TW202106893A - 球形鉭－鈦合金粉末，包含彼之產品及製備彼之方法 - Google Patents

球形鉭－鈦合金粉末，包含彼之產品及製備彼之方法 Download PDF

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Abstract

本發明闡述高度球形之鉭-鈦合金粉末。該合金粉末可用於積層製造及其他用途。進一步闡述製備該合金粉末之方法以及在積層製造方法中利用該合金粉末之方法。進一步闡述使用該合金粉末之所得產品及物件。

Description

球形鉭－鈦合金粉末，包含彼之產品及製備彼之方法
本發明係關於合金金屬、尤其鉭-鈦合金及自鉭-鈦合金製得之產品以及製備及處理鉭-鈦合金之方法。
在許多應用中，閥金屬粉末(例如鉭粉末)通常用於生產電容器電極，但具有此工業外之其他用途(例如濺鍍靶工業、軍火領域、航天工業)，且就其性質而言鉭在醫學及植牙領域中具有一定前景。
單獨之鉭已用於醫學及植牙領域中，但出於價格以及低密度、比強度及生物相容性原因已較通常地利用其他金屬(例如鈦)。然而，儘管當前通常使用，但用於醫學及植牙領域中之鈦面臨若干明顯缺點，包含其通常與非生物友好性金屬(例如鋁及釩)發生合金化。
儘管已在一定程度上嘗試一起利用鉭及鈦，但大部分該等嘗試已將鉭粉末及鈦粉末組合為粉末摻合物或組合為粉末冶金產品。該等方式之問題在於，不能形成真正均質之合金，而是形成混合物，此會因未合金化金屬(亦即Ta及或Ti)區域而引起不均勻性質，從而產生低於最佳物理之性質(例如強度、伸長性、韌性及/或低循環疲勞及可焊接性)。
使用在該等經摻和粉末作為積層製造中之進料時，同樣，可在源自積層製造製程之物件中獲得不一致性質，例如非合金化Ta及或Ti區域及/或潛在地可引起較差拉伸性質之不均勻晶粒結構。
因此，需要且期望研發可用於積層製造及/或其他工業中之真正鉭-鈦合金粉末。
本發明之一特徵在於提供可充分用於積層製造或3D列印中之鉭-鈦合金粉末。
本發明之另一特徵在於提供來自使用鉭-鈦合金粉末之積層製造或3D列印之物件、產品及/或組件，該鉭-鈦合金粉末在該等製程中較易於使用及/或提供一或多種改良性質。
本發明之又一特徵在於提供用以製備鉭-鈦合金粉末以及包含該合金粉末之物件、產品及/或組件之製程。
本發明之其他特性及優勢將在下文說明中予以部分地陳述，且部分地將自本說明書顯而易見，或可藉由本發明實踐而獲知。本發明之目標及其他優勢將藉助本說明書及隨附申請專利範圍中所特定指出之要素及組合來實現並達成。
為達成該等及其他優點且及根據本發明目的，如本文所體現及廣泛闡述，本發明係關於鉭-鈦合金粉末。鉭-鈦合金粉末含有球形形狀，其中該粉末具有以下特徵：1.0至1.25之平均縱橫比；至少90 wt%之可選鉭-鈦合金純度，此係基於鉭-鈦合金粉末之總重量且排除氣體雜質；約0.5微米至約250微米之平均粒度；6.5 g/cc至15.5 g/cc之真密度；約4.5 g/cc至約11 g/cc之視密度；及30 sec或更小之霍爾流速(Hall flow rate)。鉭-鈦合金粉末可且較佳地進行電漿熱處理。
本發明進一步係關於自本發明之鉭-鈦合金粉末製得或自其形成之物件或製品(或其部分或其部件)。物件或其部分或其部件可為(但不限於)用於物理氣相沈積製程之線圈組之輪轂、包括開放蜂窩狀結構及實心結構之輪轂、用於物理氣相沈積製程之線圈組或其部件、矯形外科植入物或其部件、牙科植入物或其部件及其他醫學植入物或其部分。
另外，本發明係關於製備本發明之鉭-鈦合金粉末之方法。該方法可含有在惰性氣氛中電漿熱處理起始鉭-鈦合金粉末或線以至少部分地熔化該起始鉭-鈦合金粉末或粉末之至少外表面，從而獲得經熱處理之鉭-鈦合金粉末；及在惰性氣氛中冷卻經熱處理之鉭-鈦合金粉末以獲得鉭-鈦合金粉末。起始鉭-鈦合金粉末可為鑄錠衍生之材料。
另外，本發明係關於形成物件之方法，其中該方法含有以下步驟：藉由利用本發明之鉭-鈦合金粉末形成物件或其部件之形狀來實施積層製造以形成物件。積層製造可含有或包括雷射粉末床熔合、電子束粉末床熔合、定向能量沈積、經由粉末或線之雷射包覆、材料噴射、薄片層壓及/或vat光聚合。
應理解，上述一般說明及下列詳細說明二者皆僅具有實例性及闡釋性，且意欲提供對所主張本發明之進一步闡釋。
本發明係關於新穎鉭-鈦合金粉末及自本發明之鉭-鈦合金粉末形成之物件(或其部分)。本發明進一步係關於製備新穎鉭-鈦合金粉末之方法以及利用積層製造技術及製程來形成物件(或其部分)之方法。
與一些其他球化技術不同，電漿球化提供熔化鉭及鈦所需之能量，從而迅速形成顆粒且產生具有高純度及/或低氧及/或最小氣體包裹及/或受控粒度分佈(PSD)及均質合金之真正球形粉末。儘管電漿球化係較佳的，但其他球化技術可替代地用於本發明目的。
更詳細而言，本發明之鉭-鈦合金粉末包括球形形狀、基本上由其組成、由其組成或含有球形形狀，其中粉末具有1.0至1.25之平均縱橫比；至少90 wt%之可選鉭-鈦合金純度，此係基於鉭-鈦合金粉末之總重量且排除氣體雜質；約0.5微米至約250微米之平均粒度；6.5 g/cc至15.5 g/cc之真密度；約4.5 g/cc至約11 g/cc之視密度；及30 sec或更小之霍爾流速。
本發明之鉭-鈦合金粉末並非鉭及鈦之純物理混合物，且亦本發明之鉭-鈦合金粉末並不視為兩種元素之機械混合物。而是，本發明之鉭-鈦合金粉末係包括複數個顆粒之粉末，其中每一顆粒或幾乎每個顆粒至少具有Ta-Ti相(或Ta-Ti-x相)，該相通常係鉭及鈦之固體溶液。合金可具有單一相。合金可具有一種以上之相。Ta-Ti-x相中之「x」代表用以形成合金本身之一部分之一或多種其他元素(例如Nb、Zr、Hf、Mo、W及/或Re)，且可為單一相之一部分。
鉭-鈦合金粉末可具有約10:90 (Ta:Ti)至約90:10之Ta與Ti之原子比或重量比，例如(但不限於) 20:80至80:20或30:70至70:30或40:60至60:40之Ta與Ti之原子比或重量比。作為另一實例，鉭-鈦合金粉末可具有50 wt%或at% Ta或約20 wt%或at%至約40 wt%或at% Ta或約30 wt%或at%至約40 wt%或at% Ta。作為另一實例，鉭-鈦合金粉末可具有50 wt%或at% Ti或約20 wt%或at%至約40 wt%或at% Ti或約30 wt%或at%至約40 wt%或at% Ti。
作為一選擇，鉭-鈦合金粉末具有至少60 wt%或at%或至少70 wt%或at%或至少80 wt%或at%或至少90 wt%或at%或至少95 wt%或at%或至少99 wt%或at%之主要Ta-Ti相。舉例而言，鉭-鈦合金粉末可具有約10 wt%或at%至99.999 wt%或at%或約10 wt%或at%至95 wt%或at%或約10 wt%或at%至90 wt%或at%及諸如此類之主要Ta-Ti相。
作為另一選擇，鉭-鈦合金粉末可具有20:80 (Ta:Ti)至30:70或60:40至70:30之Ta與Ti之原子比或重量比。特殊實例含有20:80 (Ta:Ti)或25:75或30:70或60:40或65:35或70:30。該等範圍尤其適於形成用於骨置換之醫學物件。本文及全篇所提供之Ta及Ti之wt%係基於鉭-鈦合金粉末之總重量。
鉭-鈦合金粉末可為由Ta及Ti之單相均質固體溶液或Ta、Ti及一或多種其他元素(例如金屬元素及/或非金屬元素)之單相均質固體溶液組成之顆粒。
作為一選擇，鉭-鈦合金粉末可視為二元鉭-鈦合金粉末。
鉭-鈦合金粉末可具有小於500 ppm之鉭或鈦或二者之個別晶粒，例如小於400 ppm、小於300 ppm、小於200 ppm、小於100 ppm、小於50 ppm、小於25 ppm、小於10 ppm、小於5 ppm或小於1 ppm之鉭或鈦或二者之個別晶粒。
本發明之鉭-鈦合金粉末可為實質上不存在除Ta及Ti外之元素之粉末。舉例而言，基於合金粉末之重量，存在於鉭-鈦合金粉末中之除Ta及Ti外之非氣態元素(例如一般非氣態元素或非氣態金屬元素)可以小於1 wt%之量存在，例如約0.1 ppm至約500 ppm或約1 ppm至250 ppm或約1 ppm至100 ppm或約1 ppm至50 ppm或小於50 ppm或小於25 ppm或小於500 ppm。
鉭-鈦合金粉末可具有小於50 ppm之元素碳，例如小於40 ppm之碳、小於30 ppm之碳、小於20 ppm之碳、小於10 ppm之碳、小於5 ppm之碳、小於1 ppm之碳，例如0 ppm至49 ppm或0.1 ppm至20 ppm或0.1 ppm至2 ppm。
鉭-鈦合金粉末可具有小於50 ppm之元素氮，例如小於40 ppm之氮、小於30 ppm之氮、小於20 ppm之氮、小於10 ppm之氮、小於5 ppm之氮、小於1 ppm之氮，例如0 ppm至49 ppm或0.1 ppm至20 ppm或0.1 ppm至2 ppm。
鉭-鈦合金粉末可具有小於50 ppm之元素氫，例如小於40 ppm之氫、小於30 ppm之氫、小於20 ppm之氫、小於10 ppm之氫、小於5 ppm之氫、小於1 ppm之氫，例如0 ppm至49 ppm或0.1 ppm至20 ppm或0.1 ppm至2 ppm。
鉭-鈦合金粉末可具有小於50 ppm之元素硫，例如小於40 ppm之硫、小於30 ppm之硫、小於20 ppm之硫、小於10 ppm之硫、小於5 ppm之硫、小於1 ppm之硫，例如0 ppm至49 ppm或0.1 ppm至20 ppm或0.1 ppm至2 ppm。
鉭-鈦合金粉末可具有小於100 ppm之Ni或小於50 ppm之Ni或小於10 ppm之Ni或0 ppm Ni。
鉭-鈦合金粉末可具有小於10 ppm之V或小於5 ppm之V或小於1 ppm之V或0 ppm V。
鉭-鈦合金粉末可具有小於10 ppm之Al或小於5 ppm之Al或小於1 ppm之Al或0 ppm Al。
