SU815474A1 - Method of measuring non-conductive coating thickness - Google Patents

Method of measuring non-conductive coating thickness Download PDF

Info

Publication number
SU815474A1
SU815474A1 SU792739140A SU2739140A SU815474A1 SU 815474 A1 SU815474 A1 SU 815474A1 SU 792739140 A SU792739140 A SU 792739140A SU 2739140 A SU2739140 A SU 2739140A SU 815474 A1 SU815474 A1 SU 815474A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
value
attenuators
control circuit
base
thickness
Prior art date
Application number
SU792739140A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Виктор Григорьевич Брандорф
Владимир Леонидович Котляров
Original Assignee
Львовский Ордена Ленина Политехническийинститут
Львовский Лесотехнический Институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Львовский Ордена Ленина Политехническийинститут, Львовский Лесотехнический Институт filed Critical Львовский Ордена Ленина Политехническийинститут
Priority to SU792739140A priority Critical patent/SU815474A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU815474A1 publication Critical patent/SU815474A1/en

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Description

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения толщины непроводящих покрытий на проводящих неферромагнитных основаниях.The invention relates to non-destructive testing and can be used to measure the thickness of non-conductive coatings on conductive non-ferromagnetic bases.

Известен оптический способ измерения толщины покрытий[1 ].A known optical method for measuring the thickness of the coatings [1].

Однако несмотря на высокую точность, этот способ непригоден для измерения толщины непрозрачных покрытий.However, despite the high accuracy, this method is unsuitable for measuring the thickness of opaque coatings.

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является способ измерения толщины непроводящего покрытия на проводящем неферромагнитном основании, заключающийся в том, что накладывают на контролируемое изделие со стороны непроводящего покрытия вихретоковый накладной преобразователь и измеряют величину ЭДС, наводимую в его измерительной катушке [2].Closest to the proposed technical essence is a method for measuring the thickness of a non-conductive coating on a conductive non-ferromagnetic base, which consists in applying an eddy current transducer to the controlled product from the side of the non-conductive coating and measuring the magnitude of the emf induced in its measuring coil [2].

Недостатком этого способа является сравнительно невысокая точность измерений, вызванная влиянием электропроводности и толщины основания, погрешностями измерения ЭДС.The disadvantage of this method is the relatively low measurement accuracy caused by the influence of electrical conductivity and thickness of the base, the measurement errors of the EMF.

Цель изобретения - повышение точности измерений.The purpose of the invention is improving the accuracy of measurements.

Поставленная цель достигается тем, что устанавливают на фиксированном расстоянии соосно с первым второй g накладной вихретоковый преобразователь, возбуждают с его помощью противофазное первому электромагнитное поле, изменяют отношение ампервитков преобразователей, регистрируют Iθ значение этого отношения в момент равенства нулю вихревых токов в основании и по нему судят о толщине покрытия..The goal is achieved by installing a eddy-current transducer at a fixed distance coaxial with the first second g of the consignment note, using it to induce an antiphase first electromagnetic field, changing the ratio of the ampere-turns of the transducers, recording the Iθ value of this ratio at the moment the eddy currents are zero in the base and judging by it about the thickness of the coating ..

На чертеже приведен один из возможных примеров конкретной реализации 15 способа.The drawing shows one of the possible examples of a specific implementation 15 of the method.

На контролируемое изделие с основанием 1 и покрытием'2 наложены два идентичных жестко связанных . коаксиальных вихретоковых преобра20 зователя 3 и 4, катушки которых Wy, W2, - измерительные, , Wj, Wj компенсационные. Пары катушек W4h Μ./ w2 и w2 соединены последовательно - согласно, W3 и - последовательно-встречно. Катушки , W/и W2r включены на выхода двух идентичных источников 5 и 6 тока, выходные сопротивления которых много больше полных сопротивлений их нагрузок.Two identical rigidly bonded superimposed on the controlled product with base 1 and coating'2. coaxial eddy current transducers 3 and 4, the coils of which Wy, W 2 , are measuring,, Wj, Wj compensating. The pairs of coils W 4 h Μ. / W 2 and w 2 are connected in series - according to W 3 and - in series. Coils, W / and W 2r are connected to the outputs of two identical current sources 5 and 6, the output resistances of which are much higher than the total resistances of their loads.

