WO2021014917A1 - 半導体レーザ装置 - Google Patents

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WO2021014917A1
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semiconductor laser
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terminal
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敦司 山口
晃輝 坂本
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ローム株式会社
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    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45117Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
    • H01L2224/45124Aluminium (Al) as principal constituent
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    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
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    • H01L2224/45099Material
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    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45147Copper (Cu) as principal constituent
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    • H01L2224/48108Connecting bonding areas at different heights the connector not being orthogonal to a side surface of the semiconductor or solid-state body, e.g. fanned-out connectors, radial layout
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    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
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    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
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    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48465Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
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    • H01L2224/4911Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain
    • H01L2224/49111Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain the connectors connecting two common bonding areas, e.g. Litz or braid wires
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    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
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    • H01L24/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
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    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4025Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
    • H01S5/4031Edge-emitting structures

Definitions

  • This disclosure relates to a semiconductor laser device.
  • a semiconductor laser device used as a light source of LiDAR includes a laser diode and a transistor connected in series with the laser diode, and emits laser light having a pulse width of several tens of ns or less by switching the transistor on and off.
  • the pulse width is several tens of ns or less
  • the time change rate of the current flowing through the laser diode increases, and the counter electromotive voltage due to the inductance in the semiconductor laser device may increase.
  • the counter electromotive voltage may affect the gate voltage of the transistor. Note that such a problem is not limited to the transistor, and similarly, when another switching element is used, the counter electromotive voltage due to the inductance affects the control voltage applied to the control electrode of the switching element. There is.
  • An object of the present disclosure is to provide a semiconductor laser device capable of reducing the influence of a counter electromotive voltage due to inductance on a control voltage of a switching element.
  • the semiconductor laser apparatus has a semiconductor laser element, a control electrode, a first drive electrode, and a second drive electrode connected in series to the semiconductor laser element, and a voltage applied to the control electrode.
  • a switching element that controls the current flowing through the semiconductor laser element according to the above, a capacitor connected in parallel to the semiconductor laser element and the switching element, and a first driving conductive portion to which the first terminal of the capacitor is connected.
  • a first drive connecting member that connects the second drive conductive portion arranged apart from the first drive conductive portion, the first drive conductive portion, and the second drive electrode. And a second drive connecting member connecting the second drive conductive portion and the second drive electrode.
  • the second path of the current flowing through the second driving conductive portion via the connecting member is individually formed.
  • the semiconductor laser apparatus has a semiconductor laser element, a control electrode, a first drive electrode, and a second drive electrode connected in series to the semiconductor laser element, and a voltage applied to the control electrode.
  • a switching element that controls the current flowing through the semiconductor laser element according to the above, a capacitor connected in parallel to the semiconductor laser element and the switching element, and a first driving conductivity to which the first terminal of the capacitor is connected. It has a part and.
  • the first drive conductive portion is provided on the side opposite to the first end portion to which the first terminal of the capacitor is connected and the first end portion in the direction in which the first drive conductive portion extends. It has a second end and a second end.
  • the semiconductor laser device includes a first drive connecting member that connects the side of the first drive conductive portion close to the first terminal of the capacitor, the second drive electrode, and the first drive. Further, a side of the conductive portion closer to the second end portion of the capacitor than the first terminal, and a second drive connecting member connecting the second drive electrode are further provided.
  • switching is performed with the first path of the current flowing from the second drive electrode of the switching element to the side of the first drive conductive portion close to the first terminal of the capacitor via the first drive connection member.
  • a second path of a current flowing from the second drive electrode of the element to the side of the first drive conductive portion close to the control electrode via the second drive connection member is individually formed.
  • the semiconductor laser apparatus has a semiconductor laser element, a control electrode, a first drive electrode, and a second drive electrode connected in series to the semiconductor laser element, and a voltage applied to the control electrode.
  • a switching element that controls the current flowing through the semiconductor laser element according to the above, a capacitor connected in parallel to the semiconductor laser element and the switching element, and a first driving conductive portion to which the first terminal of the capacitor is connected.
  • a driver circuit that applies a voltage to the control electrode of the switching element, a first drive connection member that connects the first drive conductive portion and the second drive electrode, the driver circuit, and the second drive electrode.
  • a second drive connecting member for connecting the drive electrode is provided.
  • a second path of current flowing through the driver circuit via the connecting member is formed individually.
  • the influence of the counter electromotive voltage caused by the inductance on the control voltage of the switching element can be reduced.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line 4-4 of FIG.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line 5-5 of FIG.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line 6-6 of FIG.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line 7-7 of FIG.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line 8-8 of FIG.
  • the cross-sectional view which shows the typical element cross-sectional structure of the semiconductor laser element of 1st Embodiment.
  • the graph which shows the transition of the current flowing through a semiconductor laser element and the voltage applied to the gate electrode of a switching element about the semiconductor laser apparatus of the comparative example.
  • FIG. 5 is a plan view showing an internal configuration of the semiconductor laser device with the sealing member removed for a modified example of the semiconductor laser device of the first embodiment.
  • FIG. 5 is a plan view showing an internal configuration of the semiconductor laser device with the sealing member removed for a modified example of the semiconductor laser device of the first embodiment.
  • FIG. 5 is a plan view showing an internal configuration of the semiconductor laser device with the sealing member removed for a modified example of the semiconductor laser device of the first embodiment.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing a schematic element cross-sectional structure of a semiconductor laser element of the semiconductor laser apparatus of FIG.
  • FIG. 5 is a plan view showing an internal configuration of the semiconductor laser device with the sealing member removed for a modified example of the semiconductor laser device of the first embodiment.
  • the back view of the semiconductor laser apparatus of FIG. 23 Sectional drawing along line 25-25 of FIG.
  • the plan view which shows the internal structure of the semiconductor laser apparatus of 2nd Embodiment by removing the sealing member.
  • the back view of the semiconductor laser apparatus of FIG. 26 The plan view which shows the internal structure of the semiconductor laser apparatus of 3rd Embodiment by removing the sealing member.
  • FIG. 3 is a plan view showing an internal configuration of the semiconductor laser device with the sealing member removed for a modified example of the semiconductor laser device of the third embodiment.
  • FIG. 3 is a plan view showing an internal configuration of the semiconductor laser device with the sealing member removed for a modified example of the semiconductor laser device of the third embodiment.
  • FIG. 3 is a plan view showing an internal configuration of the semiconductor laser device with the sealing member removed for a modified example of the semiconductor laser device of the third embodiment.
  • the plan view which shows the internal structure of the semiconductor laser apparatus of 4th Embodiment by removing the sealing member.
  • FIG. 5 is a plan view showing an internal configuration of the semiconductor laser device with the sealing member removed for a modified example of the semiconductor laser device of the fourth embodiment.
  • FIG. 5 is a plan view showing an internal configuration of the semiconductor laser device with the sealing member removed for a modified example of the semiconductor laser device of the fourth embodiment.
  • FIG. 5 is a plan view showing an internal configuration of the semiconductor laser device with the sealing member removed for a modified example of the semiconductor laser device of the fourth embodiment.
  • FIG. 5 is a plan view showing an internal configuration of the semiconductor laser device with the sealing member removed for a modified example of the semiconductor laser device of the fourth embodiment.
  • FIG. 5 is a plan view showing an internal configuration of the semiconductor laser device with the sealing member removed for a modified example of the semiconductor laser device of the fourth embodiment.
  • FIG. 5 is a plan view showing an internal configuration of the semiconductor laser device with the sealing member removed for a modified example of the semiconductor laser device of the fourth embodiment.
  • FIG. 5 is a plan view showing an internal configuration of the semiconductor laser device with the sealing member removed for a modified example of the semiconductor laser device of the fourth embodiment.
  • the plan view which shows the internal structure of the semiconductor laser apparatus of 5th Embodiment by removing the sealing member.
  • the back view of the semiconductor laser apparatus of FIG. 44 The schematic diagram for demonstrating the connection structure in the case where the semiconductor laser apparatus of 5th Embodiment is used in a laser system.
  • FIG. 1 shows a configuration in which a semiconductor laser device 1A is used in a laser system 100 as LiDAR.
  • the semiconductor laser device 1A includes a semiconductor laser element 10, a switching element 20, a capacitor 30, and a plurality of terminals 40.
  • the semiconductor laser diode device 1A includes five terminals 40.
  • the semiconductor laser device 1A may be used in a laser system for two-dimensional distance measurement. Further, the number of terminals 40 can be arbitrarily changed.
  • the laser system 100 includes a power supply 110, a current limiting resistor 120, a diode 130, and a driver circuit 140.
  • the power supply 110 is a power supply having a positive electrode 111 and a negative electrode 112, and supplies electric power to the semiconductor laser element 10.
  • the current limiting resistor 120 is provided between the positive electrode 111 of the power supply 110 and the semiconductor laser element 10, and limits the current flowing from the power supply 110 to the semiconductor laser element 10.
  • the diode 130 has an anode electrode 131 and a cathode electrode 132, and is connected in antiparallel to the semiconductor laser element 10 to prevent backflow to the semiconductor laser element 10. In the laser system 100 of FIG. 1, a Schottky barrier diode is used as the diode 130.
  • the driver circuit 140 has an output electrode 141 and an input electrode 142, and outputs a control signal for controlling on / off of the switching element 20 to the switching element 20.
  • the semiconductor laser element 10 is a light source of the semiconductor laser device 1A, and for example, a pulse laser diode is used.
  • GaAs gallium arsenide
  • the semiconductor laser device 10 includes an anode electrode 11 and a cathode electrode 12.
  • the switching element 20 is an element for turning on / off the current to the semiconductor laser element 10.
  • the semiconductor laser device 10 for example, one having a specification of an oscillation wavelength of 905 nm, an optical output of 75 W or more, and a pulse width of several tens of ns or less is used.
  • the semiconductor laser device 10 has a specification of an optical output of 150 W or more and a pulse width of 10 ns or less. More preferably, the semiconductor laser device 10 has a specification of a pulse width of 5 ns or less.
  • the switching element 20 for example, a transistor made of Si (silicon), SiC (silicon carbide), GaN (gallium nitride), or the like is used.
  • the switching element 20 is made of GaN or SiC, it is suitable for speeding up switching.
  • an N-type MOSFET (Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect-Transistor) made of Si is used as the switching element 20.
  • the switching element 20 includes a drain electrode 21 which is an example of a first drive electrode, a source electrode 22 which is an example of a second drive electrode, and a gate electrode 23 which is an example of a control electrode.
  • the capacitor 30 constitutes a capacitor bank for temporarily storing an electric charge that should be a current that energizes the semiconductor laser element 10.
  • the capacitor 30 stores electricity when the switching element 20 is in the off state, and discharges to the semiconductor laser element 10 when the switching element 20 is in the on state.
  • the number of capacitors 30 may be one or a plurality.
  • the capacity and the number of capacitors 30 are set according to the output of the semiconductor laser element 10.
  • the capacitor 30 has a first terminal 31 and a second terminal 32.
  • the semiconductor laser element 10 and the switching element 20 are connected in series. Specifically, the cathode electrode 12 of the semiconductor laser element 10 and the drain electrode 21 of the switching element 20 are electrically connected.
  • the anode electrode 11 of the semiconductor laser device 10 is electrically connected to the first power supply terminal 41.
  • the source electrode 22 of the switching element 20 is electrically connected to the second power supply terminal 42.
  • the anode electrode 131 of the diode 130 is electrically connected to the node N between the cathode electrode 12 of the semiconductor laser device 10 and the drain electrode 21 of the switching element 20.
  • the capacitor 30 is connected in parallel with the semiconductor laser element 10 and the switching element 20. Specifically, the first terminal 31 of the capacitor 30 is electrically connected to the source electrode 22 of the switching element 20, and the second terminal 32 of the capacitor 30 is electrically connected to the anode electrode 11 of the semiconductor laser element 10. Has been done.
  • the plurality of terminals 40 have a first power supply terminal 41, a second power supply terminal 42, a control terminal 43, a diode connection terminal 44, and a driver connection terminal 45.
  • the first power supply terminal 41 is electrically connected to the positive electrode 111 of the power supply 110 and the cathode electrode 132 of the diode 130. Further, the first power supply terminal 41 is electrically connected to the anode electrode 11 of the semiconductor laser element 10 and the second terminal 32 of the capacitor 30.
  • the second power supply terminal 42 is electrically connected to the negative electrode 112 of the power supply 110. Further, the second power supply terminal 42 is electrically connected to the source electrode 22 of the switching element 20 and the first terminal 31 of the capacitor 30.
  • the control terminal 43 is connected to the output electrode 141 of the driver circuit 140.
  • the diode connection terminal 44 is connected to the anode electrode 131 of the diode 130. Further, the diode connection terminal 44 is connected to a node N between the cathode electrode 12 of the semiconductor laser element 10 and the drain electrode 21 of the switching element 20. Therefore, the anode electrode 131 of the diode 130 and the cathode electrode 12 of the semiconductor laser element 10 are electrically connected via the diode connection terminal 44.
  • the driver connection terminal 45 is electrically connected to the input electrode 142 of the driver circuit 140.
  • the laser system 100 having such a configuration operates as follows. That is, when the switching element 20 is turned off by the control signal of the driver circuit 140, the power supply 110 stores the capacitor 30. Then, when the switching element 20 is turned on by the control signal of the driver circuit 140, the capacitor 30 is discharged and a current flows through the semiconductor laser element 10. As a result, the semiconductor laser element 10 outputs the pulsed laser light.
  • the semiconductor laser device 1A is modularized. That is, the semiconductor laser device 1A has a configuration in which the semiconductor laser element 10, the switching element 20, and the capacitor 30 are housed in one package. Hereinafter, the detailed configuration of such a semiconductor laser device 1A will be described.
  • the semiconductor laser device 1A supports the semiconductor laser element 10, the switching element 20, and the capacitor 30, and seals the support substrate 50 that forms a part of the package, the semiconductor laser element 10, the switching element 20, and the capacitor 30.
  • a sealing member 90 constituting a part of the package is provided.
  • the package of the semiconductor laser device 1A is composed of the support substrate 50 and the sealing member 90.
  • the semiconductor laser device 1A has two capacitors 30A and 30B as the capacitors 30.
  • the support substrate 50 constitutes a conductive path of the semiconductor laser element 10, the switching element 20, and the capacitor 30 (30A, 30B), and supports the semiconductor laser element 10, the switching element 20, and the capacitor 30.
  • the support substrate 50 has a base material 51 and a conductive portion 60.
  • the base material 51 is made of a material having electrical insulation.
  • the base material 51 is made of epoxy resin or ceramics.
  • a glass epoxy resin is used as the material constituting the base material 51.
  • the base material 51 has a base material main surface 51a, a base material back surface 51b, a first base material side surface 51c, a second base material side surface 51d, a third base material side surface 51e, and a fourth base material side surface 51f.
  • the thickness direction of the base material 51 is referred to as "thickness direction Z”
  • the directions orthogonal to each other in the direction orthogonal to the thickness direction Z are referred to as "horizontal direction X" and "vertical direction Y”.
  • the vertical direction Y corresponds to the first direction
  • the horizontal direction X corresponds to the second direction.
  • the base material main surface 51a and the base material back surface 51b are surfaces facing opposite to each other in the thickness direction Z.
  • the first base material side surface 51c, the second base material side surface 51d, the third base material side surface 51e, and the fourth base material side surface 51f are provided between the base material main surface 51a and the base material back surface 51b in the thickness direction Z, respectively. It is a surface facing in a direction intersecting the main surface 51a of the base material and the back surface 51b of the base material.
  • the side surface 51c of the first base material and the side surface 51d of the second base material face each other, and the side surface 51e of the third base material and the side surface 51f of the fourth base material face each other.
  • the side surface 51c of the first base material and the side surface 51d of the second base material face each other in the vertical direction Y and extend along the horizontal direction X.
  • the side surface 51e of the third base material and the side surface 51f of the fourth base material face each other in the lateral direction X and extend along the vertical direction Y.
  • the shape of the base material 51 in the plan view of the semiconductor laser device 1A (hereinafter, simply referred to as “plan view”) is rectangular.
  • the shape of the base material 51 in a plan view is such that the first base material side surface 51c and the second base material side surface 51d are in the long side direction, and the third base material side surface 51e and the fourth base material side surface 51f are short sides. It has a rectangular shape that serves as a direction.
  • the conductive portion 60 is provided on the base material 51 and constitutes a conductive path to the semiconductor laser element 10, the switching element 20, and the capacitor 30.
  • the material of the conductive portion 60 is not particularly limited, but for example, metals such as Cu (copper), Ni (nickel), Ti (titanium), and Au (gold) are used.
  • the method for forming the conductive portion 60 is not particularly limited, but the conductive portion 60 is formed, for example, by plating.
  • the conductive portion 60 has a main surface side conductive portion 60A as a driving conductive portion, a back surface side conductive portion 60B as a terminal conductive portion, and a connecting portion 60C.
  • the main surface side conductive portion 60A is formed on the base material main surface 51a of the base material 51.
  • the main surface side conductive portion 60A includes a pair of first drive conductive portions 61A and 61B, a second drive conductive portion 62, a third drive conductive portion 63, a pair of fourth drive conductive portions 64A and 64B, and a control. It has a conductive portion 65 for use.
  • the pair of first driving conductive portions 61A and 61B are arranged at both ends of the main surface 51a of the base material in the horizontal direction X and in the central portion in the vertical direction Y.
  • the first driving conductive portion 61A is arranged in a portion of the base material main surface 51a closer to the third base material side surface 51e at a distance from the third base material side surface 51e in the lateral direction X in a plan view. ..
  • the first driving conductive portion 61B is arranged in a portion of the base material main surface 51a near the fourth base material side surface 51f at a distance from the fourth base material side surface 51f in the lateral direction X in a plan view. ..
  • the shapes of the first driving conductive portions 61A and 61B in a plan view are rectangular in which the vertical direction Y is the long side direction and the horizontal direction X is the short side direction.
  • the first driving conductive portions 61A and 61B have the same shape in a plan view.
  • the shapes of the first driving conductive portions 61A and 61B in a plan view can be arbitrarily changed.
  • the shape of the first driving conductive portion 61A in the plan view may be different from the shape of the first driving conductive portion 61B in the plan view.
  • the third driving conductive portion 63 is arranged in a portion of the base material main surface 51a between the pair of first driving conductive portions 61A and 61B in the lateral direction X.
  • the shape of the third driving conductive portion 63 in a plan view is convex.
  • the third driving conductive portion 63 includes a switching element mounting portion 63a which is a portion sandwiched between the pair of first driving conductive portions 61A and 61B, and a semiconductor laser element protruding in the vertical direction Y from the switching element mounting portion 63a. It can be divided into a mounting unit 63b.
  • the switching element mounting portion 63a is arranged in the portion of the base material main surface 51a closer to the second base material side surface 51d in the vertical direction Y.
  • the switching element mounting portion 63a is arranged at intervals from the pair of first driving conductive portions 61A and 61B in the lateral direction X.
  • the shape of the switching element mounting portion 63a in a plan view is a square.
  • the size of the switching element mounting portion 63a in the lateral direction X is larger than the size of the pair of first driving conductive portions 61A and 61B in the lateral direction X, respectively.
  • the size of the switching element mounting portion 63a in the vertical direction Y is not particularly limited, but in the present embodiment, it is equal to the size of the pair of first driving conductive portions 61A and 61B in the vertical direction Y, respectively.
  • the difference between the size of the switching element mounting portion 63a in the vertical direction Y and the size of the pair of first driving conductive portions 61A and 61B in the vertical direction Y is the vertical direction of the pair of first driving conductive portions 61A and 61B. If it is within 5% of the size of Y, it can be said that the size of the switching element mounting portion 63a in the vertical direction Y is equal to the size of the pair of first driving conductive parts 61A and 61B in the vertical direction Y.
  • the switching element 20 is mounted on the switching element mounting unit 63a. As shown in FIGS. 2 and 4, the switching element 20 is formed in a flat plate shape.
  • the switching element 20 has an element body 24 made of a semiconductor material such as Si or SiC.
  • the element main body 24 has an element main surface 24a and an element back surface 24b facing opposite sides in the thickness direction Z.
  • the element main surface 24a is a surface of the semiconductor laser element 10 facing the same side as the laser element main surface 10a.
  • the element back surface 24b is a surface facing the same side as the laser element back surface 10b.
  • a source electrode 22 and a gate electrode 23 are formed on the element main surface 24a.
  • the source electrode 22 is formed over most of the element main surface 24a.
  • the shape of the source electrode 22 in a plan view is a concave shape that opens toward the side surface 51d of the second base material.
  • the source electrode 22 is formed with a recess 22a that is recessed in the vertical direction Y in a plan view.
  • the recess 22a is formed at the end of the source electrode 22 near the side surface 51d of the second base material and at the center of the lateral direction X.
  • a gate electrode 23 is formed in the recess 22a.
  • a drain electrode 21 is formed on the back surface 24b of the element.
  • the drain electrode 21 is formed over, for example, the entire back surface 24b of the element.
  • the switching element 20 of this embodiment is a transistor having a so-called vertical structure.
  • the semiconductor laser element mounting portion 63b is arranged at the end of the switching element mounting portion 63a near the side surface 51c of the first base material in the vertical direction Y and at the center of the switching element mounting portion 63a in the horizontal direction X.
  • the shape of the semiconductor laser element mounting portion 63b in a plan view is a rectangular shape in which the vertical direction Y is the long side direction and the horizontal direction X is the short side direction.
  • the size of the semiconductor laser element mounting portion 63b in the lateral direction X is smaller than the size of the switching element mounting portion 63a in the lateral direction X.
  • the size of the semiconductor laser element mounting portion 63b in the lateral direction X is smaller than the size of the pair of first driving conductive portions 61A and 61B in the lateral direction X.
  • the size of the semiconductor laser element mounting portion 63b in the vertical direction Y is smaller than the size of the switching element mounting portion 63a in the vertical direction Y. Further, the size of the semiconductor laser element mounting portion 63b in the vertical direction Y is smaller than the size of the pair of first driving conductive portions 61A and 61B in the vertical direction Y.
  • the semiconductor laser element 10 is mounted on the semiconductor laser element mounting unit 63b. As shown in FIGS. 2 and 4, the semiconductor laser device 10 is formed in a flat plate shape.
  • the shape of the semiconductor laser device 10 in a plan view is a rectangular shape in which the vertical direction Y is the long side direction and the horizontal direction X is the short side direction.
  • the semiconductor laser element 10 has a laser element main surface 10a and a laser element back surface 10b facing opposite sides in the thickness direction Z.
  • the anode electrode 11 is formed on the main surface 10a of the laser element
  • the cathode electrode 12 is formed on the back surface 10b of the laser element.
  • the shape of the switching element mounting portion 63a in a plan view can be arbitrarily changed.
  • the shape of the switching element mounting portion 63a in a plan view may be a rectangular shape in which one of the horizontal direction X and the vertical direction Y is the long side direction and the other of the horizontal direction X and the vertical direction Y is the short side direction. ..
  • the shape of the semiconductor laser element mounting portion 63b in a plan view can be arbitrarily changed.
  • the shape of the semiconductor laser device mounting portion 63b in a plan view may be a square shape, or a rectangular shape in which the horizontal direction X is the long side direction and the vertical direction Y is the short side direction.
  • the pair of fourth driving conductive portions 64A and 64B are arranged at the ends of the base material main surface 51a near the side surface 51c of the first base material in the vertical direction Y, respectively.
  • the pair of fourth driving conductive portions 64A and 64B are arranged apart from the first base material side surface 51c in the vertical direction Y.
  • the fourth driving conductive portion 64A is arranged at the end portion of the base material main surface 51a near the third base material side surface 51e.
  • the fourth driving conductive portion 64A is arranged apart from the third base material side surface 51e in the lateral direction X.
  • the fourth driving conductive portion 64B is arranged at an end portion of the base material main surface 51a near the side surface 51f of the fourth base material.
  • the fourth driving conductive portion 64B is arranged apart from the fourth base material side surface 51f in the lateral direction X.
  • the pair of fourth driving conductive portions 64A and 64B are arranged on both sides of the semiconductor laser element mounting portion 63b in the lateral direction X at intervals from the semiconductor laser element mounting portion 63b in the lateral direction X.
  • the fourth driving conductive portion 64A is arranged so as to overlap with the first driving conductive portion 61A. Further, when viewed from the vertical direction Y, the end portion of the fourth driving conductive portion 64A closer to the semiconductor laser element mounting portion 63b overlaps with the end portion of the switching element mounting portion 63a closer to the third base material side surface 51e. It is arranged like this.
  • the fourth driving conductive portion 64B is arranged so as to overlap with the first driving conductive portion 61B. Further, when viewed from the vertical direction Y, the end portion of the fourth driving conductive portion 64B near the semiconductor laser element mounting portion 63b overlaps with the end portion of the switching element mounting portion 63a near the side surface 51f of the fourth base material. It is arranged like this. Seen from the lateral direction X, the pair of fourth driving conductive portions 64A and 64B are arranged so as to overlap with the semiconductor laser element mounting portion 63b.
  • the shape of the pair of fourth driving conductive portions 64A and 64B in a plan view is a rectangular shape in which the horizontal direction X is the long side direction and the vertical direction Y is the short side direction.
  • the size of the pair of fourth driving conductive portions 64A and 64B in the lateral direction X is larger than the size of the pair of first driving conductive portions 61A and 61B in the lateral direction X.
  • the size of the pair of fourth driving conductive portions 64A and 64B in the vertical direction Y is smaller than the size of the pair of first driving conductive portions 61A and 61B in the vertical direction Y.
  • the size of the pair of fourth driving conductive portions 64A and 64B in the vertical direction Y is smaller than the size of the semiconductor laser element mounting portion 63b in the vertical direction Y.
  • the shapes of the fourth driving conductive portions 64A and 64B in a plan view are the same as each other.
  • the shapes of the fourth driving conductive portions 64A and 64B in a plan view can be arbitrarily changed.
  • the shape of the fourth driving conductive portion 64A in the plan view may be different from the shape of the fourth driving conductive portion 64B in the plan view.
  • the second driving conductive portion 62 and the controlling conductive portion 65 are respectively arranged at the ends of the main surface 51a of the base material closer to the side surface 51d of the second base material in the vertical direction Y.
  • the second driving conductive portion 62 and the controlling conductive portion 65 are arranged along the lateral direction X in a state of being separated from each other in the lateral direction X.
  • the second driving conductive portion 62 and the controlling conductive portion 65 are respectively arranged so as to be separated from the second base material side surface 51d in the vertical direction Y.
  • the second driving conductive portion 62 is arranged at the end portion of the base material main surface 51a near the fourth base material side surface 51f in the lateral direction X.
  • the second driving conductive portion 62 is arranged apart from the fourth base material side surface 51f in the lateral direction X.
  • the control conductive portion 65 is arranged at the end portion of the base material main surface 51a near the third base material side surface 51e in the lateral direction X.
  • the control conductive portion 65 is arranged apart from the third base material side surface 51e in the lateral direction X.
  • the shape of the second driving conductive portion 62 in a plan view is a rectangular shape in which the horizontal direction X is the long side direction and the vertical direction Y is the short side direction.
  • the size of the second driving conductive portion 62 in the vertical direction Y is smaller than the size of the pair of first driving conductive portions 61A and 61B and the switching element mounting portion 63a in the vertical direction Y.
  • the size of the second driving conductive portion 62 in the lateral direction X is larger than the size of the pair of first driving conductive portions 61A and 61B in the lateral direction X.
  • the size of the second driving conductive portion 62 in the lateral direction X is larger than the size of the pair of fourth driving conductive portions 64A and 64B in the lateral direction X.
  • the shape of the second driving conductive portion 62 in a plan view can be arbitrarily changed.
  • the shape of the second driving conductive portion 62 in a plan view may be a square shape, or a rectangular shape in which the vertical direction Y is the long side direction and the horizontal direction X is the short side direction.
  • the shape of the control conductive portion 65 in a plan view is a rectangular shape in which the horizontal direction X is the long side direction and the vertical direction Y is the short side direction.
  • the size of the control conductive portion 65 in the vertical direction Y is smaller than the size of the pair of first drive conductive portions 61A and 61B in the vertical direction Y.
  • the size of the control conductive portion 65 in the lateral direction X is larger than the size of the pair of first drive conductive portions 61A and 61B in the lateral direction X.
  • the size of the control conductive portion 65 in the lateral direction X is larger than the size of the pair of fourth drive conductive portions 64A and 64B in the lateral direction X.
  • the shape of the control conductive portion 65 in a plan view can be arbitrarily changed.
  • the shape of the control conductive portion 65 in a plan view may be a square shape, or a rectangular shape in which the vertical direction Y is the long side direction and the horizontal direction X is the short side direction.
  • the second driving conductive portion 62 When viewed from the vertical direction Y, the second driving conductive portion 62 includes the first driving conductive portion 61B and the fourth driving conductive portion 64B, and the end portion of the switching element mounting portion 63a near the side surface 51f of the fourth base material. It is arranged so as to overlap with.
  • the control conductive portion 65 is formed at the first drive conductive portion 61A and the fourth drive conductive portion 64A, and the end portion of the switching element mounting portion 63a near the side surface 51e of the third base material. They are arranged so that they overlap.
  • the back surface side conductive portion 60B is formed on the back surface side surface 51b of the base material 51.
  • the back side conductive portion 60B includes a pair of conductive portions 66A and 66B for the first terminal, a conductive portion 67 for the second terminal, a conductive portion 68 for the third terminal, a pair of conductive portions 69A and 69B for the fourth terminal, and a control terminal. It has a conductive portion 70 for use.
  • the semiconductor laser device 1A is a surface mount type package.
  • the back surface side conductive portion 60B is used as a terminal for mounting the semiconductor laser device 1A on a wiring board (not shown) or the like, that is, as a plurality of terminals 40 in FIG.
  • the pair of conductive portions 66A and 66B for the first terminal constitute the second power supply terminal 42
  • the conductive portion 67 for the second terminal constitutes the driver connection terminal 45
  • the third terminal
  • the conductive portion 68 constitutes the diode connection terminal 44
  • the conductive portions 69A and 69B for the fourth terminal constitute the first power supply terminal 41.
  • the pair of conductive portions 66A and 66B for the first terminal are arranged at both ends of the back surface 51b of the base material in the horizontal direction X and in the central portion in the vertical direction Y.
  • the conductive portion 66A for the first terminal is arranged in a portion of the back surface 51b of the base material closer to the side surface 51e of the third base material at a distance from the side surface 51e of the third base material in the lateral direction X in a plan view.
  • the conductive portion 66B for the first terminal is arranged in a portion of the back surface 51b of the base material closer to the side surface 51f of the fourth base material at a distance from the side surface 51f of the fourth base material in the lateral direction X in a plan view.
  • the conductive portion 66A for the first terminal is arranged so as to overlap the conductive portion 61A for driving the first terminal when viewed from the thickness direction Z.
  • the shape of the conductive portions 66A and 66B for the first terminal in a plan view is a rectangular shape in which the vertical direction Y is the long side direction and the horizontal direction X is the short side direction.
  • the size of the conductive portions 66A and 66B for the first terminal in the lateral direction X is smaller than the size of the conductive portions 61A and 61B for the first drive in the lateral direction X.
  • the size of the conductive portions 66A and 66B for the first terminal in the vertical direction Y is smaller than the size of the conductive portions 61A and 61B for the first drive in the vertical direction Y.
  • the shapes of the conductive portions 66A and 66B for the first terminal in a plan view are the same.
  • the shapes of the conductive portions 66A and 66B for the first terminal in a plan view can be arbitrarily changed.
  • the shape of the first terminal conductive portion 66A in a plan view may be different from the shape of the first terminal conductive portion 66B in a plan view.
  • the third terminal conductive portion 68 is arranged in a portion of the back surface 51b of the base material between the pair of first terminal conductive portions 66A and 66B in the lateral direction X.
  • the conductive portion 68 for the third terminal is arranged closer to the side surface 51c of the first base material in the back surface 51b of the base material in the vertical direction Y.
  • the conductive portion 68 for the third terminal is arranged so as to overlap the conductive portion 63 for driving when viewed from the thickness direction Z.
  • the shape of the conductive portion 68 for the third terminal in a plan view is a rectangular shape in which the vertical direction Y is the long side direction and the horizontal direction X is the short side direction.
  • the third terminal conductive portion 68 has a first terminal portion 68a that overlaps with the switching element mounting portion 63a of the third driving conductive portion 63 in the thickness direction Z by the boundary line Lb, and the semiconductor laser element mounting portion 63b. It is divided into a second terminal portion 68b that overlaps with.
  • the size of the first terminal portion 68a in the lateral direction X is smaller than the size of the switching element mounting portion 63a in the lateral direction X.
  • the size of the first terminal portion 68a in the vertical direction Y is smaller than the size of the switching element mounting portion 63a in the vertical direction Y.
  • the size of the second terminal portion 68b in the lateral direction X is larger than the size of the semiconductor laser element mounting portion 63b in the lateral direction X.
  • the size of the second terminal portion 68b in the vertical direction Y is equal to the size of the semiconductor laser element mounting portion 63b in the vertical direction Y.
  • the second terminal portion 68b is formed so as to overlap the fourth driving conductive portions 64A and 64B in the thickness direction Z.
  • the pair of conductive portions 69A and 69B for the fourth terminal are respectively arranged at the ends of the back surface 51b of the base material closer to the side surface 51c of the first base material in the vertical direction Y.
  • the pair of conductive portions 69A and 69B for the fourth terminal are arranged apart from the side surface 51c of the first base material in the vertical direction Y.
  • the conductive portion 69A for the fourth terminal is arranged at the end portion of the back surface 51b of the base material closer to the side surface 51e of the third base material.
  • the conductive portion 69A for the fourth terminal is arranged apart from the side surface 51e of the third base material in the lateral direction X.
  • the conductive portion 69B for the fourth terminal is arranged at the end portion of the back surface 51b of the base material closer to the side surface 51f of the fourth base material.
  • the conductive portion 69B for the fourth terminal is arranged apart from the side surface 51f of the fourth base material in the lateral direction X.
  • the pair of conductive portions 69A and 69B for the fourth terminal are arranged on both sides of the second terminal portion 68b in the lateral direction X at intervals from the second terminal portion 68b in the lateral direction X. Seen from the vertical direction Y, the conductive portion 69A for the fourth terminal is arranged so as to overlap with the conductive portion 66A for the first terminal.
  • the conductive portion 69B for the fourth terminal is arranged so as to overlap the conductive portion 66B for the first terminal when viewed from the vertical direction Y.
  • the pair of conductive portions 69A and 69B for the fourth terminal are arranged so as to overlap the second terminal portion 68b when viewed from the lateral direction X.
  • the fourth terminal conductive portion 69A is arranged so as to overlap the fourth drive conductive portion 64A
  • the fourth terminal conductive portion 69B is arranged so as to overlap the fourth drive conductive portion 64B. ing.
  • the shape of the pair of conductive portions 69A and 69B for the fourth terminal in a plan view is a rectangular shape in which the horizontal direction X is the long side direction and the vertical direction Y is the short side direction.
  • the size of the pair of conductive portions 69A and 69B for the fourth terminal in the lateral direction X is larger than the size of the pair of conductive portions 66A and 66B for the first terminal in the lateral direction X.
  • the size of the pair of fourth terminal conductive portions 69A and 69B in the lateral direction X is smaller than the size of the pair of fourth drive conductive portions 64A and 64B in the lateral direction X.
  • the size of the pair of conductive portions 69A and 69B for the fourth terminal in the vertical direction Y is smaller than the size of the pair of conductive portions 66A and 66B for the first terminal in the vertical direction Y.
  • the size of the pair of fourth terminal conductive portions 69A and 69B in the vertical direction is equal to the size of the pair of fourth drive conductive portions 64A and 64B in the vertical direction Y.
  • the difference between the size of the pair of conductive portions 69A and 69B for the fourth terminal in the vertical direction Y and the size of the pair of the conductive portions 64A and 64B for the fourth drive in the vertical direction is, for example, the pair of fourth drive conductors.
  • the size of the pair of conductive portions 69A and 69B for the fourth terminal in the vertical direction is the same as the size of the pair of conductive portions 64A and 64B for the fourth drive in the vertical direction Y. It can be said that they are equal.
  • the shapes of the conductive portions 69A and 69B for the fourth terminal in a plan view are the same.
  • the shapes of the conductive portions 69A and 69B for the fourth terminal in a plan view can be arbitrarily changed.
  • the shape of the fourth terminal conductive portion 69A in a plan view may be different from the shape of the fourth terminal conductive portion 69B in a plan view.
  • the conductive portion 67 for the second terminal and the conductive portion 70 for the control terminal are respectively arranged at the ends of the back surface 51b of the base material closer to the side surface 51d of the second base material in the vertical direction Y.
  • the conductive portion 67 for the second terminal and the conductive portion 70 for the control terminal are arranged along the lateral direction X in a state of being separated from each other in the lateral direction X.
  • the conductive portion 67 for the second terminal and the conductive portion 70 for the control terminal are respectively arranged so as to be separated from the side surface 51d of the second base material in the vertical direction Y.
  • the conductive portion 67 for the second terminal is arranged at the end portion of the back surface 51b of the base material closer to the side surface 51f of the fourth base material in the lateral direction X.
  • the conductive portion 67 for the second terminal is arranged so as to be separated from the side surface 51f of the fourth base material in the lateral direction X.
  • the second terminal conductive portion 67 is closer to the fourth base material side surface 51f of the first terminal conductive portion 66B, the fourth terminal conductive portion 69B, and the third terminal conductive portion 68. It is arranged so as to overlap the end.
  • the second terminal conductive portion 67 is arranged so as to overlap the second driving conductive portion 62 shown in FIG. 2 when viewed from the thickness direction Z.
  • the shape of the conductive portion 67 for the second terminal in a plan view is a rectangular shape in which the horizontal direction X is the long side direction and the vertical direction Y is the short side direction.
  • the size of the second driving conductive portion 62 in the vertical direction Y is smaller than the size of the pair of first terminal conductive portions 66A and 66B and the third terminal conductive portion 68 in the vertical direction Y.
  • the size of the conductive portion 67 for the second terminal in the lateral direction X is larger than the size of the pair of conductive portions 66A and 66B for the first terminal in the lateral direction X.
  • the size of the second terminal conductive portion 67 in the lateral direction X is larger than the size of the pair of fourth terminal conductive portions 69A and 69B in the lateral direction X.
  • the shape of the second driving conductive portion 62 in a plan view can be arbitrarily changed.
  • the shape of the second driving conductive portion 62 in a plan view may be a square shape, or a rectangular shape in which the vertical direction Y is the long side direction and the horizontal direction X is the short side direction.
  • the conductive portion 70 for the control terminal is arranged at the end portion of the back surface 51b of the base material closer to the side surface 51e of the third base material in the lateral direction X.
  • the conductive portion 70 for the control terminal is arranged so as to be separated from the side surface 51e of the third base material in the lateral direction X.
  • the control terminal conductive portion 70 is an end of the first terminal conductive portion 66A, the fourth terminal conductive portion 69A, and the third terminal conductive portion 68 closer to the side surface 51e of the third base material. It is arranged so as to overlap the part.
  • the control terminal conductive portion 70 is arranged so as to overlap the control conductive portion 65 when viewed from the thickness direction Z.
  • the shape of the conductive portion 70 for the control terminal in a plan view is a rectangular shape in which the horizontal direction X is the long side direction and the vertical direction Y is the short side direction.
  • the size of the conductor portion 70 for the control terminal in the vertical direction Y is smaller than the size of the pair of conductive portions 66A and 66B for the first terminal in the vertical direction Y.
  • the size of the control terminal conductive portion 70 in the lateral direction X is larger than the size of the pair of first terminal conductive portions 66A and 66B in the lateral direction X.
  • the size of the conductor portion 70 for the control terminal in the lateral direction X is larger than the size of the pair of conductive portions 69A and 69B for the fourth terminal in the lateral direction X.
  • the shape of the control terminal conductive portion 70 in a plan view can be arbitrarily changed.
  • the shape of the control terminal conductive portion 70 in a plan view may be a square shape, or a rectangular shape in which the vertical direction Y is the long side direction and the horizontal direction X is the short side direction.
  • the gap Gs1 in the vertical direction Y is the gap Gr1 in the vertical direction Y between the conductive portion 66A for the first terminal and the conductive portion 69A for the fourth terminal, and the conductive portion 66B for the first terminal and the conductive portion 69B for the fourth terminal. It is smaller than the gap Gr1 in the vertical direction Y of. In other words, the gap Gr1 is larger than the gap Gs1.
  • the gap Gs2 in the lateral direction X between the first driving conductive portions 61A and 61B and the third driving conductive portion 63 is the lateral direction between the first terminal conductive portions 66A and 66B and the third terminal conductive portion 68. It is smaller than the gap Gr2 of X. In other words, the gap Gr2 is larger than the gap Gs2.
  • the gap Gs3 in the vertical direction Y between the switching element mounting portions 63a of the first driving conductive portions 61A and 61B and the third driving conductive portion 63 and the second driving conductive portion 62 is the first terminal conductive portion 66A.
  • the gap Gs4 in the lateral direction X between the fourth drive conductive portions 64A and 64B and the semiconductor laser element mounting portion 63b of the third drive conductive portion 63 is the fourth terminal conductive portions 69A and 69B and the third terminal conductive portion. It is smaller than the gap Gr4 in the lateral direction X with the second terminal portion 68b of 68. In other words, the gap Gr4 is larger than the gap Gs4.
  • the gap Gs5 in the vertical direction Y between the switching element mounting portion 63a of the first driving conductive portion 61B and the third driving conductive portion 63 and the control conductive portion 65 is the conductive portion 66B for the first terminal and the conductive portion for the third terminal. It is smaller than the gap Gr5 in the vertical direction Y between the first terminal portion 68a of the portion 68 and the conductive portion 70 for the control terminal. In other words, the gap Gr5 is larger than the gap Gs5. Further, the gap Gs6 in the lateral direction X between the second driving conductive portion 62 and the control conductive portion 65 is equal to the gap Gr6 in the lateral direction X between the second terminal conductive portion 67 and the control terminal conductive portion 70.
  • the gap Gs6 may be larger than the gap Gs6.
  • each connecting portion 60C has the same structure, and is composed of a through hole 71 and a conductor portion 72 embedded in the through hole 71.
  • the through hole 71 is composed of a metal film 71a formed over the entire inner peripheral surface forming the through hole 52 penetrating the base material 51 in the thickness direction Z.
  • the end portion of the base material 51 of the metal film 71a near the main surface 51a of the base material is connected to the conductive portion 60A on the main surface side, and the end portion of the base material 51 of the metal film 71a near the back surface 51b of the base material is the conductive portion on the back surface side. It is connected to 60B.
  • the material constituting the metal film 71a is the same as the material constituting the main surface side conductive portion 60A and the back surface side conductive portion 60B.
  • the material constituting the conductor portion 72 is, for example, a metal material, and Cu (copper) is used in this embodiment.
  • the communication unit 60C includes a plurality of first drive communication units 73A and 73B, a plurality of second drive communication units 74, a plurality of third drive communication units 75, and a plurality of fourth drive units. It has communication units 76A and 76B, and a plurality of control communication units 77.
  • a plurality of first drive communication units 73, a plurality of second drive communication units 74, a plurality of third drive communication units 75, a plurality of fourth drive communication units 76, and a plurality of control units are used.
  • the outer diameter and inner diameter of the through holes 71 (see, for example, FIG. 4) constituting the connecting portion 77 are equal to each other.
  • the plurality of third drive connecting portions 75 connect the third drive conductive portion 63 and the third terminal conductive portion 68.
  • the plurality of third drive communication units 75 include a plurality of (nine in this embodiment) switching element side communication units 75a, one semiconductor laser element side communication unit 75b, and one intermediate communication unit 75c.
  • the number of each of the switching element side connecting unit 75a, the semiconductor laser element side connecting unit 75b, and the intermediate connecting unit 75c is not limited to the above number and can be arbitrarily changed.
  • the plurality of switching element side connecting portions 75a are provided in the switching element mounting portion 63a of the third driving conductive portion 63. Eight of the nine switching element-side connecting portions 75a are provided at positions overlapping with the source electrode 22 of the switching element 20 when viewed from the thickness direction Z. The remaining one switching element side connecting portion 75a is provided at a position overlapping with the gate electrode 23 of the switching element 20 when viewed from the thickness direction Z. Seen from the thickness direction Z, the nine switching element side connecting portions 75a are provided at positions overlapping with the drain electrode 21 of the switching element 20.
  • the semiconductor laser element side connecting portion 75b is provided in the semiconductor laser element mounting portion 63b of the third driving conductive portion 63.
  • the semiconductor laser element side connecting portion 75b is provided at a position overlapping with the semiconductor laser element 10 when viewed from the thickness direction Z.
  • the intermediate connecting portion 75c is provided so as to straddle the boundary portion (boundary line Lb in FIGS. 2 and 3) between the switching element mounting portion 63a of the third driving conductive portion 63 and the semiconductor laser element mounting portion 63b. That is, the intermediate connecting portion 75c is located between the semiconductor laser element side connecting portion 75b and the switching element side connecting portion 75a in the vertical direction Y. In other words, the intermediate connecting portion 75c is located between the semiconductor laser element 10 and the switching element 20 in the vertical direction Y.
  • a plurality of (two in this embodiment) first drive connecting portions 73A include a first drive conductive portion 61A and a first terminal conductive portion 66A. You are connected.
  • the plurality of first drive connecting portions 73A are arranged at intervals in the vertical direction Y.
  • Each of the first driving connecting portions 73A is arranged closer to the third base material side surface 51e of the first driving conductive portion 61A and the first terminal conductive portion 66A in the lateral direction X.
  • Each of the first driving connecting portions 73A is arranged on the second driving conductive portion 62 (second terminal conductive portion 67) side of the capacitor 30A in the vertical direction Y.
  • a plurality of (two in this embodiment) first drive connecting portions 73B connect the first drive conductive portion 61B and the first terminal conductive portion 66B.
  • the plurality of first drive contact portions 73B are arranged at intervals in the vertical direction Y so as to be aligned with the plurality of first drive contact portions 73A in the vertical direction Y.
  • Each of the first driving connecting portions 73B is arranged closer to the side surface 51f of the fourth base material of the first driving conductive portion 61B and the first terminal conductive portion 66B in the lateral direction X.
  • Each of the first drive connecting portions 73B is arranged on the control conductive portion 65 (control terminal conductive portion 70) side of the capacitor 30B in the vertical direction Y.
  • the number of the first drive connecting units 73A and 73B is not limited to the above number and can be changed arbitrarily.
  • the fourth drive connecting unit 76A connects the fourth driving conductive unit 64A and the fourth driving connecting unit 76A.
  • the fourth drive connecting portion 76A is provided at a position overlapping the capacitor 30A when viewed from the vertical direction Y.
  • the fourth drive connecting portion 76A is located on the side surface 51c side of the first base material with respect to the capacitor 30A of the fourth driving conductive portion 64A in the vertical direction Y.
  • the fourth drive connecting unit 76B connects the fourth driving conductive unit 64B and the fourth driving connecting unit 76B.
  • the fourth drive connecting portion 76A is provided at a position overlapping the capacitor 30B when viewed from the vertical direction Y.
  • the fourth drive connecting portion 76B is located on the side surface 51c side of the first base material with respect to the capacitor 30B of the fourth driving conductive portion 64B in the vertical direction Y.
  • a plurality of fourth drive communication units 76A and 76B may be provided respectively.
  • the plurality of (three in this embodiment) second drive connecting portions 74 are the second drive conductive portion 62 and the second terminal conductive portion 67, respectively. Is connected.
  • the plurality of second drive communication units 74 are arranged at intervals in the lateral direction X. The edge of the second driving connecting portion 74 closest to the side surface 51e of the third base material of the three second driving connecting portions 74 and the edge of the conductive portion 62 for driving second closest to the side surface 51e of the third base material.
