CN114894100B - 位移检测装置 - Google Patents

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Abstract

本申请公开了一种位移检测装置,包括线阵图像传感器和标尺,标尺包括沿位移检测方向均匀、交替地排列有第一检测单元和第二检测单元;第一检测单元的第一条形码的条空中心点连线的延长线C1C1’与第一检测单元的第一位置条的夹角为θ;第二检测单元的第二条形码的条空中心点连线的延长线C2C2’与第二检测单元的第二位置条的夹角等于θ;第一位置条与第二位置条平行,与第一条形码、第二条形码的条空和位移检测方向垂直;第一位置条和第二位置条的宽度不相等;线阵图像传感器的扫描线落在标尺上并且与第一位置条的夹角等于θ,0°<θ<60°。

Description

位移检测装置
技术领域
本发明属于位移测量技术领域,涉及一种线阵图像传感器和标尺构成的位移检测装置。
背景技术
申请号CN201911201902.0方案中,位移线与位移检测方向既不垂直也不平行,在传统工艺制作位移线时,因X轴和Y轴同时量化进给,使得位移线边沿存在阶梯形毛刺,直接影响了位移检测精度。
发明内容
为了解决上述问题,本申请发明内容如下:
一种位移检测装置,包括线阵图像传感器和标尺,在所述标尺上沿位移检测方向均匀、交替地排列有第一检测单元和第二检测单元;所述第一检测单元包括第一位置条和第一条形码,所述第一位置条与位移检测方向垂直,所述第一条形码的条空与位移检测方向平行,所述第一条形码的条空中心点连线的延长线C1C1’与所述第一位置条的夹角为θ,并且C1C1’过所述第一位置条的中心点O1,所述第一条形码的码值代表所述第一位置条的序号;所述第二检测单元包括第二位置条和第二条形码,所述第二位置条与位移检测方向垂直,所述第二条形码的条空与位移检测方向平行,所述第二条形码的条空中心点连线的延长线C2C2’与所述第二位置条的夹角等于θ,并且C2C2’过所述第二位置条的中心点O2,所述第二条形码的码值代表所述第二位置条的序号;所述第一位置条的宽度与所述第二位置条的宽度不相等;所述第一位置条和所述第二位置条的高度为H,并且所述第一位置条和所述第二位置条的间距小于H*tan(θ),所述第一条形码和所述第二条形码的条空长度大于H*tan(θ);所述线阵图像传感器与所述标尺沿位移检测方向作相对运动,并且所述线阵图像传感器的扫描线落在所述标尺上,所述扫描线与所述第一位置条的夹角等于θ,0°<θ<60°;在位移检测范围内任意位置上,所述扫描线与所述第一位置条和/或所述第二位置条相交,同时与所述第一条形码和/或所述第二条形码的条空相交。
作为本方案进一步的改进,所述标尺沿位移检测方向至少有一个面为平面。
作为本方案进一步的改进,所述标尺沿位移检测方向至少有一个面为柱面。
有益效果
本申请方案中,由于第一位置条和第二位置条与位移检测方向垂直,用传统工艺制作位置条时只有Y轴量化进给,因此消除了位置条边沿的阶梯毛刺,整体上提高了位移检测精度。
附图说明
附图只为便于原理性说明,不作为限制本申请的权利要求范围。
附图1是第一检测单元和第二检测单元的结构原理示意图;
附图2是位移检测装置结构原理示意图。
具体实施例
下面结合附图,说明本申请的具体实施例。
一种位移检测装置, 如附图2所示,包括标尺1和线阵图像传感器2,所述标尺1为长方体,包括第一检测单元11和第二检测单元12,在所述标尺1上,所述第一检测单元11和所述第二检测单元12沿位移检测方向均匀、交替地排列。
如附图1所示,所述第一检测单元11包括第一位置条111和第一条形码112,所述第一位置条111的宽度为0.2mm,高度为5.6mm,所述第一位置条111与所述第一条形码112的条空和位移检测方向垂直,所述第一条形码112为自然二进制码,其每个条空宽度为0.2mm,长度为1.5mm;所述第一条形码112条空中心点连线的延长线C1C1’过所述第一位置条111的中心点O1,并且该延长线C1C1’与所述第一位置条111的夹角θ=13.9°,所述第一条形码112的码值代表所述第一位置条111的序号。
如附图1所示,所述第二检测单元12包括第二位置条121和第二条形码122,所述第二位置条121的宽度为0.4mm,高度为5.6mm,所述第二位置条121与所述第二条形码122的条空和位移检测方向垂直,所述第二条形码122为自然二进制码,其每个条空宽度为0.2mm,长度为1.5mm;所述第二条形码122条空中心点连线的延长线C2C2’过所述第二位置条121的中心点O2,并且该延长线C2C2’与所述第二位置条121的夹角也为θ=13.9°,所述第二条形码122的码值代表所述第二位置条121的序号。
为了辨识所述第一位置条111和所述第二位置条121,它们的条宽应相差一倍或一倍以上。
所述第一位置条111与所述第二位置条121相互平行,它们的间距为1mm。
所述线阵图像传感器2包括一个美国CMOS公司产图像传感芯片C116和一根日本三菱公司产自聚焦透镜EZ2,所述线阵图像传感器2物距点的连线称为扫描线21。
如附图2所示,所述线阵图像传感器2与所述标尺1沿位移检测方向作直线运动,用于线位移检测;所述扫描线21落在所述标尺1上,所述扫描线21与所述延长线C1C1’相互平行,在位移检测范围内任意位置,所述扫描线21与所述第一位置条111和/或所述第二位置条121相交,同时也与所述第一条形码112的条空和/或所述第二条形码122的条空相交。
上述具体实施例只是本发明思想的一个方面,本领域一般技术人员在显而易见地作出修改得到的其他方案,应该在本发明的权利要求保护范围内。

