WO1981000306A1 - Method of estimating life of insulation for electric device using resin insulator - Google Patents

Method of estimating life of insulation for electric device using resin insulator Download PDF

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WO1981000306A1
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J Enomoto
T Tanaka
A Hashizume
M Asahi
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Mitsubishi Electric Corp
J Enomoto
T Tanaka
A Hashizume
M Asahi
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    • Y10T436/23Carbon containing

Definitions

  • the present invention is intended to estimate the insulation life of electrical equipment, prevent accidents due to insulation, and know when to renew the insulation structure.
  • solid, liquid, and gas insulating materials are used for insulating electrical equipment.
  • the most widely used solid insulating materials include inorganic insulating materials, organic synthetic polymer insulating materials, and composites thereof. If these insulating materials are used for many years, they will suffer from electrical, mechanical and thermal oxidative degradation, degrading the insulation performance of electrical equipment and eventually causing dielectric breakdown, leading to accidents. Once an accident has occurred, serious damages may occur, leading to enormous costs and time spent on repairs, etc., and a decrease in insulation performance will be detected before insulation breakdown occurs. There is a strong demand for a method for preventive maintenance.
  • OMPI In the case of gaseous insulating materials, a very small amount of degradation products dissolved in water is detected by a highly sensitive gas analyzer to determine the degree of degradation.
  • the inventors of the present invention have studied a method of tracking the reduction behavior of the breakdown voltage with the operation time of an electric device using a resin insulator, and as a result, the ratio of the number of hydrogen atoms to the number of carbon atoms of the resin insulator has been reduced. Changes with the operating time of the device However, the present inventors have found that the device responds well to the lowering behavior of the dielectric breakdown voltage of the device, and have completed the present invention.
  • the present invention relates to a method for estimating the insulation life of an electric device using a resin insulator, comprising extracting a resin piece from the electric device and measuring a ratio of the number of hydrogen atoms to the number of carbon atoms of the extracted resin piece. Therefore, the insulation life of the above electrical equipment is estimated.
  • the resin piece may be cut directly from the insulation structure of the electrical equipment, or the same or different resin insulation material as the insulation structure of the electrical equipment may be used as the resin piece for the monitor. It is also possible to attach it to the device in advance and remove the resin piece.
  • the ratio of the number of oxygen atoms to the number of carbon atoms of the above resin piece may be measured.
  • the insulation life of electrical equipment can be estimated.
  • An object of the present invention is to provide a method for accurately estimating the insulation life of an electric device using a resin insulator.
  • Another object of the present invention is to provide an electric device using a resin insulator.
  • Another object of the present invention is to provide a method of detecting a decrease in insulation performance before an electrical device is broken down, and providing a method for preventing accidents and performing appropriate measures such as renewal of insulation. This is what we are trying to do.
  • FIG. 1 is a characteristic diagram showing the rate of change of the dielectric breakdown voltage of the test rod with respect to the thermal oxidative degradation time
  • FIG. 2 is a graph showing the number of hydrogen atoms of the resin piece for the monitor with respect to the thermal oxidative degradation time
  • FIG. 3 is a characteristic diagram showing the ratio of the number of carbon atoms to the thermal oxidation deterioration time
  • FIG. 3 is a characteristic diagram showing the ratio of the number of oxygen atoms to the number of carbon atoms of the resin piece for monitoring.
  • Insulation degradation of electrical equipment is mainly caused by thermal oxidation degradation of resin insulation.
  • the organic synthetic polymer constituting the resin insulator is mainly composed of carbon atoms (C) and hydrogen atoms (H), and contains a small amount of oxygen atoms (0) and nitrogen atoms (N). Therefore, focusing on the carbon atoms and hydrogen atoms of the main components, due to thermal oxidative deterioration, double molecules are present in the molecule.
  • the present invention focuses on the above-described behavior of resin insulators, and It is intended to provide a method for estimating the degree of insulation deterioration of electrical equipment by using behavior.
