SU1814460A1 - Способ изготовления фотопреобразователей - Google Patents
Способ изготовления фотопреобразователейInfo
- Publication number
- SU1814460A1 SU1814460A1 SU4931229/25A SU4931229A SU1814460A1 SU 1814460 A1 SU1814460 A1 SU 1814460A1 SU 4931229/25 A SU4931229/25 A SU 4931229/25A SU 4931229 A SU4931229 A SU 4931229A SU 1814460 A1 SU1814460 A1 SU 1814460A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- oxide
- film
- doped silicate
- silicate glass
- manufacturing
- Prior art date
Links
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Abstract
Применение: относится к области изготовления оптоэлектронных приборов, а именно кремниевых фотопреобразователей. Сущность: в полупроводниковых пластинах диффузией создают p-n-переход, затем на поверхности пластины формируют пленку примесно-силикатного стекла с рисунком, соответствующим контактной сетке, затем наносят антиотражающее покрытие из окислов алюминия или олова, или церия, или титана, или ниобия, или тантала, или нитрида кремния, после чего проводят процесс второй диффузии из нанесенной пленки примесно-силикатного стекла, а затем вскрывают контактные окна с одновременным удалением стекла в 2,5 - 20 мас.%-ном растворе фтористоводородной кислоты. 1 табл.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4931229/25A SU1814460A1 (ru) | 1991-04-26 | 1991-04-26 | Способ изготовления фотопреобразователей |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4931229/25A SU1814460A1 (ru) | 1991-04-26 | 1991-04-26 | Способ изготовления фотопреобразователей |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1814460A1 true SU1814460A1 (ru) | 1998-08-10 |
Family
ID=60538531
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU4931229/25A SU1814460A1 (ru) | 1991-04-26 | 1991-04-26 | Способ изготовления фотопреобразователей |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1814460A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2468475C2 (ru) * | 2007-07-26 | 2012-11-27 | Университет Констанц | Способ изготовления кремниевого солнечного элемента (варианты) и соответствующий солнечный элемент |
-
1991
- 1991-04-26 SU SU4931229/25A patent/SU1814460A1/ru active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2468475C2 (ru) * | 2007-07-26 | 2012-11-27 | Университет Констанц | Способ изготовления кремниевого солнечного элемента (варианты) и соответствующий солнечный элемент |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20060258167A1 (en) | Methods of removing metal-containing materials | |
CA2279786A1 (en) | A composition and method for selectively etching a silicon nitride film | |
IE57207B1 (en) | A process for forming nitrided silicon dioxide layers for semiconductor integrated circuits | |
US5376233A (en) | Method for selectively etching oxides | |
JPS63175431A (ja) | ホウケイ酸ガラスを有する半導体装置の製造方法 | |
GB1227779A (ru) | ||
KR940022737A (ko) | 반도체장치의 제조방법 | |
SU1814460A1 (ru) | Способ изготовления фотопреобразователей | |
US5210054A (en) | Method for forming a contact plug | |
IE850104L (en) | Semiconductor fabrication | |
GB2168841B (en) | Semiconductor processing | |
TW374203B (en) | A method for forming a fine contact hole in a semiconductor device | |
EP0196155A3 (en) | Method of forming an oxide film on a semiconductor substrate | |
KR20000023765A (ko) | 고도핑된 영역에 대해 낮은 콘택저항을 갖는 반도체 소자 | |
TW332928B (en) | Producing method of semiconductor device | |
GB2301224A (en) | Method of forming a SOG film in a semiconductor device | |
KR930005240B1 (ko) | 다결정 실리콘 완충층을 이용한 텅스텐 박막 제조방법 | |
JPH03212969A (ja) | 強誘電体装置 | |
KR970030559A (ko) | P-형 실리콘 기판 표면의 알루미늄 쇼트키(Schottky) 접합 형성방법 | |
Chi | An e-beam evaporated borosilicate glass thin film as an encapsulant for annealing Be-implant InP | |
JPH04342135A (ja) | 絶縁膜の形成方法 | |
JPS5544772A (en) | Manufacture of semiconductor | |
Sheu et al. | Method for reduction in surface generation current in polycrystalline‐silicon‐gate metal‐oxide‐semiconductor devices | |
JPS63131545A (ja) | 半導体集積回路装置の製造方法 | |
KR960035813A (ko) | 접촉창의 정렬방법 |