TWI763007B - 測試治具及測試組件 - Google Patents

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Abstract

本揭露提供一種測試治具，用於支承一待測元件。該測試治具包括一基部、一框架、一凹陷部、複數組電接觸點以及複數個電線。該框架沿著該基部之一上表面的一外周圍朝上延伸。該框架與該基部的該上表面圍繞該凹陷部設置，且該待測元件容置在該凹陷部中。該複數組電接觸點設置在該凹陷部上，並以旋轉對稱方式設置，其中在該待測元件與該測試治具組裝在一起之後，該待測元件的複數個鍍覆貫穿孔接觸其中一組電接觸點。

Description

測試治具及測試組件
本申請案主張2019年10月31日申請之美國正式申請案第16/670,237號的優先權及益處，該美國正式申請案之內容以全文引用之方式併入本文中。
本揭露係關於一種載體以及一組件，該載體用於支承一待測元件(device under test，DUT)，而該組件包括該載體與該待測元件。特別是有關於一種測試治具以及一組件，該測試治具用於支承安裝有多個電子部件之一印刷電路板，該組件包括該測試治具以及該印刷電路板。
印刷電路板的組件及族群需要許多放置(placement)、銲接(soldering)以及其他處理步驟。因此，測試(testing)以及檢測(inspection)對於一高品質產品的經濟製造是重要的部分。當晶片電路密度、輸入/輸出密度以及表面安裝技術使印刷電路板負載(loadings)上升時，這是特別合適的。缺陷(faults)可源自於部件晶片以及空板在部件插入或在銲接。該等缺陷本身可為不正確的數值或符號、不佳的電路功效、開路、短路、部件在不正確位置、物理損傷、不正確的銲接、損傷或開放著陸，或是超出容差(out-of-tolerance)缺陷。
上文之「先前技術」說明僅係提供背景技術，並未承認上 文之「先前技術」說明揭示本揭露之標的，不構成本揭露之先前技術，且上文之「先前技術」之任何說明均不應作為本案之任一部分。
本揭露之一實施例提供一種測試治具。該測試治具包括一基部、一框架以及複數組電接觸點。該框架沿該基部之一上表面的一外周圍朝上延伸。該複數組電接觸點設置在該基部上，並以旋轉對稱方式設置。
在本揭露的一些實施例中，該框架對應該基部的一中心軸對稱。
在本揭露的一些實施例中，測試治具還包括複數個連接件，設置在該基部的一側面；以及複數個電線，將該複數組電接觸點電性連接到該複數個連接件。
在本揭露的一些實施例中，該複數個連接件的數量相等於該複數組電接觸點的數量，而該複數個連接件以一致的角度定向沿著該基部的一中心軸設置。
在本揭露的一些實施例中，至少一電線將至少一組電接觸點電性連接到至少一連接件。
在本揭露的一些實施例中，該等電線埋入在該基部中。
在本揭露的一些實施例中，當從一平面圖所視，該複數個連接件對準該複數組電接觸點。
在本揭露的一些實施例中，當從一平面圖所視，該複數個連接件從該複數組電接觸點偏移。
本揭露之另一實施例提供一種測試組件。該測試組件包括 一待測元件以及一測試治具。該待測元件包括一印刷電路板、至少一電子部件以及複數個鍍覆貫穿孔，該至少一電子部件安裝在該印刷電路板上，而該複數個鍍覆貫穿孔穿經該印刷電路板。該測試治具包括一基部、一框架、一凹陷部以及複數組電接觸點。該框架沿該基部之一上表面的一外周圍朝上延伸。該框架與該基部的該上表面圍繞該凹陷部設置。該複數組電接觸點設置在該基部上，並以旋轉對稱方式設置，其中該複數組電接觸點提供在相對應該等鍍覆貫穿孔的位置處。該待測元件容置在該凹陷部中，且該複數個鍍覆貫穿孔接觸一組電線。
在本揭露的一些實施例中，該測試治具還包括至少一固定塊，設置在該凹陷部中，以將該待測元件固定在該凹陷部中。
在本揭露的一些實施例中，該測試治具還包括至少一固定組件，將該固定塊鎖固在該基部。
在本揭露的一些實施例中，該測試治具還包括至少一固定組件，將該印刷電路板鎖固在該基部。
在本揭露的一些實施例中，該印刷電路板的一頂表面與框架的一頂表面為共面。
在本揭露的一些實施例中，該框架對應該基部的一中心軸對稱。