  • a suitable number of resin pieces as a monitor material made using the same resin insulator that forms the insulation of the electrical device to be measured are detachably started beforehand.
  • the resin pieces were previously incorporated into the electrical device to be measured, and at an appropriate time interval, for example, one piece of the resin piece was taken out at an appropriate time, and the number of hydrogen atoms and the number of carbon atoms were measured by an elemental analyzer.
  • the ratio (H / C :) is calculated, and by using the model having the same insulation configuration as the actual equipment, the reduction of the dielectric breakdown voltage due to the thermal degradation obtained in advance and the monitor From the relationship between the change in the ratio of the number of hydrogen atoms to the number of carbon atoms (HZC) of the resin piece for use, the degree of insulation deterioration of the device is estimated. Therefore, it was possible to detect a decrease in insulation performance before the insulation breakdown, and to prevent accidents and to take appropriate measures for insulation renewal and the like.
  • the epoxy resin was injected between two glass plates and heated and cured under the same conditions as the test rod to obtain a resin plate having a thickness of mm. 1 xio from the resin plate
  • test rod and the resin piece were placed in electric furnaces set at 180 ° C, 210 ° C, and 230 ° C, respectively, and were thermally oxidized and degraded.
  • test bars were out Ri taken five, in cold air, at 1 KV / sec (AC), and exits Ri preparative c simultaneously motor two motor one resin piece was measured breakdown voltage, A certain amount of the pulverized material was analyzed with a CHN coder MT2 type element analyzer manufactured by Yanagimoto Seisakusho (Japan), and the weights of hydrogen and carbon atoms were measured. , water
  • the atomic number of carbon was 1.008 9 and the number of hydrogen atoms and the number of carbon atoms were divided by the atomic weight of carbon 12.0119 to calculate the ratio of the number of hydrogen atoms to the number of carbon atoms (H / C).
  • the breakdown voltage is standardized by the initial value.
  • FIG. 1 shows the change in the rate of change of the dielectric breakdown voltage (V) of the test rod with time during thermal oxidation degradation.
  • V breakdown voltage after thermal degradation / initial breakdown voltage
  • FIG. 2 shows the relationship between the ratio of the number of hydrogen atoms to the number of carbon atoms (H / C) of the resin piece for monitoring and the thermal oxidation deterioration time.
  • the change in the dielectric breakdown voltage of the test rod with the thermal oxidation deterioration time was determined by the number of hydrogen atoms and the number of carbon atoms of the resin piece as a monitor. It shows the same tendency as the change in the ratio (HC), indicating that the insulation deterioration of the test rod can be estimated from the ratio of the number of hydrogen atoms to the number of carbon atoms in the monitor resin strip.
  • the insulation life of the test rod is defined as the time when the dielectric breakdown voltage of the test rod is reduced to half of the initial value, the test rod force S at 180 CC, 210 , C, and 230 CC
  • the ratio of the number of hydrogen atoms to the number of carbon atoms (HZC) of the resin piece for the monitor at the time of reaching is about 1.05 for both, It is clear that they do not depend on Therefore, by tracking the ratio of the number of hydrogen atoms to the number of carbon atoms (H / C) of the monitor resin piece incorporated in the electrical equipment, the insulation life of the electrical equipment can be predicted. This will be.
  • the method used in the present invention targets elements that are always contained in organic substances, such as carbon atoms and hydrogen atoms, and is based on changes due to thermal oxidation deterioration.
  • organic substances such as carbon atoms and hydrogen atoms
  • various thermosetting resins such as polyester resins, polyamide resins, polyamide resins, and thermo-softening resins, and the like.
  • other organic materials can be used as the resin piece for the monitor.
  • any shape such as a particle shape, a powder shape, a pellet shape, and the like can be used.
  • Inorganic fillers and other additives may be mixed into the resin.
  • the mounting position of the monitor resin strip is the surface of the coil in the case of a generator motor, for example, in the case of a stationary coil, and the coil in the case of a rotating coil.
