TWI611002B - 金屬被覆樹脂粒子及使用其之導電性接著劑 - Google Patents

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Abstract

本發明提供了一種可獲得反覆壓縮後之高可靠性之電連接的金屬被覆樹脂粒子，其由樹脂粒子及被覆該樹脂粒子之至少一部分之金屬被覆層所構成。其中，該樹脂粒子之平均粒徑為1~100μm，且30%壓縮變形後之回復率為90%以上，該金屬被覆層由維克氏硬度為100以下之金屬所構成，且平均厚度為20~150nm。

Description

金屬被覆樹脂粒子及使用其之導電性接著劑 技術領域
本發明是有關於一種金屬被覆樹脂粒子及使用其之導電性接著劑。
背景技術
於使用在印刷線路板之電極連接等的導電性接著劑中摻合的金屬被覆樹脂粒子乃經常使用以下金屬被覆樹脂粒子，即：藉由金等之貴金屬，透過鎳層被覆於由丙烯酸系樹脂所構成的樹脂粒子。
舉例言之，於專利文獻1中，以提供具有適度壓縮變形與變形回復性且連接可靠性優異之導電性微球體為目的，揭示有一種導電性微粒子，其於具有在10%壓縮變形中的K值為50~250kgf/mm2、回復率15~100%之高彈性係數之微球體表面，設置由鎳-金鍍膜所構成的導電層。
又，於專利文獻2中揭示有一種導電性無電電鍍粉體，其對1~30μm之球狀粒子施行鎳或鎳-金鍍覆。
如上述般使用鎳層乃用以提升金等之貴金屬對樹脂粒子之密接性。然而，鎳層非常硬，在壓製接著劑時 容易產生破裂或裂紋。又，丙烯酸系樹脂粒子在藉由壓製等而變形時，於粒子形狀回復之方向產生之應力強，此與上述鎳層之存在相結合而成為樹脂粒子與金屬層之密接力經久降低之原因。故，該密接力之降低會成為電阻上升或斷線之原因，並難以確保安定地導通。
面對該等問題，必須要有一種金屬被覆樹脂粒子，其未使用鎳層而確保金屬與樹脂之密接性，且可獲得可靠性高之電連接。
為了解決該課題，一方面摸索金屬層之金屬種類或被覆方法，舉例言之，於專利文獻3中提出，為了製得金屬與樹脂呈高密接之導電性微粒子，使用pH大於7、小於8之低阻金屬電鍍浴來被覆，並揭示低阻金屬離子宜為銅離子或銀離子。
另一方面，亦完成對樹脂粒子之取向，作為使用丙烯酸系樹脂以外之樹脂之例子，於專利文獻4中揭示有一種合成樹脂微粒子，其由業已聚合丙烯酸系單體與羧基系單體之共聚物所構成，且於實施例中顯示對其施行鍍銀或藉由濺鍍來塗佈金。
又，於專利文獻5中揭示有一種導電性微粒子，其藉由銀等之導電性金屬，被覆由具有預定玻璃轉移溫度之聚胺基甲酸酯樹脂、聚酯樹脂、聚醯胺樹脂、環氧樹脂等所構成的聚合物微粒子。
然而，於該等金屬被覆樹脂粒子中，隨著反覆壓縮變形，樹脂粒子與金屬之密接性亦會降低，在使用於導 電性接著劑時，不至於可獲得可靠性高之電連接。
先行技術文獻 專利文獻
[專利文獻1]日本專利第3241276號公報
[專利文獻2]日本專利公開公報特開平8-311655號公報
[專利文獻3]日本專利第4347974號公報
[專利文獻4]特開平10-259253號公報
[專利文獻5]特開2006-12709號公報