Входа источников 5 и 6 тока через управляемые резистивные аттенюаторы 7 и 8 соединены с выходом генератора синусоидального напряжения, который соединен также со входом схемы управления. Выходы схемы 10 управления соединены со входами управления аттенюаторов 7 и 8. Выходы катушек и Wj включены на вход нуль-органа 11, выход которого соединен со схемой 10 управления, которая имеет также вход 12 начальная установка.The input of current sources 5 and 6 through controlled resistive attenuators 7 and 8 are connected to the output of the sinusoidal voltage generator, which is also connected to the input of the control circuit. The outputs of the control circuit 10 are connected to the control inputs of the attenuators 7 and 8. The outputs of the coils and Wj are connected to the input of the zero-organ 11, the output of which is connected to the control circuit 10, which also has an initial setup input 12.

Способ измерения толщины покрытия осуществляется следующим образом.The method of measuring the thickness of the coating is as follows.

В начальный момент на вход 12 схемы 10 управления подают импульс, и '5 аттенюаторы 7 и 8 устанавливаются в начальное положение, при котором, например, аттенюатор 8 не ослабляет сигнал генератора 9, а аттенюатор 7 ослабляет сигналтенератора 9 до нуля. 20 В этом случае ток i4«>. i2waKC и % =0, ,At the initial moment, an impulse is applied to the input 12 of the control circuit 10, and the '5 attenuators 7 and 8 are set to the initial position in which, for example, the attenuator 8 does not attenuate the signal of the generator 9, and the attenuator 7 attenuates the signal of the generator 9 to zero. 20 In this case, the current i 4 ">. i 2waKC and% = 0 ,,

т.е,. отношение чисел ампервитков р® «0. Вследствие близости проводадего основания 1 к катушкам , Wg , разность ЭДС Δ6 катушек W3 J5 и νζ не равна нулю, на выходе нульоргана 11 отсутствует сигнал, и на выходах схемы 10 управления появляются управляющие сигналы, в результате чего величины ослабления аттенюато- oq ров 7 и 8 начинают изменяться: у аттенюатора 8 - возрастать, у аттенюатора 7 - уменьшаться. Возникает ток ig., амплитуда которого возрастает, а амплитуда тока ί2 уменьшается. Это приводит к монотонному увеличению 3 значения ампервитков ц Wr и монотонному уменьшению вихревых токов в основании 1) при этом величина разнос-, ти ЭДС монотонно уменьшается, в момент, когда достигнуто состояние, . 40 при котором д-е=0, срабатывает нульорган 11, на его выходе появляется сигнал стоп, воздействующий на схему 10 управления, что приводит к фиксации положения аттенюаторов 7 и 8. 45those,. the ratio of the number of ampere turns p® «0. Due to the proximity of the wire of base 1 to the coils, Wg, the difference in the EMF Δ6 of the coils W 3 J5 and νζ is not equal to zero, there is no signal at the output of the nullorgan 11, and control signals appear at the outputs of the control circuit 10, as a result of which attenuation attenuation and 8 begin to change: for attenuator 8, increase; for attenuator 7, decrease. A current ig. Appears, the amplitude of which increases, and the amplitude of current тока 2 decreases. This leads to a monotonic increase in the 3 values of the ampere-flows q W r and a monotonic decrease in the eddy currents at the base 1) in this case, the magnitude of the difference in the EMF decreases monotonically at the moment the state is reached,. 40 at which d-e = 0, the nullorgan 11 is triggered, a stop signal appears at its output, which acts on the control circuit 10, which leads to fixing the position of the attenuators 7 and 8. 45

В этом положении определяют значение ампервитков р=ро и по нему судят о величине измеряемой толщины покрытия 2.In this position, the value of the ampere-turns p = p o is determined and it is used to judge the value of the measured coating thickness 2.

Применение предлагаемого способа позволяет повысить точность измерений, так как результат измерения не зависит от изменения напряжения генератора 9, величина р может быть задана, а следовательно, и зарегистрирована с малой погрешностью, отсутствуют операции измерения вносимой ЭДС или вносимых сопротивлений и связанные с ними погрешности; результат измерения мало зависит от значения электропроводности основания.The application of the proposed method allows to increase the accuracy of measurements, since the measurement result does not depend on the change in the voltage of the generator 9, the p value can be set, and therefore recorded with a small error, there are no operations for measuring the introduced EMF or introduced resistances and the associated errors; the measurement result is little dependent on the value of the conductivity of the base.

