TWM423864U - A tracking apparatus for a touch sensing screen - Google Patents

Description

M423864 五、新型說明： 【新型所屬之技術領域】 本新型有關於-種檢測裝置，特别是有關於—種觸控 屏觸摸執跡檢測裝置。 【先前技術】 作為電子設備，如電腦、手機等，具備的新型輸入裝 置’觸控屏的應用越來越廣。目前，觸控 隹如電阻式、電容式m料。觸控屏㈣；來 產生輸入信號，再對輸入信號作後續處理，最終由電子設 備作出相應的回應，例如由顯示器顯示相應的資訊等。 其中，對觸點的禮認十分重要。以投射電容式觸控屏 2例，其主要由相互垂直且隔以絕緣片的兩向電極構成。 投^電容式觸控屏主要透過檢測兩向電極上的電信號，來 疋，點的座;^。當檢測靜態的觸點時，只需要確認電極 _的仏號即可完成定位。但當檢測的觸點為動態觸點時，例 如’當-觸摸物件在觸控屏表面連續移動時，在不同時間 形成的觸點位置不同，即形成連續多個觸點，若在此種狀 兄下八檢測各單觸點的座標則無法確認各觸點之間的聯 繫。舉例來說，在第一時間點檢測到觸點A，在第二時間 點，測到觸點B，依傳統靜態觸點的檢測方式，只能檢測 !單觸點A和B的座標信息，而不能確定a和B之間的 關係，因此較難確定觸摸執跡。倘若存在噪點 ，例如，在 第-時間點檢測出嗓點c的存在時，如何判定及剔除澡點 M423864 c ’將使觸摸轨跡的確定變得更加複雜。也就是說，動態 觸點的軌跡難以確定。 【新型内容】 有#於此，本新型即提供一種觸控屏觸摸軌跡檢測裝 置，採用由已知檢測觸點確定的軌跡函數來預測下一觸點 的方式追蹤動態觸點的軌跡，不僅可以確定在不同時間點 中檢測觸點之間的對應關係以獲得觸摸執跡，更可以使軌 跡更加平滑’有效濾除噪點。 一種觸控屏觸摸轨跡檢測裝置，包括·· 獲取單70 ’用於檢測連續檢測觸點的觸點信息； 控制單元，與所述獲取單元相連，根據該連續檢測觸 點的座標及該檢測觸點時間確定轨跡函數，以執跡函數計 算預測觸點並在下-檢測觸點落在該預測觸點的預設範 圍内的情^下’輸出該下—檢測觸點所對應的預測觸點。 在貫知例中，該觸點信息包括座標及觸點時間。 在-實施例中’該獲取單元包括用於檢測連續檢測觸 點座標的，測單it及用於監測檢測觸點時間的計時單元。 在實施例中，該獲取單元包括儲存單元用於儲存檢 測經驗值，該預測觸點的預設範圍為以該預測觸點為圓 心，以該檢測經驗值為半徑作圓周的範圍。 上述觸摸轨跡檢測裝置採用由已知檢測觸點確定的 轨跡函數來預測下—觸點的方式追縱動態觸點的軌跡，不 僅可以較在不同時間點點之_對應_以 5 M423864 平滑，有效濾除噪點 獲得觸摸執跡’更可以使軌跡更加 【實施方式】 如圖1所示’觸控對象，例 例如手指或觸筆，在觸控屏 表面100移動，在連續5次觸 屏 _ 7 點時間内，產生相互連續的 5個檢測觸點PI、P2、P3、P4、ρς Λ L ^ F5。各檢測觸點均具有各 自相應的座標（x，y)及相應的觸點 ’點得間t。因此，各檢測 觸點具有以下相應參數：（丨 ,' tl)、（x2，y2, t2)、 (x3, y3, 1:3)、（x4, y4,⑷、（x5, y5,⑹。 測觸點由手減觸筆運動產生，故在每個檢義點處都且 有相應的速度和加速度’其均可依上述座標及_參數計 异得出。因此’_座標及_參數可㈣出減的軌跡 函數 F(x, y, t)。 ί 對執跡函數F “ y，t)予以說明。 ^ew = Υ〇ια + ^ayAt2 + VyAt 2 ο 其中’（I，u)為新軌跡點的座標，（‘，L)為 舊軌跡點的座標（例如上一時間點軌跡點的座標），A和5 分別為Χ、γ坐標轴方向上新軌跡點的前若干個執跡點（例 如5個軌跡點）的加速度平均值，r和5分別為X、γ坐標 軸方向上新軌跡點的前若干個轨跡點（例如5個執跡點） 的速度平均值，△，為相鄰兩個軌跡點之間的時間間隔（例 如兩幀之間的時間間隔）。另外，4和孓還可以分別為χ、 Υ生铋轴方向上新執跡點前若干個軌跡點（例如5個軌跡 6 M423864 加速度值去掉最大值和最小值後的加速度平均值， 1和：還可以分別為χ、γ坐標轴方向上新軌跡點前若干個 執跡點（例如5個軌跡點）的速度值去掉最大值和最小值 後的速度平均值。 其中加速度和速度的計算方式可以採用如下近似計 舁方式：對於如圖1中的軌跡點Ρ1、Ρ2，從Ρ1到Ρ2可 以認為其為勻速運動（即P1到ρ2的加速度為〇)，在已 知Ρ卜Ρ2的位置和時間的情況下，可以計算獲得P1、ρ2 的速度，Ρ2到Ρ3可以認為是勻加速運動，從而已知ρ3 的位置和時間可以獲得Ρ2到ρ3的加速度、ρ3的速度； 類似地可以獲得Ρ3的加速度、ρ4和Ρ5的速度和加速度 等。若以上述前5個軌跡點P1至Ρ5來定義軌跡函數 F(x’y，t)’則該前5個執跡點即為觸控屏ι〇〇表面已發生 並獲取的連續檢測觸點。 當然，軌跡函數F(x，y，t)還可以採用其他任何的公 式。 上述執跡函數F(x，y，t)可用於預測轨跡的後續其他 預測觸點的位置。也就是說，獲取連續的檢測觸點的觸點 資訊後，根據已獲取的連續檢測觸點的觸點資訊確定轨跡 函數。可以以該轨跡函數計算出預測觸點並判斷下一檢測 觸點是否落在該預測觸點的預設範圍内，若判斷為是，則 以該下一檢測觸點所對應的預測觸點作為輪出觸點。 例如’如圖2所示的預測觸點P6，。依軌跡函數 F(x，y，t)預測出P6，的預測參數（x6，，y6，，t6， 7 M423864 =測觸點P6 $參照設定出預設 觸點P6的座枵β、， Α檢利檢測 標（6，y6)位於該預設範圍101之内，則由該 效?：斷:果確認軌跡函數F(xy，t)正確維持其有 應用程式報點？6作為輸出觸點，即向系統或 採取二：被觸摸的點為預測觸點P6’。其中，可以 =種方式設定上述預設範圍⑻，此處以兩例說明： 預測觸點預觸點P6 $圓心’以前—檢測觸點P5與該 為™之間距離的—半為半徑作圓周，該圓周即 瘦驗^= ’其二’以預測觸點P6L，以檢測 值為+_圓周，該圓周即為預設範圍10卜 2財絲射情彳請㈣職是聽在相應預 ^ ”、預叹範圍内。若連續轩個檢測觸點均不落在各 自所對應的·m點㈣設範_，财認該職軌跡終 T連續若干個檢測觸點之第-檢測觸點所對應的預 測觸點。例如’如圖3所示，以該轨跡函數F(x，y，t)嫁 定預測觸‘點P7,的預測參數（x7,，y7,，t7,)，以預測 觸點P7 4參照設定出預設範圍1G2，經檢測，檢測觸點 P7的座標（x7，y7)位於預設範圍1〇2之外；繼續確定預測 觸點P8, W預測參數（x8,，y8,，t8,），以預測觸點 F>8’為參照設定出預設範0 1〇3,經檢測檢測觸點p8 的座標（x8，y8)位於預設範圍103之外；繼續確定出預測 觸點P9，㈣測參數㈣，y9’，t9’），以預測觸點 P9’為參照設定出預設範目1〇4，經檢測，檢測觸點p9 的座標（x9，y9)位於狀㈣1G4 m確定該執跡終 M423864 於預測觸=P7，’且以預測觸點p7,4結束點輸出。 f確^—軌跡终止後，可制斷新出現的檢測觸 點，是否會成為一新軌跡的起源’還是為噪點。例如，如 二，，所* &檢測觸點P7作為待證新軌跡之第-觸點 來。又疋出位置範圍】〇5。經檢測，檢測觸點p2，， 的座心（x2，，y2’ ’）位於位置範圍ι〇5内。