在本揭露的一些實施例中，該測試治具還包括複數個連接件，設置在該基部的一側面；以及複數個電線，將該複數組電接觸點電性連接到該複數個連接件。
在本揭露的一些實施例中，該等電線埋入該基部中。
在本揭露的一些實施例中，該複數個連接件的數量相等於 該複數組電接觸點的數量，而該複數個連接件以一致的角度定向沿著該基部的一中心軸設置。
由於該測試治具包括以旋轉對稱方式設置之複數組電接觸點的上述架構，因此待測元件可以不同方向安裝在測試治具上，以改善組裝的自由度。
由於該測試治具包括複數個連接件的上述架構，而該等連接件沿著具有一致的角度定向之基部的中心軸設置，因此一電源供應器可以不同方向連接到測試治具，以改善組裝的自由度。
上文已相當廣泛地概述本揭露之技術特徵及優點，俾使下文之本揭露詳細描述得以獲得較佳瞭解。構成本揭露之申請專利範圍標的之其它技術特徵及優點將描述於下文。本揭露所屬技術領域中具有通常知識者應瞭解，可相當容易地利用下文揭示之概念與特定實施例可作為修改或設計其它結構或製程而實現與本揭露相同之目的。本揭露所屬技術領域中具有通常知識者亦應瞭解，這類等效建構無法脫離後附之申請專利範圍所界定之本揭露的精神和範圍。
10:測試組件
11:測試治具
12:平台
14:第一擋件
16:第二擋件
18:配重塊
20:待測元件
20A:待測元件
22:印刷電路板
22A:印刷電路板
221:頂表面
222:周圍
222A:周圍
24:電子部件
26:鍍覆貫穿孔
30:電纜
34:頭部
40:測試組件
40A:測試組件
40B:測試組件
50:測試治具
50A:測試治具
50B:測試治具
510:基部
511:外周圍
512:上表面
514:側面
520:框架
522:上表面
530:電接觸點組
532:電接觸點
540:電線
540B:電線
550:凹陷部
552:正方形周圍
560:連接件
570:固定組件
580:固定塊
590:通道段
60:電源供應器
C:中心軸
D1:距離
D2:距離
H:高度
L:長度
L':長度
T:厚度
W:寬度
x:第一方向
y:第二方向
參閱實施方式與申請專利範圍合併考量圖式時，可得以更全面了解本申請案之揭示內容，圖式中相同的元件符號係指相同的元件。
圖1為一種比較的測試組件的頂視示意圖。
圖2為沿圖1之剖線A-A所視的剖視示意圖。
圖3為依據本揭露一實施例中一種測試組件的頂視示意圖。
圖4為沿圖3之剖線B-B所視的剖視示意圖。
圖5為依據本揭露一實施例中一種測試治具的頂視示意圖。
圖6為依據本揭露一實施例中一種測試組件的頂視示意圖。
圖7為沿圖6之剖線C-C所視的剖視示意圖。
圖8為依據本揭露一實施例中一種測試組件的頂視示意圖。
圖9為沿圖8之剖線D-D所視的剖視示意圖。
現在使用特定語言描述附圖中所繪示的本揭露之實施例或例示。應當理解，在此並非意指限制本揭露的範圍。所描述的實施例的任何改變或修改，以及本文中所描述的原理的任何進一步應用，都被認為是通常發生在與本揭露內容相關的所屬技術領域中具有通常知識者其中之一。在整個實施例中可以重複使用參考元件編號，但這不一定意味著一個實施例的特徵適用於另一實施例，即使它們共享相同的參考元件編號。
應當理解，儘管這裡可以使用術語第一，第二，第三等來描述各種元件、部件、區域、層或區段(sections)，但是這些元件、部件、區域、層或區段不受這些術語的限制。相反，這些術語僅用於將一個元件、組件、區域、層或區段與另一個區域、層或區段所區分開。因此，在不脫離本發明進部性構思的教導的情況下，下列所討論的第一元件、組件、區域、層或區段可以被稱為第二元件、組件、區域、層或區段。
本文中使用之術語僅是為了實現描述特定實施例之目的，而非意欲限制本發明。如本文中所使用，單數形式「一(a)」、「一(an)」，及「該(the)」意欲亦包括複數形式，除非上下文中另作明確指示。將進一步理解，當術語「包括(cormprises)」及/或「包括(comprising)」用於本說明書中時，該等術語規定所陳述之特徵、整數、步驟、操作、元件，及/或組件之存在，但不排除存在或增添一或更多個其他特徵、整數、步 驟、操作、元件、組件，及/或上述各者之群組。