發明概要
本發明是有鑑於上述而完成，目的在提供一種金屬被覆樹脂粒子，其於摻合於導電性接著劑等時顯示高導電性，並具有對反覆壓縮變形更安定之導電性，且可獲得可靠性更高之電連接。
本發明之金屬被覆樹脂粒子乃由樹脂粒子及被覆該樹脂粒子之至少一部分之金屬被覆層所構成，且，作成樹脂粒子之平均粒徑為1~100μm，30%壓縮變形後之回復率為90%以上，金屬被覆層由維克氏硬度為100以下之金屬所構成，且平均厚度為20~150nm。
又，本發明之金屬被覆樹脂粒子宜為30%位移所必須之力為20mN以下。
上述樹脂粒子可作成由胺基甲酸酯系樹脂所構 成。
上述金屬被覆層宜由選自於由金、銀、鈀、鉑及銅所構成之群組中之1種或2種以上之金屬所構成。
本發明之導電性接著劑可依下述製得，即：藉由相對於樹脂成分100質量份而為1~100質量份之比例，摻合上述本發明之金屬被覆樹脂粒子。
又，本發明之印刷線路板乃作成使用上述導電性接著劑來連接電極。
如上述，本發明之金屬被覆樹脂粒子未使用鎳層而藉由具有預定維克氏硬度之金屬被覆具有預定回復率之樹脂粒子，藉此，可靠性高之電連接會更加優異。
故，在將該金屬被覆粒子使用於例如電極連接用之異向導電性接著劑時，可製得連接可靠性更加提升之印刷線路板。
1，1’‧‧‧粒子
2‧‧‧平台
3‧‧‧壓頭
4‧‧‧電阻測定器
11‧‧‧撓性印刷板
12‧‧‧玻璃環氧基板
圖1(a)、(b)乃顯示使用微小壓縮試驗機之粒子之壓縮試驗方法模式圖。
圖2乃顯示施加於粒子之荷重與粒子之位移量之關係圖表。
圖3乃顯示金屬被覆樹脂粒子之電阻值測定方法模式圖。
圖4乃顯示連接電阻之測定方法平面圖。
用以實施發明之形態
以下，更具體地說明本發明之實施形態。
於本發明中使用的樹脂粒子宜為30%壓縮變形後之回復率為90%以上，且更宜為98%以上。若為此種回復率高之樹脂粒子，則即使反覆壓縮與回復，回復率亦不會降低，且可獲得可靠性高之電連接。
又，在將金屬被覆樹脂粒子使用於異向導電性接著劑時，若由可藉由小的壓製壓力獲得導通，且可製得具有可靠性高之電連接之導電性接著劑之觀點來看，則於本發明中使用的金屬被覆樹脂粒子宜為30%位移所必須之壓力為20mN以下，且更宜為10mN以下。
以往使用的丙烯酸系樹脂雖然具有高彈性與回復率，但由於變形所必須之應力大，因此，通常藉由10%以上之壓縮變形產生塑性變形，若大於此而壓縮，則回復率會明顯降低。又，丙烯酸系樹脂在自變形回復時，與變形時同等之應力會作用於被接著面之電極，一般認為以此為原因，於導電性粒子周圍容易引起接著劑層與電極之剝離。於本發明中使用的樹脂粒子乃30%壓縮變形後之回復率高，且變形所必須之應力小，藉此，解決上述問題，一般認為有助於金屬被覆樹脂粒子之可靠性提升。
