TWI593954B - 雷射測量裝置及其校準機構 - Google Patents

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TWI593954B TW102122505A TW102122505A TWI593954B TW I593954 B TWI593954 B TW I593954B TW 102122505 A TW102122505 A TW 102122505A TW 102122505 A TW102122505 A TW 102122505A TW I593954 B TWI593954 B TW I593954B
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雷射測量裝置及其校準機構
本發明涉及一種校準機構，尤其涉及一種應用於雷射測量過程之校準機構。
雷射測量係一種非接觸式測量，其因具有不影響被測產品之表面、精度高、測量範圍大、檢測時間短等優點而得到廣泛的應用。在使用雷射測試產品前，需要對雷射之位置進行校準，以保證雷射測試結果之準確性。然而習知之雷射位置校準機構大都需要手工操作，難以實現自動化。
有鉴於此，有必要提供一種便於自動校正雷射位置之校準機構。
另，有必要提供一種應用上述校準機構之雷射測量裝置。
一種校準機構，其安裝在固定組件上，該固定組件上相對間隔安裝第一雷射測頭及第二雷射測頭。該校準機構包括安裝板、調節件及柱體，該安裝板安裝於固定組件上。該調節件包括一體設置之調節段、固定段及校準塊，該調節段活動地安裝在該安裝板上，該柱體容置於該固定段內，該校準塊凸設在該固定段一側，該調節件在該安裝板上滑動，使得該第一雷射測頭及該第二雷射測頭對該准柱體或該校準塊。
一種雷射測量裝置，其包括固定組件、第一雷射測頭及第二雷射測頭，該第一雷射測頭及該第二雷射測頭相間隔地安裝在該固定組件上。該校準機構包括安裝板、調節件及柱體；該安裝板安裝於該固定組件上。該調節件包括一體設置之調節段、固定段及校準塊，該調節段活動地安裝在該安裝板上，該柱體容置於該固定段內，該校準塊凸設在該固定段一側，該調節件在該安裝板上滑動，使得該第一雷射測頭及該第二雷射測頭對準該柱體或該校準塊。
本發明之校準機構結構簡單，該調節件在該安裝板上之相對位置可調，且該第一雷射測頭及該第二雷射測頭僅需掃描該柱體及該校準塊即可實現對第一雷射測頭及第二雷射測頭之位置校準，校準過程自動化，校位準確。
100‧‧‧校準機構
10‧‧‧安裝板
20‧‧‧調節件
30‧‧‧柱體
40‧‧‧擋片
11‧‧‧基板
12‧‧‧連接板
111‧‧‧安裝孔
121‧‧‧連接孔
21‧‧‧調節段
22‧‧‧固定段
23‧‧‧頂面
24‧‧‧底面
25‧‧‧校準塊
211‧‧‧滑槽
212‧‧‧通孔
221‧‧‧定位孔
222‧‧‧收容槽
251‧‧‧第一校準段
252‧‧‧第二校準段
41‧‧‧固定孔
200‧‧‧固定組件
210‧‧‧固定板
2101‧‧‧安裝槽
2012‧‧‧固定孔
220‧‧‧支撐板
230‧‧‧連接件
240‧‧‧第一承載板
250‧‧‧第二承載板
圖1係本發明較佳實施方式具有校準機構雷射測量裝置之工作狀態示意圖。
圖2係圖1所示之校準機構的分解示意圖。
圖3係圖2所示之調節件的放大示意圖。
圖4係圖1所示之雷射測量裝置部分組裝示意圖。
請參閱圖1，一種雷射測量裝置包括一校準機構100、固定組件200、第一雷射測頭(圖未示)及第二雷射測頭(圖未示)。該校準機構100安裝在該固定組件200上，該第一雷射測頭及該第二雷射測頭相間隔地安裝在該固定組件200上。
請參閱圖2，該校準機構100包括安裝板10、調節件20、柱體30及擋片40。該調節件20可活動之安裝在該安裝板10上，該柱體30容置於該調節件20內，該擋片40蓋合在該柱體30上。
