SU1710605A1 - Способ вы влени дефектов структуры в монокристаллах германи - Google Patents

Способ вы влени дефектов структуры в монокристаллах германи Download PDF

Info

Publication number
SU1710605A1
SU1710605A1 SU894750628A SU4750628A SU1710605A1 SU 1710605 A1 SU1710605 A1 SU 1710605A1 SU 894750628 A SU894750628 A SU 894750628A SU 4750628 A SU4750628 A SU 4750628A SU 1710605 A1 SU1710605 A1 SU 1710605A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
single crystals
microdefects
etchant
germanium
structural defects
Prior art date
Application number
SU894750628A
Other languages
English (en)
Inventor
Игорь Николаевич Воронов
Наталия Викторовна Ганина
Джаханкир Аждарович Зейналов
Original Assignee
Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности "Гиредмет"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности "Гиредмет" filed Critical Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности "Гиредмет"
Priority to SU894750628A priority Critical patent/SU1710605A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1710605A1 publication Critical patent/SU1710605A1/ru

Links

Landscapes

  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к области металлографических методов вы влени  дефектов структуры и может быть ис-'пользовано дл  контрол  структурного совершенства монокристаллов германи . Обеспечивает одновременно и воспроизводимое вы вление дислокаций и микродефектов и уменьшение загр знений. Способ включает обработку сначала в полирующем растворе, содержащем HF и НЫОз, а затем в селективном травителе следующего состава, об.ч.: HF (48%-на  ) 4,5-5,5; НМОз(70%- на ) 4,5-5,5; СНзСООН (99,8%-на ) 4,0-6,0; KB г 0,019-0,037. Обработку травителем ведут поэтапно в течение 120-180 с и не более 30 с на каждом этапе с промежуточной промывкой' водой. Картины травлени  дают дислокационные  мки конусообразной формы, а микродефекты - в виде четких ограненных и круглых  мок с плоским дном. 1 табл.

Description

Изобретение относитс  к области металлографических методов вы влени  дефектов структуры и может быть использовано дл  контрол  структурного
совершенства монокристаллов германи .
Цель изобретени  - одновременное и воспроизводимое вы вление дислокаций и микродефектов в монокристаллах и уменьшение их загр знений медью, что позвол ет в дальнейшем использовать протравленные монокристаллы в полупроводниковых приборах .
Пример 1. Образец (пластина) нелегированного монокристаллического германи  толщиной 5 мм и диаметром 40 мм, ориентированный по плоскости (100), шлифуют механически на порошке М-14, промывают водой и сушат фильтром. Затем образец погружают при помощи фторопластового держател  в полирующий травитель состава
HF(OC448%)25 мл (1 об.ч.)
HN03 (ОСЧ 70%)75 мл (3 об.ч.)
Травитель находитс  во фторопластовом сосуде диаметром 100 мм.
Полировку провод т при перемешивании раствора до получени  зеркальной поверхности . По окончании полировки образец промывают водой и оставл ют в емкости с водой.
Готов т селективный травитель, дл  чего берут 225 мл HF (ОСЧ 48%) (4,5 об.ч.), приливают к ней 225 мл НМОз (ОСЧ 70%) (4,5 об.ч.) и 200 мл СНзСООН (ОСЧ 99,8°/) (4 об.ч.). В полученный раствор засыпают
2,6 г порошка КВг (ТУ 6-09-476-76) (0,019 об,ч.), Выдерживают раствор 30 мин,
Извлеченный из сосуда с водой образец погружают в селективный травитель. После 30 с выдержки в травителе (при перемешивании ) образец извлекают и промывают в проточной воде. Затем образец погружают вновь в тот же травитель, оп ть выдерживают 30 с при перемешивании, извлекают образец и промывают водой. Этапы травление - промывка повтор ют 5 раз. Общее врем  травлени  составл ет 150 с. На картине травлени  образца дислокационные  мки четкой конусообразной формы, микродефекты в виде четких ограненных и круглых  мок с плоским дном, На спектре поверхности образца, полученном методом лазерной микрозондовой масс-спектрометрии , линии ионов меди отсутствуют.
Пример 2. Образец (пластину) налегированного монокристаллического германи  толщиной 5 мм и диаметром 40 мм, ориентированный по плоскости (100), обрабатывают как в примере 1, зй исключением того, что селективный травитель содержит 275 мл HF (ОСЧ 48%)(5,5 об.ч.), 275 мл HNOa (ОСЧ 70%) (5,5 об.ч.), 300 мл СНзСООНС (ОСЧ 99,8%) (6 об.ч.) и 5,1 г КВг (ТУ 6-09476-76 ) (0,037 об.ч.).
На картине травлени  образца дислокационные  мки четкой конусообразной формы , микродефекты в виде четких ограненных и круглых  мок с плоским дном. На спектре поверхности образца линии ионов меди отсутствуют.
В таблице приведены данные, харак-. теризующие вы вление структурных дефектов по известному и предложенному способам.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Способ вы влени  дефектов структуры в монокристаллах германи , ориентирован ных по плоскости (100), включающий их обработку сначала в полирующем растворе, содержащем HF и HNOs, а затем в селективном травителе, содержащем HF и HNOs и добавку, отличающийс  тем, что, с целью одновременного и воспроизводимого вы влени  дислокаций и микродефектов и уменьшени  загр знений, в качестве добавки в селективный травитель ввод т СНзСООН и КВг при следующем соотношении компонентов, об.ч.:
    НР(48%)4,5-5,5
    HN03(70%)4,5-5,5
    СНзСООН (99,8%)4,0-6,0
    КВг0,019-0,037
    и обработку им ведут поэтапно в течение 120-180 с и не более 30 с на каждом этапе с промежуточной промывкой водой.
SU894750628A 1989-09-18 1989-09-18 Способ вы влени дефектов структуры в монокристаллах германи SU1710605A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894750628A SU1710605A1 (ru) 1989-09-18 1989-09-18 Способ вы влени дефектов структуры в монокристаллах германи

