TW201409921A - 線性運動元件之控制裝置及其控制方法 - Google Patents

線性運動元件之控制裝置及其控制方法 Download PDF

Info

Publication number
TW201409921A
TW201409921A TW102117424A TW102117424A TW201409921A TW 201409921 A TW201409921 A TW 201409921A TW 102117424 A TW102117424 A TW 102117424A TW 102117424 A TW102117424 A TW 102117424A TW 201409921 A TW201409921 A TW 201409921A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
signal value
magnetic field
negcal
position signal
value
Prior art date
Application number
TW102117424A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI501539B (zh
Inventor
Takashi Fukushima
Original Assignee
Asahi Kasei Microdevices Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Asahi Kasei Microdevices Corp filed Critical Asahi Kasei Microdevices Corp
Publication of TW201409921A publication Critical patent/TW201409921A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI501539B publication Critical patent/TWI501539B/zh

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02P—CONTROL OR REGULATION OF ELECTRIC MOTORS, ELECTRIC GENERATORS OR DYNAMO-ELECTRIC CONVERTERS; CONTROLLING TRANSFORMERS, REACTORS OR CHOKE COILS
    • H02P25/00—Arrangements or methods for the control of AC motors characterised by the kind of AC motor or by structural details
    • H02P25/02—Arrangements or methods for the control of AC motors characterised by the kind of AC motor or by structural details characterised by the kind of motor
    • H02P25/06—Linear motors
    • H02P25/064—Linear motors of the synchronous type
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/02—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses
    • G02B7/04—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses with mechanism for focusing or varying magnification
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/02—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses
    • G02B7/04—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses with mechanism for focusing or varying magnification
    • G02B7/08—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses with mechanism for focusing or varying magnification adapted to co-operate with a remote control mechanism
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B1/00—Comparing elements, i.e. elements for effecting comparison directly or indirectly between a desired value and existing or anticipated values
    • G05B1/01—Comparing elements, i.e. elements for effecting comparison directly or indirectly between a desired value and existing or anticipated values electric
    • G05B1/02—Comparing elements, i.e. elements for effecting comparison directly or indirectly between a desired value and existing or anticipated values electric for comparing analogue signals
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B6/00—Internal feedback arrangements for obtaining particular characteristics, e.g. proportional, integral or differential
    • G05B6/02—Internal feedback arrangements for obtaining particular characteristics, e.g. proportional, integral or differential electric
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
    • G05D3/00—Control of position or direction
    • G05D3/12—Control of position or direction using feedback
    • G05D3/14—Control of position or direction using feedback using an analogue comparing device
    • G05D3/1481—Control of position or direction using feedback using an analogue comparing device with discrete position sensor
    • H—ELECTRICITY
    • H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02P—CONTROL OR REGULATION OF ELECTRIC MOTORS, ELECTRIC GENERATORS OR DYNAMO-ELECTRIC CONVERTERS; CONTROLLING TRANSFORMERS, REACTORS OR CHOKE COILS
    • H02P25/00—Arrangements or methods for the control of AC motors characterised by the kind of AC motor or by structural details
    • H02P25/02—Arrangements or methods for the control of AC motors characterised by the kind of AC motor or by structural details characterised by the kind of motor
    • H02P25/06—Linear motors
    • H—ELECTRICITY
    • H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02P—CONTROL OR REGULATION OF ELECTRIC MOTORS, ELECTRIC GENERATORS OR DYNAMO-ELECTRIC CONVERTERS; CONTROLLING TRANSFORMERS, REACTORS OR CHOKE COILS
    • H02P6/00—Arrangements for controlling synchronous motors or other dynamo-electric motors using electronic commutation dependent on the rotor position; Electronic commutators therefor
    • H02P6/006—Controlling linear motors
    • H—ELECTRICITY
    • H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02P—CONTROL OR REGULATION OF ELECTRIC MOTORS, ELECTRIC GENERATORS OR DYNAMO-ELECTRIC CONVERTERS; CONTROLLING TRANSFORMERS, REACTORS OR CHOKE COILS
    • H02P2203/00—Indexing scheme relating to controlling arrangements characterised by the means for detecting the position of the rotor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Control Of Linear Motors (AREA)
  • Lens Barrels (AREA)

Abstract

本發明係關於即使發生磁性感測器之搭載位置偏差或磁化不均之情形時、或由磁性感測器所檢測之磁場受到線性運動元件之驅動用線圈之磁場干擾之情形時，仍可正確地進行線性運動元件之位置控制之線性運動元件之控制裝置及其控制方法。為避免因驅動線圈之洩漏磁場對磁場感測器(21)造成影響，校準運算電路(24)具有在取得檢測磁場之前停止對驅動線圈供電之時間，基於檢測位置信號值(Vip)，自與線性運動元件(31)之起始位置對應之第1位置信號值(NEGCAL)、及與最終位置對應之第2位置信號值(POSCAL)獲得檢測位置運算信號值(VPROC)。洩漏磁場修正電路(34)連接於元件位置指令信號產生電路(26)，修正因驅動線圈(29)之洩漏磁場引起之磁場感測器之檢測誤差。