鉭-鈦合金粉末可具有小於100 ppm之Fe或小於50 ppm之Fe或小於10 ppm之Fe或0 ppm Fe。
鉭-鈦合金粉末可具有小於100 ppm之Cr或小於50 ppm之Cr或小於10 ppm之Cr或0 ppm Cr。
鉭-鈦合金粉末可具有小於10 ppm之Cd或小於5 ppm之Cd或小於1 ppm之Cd或0 ppm Cd。
鉭-鈦合金粉末可具有小於10 ppm之Hg或小於5 ppm之Hg或小於1 ppm之Hg或0 ppm Hg。
鉭-鈦合金粉末可具有小於10 ppm之Pb或小於5 ppm之Pb或小於1 ppm之Pb或0 ppm Pb。
鉭-鈦合金粉末可具有小於10 ppm之Be或小於5 ppm之Be或小於1 ppm之Be或0 ppm Be。
除上文針對鉭-鈦合金粉末所陳述關於球形形狀、平均粒度、密度及霍爾流速之性質外，應理解，對於可用於如本文所闡述本發明之積層製造方法中之鉭-鈦合金粉末之類型並無其他嚴格限制。
本發明之鉭-鈦合金粉末可視為鑄錠衍生之鉭-鈦合金粉末，或在較佳實施例中可視為鑄錠衍生之經電漿處理之鉭-鈦合金粉末。
如所指示，本發明之鉭-鈦合金粉末具有球形形狀。此形狀係由平均縱橫比來定義。鉭-鈦合金粉末之平均縱橫比或縱橫比在本文中定義為顆粒(亦即鉭-鈦合金粉末)之最大線性尺寸與同一顆粒(亦即鉭-鈦合金粉末)之最小線性尺寸之比率，其係基於隨機量測50個顆粒或100個顆粒或隨機量測約1重量%至約2重量%之粉末批料。使用掃描電子顯微術(SEM)影像來量測合金顆粒。真正球形顆粒具有1.0之縱橫比。出於本發明目的，在平均縱橫比為1.0至1.25或1.0至1.2或1.0至1.15或1.0至1.1或1.0至1.05或約1.05至約1.25或1.05至約1.2或1.05至約1.1或約1.0時，鉭-鈦合金粉末可視為球形。
本發明之鉭-鈦合金粉末可為高純度鉭-鈦合金粉末，此意指若量測鉭-鈦合金純度且並不刻意存在其他金屬元素，則基於鉭-鈦合金粉末之總重量且排除氣體雜質鉭-鈦合金粉末具有至少90 wt%或至少99 wt%或至少99.5 wt%或至少99.9 wt%或至少99.99 wt%或至少99.999 wt%之合金純度。可藉由X射線螢光、感應耦合電漿原子發射光譜術(ICP-AES)或ICP原子發射光譜術或感應耦合電漿質譜(ICP-MS)或ICP質譜或輝光放電質譜(GDMS)、火花源質譜(SSMS)分析、EDX或其任何組合來量測純度值。鉭-鈦純度可為至少99.95 wt% Ta-Ti、至少99.99 wt% Ta-Ti、至少99.995 wt% Ta-Ti或約99.9 wt% Ta-Ti至99.9995 wt% Ta-Ti或約99.95 wt% Ta-Ti至99.9995 wt% Ta-Ti或約99.99 wt% Ta-Ti至99.9995 wt% Ta-Ti或其他純度值或範圍。
鉭-鈦合金粉末具有約0.5微米至約250微米之平均粒度。藉由使用雷射繞射或動態光散射或動態影像分析技術(例如HORIBA LA-960或LA-300雷射粒度分析儀或HORIBA SZ-100 Nanopartica Instrument或HORIBA Camsizer或Camsizer X2動態影像分析系統)隨機量測50個顆粒來測定平均粒度。平均粒度可為約0.5微米至約10微米或約5微米至約25微米或約15微米至約45微米或約35微米至約75微米或約55微米至約150微米或約105微米至約250微米。
鉭-鈦合金粉末具有約4.5 g/cc至約11 g/cc之視密度，例如約5 g/cc至約10 g/cc或約6 g/cc至約9 g/cc或約7 g/cc至約8 g/cc或該等範圍內之其他視密度數值。視密度係根據ASTM B212標準所量測。
鉭-鈦合金粉末具有30秒或更小之霍爾流速。根據ASTM B213標準來實施霍爾流測試，其中在鉭-鈦合金粉末流經霍爾流量計漏斗之孔口時對其進行計時。本發明之鉭-鈦合金粉末之霍爾流速可為30秒或更小、20秒或更小、15秒或更小、10秒或更小或4秒至30秒或4秒至25秒或5秒至20秒或6秒至20秒或4秒至15秒或4秒至12秒或5秒至15秒或該等範圍內之其他值。
可電漿熱處理起始鉭-鈦合金粉末以形成電漿熱處理粉末。作為一選擇，可藉由以下方式來形成鉭-鈦合金粉末：在漏斗中熔化(個別地或作為混合物) Ta及Ti且使用水或氣體霧化熔體以獲得可用於積層製造中之粉末。
鉭-鈦合金粉末可具有各種氧含量。舉例而言，鉭-鈦合金粉末可具有2,500 ppm或更小或1,000 ppm或更小或小於500 ppm或小於400 ppm或小於300 ppm或小於250 ppm或小於200 ppm或小於100 ppm或小於50 ppm之氧含量，例如約20 ppm至500 ppm、約40 ppm至400 ppm、約50 ppm至300 ppm、約100 ppm至495 ppm或約150 ppm至約400 ppm。
作為一選擇，本發明之鉭-鈦合金粉末可包含一或多種除鉭及鈦外之其他元素。作為一選擇，合金(作為合金之一部分)可包含a)至少鉭金屬、b)鈦金屬及c) i)一或多種其他金屬及/或ii)非金屬元素及/或iii)類金屬元素。
作為另一選擇，本發明之鉭-鈦合金可摻雜或具有一或多種氣態元素，該等氣態元素作為合金之一部分存在及/或存在於合金表面上。
下列一或多種金屬可為鉭-鈦合金粉末之一部分且該粉末仍視為用於本發明目的之鉭-鈦合金粉末：Nb、Si、W、Mo、Re、Rh、V、Th、Zr、Hf、Cr、Mn、Sc、Y、C、B、Ni、Fe、Co、Al、Sn、Au、Th、U、Pu及/或稀土元素。舉例而言，鉭-鈦合金粉末可為Ta-Ti-Nb合金或其他Ta-Ti-x合金，其中x係一或多種除Ta及Ti外之元素。基於合金總重量，合金百分比可為Ta：20 wt%至99.9 wt%及Ti：20 wt%至99.9 wt%，對於係合金中之金屬或非金屬之其他非Ta及非Ti元素而言，wt%可為0.001 wt%至70 wt%或0.01 wt%至50 wt%或0.1 wt%至25 wt%或0.1 wt%至15 wt%或1 wt%至5 wt%。Ta-Ti-x金屬合金可為鉭及鈦以及一種並不作為雜質存在之其他金屬、兩種其他金屬或三種或更多種其他金屬。Ta-Ti-x金屬合金中之鉭可為主要金屬(舉例而言，鉭係基於合金重量以最高百分比存在之金屬)。鉭-鈦-x金屬合金可為鉭及鈦，其中x係一種並非作為雜質存在之其他金屬或元素、兩種其他金屬或元素或三個或更多種其他金屬或元素。
本發明之鉭-鈦合金粉末可具有一或多種選自以下之其他性質： -  約5微米至約25微米之D10大小； -  約20微米至約80微米之D90大小；及/或 -  約20 ppm至約1000 ppm、例如約100 ppm至約1000 ppm或100 ppm至約250 ppm之氧含量(基於粉末重量)。
本發明之鉭-鈦合金粉末可為非聚集粉末，其中本文所闡述之性質/參數適用於非聚集粉末。
本發明之鉭-鈦合金粉末可為非團聚粉末，其中本文所闡述之性質/參數適用於非團聚粉末。
作為一選擇，鉭-鈦合金粉末可摻磷。舉例而言，磷摻雜含量可為至少10 ppm、至少50 ppm或至少100 ppm或例如約50 ppm至約500 ppm及諸如此類。磷酸或六氟磷酸銨及諸如此類表明可視為磷形式。
作為一選擇，鉭-鈦合金粉末可摻雜有其他元素，例如釔、二氧化矽或一或多種其他摻雜劑(例如氣體及/或金屬摻雜劑)。摻雜含量可為至少5 ppm、至少10 ppm、至少25 ppm、至少50 ppm或至少100 ppm、或，例如約5 ppm至約500 ppm及諸如此類。一或多種摻雜劑可用於晶粒穩定及/或用於粉末或自粉末製得之所得物件之其他性質增強。摻雜劑可存在於合金粉末中，但未必係合金本身之一部分。換言之，可存在摻雜劑以改良合金晶粒結構且通常以低於50 ppm之量及最通常以低於10 ppm之量來使用。
作為一選擇，基於粉末重量，鉭-鈦合金粉末可具有約0.01 wt%至約5 wt% (例如約0.01 wt%至約5 wt%、約0.01 wt%至約5 wt%、約0.01 wt%至約5 wt%、約0.01 wt%至約1 wt%)之氮含量。
作為一選擇，基於粉末重量，鉭-鈦合金粉末可具有約0.001 wt%至約5 wt% (例如約0.1 wt%至約4 wt%、約0.1 wt%至約3 wt%、約0.1 wt%至約2 wt%、約0.1 wt%至約1 wt%、約0.2 wt%至約5 wt%、約0.3 wt%至約5 wt%、約0.5 wt%至約5 wt%、約1 wt%至約5 wt%)之磷含量。
作為一選擇，基於粉末重量，鉭-鈦合金粉末可具有約0.001 wt%至約5 wt% (例如約0.1 wt%至約4 wt%、約0.1 wt%至約3 wt%、約0.1 wt%至約2 wt%、約0.1 wt%至約1 wt%、約0.2 wt%至約5 wt%、約0.3 wt%至約5 wt%、約0.5 wt%至約5 wt%、約1 wt%至約5 wt%)之氫含量。
可進一步使用諸如氮、磷及/或氫等氣體作為鈍化劑來進一步穩定Ta-Ti合金粉末。
作為一選擇，鉭-鈦合金粉末(排除可選氧化物層)可由小於500 ppm之除Ta及Ti外之元素、例如小於100 ppm之除Ta及Ti外之元素(例如0 ppm至99 ppm、1 ppm至75 ppm、1 ppm至50 ppm、1 ppm至25 ppm、1 ppm至10 ppm、小於5 ppm)組成。如本文所陳述之該等ppm限值可應用於一種元素或一種以上元素或所有所陳述元素。
作為一選擇，Ta-Ti合金粉末可進一步在鉭-鈦合金粉末上含有Ta-Ti氧化物層。
Ta-Ti氧化物層可具有約1 nm至約20 nm或更厚、例如約5 nm至約20 nm或約10 nm至約20 nm之厚度。
