CN220525896U - 一种基于硬件快速检测的开短路测试电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种基于硬件快速检测的开短路测试电路，包括：控制模块、电源模块、信号源模块、ADC及接口模块、检测模块和DAC模块。信号源模块的输出端与待测设备连接，提供五组信号源至待测设备供电；ADC及接口模块采集待测设备的待测信号；DAC模块分别与控制模块和检测模块连接，接收控制模块发送的基准信号，并发送至检测模块；检测模块的输出端与控制模块连接，检测模块用于接收待测信号和基准信号，输出检测信号至控制模块；控制模块接收检测信号，输出开路确认信号或短路确认信号。本实用新型的开短路测试电路检测速度快，检测精度高，对于待测信号上的微弱变化可以快速检测出来，能够实现供给不同的电压至待测设备。
Description
技术领域
本实用新型涉及开短路测试技术领域，特别涉及一种基于硬件快速检测的开短路测试电路。
背景技术
在现有技术中，大多数的开短路测试是通过恒流源或者恒压源供电，通过数/模转换器(ADC)读取采样电流电压测试，并判断开短路。但对于需要快速测试、实时检测的应用场景，例如：对产品进行摇摆老化测试或者针对高速信号测试需要检测线路上很短时间内的出现开短路测试。数/模转换器(ADC)的采样速率就比较慢，测试时间也比较长，对于上述测试实时性要求较高的应用场景并不适用。
因此，亟需一种能满足测试实时性要求较高的测试电路。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种基于硬件快速检测的开短路测试电路，以解决现有技术中所存在的一个或多个技术问题，至少提供一种有益的选择或创造条件。
本实用新型解决其技术问题的解决方案是：提供一种基于硬件快速检测的开短路测试电路，包括：控制模块、电源模块、信号源模块、ADC及接口模块、检测模块和DAC模块；
所述电源模块分别与控制模块、信号源模块、ADC及接口模块、检测模块和DAC模块连接，所述信号源模块的输出端与待测设备连接，信号源模块用于提供五组信号源至待测设备供电；
所述ADC及接口模块的输入端分别与信号源模块和待测设备连接，ADC及接口模块的输出端分别与控制模块和检测模块的输入端连接，ADC及接口模块用于采集待测信号，并发送至检测模块和控制模块；
所述DAC模块的输入端与控制模块连接，DAC模块的输出端与检测模块的输入端连接，DAC模块用于接收控制模块发送的基准信号，并发送至检测模块；
所述检测模块的输出端与控制模块连接，检测模块用于接收待测信号和基准信号，输出检测信号至控制模块；
所述控制模块接收检测信号，输出开路确认信号或短路确认信号。
进一步，所述检测模块包括：比较器电路和D触发器锁存电路；
所述比较器电路的输入端分别与DAC模块的输出端和ADC及接口模块的输出端连接，比较器电路的输出端与D触发器锁存电路的输入端连接，所述D触发器锁存电路的输出端与控制模块连接。
进一步，所述信号源模块包括：第一电压源电路、第二电压源电路、第三电压源电路和第四电压源电路；
所述第一电压源电路的输入端与电源模块连接，第一电压源电路的输出端分别与待测设备和ADC及接口模块连接，第一电压源电路用于输出1.2V直流电压；
所述第二电压源电路的输入端与电源模块连接，第二电压源电路的输出端分别与待测设备和ADC及接口模块连接，第二电压源电路用于输出2.2V直流电压；
所述第三电压源电路的输入端与电源模块连接，第三电压源电路的输出端分别与待测设备和ADC及接口模块连接，第三电压源电路用于输出3.2V直流电压；
所述第四电压源电路的输入端与电源模块连接，第四电压源电路的输出端分别与待测设备和ADC及接口模块连接，第四电压源电路用于输出4.2V直流电压。
进一步，所述信号源模块还包括：恒流源电路；
所述恒流源电路的输入端与电源模块连接，恒流源电路的输出端分别与待测设备和ADC及接口模块连接，恒流源电路用于对电源模块输入的电压进行升压放大处理，并将处理后的电压供给至待测设备。
进一步，所述ADC及接口模块包括：ADC电路和接口电路；
所述ADC电路的输入端分别与接口电路和信号源模块连接，所述接口电路分别与待测设备和信号源模块连接。
进一步，一种基于硬件快速检测的开短路测试电路还包括：通信连接模块；
所述通信连接模块分别与控制模块和外部设备连接，所述控制模块通过通信连接模块与外部设备通信。