圖1為一種比較的測試組件10的頂視示意圖，以及圖2為沿圖1之剖線A-A所視的剖視示意圖。請參考圖1及圖2，測試組件10包括一測試治具11以及一待測元件(device under test，DUT)20，而測試治具11用於攜帶待測元件20，例如安裝有多個電子部件24的一印刷電路板(printed circuit board，PCB)22。待測元件20還包括複數個鍍覆貫穿孔(plated through holes)26，其係完全鑽穿印刷電路板22，金屬化並經由置放在印刷電路板22上或埋入印刷電路板22中的電性走線(electrical traces，圖未示)而電性耦接到該等電子部件24。
測試治具11具有一平台12、複數個第一擋件14、複數個第二擋件16以及一配重塊18，該複數個第一擋塊14設置在平台12上且在一第一方向x等距設置，該複數個第二擋塊16設置在平台12上且在一第二方向y等距設置，而配重塊18用於壓住一測試探針(testing probe，圖未示)的一電纜(cable)30，以避免在操作期間電纜30的位移，以便降低操作失誤。該等第一擋件14用於阻擋待測元件20的一邊緣並迫使待測元件20在第二方向y移動，而該等第二擋件16則用於阻擋待測元件20的另一邊緣並迫使待測元件20在第一方向x移動，而第一方向x垂直於第二方向y。測試探針電源供應器(power supply)的一頭部34接觸該等鍍覆貫穿孔26，以確保待測元件20正常運作或提供電力給待測的該等電子部件24。
一般而言，該等鍍覆貫穿孔26提供在印刷電路板22的一側，以增加用於安裝該等電子部件24的一佔用面積(footprint)。因此，形成有該等鍍覆貫穿孔26之印刷電路板22的一邊緣需要朝遠離該等第一擋件14與該等第二擋件16方向定向，而該等第一擋件14與該等第二擋件16 則是用於便於配置電纜30與安裝頭部34。然而，此需求使得具有測試治具11的待測元件20之組裝效率低且不方便。
此外，由於配重塊18僅在電纜30上提供一向下施力以將電纜30固定在平台12，因此頭部34可輕易地從該等鍍覆貫穿孔26分離。這導致降低測試組件10的結構穩定度與結構可靠度。此外，由於印刷電路板22與平台12的頂表面並不在相同水平高度，因此會輕易地損傷頭部34。
圖3為依據本揭露一實施例中一種測試組件40的頂視示意圖，圖4為沿圖3之剖線B-B所視的剖視示意圖，而圖5為依據本揭露一實施例中一種測試治具的頂視示意圖。請參考圖3至圖5，測試組件40包括一測試治具50以及一待測元件20，其中測試治具50用於支承待測元件20。
請參考圖3及圖4，待測元件20包括一印刷電路板22以及複數個鍍覆貫穿孔26，印刷電路板22安裝有多個電子部件24，而該等鍍覆貫穿孔26完全鑽穿引刷電路板22，金屬化並經由電性走線(electrical traces，圖未示)而電性耦接到該等電子部件24。印刷電路板22具有一周圍(perimeter)222。在一些實施例中，周圍222形成一正方形，具有一側邊長度L。側邊長度L可約為12cm。
請參考圖3及圖4，測試治具50包括一基部510、一框架520、複數組電接觸點530以及複數個電線540，框架520沿著基部510之一上表面512的一外周圍511朝上延伸，複數組電接觸點530設置在基部510上且以旋轉對稱方式設置，而複數個電線540埋入在基部510中並將複數組電接觸點530電性連接到一電源供應器60。在一些實施例中，框架520對應基部510的一中心軸C對稱，並具有一大致平面的上表面522。在一些 實施例中，至少一組電接觸點530包括複數個電接觸點532，提供在對應經由印刷電路板22所形成之該等鍍覆貫穿孔26的位置處。在一些實施例中，連接到每一組電接觸點530的該等電線540，係相互電性絕緣。在一些實施例中，連接到其中一組電接觸點530之該等電線540的數量，相等於在其中一組電接觸點530中之電接觸點532的數量。