作為一選擇，Ta-Ti氧化物層(若存在)可部分地囊封或完全囊封鉭-鈦合金粉末。舉例而言，超過95 vol%或超過99 vol%或超過99.9 vol%或100 vol%之Ta-Ti粉末可在表面上具有氧化物層，該氧化物層囊封Ta-Ti粉末之超過50%、超過60%、超過70%、超過80%、超過90%、超過95%、超過99%或100%之可用外部表面積。
作為一選擇，Ta-Ti氧化物層可進一步含有磷。若存在，則磷可以以下含量存在：約1 ppm至5,000 ppm或約50 ppm至約5,000 ppm，例如約100 ppm至4,000 ppm或200 ppm至約5,000 ppm或約100 ppm至3,000 ppm或約100 ppm至2,000 ppm或約100 ppm至1,000 ppm或約100 ppm至500 ppm。
本發明之鉭-鈦合金粉末可用於形成物件或其部分或其部件。
舉例而言，物件可為矯形外科植入物或其他醫學或牙科植入物。矯形外科植入物可用於代替手、踝、肩、髖、膝蓋、骨、用於全關節重建(關節成形術)、顱面重建或用於代替脊柱或人類或動物身體之其他部位。牙科植入物可用於面部重建，含有(但不限於)下頜骨或上頜骨或作為固定假牙或補齒之支柱。醫學或牙科植入物可用於人類及其他動物(例如狗、貓及其他動物)。
物件可為示蹤物或標記物，例如醫學標記物，例如放射學Ta標記物。
物件可為手術工具或其部件。物件可為擴增部。
物件可為航天部件。
物件可為汽車部件。
物件可為核安全殼部件。
物件可為輪轂，例如用於物理氣相沈積製程中所用線圈組之輪轂。輪轂可包括開放蜂窩狀結構及實心結構。
物件可為任一用於金屬沈積製程中之物件，例如濺鍍靶或其部分或用於固持濺鍍靶之結構及諸如此類。舉例而言，物件可為用於物理氣相沈積製程之線圈組或其部件。
本發明之鉭-鈦合金粉末可用於物件或表面之塗層及/或修復物之合金噴霧(例如冷噴霧、熱噴霧)。
本發明之鉭-鈦合金粉末可用於金屬射出模製應用及製程中。
可使用電漿熱處理製程來製備本發明之鉭-鈦合金粉末。舉例而言，用以製備本發明之鉭-鈦合金粉末之製程可包括以下步驟、基本上由其組成、由其組成或含有該等步驟：步驟a：在惰性氣氛中電漿熱處理起始鉭-鈦合金粉末或線以至少部分地熔化起始鉭-鈦合金粉末或線之至少外表面，從而獲得經熱處理之鉭-鈦合金粉末；且然後步驟b：在惰性氣氛中冷卻經熱處理之鉭-鈦合金粉末以獲得該鉭-鈦合金粉末。起始鉭-鈦合金粉末或線可藉由電漿處理完全熔化或至少90重量%熔化(例如在電漿反應器之電漿火炬區中)。
在該製程中，起始鉭-鈦合金粉末或線可為鑄錠衍生之鉭-鈦合金粉末(或線)或為起始鉭-鈦合金粉末或線之任一其他來源。
可藉由以下方式來獲得起始鉭-鈦合金粉末(或線)：獲取起始鉭源(例如鉭粉末或鑄錠或棒或條帶/薄皮或碎片)及起始鈦源(例如鈦粉末或鑄錠或棒或條帶/薄皮或碎片)並熔化起始鉭源及起始鈦源，且將經熔化鉭及經熔化鈦組合至一起並使組合之經熔化鉭及鈦固化以獲得Ta-Ti合金鑄錠。
用於熔化之起始鉭源可為稱為基本批粉末者，例如基本批鉭或其他鉭源。
用於熔化之起始鉭源可為鑄錠或鑄錠衍生之鉭。
用於熔化之起始鉭源可為粉末冶金(粉末met)衍生之鉭。
用於熔化之起始鈦源可為粉末冶金(粉末met)衍生之鈦或海綿體。
用於熔化之起始鈦源可為鑄錠或鑄錠衍生之鈦。
用於熔化之起始鈦源可為市售鈦粉末。
若起始鉭源及/或鈦源最初呈粉末形式，則粉末可(例如)藉由冷或熱等壓壓製且隨後燒結來形成為團塊或生坯，從而提供擬在合金化製程中熔化之較容易及較可控介質。可視需要預摻和起始鉭粉末與鈦粉末。燒結可發生於用於鉭粉末之習用燒結溫度下。舉例而言且僅作為一實例，可在約700℃至約1,450℃ (或約800℃至約1,400℃或約900℃至約1,300℃)之溫度下燒結粉末。燒結時間可為1分鐘至數小時，例如約10分鐘至4小時或10分鐘至3小時或約15分鐘至約2小時或約20分鐘至約1小時或其他時間段。作為一選擇，可發生一或多個熱處理或燒結，不論係在相同溫度、相同時間下抑或在不同溫度及/或不同熱處理時間下。燒結可發生於惰性氣氛(例如氬氣氛)中。燒結可發生於用於燒結金屬粉末之習用爐中。
可以諸多方式來製備用於形成本發明之最終產品之起始Ta-Ti粉末(或線)。作為一選擇，將包括鉭或其氧化物之第一粉末(例如含鉭固體)與包括鈦之第二粉末或含鈦固體摻和至一起。替代方法係壓實棒或薄片(條帶)原料，其中交替使用Ti及Ta且經由焊接或爆炸結合進行結合(包覆)。
出於本發明目的，含鈦固體係任一可隨後還原成液態以賦予鉭金屬中之元素鈦之固體。另外，含鉭固體係任一可還原成液態以形成鉭金屬之至少包含鉭之固體材料。含鉭固體之一實例係鉭粉末或鉭碎片及諸如此類。
在摻和起始Ta及Ti粉末以形成摻合物之後，接著(例如)藉由熔化將摻合物還原成液態。可藉由任一方式將摻合物還原成液態，例如藉由熔化。舉例而言，可藉由電子束熔化、真空電弧重熔處理或電漿熔化個別地或組合達成熔化。
一旦摻合物已還原成液態，然後即可藉由任一方式(含有在坩堝(例如水冷卻銅坩堝)中冷卻或霧化(例如氣體或液體霧化)、快速固化製程及諸如此類)使液體摻合物形成為或返回固態並形成固體合金。
在此製程中，通常可使用或向鉭金屬中引入任一量之含鈦化合物或元素鈦，只要該量仍使得形成鉭-鈦合金即可。
若擬製備合金欲包含除Ta及Ti外之其他元素，則摻合物可進一步視情況包含其他成分、添加劑或摻雜劑以在合金中達成期望量之該等期望其他組分。
在一選擇中，藉由電子束熔化(在真空中)將粉末摻合物還原成液態，其中可以任一速率(含有約200 lbs./小時至約700 lbs./小時之速率)使用(例如) 1200 KW Leybold EB爐熔化摻合物且可澆注成10英吋至12英吋之鑄錠。端視EB爐類型及其冷卻能力，可製備任一大小之鑄錠。
作為一選擇，將隨後形成之合金還原至液態或熔化一次以上及較佳地至少兩次或更多次。在熔化至少兩次時，第一熔化速率可慢於第二或更多次熔化。舉例而言，第一熔化速率可為約200 lbs/小時至約500 lbs/小時且第二熔化可具有約600 lbs/小時至約800 lbs/小時之熔化速率。因此，一旦形成合金，即可將其還原成液態任何次數以進一步產生更純化合金。
在用以形成然後還原成粉末之合金鑄錠之選擇中，合金鑄錠可具有或為任一體積或直徑或形狀。電子束處理或用於熔化之其他裝置可以約300 lbs./小時至約800 lbs./小時之熔化速率使用20,000伏特至28,000伏特及15 amp至40 amp且在約1 × 10-3 托至約1 × 10-6 托之真空下進行處理。更佳地，熔化速率為約400 lbs./小時至約600 lbs./小時，其中使用24,000伏特至26,000伏特及17 amp至36 amp且在約1 × 10-4 托至1 × 10-5 托之真空下。就VAR處理而言，熔化速率較佳為500 lbs./小時至2,000 lbs./小時，其中使用25伏特至45伏特及12,000 amp至22,000 amp且在2 × 10-2 托至1 × 10-4 托之真空下；且更佳為800 lbs./小時至1200 lbs./小時，其中使用30伏特至60伏特及16,000 amp至18,000 amp且在2 × 10-2 托至1 × 10-4 托之真空下。
合金鑄錠可具有至少4英吋或至少8英吋之直徑，或具有至少9½英吋、至少11英吋、至少12英吋或更高之直徑。舉例而言，合金鑄錠可具有約5英吋至約20英吋或約9½英吋至約13英吋或10英吋至15英吋或9½英吋至15英吋或11英吋至15英吋之直徑。鑄錠之高度或長度為可任一量，例如至少5英吋或至少10英吋或至少20英吋、至少30英吋、至少40英吋、至少45英吋及諸如此類。舉例而言，鑄錠之長度或高度可為約20英吋至約120英吋或約30英吋至約45英吋。鑄錠可為圓柱形形狀，但可使用其他形狀。在形成鑄錠之後，視情況，可使用習用技術對鑄錠進行機器清洗。舉例而言，機器清洗(洗滌表面)可減小鑄錠直徑，例如將直徑減小約1%至約10%。作為一具體實例，鑄錠可具有12英吋之標稱鑄態直徑，且因機器清洗而可在機器清洗之後具有10.75英吋至11.75英吋之直徑。
製備本發明合金之另一製程涉及將含鈦固體及含鉭固體還原成液態。在此製程中，可將含鈦固體單獨還原成液體且亦可將含鉭固體單獨還原成液態。然後，可將兩種液態組合至一起。或者，可將含鈦固體及含鉭固體以固體形式一起添加且然後還原成液態或氣態。
一旦(例如)藉由熔化將含鈦固體及含鉭固體還原成液態，兩種液體即混合至一起以形成液體摻合物，該液體摻合物隨後形成為固體合金。如同先前所闡述之製程，可在該製程期間添加其他成分、添加劑及/或摻雜劑。
本發明之合金鑄錠通常可具有任一晶粒大小，含有通常發現於純或實質上純之鉭金屬中之晶粒大小。較佳地，當在1800℃下加熱30分鐘時，合金具有約50微米至約210微米及更佳地約60微米至約125微米之晶粒大小。同樣，較佳地，當在1530℃下加熱2小時時，合金可具有約19微米至約27微米之晶粒大小。
製備起始Ta-Ti合金之另一方法可涉及火焰合成製程。更詳細而言，可使用類似於美國專利第7,442,227號及第5,498,446號中所闡述之製程之燃燒顆粒形成製程，該等專利之全部內容以引用方式併入本文中。更具體而言，將鹼金屬進料、較佳地鈉進料注入火焰反應器中，且亦將包含鈦之鹵化物及包含鉭之鹵化物之單獨進料以一或多個進料形式引入火焰反應器中。包含Ti之鹵化物可為TiCl4 ，且包含Ta之鹵化物可為TaCl5 。然後將該三種進料引入(例如注入)火焰反應器中。包含鹵化鈦及鹵化鉭之進料可在其進入火焰反應器中之前加以組合或單獨引入火焰反應器中。可通常在惰性氣體環境(例如氬)下引入進料。在火焰反應器中，作為一選擇，可將各種進料轉化成蒸氣或進料可以蒸氣形式供給至反應器中。通常在鹵化物(例如氯化鈉)存在下，鈦及鉭鹵化物與鹼金屬反應形成Ta-Ti合金粉末。主要顆粒成核並生長且最終可形成該等顆粒之聚集物，且可囊封於鹽(例如氯化鈉)內並最終固化，從而Ta-Ti合金粉末由鹽(例如氯化鈉)囊封。然後經由各種技術去除過量鈉，且通常經由顆粒收集器或過濾器收集經鹽(例如氯化鈉)塗覆之Ta-Ti合金顆粒，該過程可在惰性氣體或其他非反應性環境下進行。作為一選擇，可在惰性氣體或真空環境中進一步熱處理且此可增加主要粒度。最後，可去除(例如洗滌掉或溶解掉或昇華)氯化鈉且回收Ta-Ti合金粉末。可使用整流劑將進料維持於適當方向及路線上，且較佳地將反應物裝納於惰性環境中。