Claims (2)

(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ НЕПРОВОДЯЩЕГО ПОКРЫТИЯ управл емые резистивные аттенюаторы 7 и 8 соединены с выходом генератора 9синус сидального напр жени , который соединен также со входом схемы 10упраелени . Выходы схемы 10 управлени  соединены со входами управлени  аттенюаторов 7 и 8. Выходы У и Wj включены на вход нуль-органа 11, выход которого соединен со схемой 10 управлени , котора  имеет также вход 12 начальна  установка. Способ иэн ерени  толщины покрыти  осуществл етс  следук цим образом. В начальный момент на вход 12 схе мы 10 управлени  подают импульс, и аттенюаторы 7 и 8 устанавливаютс  в начальное положение, при котором, например, аттенюатор 8 не ослабл ет си.гнал генератора 9, а аттенюатор 7 ослабл ет сигналгеиерачора 9 до нул  В этом случае ток «гмакс и i 0, т.е., отношение чисел ампервитков Р 2 «О. Вследствие близости про вод щего основани  1 к катушкам W , 2, W разность ЭДС де катушек Wj и W iie равна нулю, на выходе нульоргана 11 отсутствует сигнал, и на выходах схемы 10 управлени  по вл ют с  управл ющие сигаогал, в результате чего величищ  ослаблени  аттенюаторов 7 и S начинают измен тьс -: у аттебНйатора 8 - возрастать, у аттенюатора 7 - уменьшатьс . Возникает ток Jg, амплитуда которого возрастает, а амплитуда тока Jg уменьшаетс . Это приводит к Монотонному увеличению значени  ампервитков ц и монотон му уменьшению вихревых токов в основании Ij при этом величина разно ти ЭДС монотонно уменьшаетс , в момент , когда достигнуто состо ние, при котором , срабатывает нул орган 11, на его выходе по вл етс  сигнал стоп, воздействующий на сх му 10 управлени , что приводит к фи сации положени  аттенюаторов 7 и 8. В этом положении определ ют значени ампервитков и по нему суд т о величине измер емой толщины покрыти  2. Применение предлагаемого способа позвол ет повысить точность измерений , так как результат измерени  не зависит от изменени  напр жени  генератора 9, величина р может быть задана, а следовательно, и зарегистрирована с малой погрешностью, отсутствуют операции измерени  вносимой ЭДС или вносимых сопротивлений и св занные-с ними погрешности; результат измерени  мало зависит от значени  электропроводности основани . Формула изобретени  Способ измерени  толщины непровод щего покрыти  на провод щем неферромагнитном основании, заключающийс  в том, что накладывают на контролируемое изделие со стороны непровод щего покрыти  вихретоковый нак-. ладной преобразователь и измер ют величину ЭДС, наводимую в его измерительной катушке, отличающийс   тем, что, с целью повышени  точности измерений, устанавливают на фиксированном рассто нии соосно с первым второй накладной вихретоковый преобразователь , возбуждают с его помощью противофазное первому электромагнитное поле, измен ют отношение ампервитков преобразователей, регистрируют значение этого отношени  в момент равенства нулю вихревых токов в основании и по нему суд т о толщине покрыти . Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Справочник Неразрушающие испытани . Под ред. Р. Мак-Мастера. М., энерги , 1965, ч.1, с. 195-216. (54) METHOD OF MEASURING THE NON-CONDUCTIVE COATING THICKNESS The controlled resistive attenuators 7 and 8 are connected to the output of the sine-voltage sine-generator 9, which is also connected to the input of the bi-directional circuit. The outputs of the control circuit 10 are connected to the control inputs of attenuators 7 and 8. The outputs V and Wj are connected to the input of a null organ 11, the output of which is connected to the control circuit 10, which also has an input 12 of the initial setting. The method of enrichment of the coating thickness is carried out in the following manner. At the initial moment at input 12 of the control circuit 10, a pulse is given, and attenuators 7 and 8 are set to the initial position, in which, for example, attenuator 8 does not attenuate the generator signal 9, and attenuator 7 attenuates the signal of signal georac 9 to zero. in the case of a current “gmax and i 0, i.e., the ratio of the numbers of ampervices P 2“ O. Due to the proximity of the conductor base 1 to the coils W, 2, W, the difference in the emf of de coils Wj and W iie is zero, the output of the null organ 11 does not have a signal, and at the outputs of the control circuit 10 they appear with control signals, resulting in attenuation of attenuators 7 and S start to change -: at attenuator 8 - to increase, at attenuator 7 - to decrease. A current Jg arises, the amplitude of which increases, and the amplitude of the current Jg decreases. This leads to a monotonous increase in the value of ampere tsi and a monotonous decrease in eddy currents at the base Ij; affecting the control circuit 10, which leads to the positioning of the attenuators 7 and 8. In this position, the values of the ampervits are determined and judged by the value of the measured thickness of the coating 2. The application of the proposed method improves the accuracy of Eren, since the measurement result is independent of the varying voltage generator 9, the value of p can be set, and hence incorporated with a small error, no operation or EMF measuring the introduced insertion resistances and associated with them-error; the measurement result depends little on the value of the electrical conductivity of the base. Claims of Invention A method for measuring the thickness of a non-conductive coating on a conductive non-ferromagnetic base, which consists in imposing an eddy current transducer on the side of the non-conductive coating. A good transducer and measure the value of the EMF induced in its measuring coil, characterized in that, in order to improve the measurement accuracy, they are set at a fixed distance coaxially with the first second consignment eddy current transducer, excite the antiphase first electromagnetic field with it, change Current transducers record the value of this ratio at the moment when the eddy currents are zero at the base, and the thickness of the coating is judged by it. Sources of information taken into account in the examination 1. Reference Book Non-destructive testing. Ed. R. Mac-Masters. M., energy, 1965, part 1, p. 195-216. 2.Справочник Приборы дл  неразрушающего контрол  материалов и изделий . Под ред. В.В. Клюева, М., Машиностроение, 1976, ч. и с.144 (прототип).2. Reference Devices for non-destructive testing of materials and products. Ed. V.V. Klyueva, M., Mashinostroenie, 1976, p. And p. 144 (prototype).
SU792739140A 1979-03-23 1979-03-23 Method of measuring non-conductive coating thickness SU815474A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792739140A SU815474A1 (en) 1979-03-23 1979-03-23 Method of measuring non-conductive coating thickness