Description

線性運動元件之控制裝置及其控制方法
本發明係關於線性運動元件之控制裝置及其控制方法，更詳言之，本發明係關於即使如發生磁性感測器之搭載位置偏移及磁石磁化不均之情形、或由磁性感測器所檢測出之磁場受到線性運動元件之驅動用線圈之磁場干擾般之情形時，仍可正確地進行線性運動元件之位置控制之線性運動元件之控制裝置及其控制方法。
搭載於一般數位相機及行動電話等之與網路之親和性高、以電腦之功能為基礎製造之多功能行動電話即智慧型手機(smartphone)等之相機模組多數搭載有自動對焦功能。對如此之搭載於小型照相機上之自動對焦功能大多採用對比度檢測方式。該對比度檢測方式實際上係一種藉由移動透鏡，檢測出使攝像圖像內之被攝體之對比度最大化之透鏡位置，並將透鏡移動至該位置之方式。
與對被攝體照射紅外線或超聲波並測定自該反射波至被攝體之距離之主動方式相比，如此之對比度檢測方式可以低成本實現。然而，存在有需花費大量時間搜尋使被攝體之對比度最大化之透鏡位置之問題。故期望在一秒鐘內完成自使用者半按壓快門按鈕後至對焦於被攝體之處理。
然而，搭載於一般數位相機及行動電話等之相機模組之像素數正逐年增加，使得該等小型照相機亦可拍攝高精密之圖像。高精密之圖像中焦點偏移更明顯，故謀求精度更高之自動對焦控制。
再者，一般而言，以一次函數表示輸入信號及與該輸入信號相應之位移之元件稱作線性運動元件。該類線性運動元件例如有照相機之自動對焦透鏡等。
圖1係用於說明先前之線性運動元件之控制裝置的構成圖。圖1所示之線性運動元件12之控制裝置包含磁場感測器13、差動放大器14、非反相輸出緩衝器15、反相輸出緩衝器16、第1輸出驅動器17、及第2輸出驅動器18。線性運動元件12係由控制裝置進行反饋控制者，而包含透鏡9與磁石10。
磁場感測器13基於檢測出之磁場產生信號，並將其作為輸出信號SA而輸出。磁場感測器13之輸出信號SA與元件位置指令信號SB分別被輸入差動放大器14之正相輸入端子與反相輸入端子。自輸入有磁場感測器13之輸出信號SA與元件位置指令信號SB之差動放大器14輸出表示輸出驅動器17、18之操作量(偏差與放大係數之積)之操作量信號SC。
流動於線性運動元件12之線圈11之電流方向及電流量根據操作量信號SC之大小而變化。包含磁石10之線性運動元件12之位置根據流動於該線圈11之電流而變化(移動)。此時，磁場感測器13之輸出信號SA隨著磁石10之移動而變化。控制裝置根據輸出信號SA之變化而檢測線性運動元件12之位置，以使該位置與自外部輸入之元件位置指令信號SB所指示之位置一致地進行反饋控制。
此處，圖1所示之線性運動元件12中可能產生磁石10之磁化不均。且，控制裝置中可能產生磁場感測器13之搭載位置之偏移。如此之不均會導致線性運動元件12之位置與由磁場感測器13所檢測出之磁場背離設計時所預估之關係。
圖2係表示圖1所示之由磁場感測器所檢測出之磁場與線性運動元件之位置之關係的圖。圖2中，圖中左側之縱軸表示由磁場感測器 13所檢測出之磁場(以下，亦稱作檢測磁場)，圖中右側之縱軸表示磁場感測器13之輸出信號SA之值。且，圖2之橫軸表示線性運動元件12之位置。
圖2中之實線a係基於比較目的而顯示檢測磁場與線性運動元件12之位置無偏差(與設計值相符)之情形時之特性。一點鏈線b表示檢測磁場與線性運動元件12之位置有偏差之情形時之特性。
如圖2所示，存在磁石10磁化不均或磁場感測器13之位置偏差之情形時，檢測磁場並不表示線性運動元件12之正確位置。因此，會有控制裝置無法恰當地控制線性運動元件12位置之情況。
即，若如實線a所表示之設計值之情形時，線性運動元件12自端點XBOT至另一端點XTOP移動之情形時，磁場感測器13之輸出信號SA自VMLa變化至VMHa(圖2中以SA(a)表示該範圍)。此時，將與磁場感測器13之輸出信號SA相同之電壓範圍的自VMLa至VMHa之元件位置指令信號SB輸入至控制裝置。接著，若輸入中間電位VMM(=(VMHa-VMLa)/2+VMLa)之元件位置指令信號SB，則線性運動元件12獲得中間位置XMID。
另一方面，於磁石10磁化不均或磁場感測器13之位置出現偏差之情形時，磁場感測器13之輸出信號SA以與實線a不同之傾斜度變化例如自VMLb變化至VMHb(圖2中顯示為具有與實線a不同傾斜度之一點鏈線b，以SA(b)表示該變化範圍)。此時，若將電位VMM(=(VMHa-VMLa)/2+VMLa)之元件位置指令信號SB輸入控制裝置，則線性運動元件12位於位置XPOS，而有控制裝置無法正確地控制線性運動元件12位置之問題。
為解決如此問題，有一種藉由修正磁場感測器13之輸出信號SA或元件位置指令信號SB而使磁場感測器13之輸出信號SA與元件位置指令信號SB同步化之技術(例如，參照專利文獻1)。
再者，專利文獻2所揭示者實際上係移動透鏡並決定焦點位置之焦點控制電路有關者；其係一種搭載於包含透鏡、用於調整該透鏡位置之驅動元件、及用於檢測透鏡位置之位置檢測元件之攝像裝置上之焦點控制電路，其包含：均衡器，其基於以位置檢測元件之輸出信號所特定之透鏡位置與自外部設定之透鏡目標位置之差值，產生用於使透鏡位置與目標位置一致之驅動信號並將其輸出至驅動元件；及調整電路，其用於調整位置檢測元件之增益及偏移之至少一者。
再者，專利文獻3所揭示者係一種音圈馬達驅動裝置之位置信號修正電路，其包含加法部，其輸入有表示與自設置於音圈馬達之線圈中心部或附近之位置檢測感測器輸出之感測器信號相應之該位置檢測感測器之位置的位置信號，並輸出上述音圈馬達之驅動控制用之控制信號；及信號衰減部，其衰減自加法部輸出之控制信號；加法部將上述位置信號與自信號衰減部輸入之衰減後之控制信號之反相相加，並作為上述控制信號而輸出。
先前技術文獻 專利文獻
專利文獻1：日本特開2009-247105號公報
專利文獻2：日本特開2011-22563號公報
專利文獻3：日本特開2010-107894號公報
然而，使上述磁場感測器之輸出信號SA或元件位置指令信號SB同步化之方法及修正位置信號之方法存在如下問題。
即，如專利文獻1揭示般之使用修正表格之方法需要存儲修正表格之記憶裝置，其數目於將解析度位元數設為N之情形時為2N×N個。因此，於製造包含修正表格之積體電路時，亦產生無法將其搭載於小 型之線性運動元件之情形，製造成本亦增加。進而，製作修正表格時，因發生一面對每解析度進行移動，一面對修正表格寫入修正值之作業，故亦存在製造成本進一步增加之情形。
再者，如專利文獻2揭示般之調整位置檢測元件之增益及偏移之方式之情形中，雖可減少存儲用於調整之資訊之記憶裝置，但需要使增益之調整量進行D/A轉換之D/A轉換器及修正電路。因進行高精度之位置控制時很可能需調整增益及偏移兩者，故多數情形下無法作為僅調整一者而減少D/A轉換器及修正電路之數目。接著，欲自動取得修正量之情形時，因記憶裝置成為存儲數位值，故有亦需要A/D轉換器之情形。因此，與專利文獻1同樣地，會導致製造成本增加。
再者，如專利文獻3揭示般之修正位置信號之方式之情形中，其並未具備獲得使自輸出音圈馬達驅動控制用之控制信號之加法部輸出之控制信號衰減之信號衰減部之衰減量為最佳值之機構。因此，在製造線性運動元件之過程中，如由磁性感測器所檢測出之磁場受到線性運動元件之驅動用線圈之磁場干擾之量不均般之情形中，亦存在因過度修正而無法實施正確之位置控制之情形。
雖亦可將衰減量設為可變之構成，於工廠出貨時予以個別調整，但仍必須檢測驅動用線圈產生之磁場干擾量，故因步驟數增加導致成本增加。
本發明係鑒於上述點而完成者，其目的在於提供一種即使發生磁性感測器之搭載位置偏移或磁石磁化不均之情況、或如由磁性感測器所檢測出之磁場受到線性運動元件之驅動用線圈之磁場干擾般之情形時，仍可正確地進行線性運動元件之位置控制之線性運動元件之控制裝置及其控制方法。
本發明係為達成如此之目的而完成者；本發明之線性運動元件 之控制裝置係包含具有安裝於移動體(33)上之磁石(32)之線性運動元件(31)、及配置於該線性運動元件(31)之上述磁石(32)附近之驅動線圈(29)，且利用該驅動線圈(29)使上述磁石(32)移動者；該控制裝置之特徵為包含：磁場感測器(21)，其檢測上述磁石(32)產生之磁場，而輸出與檢測出之磁場之值對應之檢測位置信號值(Vip)；校準運算電路(24)，其基於來自上述磁場感測器(21)之上述檢測位置信號值(Vip)，自與上述線性運動元件(31)之第1位置對應之第1位置信號值(NEGCAL)、及與上述線性運動元件(31)之第2位置對應之第2位置信號值(POSCAL)獲得檢測位置運算信號值(VPROC)；元件位置指令信號產生電路(26)，其輸出指示應移動上述線性運動元件(31)之目標位置之目標位置信號值(VTARG)；輸出驅動器，其基於上述檢測位置運算信號值(VPROC)與上述目標信號值(VTARG)，對上述驅動線圈供給驅動電流；及洩漏磁場修正電路(34)，其基於未對上述驅動線圈(29)通電時之上述檢測位置信號值(Vip)與對上述驅動線圈(29)通電時之上述檢測位置信號值(Vip)之差，修正上述磁場感測器(21)因上述驅動線圈(29)之洩漏磁場引起之檢測誤差。