  • the distance Dx2 between and in the lateral direction X is the distance Dx2 between the second drive connecting portion 74 and the second driving conductive portion 62, which are closest to the side surface 51f of the fourth base material among the three second driving connecting portions 74. It is larger than the distance Dx1 between the lateral edge X and the edge closer to the side surface 51f of the fourth base material.
  • the number of the second drive connecting units 74 is not limited to the above number and can be arbitrarily changed.
  • a plurality of (three in this embodiment) control communication units 77 are connected to the control conductive unit 65 and the control terminal conductive unit 70, respectively.
  • the plurality of control communication units 77 are arranged at intervals in the lateral direction X.
  • the distance Dx4 between the three control communication portions 77 is the edge of the control communication portion 77 closest to the third base material side surface 51e and the control conductive portion 65 closer to the third base material side surface 51e. It is larger than the distance Dx3 between and in the lateral direction X.
  • the number of control communication units 77 is not limited to the above number and can be arbitrarily changed.
  • the capacitor 30A is connected to the first driving conductive portion 61A and the fourth driving conductive portion 64A.
  • the capacitor 30A is arranged so as to straddle the gap in the vertical direction Y between the first driving conductive portion 61A and the fourth driving conductive portion 64A.
  • the capacitor 30A is arranged so that the first terminal 31 and the second terminal 32 are arranged along the vertical direction Y.
  • the first terminal 31 of the capacitor 30A is joined to the first driving conductive portion 61A by a conductive bonding material such as Ag paste or solder.
  • the second terminal 32 of the capacitor 30A is joined to the fourth driving conductive portion 64A by a conductive joining material.
  • the second terminal 32 is arranged in the vertical direction Y at a portion of the fourth driving conductive portion 64A that is closer to the first driving conductive portion 61A than the fourth driving connecting portion 76A.
  • the capacitor 30B is connected to the first driving conductive portion 61B and the fourth driving conductive portion 64B.
  • the capacitor 30B is arranged so as to straddle the gap in the vertical direction Y between the first driving conductive portion 61B and the fourth driving conductive portion 64B.
  • the capacitor 30B is arranged so that the first terminal 31 and the second terminal 32 are arranged along the vertical direction Y.
  • the first terminal 31 of the capacitor 30B is joined to the first driving conductive portion 61B by a conductive joining material.
  • the second terminal 32 of the capacitor 30B is joined to the fourth driving conductive portion 64B by a conductive joining material.
  • the second terminal 32 is arranged in the vertical direction Y at a portion of the fourth driving conductive portion 64B that is closer to the first driving conductive portion 61B than the fourth driving connecting portion 76B.
  • the semiconductor laser element 10 is bonded to the third driving conductive portion 63 with a conductive bonding material such as Ag (silver) paste or solder.
  • the semiconductor laser element 10 is arranged closer to the side surface 51c of the first base material than the intermediate connecting portion 75c of the semiconductor laser element mounting portion 63b of the third driving conductive portion 63.
  • the semiconductor laser element 10 overlaps with the fourth driving conductive portions 64A and 64B, and further overlaps with the second terminal 32 of the capacitors 30A and 30B.
  • the semiconductor laser element 10 is arranged so that the cathode electrode 12 faces the third driving conductive portion 63 side in the thickness direction Z.
  • the cathode electrode 12 of the semiconductor laser element 10 is bonded to the third driving conductive portion 63 by a conductive bonding material.
  • the switching element 20 is bonded to the third driving conductive portion 63 with a conductive bonding material such as Ag paste or solder. Specifically, the semiconductor laser element 10 is mounted closer to the side surface 51d of the second base material than the intermediate connecting portion 75c of the switching element mounting portion 63a of the third driving conductive portion 63. Seen from the lateral direction X, the switching element 20 overlaps with the first driving conductive portions 61A and 61B, and further overlaps with the first terminal 31 of the capacitors 30A and 30B. The switching element 20 is arranged so that the drain electrode 21 faces the third driving conductive portion 63 side in the thickness direction Z. The drain electrode 21 is bonded to the third driving conductive portion 63 by a conductive bonding material. In this way, the drain electrode 21 and the cathode electrode 12 of the semiconductor laser element 10 are electrically connected via the third driving conductive portion 63.
  • a conductive bonding material such as Ag paste or solder.
  • the anode electrode 11 of the semiconductor laser device 10 and the source electrode 22 and the gate electrode 23 of the switching element 20 face each other in the thickness direction Z opposite to the support substrate 50 side.
  • the anode electrode 11, the source electrode 22, and the gate electrode 23 are connected to the first driving conductive parts 61A and 61B, the second driving conductive parts 62, the fourth driving conductive parts 64A and 64B, and the fourth driving conductive parts 64A and 64B via the connecting member 80. It is electrically connected to the control conductive portion 65.
  • the connection member 80 includes a first drive connection member 81, 82, a second drive connection member 83, a control connection member 84, and a laser connection member 85, 86.
  • the connecting member 80 is a wire made of a metal such as Au (gold), Cu (copper), or Al (aluminum). In this embodiment, the connecting member 80 is formed by wire bonding.
  • the first drive connecting member 81 connects the source electrode 22 and the first drive conductive portion 61A.
  • the number of the first drive connecting members 81 is not particularly limited, but in the present embodiment, the number is three.
  • the three first drive connecting members 81 are arranged at intervals in the vertical direction Y.
  • the first drive connecting member 81 has a first end portion 81a and a second end portion 81b.
  • the first end portion 81a is joined to the source electrode 22.
  • the second end portion 81b is joined to the first driving conductive portion 61A.
  • the first end portions 81a of the three first drive connecting members 81 are closer to the semiconductor laser element 10 than the gate electrode 23 of the source electrodes 22 in the vertical direction Y, and from the gate electrode 23 in the horizontal direction X, respectively.
  • the second end portions 81b of the three first drive connecting members 81 are closer to the control conductive portion 65 than the capacitor 30A of the first drive conductive portion 61A in the vertical direction Y, and in the lateral direction X, respectively. It is arranged closer to the switching element 20 than the first drive connecting unit 73A. When viewed from the vertical direction Y, the second end portion 81b is arranged so as to overlap the portion closer to the switching element 20 than the central portion in the horizontal direction X of the capacitor 30A.
  • the first drive connecting member 82 connects the source electrode 22 and the first drive conductive portion 61B.
  • the number of the first drive connecting members 82 is not particularly limited, but in the present embodiment, the number is three. That is, the number of the first drive connecting members 82 is equal to the number of the first drive connecting members 81.
  • the three first drive connecting members 82 are arranged at intervals in the vertical direction Y.
  • the first drive connecting member 82 has a first end portion 82a and a second end portion 82b. The first end portion 82a is joined to the source electrode 22.
  • the second end portion 82b is joined to the first driving conductive portion 61B.
  • the first end portions 82a of the three first drive connecting members 82 are closer to the semiconductor laser element 10 than the gate electrode 23 of the source electrodes 22 in the vertical direction Y, and from the gate electrode 23 in the horizontal direction X, respectively. Is also arranged near the first driving conductive portion 61B.
  • the second end portions 82b of the three first drive connecting members 82 are closer to the second drive conductive portion 62 than the capacitor 30B of the first drive conductive portion 61B in the vertical direction Y, respectively, and in the lateral direction. In X, it is arranged closer to the switching element 20 than the first drive connecting unit 73B.
  • the second end portion 82b is arranged so as to overlap the portion closer to the switching element 20 than the central portion in the horizontal direction X of the capacitor 30B.
  • the second drive connecting member 83 connects the source electrode 22 and the second drive conductive portion 62.
  • the number of the second drive connecting members 83 is not particularly limited, but is one in the present embodiment.
  • the second drive connecting member 83 is arranged on the side surface 51d side of the second base material with respect to the three first drive connecting members 81.
  • the second drive connecting member 83 has a first end portion 83a and a second end portion 83b.
  • the first end portion 83a is joined to the source electrode 22.
  • the second end portion 83b is joined to the second driving conductive portion 62.
  • the first end portion 83a is arranged at the end portion of the source electrode 22 near the second driving conductive portion 62 in the vertical direction Y.
  • the second end portion 83b is the end portion of the second driving conductive portion 62 closer to the switching element 20 in the vertical direction Y, and the source electrode 22 of the second driving conductive portion 62 when viewed from the vertical direction Y. It is placed in the overlapping part.
  • the second end portion 83b is arranged closer to the control conductive portion 65 than the three second drive connecting portions 74 of the second drive conductive portion 62.
  • the control connecting member 84 connects the gate electrode 23 and the control conductive portion 65.
  • the number of control connecting members 84 is not particularly limited, but is one in the present embodiment.
  • the control connecting member 84 has a first end portion 84a and a second end portion 84b.
  • the first end portion 84a is joined to the gate electrode 23.
  • the second end portion 84b is arranged at the end portion of the control conductive portion 65 near the second drive conductive portion 62 in the lateral direction X.
  • the second end portion 84b is arranged at a portion closer to the second driving conductive portion 62 than the three control connecting portions 77 of the control conductive portion 65.
  • the laser connecting member 85 connects the anode electrode 11 of the semiconductor laser element 10 and the fourth driving conductive portion 64A.
  • the number of the laser connecting members 85 is not particularly limited, but in the present embodiment, the number is two.
  • the two laser connecting members 85 are arranged at intervals in the vertical direction Y.
  • Each laser connecting member 85 has a first end portion 85a and a second end portion 85b.
  • the first end portion 85a is connected to the anode electrode 11.
  • the first end portion 85a is arranged at the central portion of the anode electrode 11 in the lateral direction X.
  • the second end portion 85b is connected to the fourth driving conductive portion 64A.
  • the second end portion 85b is arranged closer to the semiconductor laser element 10 in the lateral direction X than the central portion of the fourth driving conductive portion 64A in the lateral direction X of the fourth driving conductive portion 64A. Has been done.
  • the laser connecting member 86 connects the anode electrode 11 and the fourth driving conductive portion 64B.
  • the number of the laser connecting members 86 is not particularly limited, but in the present embodiment, the number is two.
  • the two laser connecting members 86 are arranged at intervals in the vertical direction Y.
  • Each laser connecting member 86 has a first end portion 86a and a second end portion 86b.
  • the first end portion 86a is connected to the anode electrode 11.
  • the first end portion 86a is arranged at the central portion of the anode electrode 11 in the lateral direction X.
  • the first end portion 85a of the laser connecting member 85 and the first end portion 86a of the laser connecting member 86 are alternately arranged in the vertical direction Y.
  • the second end portion 86b is connected to the fourth driving conductive portion 64B. Specifically, the second end portion 86b is arranged closer to the semiconductor laser element 10 in the lateral direction X than the central portion of the fourth driving conductive portion 64B in the lateral direction X of the fourth driving conductive portion 64B. Has been done.
  • the sealing member 90 is laminated on the base material main surface 51a of the base material 51 of the support substrate 50 in the thickness direction Z.
  • the sealing member 90 transmits the pulsed laser light of the semiconductor laser element 10 and seals the main surface side conductive portion 60A, the semiconductor laser element 10, the switching element 20, the capacitor 30, and the connecting member 80, respectively. That is, the sealing member 90 is configured such that the portion of the semiconductor laser element 10 from which the pulsed laser light is output is transparent or translucent.
  • the portion of the sealing member 90 other than the portion where the pulsed laser light is output may not be transparent or translucent.
  • the sealing member 90 may have two types of member configurations, that is, a transparent or translucent portion and a portion that does not transmit light. In this embodiment, the whole is configured to be transparent or translucent.
  • the material constituting the sealing member 90 is, for example, a transparent epoxy resin or a silicone resin.
  • the sealing member 90 has a sealing main surface 91, a first sealing side surface 92, a second sealing side surface 93, a third sealing side surface 94, and a fourth sealing side surface 95.
  • the sealing main surface 91 is a surface of the sealing member 90 facing the side opposite to the support substrate 50 in the thickness direction Z. That is, the sealing main surface 91 is a surface facing the same direction as the element main surface 24a of the switching element 20.
  • Each of the sealing side surfaces 92 to 95 is a surface formed between the sealing main surface 91 and the support substrate 50 in the thickness direction Z, and is a surface facing the direction intersecting the sealing main surface 91.
  • the first sealing side surface 92 and the second sealing side surface 93 are surfaces facing opposite to each other in the vertical direction Y.
  • the first sealing side surface 92 is a surface facing the same direction as the first base material side surface 51c of the base material 51 in the vertical direction Y.
  • the second sealing side surface 93 is a surface facing the same direction as the second base material side surface 51d of the base material 51 in the vertical direction Y.
  • the third sealing side surface 94 and the fourth sealing side surface 95 are surfaces facing opposite to each other in the lateral direction X.
  • the third sealing side surface 94 is a surface facing the same direction as the third base material side surface 51e of the base material 51 in the lateral direction X.
  • the fourth sealing side surface 95 is a surface facing the same direction as the fourth base material side surface 51f of the base material in the lateral direction X.
  • the laser light L from the semiconductor laser element 10 is emitted from the first sealing side surface 92 of the sealing member 90.
  • the first sealing side surface 92 of the sealing member 90 is a flat and smooth surface. As a result, the scattering of the laser light L can be suppressed, and the emission efficiency of the laser light can be improved.
  • the semiconductor laser device 10 includes a substrate 13 and a mesa-type semiconductor light emitting layer 14 laminated on the substrate 13 in the thickness direction Z.
  • the semiconductor light emitting layer 14 corresponds to a light emitting unit.
  • the substrate 13 is an n-type semiconductor substrate containing GaAs (gallium arsenide).
  • the n-type impurity contains at least one of Si (silicon), Te (tellurium), and Se (selenium).
  • the semiconductor light emitting layer 14 generates laser light L.
  • the semiconductor light emitting layer 14 generates a laser beam L having a peak wavelength of 0.7 ⁇ m or more and 2.5 ⁇ m or less. That is, the semiconductor light emitting layer 14 generates the laser light L in the near infrared region.
  • the semiconductor light emitting layer 14 produces a laser beam L having a peak wavelength of 800 nm or more and 1000 nm or less. That is, the semiconductor light emitting layer 14 generates the laser light L in the infrared region.
  • the semiconductor light emitting layer 14 includes an n-type buffer layer 14a, a first light emitting unit layer 14b, a first tunnel junction layer 14c, a second light emitting unit layer 14d, a second tunnel junction layer 14e, a third light emitting unit layer 14f, and a p-type. It has a mesa structure 15 containing 14 g of a contact layer.
  • the n-type buffer layer 14a is laminated on the substrate 13.
  • the n-type buffer layer 14a contains GaAs.
  • the n-type buffer layer 14a contains at least one of Si, Te, and Se as n-type impurities.
  • the concentration of n-type impurities in the n-type buffer layer 14a is, for example, 1 ⁇ 10 18 cm -3 or more and 1 ⁇ 10 19 cm -3 or less.
  • Each light emitting unit layer 14b, 14d, 14f generates laser light L by the combination of holes and electrons.
  • the first light emitting unit layer 14b, the second light emitting unit layer 14d, and the third light emitting unit layer 14f are laminated on the n-type buffer layer 14a in this order. As shown by the white arrows in FIG. 10, laser light is emitted from the light emitting unit layers 14b, 14d, and 14f along the lateral direction X.
  • the first tunnel junction layer 14c and the second tunnel junction layer 14e are interposed between the light emitting units adjacent to each other in the stacking direction. Specifically, the first tunnel junction layer 14c is interposed between the first light emitting unit layer 14b and the second light emitting unit layer 14d, and the second tunnel junction layer 14e is the second light emitting unit layer 14d and the third light emitting unit. It is interposed between the layer 14f and the layer 14f.
  • the tunnel junction layers 14c and 14e generate a tunnel current due to the tunnel effect, and the tunnel current flows through the light emitting unit layers 14b, 14d and 14f.
  • the p-type contact layer 14g is formed on the third light emitting unit layer 14f.
  • the p-type contact layer 14 g contains GaAs.
  • the p-type contact layer 14 g contains C (carbon) as a p-type impurity.
  • the semiconductor light emitting layer 14 is covered with an insulating layer 16.
  • the insulating layer 16 is formed in a film shape. Insulating layer 16, Si 3 N 4 (silicon nitride) or Si0 2, may contain a silicon oxide such as SiO. In this embodiment, the insulating layer 16 contains silicon nitride.
  • a contact opening 16a that exposes the semiconductor light emitting layer 14 is formed in a portion of the insulating layer 16 that covers the top of the mesa structure 15.
  • a contact electrode 17 is formed in the contact opening 16a.
  • the contact electrode 17 is electrically connected to the semiconductor light emitting layer 14.
  • the contact electrode 17 is drawn out onto the insulating layer 16 from the contact opening 16a.
  • An anode electrode 11 (see FIGS. 4 and 6) is formed on the contact electrode 17.
  • a cathode electrode 12 is formed on the back surface of the substrate on the opposite side of the substrate 13 from the mesa structure.
  • FIG. 11 shows a schematic circuit diagram when the semiconductor laser device 1X of the comparative example is applied to the laser system 100.
  • the semiconductor laser device 1X of the comparative example is comparatively known to the semiconductor laser device 1A of the present embodiment, and is different in that the input electrode 142 of the driver circuit 140 is connected to the negative electrode of the power supply 110 and the capacitor 30 on the circuit.
  • FIG. 12 shows the transition of the current flowing through the semiconductor laser element 10 and the transition of the voltage applied to the gate electrode 23 of the switching element 20 when the laser system 100 to which the semiconductor laser device 1X of the comparative example is applied is driven. It is a graph shown.
  • FIG. 13 is a graph showing the transition of the voltage applied to the first drive connecting members 81 and 82 when the laser system 100 to which the semiconductor laser device 1X of the comparative example is applied is driven.
  • the current ILD flowing through the semiconductor laser element 10 becomes small. That is, as shown in FIGS. 12 and 13, the electromotive voltage VLs is generated by the flow of the gate current when the voltage Vgs rises between the time t1 and the time t2, and the gate is generated between the time t2 and the time t3. The electromotive voltage VLs drops once in the region where the current stabilizes.
  • the positive electrode 111 of the power supply 110 is the conductive portion 69A for the fourth terminal and the connecting portion for the fourth drive. It is connected to the fourth drive conductive portion 64A via 76A (both see FIG. 3), and the negative electrode 112 of the power supply 110 is connected via the first terminal conductive portion 66A and the first drive connecting portion 73A (both see FIG. 3). It is connected to the first driving conductive portion 61A. Further, the output electrode 141 of the driver circuit 140 is connected to the control conductive portion 65 via the control terminal conductive portion 70 and the control connecting portion 77 (both see FIG.
  • the input electrode 142 is connected to the second terminal conductive portion 67. And is connected to the second driving conductive part 62 via the second driving connecting part 74 (both see FIG. 3).
  • the capacitors 30A and 30B are charged with electricity, and the switching element 20 is charged.
  • the charge stored in the capacitors 30A and 30B flows to the semiconductor laser element 10 and the switching element 20.
  • the first drive loop in which the current based on the electric charge stored in the capacitor 30A flows through the semiconductor laser element 10 and the switching element 20, and the current based on the electric charge stored in the capacitor 30B is the semiconductor laser element 10 and switching.
  • a second drive loop flowing through the element 20 is formed individually. Specifically, in the first drive loop, the second terminal 32 of the capacitor 30A, the fourth drive conductive portion 64A, the laser connection member 85, the anode electrode 11 of the semiconductor laser element 10, the cathode electrode 12, and the third drive Current flows in the order of the conductive portion 63, the drain electrode 21 of the switching element 20, the source electrode 22, the first drive connecting member 81, and the first terminal 31 of the capacitor 30A.
  • the voltage Vg is generated between the input electrode 142 and the output electrode 141 of the driver circuit 140
  • the voltage Vgs which is the voltage between the gate and the source
  • the gate electrode 23 of the switching element 20 is applied to the gate electrode 23 of the switching element 20.
  • the output electrode 141 of the driver circuit 140 the control terminal conductive portion 70, the control connecting portion 77, the control conductive portion 65, and the control connecting member 84 , Gate electrode 23, source electrode 22, second drive connecting member 83, second drive conductive part 62, second drive connecting part 74, second terminal conductive part 67, and input electrode 142.
  • a control loop is formed.
  • the voltage Vgs applied to the gate electrode 23 is input. It is generated based on the potential of the source electrode 22 connected to the electrode 142.
  • the first drive loop and the second drive loop of the current between the power supply 110, the semiconductor laser element 10 and the switching element 20, and the current control loop between the driver circuit 140 and the switching element 20 are affected by the first drive loop and the second drive loop, respectively. It becomes difficult. That is, since the second drive connecting member 83 electrically connects the input electrode 142 and the source electrode 22, the driver circuit 140 has an electromotive voltage VLs due to the parasitic inductance Ls caused by the first drive connecting members 81 and 82. Be less affected.
  • the voltage Vgs rises faster than the voltage Vgs of the semiconductor laser device 1X of the comparative example, and the voltage drop due to the electromotive voltage VLs hardly occurs. Therefore, the peak value of the current ILD flowing through the semiconductor laser device 10 of the present embodiment is larger than the peak value of the current ILD flowing through the semiconductor laser device 10 of the semiconductor laser device 1X of the comparative example. In addition, the rise of the current ILD becomes steep. In addition, in the present embodiment, the voltage Vgs rises rapidly and the voltage Vgs does not drop significantly. Therefore, the pulse width PW of the current ILD of the present embodiment is the pulse width PW of the current ILD of the semiconductor laser device 1X of the comparative example. Is smaller than
  • the semiconductor laser device 1A includes first drive connecting members 81 and 82 for connecting the source electrode 22 of the switching element 20 and the first drive conductive portions 61A and 61B, and the source electrode 22 and the second drive.
  • a second drive connecting member 83 for connecting to the conductive portion 62 is provided.
  • the second drive loop and the control loop which is the second path of the current flowing from the source electrode 22 to the second drive conductive portion 62 via the second drive connecting member 83, are individually formed. Therefore, it is reduced that the fluctuation of the current of the first drive loop and the second drive loop affects the control loop. That is, in the control loop, it is less likely to be affected by the inductance of the first drive connecting members 81 and 82. Therefore, in the control loop, the influence of the counter electromotive voltage (electromotive voltage VLs) caused by the inductance of the first drive connecting members 81 and 82 on the voltage Vgs applied to the gate electrode 23 of the switching element 20 can be reduced. ..
  • the second driving conductive portion 62 is arranged on the opposite side of the switching element 20 from the semiconductor laser element 10. According to this configuration, the control loop can be formed at a position far from the first drive loop and the second drive loop. Therefore, the control loop is less affected by the first drive loop and the second drive loop.
  • the semiconductor laser device 1A includes capacitors 30A and 30B. According to this configuration, the influence of the parasitic inductance of the capacitors 30A and 30B can be reduced by connecting the capacitors 30A and 30B in parallel as compared with one capacitor, and the peak is larger and the pulse width is smaller. A current can be passed through the semiconductor laser element 10. Therefore, the semiconductor laser device 10 having a high output can be applied.
  • Capacitors 30A and 30B are arranged closer to the semiconductor laser element 10 with respect to the switching element 20 in the vertical direction Y. According to this configuration, the first drive loop and the second drive loop can be formed at a position far from the control loop. Therefore, the control loop is less affected by the first drive loop and the second drive loop. In addition, since the length of the current path in the first drive loop and the second drive loop is shortened, the inductance of the semiconductor laser device 1A can be reduced.
  • Capacitors 30A and 30B are arranged on both sides of the switching element 20 in the lateral direction X, and the first driving conductive portions 61A and 61B are arranged on both sides of the switching element 20 in the lateral direction X.
  • the first drive connection member 81 connects the source electrode 22 of the switching element 20 and the first drive conductive portion 61A
  • the first drive connection member 82 connects the source electrode 22 and the first drive conductive portion 61B.
  • the semiconductor laser device 1A includes a third driving conductive portion 63 that connects the drain electrode 21 of the switching element 20 and the cathode electrode 12 of the semiconductor laser element 10.
  • the drain electrode 21 and the cathode electrode 12 can be connected by the third driving conductive portion 63 at the shortest distance, and the cross-sectional area of the third driving conductive portion 63 can be made larger than that of the wire. it can. Therefore, the inductance between the cathode electrode 12 and the drain electrode 21 can be reduced.
  • control conductive portion 65 and the second drive conductive portion 62 are adjacent to each other. According to this configuration, the current path constituting the control loop can be reduced, so that the inductance in the control loop can be reduced.
  • the second driving conductive portion 62 is closer to the control conductive portion 65 than the first driving connecting member 82 which is closest to the capacitors 30A and 30B among the plurality of first driving connecting members 82. Have been placed. According to this configuration, the control loop is less susceptible to the influence of the second drive loop.
  • the first drive connecting members 81 and 82 are each composed of a plurality of wires. According to this configuration, the inductance between the first driving conductive portion 61A and the source electrode 22 of the switching element 20 and the inductance between the first driving conductive portion 61B and the source electrode 22 can be reduced, respectively.
  • the wire diameters of the first drive connecting members 81 and 82 and the wire diameters of the second drive connecting member 83 are equal to each other. According to this configuration, when the first drive connecting members 81 and 82 and the second drive connecting member 83 are each formed by wire bonding, it is not necessary to change the wire rod. Therefore, the process of forming the first drive connecting members 81 and 82 and the second drive connecting member 83 can be simplified.
  • the wire diameters of the first drive connecting members 81 and 82, the wire diameters of the second drive connecting member 83, and the wire diameters of the laser connecting members 85 and 86 are equal to each other. According to this configuration, when the drive connecting members 81 to 83 and the laser connecting members 85 and 86 are formed by wire bonding, the wire rod does not need to be changed. Therefore, the steps of forming the drive connecting members 81 to 83 and the laser connecting members 85 and 86 can be simplified.
  • the wire diameters of the first drive connecting members 81 and 82, the wire diameters of the second drive connecting members 83, the wire diameters of the control connecting members 84, and the wire diameters of the laser connecting members 85 and 86 are Equal to each other. According to this configuration, when each of the connecting members 81 to 86 is formed by wire bonding, it is not necessary to change the wire rod. Therefore, the process of forming each of the connecting members 81 to 86 can be simplified.
  • the ends of the fourth driving conductive portions 64A and 64B near the semiconductor laser element 10 are close to the semiconductor laser element 10 in a plan view.
  • the laser connecting member 85 is joined to the end of the fourth driving conductive portion 64A near the semiconductor laser element 10, and the laser connecting member 86 is joined to the end of the fourth driving conductive portion 64B near the semiconductor laser element 10. Has been done. According to this configuration, the length of the laser connecting members 85 and 86 can be shortened, so that the inductance caused by the laser connecting members 85 and 86 can be reduced.
  • the gap between the adjacent back surface side conductive portions 60B of the base material back surface 51b of the base material 51 of the support substrate 50 is larger than the gap between the adjacent back surface side conductive portions 60A of the base material main surface 51a. Is also big. As a result, it is possible to prevent conductive joining members such as solder from being formed so as to connect adjacent back surface side conductive portions 60B when mounted on a wiring board. Therefore, a short circuit is less likely to occur.
  • the gap between the adjacent main surface side conductive portions 60A of the base material main surface 51a is smaller than the gap between the adjacent back surface side conductive portions 60B of the base material back surface 51b.
  • the lengths of the first drive connecting members 81 and 82 that connect the switching element 20 and the first drive conductive portions 61A and 61B can be shortened.
  • the length of the first drive connecting member 82 that connects the switching element 20 and the second drive conductive portion 62 can be shortened.
  • the length of the control connecting member 84 that connects the switching element 20 and the control conductive portion 65 can be shortened.
  • the lengths of the laser connecting members 85 and 86 that connect the semiconductor laser element 10 and the fourth driving conductive portions 64A and 64B can be shortened. Therefore, the inductance caused by each of the connecting members 81 to 86 can be reduced. In addition, the shortening of the length of the control connecting member 84 makes it difficult for noise to be generated in the signal from the driver circuit 140.
  • the semiconductor laser element 10 is arranged at the center of the base material 51 in the lateral direction X. According to this configuration, since the bias of the semiconductor laser element 10 in the lateral direction X with respect to the support substrate 50 is eliminated, the wiring pattern of the wiring board can be designed without considering the bias of the semiconductor laser element 10. Therefore, the usability of the semiconductor laser device 1A is improved.
  • the semiconductor laser element 10 can emit laser light having a pulse width of 10 ns or less. According to this configuration, the accuracy of the two-dimensional or three-dimensional distance measurement using the semiconductor laser device 1A can be improved.
  • the temporal change of the current ILD flowing through the semiconductor laser element 10 tends to be steep. That is, the influence of the inductance Ls between the first terminal 31 of the capacitors 30A and 30B and the source electrode 22 of the switching element 20 on the voltage Vg applied to the gate electrode 23 of the switching element 20 becomes large.
  • the influence of the inductance Ls on the voltage Vg is reduced by forming the first drive loop, the second drive loop, and the control loop individually. The current ILD flowing through the semiconductor laser element 10 can be increased.
  • the semiconductor laser device 1A of the first embodiment can be changed as follows, for example. The following modifications can be combined as long as there is no technical conflict.
  • the parts common to the first embodiment are designated by the same reference numerals as those in the first embodiment, and the description thereof will be omitted.
  • the semiconductor laser device 1A is configured to include one semiconductor laser element 10, but the number of the semiconductor laser elements 10 is not particularly limited and can be arbitrarily changed. That is, the semiconductor laser device 1A may include a plurality of semiconductor laser elements 10. In one example, as shown in FIG. 17, the semiconductor laser device 1A includes two semiconductor laser elements 10A and 10B.
  • the shapes of the third drive conductive portion 63 and the fourth drive conductive portions 64A and 64B in a plan view are the third drive conductive portion 63 and the fourth drive conductive portion 63, respectively, of the first embodiment. Different from 64A and 64B. Specifically, in order to mount the semiconductor laser elements 10A and 10B, the size of the semiconductor laser element mounting portion 63b of the third driving conductive portion 63 in the lateral direction X is increased. On the other hand, as the size of the semiconductor laser element mounting portion 63b in the lateral direction X is increased, the size of the fourth driving conductive portions 64A and 64B in the lateral direction X is reduced. As a result, it is possible to suppress an increase in the size of the semiconductor laser device 1A including the semiconductor laser elements 10A and 10B.
  • the semiconductor laser elements 10A and 10B are respectively mounted on the semiconductor laser element mounting portion 63b by a conductive bonding material.
  • the semiconductor laser elements 10A and 10B are arranged at intervals in the horizontal direction X in a state of being aligned with each other in the vertical direction Y.
  • Each of the semiconductor laser elements 10A and 10B is arranged so that the cathode electrode 12 (not shown in FIG. 17) faces the semiconductor laser element mounting portion 63b. Therefore, the cathode electrodes 12 of the semiconductor laser elements 10A and 10B are electrically connected to the semiconductor laser element mounting portion 63b. That is, the cathode electrode 12 of the semiconductor laser element 10A and the cathode electrode 12 of the semiconductor laser element 10B are electrically connected.
  • the semiconductor laser element 10A is arranged on the fourth driving conductive portion 64A side of the semiconductor laser element mounting portion 63b in the lateral direction X.
  • the anode electrode 11 of the semiconductor laser element 10A and the fourth driving conductive portion 64A are electrically connected by four laser connecting members 85.
  • the four laser connecting members 85 are arranged at intervals in the vertical direction Y.
  • the semiconductor laser element 10B is arranged on the fourth driving conductive portion 64B side of the semiconductor laser element mounting portion 63b in the lateral direction X.
  • the anode electrode 11 of the semiconductor laser element 10B and the fourth driving conductive portion 64B are electrically connected by four laser connecting members 86.
  • the four laser connecting members 86 are arranged at intervals in the vertical direction Y.
  • the shape of the back surface side conductive portion 60B seen from the thickness direction Z that is, the shape of the conductive portions 66A, 66B, 67, 68, 69A, 69B, 70 for each terminal seen from the thickness direction Z is It has the same shape as the conductive portions 66A, 66B, 67, 68, 69A, 69B, 70 for each terminal as viewed from the thickness direction Z of the first embodiment.
  • the number and arrangement of the third drive communication unit 75 as the communication unit 60C is different from that of the third drive communication unit 75 of the first embodiment.
  • the number of switching element-side connecting portions 75a is smaller than the number of switching element-side connecting portions 75a of the first embodiment.
  • four switching element side connecting portions 75a are provided at positions overlapping with the switching element 20 in the thickness direction Z.
  • the number of semiconductor laser element side connecting portions 75b is larger than the number of semiconductor laser element side connecting portions 75b of the first embodiment.
  • the semiconductor laser element side connecting portion 75b is provided at a position where it overlaps with the semiconductor laser element 10A in the thickness direction Z and at a position where it overlaps with the semiconductor laser element 10B in the thickness direction Z, respectively.
  • the intensity of the laser light emitted from the semiconductor laser device 1A is increased.
  • an element connecting member 87 that connects the anode electrode 11 of the semiconductor laser element 10A and the anode electrode 11 of the semiconductor laser element 10B may be added.
  • the element connecting member 87 is a wire made of a metal such as Au (gold), Cu (copper), or Al (aluminum).
  • the element connecting member 87 is formed by wire bonding.
  • the number of the element connecting members 87 is not particularly limited, but is one in FIG.
  • the wire diameter of the element connecting member 87 is not particularly limited, but is equal to, for example, the wire diameter of the laser connecting members 85 and 86.
  • the difference between the wire diameter of the element connecting member 87 and the wire diameter of the laser connecting members 85 and 86 is within 5% of the wire diameter of the laser connecting members 85 and 86, for example, the wire of the element connecting member 87 It can be said that the diameter is equal to the wire diameter of the laser connecting members 85 and 86.
  • the configuration and shape of the back surface side conductive portion 60B of the semiconductor laser device 1A shown in FIG. 19 are the same as those of the back surface side conductive portion 60B of the modified example of the semiconductor laser device 1A shown in FIG.
  • the anode electrode 11 of the semiconductor laser element 10A and the anode electrode 11 of the semiconductor laser element 10B are connected by the element connecting member 87, the anode electrodes 11 of the semiconductor laser element 10B are connected via the semiconductor laser elements 10A and 10B.
  • the fourth driving conductive portions 64A and 64B are electrically connected.
  • the semiconductor laser device 1A is a semiconductor laser device having a plurality of semiconductor light emitting layers 14 arranged side by side in the lateral direction X and one electrode connecting the plurality of semiconductor light emitting layers 14. May be provided.
  • the semiconductor laser device 1A may include a semiconductor laser device 10C having two semiconductor light emitting layers 14A and 14B (see FIG. 21).
  • the shape of the semiconductor laser device 10C in a plan view is a rectangular shape in which the horizontal direction X is the long side direction and the vertical direction Y is the short side direction.
  • the size of the semiconductor laser element 10C in the lateral direction X is larger than the size of the semiconductor laser element 10 of the first embodiment in the lateral direction X.
  • the semiconductor laser element 10C has a substrate 13 and semiconductor light emitting layers 14A and 14B arranged in the horizontal direction X on the substrate 13.
  • the semiconductor light emitting layers 14A and 14B have the same configuration as the semiconductor light emitting layer 14 of the first embodiment.
  • the insulating layer 16 covers both the semiconductor light emitting layers 14A and 14B.
  • a contact opening 16b is formed on the top of the semiconductor light emitting layer 14A in the insulating layer 16, and a contact opening 16c is formed on the top of the semiconductor light emitting layer 14B in the insulating layer 16.
  • the contact opening 16b exposes the semiconductor light emitting layer 14A, and the contact opening 16c exposes the semiconductor light emitting layer 14B.
  • Contact electrodes 17 are formed in the contact openings 16b and 16c.
  • the contact electrode 17 is formed on the insulating layer 16 from the contact opening 16b to the contact opening 16c. Therefore, the contact electrode 17 is electrically connected to both the semiconductor light emitting layers 14A and 14B. That is, the contact electrode 17 corresponds to one electrode connecting a plurality of semiconductor light emitting layers 14. An anode electrode 11 (see FIG. 20) is formed on the contact electrode 17.
  • the semiconductor laser element becomes one chip as compared with the semiconductor laser device 1A shown in FIGS. 17 to 19, and the anode electrodes of the two semiconductor laser elements are connected to each other. Since no connecting member is required, the configuration of the semiconductor laser diode device 1A can be simplified.
  • the back surface side conductive portion 60B may integrate the first terminal conductive portion 66B and the third terminal conductive portion 68.
  • the semiconductor laser device 1A is a terminal in which the conductive portion 66B for the first terminal, the conductive portion 68 for the third terminal, and the conductive portion 69B for the fourth terminal (both see FIG. 3) are integrated.
  • the conductive portion 78 may be provided.
  • the shape of the terminal conductive portion 78 in a plan view is a rectangular shape in which the horizontal direction X is the long side direction and the vertical direction Y is the short side direction.
  • the shape of the terminal conductive portion 78 in a plan view can be arbitrarily changed.
  • the shape of the terminal conductive portion 78 in a plan view may be square.
  • the area of the terminal conductive portion 78 in the plan view is larger than the total area of the first terminal conductive portion 66B, the third terminal conductive portion 68, and the fourth terminal conductive portion 69B in the plan view of the first embodiment. large. Therefore, the heat dissipation performance of the semiconductor laser device 1A by the terminal conductive portion 78 is improved.
  • the terminal conductive portion 78 has a configuration in which the conductive portion 68 for the third terminal, the conductive portion 66B for the first terminal, and the conductive portion 69B for the fourth terminal are electrically connected, the first drive connecting portion is formed.
  • the 73B and the fourth drive connecting unit 76B (both see FIG. 3) can be omitted. Therefore, the configuration of the semiconductor laser device 1A can be simplified.
  • Communication unit 76B may be added.
  • the configuration for connecting the main surface side conductive portion 60A and the back surface side conductive portion 60B is not limited to the through hole 71.
  • a side connecting unit 60D may be provided instead of a part of the connecting unit 60C.
  • the side surface connecting portion 60D is formed on the second base material side surface 51d, the third base material side surface 51e, and the fourth base material side surface 51f of the base material 51, respectively.
  • the arrangement mode of the main surface side conductive portion 60A and the back surface side conductive portion 60B and the base material 51 is different.
  • the arrangement configurations of the second drive conductive portion 62 and the control conductive portion 65 and the second terminal conductive portion 67 and the control terminal conductive portion 70 are different from each other. More specifically, when viewed from the lateral direction X, the second driving conductive portion 62 and the controlling conductive portion 65 each overlap the third driving conductive portion 63.
  • the second driving conductive portion 62 is arranged closer to the side surface 51f of the fourth base material than the third driving conductive portion 63 in the lateral direction X.
  • the control conductive portion 65 is arranged closer to the third base material side surface 51e than the third drive conductive portion 63 in the lateral direction X.
  • the second terminal conductive portion 67 is arranged so as to overlap the second driving conductive portion 62 in the thickness direction Z.
  • the control terminal conductive portion 70 is arranged so as to overlap the control conductive portion 65 in the thickness direction Z. As described above, when viewed from the lateral direction X, the conductive portion 67 for the second terminal and the conductive portion 70 for the control terminal each overlap with the conductive portion 68 for the third terminal.
  • the conductive portion 67 for the second terminal is arranged closer to the side surface 51f of the fourth base material than the conductive portion 68 for the third terminal in the lateral direction X.
  • the control terminal conductive portion 70 is arranged closer to the third base material side surface 51e than the third terminal conductive portion 68 in the lateral direction X.
  • the main surface side conductive portion 60A and the back surface side conductive portion 60B extend so as to be connected to the second base material side surface 51d, the third base material side surface 51e, and the fourth base material side surface 51f, respectively.
  • the first driving conductive portion 61A, the fourth driving conductive portion 64A, and the control conductive portion 65 are each connected to the third base material side surface 51e.
  • the first driving conductive portion 61B, the second driving conductive portion 62, and the fourth driving conductive portion 64B are each connected to the side surface 51f of the fourth base material.
  • the third driving conductive portion 63 is connected to the second base material side surface 51d.
  • the conductive portion 66A for the first terminal, the conductive portion 69A for the fourth terminal, and the conductive portion 70 for the control terminal are each connected to the side surface 51e of the third base material.
  • the conductive portion 66B for the first terminal, the conductive portion 67 for the second terminal, and the conductive portion 69B for the fourth terminal are each connected to the side surface 51f of the fourth base material.
  • the conductive portion 68 for the third terminal is connected to the side surface 51d of the second base material.
  • Recesses 53A and 53B are provided in the portion of the side surface 51d of the second base material where the conductive portion 63 for driving and the conductive portion 68 for the third terminal are arranged.
  • the recesses 53A and 53B are recessed in a curved shape from the second base material side surface 51d to the first base material side surface 51c, respectively.
  • the recesses 53A and 53B are arranged at intervals in the lateral direction X.
  • Recesses 54A, 54B, 54C are provided on the side surface 51e of the third base material.
  • the recesses 54A, 54B, and 54C are each recessed in a curved shape from the third base material side surface 51e to the fourth base material side surface 51f.
  • the recesses 54A, 54B, 54C are arranged at intervals in the vertical direction Y.
  • the recess 54A is provided in a portion of the base material 51 where the first driving conductive portion 61A and the first terminal conductive portion 66A are arranged.
  • the recess 54B is provided in a portion of the base material 51 where the control conductive portion 65 and the control terminal conductive portion 70 are arranged.
  • the recess 54C is provided in a portion of the base material 51 where the fourth driving conductive portion 64A and the fourth terminal conductive portion 69A are arranged.
  • Recesses 55A, 55B, 55C are provided on the side surface 51f of the fourth base material.
  • the recesses 55A, 55B, and 55C are recessed in a curved shape from the side surface 51f of the fourth base material to the side surface 51e of the third base material, respectively.
  • the recesses 55A, 55B, 55C are arranged at intervals in the vertical direction Y.
  • the recess 55A is provided at a position overlapping the recess 54A
  • the recess 55B is provided at a position overlapping the recess 54B
  • the recess 55C is provided at a position overlapping the recess 54C.
  • the recess 55A is provided in a portion of the base material 51 where the first driving conductive portion 61B and the first terminal conductive portion 66B are arranged.
  • the recess 55B is provided in a portion of the base material 51 where the second driving conductive portion 62 and the second terminal conductive portion 67 are arranged.
  • the recess 55C is provided in a portion of the base material 51 where the fourth driving conductive portion 64B and the fourth terminal conductive portion 69B are arranged.
  • the recesses 53A, 53B, 54A to 54C, and 55A to 55C are formed from the base material main surface 51a to the base material back surface 51b of the base material 51, respectively. Further, the shapes and sizes of the recesses 53A, 53B, 54A to 54C, and 55A to 55C are equal to each other.
  • the side connecting portion 60D is provided in each of the recesses 53A, 53B, 54A to 54C, and 55A to 55C.
  • the side connecting portion 60D is formed along the inner side surface forming the recesses 53A, 53B, 54A to 54C, and 55A to 55C, respectively.
  • the side connecting unit 60D includes the side connecting units 76A to 76H.
  • the side connecting portions 76C and 76F are each composed of a metal film 76a.
  • the side connecting portions 76A, 76B, 76D, 76E, 76G, and 76H are each composed of a metal film 76a like the side connecting portions 76C and 76F, respectively.
  • the end portion of the base material 51 of the metal film 76a near the main surface 51a of the base material is connected to the conductive portion 60A on the main surface side, and the end portion of the base material 51 of the metal film 76a near the back surface 51b of the base material is the conductive portion on the back surface side. It is connected to 60B.
  • the material constituting the metal film 76a is the same as the material constituting the main surface side conductive portion 60A and the back surface side conductive portion 60B.
  • the side surface connecting portion 76A is provided in the recess 53A, and connects the third driving conductive portion 63 and the third terminal conductive portion 68.
  • the side surface connecting portion 76B is provided in the recess 53B, and connects the third driving conductive portion 63 and the third terminal conductive portion 68.
  • the side surface connecting portion 76C is provided in the recess 54A, and connects the first driving conductive portion 61A and the first terminal conductive portion 66A.
  • the side surface connecting portion 76D is provided in the recess 54B, and connects the second driving conductive portion 62 and the second terminal conductive portion 67.
  • the side surface connecting portion 76E is provided in the recess 54C, and connects the fourth driving conductive portion 64A and the fourth terminal conductive portion 69A.
  • the side surface connecting portion 76F is provided in the recess 55A, and connects the first driving conductive portion 61B and the first terminal conductive portion 66B.
  • the side surface connecting portion 76G is provided in the recess 55B, and connects the control conductive portion 65 and the control terminal conductive portion 70.
  • the side surface connecting portion 76H is provided in the recess 55C, and connects the fourth driving conductive portion 64B and the fourth terminal conductive portion 69B.
  • the first drive connecting portions 73A and 73B are omitted by providing the side connecting portions 76C and 76F, and the side connecting portions are omitted.
  • the provision of the 76B omits the second drive communication section 74 (see FIG. 3), and the provision of the side contact sections 76E and 76H omits the fourth drive contact sections 76A and 76B (see FIG. 3).
  • the control communication unit 77 (see FIG. 3) is omitted because the side surface communication unit 76G is provided.
  • FIGS. 23 and 24 At least one of the first drive communication unit 73A, 73B, the second drive communication unit 74, the fourth drive communication unit 76A, 76B, and the control communication unit 77 is shown in FIGS. 23 and 24. It may be added to the semiconductor laser device 1A of.
  • the number of capacitors 30A bonded to the first driving conductive portion 61A and the fourth driving conductive portion 64A, and the number of capacitors 30B bonded to the first driving conductive portion 61B and the fourth driving conductive portion 64B The number can be changed arbitrarily.
  • a plurality of capacitors 30A and 30B may be provided, respectively. Further, the number of capacitors 30A and 30B may be set according to, for example, the output of the semiconductor laser element 10.
  • the semiconductor laser device 1B of the second embodiment will be described with reference to FIGS. 26 and 27.
  • the semiconductor laser device 1B of the present embodiment has a configuration of the conductive portion 60 and an arrangement configuration of the semiconductor laser element 10, the switching element 20, and the capacitors 30A and 30B. different.
  • the same components as those in the first embodiment may be designated by the same reference numerals, and the description thereof may be omitted.
  • the semiconductor laser element 10 and the switching element 20 are not arranged at the center of the support substrate 50 in the lateral direction X, and the support substrate 50 is located in the lateral direction X. It is arranged unevenly on the side surface 51f side of the fourth base material with respect to the central portion.
  • the capacitors 30A and 30B are not arranged on both sides of the switching element 20, but are arranged on the side surface 51e side of the third base material with respect to the switching element 20 in the lateral direction X. ..
  • the configuration of the conductive portion 60 is different from the configuration of the conductive portion 60 of the first embodiment with respect to the arrangement configuration of the semiconductor laser element 10, the switching element 20, and the capacitors 30A and 30B.
  • the main surface side conductive portion 60A includes a first drive conductive portion 61, a second drive conductive portion 62, a third drive conductive portion 63, a fourth drive conductive portion 64, and a control conductive portion.
  • Has 65 That is, there is one each of the first driving conductive portion 61 and the fourth driving conductive portion 64.
  • the first driving conductive portion 61 is arranged in a portion of the base material 51 closer to the side surface 51e of the third base material in the lateral direction X.
  • the first driving conductive portion 61 is arranged in a portion of the base material 51 near the side surface 51d of the second base material in the vertical direction Y. That is, the first driving conductive portion 61 is arranged on the base material 51 so that the central portion in the vertical direction Y is located closer to the side surface 51d of the second base material than the central portion in the vertical direction Y of the base material 51.
  • the shape of the first driving conductive portion 61 in a plan view is a rectangular shape in which the vertical direction Y is the long side direction and the horizontal direction X is the short side direction.
  • the fourth driving conductive portion 64 is located on the portion of the base material 51 closer to the side surface 51e of the third base material in the horizontal direction X and the portion of the base material 51 closer to the side surface 51c of the first base material in the vertical direction Y. Have been placed.
