

Wie bereits angedeutet, könnte das erste und/oder das zweite Ablenkmittel grundsätzlich in einem kollimierten oder in einem konvergierenden bzw. divergierenden Bereich des Abbildungsstrahlengangs angeordnet sein. Falls das erste und/oder das zweite Ablenkmittel in einem kollimierten Bereich des Abbildungsstrahlengangs angeordnet ist, gestaltet sich eine Detektion des von dem bzw. den Ablenkmitteln abgelenkten Lichts in vorteilhafter Weise relativ einfach. In diesem Fall sind nämlich in den meisten Fällen keine zusätzlichen strahlformenden Mittel erforderlich, da auch nach der Ablenkung des Lichts durch ein Ablenkmittel noch ein kollimierter Strahlengang vorliegt. Unter Umständen kann es erforderlich sein, ein den Strahldurchmesser anpassendes optisches Mittel oder eine Fokussiereinrichtung vorzusehen, mit welchem das von dem Ablenkmittel abgelenkte Licht auf die Detektionseinrichtung fokussierbar ist. Dies könnte beispielsweise mit einer zwischen den zwei Ablenkmitteln und der Detektionseinrichtung angeordneten Tubuslinse erfolgen. In vergleichbarer Weise trifft dies den Fall zu, in welchem der Abbildungsstrahlengang zumindest teilweise einen Unendlich-Strahlengang aufweist, in welchem das erste und/oder das zweite Ablenkmittel angeordnet sind.As already indicated, the first and / or the second deflection means could in principle be arranged in a collimated or in a converging or diverging region of the imaging beam path. If the first and / or the second deflection means are arranged in a collimated region of the imaging beam path, detection of the light deflected by the deflection means or devices is advantageously relatively simple. In this case, in most cases, no additional beam-shaping means are required because even after the deflection of the light by a deflection means is still a collimated beam path. Under certain circumstances, it may be necessary to provide a beam diameter-adjusting optical means or a focusing device, with which the deflected by the deflection means light can be focused on the detection device. This could be done, for example, with a tube lens arranged between the two deflection means and the detection device. In a comparable manner this applies to the case in which the imaging beam path has at least partially an infinity beam path in which the first and / or the second deflection means are arranged.

In dem anderen Fall könnte das erste und/oder das zweite Ablenkmittel in einem konvergierenden oder divergierenden Bereich des Abbildungsstrahlengangs angeordnet sein. Falls das erste und/oder das zweite Ablenkmittel reversibel in den Abbildungsstrahlengang eingebracht wird, beispielsweise mit Hilfe eines entsprechenden Filterschiebers, so wäre auch zweckmäßigerweise eine zwischen den Ablenkmitteln und der Detektionseinrichtung anzuordnende Tubuslinse oder ein anderes Fokussiermittel ebenfalls reversibel und bevorzugt mit den zwei Ablenkmitteln in den Abbildungsstrahlengang einzubringen.In the other case, the first and / or the second deflection means could be arranged in a converging or divergent region of the imaging beam path. If the first and / or the second deflection means is reversibly introduced into the imaging beam path, for example with the aid of a corresponding filter slide, a tube lens or another focusing means to be arranged between the deflection means and the detection device would also be reversible and preferably with the two deflection means in FIGS To introduce imaging beam path.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform ist mindestens ein strahlformendes Mittel vorgesehen, welches einem Ablenkmittel im Abbildungsstrahlengang vor- und/oder nachgeordnet ist. Mit dem strahlformenden Mittel kann der Strahlenverlauf von einem konvergierenden oder divergierenden zu einem kollimierten Strahlenverlauf umgewandelt werden, vorausgesetzt, es weist entsprechende Eigenschaften auf. Es ist auch denkbar, mit dem strahlformenden Mittel den Strahlenverlauf von einem kollimierten zu einem konvergierenden oder divergierenden Strahlenverlauf umzuwandeln, falls dies für die konkrete Ausbildung des Abbildungsstrahlengangs erforderlich sein sollte. Mit dem strahlformenden Mittel wird jedoch keine optische Abbildung in dem Sinn bewirkt, dass damit ein reales Bild bzw. Zwischenbild erzeugt wird.According to a preferred embodiment, at least one beam-shaping means is provided, which is arranged before and / or downstream of a deflection means in the imaging beam path. With the beam-shaping means, the beam path can be converted from a converging or divergent to a collimated beam path, provided it has corresponding properties. It is also conceivable to use the beam-shaping means to convert the beam path from a collimated to a converging or diverging beam path, if this is necessary for the specific design of the imaging beam path. With the beam-shaping means, however, no optical imaging is effected in the sense that a real image or intermediate image is thereby produced.

Ganz besonders bevorzugt ist eine Blende bzw. eine Leuchtfeldblende oder eine Luke vorgesehen, welche im Beleuchtungsstrahlengang oder in einer Zwischenbildebene im Abbildungsstrahlengang angeordnet ist. Die Blende könnte eine rechteckförmige, quadratische oder runde Apertur bzw. Durchlass aufweisen und dem entsprechenden Strahlengang eine entsprechende Form aufprägen. Falls die Blende im Beleuchtungsstrahlengang vorgesehen ist, ist es zweckmäßig diese an einer Stelle anzuordnen, wo sich eine zur Fokusebene des Objektivs korrespondierende Ebene befindet. Sollte die Blende im Abbildungsstrahlengang vorgesehen sein, könnte diese beispielsweise an einer Zwischenbildebene angeordnet sein, wobei die Zwischenbildebene ebenfalls zur Fokusebene des Objektivs korrespondiert. Mit der Blende sollte insbesondere bezweckt werden, dass die bildfeldseitige Größe eines Bildes, welches auf Grund der Ablenkung des ersten und/oder des zweiten Ablenkmittels an der Detektionseinrichtung erzeugbar ist, begrenzbar ist. Somit ist es beispielsweise möglich, die von den zwei Ablenkmitteln erzeugten Bilder nebeneinander auf einem CCD-Chip einer in Form einer CCD-Kamera ausgebildeten Detektionseinrichtung nebeneinander und ohne sich überlappende Bildbereiche abzubilden.Most preferably, a diaphragm or a field diaphragm or a hatch is provided, which is arranged in the illumination beam path or in an intermediate image plane in the imaging beam path. The diaphragm could have a rectangular, square or round aperture or passage and impress a corresponding shape on the corresponding beam path. If the diaphragm is provided in the illumination beam path, it is expedient to arrange it at a location where there is a plane corresponding to the focal plane of the objective. Should the diaphragm be provided in the imaging beam path, this could be arranged, for example, at an intermediate image plane, wherein the intermediate image plane likewise corresponds to the focal plane of the objective. The aim of the diaphragm is, in particular, to limit the image field-side size of an image, which can be generated on the detection device due to the deflection of the first and / or the second deflection means. Thus, it is possible, for example, the images generated by the two deflection means side by side on a CCD chip in the form of a CCD camera Detection device side by side and without mapping overlapping image areas.