一旦形成Ta-Ti合金鑄錠，即可將鑄錠還原成粉末或微粒形式，從而可處理(例如電漿處理)粉末以形成本發明之球形Ta-Ti粉末。
或者，一旦形成Ta-Ti合金鑄錠，即可使鑄錠形成或拉細成線，從而可處理(例如電漿處理)線以形成本發明之球形Ta-Ti粉末。舉例而言，可使鑄錠分成或形成棒且然後可將棒輥壓至(例如) 9 mm × 9 mm，並(例如)在1300℃退火溫度下退火一或兩小時或更久。然後可經由各種模具抽拉棒以獲得起始Ta-Ti合金線之期望直徑(例如0.25 mm或其他直徑)。可利用其他習用技術自鑄錠或板或棒來形成線。
可藉由以下方式來將合金鑄錠還原成粉末：使鑄錠變得易碎，且然後壓碎鑄錠或對鑄錠實施一或多個顆粒還原步驟(例如研磨、顎式壓碎、輥式壓碎、交叉拍打及諸如此類)。為使鑄錠變得易碎，可(例如)藉由將鑄錠置於具有氫氣氛之爐中來對鑄錠實施氫化。舉例而言，可在器皿中加熱合金鑄錠且然後冷卻至室溫，同時維持+1 psi至+5 psi或更高之正氫壓。壓碎或顆粒還原步驟可形成角狀粉末。
在氫化且還原成粉末之後，可視情況篩選粉末以獲得較期望之粒度分佈。可使用振動篩選儀或超音波篩選儀。使用篩選所達成之期望粒度分佈為5微米至300微米，例如5微米至15微米、15微米至45微米或45微米至150微米。
在可選篩選步驟之前或之後，可對粉末或經篩選粉末實施去氫步驟。舉例而言，可藉由在真空爐中加熱(例如在1100℃下30分鐘)來去除粉末中之氫。
在去氫步驟之後，可對粉末實施一或多個去氧步驟。可使用適當還原劑(例如C、CO、Mg、Ca、H、Li、Na及/或K)來達成去氧。舉例而言，可使用鎂去氧。作為一實例，可在鎂去氧步驟期間使用約4 wt%至約6 wt%鎂(基於合金粉末之總重量)且此鎂去氧步驟之發生溫度可為約700℃至約1600℃之溫度(例如約750℃至約950℃或約750℃至約800℃)。可在惰性氣氛(如氬)中達成鎂去氧。同樣，鎂去氧通常在足夠溫度下進行足夠時間以至少去除合金粉末中之大部分氧。舉例而言，鎂去氧之時間長度可為約20分鐘至約3小時，例如約45分鐘至約60分鐘。在此鎂去氧步驟中，所用鎂通常氣化且(例如)以MgO2 形式沈澱出(例如位於爐之冷壁上)。可藉由任一製程(例如使用稀硝酸及氫氟酸溶液進行酸浸)去除或實質上去除任何剩餘鎂。
可經由工業接受之方法(例如衝擊磨機、氣流磨機、輥磨機或其他方法)來達成壓碎。
作為一選擇，起始合金粉末(例如起始角狀合金粉末)可為非氫化的或可在引入電漿處理中之前進行氫化。
就電漿熱處理而言，此亦可稱為電漿處理或電漿加工。在本發明中，可使用RF電漿處理或感應電漿處理。舉例而言，可使用RF熱電漿系統或感應電漿反應器，例如來自Tekna, Sherbrooke, QC, Canada者，例如PL-35LS或PL-50或TEK-15或其他模型。用於電漿之中央氣體可為氬或氬與其他氣體之混合物或其他氣體(例如氦及諸如此類)。中央氣體之供給速率可為適宜流速，例如約10 L/min至約100 L/min或約15 L/min至約60 L/min或其他流速。用於電漿之鞘氣體可為氬或氬與其他氣體之混合物或其他氣體(例如其他惰性氣體或氦及諸如此類)。鞘氣體之供給速率可為適宜流速，例如約10 L/min至約120 L/min或約10 L/min至約100 L/min或其他流速。用於起始合金粉末之載氣可為氬或氬與其他氣體之混合物(舉例而言，可添加氫以增加電漿強度)或其他氣體(例如其他惰性氣體或氦及諸如此類)。載氣之供給速率可為適宜流速，例如約1 L/min至約15 L/min或約2 L/min至約10 L/min或其他流速。起始合金粉末(或線)至電漿火炬區域之供給速率可為任一流速，例如約1 g/min至約120 g/min之合金粉末或約5 g/min至約80 g/min之起始合金粉末(或線)。通常，起始合金粉末(或線)之較低供給速率確保了起始合金粉末(或線)之較均勻及較完整球形處理。在離開電漿火炬區域之後，可視情況(例如)經由一或多個淬滅埠使用淬滅氣體。淬滅氣體可為任一適宜非反應性氣體，例如氦或氬。若使用，則可以不同流速來供給淬滅氣體。舉例而言，淬滅氣體之流速可為約25 L/min至300 L/min或約50 L/min至約200 L/min或其他量。作為一選擇，代之以使用淬滅氣體或另外，可使用重力及/或水冷卻式冷卻夾套。可使用美國專利第5,200,595號及第WO 92/19086號中所闡述之設計。作為一選擇，在淬滅粉末之後或在粉末開始冷卻之後，可使用鈍化氣體。鈍化氣體可為氧、空氣或空氣及氧之組合。鈍化氣體之流速可為任一流速，例如約0.1 L/min至約1 L/min或其他量之流速。電漿火炬之室壓可為任一適宜壓力，例如約0.05 MPa至約0.15 MPa。板電壓可為約5 kV至約7.5 kV。RF電漿系統之頻率可為3 MHz或其他值。板電流可為約2.5 A至約4.5 A。功率可為約15 kW至約35 kW。自電漿火炬至供給噴嘴或探針位置之距離可予以調節或有所變化。該距離可為0 cm或約0 cm或約0 cm至約8 cm。該距離愈大，則起始粉末之表面蒸發愈少。因此，若起始合金粉末極不規則且具有超過2或超過3之縱橫比，則選擇距供給噴嘴接近0 cm。若起始合金粉末之形狀較為規則(例如具有約1.3至2之縱橫比)，則作為一選擇至供給噴嘴之距離可進一步遠離電漿火炬。同樣，亦可使用較高電漿粉末設置來處理較不規則成型之起始合金粉末。
作為一選擇，可收集已經電漿處理之粉末，例如在保護氣氛(例如惰性氣體，如氬)下收集。可(例如)使用水浴鈍化所收集粉末。可將所收集粉末引入水浴中(例如浸沒於水浴中)。
作為一選擇，可對所收集粉末實施超音波處理或其他粉末振動方法，或可調節粉末之溶液pH及/或等電點以去除小顆粒(例如沈積於合金球體之合金表面上之奈米材料) (例如去除伴隨物及球體上之其他鬆散材料)。可視情況(例如)在保護氣體(例如惰性氣體，如氬)下乾燥所得經回收合金球體。此乾燥可在任一溫度下(例如在50℃至100℃之溫度下)進行10 min至24小時或1小時至5小時及諸如此類。可將所回收粉末置於密封袋(例如鋁內襯抗靜電袋)或不銹鋼UN容器或HDPE塑膠抗靜電密封容器或用於進一步使用之其他適宜金屬粉末儲存容器中。
使用本發明中所用之電漿處理，產生起始合金粉末(若使用該形式)及/或其他形態之粒度分佈所作出之努力可堅持至最終合金粉末離開電漿製程。換言之，除去除尖銳邊緣及/或去除表面粗糙度及/或使得起始合金粉末變為球形或較具球形外，可實質上維持粒度。因此，在將起始合金粉末引入電漿處理中之前，可對起始合金粉末實施一或多個步驟以達成期望粒度分佈及/或其他顆粒特性。舉例而言，起始合金粉末之粒度分佈可使得D10及/或D90在該起始合金粉末之D50之50%內或40%內或30%內或25%內或20%內或15%內或10%內或5%內。
可對引入電漿處理中之前之起始合金粉末實施一或多個篩分步驟或其他顆粒篩選步驟以(例如)獲得如上文所闡述之粒度分佈或其他篩分截止值(例如但不限於- 200網目截止值、- 225網目截止值、- 250網目截止值、- 275網目截止值、- 300網目截止值等，其中網目係美國網目大小)。
起始合金粉末在電漿處理之前可具有下列粒度範圍中之一者：平均粒度可為約0.5微米至約10微米或約5微米至約25微米或約15微米至約45微米或約35微米至約75微米或約55微米至約150微米或約105微米至約250微米。
在製備合金粉末之製程中，起始合金粉末(若使用該形式)可具有第一粒度分佈，且所得(或最終)合金粉末(例如在電漿處理之後)可具有第二粒度分佈，且第一粒度分佈及第二粒度分佈彼此在15%內、彼此在10%內或彼此在5%內或彼此在2.5%內或彼此在1%內。
可對引入電漿處理中之前之起始合金粉末或線實施一或多個去氧處理以自合金粉末或線去除氧。
可對引入電漿處理中之前之起始合金粉末或線實施一或多種酸浸處理以自合金粉末或線去除雜質。
可對電漿處理之前之起始合金粉末進行分類或篩分以去除不同大小，例如去除小於20微米、小於15微米、小於10微米或小於5微米之顆粒。
在離開電漿處理之後，可對經電漿處理之合金粉末實施一或多個後處理步驟。
舉例而言，一種後處理步驟可為使經電漿處理之合金粉末通過一或多個篩以去除某些大小之經電漿處理之合金粉末。
舉例而言，一種後處理步驟可為超音波處理或使用其他振動技術以自合金球體去除瑕疵。舉例而言，可將來自電漿處理之合金球體置於水浴中並超音波處理以去除合金球體上之奈米材料，且然後可回收合金球體。
舉例而言，一種後處理步驟可為視情況對經電漿處理之合金球體實施至少一個去氧或「deox」步驟。去氧可涉及使經電漿處理之合金在至少一種吸氧劑存在下經受約500℃至約1,000℃或更高之溫度。舉例而言，吸氧劑可為鎂金屬或化合物。鎂金屬可呈板、糰粒或粉末之形式。可使用其他吸氧劑材料。
舉例而言，一種後處理步驟可為視情況對經電漿處理之合金實施一或多個熱處理步驟或退火步驟。就經電漿處理之合金之熱處理步驟而言，可習用在真空下或在惰性溫度下於烘箱中進行熱處理。熱處理溫度通常為至少800℃或至少1,000℃或約800℃至約1,450℃或約1,000℃至約1,450℃及諸如此類。儘管可使用任一熱處理時間，但實例含有(但不限於)至少10分鐘、至少30分鐘、約10分鐘至約2小時或更久。作為一選擇，可發生一或多個熱處理，不論係在相同溫度、相同時間下抑或在不同溫度及/或不同熱處理時間下。在熱處理(若使用)之後，經電漿處理之合金可維持在熱處理之前所達成之霍爾流速或在該霍爾流速之20%內或10%內或5%內。