再者，本發明之特徵為上述洩漏磁場修正電路(34)係修正上述目標位置信號值(VTARG)。
再者，本發明之特徵為將來自上述磁場感測器(21)之上述檢測位置信號值(Vip)即上述校準運算電路(24)之輸入信號值設為Vip、將上述第1位置信號值設為NEGCAL、將上述第2位置信號值設為POSCAL、將上述校準運算電路(24)之輸出信號值即檢測位置運算信號值設為VPROC之情形時，上述檢測位置運算信號值VPROC與(Vip-NEGCAL)/(POSCAL-NEGCAL)具有比例關係。
再者，本發明之特徵為將受到洩漏磁場影響之情形時之上述第1位置信號值設為NEGCAL'、將因洩漏磁場產生之上述第2位置信號值 設為POSCAL'之情形時，磁場修正值LEAKB與(POSCAL-POSCAL')/(POSCAL-NEGCAL)或(NEGCAL'-NEGCAL)/(POSCAL-NEGCAL)具有比例關係。
再者，本發明之特徵為上述校準運算電路(24)包含：第1記憶裝置(242a)，其儲存受到洩漏磁場影響之情形時之上述第1位置信號值NEGCAL'或因洩漏磁場產生之上述第2位置信號值POSCAL'；第2記憶裝置(242b)，其儲存上述第1位置信號值NEGCAL；及第3記憶裝置(242c)，其儲存第2位置信號值POSCAL。
再者，本發明之特徵為上述校準運算電路(24)包含：第1減法器(243a)，其將來自上述磁場感測器(21)之上述檢測位置信號值Vip與由上述第2記憶裝置(242b)儲存之第1位置信號值NEGCAL相減；第2減法器(243b)，其將由上述第3記憶裝置儲存之第2位置信號值POSCAL與由上述第2記憶裝置儲存之第1位置信號值NEGCAL相減；第3減法器(243c)，其將由上述第1記憶裝置儲存之第1位置信號值NEGCAL'與由上述第2記憶裝置(242b)儲存之第1位置信號值NEGCAL相減，或將由上述第1記憶裝置儲存之第2位置信號值POSCAL'與由上述第3記憶裝置(242c)儲存之第2位置信號值POSCAL相減；第1除法器(244a)，其將上述第1減法器之輸出值(Vip-NEGCAL)與上述第2減法器之輸出值(POSCAL-NEGCAL)相除；及第2除法器(244b)，其將上述第3減法器之輸出值(NEGCAL'-NEGCAL)與上述第2減法器之輸出值(POSCAL-NEGCAL)相除、或將上述第3減法器之輸出值(POSCAL-POSCAL')與上述第2減法器之輸出值(POSCAL-NEGCAL)相除。
再者，本發明之特徵為上述洩漏磁場修正電路包含：除法器，其將記憶於記憶裝置之控制量之最大值與上述磁場修正值相除；乘法器，其將來自該除法器之輸出值與上述輸出驅動器之控制量相乘；及減法器，其將來自該乘法器之輸出值與來自上述元件位置指令信號產 生電路之上述目標位置信號值相減；並輸出修正上述目標位置信號值後之目標修正位置信號值。
再者，本發明之特徵在於上述磁場感測器為霍爾(Hall)元件。
再者，本發明之特徵在於上述線性運動元件與上述驅動線圈係組裝於相機模組中。
再者，本發明之線性運動元件之控制方法係線性運動元件之控制裝置中之控制方法，該控制裝置係包含具有安裝於移動體上之磁石之線性運動元件、及配置於該線性運動元件之上述磁石附近之驅動線圈，且利用該驅動線圈使上述磁石移動者；該控制方法之特徵為包含以下步驟：首先，利用磁場感測器檢測上述磁石產生之磁場，而輸出與檢測出之磁場之值對應之檢測位置信號值之步驟；接著，利用校準運算電路，基於來自上述磁場感測器之上述檢測位置信號值，自與上述線性運動元件之第1位置對應之第1位置信號值、及與上述線性運動元件之第2位置對應之第2位置信號值獲得檢測位置運算信號值之步驟；接著，利用元件位置指令信號產生電路，輸出指示應移動上述線性運動元件之目標位置之目標位置信號值之步驟；接著，利用輸出驅動器，基於上述檢測位置運算信號值與上述目標位置信號值，對上述驅動線圈供給驅動電流之步驟；接著，利用洩漏磁場修正電路，基於未對上述驅動線圈通電時之上述檢測位置信號值與對上述驅動線圈通電時之上述檢測位置信號值之差，修正上述磁場感測器因上述驅動線圈之洩漏磁場引起之檢測誤差。
再者，本發明之特徵為由上述洩漏磁場修正電路進行之運算步驟係修正上述目標位置信號值。
再者，本發明之特徵為將來自上述磁場感測器之上述檢測位置信號值即上述校準運算電路之輸入信號值設為Vip、將上述第1位置信號值設為NEGCAL、將上述第2位置信號值設為POSCAL、將上述校 準運算電路之輸出信號值即檢測位置運算信號值設為VPROC之情形時，上述檢測位置運算信號值VPROC與(Vip-NEGCAL)/(POSCAL-NEGCAL)具有比例關係。
再者，本發明之特徵為將受到洩漏磁場影響之情形時之上述第1位置信號值設為NEGCAL'、將因洩漏磁場產生之上述第2位置信號值設為POSCAL'之情形時，磁場修正值LEAKB與(POSCAL-POSCAL')/(POSCAL-NEGCAL)或(NEGCAL'-NEGCAL)/(POSCAL-NEGCAL)具有比例關係。
再者，本發明之特徵為由上述校準運算電路進行之運算步驟包含：由第1記憶裝置儲存受到洩漏磁場影響之情形時之上述第1位置信號值NEGCAL'或因洩漏磁場產生之上述第2位置信號值POSCAL'之步驟；由第2記憶裝置儲存上述第1位置信號值NEGCAL之步驟；及由第3記憶裝置儲存上述第2位置信號值POSCAL之步驟。
再者，本發明之特徵為由上述校準運算電路進行之運算步驟包含：利用第1減法器，將來自上述磁場感測器之上述檢測位置信號值Vip與由上述第2記憶裝置儲存之第1位置信號值NEGCAL相減之步驟；利用第2減法器，將由上述第3記憶裝置儲存之第2位置信號值POSCAL與由上述第2記憶裝置儲存之第1位置信號值NEGCAL相減之步驟；利用第3減法器，將由上述第1記憶裝置儲存之第1位置信號值NEGCAL'與由上述第2記憶裝置儲存之第1位置信號值NEGCAL相減、或將由上述第1記憶裝置儲存之第2位置信號值POSCAL'與由上述第3記憶裝置儲存之第2位置信號值POSCAL相減之步驟；利用第1除法器，將上述第1減法器之輸出值(Vip-NEGCAL)與上述第2減法器之輸出值(POSCAL-NEGCAL)相除之步驟；及利用第2除法器，將上述第3減法器之輸出值(NEGCAL'-NEGCAL)與上述第2減法器之輸出值(POSCAL-NEGCAL)相除、或將上述第3減法器之輸出值(POSCAL- POSCAL')與上述第2減法器之輸出值(POSCAL-NEGCAL)相除之步驟。
再者，本發明之特徵為由上述洩漏磁場修正電路進行之運算步驟包含：利用除法器，將記憶於記憶裝置之控制量之最大值與上述磁場修正值相除之步驟；利用乘法器，將來自上述除法器之輸出值與上述輸出驅動器之控制量相乘之步驟；及利用減法器，將來自上述乘法器之輸出值與來自上述元件位置指令信號產生電路之上述目標位置信號值相減之步驟；並輸出修正上述目標位置信號值後之目標修正位置信號值。
根據本發明，可實現一種即使發生磁性感測器之搭載位置偏移或磁石磁化不均之情況、或如由磁性感測器所檢測出之磁場受到線性運動元件之驅動用線圈之磁場干擾般之情形時，仍可正確地進行線性運動元件之位置控制之線性運動元件之控制裝置及其控制方法。
9‧‧‧透鏡
10‧‧‧磁石
11‧‧‧線圈
12‧‧‧線性運動元件
13‧‧‧磁場感測器
14‧‧‧差動放大器
15‧‧‧非反相輸出緩衝器
16‧‧‧反相輸出緩衝器
17‧‧‧第1輸出驅動器
18‧‧‧第2輸出驅動器
20‧‧‧控制裝置
21‧‧‧磁場感測器
22‧‧‧放大器
23‧‧‧A/D轉換電路
24‧‧‧校準(Calibration)運算電路
25‧‧‧PID控制電路
26‧‧‧元件(透鏡)位置指令信號產生電路
27‧‧‧D/A轉換電路
28a‧‧‧第1輸出驅動器
28b‧‧‧第2輸出驅動器
29‧‧‧驅動線圈
30‧‧‧相機模組
31‧‧‧線性運動元件
32‧‧‧磁石
33‧‧‧透鏡(移動體)
34‧‧‧洩漏磁場修正電路
241‧‧‧計數電路(計數器/計時器)
242a‧‧‧第1記憶裝置(暫存器/記憶體)
242b‧‧‧第2記憶裝置(暫存器/記憶體)
242c‧‧‧第3記憶裝置(暫存器/記憶體)
243a‧‧‧第1減法器
243b‧‧‧第2減法器
243c‧‧‧第3減法器
244a‧‧‧第1除法器
244b‧‧‧第2除法器
245a‧‧‧第1乘法器
245b‧‧‧第2乘法器
246‧‧‧第4記憶裝置(暫存器/記憶體)
341‧‧‧記憶裝置(暫存器/記憶體)
342‧‧‧除法器
343‧‧‧乘法器
344‧‧‧減法器
CALEXE‧‧‧校準執行信號
LEAKB‧‧‧磁場修正值
MV‧‧‧控制量
OUT1‧‧‧輸出1
OUT2‧‧‧輸出2
Vip‧‧‧檢測位置信號值
VPROC‧‧‧檢測位置運算信號值
VTARG‧‧‧目標位置信號值
VTARG'‧‧‧目標修正位置信號值
圖1係用於說明先前之線性運動元件之控制裝置的構成圖。
圖2係表示圖1所示之由磁場感測器所檢測出之磁場與線性運動元件之位置之關係的圖。