Gemäß einer besonders bevorzugten Ausführungsform ist die Detektionseinrichtung derart ausgebildet, dass mit ihr innerhalb kurzer Zeit viele Objektbilder aufnehmbar und abspeicherbar sind. Somit können auch zeitkritische Beobachtungen von Vorgängen an dem Objekt dokumentiert werden. Dementsprechend ist eine den Detektionseinrichtung auszuwählen, welche in der Lage ist einerseits in der geforderten zeitlichen Auflösung Bilddaten detektieren und auslesen bzw. abspeichern zu können und andererseits eine geeignete Empfindlichkeit aufweist, so dass die detektierten Bilddaten auch einen ausreichenden Dynamikbereich aufweisen, bevorzugt 8 bis 16 Bit pro Pixel.According to a particularly preferred embodiment, the detection device is designed such that with it within a short time many object images can be recorded and stored. Thus, time-critical observations of events on the object can be documented. Accordingly, one must select the detection device which is able to detect and read or store image data on the one hand in the required temporal resolution and on the other hand has a suitable sensitivity, so that the detected image data also have a sufficient dynamic range, preferably 8 to 16 bits per pixel.

Das erfindungsgemäße Mikroskop weist in einer bevorzugten Ausführungsform einen Betriebszustand auf, in welchem das Abbildungslicht mit den zwei Ablenkmitteln detektierbar ist. Es weist darüber hinaus auch einen weiteren Betriebszustand auf, in welchem das Abbildungslicht auf herkömmliche Weise detektierbar ist. Wie bereits oben angedeutet, kann zwischen den zwei Betriebszuständen hin und her geschaltet werden, wenn die zwei Ablenkmittel reversibel in den Abbildungsstrahlengang eingebracht werden können, beispielsweise mit Hilfe eines Filterschiebers. Hier ist es auch denkbar, dass beide Betriebszustände simultan angewendet werden können, falls nämlich die zwei Ablenkmittel lediglich einen Teil des Abbildungslichts in Richtung der Detektionseinrichtung ablenken und der verbleibende Teil zum Okular und somit zur visuellen Beobachtung durch einen Bediener gelangt. In diesem Fall kann der Bediener einerseits das Experiment im Okular beobachten und erforderlichenfalls Einstellungen am Mikroskop anpassen (beispielsweise etwas Fokussieren oder das Objekt mit dem Mikroskoptisch lateral Verschieben). Andererseits wird mit der Detektionseinrichtung der Verlauf des Experiments detektiert bzw. dokumentiert.In a preferred embodiment, the microscope according to the invention has an operating state in which the imaging light can be detected by the two deflection means. It also has a further operating state in which the imaging light can be detected in a conventional manner. As already indicated above, it is possible to switch back and forth between the two operating states if the two deflection means can be reversibly introduced into the imaging beam path, for example with the aid of a filter slide. Here it is also conceivable that both operating states can be applied simultaneously, namely, if the two deflecting deflect only a portion of the imaging light in the direction of the detection device and the remaining part of the eyepiece and thus for visual observation by an operator passes. In this case, on the one hand, the operator can observe the experiment in the eyepiece and, if necessary, adjust settings on the microscope (for example, slightly focusing or moving the object laterally with the microscope stage). On the other hand, the course of the experiment is detected or documented with the detection device.

Das Mikroskop kann grundsätzlich einen aufrechten oder einen inversen Mikroskopaufbau aufweisen. Da bei den eingangs genannten Life-Science-Experimenten üblicherweise Mikromanipulatoren und/oder Mikroinjektoren eingesetzt werden, scheint ein inverser Mikroskopaufbau für diesen Anwendungsbereich zweckmäßiger. Jedenfalls kann es sich bei dem erfindungsgemäßen Mikroskop um ein Mikroskop mit einem herkömmlichen Stativ handelten, wobei eine für die jeweilige Anwendung geeignete Lichtquelle in das Mikroskop einkoppelbar bzw. an dem Mikroskopstativ adaptiert ist.The microscope can basically have an upright or inverse microscope construction. Since micromanipulators and / or microinjectors are usually used in the abovementioned life science experiments, an inverted microscope setup for this area of application seems more appropriate. In any case, the microscope according to the invention may be a microscope with a conventional tripod, wherein a light source suitable for the respective application can be coupled into the microscope or adapted to the microscope stand.

Üblicherweise wird die Abbildungsoptik zumindest ein Mikroskopobjektiv aufweisen. In der Regel könnte eine Tubuslinse vorgesehen sein, welche hinsichtlich der Abbildungseigenschaften auf die Abbildungseigenschaften des Mikroskopobjektivs angepasst ist. Dies ist insbesondere bei einem Strahlengang eines derzeit auf dem Markt erhältlichen Forschungsmikroskops mit einem so genannten Unendlich-Strahlengang der Fall, wo das Objektiv bildseitig einen im Wesentlichen parallel verlaufenden kollimierten Strahlengang aufweist. Mit der dem Mikroskopobjektiv im Abbildungsstrahlengang nachgeordneten Tubuslinse wird ein Zwischenbild erzeugt, welches mit einem Okular betrachtet werden kann.Usually, the imaging optics will have at least one microscope objective. In general, a tube lens could be provided, which is adapted with regard to the imaging properties of the imaging properties of the microscope objective. This is the case in particular in the case of a beam path of a research microscope currently available on the market with a so-called infinity beam path, where the objective has a collimated beam path running substantially parallel to the image. With the tube lens downstream of the microscope objective in the imaging beam path, an intermediate image is generated, which can be viewed with an eyepiece.

Eine optische Anordnung, die in einen Strahlengang eines Mikroskops, insbesondere eines Polarisations- oder Fluoreszenzmikroskops, einbringbar ist, umfasst ein erstes Ablenkmittel und ein relativ zu dem ersten Ablenkmittel ortsfest angeordnetes zweites Ablenkmittel. Mit dem ersten Ablenkmittel ist ein Teil des Abbildungslichts in eine erste Richtung und in Richtung einer Detektionseinrichtung des Mikroskops ablenkbar. Mit dem zweiten Ablenkmittel ist ein weiterer Teil des Abbildungslichts in eine zweite Richtung und in Richtung der Detektionseinrichtung des Mikroskops ablenkbar. Die erste Richtung weicht von der zweiten Richtung ab bzw. unterscheidet sich hiervon. Die erste Richtung und die zweite Richtung sind derart gewählt, dass das von den zwei Ablenkmitteln abgelenkte Licht jeweils räumlich getrennt voneinander mit der Detektionseinrichtung detektierbar ist.An optical arrangement, which can be introduced into a beam path of a microscope, in particular a polarization or fluorescence microscope, comprises a first deflection means and a second deflection means arranged fixedly relative to the first deflection means. With the first deflection means, a part of the imaging light can be deflected in a first direction and in the direction of a detection device of the microscope. With the second deflection means, a further part of the imaging light can be deflected in a second direction and in the direction of the detection device of the microscope. The first direction differs from or differs from the second direction. The first direction and the second direction are selected such that the light deflected by the two deflection means is detectable spatially separated from one another by the detection device.