該安裝板10包括基板11及垂直固定在該基板11一端的連接板12。該基板11一端開設安裝孔111。該連接板12大致呈L型，該連接板12遠離該安裝孔111之一端開設二連接孔121。
請結合參閱圖3，該調節件20大致為矩形板體，其具有相對設置之頂面23及底面24。該調節件20進一步包括一體設置的調節段21、固定段22及校準塊25。該調節段21上開設貫穿頂面23及底面24之滑槽211，該滑槽211兩側分別開設通孔212，該通孔212臨近該固定段22設置。該固定段22上開設定位孔221，本實施例中，該定位孔221為一方形孔，其由四周壁依次圍接而成。該定位孔221相對之二周壁均凹陷形成一收容槽222，該收容槽222與該定位孔221連通。該校準塊25設置於該固定段22一側，並臨近該定位孔221，該校準塊25大致呈凸字型，其包括呈階梯形平行設置之第一校準段251及第二校準段252。該第二校準段252與該頂面23之落差小於該第二校準段252與該底面24之落差。本實施例中，定義該第二校準段252與頂面23之落差為距離一H1，該第二校準段252與該第一校準段251之落差為距離二H2，該第二校準段252與底面24之落差為距離三H3。
請再參閱圖2，該柱體30為圓形，其兩端收容在該收容槽222內。本實施方式中，該擋片40之數量為二，每一擋片40一端開設固定孔41，該固定孔41與該通孔212相對應。
請參閱圖4，該固定組件200包括固定板210、支撐板220、連接件230、第一承載板240及第二承載板250。
該固定板210之一側凹設一安裝槽2101，該安裝槽2101之側壁上開設二螺孔2102。該螺孔2102與該連接孔121相對應，以便一固定件(如螺絲)穿過該連接孔121及該螺孔2102，進而將該安裝板10鎖固在該固定板210上。
本實施方式中，該支撐板220之數量為二，該二支撐板220互相平行設置於該支撐板220的兩端。每一支撐板220及固定板210之間均通過一連接件230連接，以加強該固定板210及該支撐板220之連接強度。該第一承載板240固定於一支撐板220相對固定板210之一端，該第二承載板250固定於另一支撐板220相對固定板210之一端，並與第一承載板240相對設置。該第一承載板240上安裝第一雷射測頭，該第二承載板250上安裝第二雷射測頭，該第一雷射測頭及該第二雷射測頭均與一電腦電性連接，該電腦上安裝分析軟體。該第一雷射測頭及該第二雷射測頭可發射雷射，並可將測試資訊傳送至該分析軟體。
請結合參閱圖2及圖4，組裝該校準機構100時，一固定件(如螺絲)穿過該連接孔121及該螺孔2102，進而將該安裝板10鎖固在該固定板210上之安裝槽2101內。該柱體30容置於該收容槽222內。利用一鎖固件(如螺絲)穿過該 固定孔41及該通孔212以將該擋片40鎖固於該調節件20上，該擋片40蓋合在該柱體30上以阻止該柱體30滑出收容槽222。該調節件20沿與該基板11平行之方向移動，當該固定段22位於該第一承載板240及該第二承載板250之間時，利用一鎖固件(如螺絲)穿過該滑槽211及該安裝孔111將該調節件20鎖固在該安裝板10上。
下面進一步說明該校準機構100之校準過程。該調節件20在該安裝板10上滑動，使得該柱體30位於該第一雷射測頭及該第二雷射測頭之間，該第一雷射測頭及第二雷射測頭發射雷射至該柱體30位於該定位孔221內之部分，該第一雷射測頭及第二雷射測頭掃描出之該柱體30沿其直徑方向之輪廓圖形均為半圓弧，若二半圓弧共同圍接形成一封閉之圓形，則表明第一雷射測頭及第二雷射測頭位於同一直線上；若二半圓弧發生錯位，不能圍接形成一封閉圓形，則通過分析軟體進行偏差補償調節。另一方面，該調節件20在該安裝板10上滑動，使得該校準塊25位於該第一雷射測頭及該第二雷射測頭之間，該第一雷射測頭及第二雷射測頭發射雷射至該校準塊25上，第一雷射測頭及第二雷射測頭掃描出之圖形均為階梯形，分析軟體測試得出各個臺階之間之高度，若各個測試高度與H1、H2及H3之實際高度值相一致，則表明第一雷射測頭和第二雷射測頭位於同一直線上；若各個測試高度與H1、H2和H3之實際高度值不一致，則通過分析軟體進行偏差補償調節，直至確認第一雷射測頭及第二雷射測頭位於同一直線後方可進行產品測試。