圖3係用於說明本發明之線性運動元件之控制裝置的構成圖。
圖4係圖3所示之校準運算電路之具體構成圖。
圖5係圖3所示之洩漏磁場修正電路的具體構成圖。
圖6(a)、(b)係表示受到洩漏磁場影響之情形時之校準動作時之伴隨時間經過之驅動線圈電流與透鏡位置之關係的圖。
圖7(a)、(b)係表示未受洩漏磁場影響之情形時之位置控制動作時之伴隨時間經過之驅動線圈電流與透鏡位置之關係的圖。
圖8(a)、(b)係表示受到洩漏磁場影響之情形時之位置控制動作時 之伴隨時間經過之驅動線圈電流與透鏡位置之關係的圖。
圖9(a)、(b)係表示位置控制動作時之伴隨時間經過之驅動線圈電流與透鏡位置之關係的圖。
圖10係表示用於說明本發明之線性運動元件之控制方法之流程圖。
圖11係表示用於說明由校準運算電路進行之運算方法之流程圖。
圖12係表示用於說明由洩漏磁場修正電路進行之運算方法之流程圖。
以下，參照圖式對本發明之實施形態進行說明。
圖3係用於說明本發明之線性運動元件之控制裝置的構成圖。圖3中，針對應用於進行相機模組30之透鏡位置調整之控制裝置20之情形進行說明。該控制裝置(位置控制電路)20係例如構成為IC電路。另，相機模組30由線性運動元件31、及使透鏡33移動之驅動線圈29構成。因此，藉由於驅動線圈29中流動電流而使磁石32移動，可進行固定於該磁石32上之透鏡33之位置調整。
即，本發明之線性運動元件31之控制裝置20構成為包含具有安裝於透鏡(移動體)33上之磁石32之線性運動元件31、及配置於該線性運動元件31之磁石32附近之驅動線圈29，且藉由於該驅動線圈29中流動電流而產生之力使磁石32移動。
磁場感測器21係檢測磁石32產生之磁場並輸出與檢測出之磁場之值對應之檢出位置信號值Vip者。即，磁場感測器21將相機模組30之磁石32產生之磁場轉換為電信號，將檢測位置信號輸出至放大器22。放大器22放大自磁場感測器21輸入之檢測位置信號。另，該磁場感測器21較好為霍爾元件。
再者，A/D轉換電路23係利用放大器22放大來自磁場感測器21之 檢測位置信號而進行A/D轉換者，並獲得A/D轉換後之檢測位置信號值Vip。
本發明之線性運動元件31之控制裝置20係為了防止因驅動線圈29之洩漏磁場，使磁場感測器21受到該洩漏磁場之影響而產生檢測誤差而設者，因此，為避免因驅動線圈29之洩漏磁場對磁場感測器21造成影響，校準(Calibration)運算電路24具有在取得檢測磁場之前停止對驅動線圈29通電之時間，基於由A/D轉換電路23進行A/D轉換後之檢測位置信號值Vip，自與線性運動元件31之起始位置(home position)對應之第1位置信號值NEGCAL、及與線性運動元件31之最終位置(full position)對應之第2位置信號值POSCAL獲得檢出位置運算信號值VPROC，且於為取得洩漏磁場之量而停止對驅動線圈29供電之時間之前，基於A/D轉換後之檢測位置信號值Vip，獲得與受到洩漏磁場影響之情形時之線性運動元件31之起始位置對應之第3位置信號值NEGCAL'(或與受到洩漏磁場影響之情形時之線性運動元件31之最終位置對應之位置信號值POSCAL')。
再者，將來自磁場感測器21之檢測位置信號值即校準運算電路24之輸入信號值設為Vip、將與初始位置對應之第1位置信號值設為NEGCAL、將與最終位置對應之第2位置信號值設為POSCAL、將校準運算電路24之輸出信號值即檢測位置運算信號值設為VPROC之情形時，校準運算電路24以檢測位置運算信號值VPROC具有VPROC=(Vip-NEGCAL)/(POSCAL-NEGCAL)×511之關係之方式進行運算。
再者，將來自磁場感測器21之檢測位置信號值即校準運算電路24之輸入信號值設為Vip、將與初始位置對應之第1位置信號值設為NEGCAL、將與最終位置對應之第2位置信號值設為POSCAL、將與受到洩漏磁場影響之情形時之起始位置對應之第3位置信號設為 NEGCAL'(或與受到洩漏磁場影響之情形時之最終位置對應之位置信號值POSCAL')、將校準運算電路24之輸出信號值即磁場修正位置設為LEAKB之情形時，校準運算電路24以具有LEAKB=(NEGCAL'-NEGCAL)/(POSCAL-NEGCAL)×511或LEAKB=(POSCAL-POSCAL')/(POSCAL-NEGCAL)×511之關係之方式進行運算。且，511係表示29-1之數值，係表示利用二進位法之比例係數者。
再者，元件(透鏡)位置指令信號產生電路26係輸出指示應移動線性運動元件31之目標位置之目標位置信號值VTARG及校準執行信號CALEXE者，且連接於PID控制電路25及校準運算電路24。即，透鏡位置指令信號產生電路26產生用於指示透鏡33之目標位置之目標位置信號值VTARG、及產生用於將來自外部之校準執行指示對校準運算電路進行指示之校準執行信號CALEXE。
洩漏磁場修正電路34係連接於元件位置指令信號產生電路26及校準運算電路24，並修正因驅動線圈29之洩漏磁場引起之磁場感測器21之檢測誤差者。
再者，PID控制電路25係連接於校準運算電路24與洩漏磁場修正電路34，並輸入來自校準運算電路24之檢測位置運算信號值VPROC與來自洩漏磁場修正電路34之目標修正位置信號值VTARG'，根據透鏡(移動體)33之當前位置與由目標修正位置信號值VTARG'所指示之透鏡33之目標位置，輸出用於使該透鏡33移動至目標位置之控制信號者。
此處，PID控制係指反饋控制之一種，其係根據輸出值與目標值之偏差、及其積分及微分之3個要素進行輸入值之控制之方法。作為基本反饋控制，有比例控制(P控制)。其係以輸出值與目標值之偏差之一次函數控制輸入值者。PID控制中，將與該偏差成比例地變更輸入值之動作稱作比例動作或P動作(P為成比例(PROPORTIONAL)之簡 稱)。即，其發揮若存在偏差之狀態持續較長時間則僅相應地加大輸入值之變化以使其接近目標值之作用。將與該偏差之積分成比例地變更輸入值之動作稱作積分動作或I動作(I為積分(INTEGRAL)之簡稱)。將如此地組合比例動作與積分動作之控制方法稱作PI控制。將與該偏差之微分成比例地變更輸入值之動作稱作微分動作或D動作(D為微分(DERIVATIVE或DIFFERENTIAL)之簡稱)。將組合比例動作、積分動作及微分動作之控制方法稱作PID控制。
來自PID控制電路25之輸出信號利用D/A轉換電路27進行D/A轉換，利用第1輸出驅動器28a與第2輸出驅動器28b，基於檢測位置運算信號值VPROC與目標修正位置信號值VTARG'，對驅動線圈29供給驅動電流。即，第1及第2輸出驅動器28a、28b基於來自PID控制電路25之控制信號，產生輸出信號Vout1、Vout2。該輸出信號Vout1、Vout2被供給至相機模組30之驅動線圈29之兩端。
另，以上說明中，線性運動元件雖為包含透鏡(移動體)33、及安裝於該透鏡(移動體)33上之磁石32者，但亦可為包含驅動線圈之線性運動元件。
如此，即使檢測位置信號值Vip存在不均，或由磁性感測器所檢測出之磁場受到線性運動元件之驅動用線圈之磁場干擾，仍可藉目標位置信號值VTARG進行線性運動元件31之位置控制。
圖4係圖3所示之校準運算電路的具體構成圖。該校準運算電路24包含：若自外部輸入校準指示信號則進行動作之計數電路(計數器/計時器)241；及D/A轉換之輸出信號指示D/A轉換之輸出固定在最小值而對驅動線圈29通電，在第1時間T1之前由計數電路241計數時，發出存入指示信號，將檢測位置修正信號值作為記憶值NEGCAL'而儲存之第1記憶裝置(暫存器/記憶體)242a；於儲存上述記憶值NEGCAL'後，D/A轉換之輸出信號指示固定在中間值(D/A轉換之輸出為中間值 之情形時，因輸出驅動器28a、28b之輸出皆為中間值，故施加至線圈29兩端之電位差為零。即，停止對線圈29供電)。
接著，校準運算電路24包含：第2記憶裝置(暫存器/記憶體)242b，其在第2時間之前由上述計數電路計數並發出存入指示信號，作為記憶值(NEGCAL)儲存上述檢測位置信號值；及第3記憶裝置(暫存器/記憶體)242c，其於儲存上述記憶值NEGCAL後，D/A轉換之輸出信號指示最小值，在第3時間之前計數時，D/A轉換之輸出信號指示D/A轉換之輸出固定在最大值而對驅動線圈29通電；於在第4時間T4之前由計數電路241計數時，D/A轉化之輸出信號指示固定在中間值，在第5時間之前由計數電路241計數並發出存入指示信號，將檢測位置信號值作為記憶值POSCAL予以儲存；於儲存上述記憶值POSCAL後，D/A轉換之輸出信號指示最大值，在第6時間之前計數時，D/A轉換之輸出指示發生基於PID控制電路25之輸出而輸出之指示，停止計數電路241之計數。