繼續以檢 ^觸點P2來設定位置範圍⑽。經檢測，檢測觸點 接3、的座標（X3，，，#，）位於位置範圍106内。繼 :駐^觸點Ρ3 I設定位置範圍1Q7。經檢測，檢測 *’、、的座標（x4’，，Η’，）位於位置範圍1〇7 内。以檢測觸點P4’ ’來設定位置範圍1〇8。經檢測，檢 測觸點朽’ ’的座標（x5，’，y5,，）位於位置範圍108 二。，此=，’，確認待證新軌跡第一至第五檢測觸點 ，，〜，，共同構成新執跡，且定義出新軌跡函數 ，’y *1 )。如圖5所示，若經檢測，檢測觸 位於位置範圍1 〇5之外，則該檢測觸點pi，， f確認為噪點。其中’各位置範圍的確定方法可以為：以 則-檢測觸點為圓心、，以檢測經驗值為半徑作圓周 該圓周為位置範圍。 圖6所不為圖7中觸控屏200的觸摸執跡檢測方法， 主要包括以下步驟。 ' 步驟301，檢測出連續的n個檢測觸點的觸點資訊。 ，、中1¾觸,點資訊可以是觸點座標及觸點時， PKxl，yl’ tl)、P2(x2, y2, t2)··.···Pn(xn，yn，tn)。其中， M423864 η大於等於3。 步驟303，根據檢測觸點Ρ卜Ρη的參數（xl，yl, tl)、 (x2, y2, t2)......(xn, yn, tn)確定執跡函數 F(x, y, t)。 步驟305，以該執跡函數F(x, y, t)計算出預測觸點 Ρη+Γ 。 步驟307，判斷第nH檢測觸點Ρη+1是否落在該預 測觸點Ρη+Γ的預設範圍201。若判斷結果為是，則流程 進入步驟309。若判斷結果否，則流程進入步驟311。 步驟3 0 9，以當前檢測觸點對應的預測觸點作為輸出 觸點，並將η自加一位元後返回步驟305。 步驟311，依照步驟305至步驟307的方法依次對第 η+2檢測觸點至第n+k檢測觸點進行判斷，其中k大於等 於3。若Pn+k檢測觸點落在軌跡函數F(x，y，t)的預測觸 點Pn+k’的默認範圍，則流程進入步驟309。若Pn+k檢 測觸點不落在轨跡函數F(x，y，t)的預測觸點Pn+k’的默 認範圍，則流程進入步驟313。 步驟313,確認上述軌跡終結於第n+1預測觸點 Ρη+Γ 。 步驟315,確認新執跡是否起源於第n+1檢測觸點 Pn+1。若是，則流程進入步驟301。若否，則流程進入步 驟 317。 步驟317，確認第n+1檢測觸點Pn+1為噪點。 上述觸摸轨跡檢測方法採用由已知檢測觸點確定的 軌跡函數來預測下一觸點的方式追蹤動態觸點的軌跡，不 M423864 僅可以確定不同幀數檢測觸點之間的對應關係以獲得觸 摸執跡，而且可以使執跡更加平滑，有效濾除噪點。 其中，如圖8所示，確認新執跡是否起源於第n+1檢 測觸點Pn+1進一步具體包括以下步驟。 步驟401，以第n+1檢測觸點Pn+1作為待證新執跡 第一檢測觸點ΡΓ ’來設定位置範圍204。 步驟403，判斷在位置範圍204内，是否有檢測觸點 - 被檢測到。若有，則流程進入步驟405。若沒有，則流程 • 進入步驟413。 步驟405，以在位置範圍204内檢測到的檢測觸點為 待證新軌跡第二檢測觸點P2’ ’來設定位置範圍205。 步驟407，判斷在位置範圍205内，是否有檢測觸點 被檢測到。若有，則流程進入步驟409。若沒有，則流程 進入步驟413。 步驟409，依步驟405與407依次判斷至第m個待證 $ 新軌跡檢測觸點Pm’ ’ 。若存在第m個待證新軌跡之檢 測觸點Pm’ ’ ，其新執跡位置範圍206存在觸點，則流 程進入步驟411。若不存在，則流程進入步驟413。其申， m大於等於3。 步驟411，確認待證新軌跡存在且以第n+1檢測觸點 Pn+1為軌跡初始點，流程進入步驟301。 步驟413，確認待證新執跡不存在。 此外，還提供了一種觸摸軌跡檢測裝置。如圖9所 示，觸摸軌跡檢測裝置900用於對觸控屏200的觸摸執跡 M423864 進行檢測。觸摸軌跡檢測裝置900包括彼此相連的獲取單 元920及控制單元940。其中，獲取單元92〇用於檢測連 續檢測觸點的觸點資訊，且包括儲存單元922、檢測單元 924及計時單元926。該觸點資訊包括觸點座標和觸點時 間。 檢測單元924與觸控屏200相連，檢測用戶在觸控屏

