SU864942A1 - Dispersion Interferometer - Google Patents

Dispersion Interferometer Download PDF

Info

Publication number
SU864942A1
SU864942A1 SU2916827A SU2916827A SU864942A1 SU 864942 A1 SU864942 A1 SU 864942A1 SU 2916827 A SU2916827 A SU 2916827A SU 2916827 A SU2916827 A SU 2916827A SU 864942 A1 SU864942 A1 SU 864942A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
interferometer
frequency
radiation
recording material
under study
Prior art date
Application number
SU2916827A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Галя Всеволодовна Островская
Хорхе Пастор Алум
Юрий Валентинович Ковальчук
Original Assignee
Ордена Ленина Физико-Технический Институт Им. А.Ф.Иоффе
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ордена Ленина Физико-Технический Институт Им. А.Ф.Иоффе filed Critical Ордена Ленина Физико-Технический Институт Им. А.Ф.Иоффе
Priority to SU2916827A priority Critical patent/SU864942A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU864942A1 publication Critical patent/SU864942A1/en

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

1one

Изобретение относитс  к устройствам дл  измерени  показател  преломлени  фазовых объектов дл  излучений с двум  частотами и может быть использовано как в оптической промышленности, так и при диагностике плазмы.The invention relates to devices for measuring the refractive index of phase objects for radiation with two frequencies and can be used both in the optical industry and in plasma diagnostics.

Известен интерферометр 1, в котором с помощью излучени  с двум  частотами получают две разделенные в пространстве интерферограммы, соответствующие каждой из имеющихс  в излучении частот.An interferometer 1 is known in which, using radiation with two frequencies, two space-separated interferograms are obtained, corresponding to each of the frequencies present in the radiation.

Недостатком его  вл етс  мала  точность измерений.The disadvantage of it is the low measurement accuracy.

Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату  вл етс  дисперсионный интерферометр 2, содержащий нелинейный оптический удвоитель частоты .The closest in technical essence and the achieved result is a dispersion interferometer 2 containing a non-linear optical frequency doubler.

Указанный интерферометр дает недостаточный контраст интерференционной картины и требует высокую разрещающую способность и широкий диапазон регистрирующего материала.The specified interferometer provides insufficient contrast of the interference pattern and requires high resolution and a wide range of recording material.

Целью изобретени   вл етс  увеличение контраста интерференционных полос и снижение требований к разрешающей способности и диапазону спектральной чувствительности регистрирующего материала.The aim of the invention is to increase the contrast of the interference fringes and reduce the requirements for the resolution and spectral sensitivity range of the recording material.

Цель достигаетс  тем, что дисперсионный интерферометр, содержащий нелинейный оптический удвоитель частоты, дополнительно содержит по ходу оптического луча второй нелинейный оптический удвоитель частоты, расположенный на одной оптической оси с первым на рассто нии, обеспечивающем размещение между ними исследуемого объекта.The goal is achieved by the fact that the dispersion interferometer, containing a nonlinear optical frequency doubler, additionally contains along the optical beam a second nonlinear optical frequency doubler located on the same optical axis with the first at a distance ensuring the placement of the object under study.

Возможен вариант выполнени  интерферометра , согласно которому после первого нелинейного объекта на рассто нии, обеспечивающем размещение исследуемого объекта перпендикул рно оптической оси, расположено плоское зеркало.An embodiment of the interferometer is possible, according to which, after the first nonlinear object, a flat mirror is located at a distance ensuring the placement of the object under study perpendicular to the optical axis.

На фиг. 1 - изображено предлагаемоеFIG. 1 shows the proposed

15 :устройство, схема дисперсионного интерферометра с двум  нелинейными оптическими удвоител ми частоты (элементами); на фиг. 2 - схема с одним нелинейным элементом и зеркалом.15: device, dispersion interferometer circuit with two nonlinear optical frequency doublers (elements); in fig. 2 - scheme with one non-linear element and a mirror.

20 Схема интерферометра включает в себ  первый нелинейный элемент 1, после которого размещен исследуемый объект 2, второй нелинейный элемент 3, светофильтр 4, объектив 5 и регистрирующий материал 6.20 The interferometer circuit includes the first nonlinear element 1, after which the object under study 2 is placed, the second nonlinear element 3, the light filter 4, the objective 5 and the recording material 6.

25 Во втором варианте за исследуемым объектом 2 установлено зеркало 7, полупрозрачное зеркало 8, светофильтр 9, объектив 5 и регистрирующий материал 6.25 In the second variant, a mirror 7, a translucent mirror 8, a light filter 9, an objective lens 5 and a recording material 6 are installed behind the object under study 2.

Работа устройства по первому вариантуThe operation of the device in the first embodiment

30 осуществл етс  следующим образом.30 is carried out as follows.

При освещении интерферометра лазерным излучением с частотой «i часть этого излучени  преобразуетс  в излучение гармоники с частотой «2 в нервом нелинейном элементе 1. Таким образом, исследуемый объект просвечиваетс  двум  длинами волн Я| и 2 с частотами coi и 002- При прохождении через второй нелинейный элемент частота СО частично преобразуетс  в длинуWhen the interferometer is illuminated with laser radiation with a frequency of "i, part of this radiation is converted into harmonic radiation with a frequency of" 2 in the nerve of the nonlinear element 1. Thus, the object under study is transmitted through two wavelengths I | and 2 with frequencies coi and 002- When passing through the second nonlinear element, the frequency of CO is partially converted to length

волны Я с частотой Ш2. Светофильтр 4 обрезает излучение основной частоты. В результате на выходе интерферометра остаютс  две длины волны 2 и . излучени waves I with a frequency of W2. The light filter 4 cuts off the fundamental frequency radiation. As a result, two wavelengths 2 and 2 remain at the output of the interferometer. radiation