  • the resin piece for monitoring is attached to the electric device in advance, but the insulating property of the electric device is checked from the surface of the resin insulator constituting the insulating structure of the electric device. Even if a small amount (for example, 2) of a resin piece that does not harm is sampled, the ratio of the number of carbon atoms to the number of hydrogen atoms of the resin piece is measured, and the insulation life is estimated in the same manner as in the above example. I can't do anything. Although the amount of resin chips collected from the insulating surface of electrical equipment is very small, it is sufficient to repair it with a room-temperature-curing resin in order to make sure that the sampled parts have been collected.
  • Thermal oxidative degradation of resin insulators occurs when the carbon-carbon bonds in the molecule are broken, hydrogen is released, and double bonds are formed in the molecule, and the acid is attacked by oxygen in the air and acid. It is considered that elementary atoms are fixed in the molecule and proceed. As a result, the number of hydrogen atoms per carbon atom decreases, and the number of oxygen atoms per carbon atom increases. Therefore, instead of measuring the ratio of the number of hydrogen atoms to the number of carbon atoms, the insulation life can be estimated by measuring the ratio of the number of oxygen atoms to the number of carbon atoms. Power s.
  • the monitor resin pieces prepared in Example 1 were similarly placed in electric furnaces set at 180 "1, 210, and 230 C, respectively, to be thermally oxidized and degraded.
  • FIG. 1 shows the change in the breakdown voltage of the test rod of Example 1 due to the thermal oxidation deterioration time.
  • test specimens show that the increasing changes in Fig. 3 occur in response to the decreasing changes shown in Fig. 1.
  • WA -It can be seen that it can be estimated from the ratio of resin pieces.
  • the insulation life of the test rod is defined as 180 ° C, 210 ° C,
  • the ratio of the number of oxygen atoms to the number of carbon atoms (0 / C) in the flakes is
  • the insulation degradation characteristics and phase of the insulation structure of the electrical device under test ? ⁇ ⁇
  • the relationship between the number of hydrogen atoms and the number of carbon atoms, or the ratio of the number of oxygen atoms to the number of carbon atoms, is greater than that of the resin insulator that constitutes the insulating structure with the use time of electrical equipment. If the change is much larger, the measured value will increase and decrease more greatly, and it will be a monitor resin with high sensitivity to thermal oxidation deterioration.
  • Insulation deterioration of electrical equipment is mainly caused by thermal oxidation deterioration of resin insulation, which forms an insulating structure, breaking of carbon-carbon bonds in molecules, and formation of double bonds by oxidation.
  • the oxygen atoms in the air attack the oxygen atoms, which are fixed in the molecule to form carbonyl groups, resulting in a decrease in the number of hydrogen atoms per carbon atom
  • the number of oxygen atoms per carbon atom increases.

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Description

明 柳
発明の名称
樹脂絶縁物を用いる電気機器の絶縁寿命推定方法 技術分野
この発明は 、 電気機器の絶縁寿命を推定し 、 絶縁 に よ る事故を未然に防いだ り 、 絶縁組織の更新時期 を知ろ う と す る も のであ る 。
背景技術
電気機器の絶縁は、 一般に固体、 液体、 気体絶縁 材料が用い ら れる 。 こ の内、 最 も 広く 用い られてい る 固体絶縁材料と しては、 無機絶縁材料、 有機合成 高分子絶縁材料及び、 そ の複合体があ る 。 こ れ ら絶 縁材料が長年用い ら れる と 電気的、 機械的劣化及び 熱酸化劣化を受け、 電気機器の絶縁性能が低下 し、 最終的には絶縁破壊を起こ し、 事故につながる 。 一 旦事故に到 る と 、 大き な損害の発生につな,が り 修復 等に多大な費用 と 時間を費すこ と か ら 、 絶縁破壊に 到る ま でに 、 絶縁性能の低下を検知する手法が、 予 防保全の面か ら強 く 要望さ れてい る 。
この要求に対し、 液体絶縁材料の場合は、 液体中
OMPI に溶解する微量の劣化生成物を、 気体絶縁材料の場 合は、 混在する劣化生成物を非常に感度の良いガス 分析計によ り 検知 して、 劣化度を決定してい る 。
しかし、 固体絶縁材料については、 上記のよ う に 感度の良いガス状の劣化生成物を、 劣化の指標と す る こ と はでき ず、 劣化を受けた固体自体を劣化度判 定の対象とする こ とが必要であ る 。 これに対し、 従 来、 対象と な る電気機器の絶縁抵抗、 誘電特性、 部 分放電性質な どの非破壊電気特性を測定し、 該機器 の絶縁寿命を推定する試み も 行なわれていたが、 こ れ ら の特性は、 該機器の絶縁破壊特性と 、 よい対応 関係が得 られていない。
電気機器の絶縁寿命は、 その絶縁破壊電圧によつ て決定さ れてい る こ と か ら 、 従来の方法では、 電気 機器の絶縁寿命を推定する こ と はで き ないのが現状 であ る 。 .