  • the shape of the fourth driving conductive portion 64 in a plan view is a rectangular shape in which the horizontal direction X is the long side direction and the vertical direction Y is the short side direction. Seen from the vertical direction Y, the fourth driving conductive portion 64 overlaps with the first driving conductive portion 61.
  • the size of the fourth driving conductive portion 64 in the lateral direction X is larger than the size of the first driving conductive portion 61 in the lateral direction X.
  • Capacitors 30A and 30B are joined to the first driving conductive portion 61 and the fourth driving conductive portion 64 by a conductive bonding material such as Ag paste or solder.
  • the capacitors 30A and 30B are arranged so as to be adjacent to each other with an interval in the horizontal direction X in a state of being aligned in the vertical direction Y.
  • the first terminals 31 of the capacitors 30A and 30B are arranged at the ends of the first driving conductive portions 61 closer to the fourth driving conductive portion 64 in the vertical direction Y.
  • the second terminals 32 of the capacitors 30A and 30B are arranged at the ends of the fourth driving conductive portions 64 closer to the first driving conductive portion 61 in the vertical direction Y.
  • the third driving conductive portion 63 is arranged in a portion of the base material 51 closer to the side surface 51f of the fourth base material in the lateral direction X.
  • the third driving conductive portion 63 is arranged closer to the side surface 51c of the first base material of the base material 51 in the vertical direction Y. That is, the third driving conductive portion 63 is arranged on the base material 51 so that the central portion in the vertical direction Y is located closer to the side surface 51c of the first base material than the central portion in the vertical direction Y of the base material 51.
  • the third driving conductive portion 63 can be divided into a switching element mounting portion 63a and a semiconductor laser element mounting portion 63b.
  • the switching element mounting portion 63a and the semiconductor laser element mounting portion 63b are arranged in the vertical direction Y.
  • the semiconductor laser element mounting portion 63b is a portion of the third driving conductive portion 63 near the side surface 51c of the first base material in the vertical direction Y.
  • the shape of the semiconductor laser element mounting portion 63b in a plan view is a rectangular shape in which the horizontal direction X is the long side direction and the vertical direction Y is the short side direction.
  • the switching element mounting portion 63a is closer to the second base material side surface 51d than the semiconductor laser element mounting portion 63b.
  • the shape of the switching element mounting portion 63a in a plan view is a rectangular shape in which the vertical direction Y is the long side direction and the horizontal direction X is the short side direction.
  • the size of the switching element mounting portion 63a in the lateral direction X is larger than the size of the semiconductor laser element mounting portion 63b in the lateral direction X.
  • the semiconductor laser element mounting portion 63b is located closer to the side surface 51f of the fourth base material with respect to the switching element mounting portion 63a. Therefore, a notch 63c is formed next to the semiconductor laser element mounting portion 63b in the third driving conductive portion 63 in the lateral direction X.
  • the end portion of the fourth driving conductive portion 64 near the side surface 51f of the fourth base material is inserted into a part of the notch portion 63c.
  • the semiconductor laser element 10 is bonded to the semiconductor laser element mounting portion 63b with a conductive bonding material such as Ag paste or solder.
  • the semiconductor laser element 10 is arranged at the end of the semiconductor laser element mounting portion 63b near the fourth driving conductive portion 64 in the lateral direction X.
  • the semiconductor laser element 10 is arranged so that its cathode electrode 12 (not shown in FIG. 26) faces the semiconductor laser element mounting portion 63b side. Therefore, the cathode electrode 12 is electrically connected to the semiconductor laser element mounting portion 63b (third driving conductive portion 63) via the conductive bonding material.
  • the anode electrode 11 of the semiconductor laser device 10 faces the side opposite to the third driving conductive portion 63 in the thickness direction Z.
  • the anode electrode 11 and the fourth driving conductive portion 64 are electrically connected by a plurality of (four in this embodiment) laser connecting members 85.
  • the four laser connecting members 85 are arranged at intervals in the vertical direction Y.
  • Each laser connecting member 85 has a first end portion 85a and a second end portion 85b.
  • the first end portion 85a is joined to the anode electrode 11.
  • the first end portion 85a is joined to the central portion of the anode electrode 11 in the lateral direction X.
  • the second end portion 85b is joined to the fourth driving conductive portion 64.
  • the second end portion 85b is joined to the end portion of the fourth driving conductive portion 64 near the semiconductor laser element mounting portion 63b.
  • the switching element 20 is joined to the switching element mounting portion 63a by a conductive bonding material.
  • the switching element 20 is joined to the switching element mounting portion 63a in a state where the drain electrode 21 (not shown in FIG. 26) of the switching element 20 faces the third driving conductive portion 63 side in the thickness direction Z. Therefore, the drain electrode 21 is electrically connected to the third driving conductive portion 63 via the conductive bonding material. In this way, the drain electrode 21 and the cathode electrode 12 of the semiconductor laser element 10 are electrically connected via the third driving conductive portion 63.
  • the shape and arrangement of the source electrode 22 and the gate electrode 23 of the switching element 20 of the present embodiment are different from those of the source electrode 22 and the gate electrode 23 of the switching element 20 of the first embodiment. Specifically, a notch 25 is formed in the source electrode 22 closer to the side surface 51d of the second base material and closer to the side surface 51f of the fourth base material. A gate electrode 23 is formed in the notch 25. As described above, the gate electrode 23 is located at the end of the element main surface 24a of the switching element 20 closer to the side surface 51d of the second base material and closer to the side surface 51f of the fourth base material.
  • the second driving conductive portion 62 and the controlling conductive portion 65 are respectively arranged closer to the side surface 51d of the second base material than the third driving conductive portion 63 in the vertical direction Y.
  • the second driving conductive portion 62 and the controlling conductive portion 65 are respectively arranged closer to the side surface 51f of the fourth base material than the first driving conductive portion 61 in the lateral direction X.
  • the second driving conductive portion 62 and the controlling conductive portion 65 are arranged at intervals in the horizontal direction X while being aligned in the vertical direction Y.
  • the source electrode 22 and the first driving conductive portion 61 are electrically connected by a plurality of (three in this embodiment) first driving connecting members 81.
  • the three first drive connecting members 81 are arranged at intervals in the vertical direction Y.
  • the source electrode 22 and the second driving conductive portion 62 are electrically connected by the second driving connecting member 83.
  • the gate electrode 23 and the control conductive portion 65 are electrically connected by a control connecting member 84.
  • the number of the first drive connecting members 81 can be arbitrarily changed. For example, the number of the first drive connecting members 81 may be set according to the output of the semiconductor laser element 10.
  • the back surface side conductive portions 60B include conductive portions 66A and 66B for the first terminal, conductive portions 67 for the second terminal, conductive portions 68A and 68B for the third terminal, and conductive portions 69 for the fourth terminal. It also has a conductive portion 70 for control terminals.
  • the conductive portions 66A and 66B for the first terminal are arranged at intervals in the vertical direction Y.
  • the first terminal conductive portions 66A and 66B are arranged at positions overlapping with the first driving conductive portion 61 in the thickness direction Z.
  • the shape of the conductive portion 66A for the first terminal in a plan view is a rectangular shape in which the vertical direction Y is the long side direction and the horizontal direction X is the short side direction.
  • the conductive portion 66B for the first terminal is arranged closer to the side surface 51d of the second base material than the conductive portion 66A for the first terminal.
  • the shape of the conductive portion 66B for the first terminal in a plan view is a rectangular shape in which the horizontal direction X is the long side direction and the vertical direction Y is the short side direction.
  • the size of the conductive portion 66B for the first terminal in the vertical direction Y is smaller than the size of the conductive portion 66A for the first terminal in the vertical direction Y.
  • the second terminal conductive portion 67 is arranged at a position overlapping the second drive conductive portion 62 in the thickness direction Z.
  • the second terminal conductive portion 67 is arranged at intervals in the horizontal direction X in a state of being aligned with the first terminal conductive portion 66B in the vertical direction Y.
  • the conductive portions 68A and 68B for the third terminal are arranged at intervals in the vertical direction Y.
  • the third terminal conductive portions 68A and 68B are arranged at positions overlapping with the third driving conductive portion 63 in the thickness direction Z.
  • the shape of the conductive portion 68A for the third terminal in a plan view is a rectangular shape in which the vertical direction Y is the long side direction and the horizontal direction X is the short side direction.
  • the shape of the conductive portion 68B for the third terminal in a plan view is a rectangular shape in which the horizontal direction X is the long side direction and the vertical direction Y is the short side direction.
  • the size of the conductive portion 68B for the third terminal in the vertical direction Y is smaller than the size of the conductive portion 68A for the third terminal in the vertical direction Y.
  • the conductive portion 69 for the fourth terminal is arranged at intervals in the horizontal direction X in a state of being aligned with the conductive portion 68B for the third terminal in the vertical direction Y.
  • the conductive portion 69 for the fourth terminal is arranged closer to the side surface 51e of the third base material than the conductive portion 68B for the third terminal.
  • the fourth terminal conductive portion 69 is arranged at a distance from the first terminal conductive portion 66A in the vertical direction Y in a state of being aligned with the first terminal conductive portions 66A and 66B in the horizontal direction X.
  • the conductive portion 69 for the fourth terminal is arranged on the side surface 51c side of the first base material with respect to the conductive portion 66A for the first terminal in the vertical direction Y. In the thickness direction Z, the fourth terminal conductive portion 69 is arranged at a position overlapping with the fourth driving conductive portion 64.
  • the control terminal conductive portions 70 are arranged at intervals in the horizontal direction X in a state of being aligned with the second terminal conductive portion 67 in the vertical direction Y.
  • the control terminal conductive portion 70 is arranged closer to the fourth base material side surface 51f than the second terminal conductive portion 67 in the lateral direction X.
  • the control terminal conductive portion 70 is arranged at a position overlapping the control conductive portion 65.
  • the communication unit 60C includes a first drive communication unit 73A, 73B, a second drive communication unit 74, a third drive communication unit 75A, 75B, and a fourth drive communication unit 76. , And a control communication unit 77.
  • Each of the connecting portions 73A, 73B, 74, 75A, 75B, 76, 77 has a through hole 71 and a conductor portion 72 (not shown in FIGS. 26 and 27) as in the first embodiment.
  • the first drive connecting portion 73A connects the first driving conductive portion 61 and the first terminal conductive portion 66A.
  • the number of the first drive communication units 73A is not particularly limited, but in the present embodiment, four first drive communication units 73A are provided.
  • the first drive connecting portion 73B connects the first driving conductive portion 61 and the first terminal conductive portion 66B.
  • the number of the first drive communication units 73B is not particularly limited, but in the present embodiment, two first drive communication units 73B are provided.
  • the second drive connecting portion 74 connects the second drive conductive portion 62 and the second terminal conductive portion 67.
  • the third drive connecting portion 75A connects the switching element mounting portion 63a of the third drive conductive portion 63 and the third terminal conductive portion 68A.
  • the number of the third drive communication unit 75A is not particularly limited, but in the present embodiment, nine third drive communication units 75A are provided.
  • the third drive connecting portion 75B connects the semiconductor laser element mounting portion 63b of the third drive conductive portion 63 and the conductive portion 68B for the third terminal.
  • the number of the third drive communication unit 75B is not particularly limited, but in the present embodiment, two third drive communication units 75B are provided.
  • One of the third drive connecting portions 75B is provided at a position overlapping the semiconductor laser element 10 in the thickness direction Z.
  • the semiconductor laser device 1B of the present embodiment When the semiconductor laser device 1B is applied to the laser system 100, the positive electrode 111 of the power supply 110 is connected to the fourth driving conductive portion 64, and the negative electrode 112 of the power supply 110 is connected to the first driving conductive portion 61. Further, the output electrode 141 of the driver circuit 140 is connected to the control conductive portion 65, and the input electrode 142 is connected to the second drive conductive portion 62. In this way, when the current is supplied from the power supply 110 to the semiconductor laser device 1B, the electric charge is stored in the capacitors 30A and 30B when the switching element 20 is off, and the electric charge is stored in the capacitors 30A and 30B when the switching element 20 is on.
  • the generated electric charge flows to the semiconductor laser element 10 and the switching element 20.
  • a current flows through the semiconductor laser element 10 and the switching element 20.
  • a current flows from the source electrode 22 of the switching element 20 to the negative electrode of the power supply 110 via the first driving conductive portion 61.
  • a driving loop is formed in which currents based on the electric charges stored in the capacitors 30A and 30B flow through the semiconductor laser element 10 and the switching element 20, respectively.
  • the second terminal 32 of the capacitors 30A and 30B, the fourth drive conductive portion 64, the laser connection member 85, the anode electrode 11 of the semiconductor laser element 10, the cathode electrode 12, and the third drive Current flows in the order of the conductive portion 63, the drain electrode 21 of the switching element 20, the source electrode 22, the first drive connecting member 81, and the first terminal 31 of the capacitors 30A and 30B.
  • the voltage Vg is generated between the input electrode 142 and the output electrode 141 of the driver circuit 140
  • the voltage Vgs which is the voltage between the gate and the source
  • the gate electrode 23 of the switching element 20 is applied to the gate electrode 23 of the switching element 20.
  • the output electrode 141 of the driver circuit 140 the control terminal conductive portion 70, the control connecting portion 77, the control conductive portion 65, and the control connecting member 84 , Gate electrode 23, source electrode 22, second drive connecting member 83, second drive conductive part 62, second drive connecting part 74, second terminal conductive part 67, and input electrode 142.
  • a control loop is formed.
  • the voltage Vgs applied to the gate electrode 23 is input. It is generated based on the potential of the source electrode 22 connected to the electrode 142.
  • the current driving loop between the power supply 110, the semiconductor laser element 10 and the switching element 20 and the current control loop between the driver circuit 140 and the switching element 20 are individually formed.
  • the voltage Vg applied to the input electrode 142 of the driver circuit 140 and the voltage Vgs applied to the gate electrode 23 are less likely to be affected by the drive loop. Therefore, according to the semiconductor laser device 1B of the present embodiment, the same effect as that of the first embodiment can be obtained.
  • the semiconductor laser device 1B of the second embodiment can be changed as follows, for example. The following modifications can be combined as long as there is no technical conflict.
  • the parts common to the second embodiment are designated by the same reference numerals as those in the second embodiment, and the description thereof will be omitted.
  • the second driving conductive portion 62 and the control conductive portion 65 may be exchanged.
  • the conductive portion 67 for the second terminal and the conductive portion 70 for the control terminal are also replaced in the same manner.
  • the position of the notch 25 of the source electrode 22 of the switching element 20 is changed to be closer to the side surface 51d of the second base material and closer to the side surface 51e of the third base material in the source electrode 22.
  • the gate electrode 23 is located closer to the side surface 51d of the second base material and closer to the side surface 51e of the third base material in the element main surface 24a of the switching element 20.
  • a terminal conductive portion in which the first terminal conductive portion 66A and the first terminal conductive portion 66B are integrated may be formed on the back surface 51b of the base material.
  • the conductive portion for the terminal in which the conductive portion 68A for the third terminal and the conductive portion 68B for the third terminal are integrated may be formed on the back surface 51b of the base material.
  • the semiconductor laser diode device 1C of the third embodiment will be described with reference to FIGS. 28 and 29.
  • the semiconductor laser device 1C of the present embodiment is different from the semiconductor laser device 1B of the second embodiment mainly in the shape of a part of the conductive portion 60 and the arrangement configuration of the electrodes of the switching element 20A.
  • the same components as those in the second embodiment may be designated by the same reference numerals, and the description thereof may be omitted.
  • the size of the first driving conductive portion 61 in the vertical direction Y is smaller than the size of the first driving conductive portion 61 of the second embodiment in the vertical direction Y.
  • the second driving conductive portion 62 is overlapped with the first driving conductive portion 61 and the end portion of the third driving conductive portion 63 closer to the first driving conductive portion 61 when viewed from the vertical direction Y. Have been placed.
  • the size of the second driving conductive portion 62 in the lateral direction X is larger than the size of the second driving conductive portion 62 of the second embodiment in the lateral direction X.
  • the size of the control conductive portion 65 in the lateral direction X is larger than the size of the control conductive portion 65 of the second embodiment in the lateral direction X.
  • the conductive portion 67 for the second terminal overlaps with the conductive portion 66A for the first terminal when viewed from Y in the vertical direction, and the conductive portion 66A for the first terminal among the conductive portions 68 for the third terminal. It is arranged so as to overlap the near end.
  • the size of the conductive portion 67 for the second terminal in the lateral direction X is larger than the size of the conductive portion 67 for the second terminal in the second embodiment in the lateral direction X.
  • the size of the control terminal conductive portion 70 in the lateral direction X is larger than the size of the control terminal conductive portion 70 of the second embodiment in the lateral direction X.
  • the conductive portion 66B for the first terminal and the connecting portion 73B for the first drive are omitted.
  • three second drive communication units 74 are provided, and two control communication units 77 are provided.
  • the three second drive connecting portions 74 are arranged at intervals in the horizontal direction X in a state of being aligned in the vertical direction Y.
  • the two control communication units 77 are arranged at intervals in the horizontal direction X in a state of being aligned in the vertical direction Y.
  • the switching element 20A is joined to the switching element mounting portion 63a of the third driving conductive portion 63 by a bonding material.
  • the bonding material of the present embodiment is not limited to the conductive bonding material, and an insulating bonding material can also be used.
  • the shape of the switching element 20A in a plan view is, for example, a rectangular shape in which the horizontal direction X is the long side direction and the vertical direction Y is the short side direction.
  • the switching element 20A for example, a transistor made of Si (silicon), SiC (silicon carbide), GaN (gallium nitride), or the like is used.
  • SiC silicon carbide
  • GaN gallium nitride
  • the switching element 20A uses an N-type MOSFET made of Si.
  • the switching element 20A has an element main surface 24a that faces the same direction as the base material main surface 51a of the base material 51 of the support substrate 50 in the thickness direction Z.
  • a drain electrode 21, a source electrode 22, and a gate electrode 23 are formed on the element main surface 24a, respectively. That is, in the present embodiment, the drain electrode 21 is not formed on the back surface of the element (not shown).
  • the switching element 20A of the present embodiment is a transistor having a so-called horizontal structure.
  • the drain electrode 21, the source electrode 22, and the gate electrode 23 are arranged at intervals in the vertical direction Y.
  • the drain electrode 21 is formed in a portion of the element main surface 24a closer to the semiconductor laser element 10 in the vertical direction Y.
  • the drain electrode 21 is electrically connected to the third driving conductive portion 63 by the third driving connecting member 88.
  • three third drive connecting members 88 connect the drain electrode 21 and the third drive conductive portion 63.
  • the three third drive connecting members 88 are arranged at intervals in the lateral direction X.
  • the third drive connecting member 88 has a first end portion 88a and a second end portion 88b.
  • each third drive connecting member 88 is connected to the drain electrode 21. These first end portions 88a are arranged at intervals in the horizontal direction X in a state of being aligned in the vertical direction Y.
  • the second end portion 88b of each third drive connecting member 88 is arranged at the end portion of the switching element mounting portion 63a of the third drive conductive portion 63 closer to the semiconductor laser element mounting portion 63b in the vertical direction Y. ing.
  • These second end portions 88b are arranged at intervals in the horizontal direction X in a state of being aligned in the vertical direction Y.
  • the source electrode 22 and the gate electrode 23 are aligned in the vertical direction Y and arranged at intervals in the horizontal direction X.
  • the source electrode 22 is arranged on the side of the first driving conductive portion 61 with respect to the gate electrode 23 in the lateral direction X.
  • the source electrode 22 is electrically connected to the first driving conductive portion 61 by the first driving connecting member 81.
  • first driving connecting member 81 connects the source electrode 22 and the first drive conductive portion 61.
  • second driving connecting member 83 connects the source electrode 22 and the second drive conductive portion 62.
  • the first end 81a connected to the source electrode 22 of the two first drive connection members 81 is the first end 83a connected to the source electrode 22 of the second drive connection member 83, respectively. It is located closer to the gate electrode 23 than the gate electrode 23. In other words, the first end portion 83a is arranged closer to the first driving conductive portion 61 (second driving conductive portion 62) than the first end portion 81a.
  • the second end 81b connected to the first driving conductive portion 61 of the two first driving connecting members 81 communicates with the first terminals 31 of the capacitors 30A and 30B in the vertical direction Y for the first driving. It is arranged between the unit 73 and the unit 73.
  • the second end portion 83b connected to the second drive conductive portion 62 of the second drive connecting member 83 is the end of the second drive conductive portion 62 closer to the control conductive portion 65 in the lateral direction X. It is arranged in the department. As shown in FIG. 28, the length of the second drive connecting member 83 is shorter than the length of the first drive connecting member 81. Since the second drive connecting member 83 can be formed short, the inductance caused by the second drive connecting member 83 can be reduced. Further, according to the semiconductor laser device 1C of the present embodiment, the same effect as that of the second embodiment can be obtained.
  • the semiconductor laser device 1C of the third embodiment can be changed as follows, for example. The following modifications can be combined as long as there is no technical conflict.
  • the parts common to the first embodiment and the second embodiment are designated by the same reference numerals as those of the first embodiment and the second embodiment, and the description thereof will be omitted.
  • the switching element mounting portion 63a and the semiconductor laser element mounting portion 63b of the third driving conductive portion 63 may be arranged apart from each other in the vertical direction Y.
  • the second end portion 88b of the third drive connecting member 88 is arranged in the semiconductor laser element mounting portion 63b.
  • the semiconductor laser device 1C of the third embodiment has a configuration in which the switching element 20 of the semiconductor laser device 1B is replaced with the switching element 20A on the premise of the configuration of the semiconductor laser device 1B of the second embodiment. Not limited. As shown in FIG. 31, the semiconductor laser device 1C of the third embodiment has a configuration in which the switching element 20 of the semiconductor laser device 1A is replaced with the switching element 20A on the premise of the configuration of the semiconductor laser device 1A of the first embodiment. There may be.
  • the switching element 20A of the semiconductor laser device 1C of FIG. 31 has a drain electrode 21, a first source electrode 22A, a second source electrode 22B, and a gate electrode 23 formed on the element main surface 24a.
  • the drain electrode 21, the first source electrode 22A, the second source electrode 22B, and the gate electrode 23 are arranged at intervals in the vertical direction Y.
  • the drain electrode 21 is formed in a portion of the element main surface 24a closer to the semiconductor laser element 10 in the vertical direction Y.
  • the drain electrode 21 is electrically connected to the third driving conductive portion 63 by the third driving connecting member 88.
  • three third drive connecting members 88 connect the drain electrode 21 and the third drive conductive portion 63.
  • the three third drive connecting members 88 are arranged at intervals in the lateral direction X.
  • the first end portion 88a of each third drive connecting member 88 is connected to the drain electrode 21.
  • first end portions 88a are arranged at intervals in the horizontal direction X in a state of being aligned in the vertical direction Y.
  • the second end portion 88b of each third drive connecting member 88 is arranged at the end portion of the switching element mounting portion 63a of the third drive conductive portion 63 closer to the semiconductor laser element mounting portion 63b in the vertical direction Y. ing.
  • These second end portions 88b are arranged at intervals in the horizontal direction X in a state of being aligned in the vertical direction Y.
  • the first source electrode 22A, the second source electrode 22B, and the gate electrode 23 are arranged at intervals in the horizontal direction X while being aligned in the vertical direction Y.
  • the gate electrode 23 is arranged between the first source electrode 22A and the second source electrode 22B in the lateral direction X.
  • the first source electrode 22A is arranged on the side of the first driving conductive portion 61A with respect to the gate electrode 23.
  • the second source electrode 22B is arranged on the side of the first driving conductive portion 61B with respect to the gate electrode 23.
  • the first source electrode 22A is electrically connected to the first driving conductive portion 61A by the first driving connecting member 81.
  • the second source electrode 22B is electrically connected to the first driving conductive portion 61B by the first driving connecting member 82, and is electrically connected to the second driving conductive portion 62 by the second driving connecting member 83.
  • the second end portion 83b of the second drive connecting member 83 is arranged at a portion of the second drive conductive portion 62 that overlaps with the second source electrode 22B when viewed from the vertical direction Y. Therefore, the length of the second drive connecting member 83 can be shortened.
  • the gate electrode 23 is connected to the control conductive portion 65 by the control connecting member 84. Even with such a configuration, since the first drive connecting members 81 and 82 and the second drive connecting member 83 are separately formed, the same effect as that of the first embodiment can be obtained.
  • the configuration of the source electrode of the switching element 20A can be changed to the configuration of the source electrode of the switching element 20A shown in FIG. 32.
  • the switching element 20A of the semiconductor laser device 1C of FIG. 32 has a first source electrode 22A, a second source electrode 22B, and a third source electrode 22C as source electrodes.
  • the source electrodes 22A to 22C and the gate electrode 23 are arranged at the end of the element main surface 24a of the switching element 20A near the side surface 51d of the second base material in the vertical direction Y.
  • the source electrodes 22A to 22C and the gate electrodes 23 are arranged at intervals in the horizontal direction X while being aligned in the vertical direction Y.
  • the first source electrode 22A is arranged closer to the first driving conductive portion 61A than the source electrodes 22B and 22C and the gate electrode 23 in the lateral direction X.
  • the second source electrode 22B is arranged closer to the first driving conductive portion 61B than the source electrodes 22A and 22C and the gate electrode 23 in the lateral direction X.
  • the third source electrode 22C and the gate electrode 23 are arranged between the first source electrode 22A and the second source electrode 22B in the lateral direction X.
  • the third source electrode 22C is arranged on the second source electrode 22B side with respect to the gate electrode 23.
  • the first source electrode 22A is connected to the first driving conductive portion 61A by the first driving connecting member 81.
  • the second source electrode 22B is connected to the first driving conductive portion 61B by the first driving connecting member 82.
  • the third source electrode 22C is connected to the second driving conductive portion 62 by the second driving connecting member 83.
  • the second end portion 83b of the second drive connecting member 83 is arranged at the end portion of the second drive conductive portion 62 closer to the control conductive portion 65 in the lateral direction X. As a result, the positions of the third source electrode 22C and the second end portion 83b come closer to each other in the lateral direction X, so that the length of the second drive connecting member 83 can be shortened.
  • the gate electrode 23 is connected to the control conductive portion 65 by the control connecting member 84.
  • the second end portion 84b of the control connecting member 84 is connected to the end portion of the control conductive portion 65 closer to the second driving conductive portion 62 in the lateral direction X.
  • the positions of the gate electrode 23 and the second end portion 84b approach each other in the lateral direction X, so that the length of the control connecting member 84 can be shortened.
  • the semiconductor laser device 1C of FIG. 32 the same effect as that of the first embodiment can be obtained.
  • the shape of the third driving conductive portion 63 can be arbitrarily changed.
  • the switching element mounting portion 63a and the semiconductor laser element mounting portion 63b of the third driving conductive portion 63 may be arranged apart from each other in the vertical direction Y.
  • the second end portion 88b of the third drive connecting member 88 is arranged in the semiconductor laser element mounting portion 63b.
  • the semiconductor laser diode device 1D of the fourth embodiment will be described with reference to FIGS. 33 and 34.
  • the semiconductor laser device 1D of the present embodiment is different from the semiconductor laser device 1A of the first embodiment in that the driver circuit 140 is built-in.
  • the same components as those in the first embodiment may be designated by the same reference numerals, and the description thereof may be omitted.
  • the shape of the base material 51 of the support substrate 50 of the present embodiment in a plan view is a rectangular shape in which the vertical direction Y is the long side direction and the horizontal direction X is the short side direction.
  • the first driving conductive portions 61A and 61B and the third driving conductive portion 63 are arranged closer to the first base material side surface 51c of the base material 51 in the vertical direction Y. That is, the central portion of the first driving conductive portions 61A and 61B and the third driving conductive portion 63 in the vertical direction Y is located closer to the side surface 51c of the first substrate than the central portion of the base material 51 in the vertical direction Y.
  • the second driving conductive portion 62 and the control conductive portion 65 are omitted from the main surface side conductive portion 60A, and the back surface side conductive portion 60B to the second terminal.
  • the conductive portion 67 for use and the conductive portion 70 for control terminals are omitted.
  • the portions closer to the second base material side surface 51d than the first driving conductive parts 61A and 61B and the third driving conductive part 63 are designated as main surface side conductive parts 60A.
  • the driver circuit mounting portion 150, the first power supply conductive portion 151, the second power supply conductive portion 152, the signal conductive portion 153, and the reference voltage conductive portion 154 are formed.
  • the driver circuit mounting unit 150 is arranged at a position overlapping the third driving conductive unit 63 when viewed from the vertical direction Y.
  • the shape of the driver circuit mounting portion 150 in a plan view is a rectangular shape in which the horizontal direction X is the long side direction and the vertical direction Y is the short side direction.
  • a first power supply conductive portion 151, a second power supply conductive portion 152, a signal conductive portion 153, and a reference voltage conductive portion 154 are arranged on both sides of the driver circuit mounting portion 150 in the lateral direction X.
  • the first power supply conductive portion 151 and the second power supply conductive portion 152 are arranged on the third base material side surface 51e side with respect to the driver circuit mounting portion 150, and the driver circuit mounting portion A signal conductive portion 153 and a reference voltage conductive portion 154 are arranged on the side surface 51f side of the fourth base material with respect to 150.
  • the first power supply conductive portion 151 and the second power supply conductive portion 152 are arranged at intervals in the vertical direction Y while being aligned in the horizontal direction X. When viewed from the vertical direction Y, the first power supply conductive portion 151 and the second power supply conductive portion 152 are arranged at positions overlapping with the first drive conductive portion 61A, respectively.
  • the first power supply conductive portion 151 is arranged on the first drive conductive portion 61A side with respect to the second power supply conductive portion 152 in the vertical direction Y.
  • the signal conductive portion 153 and the reference voltage conductive portion 154 are arranged at intervals in the vertical direction Y while being aligned in the horizontal direction X. Seen from the vertical direction Y, the signal conductive portion 153 and the reference voltage conductive portion 154 are arranged at intervals in the vertical direction Y in a state of being aligned in the horizontal direction X. When viewed from the vertical direction Y, the signal conductive portion 153 and the reference voltage conductive portion 154 are respectively arranged at positions overlapping with the first drive conductive portion 61B. The signal conductive portion 153 is arranged on the first drive conductive portion 61B side with respect to the reference voltage conductive portion 154 in the vertical direction Y.
  • the shapes of the first power supply conductive portion 151, the second power supply conductive portion 152, the signal conductive portion 153, and the reference voltage conductive portion 154 in a plan view are square, respectively.
  • the shapes of the first power supply conductive portion 151, the second power supply conductive portion 152, the signal conductive portion 153, and the reference voltage conductive portion 154 in a plan view can be arbitrarily changed.
  • the shapes of the first power supply conductive portion 151, the second power supply conductive portion 152, the signal conductive portion 153, and the reference voltage conductive portion 154 in the plan view are long in either the vertical direction Y or the horizontal direction X.
  • It may have a rectangular shape in which the other side of the vertical direction Y and the horizontal direction X is the short side direction. At least one of the shapes of the first power supply conductive portion 151, the second power supply conductive portion 152, the signal conductive portion 153, and the reference voltage conductive portion 154 in a plan view may be different from the other shapes.
  • the driver circuit 140 is mounted on the driver circuit mounting unit 150.
  • the driver circuit 140 is configured as a chip in which electronic components such as transistors constituting the driver circuit 140 are sealed by a sealing member 143.
  • the sealing member 143 is configured to cover the entire electronic component with a resin material, but the specific configuration of the sealing member 143 is not particularly limited.
  • the shape of the driver circuit 140 in a plan view is a rectangular shape in which the horizontal direction X is the long side direction and the vertical direction Y is the short side direction.
  • the sealing member 143 has a sealing main surface 143a and a sealing back surface (not shown) facing opposite sides in the thickness direction Z.
  • the sealing main surface 143a faces the same direction as the element main surface 24a of the switching element 20 in the thickness direction Z.
  • the sealing back surface faces the same direction as the element back surface 24b of the switching element 20 in the thickness direction Z.
  • a plurality of electrodes 144 are exposed on the sealing main surface 143a.
  • the plurality of electrodes 144 include a first power supply electrode 144a, a second power supply electrode 144b, an output electrode 144c, an input electrode 144d, a signal electrode 144e, and a reference voltage output electrode 144f.
  • the first power supply electrode 144a is an electrode electrically connected to the positive electrode of a control power supply (not shown), and is, for example, an electrode to which a first power supply voltage (Vcc) is applied.
  • the first power supply electrode 144a is an end portion of the sealing main surface 143a closer to the third base material side surface 51e in the horizontal direction X and an end portion of the sealing main surface 143a closer to the switching element 20 in the vertical direction Y. Is located in.
  • the second power supply electrode 144b is an electrode electrically connected to the negative electrode of the control power supply, and is, for example, an electrode to which a second power supply voltage (GND) lower than the first power supply voltage (Vcc) is applied.
  • the second power supply electrode 144b is located at the end of the sealing main surface 143a closer to the third base material side surface 51e in the horizontal direction X, and closer to the second base material side surface 51d of the sealing main surface 143a in the vertical direction Y. It is located at the end of.
  • the output electrode 144c is an electrode for applying a gate voltage to the gate electrode 23 of the switching element 20.
  • the output electrode 144c is arranged at the center of the sealing main surface 143a in the lateral direction X and at the end of the sealing main surface 143a near the switching element 20 in the vertical direction Y.
  • the output electrode 144c is arranged at a position overlapping the gate electrode 23 of the switching element 20 when viewed from the vertical direction Y.
  • the input electrode 144d is an electrode for electrically connecting to the source electrode 22 of the switching element 20.
  • the input electrode 144d is arranged at the end of the sealing main surface 143a near the side surface 51f of the fourth substrate in the horizontal direction X and at the end of the sealing main surface 143a near the switching element 20 in the vertical direction Y. Has been done.
  • the input electrode 144d is arranged at a position overlapping with the source electrode 22 of the switching element 20 when viewed from the vertical direction Y.
  • the signal electrode 144e is an electrode to which a gate signal is input from a gate signal generation circuit (not shown) provided outside the semiconductor laser device 1D.
  • the signal electrode 144e is arranged at the end of the sealing main surface 143a near the side surface 51f of the fourth base material in the lateral direction X and at the center of the sealing main surface 143a in the vertical direction Y.
  • the reference voltage output electrode 144f is an electrode for transforming, for example, the first power supply voltage applied from the control power supply to a reference voltage (for example, 2.5V) and outputting it.
  • a regulator for generating a reference voltage is provided inside the driver circuit 140.
  • the reference voltage output electrode 144f is located at the end of the sealing main surface 143a near the side surface 51f of the fourth base material in the horizontal direction X, and closer to the side surface 51d of the second base material of the sealing main surface 143a in the vertical direction Y. It is located at the end of.
  • the driver circuit 140 is electrically connected to the switching element 20 and the main surface side conductive portion 60A by a plurality of driver connection members 160.
  • the plurality of driver connection members 160 include a first driver connection member 161, a second driver connection member 162, a third driver connection member 163, a fourth driver connection member 164, a fifth driver connection member 165, and the like. It has a sixth driver connecting member 166.
  • the driver connecting members 161 to 165 for example, the same materials as those of the first driving connecting members 81 and 82 and the laser connecting members 85 and 86 are used.
  • the driver connecting members 161 to 165 are wires made of metal such as Au (gold), Cu (copper), and Al (aluminum).
  • the connecting members 161 to 165 for each driver are formed by wire bonding.
  • the wire diameters of the driver connecting members 161 to 165 are equal to the wire diameters of the first driving connecting members 81 and 82 and the laser connecting members 85 and 86.
  • the maximum amount of deviation between the wire diameters of the driver connecting members 161 to 165 and the wire diameters of the first driving connecting members 81, 82 and the laser connecting members 85, 86 is, for example, the first driving connecting member. If it is within 5% of the wire diameter of 81, it can be said that the wire diameters of the driver connecting members 161 to 165 are equal to the wire diameters of the first driving connecting members 81 and 82 and the laser connecting members 85 and 86.
  • connection member 161 for the first driver connects the first power supply electrode 144a and the conductive portion 151 for the first power supply.
  • the connection member 162 for the second driver connects the second power supply electrode 144b and the conductive portion 152 for the second power supply.
  • the third driver connection member 163 connects the signal electrode 144e and the signal conductive portion 153.
  • the fourth driver connection member 164 connects the reference voltage output electrode 144f and the reference voltage conductive portion 154.
  • the fifth driver connection member 165 connects the output electrode 144c and the gate electrode 23 of the switching element 20. Therefore, the fifth driver connection member 165 corresponds to a control connection member that connects the driver circuit and the control electrode of the switching element.
  • the sixth driver connection member 166 connects the input electrode 144d and the source electrode 22 of the switching element 20. Therefore, the sixth driver connection member 166 corresponds to the second drive connection member that connects the driver circuit and the second drive electrode of the switching element.
  • the sixth driver connection member 166 has a first end portion 166a and a second end portion 166b. The first end portion 166a is connected to the source electrode 22, and the second end portion 166b is connected to the input electrode 144d. The first end portion 166a is connected to a portion overlapping the input electrode 144d of the source electrode 22 when viewed from the vertical direction Y, and to an end portion of the source electrode 22 closer to the input electrode 144d in the vertical direction Y.
  • the back surface side conductive portion 60B includes a driver terminal conductive portion 155, a first power supply terminal conductive portion 156, a second power supply terminal conductive portion 157, a signal terminal conductive portion 158, and a reference voltage terminal. It has a conductive portion 159 for use.
  • the driver terminal conductive portion 155 is arranged at a portion of the base material 51 on the back surface 51b of the base material 51 that overlaps with the driver circuit mounting portion 150 when viewed from the thickness direction Z.
  • the shape and size of the driver terminal conductive portion 155 are the same as the shape and size of the driver circuit mounting portion 150.
  • the conductive portion 156 for the first power supply terminal is arranged at a portion of the back surface 51b of the base material that overlaps with the conductive portion 151 for the first power supply when viewed from the thickness direction Z.
  • the shape and size of the conductive portion 156 for the first power supply terminal are the same as the shape and size of the conductive portion 151 for the first power supply terminal.
  • the conductive portion 157 for the second power supply terminal is arranged at a portion overlapping the conductive portion 152 for the second power supply on the back surface 51b of the base material when viewed from the thickness direction Z.
  • the shape and size of the conductive portion 157 for the second power supply terminal are the same as the shape and size of the conductive portion 152 for the second power supply.
  • the signal terminal conductive portion 158 is arranged at a portion of the back surface 51b of the base material that overlaps with the signal conductive portion 153 when viewed from the thickness direction Z.
  • the shape and size of the signal terminal conductive portion 158 are the same as the shape and size of the signal conductive portion 153.
  • the reference voltage terminal conductive portion 159 is arranged at a portion of the back surface 51b of the base material that overlaps with the reference voltage conductive portion 154 when viewed from the thickness direction Z.
  • the shape and size of the reference voltage terminal conductive portion 159 are the same as the shape and size of the reference voltage conductive portion 154.
  • the size of the gap Gr7 between the conductive portion 155 for the driver terminal and the conductive portions 156 and 157 for each power supply terminal in the lateral direction X is the size of the conductive portion 68 for the third terminal and the conductive portion 68 in the lateral direction X. It is smaller than the size of the gap Gr2 between the conductive portion 66A for one terminal.
  • the size of the gap Gr8 between the conductive portion 155 for the driver terminal and the conductive portion 158 for the signal terminal and the conductive portion 159 for the reference voltage terminal in the lateral direction X is such that the conductive portion 68 for the third terminal and the conductive portion 68 for the third terminal in the lateral direction X It is smaller than the size of the gap Gr2 between the one-terminal conductive portion 66B and the conductive portion 66B. Further, the sizes of the gap Gr7 and the gap Gr8 are smaller than the size of the gap Gr9 between the driver terminal conductive portion 155 and the third terminal conductive portion 68, respectively, in the vertical direction Y.
  • the communication unit 60C includes a plurality of (four in this embodiment) driver communication unit 170, a first power supply communication unit 171 and a second power supply communication unit 172, and a signal communication unit. It has a unit 173 and a reference voltage communication unit 174. These connecting portions 170 to 174 have a through hole 71 and a conductor portion 72 (both not shown in FIGS. 33 and 34) like the other connecting portions.
  • the four driver communication portions 170 are provided at a portion of the base material 51 that overlaps the driver circuit mounting portion 150 and the driver terminal conductive portion 155 in the thickness direction Z. Each driver communication unit 170 connects the driver circuit mounting unit 150 and the driver terminal conductive unit 155.
  • the first power supply connecting portion 171 is provided at a portion of the base material 51 that overlaps the first power supply conductive portion 151 and the first power supply terminal conductive portion 156 in the thickness direction Z.
  • the first power supply connecting portion 171 connects the first power supply conductive portion 151 and the first power supply terminal conductive portion 156.
  • the second power supply connecting portion 172 is provided at a portion of the base material 51 that overlaps the second power supply conductive portion 152 and the second power supply terminal conductive portion 157 in the thickness direction Z.
  • the second power supply connecting portion 172 connects the second power supply conductive portion 152 and the second power supply terminal conductive portion 157.
  • the signal communication portion 173 is provided at a portion of the base material 51 that overlaps the signal conductive portion 153 and the signal terminal conductive portion 158 in the thickness direction Z.
  • the signal communication unit 173 connects the signal conductive unit 153 and the signal terminal conductive unit 158.
  • the reference voltage connecting portion 174 is provided at a portion of the base material 51 that overlaps the reference voltage conductive portion 154 and the reference voltage terminal conductive portion 159 in the thickness direction Z.
  • the reference voltage connecting portion 174 connects the reference voltage conductive portion 154 and the reference voltage terminal conductive portion 159.
  • the number of these communication units 170 to 174 can be changed arbitrarily.
  • the semiconductor laser device 1D may have at least one of these connecting portions 170 to 174, respectively. Further, the arrangement position of the driver contact portion 170 with respect to the driver circuit mounting portion 150 (conductor terminal conductive portion 155), and the position of the first power supply contact portion 171 with respect to the first power supply conductive portion 151 (first power supply terminal conductive portion 156).
  • the semiconductor laser device 1D of the present embodiment includes a driver circuit 140.
  • the first drive loop and the first drive loop which is the first path of the current flowing from the source electrode 22 of the switching element 20 to the first drive conductive portions 61A and 61B via the first drive connection members 81 and 82.
  • the second drive loop and the control loop which is the second path of the current flowing from the source electrode 22 to the driver circuit 140 via the sixth driver connection member 166, are individually formed. As a result, fluctuations in the currents of the first drive loop and the second drive loop are reduced from affecting the control loop.
  • the driver circuit 140 in the semiconductor laser device 1D, the distance between the source electrode 22 of the switching element 20 and the input electrode 142 of the driver circuit 140, and the gate electrode 23 of the switching element 20 and the driver circuit The distance between the output electrode 141 of 140 and the output electrode 141 of 140 is shortened. Therefore, the inductance in the control loop can be reduced.
  • the driver circuit 140 is arranged on the side opposite to the semiconductor laser element 10 with respect to the switching element 20 in the vertical direction Y. According to this configuration, the control loop can be formed farther from the first drive loop and the second drive loop, so that the control loop is affected by the inductance of the first drive loop and the second drive loop. It becomes difficult to receive.
  • the gate electrode 23 of the switching element 20 is arranged closer to the driver circuit 140. According to this configuration, the distance between the gate electrode 23 and the output electrode 141 of the driver circuit 140 can be shortened. Therefore, the inductance in the control loop can be reduced.
  • the sixth driver connection member 166 is connected to the end of the source electrode 22 of the switching element 20 near the driver circuit 140 in the vertical direction Y. According to this configuration, the length of the sixth driver connecting member 166 can be shortened, so that the inductance in the control loop can be reduced.
  • the semiconductor laser device 1D of the fourth embodiment can be changed as follows, for example.
  • the following modifications can be combined as long as there is no technical conflict.
  • the parts common to the first to fourth embodiments are designated by the same reference numerals as those of the first to fourth embodiments, and the description thereof will be omitted.
  • the semiconductor laser device 1D of the fourth embodiment has a configuration in which the driver circuit 140 is built in the semiconductor laser device 1A on the premise of the configuration of the semiconductor laser device 1A of the first embodiment, but the present invention is not limited to this.
  • the semiconductor laser device 1D may have a configuration in which the driver circuit 140 is built in the semiconductor laser devices 1B and 1C on the premise of the configuration of the semiconductor laser device 1B of the second embodiment or the semiconductor laser device 1C of the third embodiment. ..
  • the shape of the base material 51 of the support substrate 50 of the present embodiment in a plan view is a rectangular shape in which the vertical direction Y is the long side direction and the horizontal direction X is the short side direction.
  • the first driving conductive portion 61 and the third driving conductive portion 63 are arranged closer to the side surface 51c of the first base material of the base material 51 in the vertical direction Y.
  • the central portion of the first driving conductive portion 61 and the third driving conductive portion 63 in the vertical direction Y is located closer to the side surface 51c of the first base material than the central portion of the base material 51 in the vertical direction Y.
  • the second driving conductive portion 62 and the control conductive portion 65 are omitted from the main surface side conductive portion 60A, and the back surface side conductive portion 60B to the second terminal conductive portion 67 and The control terminal conductive portion 70 (both see FIG. 3) is omitted.
  • the driver circuit mounting portion 150 and the first power supply are located on the main surface 51a of the base material 51, which is closer to the side surface 51d of the second base material than the conductive portion 61 for driving and the conductive portion 63 for driving.
  • the conductive portion 151 for the second power supply, the conductive portion 153 for the signal, and the conductive portion 154 for the reference voltage are formed. Since the shapes and arrangements of the driver circuit mounting portion 150 and the conductive portions 151 to 154 are the same as those of the driver circuit mounting portion 150 and the conductive portions 151 to 154 of the fourth embodiment, the description thereof will be omitted.
  • the driver circuit 140 mounted on the driver circuit mounting unit 150 differs from the driver circuit 140 of the fourth embodiment only in the arrangement configuration of the output electrode 144c and the input electrode 144d.
  • the output electrode 144c is located at the end of the sealing main surface 143a of the sealing member 143 near the side surface 51f of the fourth substrate in the lateral direction X, and closer to the switching element 20 of the sealing main surface 143a in the vertical direction Y. It is located at the end of.
  • the output electrode 144c is arranged at a position overlapping the source electrode 22 of the switching element 20 when viewed from the vertical direction Y.
  • the output electrode 144c is arranged closer to the side surface 51e of the third base material than the gate electrode 23 of the switching element 20.
  • the input electrode 144d is located at a portion closer to the side surface 51f of the fourth base material than the central portion of the sealing main surface 143a in the lateral direction X, and at the end portion of the sealing main surface 143a closer to the switching element 20 in the vertical direction Y. Have been placed.
  • the distance between the input electrode 144d and the output electrode 144c in the lateral direction X is smaller than the distance between the input electrode 144d and the first power supply electrode 144a in the lateral direction X.
  • the input electrode 144d is arranged so that a part thereof overlaps with the source electrode 22.
  • connection mode of the connection members 161 to 164 for the first to fourth drivers is the same as the connection mode of the connection members 161 to 164 for the first to fourth drivers of the fourth embodiment.
  • the fifth driver connecting member 165 connects the output electrode 144c and the gate electrode 23. Therefore, in a plan view, the fifth driver connecting member 165 extends obliquely from the output electrode 144c toward the gate electrode 23 toward the side surface 51f of the fourth base material.
  • the sixth driver connection member 166 connects the input electrode 144d and the source electrode 22.
  • the sixth driver connection member 166 is connected to the end of the source electrode 22 near the driver circuit 140 in the vertical direction Y. Further, as shown in FIG. 35, the length of the sixth driver connecting member 166 is shorter than the length of the fifth driver connecting member 165.
