WO2006063893A1 - Verfahren zur herstellung von halbleitenden oder photovoltaisch aktiven filmen - Google Patents

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Andreas Schormann
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Degussa Gmbh
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    • Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Definitions

  • the present invention relates to a process for the preparation of thin, semiconducting or photovoltaically active films, films obtainable by this process, and electronic components, in particular solar cells, containing these films.
  • Photovoltaically active materials are produced today in various processes.
  • a preferred method for material yield or speed is currently the drawing process (EFG).
  • EFG drawing process
  • the EFG process can currently achieve minimum thicknesses of 280 ⁇ m.
  • a further disadvantage of this method is that the drawn materials are highly uneven due to the drawing process, which causes problems with regard to the further process, such as the printing and the performance of the components produced therewith .
  • RGS tape casting the photovoltaically active material is cast onto a circulating substrate belt.
  • this entails the problem that the substrate tape can be easily damaged and has irregular wear.
  • DE 199 040 82 A1 discloses a process in which polymeric organic materials are coated with a suspension of nanoscale cadmium telluride (CdTe). Suitable coating methods are, for example, casting and knife coating. The material is then exposed to laser-pulsed plasma discharges, by means of which the layer is heated in spots, the CdTe locally melted and by plasma-induced Pressure surges is compressed.
  • CdTe nanoscale cadmium telluride
  • This method has the disadvantage that a high expenditure on equipment and precise process control are required for precise scanning of the surface. Because the thin film on the substrate is composed only of punctiform pieces produced by the laser bombardment, this results in a small elongation of the crystals, which is detrimental to the efficiency of a photovoltaic active element. Unfavorably high thickness deviations and large average roughness values also impair the quality of electronic components made up of these components.
  • the object is to provide a method which, with low outlay on equipment and simple process control, enables the rapid production of large-area, thin, photovoltaically active or semiconducting films having improved properties, such as e.g. high efficiencies, small thickness deviations and low center roughness values allowed.
  • This object is achieved by a method for producing a semiconducting or photovoltaically active film
  • the subject of the present invention is also a semiconducting or photovoltaically active film, which is produced by the process according to the invention.
  • This film has a thickness of at most 50 ⁇ m, preferably at most 20 ⁇ m, and particularly preferably at most 5 ⁇ m.
  • the film can be incorporated into corresponding electronic components and is most preferably used in solar cells.
  • the present invention also relates to a solar cell containing the photovoltaically active film of the present invention.
  • An essential advantage of the present invention in particular in comparison to the method described in DE 199 040 82 A1, lies in the significantly improved process economy.
  • the process according to the invention now makes it possible to produce photovoltaically active films substantially more cheaply than the previously known prior art and in so doing to still improve essential product properties of the film.
  • An essential cost factor for the production of a solar cell is on the one hand, to create large areas with relatively little material, ie to produce as thin as possible photovoltaically active films. Starting from nanoscopically small semiconductor or photovoltaically active particles, a polycrystalline film has to be produced in order to achieve the desired activity.
  • the coating in step (A) of the process can be carried out continuously, semicontinuously or batchwise using the customary processes.
  • a full surface coating of the substrate e.g. Methods such as knife coating, bladder coating, casting and similar, known in the prior art method in question.
  • all conventional printing methods such as e.g. Screen printing, are used.
  • the substrate is in the form of a rolled strip which is coated in a continuous process by a method as described above, and thereafter coated substrate is rolled up again.
  • the coated continuous substrate tape can also be cut into sheets of the desired size for the photovoltaic active film, and then these sheets can be stacked.
  • pre-cut substrate sheets can also be coated to the appropriate size.
  • a significant advantage of the method according to the invention is that all conventional devices, in particular furnaces and radiant heaters for heating the substrate according to step (B) of the method according to the invention can be used.
  • conventional circulating air ovens, radiation ovens, e.g. with infrared rays or conventional firebox heaters, such as e.g. Muffle ovens are used.
  • no lasers are used. This already shows that the expenditure on equipment in the method according to the invention is markedly reduced compared to the prior art.
  • the process is carried out in an inert atmosphere, e.g. under inert gas atmosphere, performed.
  • a further advantage is that the rolls of coated substrate or stack of coated substrate sheets described above according to the preferred embodiment can be subjected as a whole to the heating step B) according to the process of the invention.
  • the material throughput per unit time compared to Prior art methods are increased orders of magnitude.
  • a significant advantage of the method according to the invention is that the cooling of the coated substrate foil heated in step (B) can be controlled very precisely.
  • a temperature field can be formed such that the rolled substrate film starts from a side surface in either axial or radial Cooling direction.
  • a temperature field may be formed in step (C) whose gradient is parallel to or perpendicular to the surface normals of the stacked substrate sheets and traversed from a side surface from the stacked substrate sheets at a defined rate.
  • both the temperature gradients required for the cooling can be locally defined very precisely, as well as the cooling rates can be precisely adjusted.
  • the crystallization process for forming the polycrystalline film can be controlled very accurately.
  • significantly longer cooling times can be used.
  • the method according to the invention not only enables a significantly improved process economy, but also very thin semiconductor films or photovoltaically active films are formed which have a polycrystalline structure with comparatively large crystallite sizes.
  • crystallite sizes of at least 100 .mu.m, preferably at least 1000 .mu.m, linear expansion in the plane of the film can be produced.
  • a suspension of the nanoscale particles in a carrier liquid is applied.
  • the solids content of the suspension tailored to the respective application method, is selected as high as possible in order to evaporate as little carrier liquid as possible during the course of the process.
  • the solids content of the suspension is therefore preferably at least 50% by weight, and more preferably at least 70% by weight, depending on the practical limitations of the particular coating method selected.
