CN105510800B - 一种简化pad设计的电子标签测试装置及实现方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种简化PAD设计的电子标签测试装置，该装置包括：电子标签芯片以及测试设备；其中，电子标签芯片，用于接收测试设备发送的测试命令，解码后，将测试状态输出，供测试设备采样；测试设备是通用或专用设备，用于向电子标签芯片发送测试命令，根据接收的输出状态，确定电子标签的功能是否正确。本发明还提供了一种简化PAD设计的电子标签测试实现方法，采用本发明所述的装置和方法，实现了更大的测试覆盖率，并且有效减少了标签芯片用于测试的PAD数量，有利于减小标签芯片的面积，从而降低芯片成本。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路验证测试领域，特别是一种简化PAD设计的电子标签测试装置及实现方法。
背景技术
随着无线射频识别技术的发展，电子标签已开始应用到物流、交通、零售等领域，由于电子标签采用无线信号作为传输媒介，在识读效率上有很大的优势，因此有逐渐取代传统条码的趋势。
在电子标签的制造生产过程中，必须对标签进行测试，以完成初始化和判断标签的性能优劣，所以测试接口的设计需要满足各项测试的功能需要。目前标签测试接口需要的PAD数量较多(与功能电路PAD相比)，大大提高了工艺成本，而且PAD的面积较大并很难缩减，因此如何采用更少的PAD实现同等的测试功能是电子标签设计中迫切需要解决的问题。
发明内容
本发明提供一种简化PAD设计的电子标签测试的装置，其接口采用异步方式实现，由电源、地、测试IO信号组成，减少了时钟信号PAD。该装置及实现方法与同步测试接口相比，实现了更大的测试覆盖率，并且有效减少了标签芯片用于测试的PAD数量，有利于减小标签芯片的面积，从而降低芯片成本。
如上所述的测试装置及实现方法，其特征在于，该装置包括：电子标签芯片以及测试设备；其中，
电子标签芯片，用于接收测试设备发送的测试命令，解码后，将测试状态输出，供测试设备采样；
测试设备是通用或专用设备，用于向电子标签芯片发送测试命令，根据接收的输出状态，确定电子标签的功能是否正确。
如上所述的测试装置及实现方法其特征在于所述电子标签芯片与测试设备的接口采用异步方式实现，由电源、地及IO信号组成。
如上所述的测试装置及实现方法其特征在于，测试设备用于向电子标签芯片发送通过固定编码形式组成的自定义的测试命令。
如上所述的测试装置及实现方法其特征在于，测试设备发送的测试命令由不同长度的高低电平分别表示符号0和符号1的自定义编码组成，编码定义的符号长度保证电子标签芯片的正常时钟频率偏差范围能正确解码。
如上所述的测试装置及实现方法其特征在于，测试设备发送的测试命令格式包含命令代码和命令数据，命令代码的定义以符号0开始，便于标签芯片解码。
如上所述的测试装置及实现方法其特征在于，测试设备发送一个测试命令后需要等待合适的时间，然后采样测试IO信号的输出状态，从而判断标签芯片的工作是否正确，同时标签芯片也预留适合的状态输出时间，满足测试设备完成对全部标签芯片测试状态采样的需要。
附图说明
图1是本发明的简化PAD设计的电子标签测试装置结构示意图；
图2是本发明的接口编码符号示意图；
图3是本发明的接口命令格式示意图；
图4是本发明的测试流程图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的具体实施方式进行说明。
如图1所示，本发明提供一种简化PAD设计的电子标签测试装置及实现方法，其接口采用异步方式实现，由电子标签芯片101和测试设备102组成，其中，电子标签芯片101与测试设备102的接口由电源VDD、地GND、测试IO信号组成，减少了时钟信号PAD。该接口与同步测试接口相比，实现了更大的测试覆盖率，并且有效减少了标签芯片用于测试的PAD数量，有利于减小电子标签芯片101的面积，从而降低芯片成本。
电子标签芯片101，用于接收测试设备102发送的测试命令，解码后，将输出状态发送给测试设备；所述测试命令是通过编码形式组成的自定义命令，如图2所示，测试命令的编码方式是用不同长度的高低电平分别表示符号0和符号1，对于符号长度，要能够保证电子标签芯片101在正常时钟频率偏差范围能够正确解码。例如，随着电子标签芯片101的工作温度变化或者制造工艺上的误差，电子标签芯片101内部时钟的最大频率偏差为±10％，那么编码符号的长度定义就要兼容±10％的频率偏差，使这一频率范围内的所有标签芯片都能正确解码。不同的编码符号可以组成不同的自定义测试命令，测试命令格式如图3所示。不同的命令通过不同的命令代码来区分，命令代码的首位固定为符号0，便于标签芯片解码。根据命令的测试功能不同，命令格式中可以包含不同的命令数据，例如存储地址、读写数据等，而有些类型的测试命令中则没有命令数据，需要按照命令的测试功能来定义。命令格式的定义依据是便于标签芯片解码的原则，可以使解码和测试电路尽可能与实际功能电路复用，不会给芯片本身增加大的逻辑电路和功耗；如上所述的自定义命令，一条命令和下一条命令之间定义了明确的时间间隔，可以满足时钟偏差最慢的标签芯片的测试执行及IO信号状态切换完成。
