SU864942A1 - Dispersion Interferometer - Google Patents
Dispersion Interferometer Download PDFInfo
- Publication number
- SU864942A1 SU864942A1 SU2916827A SU2916827A SU864942A1 SU 864942 A1 SU864942 A1 SU 864942A1 SU 2916827 A SU2916827 A SU 2916827A SU 2916827 A SU2916827 A SU 2916827A SU 864942 A1 SU864942 A1 SU 864942A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- interferometer
- frequency
- radiation
- recording material
- under study
- Prior art date
Links
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
1one
Изобретение относитс к устройствам дл измерени показател преломлени фазовых объектов дл излучений с двум частотами и может быть использовано как в оптической промышленности, так и при диагностике плазмы.The invention relates to devices for measuring the refractive index of phase objects for radiation with two frequencies and can be used both in the optical industry and in plasma diagnostics.
Известен интерферометр 1, в котором с помощью излучени с двум частотами получают две разделенные в пространстве интерферограммы, соответствующие каждой из имеющихс в излучении частот.An interferometer 1 is known in which, using radiation with two frequencies, two space-separated interferograms are obtained, corresponding to each of the frequencies present in the radiation.
Недостатком его вл етс мала точность измерений.The disadvantage of it is the low measurement accuracy.
Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату вл етс дисперсионный интерферометр 2, содержащий нелинейный оптический удвоитель частоты .The closest in technical essence and the achieved result is a dispersion interferometer 2 containing a non-linear optical frequency doubler.
Указанный интерферометр дает недостаточный контраст интерференционной картины и требует высокую разрещающую способность и широкий диапазон регистрирующего материала.The specified interferometer provides insufficient contrast of the interference pattern and requires high resolution and a wide range of recording material.
Целью изобретени вл етс увеличение контраста интерференционных полос и снижение требований к разрешающей способности и диапазону спектральной чувствительности регистрирующего материала.The aim of the invention is to increase the contrast of the interference fringes and reduce the requirements for the resolution and spectral sensitivity range of the recording material.
Цель достигаетс тем, что дисперсионный интерферометр, содержащий нелинейный оптический удвоитель частоты, дополнительно содержит по ходу оптического луча второй нелинейный оптический удвоитель частоты, расположенный на одной оптической оси с первым на рассто нии, обеспечивающем размещение между ними исследуемого объекта.The goal is achieved by the fact that the dispersion interferometer, containing a nonlinear optical frequency doubler, additionally contains along the optical beam a second nonlinear optical frequency doubler located on the same optical axis with the first at a distance ensuring the placement of the object under study.
Возможен вариант выполнени интерферометра , согласно которому после первого нелинейного объекта на рассто нии, обеспечивающем размещение исследуемого объекта перпендикул рно оптической оси, расположено плоское зеркало.An embodiment of the interferometer is possible, according to which, after the first nonlinear object, a flat mirror is located at a distance ensuring the placement of the object under study perpendicular to the optical axis.
На фиг. 1 - изображено предлагаемоеFIG. 1 shows the proposed
15 :устройство, схема дисперсионного интерферометра с двум нелинейными оптическими удвоител ми частоты (элементами); на фиг. 2 - схема с одним нелинейным элементом и зеркалом.15: device, dispersion interferometer circuit with two nonlinear optical frequency doublers (elements); in fig. 2 - scheme with one non-linear element and a mirror.
20 Схема интерферометра включает в себ первый нелинейный элемент 1, после которого размещен исследуемый объект 2, второй нелинейный элемент 3, светофильтр 4, объектив 5 и регистрирующий материал 6.20 The interferometer circuit includes the first nonlinear element 1, after which the object under study 2 is placed, the second nonlinear element 3, the light filter 4, the objective 5 and the recording material 6.
25 Во втором варианте за исследуемым объектом 2 установлено зеркало 7, полупрозрачное зеркало 8, светофильтр 9, объектив 5 и регистрирующий материал 6.25 In the second variant, a mirror 7, a translucent mirror 8, a light filter 9, an objective lens 5 and a recording material 6 are installed behind the object under study 2.
Работа устройства по первому вариантуThe operation of the device in the first embodiment
30 осуществл етс следующим образом.30 is carried out as follows.
