RU58027U1 - SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELECTRON PROBE MICROANALYZER - Google Patents
SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELECTRON PROBE MICROANALYZER Download PDFInfo
- Publication number
- RU58027U1 RU58027U1 RU2006123916/22U RU2006123916U RU58027U1 RU 58027 U1 RU58027 U1 RU 58027U1 RU 2006123916/22 U RU2006123916/22 U RU 2006123916/22U RU 2006123916 U RU2006123916 U RU 2006123916U RU 58027 U1 RU58027 U1 RU 58027U1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- sample holder
- electron probe
- probe microanalyzer
- base
- scanning electron
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
Полезная модель направлена на возможность осуществления исследования цельных образцов значительных размеров и повышение точность измерений.The utility model is aimed at the possibility of carrying out studies of solid samples of significant sizes and improving the accuracy of measurements.
Указанный медико-технический результат достигается тем, что в держателе образца для сканирующего электронного микроскопа и электронно-зондового микроанализатора на основании зафиксирован пенал, выполненный в виде прямоугольной призмы, две грани которого снабжены установочными винтами, расположенными друг против друга с возможностью перемещения и снабженные упорами, при этом на одной из горизонтальных граней закреплены эталон и ограничители, а на другой установочные штифты.The specified medical and technical result is achieved by the fact that in the sample holder for a scanning electron microscope and an electron probe microanalyzer, a pencil case is made on the base, made in the form of a rectangular prism, two faces of which are equipped with set screws, which are arranged against each other and can be equipped with stops, while on one of the horizontal faces fixed standard and stops, and on the other installation pins.
Description
Устройство относится к области медицинской техники и предназначено для одновременного проведения сканирующей электронной микроскопии и электронно-зондового микроанализа цельных образцов значительных размеров.The device relates to the field of medical equipment and is intended for simultaneous scanning electron microscopy and electron probe microanalysis of large samples of significant sizes.
Известен держатель образца для сканирующего электронного микроскопа, который содержит подложку, толщиной 5 мм, выполненную в форме круга диаметром 12,5 мм, цилиндр, основу держателя с резьбовым отверстием для стержня замены образца, посадочный винт подложки, посадочный винт цилиндра, винт установки высоты образца (Scanning microscope (Сканирующий электронный микроскоп) JSM-840, Jeol Ltd, Tokyo, Japan / M-36164. - ВЦП. - С.142).A known sample holder for a scanning electron microscope, which contains a substrate with a thickness of 5 mm, made in the form of a circle with a diameter of 12.5 mm, a cylinder, a holder base with a threaded hole for the sample replacement rod, a mounting screw for the substrate, a mounting screw for the cylinder, a screw for setting the height of the sample (Scanning microscope (JSM-840, Jeol Ltd, Tokyo, Japan / M-36164. - VCP. - S.142).
Однако, при установке на данный микроскоп стандартного держателя образца, поставляемого заводом - изготовителем (JEOL, Япония) в комплекте к сканирующему электронному микроскопу JSM-840, проведение электронно-зондового микроанализа невозможно, так как в стандартном держателе образца отсутствует калибровочный эталон - полированная пластина кобальта, поверхность которой должна быть установлена на одной высоте с поверхностью исследуемого образца.However, when a standard sample holder, supplied by the manufacturer (JEOL, Japan), complete with a JSM-840 scanning electron microscope, is installed on this microscope, electron probe microanalysis is impossible, since the standard sample holder does not have a calibration standard - a polished cobalt plate , the surface of which should be installed at the same height as the surface of the test sample.
В повседневной научно-исследовательской практике перед проведением каждого электронно-зондового микроанализа на поверхность анализируемого образца приклеивается калибровочный эталон (полированная пластина кобальта), который при смене образца необходимо каждый раз переклеивать. При этом высота калибровочного эталона относительно поверхности исследуемого образца в каждом случае может быть различной, что отрицательно сказывается на точности выполняемых измерений.In everyday research practice, before each electron probe microanalysis, a calibration standard (a polished cobalt plate) is glued to the surface of the analyzed sample, which must be re-glued each time the sample is changed. In this case, the height of the calibration standard relative to the surface of the test sample in each case may be different, which negatively affects the accuracy of the measurements.
Задачей настоящей полезной модели является возможность осуществления одновременного исследования цельных образцов значительных размеров при помощи сканирующего электронного микроскопа и электронно-зондового микроанализатора и повышение точности выполняемых измерений.The objective of this utility model is the possibility of carrying out simultaneous studies of solid samples of significant dimensions using a scanning electron microscope and electron probe microanalyzer and increasing the accuracy of the measurements.