測試治具50還包括一凹陷部550，而框架520與基部510之上表面512圍繞凹陷部550設置，且凹陷部550用於容置待測元件20。在一些實施例中，該等複數組電接觸點530設置在凹陷部550中，並連接到上表面512。在一些實施例中，框架520具有一高度H，適合於印刷電路板22的一厚度T；因此，當待測元件20設置在凹陷部550中時，則印刷電路板22的一頂表面221與框架520的上表面522為共面。因此，並不容易損傷一測試探針的一頭部，其中測試探針的頭部係接觸該等鍍覆貫穿孔26以決定待測元件20的功能是否正確。在一些實施例中，基部510與框架520由隔離材料所製，例如聚四氟乙烯(polytetrafluoroethylene，PTFE)。
請參考圖5，當從平面圖所視時，基部510具有一圓形形狀，而被框架520與基部510所圍繞的凹陷部550具有一正方形周圍552。在一些實施例中，基部510可為一12吋直徑基部，而凹陷部550的周圍552具有一側邊長度L'，並不小於如圖3所示之印刷電路板22的長度L。在一些實施例中，長度L'約為12cm。在其他實施例中，當從平面圖所視時，凹陷部550可具有一正多邊形周圍。
請參考圖3及圖5，凹陷部550的周圍552與該等電接觸點530的中心之間的一距離D2，等於該等鍍覆貫穿孔26的中心與提供有該等鍍覆貫穿孔26的印刷電路板22的一邊緣之間的一距離D1。在一些實施例 中，該複數組電接觸點530的數量等於凹陷部550之側邊的數量。舉例來說，當具有正方形周圍552之凹陷部550具有四側邊時，則測試治具50具有四組電接觸點530。因此，形成穿過印刷電路板22的該等鍍覆貫穿孔26可以不同方向設置在凹陷部550中，以改善組裝的自由度。
請參考圖4及圖5，測試治具50還包括複數個連接件(connectors)560，設置在基部510中並在基部510的一側面514處。該等連接件560經由該等電線540而電性連接到該等電接觸點532。在一些實施例中，該等連接件560的數量相等於該複數組電接觸點的數量530。在一些實施例中，當從平面圖所視時，該等連接件560從該複數組電接觸點530偏移。該等連接件560適用於電性連接到電源供應器60。更特別是，當待測元件20容置在凹陷部550中，且印刷電路板22的該等鍍覆貫穿孔26對準並接觸其中一組電接觸點530時，電源供應器60可連接到其中一連接件560，此連接件560電性耦接到與該等鍍覆貫穿孔26對準的該等電接觸點532，以使由電源供應器60所供應的電力可傳導之待測元件20，以啟動該等電子部件24。在一些實施例中，該等連接件560以一致的角度定向沿著基部510的一中心軸設置，以使電源供應器60可以不同方向連接到基部510，以改善連接的自由度。
請參考圖3，在一些實施例中，測試治具50還包括一或多個固定組件570，用於將待測元件20定位在基部510上，以便在操作期間有效地避免待測元件20與測試治具50分離。在一些實施例中，例如螺絲的固定組件570可設置在凹陷部550的各角落。
圖6為依據本揭露一實施例中一種測試組件40A的頂視示意圖，而圖7為沿圖6之剖線C-C所視的剖視示意圖。請參考圖6及圖7，測試 組件40A包括一測試治具50A以及一待測元件20A，其中測試治具50A用於攜帶並固定待測元件20A。待測元件20A具有一印刷電路板22A以及複數個鍍覆貫穿孔26，印刷電路板22A安裝有多個電子部件24，複數個鍍覆貫穿孔26完全鑽穿印刷電路板22A，金屬化並經由電性走線(electrical traces，圖未示)而電性耦接到該等電子部件24。印刷電路板22A具有一周圍222A。在一些實施例中，周圍222A形成一矩形，具有一寬度W以及一長度L，而長度L大於寬度W。在一些實施例中，寬度W約為10.5cm，而長度L約為12cm。在一些實施例中，該等鍍覆貫穿孔26提供在印刷電路板22A的其中一較短側邊。
測試治具50A包括一基部510、一框架520、複數組電接觸點530、複數個電線540、以及一或多個固定塊(fixed blocks)580；框架520沿著基部510之一上表面512的一外周圍朝上延伸；複數組電接觸點530設置在基部510上，並以旋轉對稱方式設置，且包括複數個接觸點532；複數個電線540埋入在基部510中，並將複數組電接觸點530電性連接到複數個連接件560；而固定塊580用於將待測元件20A維持在一凹陷部550中，且基部510的上表面512與框架520圍繞凹陷部550設置。