舉例而言，一種後處理步驟可為(例如)使用習用技術或其他適宜方法對經電漿處理之合金實施酸浸。舉例而言，美國專利第6,312,642號及第5,993,513號中所闡述之各種製程可用於本文中且其全部內容以引用方式併入本文中。可使用包括強礦物酸作為主要酸(例如硝酸、硫酸、鹽酸及諸如此類)之酸水溶液來實施酸浸。同樣，可使用次要量(例如基於酸總重量小於10重量%或小於5重量%或小於1重量%)之氫氟酸(例如HF)。酸溶液中之礦物酸濃度(例如HNO3 濃度)可介於約20重量%至約75重量%之間。可在高溫(高於室溫至約100℃)下或在室溫下使用如(例如)美國專利第6,312,642 B1號中所展示之酸組合物及技術來實施酸浸。酸浸步驟通常係在正常大氣條件(例如大約760 mm Hg)下實施。使用(例如)所指示之習用酸組合物及壓力條件實施之酸浸步驟可在該等條件下自去氧粉末去除可溶性金屬氧化物。
作為一選擇，經電漿處理之合金粉末可摻氮。就氮而言，氮可呈任一狀態，例如氣體、液體或固體。本發明粉末可具有任一量之以摻雜劑形式存在或以其他形式存在之氮。氮可以結晶形成及/或固體溶液形式且以任一比率存在。氮摻雜含量可為5 ppm至5,000 ppm氮或更高。
本發明之經電漿處理之合金粉末可以諸多方式來使用。舉例而言，經電漿處理之合金可用於積層製造或處理(其有時稱為3-D列印)以形成物件或物件之部件。本發明之經電漿處理之合金粉末可用於允許使用金屬粉末之製程或裝置中。使用本發明之經電漿處理之粉末，可便於實施積層製造。另外或替代地，使用本發明之經電漿處理之粉末，粉末至積層製造裝置之供給有所改良及/或自程式化至列印裝置中之設計更準確地獲得所得物件。
可利用本發明之經電漿處理之合金粉末之積層製程含有雷射粉末床熔合、電子束粉末床熔合、定向能量沈積、經由粉末或線之雷射包覆、材料噴射、薄片層壓或vat光聚合。另外，該等合金粉末可用於金屬射出模製(MIM)中。
該等積層製程中之一些稱為雷射金屬熔合、雷射燒結、金屬雷射熔化或直接金屬列印或直接金屬雷射燒結。在此製程中，使高功率雷射光束掃描通過粉末床，從而在雷射光束之路徑上以所需形狀燒結粉末。在每一層之後，床下降較短距離且施加新粉末層。整個製程運行於具有受控氣體氣氛(其係惰性(例如氬)或活性)之密封室中以微調材料/產品性質。
該等積層製程中之一些稱為雷射金屬沈積(LMD)或近淨成形。在此製程中，使用連接至機器人或高架系統之高功率雷射光束在金屬基板上形成熔化池，可向該熔化池供給粉末或金屬線。在LMD中，粉末包含於載氣中且經由與雷射光束同心之噴嘴引導至基板中。或者，可自側面供給線。熔化粉末或線以形成結合至基板且逐層生長之沈積物。與雷射光束同心之額外氣體噴射機可提供額外之屏蔽或製程氣體保護。
該等積層製程中之一些稱為氣體金屬電弧焊接及電漿焊接技術，其可熔化金屬粉末以逐層形成3D形狀。在此製程中，當電極在電弧中熔化時添加金屬粉末或線且其液滴在基板上形成層。考慮到用於積層製造中之大部分材料之熱敏感性，使用較低加熱輸入之製程(例如受控短路金屬轉移)係較佳的。屏蔽氣體保護各層免受環境空氣影響。
電漿積層製造類似於雷射金屬沈積，其中將粉末或線在氣體流中引向基板且由電漿熱熔化。
該等積層製程中之一些稱為熱噴霧。在此製程中，熔化之經加熱粉末顆粒或液滴在氣體流中朝向基板加速，其中局部黏著性係由動力學能量及熱量來確保。在用於積層製造時，逐層施加熱噴霧以構建無幾何複雜性之組件(例如導管或漸縮管)。製程氣體保護熱材料免受環境大氣氣體影響且幫助微調材料性質。
該等積層製程中之一些稱為電子束熔化或粉末床熔合製程，該等製程在真空中使用電子束。此製程類似於雷射燒結。
用於形成物件之積層製造裝置或製程可具有下列設置中之一或多者：100W至約400W或100W至約200W或155W至約200W之雷射功率；約100 mm/s至約500 mm/s、例如約300 mm/s至約400 mm/s之掃描速度；約20微米至約150微米、例如約80微米至約120微米之開口間距；約10微米至約50微米、例如約30微米至約40微米之層厚度；及/或約3 J/mm2 至約20 J/mm2 、例如約4 J/mm2 至約6 J/mm2 之能量密度。有時，可利用低於最大值之雷射設置以減小熱輸入及/或最小化熱應力及/或最小化部件變形。
在積層製造製程中，所形成物件可具有實心結構或開放細胞或網狀結構。開放蜂窩狀或網狀結構之形成可尤其用於使得物件之重量或密度較輕及/或用於獲得期望楊氏模數(Young’s modulus)及/或其他期望性質，且並不損害物件用於期望目的之用途。網狀或開放蜂窩狀結構可為不均勻、漸變或均勻的。作為一選擇，可列印網狀或蜂窩狀結構以模擬或模仿實際骨之骨密度。
在積層製造製程中，可經由使用電腦模仿程式來進行多物理場建模。使用積層列印之該等電腦模仿，可產生期望設計(例如網狀或開放蜂窩狀結構)且最佳化。可用於積層(3-D)列印機之該等程式含有(但不限於) Materialise Magics及Autodesk。可使用其他類似模仿程式來生成用於積層列印之期望結構及性質。
對於積層製造而言，較佳利用鉭或Ta-Ti或Ti基板，但可使用其他基板(例如不銹鋼或不銹鋼合金)。鉭或Ta-Ti或Ti基板可最小化部件與基板之間之熱膨脹係數(CTE)差異及/或熱導率差異。該效應可最小化部件中之熱殘餘應力及/或可防止部件自板提升。
使用本發明之合金粉末且利用積層製造製程發現，可達成自本發明之合金粉末形成之所得物件之期望拉伸性質。若將物件(例如)在約800℃至約2,000℃之溫度下退火(例如10 min至10小時或30分鐘至3小時或1小時至2小時)，則該等性質中之一或多者可得以增強。
使用本發明，藉由積層製造形成之物件可具有在動物骨(例如人骨)之25%內或10%內或5%內或1%內之楊氏模數(如藉由ASTM-E111-17所量測)。舉例而言，物件模數可為10 GPa至60 GPa或15 GPa至50 GPa或20 GPa至40 GPa。可以超音波方式及/或以機械方式進行量測。機械量測所產生之楊氏模數讀數通常可低於超音波量測10-30%。
在形成積層製造(AM)物體或物件時，可使用本發明達成下列性質中之一或多者。極限拉伸強度(UTS)可大於相同形狀之鍛Ta至少50%或至少100%。UTS可超過50 KSI、超過70 KSI、超過80 KSI或超過90 KSI，例如約50 KSI至約100 KSI。屈服應力可大於相同形狀之鍛Ta至少50%或至少100%。屈服應力可超過35 KSI、超過40 KSI、超過50 KSI或超過80 KSI，例如約35 KSI至約90 KSI。本發明之經退火之積層製造之合金物件可具有改良的屈服應力。本發明之經退火之積層製造之合金物件可具有改良的屈服應力而不損害UTS。伸長率可為約1%至約50%，例如約3%至40%或5%至35%。本發明之經退火之積層製造之合金物件可具有改良的伸長率。使用本發明，可平衡可接受及/或良好之UTS、屈服性及伸長率。
使用本發明，藉由積層製造形成之物件可具有在鍛Ti之10%內或50%內或鍛Ta之90%內或50%內之高循環疲勞HCF (如藉由ASTM-E466所量測)。舉例而言，物件之疲勞強度可為1 MPa至600 MPa。
使用用於積層製造之經電漿處理之合金粉末，可獲得各種物件且物件之品質及準確度可極佳。舉例而言，物件可為矯形外科植入物或其他醫學或牙科植入物。矯形外科植入物可用於代替手、踝、肩、髖、膝蓋、骨、用於全關節重建(關節成形術)、顱面重建或用於代替脊柱或人類或動物身體之其他部位。牙科植入物可用於面部重建，含有(但不限於)下頜骨或上頜骨。醫學或牙科植入物可用於人類及其他動物(例如狗或貓)中。
物件可為輪轂，例如用於物理氣相沈積製程中所用線圈組之輪轂。輪轂可包括開放蜂窩狀結構及實心結構。
物件可為任一用於金屬沈積製程中之物件，例如濺鍍靶或其部分或用於固持濺鍍靶之結構及諸如此類。舉例而言，物件可為用於物理氣相沈積製程之線圈組或其部件。
作為一選擇，可進一步處理經電漿處理之合金以形成電容器電極(例如電容器陽極)。此可(例如)藉由以下方式來進行：壓縮經電漿處理之粉末以形成主體，燒結該主體以形成多孔體，且將該多孔體陽極化。可藉由任何習用技術來壓製粉末，例如將粉末置於模具中且藉由使用壓機對粉末實施壓縮以(例如)形成經壓製主體或生坯。可使用各自壓實密度，且含有(但不限於)約1.0 g/cm3 至約7.5 g/cm3 。可燒結粉末，陽極化，及/或使用電解質以任一習用方式浸漬。舉例而言，可在本文中使用美國專利第6,870,727號、第6,849,292號、第6,813,140號、第6,699,767號、第6,643,121號、第4,945,452號、第6,896,782號、第6,804,109號、第5,837,121號、第5,935,408號、第6,072,694號、第6,136,176號、第6,162,345號及第6,191,013號中所闡述之燒結、陽極化及浸漬技術且該等專利之全部內容以引用方式併入本文中。可(例如)以類似於上文針對粉末所闡述製程之製程使經燒結陽極糰粒去氧。
起始合金粉末、經電漿處理之合金粉末及自合金粉末形成之組件之其他細節提供於下文中且進一步形成本發明之可選態樣。
使用本發明方法，可製得可具有以下特徵之合金粉末： a)約4.5 g/cc至約11 g/cc之視密度， b)約5微米至約25微米之D10粒度， c)約20微米至約50微米之D50粒度， d)約30微米至約100微米之D90粒度，及/或 e)約0.05 m2 /g至約20 m2 /g之BET表面積。 合金粉末可具有下列性質中之至少一者： a)約6 g/cc至約10 g/cc之視密度， b)約12微米至約25微米之D10粒度， c)約20微米至約40微米之D50粒度， d)約30微米至約70微米之D90粒度，及/或 e)約0.1 m2 /g至約15 m2 /g之BET表面積。