  • the carrier liquid used may be any carrier liquid which is inert to the substrate film and the semiconducting or photovoltaically active material.
  • the carrier liquid must be as far as possible residue-free and easily removed from the coated film. Therefore, organic solvents have proven to be particularly suitable, especially those which are free of oxygen and nitrogen atoms in order to be able to exclude the risk of doping the semiconductor or photovoltaically active film with these elements.
  • the substrate film should be used by the Be solvent readily wettable. Therefore, aromatic and aliphatic hydrocarbons are preferred as the carrier liquid.
  • a particularly preferred solvent is toluene.
  • the carrier liquid can already be at least partially expelled during the coating process (A), e.g. by passing an inert gas stream over the already coated substrate, or can be expelled during heating in step (B) of the method according to the invention.
  • a drying step between step (A) and step (B) of the process according to the invention, in particular in the case of suspensions having a relatively low solids content.
  • the drying can be carried out by all conventional methods; it is only necessary to ensure that the homogeneity of the dried film is not impaired, i. sudden evaporation of the carrier liquid, e.g. can lead to cratering is to be avoided.
  • the coated substrate film may be subjected to a continuous process under an infrared radiator prior to performing further process steps. Evaporation of the carrier liquid can also be assisted by applying a slight vacuum. Pressures between 300 and 800 hPa are suitable.
  • the coating on the substrate film usually has an excellent smoothness with a suitable selection of the coating process. If, however, a further improvement in smoothness is desired, the coated substrate can be smoothed in a separate step, for example, by running the coated substrate film over a calender. It should be noted, however, that the contact surface is inert to the semiconductor material or the Photovoltaically active material behaves, in particular no unwanted doping takes place under the selected process conditions.
  • the drying and smoothing step are combined with one another by running the substrate film with the still moist coating over a heated roll, whereby at the same time the coating is smoothed and the carrier liquid is largely expelled.
  • This also ensures that the desired homogeneity of the film is not impaired by the evaporation of the carrier liquid.
  • Semiconductor films or photovoltaically active films with a thickness deviation of the film of less than 10 percent, preferably less than 5 percent, more preferably less than 2 percent and an arithmetic mean roughness of less than 0.63 microns, preferably less than 0.032 microns, and most preferably be produced below 0.01 microns.
  • the layer thickness of the resulting semiconductive or photovoltaically active thin film is preferably at most 250 ⁇ m, particularly preferably at most 50 ⁇ m, very particularly preferably at most 20 ⁇ m and most preferably at most 5 ⁇ m.
  • the mean diameter dso% of the nanoscopic particles is preferably 5 nm to 500 nm, particularly preferably 10 nm to 200 nm, very particularly preferably 20 nm to 100 nm and most preferably from 40 nm to 70 nm.
  • Particularly preferred photovoltaically active materials are silicon, cadmium telluride, copper sulfide, cadmium sulfide, Cu (In, Ga) Se 2 or metal oxide coated with a photovoltaically active material. For reasons of easy production of nanoscale particles and high efficiency and cost reasons, silicon is a particularly preferred material.
  • the material should be both chemically and thermally stable at the temperature reached in step (B) of the process according to the invention.
  • the melting temperature of the substrate material should be above the melting temperature of the nanoscopic particles, preferably at least 20 ° C. above the melting temperature of the nanoscopic particles.
  • the substrate should be flexible and be produced as thin as possible substrate film.
  • the thicknesses in these areas are advantageous for process-economic reasons, since then the substrate film heated with the photovoltaically active film is particularly thin and thus less energy has to be used to heat it, and furthermore the material throughput of semiconductor or photovoltaically active film at given Oven size in the step (B) of the method can be increased.
  • the carrier material is to be selected so that at the predetermined film thicknesses described above sufficient mechanical stability is given for the manufacturing process.
  • the material for the substrate film has a lower thermal conductivity than the semiconductor or photovoltaically active material.
  • the cooling process in step (C) of the method according to the invention, based on the semiconducting or photovoltaically active film can be controlled very precisely to produce a polycrystalline film with particularly large crystallites.
  • the thermal conductivity of the substrate material is lower than that of the semiconductor or photovoltaically active material and / or both materials have a different thermal expansion, the semiconducting or photovoltaically active polycrystalline film is particularly easily removed from the substrate film solve.
  • the selected substrate material can be easily wetted by the suspension of nanoscale particles in the carrier liquid, so that in the coating step a homogeneous suspension film as possible can be formed on the substrate film.
  • a particularly preferred material for the substrate film is graphite.
  • the semiconducting or photovoltaically active microcrystalline film is separated from the substrate film, which can then be recycled back into the process.
  • the material for the substrate film is sufficiently mechanically stable to ensure multiple use in the process according to the invention. This significantly increases the cost-effectiveness of the process according to the invention.
  • the semiconducting or photovoltaically active microcrystalline film according to the invention can be cut to the desired size and introduced into the desired electronic components in the usual way.
  • the films according to the invention are particularly suitable for the production of solar cells, because according to the present invention, these films can be produced very inexpensively in extremely small thicknesses with improved material properties such as thickness deviation and roughness of the films and in particular with large crystallite sizes in the plane of the film.

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Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung eines halbleitenden oder photovoltaisch aktiven Films durch Beschichten einer Substratfolie mit einer Suspension, die eine Trägerflüssigkeit und in dieser Trägerflüssigkeit dispergierte nanoskopisch kleine Teilchen eines photovoltaisch aktiven oder halbleitenden Materials enthält, flächiges Erwärmen der beschichteten Substratfolie auf eine Temperatur und für eine Zeitdauer, die ausreicht, um diese nanoskopisch kleinen Teilchen zumindest teilweise aufzuschmelzen, Abkühlung der Beschichtung unter die Kristallisationstemperatur des photovoltaisch aktiven oder halbleitenden Materials, und Abtrennen der Substratfolie, sowie durch dieses Verfahren erhältliche Filme, elektronische Bauteile und Solarzellen, die diese Filme enthalten.

