SU1083417A1 - X-ray unit - Google Patents
X-ray unit Download PDFInfo
- Publication number
- SU1083417A1 SU1083417A1 SU833544686A SU3544686A SU1083417A1 SU 1083417 A1 SU1083417 A1 SU 1083417A1 SU 833544686 A SU833544686 A SU 833544686A SU 3544686 A SU3544686 A SU 3544686A SU 1083417 A1 SU1083417 A1 SU 1083417A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- ionization chamber
- emitter
- divider
- diaphragm
- integrators
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 5
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 241000208202 Linaceae Species 0.000 description 1
- 235000004431 Linum usitatissimum Nutrition 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000011664 signaling Effects 0.000 description 1
Landscapes
- X-Ray Techniques (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
РЕНТГЕНОВСКИЙ АППАРАТ, содержащий рентгеновский излучатель, регулируемую диафрагму, про.ходную ионизационную камеру, .предназначенную дл измерений в первичном пучке излучател . схему гюлучени сигнала, пропорционального площади раскрыти диафрагмы, содержащую два интегратора, первый из которых св зан с ионизационной ка.мерой, и из.еритель параметров экспозиции с делителем , подключенный к интеграторам, отличающийс тем. что, с целью упрощени калибровки п.ри возможных изменени х рассто ни от фокуса излучател до объекта , проходна ионизационна камера установлена за диафрагмой по ходу пучка излучател , а с входами делител измерител параметров экспози.ции св заны ионизационна камера и схема получени сигнала, пропорционального площади раскрыти диафрагмы, причех; выход делител подключен к входу второго интегратора. (Л 00 со 4X-RAY DEVICE, containing x-ray emitter, adjustable aperture, pass-through ionization chamber, intended for measurements in the primary beam of the emitter. A gamma signal circuit proportional to the aperture opening area, containing two integrators, the first of which is associated with an ionization map, and an exposure parameter generator with a divider connected to integrators, characterized by that. that, in order to simplify the calibration of possible changes in the distance from the focus of the radiator to the object, the passive ionization chamber is installed behind the diaphragm along the beam of the radiator, and an ionization chamber and a circuit for obtaining a signal proportional to squares open aperture, quays; the output of the divider is connected to the input of the second integrator. (L 00 with 4
Description
Изобретение относитс к рентгенотехнике , а конкретнее к рентгеновским аннаратам со средствами измерени параметров экснозиции. Известен рентгеновский аппарат, содержащий рентгеновский излучатель, регулируемую диафрагму, проходную ионизационную камеру. Ионизационна камера включает центральную чувствительную часть малых размеров и охватывающую эту часть периферическую часть большой площади . В аппарате имеетс измеритель экспозиционной дозы, подключенный через интегратор к центральной части камеры, и измеритель произведени дозы на площадь облучени , который через сумматор и интегратор подключен к обеим част м ионизационной камеры 1. Недостатками данного аппарата вл ютс необходимость использовани специализированной ионизационной камеры, а также измерение экспозиционной дозы в фиксированном участке пучка, в результате чего может иметь место отклонение измер емой средней экспозиционной дозы в чувствительной части камеры от экспозиционной дозы, усредненной по площади облучени . Наиболее близким к предлагаемому вл етс рентгеновский аппарат, содержащий рентгеновский излучате-ть, регулируе.мую диафрагму, проходную ионизационную камеру , предназначенную дл измерений в первично.м пучке излучател , -схему получени сигнала, пропорционального площади раскрыти диафрагмы, содержащую два интегратора, первый иЭ которых св зан с ионизационной камерой, и измеритель параметров экспозиции с делителем, подключенный к интеграторам. Измеритель параметров экспозиции содержит два интегратора и схему умножени 2. Недостатком известного устройства вл етс сложность его калибровки при возможных изменени х рассто ни фокус излучател - объект R. Это св зано с тем, что сигнал ионизационной камеры дает величину , пропорциональную мощности экспозиционной дозы, но завис щую от R. Схема получени сигнала, пропорционального площади диафрагмы, дл пересчета на облучаемую площадь также должна учитывать величину R. Несмотр на то, что в схеме умножени эти величины компенсируютс , усилитель сигнала ионизационной камеры должен учитывать изменение R; это изменение также должно быть учтено и в усилител х схемы получени сигнала , пропорционального площади раскрыти диафрагмы. Цель изобретени - упрощение калибровки при возможных изменени х рассто ни от фокуса излучател до объекта. Иоставленна цель достигаетс тем, что в рентгеновском аппарате, содержащем рентгеновский излучатель, регулируемую диафрагму , проходную ионизационную камеру, предназначенную дл измерений в первичном пучке излучател , схему получени сигнала , пропорционального площади раскрыти диафрагмы, содержащую два интегратора , первый из которых св зан с ионизационной ка мерой, и измеритель параметров экспозиции с делителем, подключенный к интеграторам , проходна ионизационна камера установлена за диафрагмой по ходу пучка излучател , а с входами делител измерител параметров экспозиций св заны ионизационна камера и схе.ма получени сигнала, пропорционального площади раскрыти диафрагмы, причем выход делител подключен к входу второго интегратора. На чертеже представлена структурна схема рентгеновского аппарата. Рентгеновский аппарат содержит рентгеновский излучатель 1, перед которым установлена регулируема диафрагма 2 с иодвижны .ми щторками 3 и 4. За диафрагмой 2 установлена проходна ионизационна камера 5. Схема 6 получени сигнала, пропорционального площади раскрыти диафрагмы 2, содержит датчики положени , например переменные резисторы 7 и 8, движки которых механически св заны с подвижными шторками 3 и 4 диафрагмы 2 и которые наход тс под посто нным напр жением , усилители 9 и 10 с линейно регулируемы .