WO2013132073A2 - Mehrfachsolarzelle und deren verwendung - Google Patents

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WO2013132073A2
WO2013132073A2 PCT/EP2013/054754 EP2013054754W WO2013132073A2 WO 2013132073 A2 WO2013132073 A2 WO 2013132073A2 EP 2013054754 W EP2013054754 W EP 2013054754W WO 2013132073 A2 WO2013132073 A2 WO 2013132073A2
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Definitions

  • the present invention relates to a multi-junction solar cell having at least four pn junctions.
  • the individual health cells have band gaps of 1.9 eV, 1.4 eV, 1.0 eV and 0.7 eV.
  • the multiple solar cells according to the invention find application in space as well as in terrestrial
  • the aim in the prior art is therefore to develop a quadruple solar cell with optimum bandgap energy for the AMI.5 or AMO solar spectrum.
  • the optimum bandgap energies are in the range of: 1.9 eV / 1.4 eV / 1.0 eV / 0.7 eV.
  • This type of quadruple solar cell is based on the conventional epitaxy of III-V multiple solar cells on germanium substrate.
  • the only change to the current state of the art is the integration of an additional Teifzelle from the diluted nitrogen-containing Materia! Gallium indium nitride arsenide (GalnNAs).
  • GaNAsSb gallium nitride arsenide antimonide
  • BGalnAs boron gallium indium arsenide
  • concentration of N or ⁇ is in the range of 2-4%.
  • Ill-V compounds can be prepared which have a bandgap energy of 1.0 eV and can be grown lattice-matched to germanium.
  • the big problem with this approach is the material quality of the diluted N- (or B) -based materials. So far, it has not been possible to produce solar cells with high efficiency and at the same time with the currently widespread method of organometallic vapor phase epitaxy. However, good results have been achieved with growth by molecular beam epitaxy. However, this method is characterized by significantly higher production costs for the solar cells and is therefore not used today in industrial production. A growth of
  • GalnP / GalnAs / GalnNAs / Ge solar cells using metalorganic gas phase epitaxy is currently not in sight.
  • Volz et al. and Friedman et al. Solar cells of this type are described (Volz, K. et al., Optimization of annealing conditions (Galn) (NAs) for solar cell applications, Journal of Crystal Growth, 2008, 310 (7-9): p.2222-8 and Volz et al., Development and Optimization of Al eV (Galn) (NAs) Solar Cell, in Proceedings of the 34th IEEE Photovoltaic Solar Energy Conference, 2009, Philadelphia, USA, and Friedman, DJ., et al.
  • GalnAs Junction for a GalnP / GaAs / GalnAs (1 e V) / GalnAs (0.7 eV) Four-Junction Solar Cell, in Proceedings of the 4th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion, 2006, Waikoloa, Hawaii, USA).
  • GainP / GaAs / GalnAsP / GalnAs solar cell
  • one half of the structure is grown on one gallium arsenide substrate and the other half on an indium phosphide substrate.
  • Germanium and gaillium arsenide Germanium and gaillium arsenide.
  • Bhusari et al. describes solar cells of this type (Bhusari, D., et al., Direct Semiconductor Bonding Technoiogy (SBT) for high efficiency Ilt-V multi-junction solar cells, in Proceedings of the 37th IEER Photovoltaic Specialisis Conference, 2011, Seattle, Washington, USA).
  • SBT Direct Semiconductor Bonding Technoiogy
  • the multiple solar cells according to the invention should have band gaps of 1.9 eV, 1.4 eV, 1.0 eV and 0.7 eV and at the same time show improved radiation stability.
  • a multiple solar cell with at least four pn junctions containing a first, backside and a pn junction germanium subcell, a second and a third subcell of III-V semiconductors and at least one further, front Tei! Cell from III-V - Semiconductors provided.
  • a multiple solar cell according to the invention is characterized in that the second subcell has a lattice constant which is at least 1% greater than the lattice constants of all other partial cells and the second subcell with the adjacent subcells via a metamorphic buffer layer for adapting the lattice constants of the adjacent subcells and on the opposite side of the second subcell is connected to the adjacent subcell via a wafer bonding connection.
  • a further embodiment according to the invention relates to a multiple solar cell with at least four pn junctions comprising a first, backside and a pn junction germanium subcell, a second and a third subcell of ill-V semiconductors, and at least one further, frontal subcell from Illum.
  • V semiconductors which is characterized in that the second subcell has a lattice constant which is greater by at least 1% than the lattice constant of all other subcells and the second subcell with the adjacent germanium subcell via a metamorphic buffer layer to adapt the lattice constant of the adjacent Partial cells and on the opposite side is connected via a Waferbond connection with the adjacent sub-cells.
  • a multi-junction solar cell can be provided by combining epitaxial growth on two different substrates, metamorphic growth and wafer bonding.
  • Three of the pn junctions in this structure are lattice-matched transitions to the germanium or gallium arsenide subcell because both crystals have a very similar lattice constant.
  • These three pn junctions are the front subcell, the third subcell, and the back germanium subcell.
  • Teiizellen now another subcell (the second subcell) is inserted with a bandgap energy of 1.0 eV.
  • This second subcell has a significantly larger lattice constant compared to the materials of the other subcells.
  • the lattice constant be gradually reduced from the lattice constant of the third subcell ⁇ e.g., by a metamorphic buffer.
  • GaAs to the lattice constant of the second subcell (e.g., GalnAs) or from the lattice constant of the first subcell (e.g., Ge) to the lattice constant of the second subcell (e.g., GalnAs).
  • the second subcell consists of gallium indium arsenide (GalnAs), gallium arsenide antimonide (GaAsSb), gallium indium arsenide phosphide (GalnAsP) or aluminum gallium indium arsenide (AIGalnAs).
  • GaAsSb gallium arsenide antimonide
  • GaAsP gallium indium arsenide phosphide
  • AIGalnAs aluminum gallium indium arsenide
  • the content of indium is preferably in the range from 10 to 80% by weight, particularly preferably in the range from 20 to 50% by weight .-%.
  • the content of antimony is preferably in the range from 13 to 50% by weight.
  • the second subcell has a bandgap energy between 0.7 eV and 1.4 eV, more preferably between 0.9 eV and 1.1 eV.
  • the best results can be achieved with a second subcell with a bandgap energy of 1.0 eV.
  • a further preferred embodiment provides that the second subcell has a lattice constant which is greater by at least 1%, preferably by 2 to 2.5%, than the lattice constants of all other subcells.