Description

VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG VON HALBLEITENDEN ODER PHOTOVOLTAISCH AKTIVEN FILMEN
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von dünnen, halbleitenden oder photovoltaisch aktiven Filmen, durch dieses Verfahren erhältliche Filme, sowie elektronische Bauteile, insbesondere Solarzellen, die diese Filme enthalten.
Photovoltaisch aktive Materialien werden heutzutage in verschiedenen Verfahren hergestellt. Ein bezüglich der Materialausbeute bzw. Geschwindigkeit bevorzugtes Verfahren ist derzeit das Ziehverfahren (EFG) . Bei diesem Verfahren wird das photovoltaisch aktive Material aus einer Schmelze gezogen. Bei dem EFG-Verfahren können derzeit minimale Dicken von 280 μm erreicht werden. Neben den nach wie vor zu großen Dicken ist ein weiterer Nachteil dieses Verfahrens, dass die gezogenen Materialien durch den Ziehprozess in hohem Maße uneben sind, was Probleme hinsichtlich des weiteren Prozesses, wie zum Beispiel der Bedruckung und der Leistungsfähigkeit der damit hergestellten Bauteile nach sich zieht. Bei einem anderen Verfahren, dem RGS-Foliengießen, wird das photovoltaisch aktive Material auf ein umlaufendes Substratband gegossen. Dieses zieht jedoch das Problem nach sich, dass das Substratband leicht beschädigt werden kann und unregelmäßigen Verschleiß aufweist.
DE 199 040 82 Al offenbart ein Verfahren, bei dem polymere organische Materialien mit einer Suspension aus nanoskaligem Cadmiumtellurid (CdTe) beschichtet werden. Geeignete Beschichtungsmethoden sind zum Beispiel Gießen und Rakeln. Das Material wird anschließend lasergepulsten Plasma-Entladungen ausgesetzt, mittels derer die Schicht punktförmig aufgeheizt, das CdTe lokal aufgeschmolzen und durch plasmainduzierte Druckstöße verdichtet wird.
Dieses Verfahren hat zum Nachteil, dass für das präzise Abrastern der Fläche ein hoher apparativer Aufwand und eine genaue Prozesssteuerung vonnöten sind. Weil der dünne Film auf dem Substrat nur aus durch den Laserbeschuss erzeugten punktförmigen Stücken zusammengesetzt wird, hat dies eine für den Wirkungsgrad eines photovoltaisch aktiven Elements nachteilige geringe Längenausdehnung der Kristalle zur Folge. Ungünstig hohe Dickenabweichungen und große Mittenrauwerte beeinträchtigen zudem die Qualität daraus zusammengesetzter elektronischer Bauteile.
Die Aufgabe besteht deshalb darin, ein Verfahren zur Verfügung zu stellen, welches mit geringem apparativen Aufwand und einfacher Prozesssteuerung die rasche Herstellung großflächiger, dünner, photovoltaisch aktiver oder halbleitender Filme mit verbesserten Eigenschaften, wie z.B. hohen Wirkungsgraden, geringen Dickenabweichungen und geringen Mittenrauwerten erlaubt.
Diese Aufgabe wird gelöst durch ein Verfahren zur Herstellung eines halbleitenden oder photovoltaisch aktiven Films durch
(A) Beschichten einer Substratfolie mit einer Suspension, enthaltend eine Trägerflüssigkeit und in dieser dispergierte nanoskopisch kleine Teilchen eines photovoltaisch aktiven oder halbleitenden Materials,
(B) flächiges Erwärmen der beschichteten Substratfolie auf eine Temperatur und für eine Zeitdauer, die ausreicht, um diese nanoskopisch kleinen Teilchen zumindest teilweise aufzuschmelzen,
(C) Abkühlung der Beschichtung unter die Kristallisationstemperatur des photovoltaisch aktiven oder halbleitenden Materials, und (D) Abtrennen der Substratfolie.
Es wurde nun überraschend festgestellt, dass mit Hilfe des erfindungsgemäßen Verfahrens mit einem einfachen, vergleichsweise kostengünstigen Verfahren Halbleiterfilme bzw. photovoltaisch aktive Filme in extrem kleinen Dicken und hoher Qualität hergestellt werden können. Somit ist Gegenstand der vorliegenden Erfindung auch ein halbleitender oder photovoltaisch aktiver Film, der nach dem erfindungsgemäßen Verfahren hergestellt ist. Dieser Film weist eine Dicke von höchstens 50 μm, vorzugsweise höchstens 20 μm und besonders bevorzugt von höchstens 5 μm auf. Der Film kann in entsprechende elektronische Bauteile eingebracht werden und wird ganz besonders bevorzugt in Solarzellen eingesetzt.
Somit betrifft die vorliegende Erfindung ebenfalls eine Solarzelle, die den erfindungsgemäßen photovoltaisch aktiven Film enthält.
Im Folgenden wird nun die vorliegende Erfindung im Detail beschrieben.