本發明的校準機構100，通過滑槽211可調節該調節件20在該安裝板10上之相對位置，且第一雷射測頭及第二雷射測頭僅需掃描柱體30及校準塊25即可實現對第一雷射測頭及第二雷射測頭之校準，該校準機構100結構簡單，校準過程自動化，校位準確。
100‧‧‧校準機構
10‧‧‧裝板
20‧‧‧調節件
30‧‧‧柱體
40‧‧‧擋片
121‧‧‧連接孔
200‧‧‧固定組件
210‧‧‧固定板
220‧‧‧支撐板
230‧‧‧連接件
240‧‧‧第一承載板
250‧‧‧第二承載板

Claims (10)

  1. 一種校準機構，其安裝在固定組件上，該固定組件上相對間隔安裝第一雷射測頭和第二雷射測頭，其改良在於：該校準機構包括安裝板、調節件及柱體；該安裝板安裝於該固定組件上，該調節件包括一體設置之調節段、固定段及校準塊，該調節段活動地安裝在該安裝板上，該柱體容置於該固定段內，該校準塊凸設在該固定段一側，該調節件在該安裝板上滑動，使得該第一雷射測頭及該第二雷射測頭對準該柱體或該校準塊。
  2. 如申請專利範圍1項所述之校準機構，其中所述安裝板包括基板及連接板，該基板一端開設安裝孔，該連接板垂直固定在該基板一端，該連接板遠離該安裝孔之一端，該調節段上開設滑槽，該滑槽和基板之安裝孔相對，該調節件鎖固在該安裝板上。
  3. 如申請專利範圍2項所述之校準機構，其中所述固定段上開設定位孔，該定位孔為一方形孔，其由四周壁依次圍接而成，其中相對設置之二周壁均凹陷形成一收容槽，該柱體兩端容置在該收容槽內。
  4. 如申請專利範圍3項所述之校準機構，其中所述滑槽兩側分別開設通孔，該校準機構還包括二擋片，每一擋片上開設固定孔，該固定孔與該通孔相對應，以通過一鎖固件穿過該固定孔及該通孔將該擋片鎖固在該調節件上，該二擋片蓋合於該柱體之兩端。
  5. 如申請專利範圍4項所述之校準機構，其中所述校準塊呈凸字型，其包括呈階梯形設置之第一校準段及第二校準段。
  6. 如申請專利範圍5項所述之校準機構，其中所述調節件包括相對設置的頂面及底面，該第二校準段與該頂面之落差小於該第二校準段與該底面之落差。
  7. 如申請專利範圍2項所述之校準機構，其中所述固定組件包括固定板，該固定板一側凹設安裝槽，該安裝板裝配於該安裝槽內。
  8. 一種雷射測量裝置，其包括固定組件、第一雷射測頭及第二雷射測頭，該第一雷射測頭及該第二雷射測頭相間隔地安裝在該固定組件上，其改良在於：該雷射測量裝置還包括一校準機構，該校準機構包括安裝板、調節件及柱體；該安裝板安裝於該固定組件上，該調節件包括一體設置的調節段、固定段及校準塊，該調節段活動地安裝在該安裝板上，該柱體容置於該固定段內，該校準塊凸設在該固定段一側，該調節件在該安裝板上滑動，使得該第一雷射測頭及該第二雷射測頭對準該柱體或該校準塊。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之雷射測量裝置，其中所述第一雷射測頭及第二雷射測頭用於掃描該柱體以分別獲取一半圓弧的圖形，若二半圓弧共同圍接形成一封閉之圓形，則表明第一雷射測頭及第二雷射測頭位於同一直線上，若二半圓弧發生錯位，不能圍接形成一封閉圓形，則通過分析軟體進行偏差補償以校正該第一雷射測頭及該第二雷射測頭之位置。
  10. 如申請專利範圍第8項所述之雷射測量裝置，其中所述第一雷射測頭及第二雷射測頭用於掃描該校準塊，以分別獲取呈階梯形的圖形，若各個臺階的測試高度與實際高度值相一致，則表明該第一雷射測頭及該第二雷射測頭位於同一直線，若測試高度與實際高度不一致，則通過分析軟體進行偏差補償以校正該第一雷射測頭及該第二雷射測頭之位置。
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