在這些實施例中之基部510、框架520、複數個電線540以及凹陷部550的架構，基本上相同於如圖3至圖5所示之實施例中所表示之類似元件的架構。如圖6及圖7所示之類似元件的詳細敘述因此可在如圖3至圖5所示之實施例的敘述中找到。然而，當從平面圖所視，複數個連接件560對準複數組電接觸點530。
當待測元件20A尺寸太小而無法適當地固定在凹陷部550時，用於維持待測元件20A的固定塊580設置在凹陷部550中。特別是，當 具有較小尺寸之待測元件20A容置在凹陷部550中，且印刷電路板22A之該等鍍覆貫穿孔26對準其中一組電接觸點530時，係界定出在凹陷部550中的一通道段590。一或多個固定塊580設置在通道段590中，以壓抵待測元件20A的一或多個邊緣，以避免由於碰撞或輸送的干擾所造成該等鍍覆貫穿孔26以及該等電接觸點532之位移。
在一些實施例中，該等固定塊580可為堅硬塊體；在此實施例中，該等固定塊580以及例如螺絲的該等固定組件570可共同地將待測元件20A定位在凹陷部550中。特別是，在印刷電路板22A之該等鍍覆貫穿孔26對準並接觸該等電接觸點532時，固定塊580扣住印刷電路板22A的一或多個邊緣，以迫使待測元件20A移動，且該等固定組件570將固定塊580鎖在基部510。藉此，該等固定塊580與基部510穩固地連接，並可鞏固測試組件40A的整體結構。為了避免短路，在基部510中的該等固定組件570不能連接到該等電接觸點或該等電線540。在一些實施例中，框架520與該等固定塊580具有相同高度H。
在另外的實施例中，該等固定塊580可以由彈性材料所製，以在位於凹陷部550中之待測元件20A的接合期間，在通道段590上的應力下縮回；在此實施例中，可省略固定組件570。
圖8為依據本揭露一實施例中一種測試組件40B的頂視示意圖，而圖9為沿圖8之剖線D-D所視的剖視示意圖。請參考圖8及圖9，測試組件40B包括一測試治具50B以及一待測元件20A，待測元件20A設置在測試治具50B上。測試治具50B包括一基部510、一框架520、複數組電接觸點530、複數個電線540B、以及一或多個固定塊(fixed blocks)580；框架520沿著基部510之一上表面512的一外周圍朝上延伸；複數組電接觸點設 置在基部510上，並以旋轉對稱方式設置，且包括複數個接觸點532；複數個電線540B埋入在基部510中，並將複數組電接觸點530電性連接到複數個連接件560；而固定塊580用於將待測元件20A維持在一凹陷部550中，且基部510的上表面512與框架520圍繞凹陷部550設置。
在這些實施例中之基部510、框架520、複數組電接觸點530、凹陷部550以及複數個連接件560的架構，基本上相同於如圖3至圖7所示之實施例中所表示之類似元件的架構。如圖8及圖9所示之類似元件的詳細敘述因此可在如圖3至圖7所示之實施例的敘述中找到。
在圖8及圖9中，該等電線540B電性連接該複數組電接觸點530，而該複數組電接觸點530位在相對應連接該等連接件560的位置處。換言之，其中一電線540B連接到相對應該等連接件560的位置處。因此，電源供應器60可從任一連接件560提供電力給待測元件20A，以進一步改善連接的自由度。
綜上所述，包括複數個連接件560且該等連接件560以一致的角度定向沿著基部510的中心軸C設置的測試治具50/50A/50B，係允許電源供應器60以不同方向連接到測試治具50/50A/50B，以改善組裝的自由度。
本揭露之一實施例提供一種測試治具。用於支承一待測元件的該測試治具包括一基部、一框架以及複數組電接觸點。該框架沿該基部之一上表面的一外周圍朝上延伸。該複數組電接觸點設置在該基部上，並以旋轉對稱方式設置。該待測元件容置在該凹陷部中，且該待測元件的複數個鍍覆貫穿孔接觸其中一組電接觸點。