In ganz besonders vorteilhafter Weise kann also ein bereits in einem Labor installiertes Mikroskop zu einem erfindungsgemäßen Mikroskop aufgerüstet werden, falls nämlich eine optische Anordnung in das Mikroskop integriert bzw. adaptiert werden kann. Unter Umständen ist es sogar möglich, mit einer bereits an dem herkömmlichen Mikroskop vorgesehenen CCD-Kamera (die dann die Funktion der Detektionseinrichtung ausübt) auch die Bilder zu detektieren, welche durch das Ablenken mit den zwei Ablenkmitteln erzeugt werden können. Insoweit stellt die optische Anordnung einen kostengünstigen Aufrüstsatz bzw. Option dar, mit welchem ein herkömmliches Mikroskop zu einem erfindungsgemäßen Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 23 nachgerüstet werden kann. Insoweit wird zur Vermeidung von Wiederholungen hinsichtlich der hierzu erforderlichen Bauteile, nämlich insbesondere des ersten und des zweiten Ablenkmittels, auf den vorangegangenen Teil der Beschreibung verwiesen.In a particularly advantageous manner, therefore, a microscope already installed in a laboratory can be upgraded to a microscope according to the invention, namely if an optical arrangement can be integrated or adapted into the microscope. Under certain circumstances, it is even possible to detect with an already provided on the conventional microscope CCD camera (which then performs the function of the detection device) and the images that can be generated by the deflection with the two deflection means. In that regard, the optical arrangement represents a cost-effective upgrade kit or option with which a conventional microscope can be retrofitted to a microscope according to any one of claims 1 to 23 according to the invention. In that regard, to avoid repetition in respect of the components required for this purpose, namely in particular of the first and the second deflection means, reference is made to the preceding part of the description.

Es gibt nun verschiedene Möglichkeiten, die Lehre der vorliegenden Erfindung in vorteilhafter Weise auszugestalten und weiterzubilden. Dazu ist einerseits auf die dem Patentanspruch 1 nachgeordneten Patentansprüche und andererseits auf die nachfolgende Erläuterung der bevorzugten Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnung zu verweisen. In Verbindung mit der Erläuterung der bevorzugten Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnung werden auch im Allgemeinen bevorzugte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Lehre erläutert. In der Zeichnung zeigen jeweils in einer schematischen DarstellungThere are now various possibilities for designing and developing the teaching of the present invention in an advantageous manner. For this purpose, on the one hand to the claims subordinate to claim 1 and on the other hand to refer to the following explanation of the preferred embodiments of the invention with reference to the drawings. In conjunction with the explanation of the preferred embodiments of the invention with reference The drawing also generally preferred embodiments and developments of the teaching are explained. In the drawing, in each case in a schematic representation

1 ein Strahlengang eines erfindungsgemäßen Mikroskops, 1 a beam path of a microscope according to the invention,

2 in einer Detailansicht den Teil des Strahlengangs aus 1, in welchem die zwei Ablenkmittel angeordnet sind und 2 in a detailed view of the part of the beam path 1 in which the two deflection means are arranged and

3 in einer weiteren Detailansicht den Teil des Strahlengangs aus 2, an welchem ein herkömmlicher Strahlteiler vorgesehen ist. 3 in a further detail view of the part of the beam path 2 to which a conventional beam splitter is provided.

Gleiche oder ähnliche Bauteile sind in den Figuren mit denselben Bezugszeichen gekennzeichnet. In 1 ist der Strahlengang eines erfindungsgemäßen Mikroskops 1 gezeigt, welches sich von dem Strahlengang eines herkömmlichen Mikroskops durch eine modifizierte Anordnung unterscheidet, welche in den gestrichelt eingezeichneten Bereichen 2 und 19 bis 22 angeordnet sein könnte. Im Konkreten handelt es sich bei dem Mikroskop 1 um ein Fluoreszenzmikroskop, obwohl das Mikroskop 1 alternativ oder zusätzlich auch in Form eines Polarisationsmikroskops ausgebildet sein könnte bzw. einen Phasen- und/oder Interferenzkontrast-Modus aufweisen könnte.Identical or similar components are identified in the figures with the same reference numerals. In 1 is the beam path of a microscope according to the invention 1 which differs from the beam path of a conventional microscope by a modified arrangement, which in the dashed areas 2 and 19 to 22 could be arranged. Specifically, it is the microscope 1 around a fluorescence microscope, though the microscope 1 alternatively or additionally could also be designed in the form of a polarizing microscope or could have a phase and / or interference contrast mode.

Zunächst wird kurz auf den Strahlengang des Mikroskops 1 eingegangen. Mit der Lichtquelle 3 wird über eine Kondensoroptik 4 ein in der Objektebene 5 angeordnetes, nicht extra ein gezeichnetes Objekt beleuchtet. Mit dem Objektiv 6 wird das von dem Objekt kommendes Licht aufgesammelt und mit der Linse 7 nach einer Reflexion an dem Spiegel 8 auf ein erstes Zwischenbild 9 abgebildet. Mit der Linse 10 und der Tubuslinse 11 wird das erste Zwischenbild 9 auf ein zweites Zwischenbild 12 abgebildet, welches einen Benutzer des Mikroskops 1 betrachten kann, was mit einem Symbol 13 für ein Auge eines Bedieners schematisch angedeutet ist. Zwischen dem ersten Zwischenbild 9 und der Linse 10 ist der Spiegel 14 angeordnet.First, briefly on the beam path of the microscope 1 received. With the light source 3 is about a Kondensoroptik 4 one in the object plane 5 arranged, not an extra drawn object illuminated. With the lens 6 the light coming from the object is picked up and with the lens 7 after a reflection on the mirror 8th on a first intermediate picture 9 displayed. With the lens 10 and the tube lens 11 becomes the first intermediate image 9 on a second intermediate picture 12 pictured, which is a user of the microscope 1 can look at what with a symbol 13 is schematically indicated for an eye of an operator. Between the first intermediate picture 9 and the lens 10 is the mirror 14 arranged.

Dementsprechend erstreckt sich der Beleuchtungsstrahlengang 15 von der Lichtquelle 3 bis zur Objektebene 5 bzw. zum Objekt. Der Abbildungsstrahlengang 16 erstreckt sich von der Objektebene 5 bis zu dem lediglich schematisch gezeigten Tubus 122 bzw. zum Auge 13 des Bedieners. Der Abbildungsstrahlengang 16 ist in Form eines Weitfeld-Abbildungsstrahlengangs ausgebildet. Mit anderen Worten wird für den Bediener ein zweidimensional eines Bild des Objekts erzeugt. Gleiches gilt für eine Detektionseinrichtung, auf welche noch eingegangen wird. Bei dem in 1 gezeigten Strahlengang des Mikroskops 1 ist der orthoskopische Strahlengang 17 mit durchgezogenen Linien und der konoskopische Strahlengang 18 gestrichelt eingezeichnet.Accordingly, the illumination beam path extends 15 from the light source 3 to the object level 5 or to the object. The imaging beam path 16 extends from the object plane 5 to the tube shown only schematically 122 or to the eye 13 of the operator. The imaging beam path 16 is formed in the form of a wide-field imaging beam path. In other words, a two-dimensional image of the object is generated for the operator. The same applies to a detection device, which will be discussed later. At the in 1 shown beam path of the microscope 1 is the orthoscopic beam path 17 with solid lines and the conoscopic beam path 18 dashed lines.

