SU1002944A1

SU1002944A1 - Способ неразрушающего контрол микротвердости провод щих покрытий

Info

Publication number: SU1002944A1
Application number: SU802946714A
Authority: SU
Inventors: Айзик Яковлевич Рябой; Борис Александрович Кадышкин; Муся Вильфовна Эльконина; Игорь Меерович Анцелович; Александр Леонтьевич Дорофеев; Юрий Петрович Хвалебнов; Анатолий Иванович Кривко
Priority date: 1980-06-27
Filing date: 1980-06-27
Publication date: 1983-03-07

Description

Изобретение относится к способам неразрушающего контроля микротвердости проводящих металлических покрытий, в частности хромовых покрытий, и может быть применено в различных областях машиностроения. ⁵

Известен способ измерения микротвердости покрытий неразрушающим методом, заключающийся в том, что в испытуемую хорошо обработанную поверхность (металлическую) под действием нагрузки вдавливают индентор в форме пирамиды и по величине, отпечатка определяют микротвердость C1J.

Однако указанный способ исключает ₁₅проведение 100%^-ного контроля микротвердости покрытий непосредственно на деталях, так как для ее измерения необходимо изготовить шлиф, т.е. разрушить· деталь. 20

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является способ не— разрушающего контроля микротверцости проводящих покрытий, заключающийся в том, что измеряют электропроводность ис>· следуемого образца и по полученной ранее на ряде образцов с различной микротвер- ‘ достью эталонной зависимости электропроводности определяют микротвердость исследуемого образна С2 J.

Однако способ не обесценивает необхеьдимую точность измерения микротвердооти покрытий из-за влияния на измеряемую электропроводность электромагнитных свойств основания, на которое нанесено покрытие.

Цепь изобретения - повышение точности контроля.

Указанная цель достигается за счет · того, что согласно способу измеряют электропроводность для образцов также и с различной толщиной их покрытий, с учетом которой определяют микротвердость покрытия.

Известно, что между микротвердостью и электропроводностью, например хромо3

1002944 4 вого покрытия, ч существует однозначная линейная зависимость. Из этого следует, что измерив электропроводность покрыв тия, например хрома, можно судить о микротвердости покрытия. 5

Это правомерно только в тек случаях, когда глубина вихревых токов меньше толщины покрытия.

При контроле тонких покрытий (толщина покрытий меньше глубины проникнове- W ния вихревых токов), на величину сигнала вихретокового преобразователя оказывают влияние электромагнитные свойства основания.

Повышение частоты, на которой произ- 15 водится измерение электропроводности, для уменьшения глубины проникновения вихревых токов снижает Чувствительность способа.

Для образцов с различной микротвер- 20 достью и толщиной покрытия строятся эталонные зависимости электропроводности от микротвердости для различных толщин.

Поскольку покрытие исследуемого об- 25 разна нанесено на основание из того же материала, что и образцы, на которых снималась эталонная зависимость; измеряя электропроводность вихретоковым методом и толщину покрытия одним из ед известных способов по эталонным зависимостям, учитывающим влияние толщины покрытия и электромагнитные свойства основания на измеряемую электропроводность, определяют микротвердость покры- jg тия исследуемого образца.

Пример. Проводится измерение микротвердости хромового покрытия на деталях из высокопрочной стали 30ХГСН2А. Толщина хромового покрытия, измеренная магнитным толщиномером, составляет ^г

20,35,50 и 75 мкм. Для определения микротвердости хромового покрытия на деталях сначала строят эталонные зави симости электропроводности от микротвердости для образцов с различной толщиной покрытия. Затем измеряют электропроводность хромового покрытия и по полученным эталонным зависимостям электропроводности от микротвердости при различной толщине покрытия определяют микротвердость хромового покрытия детали.

Использование изобретения позволит обеспечить объективный 100%-ный контроль качества, в частнос!и, хромовых покрытий, повысить надежность и ресурс восстановленных при ремонте авиационных деталей, а также снизить трудоемкость по определению микротвердости покрытий при проведении научно-исследовательских работ.

