AT517687B1 - Test apparatus and method for controlling a test apparatus - Google Patents

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AT517687B1 ATA50810/2015A AT508102015A AT517687B1 AT 517687 B1 AT517687 B1 AT 517687B1 AT 508102015 A AT508102015 A AT 508102015A AT 517687 B1 AT517687 B1 AT 517687B1
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Abstract

Eine Prüfvorrichtung umfasst eine Benutzerschnittstelle (25), die wenigstens einen Berührungssensor (26) und/oder einen Näherungssensor umfasst. Eine Steuereinrichtung (17) ist mit der Benutzerschnittstelle (25) gekoppelt und eingerichtet, um eine Amplitude und/oder eine Phase eines Prüfsignals zum Prüfen eines Prüflings (60) abhängig von einer Betätigung der Benutzerschnittstelle (25) einzustellen. Die Benutzerschnittstelle (25) weist eine Eingabeeinrichtung auf. Die Prüfvorrichtung (10) ist eingerichtet, um die Eingabeeinrichtung automatisch in eine Nullstellung zurückzusetzen, wenn eine Berührung der Eingabeeinrichtung endet.A testing device comprises a user interface (25) comprising at least one touch sensor (26) and / or a proximity sensor. A controller (17) is coupled to the user interface (25) and configured to adjust an amplitude and / or phase of a test signal to test a device under test (60) in response to an operation of the user interface (25). The user interface (25) has an input device. The test apparatus (10) is arranged to automatically reset the input device to a zero position when a touch of the input device ends.

Description

Beschreibungdescription

PRÜFVORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM STEUERN EINER PRÜFVORRICHTUNG GEBIET DER ERFINDUNGTEST DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING A TEST APPARATUS FIELD OF THE INVENTION

[0001] Ausführungsbeispiele der Erfindung betreffen eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Prüfen eines Prüflings, beispielsweise eines Transformators. Ausführungsbeispiele der Erfindung betreffen insbesondere derartige Vorrichtungen und Verfahren, mit denen Amplituden und/oder Phasen von Prüfsignalen benutzerdefiniert einstellbar sind.Embodiments of the invention relate to an apparatus and a method for testing a device under test, for example a transformer. Embodiments of the invention relate in particular to such devices and methods with which amplitudes and / or phases of test signals can be set in a user-defined manner.

HINTERGRUNDBACKGROUND

[0002] Transformatoren werden als Bestandteile von Energieversorgungsnetzen verwendet. Transformatoren können zur Spannungswandlung von einem ersten Wert an einer Oberspannungsseite zu einem zweiten Wert, der kleiner als der erste Wert ist, an einer Unterspannungsseite eingesetzt werden.Transformers are used as components of power supply networks. Transformers may be used for voltage conversion from a first value on a high voltage side to a second value smaller than the first value on a low voltage side.

[0003] Die Bestimmung von Eigenschaften Transformators durch eine Transformatorprüfung, bei der eine oder mehrere charakteristische Kenngrößen des Transformators durch Messung ermittelt werden, ist beispielsweise zur Gewährleistung der Betriebssicherheit, zur Ansteuerung oder aus weiteren Gründen erforderlich. Beispiele für derartige Messungen beinhalten die Bestimmung eines statischen Widerstands, eines Übersetzungsverhältnisses, einer Streuinduktivität oder Streureaktanz.The determination of characteristics transformer by a transformer test, in which one or more characteristic characteristics of the transformer are determined by measurement, for example, to ensure reliability, for control or for other reasons required. Examples of such measurements include the determination of a static resistance, a gear ratio, a leakage inductance or leakage reactance.

[0004] Prüfvorrichtungen zum Prüfen von Transformatoren oder anderen Prüflingen der Energietechnik können eine Benutzerschnittstelle aufweisen, die die Einstellungen von Parametern zur Prüfung des Prüflings erlaubt. Derartige Benutzerschnittstellen können Eingabefelder zur Eingabe numerischer Werte, aber auch drehbare Räder, die als so genannte Jog Dials ausgestaltet sein können, oder andere mechanisch verstellbare Elemente umfassen. Während derartige Eingabeeinrichtungen eine komfortable und genaue Einstellung von Parametern ermöglichen, benötigen sie Bauraum an der Oberfläche der Prüfvorrichtung, der nicht anderweitig genutzt wird. Darüber hinaus besteht das Risiko, dass ein Benutzer beim Loslassen eines mechanisch verstellbaren drehbaren Elements dieses versehentlich weiterdreht, was zu unerwünschten Änderungen des eingestellten Wertes führen kann.[0004] Testers for testing transformers or other utilities of the power engineering may have a user interface that permits the setting of parameters for testing the device under test. Such user interfaces may include input fields for entering numerical values, but also rotatable wheels, which may be configured as so-called jog dials, or other mechanically adjustable elements. While such input devices allow convenient and accurate adjustment of parameters, they require space on the surface of the test apparatus that is not otherwise used. In addition, there is a risk that a user will inadvertently continue to rotate it upon release of a mechanically adjustable rotatable member, which may result in undesirable changes in the set value.

ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNGSUMMARY OF THE INVENTION

[0005] Es besteht ein Bedarf an Vorrichtungen und Verfahren, die eine komfortable und zuverlässige Einstellung von Parametern einer Prüfvorrichtung erlauben. Es besteht insbesondere ein Bedarf an derartigen Vorrichtungen und Verfahren, mit denen ein oder mehrere Parameter der Prüfvorrichtung für einen Transformator zuverlässig und flexibel eingestellt werden können.There is a need for devices and methods that allow convenient and reliable adjustment of parameters of a tester. In particular, there is a need for such devices and methods by which one or more parameters of the tester for a transformer can be set reliably and flexibly.

[0006] Nach Ausführungsbeispielen werden eine Prüfvorrichtung und ein Verfahren angegeben, bei denen eine Eingabeeinrichtung zum Einstellen eines Parameters der Prüfvorrichtung in eine berührungsempfindliche und/oder näherungsempfindliche Oberfläche der Prüfvorrichtung integriert ist. Die berührungsempfindliche und/oder näherungsempfindliche Oberfläche kann als Anzeigefeld mit einem kapazitiven, resistiven oder optischen Berührungssensor oder Näherungssensor ausgestaltet sein.According to embodiments, a test apparatus and a method are provided in which an input device for adjusting a parameter of the test apparatus is integrated into a touch-sensitive and / or proximity-sensitive surface of the test apparatus. The touch-sensitive and / or proximity-sensitive surface may be designed as a display panel with a capacitive, resistive or optical touch sensor or proximity sensor.

[0007] Der Bereich, an dem die Eingabeeinrichtung dargestellt wird, um die Einstellung eines oder mehrerer Parameter zu ermöglichen, muss nicht ausschließlich für die Darstellung der Eingabeeinrichtung verwendet werden. Beispielsweise kann zeitsequentiell in dem Bereich, in dem die Eingabeeinrichtung dargestellt werden kann, ein alphanumerisches Eingabefeld, eine Darstellung von eingestellten Werten oder andere Information dargestellt werden.The area where the input device is displayed to enable adjustment of one or more parameters need not be used exclusively for the presentation of the input device. For example, an alphanumeric input field, a representation of set values or other information can be displayed in a time-sequential manner in the area in which the input device can be displayed.

[0008] Die Prüfvorrichtung kann derart ausgestaltet sein, dass die Eingabeeinrichtung automatisch in eine Nullstellung zurückgesetzt wird, sobald eine Berührung der Benutzerschnittstelle endet. Dadurch kann aus Sicherheitsgründen beispielsweise eine weitere Inkrementierung und/oder Dekrementierung einer Amplitude oder Phase eines Prüfsignals verhindert werden. Die Eingabeeinrichtung kann ein eindimensionaler oder zweidimensionaler Schieber sein.The test apparatus may be configured such that the input device is automatically reset to a zero position as soon as a touch of the user interface ends. As a result, for safety reasons, for example, a further incrementation and / or decrementing of an amplitude or phase of a test signal can be prevented. The input device may be a one-dimensional or two-dimensional slider.

[0009] Eine Prüfvorrichtung, die insbesondere eine Transformatorprüfvorrichtung sein kann, umfasst eine Benutzerschnittstelle, die wenigstens einen Berührungssensor und/oder einen Näherungssensor umfasst. Eine Steuereinrichtung ist mit der Benutzerschnittstelle gekoppelt und ist eingerichtet, um eine Amplitude und/oder eine Phase eines Prüfsignals zum Prüfen eines Prüflings abhängig von einer Betätigung der Benutzer-Schnittstelle einzustellen. Die Benutzerschnittstelle weist eine Eingabeeinrichtung auf und ist eingerichtet, um die Eingabeeinrichtung automatisch in eine Nullstellung zurückzusetzen, wenn eine Berührung der Eingabeeinrichtung endet.A test device, which may be in particular a transformer test device, comprises a user interface comprising at least one touch sensor and / or a proximity sensor. A controller is coupled to the user interface and is configured to adjust an amplitude and / or phase of a test signal to test a device under test in response to an operation of the user interface. The user interface has an input device and is arranged to automatically reset the input device to a zero position when a touch of the input device ends.

[0010] Bei einer derartigen Benutzerschnittstelle ist es nicht notwendig, die Eingabeeinrichtung durch ein Jog Dial oder ein anderes mechanisches Element zu implementieren. Die Eingabeeinrichtung kann auf der Benutzerschnittstelle selektiv dann dargestellt werden, wenn eine Amplitude und/oder Phase des Prüfsignals inkrementiert oder dekrementiert werden soll. Die Rücksetzung in die Nullstellung, die automatisch vorgenommen wird, wenn eine Berührung endet, vermindert das Risiko einer unbeabsichtigten Verstellung eingestellter Werte.In such a user interface, it is not necessary to implement the input device through a jog dial or other mechanical element. The input device may be selectively displayed on the user interface when an amplitude and / or phase of the test signal is to be incremented or decremented. Resetting to zero automatically when a touch ends reduces the risk of unintentional adjustment of set values.

[0011] Die Benutzerschnittstelle kann eine grafische Benutzerschnittstelle sein, die als Anzeigefeld mit einem kapazitiven, resistiven oder optischen Berührungssensor oder Näherungssensor ausgestaltet ist.The user interface may be a graphical user interface that is configured as a display panel with a capacitive, resistive or optical touch sensor or proximity sensor.

[0012] Die Eingabeeinrichtung kann einen Schieber umfassen. Der Schieber kann als eindimensionaler oder zweidimensionaler Schieber ausgestaltet sein.The input device may comprise a slider. The slider may be configured as a one-dimensional or two-dimensional slider.

[0013] Mit der Eingabeeinrichtung kann ein Inkrement der Amplitude und/oder der Phase einstellbar sein.With the input device, an increment of the amplitude and / or the phase can be adjustable.

[0014] Das Inkrement kann eine lineare Funktion oder eine nichtlineare Funktion einer Position des Schiebers sein. Unterschiedliche Konfigurationen können benutzerdefiniert oder automatisch wählbar sein, um selektiv eine lineare oder nichtlineare Skala entlang der Achse des Schiebers zu implementieren. Der Bedienkomfort kann dadurch erhöht werden.The increment may be a linear function or a non-linear function of a position of the slider. Different configurations may be user-defined or automatically selectable to selectively implement a linear or non-linear scale along the axis of the slider. The ease of use can be increased thereby.