In den Abbildungsstrahlengang 16 aus 1 kann ein erstes und ein zweites Ablenkmittel (in 1 nicht gezeigt) an Stellen bzw. Bereichen eingebracht werden, welche mit strichpunktierten Quadraten mit den Bezugszeichen 2, 19 bis 22 angedeutet sind. Lediglich schematisch ist in 2 angedeutet, dass ein erstes und ein zweites Ablenkmittel 23 und 24 an der Stelle 20 aus 1 in den Abbildungsstrahlengang 16 eingebracht werden kann. In 2 ist daher lediglich schematisch die Objektebene 5, das Objektiv 6 und die als Tubuslinse ausgestaltete Linse 7 gezeigt. Alternativ hierzu könnten die in 2 mit dem Bezugszeichen 20 umrandeten Komponenten auch in dem mit dem Bezugszeichen 2 gekennzeichneten Bereich des Abbildungsstrahlengangs 16 aus 1 eingebracht werden. Der Beleuchtungsstrahlengang ist in 2 nicht gezeigt. Von dem in der Objektebene 5 liegenden Objekt divergiert das Objektlicht und wird von dem Objektiv 6 aufgesammelt und in einen kollimierten, unendlichen Strahlengang umgewandelt. Mit der als Tubuslinse ausgebildeten Linse 7 wird der unendliche Strahlengang fokussiert, und zwar auf einen in 2 nicht gezeigten Tubus des Mikroskops. In der in 2 gezeigten Darstellung des Abbildungsstrahlengangs 16 ist sowohl das erste Ablenkmittel 23 als auch das zweite Ablenkmittel 24 in den Abbildungsstrahlengang 16 eingebracht. Mit dem ersten Ablenkmittel 23 ist ein Teil des Abbildungslichts in eine erste Richtung 25 ablenkbar. Der Strahlengang dieses Abbildungslichts ist mit durchgezogenen Linien dargestellt. Mit dem zweiten Ablenkmittel 24 ist ein weiterer Teil des Abbildungslichts in eine zweite Richtung 26 ablenkbar. Der Strahlengang dieses Abbildungslichts ist mit gestrichelten Linien dargestellt.In the imaging beam path 16 out 1 a first and a second deflection means (in 1 not shown) are introduced at locations or areas, which with dash-dotted squares with the reference numerals 2 . 19 to 22 are indicated. Only schematically is in 2 indicated that a first and a second deflection means 23 and 24 at the point 20 out 1 in the imaging beam path 16 can be introduced. In 2 is therefore only schematically the object plane 5 , the objective 6 and the lens designed as a tube lens 7 shown. Alternatively, the in 2 with the reference number 20 edged components also in the reference numeral 2 marked area of the imaging beam path 16 out 1 be introduced. The illumination beam path is in 2 Not shown. From that in the object plane 5 lying object diverges the object light and is from the lens 6 collected and converted into a collimated, infinite beam path. With the lens designed as a tube lens 7 the infinite beam path is focused on one in 2 not shown tube of the microscope. In the in 2 shown representation of the imaging beam path 16 is both the first deflector 23 as well as the second deflection means 24 in the imaging beam path 16 brought in. With the first deflection 23 is a part of the imaging light in a first direction 25 distractible. The beam path of this imaging light is shown by solid lines. With the second deflection means 24 is another part of the imaging light in a second direction 26 distractible. The beam path of this imaging light is shown with dashed lines.

Erfindungsgemäß ist das von den Ablenkmitteln 23, 24 abgelenkte Abbildungslicht simultan mit einer Detektionseinrichtung 27 detektierbar, ohne hierfür eine zusätzliche optische Abbildung vorzusehen. Dementsprechend sind zwischen den Ablenkmitteln 23, 24 und der mindestens einen Detektionseinrichtung 27 keine Mittel zur zusätzlichen optischen Abbildung vorgesehen. Die erste Richtung 25 weicht von der zweiten Richtung 26 ab. Im Konkreten ist die erste Richtung 25 zu der zweiten Richtung 26 unter einem Winkel α angeordnet, welcher von dem Winkel, den die beiden Oberflächen der Keilplatte 28 einschließen, abhängt. Im Konkreten ist das erste Ablenkmittel 23 in Form eines Prismas ausgebildet, welches eine dreieckige Grundfläche aufweist. An der einen Seite des Prismas ist eine Keilplatte 28 angebracht. Die der Keilplatte 28 zugewandten Seite des Prismas ist mit einer Beschichtung versehen, welche Licht kürzerer Wellenlänge, insbesondere grünes Licht, in die erste Richtung 25 reflektiert und welche Licht längerer Wellenlänge in Richtung 29 transmittiert. Die dem Prisma abgewandte Seite der Keilplatte 28 ist ebenfalls mit einer Beschichtung versehen, welche Licht längerer Wellenlänge, insbesondere rotes Licht, in die zweite Richtung 26 reflektiert. Das an der dem Prisma abgewandten Seite der Keilplatte 28 reflektierte Licht längerer Wellenlänge passiert ungehindert die beschichtetes Seite des Prismas. Insoweit sind die Ablenkmittel 23, 24 aus 2 für Fluoreszenzmikroskopie-Anwendungen angepasst. Die Ablenkmittel 23, 24 sind demgemäß in Form von wellenlängenselektive Strahlteilern ausgebildet.According to the invention that of the deflection 23 . 24 deflected imaging light simultaneously with a detection device 27 detectable without providing an additional optical image for this purpose. Accordingly, between the deflection means 23 . 24 and the at least one detection device 27 no means for additional optical imaging provided. The first direction 25 deviates from the second direction 26 from. In the concrete is the first direction 25 to the second direction 26 arranged at an angle α, which of the angle, the two surfaces of the wedge plate 28 include, depends. In concrete terms, this is the first means of deflection 23 formed in the form of a prism, which has a triangular base. On one side of the prism is a wedge plate 28 appropriate. The wedge plate 28 facing side of the prism is provided with a coating which light of shorter wavelength, in particular green light, in the first direction 25 reflected and which light of longer wavelength in the direction 29 transmitted. The the Prism facing away from the wedge plate 28 is also provided with a coating which light of longer wavelength, in particular red light, in the second direction 26 reflected. The side of the wedge plate facing away from the prism 28 reflected light of longer wavelength passes unimpeded the coated side of the prism. In that regard, the deflection means 23 . 24 out 2 adapted for fluorescence microscopy applications. The deflection means 23 . 24 are accordingly in the form of wavelength-selective beam splitters.

Obwohl in 2 nicht explizit gezeigt, könnte das erste und/oder das zweite Ablenkmittel 23, 24 alternativ einen Polarisationsstrahlteiler aufweisen, welcher ähnlich zu den wellenlängenselektiven Strahlteilern gemäß 2 ausgebildet ist. So könnte ebenfalls ein Prisma 23 mit einer dreieckförmigen Grundfläche vorgesehen sein, an welchem ebenfalls eine Keilplatte 28 adaptiert ist. Zwischen dem Prisma 23 und der Keilplatte 28 könnte ein linearer Polarisationsstrahlteiler angeordnet sein, welcher linear polarisiertes Licht mit einer in der Zeichnungsebene der 2 liegenden Schwingungsrichtung in Richtung 25 reflektiert. Auf der dem Prisma 23 abgewandten Seite der Keilplatte 28 könnte ein weiterer linearer Polarisationsstrahlteiler angeordnet sein, welcher linear polarisiertes Licht mit einer senkrecht zur Zeichenebene der 2 liegenden Schwingungsrichtung in Richtung 26 reflektiert.Although in 2 not explicitly shown, could be the first and / or second deflection means 23 . 24 alternatively have a polarization beam splitter, which is similar to the wavelength-selective beam splitter according to 2 is trained. So could also a prism 23 be provided with a triangular base, on which also a wedge plate 28 adapted. Between the prism 23 and the wedge plate 28 could be arranged a linear polarization beam splitter, which linearly polarized light with a in the plane of the 2 lying vibration direction in the direction 25 reflected. On the prism 23 opposite side of the wedge plate 28 could be arranged another linear polarization beam splitter, which linearly polarized light with a perpendicular to the plane of the 2 lying vibration direction in the direction 26 reflected.