进一步，所述通信连接模块包括：第一通信电路、第二通信电路和第三通信电路；
所述第一通信电路分别与外部的USB接口和控制模块连接，所述第二通信电路分别与外部的上位机和控制模块连接，所述第三通信电路分别与外部的显示器和控制模块连接。
进一步，所述比较器电路包括TLV3502AIDR比较器芯片。
进一步，所述D触发器锁存电路包括SN74LVC2G74DCU锁存芯片。
进一步，所述第一通信电路包括ADuM4160BRWZ全速隔离芯片。
本实用新型的有益效果是：通过信号源模块供给五组信号源至待测设备，能够实现供给不同的电压至待测设备，当信号间出现短路时，也可以检测到待测设备状态异常，从而实现硬件上的并行测试，测试实时性高。
控制模块通过ADC及接口模块采集的待测信号，通过DAC模块发送基准信号至检测模块，本实用新型能够通过控制模块设置基准信号，从而提高待测设备在测试过程中电阻变化精度。
检测模块接收基准信号和待测信号，输出检测信号至控制模块，当待测信号出现变化时，导致检测信号发生变化，控制模块根据该检测信号，输出开路确认信号，确认待测设备为开路状态；或输出短路确认信号，确认待测设备为短路状态。检测速度快，检测精度高，对于待测信号上的微弱变化可以快速检测出来。
附图说明
图1是本实用新型提供的一种基于硬件快速检测的开短路测试电路的框架示意图；
图2是本实用新型提供的一种基于硬件快速检测的开短路测试电路的电源模块和信号源模块的部分电路示意图；
图3是本实用新型提供的一种基于硬件快速检测的开短路测试电路的信号源模块的部分电路示意图；
图4是本实用新型提供的一种基于硬件快速检测的开短路测试电路的ADC及接口模块的电路示意图；
图5是本实用新型提供的一种基于硬件快速检测的开短路测试电路的DAC模块的电路示意图；
图6是本实用新型一实施例提供的一种基于硬件快速检测的开短路测试电路的比较器电路的部分电路示意图；
图7是本实用新型一实施例提供的一种基于硬件快速检测的开短路测试电路的D触发器锁存电路的部分电路示意图；
图8是本实用新型提供的一种基于硬件快速检测的开短路测试电路的通信连接模块的电路示意图。
附图标记：100、电源模块，200、信号源模块，210、恒流源电路，300、ADC及接口模块，310、ADC电路，400、DAC模块，500、第一通信电路，510、第二通信电路，520、第三通信电路。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义的理解，所属技术领域的技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本实用新型的具体含义。
需要说明的是，虽然在系统示意图中进行了功能模块划分，但是在某些情况下，可以以不同于系统中的模块划分。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。由此，限定有“第一”以及“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个特征。
参照图1至图8，在本实用新型的一些实施例中，一种基于硬件快速检测的开短路测试电路包括：控制模块、检测模块、DAC模块400、电源模块100、信号源模块200以及ADC及接口模块300。
电源模块100与外部的供电电源的适配器电气连接，分别与控制模块、检测模块、信号源模块200、ADC及接口模块300以及DAC模块400电气连接。
信号源模块200的输入端与电源模块100电气连接，待测设备与信号源的输出端电气连接，信号源模块200将电源模块100中的电压转换输出五组信号源，供给至待测设备中。
待测设备与ADC及接口模块300的输入端电气连接，信号源模块200的输出端与ADC及接口模块300的输入端电气连接，ADC及接口模块300采集待测设备处的初始电压数据，作为待测信号。
ADC及接口模块300的输出端与检测模块的输入端电气连接，ADC及接口模块300的输出端与控制模块的输入端电气连接，ADC及接口模块300发送得到的待测信号至检测模块，以及发送待测信号至控制模块。
控制模块的输出端与DAC模块400的输入端电气连接，DAC模块400的输出端与检测模块的输入端电气连接。控制模块接收待测信号，并发送基准信号至DAC模块400，DAC模块400将基准信号数模转换，传输至检测模块。