  • the back surface side conductive portion 60B includes a first terminal conductive portion 66, a third terminal conductive portion 68, a fourth terminal conductive portion 69, a driver terminal conductive portion 155, and a first power supply terminal. It has a conductive portion 156, a conductive portion 157 for a second power supply terminal, a conductive portion 158 for a signal terminal, and a conductive portion 159 for a reference voltage terminal.
  • the configuration and arrangement of the driver terminal conductive portion 155, the first power supply terminal conductive portion 156, the second power supply terminal conductive portion 157, the signal terminal conductive portion 158, and the reference voltage terminal conductive portion 159 are the fourth. Since it is the same as the embodiment, the description thereof will be omitted.
  • the first terminal conductive portion 66 is arranged on the back surface 51b of the base material at a portion that overlaps with the first driving conductive portion 61 in the thickness direction Z.
  • the size of the conductive portion 66 for the first terminal in the vertical direction Y is smaller than the size of the conductive portion 61 for the first drive in the vertical direction Y.
  • the fourth terminal conductive portion 69 is arranged on the back surface 51b of the base material at a portion overlapping the fourth driving conductive portion 64 in the thickness direction Z.
  • the fourth terminal conductive portion 69 is arranged at a position overlapping the first terminal conductive portion 66 when viewed in the vertical direction.
  • the size of the conductive portion 69 for the fourth terminal in the lateral direction X is smaller than the size of the conductive portion 64 for driving in the lateral direction X.
  • the conductive portion 68 for the third terminal is arranged on the back surface 51b of the base material at a portion overlapping the conductive portion 63 for driving in the thickness direction Z.
  • the size of the conductive portion 68 for the third terminal in the lateral direction X is smaller than the size of the conductive portion 63 for driving in the third drive in the lateral direction X.
  • the conductive portion 68 for the third terminal of the present embodiment is formed by integrating the conductive portions 68A and 68B for the third terminal of the semiconductor laser device 1B of the second embodiment.
  • the communication unit 60C includes a first drive communication unit 73, a third drive communication unit 75A and 75B, a fourth drive communication unit 76, a driver communication unit 170, and a first power supply. It has a communication unit 171 for power supply, a communication unit 172 for a second power supply, a communication unit for signal 173, and a communication unit for reference voltage 174. Since the configuration and arrangement of the driver communication unit 170, the first power supply communication unit 171, the second power supply communication unit 172, the signal communication unit 173, and the reference voltage communication unit 174 are the same as those in the fourth embodiment. , The description is omitted.
  • the first drive connecting portion 73 connects the first drive conductive portion 61 and the first terminal conductive portion 66.
  • four first driving connecting portions 73 are arranged on the side surface 51d side of the second base material of the first driving conductive portion 61 and the first terminal conductive portion 66 in the vertical direction Y. ing.
  • the third drive communication unit 75A is provided in the switching element mounting unit 63a.
  • the third drive connecting unit 75B is provided in the semiconductor laser element mounting unit 63b.
  • nine third drive communication units 75A are provided, and two third drive communication units 75B are provided.
  • Each of the third drive connecting portions 75A connects the switching element mounting portion 63a and the third terminal conductive portion 68.
  • Each third drive connecting unit 75B connects the semiconductor laser element mounting unit 63b and the third terminal conductive unit 68.
  • FIG. 37 shows a configuration in which the electrodes formed on the element main surface 24a of the switching element 20 are different from those of the semiconductor laser device 1D of FIG. 35.
  • a first source electrode 22A, a second source electrode 22B, and a gate electrode 23 are formed on the element main surface 24a of the switching element 20 of FIG. 37.
  • the first source electrode 22A is formed over most of the element main surface 24a.
  • a notch 25 is formed in the first source electrode 22A.
  • the cutout portion 25 is formed at the end portion of the first source electrode 22A near the driver circuit 140 in the vertical direction Y and at the portion closer to the first driving conductive portion 61 in the horizontal direction X.
  • a second source electrode 22B and a gate electrode 23 are arranged in the notch 25.
  • the second source electrode 22B and the gate electrode 23 are arranged at intervals in the horizontal direction X while being aligned in the vertical direction Y.
  • the second source electrode 22B is arranged on the side of the first driving conductive portion 61 with respect to the gate electrode 23 in the lateral direction X.
  • a part of the second source electrode 22B is arranged at a position where it overlaps with the input electrode 144d when viewed from the vertical direction Y.
  • a part of the gate electrode 23 is arranged at a position where it overlaps with the output electrode 144c when viewed from the vertical direction Y.
  • the shape of the base material 51 of the support substrate 50 of the present embodiment in a plan view is a rectangular shape in which the horizontal direction X is the long side direction and the vertical direction Y is the short side direction.
  • the distance between the third driving conductive portion 63 and the third base material side surface 51e of the base material 51 in the lateral direction X is larger than that in the fourth embodiment.
  • the second driving conductive portion 62 and the control conductive portion 65 are omitted from the main surface side conductive portion 60A, and the back surface side conductive portion 60B to the second terminal conductive portion 67 and The control terminal conductive portion 70 (both see FIG. 34) is omitted.
  • the third driving conductive portion 63 is arranged at the center of the main surface 51a of the base material in the lateral direction X.
  • the driver circuit mounting portion 150, the first power supply conductive portion 151, the second power supply conductive portion 152, the signal conductive portion 153, and the reference voltage conductive portion 154 are each relative to the third drive conductive portion 63 in the lateral direction X. It is arranged on the side opposite to the first driving conductive portion 61 (the side surface 51f side of the fourth base material).
  • the shape of the driver circuit mounting portion 150 in a plan view is a rectangular shape in which the vertical direction Y is the long side direction and the horizontal direction X is the short side direction.
  • the conductive portion 151 for the first power supply and the conductive portion 152 for the second power supply are respectively arranged closer to the side surface 51c of the first base material than the driver circuit mounting portion 150 in the vertical direction Y.
  • the first power supply conductive portion 151 and the second power supply conductive portion 152 are arranged at intervals in the horizontal direction X in a state of being aligned in the vertical direction Y.
  • the first power supply conductive portion 151 and the second power supply conductive portion 152 are arranged at positions overlapping with the driver circuit mounting portion 150, respectively.
  • the first power supply conductive portion 151 is arranged on the third drive conductive portion 63 side with respect to the second power supply conductive portion 152 in the lateral direction X.
  • the signal conductive portion 153 and the reference voltage conductive portion 154 are respectively arranged closer to the side surface 51d of the second base material than the driver circuit mounting portion 150 in the vertical direction Y.
  • the signal conductive portion 153 and the reference voltage conductive portion 154 are arranged at intervals in the horizontal direction X in a state of being aligned in the vertical direction Y.
  • the signal conductive portion 153 and the reference voltage conductive portion 154 are respectively arranged at positions overlapping with the driver circuit mounting portion 150.
  • the signal conductive portion 153 is arranged on the third drive conductive portion 63 side with respect to the reference voltage conductive portion 154 in the lateral direction X.
  • the driver circuit 140 is mounted on the driver circuit mounting unit 150.
  • the driver circuit 140 of FIG. 38 has a different arrangement direction with respect to the driver circuit mounting unit 150 as compared with the driver circuit 140 of FIG.
  • the driver circuit 140 of FIG. 38 is an arrangement mode in which the driver circuit 140 of FIG. 35 is rotated 90 degrees in the clockwise direction when viewed from a direction perpendicular to the main surface 51a of the base material. Therefore, the connection mode of the connection members 161 to 165 for each driver is substantially the same as the connection mode of the connection members 161 to 165 for each driver in FIG. 35.
  • the first end portion 166a of the sixth driver connection member 166 is connected to the end portion of the source electrode 22 closer to the input electrode 144d in the lateral direction X.
  • the conductive portion 155 for the driver terminal, the conductive portion 156 for the first power supply terminal, and the second power supply terminal are located on the side surface 51f side of the fourth base material with respect to the conductive portion 68 for the third terminal in the lateral direction X.
  • the conductive portion 157 for the signal terminal, the conductive portion 158 for the signal terminal, and the conductive portion 159 for the reference voltage terminal are arranged.
  • the conductive portion 155 for the driver terminal is arranged at a portion overlapping the driver circuit mounting portion 150 on the back surface 51b of the base material 51 when viewed from the thickness direction Z.
  • the shape and size of the driver terminal conductive portion 155 are the same as the shape and size of the driver circuit mounting portion 150.
  • the conductive portion 156 for the first power supply terminal is arranged at a portion of the back surface 51b of the base material that overlaps with the conductive portion 151 for the first power supply when viewed from the thickness direction Z.
  • the shape and size of the conductive portion 156 for the first power supply terminal are the same as the shape and size of the conductive portion 151 for the first power supply terminal.
  • the conductive portion 157 for the second power supply terminal is arranged at a portion overlapping the conductive portion 152 for the second power supply on the back surface 51b of the base material when viewed from the thickness direction Z.
  • the shape and size of the conductive portion 157 for the second power supply terminal are the same as the shape and size of the conductive portion 152 for the second power supply.
  • the signal terminal conductive portion 158 is arranged at a portion of the back surface 51b of the base material that overlaps with the signal conductive portion 153 when viewed from the thickness direction Z.
  • the shape and size of the signal terminal conductive portion 158 are the same as the shape and size of the signal conductive portion 153.
  • the reference voltage terminal conductive portion 159 is arranged at a portion of the back surface 51b of the base material that overlaps with the reference voltage conductive portion 154 when viewed from the thickness direction Z.
  • the shape and size of the reference voltage terminal conductive portion 159 are the same as the shape and size of the reference voltage conductive portion 154.
  • the semiconductor laser element 10 is located at the center of the base material 51 in the lateral direction X. Therefore, since the bias of the semiconductor laser element 10 in the lateral direction X with respect to the support substrate 50 is eliminated, the wiring pattern of the wiring board can be designed without considering the bias of the semiconductor laser element 10. Therefore, the usability of the semiconductor laser device 1D is improved.
  • FIG. 40 shows a driver circuit in which the switching element 20 of the semiconductor laser device 1A is replaced with the horizontal structure switching element 20A of the semiconductor laser device 1C of the third embodiment on the premise of the semiconductor laser device 1A of the first embodiment.
  • the configuration of the semiconductor laser device 1D incorporating the 140 is shown.
  • the first source electrode 22A, the second source electrode 22B, and the gate electrode 23 of the switching element 20A are each formed at the end of the element main surface 24a near the driver circuit 140.
  • the first source electrode 22A overlaps the first power supply electrode 144a and the second power supply electrode 144b of the driver circuit 140 when viewed from the vertical direction Y.
  • the second source electrode 22B overlaps the input electrode 144d, the signal electrode 144e, and the reference voltage output electrode 144f of the driver circuit 140 when viewed from the vertical direction Y.
  • the gate electrode 23 overlaps with the output electrode 144c of the driver circuit 140 when viewed from the vertical direction Y.
  • connection mode of the connection members 161 to 165 for each driver is the same as the connection mode of the connection members 161 to 165 for each driver according to the fourth embodiment.
  • the sixth driver connection member 166 connects the input electrode 144d of the driver circuit 140 and the second source electrode 22B of the switching element 20A.
  • the configuration of the back surface side conductive portion 60B is the same as the configuration of the back surface side conductive portion 60B of the fourth embodiment. According to the semiconductor laser device 1D shown in FIG. 40, the same effect as that of the fourth embodiment can be obtained.
  • the number of semiconductor laser elements 10 can be arbitrarily changed.
  • the semiconductor laser device 1D of FIG. 40 can be changed to a configuration in which two semiconductor laser elements 10A and 10B are provided.
  • the shapes of the third driving conductive portion 63 and the fourth driving conductive portions 64A and 64B, the arrangement mode of the semiconductor laser elements 10A and 10B, and the connection mode of the laser connecting members 85 and 86 are shown in FIG. It is the same as the semiconductor laser device 1A of the modified example shown.
  • the shapes and arrangements of the conductive portions 68 for the third terminal and the conductive portions 69A and 69B for the fourth terminal of the conductive portion 60B on the back surface side are the same as those of the semiconductor laser device 1A of the modified example shown in FIG. is there.
  • the anode electrodes 11 of the two semiconductor laser elements 10A and 10B may be connected to each other by the element connecting member 87.
  • the semiconductor laser element 10C shown in FIGS. 20 and 21 may be used instead of the semiconductor laser elements 10A and 10B.
  • the driver circuit 140 is mounted on the base material main surface 51a of the base material 51 of the support substrate 50, but the present invention is not limited to this.
  • the driver circuit 140 may be embedded inside the support substrate 50.
  • the semiconductor laser device 1D can be miniaturized in the horizontal direction X or the vertical direction Y by arranging the switching element 20 and the driver circuit 140 side by side in the thickness direction Z.
  • the wire diameters of the connecting members 161 to 166 for each driver may be different from the wire diameters of the other connecting members 80. Further, the materials constituting the connecting members 161 to 166 for each driver may be different from the materials constituting the other connecting members 80.
  • the semiconductor laser device 1E of the fifth embodiment will be described with reference to FIGS. 44 to 46.
  • the shape of a part of the conductive portion 60 of the semiconductor laser device 1E of the present embodiment is mainly different from that of the semiconductor laser device 1B of the second embodiment.
  • the same components as those in the second embodiment may be designated by the same reference numerals, and the description thereof may be omitted.
  • the semiconductor laser device 1E As shown in FIG. 44, in the semiconductor laser device 1E, as the main surface side conductive portion 60A, the first drive conductive portion 61, the third drive conductive portion 63, the fourth drive conductive portion 64, and the control conductive portion Has 65. That is, the semiconductor laser device 1E does not have the second driving conductive portion 62.
  • the size of the base material 51 of the support substrate 50 in the vertical direction Y is larger than the size of the base material 51 of the second embodiment in the vertical direction Y.
  • the size of the base material 51 in the lateral direction X is equal to the size of the base material 51 of the second embodiment in the horizontal direction X. Therefore, the aspect ratio of the base material 51 in a plan view is different from the aspect ratio of the base material 51 of the second embodiment.
  • the arrangement of the first driving conductive portion 61, the third driving conductive portion 63, and the fourth driving conductive portion 64 is the same as that of the second embodiment.
  • the size of the first driving conductive portion 61 in the vertical direction Y is larger than the size of the first driving conductive portion 61 of the second embodiment in the vertical direction Y.
  • the size of the third driving conductive portion 63 in the vertical direction Y is larger than the size of the third driving conductive portion 63 of the second embodiment in the vertical direction Y. More specifically, the size of the switching element mounting portion 63a in the vertical direction Y is larger than the size of the switching element mounting portion 63a of the second embodiment in the vertical direction Y.
  • both ends of the first driving conductive portion 61 in the vertical direction Y are designated as the first end portion 61a and the second end portion 61b.
  • the first end portion 61a is an end portion of the first driving conductive portion 61 closer to the side surface 51c of the first base material, and is an end portion to which the first terminals 31 of the capacitors 30A and 30B are connected.
  • the second end portion 61b is an end portion of the first driving conductive portion 61 closer to the side surface 51d of the second base material.
  • the control conductive portion 65 is arranged closer to the side surface 51d of the second base material than the third drive conductive portion 63.
  • the shape of the control conductive portion 65 in a plan view is a rectangular shape in which the horizontal direction X is the long side direction and the vertical direction Y is the short side direction.
  • the size of the control conductive portion 65 in the lateral direction X is larger than the size of the control conductive portion 65 of the second embodiment in the lateral direction X.
  • the semiconductor laser device 1E As shown in FIG. 45, in the semiconductor laser device 1E, as the back surface side conductive portion 60B, the conductive portions 66A and 66B for the first terminal, the conductive portions 68A and 68B for the third terminal, the conductive portions 69 for the fourth terminal, and the control It has a conductive portion 70 for terminals. That is, the semiconductor laser device 1E does not have the conductive portion 67 for the second terminal.
  • the arrangement modes of the first terminal conductive portions 66A and 66B, the third terminal conductive portions 68A and 68B, and the fourth terminal conductive portion 69 are the same as those in the second embodiment.
  • each of the conductive portions 68A and 68B for the third terminal in the lateral direction X is smaller than the size of the conductive portions 68A and 68B for the third terminal of the second embodiment in the lateral direction X, respectively.
  • the size of the conductive portion 68A for the third terminal in the vertical direction Y is larger than the size of the conductive portion 68A for the third terminal in the second embodiment in the vertical direction Y.
  • the control terminal conductive portion 70 is arranged at a position overlapping the control conductive portion 65 in the thickness direction Z.
  • the size of the control terminal conductive portion 70 in the lateral direction X is larger than the size of the control terminal conductive portion 70 of the second embodiment in the lateral direction X.
  • the semiconductor laser device 1E of the present embodiment as the communication unit 60C, the first drive communication unit 73A, 73B, the third drive communication unit 75A, 75B, the fourth drive communication unit 76, and the control communication unit 77 are used. Have. That is, the semiconductor laser device 1E does not have the second drive connecting unit 74.
  • the arrangement modes of the first drive communication units 73A and 73B, the third drive communication units 75A and 75B, and the fourth drive communication unit 76 are the same as those in the second embodiment.
  • four third drive communication units 75A and two control communication units 77 are provided.
  • the four third drive connecting portions 75A are arranged so as to be separated from each other in the horizontal direction X and the vertical direction Y.
  • the two control communication units 77 are arranged at intervals in the horizontal direction X in a state of being aligned in the vertical direction Y.
  • the size of the switching element 20 mounted on the switching element mounting portion 63a of the third driving conductive portion 63 is the size of the vertical direction Y of the switching element 20 of the second embodiment. Greater than that.
  • the connection position of the source electrode 22 of the first drive connection member 81 and the first drive conductive portion 61 is the source electrode 22 of the first drive connection member 81 of the second embodiment and the first drive conductor. It is different from the connection position of the unit 61.
  • the three first drive connecting members 81 are designated as the first drive connecting members 81A, 81B, 81C for convenience.
  • the first drive connection member 81A is the connection member closest to the capacitors 30A and 30B among the three first drive connection members 81A to 81C.
  • the first drive connection member 81C is the connection member farthest from the capacitors 30A and 30B among the three first drive connection members 81A to 81C.
  • the first drive connecting member 81B is arranged between the first drive connecting member 81A and the first driving connecting member 81B in the vertical direction Y.
  • the first end portion 81ax connected to the source electrode 22 in the first drive connecting member 81A is located at a portion of the source electrode 22 closer to the side surface 51c of the first base material than the central portion of the source electrode 22 in the vertical direction Y. Have been placed.
  • the second end portion 81bx connected to the first driving conductive portion 61 in the first driving connecting member 81A is the central portion of the first driving conductive portion 61 of the first driving conductive portion 61 in the vertical direction Y. It is arranged closer to the side surface 51c of the first substrate. More specifically, the second end portion 81bx is arranged at a portion closer to the side surface 51c of the first base material than the four first driving connecting portions 73 formed in the first driving conductive portion 61.
  • the second end portion 81bx is located closer to the side surface 51d of the second base material than the first end portion 81ax in the vertical direction Y. Therefore, the first drive connecting member 81A extends toward the side surface 51d of the second base material as it goes from the first end 81ax to the second end 81bx in a plan view.
  • the first end portion 81ay connected to the source electrode 22 in the first drive connecting member 81B is closer to the side surface 51c of the first base material than the central portion of the source electrode 22 in the vertical direction Y of the source electrodes 22 and is the first. It is arranged closer to the center than the one end 81ax.
  • the second end 81by connected to the first driving conductive portion 61 in the first driving connecting member 81B is the central portion in the vertical direction Y of the first driving conductive portion 61 of the first driving conductive portion 61. It is arranged closer to the side surface 51c of the first base material and closer to the central portion than the first end portion 81ax.
  • the second end 81by is arranged between the four first driving communication portions 73 in the vertical direction Y.
  • the second end portion 81by is located closer to the side surface 51d of the second base material than the first end portion 81ay in the vertical direction Y. Therefore, the first drive connecting member 81B extends toward the side surface 51d of the second base material as it goes from the first end 81ay to the second end 81by in a plan view.
  • the first end portion 81az connected to the source electrode 22 in the first drive connecting member 81C is located closer to the side surface 51d of the second base material than the central portion of the source electrode 22 in the vertical direction Y of the source electrode 22. Have been placed. Specifically, the first end portion 81az is connected to a portion of the source electrode 22 adjacent to the notch portion 25 in the lateral direction X.
  • the second end 81bz connected to the first driving conductive portion 61 in the first driving connecting member 81C is the central portion of the first driving conductive portion 61 of the first driving conductive portion 61 in the vertical direction Y. It is arranged closer to the side surface 51d of the second base material.
  • the distance DY1 between the end edge 61c of the first driving conductive portion 61 near the side surface 51d of the second base material and the second end portion 81bz in the vertical direction is the first terminal of the capacitor 30B.
  • the distance between 31 and the second end 81bz in the vertical direction Y is smaller than DY2.
  • the second end portion 81bz is connected to a portion of the first driving conductive portion 61 closer to the switching element 20 in the lateral direction X.
  • the second end portion 81bz is located closer to the side surface 51d of the second base material than the first end portion 81az in the vertical direction Y. Therefore, the first drive connecting member 81C extends toward the side surface 51d of the second base material as it goes from the first end 81az to the second end 81bz in a plan view.
  • the distance DYC between the first end 81az and the second end 81bz in the vertical direction is between the first end 81ax and the second end 81bx of the first drive connecting member 81A in the vertical direction Y. Greater than the distance DYA. Further, the distance DYC is larger than the distance DYB between the first end portion 81ay and the second end portion 81by of the first drive connecting member 81B in the vertical direction Y.
  • the second end 81bx of the first drive connection member 81A is located closer to the capacitors 30A and 30B than the second ends 81by and 81bz of the first drive connection members 81B and 81C.
  • the first drive connection member 81A is a drive connection member on the side closer to the capacitors 30A and 30B among the plurality of drive connection members.
  • the first drive connecting member 81A includes the side of the drive conductive portion (first drive conductive portion 61) close to the first terminal 31 of the capacitors 30A and 30B, and the second drive electrode (switching element 20). It can be said that it is a first drive connecting member that connects the source electrode 22) of the above.
  • the second end portion 81bz of the first drive connection member 81C is located farther from the capacitors 30A and 30B than the second end portions 81bx and 81by of the first drive connection members 81A and 81C.
  • the second end portion 81bz is arranged closer to the end edge 61c of the first driving conductive portion 61 than the first terminal 31 of the capacitors 30A and 30B. Therefore, the first drive connection member 81C can be said to be a drive connection member on the side farther from the capacitors 30A and 30B among the plurality of drive connection members.
  • the first drive connecting member 81C is closer to the second end portion (end edge 61c) than the first terminal 31 of the capacitors 30A and 30B in the drive conductive portion (first drive conductive portion 61). It can be said that it is a second drive connecting member that connects the side and the second drive electrode (source electrode 22 of the switching element 20).
  • FIG. 46 shows a schematic diagram when the semiconductor laser device 1E of the present embodiment is applied to the laser system 100.
  • the positive electrode 111 of the power supply 110 is connected to the fourth drive conductive portion 64 via the fourth terminal conductive portion 69 and the fourth drive connecting portion 76 (both see FIG. 45).
  • the negative electrode 112 of the power supply 110 is connected to the first driving conductive portion 61 via the first terminal conductive portion 66A and the first driving connecting portion 73A (both see FIG. 45).
  • the negative electrode 112 is connected to a portion of the conductive portion 66A for the first terminal that is closer to the capacitors 30A and 30B than the central portion in the vertical direction Y.
  • the output electrode 141 of the driver circuit 140 is connected to the control conductive portion 65 via the control terminal conductive portion 70 and the control connecting portion 77 (both see FIG. 45).
  • the input electrode 142 of the driver circuit 140 is connected to the first driving conductive portion 61 via the first terminal conductive portion 66B and the first driving connecting portion 73B (both see FIG. 45). In this way, the input electrode 142 is electrically connected to the end portion of the first driving conductive portion 61 near the side surface 51d of the second base material.
  • the output electrode 141 of the driver circuit 140 is electrically connected to the gate electrode 23 via the control conductive portion 65 and the control connecting member 84.
  • the input electrode 142 of the driver circuit 140 is electrically connected to the source electrode 22 via the first driving conductive portion 61 and the first driving connecting member 81C.
  • the positive electrode 111 of the power supply 110, the anode electrode 11 of the semiconductor laser element 10, the cathode electrode 12, the drain electrode 21 of the switching element 20, the source electrode 22, the first drive connecting member 81A, and the power supply 110 A drive current loop is formed in which current flows in the order of the negative electrode 112. Further, the current flows in the order of the output electrode 141 of the driver circuit 140, the control conductive portion 65, the control connection member 84, the source electrode 22, the first drive connection member 81C, the first drive conductive portion 61, and the input electrode 142. A flowing control current loop is formed. These current loops are formed independently of each other.
  • the semiconductor laser device 1E is a first drive connection connected to the source electrode 22 of the switching element 20 and the side of the first drive conductive portion 61 of the capacitors 30A and 30B close to the first terminal 31.
  • a member 81A and a first drive connecting member 81C for connecting the source electrode 22 and the side of the capacitors 30A and 30B of the first driving conductive portion 61 closer to the gate electrode 23 than the first terminal 31 are provided.
  • the current flowing from the source electrode 22 of the switching element 20 to the side of the capacitors 30A and 30B of the first driving conductive portions 61 via the first driving connecting member 81A near the first terminal 31 Control which is the second path of the drive loop which is the first path and the current which flows from the source electrode 22 to the side of the first drive conductive portion 61 near the gate electrode 23 via the first drive connection member 81C.
  • Loops are formed individually. This reduces the influence of fluctuations in the current of the drive loop on the control loop. That is, in the control loop, it is less likely to be affected by the inductance of the first drive connecting member 81. Therefore, in the control loop, the influence of the counter electromotive voltage caused by the inductance of the first drive connecting member 81A on the voltage Vgs applied to the gate electrode 23 of the switching element 20 can be reduced.
  • the semiconductor laser element 10 can emit laser light having a pulse width of 10 ns or less. According to this configuration, as the pulse width becomes shorter, the shortest path among the current paths through which the current can flow in the drive loop is formed, so that the source electrode 22 of the switching element 20 is connected to the capacitors 30A and 30B. A current flows through the nearest first drive connecting member 81A. Therefore, the influence of the drive loop on the first drive connection member 81C far from the capacitors 30A and 30B is reduced.
  • the shape of the conductive portion 60 is different from that of the conductive portion 60 of the second embodiment on the premise of the configuration of the semiconductor laser device 1B of the second embodiment, but the configuration is limited to this. Absent.
  • the configurations of the semiconductor laser devices 1A and 1C of the first embodiment and the third embodiment may be premised. In the case where the configuration of the semiconductor laser device 1A of the first embodiment is premised and the configuration of the semiconductor laser device 1C of the third embodiment is premised, for example, the first drive conductive portion 61B and the second drive conductivity The unit 62 is integrated. According to this configuration, the same effect as that of the fifth embodiment can be obtained.
  • each of the above embodiments is an example of possible embodiments of the semiconductor laser device according to the present disclosure, and is not intended to limit the embodiments.
  • the semiconductor laser device according to the present disclosure may take a form different from the form exemplified in each of the above embodiments.
  • An example thereof is a form in which a part of the configuration of each of the above embodiments is replaced, changed, or omitted, or a new configuration is added to each of the above embodiments.
  • the parts common to each of the above embodiments are designated by the same reference numerals as those of the above embodiments, and the description thereof will be omitted.
  • the capacitors 30A and 30B are mounted on the base material main surface 51a of the base material 51 of the support substrate 50, but the positions of the capacitors 30A and 30B are not limited to this.
  • the capacitors 30A and 30B may have a structure embedded inside the support substrate 50.
  • the configuration of the connecting portion 60C is such that the conductor portion 72 is embedded in the through hole 71, but the configuration of the connecting portion 60C is not limited to this. At least one of the plurality of connecting portions 60C may be configured such that an insulating material is embedded in the through hole 71 instead of the conductor portion 72.
  • the wire diameters of the first drive connecting members 81 and 82, the wire diameter of the second drive connecting member 83, the wire diameter of the control connecting member 84, and the wires of the laser connecting members 85 and 86 are equal to each other, but not limited to this.
  • the wire diameters of the first drive connecting members 81 and 82, the wire diameters of the second drive connecting members 83, the wire diameters of the control connecting members 84, and the wire diameters of the laser connecting members 85 and 86 are individually set. May be good.
  • the wire diameter of the control connecting member 84 may be smaller than the wire diameter of the driving connecting members 81 to 83 and the laser connecting members 85 and 86.
  • the materials constituting the first drive connecting members 81 and 82, the second drive connecting member 83, the control connecting member 84, and the laser connecting members 85 and 86 are common. Not limited to this.
  • the material of the control connecting member 84 may be different from the material of the driving connecting members 81 to 83 and the laser connecting members 85 and 86.
  • the diode 130 of the laser system 100 is provided outside the semiconductor devices 1A to 1E, but the present invention is not limited to this.
  • the semiconductor devices 1A to 1E may be configured to include a diode 130.
  • (Appendix 1) Semiconductor laser element and A switching element connected in series to the semiconductor laser element, having a control electrode, a first drive electrode, and a second drive electrode, and controlling a current flowing through the semiconductor laser element according to a voltage applied to the control electrode.
  • a capacitor connected in parallel to the semiconductor laser element and the switching element, The first driving conductive part to which the first terminal of the capacitor is connected and The second driving conductive portion, which is arranged apart from the first driving conductive portion, A first drive connecting member connecting the first drive conductive portion and the second drive electrode, A second drive connecting member connecting the second drive conductive portion and the second drive electrode, A semiconductor laser device equipped with.
  • the semiconductor laser device includes a terminal conductive portion that constitutes a terminal of the semiconductor laser device.
  • the conductive portion for the terminal is A conductive portion for the first terminal for connecting to the negative electrode of a power source that supplies power to the semiconductor laser device, and A conductive portion for a second terminal for connecting to an input electrode in a driver circuit that applies a voltage to the control electrode of the switching element, and With The first driving conductive portion is electrically connected to the first terminal conductive portion.
  • the semiconductor laser element, the switching element, and the second driving conductive portion are arranged in a predetermined first direction in a plan view of the semiconductor laser device.
  • Appendix 4 The semiconductor laser device according to Appendix 3, wherein in the first direction, the second driving conductive portion is arranged on the opposite side of the switching element from the semiconductor laser element.
  • Appendix 5 The semiconductor laser device according to Appendix 3 or 4, wherein the semiconductor laser element is arranged in the central portion in the second direction.
  • Appendix 7 The semiconductor laser device according to any one of Appendix 1 to 6, wherein a plurality of the capacitors are provided.
  • a plurality of the capacitors are provided, and the capacitors are arranged on both sides of the switching element in the second direction.
  • the semiconductor laser device according to any one of Supplementary note 3 to 6, wherein the first driving conductive portion is arranged on both sides of the switching element in the second direction.
  • Appendix 10 The semiconductor laser device according to Appendix 9, wherein the electrodes of the semiconductor laser elements adjacent to each other in the second direction are electrically connected to each other by an element connecting member.
  • the semiconductor laser element has a plurality of semiconductor light emitting layers arranged in the second direction.
  • the semiconductor laser device according to any one of Appendix 1 to 9, wherein the plurality of semiconductor light emitting layers are connected to each other by one electrode.
  • Appendix 12 It has a third driving conductive portion to which the first driving electrode of the switching element is connected.
  • the semiconductor laser device according to any one of Appendix 1 to 11, wherein the semiconductor laser element is connected to the third driving conductive portion.
  • the semiconductor laser device is A control conductive portion that is arranged apart from each of the first drive conductive portion and the second drive conductive portion and is electrically connected to the control electrode.
  • a control connecting member that connects the control electrode and the control conductive portion, With The semiconductor laser device according to any one of Items 1 to 13, wherein the control connecting member and the second driving connecting member are adjacent to each other.
  • Appendix 15 The semiconductor laser device according to Appendix 14, wherein the control conductive portion and the second drive conductive portion are adjacent to each other.
  • the semiconductor laser device includes a support substrate having a substrate main surface and a substrate back surface that faces the side opposite to the substrate main surface in a direction perpendicular to the substrate main surface. At least the first driving conductive portion is formed on the main surface of the substrate.
  • the semiconductor laser device according to any one of Supplementary note 1 to 15, wherein a terminal conductive portion constituting the terminal of the semiconductor laser device is formed on the back surface of the substrate.
  • the conductive portion for the terminal is A conductive portion for the first terminal for connecting to the negative electrode of a power source that supplies power to the semiconductor laser device, and A conductive portion for a second terminal for connecting to an input electrode in a driver circuit that applies a voltage to the control electrode of the switching element, and A conductive portion for a third terminal for connecting to the first drive electrode of the switching element, and With The semiconductor laser device according to Appendix 16, wherein the conductive portion for the first terminal is arranged apart from the conductive portion for the third terminal.
  • the semiconductor laser device includes a third driving conductive portion to which the first driving electrode of the switching element is connected.
  • the terminal conductive portion has a third terminal conductive portion that is electrically connected to the third driving conductive portion.
  • Appendix 19 The semiconductor laser device according to any one of Appendix 16 to 18, which has a first driving conductive portion and a connecting portion for conducting the second driving conductive portion and the terminal conductive portion.
  • the semiconductor laser device includes the semiconductor laser element, the switching element, the capacitor, the first driving conductive portion, the second driving conductive portion, the first driving connecting member, and the second driving connecting member.
  • (Appendix 21) Semiconductor laser element and A switching element connected in series to the semiconductor laser element, having a control electrode, a first drive electrode, and a second drive electrode, and controlling a current flowing through the semiconductor laser element according to a voltage applied to the control electrode.
  • a capacitor connected in parallel to the semiconductor laser element and the switching element, The first driving conductive part to which the first terminal of the capacitor is connected and With The first drive conductive portion is provided on the side opposite to the first end portion to which the first terminal of the capacitor is connected and the first end portion in the direction in which the first drive conductive portion extends.
  • a second drive connecting member connecting the side of the first drive conductive portion closer to the second end portion of the capacitor than the first terminal and the second drive electrode.
  • the semiconductor laser device has an element main surface and an element back surface facing opposite sides.
  • the second drive electrode and the control electrode are each formed on the main surface of the element.
  • the semiconductor laser device seals the semiconductor laser element, the switching element, the capacitor, the first driving conductive portion, the first driving connecting member, and the second driving connecting member, and the semiconductor laser.
  • the semiconductor laser device according to any one of Appendix 21 to 23, further comprising a sealing member having a portion that transmits the laser light of the element.
  • (Appendix 25) Semiconductor laser element and A switching element connected in series to the semiconductor laser element, having a control electrode, a first drive electrode, and a second drive electrode, and controlling a current flowing through the semiconductor laser element according to a voltage applied to the control electrode.
  • a capacitor connected in parallel to the semiconductor laser element and the switching element, The first driving conductive part to which the first terminal of the capacitor is connected and A driver circuit that applies a voltage to the control electrode of the switching element, and A first drive connecting member connecting the first drive conductive portion and the second drive electrode, A second drive connecting member connecting the driver circuit and the second drive electrode, A semiconductor laser device equipped with.
  • the semiconductor laser element and the switching element are arranged in a predetermined first direction in a plan view of the semiconductor laser device.
  • the first driving conductive portion is arranged in a second direction orthogonal to the first direction in the plan view with respect to the switching element.
  • the semiconductor laser element and the switching element are arranged in a predetermined first direction in a plan view of the semiconductor laser device.
  • the first driving conductive portion is arranged in a second direction orthogonal to the first direction in the plan view with respect to the switching element.
  • Appendix 28 The semiconductor laser device according to any one of Appendix 25 to 27, wherein the second drive connecting member is connected to the driver circuit side of the second drive electrode.
  • the driver circuit is formed as a chip having a main surface and a back surface facing opposite sides.
  • An input electrode to which the second drive connecting member is connected and an output electrode electrically connected to the control electrode are formed on the main surface.
  • the control electrode and the output electrode are connected by a control connecting member.
  • the semiconductor laser apparatus according to any one of Appendix 25 to 28, wherein the input electrode and the output electrode are adjacent to each other when viewed from a direction perpendicular to the main surface.
  • the semiconductor laser device seals the semiconductor laser element, the switching element, the capacitor, the first driving conductive portion, the driver circuit, the first driving connecting member, and the second driving connecting member.
  • the semiconductor laser device according to any one of Appendix 25 to 29, further comprising a sealing member having a portion that transmits the laser light of the semiconductor laser device.
  • Appendix 31 The semiconductor laser device according to any one of Appendix 1 to 30, wherein the first drive connecting member and the second drive connecting member are each made of a wire.
  • the first drive connecting member is composed of a plurality of wires.
  • Appendix 33 The semiconductor laser device according to Appendix 31 or 32, wherein the wire diameter of the first drive connecting member and the wire diameter of the second drive connecting member are equal to each other.
  • the semiconductor laser device has an element main surface and an element back surface facing opposite sides.
  • the second drive electrode and the control electrode are each formed on the main surface of the element.
  • the semiconductor laser device according to any one of Appendix 1 to 33, wherein the first drive electrode is formed on the back surface of the device.
  • the semiconductor laser device has an element main surface and an element back surface facing opposite sides.
  • the semiconductor laser device according to any one of Supplementary note 1 to 34, wherein the first drive electrode, the second drive electrode, and the control electrode are each formed on the main surface of the device.
  • the semiconductor laser element and the switching element are arranged in a predetermined first direction in a plan view of the semiconductor laser device.
  • the second drive electrode is arranged on the semiconductor laser element side of the element main surface in the first direction.
  • the semiconductor laser device is The main surface of the substrate on which the first driving conductive portion is formed, the back surface of the substrate facing the opposite side of the main surface of the substrate in the thickness direction, and the main surface of the substrate and the back surface of the substrate in the thickness direction.
  • a support substrate provided between the substrates and having a substrate side surface facing a direction intersecting the substrate main surface and the substrate back surface.
  • a connecting portion connecting the first driving conductive portion and the terminal conductive portion, Have,
  • the side surface of the substrate is provided with a recess that is recessed inward from the side surface of the substrate.
  • the semiconductor laser device according to any one of Appendix 1 to 36, wherein the connecting portion is provided in the recess.