200上觸摸產生的檢測觸點座標，例如檢測出3個以上連 縯檢測觸點的座標。 计時單元926用於監測檢測觸點的時間。計時單元 926除包括在獲取單元92_，還可以是單獨的器件，也 可以整合在控制單元940中。 控制早7G 940與檢測單元924及計時單元926相連， 根據該連續的檢測觸點的座標及觸點時間確定軌跡函 數’以軌跡函數計算預測觸點並判斷下—檢測觸點是否落 在該預測觸點的預設範_，將輸出該下—檢測觸點所對 應的預測觸點。㈣單元94(^工作過程如上賴控屏觸 摸軌跡檢測方法所述，不再贅述。 儲存單元922可以用於儲存檢測經驗值，將以預測觸 點為圓心，以檢測經驗值為半徑作圓周的範圍作為預設範 圍。此外，預設範圍還可以為以預測觸點為圓心，以該預 測觸點與前-檢測觸點之間距離的—半為半 範圍。 雖然本新型已參照較佳具體例及舉例性附圖敛述如 上，惟其應稀視為係_性者。熟悉本技藝者對其形態 12 M423864 及具體例之内容做各種修改、省略及變化，均不離開本新 型之申請專利範圍第之所主張範圍。 【圖式簡單說明】 圖1為本新型一實施例的觸控屏觸撰軌跡確認示意 S3 · _， 圖2為圖1觸控屏觸摸軌跡之下一預測觸點與觸點的 不意圖， 圖3為圖1觸控屏觸摸軌跡終止示意圖； 圖4為圖1觸控屏觸摸轨跡新軌跡確認示意圖； 圖5為圖1觸控屏觸摸執跡噪點確認示意圖； 圖6為本新型的觸控屏觸摸軌跡檢測方法流程圖； 圖7為本新型技術方案的觸控屏觸摸轨跡示意圖； 圖8為本新型的觸控屏新觸摸軌跡判斷方法示意圖； 圖9為本新型的觸摸屏觸摸轨跡檢測裝置示意圖。 【主要元件符號說明】 100 > 200 觸控屏 PI、P2、P3、P4、P5、P6、P7、P8、P9、PI，，、P2，，、P3，，、 P4，，、P5’，、Pn、Pn + 卜Pn+k、Pm，， 檢測觸點 P6,、P7,、P8,、P9,、Pn+1，〜Pn+k， 預測觸點 101、102、103、104、201、202、203 預設範圍 105、106、107、108、109、204、205、206 位置範圍 900 觸摸軌跡檢測裝置 920 獲取單元 13 M423864 922 儲存單元 924 檢測單元 926 計時單元 940 控制單元 200 觸控屏

Claims (1)

1. M423864 六、申請專利範圍： 1、 一種觸控屏觸摸執跡檢測裝置，包括： 獲取單元，用於檢測連續檢測觸點的觸點信息； 控制單元，與所述獲取單元相連，根據該連續檢測觸 點的座標及該檢測觸點時間確定轨跡函數，以執跡函數計 算預測觸點並在下一檢測觸點落在該預測觸點的預設範 圍内的情況下，輸出該預測觸點。 2、 根據申請專利範圍第1項所述之觸控屏觸摸轨跡 檢测裝置，其_該觸點信息包括座標及觸點時間。 3、 根據申請專利範圍第2項所述之觸控屏觸摸軌跡 檢測裝置’其中該獲取單元包括用於檢測連續檢測觸點座 標的檢測單元及用於監測檢測觸點時間的計時單元。 4、 根據申請專利範圍第3項所述之觸控屏觸摸轨跡 =測裝置’該獲取單元包括儲存單元料儲存檢測經驗 ，遠預測觸點的預設範圍為以該預測觸點為圓心，以該 _檢測經驗值為半徑作圓周的範圍。 15