具有如上述回復率之樹脂粒子並無特殊之限制，可適當地使用由胺基甲酸酯系樹脂所構成的樹脂粒子。更具體而言，若由可輕易獲得上述物性之觀點來看，則例如可列舉特開2008-156610號公報中所揭示之下述彈 性樹脂粒子等，即：一種彈性樹脂粒子，其含有胺基甲酸酯樹脂(A1)與化合物(B)之交聯共聚物，且前述胺基甲酸酯樹脂(A1)乃將選自於由聚酯多元醇、聚醚多元醇、聚醚酯多元醇及聚碳酸酯多元醇所構成群中之至少1種之高分子多元醇(a)與二異氰酸酯(b)作為必要成分，並具有碳-碳雙鍵，前述化合物(B)未具有胺基甲酸酯鍵，且數量平均分子量為100~1000，並具有2個以上之碳-碳雙鍵；一種彈性樹脂粒子，其含有胺基甲酸酯樹脂(A2)與化合物(B)之交聯共聚物，且前述胺基甲酸酯樹脂(A2)乃將二異氰酸酯三聚物(h)作為必要成分，並具有碳-碳雙鍵，前述化合物(B)未具有胺基甲酸酯鍵，且數量平均分子量為100~1000，並具有2個以上之碳-碳雙鍵。於市售品中，可列舉如：大日精化工業股份有限公司製之DAIMICBEAZ CM(商品名)。
上述樹脂粒子之形狀並無限制，然而，若考慮使用於異向導電性接著劑等，則宜為球狀。又，若同樣考慮異向導電性接著劑用途，則粒子之大小宜為平均粒徑1~100μm，且更宜為10~30μm。
其次，於本發明中使用於樹脂粒子之被覆之金屬層宜由維克氏硬度為100以下之柔性金屬所構成，維克氏硬度更宜為50以下，進而宜為30以下。
具有此種維克氏硬度之金屬之具體例可列舉如：金(Au)(維克氏硬度約22)、銀(Ag)(維克氏硬度約26)、鈀(Pd)(維克氏硬度約47)、鉑(Pt)(維克氏硬度約56)、銅(Cu)(維克氏硬度約37)，且宜使用該等之1種或2種以上之金 屬。另，使用2種以上之金屬時，該等2種以上之金屬可為合金，亦可單體金屬彼此構成層構造或矩陣構造而混合，且亦可為該等之組合。
金屬層之厚度乃比較考量導電性與連接安定性及成本而宜為平均厚度20~150nm，且更宜為50~100nm。
上述金屬層乃作成被覆樹脂粒子之表面之至少一部分，然而，若考慮使用於異向導電性接著劑等，則宜被覆樹脂粒子之表面全體。
金屬被覆方法並無特殊之限制，可廣為使用迄今所使用之方法。例子可列舉如：利用無電電鍍之方法、利用電鍍之方法、真空蒸鍍、離子電鍍、離子濺鍍等方法，然而，由於成膜均一，因此，其中宜為無電電鍍。
另，作為無電電鍍之理想態樣，為了金屬被覆層之均一形成以及與樹脂粒子表面之密接力提升，首先於樹脂粒子設置觸媒層，接著，藉由金屬層來被覆。觸媒層可藉由鈀(Pd)、鉑(Pt)、金(Au)等來形成。觸媒層之厚度宜為1~100nm。
如上述，藉由作成利用柔性金屬以適度厚度被覆回復率高之樹脂粒子，且未具有如鎳層般之硬層，對於接著劑之收縮、膨脹可自由地迎合，因此，可製得即使再三反覆將粒子壓縮變形而使其回復亦不會產生金屬剝離之金屬被覆樹脂粒子。故，即使對於像是利用蒸鍍或噴墨之電極般既薄且脆弱之素材之電極，亦不會破壞其而可加以使用。又，在像是異向性導電膜(ACF)般應均一限制層間距離 (接著劑厚度)之用途中，由於樹脂粒子對於壓製可自由地變形，因此，亦可獲得無需使用嚴格使粒子徑分布一致之樹脂粒子之優點。