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792739140A SU815474A1 (en) 1979-03-23 1979-03-23 Method of measuring non-conductive coating thickness

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU815474A1 true SU815474A1 (en) 1981-03-23

Family

ID=20816291

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792739140A SU815474A1 (en) 1979-03-23 1979-03-23 Method of measuring non-conductive coating thickness

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU815474A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4059798A (en) Method and apparatus for measuring the current flowing in a workpiece
US4982156A (en) Position transducer apparatus and associated circuitry including pulse energized primary winding and pair of waveform sampled secondary windings
JPS59148859A (en) Multi-coil type eddy current probe
GB2292222A (en) Electromagnetic induction type inspection device
GB1235646A (en) Impedance measuring device
SU815474A1 (en) Method of measuring non-conductive coating thickness
US3866117A (en) Method and means for measuring the phase angle between current and voltage
US3434048A (en) Eddy current apparatus for testing the hardness of a ferromagnetic material
US4933637A (en) Apparatus for detecting a magnetic field having an excitation current source unit, a detection unit and a current control source unit
SU746278A1 (en) Method and apparatus for non-destructive testing
SU1093962A1 (en) Method of checking eddy-current thickness gauges
RU2082076C1 (en) Method and device for displacement measurements
Hristoforou New position sensor based on the magnetostrictive delay line principle
SU1168879A1 (en) Device for measuring static magnetic parameters of ferromagnetic materials
Wey et al. High accuracy measurements on railguns
SU1068849A1 (en) Method and device for measuring magnetic induction in sheet steel
SU1193611A1 (en) Apparatus for measuring magnetic field strength
RU2012009C1 (en) Method of measuring parameters of continuous cylindrical electroconducting objects
Polis et al. Parameter identification for the beam equation using Galerkin's criterion
SU1436056A1 (en) Three-parameter eddy-current method of inspection of two-layer articles with dielectric and conductive layers
SU637659A1 (en) Pass-through eddy-current transducer
SU1195314A1 (en) Method of magneto-electric current meter calibration testing
SU947740A1 (en) Device for non-detructive checking of point welded joints of ferromagnetic material
SU742838A1 (en) Device for measuring magnetic flux non-uniformity
SU794449A1 (en) Structurescope