  • the metamorphic buffer layer is preferably composed of gallium indium antimonide (GalnAs), alumintum galium indium arsenide (AIGalnAs), gallium indium phosphide (GalnP), aluminum gallium indium phosphide (AlGainP), gallium arsenide Antimonide (GaAsSb), aluminum arsenide anitmonide (AlAsSb), gallium phosphide antimonide (GaPSb) or aluminum phosphide antimonide (AlPSb) and may be either p- or n-type, depending on the location of the tunnel diodes, the Lattice constant through several steps or continuously from the lattice constant of the third partial line (eg GaAs) to the lattice constant.
  • constant of the second subcell eg, GalnAs
  • the lattice constant of the first subcell eg, Ge
  • lattice constant of the second subcell
  • the wafer-bonding connection between the affected sub-cells is electrically conductive and optically transparent.
  • Optical transparency in the context of the present invention is to be understood as meaning a transmission of at least 80%, preferably of at least 95%, at wavelengths of at least 900 nm.
  • the wafer-bonding connection can take place between two p-conducting or two n-conducting semiconductor layers, which preferably have a high doping.
  • the third subcell is preferably gallium arsenide (GaAs), gallium indium arsenide (GalnAs), or aluminum gallium indium arsenide (AlGalnAs).
  • the at least one further front-side subcell preferably consists of gallium indium phosphide (GalnP), aluminum gallium arsenide (AlGaAs) or aluminum-Gauminium indium phosphide (AlGalnP) or contains these substantially.
  • a multiple solar cell is provided with four sub-cells, wherein the fourth Teiizelle represents a front partial line.
  • one or more sub-cells are arranged between the front-side subcell and the third subcell, from which then multiple solar cells with five or more subcells can result.
  • the individual subcells prefferably have further functional protective layers, in particular tunnel diodes for the electrical connection of the individual subsegments, barrier layers on the front and back of the subcells, highly doped contact layers, internal reflection layers and / or antireflection layers on the front side of the cell.
  • the metamorphic buffer layer and the second subcell is grown on the first germanium Teiizelle.
  • the third subcell of III-V semiconductors and the at least one further, front-side subcell are then grown separately therefrom and stabilized on the front side on a carrier (for example made of sapphire) by means of a detachable adhesive. These two subcell structures are then used between the second and third Operazelie means
  • Wafer bonding connected. Subsequently, the carrier and the adhesive are removed.
  • the metamorphic buffer layer and the second subcell is grown.
  • the at least one further, front-side partial cell and the third partial cell made of III-V semiconductors are grown inversely on a GaAs or Ge substrate. These two subcell structures are subsequently connected by wafer bonding between the second and third subcell. Finally, the GaAs or Ge substrate is peeled off.
  • the at least one more grown on the front part cell On a GaAs or Ge substrate, the at least one more grown on the front part cell. Subsequently, on the side facing away from the GaAs or Ge substrate side of the at least one front-side part cell, the third sub-cell of Il! -V semiconductors grown. On the third subcell, the metamorphic buffer layer and the second subcell are then grown on the side remote from the at least one further, front-side subcell.
  • This subcell structure is connected to the surface of the second subcell with a first, separately produced germanium subcell by means of wafer bonding. Following the wafer bonding, the separation of the GaAs or Ge substrate takes place.
  • GainP / GaAs / germanium can be integrated.
  • the growth method of organometallic gas phase epitaxy can be used with their proven low cost.
  • the structure benefits from the high radiation stability of the germanium subzelie for the wide-area application.
  • the processing of multiple solar cells on germanium is still established in the industry, as well as the processing of the front. Herewith existing production processes can be used.
  • the described approach is also cost-effective and interesting in terms of cost, if a GaAs substrate removal process ⁇ necessary for the growth of the upper sub-cells ⁇ can be found, which allows the substrate to be recycled several times for growth.
  • the solar cells according to the invention can be used both for space applications and for use in terrestrial concentrator systems.
  • the present invention has the advantage that established methods of metalorganic gas phase epitaxy can be used, which are based on epitaxial structures for GalnP, GaAs and germanium. Since the production of the contacts on the back side of the germanium partial cell and on the front side are also known and established, the conventional process chain can be kept so that the multiple solar cell according to the invention can easily be integrated into the existing production technology. Another significant advantage is that the Mehrfachsoielelie invention has a very high efficiency, since the bandgap energies of all sub-cells can be adjusted so that they are close to the theoretical optimum. For the space application, there is another advantage, since the germanium cell has a high radiation stability.
  • Fig. 1 shows a first embodiment of the invention
  • Fig. 2 shows a second embodiment of a Mehrfachsoielzelie invention.
  • Fig. 3 shows a Mehrfachsoiarzelie invention with a
  • Fig. 5 shows a wafer bond according to the invention between two semiconductors with different lattice constants.
  • Fig. 1 is a multiple solar cell 1 with a rear side
  • Germanium-Tetlzelle 2 shown. Onto this subcell a metamorphic buffer 3 and the second subcell of GalnAs have grown. The second subcell is connected to a third subcell 5 of gallium arsenide via a wafer bonding 10.
  • the multiple solar cell has another front-side part cell 6 made of GalnP. Furthermore, tunnel diodes 11, 11 'and 11 "are integrated into the multi-junction solar cell for the electrical connection of the sub-cells.
  • a second embodiment of the multi-junction solar cell 1 according to the invention is shown.
  • This multiple solar cell is based on the inverted growth of the structure.
  • the upper part of the multiple solar cell 1 ie the partial cell 6 made of GaInP and the partial cell 5 made of GaAs are first grown inverted on a substrate made of gallium arsenide.
  • the metamorphic buffer 3 and the second subcell 4 of GalnAs are grown.
  • the metamorphic buffer 3 was involved in the transfer of the lattice constant of GaAs to GalnAs.
  • the rear germanium partial cell 2 is manufactured separately and then connected to the inverted grown solar cell structure of GalnP / GaAs / GalnAs via the wafer bond 10.
  • tunnel diodes 11, 11 'and 11 "for the electrical connection of the metal cells are integrated into the multiple solar cell 1.
  • the multiple solar cell 1 furthermore has a window layer 12, an antireflection layer 13 and front side contacts 14 and 14 'on.
  • a multiple solar cell 1 according to the invention is shown in FIG.
  • a sequence of layers on Ge with a lattice constant of 5.65 Angstrom is first prepared.
  • the Ge sub-line 1 is generated by diffusion and growth of an AIGalnP window layer in the MOVPE reactor.
  • a tunnel diode 11 "consisting of degenerate n- and p-type semiconductor layers is grown on the Ge subcell 2.