本發明之金屬被覆樹脂粒子可使用於各種導電性接著劑等各種用途，以取代以往使用的導電性粒子。構成導電性接著劑之樹脂成分只要是對接著對象具有密接性，則無特殊之限制，可廣為使用被使用在相同用途者。舉例言之，於熱硬化性樹脂中，可列舉如：環氧樹脂、酚樹脂及三聚氰胺樹脂等，於熱可塑性樹脂中，可列舉如：聚烯烴系樹脂、丙烯酸酯系樹脂、聚苯乙烯系樹脂。聚烯烴系樹脂例如可列舉如：聚乙烯、乙烯-醋酸乙烯酯共聚物及乙烯-(甲基)丙烯酸酯共聚物等。丙烯酸酯系樹脂例如可列舉如：聚甲基(甲基)丙烯酸酯、聚乙基(甲基)丙烯酸酯及聚丁基(甲基)丙烯酸酯。聚苯乙烯系樹脂例如可列舉如：聚苯乙烯、苯乙烯-丙烯酸酯共聚物、苯乙烯-丁二烯嵌段共聚物、苯乙烯-異戊二烯嵌段共聚物及該等之氫化物等嵌段聚合物等。再者，亦可使用藉由與具有環氧丙基之單體或低聚物及異氰酸酯等硬化劑之反應而製得之硬化性樹脂組成物等藉由熱或光而硬化之組成物等。又，舉例言之，亦可適當地使用於特開2010-168510號(專利第4580021號)公報中所揭示之樹脂成分，其由聚醯胺彈性體10~80重量份、聚胺基甲酸酯彈性體10~80重量份及苯乙烯-異丁烯-苯乙烯共聚物10~80重量份所構成，並具有於聚醯胺彈性體中分散有聚胺基甲酸酯彈性體及苯乙烯-異丁烯-苯乙烯共聚物之相 分離構造。再者，亦可適當地使用於含有具備預定玻璃轉移溫度之苯氧樹脂及填充劑作為必要成分之金屬零件用接著劑。
於上述導電性接著劑中的金屬被覆樹脂粒子之含量雖然視該接著劑之用途等而不同，然而，宜為相對於樹脂成分100質量份而為1~100質量份之比例，且更宜為1~50質量份。
於本發明之導電性接著劑中，只要是未違反發明目的之範圍，則亦可進一步地摻合其他被使用於導電性接著劑之添加物。此種添加物之例子可列舉如：填充劑、抗氧化劑、消泡劑、增黏劑、黏著賦予劑等。
上述本發明之導電性接著劑之用途並無特殊之限制，欲於印刷線路板中連接透明電極時可適當地使用。接著方法亦無特殊之限制，具體例可列舉以下方法，即：首先，將導電性接著劑網版印刷於基板上，並連同基板一起加熱而使溶劑揮發，且使透明電極等電子零件搭載於固化之接著劑上而熱壓。
實施例
以下顯示本發明之實施例，然而，本發明並非受限於以下實施例。另，以下，只要未特別事先聲明，摻合比例等乃作成質量基準。
1.金屬被覆樹脂粒子之調整及評價
分別使用表1所示之樹脂粒子而形成金屬被覆樹脂粒子。樹脂粒子之30%壓縮變形後之回復率乃使用微小 壓縮試驗機(島津製作所(股)製，MCT-510)而藉由以下要領來測定。
如圖1所示，使用的微小壓縮試驗機乃藉由壓頭3壓縮平台2上之粒子1，並將壓縮荷重作成電磁力而利用電方式檢測，且將壓縮位移作成依據作動變壓器之位移而可利用電方式檢測。平台2由鋼板所構成，且為上面平滑之台架，壓頭3乃不鏽鋼製，並構成朝下方收斂之圓錐台形狀，與粒子接連之前端面呈圓形，並具有平滑之表面。圖1(a)顯示壓頭3以必要最小限度之力壓制平台2上之粒子之開始壓縮前之狀態，(b)顯示該等壓縮中之狀態，粒子1’乃藉由壓縮而變形。如(b)中以箭頭記號所示，壓頭3乃構成為壓縮中相對於平台2之上面朝垂直方向下降，且可於預定位置停止。將壓頭3自(a)之狀態移動至(b)之狀態之距離X視為粒子之位移量。粒子之直徑為Rμm，且朝垂直方向壓縮aμm時(X=aμm)之壓縮率乃藉由下式來表示。
壓縮率(%)=(a/R)×100