再者，校準運算電路24包含：第1減法器243a，其將來自磁場感測器21之檢測位置信號值Vip與第2記憶裝置242b之記憶值NEGCAL相減；第2減法器243b，其將第3記憶裝置242c之記憶值POSCAL與第2記憶裝置242b之記憶值NEGCAL相減；第3減法器243c，其將第1記憶裝置242a之記憶值NEGCAL'與第2記憶裝置242b之記憶值NEGCAL相減；第1除法器244a，其將第1減法器243a之輸出值(Vip-NEGCAL)與第2減法器243b之輸出值(POSCAL-NEGCAL)相除；及第2除法器244b，其將第3減法器243c之輸出值(NEGCAL'-NEGCAL)與第2減法器243b之輸出值(POSCAL-NEGCAL)相除；校準運算電路24之檢測位置運算信號值VPROC與(Vip-NEGCAL)/(POSCAL-NEGCAL)具有比例關係；磁場修正值LEAKB與(NEGCAL'-NEGCAL)/(POSCAL-NEGCAL)具有比例關係。
第1除法器244a之輸出信號經由第1乘法器245a而獲得VPROC=(Vip-NEGCAL)/(POSCAL-NEGCAL)×511。且，第2除法器244b之輸出信號經由第2乘法器245b而獲得LEAKB=(NEGCAL'-NEGCAL)/(POSCAL-NEGCAL)×511。
另，亦可為LEAKB=(POSCAL-POSCAL')/(POSCAL-NEGCAL)×511。且，第4記憶裝置(暫存器/記憶體)246係連接於乘法器245a、245b且記憶有[511]者。該[511]係依據目標位置信號值VTARG之可設定範圍予以任意變更者。
再者，位置運算信號VPROC及磁場修正位置LEAKB之運算亦可由如圖4所示般之專用硬體進行，亦可由微電腦等通用者、如軟體進行。
圖4之說明中，作為停止對線圈29通電之方法，雖已以D/A轉換電路27輸出中間值之方法進行說明，但並非限定於上述方法，亦可指示為使D/A轉換電路27之正相輸出端子及反相輸出端子皆固定在相同之輸出，亦可使用對未圖示之輸出驅動器28a、28b進行直接指示之控制信號，使輸出驅動器28a、28b斷開而停止通電。
以下說明亦同樣地，使用具代表性之輸出中間值之方法進行說明。
圖5係圖3所示之洩漏磁場修正電路之具體構成圖。
洩漏磁場修正電路34包含：除法器342，其將記憶於記憶裝置341之控制量之最大值MVmax與來自校準運算電路24之磁場修正值LEAKB相除；乘法器343，其將來自該除法器342之輸出值與控制量MV相乘；及減法器344，其將來自該乘法器343之輸出值與元件位置指令信號產生電路26之目標位置信號值VTARG相減；且輸出目標修正位置信號值VTARG'。
儲存於暫存器或記憶體之除法之分母之值為MV所取之最大值。 即，由於是D/A轉換電路27輸入之最大值，故在校準時與端點移動時之值相同。使用減法器344、除法器342、及乘法器343自所儲存之MV值、PID輸出之MV值、及來自校準運算電路24之磁場修正值LEAKB而運算目標修正位置信號VTARG'。亦可由如圖5所示般之專用硬體、或亦可如微電腦等通用者如軟體等進行。因流動於線圈之電流與控制量MV成比例，故洩漏磁場之量可自控制量MV運算。因磁場修正值LEAKB與目標位置信號VTARG同步，故藉由將自目標位置信號VTARG減去運算後之修正量而得之目標修正位置信號VTARG'作為目標值進行位置控制，可減低洩漏磁場之影響，謀求位置控制精度之提高。
如此，藉由將校準時取得之洩漏磁場之值(正方向或負方向之最大電流通電時)除以控制量MV之最大值所得之值作為係數，可自控制量而運算驅動線圈所產生之洩漏磁場。藉由自目標位置信號值VTARG減去洩漏磁場量，可消除洩漏磁場之影響。因自校準結果求得磁場修正值LEAKB，故可消除個體間之不均。且，由於使用減法器、除法器、乘法器自儲存之NEGCAL值、NEGCAL'值運算磁場修正值LEAKB，故經運算之磁場修正值LEAKB係與目標位置信號值VTARG同步之值，故即使因洩漏磁場之影響而產生不均，仍可正確地獲得修正量。
圖6(a)、(b)係表示受到洩漏磁場影響之情形時之伴隨時間經過之驅動線圈電流與透鏡位置之另一關係的圖；為避免因驅動線圈29之洩漏磁場對磁場感測器21造成影響，具有在取得檢測磁場之前停止對驅動線圈29供電之時間。圖6(a)係表示與透鏡位置之起始位置(Home Position)與最終位置(Full Position)對應之檢測磁場、及NEGCAL與POSCAL之關係的圖；圖6(b)係表示伴隨時間經過之驅動線圈電流的圖。
圖中，一點鏈線表示受到洩漏磁場影響之情形時之檢測磁場與透鏡位置之關係；虛線表示避免本發明之該洩漏磁場之影響之情形時之檢測磁場與透鏡位置之關係，將與受到洩漏磁場影響之情形時之起始位置對應之檢測位置信號值Vip作為記憶值NEGCAL'而記憶於第1記憶裝置(暫存器/記憶體)242a，將與避免洩漏磁場之影響之情形時之起始位置對應之檢測位置信號信值Vip作為記憶值NEGCAL而記憶於第2記憶裝置(暫存器/記憶體)242b，將與避免洩漏磁場影響之情形時之最終位置對應之檢測位置信號值Vip作為記憶值POSCAL而記憶於第3記憶裝置(暫存器/記憶體)242c。
自停止通電至取得檢測磁場之時間Toff處於長於線圈之電性時間常數而短於線性運動元件之機械時間常數之關係。
圖7(a)、(b)係表示未受洩漏磁場影響之情形時之位置控制動作時之伴隨時間經過之驅動線圈電流與透鏡位置控制之關係的圖。圖7(a)係表示與時間經過中之透鏡位置之起始位置(Home Position)與最終位置(Full Position)對應之實施校準動作後之位置運算信號VPROC及目標位置信號VTARG之關係的圖，實線表示透鏡位置，虛線表示位置運算信號VPROC，一點鏈線表示目標位置信號VTARG。圖7(b)係表示伴隨時間經過之驅動線圈電流的圖。
未受到洩漏磁場影響之情形時，PID控制電路25以使位置運算信號VPROC與目標位置信號VTARG相等之方式進行控制；於時間T8，在與目標位置信號VTARG相應之透鏡位置穩定。此時之驅動線圈電流自開始進行位置控制之時間T7開始流動用於使透鏡朝起始位置移動之電流，於上述透鏡位置變穩定之時間T8時，成為僅需要用以保持透鏡位置之電流。
再者，若於時間T9變更目標位置信號VTARG，則再度利用PID控制電路25之控制，於時間T10使透鏡位置在與目標位置VTARG相應之 透鏡位置成為穩定之狀態。此時之驅動線圈電流自變更目標位置之時間T9開始流動用於使透鏡朝最終位置移動之電流，於上述透鏡位置成為穩定之時間T10，成為僅需要用以保持透鏡位置之電流。
圖8(a)、(b)係表示受到洩漏磁場影響之情形時之位置控制動作時之伴隨時間經過之驅動線圈電流與透鏡位置控制之關係的圖。圖8(a)係表示與時間經過中之透鏡位置之起始位置(Home Position)及最終位置(Full Position)對應之實施校準動作後之位置運算信號VPROC及目標位置信號VTARG之關係的圖，實線表示透鏡位置，虛線表示位置運算信號VPROC，一點鏈線表示目標位置信號VTARG。圖8(b)係表示伴隨時間經過之驅動線圈電流的圖。
受到洩漏磁場影響之情形時，PID控制電路25以使位置運算信號VPROC與目標位置信號VTARG相等之方式進行控制，於時間T8，在與目標位置信號VTARG相應之透鏡位置穩定。此時之驅動線圈電流自開始進行位置控制之時間T7開始流動用於使透鏡朝起始位置移動之電流，於上述透鏡位置變穩定之時間T8，僅需要用以保持透鏡位置之電流。然而，即使穩定時仍會自驅動線圈產生洩漏磁場，故位置運算信號VPROC成為加減洩漏磁場後之值。因此，穩定時之透鏡位置係自本來欲移動之位置偏移受洩漏磁場之影響量之位置。
再者，若於時間T9變更目標位置信號VTARG，則再度利用PID控制電路25之控制，以於時間T10使透鏡位置於與目標位置信號VTARG相應之透鏡位置成為穩定狀態之方式，使驅動線圈電流自變更目標位置之時間T9開始流動用於使透鏡朝最終位置移動之電流。然而，在時間T9設定之目標位置信號VTRAG無法成為自位置運算信號VPROC加減洩漏磁場後之值之情形時，無法進行位置控制，透鏡位置依然固定在最終位置。因此，於未受上述洩漏磁場之影響之情形時之透鏡位置成為穩定之時間T10中，亦成為流動於驅動線圈之電流維持最大值之 狀態。
圖9(a)、(b)係表示本發明之位置控制動作時之伴隨時間經過之驅動線圈電流與透鏡位置控制之關係的圖，表示由PID控制電路進行之洩漏磁場修正。圖9(a)係表示與時間經過之透鏡位置之起始位置(Home Position)與最終位置(Full Position)對應之實施校準動作後之位置運算信號VPROC及目標修正位置信號VTARG'之關係的圖，實線表示透鏡位置，虛線表示位置運算信號VPROC，一點鏈線表示目標修正位置信號VTARG'。圖9(b)係表示伴隨時間經過之驅動線圈電流的圖。
洩漏磁場之影響減低之情形時，PID控制電路25以使位置運算信號VPROC與目標修正位置信號VTARG'相等之方式進行控制，於時間T8在與目標修正位置信號VTARG'相應之透鏡位置穩定。此時之驅動線圈電流自開始進行位置控制之時間T7開始流動用於使透鏡朝起始位置移動之電流，於透鏡位置變穩定之時間T8，成為僅需要用以保持透鏡位置之電流。此處，即使穩定時亦會自驅動線圈產生洩漏磁場，故位置運算信號VPROC成為加減洩漏磁場後之值。然而，目標修正位置信號VTARG'為自目標位置信號VTRAG減去上述洩漏磁場之影響量、亦即校準時取得之磁場修正值LEAKB及根據PID控制電路25輸出所運算之修正量後之值。因此，穩定時之透鏡位置成為與本來欲移動之位置同等之位置。