出於本發明目的，可存在該等性質中之至少一者、至少兩者、至少三者、至少四者或所有五種性質。
在本發明之至少一個實施例中，經電漿處理之合金粉末(或起始合金粉末)或使用本發明之合金粉末形成之任一物件可具有下列特性，但應理解，該粉末或物件可具有該等範圍以外之特性： 純度值： -  約20 ppm至約60,000 ppm或約100 ppm至約60,000 ppm之氧含量，例如約20 ppm至1,000 ppm或約40 ppm至約500 ppm或約50 ppm至約200 ppm或約250 ppm至約50,000 ppm或約500 ppm至約30,000 ppm或約1000 ppm至約20,000 ppm之氧。氧(以ppm表示)與BET (以m2 /g表示)之比率可為約2,000至約4,000，例如約2,200至約3,800、約2,400至約3,600、約2,600至約3,400或約2,800至約3,200及諸如此類。 -  約1 ppm至約100 ppm之碳含量及更佳地約10 ppm至約50 ppm或約20 ppm至約30 ppm之碳。 -  約5 ppm至20,000 ppm或約100 ppm至約20,000 ppm或更高之氮含量及更佳地約1,000 ppm至約5,000 ppm或約3,000 ppm至約4,000 ppm或約3,000 ppm至約3,500 ppm之氮。 -  約1 ppm至約1,000 ppm、約10 ppm至約1,000 ppm之氫含量及更佳地約300 ppm至約750 ppm或約400 ppm至約600 ppm之氫。 -  約1 ppm至約50 ppm之鐵含量及更佳地約5 ppm至約20 ppm之鐵。 -  約1 ppm至約150 ppm之鎳含量及更佳地約5 ppm至約100 ppm或約25 ppm至約75 ppm之鎳。 -  約1 ppm至約100 ppm之鉻含量及更佳地約5 ppm至約50 ppm或約5 ppm至約20 ppm之鉻。 -  約0.1 ppm至約50 ppm之鈉含量及更佳地約0.5 ppm至約5 ppm之鈉。 -  約0.1 ppm至約100 ppm之鉀含量及更佳地約5 ppm至約50 ppm或約30 ppm至約50 ppm之鉀。 -  約1 ppm至約50 ppm之鎂含量及更佳地約5 ppm至約25 ppm之鎂。 -  約1 ppm至約500 ppm或約5 ppm至約500 ppm之磷(P)含量及更佳地約100 ppm至約300 ppm之磷。 -  約1 ppm至約500 ppm及更佳地約25 ppm至約300 ppm或約50 ppm至約300 ppm或約100 ppm至約300 ppm之氟化物(F)含量。
基於美國網目大小，經電漿處理之粉末(或起始合金粉末) (一級、二級或三級)可具有下列粒度分佈(基於整體%)： -  約0.0至約1%及較佳地約0.0至約0.5%及更佳地0.0或約0.0之+60#。 -  約45%至約70%及較佳地約55%至約65%或約60%至約65%之60/170。 -  約20%至約50%及較佳地約25%至約40%或約30%至約35%之170/325。 -  約1.0%至約10%及較佳地約2.5%至約7.5%、例如約4%至約6%之325/400。 -  約0.1%至約2.0%及較佳地約0.5%至約1.5%之-400。
本發明之經電漿處理之合金粉末可具有約0.01 m2 /g至約20 m2 /g及更佳地約0.05 m2 /g至約5 m2 /g (例如約0.1 m2 /g至約0.5 m2 /g)之BET表面積。可使用Micromeritics TriStar II Plus 3030裝置來測定BET表面積。
原始或起始合金粉末可包括平均大小在以下範圍內之一級顆粒：1微米至約500微米或10微米至300微米或15微米至175微米或20微米至150微米或25微米至100微米或30微米至90微米或其他大小。一級粒度之平均大小及分佈可取決於製備方法。一級顆粒可往往形成大小大於一級顆粒之團簇或團聚物。原始或起始合金粉末顆粒之形狀可含有(但不限於)片狀、角狀、結節狀或球形及其任何組合或其變化形式。用於實踐本發明之原始粉末中之鉭金屬及鈦金屬可具有任一純度且較高純度較佳。舉例而言，原始或起始粉末之合金純度(例如以wt%計)可為95%或更大或99%或更大(例如約99.5%或更大及更佳地99.95%或更大及甚至更佳地99.99%或更大或99.995%或更大或99.999%或更大)，其中%係指基於合金總重量之Ta-Ti合金純度(以重量計)。
在電漿處理之前或之後之任一階段處，可使用含氧氣體(例如空氣)鈍化合金粉末以作為本發明之經電漿處理之合金粉末產生製程之一部分。鈍化通常用於在處理期間及在使用粉末形成燒結體之前在粉末上形成穩定氧化物膜。本發明之粉末產生製程由此可含有氫摻雜及鈍化操作。
可藉由任一適宜方法來鈍化合金粉末。可在任一適宜容器中(例如在殺菌釜、爐、真空室或真空爐中)達成鈍化。可在用於處理(例如熱處理、去氧、氮化、去潤滑、粒化、研磨及/或燒結)金屬粉末之任一設備中達成鈍化。可在真空下鈍化金屬粉末。鈍化可含有使用含氧氣體將容器回填至指定氣壓，且保持容器中之氣體指定時間。用於粉末鈍化之氣體之氧含量值可為1 wt%至100 wt%氧或1 wt%至90 wt%或1 wt%至75 wt%或1 wt%至50 wt%或1 wt%至30 wt%或20 wt%至30 wt%或與空氣或大氣空氣相同或更大之氧含量或其他含量值。氧可與惰性氣體(例如氮、氬或該等氣體之組合或其他惰性氣體)組合使用。在鈍化製程期間，惰性氣體並不與合金反應。惰性氣體(例如氮氣及/或氬氣)較佳地可構成鈍化氣體中所有或基本上所有(例如＞98%)之除氧外之剩餘部分。可使用空氣作為鈍化氣體。空氣可係指大氣空氣或乾燥空氣。乾燥空氣之組成通常為氮(約75.5 wt%)、氧(約23.2 wt%)、氬(約1.3 wt%)及總量小於約0.05%之其餘部分。乾燥空氣中之氫含量值為約0.00005 vol%。
可用於鈍化製程之其他技術可改編自揭示於美國專利第7,803,235號中者，該專利之全部內容以引用方式併入本文中。
本發明將藉由下列實例來進一步闡明，該等實例僅意欲例示本發明。實例 實例 1- 理論
在此實例中，形成球形Ta-Ti粉末。首先，使用基本批合金粉末且具有0.1 m2 /g之BET。將此基本批鉭粉末(鈉還原粉末)與自Ti海綿所獲得之BET為0.4 m2 /g之市售鈦粉末摻和至一起。鉭及鈦之摻和量為80 wt%鉭粉末及20 wt%鈦粉末。然後壓製經摻和粉末混合物且利用2500℃至3000℃之燒結溫度經三小時燒結成生坯。將生坯供給至電子束爐中，在此經由坩堝熔化金屬。將熔體抽拉通過模具，在此熔化發生固化且形成合金鑄錠。然後使用相同電子束製程將合金鑄錠再重熔兩次。然後使用高溫爐利用氫氣氛對所得合金鑄錠實施氫化且在氫化之後冷卻至室溫。然後壓碎(使用顎式壓碎且然後使用輥式壓碎)氫化鑄錠且篩選至-20 #之篩側。將經壓碎鑄錠篩選至期望大小截止值(其為10 - 25微米或15 - 40微米或45- 105微米)。然後酸浸每一批之所篩選粉末。＞然後使用鎂屑對每一批中之粉末實施去氧(700℃，2小時)以將氧含量降低至不同含量(皆低於1000 ppm)。然後如下文所闡述對每一批單獨實施電漿處理。亦提及，除每一批之初始去氧外，在球化之後實施額外去氧(使用鎂屑，2小時，在700℃下，雙重去氧)以達成超低氧雜質粉末。
接下來，然後電漿處理起始角狀合金粉末。特定而言，藉由將合金粉末引入進料機中來球化合金粉末。進料機具有將粉末氣溶膠化至電漿球化反應器(TEKSPHERO 15，來自加拿大Tekna)之氬供應量(5 LPM)。藉由調節進料機將粉末之供給速率維持於0.75 kg/hr。將氣溶膠化粉末引入電漿反應器之電漿熱源中。電漿反應器具有使用美國專利第5,200,595號及第WO 92/19086號中所闡述使用同心管之設計之感應電漿火炬。用於球化粉末之電漿能為15 KW，其中板電壓設定於6.5 V，板電流設定於2.3A且柵極電流設定於0.4 A。使用氬氣流將反應器惰性化，其中載氣流設定於5 LPM，鞘氣流設定於30 LPM，中央氣流設定於10 LPM且噴嘴氣流設定於1 LPM。藉由添加氫氣(使用4 LPM之流速)來增加電漿強度。運行條件匯總於表1中。將引入電漿火炬中之基本批合金粉末至少部分地熔化且然後球化，且將液體滴合金攜載至電漿火炬下游，在此其藉由電漿反應器上之活動式水冷卻夾套快速冷卻。在此實例中，經冷卻球形合金粉末經由重力落至電漿反應器底部且在氬氣體包層下收集球形粉末，並在水浴中鈍化。一旦置於水中，立即對漿液實施超音波處理(能量＜ 150 W/gal.)以去除沈積於球形粉末之表面上之潛在奈米材料。然後在氬及80℃下乾燥經洗滌合金球體4小時。然後將經乾燥粉末包裝於Al內襯抗靜電袋中直至測試性質時。
表1：
   氬流- LPM   
進料 功率 氬氣壓 載氣 鞘氣 中央氣體 噴嘴 氫 (LPM) 板電壓 (V) 板當前 (A) 柵極電流 (A) Ta供給速率 (kg/hr)
鉭 15KW 15 psia 5 30 10 1 4 6.55 2.3 0.4 0.75
所產生粉末為球形且由SEM測得之縱橫比在1.0 - 1.2範圍內。粉末霍爾流速為7.5 +/- 2.0 s (針對50 g)且視密度為8 g/cm3 +/- 2.0 g/cm3 。藉由動態光散射量測之粉末PSD為D10 = 5 - 15微米、D50 = 10 - 30微米及D90 = 20 - 50微米。合金粉末之純度為至少99.95% Ta-Ti，其中所有氣體雜質皆小於1000 ppm。實例 2- 理論
將實例1之合金粉末用於3D列印或積層製造製程中。具體而言，在EOS M290上使用250×250×325 mm之構建體積及400 W之最大雷射功率來構建合金。所用基板係Type 316沃斯田鉻鎳不銹鋼。