若以圖表顯示施加於粒子之荷重P與粒子之位移量X之關係，則會構成如圖2。隨著降低壓頭3而粒子之位移量X變大，如本圖表之實線曲線a，作用於粒子之荷重會變大。在將粒子壓縮至反轉荷重值(若目標位移量為30%，則為到達30%時之荷重值)後，若提高壓頭3而縮小粒子之位移量X，則可獲得如虛線曲線b之圖表。
在荷重減小且壓頭3自然停止之時間點(將該時間點之荷重值作成「原點荷重值」。0.05g以上。)停止測定， 並將藉由%表示取得原點荷重值點至反轉點之位移量L1與反轉點至取得原點荷重值點之位移量L2之比(L2/L1)之值，作成壓縮變形後之回復率。
另，具體操作乃將樹脂粒子1散布於平台2上，並將選自於其中之1個樹脂粒子1，藉由壓頭3之直徑50μm之圓形前端面來壓縮。壓縮乃藉由一定負載速度來進行，且該壓縮速度在胺基甲酸酯中作成0.15mN/sec，在丙烯酸中作成10.4mN/sec。最大應力乃作成50-1960mN，測定溫度作成20℃。
藉由以下方法，於上述樹脂粒子之表面形成作為觸媒之鈀層(平均厚度：5nm)。另，在此所示的是對平均粒子徑20μm之胺基甲酸酯粒子(DAIMIC CM)1g之例子，然而，即使粒子之種類或粒子徑不同，亦可根據其來進行。
於含有氯化鈀(PdCl2)20mM(莫耳)及氯化鈉(NaCl)0.1M(莫耳)之水溶液1L中加入蔗糖10g，且一面攪拌一面滴下硼氫化鈉(NaBH4)，藉此，製得平均粒子徑5nm之膠態鈀液。將業已預先藉由氫氧化鈉(NaOH)1M水溶液洗淨之樹脂粒子浸漬於氯化三甲基十八烷基銨1%水溶液中後，藉由於浸漬於上述膠態鈀液中後乾燥，於粒子表面全體形成厚度大致均一之鈀層。
接著，藉由無電電鍍，於具有該鈀層之樹脂粒子分別形成表1所示之金屬層而調製金屬被覆樹脂粒子。
如表1所示，實施例1~3、比較例3~5之金屬層乃Ag(維克氏硬度26)之單層，實施例4之金屬層乃Au(維克氏 硬度22)之單層。實施例5乃於Cu層(維克氏硬度37)上設置Ag層作為最外層之雙層構造，比較例1乃於Ni層上設置Au層作為最外層之雙層構造，比較例2乃於Ni層上設置Ag層作為最外層之雙層構造。
上述金屬之維克氏硬度乃根據JIS Z 2244：2009來測定。
又，金屬層之平均厚度乃測定於樹脂粒子被覆金屬前後之重量變化而將該差作成金屬層之重量，並藉由該重量除以被附著體之樹脂粒子之平均表面積來求取。於實施例中，假設各微粒子之大小一定且無金屬被覆步驟之材料損失，並將金屬被覆樹脂粒子之全重量設為M，將被覆金屬前之樹脂粒子之全重量設為M0，將樹脂粒子之全表面積設為A，將被覆金屬之比重設為ρ而藉由下述式算出金屬層之平均厚度T。
T=(M-M0)/ρ A
另，樹脂粒子之全表面積之值乃使用下述值作為近似值，即：全樹脂粒子重量除以求取自樹脂粒子之平均粒子徑之粒子1個之重量之值，乘以求取自同平均粒子徑之粒子1個之表面積。
針對所製得之金屬被覆樹脂粒子，藉由以下方法進行30%位移所必須之力之測定及反覆壓縮試驗(1、5、50、100循環壓縮後之電阻值之測定)。表1顯示結果。
金屬被覆樹脂粒子之30%位移所必須之力乃使用上述微小壓縮試驗機及條件分別調查各金屬被覆樹脂粒 子之位移量X與荷重P之關係，並求取在藉由上述式所求取之壓縮率構成30%之位移量X(aμm)中的荷重。