检测模块的输出端与控制模块的输入端电气连接。检测模块接收待测信号和基准信号，发送检测信号至控制模块。
控制模块接收检测信号，输出开路确认信号时，确认待测设备为开路状态；输出短路确认信号时，确认待测设备为短路状态。
也就是说，信号源模块200输出五组LDO信号源至待测设备，能够通过给不同的信号供不同电压源供电，通过ADC及接口模块300采集待测信号的相应电压，控制模块根据待测信号，发送基准信号至检测模块，检测模块根据待测信号和基准信号，输出检测信号。当待测设备出现开路或者短路时，待测信号出现变化，导致大于或者小于基准信号时，检测信号发生变化。控制模块根据该检测信号，输出开路确认信号，确认待测设备为开路状态；或输出短路确认信号，确认待测设备为短路状态。
本实用新型能够实现供给不同的电压至待测设备，当信号间出现短路时，也可以检测到待测设备状态异常，从而实现硬件上的并行测试，测试实时性高。且能够通过控制模块设置基准信号，从而提高待测设备在测试过程中电阻变化精度，容易集成到其他同类测试。检测速度快，检测精度高，对于待测信号上的微弱变化可以快速检测出来，克服现有开短路测试，检测时间比较久，实时性较差，对于信号上短暂出现异常情况难以检测出来的问题。
参照图1至图8，在本实用新型的一些实施例中，电源模块100包括：直流隔离电路、第一降压电路和第二降压电路。
直流隔离电路的输入端与外部供电电源电气连接，直流隔离电路的输出端分别与第一降压电路、第二降压电路和信号源模块200电气连接，直流隔离电路用于将外部供电电源输入的直流电压进行隔离，为第一降压电路、第二降压电路和信号源模块200提供直流电压。
参照图2，其中，直流隔离电路包括：VRB0505YMD电源隔离芯片U1。通过直流隔离电路，进而将外部输入的直流电压与本实用新型的测试电路中产生的信号进行隔离，减少外部输入噪声导致产生误触发。
第一降压电路的输出端分别与控制模块、DAC模块400、检测模块、信号源模块200以及ADC及接口模块300电气连接，第一降压电路用于将隔离之后的直流电压进行降压稳压，输出3.3V的直流电压。
第二降压电路的输出端分别与信号源模块200、检测模块和DAC模块400电气连接，第二降压电路用于将隔离之后的直流电压进行降压稳压，输出4.7V直流电压。
参照图1至图8，在本实用新型的一些实施例中，信号源模块200包括：第一电压源电路、第二电压源电路、第三电压源电路以及第四电压源电路。
第一电压源电路的输入端与电源模块100的输出端电气连接，用于将电源模块100输入的5V直流电压进行降压稳压，得到1.2V直流电压。第一电压源电路的输出端与待测设备电气连接，通过LDOSource1端口将1.2V直流电压供给至待测设备中。
参照图2，第一电压源电路包括：线型降压稳压芯片U5、第二二极管D2、二极管芯片U6、第一并联电容组、第二并联电容组和降压电阻组。
第一并联电容组的一端与电源模块100电气连接，第一并联电容组的一端与线型降压稳压芯片U5的第一引脚连接，第一并联电容组的另一端接地。
线型降压稳压芯片U5的第二引脚接地，第一引脚与第三引脚电气连接，线型降压稳压芯片U5的第一引脚通过第二二极管D2与第五引脚电气连接。其中，线型降压稳压芯片U5为TLV75801PDRVR降压稳压芯片。
降压电阻组分别与线型降压稳压芯片U5的第二引脚、第四引脚和第五引脚电气连接。第二并联电容组的一端与线型降压稳压芯片U5的第五引脚电气连接，第二并联电容组的另一端接地。
二极管芯片U6的第一引脚与第二并联电容组的一端电气连接，二极管芯片U6的第二引脚接地，二极管芯片U6的第三引脚与线型降压稳压芯片U5的EN引脚电气连接，二极管芯片U6的第五引脚与待测设备电气连接，供给1.2V直流电压。其中，二极管芯片U6为Max40203理想二极管芯片。
第二电压源电路的输入端与电源模块100的输出端电气连接，用于将电源模块100输入的5V直流电压进行降压稳压，得到2.2V直流电压。第二电压源电路的输出端与待测设备电气连接，通过LDOSource2端口将2.2V直流电压供给至待测设备中。
第三电压源电路的输入端与电源模块100的输出端电气连接，用于将电源模块100输入的5V直流电压进行降压稳压，得到3.2V直流电压。第三电压源电路的输出端与待测设备电气连接，通过LDOSource3端口将3.2V直流电压供给至待测设备中。
