SU753339A1 - Устройство дл измерени длительностии зАР дА СгуСТКОВ зАР жЕННыХ чАСТиц - Google Patents
Устройство дл измерени длительностии зАР дА СгуСТКОВ зАР жЕННыХ чАСТиц Download PDFInfo
- Publication number
- SU753339A1 SU753339A1 SU792721597A SU2721597A SU753339A1 SU 753339 A1 SU753339 A1 SU 753339A1 SU 792721597 A SU792721597 A SU 792721597A SU 2721597 A SU2721597 A SU 2721597A SU 753339 A1 SU753339 A1 SU 753339A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- coaxial
- light
- charge
- crystal
- optical
- Prior art date
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 21
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 14
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 5
- 230000036039 immunity Effects 0.000 claims description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 2
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 claims description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 4
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 4
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005697 Pockels effect Effects 0.000 description 2
- LFVGISIMTYGQHF-UHFFFAOYSA-N ammonium dihydrogen phosphate Chemical compound [NH4+].OP(O)([O-])=O LFVGISIMTYGQHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000387 ammonium dihydrogen phosphate Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000005466 cherenkov radiation Effects 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- 235000019837 monoammonium phosphate Nutrition 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 2
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000001803 electron scattering Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 239000005350 fused silica glass Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 229910000402 monopotassium phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000019796 monopotassium phosphate Nutrition 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- PJNZPQUBCPKICU-UHFFFAOYSA-N phosphoric acid;potassium Chemical compound [K].OP(O)(O)=O PJNZPQUBCPKICU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
Изобретение относитс к ускорительной технике и может быть использовано дл измерени длительности и зар дасгустков ускоренных электронов . Известно устройство дл измерени параметров сгустков зар женных части с пикосекундным разрешением, содержа щее черенковский излучатель, оптическую систему, фотоэлектронный умно житель и стробоскопический осциллограф fl. Сгусток электронов в таком устройстве испускает черенковское из лучение, проход через 10-см чейку, заполненную ксеноном при атмосферном давлении. Счет из чейки через толстое окно из плавленного кварца с бираетс при помощи плоского зеркала и передаетс по оптической системе к фотоэлектронному умножи.телю.Сигнал от ФЭУ из экспериментального помеще .ни передаетс по кабелю с пенополистироловой изол цией на широкополосный стробоскопический осциллограф Такое устройство вл етс полупрозрачным дл проход щего через черенковский излучатель электронного пучка . Част.ь пучка тер етс из-за рассе ни электронов на фольгах переднего и заднего разделительных окон, черенковской чейки и на ксеноне, который находитс .в чейке при атмосферном давлении. Кроме потерь электронов, установка черенковской чейки вносит существенную расходимость в выход щий из ускорител электронный пучок. Рассе ние электронов в чейке приводит к тому, что черенковское излучение в таком устройстве испускаетс не в узком конусе, а в различных направлени х, что приводит к уменьшению интенсивности света и к трудност м его передачи в оптической системе. Наиболее близким к предлагаемому вл етс устройство дл измерени параметров пучков зар женных частиц, содержащее кюветы с веществом, чувствительным к электромагнитному полю, источник света оптической системы и регистрирующую аппаратуру 2. В таком устройстве пучок зар женных частиц возбуждает электромагнитное поле, пролета вблизи кюветы, под действием которого измен етс оптическа плостность жидкого вещества в кюветах. Недостатком такого устройства вл етс конструктивна .