本発明者 ら は、 樹脂絶縁物を用いる電気機器の運 転時間に伴う 絶縁破壊電圧の低下挙動を追跡する方 法を検討した結果、 樹脂絶縁物の水素原子数と炭素 原子数の比が、 該機器の庾用時間に と も なって変化 し、 該機器の絶縁破壊電圧の低下挙動と 、 良く 対応 する こ と を見出 し本発明を完成する に至った。
発明の開示
この発明は、 樹脂絶縁物を用いる電気機器の絶縁 寿命推定方法に関し、 電気機器か ら樹脂片を取出 し、 取出 した樹脂片の水素原子数と炭素原子数の比を測 定する こ と に よ り 、 上記電気機器の絶縁寿命を推定 する よ う に し た も のであ る 。 電気機器の絶縁組織か ら樹脂片を直接切 り 出 して も よ く 、 又は電気機器の 絶縁組織と 同一 も し く は異質の樹脂絶縁物をモ ニ タ 一用樹脂片と して上記電気機器に予め取付けてお き、 その樹脂片を取 り 出 し も よ い。
又、 電気機器か ら取出 した樹脂片の水素原子数と 炭素原子数の比を測定する 代 り に、 上記樹脂片の酸 素原子数 と炭素原子数の比を測定して も 、' 同様に電 気機器の絶縁寿命を推定する こ と がで き る 。
この発明の 目的は、 樹脂絶縁物を用いた電気機器 の絶縁寿命を精度よ く 推定する方法を提供しよ う と す る も ので あ る 。
こ の発明の他の 目的は、 樹脂絶縁物を用いた電気
GMPI
WIPO 機器の絶縁寿命を簡単に推定する方法を提供しよ う と する も のであ る 。 この発明の他の目的は、 電気機器が絶縁破壊に至 る ま でに、 絶縁性能の低下を検知し、 事故防止と共 に絶縁の更新等への適切な処置が可能と な る方法を 提供しょ う と する も のであ る 。
図面の簡単な説明 第 1 図は熱酸化劣化時間に対する試験棒の絶縁破 壊電圧の変化率を示す特性図、 第 2 図は熱酸化劣化 時間に対する モ ニ タ 一用樹脂片の水素原子数と炭素 原子数の比を示す特性図、 第 3 図は熱酸化劣化時間 に対する モ ニ タ 一用樹脂片の酸素原子数と炭素原子 数の比を示す特性図であ る 。 発明を実施する た め の最良の形態
電気機器の絶縁劣化は、 主に、 樹脂絶縁物の熱酸 化劣化によ り も た ら さ れ る 。 又、 樹脂絶縁物を構成 する有機合成高分子は、 主に炭素原子 (C ) と水素原 子 (H ) か ら成 り 、 少量の酸素原子 (0 ) 窒素原子 (N ) を含んでいる 。 従って 、 主成分の炭素原子と水素原 子に注目する と 、 熱酸化劣化に よ り 、 分子内に 2 重
O :?I if 結合の生成や酸素原子と の置換がおこ り 、 結果と し て炭素原子数当 り の水素原子数が減少する こ と に な る 0 本発明は、 樹脂絶縁物の上記挙動に着目 し、 その 挙動を利用する こ と に よ っ て 、 電気機器の絶縁劣化 度を推定する方法を、 提供しよ う と する も のであ る。 