  • the tunnel diode can be made of further
  • GalnP buffer layer 3 in which the lattice constant of Ge up to Gao.71ino.29As is converted with a band gap energy of 1.0 eV.
  • a transmission electron micrograph of such a buffer layer is shown in FIG. Due to the difference in the lattice constant of 2.3%, misfit dislocations occur which run horizontally through the buffer layer. These can be seen as dark lines in the TEM image. By a suitable choice of the growth conditions, the density of piercing dislocations can be kept so low that it is still possible to produce good quality solar cells on the buffer layers.
  • the subcell consists of one
  • Subcell 4 follows a highly doped n-Gao.71lno.29As bonding layer.
  • a second layer sequence is deposited on a separate GaAs or Ge substrate.
  • This first contains a release layer, which can later be used to separate the substrate from the solar cell structure.
  • An example is an AlAs intermediate layer, which selectively reacts in hydrofluoric acid etch the remaining layers.
  • This is followed by a GaAs contact layer with high doping, a partial cell 6 from Gao.5lno.5P, a tunnel diode 11, a GaAs or AlGaAs subcell 5 and a tunnel diode 11 '.
  • the subcells and tunnel diodes can contain additional barrier layers with higher bandgap energy, as in the subcell 4 and the tunnel diode 11.
  • All semiconductor layers of the layer sequence are lattice-matched to each other and have a lattice constant of about 5.65 angstroms.
  • the two layer structures are now connected to one another via a wafer bond.
  • a direct bond which fulfills the properties of transparency and very good conductivity.
  • the two layer structures are deoxidized in a vacuum under bombardment with Ar atoms. This results in a 1-3 nm thin amorphous layer on the surface.
  • the two layer structures are then pressed together at room temperature under a pressure of 5-10 kNewton. To increase the bonding energy further heating at temperatures of 100 - 500 ° C may be necessary. Furthermore, it is necessary to polish the surface of the layered structures if the surface roughness is worse than 1 nm.
  • Such a direct wafer bond between two semiconductors with different lattice constants is shown in FIG. 5 in a transmission electron micrograph. One sees the amorphous intermediate layer at the bond interface.
  • the GaAs or Ge substrate is removed from the layer structure and the solar cell is processed with contacts and antireflection layers.

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Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Mehrfachsolarzelle mit mindestens vier pn-Übergängen. Die einzelnen Teilzellen weisen dabei Bandlücken von 1,9 eV, 1,4 eV, 1,0 eV und 0,7 eV auf. Die erfindungsgemäßen Mehrfachsolarzellen finden Anmeldung im Weltraum sowie in terrestrischen Konzentratorsystemen.

Description

Mehrfachsolarzelie und deren Verwendung
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Mehrfachsolarzelle mit mindestens vier pn-Übergängen. Die einzelnen Teüzellen weisen dabei Bandlücken von 1,9 eV, 1,4 eV, 1,0 eV und 0,7 eV auf. Die erfindungsgemäßen Mehrfachsolarzellen finden Anmeldung im Weltraum sowie in terrestrischen
Konzentratorsystemen.
Es ist bekannt, dass so genannte Mehrfachsolarzellen davon profitieren, wenn die Anzahl der Teilzellen erhöht werden kann. Wichtig ist dabei allerdings neben der Anzahl der Teüzellen die so genannte Bandiückenenergien der Materialien. Diese müssen optimal an das Sonnenspektrum angepasst werden. Die heute besten Solarzellen bestehen aus drei pn-Übergängen in den Materialien Gallium-Indium-Phosphid (GalnP), Gallium-Indium-Arsenid (GalnAs) und Ger- manium. Die Materialien können gitterangepasst zueinander gewachsen werden.
Es ist seit langem bekannt, dass die Effizienz dieser Solarzellen deutlich erhöht werden kann, indem eine zusätzliche Teilzelie zwischen der GalnAs-Teilzelle und der Germanium-Teilzeile eingesetzt wird. Diese Teilzelle sollte idealerweise eine Bandlückenenergie von etwa 1,0 eV besitzen. Problematisch ist, dass kein bekannter Halbleiter mit hoher Materialqualität und mit der Gitterkonstante von Galliumarsenid (GaAs) oder Germanium diese Anforderung erfüllt. Aus diesem Grund werden heute eine Vielzahl neuer Fertigungsmethoden und Konzepte diskutiert, um dieses Problem zu lösen. Dazu gehören
Konzepte, bei denen die Solarzellenstruktur in invertierter Reihenfolge gewachsen wird,
Konzepte bei denen die Solarzellenstruktur auf einer anderen Gitterkonstante aufgebaut wird,
Konzepte bei denen neue Materialien wie die verdünnten Nitride eingesetzt werden sowie
Konzepte bei denen Wafer Bonding eingesetzt wird.
Ziel ist es daher im Stand der Technik, eine Vierfachsolarzelle mit optimaler Bandlückenenergie für das AMI.5 bzw. AMO Sonnenspektrum zu entwickeln. Die optimalen Bandlückenenergien liegen dabei im Bereich von: 1,9 eV/1,4 eV/1,0 eV/0,7 eV.