第四电压源电路的输入端与电源模块100的输出端电气连接，用于将电源模块100输入的5V直流电压进行降压稳压，得到4.2V直流电压。第四电压源电路的输出端与待测设备电气连接，通过LDOSource4端口将4.2V直流电压供给至待测设备中。
在本实施例中，第二电压源电路、第三电压源电路以及第四电压源电路的电路连接结构与第一电压源电路的电路连接结构相同，因此，在本实施例中，不对第二电压源电路、第三电压源电路以及第四电压源电路的电路连接结构进行详细赘述。
参照图1至图8，在本实用新型的一些实施例中，信号源模块200还包括：恒流源电路210。
恒流源电路210的输入端与电源模块100的输出端电气连接，恒流源电路210的输出端与待测设备电气连接。恒流源电路210用于将电源模块100输入的5V直流电压进行升压、稳压、放大，并将处理后的电压通过LDOSource5端口输出至待测设备。
恒流源电路210包括：升压稳压电路、第一放大电路、第二放大电路和第三放大电路。
升压稳压电路的输入端与电源模块100的输出端电气连接，升压稳压电路的输出端分别与第一放大电路、第二放大电路和第三放大电路的输入端电气连接，升压稳压电路用于将电源模块100输入的5V直流电压进行升压稳压，得到12V直流电压。
其中，参照图3，升压稳压电路包括：高压升压转换芯片U13、RC滤波电路，RC串联电路、升压电阻组、电感L2、稳压二极管D6和第三并联电容组。
高压升压转换芯片U13的第六引脚通过RC滤波电路与电源模块100电气连接，高压升压转换芯片U13的第五引脚与第六引脚电气连接，高压升压转换芯片U13的第二引脚通过RC串联电路接地，电感L2的一端与高压升压转换芯片U13的第六引脚电气连接，电感L2的另一端与高压升压转换芯片U13的第四引脚和稳压二极管D6的阳极电气连接，升压电阻组分别与高压升压转换芯片U13的第一引脚和稳压二极管D6阴极电气连接，升压电阻组接地。高压升压转换芯片U13的第三引脚和第七引脚接地，第三并联电容组一端接地，另一端与高压升压转换芯片U13的第四引脚电气连接。
第一放大电路的输入端与电源模块100电气连接，第一放大电路的输出端与第二放大电路的输入端电气连接，第二放大电路的输出端与第三放大电路的输入端电气连接，第三放大电路的输入端与电源模块100电气连接，第三放大电路的输出端与待测设备电气连接。
第一放大电路、第二放大电路和第三放大电路将12V直流电压进行放大处理，将放大处理后的电压通过LDOSource5端口供给至待测设备中。
通过信号源模块200中的恒流源电路210、第一电压源电路、第二电压源电路、第三电压源电路以及第四电压源电路，以实现输出五组LDO信号源至待测设备，能够通过给不同的信号供不同电压源供电。不同信号源供电，当信号间出现短路时，也可以检测到待测设备状态异常。
参照图1至图8，在本实用新型的一些实施例中，ADC及接口模块300包括：ADC电路310和接口电路。
接口电路与待测设备电气连接，信号源模块200通过接口电路将五组信号源供给至待测设备中。
ADC电路310的输入端与接口电路电气连接，ADC电路310的输入端还与信号源模块200电气连接。ADC电路310采集接口电路处的初始电压数据，作为待测信号。即采集待测设备处的初始电压数据，作为待测信号。
ADC电路310的输出端与控制模块的输入端电气连接，控制模块通过ADC电路310采集的待测信号，输出基准信号至DAC模块400。ADC电路310的输出端与检测模块的输入端连接，将待测信号发送至检测模块，以实现检测模块后续的检测。
其中，ADC电路310采集的待测信号与五组信号源相对应，即，待测信号有五组，待测信号可以为电压信号。
参照图1至图8，在本实用新型的一些实施例中，DAC模块400包括型号为DAC60508ZRTET的数模转换芯片。
参照图5，DAC模块400接收控制模块发送的基准信号，将其进行数模转换后，发送至检测模块。其中，基准信号可以为所设参考比较电压，即，设定异常电阻值判断门限。
通过DAC模块400和控制模块，以实现动态设置输入至检测模块中的基准信号，通过检测待测设备的初始电压数据，即待测信号，设定检测模块动态的基准信号，在一定程度上，提高待测设备测试过程中电阻变化精度。
参照图1至图8，在本实用新型的一些实施例中，检测模块包括比较器电路。
比较器电路的输入端与ADC电路310的输出端电气连接，接收ADC电路310发送的待测信号。比较器电路的输入端与DAC模块400的输出端电气连接，接收基准信号。比较器电路用于将待测信号和基准信号进行比较，输出检测信号。