Claims

Изобретение относитс к способам неразрушающего контрол микротвердости провод щих металлических покрытий, в частности хромовых покрытий, и может быть применено в различных област х мащиностроени . Известен способ измерени микротвердости покрытий неразрушающим методом , заключающийс в том, что в испытуемую хорошо обработанную поверхность (металлическую) под действием нагрузки вдавливают индентор в форме пирамиды и по величине, отпечатка определ ют микротвердость Ci3 Однако указанный способ исключает проведение контрол микротвердости покрытий непосредственно на детал тс, так как дл ее измерени необходимо изготовить шлиф, т.е. разрушит деталь. Наиболее близким к изобретению по технической сущности вл етс способ не разрушающего контрол микротвердости провод щих покрытий, заключающийс в том, что измер ют электропроводность во следуемого образца и по полученной ранее на р де образцов с различной микротвер достью эталонной зависимости электропррводности определ ют микротвердость исследуемого образца С2 }. Однако способ не обеспещюает необходимую точность измерени микротвердооти покрытий из-за вли ни на измер емую электропроводность электромагнитных свойств основани , на которое нанесено покрытие. Цель изобретени - повышение точиооти контрол . Указанна цель достигаетс за счет того, что согласно способу измер ют электропроводность дл образцов также а с различной толщиной их покрытий, с учетом которой определ ют микрогвердость покрыти . Известно, что между микротвердостью и электропроводностью, например хромового покрыти , . существует однозначна линейна зависимость. Из этого следует, что измерив впектропровод кость покрьл. ти , например хрома, можно судить о мнкротвердостЕ покрыти . Это правомерно только в тех случа х когда глубина вихревых токов меньше толщины покрыти . При контроле тонких покрытий (толлда ва вгжрытий меньше глубины проникновени вихревых токов), на величину сигнала вихретокового преобразовател оказывают вли ние электромагнитные свойства основани . Повышение частоты, на которой провз водитс измерение электропроводности, дл уменьшени глубины проникновени вихревых токов снижает Чувствительност способа. Дл образцов с различной микротвердостью и толщиной покрыти стро тс эталонные зависимости электропроводности от микротвердости дл различных толшин . Поскольку покрытие исследуемого образца нанесено на основание из того же материала, «лго и образцы, на которых снималась эталонна зависимость 1вмер электропроводность вихретоковым методом и толщину .псжрыти одним из известных способов по эталонным зависимост м , учитывающим вли ние толщины покрыти и электромагнитные свойства основани на измер емую электропроводность , определ ют микротвердость покрыти исследуемого образца. Пример. Проводитс измерение микротвердости хромового покрыти на де тал х из высокопрочной стали ЗОХГСН2А Толшина хрсмового покрыти , измеренна магнитным толшкномаром, составл ет 20,35,50 и 75 мкм. Дл определени микротвердости хромового покрэ1ти на детал х сначала стро т эталонные зависимости электропроводности от микротвердости дл обр 1зцов с различной толщиной покрыти . Затем измер ют электропроводность хромового и по полученным эталонным зависимост м электропроводности от микротвердости при различной толщине покрыти определ ют микротвердость хромового покрыти детали. Использование изрбретени позволит обеспечить объективный 100%-ный контроль качества, в 4acTHocfH, хромовых покрытий , повысить надежность и ресурс восстановленных при ремонте авиационных деталей, а также снизить трудоемкость по определению микротвердости покрытий при проведении научно-исследовательских работ. Формула изобретени Способ неразрушающего контрол мвкротвердости провод щих покрытий, заключающийс в том, что измер ют электропроводность исследуемого образца и по полученной ранее на р дп образцов с различной мшсротвердостью эталонной зависимости электропроводности определ ют микротвердость исследуемого образов ., ртличающийс тем, что, с целью повышени точности контро л , измер ют электропроводность дл образцов также и с различной толщиной их покрытий, с учетом которой определ ют микротвердость покрыти . Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Харитонов Л. Г. Определение микротвердости . М., Металлурги , 1967,
2.НеразруШающий контроль металлов и изделий. Справочник .под ред. Г. С Самойлова . М., Машиностроение, 1976, с. 221-223 (прототип).