Nun könnte das zweite Ablenkmittel 24 einen Reflektor aufweisen, mit welchem das gesamte vom Objektiv 6 kommende Licht in Richtung der Detektionseinrichtung 27 reflektiert wird. In diesem Fall wird kein Licht in Richtung 29 zu dem Tubus des Mikroskops 1 und somit zu einem Bediener transmittiert. Falls allerdings zu einer Detektion mit der Detektionseinrichtung 27 gleichzeitig ein Teil des vom Objektiv 6 kommenden Lichts zum Tubus des Mikroskops 1 geleitet werden soll und somit einem Bediener simultan ein Mikroskopbild zur Verfügung gestellt werden soll, ist es zweckmäßig, das zweite Ablenkmittel 24 in Form eines Strahlteilers auszubilden, welcher einen Teil des Abbildungslichts in Richtung 29 durchlässt.Now that could be the second deflecting means 24 have a reflector, with which the entire of the lens 6 coming light in the direction of the detection device 27 is reflected. In this case, no light is going in the direction 29 to the tube of the microscope 1 and thus transmitted to an operator. If, however, to a detection with the detection device 27 at the same time a part of the lens 6 coming light to the tube of the microscope 1 is to be directed and thus an operator simultaneously a microscope image is to be made available, it is expedient, the second deflection means 24 in the form of a beam splitter, which forms a part of the imaging light in the direction 29 pass through.

Obwohl in 2 nicht gezeigt so wäre es doch denkbar, dass eine weitere Keilplatte und somit ein weiteres Ablenkmittel vorgesehen ist, mit welcher ein weiterer Teil des Abbildungslichts aus dem Abbildungsstrahlengang 16 in eine weitere Richtung ablenkbar ist. Dieser weitere Teil des Abbildungslichts könnte ebenfalls von der Detektionseinrichtung 27 detektiert werden.Although in 2 not shown so it would be conceivable that a further wedge plate and thus a further deflection means is provided, with which a further part of the imaging light from the imaging beam path 16 is deflectable in another direction. This further part of the imaging light could also be detected by the detection device 27 be detected.

2 ist entnehmbar, dass das von den Ablenkmitteln 23, 24 abgelenkte Licht von lediglich der einen Detektionseinrichtung 27 detektiert wird, wobei das von den Ablenkmitteln 23, 24 abgelenkte Abbildungslicht von der Detektionseinrichtung 27 jeweils räumlich getrennt voneinander abgebildet wird. Die Detektionseinrichtung 27 ist in Form einer CCD-Kamera ausgebildet. 2 is removable, that of the deflection means 23 . 24 deflected light from only the one detection device 27 which is detected by the deflection means 23 . 24 deflected imaging light from the detection device 27 each spatially separated from each other. The detection device 27 is formed in the form of a CCD camera.

1 ist entnehmbar, dass die Stellen 2 und 19 bis 22 des Abbildungsstrahlengangs, an welchen die zwei Ablenkmittel 23, 24 angeordnet werden können, sowohl von dem ersten Zwischenbild 9 als auch von dem zweiten Zwischenbild 12 beabstandet angeordnet sind. 1 is removable, that the bodies 2 and 19 to 22 of the imaging beam path to which the two deflection means 23 . 24 can be arranged, both from the first intermediate image 9 as well as the second intermediate picture 12 spaced apart.

Ganz besonders bevorzugt sind das erste und das zweite Ablenkmittel 23, 24 in einem Bereich 2 des Abbildungsstrahlengangs 16 angeordnet, in welchem üblicherweise der in 1 nicht gezeigte Fluoreszenzstrahlteiler und das Filterrad des Mikroskops 1 angeordnet ist.Most preferably, the first and the second deflection means 23 . 24 in one area 2 of the imaging beam path 16 arranged in which usually the in 1 not shown fluorescence beam splitter and the filter wheel of the microscope 1 is arranged.

In 2 ist angedeutet, dass das von dem ersten und dem zweiten Ablenkmittel 23, 24 abgelenkte Licht zu einen Dokumentationsabgang 30 des Mikroskops 1 abgelenkt wird. An diesem Dokumentationsabgang 30 ist die Detektionseinrichtung 27 angebaut, was in der schematischen Darstellung der 2 nicht gezeigt ist.In 2 is indicated that of the first and the second deflection means 23 . 24 deflected light to a documentation exit 30 of the microscope 1 is distracted. At this documentation exit 30 is the detection device 27 cultivated, what in the schematic representation of the 2 not shown.

Lediglich schematisch ist durch das Bezugszeichen 31 angedeutet, dass die in dem Quadrat 20 eingezeichneten optischen Komponenten, insbesondere das erste und das zweite Ablenkmittel 23, 24 an einem nicht weiter dargestellten Filterhalterrad angeordnet ist, so dass die in dem Quadrat 20 vorgesehenen optischen Komponenten reversibel in den Abbildungsstrahlengang 16 motorisch oder manuell verbringbar sind.Only schematically is by the reference numeral 31 hinted that in the square 20 drawn optical components, in particular the first and the second deflection means 23 . 24 is arranged on a filter holder not shown, so that in the square 20 provided optical components reversible in the imaging beam path 16 motor or manually be moved.

In 2 sind das erste und das zweite Ablenkmittel 23, 24 in einem konvergierenden Bereich des Abbildungsstrahlengangs 16 angeordnet. Es sind erste und zweite strahlformende Mittel 32, 33 vorgesehen, welche in Form von Linsen ausgebildet sind. Das erste strahlformende Mittel 32 ist bezüglich der Ausbreitungsrichtung des Abbildungslichts (von der Objektebene 5 zur Detektionseinrichtung 27) vor dem ersten Ablenkmittel 23 im Abbildungsstrahlengang 16 angeordnet. Mit dem ersten strahlformenden Mittel 32 wird der der konvergierende Strahlenverlauf zu einem kollimierten Strahlenverlauf umgewandelt. Zwischen den zwei Ablenkmitteln 23, 24 und der Detektionseinrichtung 27 ist das zweite strahlformende Mittel 33 angeordnet. Es ist also bezüglich der Ausbreitungsrichtung des Abbildungslichts den zwei Ablenkmitteln 23, 24 nachgeordnet. Mit dem zweiten strahlformenden Mittel 33 wird der kollimierte Strahlenverlauf in dem Prisma zu einem konvergierenden Strahlenverlauf umgewandelt, wobei die Brechkraft der zwei Linsen bzw. der zwei strahlformenden Mittel 32, 33 derart bemessen ist, dass die Abbildungslänge identisch zu einem an der Stelle ebenfalls einbringbaren konventionellen Strahlteiler (wie z. B. in 3 gezeigt) ist. Hierdurch wird das in beide Richtungen 25, 26 abgelenkte Abbildungslicht in gleicher Weise auf die Detektionseinrichtung 27 abgebildet bzw. fokussiert, wie das mit einem an der Stelle ebenfalls einbringbaren konventionellen Strahlteiler der Fall wäre.In 2 are the first and second deflection means 23 . 24 in a converging region of the imaging beam path 16 arranged. They are first and second jet-forming agents 32 . 33 provided, which are formed in the form of lenses. The first jet-forming agent 32 is with respect to the propagation direction of the imaging light (from the object plane 5 to the detection device 27 ) in front of the first deflection means 23 in the imaging beam path 16 arranged. With the first jet-forming agent 32 the convergent beam path is converted to a collimated beam path. Between the two deflection means 23 . 24 and the detection device 27 is the second beam-forming agent 33 arranged. It is thus with respect to the propagation direction of the imaging light, the two deflection means 23 . 24 downstream. With the second jet-forming agent 33 the collimated beam path in the prism is converted to a convergent beam path, wherein the refractive power of the two lenses or of the two beam-shaping means 32 . 33 is dimensioned such that the imaging length is identical to a conventional beam splitter (such as in 3 shown). This will do so in both directions 25 . 26 deflected imaging light in the same way to the detection device 27 imaged or focused, as would be the case with a conventional beam splitter which can likewise be introduced at the location.