再者，若於時間T9變更目標位置信號VTARG，則再度藉PID控制電路25之控制，以於時間T10使透徑位置在與目標位置信號VTARG相應之透鏡位置成穩定狀態之方式，使驅動線圈電流自變更目標位置之時間T9開始流動用於使透鏡朝最終位置移動之電流。然而，在時間T9設定之目標修正位置信號VTRAG'無法成為自位置運算信號VPROC加減洩漏磁場後之值之情形時，無法進行位置控制，透鏡位置依然固 定在最終位置。但，目標修正位置信號VTARG'成為自目標位置信號VTRAG減去上述洩漏磁場之影響量、亦即校準時取得之磁場修正值LEAKB及根據PID控制電路25輸出所運算之修正量後之值。因此，無論目標修正位置信號VTARG'能否成為自位置運算信號VPROC加減洩漏磁場後之值，皆可進行位置控制。
再者，與上述透鏡位置變穩定之時間T8時同樣地，目標修正位置信號VTARG'成為自目標位置信號VTRAG減去上述洩漏磁場之影響量、亦即校準時取得之磁場修正值LEAKB及根據PID控制電路25輸出所運算之修正量後之值。因此，穩定時之透鏡位置成為與本來欲移動之位置同等之位置。
如此，可實現即使發生磁性感測器之搭載位置偏移及磁石磁化不均之情況、或如由磁性感測器所檢測出之磁場受到線性運動元件之驅動用線圈之磁場干擾般之情形時，仍可正確地進行線性運動元件之位置控制之線性運動元件之控制裝置。
另，亦可自位置運算信號VPROC加上洩漏磁場之影響量、亦即校準時取得之磁場修正值LEAKB。
圖10係用於說明本發明之線性運動元件之控制方法之流程圖。
本發明之線性運動元件31之控制裝置20之控制方法係使包含具有安裝於移動體33之磁石32之線性運動元件31、及配置於該線性運動元件31之磁石32附近之驅動線圈29且藉由於該驅動線圈29中流動線圈電流而產生之力使磁石32移動之控制方法。
該方法包含：首先，由磁場感測器21檢測上述磁石32產生之磁場，輸出與檢測出之磁場之值對應之檢測位置信號值之步驟(S1)；接著，為避免因驅動線圈29之洩漏磁場對磁場感測器21造成影響，具有在取得檢測磁場之前停止對驅動線圈29供電之時間，利用校準運算電路24取得與起始位置對應之第1位置信號值NEGCAL、及受到洩漏磁 場影響之情形時之上述第1位置信號值NEGCAL'、及與線性運動元件31之最終位置對應之第2位置信號值POSCAL之步驟(S2)。
且包含：接著，根據與起始位置對應之第1位置信號值NEGCAL、及與線性運動元件31之最終位置對應之第2位置信號值POSCAL，取得檢測位置運算信號值VPROC；根據與線性運動元件31之起始位置31對應之第1位置信號值NEGCAL、受到洩漏磁場之影響之情形時之上述第1位置信號值NEGCAL、及與線性運動元件31之最終位置對應之第2位置信號值POSCAL，取得磁場修正值LEAKB之步驟(S3)；接著，由元件位置指令信號產生電路26輸出指示應移動線性運動元件31之目標位置之目標位置信號值之步驟(S4)；接著，由洩漏磁場修正電路34修正來自元件位置指令信號產生電路26之目標位置信號值(VTARG)，獲得目標修正位置信號值(VTARG')之步驟(S5)。
且包含：接著，利用PID控制電路25輸入來自校準運算電路24之檢測位置運算信號值VPROC與來自洩漏磁場修正電路34之目標修正位置信號值VTARG'，根據移動體33之當前位置與目標修正位置信號值VTARG'所指示之移動體33之目標位置，輸出用於使該移動體33移動至目標位置之控制信號之步驟(S6)；接著，利用輸出驅動器28a、28b，基於檢測位置運算信號值與目標修正位置信號值，對驅動線圈29供給驅動電流之步驟(S7)；即使檢測位置信號值Vip出現不均，仍可根據目標位置信號值VTARG進行線性運動元件31之位置控制。另，於連續重複進行位置控制之情形時，重複步驟S3至S7。
再者，將來自磁場感測器21之檢測位置信號值即校準運算電路24之輸入信號值為設Vip、將與初始位置對應之第1位置信號值設為NEGCAL、將與最終位置對應之第2位置信號值設為POSCAL、將校準運算電路24之輸出信號值即檢測位置運算信號值設為VPROC之情形時，校準運算電路24之檢測位置運算信號值VPROC與(Vip- NEGCAL)/(POSCAL-NEGCAL)具有比例關係。
再者，將與起始位置對應之第1位置信號值設為NEGCAL、將受到洩漏磁場影響之情形時之上述第1位置信號值設為NEGCAL'、將與最終位置對應之第2位置信號值設為POSCAL、將因洩漏磁場產生之第2位置信號值設為POSCLA'、將校準運算電路之輸出信號值即檢測位置運算信號值設為VPROC之情形時，洩漏磁場修正電路34產生之磁場修正值LEAKB與(POSCAL-POSCAL')/(POSCAL-NEGCAL)或(NEGCAL'-NEGCAL)/(POSCAL-NEGCAL)具有比例關係。
圖11係用於說明校準運算電路之運算方法之流程圖。
由校準運算電路24進行之運算步驟包含：首先，若自外部輸入校準指示信號，則利用計數電路開始動作之步驟(S11)；接著，D/A轉換之輸出信號指示D/A轉換之輸出固定在最小值而對驅動線圈29通電，在第1時間T1之前由計數電路241進行計數時，發出存入指示信號，將檢測位置修正信號值作為記憶值NEGCAL'予以儲存之步驟(S12)；接著，儲存記憶值NEGCAL'後，D/A轉換之輸出信號指示固定在中間值，在第2時間之前由上述計數電路進行計數並發出存入指示信號，將上述檢測位置信號值作為記憶值(NEGCAL)予以保存之步驟(S13)。
且包含：接著，儲存記憶值NEGCAL後，D/A轉換之輸出信號指示最小值，在第3時間之前進行計數時，D/A轉換之輸出信號指示D/A轉換之輸出固定在最大值而對驅動線圈29通電，在第4時間T4之前由計數器241進行計數時，D/A轉換之輸出信號指示固定在中間值，在第5時間之前由計數器241進行計數並發出存入指示信號，將檢測位置信號值作為記憶值POSCAL予以儲存之步驟(S14)。
且包含：接著，利用第1減法器243a，將來自磁場感測器21之檢測位置信號值Vip與第2記憶裝置242b之記憶值NEGCAL相減之步驟 (S15)；接著，利用第2減法器243b，將第3記憶裝置242c之記憶值POSCAL與第2記憶裝置242b之記憶值NEGCAL相減之步驟(S16)；接著，利用第3減法器243c，將第1記憶裝置242a之記憶值NEGCAL'與第2記憶裝置242b之記憶值NEGCAL相減之步驟(S17)；接著，利用第1除法器244a，將第1減法器243a之輸出值(Vip-NEGCAL)與第2減法器243b之輸出值(POSCAL-NEGCAL)相除之步驟(S18)；接著，利用第2除法器244b，將第3減法器243c之輸出值(NEGCAL'-NEGCAL)與第2減法器243b之輸出值(POSCAL-NEGCAL)相除之步驟(S19)。
且包含：接著，在第6時間之前進行計數時，D/A轉換之輸出指示產生基於PID電路控制25之輸出而輸出之指示，停止計數電路241之計數之步驟(S20)；校準運算電路24之檢測位置運算信號值VPROC與(Vip-NEGCAL)/(POSCAL-NEGCAL)具有比例關係，由洩漏磁場修正電路34產生之磁場修正值LEAKB與(POSCAL-POSCAL')/(POSCAL-NEGCAL)或(NEGCAL'-NEGCAL)/(POSCAL-NEGCAL)具有比例關係。
圖12係表示用於說明洩漏磁場修正電路之運算方法之流程圖。
其包含：首先，利用除法器342，將記憶於記憶裝置341之控制量之最大值MVmax與來自校準運算電路24之磁場修正值LEAKB相除步驟(S21)；接著，由乘法器343使來自除法器342之輸出值與控制量MV相乘之步驟(S22)；接著，利用減法器344，將來自乘法器343之輸出值與來自元件位置指令信號產生電路26之目標位置信號值VTARG相減之步驟(S23)；並輸出目標修正位置信號值VTARG'。
如此，可實現一種即使發生磁性感測器之搭載位置偏移或磁石之磁化不均之情況、或如由磁性感測器所檢測出之磁場受到線性運動元件之驅動用線圈之磁場干擾般之情形時，仍可正確地進行線性運動元件之位置控制之線性運動元件之控制方法。
20‧‧‧控制裝置
21‧‧‧磁場感測器
22‧‧‧放大器
23‧‧‧A/D轉換電路
24‧‧‧校準運算電路
25‧‧‧PID控制電路
26‧‧‧元件位置指令信號產生電路
27‧‧‧D/A轉換電路
28a‧‧‧第1輸出驅動器
28b‧‧‧第2輸出驅動器
29‧‧‧驅動線圈
30‧‧‧相機模組
31‧‧‧線性運動元件
32‧‧‧磁石
33‧‧‧透鏡
34‧‧‧洩漏磁場修正電路
CALEXE‧‧‧校準執行信號
LEAKB‧‧‧磁場修正值
MV‧‧‧控制量
OUT1‧‧‧輸出1
OUT2‧‧‧輸出2
Vip‧‧‧檢測位置信號值
VPROC‧‧‧檢測位置運算信號值
VTARG‧‧‧目標位置信號值
VTARG'‧‧‧目標修正位置信號值