[0015] Die nichtlineare Funktion kann über die Benutzerschnittstelle auswählbar sein. Die nichtlineare Funktion kann aus einer Mehrzahl vordefinierter Funktionen über die Benutzerschnittstelle auswählbar sein. Dadurch können beispielsweise verschiedene logarithmische Skalen oder andere nichtlineare Skalen ausgewählt werden. Dies kann abhängig von Benutzervorlieben oder abhängig davon, ob gerade eine Grob- oder Feineinstellung vorgenommen wird, erfolgen, um eine genaue und sichere Einstellung zu ermöglichen.The non-linear function may be selectable via the user interface. The non-linear function may be selectable from a plurality of predefined functions via the user interface. This allows, for example, different logarithmic scales or other nonlinear scales to be selected. This can be done depending on user preference or whether a coarse or fine adjustment is being made, to allow for accurate and safe adjustment.

[0016] Mit der Eingabeeinrichtung kann sowohl die Amplitude als auch die Phase des Prüfsignals einstellbar sein.With the input device, both the amplitude and the phase of the test signal can be adjusted.

[0017] Die Eingabeeinrichtung kann ein zweidimensionaler Schieber sein. Dabei können zueinander orthogonale Richtungen des zweidimensionalen Schiebers, bei dem ein grafisches Element benutzerdefiniert in zwei Dimensionen einer Ebene verschiebbar ist, der Phase und der Amplitude des Prüfsignals zugeordnet sein.The input device may be a two-dimensional slider. In this case, mutually orthogonal directions of the two-dimensional slider, in which a graphical element is user-displaceable in two dimensions of a plane displaceable, be associated with the phase and the amplitude of the test signal.

[0018] Die Benutzerschnittstelle kann eine weitere Eingabeeinrichtung umfassen. Die Steuereinrichtung kann eingerichtet ist, um die Amplitude und/oder Phase des Prüfsignals abhängig davon zu verändern, ob die Eingabeeinrichtung und die weitere Eingabeeinrichtung gleichzeitig betätigt werden. Dadurch kann zur Erhöhung der Sicherheit die Verstellung der Amplitude und/oder Phase des Prüfsignals über den Schieber nur erlaubt werden, wenn gleichzeitig der Benutzer die weitere Eingabeeinrichtung berührt.The user interface may include a further input device. The control device can be set up to change the amplitude and / or phase of the test signal depending on whether the input device and the further input device are actuated simultaneously. As a result, to increase the safety, the adjustment of the amplitude and / or phase of the test signal via the slider can only be allowed if the user simultaneously touches the further input device.

[0019] Die Prüfvorrichtung kann eine Signalquelle umfassen. Die Steuereinrichtung kann eingerichtet sein, um die Signalquelle zum Erzeugen des Prüfsignals abhängig von der Betätigung der Benutzerschnittstelle zu steuern. Die Steuereinrichtung kann eingerichtet sein, um eine Amplitude und/oder eine Phase eines Wechselstroms oder einer Wechselspannung, die von der Signalquelle erzeugt wird, abhängig von der mit der Eingabeeinrichtung eingestellten Amplitude und/oder Phase zu steuern oder zu regeln.The testing device may comprise a signal source. The controller may be configured to control the signal source to generate the test signal in response to the operation of the user interface. The controller may be configured to control or regulate an amplitude and / or a phase of an alternating current or an alternating voltage generated by the signal source depending on the amplitude and / or phase set with the input device.

[0020] Die Prüfvorrichtung kann eine weitere Signalquelle umfassen. Die Steuereinrichtung kann eingerichtet sein, um die Signalquelle und die weitere Signalquelle abhängig von der mit der Eingabeeinrichtung eingestellten Amplitude selektiv in einer Serienschaltung oder einer Parallelschaltung zu kombinieren. Beispielsweise kann die Prüfvorrichtung die Signalquelle und die weitere Signalquelle in einer Serienschaltung kombinieren, falls die mit der Eingabeeinrichtung eingestellte Amplitude eines Prüfsignals, das ein Wechselspannungssignal ist, größer als ein Spannungsschwellenwert ist. Die Prüfvorrichtung die Signalquelle und die weitere Signalquelle in einer Parallelschaltung kombinieren, falls die mit der Eingabeeinrichtung eingestellte Amplitude eines Prüfsignals, das ein Wechselstromsignal ist, größer als ein Stromschwellenwert ist.The testing device may comprise a further signal source. The control device can be set up to selectively combine the signal source and the further signal source depending on the amplitude set with the input device in a series circuit or a parallel circuit. For example, the test apparatus may combine the signal source and the further signal source in a series connection if the amplitude of a test signal which is set with the input device and which is an alternating voltage signal is greater than a voltage threshold value. The tester combine the signal source and the further signal source in parallel if the amplitude of a test signal, which is an AC signal, set by the input device is greater than a current threshold.

[0021] Die Prüfvorrichtung kann eine Mehrzahl von Ausgängen umfassen. Die Prüfvorrichtung kann eine steuerbare Schaltanordnung umfassen, die zwischen die Signalquelle und die Mehrzahl von Ausgängen geschaltet ist. Die Schaltanordnung kann eine Mehrzahl elektrisch steuerbarer Schalter umfassen.The testing device may comprise a plurality of outputs. The test apparatus may include a controllable switching arrangement connected between the signal source and the plurality of outputs. The switching arrangement may comprise a plurality of electrically controllable switches.

[0022] Die Steuereinrichtung kann eingerichtet sein, um die Signalquelle zeitsequentiell mit unterschiedlichen Ausgängen der Mehrzahl von Ausgängen leitend zu verbinden. Auf diese Weise können unterschiedliche Kenngrößen des Prüflings, beispielsweise ein Übersetzungsverhältnis, eine Streureaktanz, ein Längswiderstand und/oder andere Kenngrößen ermittelt werden, ohne dass eine Umverdrahtung zwischen der Prüfvorrichtung und dem Prüfling vorgenommen werden muss.The control means may be arranged to conductively connect the signal source time sequentially to different outputs of the plurality of outputs. In this way, different characteristics of the test specimen, for example, a transmission ratio, a leakage reactance, a series resistance and / or other characteristics can be determined without rewiring between the tester and the DUT must be made.

[0023] Die Prüfvorrichtung kann eine Transformatorprüfvorrichtung sein.The tester may be a transformer tester.

[0024] E in System nach einem Ausführungsbeispiel umfasst einen Transformator und eine Prüfvorrichtung nach einem Ausführungsbeispiel, die mit dem Transformator verbunden ist.A system according to one embodiment includes a transformer and a test device according to an embodiment connected to the transformer.

[0025] Der Transformator kann ein Zweiwicklungstransformator oder ein Dreiwicklungstransformator sein.The transformer may be a two-winding transformer or a three-winding transformer.

[0026] Der Transformator kann in einem Kraftwerk, einem Umspannwerk oder einer anderen Anlage zur Energieerzeugung und/oder Energieübertragung installiert sein. Der Transformator kann ein Transformator für ein Hoch- oder Mittelspannungsnetz sein.The transformer can be installed in a power plant, substation or other plant for power generation and / or energy transmission. The transformer can be a transformer for a high or medium voltage network.

[0027] E in Verfahren zum Steuern einer Prüfvorrichtung, die eine Benutzerschnittstelle mit wenigstens einem Berührungssensor und/oder Näherungssensor umfasst, wird nach einem weiteren Ausführungsbeispiel angegeben. Bei dem Verfahren wird eine Betätigung einer Eingabeeinrichtung der Benutzerschnittstelle erfasst. Eine Amplitude und/oder eine Phase eines Prüfsignals zum Prüfen eines Prüflings werden abhängig von der erfassten Betätigung eingestellt. Die Eingabeeinrichtung wird bei einem Ende der Betätigung automatisch in eine Nullstellung zurückgesetzt.A method for controlling a test apparatus comprising a user interface with at least one touch sensor and / or proximity sensor is provided according to a further embodiment. In the method, an operation of an input device of the user interface is detected. An amplitude and / or a phase of a test signal for testing a DUT are set depending on the detected operation. The input device is automatically reset to a zero position at one end of the actuation.

[0028] Bei dem Verfahren kann die Eingabeeinrichtung einen Schieber umfassen. Der Schieber kann als eindimensionaler oder zweidimensionaler Schieber ausgestaltet sein.In the method, the input device may comprise a slider. The slider may be configured as a one-dimensional or two-dimensional slider.

[0029] Bei dem Verfahren kann mit der Eingabeeinrichtung ein Inkrement der Amplitude und/oder der Phase eingestellt werden.In the method, an increment of the amplitude and / or the phase can be set with the input device.

[0030] Bei dem Verfahren kann das Inkrement eine lineare Funktion oder eine nichtlineare Funktion einer Position des Schiebers sein. Das Verfahren kann die Ermöglichung einer Auswahl unterschiedlicher Konfigurationen umfassen, um selektiv eine lineare oder nichtlineare Skala entlang der Achse des Schiebers zu implementieren.In the method, the increment may be a linear function or a non-linear function of a position of the slider. The method may include enabling a selection of different configurations to selectively implement a linear or non-linear scale along the axis of the slider.

[0031] Bei dem Verfahren kann die nichtlineare Funktion über die Benutzerschnittstelle auswählbar sein. Bei dem Verfahren kann die nichtlineare Funktion aus einer Mehrzahl vordefinierter Funktionen über die Benutzerschnittstelle auswählbar sein.In the method, the non-linear function may be selectable via the user interface. In the method, the non-linear function may be selectable from a plurality of predefined functions via the user interface.

[0032] Bei dem Verfahren kann mit der Eingabeeinrichtung sowohl die Amplitude als auch dieIn the method, with the input device both the amplitude and the

Phase des Prüfsignals einstellbar sein.Be adjustable phase of the test signal.

[0033] Bei dem Verfahren kann die Eingabeeinrichtung ein zweidimensionaler Schieber sein. Dabei können zueinander orthogonale Richtungen des zweidimensionalen Schiebers, bei dem ein grafisches Element benutzerdefiniert in zwei Dimensionen einer Ebene verschiebbar ist, der Phase und der Amplitude des Prüfsignals zugeordnet sein.In the method, the input device may be a two-dimensional slider. In this case, mutually orthogonal directions of the two-dimensional slider, in which a graphical element is user-displaceable in two dimensions of a plane displaceable, be associated with the phase and the amplitude of the test signal.

[0034] Bei dem Verfahren kann die Benutzerschnittstelle eine weitere Eingabeeinrichtung umfassen. Bei dem Verfahren kann die Amplitude und/oder Phase des Prüfsignals abhängig davon verändert werden, ob die Eingabeeinrichtung und die weitere Eingabeeinrichtung gleichzeitig betätigt werden. Dadurch kann bei dem Verfahren zur Erhöhung der Sicherheit die Verstellung der Amplitude und/oder Phase des Prüfsignals über den Schieber nur erlaubt werden, wenn gleichzeitig der Benutzer die weitere Eingabeeinrichtung berührt.In the method, the user interface may comprise a further input device. In the method, the amplitude and / or phase of the test signal can be changed depending on whether the input device and the further input device are actuated simultaneously. As a result, in the method for increasing safety, the adjustment of the amplitude and / or phase of the test signal via the slider can only be permitted if the user simultaneously touches the further input device.