Mit den Bezugszeichen 19 und 22 aus 1 sind beispielsweise die Stellen des Abbildungsstrahlengangs 16 gekennzeichnet, an welchen das erste und/oder das zweite Ablenkmittel 23, 24 in einem kollimierten Bereich des Abbildungsstrahlengangs 16 angeordnet werden könnten. In diesen Bereichen 19 und 22 weist der Abbildungsstrahlengang 16 einen Unendlich-Strahlengang auf. Sollte an diesen Stellen das erste und/oder das zweite Ablenkmittel 23, 24 in dem Abbildungsstrahlengang 16 angeordnet werden, so kann es zweckmäßig sein, zwischen den Ablenkmitteln 23, 24 und der Detektionseinrichtung 27 eine Tubuslinse anzuordnen. Die erste und die zweite Richtung 25, 26 sind aus der Zeichenebene der 1 heraus, bevorzugt im Wesentlichen senkrecht dazu, ausgerichtet.With the reference numerals 19 and 22 out 1 are, for example, the locations of the imaging beam path 16 in which the first and / or the second deflection means 23 . 24 in a collimated region of the imaging beam path 16 could be arranged. in these areas 19 and 22 has the imaging beam path 16 an infinite beam path. Should at these points the first and / or the second deflection means 23 . 24 in the imaging beam path 16 can be arranged, it may be appropriate, between the deflection 23 . 24 and the detection device 27 to arrange a tube lens. The first and the second direction 25 . 26 are from the drawing level of 1 out, preferably substantially perpendicular thereto, aligned.

In der ersten Zwischenbildebene 9 des Abbildungsstrahlengangs 16 (der Deutlichkeit halber etwas versetzt hierzu in 1 eingezeichnet) ist eine Blende 34 vorgesehen. Die Blende 34 weist eine rechteckförmige Apertur auf. Damit werden Randlichtbereiche des Abbildungsstrahlengangs 16 ausgeblendet, so dass die simultan auf die Detektionseinrichtung 27 abgebildeten Bilder sich nicht im Randbereich überlappen.In the first intermediate image plane 9 of the imaging beam path 16 (for the sake of clarity, put something in this regard 1 drawn) is an aperture 34 intended. The aperture 34 has a rectangular aperture. Thus edge light areas of the imaging beam path 16 hidden, so that the simultaneous on the detection device 27 imaged images do not overlap in the border area.

3 zeigt einen Ausschnitt des Abbildungsstrahlengangs 16, welcher vergleichbar zu dem in 2 gezeigten Ausschnitt des Abbildungsstrahlengangs 16 ist. An Stelle des Prismas und der Keilplatte 28 aus 2 ist ein Neutralstrahlteiler 36 in den Abbildungsstrahlengang 16 eingebracht, welcher ebenfalls in Form eines Prismas mit einer dreieckförmigen Grundfläche ausgebildet ist. Hiermit werden 50% des Abbildungslichts in Richtung der Detektionseinrichtung 27 reflektiert. Die restlichen 50% des Abbildungslichts werden in Richtung 29 zur visuellen Betrachtung durch den Bediener transmittiert. 3 shows a section of the imaging beam path 16 which is comparable to the one in 2 shown section of the imaging beam path 16 is. In place of the prism and the wedge plate 28 out 2 is a neutral beam splitter 36 in the imaging beam path 16 introduced, which is also formed in the form of a prism with a triangular base. This will be 50% of the imaging light in the direction of the detection device 27 reflected. The remaining 50% of the imaging light will be in the direction 29 transmitted for visual viewing by the operator.

In 2 ist ein Betriebszustand des Mikroskops 1 gezeigt, in welchem das Abbildungslicht mit den zwei Ablenkmitteln 23, 24 detektierbar ist. Dementsprechend befindet sich das Mikroskop 1 in 2 in einem „erfindungsgemäßen Betriebsmodus”. Sowohl in 1 als auch in 3 ist ein weiterer Betriebszustand des Mikroskops 1 gezeigt, in welchem das Abbildungslicht auf herkömmliche Weise visuell mit dem Bedienerauge 13 detektierbar ist.In 2 is an operating state of the microscope 1 shown in which the imaging light with the two deflection means 23 . 24 is detectable. Accordingly, the microscope is located 1 in 2 in an "operating mode according to the invention". As well in 1 as well as in 3 is another operating state of the microscope 1 in which the imaging light is visually in the conventional manner with the operator's eye 13 is detectable.

In 1 ist ein inverser Mikroskopaufbau gezeigt, obwohl grundsätzlich auch der eines aufrechten Mikroskops für ein erfindungsgemäßes Mikroskop geeignet ist.In 1 An inverse microscope construction is shown, although in principle also that of an upright microscope is suitable for a microscope according to the invention.

2 zeigt ein Ausführungsbeispiel einer optischen Anordnung 35, die in einen Abbildungsstrahlengang 16 eines Mikroskops 1 einbringbar ist. Das Mikroskop 1 ist in Form eines Fluoreszenzmikroskops ausgebildet. Die optische Anordnung 35 weist ein erstes Ablenkmittel 23 und ein relativ zu dem ersten Ablenkmittel 23 ortsfest angeordnetes zweites Ablenkmittel 24 auf. Mit dem ersten Ablenkmittel 23 ist ein Teil des Abbildungslichts in eine erste Richtung 25 und auf eine Detektionseinrichtung 27 des Mikroskops 1 ablenkbar. Mit dem zweiten Ablenkmittel 24 ist ein weiterer Teil des Abbildungslichts aus dem Abbildungsstrahlengang 16 in eine zweite Richtung 26 und auf die Detektionseinrichtung 27 des Mikroskops 1 ablenkbar. Die erste Richtung 25 weist von der zweiten Richtung 26 ab. Die erste Richtung 25 und die zweite Richtung 26 sind hierbei derart gewählt, dass das von den zwei Ablenkmitteln 23, 24 abgelenkte Licht jeweils räumlich getrennt voneinander mit der Detektionseinrichtung 27 detektierbar ist. 2 shows an embodiment of an optical arrangement 35 moving into an imaging beam path 16 a microscope 1 can be introduced. The microscope 1 is designed in the form of a fluorescence microscope. The optical arrangement 35 has a first deflection means 23 and a relative to the first deflection means 23 fixedly arranged second deflection means 24 on. With the first deflection 23 is a part of the imaging light in a first direction 25 and to a detection device 27 of the microscope 1 distractible. With the second deflection means 24 is another part of the imaging light from the imaging beam path 16 in a second direction 26 and to the detection device 27 of the microscope 1 distractible. The first direction 25 points from the second direction 26 from. The first direction 25 and the second direction 26 are chosen such that the of the two deflection 23 . 24 deflected light each spatially separated from each other with the detection device 27 is detectable.

BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS

11
Mikroskopmicroscope
22
Bereich des Strahlengangs mit gegenüber einem herkömmlichen Mikroskop modifizierter optischer AnordnungArea of the beam path with respect to a conventional microscope modified optical arrangement
33
Lichtquellelight source
44
Kondensoroptikcondenser
55
Objektebeneobject level
66
Objektivlens
77
Linselens
88th
Spiegelmirror
99
erstes Zwischenbildfirst intermediate picture
1010
Linselens
1111
Tubuslinsetube lens
1212
zweites Zwischenbildsecond intermediate picture
122122
Tubustube
1313
Auge eines BedienersEye of a server
1414
Spiegelmirror
1515
BeleuchtungsstrahlengangIllumination beam path
1616
AbbildungsstrahlengangImaging beam path
1717
orthoskopische Strahlengangorthoscopic beam path
1818
konoskopische Strahlengangconoscopic beam path
19–2219-22
Stellen bzw. Bereiche von (16), an welchen (23) und (24) in (16) eingebracht werden könnenPlaces or areas of ( 16 ), on which ( 23 ) and ( 24 ) in ( 16 ) can be introduced
2323
erstes Ablenkmittelfirst deflection means
2424
zweites Ablenkmittelsecond deflection means
2525
erste Richtungfirst direction
2626
zweite Richtungsecond direction
2727
Detektionseinrichtungdetection device
αα
Winkel zwischen (25) und (26)Angle between ( 25 ) and ( 26 )
2828
Keilplattewedge plate
2929
Richtung zum Tubus von (1)Direction to the tube of ( 1 )
3030
Dokumentationsabgangdocumentation finish
3131
Filterradfilter wheel
3232
erstes strahlformendes Mittelfirst jet-forming agent
3333
zweites strahlformendes Mittelsecond jet-forming agent
3434
Blendecover
3535
optische Anordnungoptical arrangement
3636
NeutralstrahlteilerNeutral beam splitter

Claims (23)