Claims (3)

1.位移检测装置,包括线阵图像传感器和标尺,其特征在于,在所述标尺上沿位移检测方向均匀、交替地排列有第一检测单元和第二检测单元;所述第一检测单元包括第一位置条和第一条形码,所述第一位置条与位移检测方向垂直,所述第一条形码的条空与位移检测方向平行,所述第一条形码的条空中心点连线的延长线C1C1’与所述第一位置条的夹角为θ,并且C1C1’过所述第一位置条的中心点O1,所述第一条形码的码值代表所述第一位置条的序号;所述第二检测单元包括第二位置条和第二条形码,所述第二位置条与位移检测方向垂直,所述第二条形码的条空与位移检测方向平行,所述第二条形码的条空中心点连线的延长线C2C2’与所述第二位置条的夹角等于θ,并且C2C2’过所述第二位置条的中心点O2,所述第二条形码的码值代表所述第二位置条的序号;所述第一位置条的宽度与所述第二位置条的宽度不相等;所述第一位置条和所述第二位置条的高度为H,并且所述第一位置条和所述第二位置条的间距小于H*tan(θ),所述第一条形码和所述第二条形码的条空长度大于H*tan(θ);所述线阵图像传感器与所述标尺沿位移检测方向作相对运动,并且所述线阵图像传感器的扫描线落在所述标尺上,所述扫描线与所述第一位置条的夹角等于θ,0°<θ<60°;在位移检测范围内任意位置上,所述扫描线与所述第一位置条和/或所述第二位置条相交,同时与所述第一条形码和/或所述第二条形码的条空相交。
2.根据权利要求1所述的位移检测装置,其特征在于,所述标尺沿位移检测方向至少有一个面为平面。
3.根据权利要求1所述的位移检测装置,其特征在于,所述标尺沿位移检测方向至少有一个面为柱面。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE102010043469A1 (de) * 2010-11-05 2012-05-10 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Optische Positionsmesseinrichtung
CN105526871A (zh) * 2016-01-25 2016-04-27 广东工业大学 基于cmos的光栅位移测量系统及其测量方法
CN111735396A (zh) * 2020-08-05 2020-10-02 李里 一种超薄型线阵图像传感器和位移检测装置
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