  • Output electrode 142 ... Input electrode 143 ... Sealing member 143a ... Sealing main surface (main surface of driver circuit) 144c ... Output electrode 144d ... Input electrode X ... Lateral direction (second direction) Y ... Vertical direction (first direction)

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Abstract

半導体レーザ装置(1A)は、半導体レーザ素子(10)と、半導体レーザ素子(10)に直列接続され、ゲート電極(23)、ドレイン電極(21)、及びソース電極(22)を有するスイッチング素子(20)と、半導体レーザ素子(10)及びスイッチング素子(20)に並列接続されるコンデンサ(30A,30B)と、コンデンサ(30A,30B)の第1端子(31)が接続されている第1駆動用導電部(61A,61B)と、第1駆動用導電部(61A,61B)と離間して配置されている第2駆動用導電部(62)と、第1駆動用導電部(61A,61B)とソース電極(22)とを接続する第1駆動用接続部材(81,82)と、第2駆動用導電部(62)とソース電極(22)とを接続する第2駆動用接続部材(83)と、を備える。

Description

半導体レーザ装置
 本開示は、半導体レーザ装置に関する。
 車両等に用いられる3次元距離計測として、計測対象物に対してレーザ光を出射して、計測対象物によって反射された反射光に基づいて計測対象物までの距離を計測する技術が知られている。この技術が適用されたレーザ距離計測装置として、LiDAR(Light Detection and Ranging、Laser Imaging Detection and Ranging)を用いたシステムが提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特開2018-128432号公報
 ところで、LiDARの光源として用いられる半導体レーザ装置は、レーザダイオードと、レーザダイオードに直列接続されたトランジスタとを備え、トランジスタのオンオフの切り替えによって、パルス幅が数十ns以下のレーザ光を出射する。パルス幅が数十ns以下である場合、レーザダイオードを流れる電流の時間変化率が高まり、半導体レーザ装置内のインダクタンスに起因する逆起電圧が増大する場合がある。そしてその逆起電圧がトランジスタのゲート電圧に影響を及ぼす場合がある。なお、このような問題は、トランジスタに限られず、他のスイッチング素子が用いられた場合も同様に、インダクタンスに起因する逆起電圧がスイッチング素子の制御電極に印加される制御電圧に影響を及ぼす場合がある。
 本開示の目的は、インダクタンスに起因する逆起電圧がスイッチング素子の制御電圧に及ぼす影響を低減できる半導体レーザ装置を提供することにある。
 本開示の一態様による半導体レーザ装置は、半導体レーザ素子と、前記半導体レーザ素子に直列接続され、制御電極、第1駆動電極、及び第2駆動電極を有し、前記制御電極に印加される電圧に応じて前記半導体レーザ素子に流れる電流を制御するスイッチング素子と、前記半導体レーザ素子及び前記スイッチング素子に並列接続されるコンデンサと、前記コンデンサの第1端子が接続されている第1駆動用導電部と、前記第1駆動用導電部と離間して配置されている第2駆動用導電部と、前記第1駆動用導電部と前記第2駆動電極とを接続している第1駆動用接続部材と、前記第2駆動用導電部と前記第2駆動電極とを接続している第2駆動用接続部材と、を備える。
 この構成によれば、スイッチング素子の第2駆動電極から第1駆動用接続部材を介して第1駆動用導電部に流れる電流の第1経路と、スイッチング素子の第2駆動電極から第2駆動用接続部材を介して第2駆動用導電部に流れる電流の第2経路とが個別に形成される。これにより、第1経路の電流の変動が第2経路に影響を及ぼすことが低減される。すなわち、第2経路において、第1駆動用接続部材のインダクタンスの影響を受け難くなる。したがって、第2経路において、第1駆動用接続部材のインダクタンスに起因する逆起電圧が、スイッチング素子の制御電圧に及ぼす影響を低減できる。
 本開示の一態様による半導体レーザ装置は、半導体レーザ素子と、前記半導体レーザ素子に直列接続され、制御電極、第1駆動電極、及び第2駆動電極を有し、前記制御電極に印加される電圧に応じて前記半導体レーザ素子に流れる電流を制御するスイッチング素子と、前記半導体レーザ素子及び前記スイッチング素子に並列接続されているコンデンサと、前記コンデンサの第1端子が接続されている第1駆動用導電部と、を備える。前記第1駆動用導電部は、前記コンデンサの第1端子が接続されている第1端部と、前記第1駆動用導電部が延びる方向において前記第1端部とは反対側に設けられている第2端部と、を有する。半導体レーザ装置は、前記第1駆動用導電部のうちの前記コンデンサの前記第1端子に近い側と、前記第2駆動電極とを接続している第1駆動用接続部材と、前記第1駆動用導電部のうちの前記コンデンサの前記第1端子よりも前記第2端部に近い側と、前記第2駆動電極とを接続している第2駆動用接続部材と、をさらに備える。
 この構成によれば、スイッチング素子の第2駆動電極から第1駆動用接続部材を介して第1駆動用導電部のうちのコンデンサの第1端子に近い側に流れる電流の第1経路と、スイッチング素子の第2駆動電極から第2駆動用接続部材を介して第1駆動用導電部のうちの制御電極に近い側に流れる電流の第2経路とが個別に形成される。これにより、第1経路の電流の変動が第2経路に影響を及ぼすことが低減される。すなわち、第2経路において、第1駆動用接続部材のインダクタンスの影響を受け難くなる。したがって、第2経路において、第1駆動用接続部材のインダクタンスに起因する逆起電圧が、スイッチング素子の制御電圧に及ぼす影響を低減できる。
 本開示の一態様による半導体レーザ装置は、半導体レーザ素子と、前記半導体レーザ素子に直列接続され、制御電極、第1駆動電極、及び第2駆動電極を有し、前記制御電極に印加される電圧に応じて前記半導体レーザ素子に流れる電流を制御するスイッチング素子と、前記半導体レーザ素子及び前記スイッチング素子に並列接続されるコンデンサと、前記コンデンサの第1端子が接続されている第1駆動用導電部と、前記スイッチング素子の前記制御電極に電圧を印加するドライバ回路と、前記第1駆動用導電部と前記第2駆動電極とを接続する第1駆動用接続部材と、前記ドライバ回路と前記第2駆動電極とを接続する第2駆動用接続部材と、を備える。
 この構成によれば、スイッチング素子の第2駆動電極から第1駆動用接続部材を介して第1駆動用導電部に流れる電流の第1経路と、スイッチング素子の第2駆動電極から第2駆動用接続部材を介してドライバ回路に流れる電流の第2経路とが個別に形成される。これにより、第1経路の電流の変動が第2経路に影響を及ぼすことが低減される。すなわち、第2経路において、第1駆動用接続部材のインダクタンスの影響を受け難くなる。したがって、第2経路において、第1駆動用接続部材のインダクタンスに起因する逆起電圧が、スイッチング素子の制御電圧に及ぼす影響を低減できる。
 上記半導体レーザ装置によれば、インダクタンスに起因する逆起電圧が、スイッチング素子の制御電圧に及ぼす影響を低減できる。
第1実施形態の半導体レーザ装置が適用されたレーザシステムの模式的な回路図。 第1実施形態の半導体レーザ装置について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 第1実施形態の半導体レーザ装置の裏面図。 図2の4-4線に沿った断面図。 図2の5-5線に沿った断面図。 図2の6-6線に沿った断面図。 図2の7-7線に沿った断面図。 図2の8-8線に沿った断面図。 第1実施形態の半導体レーザ素子の模式的な素子断面構造を示す断面図。 第1実施形態の半導体レーザ素子の模式的な平面図。 比較例の半導体レーザ装置が適用されたレーザシステムの模式的な回路図。 比較例の半導体レーザ装置について、半導体レーザ素子に流れる電流及びスイッチング素子のゲート電極に印加される電圧の推移を示すグラフ。 比較例の半導体レーザ装置について、寄生インダクタンスの起電圧の推移を示すグラフ。 第1実施形態の半導体レーザ装置がレーザシステムに用いられた場合の接続構成を説明するための模式図。 第1実施形態の半導体レーザ装置が適用されたレーザシステムの模式的な回路図。 第1実施形態の半導体レーザ装置について、半導体レーザ素子に流れる電流及びスイッチング素子のゲート電極に印加される電圧の推移を示すグラフ。 第1実施形態の半導体レーザ装置の変更例について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 図17の半導体レーザ装置の裏面図。 第1実施形態の半導体レーザ装置の変更例について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 第1実施形態の半導体レーザ装置の変更例について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 図20の半導体レーザ装置の半導体レーザ素子の模式的な素子断面構造を示す断面図。 第1実施形態の半導体レーザ装置の変更例について、半導体レーザ装置の裏面図。 第1実施形態の半導体レーザ装置の変更例について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 図23の半導体レーザ装置の裏面図。 図23の25-25線に沿った断面図。 第2実施形態の半導体レーザ装置について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 図26の半導体レーザ装置の裏面図。 第3実施形態の半導体レーザ装置について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 図28の半導体レーザ装置の裏面図。 第3実施形態の半導体レーザ装置の変更例について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 第3実施形態の半導体レーザ装置の変更例について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 第3実施形態の半導体レーザ装置の変更例について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 第4実施形態の半導体レーザ装置について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 図33の半導体レーザ装置の裏面図。 第4実施形態の半導体レーザ装置の変更例について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 図35の半導体レーザ装置の裏面図。 第4実施形態の半導体レーザ装置の変更例について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 第4実施形態の半導体レーザ装置の変更例について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 図38の半導体レーザ装置の裏面図。 第4実施形態の半導体レーザ装置の変更例について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 第4実施形態の半導体レーザ装置の変更例について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 第4実施形態の半導体レーザ装置の変更例について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 第4実施形態の半導体レーザ装置の変更例について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 第5実施形態の半導体レーザ装置について、封止部材を取り除き、半導体レーザ装置の内部構成を示す平面図。 図44の半導体レーザ装置の裏面図。 第5実施形態の半導体レーザ装置がレーザシステムに用いられた場合の接続構成を説明するための模式図。
 以下、半導体レーザ装置の実施形態について図面を参照して説明する。以下に示す実施形態は、技術的思想を具体化するための構成や方法を例示するものであり、各構成部品の材質、形状、構造、配置、寸法等を下記のものに限定するものではない。以下の実施形態は、種々の変更を加えることができる。
 [第1実施形態]
 図1~図16を参照して、第1実施形態の半導体レーザ装置について説明する。
 (半導体レーザ装置及びレーザシステムの回路構成)
 図1に示すように、図1の破線で囲まれた部分によって構成される半導体レーザ装置1Aは、3次元距離計測の一例であるLiDARのパルスレーザ光源として用いられる。図1では、LiDARとしてのレーザシステム100に半導体レーザ装置1Aが用いられた構成を示している。半導体レーザ装置1Aは、半導体レーザ素子10と、スイッチング素子20と、コンデンサ30と、複数の端子40とを備える。図1では、半導体レーザ装置1Aは、5個の端子40を備える。なお、半導体レーザ装置1Aは、2次元距離計測用のレーザシステムに用いられてもよい。また、端子40の個数は任意に変更可能である。
 レーザシステム100は、電源110、電流制限抵抗120、ダイオード130、及びドライバ回路140を備える。電源110は、正極111及び負極112を有する電源であって、半導体レーザ素子10に電力を供給する。電流制限抵抗120は、電源110の正極111と半導体レーザ素子10との間に設けられ、電源110から半導体レーザ素子10に流れる電流を制限する。ダイオード130は、アノード電極131及びカソード電極132を有し、半導体レーザ素子10と逆並列接続され、半導体レーザ素子10への逆流を防止する。図1のレーザシステム100では、ダイオード130として、ショットキーバリアダイオードが用いられている。ドライバ回路140は、出力電極141及び入力電極142を有し、スイッチング素子20のオンオフを制御する制御信号をスイッチング素子20に出力する。
 半導体レーザ素子10は、半導体レーザ装置1Aの光源であり、例えばパルスレーザダイオードが用いられている。半導体レーザ素子10の材料としては、例えばGaAs(ヒ化ガリウム)が用いられている。半導体レーザ素子10は、アノード電極11、及びカソード電極12を備える。スイッチング素子20は、半導体レーザ素子10への電流をオンオフするための素子である。半導体レーザ素子10は、例えば、発振波長が905nm、光出力が75W以上、及びパルス幅が数十ns以下の仕様のものが用いられている。好ましくは、半導体レーザ素子10は、光出力が150W以上、及びパルス幅が10ns以下の仕様のものが用いられる。さらに好ましくは、半導体レーザ素子10は、パルス幅が5ns以下の仕様のものが用いられる。
 スイッチング素子20は、例えばSi(シリコン)やSiC(炭化シリコン)、又はGaN(窒化ガリウム)等からなるトランジスタが用いられている。スイッチング素子20がGaNやSiCからなる場合、スイッチングの高速化に適している。本実施形態では、スイッチング素子20は、SiからなるN型のMOSFET(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect-Transistor)が用いられている。スイッチング素子20は、第1駆動電極の一例であるドレイン電極21、第2駆動電極の一例であるソース電極22、及び、制御電極の一例であるゲート電極23を備える。
 コンデンサ30は、半導体レーザ素子10に通電する電流となるべき電荷を一時的に蓄積するためのコンデンサバンクを構成している。コンデンサ30は、例えばスイッチング素子20がオフ状態のときに蓄電し、スイッチング素子20がオン状態のときに半導体レーザ素子10に放電する。コンデンサ30の個数は、1個又は複数個であってもよい。例えば、コンデンサ30の容量及び個数は、半導体レーザ素子10の出力に応じて設定される。コンデンサ30は、第1端子31及び第2端子32を有する。
 図1に示すとおり、半導体レーザ素子10とスイッチング素子20とは直列接続されている。具体的には、半導体レーザ素子10のカソード電極12とスイッチング素子20のドレイン電極21とが電気的に接続されている。半導体レーザ素子10のアノード電極11は、第1電源端子41に電気的に接続されている。スイッチング素子20のソース電極22は、第2電源端子42に電気的に接続されている。ダイオード130のアノード電極131は、半導体レーザ素子10のカソード電極12とスイッチング素子20のドレイン電極21との間のノードNに電気的に接続されている。
 コンデンサ30は、半導体レーザ素子10及びスイッチング素子20と並列接続されている。具体的には、コンデンサ30の第1端子31がスイッチング素子20のソース電極22に電気的に接続されており、コンデンサ30の第2端子32が半導体レーザ素子10のアノード電極11に電気的に接続されている。
 複数の端子40は、第1電源端子41、第2電源端子42、制御端子43、ダイオード接続端子44、及びドライバ接続端子45を有する。図1に示すとおり、第1電源端子41は、電源110の正極111及びダイオード130のカソード電極132と電気的に接続されている。また、第1電源端子41は、半導体レーザ素子10のアノード電極11及びコンデンサ30の第2端子32と電気的に接続されている。第2電源端子42は、電源110の負極112と電気的に接続される。また、第2電源端子42は、スイッチング素子20のソース電極22とコンデンサ30の第1端子31と電気的に接続されている。制御端子43は、ドライバ回路140の出力電極141と接続されている。ダイオード接続端子44は、ダイオード130のアノード電極131に接続されている。またダイオード接続端子44は、半導体レーザ素子10のカソード電極12とスイッチング素子20のドレイン電極21との間のノードNに接続されている。このため、ダイオード接続端子44を介してダイオード130のアノード電極131と半導体レーザ素子10のカソード電極12とが電気的に接続されている。ドライバ接続端子45は、ドライバ回路140の入力電極142に電気的に接続されている。
 このような構成のレーザシステム100では、次のように動作する。すなわち、ドライバ回路140の制御信号によってスイッチング素子20がオフ状態にされると、電源110によってコンデンサ30が蓄電される。そしてドライバ回路140の制御信号によってスイッチング素子20がオン状態にされると、コンデンサ30が放電することによって半導体レーザ素子10に電流が流れる。これにより、半導体レーザ素子10はパルスレーザ光を出力する。
 (半導体レーザ装置の構成)
 半導体レーザ装置1Aは、モジュール化されている。すなわち、半導体レーザ装置1Aは、半導体レーザ素子10、スイッチング素子20、及びコンデンサ30が1つのパッケージに収容された構成である。以下、このような半導体レーザ装置1Aの詳細な構成について説明する。
 半導体レーザ装置1Aは、半導体レーザ素子10、スイッチング素子20、及びコンデンサ30を支持し、パッケージの一部を構成する支持基板50と、半導体レーザ素子10、スイッチング素子20、及びコンデンサ30を封止し、パッケージの一部を構成する封止部材90とを備える。本実施形態では、支持基板50及び封止部材90によって半導体レーザ装置1Aのパッケージが構成されている。また、半導体レーザ装置1Aは、コンデンサ30として、2個のコンデンサ30A,30Bを有する。
 支持基板50は、半導体レーザ素子10、スイッチング素子20、及びコンデンサ30(30A,30B)の導電経路を構成するとともに半導体レーザ素子10、スイッチング素子20、及びコンデンサ30を支持している。支持基板50は、基材51及び導電部60を有する。
 基材51は、電気絶縁性を有する材料からなる。一例では、基材51は、エポキシ樹脂やセラミックスからなる。本実施形態では、基材51を構成する材料として、ガラスエポキシ樹脂を用いている。基材51は、基材主面51a、基材裏面51b、第1基材側面51c、第2基材側面51d、第3基材側面51e、及び第4基材側面51fを有する。以降の説明において、基材51の厚さ方向を「厚さ方向Z」とし、厚さ方向Zと直交する方向において互いに直交する方向を「横方向X」及び「縦方向Y」とする。なお、縦方向Yは第1方向に相当し、横方向Xは第2方向に相当する。
 基材主面51a及び基材裏面51bは、厚さ方向Zにおいて互いに反対側を向く面である。第1基材側面51c、第2基材側面51d、第3基材側面51e、及び第4基材側面51fはそれぞれ、基材主面51a及び基材裏面51bの厚さ方向Zの間に設けられ、基材主面51a及び基材裏面51bと交差する方向に向く面である。第1基材側面51c及び第2基材側面51dは互いに反対側を向き、第3基材側面51e及び第4基材側面51fは互いに反対側を向いている。本実施形態では、第1基材側面51c及び第2基材側面51dは、縦方向Yにおいて互いに反対側を向き、横方向Xに沿って延びている。第3基材側面51e及び第4基材側面51fは、横方向Xにおいて互いに反対側を向き、縦方向Yに沿って延びている。
 半導体レーザ装置1Aの平面視(以下、単に「平面視」という)における基材51の形状は、矩形状である。本実施形態では、平面視における基材51の形状は、第1基材側面51c及び第2基材側面51dが長辺方向となり、第3基材側面51e及び第4基材側面51fが短辺方向となる矩形状である。
 導電部60は、基材51に設けられ、半導体レーザ素子10、スイッチング素子20、及びコンデンサ30への導電経路を構成している。導電部60の材料は、特に限定されないが、例えばCu(銅)、Ni(ニッケル)、Ti(チタン)、Au(金)等の金属が用いられている。また、導電部60は、その形成方法は特に限定されないが、例えばめっきによって形成されている。導電部60は、駆動用導電部としての主面側導電部60A、端子用導電部としての裏面側導電部60B、及び連絡部60Cを有する。
 主面側導電部60Aは、基材51の基材主面51aに形成されている。主面側導電部60Aは、一対の第1駆動用導電部61A,61B、第2駆動用導電部62、第3駆動用導電部63、一対の第4駆動用導電部64A,64B、及び制御用導電部65を有する。
 一対の第1駆動用導電部61A,61Bは、基材主面51aのうちの横方向Xの両端部かつ縦方向Yの中央部に配置されている。第1駆動用導電部61Aは、平面視において、基材主面51aのうちの第3基材側面51e寄りの部分に第3基材側面51eと横方向Xに間隔をあけて配置されている。第1駆動用導電部61Bは、平面視において、基材主面51aのうちの第4基材側面51f寄りの部分に第4基材側面51fと横方向Xに間隔をあけて配置されている。平面視における各第1駆動用導電部61A,61Bの形状は、縦方向Yが長辺方向となり、横方向Xが短辺方向となる矩形状である。本実施形態では、平面視における第1駆動用導電部61A,61Bの形状は互いに同じ形状である。なお、平面視における第1駆動用導電部61A,61Bの形状はそれぞれ任意に変更可能である。例えば、平面視における第1駆動用導電部61Aの形状が平面視における第1駆動用導電部61Bの形状と異なってもよい。
 第3駆動用導電部63は、基材主面51aのうちの一対の第1駆動用導電部61A,61Bの横方向Xの間の部分に配置されている。平面視における第3駆動用導電部63の形状は、凸状である。第3駆動用導電部63は、一対の第1駆動用導電部61A,61Bに挟まれた部分であるスイッチング素子実装部63aと、スイッチング素子実装部63aから縦方向Yに突出している半導体レーザ素子実装部63bとに区分できる。
 スイッチング素子実装部63aは、縦方向Yにおいて基材主面51aのうちの第2基材側面51d寄りの部分に配置されている。スイッチング素子実装部63aは、横方向Xにおいて一対の第1駆動用導電部61A,61Bと間隔をあけて配置されている。平面視におけるスイッチング素子実装部63aの形状は、正方形である。スイッチング素子実装部63aの横方向Xの大きさは、一対の第1駆動用導電部61A,61Bのそれぞれの横方向Xの大きさよりも大きい。スイッチング素子実装部63aの縦方向Yの大きさは、特に限定されないが、本実施形態では、一対の第1駆動用導電部61A,61Bのそれぞれの縦方向Yの大きさと等しい。ここで、スイッチング素子実装部63aの縦方向Yの大きさと一対の第1駆動用導電部61A,61Bの縦方向Yの大きさとの差が一対の第1駆動用導電部61A,61Bの縦方向Yの大きさの5%以内であれば、スイッチング素子実装部63aの縦方向Yの大きさが一対の第1駆動用導電部61A,61Bの縦方向Yの大きさと等しいと言える。
 スイッチング素子実装部63aには、スイッチング素子20が実装されている。図2及び図4に示すように、スイッチング素子20は、平板状に形成されている。スイッチング素子20は、SiやSiC等の半導体材料からなる素子本体24を有する。素子本体24は、厚さ方向Zにおいて互いに反対側を向く素子主面24a及び素子裏面24bを有する。素子主面24aは、半導体レーザ素子10のレーザ素子主面10aと同じ側を向く面である。素子裏面24bは、レーザ素子裏面10bと同じ側を向く面である。
 素子主面24aには、ソース電極22及びゲート電極23が形成されている。ソース電極22は、素子主面24aの大部分にわたり形成されている。平面視におけるソース電極22の形状は、第2基材側面51d側に向けて開口する凹形状である。本実施形態では、ソース電極22は、平面視において縦方向Yに凹む凹部22aが形成されている。凹部22aは、ソース電極22の第2基材側面51d寄りの端部かつ横方向Xの中央部に形成されている。凹部22aには、ゲート電極23が形成されている。
 素子裏面24bには、ドレイン電極21が形成されている。ドレイン電極21は、例えば素子裏面24bの全体にわたり形成されている。このように、本実施形態のスイッチング素子20は、いわゆる縦型構造のトランジスタである。
 半導体レーザ素子実装部63bは、スイッチング素子実装部63aの縦方向Yの第1基材側面51c寄りの端部、かつ、スイッチング素子実装部63aの横方向Xの中央部に配置されている。平面視における半導体レーザ素子実装部63bの形状は、縦方向Yが長辺方向となり、横方向Xが短辺方向となる矩形状である。半導体レーザ素子実装部63bの横方向Xの大きさは、スイッチング素子実装部63aの横方向Xの大きさよりも小さい。また半導体レーザ素子実装部63bの横方向Xの大きさは、一対の第1駆動用導電部61A,61Bの横方向Xの大きさよりも小さい。半導体レーザ素子実装部63bの縦方向Yの大きさは、スイッチング素子実装部63aの縦方向Yの大きさよりも小さい。また半導体レーザ素子実装部63bの縦方向Yの大きさは、一対の第1駆動用導電部61A,61Bの縦方向Yの大きさよりも小さい。
 半導体レーザ素子実装部63bには、半導体レーザ素子10が実装されている。図2及び図4に示すように、半導体レーザ素子10は、平板状に形成されている。平面視における半導体レーザ素子10の形状は、縦方向Yが長辺方向となり、横方向Xが短辺方向となる矩形状である。半導体レーザ素子10は、厚さ方向Zにおいて互いに反対側を向くレーザ素子主面10a及びレーザ素子裏面10bを有する。本実施形態では、レーザ素子主面10aにはアノード電極11が形成され、レーザ素子裏面10bにはカソード電極12が形成されている。
 なお、平面視におけるスイッチング素子実装部63aの形状は任意に変更可能である。例えば、平面視におけるスイッチング素子実装部63aの形状が横方向X及び縦方向Yの一方が長辺方向となり、横方向X及び縦方向Yの他方が短辺方向となる矩形状であってもよい。また、平面視における半導体レーザ素子実装部63bの形状は任意に変更可能である。例えば、平面視における半導体レーザ素子実装部63bの形状は正方形であってもよいし、横方向Xが長辺方向となり、縦方向Yが短辺方向となる矩形状であってもよい。
 一対の第4駆動用導電部64A,64Bはそれぞれ、縦方向Yにおいて基材主面51aのうちの第1基材側面51c寄りの端部に配置されている。一対の第4駆動用導電部64A,64Bは、第1基材側面51cから縦方向Yに離間して配置されている。第4駆動用導電部64Aは、基材主面51aのうちの第3基材側面51e寄りの端部に配置されている。第4駆動用導電部64Aは、第3基材側面51eと横方向Xに離間して配置されている。第4駆動用導電部64Bは、基材主面51aのうちの第4基材側面51f寄りの端部に配置されている。第4駆動用導電部64Bは、第4基材側面51fと横方向Xに離間して配置されている。一対の第4駆動用導電部64A,64Bは、横方向Xにおいて半導体レーザ素子実装部63bの両側に半導体レーザ素子実装部63bと横方向Xに間隔をあけて配置されている。縦方向Yからみて、第4駆動用導電部64Aは、第1駆動用導電部61Aと重なるように配置されている。また、縦方向Yからみて、第4駆動用導電部64Aのうちの半導体レーザ素子実装部63b寄りの端部は、スイッチング素子実装部63aのうちの第3基材側面51e寄りの端部と重なるように配置されている。縦方向Yからみて、第4駆動用導電部64Bは、第1駆動用導電部61Bと重なるように配置されている。また、縦方向Yからみて、第4駆動用導電部64Bのうちの半導体レーザ素子実装部63b寄りの端部は、スイッチング素子実装部63aのうちの第4基材側面51f寄りの端部と重なるように配置されている。横方向Xからみて、一対の第4駆動用導電部64A,64Bは、半導体レーザ素子実装部63bと重なるように配置されている。
 平面視における一対の第4駆動用導電部64A,64Bの形状は、横方向Xが長辺方向となり、縦方向Yが短辺方向となる矩形状である。一対の第4駆動用導電部64A,64Bの横方向Xの大きさは、一対の第1駆動用導電部61A,61Bの横方向Xの大きさよりも大きい。一対の第4駆動用導電部64A,64Bの縦方向Yの大きさは、一対の第1駆動用導電部61A,61Bの縦方向Yの大きさよりも小さい。また、一対の第4駆動用導電部64A,64Bの縦方向Yの大きさは、半導体レーザ素子実装部63bの縦方向Yの大きさよりも小さい。本実施形態では、平面視における第4駆動用導電部64A,64Bの形状は互いに同じ形状である。なお、平面視における第4駆動用導電部64A,64Bの形状はそれぞれ任意に変更可能である。例えば、平面視における第4駆動用導電部64Aの形状が平面視における第4駆動用導電部64Bの形状と異なってもよい。
 第2駆動用導電部62及び制御用導電部65はそれぞれ、縦方向Yにおいて基材主面51aのうちの第2基材側面51d寄りの端部に配置されている。第2駆動用導電部62及び制御用導電部65は、横方向Xにおいて互いに離間した状態で横方向Xに沿って配列されている。第2駆動用導電部62及び制御用導電部65はそれぞれ、第2基材側面51dと縦方向Yに離間して配置されている。第2駆動用導電部62は、横方向Xにおいて基材主面51aのうちの第4基材側面51f寄りの端部に配置されている。第2駆動用導電部62は、第4基材側面51fと横方向Xに離間して配置されている。制御用導電部65は、横方向Xにおいて基材主面51aのうちの第3基材側面51e寄りの端部に配置されている。制御用導電部65は、第3基材側面51eと横方向Xに離間して配置されている。
 平面視における第2駆動用導電部62の形状は、横方向Xが長辺方向となり、縦方向Yが短辺方向となる矩形状である。第2駆動用導電部62の縦方向Yの大きさは、一対の第1駆動用導電部61A,61B及びスイッチング素子実装部63aの縦方向Yの大きさよりも小さい。第2駆動用導電部62の横方向Xの大きさは、一対の第1駆動用導電部61A,61Bの横方向Xの大きさよりも大きい。第2駆動用導電部62の横方向Xの大きさは、一対の第4駆動用導電部64A,64Bの横方向Xの大きさよりも大きい。なお、平面視における第2駆動用導電部62の形状は任意に変更可能である。一例では、平面視における第2駆動用導電部62の形状は正方形であってもよいし、縦方向Yが長辺方向となり、横方向Xが短辺方向となる矩形状であってもよい。
 平面視における制御用導電部65の形状は、横方向Xが長辺方向となり、縦方向Yが短辺方向となる矩形状である。制御用導電部65の縦方向Yの大きさは、一対の第1駆動用導電部61A,61Bの縦方向Yの大きさよりも小さい。制御用導電部65の横方向Xの大きさは、一対の第1駆動用導電部61A,61Bの横方向Xの大きさよりも大きい。制御用導電部65の横方向Xの大きさは、一対の第4駆動用導電部64A,64Bの横方向Xの大きさよりも大きい。なお、平面視における制御用導電部65の形状は任意に変更可能である。一例では、平面視における制御用導電部65の形状は正方形であってもよいし、縦方向Yが長辺方向となり、横方向Xが短辺方向となる矩形状であってもよい。
 縦方向Yからみて、第2駆動用導電部62は、第1駆動用導電部61B及び第4駆動用導電部64Bと、スイッチング素子実装部63aのうちの第4基材側面51f寄りの端部とに重なるように配置されている。縦方向Yからみて、制御用導電部65は、第1駆動用導電部61A及び第4駆動用導電部64Aと、スイッチング素子実装部63aのうちの第3基材側面51e寄りの端部とに重なるように配置されている。
 図3に示すように、裏面側導電部60Bは、基材51の基材裏面51b上に形成されている。裏面側導電部60Bは、一対の第1端子用導電部66A,66B、第2端子用導電部67、第3端子用導電部68、一対の第4端子用導電部69A,69B、及び制御端子用導電部70を有する。このように、本実施形態では、半導体レーザ装置1Aは、表面実装型のパッケージである。
 裏面側導電部60Bは、半導体レーザ装置1Aを配線基板(図示略)等に実装する際の端子、すなわち図1の複数の端子40として用いられる。図1及び図3に示すように、一対の第1端子用導電部66A,66Bは第2電源端子42を構成し、第2端子用導電部67はドライバ接続端子45を構成し、第3端子用導電部68はダイオード接続端子44を構成し、第4端子用導電部69A,69Bは第1電源端子41を構成している。
 図3に示すように、一対の第1端子用導電部66A,66Bは、基材裏面51bのうちの横方向Xの両端部かつ縦方向Yの中央部に配置されている。第1端子用導電部66Aは、平面視において、基材裏面51bのうちの第3基材側面51e寄りの部分に第3基材側面51eと横方向Xに間隔をあけて配置されている。第1端子用導電部66Bは、平面視において、基材裏面51bのうちの第4基材側面51f寄りの部分に第4基材側面51fと横方向Xに間隔をあけて配置されている。厚さ方向Zからみて、第1端子用導電部66Aは、第1駆動用導電部61Aと重なるように配置されている。
 平面視における各第1端子用導電部66A,66Bの形状は、縦方向Yが長辺方向となり、横方向Xが短辺方向となる矩形状である。第1端子用導電部66A,66Bの横方向Xの大きさは、第1駆動用導電部61A,61Bの横方向Xの大きさよりも小さい。第1端子用導電部66A,66Bの縦方向Yの大きさは、第1駆動用導電部61A,61Bの縦方向Yの大きさよりも小さい。本実施形態では、平面視における第1端子用導電部66A,66Bの形状は互いに同じ形状である。なお、平面視における第1端子用導電部66A,66Bの形状はそれぞれ任意に変更可能である。例えば、平面視における第1端子用導電部66Aの形状が平面視における第1端子用導電部66Bの形状と異なってもよい。
 第3端子用導電部68は、基材裏面51bのうちの一対の第1端子用導電部66A,66Bの横方向Xの間の部分に配置されている。第3端子用導電部68は、縦方向Yにおいて基材裏面51bのうちの第1基材側面51c寄りに配置されている。厚さ方向Zからみて、第3端子用導電部68は、第3駆動用導電部63と重なるように配置されている。
 平面視における第3端子用導電部68の形状は、縦方向Yが長辺方向であり、横方向Xが短辺方向となる矩形状である。便宜上、第3端子用導電部68は、境界線Lbによって、厚さ方向Zにおいて、第3駆動用導電部63のスイッチング素子実装部63aと重なる第1端子部68aと、半導体レーザ素子実装部63bと重なる第2端子部68bとに区分する。
 第1端子部68aの横方向Xの大きさは、スイッチング素子実装部63aの横方向Xの大きさよりも小さい。第1端子部68aの縦方向Yの大きさは、スイッチング素子実装部63aの縦方向Yの大きさよりも小さい。第2端子部68bの横方向Xの大きさは、半導体レーザ素子実装部63bの横方向Xの大きさよりも大きい。第2端子部68bの縦方向Yの大きさは、半導体レーザ素子実装部63bの縦方向Yの大きさと等しい。図6に示すように、第2端子部68bは、厚さ方向Zにおいて第4駆動用導電部64A,64Bと重なるように形成されている。
 図3に示すように、一対の第4端子用導電部69A,69Bはそれぞれ、縦方向Yにおいて基材裏面51bのうちの第1基材側面51c寄りの端部に配置されている。一対の第4端子用導電部69A,69Bは、第1基材側面51cから縦方向Yに離間して配置されている。第4端子用導電部69Aは、基材裏面51bのうちの第3基材側面51e寄りの端部に配置されている。第4端子用導電部69Aは、第3基材側面51eと横方向Xに離間して配置されている。第4端子用導電部69Bは、基材裏面51bのうちの第4基材側面51f寄りの端部に配置されている。第4端子用導電部69Bは、第4基材側面51fと横方向Xに離間して配置されている。一対の第4端子用導電部69A,69Bは、横方向Xにおいて第2端子部68bの両側に第2端子部68bと横方向Xに間隔をあけて配置されている。縦方向Yからみて、第4端子用導電部69Aは、第1端子用導電部66Aと重なるように配置されている。縦方向Yからみて、第4端子用導電部69Bは、第1端子用導電部66Bと重なるように配置されている。横方向Xからみて、一対の第4端子用導電部69A,69Bは、第2端子部68bと重なるように配置されている。厚さ方向Zからみて、第4端子用導電部69Aは第4駆動用導電部64Aと重なるように配置され、第4端子用導電部69Bは第4駆動用導電部64Bと重なるように配置されている。
 平面視における一対の第4端子用導電部69A,69Bの形状は、横方向Xが長辺方向となり、縦方向Yが短辺方向となる矩形状である。一対の第4端子用導電部69A,69Bの横方向Xの大きさは、一対の第1端子用導電部66A,66Bの横方向Xの大きさよりも大きい。一対の第4端子用導電部69A,69Bの横方向Xの大きさは、一対の第4駆動用導電部64A,64Bの横方向Xの大きさよりも小さい。一対の第4端子用導電部69A,69Bの縦方向Yの大きさは、一対の第1端子用導電部66A,66Bの縦方向Yの大きさよりも小さい。一対の第4端子用導電部69A,69Bの縦方向Yの大きさは、一対の第4駆動用導電部64A,64Bの縦方向Yの大きさと等しい。ここで、一対の第4端子用導電部69A,69Bの縦方向Yの大きさと一対の第4駆動用導電部64A,64Bの縦方向Yの大きさとの差が、例えば一対の第4駆動用導電部64A,64Bの5%以内であれば、一対の第4端子用導電部69A,69Bの縦方向Yの大きさが一対の第4駆動用導電部64A,64Bの縦方向Yの大きさと等しいと言える。本実施形態では、平面視における第4端子用導電部69A,69Bの形状は互いに同じ形状である。なお、平面視における第4端子用導電部69A,69Bの形状はそれぞれ任意に変更可能である。例えば、平面視における第4端子用導電部69Aの形状が平面視における第4端子用導電部69Bの形状と異なってもよい。
 第2端子用導電部67及び制御端子用導電部70はそれぞれ、縦方向Yにおいて基材裏面51bのうちの第2基材側面51d寄りの端部に配置されている。第2端子用導電部67及び制御端子用導電部70は、横方向Xにおいて互いに離間した状態で横方向Xに沿って配列されている。第2端子用導電部67及び制御端子用導電部70はそれぞれ、第2基材側面51dと縦方向Yに離間して配置されている。
 第2端子用導電部67は、横方向Xにおいて基材裏面51bのうちの第4基材側面51f寄りの端部に配置されている。第2端子用導電部67は、第4基材側面51fと横方向Xに離間して配置されている。縦方向Yからみて、第2端子用導電部67は、第1端子用導電部66B及び第4端子用導電部69Bと、第3端子用導電部68のうちの第4基材側面51f寄りの端部とに重なるように配置されている。厚さ方向Zからみて、第2端子用導電部67は、図2に示す第2駆動用導電部62と重なるように配置されている。
 平面視における第2端子用導電部67の形状は、横方向Xが長辺方向となり、縦方向Yが短辺方向となる矩形状である。第2駆動用導電部62の縦方向Yの大きさは、一対の第1端子用導電部66A,66B及び第3端子用導電部68の縦方向Yの大きさよりも小さい。第2端子用導電部67の横方向Xの大きさは、一対の第1端子用導電部66A,66Bの横方向Xの大きさよりも大きい。第2端子用導電部67の横方向Xの大きさは、一対の第4端子用導電部69A,69Bの横方向Xの大きさよりも大きい。なお、平面視における第2駆動用導電部62の形状は任意に変更可能である。一例では、平面視における第2駆動用導電部62の形状は正方形であってもよいし、縦方向Yが長辺方向となり、横方向Xが短辺方向となる矩形状であってもよい。
 制御端子用導電部70は、横方向Xにおいて基材裏面51bのうちの第3基材側面51e寄りの端部に配置されている。制御端子用導電部70は、第3基材側面51eと横方向Xに離間して配置されている。縦方向Yからみて、制御端子用導電部70は、第1端子用導電部66A及び第4端子用導電部69Aと、第3端子用導電部68のうちの第3基材側面51e寄りの端部とに重なるように配置されている。厚さ方向Zからみて、制御端子用導電部70は、制御用導電部65と重なるように配置されている。
 平面視における制御端子用導電部70の形状は、横方向Xが長辺方向となり、縦方向Yが短辺方向となる矩形状である。制御端子用導電部70の縦方向Yの大きさは、一対の第1端子用導電部66A,66Bの縦方向Yの大きさよりも小さい。制御端子用導電部70の横方向Xの大きさは、一対の第1端子用導電部66A,66Bの横方向Xの大きさよりも大きい。制御端子用導電部70の横方向Xの大きさは、一対の第4端子用導電部69A,69Bの横方向Xの大きさよりも大きい。なお、平面視における制御端子用導電部70の形状は任意に変更可能である。一例では、平面視における制御端子用導電部70の形状は正方形であってもよいし、縦方向Yが長辺方向となり、横方向Xが短辺方向となる矩形状であってもよい。
 図2及び図3から分かるとおり、第1駆動用導電部61Aと第4駆動用導電部64Aとの縦方向Yの隙間Gs1、及び第1駆動用導電部61Bと第4駆動用導電部64Bとの縦方向Yの隙間Gs1は、第1端子用導電部66Aと第4端子用導電部69Aとの縦方向Yの隙間Gr1、及び第1端子用導電部66Bと第4端子用導電部69Bとの縦方向Yの隙間Gr1よりも小さい。換言すれば、隙間Gr1は、隙間Gs1よりも大きい。また、第1駆動用導電部61A,61Bと第3駆動用導電部63との横方向Xの隙間Gs2は、第1端子用導電部66A,66Bと第3端子用導電部68との横方向Xの隙間Gr2よりも小さい。換言すれば、隙間Gr2は、隙間Gs2よりも大きい。また、第1駆動用導電部61A,61B及び第3駆動用導電部63のスイッチング素子実装部63aと第2駆動用導電部62との縦方向Yの隙間Gs3は、第1端子用導電部66A及び第3端子用導電部68の第1端子部68aと第2端子用導電部67との縦方向Yの隙間Gr3よりも小さい。換言すれば、隙間Gr3は、隙間Gs3よりも大きい。第4駆動用導電部64A,64Bと第3駆動用導電部63の半導体レーザ素子実装部63bとの横方向Xの隙間Gs4は、第4端子用導電部69A,69Bと第3端子用導電部68の第2端子部68bとの横方向Xの隙間Gr4よりも小さい。換言すれば、隙間Gr4は、隙間Gs4よりも大きい。第1駆動用導電部61B及び第3駆動用導電部63のスイッチング素子実装部63aと制御用導電部65との縦方向Yの隙間Gs5は、第1端子用導電部66B及び第3端子用導電部68の第1端子部68aと制御端子用導電部70との縦方向Yの隙間Gr5よりも小さい。換言すると、隙間Gr5は、隙間Gs5よりも大きい。また、第2駆動用導電部62と制御用導電部65との横方向Xの隙間Gs6は、第2端子用導電部67と制御端子用導電部70との横方向Xの隙間Gr6と等しい。ここで、隙間Gs6と隙間Gr6との差が例えば隙間Gs6の5%以内であれば、隙間Gs6は隙間Gr6と等しいと言える。なお、隙間Gr6は、隙間Gs6よりも大きくてもよい。
 図2~図5、図7、及び図8に示すように、連絡部60Cは、複数個設けられ、主面側導電部60Aと裏面側導電部60Bとを繋いでいる。各連絡部60Cは、同一構造であり、スルーホール71と、スルーホール71に埋め込まれた導体部72とによって構成されている。スルーホール71は、厚さ方向Zに基材51を貫通する貫通孔52を構成する内周面の全体にわたり形成された金属膜71aによって構成されている。金属膜71aの基材51の基材主面51a寄りの端部は主面側導電部60Aに繋がっており、金属膜71aの基材51の基材裏面51b寄りの端部は裏面側導電部60Bに繋がっている。本実施形態では、金属膜71aを構成する材料は、主面側導電部60A及び裏面側導電部60Bを構成する材料と同じである。導体部72を構成する材料としては、例えば金属材料であり、本実施形態ではCu(銅)が用いられている。
 図3に示すように、連絡部60Cは、複数の第1駆動用連絡部73A,73B、複数の第2駆動用連絡部74、複数の第3駆動用連絡部75、複数の第4駆動用連絡部76A,76B、及び複数の制御用連絡部77を有する。本実施形態では、複数の第1駆動用連絡部73、複数の第2駆動用連絡部74、複数の第3駆動用連絡部75、複数の第4駆動用連絡部76、及び複数の制御用連絡部77を構成するスルーホール71(例えば図4参照)の外径及び内径は互いに等しい。
 図2~図4に示すように、複数の第3駆動用連絡部75は、第3駆動用導電部63と第3端子用導電部68とを接続している。複数の第3駆動用連絡部75は、複数(本実施形態では9個)のスイッチング素子側連絡部75a、1個の半導体レーザ素子側連絡部75b、及び1個の中間連絡部75cを含む。なお、スイッチング素子側連絡部75a、半導体レーザ素子側連絡部75b、及び中間連絡部75cのそれぞれの個数は、上記の個数に限定されず、任意に変更可能である。
 複数のスイッチング素子側連絡部75aは、第3駆動用導電部63のスイッチング素子実装部63aに設けられている。9個のスイッチング素子側連絡部75aのうちの8個は、厚さ方向Zからみて、スイッチング素子20のソース電極22と重なる位置に設けられている。厚さ方向Zからみて、残りの1個のスイッチング素子側連絡部75aは、スイッチング素子20のゲート電極23と重なる位置に設けられている。厚さ方向Zからみて、9個のスイッチング素子側連絡部75aは、スイッチング素子20のドレイン電極21と重なる位置に設けられている。
 半導体レーザ素子側連絡部75bは、第3駆動用導電部63の半導体レーザ素子実装部63bに設けられている。厚さ方向Zからみて、半導体レーザ素子側連絡部75bは、半導体レーザ素子10と重なる位置に設けられている。
 中間連絡部75cは、第3駆動用導電部63のスイッチング素子実装部63aと半導体レーザ素子実装部63bとの境界部(図2及び図3の境界線Lb)を跨ぐように設けられている。すなわち、中間連絡部75cは、半導体レーザ素子側連絡部75bとスイッチング素子側連絡部75aとの縦方向Yの間に位置している。換言すると、中間連絡部75cは、半導体レーザ素子10とスイッチング素子20との縦方向Yの間に位置している。
 図2、図3、及び図5に示すように、複数(本実施形態では2個)の第1駆動用連絡部73Aは、第1駆動用導電部61Aと第1端子用導電部66Aとを接続している。複数の第1駆動用連絡部73Aは、縦方向Yに間隔をあけて配列されている。各第1駆動用連絡部73Aは、横方向Xにおいて第1駆動用導電部61A及び第1端子用導電部66Aのうちの第3基材側面51e寄りに配置されている。各第1駆動用連絡部73Aは、縦方向Yにおいてコンデンサ30Aよりも第2駆動用導電部62(第2端子用導電部67)側に配置されている。
 複数(本実施形態では2個)の第1駆動用連絡部73Bは、第1駆動用導電部61Bと第1端子用導電部66Bとを接続している。複数の第1駆動用連絡部73Bは、縦方向Yにおいて、複数の第1駆動用連絡部73Aと揃うように縦方向Yに間隔をあけて配列されている。各第1駆動用連絡部73Bは、横方向Xにおいて第1駆動用導電部61B及び第1端子用導電部66Bのうちの第4基材側面51f寄りに配置されている。各第1駆動用連絡部73Bは、縦方向Yにおいてコンデンサ30Bよりも制御用導電部65(制御端子用導電部70)側に配置されている。なお、第1駆動用連絡部73A,73Bの個数は上記個数に限られず、任意に変更可能である。
 図2、図3、及び図6に示すように、第4駆動用連絡部76Aは、第4駆動用導電部64Aと第4駆動用連絡部76Aとを接続している。縦方向Yからみて、第4駆動用連絡部76Aは、コンデンサ30Aと重なる位置に設けられている。第4駆動用連絡部76Aは、縦方向Yにおいて第4駆動用導電部64Aのうちのコンデンサ30Aよりも第1基材側面51c側に位置している。
 第4駆動用連絡部76Bは、第4駆動用導電部64Bと第4駆動用連絡部76Bとを接続している。縦方向Yからみて、第4駆動用連絡部76Aは、コンデンサ30Bと重なる位置に設けられている。第4駆動用連絡部76Bは、縦方向Yにおいて第4駆動用導電部64Bのうちのコンデンサ30Bよりも第1基材側面51c側に位置している。なお、第4駆動用連絡部76A,76Bはそれぞれ複数個設けられてもよい。
 図2、図3、及び図8に示すように、複数(本実施形態では3個)の第2駆動用連絡部74はそれぞれ、第2駆動用導電部62と第2端子用導電部67とを接続している。複数の第2駆動用連絡部74は、横方向Xに間隔をあけて配列されている。3個の第2駆動用連絡部74のうちの最も第3基材側面51e寄りの第2駆動用連絡部74と第2駆動用導電部62のうちの第3基材側面51e寄りの端縁との横方向Xの間の距離Dx2は、3個の第2駆動用連絡部74のうちの最も第4基材側面51f寄りの第2駆動用連絡部74と第2駆動用導電部62のうちの第4基材側面51f寄りの端縁との横方向Xの間の距離Dx1よりも大きい。なお、第2駆動用連絡部74の個数は、上記個数に限られず、任意に変更可能である。
 複数(本実施形態では3個)の制御用連絡部77はそれぞれ、制御用導電部65と制御端子用導電部70とを接続している。複数の制御用連絡部77は、横方向Xに間隔をあけて配列されている。3個の制御用連絡部77のうちの最も第4基材側面51f寄りの制御用連絡部77と制御用導電部65のうちの第4基材側面51f寄りの端縁との横方向Xの間の距離Dx4は、3個の制御用連絡部77のうちの最も第3基材側面51e寄りの制御用連絡部77と制御用導電部65のうちの第3基材側面51e寄りの端縁との横方向Xの間の距離Dx3よりも大きい。なお、制御用連絡部77の個数は、上記個数に限られず、任意に変更可能である。
 次に、半導体レーザ素子10、スイッチング素子20、コンデンサ30A,30Bと導電部60との接続構造について説明する。
 コンデンサ30Aは、第1駆動用導電部61Aと第4駆動用導電部64Aとに接続されている。コンデンサ30Aは、第1駆動用導電部61Aと第4駆動用導電部64Aとの縦方向Yの隙間を跨ぐように配置されている。本実施形態では、コンデンサ30Aは、第1端子31と第2端子32とが縦方向Yに沿って配列されるように配置されている。コンデンサ30Aの第1端子31は、第1駆動用導電部61AにAgペースト又は半田等の導電性接合材によって接合されている。コンデンサ30Aの第2端子32は、第4駆動用導電部64Aに導電性接合材によって接合されている。第2端子32は、縦方向Yにおいて第4駆動用導電部64Aのうちの第4駆動用連絡部76Aよりも第1駆動用導電部61Aに近い部分に配置されている。