即ち、 被測定電気機器の絶縁を構成する樹脂絶縁 物と 同 じ樹脂絶縁物を用いて作 られた モ ニ タ ー材と しての樹脂片を、 適当数着脱可能にあ ら かじめ運転 開始以前に該被測定電気機器に組み込み、 適当な時 間間隔で、 適当な時期に該樹脂片を例えば一個づっ 取 り 出 し、 元素分析器によ り 、 水素原子数と炭素原 子数を測定し、 その比 (H/C:) を算出 し、 又実機器と 同 じ絶縁構成のモデルを用いて、 あ らかじめ求めた 熱劣化に と も な う 絶縁破壊電圧の低下と 、 モ ニ タ 一 用樹脂片の水素原子数と炭素原子数の比 (HZC ) の変 化と の関係か ら 、 該機器の絶縁劣化度を推定する 。 従って、 絶縁破壊に到る ま で に 、 絶縁性能の低下を 検知する こ と がで き 、 事故防止と共に、 絶縁の更新 等への適切な処置が可能と なった 。
, 一 c ?i ~ v7i?c , 次に、 電気機器絶縁樹脂に用い られる熱硬化性樹 脂と して代表的なエ ポ キ シ樹脂を用いた実施例に よ り 、 本発明を具体的に説明する 。
実施例 1.
鉄心に ノ 一 メ ッ ク ス紙 ( デュポ ン社製 ) を巻き、 その上か ら ガ ラ ステ ープを巻いて固定した後、 低粘 度エ ポ キ シ系 ワ ニ ス を真空含浸し、 135 °C の電気炉 で硬化して コ ィ ル試験棒を得た。
又、 2 枚の ガ ラ ス板の間 に 、 上記エ ポ キ シ系 ヮ ニ ス を注入 し、 上記試験棒と 同 じ作製条件で加熱硬化 し て厚み mmの樹脂板を得た。 該樹脂板よ り 1 xio
X 22 mmのモ ニ タ 一用樹脂片を数個切 り 出した。 180 °C , 210 , 230 °C にそれぞれ設定した電気炉中に、 該試験棒及び樹脂片を入れ、 熱酸化劣化さ せ た 。
一定時間経過後、 試験棒を 5本取 り 出 し、 常温空 気中、 1 KV/秒 ( 交流 ) で、 絶縁破壊電圧を測定した c 同時にモ ニ タ 一用樹脂片を取 り 出 し、 粉砕した も の の一定量を、 株式会社柳本製作所 ( 日本国 ) 製の C H N コ ーダ M T 2 型の元素分析器によ り 分析し、 水素原子 と炭素原子の重量を測定し、 各重量を 、 水
OMPI
、f曹0 素の原子量 1. 008 9 炭素の原子量 12.011 9 で除して、 水素原子数と炭素原子数を求めて、 水素原子数と炭 素原子数の比 (H/C) を算出 した。 尚、 絶縁破壊電圧 は、 初期の値で規格化してあ る 。
試験棒の絶縁破壊電圧の変化率(V)の熱酸化劣化時 間に と も な う 変化を、 第 1 図に示す。 なお、 V =熱 劣化後の絶縁破壊電圧 /初期の絶縁破壊電圧
また 、 モ ニ タ 一用樹脂片の水素原子数と炭素原子 数の比 (H/C) と熱酸化劣化時間 と の関係を第 2 図に 示す。