гармоники, одна из которых (Х) преобразована из (01 до прохождени  через объект,harmonics, one of which (X) is transformed from (01 to passing through an object,

а втора  (:Я ) после прохождени  черезand the second (: I) after passing through

него. Картина интерференции этих двух волн регистрируетс  в плоскости изображени  объекта 6, образованного объективом 5, , л. :- him The interference pattern of these two waves is recorded in the image plane of object 6 formed by lens 5,, l. On

Согласно второму варианту лазерное излученкСё с частотой шь освещающее интерферометр , частично преобразуетс  в излучение с частотой 02 2й)1 при первом прохождении через удвоитель частоты 1. Объект просвечиваетс  двум  волнами 1, и Лг с частотами coi и Ш2, однако кажда  из этих волн в результате отражени  от зеркала 7 дважды проходит через исследуемый объект и удвоитель частоты. При вторичном прохождении через удвоитель частоты волна KI с частотой coi преобразуетс   According to the second variant, the laser radiation with a frequency of an illuminating interferometer is partially converted into radiation with a frequency of 02 2) 1 when it first passes through frequency doubler 1. The object is transmitted through two waves 1, and LG with frequencies coi and W2, however each of these waves results reflection from the mirror 7 passes through the object under study and the frequency doubler twice. When the second pass through the frequency doubler, the KI wave with the frequency coi transforms

вволну Я с частотой й32. После отражени Into I am with the frequency d32. After reflection

от полупрозрачного зеркала 8 излучение основной частоты срезаетс  светофильтром 9. В плоскости изображени  объекта, образованного объективом 5, регистрируетс . картина интерференции волн 2 и К .from the translucent mirror 8, the emission of the fundamental frequency is cut off by the light filter 9. In the image plane of the object formed by the lens 5, is recorded. interference pattern of waves 2 and K.

Рассматриваемый интерферометр нозвол ет обеспечить высокий контраст интерференционной картины, существенно снизить требовани  к ширине спектрального дианазона регистрирующего фотоматериала и упростить процесс регистрации.The considered interferometer makes it possible to provide a high contrast of the interference pattern, to significantly reduce the spectral width of the spectral recording material of the recording material and simplify the registration process.

Claims (2)

1. Альфер Г. и др. «Оптическа  интерферометри  в кн. «Диагностика плазмы. Мир, М., 1967, с. 357.1. Alfer G. and others. “Optical interferometry in the book. “Diagnosis of plasma. World, M., 1967, p. 357. 2. Островска  Г. В. и др. Голографический метод изучени  диснерсионных свойств фазовых объектов, ЖТФ, 1970, 40, с. 2419.2. Ostrovska GV and others. The holographic method of studying the disnersion properties of phase objects, ZhTF, 1970, 40, p. 2419. Ог Og иand /«7.2/ En7.2
SU2916827A 1980-04-29 1980-04-29 Dispersion Interferometer SU864942A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2916827A SU864942A1 (en) 1980-04-29 1980-04-29 Dispersion Interferometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2916827A SU864942A1 (en) 1980-04-29 1980-04-29 Dispersion Interferometer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU864942A1 true SU864942A1 (en) 1981-09-15

Family

ID=48230512

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU2916827A SU864942A1 (en) 1980-04-29 1980-04-29 Dispersion Interferometer

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU864942A1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1994015195A1 (en) * 1992-12-25 1994-07-07 Vladimir Prokopievich Drachev Dispersion interferometer
RU2805002C1 (en) * 2023-02-21 2023-10-10 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки, Институт Ядерной Физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения (ИЯФ СО РАН) Optical system of dispersive interferometer

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1994015195A1 (en) * 1992-12-25 1994-07-07 Vladimir Prokopievich Drachev Dispersion interferometer
US5642195A (en) * 1992-12-25 1997-06-24 Drachev; Vladimir Prokopievich Dispersion interferometer using orthogonally polarized waves
RU2805002C1 (en) * 2023-02-21 2023-10-10 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки, Институт Ядерной Физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения (ИЯФ СО РАН) Optical system of dispersive interferometer

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6036003B2 (en) Inspection method for the surface to be inspected
US6204926B1 (en) Methods and system for optically correlating ultrashort optical waveforms
SU864942A1 (en) Dispersion Interferometer
SU1370456A1 (en) Method of fixing position of object outlines
US20050169599A1 (en) Multi-layered structure characterisation
SU1383128A1 (en) Method of determining position of focal plane of optical systems
JPH07113583B2 (en) Wide wavelength simultaneous measurement spectrometer using Fabry-Perot interferometer
RU1824594C (en) Device for optical spectral analysis of two-dimensional signals
JPS63218827A (en) Light spectrum detector
SU1099303A1 (en) Interferention filter
SU1578553A1 (en) Method of measuring focal distance of lens
SU408145A1 (en) DESCRIPTION OF THE INVENTION
SU1024746A1 (en) Wave front interferential pickup
SU1128111A1 (en) Interferention device for checking surface relief
RU2061250C1 (en) Acoustic-optical device for detection of frequency of radio signal
SU780699A1 (en) Coherent optical spectrum analyzer
SU1096496A1 (en) Interferention method of measuring linear displacements
SU811072A1 (en) Vibration measuring apparatus
SU1656317A1 (en) Device for phase object studies
SU1763884A1 (en) Method for thickness measuring of optically transparent objects
SU994966A1 (en) Phase object interprogram producing method
SU1000818A1 (en) Method of lens quality control, including illumination of tested lens
SU1629870A1 (en) Optical analyzer of low spatial frequencies
SU624157A1 (en) Method of determining velocity of propagation of surface acoustic waves
JPH0658293B2 (en) Method and apparatus for measuring wavelength dispersion of optical fiber