本揭露之另一實施例提供一種測試組件。該測試組件包括 一待測元件以及一測試治具。該待測元件包括一印刷電路板、至少一電子部件以及複數個鍍覆貫穿孔，該至少一電子部件安裝在該印刷電路板上，而該複數個鍍覆貫穿孔穿經該印刷電路板。該測試治具包括一基部、一框架、一凹陷部以及複數組電接觸點。該框架沿該基部之一上表面的一外周圍朝上延伸。該框架與該基部的該上表面圍繞該凹陷部設置。該複數組電接觸點設置在該基部上，並以旋轉對稱方式設置，其中該複數組電接觸點提供在相對應該等鍍覆貫穿孔的位置處。該待測元件容置在該凹陷部中，且該複數個鍍覆貫穿孔接觸一組電線。
雖然已詳述本揭露及其優點，然而應理解可進行各種變化、取代與替代而不脫離申請專利範圍所定義之本揭露的精神與範圍。例如，可用不同的方法實施上述的許多製程，並且以其他製程或其組合替代上述的許多製程。
再者，本申請案的範圍並不受限於說明書中所述之製程、機械、製造、物質組成物、手段、方法與步驟之特定實施例。該技藝之技術人士可自本揭露的揭示內容理解可根據本揭露而使用與本文所述之對應實施例具有相同功能或是達到實質上相同結果之現存或是未來發展之製程、機械、製造、物質組成物、手段、方法、或步驟。據此，此等製程、機械、製造、物質組成物、手段、方法、或步驟係包含於本申請案之申請專利範圍內。
20:待測元件
22:印刷電路板
222:周圍
24:電子部件
26:鍍覆貫穿孔
40:測試組件
50:測試治具
520:框架
540:電線
552:正方形周圍
560:連接件
570:固定組件
60:電源供應器
D1:距離
L:長度

Claims (15)

  1. 一種測試治具，包括：一基部；一框架，位於該基部之一上表面並沿該基部之該上表面的一外周圍朝上延伸；複數組電接觸點，設置在該基部之該上表面上，並以旋轉對稱方式設置，其中該複數組電接觸點電性連接到一電源供應器以供應電力；以及複數個連接件，設置在該基部的一側面，其中該複數個連接件的數量相等於該複數組電接觸點的數量，而該複數個連接件以一致的角度定向沿著該基部的一中心軸設置。
  2. 如請求項1所述之測試治具，其中該框架對應該基部的一中心軸對稱。
  3. 如請求項1所述之測試治具，還包括：複數個電線，將該複數組電接觸點電性連接到該複數個連接件。
  4. 如請求項3所述之測試治具，其中至少一電線將至少一組電接觸點電性連接到至少一連接件。
  5. 如請求項3所述之測試治具，其中該等電線埋入在該基部中。
  6. 如請求項1所述之測試治具，其中當從一平面圖所視，該複數個連接件對準該複數組電接觸點。
  7. 如請求項1所述之測試治具，其中當從一平面圖所視，該複數個連接件從該複數組電接觸點偏移。
  8. 一種測試組件，包括：一待測元件，包括一印刷電路板、至少一電子部件以及複數個鍍覆貫穿孔，該至少一電子部件安裝在該印刷電路板上，而該複數個鍍覆貫穿孔穿經該印刷電路板；以及一測試治具，包括：一基部；一框架，位於該基部之一上表面並沿該基部之該上表面的一外周圍朝上延伸；一凹陷部，該框架與該基部的該上表面圍繞該凹陷部設置；以及複數組電接觸點，設置在該基部之該上表面上，並以旋轉對稱方式設置，其中該複數組電接觸點提供在相對應該等鍍覆貫穿孔的位置處，其中該複數組電接觸點電性連接到一電源供應器以供應電力；以及複數個連接件，設置在該基部的一側面，其中該複數個連接件的數量相等於該複數組電接觸點的數量，而該複數個連接件以一致的角 度定向沿著該基部的一中心軸設置；其中該待測元件容置在該凹陷部中，且該複數個鍍覆貫穿孔接觸一組電線。
  9. 如請求項8所述之測試組件，其中該測試治具還包括至少一固定塊，設置在該凹陷部中，以將該待測元件固定在該凹陷部中。
  10. 如請求項9所述之測試組件，其中該測試治具還包括至少一固定組件，將該固定塊鎖固在該基部。
  11. 如請求項8所述之測試組件，其中該測試治具還包括至少一固定組件，將該印刷電路板鎖固在該基部。
  12. 如請求項8所述之測試組件，其中該印刷電路板的一頂表面與框架的一頂表面為共面。
  13. 如請求項8所述之測試組件，其中該框架對應該基部的一中心軸對稱。
  14. 如請求項8所述之測試組件，其中該測試治具還包括：複數個電線，將該複數組電接觸點電性連接到該複數個連接件。
  15. 如請求項8所述之測試組件，其中該等電線埋入該基部中。
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