Ein wesentlicher Vorteil der vorliegenden Erfindung, insbesondere im Vergleich zu dem in DE 199 040 82 Al beschriebenen Verfahren liegt in der deutlich verbesserten Prozessökonomie. Ein wesentlicher Nachteil, der nach wie vor die Nutzung der Sonnenenergie unattraktiv macht, sind die hohen Herstellungskosten von Solarzellen. Das erfindungsgemäße Verfahren ermöglicht es nun, gegenüber dem bisher bekannten Stand der Technik photovoltaisch aktive Filme wesentlich billiger herzustellen und dabei noch wesentliche Produkteigenschaften des Films zu verbessern. Ein wesentlicher Kostenfaktor für die Herstellung einer Solarzelle ist zum einen, große Flächen mit relativ wenig Material zu schaffen, d.h. möglichst dünne photovoltaisch aktive Filme zu erzeugen. Ausgehend von nanoskopisch kleinen Halbleiter- oder photovoltaisch aktiven Teilchen muss ein polykristalliner Film erzeugt werden, um die gewünschte Aktivität zu erreichen. In DE 199 040 82 wird dieser Kristallisationsprozess durch lasergepulste Plasmaentladungen, die die Schicht punktförmig aufheizen und aufschmelzen, erreicht. Um einen homogenen kristallinen Film nach diesem Verfahren herzustellen, muss die gesamte Fläche punktgenau abgerastert werden, was neben dem prinzipiellen apparativen Aufwand auch extrem zeitaufwendig ist. Somit ist in dem Gesamtherstellungsverfahren nach diesem Stand der Technik die Ausbildung des polykristallinen Films der geschwindigkeitsbestimmende Schritt.
Im erfindungsgemäßen Verfahren kann die Beschichtung in Schritt (A) des Verfahrens kontinuierlich, semikontinuierlich oder absatzweise mit den üblichen Verfahren durchgeführt werden. Für eine vollflächige Beschichtung des Substrats kommen z.B. Verfahren wie Rakelauftrag, Bladebeschichtung, Gießen und ähnliche, im Stand der Technik bekannte Verfahren in Frage. Ist es dagegen beabsichtigt, die Suspension der nanoskopisch kleinen Teilchen in strukturierter Form aufzubringen, können alle üblichen Druckverfahren, wie z.B. Siebdruck, eingesetzt werden.
In einer für die Gesamtprozessökonomie besonders bevorzugten Ausführungsform liegt das Substrat in Form eines aufgerollten Bandes vor, das in einem kontinuierlichen Prozess mit einem oben beschriebenen Verfahren beschichtet wird und danach das beschichtete Substrat wieder aufgerollt wird.
Alternativ kann das beschichtete kontinuierliche Substratband auch in Blätter der gewünschten Größe für den photovoltaisch aktiven Film geschnitten werden, wobei dann diese Blätter gestapelt werden können.
Alternativ können auch bereits auf die entsprechende Größe vorgeschnittene Substratbögen beschichtet werden.
Da die Substratfolie zusammen mit der Beschichtung erwärmt werden kann, liegt ein wesentlicher Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens darin, dass alle üblichen Einrichtungen, insbesondere Öfen und Strahlungsheizer zur Erwärmung des Substrats gemäß Schritt (B) des erfindungsgemäßen Verfahrens eingesetzt werden können. Hierbei können übliche Umluftöfen, Strahlungsöfen, z.B. mit Infrarotstrahlen oder auch übliche schamottgeheizte Öfen, wie z.B. Muffelöfen verwendet werden. Insbesondere werden keine Laser verwendet. Daraus ergibt sich bereits, dass der apparative Aufwand bei dem erfindungsgemäßen Verfahren gegenüber dem Stand der Technik deutlich reduziert ist.
In einer bevorzugten Ausführungsform wird das Verfahren in einer inerten Atmosphäre, z.B. unter Edelgasatmosphäre, durchgeführt.
Ein weiterer Vorteil liegt darin, dass die oben gemäß den bevorzugten Ausführungsverfahren beschriebenen Rollen an beschichtetem Substrat bzw. Stapel an beschichteten Substratbögen als Ganzes dem Erwärmungsschritt B) gemäß des erfindungsgemäßen Verfahrens unterzogen werden können. Somit kann also der Materialdurchsatz pro Zeiteinheit gegenüber dem Verfahren des Standes der Technik um Größenordnungen gesteigert werden.
Neben den rein verfahrensökonomischen Vorteilen gegenüber des Standes der Technik führt aber das erfindungsgemäße Verfahren auch zu verbesserten Produkten. Ein wesentlicher Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens liegt darin, dass die Abkühlung der beschichteten und in Schritt (B) erwärmten Substratfolie sehr genau gesteuert werden kann. Bei der Ausführungsform, in der die beschichtete Substratfolie aufgerollt wird und die Rolle in Schritt (B) des erfindungsgemäßen Verfahrens erwärmt wird, kann vorzugsweise in Schritt (C) ein Temperaturfeld gebildet werden, dass die aufgerollte Substratfolie von einer Seitenfläche ausgehend entweder in axialer oder radialer Richtung abkühlt. Alternativ im Fall der gestapelten Substratfolien kann in Schritt (C) ein Temperaturfeld gebildet werden, dessen Gradient parallel oder senkrecht zu den Flächennormalen der gestapelten Substratfolien liegt und von einer Seitenfläche ausgehend von den gestapelten Substratfolien in einer definierten Geschwindigkeit durchlaufen wird.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren können sowohl die für die Abkühlung benötigten Temperaturgradienten örtlich sehr genau definiert werden, wie auch die Abkühlraten genau eingestellt werden. Somit kann im Vergleich zum oben diskutierten Stand der Technik der Kristallisationsprozess zur Ausbildung der polykristallinen Folie sehr genau gesteuert werden. Darüber hinaus können aufgrund des um Größenordnung gesteigerten Materialdurchsatzes bei dem erfindungsgemäßen Verfahren, bei trotzdem deutlich gesteigertem Materialdurchsatz, wesentlich längere Abkühlzeiten verwendet werden. Somit ermöglicht das erfindungsgemäße Verfahren überraschenderweise nicht nur eine deutlich verbesserte Prozessökonomie, sondern es werden auch sehr dünne Halbleiterbzw, photovoltaisch aktive Filme ausgebildet, die eine polykristalline Struktur mit vergleichsweise großen Kristallitgrößen aufweisen. So können mit dem erfindungsgemäßen Verfahren Kristallitgrößen von mindestens 100 μm, vorzugsweise mindestens 1.000 μm Längenausdehnung in der Ebene des Films erzeugt werden.