Claims (16)

  1. 一種線性運動元件之控制裝置，其係包含具有安裝於移動體上之磁石之線性運動元件、及配置於該線性運動元件之上述磁石附近之驅動線圈，且利用該驅動線圈使上述磁石移動者；該控制裝置之特徵為包含：磁場感測器，其檢測上述磁石產生之磁場，而輸出與檢測出之磁場之值對應之檢測位置信號值；校準運算電路，其基於來自上述磁場感測器之上述檢測位置信號值，自與上述線性運動元件之第1位置對應之第1位置信號值、及與上述線性運動元件之第2位置對應之第2位置信號值獲得檢測位置運算信號值；元件位置指令信號產生電路，其輸出指示應移動上述線性運動元件之目標位置之目標位置信號值；輸出驅動器，其基於上述檢測位置運算信號與上述目標位置信號值，對上述驅動線圈供給驅動電流；及洩漏磁場修正電路，其基於未對上述驅動線圈通電時之上述檢測位置信號值與對上述驅動線圈通電時之上述檢測位置信號值之差，修正上述磁場感測器因上述驅動線圈之洩漏磁場引起之檢測誤差。
  2. 如請求項1之線性運動元件之控制裝置，其中上述洩漏磁場修正電路修正上述目標位置信號值。
  3. 如請求2之線性運動元件之控制裝置，其中將來自上述磁場感測器之上述檢測位置信號值即上述校準運算電路之輸入信號值設為Vip、將上述第1位置信號值設為NEGCAL、將上述第2位置信號值設為POSCAL、將上述校準運算電路之輸出 信號值即檢測位置運算信號值設為VPROC之情形時，上述檢測位置運算信號值VPROC與(Vip-NEGCAL)/(POSCAL-NEGCAL)具有比例關係。
  4. 如請求項3之線性運動元件之控制裝置，其中將受到洩漏磁場影響之情形時之上述第1位置信號值設為NEGCAL'、將因洩漏磁場產生之上述第2位置信號值設為POSCAL'之情形時，磁場修正值LEAKB與(POSCAL-POSCAL')/(POSCAL-NEGCAL)或(NEGCAL'-NEGCAL)/(POSCAL-NEGCAL)具有比例關係。
  5. 如請求項4之線性運動元件之控制裝置，其中上述校準運算電路包含：第1記憶裝置，其儲存受到洩漏磁場影響之情形時之上述第1位置信號值NEGCAL'或因洩漏磁場產生之上述第2位置信號值POSCAL'；第2記憶裝置，其儲存上述第1位置信號值NEGCAL；及第3記憶裝置，其儲存第2位置信號值POSCAL。
  6. 如請求項5之線性運動元件之控制裝置，其中上述校準運算電路包含：第1減法器，其將來自上述磁場感測器之上述檢測位置信號值Vip與由上述第2記憶裝置儲存之第1位置信號值NEGCAL相減；第2減法器，其將由上述第3記憶裝置儲存之第2位置信號值POSCAL與由上述第2記憶裝置儲存之第1位置信號值NEGCAL相減； 第3減法器，其將由上述第1記憶裝置儲存之第1位置信號值NEGCAL'與由上述第2記憶裝置儲存之第1位置信號值NEGCAL相減，或將由上述第1記憶裝置儲存之第2位置信號值POSCAL'與由上述第3記憶裝置儲存之第2位置信號值POSCAL相減；第1除法器，其將上述第1減法器之輸出值(Vip-NEGCAL)與上述第2減法器之輸出值(POSCAL-NEGCAL)相除；及第2除法器，其將上述第3減法器之輸出值(NEGCAL'-NEGCAL)與上述第2減法器之輸出值(POSCAL-NEGCAL)相除、或將上述第3減法器之輸出值(POSCAL-POSCAL')與上述第2減法器之輸出值(POSCAL-NEGCAL)相除。
  7. 如請求項6之線性運動元件之控制裝置，其中上述洩漏磁場修正電路包含：除法器，其將記憶於記憶裝置之控制量之最大值與上述磁場修正值相除；乘法器，其將來自該除法器之輸出值與上述輸出驅動器之控制量相乘；及減法器，其將來自該乘法器之輸出值與來自上述元件位置指令信號產生電路之上述目標位置信號值相減；且輸出修正上述目標位置信號值後之目標修正位置信號值。
  8. 如請求項1至7中任一項之線性運動元件之控制裝置，其中上述磁場感測器為霍爾元件。
  9. 如請求項1至8中任一項之線性運動元件之控制裝置，其中上述線性運動元件與上述驅動線圈係組裝於相機模組中。
  10. 一種線性運動元件之控制方法，其係線性運動元件之控制裝 置中之控制方法，該控制裝置包含：具有安裝於移動體上之磁石之線性運動元件、及配置於該線性運動元件之上述磁石附近之驅動線圈，且該控制裝置係利用該驅動線圈使上述磁石移動；該控制方法之特徵為包含以下步驟：首先，利用磁場感測器檢測上述磁石產生之磁場，而輸出與檢測出之磁場之值對應之檢測位置信號值；接著，利用校準運算電路，基於來自上述磁場感測器之上述檢測位置信號值，自與上述線性運動元件之第1位置對應之第1位置信號值、及與上述線性運動元件之第2位置對應之第2位置信號值獲得檢測位置運算信號值；接著，利用元件位置指令信號產生電路，輸出指示應移動上述線性運動元件之目標位置之目標位置信號值；接著，利用輸出驅動器，基於上述檢測位置運算信號值與上述目標位置信號值，對上述驅動線圈供給驅動電流；接著，利用洩漏磁場修正電路，基於未對上述驅動線圈通電時之上述檢測位置信號值與對上述驅動線圈通電時之上述檢測位置信號值之差，修正上述磁場感測器因上述驅動線圈之洩漏磁場引起之檢測誤差。
  11. 如請求項10之線性運動元件之控制方法，其中由上述洩漏磁場修正電路進行之運算步驟係修正上述目標位置信號值。
  12. 如請求項11之線性運動元件之控制方法，其中將來自上述磁場感測器之上述檢測位置信號值即上述校準運算電路之輸入信號值設為Vip、將上述第1位置信號值設為NEGCAL、將上述第2位置信號值設為POSCAL、將上述校準 運算電路之輸出信號值即檢測位置運算信號值設為VPROC之情形時，上述檢測位置運算信號值VPROC與(Vip-NEGCAL)/(POSCAL-NEGCAL)具有比例關係。
  13. 如請求項12之線性運動元件之控制方法，其中將受到洩漏磁場影響之情形時之上述第1位置信號值設為NEGCAL'、將因洩漏磁場產生之上述第2位置信號值設為POSCAL'之情形時，磁場修正值LEAKB與(POSCAL-POSCAL')/(POSCAL-NEGCAL)或(NEGCAL'-NEGCAL)/(POSCAL-NEGCAL)具有比例關係。
  14. 如請求項13之線性運動元件之控制方法，其中由上述校準運算電路進行之運算步驟包含：由第1記憶裝置儲存受到洩漏磁場影響之情形時之上述第1位置信號值NEGCAL'或因洩漏磁場產生之上述第2位置信號值POSCAL'之步驟，由第2記憶裝置儲存上述第1位置信號值NEGCAL之步驟，及由第3記憶裝置儲存上述第2位置信號值POSCAL之步驟。
  15. 如請求項14之線性運動元件之控制方法，其中由上述校準運算電路進行之運算步驟包含：利用第1減法器，將來自上述磁場感測器之上述檢測位置信號值Vip與由上述第2記憶裝置儲存之第1位置信號值NEGCAL相減之步驟；利用第2減法器，將由上述第3記憶裝置儲存之第2位置信 號值POSCAL與由上述第2記憶裝置儲存之第1位置信號值NEGCAL相減之步驟；利用第3減法器，將由上述第1記憶裝置儲存之第1位置信號值NEGCAL'與由上述第2記憶裝置儲存之第1位置信號值NEGCAL相減、或將由上述第1記憶裝置儲存之第2位置信號值POSCAL'與由上述第3記憶裝置儲存之第2位置信號值POSCAL相減之步驟；利用第1除法器，將上述第1減法器之輸出值(Vip-NEGCAL)與上述第2減法器之輸出值(POSCAL-NEGCAL)相除之步驟；及利用第2除法器，將上述第3減法器之輸出值(NEGCAL'-NEGCAL)與上述第2減法器之輸出值(POSCAL-NEGCAL)相除、或將上述第3減法器之輸出值(POSCAL-POSCAL')與上述第2減法器之輸出值(POSCAL-NEGCAL)相除之步驟。
  16. 如請求項15之線性運動元件之控制方法，其中由上述洩漏磁場修正電路進行之運算步驟包含：利用除法器，將記憶於記憶裝置之控制量之最大值與上述磁場修正值相除之步驟；利用乘法器將來自上述除法器之輸出值與上述輸出驅動器之控制量相乘之步驟；及利用減法器，將來自上述乘法器之輸出值與來自上述元件位置指令信號產生電路之上述目標位置信號值相減之步驟；且輸出修正上述目標位置信號值後之目標修正位置信號值。
TW102117424A 2012-05-17 2013-05-16 Control device for linear motion element and control method thereof TWI501539B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012113446 2012-05-17