сложность установки кюветы в пролётную трубку ускорител , что приводит к малой помехоустойчивости устройства и увеличивает габариты устройства. Использование жидкости в качестве оптического элемента приводит к малой чувствительности и значительной инерционности устрой ства в целом. .Цель изобретени - повышение чувствительности,, точности и помехоустойчивости . Это достигаетс тем, что в известном устройстве, содержащем преобразователь , чувствительный к электромагнитному излучению пучка, выход щего из ускорител , источника светового излучени и системы регистрации включающей пол ризаторы светового излучени и элементы его транспорти ровки, преобразователь выполнен в виде коаксиала, нагруженного у вход на емкость, на выходе - на согласованную поглощающую нагрузку, и распо ложенного так, что его внутренний проводник соосен с траекторией движе ни сгустков и имеет пролетный канал а оптический элемент выполнен в виде кристалла, не имеющего центра симмет рии, расположенного в полости коакси a.. аа траектории светового излученкл так, что его оптическа , ось параллельна этой траектории и перпенди кул рна оси коаксиала. Схема устройства дл измерени формы .и интенсивности сгустков зар женных частиц пикосекундной длительности показана на чертеже. К выходу ускорител 1 подсоедине преобразователь 2, который представл ет собой полый коаксиал, на входе которого имеетс емкостной зазор 3, Е котором есть отверстие дл пролета уск.орекных сгустков электронов из ускорител в пролетную трубку 4. На выходе коаксиала имеетс согласованна поглощающа нагрузка 5 из абсорбиругацей твердой высокочастотной керамики, например альскфер В полость коаксиала помещен кристалл б дигидрофосфата аммони АДР + + . Полости коакскала в местах контакта с кристаллом имеют отверсти дл прохождени светового излучени от лазера 7. Дл передачи оптических сигналов после кристалла служат зеркала 8, а измен ть плоскость пол ризации света можно с помощью призматических пол ризаторов никелей 9. Световое излучение регистрируетс с помощью электроннооптического преобразовател 10 и фотохронографа 11. Устройство работает следующим образом. После выхода из ускорител 1 сгусток электронов попадает в пролетную трубку 4. Сгусток электронов при ;)нергии 10-20 МэВ- вл етс рел тивистким и электромагнитные пол , св занные с ним, движутс в направлении движени пучка. Когда сгусток пересекает емкостной зазор 3 полого коаксиала 2 электромагнитные пол , св занные с сгустком, расшир ютс и передаютс по коаксиальной линии в направлении пучка со скоростью света. Результирующа электромагнитна волна типа ТЕМ, пройд коаксиал поглощаетс в согласованной нагрузке 5. Проход вдоль коаксиала электромагнитна волна возбу дает в кристалле продольное электрическое поле, параллельное оптический оси кристалла , и кристалл становитс двулуче-. преломл ющим. Вдоль оптической оси кристалла непрерывно пропускаетс свет, который после кристалла б зеркалами 8 направл етс в систему регистрации . В момент прохождени электронного сгустка через емкостной зазор коаксиала происходит поворот плоскости пол ризации .проход щего через кристалл светового излучени , Известно, что кристаллы дигидрофосфата кали и дигидрофосфата аммони , которые не имеют центра симметрии, при отсутствии электрического пол обладают свойствами одноосной анизотропной среды и свет распростран етс вдоль оптической оси таких кристаллов не претерпева двойного лучепреломлени . Если вдоль оптической оси кристалла приложить электрическое поле, то кристалл осуществл ет поворот плоскости пол ризации проход щего через него света на определенный угол, который линейно пропорционален величине приложенного напр жени - эффект Поккельса. Дл обнаружени этого оптического эффекта Б оптическую систему введены два пол ризатора 9 с взаимно перпендикул рными плоскост ми пол ризации . Поэтому в промежутке между электронными сгустками свет не проходит от лазера в систему регистрации , а пропускаетс оптической системой лишь в момент прохождени сгустка через емкостной зазор коаксиала . Таким образом на фотохронографе 11 можно измер ть длительность электронного сгустка, а интенсивность прошедшего через оптическую систему светового излучени зависит от величины зар да сгустка. Использование в предлагаемом устройстве эффекта Поккельса, который линейно зависит от приложенного электрического пол и практически безинерционен, позвол ет перенести процесс, измерений параметров электронного сгустка в оптический диапазон длин волн. Величину интенсивности светового излучени , прошедшего сквозь оптическую систему в момент пролета сгустка электронов через датчик, легко оценить, испол-.зу известное отношение Поккельс: : f г I -, -т ,,Л .L-i..EAr.. прош Л
Claims (1)
- Формула изобретенияУстройство для измерения длительности и заряда сгустков заряженных частиц, содержащее преобразователь, чувствительный к электромагнитному излучению пучка, выходящего из ускорителя, источник светового излучения и систему регистрации, включающую поляризаторы светового излучения и элементы еко транспортировки, отличающееся тем, что, с целью повышения чувствительности, точности и помехоустойчивости, преобразователь выполнен в виде коаксиала, нагруженного у входа на емкость, на выходе - на согласованную поглощающую нагрузку и расположенного так, что его внутренний проводник соосен с траекторией движения сгустков и имеет пролетный канал, а оптический элемент выполнен в виде кристалла, не имеющего центра симметрии, расположенного в полости коаксиала на траектории светового излучения так, что его оптическая ось параллельна этой траектории и перпендикулярна оси коаксиала.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU792721597A SU753339A1 (ru) | 1979-02-05 | 1979-02-05 | Устройство дл измерени длительностии зАР дА СгуСТКОВ зАР жЕННыХ чАСТиц |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU792721597A SU753339A1 (ru) | 1979-02-05 | 1979-02-05 | Устройство дл измерени длительностии зАР дА СгуСТКОВ зАР жЕННыХ чАСТиц |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU753339A1 true SU753339A1 (ru) | 1981-06-30 |
Family
ID=20808899
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU792721597A SU753339A1 (ru) | 1979-02-05 | 1979-02-05 | Устройство дл измерени длительностии зАР дА СгуСТКОВ зАР жЕННыХ чАСТиц |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU753339A1 (ru) |
-
1979
- 1979-02-05 SU SU792721597A patent/SU753339A1/ru active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Bohaichuk et al. | Origins of Rydberg-atom electrometer transient response and its impact on radio-frequency pulse sensing | |
| Hermann et al. | Absolute measurement of two-photon cross sections | |
| US3446558A (en) | Method for measuring the characteristics of a gas | |
| US3843258A (en) | Dual beam absorption type optical spectrometer | |
| US3581190A (en) | Microwave resonance systems employing a bimodal cavity | |
| US4449825A (en) | Optical measuring apparatus employing a laser | |
| US3659452A (en) | Laser excited spectrophone | |
| Smeets et al. | Instantaneous laser Doppler velocimeter using a fast wavelength tracking Michelson interferometer | |
| JPH01189570A (ja) | 静的及び/又は時間的に変化する電界の非接触形測定装置 | |
| Garn et al. | Measurement of Faraday rotation in megagauss fields over the continuous visible spectrum | |
| Ando et al. | Resonant Brillouin scattering by amplified phonons in CdS | |
| CN104882785A (zh) | 一种基于激光腔内调制的辐射光探测方法及装置 | |
| Paul et al. | Rapid velocity sensor using a static confocal Fabry-Perot and a single frequency argon laser | |
| US3545867A (en) | Method of and apparatus for measuring the density of a plasma or transparent semiconductor | |
| US3800906A (en) | Laser heterodyne acoustic sensor | |
| US3436152A (en) | Method and apparatus for measuring the power in a light beam | |
| Bradley et al. | Picosecond chronography with image tubes | |
| SU1056869A1 (ru) | Устройство дл измерени зар да и длительности сгустков зар женных частиц | |
| Gambling et al. | Dispersion in low-loss liquid-core optical fibres | |
| SU859978A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров пучков зар женных частиц | |
| Woskoboinikow et al. | Heterodyne measurements of electron cyclotron emission from Alcator A and absolute submillimeter receiver calibration | |
| Chow et al. | On-line photon correlation spectroscopy using fibre-optic probes | |
| Hamal et al. | Femtosecond two-wavelength laser ranging to the ground target | |
| Cadilhon et al. | PDV INVESTIGATIONS ON THE CESAR FACILITY | |
| SU1046713A1 (ru) | Устройство дл измерени напр женности импульсного электрического пол |