在實驗中，實例1之球化合金粉末足以用於雷射粉末床(L-PBF)列印，且產生具有交替實心及網狀外觀以及顯著懸突之完全緻密性拉伸棒及演示部件。具體而言，列印較標準尺寸大1 mm之拉伸棒(ASTM E8)。將該等棒在車床上加工至最終尺寸。在Instron 4210拉伸測試儀上量測拉伸性質。分析拉伸棒之微結構及硬度。對於微結構分析而言，將試樣安裝於環氧樹脂中，且使用金剛石鋸切割。將所安裝試樣拋光並在酸中蝕刻，且在Unition Versamet 2金相顯微鏡上表徵晶粒。使用LECO LM700-AT測試儀利用AMH32軟體來測試顯微硬度。
所用之列印參數及雷射參數係先前所提及之較佳參數。結果含有＞ 99.5%密度且在測試構造中具有良好懸突。亦在此實驗中列印若干多孔立方體且此演示部件展示高解析度(＜ 30 um)之特徵，並能夠成功列印開放蜂窩狀結構。經積層製造之輕質航天組件及工業部件通常需要此網狀-實心結構，且醫學植入物亦需要以改良骨整合。
與純鈦及純鉭相比，本發明之拉伸棒展示，Ta-Ti合金測試棒具有低10 - 30%之拉伸性質。實例 3 ( 部分實際 - 部分理論 )
(實際)藉由如美國專利第7,442,227號中所闡述之火焰合成製程來製造Ta對Ti質量比率為80:20之鹽囊封合金粉末。經由中心管以0.67之TiCl4 對TaCl5 質量比率將蒸氣氯化鈦及氯化鉭(鹵化物)與氬一起引入反應器中。同心Ar流位於鹵化物與過量提供之蒸氣鈉流之間。如美國專利第7,442,227號中所闡述，氯化鈉副產物用作阻止顆粒燒結行為之可冷凝蒸氣材料。收集此經鹽囊封之金屬合金粉末並使用去離子水洗滌以去除氯化鈉塗層。使用稀硝酸幫助顆粒沉降。此洗滌製程將薄氧化物鈍化層引入顆粒表面上，當在真空下乾燥顆粒時該薄氧化物鈍化層得以維持。然後將所得Ta-Ti合金粉末壓製至2.0 g/cm3 之密度。
(理論)在去氫粉末經受電漿球化後，Na或Cl不可能保留於最終球形體中。
然後使用高溫爐利用氫氣氛對所得合金粉末實施氫化且在氫化之後冷卻至室溫。然後壓碎(使用顎式壓碎且然後使用輥式壓碎)氫化粉末且篩選至-20 #之篩側。將經壓碎粉末篩選至期望大小截止值(其為10 - 25微米或15 - 40微米或45- 105微米)。然後酸浸每一批之所篩選粉末。然後使用鎂屑對每一批中之粉末實施去氧(700℃，2小時)以將氧含量降低至不同含量(皆低於1000 ppm)。然後以與實例1相同之方式對每一批單獨實施電漿處理。亦提及，除每一批之初始去氧外，在球化之後實施額外去氧(使用鎂屑，2小時，在700℃下，雙重去氧)以達成超低氧雜質粉末。
本發明按照任一順序及/或以任一組合含有下列態樣/實施例/特徵： 1.     一種鉭-鈦合金粉末，其包括 a. 20 wt%至80 wt%之鉭及20 wt%至80 wt%之鈦； b.     球形形狀，其中該粉末具有1.0至1.25之平均縱橫比； c. 約0.5微米至約250微米之平均粒度； d.     約4.5 g/cc至約11 g/cc之視密度； e. 6.5 g/cc至15.5 g/cc之真密度；及 f. 30 sec或更小之霍爾流速。 2.     如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之鉭-鈦合金粉末，其中電漿熱處理該合金粉末。 3.     如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之鉭-鈦合金粉末，其中該合金粉末具有小於500 ppm之氧含量。 4.     如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之鉭-鈦合金粉末，其中該合金粉末具有20 ppm至250 ppm之氧含量。 5.     如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之鉭-鈦合金粉末，其中該合金粉末其中該平均縱橫比為1.0至1.1。 6.     如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之鉭-鈦合金粉末，其中該合金粉末其中該平均縱橫比為1.0至1.05。 7.     如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之鉭-鈦合金粉末，其中該鉭-鈦合金中存在小於500 ppm之非氣態元素。 8.     如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之鉭-鈦合金粉末，其中該平均粒度為約0.5微米至約10微米。 9.     如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之鉭-鈦合金粉末，其中該平均粒度為約5微米至約25微米。 10.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之鉭-鈦合金粉末，其中該平均粒度為約15微米至約45微米。 11.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之鉭-鈦合金粉末，其中該平均粒度為約45微米至約75微米。 12.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之鉭-鈦合金粉末，其中該平均粒度為約55微米至約150微米。 13.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之鉭-鈦合金粉末，其中該平均粒度為約105微米至約250微米。 14.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之鉭-鈦合金粉末，其中該合金粉末具有下列性質中之至少一者： a. 約5微米至25微米之D10大小； b.     約20微米至80微米之D90大小；或 c. 介於100 ppm至1000 ppm之間之氧。 15.   一種物件，其包括如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之鉭-鈦合金粉末。 16.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之物件，其中該物件係矯形外科植入物或其部件。 17.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之物件，其中該矯形外科植入物包括開放蜂窩狀結構及實心結構。 18.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之物件，其中該物件係牙科植入物。 19.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之物件，其中該牙科植入物包括開放蜂窩狀結構及實心結構。 20.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之鉭-鈦合金粉末，其中該鉭-鈦合金進一步包括至少一種其他金屬元素作為該合金之一部分。 21.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之鉭-鈦合金粉末，其中該鉭-鈦合金中不存在元素鎳。 22.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之鉭-鈦合金粉末，其中該鉭-鈦合金進一步包括至少一種選自鋯、鈮、鎢、鉬、鉿、錸或其任何組合之元素作為該合金之一部分。 23.   一種形成物件之方法，該方法包括藉由利用如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之合金粉末形成該物件或其部件之形狀來積層製造該物件。 24.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之方法，其中該積層製造包括雷射粉末床熔合。 25.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之方法，其中該積層製造包括電子束粉末床熔合。 26.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之方法，其中該積層製造包括定向能量沈積。 27.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之方法，其中該積層製造包括經由粉末或線之雷射包覆。 28.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之方法，其中該積層製造包括材料噴射。 29.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之方法，其中該積層製造包括薄片層壓。 30.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之方法，其中該積層製造包括vat光聚合。 31.   一種製備如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之鉭-鈦合金粉末之方法，該方法包括： a. 在惰性氣氛中電漿熱處理起始合金粉末或線以至少部分地熔化該起始合金粉末或線之至少外表面，從而獲得經熱處理之合金粉末，及 b.     在惰性氣氛中冷卻該經熱處理之合金粉末以獲得該鉭-鈦合金粉末。 32.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之方法，其中該起始合金粉末或線係鑄錠衍生之合金。 33.