 コンデンサ30Bは、第1駆動用導電部61Bと第4駆動用導電部64Bとに接続されている。コンデンサ30Bは、第1駆動用導電部61Bと第4駆動用導電部64Bとの縦方向Yの隙間を跨ぐように配置されている。本実施形態では、コンデンサ30Bは、第1端子31と第2端子32とが縦方向Yに沿って配列されるように配置されている。コンデンサ30Bの第1端子31は、第1駆動用導電部61Bに導電性接合材によって接合されている。コンデンサ30Bの第2端子32は、第4駆動用導電部64Bに導電性接合材によって接合されている。第2端子32は、縦方向Yにおいて第4駆動用導電部64Bのうちの第4駆動用連絡部76Bよりも第1駆動用導電部61Bに近い部分に配置されている。
 図2及び図4に示すように、半導体レーザ素子10は、第3駆動用導電部63にAg(銀)ペースト又は半田等の導電性接合材によって接合されている。具体的には、半導体レーザ素子10は、第3駆動用導電部63の半導体レーザ素子実装部63bのうちの中間連絡部75cよりも第1基材側面51cの近くに配置されている。横方向Xからみて、半導体レーザ素子10は、第4駆動用導電部64A,64Bと重なっており、さらにコンデンサ30A,30Bの第2端子32と重なっている。半導体レーザ素子10は、カソード電極12が厚さ方向Zにおいて第3駆動用導電部63側に向くように配置されている。そして半導体レーザ素子10のカソード電極12は、導電性接合材によって第3駆動用導電部63に接合されている。
 スイッチング素子20は、第3駆動用導電部63にAgペースト又は半田等の導電性接合材によって接合されている。具体的には、半導体レーザ素子10は、第3駆動用導電部63のスイッチング素子実装部63aのうちの中間連絡部75cよりも第2基材側面51dの近くに実装されている。横方向Xからみて、スイッチング素子20は、第1駆動用導電部61A,61Bと重なっており、さらにコンデンサ30A,30Bの第1端子31と重なっている。スイッチング素子20は、ドレイン電極21が厚さ方向Zにおいて第3駆動用導電部63側に向くように配置されている。そしてドレイン電極21は、導電性接合材によって第3駆動用導電部63に接合されている。このように、第3駆動用導電部63を介してドレイン電極21と半導体レーザ素子10のカソード電極12とが電気的に接続されている。
 図2に示すとおり、半導体レーザ素子10のアノード電極11と、スイッチング素子20のソース電極22及びゲート電極23とはそれぞれ、厚さ方向Zにおいて支持基板50側とは反対側を向いている。これらアノード電極11、ソース電極22、及びゲート電極23は、接続部材80を介して第1駆動用導電部61A,61B、第2駆動用導電部62、第4駆動用導電部64A,64B、及び制御用導電部65に電気的に接続されている。
 接続部材80は、第1駆動用接続部材81,82、第2駆動用接続部材83、制御用接続部材84、及びレーザ用接続部材85,86を含む。接続部材80は、例えばAu(金)、Cu(銅)、Al(アルミニウム)等の金属からなるワイヤである。本実施形態では、接続部材80はワイヤボンディングによって形成される。
 第1駆動用接続部材81は、ソース電極22と第1駆動用導電部61Aとを接続している。第1駆動用接続部材81の本数は特に限定されないが、本実施形態では、3本である。3本の第1駆動用接続部材81は、縦方向Yに間隔をあけて配列されている。第1駆動用接続部材81は、第1端部81a及び第2端部81bを有する。第1端部81aは、ソース電極22に接合されている。第2端部81bは、第1駆動用導電部61Aに接合されている。3本の第1駆動用接続部材81の第1端部81aはそれぞれ、縦方向Yにおいてソース電極22のうちのゲート電極23よりも半導体レーザ素子10の近く、かつ横方向Xにおいてゲート電極23よりも第1駆動用導電部61Aの近くに配置されている。3本の第1駆動用接続部材81の第2端部81bはそれぞれ、縦方向Yにおいて第1駆動用導電部61Aのうちのコンデンサ30Aよりも制御用導電部65の近く、かつ横方向Xにおいて第1駆動用連絡部73Aよりもスイッチング素子20の近くに配置されている。縦方向Yからみて、第2端部81bは、コンデンサ30Aの横方向Xの中央部よりもスイッチング素子20に近い部分と重なるように配置されている。
 第1駆動用接続部材82は、ソース電極22と第1駆動用導電部61Bとを接続している。第1駆動用接続部材82の本数は特に限定されないが、本実施形態では、3本である。すなわち、第1駆動用接続部材82の本数は、第1駆動用接続部材81の本数と等しい。3本の第1駆動用接続部材82は、縦方向Yに間隔をあけて配列されている。第1駆動用接続部材82は、第1端部82a及び第2端部82bを有する。第1端部82aは、ソース電極22に接合されている。第2端部82bは、第1駆動用導電部61Bに接合されている。3本の第1駆動用接続部材82の第1端部82aはそれぞれ、縦方向Yにおいてソース電極22のうちのゲート電極23よりも半導体レーザ素子10の近く、かつ横方向Xにおいてゲート電極23よりも第1駆動用導電部61Bの近くに配置されている。3本の第1駆動用接続部材82の第2端部82bはそれぞれ、縦方向Yにおいて第1駆動用導電部61Bのうちのコンデンサ30Bよりも第2駆動用導電部62の近く、かつ横方向Xにおいて第1駆動用連絡部73Bよりもスイッチング素子20の近くに配置されている。縦方向Yからみて、第2端部82bは、コンデンサ30Bの横方向Xの中央部よりもスイッチング素子20に近い部分と重なるように配置されている。
 第2駆動用接続部材83は、ソース電極22と第2駆動用導電部62とを接続している。第2駆動用接続部材83の本数は特に限定されないが、本実施形態では、1本である。第2駆動用接続部材83は、3本の第1駆動用接続部材81よりも第2基材側面51d側に配置されている。第2駆動用接続部材83は、第1端部83a及び第2端部83bを有する。第1端部83aは、ソース電極22に接合されている。第2端部83bは、第2駆動用導電部62に接合されている。第1端部83aは、ソース電極22のうちの縦方向Yの第2駆動用導電部62寄りの端部に配置されている。第2端部83bは、第2駆動用導電部62のうちの縦方向Yのスイッチング素子20寄りの端部、かつ縦方向Yからみて、第2駆動用導電部62のうちのソース電極22と重なっている部分に配置されている。本実施形態では、第2端部83bは、第2駆動用導電部62のうちの3個の第2駆動用連絡部74よりも制御用導電部65に近い部分に配置されている。
 制御用接続部材84は、ゲート電極23と制御用導電部65とを接続している。制御用接続部材84の本数は特に限定されないが、本実施形態では、1本である。制御用接続部材84は、第1端部84a及び第2端部84bを有する。第1端部84aは、ゲート電極23に接合されている。第2端部84bは、制御用導電部65のうちの横方向Xの第2駆動用導電部62寄りの端部に配置されている。本実施形態では、第2端部84bは、制御用導電部65のうちの3個の制御用連絡部77よりも第2駆動用導電部62に近い部分に配置されている。
 レーザ用接続部材85は、半導体レーザ素子10のアノード電極11と第4駆動用導電部64Aとを接続している。レーザ用接続部材85の本数は特に限定されないが、本実施形態では、2本である。2本のレーザ用接続部材85は、縦方向Yに間隔をあけて配列されている。各レーザ用接続部材85は、第1端部85a及び第2端部85bを有する。第1端部85aは、アノード電極11に接続されている。詳細には、第1端部85aは、アノード電極11の横方向Xの中央部に配置されている。第2端部85bは、第4駆動用導電部64Aに接続されている。詳細には、第2端部85bは、横方向Xにおいて第4駆動用導電部64Aのうちの第4駆動用導電部64Aの横方向Xの中央部よりも半導体レーザ素子10に近い部分に配置されている。
 レーザ用接続部材86は、アノード電極11と第4駆動用導電部64Bとを接続している。レーザ用接続部材86の本数は特に限定されないが、本実施形態では、2本である。2本のレーザ用接続部材86は、縦方向Yに間隔をあけて配列されている。各レーザ用接続部材86は、第1端部86a及び第2端部86bを有する。第1端部86aは、アノード電極11に接続されている。詳細には、第1端部86aは、アノード電極11の横方向Xの中央部に配置されている。平面視において、レーザ用接続部材85の第1端部85aとレーザ用接続部材86の第1端部86aとが縦方向Yにおいて交互に配列されている。第2端部86bは、第4駆動用導電部64Bに接続されている。詳細には、第2端部86bは、横方向Xにおいて第4駆動用導電部64Bのうちの第4駆動用導電部64Bの横方向Xの中央部よりも半導体レーザ素子10に近い部分に配置されている。
 図4~図8に示すように、封止部材90は、厚さ方向Zにおいて支持基板50の基材51の基材主面51aに積層されている。封止部材90は、半導体レーザ素子10のパルスレーザ光を透過するとともに、主面側導電部60A、半導体レーザ素子10、スイッチング素子20、コンデンサ30、及び接続部材80をそれぞれ封止している。すなわち、封止部材90は、半導体レーザ素子10のパルスレーザ光が出力される部分は透明又は半透明となるように構成されている。封止部材90においてパルスレーザ光が出力される部分以外の部分は、透明又は半透明でなくてもよい。このように、封止部材90は、透明又は半透明な部分と、光が透過しない部分との2種類の部材構成であってもよい。本実施形態では、全体が透明又は半透明になるように構成されている。封止部材90を構成する材料は、例えば、透明なエポキシ樹脂やシリコーン樹脂からなる。
 封止部材90は、封止主面91、第1封止側面92、第2封止側面93、第3封止側面94、及び第4封止側面95を有する。封止主面91は、厚さ方向Zにおいて封止部材90のうちの支持基板50とは反対側を向く面である。すなわち封止主面91は、スイッチング素子20の素子主面24aと同じ方向を向く面である。各封止側面92~95は、封止主面91と支持基板50との厚さ方向Zの間に形成される面であり、封止主面91と交差する方向を向く面である。第1封止側面92及び第2封止側面93は、縦方向Yにおいて互いに反対側を向く面である。第1封止側面92は、縦方向Yにおいて基材51の第1基材側面51cと同じ方向を向く面である。第2封止側面93は、縦方向Yにおいて基材51の第2基材側面51dと同じ方向を向く面である。第3封止側面94及び第4封止側面95は、横方向Xにおいて互いに反対側を向く面である。第3封止側面94は、横方向Xにおいて基材51の第3基材側面51eと同じ方向を向く面である。第4封止側面95は、横方向Xにおいて基材の第4基材側面51fと同じ方向を向く面である。本実施形態では、半導体レーザ素子10からのレーザ光Lは、封止部材90の第1封止側面92から出射される。また本実施形態では、封止部材90の第1封止側面92は、平坦かつ平滑な面である。これにより、レーザ光Lの散乱を抑制でき、レーザ光の出射効率を高めることができる。
 次に、半導体レーザ素子10の詳細な構成の一例について説明する。
 図9及び図10に示すように、半導体レーザ素子10は、基板13と、基板13に厚さ方向Zに積層されたメサ型の半導体発光層14とを備える。半導体発光層14は、発光部に相当する。
 基板13は、GaAs(ヒ化ガリウム)を含むn型の半導体基板からなる。n型不純物としては、Si(シリコン)、Te(テルル)、及びSe(セレン)の少なくとも1種を含む。
 半導体発光層14は、レーザ光Lを生成する。半導体発光層14は、0.7μm以上2.5μm以下のピーク波長を有するレーザ光Lを生成する。つまり、半導体発光層14は、近赤外領域のレーザ光Lを生成する。好ましくは、半導体発光層14は、800nm以上1000nm以下のピーク波長を有するレーザ光Lを生成する。つまり、半導体発光層14は、赤外領域のレーザ光Lを生成する。半導体発光層14は、n型バッファ層14a、第1発光ユニット層14b、第1トンネル接合層14c、第2発光ユニット層14d、第2トンネル接合層14e、第3発光ユニット層14f、及びp型コンタクト層14gを含むメサ構造15を有する。
 n型バッファ層14aは、基板13上に積層されている。n型バッファ層14aは、GaAsを含む。n型バッファ層14aは、n型不純物としてのSi、Te、及びSeの少なくとも1種を含む。n型バッファ層14aのn型不純物濃度は、例えば1×1018cm-3以上1×1019cm-3以下である。
 各発光ユニット層14b,14d,14fは、正孔及び電子の結合によってレーザ光Lを生成する。第1発光ユニット層14b、第2発光ユニット層14d、及び第3発光ユニット層14fは、この順にn型バッファ層14a上に積層されている。図10の白抜き矢印で示すように、各発光ユニット層14b,14d,14fからは、横方向Xに沿ってレーザ光が出射される。
 積層方向に隣り合う発光ユニットの間には、第1トンネル接合層14c及び第2トンネル接合層14eが介在している。具体的には、第1トンネル接合層14cは第1発光ユニット層14bと第2発光ユニット層14dとの間に介在し、第2トンネル接合層14eは第2発光ユニット層14dと第3発光ユニット層14fとの間に介在している。各トンネル接合層14c,14eは、トンネル効果に起因するトンネル電流を生成し、そのトンネル電流は各発光ユニット層14b,14d,14fに流れる。
 p型コンタクト層14gは、第3発光ユニット層14f上に形成されている。p型コンタクト層14gは、GaAsを含む。p型コンタクト層14gは、p型不純物として、C(炭素)を含む。
 半導体発光層14は、絶縁層16によって被覆されている。絶縁層16は、膜状に形成されている。絶縁層16は、Si(窒化シリコン)又はSi0、SiO等の酸化シリコンを含んでいてもよい。本実施形態では、絶縁層16は、窒化シリコンを含む。絶縁層16においてメサ構造15の頂部を覆う部分には、半導体発光層14を露出するコンタクト開口部16aが形成されている。コンタクト開口部16aには、コンタクト電極17が形成されている。コンタクト電極17は、半導体発光層14と電気的に接続されている。コンタクト電極17は、コンタクト開口部16aから絶縁層16上に引き出されている。コンタクト電極17上には、アノード電極11(図4及び図6参照)が形成されている。なお、基板13の厚さ方向において、基板13に対してメサ構造とは反対側の基板裏面にはカソード電極12(図4及び図6参照)が形成されている。
 (作用)
 次に、本実施形態の半導体レーザ装置1Aの作用について説明する。
 図11は、比較例の半導体レーザ装置1Xをレーザシステム100に適用した場合の模式的な回路図を示している。比較例の半導体レーザ装置1Xは、本実施形態の半導体レーザ装置1Aと比較知れ、回路上、ドライバ回路140の入力電極142が電源110の負極、及びコンデンサ30に接続されている点が異なる。
 図12は、比較例の半導体レーザ装置1Xが適用されたレーザシステム100を駆動した場合の半導体レーザ素子10に流れる電流の推移と、スイッチング素子20のゲート電極23に印加される電圧の推移とを示したグラフである。図13は、比較例の半導体レーザ装置1Xが適用されたレーザシステム100を駆動した場合の第1駆動用接続部材81,82に印加される電圧の推移を示したグラフである。
 図11に示すように、比較例の半導体レーザ装置1Xが適用されたレーザシステム100の電源110から半導体レーザ装置1Xに電力を供給する場合、スイッチング素子20がオフ状態の場合にコンデンサ30に蓄電され、スイッチング素子20がオン状態の場合にコンデンサ30に蓄電された電荷が半導体レーザ素子10及びスイッチング素子20に流れる。ここで、例えばパルス幅が10nsとなる短いパルス幅でレーザ光を出射する場合、半導体レーザ素子10に流れる電流の立ち上りが急峻となる。このため、半導体レーザ装置1Xの寄生インダクタンスに大きな起電圧が発生する。これにより、スイッチング素子20にも大きなパルス電流が流れ、ソース電極22とコンデンサ30(30A,30B)の第1端子31との間のインダクタンス、すなわち第1駆動用接続部材81,82に起因する寄生インダクタンスに起電圧VLsが発生する。この場合、ドライバ回路140の入力電極142と出力電極141との間の電圧Vgでスイッチング素子20のゲート電極23を印加しようとしても、起電圧VLsによって、実際のゲート電極23に印加される電圧Vgs(制御電圧)は、Vg-VLsの電圧となってしまう。このような電圧Vgsの低下によってスイッチング素子20のオン抵抗が十分に下がらない状態でコンデンサ30の電荷が半導体レーザ素子10及びスイッチング素子20に流れるため、半導体レーザ素子10に流れる電流ILDが小さくなる。すなわち、図12及び図13に示すように、時刻t1から時刻t2までの間において電圧Vgsが立ち上がるときにゲート電流が流れることで起電圧VLsが発生し、時刻t2から時刻t3までの間においてゲート電流が安定する領域で起電圧VLsが一旦降下する。そして時刻t3から時刻t4までの急峻な電流ILDが立ち上がるときに起電圧VLsが大きく上昇し、これによって、時刻t3から時刻t4までの間において電圧Vgsが大きく低下してしまう。その結果、電流ILDのピーク値が大きくならない。
 この点に鑑み、本実施形態では、図14に示すように、レーザシステム100に半導体レーザ装置1Aを適用する場合、電源110の正極111が第4端子用導電部69A及び第4駆動用連絡部76A(ともに図3参照)を介して第4駆動用導電部64Aに接続され、電源110の負極112が第1端子用導電部66A及び第1駆動用連絡部73A(ともに図3参照)を介して第1駆動用導電部61Aに接続されている。またドライバ回路140の出力電極141が制御端子用導電部70及び制御用連絡部77(ともに図3参照)を介して制御用導電部65に接続され、入力電極142が第2端子用導電部67及び第2駆動用連絡部74(ともに図3参照)を介して第2駆動用導電部62に接続されている。このような接続構成によれば、図15に示すように、電源110から半導体レーザ装置1Aに電力を供給する場合、スイッチング素子20がオフ状態の場合にコンデンサ30A,30Bに蓄電され、スイッチング素子20がオン状態の場合にコンデンサ30A,30Bに蓄電された電荷が半導体レーザ素子10及びスイッチング素子20に流れる。より詳細には、コンデンサ30Aに蓄電された電荷に基づく電流が半導体レーザ素子10及びスイッチング素子20に流れる第1駆動用ループと、コンデンサ30Bに蓄電された電荷に基づく電流が半導体レーザ素子10及びスイッチング素子20に流れる第2駆動用ループとが個別に形成される。具体的には、第1駆動用ループでは、コンデンサ30Aの第2端子32、第4駆動用導電部64A、レーザ用接続部材85、半導体レーザ素子10のアノード電極11、カソード電極12、第3駆動用導電部63、スイッチング素子20のドレイン電極21、ソース電極22、第1駆動用接続部材81、及びコンデンサ30Aの第1端子31の順に電流が流れる。第2駆動用ループでは、コンデンサ30Aの第2端子32、第4駆動用導電部64B、レーザ用接続部材86、半導体レーザ素子10のアノード電極11、カソード電極12、第3駆動用導電部63、スイッチング素子20のドレイン電極21、ソース電極22、第1駆動用接続部材82、及びコンデンサ30Bの第1端子31の順に電流が流れる。そして、スイッチング素子20のソース電極22から第1駆動用導電部61Aを介して電源110の負極に電流が流れる。
 一方、ドライバ回路140の入力電極142と出力電極141との間に電圧Vgが生じることによってスイッチング素子20のゲート電極23にゲート・ソース間電圧である電圧Vgsが印加される。具体的には、ドライバ回路140とスイッチング素子20との間には、ドライバ回路140の出力電極141、制御端子用導電部70、制御用連絡部77、制御用導電部65、制御用接続部材84、ゲート電極23、ソース電極22、第2駆動用接続部材83、第2駆動用導電部62、第2駆動用連絡部74、第2端子用導電部67、及び入力電極142の順に電流が流れる制御ループが形成される。このように、第1駆動用ループ及び第2駆動用ループとは独立して、入力電極142とソース電極22とが電気的に接続されるため、ゲート電極23に印加される電圧Vgsは、入力電極142に繋がるソース電極22の電位に基づいて生成される。
 このように、電源110と半導体レーザ素子10及びスイッチング素子20との間の電流の第1駆動用ループ及び第2駆動用ループと、ドライバ回路140とスイッチング素子20との間の電流の制御用ループとが個別に形成されるため、ドライバ回路140の入力電極142に印加される電圧Vg及びゲート電極23に印加される電圧Vgsがそれぞれ、第1駆動用ループ及び第2駆動用ループによる影響を受け難くなる。すなわち、第2駆動用接続部材83が入力電極142とソース電極22とを電気的に接続するため、ドライバ回路140が第1駆動用接続部材81,82に起因する寄生インダクタンスLsによる起電圧VLsの影響を受け難くなる。
 このため、図15に示すように、電圧Vgsは、比較例の半導体レーザ装置1Xの電圧Vgsよりも速やかに立ち上がるとともに起電圧VLsによる電圧低下も殆ど生じていない。このため、本実施形態の半導体レーザ素子10に流れる電流ILDのピーク値は、比較例の半導体レーザ装置1Xの半導体レーザ素子10に流れる電流ILDのピーク値よりも大きくなる。また、電流ILDの立ち上りも急峻になる。加えて、本実施形態では、電圧Vgsが速やかに立ち上り、電圧Vgsの大きな低下もないため、本実施形態の電流ILDのパルス幅PWは、比較例の半導体レーザ装置1Xの電流ILDのパルス幅PWよりも小さくなる。
 (効果)
 本実施形態の半導体レーザ装置1Aによれば、以下の効果が得られる。
 (1-1)半導体レーザ装置1Aは、スイッチング素子20のソース電極22と第1駆動用導電部61A,61Bとを接続する第1駆動用接続部材81,82と、ソース電極22と第2駆動用導電部62とを接続する第2駆動用接続部材83とを備える。この構成によれば、スイッチング素子20のソース電極22から第1駆動用接続部材81,82を介して第1駆動用導電部61A,61Bに流れる電流の第1経路である第1駆動用ループ及び第2駆動用ループと、ソース電極22から第2駆動用接続部材83を介して第2駆動用導電部62に流れる電流の第2経路である制御用ループとが個別に形成される。したがって、第1駆動用ループ及び第2駆動用ループの電流の変動が制御用ループに影響を及ぼすことが低減される。すなわち、制御用ループにおいて、第1駆動用接続部材81,82のインダクタンスの影響を受け難くなる。したがって、制御用ループにおいて、第1駆動用接続部材81,82のインダクタンスに起因する逆起電圧(起電圧VLs)が、スイッチング素子20のゲート電極23に印加される電圧Vgsに及ぼす影響を低減できる。
 (1-2)縦方向Yにおいて、第2駆動用導電部62は、スイッチング素子20に対して半導体レーザ素子10とは反対側に配置されている。この構成によれば、制御用ループを第1駆動用ループ及び第2駆動用ループから遠い位置に形成することができる。したがって、制御用ループが第1駆動用ループ及び第2駆動用ループから影響をより受け難くなる。
 (1-3)半導体レーザ装置1Aは、コンデンサ30A,30Bを備える。この構成によれば、1個のコンデンサと比較して、コンデンサ30A,30Bを並列に接続することでコンデンサ30A,30Bの寄生インダクタンスによる影響を低減することができ、よりピークが大きくパルス幅の小さい電流を半導体レーザ素子10に流すことができる。このため、出力の高い半導体レーザ素子10を適用できる。
 (1-4)コンデンサ30A,30Bが縦方向Yにおいてスイッチング素子20に対して半導体レーザ素子10寄りに配置されている。この構成によれば、第1駆動用ループ及び第2駆動用ループを制御用ループから遠い位置に形成することができる。したがって、制御用ループが第1駆動用ループ及び第2駆動用ループから影響をより受け難くなる。加えて、第1駆動用ループ及び第2駆動用ループにおける電流経路の長さが短くなるため、半導体レーザ装置1Aのインダクタンスを低減できる。
 (1-5)コンデンサ30A,30Bがスイッチング素子20の横方向Xの両側に配置され、第1駆動用導電部61A,61Bがスイッチング素子20の横方向Xの両側に配置されている。第1駆動用接続部材81がスイッチング素子20のソース電極22と第1駆動用導電部61Aとを接続し、第1駆動用接続部材82がソース電極22と第1駆動用導電部61Bとを接続している。この構成によれば、電流の経路として、駆動用ループとして第1駆動用ループ及び第2駆動用ループの2つの駆動用ループが形成される。したがって、1つの駆動用ループと比較して、第1駆動用ループ及び第2駆動用ループの長さが短くなるとともに、第1駆動用ループと第2駆動用ループとの電流のバランスを取ることができる。
 (1-6)半導体レーザ装置1Aは、スイッチング素子20のドレイン電極21と半導体レーザ素子10のカソード電極12とを接続する第3駆動用導電部63を備える。この構成によれば、第3駆動用導電部63によってドレイン電極21とカソード電極12とを最短距離で接続できるとともに、ワイヤと比較して第3駆動用導電部63の断面積を大きく取ることができる。したがって、カソード電極12とドレイン電極21との間のインダクタンスを低減できる。
 (1-7)横方向Xにおいて制御用導電部65と第2駆動用導電部62とは隣り合っている。この構成によれば、制御用ループを構成する電流経路を小さくすることができるため、制御用ループにおけるインダクタンスを低減できる。
 また、第2駆動用導電部62は、複数の第1駆動用接続部材82のうちのコンデンサ30A,30Bに最も近い第1駆動用接続部材82よりも制御用導電部65の近くとなるように配置されている。この構成によれば、制御用ループが第2駆動用ループの影響を受け難くなる。
 (1-8)第1駆動用接続部材81,82はそれぞれ、複数本のワイヤからなる。この構成によれば、第1駆動用導電部61Aとスイッチング素子20のソース電極22との間のインダクタンス、及び第1駆動用導電部61Bとソース電極22との間のインダクタンスをそれぞれ低減できる。
 (1-9)第1駆動用接続部材81,82の線径と第2駆動用接続部材83の線径とは互いに等しい。この構成によれば、第1駆動用接続部材81,82及び第2駆動用接続部材83をそれぞれワイヤボンディングによって形成する場合、線材を変更しなくてもよくなる。したがって、第1駆動用接続部材81,82及び第2駆動用接続部材83を形成する工程を簡素化できる。
 (1-10)第1駆動用接続部材81,82の線径、第2駆動用接続部材83の線径、及びレーザ用接続部材85,86の線径は互いに等しい。この構成によれば、各駆動用接続部材81~83及びレーザ用接続部材85,86をそれぞれワイヤボンディングによって形成する場合、線材を変更しなくてもよくなる。したがって、各駆動用接続部材81~83及びレーザ用接続部材85,86を形成する工程を簡素化できる。
 (1-11)第1駆動用接続部材81,82の線径、第2駆動用接続部材83の線径、制御用接続部材84の線径、及びレーザ用接続部材85,86の線径は互いに等しい。この構成によれば、各接続部材81~86をそれぞれワイヤボンディングによって形成する場合、線材を変更しなくてもよくなる。したがって、各接続部材81~86を形成する工程を簡素化できる。
 (1-12)第4駆動用導電部64A,64Bにおける半導体レーザ素子10寄りの端部は、平面視において半導体レーザ素子10に近接している。レーザ用接続部材85は第4駆動用導電部64Aにおける半導体レーザ素子10寄りの端部に接合され、レーザ用接続部材86は第4駆動用導電部64Bにおける半導体レーザ素子10寄りの端部に接合されている。この構成によれば、レーザ用接続部材85,86の長さを短くすることができるため、レーザ用接続部材85,86に起因するインダクタンスを低減できる。
 (1-13)支持基板50の基材51の基材裏面51bの隣り合う裏面側導電部60Bの間の隙間が、基材主面51aの隣り合う主面側導電部60Aの間の隙間よりも大きい。これにより、配線基板に実装したときに半田等の導電性接合部材が隣り合う裏面側導電部60Bを繋ぐように形成されることが抑制される。このため、短絡が生じ難くなる。
 また換言すると、基材主面51aの隣り合う主面側導電部60Aの間の隙間が基材裏面51bの隣り合う裏面側導電部60Bの間の隙間よりも小さい。これにより、スイッチング素子20と第1駆動用導電部61A,61Bとを接続する第1駆動用接続部材81,82の長さを短くできる。また、スイッチング素子20と第2駆動用導電部62とを接続する第1駆動用接続部材82の長さを短くできる。また、スイッチング素子20と制御用導電部65とを接続する制御用接続部材84の長さを短くできる。また、半導体レーザ素子10と第4駆動用導電部64A,64Bとを接続するレーザ用接続部材85,86の長さを短くできる。したがって、各接続部材81~86に起因するインダクタンスを低減できる。加えて、制御用接続部材84の長さが短くなることによって、ドライバ回路140からの信号にノイズが発生し難くなる。
 (1-14)半導体レーザ素子10は、基材51の横方向Xの中央部に配置されている。この構成によれば、半導体レーザ素子10の支持基板50に対する横方向Xの偏りがなくなるため、配線基板の配線パターンを半導体レーザ素子10の上記偏りを考慮せずに設計できる。したがって、半導体レーザ装置1Aの使い勝手がよくなる。
 (1-15)半導体レーザ素子10は、10ns以下のパルス幅のレーザ光を出射可能である。この構成によれば、半導体レーザ装置1Aが用いられた2次元又は3次元距離計測の精度を高めることができる。
 一方、このような半導体レーザ素子10では、パルス幅が短いため、半導体レーザ素子10に流れる電流ILDの時間的な変化が急峻になり易い。すなわち、スイッチング素子20のゲート電極23に印加される電圧Vgに対するコンデンサ30A,30Bの第1端子31とスイッチング素子20のソース電極22との間のインダクタンスLsの影響が大きくなる。しかし、本実施形態では、上述のように、第1駆動用ループ及び第2駆動用ループと制御用ループとが個別に形成されることにより、電圧Vgに対するインダクタンスLsの影響が低減されるため、半導体レーザ素子10に流れる電流ILDを大きくすることができる。
 [第1実施形態の変更例]
 第1実施形態の半導体レーザ装置1Aは例えば以下のように変更できる。以下の各変更例は、技術的な矛盾が生じない限り、組み合せることができる。なお、以下の変更例において、第1実施形態と共通する部分については、第1実施形態と同一の符号を付してその説明を省略する。
 ・第1実施形態では、半導体レーザ装置1Aは、1個の半導体レーザ素子10を備える構成であったが、半導体レーザ素子10の個数は特に限定されず、任意に変更可能である。すなわち、半導体レーザ装置1Aは、複数の半導体レーザ素子10を備えてもよい。一例では、図17に示すように、半導体レーザ装置1Aは、2個の半導体レーザ素子10A,10Bを備える。
 図17に示すとおり、平面視における第3駆動用導電部63及び第4駆動用導電部64A,64Bの形状がそれぞれ、第1実施形態の第3駆動用導電部63及び第4駆動用導電部64A,64Bと異なる。具体的には、半導体レーザ素子10A,10Bを載置するため、第3駆動用導電部63の半導体レーザ素子実装部63bの横方向Xの大きさを大きくしている。一方、半導体レーザ素子実装部63bの横方向Xの大きさを大きくすることに伴い、第4駆動用導電部64A,64Bの横方向Xの大きさを小さくしている。これにより、半導体レーザ素子10A,10Bを備える半導体レーザ装置1Aの大型化を抑制できる。
 半導体レーザ素子10A,10Bはそれぞれ、半導体レーザ素子実装部63bに導電性接合材によって実装されている。半導体レーザ素子10A,10Bは、縦方向Yにおいて互いに揃った状態で横方向Xに間隔をあけて配列されている。半導体レーザ素子10A,10Bはそれぞれ、カソード電極12(図17では図示略)が半導体レーザ素子実装部63bに対面するように配置されている。このため、半導体レーザ素子10A,10Bのカソード電極12は、半導体レーザ素子実装部63bに電気的に接続されている。すなわち、半導体レーザ素子10Aのカソード電極12と半導体レーザ素子10Bのカソード電極12とが電気的に接続されている。
 半導体レーザ素子10Aは、横方向Xにおいて半導体レーザ素子実装部63bのうちの第4駆動用導電部64A側に配置されている。半導体レーザ素子10Aのアノード電極11と第4駆動用導電部64Aとは、4本のレーザ用接続部材85によって電気的に接続されている。4本のレーザ用接続部材85は、縦方向Yに間隔をあけて配列されている。
 半導体レーザ素子10Bは、横方向Xにおいて半導体レーザ素子実装部63bのうちの第4駆動用導電部64B側に配置されている。半導体レーザ素子10Bのアノード電極11と第4駆動用導電部64Bとは、4本のレーザ用接続部材86によって電気的に接続されている。4本のレーザ用接続部材86は、縦方向Yに間隔をあけて配列されている。
 図18に示すように、厚さ方向Zからみた裏面側導電部60Bの形状、すなわち厚さ方向Zからみた各端子用導電部66A,66B、67,68,69A,69B,70の形状は、第1実施形態の厚さ方向Zからみた各端子用導電部66A,66B、67,68,69A,69B,70の形状と同じである。
 一方、連絡部60Cとして第3駆動用連絡部75の個数及び配置態様が第1実施形態の第3駆動用連絡部75と異なる。具体的には、スイッチング素子側連絡部75aの個数が第1実施形態のスイッチング素子側連絡部75aの個数よりも少ない。図18では、スイッチング素子側連絡部75aは、厚さ方向Zにおいてスイッチング素子20と重なる位置に4個設けられている。半導体レーザ素子側連絡部75bの個数が第1実施形態の半導体レーザ素子側連絡部75bの個数よりも多い。図18では、半導体レーザ素子側連絡部75bは、厚さ方向Zにおいて半導体レーザ素子10Aと重なる位置、及び厚さ方向Zにおいて半導体レーザ素子10Bと重なる位置にそれぞれ設けられている。
 このように、図17及び図18に示すような複数の半導体レーザ素子10を備える半導体レーザ装置1Aによれば、半導体レーザ装置1Aから出射されるレーザ光の強度が高くなる。
 ・図17の変更例において、図19に示すように、半導体レーザ素子10Aのアノード電極11と半導体レーザ素子10Bのアノード電極11とを接続する素子接続部材87を追加してもよい。素子接続部材87は、例えばAu(金)、Cu(銅)、Al(アルミニウム)等の金属からなるワイヤである。素子接続部材87はワイヤボンディングによって形成される。素子接続部材87の本数は、特に限定されないが、図19では1本である。素子接続部材87の線径は、特に限定されないが、例えばレーザ用接続部材85,86の線径と等しい。ここで、素子接続部材87の線径とレーザ用接続部材85,86の線径との差が例えばレーザ用接続部材85,86の線径の5%以内であれば、素子接続部材87の線径がレーザ用接続部材85,86の線径と等しいと言える。なお、図19に示す半導体レーザ装置1Aの裏面側導電部60Bの構成及び形状は、図18に示す変更例の半導体レーザ装置1Aの裏面側導電部60Bと同じである。
 図19に示す半導体レーザ装置1Aによれば、素子接続部材87によって半導体レーザ素子10Aのアノード電極11と半導体レーザ素子10Bのアノード電極11とを接続しているため、半導体レーザ素子10A,10Bを介して第4駆動用導電部64A,64Bが電気的に接続される。これにより、電源110の正極を半導体レーザ装置1Aに接続する際に第4駆動用導電部64Aのみに電源110の正極を接続すればよくなるため、電源110と半導体レーザ装置1Aとの接続構造を簡素化できる。
 ・図17の変更例において、半導体レーザ装置1Aは、横方向Xに並んで配列されている複数の半導体発光層14と、複数の半導体発光層14を接続する1つの電極とを有する半導体レーザ素子を備えてもよい。一例では、図20に示すように、半導体レーザ装置1Aは、2個の半導体発光層14A,14B(図21参照)を有する半導体レーザ素子10Cを備えてもよい。図20に示すとおり、平面視における半導体レーザ素子10Cの形状は、横方向Xが長辺方向となり、縦方向Yが短辺方向となる矩形状である。半導体レーザ素子10Cの横方向Xの大きさは、第1実施形態の半導体レーザ素子10の横方向Xの大きさよりも大きい。
 図21に示すように、半導体レーザ素子10Cは、基板13と、基板13上において横方向Xに並べられた半導体発光層14A,14Bとを有する。半導体発光層14A,14Bは、第1実施形態の半導体発光層14と同様の構成である。絶縁層16は、半導体発光層14A,14Bの両方を覆っている。絶縁層16における半導体発光層14Aの頂部にはコンタクト開口部16bが形成され、絶縁層16における半導体発光層14Bの頂部にはコンタクト開口部16cが形成されている。コンタクト開口部16bは半導体発光層14Aを露出し、コンタクト開口部16cは半導体発光層14Bを露出している。コンタクト開口部16b,16cには、コンタクト電極17が形成されている。コンタクト電極17は、コンタクト開口部16bからコンタクト開口部16cまでにわたり絶縁層16上に形成されている。このため、コンタクト電極17は、半導体発光層14A,14Bの両方と電気的に接続されている。すなわち、コンタクト電極17は、複数の半導体発光層14を接続する1つの電極に相当する。コンタクト電極17上には、アノード電極11(図20参照)が形成されている。
 図20及び図21に示す半導体レーザ装置1Aによれば、図17~図19に示す半導体レーザ装置1Aと比較して、半導体レーザ素子が1チップとなり、2つの半導体レーザ素子のアノード電極同士を接続する接続部材も不要となるため、半導体レーザ装置1Aの構成を簡素化できる。
 ・裏面側導電部60Bの構成は任意に変更可能である。一例では、裏面側導電部60Bは、第1端子用導電部66Bと第3端子用導電部68とを一体化してもよい。例えば、図22に示すように、半導体レーザ装置1Aは、第1端子用導電部66B、第3端子用導電部68、及び第4端子用導電部69B(ともに図3参照)を一体化した端子用導電部78を備えてもよい。この場合、平面視における端子用導電部78の形状は、横方向Xが長辺方向となり、縦方向Yが短辺方向となる矩形状である。なお、平面視における端子用導電部78の形状は任意に変更可能である。例えば、平面視における端子用導電部78の形状は正方形であってもよい。平面視における端子用導電部78の面積は、第1実施形態の平面視における第1端子用導電部66B、第3端子用導電部68、及び第4端子用導電部69Bの面積の合計よりも大きい。このため、端子用導電部78による半導体レーザ装置1Aの放熱性能が向上する。
 また、端子用導電部78は、第3端子用導電部68と第1端子用導電部66B及び第4端子用導電部69Bとを電気的に接続した構成となるため、第1駆動用連絡部73B及び第4駆動用連絡部76B(ともに図3参照)をそれぞれ省略できる。したがって、半導体レーザ装置1Aの構成を簡素化できる。なお、端子用導電部78と第1駆動用導電部61Bとを繋ぐような第1駆動用連絡部73Bと、端子用導電部78と第4駆動用導電部64Bとを繋ぐような第4駆動用連絡部76Bとを追加してもよい。
 ・主面側導電部60Aと裏面側導電部60Bとを繋ぐ構成は、スルーホール71に限られない。例えば、図23及び図24に示すように、連絡部60Cの一部に代えて、側面連絡部60Dが設けられてもよい。側面連絡部60Dが基材51の第2基材側面51d,第3基材側面51e、及び第4基材側面51fにそれぞれ形成されている。この場合、主面側導電部60A及び裏面側導電部60Bと基材51との配置態様が異なる。
 具体的には、第2駆動用導電部62及び制御用導電部65と、第2端子用導電部67及び制御端子用導電部70との配置構成がそれぞれ異なる。より詳細には、横方向Xからみて、第2駆動用導電部62及び制御用導電部65はそれぞれ、第3駆動用導電部63に重なっている。第2駆動用導電部62は、横方向Xにおいて第3駆動用導電部63よりも第4基材側面51fの近くに配置されている。制御用導電部65は、横方向Xにおいて第3駆動用導電部63よりも第3基材側面51eの近くに配置されている。第2端子用導電部67は、厚さ方向Zにおいて第2駆動用導電部62と重なるように配置されている。制御端子用導電部70は、厚さ方向Zにおいて制御用導電部65と重なるように配置されている。このように、横方向Xからみて、第2端子用導電部67及び制御端子用導電部70はそれぞれ、第3端子用導電部68と重なっている。第2端子用導電部67は、横方向Xにおいて第3端子用導電部68よりも第4基材側面51fの近くに配置されている。制御端子用導電部70は、横方向Xにおいて第3端子用導電部68よりも第3基材側面51eの近くに配置されている。
 加えて、主面側導電部60A及び裏面側導電部60Bがそれぞれ第2基材側面51d、第3基材側面51e、及び第4基材側面51fのそれぞれに繋がるように延びている。より詳細には、第1駆動用導電部61A、第4駆動用導電部64A、及び制御用導電部65がそれぞれ第3基材側面51eに繋がっている。第1駆動用導電部61B、第2駆動用導電部62、及び第4駆動用導電部64Bがそれぞれ第4基材側面51fに繋がっている。第3駆動用導電部63が第2基材側面51dに繋がっている。また第1端子用導電部66A、第4端子用導電部69A、及び制御端子用導電部70がそれぞれ第3基材側面51eに繋がっている。第1端子用導電部66B、第2端子用導電部67、及び第4端子用導電部69Bがそれぞれ第4基材側面51fに繋がっている。第3端子用導電部68が第2基材側面51dに繋がっている。
 第2基材側面51dにおける第3駆動用導電部63及び第3端子用導電部68が配置される部分には、凹部53A,53Bが設けられている。平面視において、凹部53A,53Bはそれぞれ、第2基材側面51dから第1基材側面51cに向けて湾曲状に凹んでいる。凹部53A,53Bは、横方向Xにおいて間隔をあけて配列されている。
 第3基材側面51eには、凹部54A,54B,54Cが設けられている。平面視において、凹部54A,54B,54Cはそれぞれ、第3基材側面51eから第4基材側面51fに向けて湾曲状に凹んでいる。凹部54A,54B,54Cは、縦方向Yにおいて間隔をあけて配列されている。凹部54Aは、基材51において第1駆動用導電部61A及び第1端子用導電部66Aが配置されている部分に設けられている。凹部54Bは、基材51において制御用導電部65及び制御端子用導電部70が配置されている部分に設けられている。凹部54Cは、基材51において第4駆動用導電部64A及び第4端子用導電部69Aが配置されている部分に設けられている。
 第4基材側面51fには、凹部55A,55B,55Cが設けられている。平面視において、凹部55A,55B,55Cはそれぞれ、第4基材側面51fから第3基材側面51eに向けて湾曲状に凹んでいる。凹部55A,55B,55Cは、縦方向Yにおいて間隔をあけて配列されている。横方向Xからみて、凹部55Aは凹部54Aと重なる位置に設けられ、凹部55Bは凹部54Bと重なる位置に設けられ、凹部55Cは凹部54Cと重なる位置に設けられている。凹部55Aは、基材51において第1駆動用導電部61B及び第1端子用導電部66Bが配置されている部分に設けられている。凹部55Bは、基材51において第2駆動用導電部62及び第2端子用導電部67が配置されている部分に設けられている。凹部55Cは、基材51において第4駆動用導電部64B及び第4端子用導電部69Bが配置されている部分に設けられている。
 凹部53A,53B,54A~54C,55A~55Cはそれぞれ、基材51の基材主面51aから基材裏面51bまでにわたり形成されている。また、凹部53A,53B,54A~54C,55A~55Cの形状及び大きさは、互いに等しい。
 側面連絡部60Dは、凹部53A,53B,54A~54C,55A~55Cのそれぞれに設けられている。側面連絡部60Dは、凹部53A,53B,54A~54C,55A~55Cをそれぞれ構成する内側面に沿って形成されている。側面連絡部60Dは、側面連絡部76A~76Hを含む。図25に示すように、側面連絡部76C,76Fはそれぞれ、金属膜76aによって構成されている。図面は省略するが、側面連絡部76A,76B,76D,76E,76G,76Hはそれぞれ、側面連絡部76C,76Fと同様に金属膜76aによって構成されている。金属膜76aの基材51の基材主面51a寄りの端部は主面側導電部60Aに繋がっており、金属膜76aの基材51の基材裏面51b寄りの端部は裏面側導電部60Bに繋がっている。本実施形態では、金属膜76aを構成する材料は、主面側導電部60A及び裏面側導電部60Bを構成する材料と同じである。
 図23及び図24に示すように、側面連絡部76Aは、凹部53Aに設けられており、第3駆動用導電部63と第3端子用導電部68とを繋いでいる。側面連絡部76Bは、凹部53Bに設けられており、第3駆動用導電部63と第3端子用導電部68とを繋いでいる。側面連絡部76Cは、凹部54Aに設けられており、第1駆動用導電部61Aと第1端子用導電部66Aとを繋いでいる。側面連絡部76Dは、凹部54Bに設けられており、第2駆動用導電部62と第2端子用導電部67とを繋いでいる。側面連絡部76Eは、凹部54Cに設けられており、第4駆動用導電部64Aと第4端子用導電部69Aとを繋いでいる。側面連絡部76Fは、凹部55Aに設けられており、第1駆動用導電部61Bと第1端子用導電部66Bとを繋いでいる。側面連絡部76Gは、凹部55Bに設けられており、制御用導電部65と制御端子用導電部70とを繋いでいる。側面連絡部76Hは、凹部55Cに設けられており、第4駆動用導電部64Bと第4端子用導電部69Bとを繋いでいる。
 この構成によれば、半導体レーザ装置1Aを配線基板等に例えば半田によって接合される場合、半田フィレットが側面連絡部60Dに形成される。このため、作業者が側面連絡部60Dに形成された半田フィレットを視認することによって、半導体レーザ装置1Aの接合状態を確認できる。
 また、図23及び図24に示す変更例の半導体レーザ装置1Aでは、側面連絡部76C,76Fを設けたことによって第1駆動用連絡部73A,73B(図3参照)が省略され、側面連絡部76Bを設けたことによって第2駆動用連絡部74(図3参照)が省略され、側面連絡部76E,76Hが設けられたことによって第4駆動用連絡部76A,76B(図3参照)が省略され、側面連絡部76Gが設けられたことによって制御用連絡部77(図3参照)が省略されている。
 なお、第1駆動用連絡部73A,73B、第2駆動用連絡部74、第4駆動用連絡部76A,76B、及び制御用連絡部77の少なくとも1つを図23及び図24に示す変更例の半導体レーザ装置1Aに追加してもよい。
 ・第1駆動用導電部61Aと第4駆動用導電部64Aとに接合されるコンデンサ30Aの個数と、第1駆動用導電部61Bと第4駆動用導電部64Bとに接合されるコンデンサ30Bの個数とはそれぞれ任意に変更可能である。コンデンサ30A,30Bはそれぞれ、複数個設けられていてもよい。また、コンデンサ30A,30Bの個数は、例えば半導体レーザ素子10の出力に応じて設定してもよい。
 [第2実施形態]
 図26及び図27を参照して、第2実施形態の半導体レーザ装置1Bについて説明する。本実施形態の半導体レーザ装置1Bは、第1実施形態の半導体レーザ装置1Aと比較して、導電部60の構成と、半導体レーザ素子10、スイッチング素子20、及びコンデンサ30A,30Bの配置構成とが異なる。本実施形態では、便宜上、第1実施形態と同一の構成要素には同一の符号を付し、その説明を省略する場合がある。
 図26に示すように、本実施形態の半導体レーザ装置1Bでは、半導体レーザ素子10及びスイッチング素子20が支持基板50の横方向Xの中央部に配置されておらず、支持基板50の横方向Xの中央部よりも第4基材側面51f側に偏寄して配置されている。また本実施形態の半導体レーザ装置1Bでは、コンデンサ30A,30Bがスイッチング素子20の両側に配置されておらず、横方向Xにおいてスイッチング素子20に対して第3基材側面51e側に配置されている。このような半導体レーザ素子10、スイッチング素子20、及びコンデンサ30A,30Bの配置構成に対して導電部60の構成が第1実施形態の導電部60の構成と異なる。
 具体的には、主面側導電部60Aは、第1駆動用導電部61、第2駆動用導電部62、第3駆動用導電部63、第4駆動用導電部64、及び制御用導電部65を有する。すなわち、第1駆動用導電部61及び第4駆動用導電部64がそれぞれ1つである。
 第1駆動用導電部61は、横方向Xにおいて基材51のうちの第3基材側面51e寄りの部分に配置されている。第1駆動用導電部61は、縦方向Yにおいて基材51の第2基材側面51d寄りの部分に配置されている。すなわち、第1駆動用導電部61は、その縦方向Yの中央部が基材51の縦方向Yの中央部よりも第2基材側面51dの近くに位置するように基材51に配置されている。平面視における第1駆動用導電部61の形状は、縦方向Yが長辺方向となり、横方向Xが短辺方向となる矩形状である。
 第4駆動用導電部64は、横方向Xにおいて基材51のうちの第3基材側面51e寄りの部分、かつ縦方向Yにおいて基材51のうちの第1基材側面51c寄りの部分に配置されている。平面視における第4駆動用導電部64の形状は、横方向Xが長辺方向となり、縦方向Yが短辺方向となる矩形状である。縦方向Yからみて、第4駆動用導電部64は第1駆動用導電部61と重なっている。第4駆動用導電部64の横方向Xの大きさは、第1駆動用導電部61の横方向Xの大きさよりも大きい。
 第1駆動用導電部61及び第4駆動用導電部64には、コンデンサ30A,30BがAgペースト又は半田等の導電性接合材によって接合されている。コンデンサ30A,30Bは、縦方向Yに揃った状態で横方向Xに間隔をあけて隣り合うように配列されている。コンデンサ30A,30Bのそれぞれの第1端子31は、縦方向Yにおいて第1駆動用導電部61のうちの第4駆動用導電部64寄りの端部に配置されている。コンデンサ30A,30Bのそれぞれの第2端子32は、縦方向Yにおいて第4駆動用導電部64のうちの第1駆動用導電部61寄りの端部に配置されている。
 第3駆動用導電部63は、横方向Xにおいて基材51のうちの第4基材側面51f寄りの部分に配置されている。第3駆動用導電部63は、縦方向Yにおいて基材51のうちの第1基材側面51c寄りに配置されている。すなわち、第3駆動用導電部63は、その縦方向Yの中央部が基材51の縦方向Yの中央部よりも第1基材側面51cの近くに位置するように基材51に配置されている。第3駆動用導電部63は、スイッチング素子実装部63aと半導体レーザ素子実装部63bとに区分できる。スイッチング素子実装部63aと半導体レーザ素子実装部63bとは縦方向Yに並んでいる。半導体レーザ素子実装部63bは、第3駆動用導電部63のうちの縦方向Yの第1基材側面51c寄りの部分である。平面視における半導体レーザ素子実装部63bの形状は、横方向Xが長辺方向となり、縦方向Yが短辺方向となる矩形状である。スイッチング素子実装部63aは、半導体レーザ素子実装部63bよりも第2基材側面51dに近い。平面視におけるスイッチング素子実装部63aの形状は、縦方向Yが長辺方向となり、横方向Xが短辺方向となる矩形状である。スイッチング素子実装部63aの横方向Xの大きさは、半導体レーザ素子実装部63bの横方向Xの大きさよりも大きい。半導体レーザ素子実装部63bは、スイッチング素子実装部63aに対して第4基材側面51f寄りに位置している。このため、第3駆動用導電部63のうちの半導体レーザ素子実装部63bの横方向Xの隣には、切欠部63cが形成されている。切欠部63cの一部には、第4駆動用導電部64のうちの第4基材側面51f寄りの端部が入り込んでいる。
 半導体レーザ素子実装部63bには、半導体レーザ素子10がAgペースト又は半田等の導電性接合材によって接合されている。半導体レーザ素子10は、半導体レーザ素子実装部63bのうちの横方向Xの第4駆動用導電部64寄りの端部に配置されている。半導体レーザ素子10は、そのカソード電極12(図26では図示略)が半導体レーザ素子実装部63b側に向くように配置されている。このため、カソード電極12は、導電性接合材を介して半導体レーザ素子実装部63b(第3駆動用導電部63)に電気的に接続されている。半導体レーザ素子10のアノード電極11は、厚さ方向Zにおいて第3駆動用導電部63とは反対側を向いている。アノード電極11と第4駆動用導電部64とは、複数(本実施形態では4本)のレーザ用接続部材85によって電気的に接続されている。4本のレーザ用接続部材85は、縦方向Yに間隔をおいて配列されている。各レーザ用接続部材85は、第1端部85a及び第2端部85bを有する。第1端部85aは、アノード電極11に接合されている。具体的には、第1端部85aは、アノード電極11のうちの横方向Xの中央部に接合されている。第2端部85bは、第4駆動用導電部64に接合されている。具体的には、第2端部85bは、第4駆動用導電部64のうちの半導体レーザ素子実装部63b寄りの端部に接合されている。