其中，比较器电路包括：比较器芯片，比较器芯片的型号均为TLV3502AIDR比较器芯片。
参照图6，比较器电路包括第一比较电路、第二比较电路、第三比较电路、第四比较电路和第五比较电路。
第一比较电路中的比较器芯片的第一引脚和第四引脚均与DAC模块400的输出端电气连接，第一比较电路中的比较器芯片的第二引脚和第三引脚均与ADC电路310电气连接，接收与第一电压源电路对应的待测信号。
第二比较电路中的比较器芯片的第一引脚和第四引脚均与DAC模块400的输出端电气连接，第二比较电路中的比较器芯片的第二引脚和第三引脚均与ADC电路310电气连接，接收与第二电压源电路对应的待测信号。
第三比较电路中的比较器芯片的第一引脚和第四引脚均与DAC模块400的输出端电气连接，第三比较电路中的比较器芯片的第二引脚和第三引脚均与ADC电路310电气连接，接收与第三电压源电路对应的待测信号。
第四比较电路中的比较器芯片的第一引脚和第四引脚均与DAC模块400的输出端电气连接，第四比较电路中的比较器芯片的第二引脚和第三引脚均与ADC电路310电气连接，接收与第四电压源电路对应的待测信号。
第五比较电路中的比较器芯片的第二引脚和第三引脚均与DAC模块400的输出端电气连接，第五比较电路中的比较器芯片的第一引脚和第四引脚均与ADC电路310电气连接，接收与第五电压源电路对应的待测信号。
参照图7，检测模块还包括D触发器锁存电路。
D触发器锁存电路的输入端与比较器电路的输出端电气连接，D触发器锁存电路的输出端与控制模块的输入端电气连接。D触发器锁存电路用于接收检测信号，进行锁存，并发送检测信号至控制模块。
其中，D触发器锁存电路包括SN74LVC2G74DCU锁存芯片。
也就是说，待测信号和基准信号通过比较器电路进行比较，当待测设备存在开路或者短路时，由于待测信号发生变化，导致待测信号大于或者小于基准电压，比较器电路输出的检测信号也会发生变化，通过D触发器锁存电路，锁存变化的检测信号，发送至控制模块，控制接收检测信号，输出开路确认信号或者输出短路确认信号。
参照图1至图8，在本实用新型的一些实施例中，一种基于硬件快速检测的开短路测试电路还包括：通信连接模块。
通信连接模块与控制模块电气连接，通信连接模块与外部设备电气连接。通过通信连接模块，以实现控制模块和外部设备电气连接，与外部设备通信。
参照图8，通信连接模块包括：第一通信电路500、第二通信电路510和第三通信电路520。
第一通信电路500与控制模块的UART1通讯端口电气连接，第一通信电路500与外部的USB接口电气连接。其中，第一通信电路500包括ADuM4160BRWZ全速隔离芯片，进而将外部输入与本电路的信号进行隔离，减少外部输入噪声导致产生误触发。
第二通信电路510与控制模块的UART2通讯端口电气连接，第二通信电路510与外部的上位机电气连接。第二通信电路510可以将上位机发送的指令发送至控制模块，以实现在线测试、离线测试等。第三通信电路520与控制模块的UART3通讯端口电气连接，第三通信电路520与外部的显示器电气连接。控制模块通过第三通信电路520将开路确认信号或者短路确认信号上传至显示器中显示。
以上对本实用新型的较佳实施方式进行了具体说明，但本实用新型创造并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本实用新型精神的前提下还可做出种种的等同变型或替换，这些等同的变型或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。
Claims (10)
1.一种基于硬件快速检测的开短路测试电路，其特征在于，包括：控制模块、电源模块、信号源模块、ADC及接口模块、检测模块和DAC模块；
所述电源模块分别与控制模块、信号源模块、ADC及接口模块、检测模块和DAC模块连接，所述信号源模块的输出端与待测设备连接，信号源模块用于提供五组信号源至待测设备供电；
所述ADC及接口模块的输入端分别与信号源模块和待测设备连接，ADC及接口模块的输出端分别与控制模块和检测模块的输入端连接，ADC及接口模块用于采集待测信号，并发送至检测模块和控制模块；
所述DAC模块的输入端与控制模块连接，DAC模块的输出端与检测模块的输入端连接，DAC模块用于接收控制模块发送的基准信号，并发送至检测模块；
所述检测模块的输出端与控制模块连接，检测模块用于接收待测信号和基准信号，输出检测信号至控制模块；