Поставленная задача решается тем, что в держателе образца для сканирующего электронного микроскопа и электронно-зондового микроанализатора, содержащем The problem is solved in that in the sample holder for a scanning electron microscope and an electron probe microanalyzer containing
основание, с расположенным и зафиксированным в нем пеналом, стопорный винт, эталон, пенал выполнен в виде призмы и соединен горизонтальной гранью с основанием посредством отверстий, расположенных на ней по оси симметрии и крепежного винта, установленного в одном из них, при этом горизонтальная грань снабжена, размещенными на концах ее диагоналей четырьмя установочными штифтами, кроме того, на двух противоположных гранях установлены напротив друг друга установочные винты, а на верхней гране закреплены эталон и ограничители.the base, with the pencil case located and fixed in it, the locking screw, standard, the pencil case is made in the form of a prism and is connected by a horizontal face to the base by means of holes located on it along the axis of symmetry and a fixing screw installed in one of them, while the horizontal face is provided placed at the ends of its diagonals by four installation pins, in addition, installation screws are installed opposite each other on two opposite sides, and a reference and stops are fixed on the upper face.
Настоящая полезная модель поясняется подробным описанием, схемой, на которой изображен технический рисунок держателя образца для сканирующего электронного микроскопа и электронно-зондового микроанализатора.The present utility model is illustrated by a detailed description, a diagram showing a technical drawing of a sample holder for a scanning electron microscope and an electron probe microanalyzer.
Держатель образца для сканирующего электронного микроскопа и электронно-зондового микроанализатора содержит основание 1, снабженное ласточкиным хвостом и двумя резьбовыми отверстиями 2. Каждое из последних расположено на взаимно перпендикулярных гранях основания 1 и в одном из резьбовых отверстий установлен стопорный винт 3. На основании 1 зафиксирован крепежным винтом 4, установленном в одном из трех крепежных отверстий 5, пенал 6. Пенал 6 оснащен закрепленными на нем эталоном 7 левым 8 и правым 9 ограничителями и соответственно левым 10 и правым 11 установочными винтами. Левый 10 и правый 11 установочные винты расположены в резьбовых отверстиях, выполненных на противоположных гранях пенала 1. Концы левого 10 и правого 11 установочных винтов снабжены соответственно левым 12 и правым 13 упорами, каждый из которых выполнен в виде зубчатой шайбы. Кроме того, на горизонтальной гране пенала 6 размещены на концах диагоналей четыре установочных штифта 14 и 15.The sample holder for a scanning electron microscope and an electron probe microanalyzer contains a base 1 equipped with a swallow tail and two threaded holes 2. Each of the latter is located on mutually perpendicular faces of the base 1 and a locking screw 3 is installed in one of the threaded holes. a screw 4, installed in one of the three mounting holes 5, a pencil case 6. The pencil case 6 is equipped with a standard 7 fixed on it left 8 and right 9 limiters and, accordingly, left 10 and p avym 11 mounting screws. The left 10 and right 11 set screws are located in threaded holes made on opposite sides of the pencil case 1. The ends of the left 10 and right 11 set screws are equipped with left 12 and right 13 stops, each of which is made in the form of a toothed washer. In addition, four installation pins 14 and 15 are placed on the horizontal edge of the pencil case 6 at the ends of the diagonals.
Держатель образца для сканирующего электронного микроскопа и электронно-зондового микроанализатора используют следующим образом.The sample holder for a scanning electron microscope and an electron probe microanalyzer is used as follows.
Пенал 6 устанавливают в отверстии основания 1 и фиксируют его положение стопорным винтом 3. Затем пенал 6 соединяют крепежным винтом с основанием 1.The case 6 is installed in the hole of the base 1 and fix its position with the locking screw 3. Then the case 6 is connected with a fixing screw to the base 1.
Исследуемый образец устанавливают в пенал 6 и при помощи винтов 14, 15 прижимают исследуемой поверхностью к ограничителям левым 8 и правым 9, а с торцов фиксируют между левым 12 и правым 13 упорами, которые выполняют в виде зубчатых шайб, и закрепляют установочными винтами левым 10 и правым 11. Таким образом, поверхность образца автоматически устанавливается на одном уровне с поверхностью эталона 7 (полированной пластиной кобальта).The test sample is installed in the pencil case 6 and, using screws 14, 15, press the test surface to the left 8 and right 9 stops, and from the ends fix between the left 12 and right 13 stops, which are made in the form of toothed washers, and fasten with the left set screws 10 and right 11. Thus, the surface of the sample is automatically installed at the same level with the surface of the standard 7 (polished cobalt plate).
Для возможности осуществления исследования цельных длинных образцов без их разрушения откручивают крепежный винт 4 и пенал переставляют в одно из отверстий 5, To enable the study of whole long samples without breaking them, unscrew the fixing screw 4 and the pencil case is rearranged in one of the holes 5,
после чего закрепляют крепежным винтом 4 с основанием 1. Таким образом, исследуемый длинный образец смещают, и появляется возможность исследования всей поверхности образца, целиком, не разрезая его на части и не теряя при этом часть исследуемого материала.after which they are fixed with a fixing screw 4 with the base 1. Thus, the studied long sample is displaced, and it becomes possible to study the entire surface of the sample, without cutting it into parts and without losing part of the test material.