[0035] Bei dem Verfahren kann die Prüfvorrichtung eine Signalquelle umfassen. Das Erzeugen eines Prüfsignals kann umfassen, dass die Signalquelle abhängig von der Betätigung der Benutzerschnittstelle zu steuern. Das Erzeugen eines Prüfsignals kann umfassen, dass eine Amplitude und/oder eine Phase eines Wechselstroms oder einer Wechselspannung, die von der Signalquelle erzeugt wird, abhängig von der mit der Eingabeeinrichtung eingestellten Amplitude und/oder Phase gesteuert oder geregelt wird.In the method, the test apparatus may comprise a signal source. Generating a test signal may include controlling the signal source depending on the operation of the user interface. Generating a test signal may include controlling or regulating an amplitude and / or a phase of an alternating current or an alternating voltage generated by the signal source depending on the amplitude and / or phase set with the input device.

[0036] Bei dem Verfahren kann die Prüfvorrichtung eine weitere Signalquelle umfassen. Das Erzeugen eines Prüfsignals kann umfassen, dass die Signalquelle und die weitere Signalquelle abhängig von der mit der Eingabeeinrichtung eingestellten Amplitude selektiv in einer Serienschaltung oder einer Parallelschaltung zu kombinieren. Beispielsweise kann die Prüfvorrichtung die Signalquelle und die weitere Signalquelle in einer Serienschaltung kombinieren, falls die mit der Eingabeeinrichtung eingestellte Amplitude eines Prüfsignals, das ein Wechselspannungssignal ist, größer als ein Spannungsschwellenwert ist. Die Prüfvorrichtung die Signalquelle und die weitere Signalquelle in einer Parallelschaltung kombinieren, falls die mit der Eingabeeinrichtung eingestellte Amplitude eines Prüfsignals, das ein Wechselstromsignal ist, größer als ein Stromschwellenwert ist.In the method, the test apparatus may comprise a further signal source. Generating a test signal may comprise selectively combining the signal source and the further signal source in a series circuit or a parallel circuit depending on the amplitude set with the input device. For example, the test apparatus may combine the signal source and the further signal source in a series connection if the amplitude of a test signal which is set with the input device and which is an alternating voltage signal is greater than a voltage threshold value. The tester combine the signal source and the further signal source in parallel if the amplitude of a test signal, which is an AC signal, set by the input device is greater than a current threshold.

[0037] Bei dem Verfahren kann die Prüfvorrichtung eine Mehrzahl von Ausgängen und eine steuerbare Schaltanordnung umfassen, die zwischen die Signalquelle und die Mehrzahl von Ausgängen geschaltet ist. Die Schaltanordnung kann eine Mehrzahl elektrisch steuerbarer Schalter umfassen.In the method, the test apparatus may include a plurality of outputs and a controllable switching arrangement connected between the signal source and the plurality of outputs. The switching arrangement may comprise a plurality of electrically controllable switches.

[0038] Bei dem Verfahren kann die Signalquelle zeitsequentiell mit unterschiedlichen Ausgängen der Mehrzahl von Ausgängen leitend verbunden werden. Auf diese Weise können unterschiedliche Kenngrößen des Prüflings, beispielsweise ein Übersetzungsverhältnis, eine Streureaktanz, ein Längswiderstand und/oder andere Kenngrößen ermittelt werden, ohne dass eine Umverdrahtung zwischen der Prüfvorrichtung und dem Prüfling vorgenommen werden muss.In the method, the signal source may be connected in a time-sequential manner to different outputs of the plurality of outputs. In this way, different characteristics of the test specimen, for example, a transmission ratio, a leakage reactance, a series resistance and / or other characteristics can be determined without rewiring between the tester and the DUT must be made.

[0039] Das Verfahren kann zur Prüfung eines Transformators verwendet werden.The method can be used to test a transformer.

[0040] Der mit dem Verfahren geprüfte Transformator kann ein Zweiwicklungstransformator oder ein Dreiwicklungstransformator sein.The transformer tested with the method may be a two-winding transformer or a three-winding transformer.

[0041] Der mit dem Verfahren geprüfte Transformator kann in einem Kraftwerk, einem Umspannwerk oder einer anderen Anlage zur Energieerzeugung und/oder Energieübertragung installiert sein. Der mit dem Verfahren geprüfte Transformator kann ein Transformator für ein Hoch- oder Mittelspannungsnetz sein.The tested with the process transformer can be installed in a power plant, a substation or other plant for power generation and / or energy transfer. The transformer tested by the method may be a transformer for a high or medium voltage network.

[0042] Bei den Vorrichtungen, Systemen und Verfahren kann die Prüfvorrichtung als ein mobiles Transformatorprüfgerät ausgestaltet sein. Bei den Vorrichtungen, Systemen und Verfahren kann das Transformatorprüfgerät als ein portables Transformatorprüfgerät ausgestaltet sein.In the devices, systems and methods, the test apparatus may be configured as a mobile transformer tester. In the devices, systems and methods, the transformer tester may be configured as a portable transformer tester.

[0043] Vorrichtungen, Verfahren und Systeme nach Ausführungsbeispielen erlauben eine zuverlässige und sichere Einstellung von Parametern für eine Transformatorprüfung oder eine Prüfung eines anderen Prüflings.Devices, methods and systems according to embodiments allow a reliable and safe setting of parameters for a transformer test or another test specimen.

KURZE BESCHREIBUNG DER FIGURENBRIEF DESCRIPTION OF THE FIGURES

[0044] Die Erfindung wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die Zeichnungen anhand bevorzugter Ausführungsformen näher erläutert. In den Zeichnungen bezeichnen identische Bezugszeichen identische Elemente.The invention will be explained in more detail with reference to the drawings based on preferred embodiments. In the drawings, identical reference numerals denote identical elements.

[0045] Figur 1 zeigt eine Prüfvorrichtung nach einem Ausführungsbeispiel.FIG. 1 shows a test device according to an exemplary embodiment.

[0046] Figur 2 zeigt eine Benutzerschnittstelle einer Prüfvorrichtung nach einem Ausfüh rungsbeispiel.FIG. 2 shows a user interface of a test device according to an exemplary embodiment.

[0047] Figur 3 veranschaulicht eine Funktionsweise einer Benutzerschnittstelle einer Prüfvor richtung nach einem Ausführungsbeispiel.Figure 3 illustrates an operation of a user interface of a Prüfvor direction according to an embodiment.

[0048] Figur 4 veranschaulicht eine Funktionsweise einer Benutzerschnittstelle einer Prüfvor richtung nach einem Ausführungsbeispiel.FIG. 4 illustrates an operation of a user interface of a test apparatus according to an exemplary embodiment.

[0049] Figur 5 zeigt eine Benutzerschnittstelle einer Prüfvorrichtung nach einem Ausfüh rungsbeispiel.FIG. 5 shows a user interface of a test apparatus according to an exemplary embodiment.

[0050] Figur 6 zeigt eine Benutzerschnittstelle einer Prüfvorrichtung nach einem Ausfüh rungsbeispiel.FIG. 6 shows a user interface of a test apparatus according to an exemplary embodiment.

[0051] Figur 7 zeigt wählbare Abhängigkeiten zwischen Schieberposition und Inkrement bei einer Eingabeeinrichtung nach einem Ausführungsbeispiel.Figure 7 shows selectable dependencies between slide position and increment in an input device according to an embodiment.

[0052] Figur 8 zeigt ein System mit einer Prüfvorrichtung nach einem Ausführungsbeispiel.FIG. 8 shows a system with a test device according to an exemplary embodiment.

[0053] Figur 9 ist ein Flussdiagramm eines Verfahrens nach einem Ausführungsbeispiel.FIG. 9 is a flowchart of a method according to an exemplary embodiment.

[0054] Figur 10 zeigt eine Benutzerschnittstelle einer Prüfvorrichtung nach einem Ausfüh rungsbeispiel.FIG. 10 shows a user interface of a test apparatus according to an exemplary embodiment.

DETAILLIERTE BESCHREIBUNG VON AUSFÜHRUNGSBEISPIELENDETAILED DESCRIPTION OF EMBODIMENTS

[0055] Nachfolgend wird die vorliegende Erfindung anhand bevorzugter Ausführungsformen unter Bezugnahme auf die Zeichnungen näher erläutert. In den Figuren bezeichnen gleiche Bezugszeichen gleiche oder ähnliche Elemente. Die Figuren sind schematische Darstellungen verschiedener Ausführungsformen der Erfindung. In den Figuren dargestellte Elemente sind nicht notwendigerweise maßstabsgetreu dargestellt. Vielmehr sind die verschiedenen in den Figuren dargestellten Elemente derart wiedergegeben, dass ihre Funktion und ihr Zweck dem Fachmann verständlich werden.Hereinafter, the present invention will be explained in more detail with reference to preferred embodiments with reference to the drawings. In the figures, like reference characters designate the same or similar elements. The figures are schematic representations of various embodiments of the invention. Elements shown in the figures are not necessarily drawn to scale. Rather, the various elements shown in the figures are reproduced in such a way that their function and purpose will be understood by those skilled in the art.

[0056] In den Figuren dargestellte Verbindungen und Kopplungen zwischen funktionellen Einheiten und Elementen können auch als indirekte Verbindung oder Kopplung implementiert werden. Eine Verbindung oder Kopplung kann drahtgebunden oder drahtlos implementiert sein.In the figures, connections and couplings between functional units and elements may also be implemented as an indirect connection or coupling. A connection or coupling may be implemented by wire or wireless.

[0057] Nachfolgend werden Prüfvorrichtungen und Verfahren zum Prüfen eines Prüflings detailliert beschrieben. Der Prüfling kann ein Transformator für Hoch- oder Mittelspannungsnetze sein. Der Prüfling kann ein in einem Kraftwerk oder Umspannwerk installierter Transformator sein. Die Prüfvorrichtungen kann ein mobiles Gerät sein oder kann aus mehreren mobilen Geräten aufgebaut sein, um die Durchführung der Messungen an dem installierten Transformator zu erlauben.Hereinafter, test devices and methods for testing a device under test will be described in detail. The test object may be a transformer for high or medium voltage networks. The test object may be a transformer installed in a power plant or substation. The test devices may be a mobile device or may be constructed of multiple mobile devices to allow the measurements to be made on the installed transformer.

[0058] Die Prüfvorrichtung weist eine Benutzerschnittstelle auf, die einen Berührungssensor oder Näherungssensor umfasst. Der Berührungssensor oder Näherungssensor kann eingerichtet sein, um örtlich aufgelöst eine Berührung oder Annäherung an einen zweidimensionalen Oberflächenbereich der Prüfvorrichtung zu detektieren. Die Benutzerschnittstelle kann so ausgestaltet sein, dass eine Eingabeeinrichtung zum Einstellen einer Amplitude und/oder Phase eines Prüfsignals in einem Abschnitt der Benutzerschnittstelle anzeigbar und betätigbar ist, um die Amplitude und/oder Phase des Prüfsignals einzustellen.The test apparatus has a user interface that includes a touch sensor or proximity sensor. The touch sensor or proximity sensor may be configured to locally detect a touch or approach to a two-dimensional surface area of the test apparatus. The user interface may be configured such that an input device for setting an amplitude and / or phase of a test signal in a portion of the user interface is displayable and operable to adjust the amplitude and / or phase of the test signal.

