CN104571760B - 具有触控功能的面板及其触控位置检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种具有触控功能的面板及其触控位置检测方法，该面板包括基板和设置在基板上的多个第一电极和多个第二电极，第一电极和第二电极在基板的有效触控区域上沿着横向和纵向依次交替的设置，以使得触控物触控时的实时触控区域包括与第一电极接触的第一区域和与第二电极接触的第二区域，且第一区域和第二区域的面积不相等，面板还包括触控检测模块，触控检测模块与第一电极和第二电极连接，触控检测模块通过检测第一电极与相邻的第二电极之间的电容来确定实时触控区域的横向坐标，且通过分别检测第一电极、第二电极与触控物之间的电容来确定实时触控区域的纵向坐标。本发明能够避免出现触控鬼点，且能够使得感应电极的结构更为简单。

Description

具有触控功能的面板及其触控位置检测方法
技术领域
本发明涉及触控和显示技术领域，特别是涉及一种具有触控功能的面板及其触控位置检测方法。
背景技术
目前，触控技术比较多元化，较为常见的为自电容和互电容触摸屏，虽然自电容触控灵敏，精准，但是传统的自电容技术由于存在双层鬼点或者单层区域内中间触摸点无法走开的问题，导致目前显示面板中触控技术主要采用互电容触控技术，但互电容也存在相应的问题，比如结构复杂，易受干扰等。
因此，需要提供一种具有触控功能的面板及其触控位置检测方法。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种具有触控功能的面板及其触控位置检测方法，能够避免出现触控鬼点，且能够使得感应电极的结构更为简单。
为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种具有触控功能的面板，该面板包括基板和设置在基板上的多个第一电极和多个第二电极，第一电极和第二电极在基板的有效触控区域上沿着横向和纵向依次交替的设置，以使得触控物触控时的实时触控区域包括与第一电极接触的第一区域和与第二电极接触的第二区域，且第一区域和第二区域的面积不相等，面板还包括触控检测模块，触控检测模块与第一电极和第二电极连接，触控检测模块通过检测第一电极与相邻的第二电极之间的电容来确定实时触控区域的横向坐标，且通过分别检测第一电极、第二电极与触控物之间的电容来确定实时触控区域的纵向坐标。
其中，第一电极和第二电极的形状互补，且一个第一电极与对应的一个第二电极构成一个触控结点，实时触控区域位于触控结点上。
其中，第一电极的形状为直角三角形，第二电极的形状为直角梯形，且一个第一电极与对应的一个第二电极构成一个矩形的触控结点，矩形的触控结点矩阵排布于有效触控区域。
其中，第一电极和第二电极的形状均为直角三角形，且一个第一电极与对应的一个第二电极构成一个矩形的触控结点，矩形的触控结点矩阵排布于有效触控区域。
其中，基板为CF基板，面板还包括矩阵排列在基板上的像素单元和设置在相邻两像素单元之间的黑色矩阵，第一电极和第二电极由设置在黑色矩阵所对应区域的触控层形成。
其中，触控层设置在基板上，黑色矩阵设置在触控层上。
其中，黑色矩阵设置在基板上，触控层设置在黑色矩阵上。
其中，基板为TFT阵列基板。
为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种具有触控功能的面板的触控位置检测方法，其特征在于，面板包括基板和设置在基板上的多个第一电极和多个第二电极，第一电极和第二电极在基板的有效触控区域上沿着横向和纵向依次交替的设置，以使得触控物触控时的实时触控区域包括与第一电极接触的第一区域和与第二电极接触的第二区域，且第一区域和第二区域的面积不相等，面板还包括触控检测模块，触控检测模块与第一电极和第二电极连接，触控位置检测方法包括：检测第一电极与相邻的第二电极之间的电容以获取实时触控区域的横向坐标；分别检测第一电极、第二电极与触控物之间的电容以获取实时触控区域的纵向坐标。