测试设备102，用于通过IO接口向电子标签芯片101发送测试命令，根据接收的输出状态，确定电子标签的功能正确。
电子标签芯片101，可以对测试命令进行解码，执行测试，并输出测试状态，供测试设备采样；
测试设备102，用于接收输出状态并判断标签芯片是否通过测试。
如图3所示，测试设备进行一项功能测试时，首先向IO端口发送一个代表该项测试的命令代码，告诉标签芯片将要进行哪种测试，如果测试命令中包含有命令数据则连续发送命令数据内容，然后测试设备102开始计时，计时时间的长度取决于完成该项功能测试需要的执行时间和不同标签芯片的时钟偏差。标签芯片根据编码规则对测试命令解码，并执行相应测试项操作，完成测试后通过IO信号输出测试状态，测试设备采样测试IO信号的输出状态，从而判断标签芯片的功能是否正确。标签芯片要设定适合的状态输出时间，时间长度由标签芯片的时钟偏差决定，以保证最快时钟的标签芯片的测试状态输出也能被测试设备采样。
对标签芯片的测试过程如图4所示，首先测试设备设置标签芯片进入测试状态，在该状态下标签芯片可以识别和执行测试命令；
步骤二：测试设备发送由宽频偏编码组成的固定格式的测试命令，并开始计时，计时时间的长度取决于完成该项功能测试需要的执行时间和不同标签芯片的时钟偏差；
步骤三：芯片执行测试，并在固定的时钟计数期内保持输出测试状态，该时钟计数长度由标签芯片的时钟偏差决定，以保证最快时钟的标签芯片的测试状态输出也能被测试设备采样；
步骤四：测试设备在计时结束时对测试状态采样，测试设备通过测试状态判断标签芯片是否通过测试。
如上所述的测试接口实现方法，与同步测试接口相比，减少了时钟信号，即减少了多DIE同测时串扰的影响，同时在内部实现功能比较，只输出测试结果状态，因此可以实现更大的测试覆盖率。
考虑实际应用情况，在功能和性能允许的条件下，电源、地、测试IO信号PAD可以与标签芯片其他功能PAD复用，进一步减少标签芯片的总PAD数量。
Claims (5)
1.一种简化PAD设计的电子标签测试装置，其特征在于，该装置包括：电子标签芯片以及测试设备；其中，
电子标签芯片，用于接收测试设备发送的测试命令，解码后，将测试状态输出，并在固定的时钟计数期内保持输出测试状态，该时钟计数长度由标签芯片的时钟偏差决定，以保证最快时钟的标签芯片的测试状态输出也能被测试设备采样；
测试设备是通用或专用设备，用于向电子标签芯片发送测试命令，根据接收的输出测试状态，确定电子标签的功能是否正确；
所述电子标签芯片与测试设备的接口采用异步方式实现，由电源VDD、地GND及测试IO端口组成。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，
测试设备，用于向电子标签芯片发送通过固定编码形式组成的自定义的测试命令。
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，
测试设备发送的测试命令由不同长度的高低电平分别表示符号0和符号1的自定义编码组成，编码定义的符号长度保证电子标签芯片的正常时钟频率偏差范围能正确解码。
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，
测试设备发送的测试命令格式包含命令代码和命令数据，命令代码的定义以符号0开始，便于标签芯片解码。
5.一种简化PAD设计的电子标签测试实现方法，其特征在于，该方法包括：
测试设备发送由宽频偏编码组成的固定格式的测试命令，并开始计时；
芯片执行测试，并在固定的时钟计数期内保持输出测试状态，该时钟计数长度由标签芯片的时钟偏差决定，以保证最快时钟的标签芯片的测试状态输出也能被测试设备采样；
测试设备在计时结束时对测试状态采样，测试设备通过测试状态判断标签芯片是否通过测试，
其中，所述标签芯片与测试设备的接口采用异步方式实现，由电源VDD、地GND及测试IO端口组成。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201510851987.2A CN105510800B (zh) | 2015-12-01 | 2015-12-01 | 一种简化pad设计的电子标签测试装置及实现方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201510851987.2A CN105510800B (zh) | 2015-12-01 | 2015-12-01 | 一种简化pad设计的电子标签测试装置及实现方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN105510800A CN105510800A (zh) | 2016-04-20 |
| CN105510800B true CN105510800B (zh) | 2019-06-11 |
Family
ID=55718917