[0059] Die Eingabeeinrichtung kann einen Schieber umfassen, mit dem beispielsweise Inkre- mente oder Dekremente der Amplitude und/oder Phase des Prüfsignals einstellbar sind. Die Eingabeeinrichtung kann eine Nullstellung aufweisen. Bei einem Ende der Betätigung der Eingabeeinrichtung wird die Eingabeeinrichtung automatisch in die Nullstellung zurückgesetzt.The input device can comprise a slider with which, for example, increments or decrements of the amplitude and / or phase of the test signal can be set. The input device may have a zero position. At an end of the operation of the input device, the input device is automatically reset to the zero position.

[0060] Die Prüfvorrichtungen und Verfahren können eingerichtet sein, um unterschiedliche Kenngrößen des Transformators oder eines anderen Prüflings automatisch zu bestimmen. Beispielsweise können ein oder mehrere Übersetzungsverhältnisse des Transformators automatisch bestimmt werden, ohne hierfür eine Umverdrahtung vornehmen zu müssen. Es können auch andere Kenngrößen wie statische oder dynamische Widerstände oder eine Streureaktanz und/oder eine Streuinduktivität des Transformators ermittelt werden. Dazu kann von der Prüfvorrichtung eine Prüfantwort ausgewertet werden, die als Reaktion auf ein Prüfsignal erfasst wird. Die Amplitude und/oder Phase des Prüfsignals kann über die Eingabeeinrichtung der Prüfvorrichtung einstellbar sein.The test devices and methods may be configured to automatically determine different characteristics of the transformer or another test object. For example, one or more ratios of the transformer can be determined automatically, without having to make a rewiring this. Other parameters such as static or dynamic resistances or a leakage reactance and / or a leakage inductance of the transformer can also be determined. For this purpose, a test response can be evaluated by the test device, which is detected in response to a test signal. The amplitude and / or phase of the test signal may be adjustable via the input device of the test device.

[0061] Figur 1 zeigt eine Prüfvorrichtung 10 zum Ermitteln einer Kenngröße eines Prüflings nach einem Ausführungsbeispiel.FIG. 1 shows a test apparatus 10 for determining a parameter of a test object according to an exemplary embodiment.

[0062] Die Prüfvorrichtung 10 kann als ein einziges Gerät mit einem Gehäuse 11 ausgebildet sein, wie in Figur 1 dargestellt ist. Die Prüfvorrichtung 10 kann aus einer Anordnung von mehreren Geräten oder Einrichtungen bestehen. Die mehreren Geräte oder Einrichtungen können in diesem Fall von einer zentralen Steuerung gesteuert werden. Die Prüfvorrichtung 10 kann ein Transformatorprüfgerät sein. Das Transformatorprüfgerät 10 kann als mobiles Gerät und insbesondere als portables Gerät ausgebildet sein.The test apparatus 10 may be formed as a single device with a housing 11, as shown in Figure 1. The test apparatus 10 may consist of an array of multiple devices or devices. The multiple devices or devices may in this case be controlled by a central controller. The test apparatus 10 may be a transformer tester. The Transformatorprüfgerät 10 may be formed as a mobile device and in particular as a portable device.

[0063] Die Prüfvorrichtung 10 umfasst eine Mehrzahl von Anschlüssen 12 zur Verbindung mit dem Prüfling, eine Quelle 13 für ein Prüfsignal, das an den Prüfling angelegt oder in ihn eingeprägt wird, und eine Steuereinrichtung 17. Eine oder mehrere Messeinrichtungen 14-16 zum Erfassen einer Prüfantwort des Prüflings können in die Prüfvorrichtung 10 integriert sein. Ein oder mehrere steuerbare Schaltmittel können in die Prüfvorrichtung 10 integriert sein, wie noch ausführlicher beschrieben wird. Die Quelle 13, wenigstens eine Messeinrichtung 14-16 und eine Steuereinrichtung 17 können in einem Gehäuse 11 des Transformatorprüfgeräts verbaut sein.The test apparatus 10 includes a plurality of terminals 12 for connection to the DUT, a source 13 for a test signal applied to or impressed on the DUT, and a controller 17. One or more detectors 14-16 for detection a test response of the test specimen may be integrated into the test apparatus 10. One or more controllable switching means may be integrated into the test apparatus 10, as will be described in greater detail. The source 13, at least one measuring device 14-16 and a control device 17 may be installed in a housing 11 of the transformer tester.

[0064] Die Quelle 13 kann eine Stromquelle sein, die steuerbar ist, um einen Wechselstrom als Prüfsignal zu erzeugen. Die Quelle 13 kann steuerbar sein, um Wechselströme mit mehreren unterschiedlichen Frequenzen als Prüfsignal zu erzeugen. Die Quelle 13 kann auch eine Spannungsquelle sein. Die Quelle 13 kann in unterschiedlichen Betriebsmodi betreibbar sein, beispielsweise als Stromquelle oder als Spannungsquelle und/oder als Quelle eines zeitlich konstanten Signals oder eines Wechselsignals. Das von der Quelle 13 erzeugte Prüfsignal kann über die Anschlüsse 13 an einer Primärseite oder einer Sekundärseite des Transformators eingeprägt werden.The source 13 may be a current source that is controllable to generate an alternating current as a test signal. The source 13 may be controllable to generate alternating currents having a plurality of different frequencies as a test signal. The source 13 may also be a voltage source. The source 13 can be operable in different operating modes, for example as a current source or as a voltage source and / or as a source of a time-constant signal or an alternating signal. The test signal generated by the source 13 can be impressed via the terminals 13 on a primary side or a secondary side of the transformer.

[0065] Die Prüfvorrichtung 10 kann eine Mehrzahl 12 von Anschlüssen 21-24 umfassen, mit denen die Prüfvorrichtung 10 gleichzeitig mit wenigstens einer primären Wicklung, wenigstens einer sekundären Wicklung eines Transformators verbunden werden kann. Falls der Prüfling ein Dreiwicklungstransformator ist, kann die Prüfvorrichtung Anschlüsse umfassen, mit denen die Prüfvorrichtung 10 gleichzeitig mit wenigstens einer primären Wicklung, wenigstens einer sekundären Wicklung und wenigstens einer tertiären Wicklung des Dreiwicklungstransformators verbunden werden kann. Die mehreren Anschlüsse 12 können ausgestaltet sein, um mit mehr als drei Wicklungen verbunden zu werden. Beispielsweise kann die Prüfvorrichtung 10 Anschlüsse 12 aufweisen, die für eine Verbindung mit mehreren Wicklungen jeder von mehreren Phasen eines Dreiphasen-Dreiwicklungstransformators eingerichtet sind.The test apparatus 10 may include a plurality 12 of terminals 21-24, with which the test apparatus 10 may be connected simultaneously to at least one primary winding, at least one secondary winding of a transformer. If the device under test is a three-winding transformer, the testing device may comprise terminals with which the testing device 10 can be connected simultaneously to at least one primary winding, at least one secondary winding and at least one tertiary winding of the three-winding transformer. The multiple terminals 12 may be configured to connect to more than three windings. For example, the test apparatus 10 may include terminals 12 configured for connection to multiple windings of each of several phases of a three-phase three-winding transformer.

[0066] Die Steuereinrichtung 17 kann abhängig von der Prüfantwort des Prüflings auf das Prüfsignal Kenngrößen des Prüflings ermitteln. Die Steuereinrichtung 17 kann eine oder mehrere integrierte Halbleiterschaltungen, beispielweise eine anwendungsspezifische Spezialschaltungen (ASIC, „application specific integrated circuit“), einen Controller, einen Mikrocontroller, einen Prozessor, einen Mikroprozessor oder eine Kombination davon umfassen. Die Steuereinrichtung 17 kann die Quelle 13 und optional weitere Einheiten der Prüfvorrichtung, wie bei spielsweise eine Schaltmatrix, abhängig von einer Betätigung einer Benutzerschnittstelle 20 der Prüfvorrichtung 10 steuern.The control device 17 can determine characteristics of the test object depending on the test response of the test object to the test signal. The controller 17 may include one or more semiconductor integrated circuits, such as an application specific integrated circuit (ASIC), a controller, a microcontroller, a processor, a microprocessor, or a combination thereof. The control device 17 can control the source 13 and optionally further units of the test apparatus, such as, for example, a switch matrix, depending on an actuation of a user interface 20 of the test apparatus 10.

[0067] Die Prüfvorrichtung 10 umfasst die Benutzerschnittstelle 25. Die Benutzerschnittstelle umfasst einen Berührungssensor 26 und/oder Näherungssensor. Der Berührungssensor und/oder Näherungssensor kann als Flächensensor ausgestaltet sein, der eingerichtet ist, um zu erkennen, an welcher Position einer Fläche der Prüfvorrichtung 10 ein Benutzer die Prüfvorrichtung 10 berührt oder sich der Prüfvorrichtung 10 nähert. Der Berührungssensor und/oder Näherungssensor kann ein kapazitiver, resistiver oder optischer Sensor sein oder kann eine Kombination der genannten Techniken zur Berührungs- und/oder Näherungserfassung verwenden.The test apparatus 10 includes the user interface 25. The user interface includes a touch sensor 26 and / or proximity sensor. The touch sensor and / or proximity sensor may be configured as an area sensor configured to detect at which position of a face of the test apparatus 10 a user touches the test apparatus 10 or approaches the test apparatus 10. The touch sensor and / or proximity sensor may be a capacitive, resistive, or optical sensor, or may use a combination of said touch and / or proximity sensing techniques.

[0068] Die Benutzerschnittstelle 25 kann eine Anzeigeeinheit 27 umfassen. Der Berührungssensor 26 und/oder Näherungssensor kann in Nähe der Anzeigeeinheit 27 angeordnet sein Der Berührungssensor 26 und/oder Näherungssensor kann beispielsweise der Anzeigeeinheit 27 überlagert sein.The user interface 25 may include a display unit 27. The touch sensor 26 and / or proximity sensor may be arranged in the vicinity of the display unit 27. The touch sensor 26 and / or proximity sensor may, for example, be superimposed on the display unit 27.

[0069] In wenigstens einem Abschnitt der Benutzerschnittstelle 25 kann ein Schieber anzeigbar sein, mit dem der Benutzer eine Amplitude und/oder Phase eines Prüfsignals einstellen kann. Der Schieber kann eine Nullstellung aufweisen. Eine Inkrementierung oder Dekrementierung der Amplitude und/oder Phase kann dadurch erreicht werden, dass der Schieber benutzerdefiniert aus der Nullstellung bewegt wird. Aus Sicherheitsgründen und um das Risiko unbeabsichtigter Veränderungen der eingestellten Amplitude und/oder Phase zu verhindern, ist die Prüfvorrichtung 10 eingerichtet, um den Schieber automatisch in die Nullstellung zurückzusetzen, sobald die Berührung der Benutzerschnittstelle 25 endet.In at least a portion of the user interface 25, a slider can be displayed, with which the user can set an amplitude and / or phase of a test signal. The slider can have a zero position. Incrementing or decrementing the amplitude and / or phase can be achieved by moving the slider from the zero position in a user-defined manner. For safety reasons and to prevent the risk of unintentional changes in the adjusted amplitude and / or phase, the test apparatus 10 is arranged to automatically reset the slider to the zero position as soon as the touch of the user interface 25 ends.