Mikroskop (1) mit einem Beleuchtungsstrahlengang (15) und einem Abbildungsstrahlengang (16), der sich von einem Objekt zu einem Detektor und/oder einem Tubus (122) erstreckt und in dem ein erstes und ein zweites Ablenkmittel (23, 24) und eine ein Objekt abbildende Abbildungsoptik (6) angeordnet sind, wobei der Abbildungsstrahlengang (16) in Form eines Weitfeld-Abbildungsstrahlengangs ausgebildet ist, wobei das erste Ablenkmittel (23) einen ersten Teil des Abbildungslichts in eine erste Richtung (25) ablenkt, das zweite Ablenkmittel (24) einen zweiten Teil des Abbildungslichts in eine zweite Richtung (26) ablenkt und beide Ablenkmittel (23, 24) einen dritten Teil des Abbildungslichts zur visuellen Betrachtung durch einen Bediener des Mikroskops (1) durchlassen und das erste und das zweite Ablenkmittel (23, 24) den ersten und den zweiten Teil des Abbildungslichts hin zu einem Dokumentationsabgang (30) des Mikroskops (1) ablenken, an dem mindestens eine Detektionseinrichtung (27) angebaut ist, wobei das von den beiden Ablenkmitteln (23, 24) abgelenkte Abbildungslicht simultan mit der Detektionseinrichtung (27) detektierbar ist, wobei die Abbildungsoptik (11) im Strahlengang des dritten Teils des Abbildungslichts mindestens ein Zwischenbild (12) des Objekts erzeugt und wobei zwischen den beiden Ablenkmitteln (23, 24) und der mindestens einen Detektionseinrichtung (27) keine Mittel vorgesehen sind, die ein weiteres Zwischenbild erzeugen.Microscope ( 1 ) with an illumination beam path ( 15 ) and an imaging beam path ( 16 ) extending from an object to a detector and / or a tube ( 122 ) and in which a first and a second deflection means ( 23 . 24 ) and an object imaging imaging optics ( 6 ) are arranged, wherein the imaging beam path ( 16 ) in the form of a wide-field imaging beam path, wherein the first deflection means ( 23 ) a first part of the imaging light in a first direction ( 25 ), the second deflection means ( 24 ) a second part of the imaging light in a second direction ( 26 ) deflects and both deflection means ( 23 . 24 ) a third part of the imaging light for visual observation by an operator of the microscope ( 1 ) and the first and the second deflection means ( 23 . 24 ) the first and second parts of the imaging light towards a documentation exit ( 30 ) of the microscope ( 1 ) at which at least one detection device ( 27 ) is attached, whereby that of the two deflection means ( 23 . 24 ) deflected imaging light simultaneously with the detection device ( 27 ) is detectable, wherein the imaging optics ( 11 ) in the beam path of the third part of the imaging light at least one intermediate image ( 12 ) of the object and wherein between the two deflection means ( 23 . 24 ) and the at least one detection device ( 27 ) means are provided which generate a further intermediate image. Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die erste Richtung (25) von der zweiten Richtung (26) abweicht.Microscope according to claim 1, characterized in that the first direction ( 25 ) from the second direction ( 26 ) deviates. Mikroskop nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein weiteres Ablenkmittel vorgesehen ist, mit welchem ein weiterer Teil des Abbildungslichts in eine weitere Richtung ablenkbar ist.Microscope according to claim 1 or 2, characterized in that at least one further deflection means is provided, with which a further part of the imaging light can be deflected in a further direction. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass von den Ablenkmitteln (23, 24) abgelenktes Licht lediglich von einer Detektionseinrichtung (27) detektierbar ist.Microscope according to one of claims 1 to 3, characterized in that of the deflection means ( 23 . 24 ) deflected light only by a detection device ( 27 ) is detectable. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass das von den Ablenkmitteln (23, 24) abgelenkte Abbildungslicht von der Detektionseinrichtung (27) jeweils räumlich getrennt voneinander detektierbar ist.Microscope according to one of claims 1 to 4, characterized in that the deflection means ( 23 . 24 ) deflected imaging light from the detection device ( 27 ) is each spatially separated from each other detectable. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Detektionseinrichtung (27) eine CCD-Kamera oder eine CMOS-Kamera aufweist, welche vorzugsweise einen aktiven Detektionsbereich mit einer Diagonalen von 1 Zoll bis 1/4 Zoll aufweist.Microscope according to one of claims 1 to 5, characterized in that the detection device ( 27 ) comprises a CCD camera or a CMOS camera, which preferably has an active detection range with a diagonal of 1 inch to 1/4 inch. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass das erste und/oder das zweite Ablenkmittel (23, 24) einen Strahlteiler aufweisen, vorzugsweise einen Polarisations- oder wellenlängenselektiven Strahlteiler.Microscope according to one of claims 1 to 6, characterized in that the first and / or the second deflection means ( 23 . 24 ) have a beam splitter, preferably a polarization or wavelength-selective beam splitter. Mikroskop nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlteiler ein wellenlängenselektiver Strahlteiler ist und derart ausgebildet ist, dass mindestens ein vorgebbarer Wellenlängenbereich des Abbildungslichts reflektierbar und ein hiervon sich unterscheidender, vorgebbarer weiterer Wellenlängenbereich des Abbildungslichts transmittierbar ist.Microscope according to claim 7, characterized in that the beam splitter is a wavelength-selective beam splitter and is formed such that at least one predeterminable wavelength range of the imaging light is reflectable and a different, predeterminable further wavelength range of the imaging light is transmissible. Mikroskop nach Anspruch 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, dass das erste Ablenkmittel (23) an einem Prisma angeordnet ist und dass das zweite Ablenkmittel (24) an einer Keilplatte (28) angeordnet ist, dass die Keilplatte (28) nicht parallel verlaufende Oberflächen aufweist und dass an der einen Oberfläche der Keilplatte (28) das zweite Ablenkmittel (24) vorgesehen ist.Microscope according to claim 7 or 8, characterized in that the first deflection means ( 23 ) is arranged on a prism and that the second deflection means ( 24 ) on a wedge plate ( 28 ) is arranged that the wedge plate ( 28 ) has non-parallel surfaces and that on one surface of the wedge plate ( 28 ) the second deflection means ( 24 ) is provided. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass das erste und/oder das zweite Ablenkmittel (23, 24) einen Reflektor aufweisen.Microscope according to one of claims 1 to 9, characterized in that the first and / or the second deflecting means ( 23 . 24 ) have a reflector. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass das erste Ablenkmittel (23) einen Polarisationsstrahlteiler und dass das zweite Ablenkmittel (24) einen Reflektor aufweist.Microscope according to one of claims 1 to 10, characterized in that the first deflection means ( 23 ) a polarization beam splitter and that the second deflection means ( 24 ) has a reflector. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass die zwei Ablenkmittel (23, 24) beabstandet von einer Zwischenbildebene (9, 12) im Abbildungsstrahlengang (16) angeordnet sind.Microscope according to one of claims 1 to 11, characterized in that the two deflection means ( 23 . 24 ) spaced from an intermediate image plane ( 9 . 12 ) in the imaging beam path ( 16 ) are arranged. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass das erste und/oder das zweite Ablenkmittel (23, 24) in einem Bereich des Abbildungsstrahlengangs (16) angeordnet sind, in welchem üblicherweise ein Strahlteiler oder ein Reflektor des Mikroskops (1) angeordnet ist, beispielsweise ein Neutral-, Fluoreszenz- oder Polarisationsstrahlteiler.Microscope according to one of claims 1 to 12, characterized in that the first and / or the second deflection means ( 23 . 24 ) in a region of the imaging beam path ( 16 ) are arranged, in which usually a beam splitter or a reflector of the microscope ( 1 ), for example a neutral, fluorescent or polarization beam splitter. Mikroskop nach Anspruch 12 oder 13, dadurch gekennzeichnet, dass das erste und/oder das zweite Ablenkmittel (23, 24) an einem Filterschieber oder an einem Filterhalterrad (31) angeordnet sind, welche in den Abbildungsstrahlengang (16) motorisch oder manuell verbringbar sind.Microscope according to claim 12 or 13, characterized in that the first and / or the second deflection means ( 23 . 24 ) on a filter slide or on a filter holder wheel ( 31 ) are arranged, which in the imaging beam path ( 16 ) are motor or manually be moved. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass das erste und/oder das zweite Ablenkmittel (23, 24) in einem kollimierten Bereich des Abbildungsstrahlengangs (16) angeordnet sind oder dass der Abbildungsstrahlengang (16) zumindest teilweise einen Unendlich-Strahlengang aufweist, in welchem das erste und/oder das zweite Ablenkmittel (23, 24) angeordnet sind und dass zwischen den zwei Ablenkmitteln (23, 24) und der Detektionseinrichtung (27) eine Tubuslinse angeordnet ist.Microscope according to one of claims 1 to 14, characterized in that the first and / or the second deflection means ( 23 . 24 ) in a collimated region of the imaging beam path ( 16 ) are arranged or that the imaging beam path ( 16 ) at least partially has an infinity beam path in which the first and / or the second deflection means ( 23 . 24 ) and that between the two deflection means ( 23 . 24 ) and the detection device ( 27 ) A tube lens is arranged. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass das erste und/oder das zweite Ablenkmittel (23, 24) in einem konvergierenden oder divergierenden Bereich des Abbildungsstrahlengangs (16) angeordnet sind.Microscope according to one of claims 1 to 14, characterized in that the first and / or the second deflecting means ( 23 . 24 ) in a converging or diverging region of the imaging beam path ( 16 ) are arranged. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein strahlformendes Mittel (32, 33) vorgesehen ist, welches einem Ablenkmittel (23, 24) im Abbildungsstrahlengang (16) vor- und/oder nachgeordnet ist und mit welchem der Strahlenverlauf von einem konvergierenden oder divergierenden zu einem kollimierten Strahlenverlauf oder mit welchem der Strahlenverlauf von einem kollimierten zu einem konvergierenden oder divergierenden Strahlenverlauf umwandelbar ist.Microscope according to one of claims 1 to 16, characterized in that at least one beam-shaping agent ( 32 . 33 ), which is a deflection means ( 23 . 24 ) in the imaging beam path ( 16 ) and with which the beam path from a converging or diverging to a collimated beam path or with which the beam path from a collimated to a converging or diverging beam path is convertible. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 17, dadurch gekennzeichnet, dass eine Blende (34) vorgesehen ist, welche im Beleuchtungsstrahlengang (15) oder in einer Zwischenbildebene (9, 12) im Abbildungsstrahlengang (16) angeordnet ist und welche einen rechteckförmige, quadratische oder runde Apertur aufweist.Microscope according to one of claims 1 to 17, characterized in that a diaphragm ( 34 ) is provided, which in the illumination beam path ( 15 ) or in an intermediate image plane ( 9 . 12 ) in the imaging beam path ( 16 ) and which has a rectangular, square or round aperture. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 18, dadurch gekennzeichnet, dass die Detektionseinrichtung (27) derart ausgebildet ist, dass mit ihr innerhalb kurzer Zeit viele Objektbilder aufnehmbar und abspeicherbar sind, so dass auch zeitkritische Beobachtungen von Vorgängen an dem Objekt dokumentiert werden können.Microscope according to one of claims 1 to 18, characterized in that the detection device ( 27 ) is designed such that within a short time many object images can be recorded and stored, so that time-critical observations of events can be documented on the object. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 19, gekennzeichnet durch einen Betriebszustand, in welchem das Abbildungslicht mit den zwei Ablenkmitteln (23, 24) detektierbar ist, und durch einen weiteren Betriebszustand, in welchem das Abbildungslicht auf herkömmliche Weise detektierbar ist.Microscope according to one of claims 1 to 19, characterized by an operating state in which the imaging light with the two deflection means ( 23 . 24 ) is detectable, and by another operating condition in which the imaging light is detectable in a conventional manner. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 20, gekennzeichnet durch einen aufrechten oder einen inversen Mikroskopaufbau.Microscope according to one of claims 1 to 20, characterized by an upright or inverse microscope construction. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 21, dadurch gekennzeichnet, dass die Abbildungsoptik ein Mikroskopobjektiv (6) und vorzugsweise eine Tubuslinse (11) aufweist.Microscope according to one of claims 1 to 21, characterized in that the imaging optics a microscope objective ( 6 ) and preferably a tube lens ( 11 ) having. Mikroskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass es ein Polarisations- und/oder ein Fluoreszenzmikroskop ist.Microscope according to one of the preceding claims, characterized in that it is a polarization and / or a fluorescence microscope.
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