上記第 1 図 と第 2 図か ら 、 熱酸化劣化時間に と も な う 試験棒の絶縁破壊電圧の変化は、 モ ニ タ 一材と し て の樹脂片の水素原子数と炭素原子数の比 (H C) の変化と 同一傾向を示し、 試験棒の絶縁劣化は、 モ ニ タ —用樹脂片の水素原子数と炭素原子数の比か ら 推定で き る こ と がわかる 。 試験棒の絶縁破壊電圧が、 初期の 1/2 に低下した時を該試験棒の絶縁寿命と定 め る と 、 180 °C , 210 °C , 230 °C で試験棒力 S絶縁寿 叩 に到る 時のモ ニ タ 一用樹脂片の水素原子数と炭素 原子数の比 (HZC ) は 、 いずれ も 約 1.05 で あ り 、 温度 に依存しない こ とが解る 。 従って電気機器に組み込 んだ モ ニ タ 一用樹脂片の水素原子数と炭素原子 数の比 (H/C ) を追跡する こ と に よ り 、 該電気機器の 絶縁寿命を予測で き る こ と に な る 。
本発明に用いた方法は炭素原子と水素原子と い う、 有機物には必ず含まれている元素を対象と し、 その 熱酸化劣化によ る変化に基づいている こ と か ら 、 上 記実施例で示したェポキ シ樹脂以外の例えばポ リ ェ ス テ ル樹脂、 ポ リ ア ミ ド樹脂、 ポ リ ア ミ ド ィ ミ ド樹 脂な ど種々の熱硬化性樹脂、 及び熱軟化性樹脂そ の 他の有機材料をモ ニ タ 一用樹脂片と し て用いる こ と がで き る の は勿論で あ る 。
モ ニ タ ー用樹脂片の形状と しては 、 上記実施例の 形状の外に、 粒子状、 粉体状、 ペ レ ツ ト状な ど任意 の形状で用い る こ と がで き 、 また樹脂中に無機質充 填材、 その他添加材を混入する こ と は何ら差し支え ない。
また、 モ ニ タ ー用樹脂片の取付位置は、 発電動機 の場合、 例えば、 静止側コ イ ル の と き は その コ イ ル の表面、 回転側コ イ ル の と き は そ の コ イ ルのノ、' イ ン
ΟΜΡΙ
fx. V V ΙΙΓΓΌΌ ド線の下、 又その コ イ ルのゥ エ ッ ジの下等であ る 。 また、 上記実施例ではモ ニ タ ー用樹脂片を電気機 器に予め取付けておいたが、 電気機器の絶縁組織を 構成する樹脂絶縁物の表面部か ら 、 そ の電気機器の 絶縁性を害さ ない程度の少量 ( 例えば 2 ) の樹脂 片を採取し 、 そ の樹脂片の炭素原子数と水素原子数 の比を測定し、 上記実施例と 同様に絶縁寿.命の推定 を行って も 何ら さ しつかえない。 なお電気機器絶縁 表面部か ら採取した樹脂片は微量であ る が、 採取 し た部分を念のた めに、 常温硬化性樹脂で補修してお けば十分であ る 。
樹脂絶縁物の熱酸化劣化は、 分子内 の炭素 -炭素 結合が切断されて水素が離脱 し、 分子内に 2 重結合 の生成が起 り 、 さ ら に空気中の酸素に攻撃さ れて酸 素原子が分子内固定さ れて進行する も のと 考え られ る 。 その結果炭素原子数当 り の水素原子数が減少す る こ と に な り 、 炭素原子数当 り の酸素原子数が増加 する こ と にな る 。 したがって炭素原子数当 り の水素 原子数の比を測定する代 り に炭素原子数当 り の酸素 原子数の比を測定して も 絶縁寿命の推定をする こ と 力 sで き る 。
実施例 2.