[0070] Figur 2 zeigt eine beispielhafte Ausgestaltung einer Benutzerschnittstelle 25. Die Benutzerschnittstelle umfasst eine Eingabeeinrichtung 30, mit der eine Amplitude und/oder Phase eines Prüfsignals inkrementiert und dekrementiert werden kann. Die Eingabeeinrichtung 30 kann wie in Figur 2 dargestellt als Schieber ausgestaltet sein. Die Darstellung des Schiebers kann selektiv nur dann eingeblendet werden, wenn eine Einstellung der Amplitude und/oder Phase erfolgen soll. In anderen Betriebsmode der Prüfvorrichtung 10 kann an derselben Position andere Information oder ein anderes Eingabeelement, beispielsweise ein numerisches oder alphanumerisches Eingabeelement, dargestellt werden.FIG. 2 shows an exemplary embodiment of a user interface 25. The user interface comprises an input device 30 with which an amplitude and / or phase of a test signal can be incremented and decremented. The input device 30 can be designed as a slide as shown in FIG. The representation of the slider can be selectively displayed only if an adjustment of the amplitude and / or phase to take place. In other operating modes of the test apparatus 10, other information or another input element, for example a numeric or alphanumeric input element, may be displayed at the same position.

[0071] Eine Position einer Markierung 31 entlang einer Achse 32 des Schiebers kann das Inkrement oder Dekrement definieren, um das die Amplitude und/oder Phase pro Zeiteinheit inkrementiert wird. Die Position der Markierung 31 kann benutzerdefiniert entlang der Achse 32 verschoben werden, wobei der Berührungssensor 26 und/oder Näherungssensor der Benutzerschnittstelle 25 ermittelt, in welche Position der Benutzer die Markierung 31 verschiebt.A position of a marker 31 along an axis 32 of the slider may define the increment or decrement by which the amplitude and / or phase per unit of time is incremented. The position of the marker 31 may be shifted user-defined along the axis 32, wherein the touch sensor 26 and / or proximity sensor of the user interface 25 determines in which position the user moves the marker 31.

[0072] Die Steuerungseinrichtung 17 kann überwachen, wann der Finger des Benutzers die Benutzerschnittstelle 25 an der Position der Markierung 31 berührt und kann die Markierung 31 entlang der Achse 32 gemäß der Bewegung des Fingers des Benutzers weiter verschieben. Die Darstellung der Eingabeeinrichtung 30 kann von der Steuereinrichtung 17 durch Ansteuerung der Anzeigeeinheit 27 entsprechend aktualisiert werden.The controller 17 may monitor when the user's finger touches the user interface 25 at the position of the marker 31 and may further shift the marker 31 along the axis 32 in accordance with the movement of the user's finger. The representation of the input device 30 can be updated by the control device 17 by driving the display unit 27 accordingly.

[0073] Die Eingabeeinrichtung 30 kann sowohl zur Inkrementierung als auch zur Dekrementierung der Amplitude und/oder Phase des Prüfsignals verwendet werden. Wenn die Markierung 31 als Reaktion auf eine Betätigung der Benutzerschnittstelle 25 in einem ersten Abschnitt 34 der Achse 32 positioniert ist, kann eine Inkrementierung erfolgen. Wenn die Markierung 31 als Reaktion auf eine Betätigung der Benutzerschnittstelle 25 in einem zweiten Abschnitt 35 der Achse 32 positioniert ist, kann eine Inkrementierung erfolgen. Wenn sich die Markierung 31 in einer Nullstellung befindet, wird der eingestellte Wert nicht mehr verändert.The input device 30 can be used both for incrementing and for decrementing the amplitude and / or phase of the test signal. When the marker 31 is positioned in a first portion 34 of the axis 32 in response to actuation of the user interface 25, incrementation may occur. If the marker 31 is positioned in a second portion 35 of the axis 32 in response to an actuation of the user interface 25, then an increment may occur. If the marker 31 is in a zero position, the set value is no longer changed.

[0074] Die Prüfvorrichtung 10 ist derart ausgestaltet, dass die Eingabeeinrichtung 30 automatisch in die Nullstellung zurückgesetzt wird, wenn die Berührung der Benutzerschnittstelle 25 endet. Die Prüfvorrichtung 10 kann ein Ausgangssignal des Berührungssensors 26 und/oder Näherungssensors 27 auswerten, um zu erkennen, wann der Benutzer die Markierung 31 los lässt. Als Reaktion darauf kann die Markierung 31 von der Prüfvorrichtung 10 automatisch in die Nullstellung zurückbewegt werden, in der keine weitere Inkrementierung der Amplitude und/ oder der Phase des Prüfsignals erfolgt.The test apparatus 10 is configured such that the input device 30 is automatically reset to the zero position when the touch of the user interface 25 ends. The test apparatus 10 may evaluate an output signal of the touch sensor 26 and / or proximity sensor 27 to detect when the user releases the marker 31. In response, the marker 31 can be automatically returned by the test apparatus 10 to the zero position, in which no further incrementation of the amplitude and / or the phase of the test signal takes place.

[0075] Figur 3 und Figur 4 illustrieren die Funktionsweise der Prüfvorrichtung 10.FIG. 3 and FIG. 4 illustrate the mode of operation of the test apparatus 10.

[0076] Figur 3 zeigt, wie als Reaktion auf eine Berührung durch ein Element 39, beispielsweise den Finger des Benutzers, die Eingabeeinrichtung 30 betätigt werden kann. Die Markierung 31 wird gemäß der Bewegung des Elements 39 verschoben. Der Betrag, um den die Amplitude und/oder Phase des Prüfsignals pro Zeit inkrementiert oder dekrementiert wird, hängt von der benutzerdefiniert festgelegten Position der Markierung 31 ab.FIG. 3 shows how the input device 30 can be actuated in response to a touch by an element 39, for example the user's finger. The marker 31 is shifted in accordance with the movement of the member 39. The amount by which the amplitude and / or phase of the test signal is incremented or decremented per time depends on the user defined position of the marker 31.

[0077] Figur 4 zeigt die Eingabeeinrichtung 30, wenn der Benutzer die Eingabeeinrichtung 30 nicht mehr berührt. Die Eingabeeinrichtung 30 wird von der Prüfvorrichtung 10 automatisch in die Nullstellung zurückgesetzt. Das Inkrement wird auf Null gesetzt. Die Markierung 31 wird in die Nullstellung zurückverschoben.FIG. 4 shows the input device 30 when the user no longer touches the input device 30. The input device 30 is automatically reset by the test apparatus 10 to the zero position. The increment is set to zero. The marker 31 is moved back to the zero position.

[0078] Bei jeder der beschriebenen Ausgestaltungen der Prüfvorrichtung 10 können zusätzliche Sicherheitsmerkmale vorgesehen sein, um eine unbeabsichtigte Verstellung eines mit der Eingabeeinrichtung 30 eingestellten Werts zu verhindern. Beispielsweise kann eine weitere Eingabeeinrichtung vorgesehen sein, die vom Benutzer gleichzeitig mit der Eingabeeinrichtung 30 betätigt werden muss, um mit der Eingabeeinrichtung 30 die Amplitude und/oder Phase des Prüfsignals zu verändern. Diese weitere Eingabeeinrichtung kann als ein separates mechanisches Element vorgesehen sein oder kann vorteilhaft ebenfalls durch die Benutzerschnittstelle 25 dargestellt werden.In each of the described embodiments of the test apparatus 10, additional safety features may be provided to prevent inadvertent adjustment of a value set by the input device 30. For example, a further input device may be provided which has to be actuated by the user simultaneously with the input device 30 in order to change the amplitude and / or phase of the test signal with the input device 30. This further input device may be provided as a separate mechanical element or may advantageously also be represented by the user interface 25.

[0079] Figur 5 zeigt eine Benutzerschnittstelle 25 einer Prüfvorrichtung 10 nach einem Ausführungsbeispiel. Die Benutzerschnittstelle 25 kann jede der unter Bezugnahme auf Figur 1 bis Figur 4 beschriebenen Ausgestaltungen aufweisen.FIG. 5 shows a user interface 25 of a test apparatus 10 according to an exemplary embodiment. The user interface 25 may comprise any of the embodiments described with reference to FIGS. 1 to 4.

[0080] Die Benutzerschnittstelle 25 weist eine weitere Eingabeeinrichtung 36 auf, die gleichzeitig mit der Darstellung der Eingabeeinrichtung 30 dargestellt wird. Die Prüfvorrichtung kann so eingerichtet sein, dass eine Betätigung der weiteren Eingabeeinrichtung 30 nur erlaubt wird, wenn gleichzeitig die weitere Eingabeeinrichtung 36 betätigt wird. Die Steuereinrichtung 17 kann den mit der Eingabeeinrichtung 30 eingestellten Wert, z.B. eine Amplitude und/oder Phase des Prüfsignals, selektiv nur dann inkrementieren oder dekrementieren, wenn gleichzeitig mit der Eingabeeinrichtung 30 auch die weitere Eingabeeinrichtung 36 vom Benutzer betätigt wird.The user interface 25 has a further input device 36, which is displayed simultaneously with the representation of the input device 30. The test apparatus can be set up such that an actuation of the further input device 30 is only permitted if the further input device 36 is simultaneously actuated. The controller 17 may set the value set by the input device 30, e.g. an amplitude and / or phase of the test signal, selectively only increment or decrement when simultaneously with the input device 30 and the other input device 36 is actuated by the user.

[0081] Figur 6 zeigt eine Benutzerschnittstelle 25 einer Prüfvorrichtung 10 nach einem Ausführungsbeispiel. Die Benutzerschnittstelle 25 kann jede der unter Bezugnahme auf Figur 1 bis Figur 5 beschriebenen Ausgestaltungen aufweisen.FIG. 6 shows a user interface 25 of a test apparatus 10 according to an exemplary embodiment. The user interface 25 may comprise any of the embodiments described with reference to FIGS. 1 to 5.

[0082] Die Benutzerschnittstelle 25 kann ein oder mehrere Auswahlelemente 41, 42 umfassen, mit denen eine Skala der Eingabeeinrichtung 30 festgelegt werden kann. Mit den Auswahlelementen 41,42 kann benutzerdefiniert festlegbar sein, wie eine Stellung der Eingabeeinrichtung jeweils in ein Inkrement oder Dekrement für die einzustellende Größe, beispielsweise die Amplitude und/oder Phase des Prüfsignals, umgesetzt wird.The user interface 25 may comprise one or more selection elements 41, 42 with which a scale of the input device 30 can be determined. With the selection elements 41, 42 it can be user-defined how a position of the input device is converted into an increment or decrement for the variable to be set, for example the amplitude and / or phase of the test signal.