 スイッチング素子実装部63aには、スイッチング素子20が導電性接合材によって接合されている。スイッチング素子20のドレイン電極21(図26では図示略)が厚さ方向Zにおいて第3駆動用導電部63側を向く状態でスイッチング素子20がスイッチング素子実装部63aに接合されている。このため、導電性接合材を介して、ドレイン電極21は第3駆動用導電部63に電気的に接続されている。このように、第3駆動用導電部63を介してドレイン電極21と半導体レーザ素子10のカソード電極12とが電気的に接続されている。
 本実施形態のスイッチング素子20は、ソース電極22及びゲート電極23の形状及び配置が第1実施形態のスイッチング素子20のソース電極22及びゲート電極23とは異なる。詳細には、ソース電極22のうちの第2基材側面51d寄りかつ第4基材側面51f寄りには切欠部25が形成されている。切欠部25には、ゲート電極23が形成されている。このように、ゲート電極23は、スイッチング素子20の素子主面24aのうちの第2基材側面51d寄りかつ第4基材側面51f寄りの端部に位置している。
 第2駆動用導電部62及び制御用導電部65はそれぞれ、縦方向Yにおいて第3駆動用導電部63よりも第2基材側面51dの近くに配置されている。第2駆動用導電部62及び制御用導電部65はそれぞれ、横方向Xにおいて第1駆動用導電部61よりも第4基材側面51fの近くに配置されている。第2駆動用導電部62及び制御用導電部65は、縦方向Yにおいて揃った状態で横方向Xにおいて間隔をあけて配列されている。
 ソース電極22と第1駆動用導電部61とは、複数(本実施形態では3本)の第1駆動用接続部材81によって電気的に接続されている。3本の第1駆動用接続部材81は、縦方向Yにおいて間隔をあけて配列されている。ソース電極22と第2駆動用導電部62とは、第2駆動用接続部材83によって電気的に接続されている。ゲート電極23と制御用導電部65とは制御用接続部材84によって電気的に接続されている。なお、第1駆動用接続部材81の本数は任意に変更可能である。例えば、第1駆動用接続部材81の本数を半導体レーザ素子10の出力に応じて設定してもよい。
 図27に示すように、裏面側導電部60Bは、第1端子用導電部66A,66B、第2端子用導電部67、第3端子用導電部68A,68B、第4端子用導電部69、及び制御端子用導電部70を有する。
 第1端子用導電部66A,66Bは、縦方向Yにおいて間隔をあけて配列されている。第1端子用導電部66A,66Bは、厚さ方向Zにおいて第1駆動用導電部61と重なる位置に配置されている。平面視における第1端子用導電部66Aの形状は、縦方向Yが長辺方向となり、横方向Xが短辺方向となる矩形状である。第1端子用導電部66Bは、第1端子用導電部66Aよりも第2基材側面51dの近くに配置されている。平面視における第1端子用導電部66Bの形状は、横方向Xが長辺方向となり、縦方向Yが短辺方向となる矩形状である。第1端子用導電部66Bの縦方向Yの大きさは、第1端子用導電部66Aの縦方向Yの大きさよりも小さい。
 第2端子用導電部67は、厚さ方向Zにおいて第2駆動用導電部62と重なる位置に配置されている。第2端子用導電部67は、縦方向Yにおいて第1端子用導電部66Bと揃った状態で横方向Xに間隔をあけて配置されている。
 第3端子用導電部68A,68Bは、縦方向Yにおいて間隔をあけて配列されている。第3端子用導電部68A,68Bは、厚さ方向Zにおいて第3駆動用導電部63と重なる位置に配置されている。平面視における第3端子用導電部68Aの形状は、縦方向Yが長辺方向となり、横方向Xが短辺方向となる矩形状である。平面視における第3端子用導電部68Bの形状は、横方向Xが長辺方向となり、縦方向Yが短辺方向となる矩形状である。第3端子用導電部68Bの縦方向Yの大きさは、第3端子用導電部68Aの縦方向Yの大きさよりも小さい。
 第4端子用導電部69は、縦方向Yにおいて第3端子用導電部68Bと揃った状態で横方向Xに間隔をあけて配置されている。第4端子用導電部69は、第3端子用導電部68Bよりも第3基材側面51eの近くに配置されている。第4端子用導電部69は、横方向Xにおいて第1端子用導電部66A,66Bと揃った状態で第1端子用導電部66Aと縦方向Yに間隔をあけて配置されている。第4端子用導電部69は、縦方向Yにおいて第1端子用導電部66Aに対して第1基材側面51c側に配置されている。厚さ方向Zにおいて、第4端子用導電部69は、第4駆動用導電部64と重なる位置に配置されている。
 制御端子用導電部70は、縦方向Yにおいて第2端子用導電部67と揃った状態で横方向Xに間隔をあけて配置されている。制御端子用導電部70は、横方向Xにおいて第2端子用導電部67よりも第4基材側面51fの近くに配置されている。厚さ方向Zにおいて、制御端子用導電部70は、制御用導電部65と重なる位置に配置されている。
 図26及び図27に示すように、連絡部60Cは、第1駆動用連絡部73A,73B、第2駆動用連絡部74、第3駆動用連絡部75A,75B、第4駆動用連絡部76、及び制御用連絡部77を有する。各連絡部73A,73B,74,75A,75B,76,77は、第1実施形態と同様に、スルーホール71及び導体部72(図26及び図27では図示略)を有する。
 第1駆動用連絡部73Aは、第1駆動用導電部61と第1端子用導電部66Aとを繋いでいる。第1駆動用連絡部73Aの個数は特に限定されないが、本実施形態では、第1駆動用連絡部73Aは4個設けられている。
 第1駆動用連絡部73Bは、第1駆動用導電部61と第1端子用導電部66Bとを繋いでいる。第1駆動用連絡部73Bの個数は特に限定されないが、本実施形態では、第1駆動用連絡部73Bは2個設けられている。
 第2駆動用連絡部74は、第2駆動用導電部62と第2端子用導電部67とを繋いでいる。
 第3駆動用連絡部75Aは、第3駆動用導電部63のスイッチング素子実装部63aと第3端子用導電部68Aとを繋いでいる。第3駆動用連絡部75Aの個数は特に限定されないが、本実施形態では、第3駆動用連絡部75Aは9個設けられている。
 第3駆動用連絡部75Bは、第3駆動用導電部63の半導体レーザ素子実装部63bと第3端子用導電部68Bとを繋いでいる。第3駆動用連絡部75Bの個数は特に限定されないが、本実施形態では、第3駆動用連絡部75Bは2個設けられている。第3駆動用連絡部75Bのうちの1個は、厚さ方向Zにおいて半導体レーザ素子10と重なる位置に設けられている。
 (作用)
 次に、本実施形態の半導体レーザ装置1Bの作用について説明する。
 レーザシステム100に半導体レーザ装置1Bを適用する場合、電源110の正極111が第4駆動用導電部64に接続され、電源110の負極112が第1駆動用導電部61に接続されている。またドライバ回路140の出力電極141が制御用導電部65に接続され、入力電極142が第2駆動用導電部62に接続されている。このように、電源110から半導体レーザ装置1Bに電流を供給する場合、スイッチング素子20がオフ状態の場合にコンデンサ30A,30Bに蓄電され、スイッチング素子20がオン状態の場合にコンデンサ30A,30Bに蓄電された電荷が半導体レーザ素子10及びスイッチング素子20に流れる。これにより、半導体レーザ素子10及びスイッチング素子20に電流が流れる。そして、スイッチング素子20のソース電極22から第1駆動用導電部61を介して電源110の負極に電流が流れる。より詳細には、コンデンサ30A,30Bにそれぞれ蓄電された電荷に基づく電流が半導体レーザ素子10及びスイッチング素子20に流れる駆動用ループが形成される。具体的には、駆動用ループでは、コンデンサ30A,30Bの第2端子32、第4駆動用導電部64、レーザ用接続部材85、半導体レーザ素子10のアノード電極11、カソード電極12、第3駆動用導電部63、スイッチング素子20のドレイン電極21、ソース電極22、第1駆動用接続部材81、及びコンデンサ30A,30Bの第1端子31の順に電流が流れる。
 一方、ドライバ回路140の入力電極142と出力電極141との間に電圧Vgが生じることによってスイッチング素子20のゲート電極23にゲート・ソース間電圧である電圧Vgsが印加される。具体的には、ドライバ回路140とスイッチング素子20との間には、ドライバ回路140の出力電極141、制御端子用導電部70、制御用連絡部77、制御用導電部65、制御用接続部材84、ゲート電極23、ソース電極22、第2駆動用接続部材83、第2駆動用導電部62、第2駆動用連絡部74、第2端子用導電部67、及び入力電極142の順に電流が流れる制御ループが形成される。このように、第1駆動用ループ及び第2駆動用ループとは独立して、入力電極142とソース電極22とが電気的に接続されるため、ゲート電極23に印加される電圧Vgsは、入力電極142に繋がるソース電極22の電位に基づいて生成される。
 このように、電源110と半導体レーザ素子10及びスイッチング素子20との間の電流の駆動用ループと、ドライバ回路140とスイッチング素子20との間の電流の制御用ループとが個別に形成されるため、ドライバ回路140の入力電極142に印加される電圧Vg及びゲート電極23に印加される電圧Vgsがそれぞれ、駆動用ループによる影響を受け難い。したがって、本実施形態の半導体レーザ装置1Bによれば、第1実施形態の効果と同様の効果が得られる。
 [第2実施形態の変更例]
 第2実施形態の半導体レーザ装置1Bは例えば以下のように変更できる。以下の各変更例は、技術的な矛盾が生じない限り、組み合せることができる。なお、以下の変更例において、第2実施形態と共通する部分については、第2実施形態と同一の符号を付してその説明を省略する。
 ・第2駆動用導電部62と制御用導電部65とを入れ替えてもよい。これに伴い、第2端子用導電部67及び制御端子用導電部70も同様に入れ替える。またスイッチング素子20のソース電極22の切欠部25の位置をソース電極22のうちの第2基材側面51d寄りかつ第3基材側面51e寄りに変更する。この場合、ゲート電極23は、スイッチング素子20の素子主面24aのうちの第2基材側面51d寄りかつ第3基材側面51e寄りに位置している。
 ・第1端子用導電部66A,66Bに代えて、第1端子用導電部66Aと第1端子用導電部66Bとを一体化した端子用導電部を基材裏面51bに形成してもよい。
 ・第3端子用導電部68A,68Bに代えて、第3端子用導電部68Aと第3端子用導電部68Bとを一体化した端子用導電部を基材裏面51bに形成してもよい。
 [第3実施形態]
 図28及び図29を参照して、第3実施形態の半導体レーザ装置1Cについて説明する。本実施形態の半導体レーザ装置1Cは、第2実施形態の半導体レーザ装置1Bと比較して、導電部60の一部の形状、及びスイッチング素子20Aの電極の配置構成が主に異なる。本実施形態では、便宜上、第2実施形態と同一の構成要素には同一の符号を付し、その説明を省略する場合がある。
 図28に示すように、第1駆動用導電部61の縦方向Yの大きさは、第2実施形態の第1駆動用導電部61の縦方向Yの大きさよりも小さい。第2駆動用導電部62は、縦方向Yからみて、第1駆動用導電部61と、第3駆動用導電部63のうちの第1駆動用導電部61寄りの端部とに重なるように配置されている。第2駆動用導電部62の横方向Xの大きさは、第2実施形態の第2駆動用導電部62の横方向Xの大きさよりも大きい。制御用導電部65の横方向Xの大きさは、第2実施形態の制御用導電部65の横方向Xの大きさよりも大きい。
 図29に示すように、第2端子用導電部67は、縦方向Yからみて、第1端子用導電部66Aと重なり、かつ第3端子用導電部68のうちの第1端子用導電部66A寄りの端部と重なるように配置されている。第2端子用導電部67の横方向Xの大きさは、第2実施形態の第2端子用導電部67の横方向Xの大きさよりも大きい。制御端子用導電部70の横方向Xの大きさは、第2実施形態の制御端子用導電部70の横方向Xの大きさよりも大きい。
 図28及び図29に示すように、本実施形態では、第1端子用導電部66B及び第1駆動用連絡部73Bが省略されている。また第2駆動用連絡部74が3個設けられ、制御用連絡部77が2個設けられている。3個の第2駆動用連絡部74は、縦方向Yに揃った状態で横方向Xに間隔をあけて配列されている。2個の制御用連絡部77は、縦方向Yに揃った状態で横方向Xに間隔をあけて配列されている。
 図28に示すように、スイッチング素子20Aは、第3駆動用導電部63のスイッチング素子実装部63aに接合材によって接合されている。本実施形態の接合材は、導電性接合材に限定されず、絶縁性の接合材を用いることもできる。平面視におけるスイッチング素子20Aの形状は、例えば横方向Xが長辺方向となり、縦方向Yが短辺方向となる矩形状である。
 スイッチング素子20Aは、例えばSi(シリコン)やSiC(炭化シリコン)、又はGaN(窒化ガリウム)等からなるトランジスタが用いられている。スイッチング素子20AがSiCからなる場合、スイッチングの高速化に適している。本実施形態では、スイッチング素子20Aは、SiからなるN型のMOSFETが用いられている。
 スイッチング素子20Aは、厚さ方向Zにおいて支持基板50の基材51の基材主面51aと同じ方向を向く素子主面24aを有する。素子主面24aには、ドレイン電極21、ソース電極22、及びゲート電極23がそれぞれ形成されている。すなわち本実施形態では、図示しない素子裏面には、ドレイン電極21が形成されていない。このように、本実施形態のスイッチング素子20Aは、いわゆる横型構造のトランジスタである。
 ドレイン電極21とソース電極22及びゲート電極23とは縦方向Yに間隔をあけて配置されている。ドレイン電極21は、縦方向Yにおいて素子主面24aのうちの半導体レーザ素子10寄りの部分に形成されている。ドレイン電極21は、第3駆動用接続部材88によって第3駆動用導電部63と電気的に接続されている。本実施形態では、3本の第3駆動用接続部材88がドレイン電極21と第3駆動用導電部63とを接続している。3本の第3駆動用接続部材88は、横方向Xに間隔をあけて配列されている。第3駆動用接続部材88は、第1端部88a及び第2端部88bを有する。
 各第3駆動用接続部材88の第1端部88aは、ドレイン電極21に接続されている。これら第1端部88aは、縦方向Yに揃った状態で横方向Xに間隔をあけて配列されている。各第3駆動用接続部材88の第2端部88bは、縦方向Yにおいて、第3駆動用導電部63のスイッチング素子実装部63aのうちの半導体レーザ素子実装部63b寄りの端部に配置されている。これら第2端部88bは、縦方向Yに揃った状態で横方向Xに間隔をあけて配列されている。
 ソース電極22及びゲート電極23は、縦方向Yにおいて揃った状態で横方向Xに間隔をあけて配列されている。ソース電極22は、横方向Xにおいてゲート電極23に対して第1駆動用導電部61側に配置されている。
 ソース電極22は、第1駆動用接続部材81によって第1駆動用導電部61と電気的に接続されている。本実施形態では、2本の第1駆動用接続部材81がソース電極22と第1駆動用導電部61とを接続している。またソース電極22は、第2駆動用接続部材83によって第2駆動用導電部62と電気的に接続されている。本実施形態では、1本の第2駆動用接続部材83がソース電極22と第2駆動用導電部62とを接続している。
 2本の第1駆動用接続部材81のうちのソース電極22に接続された第1端部81aはそれぞれ、第2駆動用接続部材83のうちのソース電極22に接続された第1端部83aよりもゲート電極23の近くに配置されている。換言すると、第1端部83aは、第1端部81aよりも第1駆動用導電部61(第2駆動用導電部62)の近くに配置されている。
 2本の第1駆動用接続部材81のうちの第1駆動用導電部61に接続された第2端部81bは、縦方向Yにおいてコンデンサ30A,30Bの第1端子31と第1駆動用連絡部73との間に配置されている。第2駆動用接続部材83のうちの第2駆動用導電部62に接続された第2端部83bは、横方向Xにおいて第2駆動用導電部62のうちの制御用導電部65寄りの端部に配置されている。図28に示すとおり、第2駆動用接続部材83の長さは、第1駆動用接続部材81の長さよりも短い。第2駆動用接続部材83が短く形成できるため、第2駆動用接続部材83に起因するインダクタンスを低減できる。また、本実施形態の半導体レーザ装置1Cによれば、第2実施形態の効果と同様の効果が得られる。
 [第3実施形態の変更例]
 第3実施形態の半導体レーザ装置1Cは例えば以下のように変更できる。以下の各変更例は、技術的な矛盾が生じない限り、組み合せることができる。なお、以下の変更例において、第1実施形態及び第2実施形態と共通する部分については、第1実施形態及び第2実施形態と同一の符号を付してその説明を省略する。
 ・図30に示すように、第3駆動用導電部63のスイッチング素子実装部63a及び半導体レーザ素子実装部63bを縦方向Yに離間して配置してもよい。この場合、第3駆動用接続部材88の第2端部88bは、半導体レーザ素子実装部63bに配置されている。これにより、半導体レーザ素子10のカソード電極12(図30では図示略)とスイッチング素子20Aのドレイン電極21とが電気的に接続される。
 ・第3実施形態の半導体レーザ装置1Cは、第2実施形態の半導体レーザ装置1Bの構成を前提として、半導体レーザ装置1Bのスイッチング素子20をスイッチング素子20Aに置き換えた構成であったが、これに限られない。第3実施形態の半導体レーザ装置1Cは、図31に示すように、第1実施形態の半導体レーザ装置1Aの構成を前提として、半導体レーザ装置1Aのスイッチング素子20をスイッチング素子20Aに置き換えた構成であってもよい。図31の半導体レーザ装置1Cのスイッチング素子20Aは、素子主面24aに形成されたドレイン電極21、第1ソース電極22A、第2ソース電極22B、及びゲート電極23を有する。
 ドレイン電極21と、第1ソース電極22A、第2ソース電極22B、及びゲート電極23とは縦方向Yに間隔をあけて配置されている。ドレイン電極21は、縦方向Yにおいて素子主面24aのうちの半導体レーザ素子10寄りの部分に形成されている。ドレイン電極21は、第3駆動用接続部材88によって第3駆動用導電部63と電気的に接続されている。図31では、3本の第3駆動用接続部材88がドレイン電極21と第3駆動用導電部63とを接続している。3本の第3駆動用接続部材88は、横方向Xに間隔をあけて配列されている。各第3駆動用接続部材88の第1端部88aは、ドレイン電極21に接続されている。これら第1端部88aは、縦方向Yに揃った状態で横方向Xに間隔をあけて配列されている。各第3駆動用接続部材88の第2端部88bは、縦方向Yにおいて、第3駆動用導電部63のスイッチング素子実装部63aのうちの半導体レーザ素子実装部63b寄りの端部に配置されている。これら第2端部88bは、縦方向Yに揃った状態で横方向Xに間隔をあけて配列されている。
 第1ソース電極22A、第2ソース電極22B、及びゲート電極23は、縦方向Yに揃った状態で横方向Xに間隔をあけて配列されている。ゲート電極23は、第1ソース電極22Aと第2ソース電極22Bとの横方向Xの間に配置されている。第1ソース電極22Aは、ゲート電極23に対して第1駆動用導電部61A側に配置されている。第2ソース電極22Bは、ゲート電極23に対して第1駆動用導電部61B側に配置されている。
 第1ソース電極22Aは、第1駆動用接続部材81によって第1駆動用導電部61Aと電気的に接続されている。第2ソース電極22Bは、第1駆動用接続部材82によって第1駆動用導電部61Bと電気的に接続され、第2駆動用接続部材83によって第2駆動用導電部62と電気的に接続されている。第2駆動用接続部材83の第2端部83bは、第2駆動用導電部62のうちの縦方向Yからみて第2ソース電極22Bと重なる部分に配置されている。このため、第2駆動用接続部材83の長さを短くできる。ゲート電極23は、制御用接続部材84によって制御用導電部65に接続されている。このような構成によっても、第1駆動用接続部材81,82と第2駆動用接続部材83とが分かれて形成されているため、第1実施形態の効果と同様の効果が得られる。
 ・図31の半導体レーザ装置1Cにおいて、スイッチング素子20Aのソース電極の構成を図32に示すスイッチング素子20Aのソース電極の構成に変更できる。具体的には、図32の半導体レーザ装置1Cのスイッチング素子20Aは、ソース電極として、第1ソース電極22A、第2ソース電極22B、及び第3ソース電極22Cを有する。各ソース電極22A~22C及びゲート電極23は、縦方向Yにおいてスイッチング素子20Aの素子主面24aのうちの第2基材側面51d寄りの端部に配置されている。各ソース電極22A~22C及びゲート電極23は、縦方向Yに揃った状態で横方向Xに間隔をあけて配列されている。
 第1ソース電極22Aは、横方向Xにおいて各ソース電極22B,22C及びゲート電極23よりも第1駆動用導電部61Aの近くに配置されている。第2ソース電極22Bは、横方向Xにおいて各ソース電極22A,22C及びゲート電極23よりも第1駆動用導電部61Bの近くに配置されている。このように、第3ソース電極22C及びゲート電極23は、横方向Xにおいて第1ソース電極22Aと第2ソース電極22Bとの間に配置されている。第3ソース電極22Cは、ゲート電極23に対して第2ソース電極22B側に配置されている。
 第1ソース電極22Aは、第1駆動用接続部材81によって第1駆動用導電部61Aに接続されている。第2ソース電極22Bは、第1駆動用接続部材82によって第1駆動用導電部61Bに接続されている。第3ソース電極22Cは、第2駆動用接続部材83によって第2駆動用導電部62に接続されている。第2駆動用接続部材83の第2端部83bは、横方向Xにおいて第2駆動用導電部62のうちの制御用導電部65寄りの端部に配置されている。これにより、横方向Xにおいて第3ソース電極22Cと第2端部83bとの位置が近づくため、第2駆動用接続部材83の長さを短くできる。ゲート電極23は、制御用接続部材84によって制御用導電部65に接続されている。制御用接続部材84の第2端部84bは、横方向Xにおいて制御用導電部65のうちの第2駆動用導電部62寄りの端部に接続されている。これにより、横方向Xにおいてゲート電極23と第2端部84bとの位置が近づくため、制御用接続部材84の長さを短くできる。図32の半導体レーザ装置1Cによれば、第1実施形態の効果と同様の効果が得られる。
 ・図31及び図32の半導体レーザ装置1Cにおいて、第3駆動用導電部63の形状は任意に変更可能である。一例では、第3駆動用導電部63のスイッチング素子実装部63a及び半導体レーザ素子実装部63bを縦方向Yに離間して配置してもよい。この場合、第3駆動用接続部材88の第2端部88bは、半導体レーザ素子実装部63bに配置されている。これにより、半導体レーザ素子10のカソード電極12とスイッチング素子20Aのドレイン電極21とが電気的に接続される。
 [第4実施形態]
 図33及び図34を参照して、第4実施形態の半導体レーザ装置1Dについて説明する。本実施形態の半導体レーザ装置1Dは、第1実施形態の半導体レーザ装置1Aと比較して、ドライバ回路140が内蔵された点が異なる。本実施形態では、便宜上、第1実施形態と同一の構成要素には同一の符号を付し、その説明を省略する場合がある。
 図33に示すように、本実施形態の支持基板50の基材51の平面視における形状は、縦方向Yが長辺方向となり、横方向Xが短辺方向となる矩形状である。本実施形態では、第1駆動用導電部61A,61B及び第3駆動用導電部63が縦方向Yにおいて基材51の第1基材側面51c寄りに配置されている。すなわち第1駆動用導電部61A,61B及び第3駆動用導電部63の縦方向Yの中央部が基材51の縦方向Yの中央部よりも第1基材側面51cの近くに位置している。また本実施形態では、導電部60は、主面側導電部60Aから第2駆動用導電部62及び制御用導電部65(ともに図2参照)が省略され、裏面側導電部60Bから第2端子用導電部67、及び制御端子用導電部70(ともに図3参照)が省略された構成である。
 基材51の基材主面51aのうちの第1駆動用導電部61A,61B及び第3駆動用導電部63よりも第2基材側面51dに近い部分には、主面側導電部60Aとして、ドライバ回路実装部150、第1電源用導電部151、第2電源用導電部152、信号用導電部153、及び基準電圧用導電部154が形成されている。
 ドライバ回路実装部150は、縦方向Yからみて、第3駆動用導電部63と重なる位置に配置されている。平面視におけるドライバ回路実装部150の形状は、横方向Xが長辺方向となり、縦方向Yが短辺方向となる矩形状である。ドライバ回路実装部150の横方向Xの両側には、第1電源用導電部151、第2電源用導電部152、信号用導電部153、及び基準電圧用導電部154が配置されている。より詳細には、横方向Xにおいてドライバ回路実装部150に対して第3基材側面51e側には、第1電源用導電部151及び第2電源用導電部152が配置され、ドライバ回路実装部150に対して第4基材側面51f側には、信号用導電部153及び基準電圧用導電部154が配置されている。
 第1電源用導電部151及び第2電源用導電部152は、横方向Xに揃った状態で縦方向Yに間隔をあけて配列されている。縦方向Yからみて、第1電源用導電部151及び第2電源用導電部152はそれぞれ、第1駆動用導電部61Aと重なる位置に配置されている。第1電源用導電部151は、縦方向Yにおいて第2電源用導電部152に対して第1駆動用導電部61A側に配置されている。
 信号用導電部153及び基準電圧用導電部154は、横方向Xに揃った状態で縦方向Yに間隔をあけて配列されている。縦方向Yからみて、信号用導電部153及び基準電圧用導電部154は、横方向Xに揃った状態で縦方向Yに間隔をあけて配列されている。縦方向Yからみて、信号用導電部153及び基準電圧用導電部154はそれぞれ、第1駆動用導電部61Bと重なる位置に配置されている。信号用導電部153は、縦方向Yにおいて基準電圧用導電部154に対して第1駆動用導電部61B側に配置されている。
 平面視における第1電源用導電部151、第2電源用導電部152、信号用導電部153、及び基準電圧用導電部154の形状はそれぞれ、正方形である。なお、平面視における第1電源用導電部151、第2電源用導電部152、信号用導電部153、及び基準電圧用導電部154の形状はそれぞれ任意に変更可能である。一例では、平面視における第1電源用導電部151、第2電源用導電部152、信号用導電部153、及び基準電圧用導電部154の形状は、縦方向Y及び横方向Xの一方が長辺方向となり、縦方向Y及び横方向Xの他方が短辺方向となる矩形状であってもよい。平面視における第1電源用導電部151、第2電源用導電部152、信号用導電部153、及び基準電圧用導電部154の形状の少なくとも1つは、他の形状と異なってもよい。
 ドライバ回路実装部150には、ドライバ回路140が実装されている。本実施形態では、ドライバ回路140は、例えばドライバ回路140を構成するトランジスタ等の電子部品が封止部材143によって封止されたチップとして構成されている。本実施形態では、封止部材143は樹脂材料によって電子部品の全体を覆うように構成されているが、封止部材143の具体的な構成は特に限定されない。平面視におけるドライバ回路140の形状は、横方向Xが長辺方向となり、縦方向Yが短辺方向となる矩形状である。
 封止部材143は、厚さ方向Zにおいて互いに反対側を向く封止主面143a及び封止裏面(図示略)を有する。封止主面143aは、スイッチング素子20の素子主面24aと厚さ方向Zにおいて同じ方向を向いている。封止裏面は、スイッチング素子20の素子裏面24bと厚さ方向Zにおいて同じ方向を向いている。封止主面143aには、複数の電極144が露出している。複数の電極144は、第1電源電極144a、第2電源電極144b、出力電極144c、入力電極144d、信号電極144e、及び基準電圧出力電極144fを有する。
 第1電源電極144aは、図示しない制御電源の正極に電気的に接続される電極であり、例えば第1電源電圧(Vcc)が印加される電極である。第1電源電極144aは、横方向Xにおいて封止主面143aのうちの第3基材側面51e寄りの端部、かつ縦方向Yにおいて封止主面143aのうちのスイッチング素子20寄りの端部に配置されている。
 第2電源電極144bは、制御電源の負極に電気的に接続される電極であり、例えば第1電源電圧(Vcc)よりも低い第2電源電圧(GND)が印加される電極である。第2電源電極144bは、横方向Xにおいて封止主面143aのうちの第3基材側面51e寄りの端部、かつ縦方向Yにおいて封止主面143aのうちの第2基材側面51d寄りの端部に配置されている。
 出力電極144cは、スイッチング素子20のゲート電極23にゲート電圧を印加するための電極である。出力電極144cは、封止主面143aのうちの横方向Xの中央部、かつ縦方向Yにおいて封止主面143aのうちのスイッチング素子20寄りの端部に配置されている。縦方向Yからみて、出力電極144cは、スイッチング素子20のゲート電極23と重なる位置に配置されている。
 入力電極144dは、スイッチング素子20のソース電極22と電気的に接続するための電極である。入力電極144dは、横方向Xにおいて封止主面143aのうちの第4基材側面51f寄りの端部、かつ縦方向Yにおいて封止主面143aのうちのスイッチング素子20寄りの端部に配置されている。縦方向Yからみて、入力電極144dは、スイッチング素子20のソース電極22と重なる位置に配置されている。
 信号電極144eは、半導体レーザ装置1Dの外部に設けられたゲート信号生成回路(図示略)からゲート信号が入力される電極である。信号電極144eは、横方向Xにおいて封止主面143aのうちの第4基材側面51f寄りの端部、かつ封止主面143aの縦方向Yの中央部に配置されている。
 基準電圧出力電極144fは、例えば制御電源から印加された第1電源電圧を基準電圧(例えば2.5V)に変圧して出力するための電極である。この場合、ドライバ回路140の内部には、基準電圧を生成するためのレギュレータが設けられている。基準電圧出力電極144fは、横方向Xにおいて封止主面143aのうちの第4基材側面51f寄りの端部、かつ縦方向Yにおいて封止主面143aのうちの第2基材側面51d寄りの端部に配置されている。
 ドライバ回路140は、複数のドライバ用接続部材160によってスイッチング素子20や主面側導電部60Aと電気的に接続されている。複数のドライバ用接続部材160は、第1ドライバ用接続部材161、第2ドライバ用接続部材162、第3ドライバ用接続部材163、第4ドライバ用接続部材164、第5ドライバ用接続部材165、及び第6ドライバ用接続部材166を有する。これらドライバ用接続部材161~165は、例えば第1駆動用接続部材81,82及びレーザ用接続部材85,86と同一の材料が用いられている。各ドライバ用接続部材161~165は、例えばAu(金)、Cu(銅)、Al(アルミニウム)等の金属からなるワイヤである。本実施形態では、各ドライバ用接続部材161~165はワイヤボンディングによって形成される。各ドライバ用接続部材161~165の線径は、第1駆動用接続部材81,82及びレーザ用接続部材85,86の線径と等しい。ここで、各ドライバ用接続部材161~165の線径と第1駆動用接続部材81,82及びレーザ用接続部材85,86の線径との最大のずれ量が、例えば第1駆動用接続部材81の線径の5%以内であれば、各ドライバ用接続部材161~165の線径が第1駆動用接続部材81,82及びレーザ用接続部材85,86の線径と等しいと言える。
 第1ドライバ用接続部材161は、第1電源電極144aと第1電源用導電部151とを接続している。第2ドライバ用接続部材162は、第2電源電極144bと第2電源用導電部152とを接続している。第3ドライバ用接続部材163は、信号電極144eと信号用導電部153とを接続している。第4ドライバ用接続部材164は、基準電圧出力電極144fと基準電圧用導電部154とを接続している。第5ドライバ用接続部材165は、出力電極144cとスイッチング素子20のゲート電極23とを接続している。このため、第5ドライバ用接続部材165は、ドライバ回路とスイッチング素子の制御電極とを接続する制御用接続部材に相当する。第6ドライバ用接続部材166は、入力電極144dとスイッチング素子20のソース電極22とを接続している。このため、第6ドライバ用接続部材166は、ドライバ回路とスイッチング素子の第2駆動電極とを接続する第2駆動用接続部材に相当する。第6ドライバ用接続部材166は、第1端部166a及び第2端部166bを有する。第1端部166aはソース電極22に接続され、第2端部166bは入力電極144dに接続されている。第1端部166aは、縦方向Yからみてソース電極22のうちの入力電極144dと重なる部分、かつ縦方向Yにおいてソース電極22のうちの入力電極144d寄りの端部に接続されている。
 図34に示すように、裏面側導電部60Bは、ドライバ端子用導電部155、第1電源端子用導電部156、第2電源端子用導電部157、信号端子用導電部158、及び基準電圧端子用導電部159を有する。
 図33及び図34に示すように、ドライバ端子用導電部155は、厚さ方向Zからみて、基材51の基材裏面51bにおけるドライバ回路実装部150と重なる部分に配置されている。ドライバ端子用導電部155の形状及びサイズは、ドライバ回路実装部150の形状及びサイズと同じである。第1電源端子用導電部156は、厚さ方向Zからみて、基材裏面51bにおける第1電源用導電部151と重なる部分に配置されている。第1電源端子用導電部156の形状及びサイズは、第1電源用導電部151の形状及びサイズと同じである。第2電源端子用導電部157は、厚さ方向Zからみて、基材裏面51bにおける第2電源用導電部152と重なる部分に配置されている。第2電源端子用導電部157の形状及びサイズは、第2電源用導電部152の形状及びサイズと同じである。信号端子用導電部158は、厚さ方向Zからみて、基材裏面51bにおける信号用導電部153と重なる部分に配置されている。信号端子用導電部158の形状及びサイズは、信号用導電部153の形状及びサイズと同じである。基準電圧端子用導電部159は、厚さ方向Zからみて、基材裏面51bにおける基準電圧用導電部154と重なる部分に配置されている。基準電圧端子用導電部159の形状及びサイズは、基準電圧用導電部154の形状及びサイズと同じである。
 図34に示すとおり、横方向Xにおけるドライバ端子用導電部155と各電源端子用導電部156,157との間の隙間Gr7の大きさは、横方向Xにおける第3端子用導電部68と第1端子用導電部66Aとの間の隙間Gr2の大きさよりも小さい。また横方向Xにおけるドライバ端子用導電部155と信号端子用導電部158及び基準電圧端子用導電部159との間の隙間Gr8の大きさは、横方向Xにおける第3端子用導電部68と第1端子用導電部66Bとの間の隙間Gr2の大きさよりも小さい。また、隙間Gr7及び隙間Gr8の大きさはそれぞれ、縦方向Yにおけるドライバ端子用導電部155と第3端子用導電部68との間の隙間Gr9の大きさよりも小さい。
 図33及び図34に示すように、連絡部60Cは、複数(本実施形態では4個)のドライバ用連絡部170、第1電源用連絡部171、第2電源用連絡部172、信号用連絡部173、及び基準電圧用連絡部174を有する。これら連絡部170~174は、他の連絡部と同様にスルーホール71及び導体部72(図33及び図34ではともに図示略)を有する。
 4個のドライバ用連絡部170は、基材51においてドライバ回路実装部150とドライバ端子用導電部155とに厚さ方向Zに重なる部分に設けられている。各ドライバ用連絡部170は、ドライバ回路実装部150とドライバ端子用導電部155とを繋いでいる。
 第1電源用連絡部171は、基材51において第1電源用導電部151と第1電源端子用導電部156とに厚さ方向Zに重なる部分に設けられている。第1電源用連絡部171は、第1電源用導電部151と第1電源端子用導電部156とを繋いでいる。
 第2電源用連絡部172は、基材51において第2電源用導電部152と第2電源端子用導電部157とに厚さ方向Zに重なる部分に設けられている。第2電源用連絡部172は、第2電源用導電部152と第2電源端子用導電部157とを繋いでいる。
 信号用連絡部173は、基材51において信号用導電部153と信号端子用導電部158とに厚さ方向Zに重なる部分に設けられている。信号用連絡部173は、信号用導電部153と信号端子用導電部158とを繋いでいる。
 基準電圧用連絡部174は、基材51において基準電圧用導電部154と基準電圧端子用導電部159とに厚さ方向Zに重なる部分に設けられている。基準電圧用連絡部174は、基準電圧用導電部154と基準電圧端子用導電部159とを繋いでいる。
 なお、これら連絡部170~174の個数はそれぞれ任意に変更可能である。半導体レーザ装置1Dは、これら連絡部170~174をそれぞれ少なくとも1個有していればよい。またドライバ回路実装部150(ドライバ端子用導電部155)に対するドライバ用連絡部170の配置位置、第1電源用導電部151(第1電源端子用導電部156)に対する第1電源用連絡部171の配置位置、第2電源用導電部152(第2電源端子用導電部157)に対する第2電源用連絡部172の配置位置、信号用導電部153(信号端子用導電部158)に対する信号用連絡部173の配置位置、及び基準電圧用導電部154(基準電圧端子用導電部159)に対する基準電圧用連絡部174の配置位置はそれぞれ任意に変更可能である。
 本実施形態の半導体レーザ装置1Dによれば、第1実施形態の効果に加え、以下の効果が得られる。
 (4-1)半導体レーザ装置1Dは、ドライバ回路140を備える。この構成によれば、スイッチング素子20のソース電極22から第1駆動用接続部材81,82を介して第1駆動用導電部61A,61Bに流れる電流の第1経路である第1駆動用ループ及び第2駆動用ループと、ソース電極22から第6ドライバ用接続部材166を介してドライバ回路140に流れる電流の第2経路である制御用ループとが個別に形成される。これにより、第1駆動用ループ及び第2駆動用ループの電流の変動が制御用ループに影響を及ぼすことが低減される。すなわち、制御用ループにおいて、第1駆動用接続部材81,82のインダクタンスの影響を受け難くなる。したがって、制御用ループにおいて、第1駆動用接続部材81,82のインダクタンスに起因する逆起電圧が、スイッチング素子20のゲート電極23に印加される電圧Vgsに及ぼす影響を低減できる。
 加えて、ドライバ回路140が半導体レーザ装置1Dに内蔵されることによって、スイッチング素子20のソース電極22とドライバ回路140の入力電極142との間の距離、及びスイッチング素子20のゲート電極23とドライバ回路140の出力電極141との間の距離がそれぞれ短くなる。したがって、制御用ループにおけるインダクタンスを低減できる。
 (4-2)ドライバ回路140は、縦方向Yにおいてスイッチング素子20に対して半導体レーザ素子10とは反対側に配置されている。この構成によれば、第1駆動用ループ及び第2駆動用ループに対して制御用ループを遠くに形成できるため、第1駆動用ループ及び第2駆動用ループのインダクタンスの影響を制御用ループが受け難くなる。
 (4-3)スイッチング素子20のゲート電極23は、ドライバ回路140寄りに配置されている。この構成によれば、ゲート電極23とドライバ回路140の出力電極141との間の距離を短くできる。したがって、制御用ループにおけるインダクタンスを低減できる。
 (4-4)第6ドライバ用接続部材166は、スイッチング素子20のソース電極22のうちの縦方向Yのドライバ回路140寄りの端部に接続されている。この構成によれば、第6ドライバ用接続部材166の長さを短くできるため、制御用ループにおけるインダクタンスを低減できる。
 [第4実施形態の変更例]
 第4実施形態の半導体レーザ装置1Dは例えば以下のように変更できる。以下の各変更例は、技術的な矛盾が生じない限り、組み合せることができる。なお、以下の変更例において、第1~第4実施形態と共通する部分については、第1~第4実施形態と同一の符号を付してその説明を省略する。
 ・第4実施形態の半導体レーザ装置1Dは、第1実施形態の半導体レーザ装置1Aの構成を前提として、半導体レーザ装置1Aにドライバ回路140を内蔵した構成であったが、これに限られない。例えば、半導体レーザ装置1Dは、第2実施形態の半導体レーザ装置1B又は第3実施形態の半導体レーザ装置1Cの構成を前提として、半導体レーザ装置1B,1Cにドライバ回路140を内蔵した構成としてもよい。
 図35及び図36は、第2実施形態の半導体レーザ装置1Bにドライバ回路140を内蔵した半導体レーザ装置1Dの構成の第1例を示している。図35に示すように、本実施形態の支持基板50の基材51の平面視における形状は、縦方向Yが長辺方向となり、横方向Xが短辺方向となる矩形状である。本実施形態では、第1駆動用導電部61及び第3駆動用導電部63が縦方向Yにおいて基材51の第1基材側面51c寄りに配置されている。すなわち第1駆動用導電部61及び第3駆動用導電部63の縦方向Yの中央部が基材51の縦方向Yの中央部よりも第1基材側面51cの近くに位置している。また本実施形態では、導電部60は、主面側導電部60Aから第2駆動用導電部62及び制御用導電部65が省略され、裏面側導電部60Bから第2端子用導電部67、及び制御端子用導電部70(ともに図3参照)が省略された構成である。
 基材51の基材主面51aのうちの第1駆動用導電部61及び第3駆動用導電部63よりも第2基材側面51dに近い部分には、ドライバ回路実装部150、第1電源用導電部151、第2電源用導電部152、信号用導電部153、及び基準電圧用導電部154が形成されている。ドライバ回路実装部150及び各導電部151~154の形状や配置は、第4実施形態のドライバ回路実装部150及び各導電部151~154と同じであるため、説明を省略する。
 ドライバ回路実装部150に実装されたドライバ回路140は、第4実施形態のドライバ回路140と比較して、出力電極144c及び入力電極144dの配置構成のみが異なる。出力電極144cは、横方向Xにおいて封止部材143の封止主面143aのうちの第4基材側面51f寄りの端部、かつ縦方向Yにおいて封止主面143aのうちのスイッチング素子20寄りの端部に配置されている。縦方向Yからみて、出力電極144cは、スイッチング素子20のソース電極22と重なる位置に配置されている。出力電極144cは、スイッチング素子20のゲート電極23よりも第3基材側面51eの近くに配置されている。入力電極144dは、封止主面143aの横方向Xの中央部よりも第4基材側面51f寄りの部分、かつ縦方向Yにおいて封止主面143aのうちのスイッチング素子20寄りの端部に配置されている。横方向Xにおける入力電極144dと出力電極144cとの間の距離は、横方向Xにおける入力電極144dと第1電源電極144aとの間の距離よりも小さい。縦方向Yからみて、入力電極144dは、その一部がソース電極22と重なるように配置されている。
 第1~第4ドライバ用接続部材161~164の接続態様は、第4実施形態の第1~第4ドライバ用接続部材161~164の接続態様と同じである。第5ドライバ用接続部材165は、出力電極144cとゲート電極23とを繋いでいる。このため、平面視において、第5ドライバ用接続部材165は、出力電極144cからゲート電極23に向かうにつれて第4基材側面51f側に斜めに延びている。第6ドライバ用接続部材166は、入力電極144dとソース電極22とを繋いでいる。第6ドライバ用接続部材166は、ソース電極22のうちの縦方向Yのドライバ回路140寄りの端部に接続されている。また図35に示すとおり、第6ドライバ用接続部材166の長さは、第5ドライバ用接続部材165の長さよりも短い。
 図36に示すように、裏面側導電部60Bは、第1端子用導電部66、第3端子用導電部68、第4端子用導電部69、ドライバ端子用導電部155、第1電源端子用導電部156、第2電源端子用導電部157、信号端子用導電部158、及び基準電圧端子用導電部159を有する。なお、ドライバ端子用導電部155、第1電源端子用導電部156、第2電源端子用導電部157、信号端子用導電部158、及び基準電圧端子用導電部159の構成や配置は、第4実施形態と同じであるため、説明を省略する。
 第1端子用導電部66は、基材裏面51bにおいて第1駆動用導電部61と厚さ方向Zに重なる部分に配置されている。第1端子用導電部66の縦方向Yの大きさは、第1駆動用導電部61の縦方向Yの大きさよりも小さい。
 第4端子用導電部69は、基材裏面51bにおいて第4駆動用導電部64と厚さ方向Zに重なる部分に配置されている。第4端子用導電部69は、縦方向からみて、第1端子用導電部66と重なる位置に配置されている。第4端子用導電部69の横方向Xの大きさは、第4駆動用導電部64の横方向Xの大きさよりも小さい。
 第3端子用導電部68は、基材裏面51bにおいて第3駆動用導電部63と厚さ方向Zに重なる部分に配置されている。第3端子用導電部68の横方向Xの大きさは、第3駆動用導電部63の横方向Xの大きさよりも小さい。本実施形態の第3端子用導電部68は、第2実施形態の半導体レーザ装置1Bの第3端子用導電部68A,68Bを一体化して形成されている。
 図35及び図36に示すように、連絡部60Cは、第1駆動用連絡部73、第3駆動用連絡部75A,75B、第4駆動用連絡部76、ドライバ用連絡部170、第1電源用連絡部171、第2電源用連絡部172、信号用連絡部173、及び基準電圧用連絡部174を有する。ドライバ用連絡部170、第1電源用連絡部171、第2電源用連絡部172、信号用連絡部173、及び基準電圧用連絡部174の構成や配置は、第4実施形態と同じであるため、説明を省略する。
 第1駆動用連絡部73は、第1駆動用導電部61と第1端子用導電部66とを繋いでいる。図35及び図36では、4個の第1駆動用連絡部73が縦方向Yにおいて第1駆動用導電部61及び第1端子用導電部66のうちの第2基材側面51d側に配置されている。
 第3駆動用連絡部75Aは、スイッチング素子実装部63aに設けられている。第3駆動用連絡部75Bは、半導体レーザ素子実装部63bに設けられている。本実施形態では、第3駆動用連絡部75Aが9個設けられ、第3駆動用連絡部75Bが2個設けられている。各第3駆動用連絡部75Aは、スイッチング素子実装部63aと第3端子用導電部68とを繋いでいる。各第3駆動用連絡部75Bは、半導体レーザ素子実装部63bと第3端子用導電部68とを繋いでいる。このように、ドライバ回路140を内蔵することによって、第4実施形態の効果と同様の効果が得られる。
 図37は、図35の半導体レーザ装置1Dに対してスイッチング素子20の素子主面24aに形成された電極が異なる構成を示している。図37のスイッチング素子20の素子主面24aには、第1ソース電極22A、第2ソース電極22B、及びゲート電極23が形成されている。
 第1ソース電極22Aは、素子主面24aの大部分にわたり形成されている。第1ソース電極22Aには切欠部25が形成されている。切欠部25は、縦方向Yにおいて第1ソース電極22Aのうちのドライバ回路140寄りの端部、かつ横方向Xにおいて第1駆動用導電部61寄りの部分に形成されている。切欠部25には、第2ソース電極22B及びゲート電極23が配置されている。
 第2ソース電極22B及びゲート電極23は、縦方向Yに揃った状態で横方向Xに間隔をあけて配列されている。第2ソース電極22Bは、横方向Xにおいてゲート電極23に対して第1駆動用導電部61側に配置されている。第2ソース電極22Bは、縦方向Yからみて、その一部が入力電極144dと重なる位置に配置されている。ゲート電極23は、縦方向Yからみて、その一部が出力電極144cと重なる位置に配置されている。この構成によれば、ゲート電極23と出力電極144cとを接続する第5ドライバ用接続部材165の長さ、及び第2ソース電極22Bと入力電極144dとを接続する第6ドライバ用接続部材166の長さをそれぞれ短くできる。
 図38及び図39は、第2実施形態の半導体レーザ装置1Bにドライバ回路140を内蔵した半導体レーザ装置1Dの構成の第2例を示している。図38に示すように、本実施形態の支持基板50の基材51の平面視における形状は、横方向Xが長辺方向となり、縦方向Yが短辺方向となる矩形状である。本実施形態では、第4実施形態と比較して、横方向Xにおける第3駆動用導電部63と基材51の第3基材側面51eとの間の距離が大きい。また本実施形態では、導電部60は、主面側導電部60Aから第2駆動用導電部62及び制御用導電部65が省略され、裏面側導電部60Bから第2端子用導電部67、及び制御端子用導電部70(ともに図34参照)が省略された構成である。
 第3駆動用導電部63は、基材主面51aの横方向Xの中央部に配置されている。ドライバ回路実装部150、第1電源用導電部151、第2電源用導電部152、信号用導電部153、基準電圧用導電部154はそれぞれ、横方向Xにおいて第3駆動用導電部63に対して第1駆動用導電部61とは反対側(第4基材側面51f側)に配置されている。平面視におけるドライバ回路実装部150の形状は、縦方向Yが長辺方向となり、横方向Xが短辺方向となる矩形状である。
 第1電源用導電部151及び第2電源用導電部152はそれぞれ、縦方向Yにおいてドライバ回路実装部150よりも第1基材側面51cの近くに配置されている。第1電源用導電部151及び第2電源用導電部152は、縦方向Yに揃った状態で横方向Xに間隔をあけて配列されている。縦方向Yからみて、第1電源用導電部151及び第2電源用導電部152はそれぞれ、ドライバ回路実装部150と重なる位置に配置されている。第1電源用導電部151は、横方向Xにおいて第2電源用導電部152に対して第3駆動用導電部63側に配置されている。
 信号用導電部153及び基準電圧用導電部154はそれぞれ、縦方向Yにおいてドライバ回路実装部150よりも第2基材側面51dの近くに配置されている。信号用導電部153及び基準電圧用導電部154は、縦方向Yに揃った状態で横方向Xに間隔をあけて配列されている。縦方向Yからみて、信号用導電部153及び基準電圧用導電部154はそれぞれ、ドライバ回路実装部150と重なる位置に配置されている。信号用導電部153は、横方向Xにおいて基準電圧用導電部154に対して第3駆動用導電部63側に配置されている。
 ドライバ回路実装部150には、ドライバ回路140が実装されている。図38のドライバ回路140は、図35のドライバ回路140と比較して、ドライバ回路実装部150への配置方向が異なる。具体的には、図38のドライバ回路140は、基材主面51aと垂直な方向からみて、図35のドライバ回路140を時計回り方向に90度回転させた配置態様である。このため、各ドライバ用接続部材161~165の接続態様は、図35の各ドライバ用接続部材161~165の接続態様と概ね同じである。第6ドライバ用接続部材166の第1端部166aは、ソース電極22のうちの横方向Xにおける入力電極144d寄りの端部に接続されている。
 図39に示すように、横方向Xにおいて第3端子用導電部68よりも第4基材側面51f側には、ドライバ端子用導電部155、第1電源端子用導電部156、第2電源端子用導電部157、信号端子用導電部158、及び基準電圧端子用導電部159が配置されている。
 ドライバ端子用導電部155は、厚さ方向Zからみて、基材51の基材裏面51bにおけるドライバ回路実装部150と重なる部分に配置されている。ドライバ端子用導電部155の形状及びサイズは、ドライバ回路実装部150の形状及びサイズと同じである。第1電源端子用導電部156は、厚さ方向Zからみて、基材裏面51bにおける第1電源用導電部151と重なる部分に配置されている。第1電源端子用導電部156の形状及びサイズは、第1電源用導電部151の形状及びサイズと同じである。第2電源端子用導電部157は、厚さ方向Zからみて、基材裏面51bにおける第2電源用導電部152と重なる部分に配置されている。第2電源端子用導電部157の形状及びサイズは、第2電源用導電部152の形状及びサイズと同じである。信号端子用導電部158は、厚さ方向Zからみて、基材裏面51bにおける信号用導電部153と重なる部分に配置されている。信号端子用導電部158の形状及びサイズは、信号用導電部153の形状及びサイズと同じである。基準電圧端子用導電部159は、厚さ方向Zからみて、基材裏面51bにおける基準電圧用導電部154と重なる部分に配置されている。基準電圧端子用導電部159の形状及びサイズは、基準電圧用導電部154の形状及びサイズと同じである。