其中，检测第一电极与相邻的第二电极之间的电容以获取实时触控区域的横向坐标的步骤包括：检测第一电极与相邻的第二电极之间的电容的变化量以获取实时触控区域的横向坐标；分别检测第一电极、第二电极与触控物之间的电容以获取实时触控区域的纵向坐标的步骤包括：分别检测第一电极、第二电极与触控物之间的电容的变化量；获取第一电极、第二电极与触控物之间的电容的变化量的差值，以确定实时触控区域的纵向坐标。
本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明通过设置第一电极和第二电极在基板的有效触控区域上沿着横向和纵向依次交替的设置，以使得触控物触控时的实时触控区域包括与第一电极接触的第一区域和与第二电极接触的第二区域，且第一区域和第二区域的面积不相等，然后通过检测第一电极与相邻的第二电极之间的电容来确定实时触控区域的横向坐标，且通过分别检测第一电极、第二电极与触控物之间的电容来确定实时触控区域的纵向坐标，从而能够避免出现触控鬼点，且能够使得感应电极的结构更为简单。
附图说明
图1是本发明优选实施例的具有触控功能的面板的结构示意图；
图1a是本发明第一电极和第二电极的另一种互补形状的示意图；
图2是本发明优选实施例的具有触控功能的面板的截面示意图；
图2a是本发明触控层与黑色矩阵上下位置关系另一种情况的结构示意图；
图3是本发明优选实施例的具有触控功能的面板的触控位置检测方法的流程图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细的说明。
参阅图1，图1是本发明优选实施例的具有触控功能的面板的结构示意图。在本实施例中，具有触控功能的面板包括基板10和设置在基板10上的多个第一电极RX和多个第二电极TX。
第一电极RX和第二电极TX在基板10的有效触控区域A上沿着横向和纵向依次交替的设置，以使得触控物触控时的实时触控区域B包括与第一电极RX接触的第一区域B1和与第二电极TX接触的第二区域B2，且第一区域B1和第二区域B2的面积不相等，面板还包括触控检测模块(图未示)，触控检测模块与第一电极RX和第二电极TX连接，触控检测模块通过检测第一电极RX与相邻的第二电极TX之间的电容来确定实时触控区域B的横向坐标，且通过分别检测第一电极RX、第二电极TX与触控物之间的电容来确定实时触控区域B的纵向坐标。
例如，触控检测模块检测第一电极RX与相邻的第二电极TX之间的电容的变化量以获取实时触控区域B的横向坐标。例如触控物为手指，手指按下时，第一电极RX与第二电极TX之间的耦合电容会发生变化，通过检测第一电极RX与第二电极TX之间的耦合电容的变化量来检测实时触控区域B的横向坐标。例如，触控检测模块分别检测第一电极 RX、第二电极TX与触控物之间的电容的变化量；获取第一电极RX、第二电极TX与触控物之间的电容的变化量的差值，以确定实时触控区域B的纵向坐标。例如触控物为手指，手指按下时的实时触控区域B包括与第一电极RX接触的第一区域B1和与第二电极TX接触的第二区域 B2，由于B1和B2的面积不相等，因此第一电极RX与手指之间的电容的变化量以及第二电极TX与手指之间的电容的变化量，这二者不相等，通过获取二者的差值，确定实时触控区域B的纵向坐标，在其他实施例中，也可以是获取二者的比值来确定实时触控区域B的纵向坐标。
优选地，第一电极RX和第二电极TX的形状互补，且一个第一电极RX与对应的一个第二电极TX构成一个触控结点13，实时触控区域 B位于触控结点13上。