反覆壓縮試驗乃使用與上述相同之微小壓縮試驗機(島津製作所(股)製，MCT-510)而藉由以下要領來進行。即，針對各試料，進行將藉由上述所求取之30%壓縮變形所必須之荷重作成最大荷重之負載-卸載循環至100循環，並分別以測定溫度20℃進行1、5、50及100循環時之金屬被覆樹脂粒子之電阻測定。
另，壓縮乃藉由一定負載速度進行，並設定成負載行程10秒、卸載行程10秒、最大荷重及最小荷重(原點荷重)之保持時間為1秒。又，金屬被覆樹脂粒子之電阻乃如圖3所示，在由鋼板所構成的平台2與不鏽鋼製壓頭之端面間形成電路，並使用電阻測定器4(ADC(股)製，7351E，直流方式)來測定。
2.導電性接著劑之調整及評價
將依上述所製得之金屬被覆粒子摻合於熱可塑性樹脂成分而調製導電性接著劑。使用的樹脂成分之詳情如下，並作成所製得之導電性接著劑中1.5質量%。針對所製得之導電性接著劑，藉由以下方法調查導電性。表1顯示結果。
樹脂：熱可塑性彈性體(拓自達(TATSUTA)電線股份有限公司製「CBP-700」之樹脂成分)
導電性(初期)：如圖4所示，作成業已藉由導電性接著劑接著撓性印刷板(FPC)11與玻璃環氧基板12之 FPC/PTF試驗用試樣，並使用低阻計(日置電機(股)製，直流方式3227Milliohm HiTester)，分別測定撓性印刷板11之末端端子間(a-b、b-c及c-d間)之連接電阻，並求取平均值。
Figure TWI611002BD00001
如由表1所示之結果可知，實施例之金屬被覆樹脂粒子於反覆壓縮試驗之各循環中的測定值無誤差且安定，相對於此，比較例則誤差大，且亦包括如比較例4及5般構成無限大者。
又，相較於比較例，使用有關本發明金屬被覆樹脂粒子之實施例之導電性接著劑之初期導電性皆為同等以上，特別是實施例2、3、5明顯優異。實施例1之初期導電性雖然與比較例1~3、5大致同等，然而，如上述，由於反覆壓縮試驗之結果優異，因此，一般推論長期之電連接可靠性乃高於比較例。

Claims (6)

  1. 一種金屬被覆樹脂粒子，係由樹脂粒子及被覆該樹脂粒子之至少一部分之金屬被覆層所構成，且其特徵在於：前述樹脂粒子之平均粒徑為1~100μm，且30%壓縮變形後之回復率為90%以上，前述金屬被覆層由維克氏硬度為100以下之金屬所構成，且平均厚度為20~150nm。
  2. 如請求項1之金屬被覆樹脂粒子，其30%位移所必須之力為20mN以下。
  3. 如請求項1或2之金屬被覆樹脂粒子，其中前述樹脂粒子由胺基甲酸酯系樹脂所構成。
  4. 如請求項1或2之金屬被覆樹脂粒子，其中前述金屬被覆層係由選自於由金、銀、鈀、鉑及銅所構成之群組中之1種或2種以上之金屬所構成。
  5. 一種導電性接著劑，其係以相對於樹脂成分100質量份而為1~100質量份之比例，摻合如請求項1或2之金屬被覆樹脂粒子。
  6. 一種印刷線路板，其使用如請求項5之導電性接著劑來連接電極。
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