 このような構成によれば、半導体レーザ素子10が基材51の横方向Xの中央部に位置している。このため、半導体レーザ素子10の支持基板50に対する横方向Xの偏りがなくなるため、配線基板の配線パターンを半導体レーザ素子10の上記偏りを考慮せずに設計できる。したがって、半導体レーザ装置1Dの使い勝手がよくなる。
 図40は、第1実施形態の半導体レーザ装置1Aを前提として、半導体レーザ装置1Aのスイッチング素子20を第3実施形態の半導体レーザ装置1Cの横型構造のスイッチング素子20Aに置き換えた構成に、ドライバ回路140を内蔵した半導体レーザ装置1Dの構成を示している。
 図40に示すように、スイッチング素子20Aの第1ソース電極22A、第2ソース電極22B、及びゲート電極23はそれぞれ、素子主面24aのうちのドライバ回路140寄りの端部に形成されている。第1ソース電極22Aは、縦方向Yからみて、ドライバ回路140の第1電源電極144a及び第2電源電極144bと重なっている。第2ソース電極22Bは、縦方向Yからみて、ドライバ回路140の入力電極144d、信号電極144e、及び基準電圧出力電極144fと重なっている。ゲート電極23は、縦方向Yからみて、ドライバ回路140の出力電極144cと重なっている。
 各ドライバ用接続部材161~165の接続態様は、第4実施形態の各ドライバ用接続部材161~165の接続態様と同じである。第6ドライバ用接続部材166は、ドライバ回路140の入力電極144dとスイッチング素子20Aの第2ソース電極22Bとを接続している。なお、裏面側導電部60Bの構成は、第4実施形態の裏面側導電部60Bの構成と同じである。図40に示す半導体レーザ装置1Dによれば、第4実施形態の効果と同様の効果が得られる。
 ・図40に示す半導体レーザ装置1Dにおいて、半導体レーザ素子10の個数は任意に変更可能である。一例では、図41に示すように、上記図40の半導体レーザ装置1Dにおいて、2個の半導体レーザ素子10A,10Bを設けた構成に変更できる。この場合、第3駆動用導電部63及び第4駆動用導電部64A,64Bの形状、半導体レーザ素子10A,10Bの配置態様、及びレーザ用接続部材85,86の接続態様はそれぞれ、図17に示す変更例の半導体レーザ装置1Aと同じである。また図示していないが裏面側導電部60Bの第3端子用導電部68及び第4端子用導電部69A,69Bの形状及び配置態様は、図18に示す変更例の半導体レーザ装置1Aと同じである。
 ・図41に示す半導体レーザ装置1Dにおいて、図42に示すように、2個の半導体レーザ素子10A,10Bのアノード電極11同士を素子接続部材87で接続した構成としてもよい。
 ・図41及び図42に示す半導体レーザ装置1Dにおいて、図43に示すように、半導体レーザ素子10A,10Bに代えて、図20及び図21に示す半導体レーザ素子10Cを用いてもよい。
 ・第4実施形態及びその変更例の半導体レーザ装置1Dでは、ドライバ回路140が支持基板50の基材51の基材主面51aに実装されていたが、これに限定されない。例えば、ドライバ回路140を支持基板50の内部に埋め込む構造であってもよい。この構成によれば、厚さ方向Zにおいてスイッチング素子20とドライバ回路140とが並んで配置されることによって、半導体レーザ装置1Dを横方向X又は縦方向Yに小型化できる。
 ・第4実施形態及びその変更例の半導体レーザ装置1Dにおいて、各ドライバ用接続部材161~166の線径は、他の接続部材80の線径と異なってもよい。また、各ドライバ用接続部材161~166を構成する材料は、他の接続部材80を構成する材料と異なってもよい。
 [第5実施形態]
 図44~図46を参照して、第5実施形態の半導体レーザ装置1Eについて説明する。本実施形態の半導体レーザ装置1Eは、第2実施形態の半導体レーザ装置1Bと比較して、導電部60の一部の形状が主に異なる。本実施形態では、便宜上、第2実施形態と同一の構成要素には同一の符号を付し、その説明を省略する場合がある。
 図44に示すように、半導体レーザ装置1Eは、主面側導電部60Aとして、第1駆動用導電部61、第3駆動用導電部63、第4駆動用導電部64、及び制御用導電部65を有する。すなわち、半導体レーザ装置1Eは、第2駆動用導電部62を有していない。
 支持基板50の基材51の縦方向Yの大きさが第2実施形態の基材51の縦方向Yの大きさよりも大きい。基材51の横方向Xの大きさは、第2実施形態の基材51の横方向Xの大きさと等しい。このため、平面視における基材51の縦横比が第2実施形態の基材51の縦横比と異なる。
 第1駆動用導電部61、第3駆動用導電部63、及び第4駆動用導電部64の配置態様は、第2実施形態と同様である。第1駆動用導電部61の縦方向Yの大きさは、第2実施形態の第1駆動用導電部61の縦方向Yの大きさよりも大きい。第3駆動用導電部63の縦方向Yの大きさは、第2実施形態の第3駆動用導電部63の縦方向Yの大きさよりも大きい。より詳細には、スイッチング素子実装部63aの縦方向Yの大きさは、第2実施形態のスイッチング素子実装部63aの縦方向Yの大きさよりも大きい。また、本実施形態では、第1駆動用導電部61の縦方向Yの両端部を第1端部61a及び第2端部61bとする。第1端部61aは、第1駆動用導電部61のうちの第1基材側面51c寄りの端部であって、コンデンサ30A,30Bの第1端子31が接続される端部である。第2端部61bは、第1駆動用導電部61のうちの第2基材側面51d寄りの端部である。
 制御用導電部65は、第3駆動用導電部63よりも第2基材側面51dの近くに配置されている。平面視における制御用導電部65の形状は、横方向Xが長辺方向となり、縦方向Yが短辺方向となる矩形状である。制御用導電部65の横方向Xの大きさは、第2実施形態の制御用導電部65の横方向Xの大きさよりも大きい。
 図45に示すように、半導体レーザ装置1Eは、裏面側導電部60Bとして、第1端子用導電部66A,66B、第3端子用導電部68A,68B、第4端子用導電部69、及び制御端子用導電部70を有する。すなわち、半導体レーザ装置1Eは、第2端子用導電部67を有していない。本実施形態では、第1端子用導電部66A,66B、第3端子用導電部68A,68B、及び第4端子用導電部69の配置態様は、第2実施形態と同じである。第3端子用導電部68A,68Bのそれぞれの横方向Xの大きさは、第2実施形態の第3端子用導電部68A,68Bのそれぞれの横方向Xの大きさよりも小さい。第3端子用導電部68Aの縦方向Yの大きさは、第2実施形態の第3端子用導電部68Aの縦方向Yの大きさよりも大きい。
 制御端子用導電部70は、厚さ方向Zにおいて制御用導電部65と重なる位置に配置されている。制御端子用導電部70の横方向Xの大きさは、第2実施形態の制御端子用導電部70の横方向Xの大きさよりも大きい。
 本実施形態の半導体レーザ装置1Eは、連絡部60Cとして、第1駆動用連絡部73A,73B、第3駆動用連絡部75A,75B、第4駆動用連絡部76、及び制御用連絡部77を有する。すなわち、半導体レーザ装置1Eは、第2駆動用連絡部74を有していない。本実施形態では、第1駆動用連絡部73A,73B、第3駆動用連絡部75A,75B、及び第4駆動用連絡部76の配置態様は第2実施形態と同じである。本実施形態では、第2実施形態とは異なり、4個の第3駆動用連絡部75A及び2個の制御用連絡部77が設けられている。4個の第3駆動用連絡部75Aは、互いに横方向X及び縦方向Yに離間して配列されている。2個の制御用連絡部77は、縦方向Yに揃った状態で横方向Xに間隔をあけて配列されている。
 図44に示すように、第3駆動用導電部63のスイッチング素子実装部63aに実装されたスイッチング素子20の縦方向Yの大きさは、第2実施形態のスイッチング素子20の縦方向Yの大きさよりも大きい。
 本実施形態では、第1駆動用接続部材81のソース電極22及び第1駆動用導電部61の接続位置が第2実施形態の第1駆動用接続部材81のソース電極22及び第1駆動用導電部61の接続位置と異なる。具体的には、3本の第1駆動用接続部材81を、便宜上、第1駆動用接続部材81A,81B,81Cとする。第1駆動用接続部材81Aは、3本の第1駆動用接続部材81A~81Cのうちのコンデンサ30A,30Bに最も近い接続部材である。第1駆動用接続部材81Cは、3本の第1駆動用接続部材81A~81Cのうちのコンデンサ30A,30Bに最も遠い接続部材である。第1駆動用接続部材81Bは、縦方向Yにおいて第1駆動用接続部材81Aと第1駆動用接続部材81Bとの間に配置されている。
 第1駆動用接続部材81Aにおいてソース電極22に接続された第1端部81axは、ソース電極22のうちのソース電極22の縦方向Yの中央部よりも第1基材側面51c寄りの部分に配置されている。第1駆動用接続部材81Aにおいて第1駆動用導電部61に接続された第2端部81bxは、第1駆動用導電部61のうちの第1駆動用導電部61の縦方向Yの中央部よりも第1基材側面51cに近い部分に配置されている。より詳細には、第2端部81bxは、第1駆動用導電部61に形成された4個の第1駆動用連絡部73よりも第1基材側面51cに近い部分に配置されている。第2端部81bxは、縦方向Yにおいて第1端部81axよりも第2基材側面51dの近くに位置している。このため、第1駆動用接続部材81Aは、平面視において、第1端部81axから第2端部81bxに向かうにつれて第2基材側面51d側に向けて延びている。
 第1駆動用接続部材81Bにおいてソース電極22に接続された第1端部81ayは、ソース電極22のうちのソース電極22の縦方向Yの中央部よりも第1基材側面51cに近くかつ第1端部81axよりも中央部に近い部分に配置されている。第1駆動用接続部材81Bにおいて第1駆動用導電部61に接続された第2端部81byは、第1駆動用導電部61のうちの第1駆動用導電部61の縦方向Yの中央部よりも第1基材側面51cに近くかつ第1端部81axよりも中央部に近い部分に配置されている。より詳細には、第2端部81byは、4個の第1駆動用連絡部73の縦方向Yの間に配置されている。第2端部81byは、縦方向Yにおいて第1端部81ayよりも第2基材側面51dの近くに位置している。このため、第1駆動用接続部材81Bは、平面視において、第1端部81ayから第2端部81byに向かうにつれて第2基材側面51d側に向けて延びている。
 第1駆動用接続部材81Cにおいてソース電極22に接続された第1端部81azは、ソース電極22のうちのソース電極22の縦方向Yの中央部よりも第2基材側面51dに近い部分に配置されている。具体的には、第1端部81azは、ソース電極22のうちの切欠部25と横方向Xに隣り合う部分に接続されている。第1駆動用接続部材81Cにおいて第1駆動用導電部61に接続された第2端部81bzは、第1駆動用導電部61のうちの第1駆動用導電部61の縦方向Yの中央部よりも第2基材側面51dの近くに配置されている。より詳細には、第1駆動用導電部61のうちの第2基材側面51d寄りの端縁61cと第2端部81bzとの縦方向Yの間の距離DY1は、コンデンサ30Bの第1端子31と第2端部81bzとの縦方向Yの間の距離DY2よりも小さい。また第2端部81bzは、横方向Xにおいて第1駆動用導電部61のうちのスイッチング素子20寄りの部分に接続されている。
 第2端部81bzは、縦方向Yにおいて第1端部81azよりも第2基材側面51dの近くに位置している。このため、第1駆動用接続部材81Cは、平面視において、第1端部81azから第2端部81bzに向かうにつれて第2基材側面51d側に向けて延びている。第1端部81azと第2端部81bzとの縦方向Yの間の距離DYCは、第1駆動用接続部材81Aの第1端部81axと第2端部81bxとの縦方向Yの間の距離DYAよりも大きい。また距離DYCは、第1駆動用接続部材81Bの第1端部81ayと第2端部81byとの縦方向Yの間の距離DYBよりも大きい。
 図44から分かるとおり、第1駆動用接続部材81Aの第2端部81bxは、第1駆動用接続部材81B,81Cの第2端部81by,81bzよりもコンデンサ30A,30Bの近くに位置している。このため、第1駆動用接続部材81Aは、複数の駆動用接続部材のうちのコンデンサ30A,30Bに近い側の駆動用接続部材と言える。換言すると、第1駆動用接続部材81Aは、駆動用導電部(第1駆動用導電部61)のうちのコンデンサ30A,30Bの第1端子31に近い側と、第2駆動電極(スイッチング素子20のソース電極22)とを接続する第1駆動用接続部材であると言える。また、第1駆動用接続部材81Cの第2端部81bzは、第1駆動用接続部材81A,81Cの第2端部81bx,81byよりもコンデンサ30A,30Bから遠くに位置している。第2端部81bzは、コンデンサ30A,30Bの第1端子31よりも第1駆動用導電部61の端縁61cの近くに配置されている。このため、第1駆動用接続部材81Cは、複数の駆動用接続部材のうちのコンデンサ30A,30Bから遠い側の駆動用接続部材と言える。換言すると、第1駆動用接続部材81Cは、駆動用導電部(第1駆動用導電部61)のうちのコンデンサ30A,30Bの第1端子31よりも第2端部(端縁61c)に近い側と、第2駆動電極(スイッチング素子20のソース電極22)とを接続する第2駆動用接続部材であると言える。
 図46は、本実施形態の半導体レーザ装置1Eをレーザシステム100に適用した場合の模式図を示している。図46に示すように、電源110の正極111は、第4端子用導電部69及び第4駆動用連絡部76(ともに図45参照)を介して第4駆動用導電部64に接続されている。また電源110の負極112は、第1端子用導電部66A及び第1駆動用連絡部73A(ともに図45参照)を介して第1駆動用導電部61に接続されている。図45では、負極112は、第1端子用導電部66Aのうちの縦方向Yの中央部よりもコンデンサ30A,30Bに近い部分に接続されている。また、ドライバ回路140の出力電極141は、制御端子用導電部70及び制御用連絡部77(ともに図45参照)を介して制御用導電部65に接続されている。ドライバ回路140の入力電極142は、第1端子用導電部66B及び第1駆動用連絡部73B(ともに図45参照)を介して第1駆動用導電部61に接続されている。このように、入力電極142は、第1駆動用導電部61のうちの第2基材側面51d寄りの端部に電気的に接続されている。ドライバ回路140の出力電極141は、制御用導電部65及び制御用接続部材84を介してゲート電極23に電気的に接続されている。ドライバ回路140の入力電極142は、第1駆動用導電部61及び第1駆動用接続部材81Cを介してソース電極22に電気的に接続されている。
 レーザシステム100を駆動した場合、電源110の正極111、半導体レーザ素子10のアノード電極11、カソード電極12、スイッチング素子20のドレイン電極21、ソース電極22、第1駆動用接続部材81A、及び電源110の負極112の順に電流が流れる駆動用電流ループが形成される。また、ドライバ回路140の出力電極141、制御用導電部65、制御用接続部材84、ソース電極22、第1駆動用接続部材81C、第1駆動用導電部61、及び入力電極142の順に電流が流れる制御用電流ループが形成される。これら電流ループは、互いに独立して形成されている。
 本実施形態の半導体レーザ装置1Eによれば、以下の効果が得られる。
 (5-1)半導体レーザ装置1Eは、スイッチング素子20のソース電極22と第1駆動用導電部61のうちのコンデンサ30A,30Bの第1端子31に近い側に接続される第1駆動用接続部材81Aと、ソース電極22と第1駆動用導電部61のうちのコンデンサ30A,30Bの第1端子31よりもゲート電極23に近い側とを接続する第1駆動用接続部材81Cとを備える。この構成によれば、スイッチング素子20のソース電極22から第1駆動用接続部材81Aを介して第1駆動用導電部61のうちのコンデンサ30A,30Bの第1端子31に近い側に流れる電流の第1経路である駆動用ループと、ソース電極22から第1駆動用接続部材81Cを介して第1駆動用導電部61のうちのゲート電極23に近い側に流れる電流の第2経路である制御用ループとが個別に形成される。これにより、駆動用ループの電流の変動が制御用ループに影響を及ぼすことが低減される。すなわち、制御用ループにおいて、第1駆動用接続部材81のインダクタンスの影響を受け難くなる。したがって、制御用ループにおいて、第1駆動用接続部材81Aのインダクタンスに起因する逆起電圧が、スイッチング素子20のゲート電極23に印加される電圧Vgsに及ぼす影響を低減できる。
 (5-2)半導体レーザ素子10は、10ns以下のパルス幅のレーザ光を出射可能である。この構成によれば、パルス幅が短くなるにつれて、駆動用ループにおいて電流が流れることが可能な電流経路のうちの最短の経路を形成するため、スイッチング素子20のソース電極22からコンデンサ30A,30Bに最も近い第1駆動用接続部材81Aを介して電流が流れる。このため、コンデンサ30A,30Bから遠い第1駆動用接続部材81Cに対する駆動用ループの影響が低減される。
 [第5実施形態の変更例]
 ・第5実施形態では、第2実施形態の半導体レーザ装置1Bの構成を前提として、導電部60の形状を第2実施形態の導電部60と異ならせた構成であったが、これに限られない。例えば、第1実施形態及び第3実施形態の半導体レーザ装置1A,1Cの構成を前提としてもよい。第1実施形態の半導体レーザ装置1Aの構成を前提とする場合、及び第3実施形態の半導体レーザ装置1Cの構成を前提とする場合では、例えば第1駆動用導電部61Bと第2駆動用導電部62とを一体化する。この構成によれば、第5実施形態の効果と同様の効果が得られる。
 [各実施形態に共通の変更例]
 上記各実施形態は本開示に関する半導体レーザ装置が取り得る形態の例示であり、その形態を制限することを意図していない。本開示に関する半導体レーザ装置は、上記各実施形態に例示された形態とは異なる形態を取り得る。その一例は、上記各実施形態の構成の一部を置換、変更、もしくは、省略した形態、又は上記各実施形態に新たな構成を付加した形態である。以下の変更例において、上記各実施形態と共通する部分については、上記各実施形態と同一の符号を付してその説明を省略する。
 ・上記各実施形態では、支持基板50の基材51の基材主面51aにコンデンサ30A,30Bが実装されていたが、コンデンサ30A,30Bの位置はこれに限定されない。例えば、コンデンサ30A,30Bは、支持基板50の内部に埋め込む構造であってもよい。
 ・上記各実施形態では、連絡部60Cの構成がスルーホール71内に導体部72が埋め込まれる構成であったが、連絡部60Cの構成はこれに限定されない。複数の連絡部60Cの少なくとも1つが導体部72に代えて絶縁性の材料がスルーホール71内に埋め込まれる構成であってもよい。
 ・上記各実施形態では、第1駆動用接続部材81,82の線径、第2駆動用接続部材83の線径、制御用接続部材84の線径、及びレーザ用接続部材85,86の線径が互いに等しいが、これに限定されない。第1駆動用接続部材81,82の線径、第2駆動用接続部材83の線径、制御用接続部材84の線径、及びレーザ用接続部材85,86の線径を個別に設定してもよい。例えば、制御用接続部材84の線径を各駆動用接続部材81~83及びレーザ用接続部材85,86の線径よりも小さくしてもよい。
 ・上記各実施形態では、第1駆動用接続部材81,82、第2駆動用接続部材83、制御用接続部材84、及びレーザ用接続部材85,86を構成する材料は共通であったが、これに限定されない。例えば、制御用接続部材84の材料が各駆動用接続部材81~83及びレーザ用接続部材85,86の材料と異なってもよい。
 ・上記各実施形態では、レーザシステム100のダイオード130が半導体装置1A~1Eの外部に設けられているが、これに限られない。半導体装置1A~1Eは、ダイオード130を内蔵するように構成してもよい。
 上記実施形態および上記変更例から把握することができる技術的思想について以下に記載する。
 (付記1)
 半導体レーザ素子と、
 前記半導体レーザ素子に直列接続され、制御電極、第1駆動電極、及び第2駆動電極を有し、前記制御電極に印加される電圧に応じて前記半導体レーザ素子に流れる電流を制御するスイッチング素子と、
 前記半導体レーザ素子及び前記スイッチング素子に並列接続されるコンデンサと、
 前記コンデンサの第1端子が接続されている第1駆動用導電部と、
 前記第1駆動用導電部と離間して配置されている第2駆動用導電部と、
 前記第1駆動用導電部と前記第2駆動電極とを接続している第1駆動用接続部材と、
 前記第2駆動用導電部と前記第2駆動電極とを接続している第2駆動用接続部材と、
を備える
 半導体レーザ装置。
 (付記2)
 前記半導体レーザ装置は、前記半導体レーザ装置の端子を構成する端子用導電部を備え、
 前記端子用導電部は、
 前記半導体レーザ装置に電力を供給する電源の負極に接続するための第1端子用導電部と、
 前記スイッチング素子の前記制御電極に電圧を印加するドライバ回路のうちの入力電極に接続するための第2端子用導電部と、
を備え、
 前記第1駆動用導電部は、前記第1端子用導電部と電気的に接続されており、
 前記第2駆動用導電部は、前記第2端子用導電部と電気的に接続されている
 付記1に記載の半導体レーザ装置。
 (付記3)
 前記半導体レーザ素子、前記スイッチング素子、及び前記第2駆動用導電部は、前記半導体レーザ装置の平面視において、所定の第1方向に配列されており、
 前記第1駆動用導電部は、前記平面視において、前記スイッチング素子に対して前記第1方向と直交する第2方向に配列されている
 付記1又は2に記載の半導体レーザ装置。
 (付記4)
 前記第1方向において、前記第2駆動用導電部は、前記スイッチング素子に対して前記半導体レーザ素子とは反対側に配置されている
 付記3に記載の半導体レーザ装置。
 (付記5)
 前記半導体レーザ素子は、前記第2方向の中央部に配置されている
 付記3又は4に記載の半導体レーザ装置。
 (付記6)
 前記コンデンサは、前記第1方向において前記スイッチング素子に対して前記半導体レーザ素子寄りに配置されている
 付記3~5のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記7)
 前記コンデンサは、複数個設けられている
 付記1~6のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記8)
 前記コンデンサは、複数個設けられ、かつ、前記スイッチング素子の前記第2方向の両側に配置されており、
 前記第1駆動用導電部は、前記スイッチング素子の前記第2方向の両側に配置されている
 付記3~6のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記9)
 前記半導体レーザ素子は、複数個設けられ、かつ前記第2方向に配列されている
 付記3~6のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記10)
 前記第2方向に隣り合う前記半導体レーザ素子の電極は、素子接続部材によって互いに電気的に接続されている
 付記9に記載の半導体レーザ装置。
 (付記11)
 前記半導体レーザ素子は、前記第2方向に配列された複数の半導体発光層を有し、
 前記複数の半導体発光層は、1つの電極によって互いに接続されている
 付記1~9のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記12)
 前記スイッチング素子の前記第1駆動電極が接続されている第3駆動用導電部を有し、
 前記第3駆動用導電部には、前記半導体レーザ素子が接続されている
 付記1~11のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記13)
 前記コンデンサの第2端子が接続されている第4駆動用導電部を有し、
 前記半導体レーザ装置の平面視において、前記半導体レーザ素子、前記スイッチング素子、及び前記第2駆動用導電部は、所定の第1方向に配列されており、
 前記第4駆動用導電部は、前記第1駆動用導電部に対して前記第1方向に配列されている
 付記1~12のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記14)
 前記半導体レーザ装置は、
 前記第1駆動用導電部及び前記第2駆動用導電部のそれぞれと離間して配置され、前記制御電極と電気的に接続される制御用導電部と、
 前記制御電極と前記制御用導電部とを接続する制御用接続部材と、
を備え、
 前記制御用接続部材と前記第2駆動用接続部材とは隣り合っている
 付記1~13のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記15)
 前記制御用導電部と前記第2駆動用導電部とは隣り合っている
 付記14に記載の半導体レーザ装置。
 (付記16)
 前記半導体レーザ装置は、基板主面と、前記基板主面と垂直な方向において前記基板主面とは反対側を向く基板裏面とを有する支持基板を備え、
 前記基板主面には、少なくとも前記第1駆動用導電部が形成されており、
 前記基板裏面には、前記半導体レーザ装置の端子を構成する端子用導電部が形成されている
 付記1~15のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記17)
 前記端子用導電部は、
 前記半導体レーザ装置に電力を供給する電源の負極に接続するための第1端子用導電部と、
 前記スイッチング素子の前記制御電極に電圧を印加するドライバ回路のうちの入力電極に接続するための第2端子用導電部と、
 前記スイッチング素子の前記第1駆動電極に接続するための第3端子用導電部と、
を備え、
 前記第1端子用導電部は、前記第3端子用導電部と離間して配置されている
 付記16に記載の半導体レーザ装置。
 (付記18)
 前記半導体レーザ装置は、前記スイッチング素子の前記第1駆動電極が接続されている第3駆動用導電部を備え、
 前記端子用導電部は、前記第3駆動用導電部と電気的に接続されている第3端子用導電部を有し、
 前記第1端子用導電部と前記第3端子用導電部とは一体化されている
 付記17に記載の半導体レーザ装置。
 (付記19)
 前記第1駆動用導電部及び前記第2駆動用導電部と前記端子用導電部とを導通させる連絡部を有する
 付記16~18のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記20)
 前記半導体レーザ装置は、前記半導体レーザ素子、前記スイッチング素子、前記コンデンサ、前記第1駆動用導電部、前記第2駆動用導電部、前記第1駆動用接続部材、及び前記第2駆動用接続部材を封止するとともに前記半導体レーザ素子のレーザ光を透過する部分を有する封止部材を備える
 付記1~19のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記21)
 半導体レーザ素子と、
 前記半導体レーザ素子に直列接続され、制御電極、第1駆動電極、及び第2駆動電極を有し、前記制御電極に印加される電圧に応じて前記半導体レーザ素子に流れる電流を制御するスイッチング素子と、
 前記半導体レーザ素子及び前記スイッチング素子に並列接続されているコンデンサと、
 前記コンデンサの第1端子が接続されている第1駆動用導電部と、
を備え、
 前記第1駆動用導電部は、前記コンデンサの第1端子が接続されている第1端部と、前記第1駆動用導電部が延びる方向において前記第1端部とは反対側に設けられている第2端部と、を有し、
 前記第1駆動用導電部のうちの前記コンデンサの前記第1端子に近い側と、前記第2駆動電極とを接続している第1駆動用接続部材と、
 前記第1駆動用導電部のうちの前記コンデンサの前記第1端子よりも前記第2端部に近い側と、前記第2駆動電極とを接続している第2駆動用接続部材と、
 を備える
 半導体レーザ装置。
 (付記22)
 前記半導体レーザ素子は、互いに反対側を向く素子主面及び素子裏面を有し、
 前記第2駆動電極及び前記制御電極はそれぞれ、前記素子主面に形成されており、
 前記制御電極は、前記第2駆動電極に対して前記第1駆動用導電部から遠い側に配置されている
 付記21に記載の半導体レーザ装置。
 (付記23)
 前記第2駆動用接続部材が前記第2駆動電極に接続されている位置は、前記第2駆動電極のうちの前記第1駆動用接続部材が前記第2駆動電極に接続されている位置よりも前記制御電極に近い側である
 付記21又は22に記載の半導体レーザ装置。
 (付記24)
 前記半導体レーザ装置は、前記半導体レーザ素子、前記スイッチング素子、前記コンデンサ、前記第1駆動用導電部、前記第1駆動用接続部材、及び前記第2駆動用接続部材を封止するとともに前記半導体レーザ素子のレーザ光を透過する部分を有する封止部材を備える
 付記21~23のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記25)
 半導体レーザ素子と、
 前記半導体レーザ素子に直列接続され、制御電極、第1駆動電極、及び第2駆動電極を有し、前記制御電極に印加される電圧に応じて前記半導体レーザ素子に流れる電流を制御するスイッチング素子と、
 前記半導体レーザ素子及び前記スイッチング素子に並列接続されているコンデンサと、
 前記コンデンサの第1端子が接続されている第1駆動用導電部と、
 前記スイッチング素子の前記制御電極に電圧を印加するドライバ回路と、
 前記第1駆動用導電部と前記第2駆動電極とを接続している第1駆動用接続部材と、
 前記ドライバ回路と前記第2駆動電極とを接続している第2駆動用接続部材と、
を備える
 半導体レーザ装置。
 (付記26)
 前記半導体レーザ素子及び前記スイッチング素子は、前記半導体レーザ装置の平面視において、所定の第1方向に配列されており、
 前記第1駆動用導電部は、前記スイッチング素子に対して前記平面視において前記第1方向と直交する第2方向に配列されており、
 前記ドライバ回路は、前記第1方向において前記スイッチング素子に対して前記半導体レーザ素子が配置されている側とは反対側に配置されている
 付記25に記載の半導体レーザ装置。
 (付記27)
 前記半導体レーザ素子及び前記スイッチング素子は、前記半導体レーザ装置の平面視において、所定の第1方向に配列されており、
 前記第1駆動用導電部は、前記スイッチング素子に対して前記平面視において前記第1方向と直交する第2方向に配列されており、
 前記ドライバ回路は、前記第2方向において前記スイッチング素子に対して前記第1駆動用導電部が配置されている側とは反対側に配置されている
 付記25に記載の半導体レーザ装置。
 (付記28)
 前記第2駆動用接続部材は、前記第2駆動電極のうちの前記ドライバ回路側に接続されている
 付記25~27のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記29)
 前記ドライバ回路は、互いに反対側を向く主面及び裏面を有するチップとして形成されており、
 前記主面には、前記第2駆動用接続部材が接続されている入力電極と、前記制御電極と電気的に接続されている出力電極とが形成されており、
 前記制御電極と前記出力電極とは、制御用接続部材によって接続されており、
 前記主面に対して垂直な方向からみて、前記入力電極及び前記出力電極は、隣り合っている
 付記25~28のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記30)
 前記半導体レーザ装置は、前記半導体レーザ素子、前記スイッチング素子、前記コンデンサ、前記第1駆動用導電部、前記ドライバ回路、前記第1駆動用接続部材、及び前記第2駆動用接続部材を封止するとともに前記半導体レーザ素子のレーザ光を透過する部分を有する封止部材を備える
 付記25~29のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記31)
 前記第1駆動用接続部材及び前記第2駆動用接続部材はそれぞれ、ワイヤからなる
 付記1~30のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記32)
 前記第1駆動用接続部材は、複数本のワイヤからなり、
 前記第2駆動用接続部材は、1本のワイヤからなる
 付記31に記載の半導体レーザ装置。
 (付記33)
 前記第1駆動用接続部材の線径と前記第2駆動用接続部材の線径とは互いに等しい
 付記31又は32に記載の半導体レーザ装置。
 (付記34)
 前記半導体レーザ素子は、互いに反対側を向く素子主面及び素子裏面を有し、
 前記第2駆動電極及び前記制御電極はそれぞれ、前記素子主面に形成されており、
 前記第1駆動電極は、前記素子裏面に形成されている
 付記1~33のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記35)
 前記半導体レーザ素子は、互いに反対側を向く素子主面及び素子裏面を有し、
 前記第1駆動電極、前記第2駆動電極、及び前記制御電極はそれぞれ、前記素子主面に形成されている
 付記1~34のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記36)
 前記半導体レーザ素子及び前記スイッチング素子は、前記半導体レーザ装置の平面視において、所定の第1方向に配列されており、
 前記第2駆動電極は、前記第1方向において、前記素子主面における前記半導体レーザ素子側に配置されており、
 前記第1駆動電極及び前記制御電極は、前記第1方向において、前記素子主面における前記半導体レーザ素子側とは反対側に配置されている
 付記35に記載の半導体レーザ装置。
 (付記37)
 前記半導体レーザ装置は、
 前記第1駆動用導電部が形成されている基板主面と、厚さ方向において前記基板主面とは反対側を向く基板裏面と、前記基板主面と前記基板裏面との前記厚さ方向の間に設けられ、前記基板主面と前記基板裏面とに交差する方向を向く基板側面を有する支持基板と、
 前記基板裏面に形成され、前記半導体レーザ装置の端子を構成する端子用導電部と、
 前記第1駆動用導電部と前記端子用導電部とを接続している連絡部と、
を有し、
 前記基板側面には、前記基板側面から内方に凹む凹部が設けられており、
 前記連絡部は、前記凹部に設けられている
 付記1~36のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 (付記38)
 前記半導体レーザ素子は、10ns以下のパルス幅のレーザ光を出射可能である
 付記1~37のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
 1A,1B,1C,1D,1E…半導体レーザ装置
 10,10A,10B,10C…半導体レーザ素子
 14,14A,14B…半導体発光層
 17…コンタクト電極(1つの電極)
 20,20A…スイッチング素子
 21…ドレイン電極(第1駆動電極)
 22,22A,22B…ソース電極(第2駆動電極)
 23…ゲート電極(制御電極)
 24a…素子主面
 24b…素子裏面
 30,30A,30B…コンデンサ
 31…第1端子
 32…第2端子
 42…第2電源端子(電源の負極に接続するための電源端子)
 45…ドライバ接続端子(接続端子)
 50…支持基板
 51…基材
 51a…基材主面(基板主面)
 51b…基材裏面(基板裏面)
 51c…第1基材側面(基板側面)
 51d…第2基材側面(基板側面)
 51e…第3基材側面(基板側面)
 51f…第4基材側面(基板側面)
 53A,53B…凹部
 54A,54B,54C…凹部
 55A,55B,55C…凹部
 60…導電部
 60B…裏面側導電部(端子用導電部)
 60C…連絡部
 60D…側面連絡部(連絡部)
 61,61A,61B…第1駆動用導電部
 61a…第1端部
 61b…第2端部
 62…第2駆動用導電部
 63…第3駆動用導電部
 64,64A,64B…第4駆動用導電部
 65…制御用導電部
 66,66A,66B…第1端子用導電部
 67…第2端子用導電部
 68,68A,68B…第3端子用導電部
 81,81A,81B,82…第1駆動用接続部材
 81C…第1駆動用接続部材(第2駆動用接続部材)
 83…第2駆動用接続部材
 84…制御用接続部材
 87…素子接続部材
 90…封止部材
 110…電源
 111…正極
 112…負極
 140…ドライバ回路
 141…出力電極
 142…入力電極
 143…封止部材
 143a…封止主面(ドライバ回路の主面)
 144c…出力電極
 144d…入力電極
 X…横方向(第2方向)
 Y…縦方向(第1方向)

Claims (38)

  1.  半導体レーザ素子と、
     前記半導体レーザ素子に直列接続され、制御電極、第1駆動電極、及び第2駆動電極を有し、前記制御電極に印加される電圧に応じて前記半導体レーザ素子に流れる電流を制御するスイッチング素子と、
     前記半導体レーザ素子及び前記スイッチング素子に並列接続されるコンデンサと、
     前記コンデンサの第1端子が接続されている第1駆動用導電部と、
     前記第1駆動用導電部と離間して配置されている第2駆動用導電部と、
     前記第1駆動用導電部と前記第2駆動電極とを接続している第1駆動用接続部材と、
     前記第2駆動用導電部と前記第2駆動電極とを接続している第2駆動用接続部材と、
    を備える
     半導体レーザ装置。
  2.  前記半導体レーザ装置は、前記半導体レーザ装置の端子を構成する端子用導電部を備え、
     前記端子用導電部は、
     前記半導体レーザ装置に電力を供給する電源の負極に接続するための第1端子用導電部と、
     前記スイッチング素子の前記制御電極に電圧を印加するドライバ回路のうちの入力電極に接続するための第2端子用導電部と、
    を備え、
     前記第1駆動用導電部は、前記第1端子用導電部と電気的に接続されており、
     前記第2駆動用導電部は、前記第2端子用導電部と電気的に接続されている
     請求項1に記載の半導体レーザ装置。
  3.  前記半導体レーザ素子、前記スイッチング素子、及び前記第2駆動用導電部は、前記半導体レーザ装置の平面視において、所定の第1方向に配列されており、
     前記第1駆動用導電部は、前記平面視において、前記スイッチング素子に対して前記第1方向と直交する第2方向に配列されている
     請求項1又は2に記載の半導体レーザ装置。
  4.  前記第1方向において、前記第2駆動用導電部は、前記スイッチング素子に対して前記半導体レーザ素子とは反対側に配置されている
     請求項3に記載の半導体レーザ装置。
  5.  前記半導体レーザ素子は、前記第2方向の中央部に配置されている
     請求項3又は4に記載の半導体レーザ装置。
  6.  前記コンデンサは、前記第1方向において前記スイッチング素子に対して前記半導体レーザ素子寄りに配置されている
     請求項3~5のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  7.  前記コンデンサは、複数個設けられている
     請求項1~6のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  8.  前記コンデンサは、複数個設けられ、かつ、前記スイッチング素子の前記第2方向の両側に配置されており、
     前記第1駆動用導電部は、前記スイッチング素子の前記第2方向の両側に配置されている
     請求項3~6のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  9.  前記半導体レーザ素子は、複数個設けられ、かつ前記第2方向に配列されている
     請求項3~6のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  10.  前記第2方向に隣り合う前記半導体レーザ素子の電極は、素子接続部材によって互いに電気的に接続されている
     請求項9に記載の半導体レーザ装置。
  11.  前記半導体レーザ素子は、前記第2方向に配列された複数の半導体発光層を有し、
     前記複数の半導体発光層は、1つの電極によって互いに接続されている
     請求項1~9のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  12.  前記スイッチング素子の前記第1駆動電極が接続されている第3駆動用導電部を有し、
     前記第3駆動用導電部には、前記半導体レーザ素子が接続されている
     請求項1~11のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  13.  前記コンデンサの第2端子が接続されている第4駆動用導電部を有し、
     前記半導体レーザ装置の平面視において、前記半導体レーザ素子、前記スイッチング素子、及び前記第2駆動用導電部は、所定の第1方向に配列されており、
     前記第4駆動用導電部は、前記第1駆動用導電部に対して前記第1方向に配列されている
     請求項1~12のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  14.  前記半導体レーザ装置は、
     前記第1駆動用導電部及び前記第2駆動用導電部のそれぞれと離間して配置され、前記制御電極と電気的に接続される制御用導電部と、
     前記制御電極と前記制御用導電部とを接続する制御用接続部材と、
    を備え、
     前記制御用接続部材と前記第2駆動用接続部材とは隣り合っている
     請求項1~13のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  15.  前記制御用導電部と前記第2駆動用導電部とは隣り合っている
     請求項14に記載の半導体レーザ装置。
  16.  前記半導体レーザ装置は、基板主面と、前記基板主面と垂直な方向において前記基板主面とは反対側を向く基板裏面とを有する支持基板を備え、
     前記基板主面には、少なくとも前記第1駆動用導電部が形成されており、
     前記基板裏面には、前記半導体レーザ装置の端子を構成する端子用導電部が形成されている
     請求項1~15のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  17.  前記端子用導電部は、
     前記半導体レーザ装置に電力を供給する電源の負極に接続するための第1端子用導電部と、
     前記スイッチング素子の前記制御電極に電圧を印加するドライバ回路のうちの入力電極に接続するための第2端子用導電部と、
     前記スイッチング素子の前記第1駆動電極に接続するための第3端子用導電部と、
    を備え、
     前記第1端子用導電部は、前記第3端子用導電部と離間して配置されている
     請求項16に記載の半導体レーザ装置。
  18.  前記半導体レーザ装置は、前記スイッチング素子の前記第1駆動電極が接続されている第3駆動用導電部を備え、
     前記端子用導電部は、前記第3駆動用導電部と電気的に接続されている第3端子用導電部を有し、
     前記第1端子用導電部と前記第3端子用導電部とは一体化されている
     請求項17に記載の半導体レーザ装置。
  19.  前記第1駆動用導電部及び前記第2駆動用導電部と前記端子用導電部とを導通させる連絡部を有する
     請求項16~18のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  20.  前記半導体レーザ装置は、前記半導体レーザ素子、前記スイッチング素子、前記コンデンサ、前記第1駆動用導電部、前記第2駆動用導電部、前記第1駆動用接続部材、及び前記第2駆動用接続部材を封止するとともに前記半導体レーザ素子のレーザ光を透過する部分を有する封止部材を備える
     請求項1~19のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  21.  半導体レーザ素子と、
     前記半導体レーザ素子に直列接続され、制御電極、第1駆動電極、及び第2駆動電極を有し、前記制御電極に印加される電圧に応じて前記半導体レーザ素子に流れる電流を制御するスイッチング素子と、
     前記半導体レーザ素子及び前記スイッチング素子に並列接続されているコンデンサと、
     前記コンデンサの第1端子が接続されている第1駆動用導電部と、
    を備え、
     前記第1駆動用導電部は、前記コンデンサの第1端子が接続されている第1端部と、前記第1駆動用導電部が延びる方向において前記第1端部とは反対側に設けられている第2端部と、を有し、
     前記第1駆動用導電部のうちの前記コンデンサの前記第1端子に近い側と、前記第2駆動電極とを接続している第1駆動用接続部材と、
     前記第1駆動用導電部のうちの前記コンデンサの前記第1端子よりも前記第2端部に近い側と、前記第2駆動電極とを接続している第2駆動用接続部材と、
     を備える
     半導体レーザ装置。
  22.  前記半導体レーザ素子は、互いに反対側を向く素子主面及び素子裏面を有し、
     前記第2駆動電極及び前記制御電極はそれぞれ、前記素子主面に形成されており、
     前記制御電極は、前記第2駆動電極に対して前記第1駆動用導電部から遠い側に配置されている
     請求項21に記載の半導体レーザ装置。
  23.  前記第2駆動用接続部材が前記第2駆動電極に接続されている位置は、前記第2駆動電極のうちの前記第1駆動用接続部材が前記第2駆動電極に接続されている位置よりも前記制御電極に近い側である
     請求項21又は22に記載の半導体レーザ装置。
  24.  前記半導体レーザ装置は、前記半導体レーザ素子、前記スイッチング素子、前記コンデンサ、前記第1駆動用導電部、前記第1駆動用接続部材、及び前記第2駆動用接続部材を封止するとともに前記半導体レーザ素子のレーザ光を透過する部分を有する封止部材を備える
     請求項21~23のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  25.  半導体レーザ素子と、
     前記半導体レーザ素子に直列接続され、制御電極、第1駆動電極、及び第2駆動電極を有し、前記制御電極に印加される電圧に応じて前記半導体レーザ素子に流れる電流を制御するスイッチング素子と、
     前記半導体レーザ素子及び前記スイッチング素子に並列接続されているコンデンサと、
     前記コンデンサの第1端子が接続されている第1駆動用導電部と、
     前記スイッチング素子の前記制御電極に電圧を印加するドライバ回路と、
     前記第1駆動用導電部と前記第2駆動電極とを接続している第1駆動用接続部材と、
     前記ドライバ回路と前記第2駆動電極とを接続している第2駆動用接続部材と、
    を備える
     半導体レーザ装置。
  26.  前記半導体レーザ素子及び前記スイッチング素子は、前記半導体レーザ装置の平面視において、所定の第1方向に配列されており、
     前記第1駆動用導電部は、前記スイッチング素子に対して前記平面視において前記第1方向と直交する第2方向に配列されており、
     前記ドライバ回路は、前記第1方向において前記スイッチング素子に対して前記半導体レーザ素子が配置されている側とは反対側に配置されている
     請求項25に記載の半導体レーザ装置。
  27.  前記半導体レーザ素子及び前記スイッチング素子は、前記半導体レーザ装置の平面視において、所定の第1方向に配列されており、
     前記第1駆動用導電部は、前記スイッチング素子に対して前記平面視において前記第1方向と直交する第2方向に配列されており、
     前記ドライバ回路は、前記第2方向において前記スイッチング素子に対して前記第1駆動用導電部が配置されている側とは反対側に配置されている
     請求項25に記載の半導体レーザ装置。
  28.  前記第2駆動用接続部材は、前記第2駆動電極のうちの前記ドライバ回路側に接続されている
     請求項25~27のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  29.  前記ドライバ回路は、互いに反対側を向く主面及び裏面を有するチップとして形成されており、
     前記主面には、前記第2駆動用接続部材が接続されている入力電極と、前記制御電極と電気的に接続されている出力電極とが形成されており、
     前記制御電極と前記出力電極とは、制御用接続部材によって接続されており、
     前記主面に対して垂直な方向からみて、前記入力電極及び前記出力電極は、隣り合っている
     請求項25~28のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  30.  前記半導体レーザ装置は、前記半導体レーザ素子、前記スイッチング素子、前記コンデンサ、前記第1駆動用導電部、前記ドライバ回路、前記第1駆動用接続部材、及び前記第2駆動用接続部材を封止するとともに前記半導体レーザ素子のレーザ光を透過する部分を有する封止部材を備える
     請求項25~29のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  31.  前記第1駆動用接続部材及び前記第2駆動用接続部材はそれぞれ、ワイヤからなる
     請求項1~30のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  32.  前記第1駆動用接続部材は、複数本のワイヤからなり、
     前記第2駆動用接続部材は、1本のワイヤからなる
     請求項31に記載の半導体レーザ装置。
  33.  前記第1駆動用接続部材の線径と前記第2駆動用接続部材の線径とは互いに等しい
     請求項31又は32に記載の半導体レーザ装置。
  34.  前記半導体レーザ素子は、互いに反対側を向く素子主面及び素子裏面を有し、
     前記第2駆動電極及び前記制御電極はそれぞれ、前記素子主面に形成されており、
     前記第1駆動電極は、前記素子裏面に形成されている
     請求項1~33のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  35.  前記半導体レーザ素子は、互いに反対側を向く素子主面及び素子裏面を有し、
     前記第1駆動電極、前記第2駆動電極、及び前記制御電極はそれぞれ、前記素子主面に形成されている
     請求項1~34のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  36.  前記半導体レーザ素子及び前記スイッチング素子は、前記半導体レーザ装置の平面視において、所定の第1方向に配列されており、
     前記第2駆動電極は、前記第1方向において、前記素子主面における前記半導体レーザ素子側に配置されており、
     前記第1駆動電極及び前記制御電極は、前記第1方向において、前記素子主面における前記半導体レーザ素子側とは反対側に配置されている
     請求項35に記載の半導体レーザ装置。
  37.  前記半導体レーザ装置は、
     前記第1駆動用導電部が形成されている基板主面と、厚さ方向において前記基板主面とは反対側を向く基板裏面と、前記基板主面と前記基板裏面との前記厚さ方向の間に設けられ、前記基板主面と前記基板裏面とに交差する方向を向く基板側面を有する支持基板と、
     前記基板裏面に形成され、前記半導体レーザ装置の端子を構成する端子用導電部と、
     前記第1駆動用導電部と前記端子用導電部とを接続している連絡部と、
    を有し、
     前記基板側面には、前記基板側面から内方に凹む凹部が設けられており、
     前記連絡部は、前記凹部に設けられている
     請求項1~36のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
  38.  前記半導体レーザ素子は、10ns以下のパルス幅のレーザ光を出射可能である
     請求項1~37のいずれか一項に記載の半導体レーザ装置。
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