优选地，第一电极RX和第二电极TX的形状均为直角三角形，且一个第一电极RX与对应的一个第二电极TX构成一个矩形的触控结点13，矩形的触控结点13矩阵排布于有效触控区域A。更为优选地，第一电极RX和第二电极TX的形状均为等腰直角三角形，且一个第一电极RX与对应的一个第二电极TX构成一个正方形的触控结点13。当然在其他实施例中，请参阅图1a，图1a是本发明第一电极和第二电极的另一种互补形状的示意图。这种情况下，第一电极RX的形状为直角三角形，第二电极TX的形状为直角梯形，且一个第一电极RX与对应的一个第二电极TX构成一个矩形的触控结点13，矩形的触控结点13矩阵排布于有效触控区域A。
请结合图1进一步参阅图2，图2是本发明优选实施例的具有触控功能的面板的截面示意图。优选地，在本实施例中，基板10为CF基板 10，面板还包括矩阵排列在基板10上的像素单元11和设置在相邻两像素单元之间的黑色矩阵12，第一电极RX和第二电极TX由设置在黑色矩阵12所对应区域的触控层14(图1中未示出，请参见图2)形成。优选地，触控层14设置在基板10上，黑色矩阵12设置在触控层14上。请进一步参阅图2a，图2a是本发明触控层与黑色矩阵上下位置关系另一种情况的结构示意图。如图2a所示，在其他实施例中，也可以是黑色矩阵12设置在基板10上，触控层14设置在黑色矩阵12上。第一电极 RX对应的区域中，黑色矩阵12所对应区域的触控层14形成第一电极 RX，同理，第二电极TX对应的区域中，黑色矩阵12所对应区域的触控层14形成第二电极TX。
在其他实施例中，基板10也可以是TFT阵列基板，即触控层设置在TFT阵列基板上，且触控层也设置在与CF基板上的黑色矩阵12的对应区域，即CF基板与TFT阵列基板对组时，与黑色矩阵12上下对应的区域。
请参阅图3，图3是本发明优选实施例的具有触控功能的面板的触控位置检测方法的流程图。在本实施例中，该方法采用上述具有触控功能的面板实现，具有触控功能的面板的触控位置检测方法包括以下步骤：
步骤S11：检测第一电极与相邻的第二电极之间的电容以获取实时触控区域的横向坐标。
在步骤S11中，例如，触控检测模块检测第一电极RX与相邻的第二电极TX之间的电容的变化量以获取实时触控区域B的横向坐标。例如触控物为手指，手指按下时，第一电极RX与第二电极TX之间的耦合电容会发生变化，通过检测第一电极RX与第二电极TX之间的耦合电容的变化量来检测实时触控区域B的横向坐标。
步骤S12：分别检测第一电极、第二电极与触控物之间的电容以获取实时触控区域的纵向坐标。
在步骤S12中，例如，触控检测模块分别检测第一电极RX、第二电极TX与触控物之间的电容的变化量；获取第一电极RX、第二电极 TX与触控物之间的电容的变化量的差值，以确定实时触控区域B的纵向坐标。例如触控物为手指，手指按下时的实时触控区域B包括与第一电极RX接触的第一区域B1和与第二电极TX接触的第二区域B2，由于B1和B2的面积不相等，因此第一电极RX与手指之间的电容的变化量以及第二电极TX与手指之间的电容的变化量，这二者不相等，通过获取二者的差值，确定实时触控区域B的纵向坐标，在其他实施例中，也可以是获取二者的比值来确定实时触控区域B的纵向坐标。
可以理解的是，在其他实施例中，实时触控区域B的纵向坐标和横向坐标也可以是同时检测，纵向坐标的检测也可以在横向坐标之前，也就是说，步骤S11和步骤S12可以同时进行，或者步骤S12可以在步骤 S11之前。
本发明通过设置第一电极和第二电极在基板的有效触控区域上沿着横向和纵向依次交替的设置，以使得触控物触控时的实时触控区域包括与第一电极接触的第一区域和与第二电极接触的第二区域，且第一区域和第二区域的面积不相等，然后通过检测第一电极与相邻的第二电极之间的电容来确定实时触控区域的横向坐标，且通过分别检测第一电极、第二电极与触控物之间的电容来确定实时触控区域的纵向坐标，从而能够避免出现触控鬼点，且能够使得感应电极的结构更为简单。