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894750628A SU1710605A1 (ru) 1989-09-18 1989-09-18 Способ вы влени дефектов структуры в монокристаллах германи

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1710605A1 true SU1710605A1 (ru) 1992-02-07

Family

ID=21475298

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894750628A SU1710605A1 (ru) 1989-09-18 1989-09-18 Способ вы влени дефектов структуры в монокристаллах германи

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1710605A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2534434C2 (ru) * 2013-01-09 2014-11-27 Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту) Способ выявления дефектов на полупроводниковой пластине
CN105937052A (zh) * 2016-06-20 2016-09-14 云南中科鑫圆晶体材料有限公司 去除锗单晶片酸化学腐蚀后表面蓝色药印的方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 1251594, кл. С 30 В 33/00, 1984. *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2534434C2 (ru) * 2013-01-09 2014-11-27 Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту) Способ выявления дефектов на полупроводниковой пластине
CN105937052A (zh) * 2016-06-20 2016-09-14 云南中科鑫圆晶体材料有限公司 去除锗单晶片酸化学腐蚀后表面蓝色药印的方法
CN105937052B (zh) * 2016-06-20 2018-06-05 云南中科鑫圆晶体材料有限公司 去除锗单晶片酸化学腐蚀后表面蓝色药印的方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Strasberg Onset of ultrasonic cavitation in tap water
WO2002099394A1 (en) Methods and systems for monitoring process fluids
SU1710605A1 (ru) Способ вы влени дефектов структуры в монокристаллах германи
JPH0697251A (ja) シリコン単結晶の品質評価方法
US2705192A (en) Etching solutions and process for etching members therewith
US3992288A (en) Method of separating articles having different specific gravities
US3143447A (en) Chemical etches for lead telluride crystals
SU816331A1 (ru) Полирующий травитель дл иодида ртути
SU1075600A1 (ru) Способ химического травлени монокристаллов пентабората кали
KR0180799B1 (ko) 실리콘 웨이퍼 내부 결함의 측정 방법
SU1738878A1 (ru) Состав дл травлени монокристаллов германата свинца Р @ G @ О @
US4713145A (en) Method of etching etch-resistant materials
RU2051207C1 (ru) Способ получения слоев гидроксидов металлов
SU1142532A1 (ru) Травитель дл полировки монокристаллов висмута
SU1465739A1 (ru) Способ приготовлени образцов пленок, нанесенных на поверхность кремниевой подложки,дл электронно-микроскопических исследований
JPS55122874A (en) Etching method for copper base alloy
SU914656A1 (ru) Способ химической полировки кристаллов корундаi
JPH07130808A (ja) ウェーハ表面の不純物の分析方法
SU1675747A1 (ru) Способ определени неионогенных поверхностно-активных веществ
RU2105286C1 (ru) Способ определения полярных граней полупроводниковых соединений
JPH04125946A (ja) 半導体基板の評価方法
CS214254B1 (en) Method of etching for determination of crystalline grains of gallium arsenide crystalls
SU1733517A1 (ru) Травитель дл вы влени структуры в оксиде алюмини
RU1455572C (ru) Раствор для обработки оптических деталей
SU1387915A1 (ru) Способ оценки качества плодов