Es gibt verschiedene Ansätze zur Herstellung solcher Ill-V-Mehrfachsolarzellen mit vier pn-Übergängen. Die wichtigsten sollen im Folgenden kurz erläutert werden: 1. GalnP/GalnAs/GalnNAs/Ge Solarzelle:
Dieser Typ einer Vierfachsolarzelle baut auf der herkömmlichen Epitaxie von lll-V-Mehrfachsolarzellen auf Germaniumsubstrat auf. Einzige Änderung zum heutigen Stand der Technik ist die Integration einer zusätzlichen Teifzelle aus dem verdünnt stickstoffhaltigen Materia! Gallium-Indium-Nitrid-Arsenid (GalnNAs). Alternativ zu GalnNAs können auch Halbleiter wie Gallium-Nitrid- Arsenid-Antimonid (GaNAsSb) oder Bor-Gallium-Indium-Arsenid (BGalnAs) eingesetzt werden. Die Konzentration von N bzw. ß liegt im Bereich von 2-4 %. So können Ill-V-Verbindungen hergestellt werden, welche eine Bandlückenenergie von 1,0 eV aufweisen und gitterangepasst zu Germanium gewachsen werden können. Das große Problem bei diesem Ansatz ist die Materialqualität der verdünnt N- (bzw. B)-ha!tigen Materialien. Bisher ist es nicht möglich gewesen Solarzellen mit hoher Effizienz und gleichzeitig mit dem heute verbreiteten Verfahren der metallorganischen Gasphasenepitaxie herzustellen. Gute Ergebnisse wurden allerdings bei Wachstum mittels Molekularstrahl-Epitaxie erreicht. Diese Methode zeichnet sich allerdings durch deutlich höhere Herstellungskosten für die Solarzellen aus und findet daher heute keine Anwendung in der industriellen Produktion. Ein Wachstum der
GalnP/GalnAs/GalnNAs/Ge-Solarzellen mittels metaliorganischer Gasphasenepitaxie ist momentan nicht in Sicht. In Publikationen von Volz et al. und Friedman et al. werden Solarzellen von diesem Typ beschrieben (Volz, K. et al., Optimization of annealing conditions of (Galn)(NAs) for solar cell applications, Journal of Crystal Growth, 2008, 310 (7-9): p. 2222-8 sowie Volz et al., Development and optimization of a l eV (Galn)(NAs) solar cell, in Proceedings of the 34th IEEE Photovoltaic Solar Energy Conference, 2009, Philadelphia, USA sowie Friedman, DJ., et al. 0,7-eV GalnAs Junction for a GalnP/GaAs/GalnAs (1 e V)/GalnAs (0.7 eV) Four-Junction Solar Cell, in Proceedings of the 4th World Conference on Photovoltaic Energy Conversion, 2006, Waikoloa, Hawaii, USA). 2. GainP/GaAs/GalnAsP/GalnAs Solarzelle:
Bei diesem Typ einer Vierfachsolarzelie wird die eine Hälfte der Struktur auf ein Galliumarsenid-Substrat gewachsen und die andere Hälfte auf ein Indium- Phosphid-Substrat. Es können prinzipiell die gewünschten Bandlücken der
Materialien erreicht werden. Bei diesem Konzept wird der obere und untere Teil der Struktur über einen Wafer-Bond oder über mechanisches Stapeln verbunden. Der Nachteil dieser Struktur besteht darin, dass die untere Teilzelle auf einem Indium-Phosphid-Substrat gewachsen werden muss. Dieses Sub- strat ist extrem teuer (die Kosten liegen etwa 8-10 mal höber im Vergleich zu
Germanium und Gailliumarsenid). In der Publikation von Bhusari et al. werden Solarzellen dieses Typs beschrieben (Bhusari, D., et al,, Direct semiconductor bonding technoiogy (SBT)for high efficiency Ilt-V multi-junction solar cells, in Proceedings of the 37th IEER Photovoltaic Specialisis Conference, 2011, Seat- tle, Washington, USA).
3. Invertierte GalnP/GaAs/GalnAs/GalnAs Solarzelle:
Bei diesem Konzept werden alle Teilzellen invertiert auf einem
Galliumarsenid- oder Germanium-Substrat aufgewachsen. Danach wird die
Struktur auf ein Substrat zur Stabilisierung übertragen, das Galliumarsenid- bzw. Germanium-Substrat entfernt und die Solarzelle prozessiert. Die niedrigen Bandlückenenergien von GalnAs im Bereich von 1,0 eV und 0,7 eV erfordern das Wachstum von metamorphen Pufferschichten mit einer sehr hohen Verspannung, Hierdurch entstehen zahlreiche Versetzungen, welche einen
Einfiuss auf den Wirkungsgrad der Solarzelle haben. Wetter hat sich herausgestellt, dass das GalnAs-Material für die Weitraumanwendung weniger geeignet ist, da die Solarzellen unter der Bestrahlung mit hochenergetäschen Elektronen und Protonen schneller degradieren. In Friedman et al. werden
Solarzellen dieses Typs beschrieben (Friedman, DJ., et ai. 0, 7-eV GalnAs June- tion for a GalnP/GaAs/GalnAs (1 e V)/GalnAs (0.7 eV) Four-Junction Solar Cell, in Proceedings of the 4th World Conference on Photovoltaic Energy Conver- sion, 2006, Waikoloa, Hawaii, USA).
Ausgehend hiervon war es Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zur Herstellung von Mehrfachsolarzellen bereitzustellen, das einfach zu handhaben ist und mit herkömmlichen epitaktischen Verfahren kombinierbar ist. Gleichzeitig sollen die erfindungsgemäßen Mehrfachsolarzellen Bandlücken von 1,9 eV, 1,4 eV, 1,0 eV und 0,7 eV aufweisen und dabei gleichzeitig eine verbesserte Strahlungsstabiiität zeigen.
Diese Aufgabe wird durch die Mehrfachsolarzelle mit den Merkmalen des Anspruchs 1, das Verfahren zur Herstellung der Mehrfachsolarzelle mit den Merkmalen der Ansprüche 11 bis 13 gelöst. Die weiteren abhängigen Ansprüche zeigen vorteilhafte Weiterbildungen auf. In Anspruch 15 werden erfindungsgemäße Verwendungen der Mehrfachsolarzelie genannt.
Erfindungsgemäß wird eine Mehrfachsolarzelle mit mindestens vier pn- Übergängen enthaltend eine erste, rückseitige und einen pn-Übergang aufweisende Germanium-Teilzelle, eine zweite und eine dritte Teilzelle aus lll-V- Halbleitern sowie mindestens eine weitere, frontseitige Tei!zelle aus lll-V- Halbleitern bereitgestellt.
Eine erfindungsgemäße Mehrfachsolarzelle zeichnet sich dadurch aus, dass die zweite Teilzelle eine Gitterkonstante aufweist, die um mindestens 1 % größer ist als die Gitterkonstanten aller anderen Teilzelien und die zweite Teilzelle mit den benachbarten Teilzellen über eine metamorphe Pufferschicht zur Anpassung der Gitterkonstanten der benachbarten Teilzellen und auf der gegenüberliegenden Seite der zweiten Teilzelle über eine Waferbond- Verbindung mit der benachbarten Teilzelle verbunden ist. Eine weitere erfindungsgemäße Ausführungsform betrifft eine Mehrfachsolarzelle mit mindestens vier pn-Übergängen enthaltend eine erste, rückseitige und einen pn-Übergang aufweisende Germanium-Teilzelle, eine zweite und eine dritte Teilzelle aus ill-V-Halbleitern sowie mindestens eine weitere, frontseitige Teilzelle aus Ill-V-Halbleitern, die dadurch gekennzeichnet ist, dass die zweite Teilzelle eine Gitterkonstante aufweist, die um mindestens 1 % größer ist als die Gitterkonstante aller anderen Teilzellen und die zweite Teilzelle mit der benachbarten Germanium-Teilzelle über eine metamorphe Pufferschicht zur Anpassung der Gitterkonstante der benachbarten Teilzellen und auf der gegenüberliegenden Seite über eine Waferbond-Verbindung mit den benachbarten Teilzellen verbunden ist.
Erfindungsgemäß kann somit eine Mehrfachsolarzelle durch Kombination von epitaktischem Wachstum auf zwei verschiedenen Substraten, metamorphem Wachstum und Waferbonding bereitgestellt werden. Drei der pn-Übergänge in dieser Struktur sind zur Germanium- bzw. Galliumarsenid-Teilzelle gitteran- gepasste Übergänge, da beide Kristalle eine sehr ähnliche Gitterkonstante aufweisen. Diese drei pn-Übergänge sind die frontseitige Teilzelle, die dritte Teilzelle und die rückseitige Germanium-Teilzelle. Zwischen diesen Teiizellen ist nun eine weitere Teilzelle (die zweite Teilzelle) mit einer Bandlückenenergie von 1,0 eV eingefügt. Diese zweite Teilzelle hat eine deutlich größere Gitterkonstante im Vergleich zu den Materialien der anderen Teilzellen. Für den Einbau der zweiten Teilzelle in die Mehrfachsolarzelle ist es erforderlich, dass die Gitterkonstante mit Hilfe eines metamorphen Puffers allmählich von der Gitterkonstante der dritten Teilzelle {z.B. GaAs) bis zur Gitterkonstante der zweiten Teilzelle (z.B. GalnAs) oder von der Gitterkonstante der ersten Teilzelle (z.B. Ge) bis zur Gitterkonstante der zweiten Teilzelle (z.B. GalnAs) verändert wird.
Vorzugsweise besteht die zweite Teilzelle aus Gallium-Indium-Arsenid (GalnAs), Gallium-Arsenid-Antimonid (GaAsSb), Gallium-indium-Arsenid- Phosphid (GalnAsP) oder Aluminium-Gallium-Indium-Arsenid (AIGalnAs). Besonders bevorzugt handelt es sich hierbei um eine GalnAs-Teilzelle.
Handelt es sich bei der zweiten Teilzelle um eine Indium enthaltende Teilzelle, so liegt der Gehalt an Indium, bezogen auf den Gesamtgehalt an HI- Halbleitern, bevorzugt im Bereich von 10 bis 80 Gew.-%, besonders bevorzugt im Bereich von 20 bis 50 Gew.-%.
Handelt es sich bei der zweiten Teilzelle um eine Antimon enthaltende Teilzelle, so liegt der Gehalt an Antimon, bezogen auf den Gesamtgehalt an V- Halbleitern, bevorzugt im Bereich von 13 bis 50 Gew.- .
Vorzugsweise weist die zweite Teilzelle eine Bandlückenenergie zwischen 0,7 eV und 1,4 eV, besonders bevorzugt zwischen 0,9 eV und 1,1 eV auf. Die optimalsten Ergebnisse lassen sich mit einer zweiten Teilzelle mit einer Bandlückenenergie von 1,0 eV erzielen.
Eine weitere bevorzugte Ausführungsform sieht vor, dass die zweite Teilzelle eine Gitterkonstante aufweist, die um mindestens 1 %, bevorzugt um 2 bis 2,5 % größer ist als die Gitterkonstanten aller anderen Teilzellen.
Die metamorphe Pufferschicht besteht vorzugsweise aus Gallium-Indium- Antimonid (GalnAs), Alumintum-GalSium-lndium-Arsenid (AIGalnAs), Gallium- Indium-Phosphid (GalnP), Aluminium-Gallium-Indium-Phosphid (AlGainP), Gallium-Arsenid-Antimonid (GaAsSb), Aluminium-Arsenid-Anitmonid (AlAsSb), Gallium-Phosphid-Anitmonid (GaPSb) oder Aluminium-Phosphid-Anitmonid (AlPSb) und kann je nach Lage der Tunneldioden entweder p- oder n-leitend ausgeführt sein, wobei die Gitterkonstante durch mehrere Schritte oder kontinuierlich von der Gitterkonstante der dritten Teilzeile (z.B. GaAs) bis zur Git- terkonstante der zweiten Teilzelle (z.B. GalnAs) oder von der Gitterkonstante der ersten Teilzelle (z.B. Ge) bis zur Gitterkonstante der zweiten Teilzelle (z.B. GalnAs) überführt wird.
Es ist weiter bevorzugt, dass die Waferbond-Verbindung zwischen den betroffenen Teilzellen elektrisch leitfähig und optisch transparent ist. Unter optischer Transparenz im Rahmen der vorliegenden Erfindung ist eine Transmission von mindestens 80 %, bevorzugt von mindestens 95 % bei Wellenlängen von mindestens 900 nm zu verstehen.
Die Waferbond-Verbindung kann je nach Lage der Tunneldioden zwischen zwei p-leitenden oder zwei n-leitenden Haibleiterschichten erfolgen, die bevorzugt eine hohe Dotierung aufweisen.
Hinsichtlich der weiteren Teilzellen sind grundsätzlich alle im Stand der Technik bekannten Materialien einsetzbar, die die Vorgaben hinsichtlich der Bandlückenenergie erfüllen.
Die dritte Teilzelle besteht vorzugsweise aus Gallium-Arsenid (GaAs), Gallium- Indium-Arsenid (GalnAs) oder Aluminium-Galltum-Indium-Arsenid (AlGalnAs). Die mindestens eine weitere, frontseitige Teilzelle besteht vorzugsweise aus Gallium-Indium-Phosphid (GalnP), Aluminium-Gallium-Arsenid (AlGaAs) oder Aluminium-Gaüium-Indium-Phosphid (AlGalnP) oder enthält diese im Wesentlichen.
Bevorzugt wird eine Mehrfachsolarzelle mit vier Teilzellen bereitgestellt, wobei die vierte Teiizelle eine frontseitige Teilzeile darstellt. Ebenso ist es aber auch möglich, dass eine oder weitere Teilzellen zwischen der frontseitigen Teilzelle und der dritten Teilzelle angeordnet sind, woraus dann Mehrfachsolarzellen mit fünf oder mehr Teilzellen resultieren können. Es ist weiter bevorzugt dass die einzelnen Teilzellen weitere Funktionsschutzschichten aufweisen, insbesondere Tunneldioden zur elektrischen Verbindung der einzelnen Teilzeiien, Barriereschichten an der Front- und Rückseite der Teilzellen, hochdotierte Kontaktschichten, interne Reflexionsschichten und/oder Antireflexschichten an der Vorderseite der Zelle.
Erfindungsgemäß werden ebenso Verfahren zur Herstellung der zuvor beschriebenen IViehrfachsolarzelle bereitgestellt. Hierbei gibt es grundsätzlich drei verschiedene Ansätze:
Auf der ersten Germanium-Teiizelle wird die metamorphe Pufferschicht und die zweite Teilzelle aufgewachsen. Anschließend wird hiervon separat auf einem GaAs- oder Ge-Substrat die dritte Teilzelle aus lll-V- Halbleitern sowie die mindestens eine weitere, frontseitige Teilzelle aufgewachsen und an der Frontseite auf einem Träger (z.B. aus Saphir) mittels ablösbarem Kleber stabilisiert. Diese beiden Teilzellenstrukturen werden dann zwischen der zweiten und dritten Teilzelie mittels
Waferbonding verbunden. Anschließend werden der Träger und der Kleber entfernt.
Auf der ersten Germanium-Teiizelle wird die metamorphe Pufferschicht und die zweite Teilzelle aufgewachsen. Separat hiervon werden auf einem GaAs- oder Ge-Substrat die mindestens eine weitere, frontseitige Teilzelie und die dritte Teilzelle aus Ill-V-Halbleitern invertiert aufgewachsen. Diese beiden Teilzellenstrukturen werden im Anschluss zwischen der zweiten und dritten Teilzelle mittels Waferbonding verbunden. Abschließend wird das GaAs- oder Ge-Substrat abgelöst.
3. Auf einem GaAs- oder Ge-Substrat wird die mindestens eine weitere frontseitige Teilzelle aufgewachsen. Anschließend wird auf der von dem GaAs- oder Ge-Substrat abgewandten Seite der mindestens einen frontseitigen Teilzelle die dritte Teilzelle aus Il!-V-Halbleitern aufgewachsen. Auf der dritten Teilzelle wird dann auf der von der mindestens einen weiteren, frontseitigen Teilzelle abgewandten Seite die metamorphe Pufferschicht und die zweite Teilzelle aufgewachsen. Diese Teilzellenstruktur wird an der Oberfläche der zweiten Teilzelle mit einer ersten, separat hergestellten Germanium-Teilzelle mittels Waferbonding verbunden. Im Anschluss an das Waferbonding erfolgt dann die Ablösung des GaAs- oder Ge-Substrats.
Neu an diesem Ansatz ist, dass eine GalnAs-Teilzeile mit einer optimalen Bandlückenenergien von 1,0 eV über Wafer-Bonding und mit metamorphem Pufferwachstum in eine herkömmliche Solarzellenstruktur aus
GainP/GaAs/Germanium integriert werden kann. Hierdurch kann die Wachstumsmethode der metallorganischen Gasphasenepitaxie mit ihren nachgewiesenen geringen Kosten verwendet werden. Weiterhin profitiert die Struktur von der hohen Strahlungsstabilität der Germanium-Unterzelie für die Weitraumanwendung. Die Prozessierung von Mehrfachsolarzellen auf Germanium ist weiterhin in der Industrie bereits etabliert, ebenso wie die Prozessierung der Vorderseite. Hiermit können bestehende Produktionsprozesse genutzt werden. Der beschriebene Ansatz ist besonders dann auch von den Kosten wirtschaftlich und interessant, wenn ein Ablöseverfahren für das GaAs-Substrat {notwendig zum Wachstum der oberen Teilzellen} gefunden werden kann, welches es erlaubt das Substrat mehrfach für das Wachstum zu recyceln.
Die erftndungsgemäßen Solarzellen können sowohl für die Weltraumanwendung als auch die Anwendung in terrestrischen Konzentratorsystemen eingesetzt werden. Die vorliegende Erfindung bringt den Vorteil mit sich, dass etablierte Verfahren der metaliorganischen Gasphasenepitaxie eingesetzt werden können, die auf epitaktischen Strukturen für GalnP, GaAs und Germanium basieren. Da auch die Herstellung der Kontakte auf der Rückseite der Germanium-Teilzelle und auf der Vorderseite bekannt und etabliert sind, kann so die herkömmliche Prozesskette betbehalten werden, so dass die erfindungsgemäße Mehrfachsolarzelle leicht in die bestehende Fertigungstechnologie integriert werden kann. Ein weiterer wesentlicher Vorteil besteht darin, dass die erfindungsgemäße Mehrfachsoiarzelie einen sehr hohen Wirkungsgrad aufweist, da die Bandlückenenergien aller Teilzellen so eingestellt werden können, dass diese nahe am theoretischen Optimum liegen. Für die Weltraumanwendung ergibt sich ein weiterer Vorteil, da die Germaniumzelle eine hohe Strahlungsstabilität besitzt.
Anhand des nachfolgenden Beispiels und der Figuren soll der erfindungsgemäße Gegenstand näher erläutert werden, ohne diesen auf die hier gezeigten spezifischen Ausführungsformen einschränken zu wollen.
Fig. 1 zeigt eine erste Ausführungsform der erfindungsgemäßen
Mehrfach Solarzelle.
Fig. 2 zeigt eine zweite Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Mehrfachsoiarzelie.
Fig. 3 zeigt eine erfindungsgemäße Mehrfachsoiarzelie mit einer
Vielzahl zusätzlicher Funktionsschutzschichten, insbesondere Tunneldioden sowie Barriereschichten. zeigt eine Transmtssionselektronenmikroskopaufnahme der erfindungsgemäßen Pufferschicht, in welcher die Gitterkonstante von Ge bis hin zu Gao.71lno.29As verändert wird.
Fig. 5 zeigt eine erfindungsgemäße Waferbond-Verbindung zwischen zwei Halbleitern mit unterschiedlicher Gitterkonstanten.
In Fig. 1 ist eine Mehrfachsolarzelle 1 mit einer rückseitigen
Germanium-Tetlzelle 2 dargestellt. Auf diese Teilzelle ist ein metamorpher Puffer 3 und die zweite Teilzelle aus GalnAs gewachsen. Die zweite Teilzelle ist mit einer dritten Teilzelle 5 aus Galliumarsenid über ein Waferbonding 10 verbunden. Die Mehrfachsolarzelle weist eine weitere frontseitige Teilzelle 6 aus GalnP auf. Weiterhin sind Tunneldioden 11, 11' und 11" zur elektrischen Verbindung der Teilzellen in die Mehrfachsolarzelle integriert. Frontseitig weist die Mehrfachsolarzelle eine Fensterschicht 12, eine Antireflexschicht 13 sowie Vorderseitenkontakte 14 und 14' auf.
In Fig. 2 ist eine zweite Ausführungsform der erfindungsgemäßen Mehrfachsolarzelle 1 dargestellt. Diese Mehrfachsolarzelle basiert auf dem invertierten Wachstum der Struktur. Dabei wird der obere Teil der Mehrfachsolarzelle 1, d.h. die Teilzelle 6 aus GalnP und die Teilzelle 5 aus GaAs zunächst auf einem Substrat aus Galliumarsenid invertiert gewachsen. Anschließend wird der metamorphe Puffer 3 und die zweite Teilzelle 4 aus GalnAs gewachsen. Der metamorphe Puffer 3 ging dabei der Überführung der Gitterkonstante von GaAs zu GalnAs. Die rückseitige Germanium-Teilzelle 2 wird separat hergestellt und anschließend mit der invertiert gewachsenen Solarzellenstruktur aus GalnP/GaAs/GalnAs über den Wafer-Bond 10 verbunden. Weiterhin sind in die Mehrfachsolarzelle 1 Tunneldioden 11, 11' und 11" zur elektrischen Verbindung der Metallzellen integriert. Die Mehrfachsolarzelle 1 weist weiterhin eine Fensterschicht 12, eine Antireflexschicht 13 sowie Vorderseiten- kontakte 14 und 14' auf.
Beispiel
Eine erfindungsgemäße Mehrfachsolarzelle 1 ist in Fig. 3 gezeigt. Hierbei wird zunächst eine Schichtfolge auf Ge mit einer Gitterkonstanten von 5.65 Angström hergestellt. Hierzu wird die Ge Teilzeile 1 durch Diffusion und Aufwachsen einer AIGalnP Fensterschicht im MOVPE Reaktor erzeugt. Auf die Ge Teilzelle 2 wird eine Tunneldiode 11" aus entarteten n- und p-leitenden Halbleiterschichten gewachsen. Die Tunneldiode kann von weiteren
Barrierenschichten mit höherer Bandlückenenergie umgeben sein. Danach folgt eine GalnP Pufferschicht 3, in welcher die Gitterkonstante von Ge bis hin zu Gao.71ino.29As mit einer Bandlückenenergte von 1.0 eV übergeführt wird. Eine Transmissionselektronenmikroskopieaufnahme einer solchen Pufferschicht ist in Fig. 4 gezeigt. Aufgrund des Unterschieds in der Gitterkonstante von 2.3 % entstehen Fehlanpassungsversetzungen, welche horizontal durch die Pufferschicht laufen. Diese sind als dunkle Linien in der TEM Aufnahme zu sehen. Durch eine geeignete Wahl der Wachstumsbedingungen kann die Dichte an durchstoßenden Versetzungen so gering gehalten werden, dass sich noch Solarzellen mit guter Qualität auf den Pufferschichten herstellen lassen. Nach der Pufferschicht wird die Gao.71lno.29As Teilzelle 4 mit einer Gitterkonstanten von
5.78 Angström epitaxiert. Die Teilzelle besteht aus einer
p-ieitenden Basis, einem n-leitenden Emitter und weiteren Barriereschichten für Minoritätsladungsträger an der Vorderseite und Rückseite. Auf die
Ga0,7il n0,29As Teilzelle 4 folgt eine hochdotierte n-Gao.71lno.29As Bondschicht.
Eine zweite Schichtfolge wird auf einem separaten GaAs oder Ge Substrat abgeschieden. Diese enthält zunächst eine Ablöseschicht, welche später dazu genutzt werden kann das Substrat von der Solarzellenstruktur zu trennen. Ein Beispiel ist eine AlAs Zwischenschicht, welche sich in Flusssäure selektiv zu den übrigen Schichten ätzen lässt. Darauf folgen eine GaAs Kontaktschicht mit hoher Dotierung, eine Teilzel!e 6 aus Gao.5lno.5P, eine Tunneldiode 11, eine GaAs oder AlGaAs Teilzelle 5 und eine Tunneldiode 11'. Die Teilzellen und Tunneldioden können wie bei der Teilzelle 4 und der Tunneldiode 11" zusätzliche Barriereschichten mit höherer Bandlückenenergie enthalten. Alle Halbleiterschichten der Schichtfolge sind gitterangepasst zueinander und besitzen eine Gitterkonstante von etwa 5.65 Angström.
Die beiden Schichtstrukturen werden nun über einen Wafer-Bond miteinander verbunden. Hierbei eignet sich besonders ein direkter Bond, weicher die Eigenschaften von Transparenz und sehr guter Leitfähigkeit erfüllt. In einem möglichen Prozess werden die beiden Schichtstrukturen im Vakuum unter dem Beschuss mit Ar-Atomen deoxidiert. Dabei entsteht eine 1-3 nm dünne amorphe Schicht an der Oberfläche. Die beiden Schichtstrukturen werden anschließend bei Raumtemperatur unter einem Druck von 5-10 kNewton miteinander verpresst. Zur Erhöhung der Bondenergie kann ein weiteres Ausheizen bei Temperaturen von 100 - 500 °C notwendig sein. Weiter ist es notwendig die Oberfläche der Schichtstrukturen zu polieren, falls die Oberflä- chenrauigkeit schlechter als 1 nm ist. Ein solcher direkter Wafer Bond zwischen zwei Halbleitern mit unterschiedlicher Gitterkonstante ist in Fig. 5 in einer Transmissionselektronenmikroskopieaufnahme gezeigt. Man sieht die amorphe Zwischenschicht an der Bond-Grenzfläche.
Nach dem Wafer-Bonden wird das GaAs bzw. Ge Substrat von der Schichtstruktur entfernt und die Solarzelle mit Kontakten und Antireflexschichten prozessiert.
Die Forschungsarbeiten, die zu diesen Ergebnissen geführt haben, wurden von der Europäischen Union gefördert.

Claims

Patentansprüche
1. Mehrfachsolarzelle mit mindestens vier pn-Übergängen enthaltend eine erste, rückseitige und einen pn-Übergang aufweisende Germanium-Teilzelle, eine zweite und eine dritte Teilzeile aus Ill-V-Halbleitern sowie mindestens eine weitere, frontseitige Teilzelle aus lll-V- Halbleitern,
dadurch gekennzeichnet, dass die zweite Teiizeiie eine Gitterkonstante aufweist, die um mindestens 1 % größer ist als die Gitterkonstante aller anderen Teilzellen und die zweite Teilzelle mit den benachbarten Teilzellen über eine metamorphe Pufferschicht zur Anpassung der Gitterkonstante der benachbarten Teilzellen und auf der gegenüberliegenden Seite über eine Waferbond-Verbindung mit der benachbarten Teilzelle verbunden ist.