[0083] Mit den Auswahlelementen 41, 42 kann wenigstens eine nichtlineare Funktion auswählbar sein, die den Zusammenhang zwischen Stellung der Eingabeeinrichtung 30 und der Größe des Inkrements oder Dekrements festlegt und die von der Steuereinrichtung 17 benutzt wird, um eine Veränderung des für die Amplitude und/oder Phase eingestellten Wertes abhängig von der Stellung der Eingabeeinrichtung 30 zu ermitteln. Die nichtlineare Funktion kann eine oder mehrere logarithmische Funktionen, Exponentialfunktionen oder andere nichtlineare Funktionen umfassen, die jeweils definieren, welche Veränderung der einzustellenden Größe abhängig von der Betätigung der Einstelleinrichtung 30 erfolgen soll.With the selection elements 41, 42, at least one non-linear function can be selected, which determines the relationship between the position of the input device 30 and the size of the increment or decrement and which is used by the control device 17, a change of the amplitude and / or phase set value depending on the position of the input device 30 to determine. The nonlinear function may include one or more logarithmic functions, exponentials, or other nonlinear functions, each of which defines which variation in the size to be adjusted is to occur depending on the actuation of the adjuster 30.

[0084] Mit den Auswahlelementen 41, 42 kann wenigstens eine lineare Funktion auswählbar sein, die den Zusammenhang zwischen Stellung der Eingabeeinrichtung 30 und der Größe des Inkrements oder Dekrements festlegt und die von der Steuereinrichtung 17 benutzt wird, um eine Veränderung des für die Amplitude und/oder Phase eingestellten Wertes abhängig von der Stellung der Eingabeeinrichtung 30 zu ermitteln.With the selection elements 41, 42, at least one linear function can be selected, which determines the relationship between the position of the input device 30 and the size of the increment or decrement and which is used by the control device 17, a change of the amplitude for the and / or phase set value depending on the position of the input device 30 to determine.

[0085] Mit den Auswahlelementen 41, 42 kann die Umsetzung zwischen Stellung der Eingabeeinrichtung 30 in das jeweils korrespondierenden Inkrement oder Dekrement auch derart festlegbar sein, dass wahlweise eine von mehreren nichtlinearen Funktionen und eine von mehreren linearen Funktionen wählbar ist. Beispielsweise kann in der Prüfvorrichtung 19 kennfeldbasiert oder auf andere Weise eine Skala für die Eingabeeinrichtung 30 gespeichert sein, mit der wahlweise eine lineare und eine nichtlineare Abhängigkeit des Inkrements von der Stellung der Eingabeeinrichtung 30 festlegbar ist. Beispielsweise können wenigstens zwei lineare Funktionen und wenigstens zwei nichtlineare Funktionen, die die Abhängigkeit des Inkrements von der Stellung der Eingabeeinrichtung 30 definieren, nicht-flüchtig in der Prüfvorrichtung 10 gespeichert sein.With the selection elements 41, 42, the conversion between the position of the input device 30 in the respective corresponding increment or decrement can also be determined such that either one of a plurality of non-linear functions and one of a plurality of linear functions can be selected. For example, a scale for the input device 30 may be stored in the test apparatus 19, or alternatively a scale for the input device 30, with which either a linear and a non-linear dependence of the increment on the position of the input device 30 can be fixed. For example, at least two linear functions and at least two non-linear functions that define the dependence of the increment on the position of the input device 30 may be non-volatilely stored in the test apparatus 10.

[0086] Figur 7 zeigt beispielhaft funktionelle Abhängigkeiten des Inkrements von der Position, an der die Markierung 31 durch den Benutzer positioniert wird. Beispielsweise können gemäß einer, zwei oder mehr als zwei logarithmischen Skalen für die Eingabeeinrichtung 30 korrespondierende nichtlineare Funktionen 51, 52 die Abhängigkeit des Inkrements von der Position definieren. Alternativ oder zusätzlich können gemäß einer, zwei oder mehr als zwei linearen Skalen für die Eingabeeinrichtung 30 korrespondierende lineare Funktionen 53, 54 die Abhängigkeit des Inkrements von der Position definieren.By way of example, FIG. 7 shows functional dependencies of the increment on the position at which the marker 31 is positioned by the user. For example, according to one, two, or more than two logarithmic scales for the input device 30, corresponding nonlinear functions 51, 52 may define the dependence of the increment on the position. Alternatively or additionally, according to one, two or more than two linear scales for the input device 30 corresponding linear functions 53, 54 define the dependence of the increment of the position.

[0087] Figur 8 zeigt ein System 1 mit einer Prüfvorrichtung 10 nach einem Ausführungsbeispiel.FIG. 8 shows a system 1 with a test apparatus 10 according to an exemplary embodiment.

[0088] Das System 1 umfasst einen Prüfling 60, der ein Transformator sein kann. Der Prüfling 60 kann ein Zweiwicklungstransformator oder ein Dreiwicklungstransformator sein.The system 1 includes a device under test 60, which may be a transformer. The DUT 60 may be a two-winding transformer or a three-winding transformer.

[0089] Die Prüfvorrichtung 10 ist als ein Transformatorprüfgerät ausgestaltet, das portabel sein kann. Die Prüfvorrichtung 10 kann eingerichtet sein, um eine oder mehrere Kenngrößen des Transformators 60 automatisch zu ermitteln. Beispiele für derartige Kenngrößen beinhalten ein Übersetzungsverhältnis, eine Streureaktanz und einen Längswiderstand.The test apparatus 10 is configured as a transformer tester, which may be portable. The test apparatus 10 may be configured to automatically determine one or more characteristics of the transformer 60. Examples of such characteristics include a gear ratio, a leakage reactance, and a series resistance.

[0090] Die Prüfvorrichtung 10 weist eine Benutzerschnittstelle 25. Die Prüfvorrichtung 10 und die Benutzerschnittstelle 25 können die unter Bezugnahme auf Figur 1 bis Figur 7 beschriebenen Merkmale aufweisen.The test apparatus 10 has a user interface 25. The test apparatus 10 and the user interface 25 may have the features described with reference to FIGS. 1 to 7.

[0091] Durch eine Betätigung der Eingabeeinrichtung 30 der Benutzerschnittstelle 25 kann eine Amplitude und/oder Phase eines Prüfsignals eingestellt werden. Die Prüfvorrichtung 10 kann mehrere Quellen 13, 63 aufweisen. Abhängig von der eingestellten Amplitude und/oder Phase kann die Steuereinrichtung 17 die mehreren Quellen 13, 63 selektiv in einer Serienschaltung oder einer Parallelschaltung zusammenschalten.By actuating the input device 30 of the user interface 25, an amplitude and / or phase of a test signal can be set. The test apparatus 10 may have a plurality of sources 13, 63. Depending on the adjusted amplitude and / or phase, the controller 17 may selectively interconnect the multiple sources 13, 63 in series or parallel connection.

[0092] Zum Kombinieren der mehreren Quellen 13, 63 kann die Prüfvorrichtung 10 eine Schaltanordnung 64 aufweisen. Die Schaltanordnung 64 kann mehrere elektrisch steuerbare Schalter umfassen. Die elektrisch steuerbaren Schalter können Relais sein. Die elektrisch steuerbaren Schalter können Halbleiterbauelemente sein. Die Schaltanordnung 64 kann eingerichtet sein, um die mehrere Quellen 13, 63 in einer Serienschaltung zu kombinieren. Die Schaltanordnung 64 kann alternativ oder zusätzlich eingerichtet sein, um die mehreren Quellen 13, 63 in einer Parallelschaltung zu kombinieren.For combining the multiple sources 13, 63, the test apparatus 10 may include a switching arrangement 64. The switching arrangement 64 may comprise a plurality of electrically controllable switches. The electrically controllable switches can be relays. The electrically controllable switches may be semiconductor devices. The switching arrangement 64 may be arranged to combine the multiple sources 13, 63 in a series connection. The switching arrangement 64 may alternatively or additionally be arranged to combine the multiple sources 13, 63 in a parallel connection.

[0093] Die Steuereinrichtung 17 kann die Schaltanordnung 64 derart steuern, dass die mehreren Quellen 13, 63 in einer Serienschaltung kombiniert werden, wenn eine mit der Eingabeeinrichtung 30 eingestellte Amplitude eines Prüfsignals, das ein Spannungssignal ist, einen Spannungsschwellenwert übersteigt. Die Steuereinrichtung 17 kann alternativ oder zusätzlich die Schaltanordnung 64 derart steuern, dass die mehreren Quellen 13, 63 in einer Parallelschaltung kombiniert werden, wenn eine mit der Eingabeeinrichtung 30 eingestellte Amplitude eines Prüfsignals, das ein Stromsignal ist, einen Stromschwellenwert übersteigt.The controller 17 may control the switching arrangement 64 to combine the multiple sources 13, 63 in a series connection when an amplitude of a test signal, which is a voltage signal, set with the input device 30 exceeds a voltage threshold. The controller 17 may alternatively or additionally control the switching arrangement 64 such that the multiple sources 13, 63 are combined in a parallel connection when an amplitude of a test signal set by the input device 30 that is a current signal exceeds a current threshold.

[0094] Die Quellen 13, 63 können jeweils eine Stromquelle sein, die steuerbar ist, um einen Wechselstrom als Prüfsignal zu erzeugen. Die Quellen 13, 63 können jeweils steuerbar sein, um Wechselströme mit mehreren unterschiedlichen Frequenzen als Prüfsignal zu erzeugen. Die Quellen 13, 63 können jeweils auch jeweils eine Spannungsquelle sein. Die Quellen 13, 63 können jeweils in unterschiedlichen Betriebsmodi betreibbar sein, beispielsweise als Stromquelle oder als Spannungsquelle und/oder als Quelle eines zeitlich konstanten Signals oder eines Wechselsignals.The sources 13, 63 may each be a current source that is controllable to generate an alternating current as a test signal. The sources 13, 63 may each be controllable to generate alternating currents having a plurality of different frequencies as a test signal. The sources 13, 63 can each also be a voltage source in each case. The sources 13, 63 may each be operable in different operating modes, for example as a current source or as a voltage source and / or as a source of a time-constant signal or an alternating signal.

[0095] Die Prüfvorrichtung 10 kann alternativ oder zusätzlich zur Kombination mehrerer Quellen 13, 63 auch derart eingerichtet sein, dass die Schaltanordnung 64 ein Prüfsignal, das von einer Quelle oder von mehreren Quellen 13, 63 erzeugt wird, wahlweise an unterschiedlichen Ausgänge 21, 23 der Prüfvorrichtung ausgeben kann. Die Schaltanordnung 64 kann eingerichtet sein, um wahlweise einen Ausgang 21 oder einen weiteren Ausgang 23 mit einer oder mehreren Quellen 13, 63 zu verbinden. Die Steuereinrichtung 17 kann dazu die Schaltanordnung 64 so ansteuern, dass Prüfsignale zeitsequentiell an unterschiedlichen Ausgängen der Prüfvorrichtung 10 ausgegeben werden. Dadurch wird die Automatisierung der Transformatorprüfung erleichtert. Prüfsignale können zeitsequentiell wahlweise an einer Primärseite, einer Sekundärseite und, für einen Dreiwicklungstransformator, einer Tertiärseite eingespeist werden. Die Amplituden und/oder Phasen jedes der Prüfsignale können dabei jeweils über die Einstelleinrichtung 30 eingestellt werden.The test apparatus 10 may alternatively or in addition to the combination of multiple sources 13, 63 also be arranged such that the switching arrangement 64 generates a test signal which is generated by one or more sources 13, 63, optionally at different outputs 21, 23 the tester can spend. The switching arrangement 64 may be configured to selectively connect an output 21 or another output 23 to one or more sources 13, 63. The control device 17 can for this purpose control the switching arrangement 64 in such a way that test signals are output time sequentially at different outputs of the test apparatus 10. This facilitates the automation of the transformer test. Test signals can be fed in time sequential on either a primary side, a secondary side and, for a three-winding transformer, a tertiary side. The amplitudes and / or phases of each of the test signals can be adjusted in each case via the adjusting device 30.