In dem Beschichtungsschritt (A) wird eine Suspension der nanoskaligen Teilchen in einer Trägerflüssigkeit aufgetragen. Hierbei wird der Feststoffgehalt der Suspension, abgestimmt auf das jeweilige Auftragungsverfahren, möglichst hoch gewählt, um im Laufe des Prozesses möglichst wenig Trägerflüssigkeit verdampfen zu müssen. Der Feststoffgehalt der Suspension beträgt daher in Abhängigkeit der praktischen Beschränkungen des jeweilig ausgewählten Auftragsverfahrens vorzugsweise mindestens 50 Gewichtsprozent und besonders bevorzugt mindestens 70 Gewichtsprozent.
Als Trägerflüssigkeit kann jede Trägerflüssigkeit verwendet werden, die sich inert gegenüber der Substratfolie und dem halbleitenden bzw. photovoltaisch aktiven Material verhält. Insbesondere muss die Trägerflüssigkeit möglichst rückstandsfrei und einfach aus dem beschichteten Film entfernt werden können. Als besonders geeignet haben sich daher organische Lösungsmittel erwiesen, besonders solche, die frei von Sauerstoff- und Stickstoffatomen sind, um die Gefahr der Dotierung des Halbleiter- bzw. photovoltaisch aktiven Films mit diesen Elementen ausschließen zu können.
Weiterhin sollte die Substratfolie durch das verwendete Lösungsmittel gut benetzbar sein. Daher sind aromatische und aliphatische Kohlenwasserstoffe als Trägerflüssigkeit bevorzugt. Ein besonders bevorzugtes Lösungsmittel ist Toluol.
Die Trägerflüssigkeit kann je nach gewählter Prozessführung bereits während des Beschichtungsverfahrens (A) zumindest teilweise ausgetrieben werden, z.B. durch das Leiten eines Inertgasstroms über das bereits beschichtete Substrat, oder kann während des Aufheizens in Schritt (B) des erfindungsgemäßen Verfahrens ausgetrieben werden. Alternativ kann auch insbesondere bei Suspensionen mit relativ niedrigem Festkörpergehalt ein Trocknungsschritt zwischen Schritt (A) und Schritt (B) des erfindungsgemäßen Verfahrens eingefügt werden. Die Trocknung kann nach allen üblichen Methoden durchgeführt werden; es ist lediglich darauf zu achten, dass die Homogenität des getrockneten Films nicht beeinträchtigt wird, d.h. schlagartiges Verdampfen der Trägerflüssigkeit, was z.B. zur Kraterbildung führen kann, ist zu vermeiden. Zum Beispiel kann die beschichtete Substratfolie in einem kontinuierlichen Prozess unter einem Infrarotstrahler vor der Durchführung weiterer Prozessschritte durchgeführt werden. Verdampfen der Trägerflüssigkeit kann auch durch Anlegen eines leichten Vakuums unterstützt werden. Drücke zwischen 300 und 800 hPa sind geeignet.
Die Beschichtung auf der Substratfolie weist in der Regel bei geeigneter Auswahl des Beschichtungsverfahren schon eine hervorragende Glätte auf. Sollte aber eine weitere Verbesserung der Glätte erwünscht sein, kann das beschichtete Substrat in einem gesonderten Schritt geglättet werden, z.B. indem man die beschichtete Substratfolie über einen Kalander laufen lässt. Dabei ist allerdings zu beachten, dass sich die Kontaktfläche inert gegenüber dem Halbleitermaterial bzw. dem photovoltaisch aktiven Material verhält, insbesondere keine unerwünschte Dotierung unter den gewählten Prozessbedingungen stattfindet.
Gemäß einer besonders bevorzugten Ausführungsform werden der Trocken- und Glättschritt mit einander kombiniert, indem die Substratfolie mit der noch feuchten Beschichtung über eine beheizte Walze laufen gelassen wird, wodurch gleichzeitig die Beschichtung geglättet und die Trägerflüssigkeit weitgehend ausgetrieben wird. Hierdurch wird auch gewährleistet, dass die gewünschte Homogenität des Filmes durch das Verdampfen der Trägerflüssigkeit nicht beeinträchtigt wird. Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren können daher Halbleiterfilme bzw. photovoltaisch aktive Filme mit einer Dickenabweichung des Films unter 10 Prozent, bevorzugt unter 5 Prozent, besonders bevorzugt unter 2 Prozent und mit einem arithmetischen Mittelrauwert unter 0,63 μm, vorzugsweise unter 0,032 μm und ganz besonders bevorzugt unter 0,01 μm erzeugt werden.
Die Schichtdicke des resultierenden halbleitenden oder photovoltaisch aktiven dünnen Films beträgt vorzugsweise höchstens 250 μm, besonders bevorzugt höchstens 50 μm, ganz besonders bevorzugt höchstens 20 μm und am meisten bevorzugt höchstens 5 μm.