以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (7)

1.一种具有触控功能的面板，其特征在于，所述面板包括基板和设置在所述基板上的多个第一电极和多个第二电极，第一电极和第二电极在所述基板的有效触控区域上沿着横向和纵向依次交替的设置，以使得触控物触控时的实时触控区域包括与所述第一电极接触的第一区域和与所述第二电极接触的第二区域，且所述第一区域和所述第二区域的面积不相等，所述面板还包括触控检测模块，所述触控检测模块与所述第一电极和所述第二电极连接，所述触控检测模块通过检测所述第一电极与相邻的所述第二电极之间的电容来确定所述实时触控区域的横向坐标，且通过分别检测所述第一电极、所述第二电极与所述触控物之间的电容来确定所述实时触控区域的纵向坐标，所述实时触控区域的面积小于触控结点的面积，
其中，所述第一电极的形状为直角三角形，所述第二电极的形状为直角梯形，且一个所述第一电极与对应的一个所述第二电极构成一个正方形的触控结点，所述正方形的触控结点矩阵排布于所述有效触控区域，相邻两个所述触控结点中的第一电极的斜边的倾斜方向相同。
2.根据权利要求1所述的面板，其特征在于，所述基板为CF基板，所述面板还包括矩阵排列在所述基板上的像素单元和设置在相邻两所述像素单元之间的黑色矩阵，所述第一电极和所述第二电极由设置在所述黑色矩阵所对应区域的触控层形成。
3.根据权利要求2所述的面板，其特征在于，所述触控层设置在所述基板上，所述黑色矩阵设置在所述触控层上。
4.根据权利要求2所述的面板，其特征在于，所述黑色矩阵设置在所述基板上，所述触控层设置在所述黑色矩阵上。
5.根据权利要求1所述的面板，其特征在于，所述基板为TFT阵列基板。
6.一种具有触控功能的面板的触控位置检测方法，其特征在于，所述面板包括基板和设置在基板上的多个第一电极和多个第二电极，所述第一电极和所述第二电极在所述基板的有效触控区域上沿着横向和纵向依次交替的设置，以使得触控物触控时的实时触控区域包括与所述第一电极接触的第一区域和与所述第二电极接触的第二区域，且所述第一区域和所述第二区域的面积不相等，所述面板还包括触控检测模块，所述触控检测模块与所述第一电极和所述第二电极连接，其中，所述第一电极的形状为直角三角形，所述第二电极的形状为直角梯形，且一个所述第一电极与对应的一个所述第二电极构成一个正方形的触控结点，所述正方形的触控结点矩阵排布于所述有效触控区域，相邻两个所述触控结点中的第一电极的斜边的倾斜方向相同，所述实时触控区域的面积小于触控结点的面积，所述触控位置检测方法包括：
检测所述第一电极与相邻的所述第二电极之间的电容以获取所述实时触控区域的横向坐标；
分别检测所述第一电极、所述第二电极与所述触控物之间的电容以获取所述实时触控区域的纵向坐标。
7.根据权利要求6所述的触控位置检测方法，其特征在于，所述检测所述第一电极与相邻的所述第二电极之间的电容以获取所述实时触控区域的横向坐标的步骤包括：
检测所述第一电极与相邻的所述第二电极之间的电容的变化量以获取所述实时触控区域的横向坐标；
所述分别检测所述第一电极、所述第二电极与所述触控物之间的电容以获取所述实时触控区域的纵向坐标的步骤包括：
分别检测所述第一电极、所述第二电极与所述触控物之间的电容的变化量；
获取所述第一电极、所述第二电极与所述触控物之间的电容的变化量的差值，以确定所述实时触控区域的纵向坐标。
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