[0096] Die Prüfvorrichtung 10 kann alternativ oder zusätzlich auch dazu eingerichtet sein, eine der Transformatorwicklungen kurzzuschließen. Beispielsweise kann wenigstens während eines Teils der Transformatorprüfung eine Wicklung des Transformators 60 durch einen steuerbaren Schalter der Prüfvorrichtung 10 kurzgeschlossen werden. Dadurch kann die Ermittlung bestimmter Kenngrößen wie Reaktanzen und Induktivitäten erleichtert werden.The test apparatus 10 may alternatively or additionally also be configured to short-circuit one of the transformer windings. For example, during at least part of the transformer test, a winding of the transformer 60 may be shorted by a controllable switch of the test apparatus 10. This facilitates the determination of specific parameters such as reactances and inductances.

[0097] Figur 9 ist ein Flussdiagramm eines Verfahrens 70. Das Verfahren 70 kann von der Prüfvorrichtung 10 nach einem Ausführungsbeispiel automatisch ausgeführt werden.FIG. 9 is a flowchart of a method 70. The method 70 may be performed automatically by the test apparatus 10 according to one embodiment.

[0098] Bei Schritt 71 wird eine Benutzerschnittstelle der Prüfvorrichtung überwacht. Dies kann ein Auswerten des Ausgangssignals eines Berührungssensors und/oder eines Näherungssensors umfassen.At step 71, a user interface of the test apparatus is monitored. This can include evaluating the output signal of a touch sensor and / or a proximity sensor.

[0099] Bei Schritt 72 wird überprüft, ob eine Eingabeeinrichtung 30 der Benutzerschnittstelle betätigt wurde. Dazu können Koordinaten, an denen ein Finger des Benutzers die Eingabeeinrichtung 30 berührt, mit den Koordinaten der Markierung 31 verglichen werden. Falls die Benutzerschnittstelle eine weitere Eingabeeinrichtung 36 aufweist, die ebenfalls berührt werden muss, kann die Überprüfung bei Schritt 72 zusätzlich beinhalten, dass weitere Koordinaten, an denen ein weiterer Finger des Benutzers die Eingabeeinrichtung 30 berührt, mit den Koordinaten der weiteren Eingabeeinrichtung 36 verglichen werden. Falls keine Betätigung erkannt wird, kann das Verfahren zu Schritt 72 zurückkehren.At step 72, it is checked whether an input device 30 of the user interface has been operated. For this purpose, coordinates at which a user's finger touches the input device 30 can be compared with the coordinates of the marker 31. If the user interface has another input device 36 that also has to be touched, the check at step 72 may additionally include comparing further coordinates at which another user's finger touches the input device 30 with the coordinates of the further input device 36. If no actuation is detected, the method may return to step 72.

[00100] Bei Schritt 73 wird, falls bei Schritt 72 eine Betätigung erkannt wird, eine Amplitude und/oder eine Phase des Prüfsignals abhängig von der Betätigung inkrementiert oder dekre-mentiert. Dabei kann abhängig von der Stellung der Eingabeeinrichtung der Betrag des Inkrements oder Dekrements festgelegt werden, um das die Amplitude und/oder Phase pro Zeiteinheit während der Verweildauer des Fingers bei dieser Position verändert wird.At step 73, if an operation is detected at step 72, an amplitude and / or phase of the test signal is incremented or decremented depending on the operation. In this case, depending on the position of the input device, the amount of the increment or decrement can be determined by which the amplitude and / or phase per unit time during the dwell time of the finger is changed at this position.

[00101] Bei Schritt 74 kann überprüft werden, ob die Betätigung endet. Falls die Betätigung andauert, kann das Verfahren zu Schritt 73 zurückkehren, um die Amplitude und/oder Phase des Prüfsignals weiter zu inkrementieren oder dekrementieren.At step 74, it may be checked if the operation ends. If the actuation continues, the method may return to step 73 to further increment or decrement the amplitude and / or phase of the test signal.

[00102] Bei Schritt 75 wird als Reaktion auf das Ende der Betätigung die Eingabeeinrichtung automatisch in die Nullstellung zurückgesetzt. Die Steuereinrichtung 17 hört entsprechend auf, die Amplitude und/oder eine Phase zu verändern.At step 75, in response to the end of the operation, the input device is automatically reset to the zero position. The control device 17 accordingly stops changing the amplitude and / or a phase.

[00103] Bei Schritt 76 kann ein Prüfsignal gemäß den eingestellten Werten für die Amplitude und/oder Phase erzeugt und an den Prüfling angelegt oder eingespeist werden. Eine Prüfantwort des Prüflings kann erfasst und ausgewertet werden. Die Prüfantwort kann weiter verarbeitet werden, um eine oder mehrere Kenngrößen des Prüflings zu ermitteln.At step 76, a test signal may be generated in accordance with the adjusted amplitude and / or phase values and applied or applied to the device under test. A test response of the test object can be recorded and evaluated. The test response can be further processed to determine one or more parameters of the test object.

[00104] Die ermittelten Kenngrößen können abhängig vom Prüfling variieren. Beispielsweise können bei einer Transformatorprüfung Übersetzungsverhältnisse, Reaktanzen, Kurzschlussimpedanzen, Längswiderstände oder andere Kenngrößen ermittelt werden. Bei der Prüfung eines Schutzschalters kann ermittelt werden, bei welcher Stromstärke der Schutzschalter auslöst.The determined characteristics may vary depending on the test object. For example, in a transformer test, gear ratios, reactances, short-circuit impedances, series resistances or other characteristics can be determined. When testing a circuit breaker, it can be determined at which current level the circuit breaker triggers.

[00105] Das Verfahren kann zu Schritt 71 zurückkehren.The process may return to step 71.

[00106] Mit Prüfvorrichtungen und Verfahren, wie sie unter Bezugnahme auf Figur 1 bis Figur 9 beschrieben wurden, kann die Amplitude und/oder die Phase eines Prüfsignals, aber auch ein anderer Parameter für die Prüfung des Prüflings eingestellt werden. Für eine Einstellung sowohl der Amplitude als auch der Phase können entweder zwei separate Schieber vorgesehen werden, oder ein Schieber kann zeitsequentiell sowohl die Einstellung der Amplitude als auch die Einstellung der Phase ermöglichen.With test devices and methods as described with reference to Figure 1 to Figure 9, the amplitude and / or the phase of a test signal, but also another parameter for the test of the specimen can be adjusted. For either amplitude or phase adjustment, either two separate sliders may be provided, or a slider may enable time sequential adjustment of both the amplitude and the phase adjustment.

[00107] Während Ausführungsbeispiele beschrieben wurden, bei denen die Eingabeeinrichtung 30 als eindimensionaler Schieber ausgestaltet ist, können auch andere Ausgestaltungen verwendet werden. Beispielsweise kann die Eingabeeinrichtung als zweidimensionaler Schieber ausgestaltet sein, bei dem eine Markierung über ein zweidimensionales Feld bewegt werden kann, um gleichzeitig eine Amplitude und eine Phase eines Prüfsignals einzustellen.While embodiments have been described in which the input device 30 is configured as a one-dimensional slider, other embodiments may be used. For example, the input device may be configured as a two-dimensional slider, in which a marker can be moved over a two-dimensional field in order to simultaneously set an amplitude and a phase of a test signal.

[00108] Figur 10 ist eine Darstellung einer Benutzerschnittstelle 25 mit einer Eingabeeinrichtung 80, die als zweidimensionaler Schieber ausgebildet ist. Die zueinander orthogonalen Koordinatenachsen des zweidimensionalen Schiebers können der Amplitude und der Phase des Prüfsignals zugeordnet sein.FIG. 10 is a representation of a user interface 25 with an input device 80, which is designed as a two-dimensional slider. The mutually orthogonal coordinate axes of the two-dimensional slider may be associated with the amplitude and the phase of the test signal.

[00109] Eine Markierung 81 kann wie unter Bezugnahme auf Figur 1 bis Figur 9 beschrieben durch eine Betätigung durch den Benutzer über das Feld des zweidimensionalen Schiebers bewegt werden. Die Amplitude und Phase können abhängig von der Position, an der die Markierung 81 benutzerdefiniert verschoben wird, verändert werden.A marker 81 may be moved across the field of the two-dimensional slider as described with reference to FIGS. 1 to 9 by an operation by the user. The amplitude and phase may be changed depending on the position where the marker 81 is user-shifted.

[00110] Wenn die Betätigung der Eingabeeinrichtung 80 endet, kann die Steuereinrichtung 17 die Eingabeeinrichtung 80 automatisch in eine Nullstellung zurücksetzen.When the operation of the input device 80 ends, the control device 17 can automatically reset the input device 80 to a zero position.

[00111] Eine weitere Eingabeeinrichtung 36 kann aus Sicherheitsgründen vorgesehen sein, um eine Veränderung von Parametern des Prüfsignals über die Eingabeeinrichtung 80 nur zu erlauben, wenn gleichzeitig die weitere Eingabeeinrichtung 36 betätigt wird.A further input device 36 may be provided for safety reasons, to allow a change of parameters of the test signal via the input device 80 only when the other input device 36 is actuated simultaneously.

[00112] Ein zweidimensionaler Schieber, wie er unter Bezugnahme auf Figur 10 beschrieben wurde, kann bei jeder der Prüfvorrichtungen eingesetzt werden.A two-dimensional slider as described with reference to Fig. 10 may be used in each of the test devices.

[00113] Während Ausführungsbeispiele unter Bezugnahme auf die Figuren detailliert beschrieben wurden, können bei weiteren Ausführungsbeispielen alternative oder zusätzliche Merkmale verwendet werden. Während beispielsweise bestimmte Messungen wie die Bestimmung von Übersetzungsverhältnissen, von Widerständen, von Streureaktanzen und/oder Streuinduktivitäten beispielhaft beschrieben wurden, können durch die Prüfvorrichtungen alternativ oder zusätzlich andere Kenngrößen des Prüflings bestimmt werden.While embodiments have been described in detail with reference to the figures, alternative or additional features may be used in other embodiments. For example, while certain measurements such as the determination of gear ratios, resistances, stray reactances, and / or stray inductances have been described by way of example, the test devices may alternatively or additionally determine other characteristics of the device under test.