In dem erfindungsgemäßen Verfahren können alle bekannten Halbleitermaterialien bzw. photovoltaisch aktive Materialien eingesetzt werden, die in Form von Nanoteilchen zugänglich sind. Der mittlere Durchmesser dso % der nanoskopisch kleinen Teilchen beträgt vorzugsweise 5 nm bis 500 nm, besonders bevorzugt 10 nm bis 200 nm, ganz besonders bevorzugt 20 nm bis 100 nm und am meisten bevorzugt von 40 nm bis 70 nm. Besonders bevorzugte photovoltaisch aktive Materialien sind Silicium, Cadmiumtellurid, Kupfersulfid, Cadmiumsulfid, Cu(In, Ga) Se2 oder mit einem photovoltaisch aktiven Material beschichtetes Metalloxid. Aus Gründen der einfachen Herstellung von nanoskaligen Teilchen und des hohen Wirkungsgrads und aus Kostengründen ist Silicium ein besonders bevorzugtes Material.
Bei der Auswahl des Trägerfolienmaterials sollten vorzugsweise verschiedene Kriterien beachtet werden.
Zum einen sollte das Material bei der in Schritt (B) des erfindungsgemäßen Verfahrens erreichten Temperatur sowohl chemisch als auch thermisch beständig sein. Insbesondere sollte die Schmelztemperatur des Substratmaterials oberhalb der Schmelztemperatur der nanoskopisch kleinen Teilchen, vorzugsweise mindestens 20 0C oberhalb der Schmelztemperatur der nanoskopisch kleinen Teilchen, sein. Weiterhin sollte das Substrat flexibel sein und als möglichst dünne Substratfolie herstellbar sein.
Als besonders geeignet haben sich Dicken für die Substratfolie von höchstens 1 mm, bevorzugt höchstens 0,5 mm und besonders bevorzugt von höchstens 0,2 mm erwiesen. Die Dicken in diesen Bereichen sind aus prozessökonomischen Gründen vorteilhaft, da dann die mit dem photovoltaisch aktiven Film mit aufgeheizte Substratfolie besonders dünn ist und somit weniger Energie für deren Aufheizung eingesetzt werden muss und darüber hinaus der Materialdurchsatz an Halbleiter- bzw. photovoltaisch aktivem Film bei vorgegebener Ofengröße in dem Schritt (B) des erfindungsgemäßen Verfahrens gesteigert werden kann. Vorzugsweise ist das Trägermaterial so auszuwählen, dass bei den oben beschriebenen vorgegebenen Foliendicken noch ausreichend mechanische Stabilität für den Herstellungsprozess gegeben ist.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung hat das Material für die Substratfolie eine geringere thermische Leitfähigkeit als das Halbleiter- bzw. photovoltaisch aktive Material. Dadurch kann der Abkühlvorgang in Schritt (C) des erfindungsgemäßen Verfahrens, bezogen auf den halbleitenden bzw. photovoltaisch aktiven Film besonders genau gesteuert werden, um einen polykristallinen Film mit besonders großen Kristalliten zu erzeugen. Weiterhin hat sich überraschenderweise herausgestellt, dass, wenn die thermische Leitfähigkeit des Substratmaterials geringer ist als die des Halbleiter- bzw. photovoltaisch aktiven Materials und/oder beide Materialien eine unterschiedliche Wärmeausdehnung aufweisen, der halbleitende bzw. photovoltaisch aktive polykristalline Film sich besonders leicht von der Substratfolie lösen lässt. Weiterhin ist es vorteilhaft, wenn das ausgewählte Substratmaterial sich leicht von der Suspension der nanoskaligen Teilchen in der Trägerflüssigkeit benetzen lässt, so dass im Beschichtungsschritt ein möglichst homogener Suspensionsfilm auf der Substratfolie ausgebildet werden kann.
Ein besonders bevorzugtes Material für die Substratfolie ist Graphit.
Alle oben beschriebenen Kriterien für eine vorteilhafte Auswahl der Substratfolie sind für die Kombination von Silicium als halbleitendes bzw. photovoltaisch aktives Material mit Graphit als Material für die Substratfolie erfüllt. Besonders bevorzugt wird hierbei zur Ausbildung der Suspension ein aliphatisches oder aromatisches Lösungsmittel als Trägerflüssigkeit verwendet, wobei Toluol besonders bevorzugt ist.
Nach Abkühlen des beschichteten Substrats auf Umgebungstemperatur wird der halbleitende bzw. photovoltaisch aktive mikrokristalline Film von der Substratfolie getrennt, die dann wieder in den Prozess zurückgeführt werden kann.
Somit ist es auch vorteilhaft, wenn das Material für die Substratfolie ausreichend mechanisch stabil ist, um eine mehrfache Verwendung in dem erfindungsgemäßen Prozess zu gewährleisten. Dies erhöht die Wirtschaftlichkeit des erfindungsgemäßen Prozesses wesentlich.
Der erfindungsgemäße halbleitende bzw. photovoltaisch aktive mikrokristalline Film kann, falls erforderlich, auf die gewünschte Größe geschnitten werden und in üblicher Weise in die gewünschten elektronischen Bauteile eingebracht werden. Die erfindungsgemäßen Filme eignen sich dabei besonders für die Herstellung von Solarzellen, weil gemäß der vorliegenden Erfindung diese Filme in extrem kleinen Dicken mit verbesserten Materialeigenschaften wie Dickenabweichung und Rauigkeit der Filme und insbesondere mit großen Kristallitgrößen in der Ebene des Films sehr kostengünstig hergestellt werden können.