м в зависимости от R коэффициентом усилени и схему 11 умножени , к входам которой подключены усилители 9 и 10. Схема 12 измерител параметров экспозиции содержит усилитель 13, подключенный к входу ионизационной камеры 5, первый интегратор 14, вход которого соединен с усилителем 13, схему 15 делени , к входам которой подключены усилитель 13 и схема 11 умножени , и второй интегратор 16, вход которого св зан с выходом схемы 15 делени . Измеритель 17 произведени экспозиционной дозы D на площадь облучени S подключен к выходу первого интегратора 14, измеритель 18 экспозиционной дозы D. - к выходу второго интегратора 16, а измеритель 19 мощности экспозиционной дозы Р соединен с выходом схемы 15 делени . Рентгеновский аппарат работает с.тедующим образом. Проходна ионизационна камера 5 во врем экспозиции регистрирует пучок излучени по всей площади на выходе диафрагмы 2. Поскольку при из.менении R величина экспозиционной дозы , а площадь облучени , то величина сигнала камеры 5 всегда пропорциональна D-S независимо от R. Сигнал камеры 5,. усиленный усилителем 13, проинтегрированный интегратором 14, поступает на измеритель 17. Одновременно данные о величине раскрыти шторок 3 и 4 диафрагм 2, получае34The invention relates to X-ray technology, and more specifically to X-ray annarats with means for measuring parameters of exeptics. Known x-ray machine containing x-ray emitter, adjustable aperture, pass-through ionization chamber. The ionization chamber includes a central sensitive part of small dimensions and a large area surrounding this part of the periphery. The device has an exposure dose meter connected via an integrator to the central part of the chamber, and a dose product meter for the irradiation area, which is connected to both parts of the ionization chamber 1 through an adder and integrator. The disadvantages of this apparatus are the need to use a specialized ionization chamber measurement of the exposure dose in a fixed part of the beam, as a result of which there can be a deviation of the measured average exposure dose in the sensitive part amers of exposure dose, averaged over the irradiation area. The closest to the present invention is an x-ray apparatus containing an x-ray emittance, an adjustable aperture, a pass-through ionization chamber intended for measurements in a primary radiator beam, a circuit for obtaining a signal proportional to the aperture opening area, containing two integrators, the first and which is connected to the ionization chamber, and an exposure parameter meter with a divider connected to the integrators. The exposure parameter meter contains two integrators and a multiplication circuit 2. A disadvantage of the known device is the complexity of its calibration with possible changes in the distance of the radiator focus — the object R. This is due to the fact that the signal of the ionization chamber gives a value proportional to the exposure dose rate, but depending on R. The scheme for obtaining a signal proportional to the area of the diaphragm, for recalculation to the irradiated area, should also take into account the value of R. Despite the fact that the multiplication scheme compensates for these values TC, the signal amplifier of the ionization chamber must take into account the change in R; this change must also be taken into account in the amplifiers of the signal acquisition circuit proportional to the aperture opening area. The purpose of the invention is to simplify calibration with possible changes in distance from the focus of the radiator to the object. The goal is achieved by the fact that, in an X-ray machine containing an X-ray emitter, an adjustable diaphragm, a pass-through ionization chamber intended for measurements in the primary beam of the emitter, a scheme for obtaining a signal proportional to the aperture opening area containing two integrators, the first of which is associated with ionization measure, and a meter of exposure parameters with a divider connected to the integrators, the aisle ionization chamber is installed behind the diaphragm along the beam of the radiator, and moves the exposure meter divider coupled skhe.ma ionization chamber and for producing a signal proportional to the area of the iris opening, wherein the output of the divider is connected to the input of the second integrator. The drawing shows a structural diagram of the x-ray apparatus. The X-ray unit contains an X-ray emitter 1, in front of which an adjustable diaphragm 2 is installed with iodomotion scrolls 3 and 4. Aperture ionization chamber 5 is installed behind the diaphragm 2. The signal for receiving a signal proportional to the opening area of the diaphragm 2 contains position sensors, such as variable resistors 7 and 8, the engines of which are mechanically connected with the movable shutters 3 and 4 of the diaphragm 2 and which are under direct voltage, the amplifiers 9 and 10 with are linearly adjustable. m depending on the R gain factor and and the multiplication circuit 11, to the inputs of which amplifiers 9 and 10 are connected. The circuit 12 of the exposure parameter meter comprises an amplifier 13 connected to the input of the ionization chamber 5, the first integrator 14, whose input is connected to the amplifier 13, a dividing circuit 15, to the inputs of which are connected an amplifier 13 and a multiplication circuit 11, and a second integrator 16, the input of which is connected to the output of the division circuit 15. The meter 17 to produce the exposure dose D by the irradiation area S is connected to the output of the first integrator 14, the meter 18 of the exposure dose D. to the output of the second integrator 16, and the meter 19 of the exposure dose rate P is connected to the output of the dividing circuit 15. X-ray machine works with. The following way. The pass-through ionization chamber 5 during the exposure registers a beam of radiation over the entire area at the exit of the diaphragm 2. Since, when R changes, the exposure dose and the irradiation area, the signal value of chamber 5 is always proportional to D-S regardless of R. Camera signal 5 ,. amplified by amplifier 13, integrated by integrator 14, is fed to meter 17. Simultaneously, the data on the amount of opening of the shutters 3 and 4 of the diaphragms 2 is obtained 34
мые с помощью переменных резисторов 7схемы 15 делени , получают параметр D,We are using variable resistors 7 of the circuit 15 division, get the parameter D,
и 8, поступают на усилители 9 и 10, коэф-а сама величина этого сигнала равна Р.and 8, are fed to the amplifiers 9 and 10, the coefficient of the signal itself is equal to R.