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201409921A true TW201409921A (zh) 2014-03-01
TWI501539B TWI501539B (zh) 2015-09-21

Family

ID=49583427

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW102117424A TWI501539B (zh) 2012-05-17 2013-05-16 Control device for linear motion element and control method thereof

Country Status (7)

Country Link
US (1) US9612600B2 (zh)
EP (1) EP2851725B1 (zh)
JP (1) JP5961258B2 (zh)
KR (2) KR101574057B1 (zh)
CN (2) CN106019527A (zh)
TW (1) TWI501539B (zh)
WO (1) WO2013171998A1 (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI595739B (zh) * 2016-10-27 2017-08-11 動運科學技術有限公司 音圈馬達驅動控制裝置及音圈馬達驅動控制方法
CN111256744A (zh) * 2020-02-27 2020-06-09 苏州海之博电子科技有限公司 一种线性输出位置传感器标定方法

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106462709A (zh) * 2014-01-27 2017-02-22 克洛诺斯赛博科技有限公司 自动渗透测试设备、方法和系统
JP6118291B2 (ja) * 2014-06-12 2017-04-19 旭化成エレクトロニクス株式会社 位置制御装置及び位置制御方法
JP6360388B2 (ja) * 2014-08-22 2018-07-18 旭化成エレクトロニクス株式会社 運動デバイス制御回路
JP6535495B2 (ja) * 2015-03-31 2019-06-26 旭化成エレクトロニクス株式会社 運動デバイス制御回路及びその調整方法並びに運動デバイス制御装置
CN108603994B (zh) 2015-11-30 2021-09-24 旭化成微电子株式会社 驱动装置、透镜单元、设备、校正方法以及程序
CN108700723B (zh) 2015-12-18 2021-04-16 旭化成微电子株式会社 驱动装置、透镜单元、设备、校正方法以及程序
WO2017156271A1 (en) * 2016-03-11 2017-09-14 Sound Devices, LLC Magnetic linear fader
WO2019008769A1 (ja) 2017-07-07 2019-01-10 オリンパス株式会社 内視鏡装置
TWI627429B (zh) * 2017-08-21 2018-06-21 茂達電子股份有限公司 誤差消除放大器電路以及馬達控制電路
CN107666264B (zh) * 2017-09-28 2019-07-12 无锡力芯微电子股份有限公司 音圈电机的驱动电路
CN108233791B (zh) * 2018-02-09 2020-07-07 陈昊 一种开关磁阻电机位置传感器不对称安装角度调整策略
JP6965815B2 (ja) * 2018-04-12 2021-11-10 愛知製鋼株式会社 マーカ検出システム、及びマーカ検出システムの運用方法
DE102018217352A1 (de) * 2018-10-10 2020-04-16 Conti Temic Microelectronic Gmbh Aktorvorrichtung sowie Verfahren zur Kompensation eines magnetischen Streufeldes bei einer Aktorvorrichtung
US11487076B2 (en) 2018-10-15 2022-11-01 Asahi Kasei Microdevices Corporation Lens drive device, lens drive method, and computer readable medium
CN113708590A (zh) * 2020-05-22 2021-11-26 北京小米移动软件有限公司 线性振动马达、触觉反馈振动模组、控制方法及装置
CN112584136B (zh) * 2020-12-23 2023-02-28 上海艾为电子技术股份有限公司 位置校准模块、校准方法、电子设备、校准装置及存储介质
JP2023032339A (ja) 2021-08-26 2023-03-09 旭化成エレクトロニクス株式会社 キャリブレーション装置、キャリブレーション方法、および、キャリブレーションプログラム
JP2023041209A (ja) 2021-09-13 2023-03-24 旭化成エレクトロニクス株式会社 駆動装置

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5389864A (en) * 1993-03-29 1995-02-14 Lake Center Industries, Inc. Actuator with motor and feedback driven by a common power supply
JPH1062676A (ja) 1996-08-23 1998-03-06 Canon Inc 駆動制御装置
US5932984A (en) * 1995-09-04 1999-08-03 Canon Kabushiki Kaisha Driving apparatus and optical apparatus
US6456444B1 (en) * 1999-01-26 2002-09-24 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd Lens barrel
TWI285017B (en) * 2005-06-30 2007-08-01 Delta Electronics Inc Brushless DC motor and magnetic compensation method thereof
JP2007049862A (ja) 2005-08-12 2007-02-22 Hitachi Ltd 磁極位置センサ内蔵電気機械及び電気機械装置並びに車載電機システム
JP2007129700A (ja) 2005-10-06 2007-05-24 Ricoh Co Ltd 手ぶれ補正機能を有する撮像装置
JP2008191282A (ja) 2007-02-02 2008-08-21 Nidec Copal Corp 手ぶれ補正装置
US8084969B2 (en) * 2007-10-01 2011-12-27 Allegro Microsystems, Inc. Hall-effect based linear motor controller
US7936144B2 (en) 2008-03-06 2011-05-03 Allegro Microsystems, Inc. Self-calibration algorithms in a small motor driver IC with an integrated position sensor
JP5467472B2 (ja) 2008-03-31 2014-04-09 日本パルスモーター株式会社 シャフト型リニアモータの位置検出装置
JP2010107894A (ja) 2008-10-31 2010-05-13 Konica Minolta Opto Inc 位置信号補正回路及びボイスコイルモータ駆動装置
JP5441150B2 (ja) 2008-11-28 2014-03-12 三星電子株式会社 駆動制御装置、駆動制御方法および撮像装置
JP2010191210A (ja) 2009-02-18 2010-09-02 Nikon Corp ブレ補正装置、カメラおよび交換レンズ
JP5295836B2 (ja) * 2009-03-27 2013-09-18 日本電産コパル株式会社 像振れ補正装置、撮像レンズユニット、及びカメラユニット
CN101930150B (zh) * 2009-06-18 2012-01-04 三洋电机株式会社 聚焦控制电路
JP2011022563A (ja) 2009-06-18 2011-02-03 Sanyo Electric Co Ltd フォーカス制御回路
TWI417567B (zh) * 2009-08-26 2013-12-01 Largan Precision Co Ltd 攝影模組
JP5731951B2 (ja) 2011-11-01 2015-06-10 旭化成エレクトロニクス株式会社 線形運動デバイスの制御装置、線形運動デバイスの制御方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI595739B (zh) * 2016-10-27 2017-08-11 動運科學技術有限公司 音圈馬達驅動控制裝置及音圈馬達驅動控制方法
CN111256744A (zh) * 2020-02-27 2020-06-09 苏州海之博电子科技有限公司 一种线性输出位置传感器标定方法
CN111256744B (zh) * 2020-02-27 2021-06-29 苏州海之博电子科技有限公司 一种线性输出位置传感器标定方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP5961258B2 (ja) 2016-08-02
EP2851725A1 (en) 2015-03-25
CN104272160B (zh) 2017-03-22
KR20150048915A (ko) 2015-05-07
US20150130388A1 (en) 2015-05-14
KR101555454B1 (ko) 2015-09-23
JPWO2013171998A1 (ja) 2016-01-12
CN106019527A (zh) 2016-10-12
TWI501539B (zh) 2015-09-21
KR20140091008A (ko) 2014-07-18
WO2013171998A1 (ja) 2013-11-21
EP2851725B1 (en) 2017-02-08
EP2851725A4 (en) 2016-06-29
KR101574057B1 (ko) 2015-12-02
CN104272160A (zh) 2015-01-07
US9612600B2 (en) 2017-04-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI501539B (zh) Control device for linear motion element and control method thereof
JP5089999B2 (ja) 位置検出回路及びその応用装置
KR102196231B1 (ko) 손떨림 보정 장치 및 그 조정 방법, 손떨림 보정 회로 및 손떨림 보정 방법과, 카메라 모듈 및 그 광학 요소의 위치 제어 방법
KR101920130B1 (ko) 카메라 모듈의 조정 방법과 렌즈 위치 제어 장치 및 선형 운동 디바이스의 제어 장치와 그 제어 방법
JP6513903B2 (ja) カメラモジュール及びその光学要素の位置制御方法並びに携帯機器
JP2013238822A (ja) 線形運動デバイスの制御装置及びその制御方法
KR101862505B1 (ko) 광학식 이미지 안정화 모듈 및 이를 포함하는 카메라 모듈
JP2013025268A (ja) 光学機器
JP2013238821A (ja) 線形運動デバイスの制御装置及びその制御方法
JP6368605B2 (ja) 位置検出装置及びそれを備えた駆動装置
JP2016136837A (ja) 線形運動デバイスの制御装置及びその制御方法
JP2016004377A (ja) 線形運動デバイス制御回路
JP2011170260A (ja) ブレ補正機能付き撮像装置
TWI411871B (zh) 迴圈增益調整電路
US20220146850A1 (en) System for driving actuator
JP6118291B2 (ja) 位置制御装置及び位置制御方法
JP2014085629A (ja) 線形運動デバイスの制御装置及びその制御方法
JP2016192131A (ja) 運動デバイス制御回路及びその制御方法、調整方法並びに運動デバイス制御装置
JP2016090978A (ja) 撮影装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees