SU299736A1 - Diffraction interferometer - Google Patents

Diffraction interferometer

Info

Publication number
SU299736A1
SU299736A1 SU870530A SU870530A SU299736A1 SU 299736 A1 SU299736 A1 SU 299736A1 SU 870530 A SU870530 A SU 870530A SU 870530 A SU870530 A SU 870530A SU 299736 A1 SU299736 A1 SU 299736A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
diffraction interferometer
diffraction
lenses
grating
bands
Prior art date
Application number
SU870530A
Other languages
Russian (ru)
Original Assignee
В. А. Комиссарук
Publication of SU299736A1 publication Critical patent/SU299736A1/en

Links

Description

Изобретение относитс  к приборам дл  исследовани  прозрачных неоднородностей и волновых аберраций оптических систем.The invention relates to devices for studying transparent inhomogeneities and wave aberrations of optical systems.

Известные дифракционные интерферометры дают либо полосы только параллельные штрихам решетки, либо полосы невысокого качества . Предлагаемый дифрационный интерферометр позвол ет получить полосы произвольной ориентации и хорошего контраста.Known diffraction interferometers give either bands only parallel to the grating grooves, or bands of low quality. The proposed diffraction interferometer makes it possible to obtain bands of arbitrary orientation and good contrast.

На чертеже ноказан предлагаемый дифракционный интерферометр. В фокальных плоскост х двух встречных коллиматорных объективов 1 и 2 располол-сены параллельные дифракционные решетки 3 и 4. Между объективами расположен объект исследовани  5, изображение которого переноситс  объективами 2 и б в плоскость фотопленки 7. Изображение источника света фокусируетс  на решетку 3.The figure shows the proposed diffraction interferometer. In the focal planes of the two opposing collimator lenses 1 and 2, parallel diffraction gratings 3 and 4 are open. The objective object 5 is located between the lenses, the image of which is transferred by the lenses 2 and b to the plane of the film 7. The image of the light source is focused on the grating 3.

Астигматический элемент 8, помещенный вблизи решетки 3, представл ет собой одиночную цилиндрическую линзу или комбинацию цилиндрических и сферических линз. Введение астигматического элемента приводит к по влению в оптической системе астигматизмаThe astigmatic element 8, placed near the grid 3, is a single cylindrical lens or a combination of cylindrical and spherical lenses. Introduction of an astigmatic element leads to the appearance of astigmatism in the optical system.

третьего пор дка, что в свою очередь, вызывает наклон интерференционных полос относительно штрихов решеток.the third order, which in turn, causes the inclination of the interference fringes relative to the grating lines.

Предпочтительный угол между меридиональным сечением астигматического элемента и направлением штрихов решеток -45°. Ширина и направление полос измен ютс  перемешением вдоль оптической оси решеток 3, 4 и астигматического компонента 8.The preferred angle between the meridional section of the astigmatic element and the direction of the grating lines is -45 °. The width and direction of the bands are varied by mixing along the optical axis of the gratings 3, 4 and the astigmatic component 8.

Предмет изобретени Subject invention

Дифракционный интерферометр дл  изучени  нрозрачных неоднородностей, содержаший два встречных коллиматорных объектива и по меньшей мере одну дифрационпую решетку , отличающийс  тем, что, с целью получени  интерференционных полос, не параллельных штрихам решетки, в нем перед перным коллиматорным объективом установлена астигматическа  система, например, в виде одиночной цилиндрической линзы или сочетани  линз с цилиндрическими и сферическими поверхност ми.A diffraction interferometer for studying translucent inhomogeneities containing two opposing collimator lenses and at least one diffraction grating, characterized in that, in order to obtain interference fringes not parallel to the grating lines, an astigmatic system is installed in it, for example, a single cylindrical lens or a combination of lenses with cylindrical and spherical surfaces.

б7 b7

SU870530A Diffraction interferometer SU299736A1 (en)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU299736A1 true SU299736A1 (en)

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Françon Laser speckle and applications in optics
EP2174168B1 (en) Optical device with a pair of diffractive optical elements
US20180095212A1 (en) Volume Holographic Optical Elements for Imaging with Reduced Aberrations
Herzig Design of refractive and diffractive micro-optics
US20170205627A1 (en) Image-forming optical system, illumination apparatus, and observation apparatus
US4009940A (en) Apparatus for producing optical interference pattern with continuously variable fringe spacing
US10330905B2 (en) Pair of phase modulation elements for imaging optical system, imaging optical system, illuminating device, and microscope apparatus
US20210080907A1 (en) Reflection mode volume holographic optical elements (vhoes)
JPH0422442B2 (en)
IL269742B1 (en) Device and method for optical imaging by means of off-axis digital holography
US8279449B2 (en) All-reflective, radially shearing interferometer
JPS5822725B2 (en) optical demultiplexer
SU299736A1 (en) Diffraction interferometer
Baker An interferometer for measuring the spatial frequency response of a lens system
Mallick et al. Common-path interferometers
US4255032A (en) Camera with a holographic indicator
KR100453710B1 (en) Surface measurement apparatus and method thereof
JP2019511743A (en) Birefringent lens interferometer
Rubin Scatterplate interferometry
Lenk et al. Diffractive Alvarez-Lohmann lenses for correcting aberrations of tunable membrane lenses
RU2740205C1 (en) Holographic collimator sight for small arms
Reicherter et al. Dynamic correction of aberrations in microscopic imaging systems using an artificial point source
US4673292A (en) Monochromator with a telecentric dispersive lens
Hutley et al. Manufacture of blazed zone plates in germanium for use in the 10 micrometer spectral region
RU2536764C1 (en) Method of interference microscopy