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201510851987.2A Active CN105510800B (zh) | 2015-12-01 | 2015-12-01 | 一种简化pad设计的电子标签测试装置及实现方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN105510800B (zh) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107589362A (zh) * | 2016-07-07 | 2018-01-16 | 华大半导体有限公司 | 一种基于fpga的射频标签测试装置 |
| CN110906979B (zh) * | 2019-11-08 | 2021-08-17 | 杭州智控网络有限公司 | 价签生产检验批量测试方法及其系统 |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6141374A (en) * | 1998-10-14 | 2000-10-31 | Lucent Technologies Inc. | Method and apparatus for generating multiple matched-filter PN vectors in a CDMA demodulator |
| JP4419049B2 (ja) * | 2003-04-21 | 2010-02-24 | エルピーダメモリ株式会社 | メモリモジュール及びメモリシステム |
| EP1703460A1 (en) * | 2005-03-18 | 2006-09-20 | Deutsche Thomson-Brandt Gmbh | Method and apparatus for encoding and decoding symbols carrying payload data for watermarking an audio or video signal |
| CN100590444C (zh) * | 2006-12-06 | 2010-02-17 | 上海华虹Nec电子有限公司 | Bist测试方法 |
| CN101340231B (zh) * | 2008-08-29 | 2012-02-08 | 清华大学 | 一种定时同步方法及系统 |
| CN101672878B (zh) * | 2008-09-12 | 2013-07-03 | 晨星软件研发(深圳)有限公司 | 芯片测试装置及其测试方法 |
| KR100993783B1 (ko) * | 2008-12-15 | 2010-11-11 | 한국과학기술원 | 울트라 하이 프리퀀시 대역 전자태그 리더기에서 직류 오프셋을 제거하기 위한 장치, 이를 포함하는 전자태그 리더기 및 직류 오프셋을 제거하기 위한 방법 |
| US20100327877A1 (en) * | 2009-06-24 | 2010-12-30 | Hynix Semiconductor Inc. | Radio frequency identification (rfid) device and method for testing the same |
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| CN102401873A (zh) * | 2010-09-15 | 2012-04-04 | 江苏凯路威电子有限公司 | 一种rfid高频芯片四通道测试装置及方法 |
| CN202855255U (zh) * | 2012-09-26 | 2013-04-03 | 成都亚光电子股份有限公司 | 一种三线串行外设接口的开关矩阵控制电路 |
| CN103605863B (zh) * | 2013-11-27 | 2016-04-13 | 中国人民解放军国防科学技术大学 | 集成电路时钟网格主干尺寸的规划方法 |
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| CN204697086U (zh) * | 2015-05-08 | 2015-10-07 | 航天科工深圳（集团）有限公司 | 兼容rs232和rs485通信的电路和电子设备 |
-
2015
- 2015-12-01 CN CN201510851987.2A patent/CN105510800B/zh active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN105510800A (zh) | 2016-04-20 |
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| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
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| TR01 | Transfer of patent right | ||
| CP03 | Change of name, title or address |
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