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之方法，其中藉由包括以下步驟之製程來獲得該起始合金粉末：i)將起始鉭粉末及起始鈦粉末摻和至一起以形成粉末摻合物，ii)熔化該粉末摻合物以形成液體，iii)將該液體固化成合金鑄錠，iv)對該合金鑄錠實施氫化以形成經氫化鑄錠，v)將該經氫化鑄錠還原成經氫化合金粉末，vi)視情況將該經氫化合金粉末篩選至一定粒度範圍，vii)對該經氫化合金粉末實施一或多個去氫步驟以形成合金粉末，viii)視情況對該合金粉末實施一或多個去氧處理，ix)視情況對該合金粉末實施一或多個酸浸步驟。 34.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之方法，其中藉由包括以下步驟之製程來獲得該起始合金線：i)將起始鉭粉末及起始鈦粉末摻和至一起以形成粉末摻合物，ii)熔化該粉末摻合物以形成液體，iii)將該液體固化成合金鑄錠，iv)將該合金鑄錠拉細成線，v)視情況對該線實施一或多個去氧處理，vi)視情況對該合金線實施一或多個酸浸步驟。 35.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之方法，其中藉由包括以下步驟之製程來獲得該起始合金粉末：i)將起始鉭桿或板及起始鈦桿或板壓在至一起以形成複合壓層，ii)熔化該複合壓層以形成液體，iii)將該液體固化成合金鑄錠，iv)對該合金鑄錠實施氫化以形成經氫化鑄錠，v)將該經氫化鑄錠還原成經氫化合金粉末，vi)視情況將該經氫化合金粉末篩選至一定粒度範圍，vii)對該經氫化合金粉末實施一或多個去氫步驟以形成合金粉末，viii)視情況對該合金粉末實施一或多個去氧處理，ix)視情況對該合金粉末實施一或多個酸浸步驟。 36.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之方法，其中該起始合金粉末具有第一粒度分佈，且該鉭-鈦合金粉末具有第二粒度分佈，且該第一粒度分佈及該第二粒度分佈彼此在10%內。 37.   如任一前述或下列實施例/特徵/態樣之方法，其中藉由包括以下步驟之製程來獲得該起始合金粉末：i)使蒸氣TaCl5 、蒸氣TiCl4 及蒸氣Na反應形成Ta-Ti粉末，ii)將該Ta-Ti粉末壓實成壓塊，iii)去除過量NaCl，iv)對該壓塊實施氫化以形成經氫化壓塊，v)將該經氫化壓塊還原成經氫化合金粉末，vi)視情況將該經氫化合金粉末篩選至一定粒度範圍，vii)對該經氫化合金粉末實施一或多個去氫步驟以形成合金粉末，viii)視情況對該合金粉末實施一或多個去氧處理，ix)視情況對該合金粉末實施一或多個酸浸步驟。
本發明可含有上文及/或下文中成句地及/或成段地陳述之該等各種特徵或實施例之任一組合。本文中所揭示特徵之任一組合可視為本發明之一部分且關於可組合特徵並不意欲進行限制。
申請者特意將所有引用參考文獻之全部內容併入本發明中。另外，在以範圍、較佳範圍或較佳上限值及較佳下限值清單給出量、濃度或其他值或參數時，應將此理解為係特定揭示由任一對任一上限範圍限值或較佳值與任一下限範圍限值或較佳值形成之所有範圍，不論是否單獨揭示該等範圍。在本文中列舉數值範圍時，除非另外陳述，否則該範圍意欲含有其端點及該範圍內之所有整數及分數。本文並非意欲將本發明範圍限定於在界定範圍時所列舉之具體值。
藉由考量本說明書及實踐本文所揭示之本發明，熟習此項技術者可明瞭本發明之其他實施例。意欲將本說明書及實例視為僅具有實例性，而本發明之真正範圍及精神係藉由下列申請專利範圍及其等效內容來指示。

Claims (37)

  1. 一種鉭-鈦合金粉末，其包括 a. 20 wt%至80 wt%之鉭及20 wt%至80 wt%之鈦； b.     球形形狀，其中該粉末具有1.0至1.25之平均縱橫比； c. 約0.5微米至約250微米之平均粒度； d.     約4.5 g/cc至約11 g/cc之視密度； e. 6.5 g/cc至15.5 g/cc之真密度；及 f. 30 sec或更小之霍爾流速(Hall flow rate)。
  2. 如請求項1之鉭-鈦合金粉末，其中電漿熱處理該合金粉末。
  3. 如請求項1之鉭-鈦合金粉末，其中該合金粉末具有小於500 ppm之氧含量。
  4. 如請求項1之鉭-鈦合金粉末，其中該合金粉末具有20 ppm至250 ppm之氧含量。
  5. 如請求項1之鉭-鈦合金粉末，其中該合金粉末其中該平均縱橫比為1.0至1.1。
  6. 如請求項1之鉭-鈦合金粉末，其中該合金粉末其中該平均縱橫比為1.0至1.05。
  7. 如請求項1之鉭-鈦合金粉末，其中該鉭-鈦合金中存在小於500 ppm之非氣態元素。
  8. 如請求項1之鉭-鈦合金粉末，其中該平均粒度為約0.5微米至約10微米。
  9. 如請求項1之鉭-鈦合金粉末，其中該平均粒度為約5微米至約25微米。
  10. 如請求項1之鉭-鈦合金粉末，其中該平均粒度為約15微米至約45微米。
  11. 如請求項1之鉭-鈦合金粉末，其中該平均粒度為約45微米至約75微米。
  12. 如請求項1之鉭-鈦合金粉末，其中該平均粒度為約55微米至約150微米。
  13. 如請求項1之鉭-鈦合金粉末，其中該平均粒度為約105微米至約250微米。
  14. 如請求項1之鉭-鈦合金粉末，其中該合金粉末具有下列性質中之至少一者： a. 約5微米至25微米之D10大小； b.     約20微米至80微米之D90大小；或 c. 介於100 ppm至1000 ppm之間之氧。
  15. 一種物件，其包括如請求項1之鉭-鈦合金粉末。
  16. 如請求項15之物件，其中該物件係矯形外科植入物或其部件。
  17. 如請求項16之物件，其中該矯形外科植入物包括開放蜂窩狀結構及實心結構。
  18. 如請求項15之物件，其中該物件係牙科植入物。
  19. 如請求項18之物件，其中該牙科植入物包括開放蜂窩狀結構及實心結構。
  20. 如請求項1之鉭-鈦合金粉末，其中該鉭-鈦合金進一步包括至少一種其他金屬元素作為該合金之一部分。
  21. 如請求項1之鉭-鈦合金粉末，其中該鉭-鈦合金中不存在元素鎳。
  22. 如請求項1之鉭-鈦合金粉末，其中該鉭-鈦合金進一步包括至少一種選自鋯、鈮、鎢、鉬、鉿、錸或其任何組合之元素作為該合金之一部分。
  23. 一種形成物件之方法，該方法包括藉由利用如請求項1之合金粉末形成該物件或其部件之形狀來積層製造該物件。
  24. 如請求項23之方法，其中該積層製造包括雷射粉末床熔合。
  25. 如請求項23之方法，其中該積層製造包括電子束粉末床熔合。
  26. 如請求項23之方法，其中該積層製造包括定向能量沈積。
  27. 如請求項23之方法，其中該積層製造包括經由粉末或線之雷射包覆。
  28. 如請求項23之方法，其中該積層製造包括材料噴射。
  29. 如請求項23之方法，其中該積層製造包括薄片層壓。
  30. 如請求項23之方法，其中該積層製造包括vat光聚合。
  31. 一種製備如請求項1之鉭-鈦合金粉末之方法，該方法包括： a. 在惰性氣氛中電漿熱處理起始合金粉末或線以至少部分地熔化該起始合金粉末或線之至少外表面，從而獲得經熱處理之合金粉末，及 b.     在惰性氣氛中冷卻該經熱處理之合金粉末以獲得該鉭-鈦合金粉末。
  32. 如請求項31之方法，其中該起始合金粉末係鑄錠衍生之合金。
  33. 如請求項31之方法，其中藉由包括以下步驟之方法來獲得該起始合金粉末：i)將起始鉭粉末及起始鈦粉末摻和在一起以形成粉末摻合物，ii)熔化該粉末摻合物以形成液體，iii)將該液體固化成合金鑄錠，iv)將該合金鑄錠氫化以形成經氫化鑄錠，v)將該經氫化鑄錠還原成經氫化合金粉末，vi)視情況將該經氫化合金粉末篩選至一定粒度範圍，vii)對該經氫化合金粉末實施一或多個去氫步驟以形成合金粉末，viii)視情況對該合金粉末實施一或多個去氧處理，ix)視情況對該合金粉末實施一或多個酸浸步驟。
  34. 如請求項31之方法，其中藉由包括以下步驟之方法來獲得該起始合金粉末：i)將起始鉭桿或板及起始鈦桿或板壓在一起以形成複合壓層，ii)熔化該複合壓層以形成液體，iii)將該液體固化成合金鑄錠，iv)將該合金鑄錠氫化以形成經氫化鑄錠，v)將該經氫化鑄錠還原成經氫化合金粉末，vi)視情況將該經氫化合金粉末篩選至一定粒度範圍，vii)對該經氫化合金粉末實施一或多個去氫步驟以形成合金粉末，viii)視情況對該合金粉末實施一或多個去氧處理，ix)視情況對該合金粉末實施一或多個酸浸步驟。
  35. 如請求項31之方法，其中該起始合金粉末具有第一粒度分佈，且該鉭-鈦合金粉末具有第二粒度分佈，且該第一粒度分佈及該第二粒度分佈在彼此之10%內。
  36. 如請求項31之方法，其中藉由包括以下步驟之方法來獲得該起始合金粉末：i)使蒸氣TaCl5 、蒸氣TiCl4 及蒸氣Na反應形成Ta-Ti粉末，ii)將該Ta-Ti粉末壓實成壓塊，iii)去除過量NaCl，iv)將該壓塊氫化以形成經氫化壓塊，v)將該經氫化壓塊還原成經氫化合金粉末，vi)視情況將該經氫化合金粉末篩選至一定粒度範圍，vii)對該經氫化合金粉末實施一或多個去氫步驟以形成合金粉末，viii)視情況對該合金粉末實施一或多個去氧處理，ix)視情況對該合金粉末實施一或多個酸浸步驟。
  37. 如請求項31之方法，其中藉由包括以下步驟之方法來獲得該起始合金線：i)將起始鉭粉末及起始鈦粉末摻和在一起以形成粉末摻合物，ii)熔化該粉末摻合物以形成液體，iii)將該液體固化成合金鑄錠，iv)將該合金鑄錠拉細成線，v)視情況對該線實施一或多個去氧處理，vi)視情況對該合金線實施一或多個酸浸步驟。
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