[00114] Während bei Ausführungsbeispielen die Benutzerschnittstelle eine grafische Benutzerschnittstelle sein kann, können die beschriebenen Techniken auch eingesetzt werden, wenn die Benutzerschnittstelle keine Anzeigeeinheit aufweist.While in embodiments the user interface may be a graphical user interface, the techniques described may also be employed when the user interface does not include a display unit.

[00115] Vorrichtung, Verfahren und Systeme nach Ausführungsbeispielen erlauben eine sichere und zuverlässige Einstellung von Parametern für eine Prüfung eines Prüflings, beispielsweise für eine Transformatorprüfung.Apparatus, methods and systems according to embodiments allow a safe and reliable setting of parameters for a test of a test specimen, for example for a transformer test.

Claims (16)

Patentansprücheclaims 1. Prüfvorrichtung, insbesondere zur Verwendung bei einer Transformatorprüfung, umfassend eine Benutzerschnittstelle (25), die wenigstens einen Berührungssensor (26) und/oder einen Näherungssensor umfasst, und eine Steuereinrichtung (17), die mit der Benutzerschnittstelle (25) gekoppelt ist und die eingerichtet ist, um eine Amplitude und/oder eine Phase eines Prüfsignals zum Prüfen eines Prüflings (60) abhängig von einer Betätigung der Benutzerschnittstelle (25) einzustellen, wobei die Benutzerschnittstelle (25) eine Eingabeeinrichtung (30; 80) aufweist und wobei die Prüfvorrichtung (10) eingerichtet ist, um die Eingabeeinrichtung (30; 80) automatisch in eine Nullstellung zurückzusetzen, wenn eine Berührung der Eingabeeinrichtung (30; 80) endet.A test device, in particular for use in a transformer test, comprising a user interface (25) comprising at least one touch sensor (26) and / or a proximity sensor, and a control device (17) coupled to the user interface (25) and the is arranged to set an amplitude and / or a phase of a test signal for testing a test object (60) in dependence on an actuation of the user interface (25), wherein the user interface (25) has an input device (30; 80) and wherein the test device ( 10) is adapted to automatically reset the input means (30; 80) to a zero position when a touch of the input means (30; 80) ends. 2. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, wobei die Eingabeeinrichtung (30; 80) einen Schieber umfasst.The test apparatus according to claim 1, wherein said input means (30; 80) comprises a slider. 3. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1 oder Anspruch 2, wobei mit der Eingabeeinrichtung (30; 80) ein Inkrement der Amplitude und/oder der Phase einstellbar ist.3. A test apparatus according to claim 1 or claim 2, wherein an increment of the amplitude and / or the phase is adjustable with the input device (30; 80). 4. Prüfvorrichtung nach Anspruch 3, wobei das Inkrement eine nichtlineare Funktion (51, 52) einer Position des Schiebers ist.The test apparatus of claim 3, wherein the increment is a non-linear function (51, 52) of a position of the slider. 5. Prüfvorrichtung nach Anspruch 4, wobei die nichtlineare Funktion (51, 52) über die Benutzerschnittstelle (25) auswählbar ist.5. A test apparatus according to claim 4, wherein the non-linear function (51, 52) is selectable via the user interface (25). 6. Prüfvorrichtung nach Anspruch 5, wobei die nichtlineare Funktion (51, 52) aus einer Mehrzahl vordefinierter Funktionen (51, 52) über die Benutzerschnittstelle (25) auswählbar ist.The test apparatus of claim 5, wherein the non-linear function (51, 52) is selectable from a plurality of predefined functions (51, 52) via the user interface (25). 7. Prüfvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei mit der Eingabeeinrichtung (30; 80) sowohl die Amplitude als auch die Phase des Prüfsignals einstellbar ist.7. Test device according to one of the preceding claims, wherein with the input device (30; 80) both the amplitude and the phase of the test signal is adjustable. 8. Prüfvorrichtung nach Anspruch 7, wobei die Eingabeeinrichtung (80) ein zweidimensionaler Schieber ist.A test apparatus according to claim 7, wherein said input means (80) is a two-dimensional slider. 9. Prüfvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Benutzerschnittstelle (25) eine weitere Eingabeeinrichtung (36) umfasst, und wobei die Steuereinrichtung (17) eingerichtet ist, um die Amplitude und/oder Phase des Prüfsignals abhängig davon zu verändern, ob die Eingabeeinrichtung (30; 80) und die weitere Eingabeeinrichtung (36) gleichzeitig betätigt werden.A test apparatus according to any one of the preceding claims, wherein the user interface (25) comprises further input means (36), and wherein the control means (17) is arranged to change the amplitude and / or phase of the test signal depending on whether the input means (30, 80) and the further input device (36) are operated simultaneously. 10. Prüfvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, umfassend eine Signalquelle (13), wobei die Steuereinrichtung (17) eingerichtet ist, um die Signalquelle (13; 13, 63) zum Erzeugen des Prüfsignals abhängig von der Betätigung der Benutzerschnittstelle (25) zu steuern.A test apparatus according to any one of the preceding claims, comprising a signal source (13), the control means (17) being arranged to control the signal source (13; 13, 63) for generating the test signal in response to the operation of the user interface (25) , 11. Prüfvorrichtung nach Anspruch 10, umfassend eine weitere Signalquelle (63), wobei die Steuereinrichtung (17) eingerichtet ist, um die Signalquelle (13) und die weitere Signalquelle (63) abhängig von der mit der Eingabeeinrichtung (30; 80) eingestellten Amplitude selektiv in einer Serienschaltung oder einer Parallelschaltung zu kombinieren.11. A test apparatus according to claim 10, comprising a further signal source (63), wherein the control means (17) is adapted to the signal source (13) and the further signal source (63) depending on the amplitude set with the input device (30; selectively combine in a series connection or a parallel connection. 12. Prüfvorrichtung nach Anspruch 10 oder Anspruch 11, umfassend eine Mehrzahl von Ausgängen (21,22) und eine steuerbare Schaltanordnung (64), die zwischen die Signalquelle (13) und die Mehrzahl von Ausgängen (21,22) geschaltet ist, wobei die Steuereinrichtung (17) eingerichtet ist, um die Signalquelle (13) zeitsequentiell mit unterschiedlichen Ausgängen der Mehrzahl von Ausgängen (21, 22) leitend zu verbinden.A test apparatus as claimed in claim 10 or claim 11, comprising a plurality of outputs (21,22) and a controllable switching arrangement (64) connected between the signal source (13) and the plurality of outputs (21,22), the Control means (17) is arranged to conductively connect the signal source (13) with different outputs of the plurality of outputs (21, 22) in a time-sequential manner. 13. Prüfvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Prüfvorrichtung (10) eine Transformatorprüfvorrichtung ist.13. Test device according to one of the preceding claims, wherein the test device (10) is a Transformatorprüfvorrichtung. 14. System, umfassend einen Transformator (60) und eine Prüfvorrichtung (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, die mit dem Transformator (60) verbunden ist.A system comprising a transformer (60) and a tester (10) according to any one of the preceding claims connected to the transformer (60). 15. Verfahren zum Steuern einer Prüfvorrichtung (10), die eine Benutzerschnittstelle (25) mit wenigstens einem Berührungssensor (26) und/oder Näherungssensor umfasst, wobei das Verfahren umfasst: Erfassen einer Betätigung einer Eingabeeinrichtung (30; 80) der Benutzerschnittstelle (25), Einstellen einer Amplitude und/oder einer Phase eines Prüfsignals zum Prüfen eines Prüflings (60) abhängig von der erfassten Betätigung und automatisches Zurücksetzen der Eingabeeinrichtung (30; 80) in eine Nullstellung bei einem Ende der Betätigung.A method of controlling a test device (10) comprising a user interface (25) having at least one touch sensor (26) and / or proximity sensor, the method comprising: detecting an operation of an input device (30; 80) of the user interface (25). Adjusting an amplitude and / or phase of a test signal to test a device under test (60) in response to the detected actuation and automatically reset the input device (30; 80) to a zero position at an end of actuation. 16. Verfahren nach Anspruch 15, wobei das Verfahren mit der Prüfvorrichtung (10) nach einem der Ansprüche 1 bis 13 ausgeführt wird. Hierzu 7 Blatt Zeichnungen16. The method of claim 15, wherein the method with the test device (10) according to one of claims 1 to 13 is executed. For this 7 sheets drawings
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005196476A (en) * 2004-01-07 2005-07-21 Yamaha Corp Parameter setting device
US6922816B1 (en) * 2000-08-24 2005-07-26 International Business Machines Corporation Method and system for adjusting settings with slider controls having variable sensitivity
US20120036480A1 (en) * 2010-08-09 2012-02-09 Peter Warner Two-dimensional slider control
US20120235910A1 (en) * 2011-03-16 2012-09-20 Avo Multi-Amp Corporation D/B/A Megger Environmentally Sealed Controller
US20130014057A1 (en) * 2011-07-07 2013-01-10 Thermal Matrix USA, Inc. Composite control for a graphical user interface
EP2624114A1 (en) * 2012-02-02 2013-08-07 Siemens Aktiengesellschaft Hand-held control device for controlling a device and method
US20140125351A1 (en) * 2012-11-05 2014-05-08 Doble Engineering Company Method and apparatus for testing utility power devices
EP2767891A2 (en) * 2013-02-14 2014-08-20 Honeywell International Inc. Slider control for graphical user interface and method for use thereof

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7562310B2 (en) * 2006-04-04 2009-07-14 International Business Machines Corporation Slider control movable in a two-dimensional region for simultaneously adjusting values of multiple variables
US9141267B2 (en) * 2007-12-20 2015-09-22 Ebay Inc. Non-linear slider systems and methods
KR101269702B1 (en) * 2010-10-20 2013-05-30 윤기정 Device For Audio Control Using Multi-Dimensional Screen and Method of the same
US9069452B2 (en) * 2010-12-01 2015-06-30 Apple Inc. Morphing a user-interface control object
EP3480684B1 (en) * 2012-08-20 2021-12-15 Sony Group Corporation Electronic apparatus, apparatus operation method, and program
ES2749449T3 (en) * 2013-04-05 2020-03-20 Omicron Electronics Gmbh Method and device for testing a transformer

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6922816B1 (en) * 2000-08-24 2005-07-26 International Business Machines Corporation Method and system for adjusting settings with slider controls having variable sensitivity
JP2005196476A (en) * 2004-01-07 2005-07-21 Yamaha Corp Parameter setting device
US20120036480A1 (en) * 2010-08-09 2012-02-09 Peter Warner Two-dimensional slider control
US20120235910A1 (en) * 2011-03-16 2012-09-20 Avo Multi-Amp Corporation D/B/A Megger Environmentally Sealed Controller
US20130014057A1 (en) * 2011-07-07 2013-01-10 Thermal Matrix USA, Inc. Composite control for a graphical user interface
EP2624114A1 (en) * 2012-02-02 2013-08-07 Siemens Aktiengesellschaft Hand-held control device for controlling a device and method
US20140125351A1 (en) * 2012-11-05 2014-05-08 Doble Engineering Company Method and apparatus for testing utility power devices
EP2767891A2 (en) * 2013-02-14 2014-08-20 Honeywell International Inc. Slider control for graphical user interface and method for use thereof

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