実施例 1. で作成したモ ニ タ ー用樹脂片を、 同 じ く 1 80 "Ό , 21 0 , 230 。Cにそれぞれ設定した電気 炉中に入れ熱酸化劣化さ せた。 一定時間後にモ ニ タ
—用樹脂片を取 り 出 し、 粉砕した も のの一定量を同 じ く C H N コ ーダ M T 2型の元素分析器によ り 分析 し、 水素原子と炭素原子の重量を測定し、 元素分析 に供した重量よ り 減じた も のを、 酸素原子の重量と する 。 各元素の重量を、 炭素原子量 12.01 1 9 , 酸素 原子量 1 6.00 0 で除して、 炭素原子数と 酸素原子数 を求めて酸素原子数と炭素原子数の比 (0/C ) を算出 した。 モ ニ タ 一用樹脂片の水素原子数と炭素原子数 の比 (0/C ) と熱酸化劣化時間 と の関係を第 3 図に示 す。
実施例 1.の試験棒の熱酸化劣化時間に伴う 絶縁破 壊電圧の変化は第 1 図に示さ れてい る 。 第 1 図と第
3 図を比較する と 、 第 1 図に示す減少変化に対応し て、 第 3 図の増加変化が起っている ので、 試験棒
( こ れは実機器に対応する ) の絶縁劣化は、 モ ニ タ
^¾ E£A
O PI
/ \7IPO
、 WA —用樹脂片の比か ら推定で き る こ と がわかる 。 試験
棒の絶縁破壊電圧が、 初期の 1 Z 2 に低下 した時を、 該試験棒の絶縁寿命と定め る と 、 1 8 0 °C , 2 1 0 °C ,
2 3 0 。Cで試験棒が絶縁寿命に至る 時のモ ニ タ ー用樹
脂片の酸素原子数と炭素原子数の比 (0/C ) は、 いず
れ も約 0.5 5 であ り 、 電気機器に組み込んだモ ニ タ 一
用樹脂片の酸素原子数と炭素原子数の比 (0/C ) の変
化を追跡する こ と に よ り 、 電気機器の絶縁寿命を予
測で き る 。
上述した酸素原子数と炭素原子数の比を測定する
も の におい て も 、 電気機器に予め モ ニ タ 一用樹脂片
を取付け、 それを取出すこ と の みな ら ず、 電気機器
の絶縁組織を構成する樹脂絶縁物か ら 直接に少量の
樹脂片を採取し上記の比を測定して も よ い こ と は当
然で あ る 。
次にモ ニ タ 一用樹脂片の樹脂材料について さ ら に
述べる 。 樹脂材料と しては、 被測定電気機器に使用
さ れてい る絶縁材料と 同一の樹脂絶縁物を使用する
こ と が当然でき る が、 これに限る必要はない。 む し
ろ 、 被測定電気機器の絶縁組織の絶縁劣化特性と相 '?ι \ 関関係があ り 、 水素原子数と炭素原子数の比、 あ る いは酸素原子数と炭素原子数の比が、 電気機器の使 用時間に伴って、 絶縁組織を構成する樹脂絶縁物よ り 一層大き く 変化する も のであれば、 一層、 測定値 の増減度合が大き く 、 熱酸化劣化に対して感度の良 いモ ニ タ 一用樹脂と な る 。
電気機器の絶縁劣化は、 主に絶縁組織を形成する 樹脂絶縁物が、 熱酸化劣化によ り 、 分子内の炭素 - 炭素結合の切断や、 酸化によ り 2 重結合が形成さ れ た り 、 さ ら に、 空気中の酸素の攻撃によ り 酸素原子 が分子内に固定さ れてカ ル ボ二ル基を形成し、 結果 と して、 炭素原子数当 り の水素原子数が減少し、 炭 素原子数当 り の酸素原子数が増加する こ と に な る 。