所述控制模块接收检测信号，输出开路确认信号或短路确认信号。
2.根据权利要求1所述的一种基于硬件快速检测的开短路测试电路，其特征在于，所述检测模块包括：比较器电路和D触发器锁存电路；
所述比较器电路的输入端分别与DAC模块的输出端和ADC及接口模块的输出端连接，比较器电路的输出端与D触发器锁存电路的输入端连接，所述D触发器锁存电路的输出端与控制模块连接。
3.根据权利要求1所述的一种基于硬件快速检测的开短路测试电路，其特征在于，所述信号源模块包括：第一电压源电路、第二电压源电路、第三电压源电路和第四电压源电路；
所述第一电压源电路的输入端与电源模块连接，第一电压源电路的输出端分别与待测设备和ADC及接口模块连接，第一电压源电路用于输出1.2V直流电压；
所述第二电压源电路的输入端与电源模块连接，第二电压源电路的输出端分别与待测设备和ADC及接口模块连接，第二电压源电路用于输出2.2V直流电压；
所述第三电压源电路的输入端与电源模块连接，第三电压源电路的输出端分别与待测设备和ADC及接口模块连接，第三电压源电路用于输出3.2V直流电压；
所述第四电压源电路的输入端与电源模块连接，第四电压源电路的输出端分别与待测设备和ADC及接口模块连接，第四电压源电路用于输出4.2V直流电压。
4.根据权利要求3所述的一种基于硬件快速检测的开短路测试电路，其特征在于，所述信号源模块还包括：恒流源电路；
所述恒流源电路的输入端与电源模块连接，恒流源电路的输出端分别与待测设备和ADC及接口模块连接，恒流源电路用于对电源模块输入的电压进行升压放大处理，并将处理后的电压供给至待测设备。
5.根据权利要求1所述的一种基于硬件快速检测的开短路测试电路，其特征在于，所述ADC及接口模块包括：ADC电路和接口电路；
所述ADC电路的输入端分别与接口电路和信号源模块连接，所述接口电路分别与待测设备和信号源模块连接。
6.根据权利要求1所述的一种基于硬件快速检测的开短路测试电路，其特征在于，还包括：通信连接模块；
所述通信连接模块分别与控制模块和外部设备连接，所述控制模块通过通信连接模块与外部设备通信。
7.根据权利要求6所述的一种基于硬件快速检测的开短路测试电路，其特征在于，所述通信连接模块包括：第一通信电路、第二通信电路和第三通信电路；
所述第一通信电路分别与外部的USB接口和控制模块连接，所述第二通信电路分别与外部的上位机和控制模块连接，所述第三通信电路分别与外部的显示器和控制模块连接。
8.根据权利要求2所述的一种基于硬件快速检测的开短路测试电路，其特征在于，所述比较器电路包括TLV3502AIDR比较器芯片。
9.根据权利要求2所述的一种基于硬件快速检测的开短路测试电路，其特征在于，所述D触发器锁存电路包括SN74LVC2G74DCU锁存芯片。
10.根据权利要求7所述的一种基于硬件快速检测的开短路测试电路，其特征在于，所述第一通信电路包括ADuM4160BRWZ全速隔离芯片。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202321929243.4U CN220525896U (zh) | 2023-07-20 | 2023-07-20 | 一种基于硬件快速检测的开短路测试电路 |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| CN202321929243.4U CN220525896U (zh) | 2023-07-20 | 2023-07-20 | 一种基于硬件快速检测的开短路测试电路 |
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Family Applications (1)
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| CN202321929243.4U Active CN220525896U (zh) | 2023-07-20 | 2023-07-20 | 一种基于硬件快速检测的开短路测试电路 |
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2023
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