Claims

Patentansprüche
1. Verfahren zur Herstellung eines halbleitenden oder photovoltaisch aktiven Films durch (A) Beschichten einer Substratfolie mit einer Suspension, enthaltend eine Trägerflüssigkeit und in der Trägerflüssigkeit dispergierte nanoskopisch kleine Teilchen eines photovoltaisch aktiven oder halbleitenden Materials, (B) flächiges Erwärmen der beschichteten Substratfolie auf eine
Temperatur und für eine Zeitdauer, die ausreicht, um diese nanoskopisch kleinen Teilchen zumindest teilweise aufzuschmelzen, (C) Abkühlung der Beschichtung unter die
Kristallisationstemperatur des photovoltaisch aktiven oder halbleitenden Materials, und (D) Abtrennen der Substratfolie.
2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei nach der Beschichtung der Substratfolie mit der Suspension und vor dem zumindest teilweisen Aufschmelzen der nanoskopisch kleinen Teilchen die Trägerflüssigkeit entfernt und ein kontinuierlicher Film aus nanoskopisch kleinen Teilchen gebildet wird.
3. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die Beschichtung der Substratfolie vor dem zumindest teilweisen Aufschmelzen der nanoskopisch kleinen Teilchen geglättet wird.
4. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei nach dem Abtrennen der Substratfolie diese in den Prozess zurückgeführt wird.
5. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die Substratfolie ganzflächig beschichtet oder auf definierten Bereichen bedruckt wird.
6. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die Substratfolie ein kontinuierliches Band oder ein Bogen ist.
7. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die Substratfolie eine Dicke von höchstens 1 mm, bevorzugt eine Dicke von höchstens 0,5 mm, besonders bevorzugt eine Dicke von höchstens 0,2 mm aufweist.
8. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die beschichtete Substratfolie vor Schritt (B) aufgerollt wird.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, wobei vor Schritt (B) die Substratfolie geschnitten wird und die einzelnen Blätter gestapelt werden.
10. Verfahren nach Anspruch 8, wobei in Schritt (C) ein Temperaturfeld gebildet wird, das die aufgerollte Substratfolie von einer Seitenfläche ausgehend in axialer oder radialer Richtung abkühlt.
11. Verfahren nach Anspruch 9, wobei in Schritt (C) ein Temperaturfeld gebildet wird, dessen Gradient parallel oder senkrecht zu den Flächennormalen der gestapelten Substratfolien liegt und von einer Seitenfläche ausgehend von den gestapelten Substratfolien in einer definierten Geschwindigkeit durchlaufen wird.
12. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei das photovoltaisch aktive Material ausgewählt ist aus Si, CdTe, CuS, CdS, Cu(In, Ga)Se2, photovoltaisch aktiver Farbstoff.
13. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei der mittlere Durchmesser dso% der nanoskopisch kleinen Teilchen zwischen 5 nm und 500 nm, bevorzugt zwischen 40 nm und 70 nm liegt.
14. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei das photovoltaisch aktive Material Si enthält.
15. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die Wärmeleitfähigkeit der Substratfolie kleiner ist, als die Wärmeleitfähigkeit des photovoltaisch aktiven Materials.
16. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die Schmelztemperatur des Substrates mindestens 20 °C oberhalb der Schmelztemperatur des halbleitenden oder photovoltaisch aktiven Materials liegt.
17. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die Substratfolie Graphit enthält.
18. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die Trägerflüssigkeit eine organisches Lösungsmittel enthält.
19. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei das organische Lösungsmittel ausgewählt ist aus aromatischen und aliphatischen Kohlenwasserstoffen.
20. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei der halbleitende oder photovoltaisch aktive dünne Film in inerter Atmosphäre hergestellt wird.
21. Halbleitender oder photovoltaisch aktiver Film, erhältlich nach einem Verfahren der Ansprüche 1 bis 20.
22. Halbleitender oder photovoltaisch aktiver Film nach Anspruch 21 mit einer Dicke von höchstens 250 μm, bevorzugt höchstens 50 μm, besonders bevorzugt höchstens 20 μm, ganz besonders bevorzugt höchstens 5 μm.
23. Halbleitender oder photovoltaisch aktiver Film nach Anspruch 21 oder 22 mit einer Längsausdehnung der
Kristallite in der Ebene des Films von mindestens 100 μm, bevorzugt mindestens 1.000 μm.
24. Halbleitender oder photovoltaisch aktiver Film nach einem der Ansprüche 21 bis 23, wobei die Dickenabweichung des
Films unter 10%, bevorzugt unter 5%, besonders bevorzugt unter 2% liegt und der arithmetische Mittenrauwert des dünnen Films unter 0,63 μm, bevorzugt unter 0,032 μm, besonders bevorzugt unter 0,01 μm liegt.
25. Elektronisches Bauteil, enthaltend den halbleitenden oder photovoltaisch aktiven Film nach einem der Ansprüche 21 bis 24.