Предлагаемая полезная модель позволяет, в частности, фиксировать образцы длинных трубчатых костей значительных размеров и выполнять их исследования одновременно при помощи сканирующего электронного микроскопа и электронно-зондового микроанализатора. Для этого ориентировочная: годовая потребность в держателях образца для сканирующего электронного микроскопа и электронно-зондового микроанализатора должна равняться количеству выпущенных промышленностью сканирующих электронных микроскопов, оснащенных электронно-зондовыми микроанализаторами.The proposed utility model allows, in particular, to record samples of long tubular bones of significant sizes and to carry out their research simultaneously using a scanning electron microscope and an electron probe microanalyzer. For this, an indicative: the annual need for sample holders for a scanning electron microscope and an electron probe microanalyzer should be equal to the number of scanning electron microscopes issued by the industry equipped with electron probe microanalysers.
Предлагаемая полезная модель позволяет сократить рабочее время, необходимое для проведения исследований, повышает их точность и используется в научном процессе в научном экспериментально-клиническом отделе морфологических исследований ФГУН «РНЦ «ВТО» им. академика Г.А.Илизарова Росздрава».The proposed utility model allows to reduce the working time necessary for research, increases their accuracy and is used in the scientific process in the scientific experimental clinical department of morphological studies of the Federal State Institution Scientific and Research Center “WTO” named after Academician G.A. Ilizarov of Roszdrav ".
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2006123916/22U RU58027U1 (en) | 2006-07-04 | 2006-07-04 | SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELECTRON PROBE MICROANALYZER |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2006123916/22U RU58027U1 (en) | 2006-07-04 | 2006-07-04 | SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELECTRON PROBE MICROANALYZER |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU58027U1 true RU58027U1 (en) | 2006-11-10 |
Family
ID=37501253
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2006123916/22U RU58027U1 (en) | 2006-07-04 | 2006-07-04 | SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELECTRON PROBE MICROANALYZER |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU58027U1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2712043C1 (en) * | 2018-12-20 | 2020-01-24 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Воронежский государственный медицинский университет им. Н.Н. Бурденко" Министерства здравоохранения Российской Федерации | Method of predicting mechanical properties of dental materials on a polymer base based on scanning electron microscopy |
-
2006
- 2006-07-04 RU RU2006123916/22U patent/RU58027U1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2712043C1 (en) * | 2018-12-20 | 2020-01-24 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Воронежский государственный медицинский университет им. Н.Н. Бурденко" Министерства здравоохранения Российской Федерации | Method of predicting mechanical properties of dental materials on a polymer base based on scanning electron microscopy |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20170199108A1 (en) | Mechanical Property Tester of Biological Soft Tissue | |
Woodcock et al. | A method for mounting 4μ resin sections routinely for ultra‐thin sectioning | |
US6825478B1 (en) | MALDI plate with removable magnetic insert | |
CN104183453B (en) | Sample stage and microscopic system | |
RU58027U1 (en) | SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELECTRON PROBE MICROANALYZER | |
CN108398776A (en) | A kind of general level adjusting apparatus adapted on microscope | |
US11387088B2 (en) | Target holder assembly of ion probe and method for preparing sample target thereof | |
US9446402B2 (en) | Specimen supplying tool and specimen analysing instrument using the same | |
CN111521627A (en) | EBSD test sample platform | |
CN201936840U (en) | Specimen holder for analysis of scanning electron microscope | |
US8941916B2 (en) | Filter holder for correlative particle analysis | |
CN107015027B (en) | Sample positioning and fixing method and device of scanning probe microscope | |
CN202471629U (en) | Sample rack | |
CN202230039U (en) | Sample bearing and position adjusting bracket used in electron probe tests | |
CN209447760U (en) | A kind of scanning electron microscope sample stage for observing sample fracture | |
US20140065036A1 (en) | Tray Support for Chromatographic Equipment | |
CN208255103U (en) | The irregular sample stage of electron probe | |
KR20100003682U (en) | Jig for fixing test-plate | |
JP2000230912A (en) | X-ray analysis sample holder and x-ray analyzer | |
KR20210141595A (en) | Sample Holders, Systems and Methods | |
JP2010249760A (en) | Sample holder | |
CN208284450U (en) | A kind of multipurpose sample platform of scanning electronic microscope | |
CN110793434A (en) | Calibration device and calibration method for target base of laser tracker | |
JP2011064476A (en) | Jig for parallel-feeding of samples | |
CN204966443U (en) | Scanning electron microscope objective table |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM1K | Utility model has become invalid (non-payment of fees) |
Effective date: 20070705 |