фициент усилени которых устанавливает-Изобретение позвол ет обойтись толькоthe amplification factor of which is established — the invention can do without
с в зависимости от R (как линейна функ-регулированием по линейной зависимости отc depending on R (as linear by function regulation in a linear dependence on
ци от R). В результате выходной сигналR коэ4зфициентов усилени усилителей схесхемы 11 умножени пр мо пропорциона-5 мы получени сигнала, пропорциональногоqi from R). As a result, the output signal R of the amplification factors of the amplifiers of the circuit 11 multiplying directly proportional -5 we obtain a signal proportional to
лен R, а выходной сигнал схемы 15 деле-площади раскрыти диафрагмы, не прибега flax R, and the output signal of the circuit 15 of the de-aperture area of the diaphragm, not
ни обратно пропорционален R т.е. имеетк регулировке других элементов схемы апту же зависимость от R, что и параметрыпарата, что существенно упрощает, калибэкспозиции D и Р. Интегриру в 16 сигналровку и настройку аппарата.Neither is inversely proportional to R i. There is also a dependence on R on the adjustment of other circuit elements of the device, as well as the parameters of the device, which greatly simplifies the calibration of D and R. Integrating the 16 signaling and tuning of the device.
10834171083417
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU833544686A SU1083417A1 (en) | 1983-01-17 | 1983-01-17 | X-ray unit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU833544686A SU1083417A1 (en) | 1983-01-17 | 1983-01-17 | X-ray unit |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1083417A1 true SU1083417A1 (en) | 1984-03-30 |
Family
ID=21047002
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU833544686A SU1083417A1 (en) | 1983-01-17 | 1983-01-17 | X-ray unit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1083417A1 (en) |
-
1983
- 1983-01-17 SU SU833544686A patent/SU1083417A1/en active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 1. Патент FR Х 2269836, кл. Н 05 G 1/26, 1975. 2. Авторское свидетельство СССР № 713284, кл. G 01 Т 1/161, 1979. * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI90183C (en) | Method and apparatus in connection with automatic exposure in X-ray diagnostics, especially mammography | |
| US4189645A (en) | X-ray measuring system | |
| US4048844A (en) | Electric system of meter for measurements of density of mixtures conveyed in a pipeline | |
| GB1212367A (en) | A high frequency signal level measuring instrument | |
| US3892493A (en) | Light measuring process and apparatus | |
| CA2102525C (en) | Method and system for photodetector signal correction | |
| US3352156A (en) | Radiometer for measuringa temperature of semi-transparent material | |
| US3919634A (en) | Current arrangement for correcting the measured voltage of an analog speed transducer | |
| US2659012A (en) | X-ray densitometer | |
| US4203033A (en) | Radiation energy calibrating system and method | |
| GB1464249A (en) | Apparatus for use in the determination of focal spot size in x-ray tubes | |
| US2016469A (en) | Exposure meter | |
| US4027166A (en) | Radiological measuring arrangement | |
| GB1150531A (en) | Spectrophotometer | |
| JPS5695255A (en) | Image forming apparatus | |
| GB1265417A (en) | ||
| JPH0820518B2 (en) | Exposure equipment | |
| SU505976A1 (en) | Method of compensating for instability of radiation detector | |
| JPH036530U (en) | ||
| SU1103371A2 (en) | Device for measuring parameters of x-ray radiation of gamma-radiation | |
| SU958997A2 (en) | Device for registering radiation load on a patient | |
| US3498723A (en) | Movie camera exposure integrator | |
| SU1649690A1 (en) | For area of x-ray unit diaphragm opening | |
| JPS598164Y2 (en) | radiation thickness gauge | |
| JPS5619416A (en) | Measuring instrument for thermoluminescence |