При освещении интерферометра лазерным излучением с частотой «i часть этого излучени преобразуетс в излучение гармоники с частотой «2 в нервом нелинейном элементе 1. Таким образом, исследуемый объект просвечиваетс двум длинами волн Я| и 2 с частотами coi и 002- При прохождении через второй нелинейный элемент частота СО частично преобразуетс в длинуWhen the interferometer is illuminated with laser radiation with a frequency of "i, part of this radiation is converted into harmonic radiation with a frequency of" 2 in the nerve of the nonlinear element 1. Thus, the object under study is transmitted through two wavelengths I | and 2 with frequencies coi and 002- When passing through the second nonlinear element, the frequency of CO is partially converted to length
волны Я с частотой Ш2. Светофильтр 4 обрезает излучение основной частоты. В результате на выходе интерферометра остаютс две длины волны 2 и . излучени waves I with a frequency of W2. The light filter 4 cuts off the fundamental frequency radiation. As a result, two wavelengths 2 and 2 remain at the output of the interferometer. radiation
гармоники, одна из которых (Х) преобразована из (01 до прохождени через объект,harmonics, one of which (X) is transformed from (01 to passing through an object,
а втора (:Я ) после прохождени черезand the second (: I) after passing through
него. Картина интерференции этих двух волн регистрируетс в плоскости изображени объекта 6, образованного объективом 5, , л. :- him The interference pattern of these two waves is recorded in the image plane of object 6 formed by lens 5,, l. On
Согласно второму варианту лазерное излученкСё с частотой шь освещающее интерферометр , частично преобразуетс в излучение с частотой 02 2й)1 при первом прохождении через удвоитель частоты 1. Объект просвечиваетс двум волнами 1, и Лг с частотами coi и Ш2, однако кажда из этих волн в результате отражени от зеркала 7 дважды проходит через исследуемый объект и удвоитель частоты. При вторичном прохождении через удвоитель частоты волна KI с частотой coi преобразуетс According to the second variant, the laser radiation with a frequency of an illuminating interferometer is partially converted into radiation with a frequency of 02 2) 1 when it first passes through frequency doubler 1. The object is transmitted through two waves 1, and LG with frequencies coi and W2, however each of these waves results reflection from the mirror 7 passes through the object under study and the frequency doubler twice. When the second pass through the frequency doubler, the KI wave with the frequency coi transforms
вволну Я с частотой й32. После отражени Into I am with the frequency d32. After reflection
от полупрозрачного зеркала 8 излучение основной частоты срезаетс светофильтром 9. В плоскости изображени объекта, образованного объективом 5, регистрируетс . картина интерференции волн 2 и К .from the translucent mirror 8, the emission of the fundamental frequency is cut off by the light filter 9. In the image plane of the object formed by the lens 5, is recorded. interference pattern of waves 2 and K.
Рассматриваемый интерферометр нозвол ет обеспечить высокий контраст интерференционной картины, существенно снизить требовани к ширине спектрального дианазона регистрирующего фотоматериала и упростить процесс регистрации.The considered interferometer makes it possible to provide a high contrast of the interference pattern, to significantly reduce the spectral width of the spectral recording material of the recording material and simplify the registration process.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU2916827A SU864942A1 (en) | 1980-04-29 | 1980-04-29 | Dispersion Interferometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU2916827A SU864942A1 (en) | 1980-04-29 | 1980-04-29 | Dispersion Interferometer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU864942A1 true SU864942A1 (en) | 1981-09-15 |
Family
ID=48230512
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU2916827A SU864942A1 (en) | 1980-04-29 | 1980-04-29 | Dispersion Interferometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU864942A1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1994015195A1 (en) * | 1992-12-25 | 1994-07-07 | Vladimir Prokopievich Drachev | Dispersion interferometer |
RU2805002C1 (en) * | 2023-02-21 | 2023-10-10 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки, Институт Ядерной Физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения (ИЯФ СО РАН) | Optical system of dispersive interferometer |
-
1980
- 1980-04-29 SU SU2916827A patent/SU864942A1/en active
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1994015195A1 (en) * | 1992-12-25 | 1994-07-07 | Vladimir Prokopievich Drachev | Dispersion interferometer |
US5642195A (en) * | 1992-12-25 | 1997-06-24 | Drachev; Vladimir Prokopievich | Dispersion interferometer using orthogonally polarized waves |
RU2805002C1 (en) * | 2023-02-21 | 2023-10-10 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки, Институт Ядерной Физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения (ИЯФ СО РАН) | Optical system of dispersive interferometer |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS6036003B2 (en) | Inspection method for the surface to be inspected | |
US6204926B1 (en) | Methods and system for optically correlating ultrashort optical waveforms | |
SU864942A1 (en) | Dispersion Interferometer | |
SU1370456A1 (en) | Method of fixing position of object outlines | |
US20050169599A1 (en) | Multi-layered structure characterisation | |
SU1383128A1 (en) | Method of determining position of focal plane of optical systems | |
JPH07113583B2 (en) | Wide wavelength simultaneous measurement spectrometer using Fabry-Perot interferometer | |
RU1824594C (en) | Device for optical spectral analysis of two-dimensional signals | |
JPS63218827A (en) | Light spectrum detector | |
SU1099303A1 (en) | Interferention filter | |
SU1578553A1 (en) | Method of measuring focal distance of lens | |
SU408145A1 (en) | DESCRIPTION OF THE INVENTION | |
SU1024746A1 (en) | Wave front interferential pickup | |
SU1128111A1 (en) | Interferention device for checking surface relief | |
RU2061250C1 (en) | Acoustic-optical device for detection of frequency of radio signal | |
SU780699A1 (en) | Coherent optical spectrum analyzer | |
SU1096496A1 (en) | Interferention method of measuring linear displacements | |
SU811072A1 (en) | Vibration measuring apparatus | |
SU1656317A1 (en) | Device for phase object studies | |
SU1763884A1 (en) | Method for thickness measuring of optically transparent objects | |
SU994966A1 (en) | Phase object interprogram producing method | |
SU1000818A1 (en) | Method of lens quality control, including illumination of tested lens | |
SU1629870A1 (en) | Optical analyzer of low spatial frequencies | |
SU624157A1 (en) | Method of determining velocity of propagation of surface acoustic waves | |
JPH0658293B2 (en) | Method and apparatus for measuring wavelength dispersion of optical fiber |