26. Solarzelle, enthaltend das elektronische Bauteil nach Anspruch 25.
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008039757A2 (en) * 2006-09-28 2008-04-03 Innovalight, Inc. Semiconductor devices and methods from group iv nanoparticle materials
WO2008061131A2 (en) * 2006-11-15 2008-05-22 Innovalight, Inc. A method of fabricating a densified nanoparticle thin film with a set of occluded pores
WO2009000608A2 (de) * 2007-06-26 2008-12-31 Evonik Degussa Gmbh Verfahren zur herstellung von folienartigen halbleiterwerkstoffen und/oder elektronischen elementen durch urformen und/oder beschichtung
WO2008102258A3 (en) * 2007-02-20 2009-02-19 Innovalight Inc Substrate preparation for enhanced thin film fabrication from group iv semiconductor nanoparticles
WO2009032359A2 (en) * 2007-09-04 2009-03-12 Innovalight, Inc. Group iv nanoparticle junctions and devices therefrom
US7704866B2 (en) 2008-03-18 2010-04-27 Innovalight, Inc. Methods for forming composite nanoparticle-metal metallization contacts on a substrate
US7923368B2 (en) 2008-04-25 2011-04-12 Innovalight, Inc. Junction formation on wafer substrates using group IV nanoparticles
US7943846B2 (en) 2006-04-21 2011-05-17 Innovalight, Inc. Group IV nanoparticles in an oxide matrix and devices made therefrom
US8361834B2 (en) 2008-03-18 2013-01-29 Innovalight, Inc. Methods of forming a low resistance silicon-metal contact

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007050288A1 (de) * 2007-10-18 2009-04-23 Otto Hauser Halbleiterbauteil

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5262357A (en) * 1991-11-22 1993-11-16 The Regents Of The University Of California Low temperature thin films formed from nanocrystal precursors
US5491114A (en) * 1994-03-24 1996-02-13 Starfire Electronic Development & Marketing, Ltd. Method of making large-area semiconductor thin films formed at low temperature using nanocrystal presursors
US5711803A (en) * 1995-09-29 1998-01-27 Midwest Research Institute Preparation of a semiconductor thin film
EP0948004A1 (de) * 1998-03-26 1999-10-06 Akzo Nobel N.V. Herstellungsverfahren einer photovoltaischen Zelle mit einem Farbstoff
WO2004040627A2 (en) * 2002-10-30 2004-05-13 Hewlett-Packard Company Electronic components

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2927086C2 (de) * 1979-07-04 1987-02-05 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zum Herstellen von platten- oder bandförmigen Siliziumkristallkörpern mit Säulenstruktur für Solarzellen
DE3338335A1 (de) * 1983-10-21 1985-05-09 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zum herstellen von grossflaechigen siliziumkristallkoerpern fuer solarzellen
DE3536743C2 (de) * 1985-10-15 1994-11-10 Siemens Ag Verfahren zum Herstellung von großflächigen Siliziumkristallkörpern für Solarzellen
DE4122404A1 (de) * 1991-07-04 1993-01-07 Wolfgang Dr Ing Thieme Verfahren und anordnung zum ziehen bandfoermiger kristalle
US6294401B1 (en) * 1998-08-19 2001-09-25 Massachusetts Institute Of Technology Nanoparticle-based electrical, chemical, and mechanical structures and methods of making same
DE19904082A1 (de) * 1999-02-02 2000-08-03 Agfa Gevaert Ag Verfahren zur Herstellung von Solarzellen
DE10005484B4 (de) * 2000-02-08 2004-07-29 Rwe Schott Solar Gmbh Verfahren zum Ausbilden einer dünnen kristallisierten Schicht

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5262357A (en) * 1991-11-22 1993-11-16 The Regents Of The University Of California Low temperature thin films formed from nanocrystal precursors
US5491114A (en) * 1994-03-24 1996-02-13 Starfire Electronic Development & Marketing, Ltd. Method of making large-area semiconductor thin films formed at low temperature using nanocrystal presursors
US5711803A (en) * 1995-09-29 1998-01-27 Midwest Research Institute Preparation of a semiconductor thin film
EP0948004A1 (de) * 1998-03-26 1999-10-06 Akzo Nobel N.V. Herstellungsverfahren einer photovoltaischen Zelle mit einem Farbstoff
WO2004040627A2 (en) * 2002-10-30 2004-05-13 Hewlett-Packard Company Electronic components

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7943846B2 (en) 2006-04-21 2011-05-17 Innovalight, Inc. Group IV nanoparticles in an oxide matrix and devices made therefrom
WO2008039757A2 (en) * 2006-09-28 2008-04-03 Innovalight, Inc. Semiconductor devices and methods from group iv nanoparticle materials
WO2008039757A3 (en) * 2006-09-28 2008-11-20 Innovalight Inc Semiconductor devices and methods from group iv nanoparticle materials
WO2008061131A2 (en) * 2006-11-15 2008-05-22 Innovalight, Inc. A method of fabricating a densified nanoparticle thin film with a set of occluded pores
WO2008061131A3 (en) * 2006-11-15 2008-12-24 Innovalight Inc A method of fabricating a densified nanoparticle thin film with a set of occluded pores
WO2008102258A3 (en) * 2007-02-20 2009-02-19 Innovalight Inc Substrate preparation for enhanced thin film fabrication from group iv semiconductor nanoparticles
WO2009000608A3 (de) * 2007-06-26 2009-02-19 Evonik Degussa Gmbh Verfahren zur herstellung von folienartigen halbleiterwerkstoffen und/oder elektronischen elementen durch urformen und/oder beschichtung
WO2009000608A2 (de) * 2007-06-26 2008-12-31 Evonik Degussa Gmbh Verfahren zur herstellung von folienartigen halbleiterwerkstoffen und/oder elektronischen elementen durch urformen und/oder beschichtung
WO2009032359A2 (en) * 2007-09-04 2009-03-12 Innovalight, Inc. Group iv nanoparticle junctions and devices therefrom
WO2009032359A3 (en) * 2007-09-04 2010-03-11 Innovalight, Inc. Group iv nanoparticle junctions and devices therefrom
US7704866B2 (en) 2008-03-18 2010-04-27 Innovalight, Inc. Methods for forming composite nanoparticle-metal metallization contacts on a substrate
US8361834B2 (en) 2008-03-18 2013-01-29 Innovalight, Inc. Methods of forming a low resistance silicon-metal contact
US7923368B2 (en) 2008-04-25 2011-04-12 Innovalight, Inc. Junction formation on wafer substrates using group IV nanoparticles

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