故に、 熱酸化劣化によ り 、 分子当 り の 2 重結合の割 合が密にな り 、 ポ リ .共役化する有機合成高分子又は、 分子内に酸素原子を含まないか、 そ の割合が少な く、 熱酸化劣化によ り 、 酸素原子が増加する よ う な有機 合成高分子又は、 上記両条件を満たす有機合成高分 子であれば、 熱酸化劣化によ る有機合成高分子の炭 素原子数当 り の水素原子数が減少し、 炭素原子数当 ί CMrl
-. /:. V,'IP〇 り の酸素原子数の増加程度が大き く な る 。
従って、 モ ニ タ 一用樹脂材料と しては、 熱酸化に よ り 、 HC 1 , H2 0 等の低分子の脱離反応によ り 、 分
子内に 2 重結合を生成し、 2 重結合がポ リ 共役化す
る ポ リ 塩化ビニ ル , ポ リ ビ ニ ル ア ル コ ー ル等の樹脂
又熱酸化によ り 、 分子内に〉 C
Figure imgf000015_0001
0 qu 1 no - me t i de ) 構造を取 り 、 ポ リ 共役化する ポ リ カ ーボネ — ト , フ エ ノ ー ル樹脂等が適する 。
以上説明 した よ う に こ の発明によ れば、 容易に、 しか も 精度よ く 電気機器の絶縁寿命を推定でき る効
果: 0>め る o
産業上の利甩可能性 - こ の発明は樹脂絶縁材料が用い られる電気機器全
般の絶縁寿命推定に適用でき る も のであ る
,ζ-
OMPI
νΊΡΟ

Claims

請 求 の 範 囲
(1)樹脂絶縁物を用い る電気機器か ら樹脂片を取出 し、 取出 した樹脂片の水素原子数と炭素原子数の比 を測定する こ と に よ り 、 上記電気機器の絶縁寿命を 推定する よ う に し た樹脂絶縁物を用いる電気機器の 絶縁寿命推定方法。
(2)電気機器にモ ニ タ ー用樹脂片を取付け 、 測定時 に 、 上記モ ニ タ 一用樹脂片を取出すよ う に した特許 請求の範囲第 1 項記載の樹脂絶縁物を用い る電気機 器の絶縁寿命推定方法。
(3)電気機器にモ ニ タ —用樹脂片を複数個取付け、 測定時に上記モ ニ タ 一用樹脂片の一部を取出すよ う に した特許請求の範囲第 2 項記載の樹脂絶縁物を用 いる電気機器の絶縁寿命推定方法。
(4) モ ニ タ 一用樹脂片の樹脂材料と しては、 測定さ れ る電気機器の絶縁組織を構成する樹脂絶縁物の絶 縁劣化特性と相関関係があ り 、 上記電気機器の使用 時間の経過に伴 う 、 上記樹脂材料の水素原子数と炭 素原子数の比の変化が、 上記電気機器の樹脂絶縁物 のその比の変化よ り 大き い も のであ る特許請求の範
O PI 囲第 2 項記載の樹脂絶縁物を用いる電気機器の絶縁 寿命推定方法。
(5)電気機器の絶縁組織を構成する樹脂絶縁物か ら 樹脂片を取出 し、 測定する よ う に した特許請求の範 囲第 1 項記載の樹脂絶縁物を用いる電気機器の絶縁 寿命推定方法。
(6)樹脂絶縁物を用いる電気機器か ら樹脂片を取出 し、 取出 した樹脂片の酸素原子数と炭素原子数の比 を測定する こ と に よ り 、 上記電気機器の絶縁寿命を 推定する よ う に し た樹脂絶縁物を用いる電気機器の 絶縁寿命推定方法。
(7)電気機器にモ ニ タ ー用樹脂片を取付け、 測定時 に上記モ ニ タ 一用樹脂片を取出すよ う に し た特許請 求の範囲第 6 項記載の樹脂絶縁物を用いる 電気機器 の絶縁寿命推定方法。
(8)電気機器の絶縁組織を構成する樹脂絶縁物か ら 樹脂片を取出 し、 測定する よ う に した特許請求の範 囲第 6 項記載の樹脂絶縁物を用いる電気機器の絶縁 寿命推定方法。
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