2. Mehrfachsolarzelie nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, dass die zweite Teiizeiie aus GalnAs, GalnAsP oder AlGalnAs, bevorzugt mit einem Gehalt an Indium, bezogen auf die Gruppe-Ill Elemente, von 10 % bis 80 %, besonders bevorzugt von 20 % bis 50 %, oder GaAsSb, bevorzugt mit einem Gehalt an Antimon, bezogen auf die Gruppe-V Elemente, von 13 % bis 50 %, besteht.
3. Mehrfachsolarzelle nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass die zweite Teilzelle eine Bandiücken- energie zwischen 0,7 eV und 1,4 eV besitzt, bevorzugt zwischen 0,9 eV und 1,1 eV aufweist.
4. Mehrfachsolarzelle nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die zweite Teilzelle eine Gätterkonstante aufweist, die um 1,5 % bis 3 %, insbesondere um 2 % bis 2,5 % größer ist als die Gitterkonstanten aller anderen Teilzellen.
5. Mehrfachsolarzeile nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass die metamorphe Pufferschicht aus GalnAs, AiGalnAs, GalnP, AlGalnP, GaAsSb, AlAsSb, GaPSb oder AlPSb besteht.
6. Mehrfachsolarzelle nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass die Waferbond-Verbindung elektrisch leitfähig und optisch transparent ist.
7. Mehrfachsolarzelle nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass die dritte Teilzelle aus GaAs, GalnAs oder AiGalnAs besteht.
8. Mehrfachsolarzelle nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass die mindestens eine weitere Teilzelle aus GalnP, AIGaAs oder AlGalnP besteht oder diese im Wesentlichen enthält. Mehrfachsolarzelle nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die mindestens eine weitere Teilzelle aus einer frontseitige Teilzelle und gegebenenfalls mindestens einer zwischen der dritten und der frontseitigen Teilzelle angeordneten Teilzelle besteht.
Mehrfachsolarzelle nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die einzelnen Teilzellen weitere Funktionsschutzschichten aufweisen, insbesondere Tunneldioden zur elektrisch Verbindung der einzelnen Teilzellen, Barriereschichten an der Front- und Rückseite der Teilzellen, hochdotierte Kontaktschichten, interne Reflexionsschichten und/oder Antireflexschichten an der Vorderseite der Zelle.
Verfahren zur Herstellung einer Mehrfachsolarzelle nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem
a) auf der ersten Germanium-Teilzeile die metamorphe Pufferschicht und die zweite Teiizelle aufgewachsen wird,
b) auf einem GaAs- oder Ge-Substrat die dritte Teiizelle aus lll-V- Halbleitern sowie die mindestens eine weitere, frontseitige Teilzelle aufgewachsen, anschließend die Struktur an der Frontseite durch einen Träger (z.B. aus Saphir) mittels ablösbarem Kleber stabilisiert und das GaAs- oder Ge-Substrat entfernt werden
c) die Teilzellenstrukturen aus a) und b) zwischen der zweiten und dritten Teilzelle mittels Waferbonding verbunden werden,
d) der Träger und der Klebstoff entfernt werden,
dadurch gekennzeichnet, dass die zweite Teilzeile mit einer Gitterkon- starrte aufgewachsen wird, die um mindestens 1 % größer ist als die Gitterkonstanten aller anderen Teilzellen.
Verfahren zur Herstellung einer Mehrfachsolarzelle nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem
a) auf der ersten Germanium-Teilzelie die metamorphe Pufferschicht und die zweite Teilzelle aufgewachsen wird,
b} auf einem GaAs- oder Ge-Substrat die mindestens eine weitere, frontseitige Teilzelle und anschließend die dritte Teiizelle aus lll-V- Halbleitern invertiert aufgewachsen werden,
c) die Teilzellenstrukturen aus a) und b) zwischen der zweiten und dritten Teilzelle mittels Waferbonding verbunden werden,
d) nach dem Waferbonding das GaAs- oder Ge-Substrat abgelöst wird, dadurch gekennzeichnet, dass die zweite Teiizelle mit einer Gitterkon- stante aufgewachsen wird, die um mindestens 1 % größer ist als die
Gitterkonstanten aller anderen Teilzeiten.
13. Verfahren zur Herstellung einer Mehrfachsolarzelle nach einem der vorherigen Ansprüche, bei dem
a) auf einem GaAs- oder Ge-Substrat die mindestens eine weitere, frontseitige Teiizelle und auf der von dem GaAs- oder Ge-Substrat abgewandten Seite der mindestens einen, frontseitigen Teilzelle die dritte Teilzelle aus Ill-V-Halbleitern aufgewachsen wird,
b} auf der dritten Teilzelle auf der von der mindestens einen weiteren, frontseitigen Teilzelle abgewandten Seite die metamorphe Pufferschicht und die zweite Teilzelle aufgewachsen wird,
c) die Teilzellenstruktur aus b) an der Oberfläche der zweiten GalnAs- Teilzelle mit der ersten Germanium-Teilzelle mitteis Waferbonding verbunden wird,
d) nach dem Waferbonding das GaAs- oder Ge-Substrat abgelöst wird, dadurch gekennzeichnet, dass die zweite Tetizelle mit einer Gitterkonstante aufgewachsen wird, die um mindestens 1 % größer ist als die Gitterkonstanten aller anderen Teilzellen.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 11 bis 13,
dadurch gekennzeichnet, dass das Aufwachsen der zweiten Teilzelle, der dritten Teilzeile und der mindestens einen weiteren, frontseitigen Teilzelle epitaktisch und das Aufwachsen der metamorphen Pufferschicht metamorph erfolgt.
15. Verwendung der Mehrfachsolarzelle nach einem der Ansprüche 1 bis 10 im Weltraum oder in terrestrischen Konzentratorsystemen.
PCT/EP2013/054754 2012-03-08 2013-03-08 Mehrfachsolarzelle und deren verwendung WO2013132073A2 (de)

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EP13709078.3A EP2823514B1 (de) 2012-03-08 2013-03-08 Mehrfachsolarzelle und deren herstellungsverfahren
US14/383,458 US20150053257A1 (en) 2012-03-08 2013-03-08 Multi-junction solar cell and use thereof

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DE (1) DE102012004734A1 (de)
WO (1) WO2013132073A2 (de)

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