RU58027U1 - SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELECTRON PROBE MICROANALYZER - Google Patents

SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELECTRON PROBE MICROANALYZER Download PDF

Info

Publication number
RU58027U1
RU58027U1 RU2006123916/22U RU2006123916U RU58027U1 RU 58027 U1 RU58027 U1 RU 58027U1 RU 2006123916/22 U RU2006123916/22 U RU 2006123916/22U RU 2006123916 U RU2006123916 U RU 2006123916U RU 58027 U1 RU58027 U1 RU 58027U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
sample holder
electron probe
probe microanalyzer
base
scanning electron
Prior art date
Application number
RU2006123916/22U
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Юрий Михайлович Ирьянов
Евгений Анатольевич Наумов
Татьяна Юрьевна Ирьянова
Original Assignee
Федеральное государственное учреждение науки "Российский научный центр "Восстановительная травматология и ортопедия" имени академика Г.А. Илизарова Федерального агентства по здравоохранению и социальному развитию"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное учреждение науки "Российский научный центр "Восстановительная травматология и ортопедия" имени академика Г.А. Илизарова Федерального агентства по здравоохранению и социальному развитию" filed Critical Федеральное государственное учреждение науки "Российский научный центр "Восстановительная травматология и ортопедия" имени академика Г.А. Илизарова Федерального агентства по здравоохранению и социальному развитию"
Priority to RU2006123916/22U priority Critical patent/RU58027U1/en
Application granted granted Critical
Publication of RU58027U1 publication Critical patent/RU58027U1/en

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

Полезная модель направлена на возможность осуществления исследования цельных образцов значительных размеров и повышение точность измерений.The utility model is aimed at the possibility of carrying out studies of solid samples of significant sizes and improving the accuracy of measurements.

Указанный медико-технический результат достигается тем, что в держателе образца для сканирующего электронного микроскопа и электронно-зондового микроанализатора на основании зафиксирован пенал, выполненный в виде прямоугольной призмы, две грани которого снабжены установочными винтами, расположенными друг против друга с возможностью перемещения и снабженные упорами, при этом на одной из горизонтальных граней закреплены эталон и ограничители, а на другой установочные штифты.The specified medical and technical result is achieved by the fact that in the sample holder for a scanning electron microscope and an electron probe microanalyzer, a pencil case is made on the base, made in the form of a rectangular prism, two faces of which are equipped with set screws, which are arranged against each other and can be equipped with stops, while on one of the horizontal faces fixed standard and stops, and on the other installation pins.

Description

Устройство относится к области медицинской техники и предназначено для одновременного проведения сканирующей электронной микроскопии и электронно-зондового микроанализа цельных образцов значительных размеров.The device relates to the field of medical equipment and is intended for simultaneous scanning electron microscopy and electron probe microanalysis of large samples of significant sizes.

Известен держатель образца для сканирующего электронного микроскопа, который содержит подложку, толщиной 5 мм, выполненную в форме круга диаметром 12,5 мм, цилиндр, основу держателя с резьбовым отверстием для стержня замены образца, посадочный винт подложки, посадочный винт цилиндра, винт установки высоты образца (Scanning microscope (Сканирующий электронный микроскоп) JSM-840, Jeol Ltd, Tokyo, Japan / M-36164. - ВЦП. - С.142).A known sample holder for a scanning electron microscope, which contains a substrate with a thickness of 5 mm, made in the form of a circle with a diameter of 12.5 mm, a cylinder, a holder base with a threaded hole for the sample replacement rod, a mounting screw for the substrate, a mounting screw for the cylinder, a screw for setting the height of the sample (Scanning microscope (JSM-840, Jeol Ltd, Tokyo, Japan / M-36164. - VCP. - S.142).

Однако, при установке на данный микроскоп стандартного держателя образца, поставляемого заводом - изготовителем (JEOL, Япония) в комплекте к сканирующему электронному микроскопу JSM-840, проведение электронно-зондового микроанализа невозможно, так как в стандартном держателе образца отсутствует калибровочный эталон - полированная пластина кобальта, поверхность которой должна быть установлена на одной высоте с поверхностью исследуемого образца.However, when a standard sample holder, supplied by the manufacturer (JEOL, Japan), complete with a JSM-840 scanning electron microscope, is installed on this microscope, electron probe microanalysis is impossible, since the standard sample holder does not have a calibration standard - a polished cobalt plate , the surface of which should be installed at the same height as the surface of the test sample.

В повседневной научно-исследовательской практике перед проведением каждого электронно-зондового микроанализа на поверхность анализируемого образца приклеивается калибровочный эталон (полированная пластина кобальта), который при смене образца необходимо каждый раз переклеивать. При этом высота калибровочного эталона относительно поверхности исследуемого образца в каждом случае может быть различной, что отрицательно сказывается на точности выполняемых измерений.In everyday research practice, before each electron probe microanalysis, a calibration standard (a polished cobalt plate) is glued to the surface of the analyzed sample, which must be re-glued each time the sample is changed. In this case, the height of the calibration standard relative to the surface of the test sample in each case may be different, which negatively affects the accuracy of the measurements.

Задачей настоящей полезной модели является возможность осуществления одновременного исследования цельных образцов значительных размеров при помощи сканирующего электронного микроскопа и электронно-зондового микроанализатора и повышение точности выполняемых измерений.The objective of this utility model is the possibility of carrying out simultaneous studies of solid samples of significant dimensions using a scanning electron microscope and electron probe microanalyzer and increasing the accuracy of the measurements.

Поставленная задача решается тем, что в держателе образца для сканирующего электронного микроскопа и электронно-зондового микроанализатора, содержащем The problem is solved in that in the sample holder for a scanning electron microscope and an electron probe microanalyzer containing

основание, с расположенным и зафиксированным в нем пеналом, стопорный винт, эталон, пенал выполнен в виде призмы и соединен горизонтальной гранью с основанием посредством отверстий, расположенных на ней по оси симметрии и крепежного винта, установленного в одном из них, при этом горизонтальная грань снабжена, размещенными на концах ее диагоналей четырьмя установочными штифтами, кроме того, на двух противоположных гранях установлены напротив друг друга установочные винты, а на верхней гране закреплены эталон и ограничители.the base, with the pencil case located and fixed in it, the locking screw, standard, the pencil case is made in the form of a prism and is connected by a horizontal face to the base by means of holes located on it along the axis of symmetry and a fixing screw installed in one of them, while the horizontal face is provided placed at the ends of its diagonals by four installation pins, in addition, installation screws are installed opposite each other on two opposite sides, and a reference and stops are fixed on the upper face.

Настоящая полезная модель поясняется подробным описанием, схемой, на которой изображен технический рисунок держателя образца для сканирующего электронного микроскопа и электронно-зондового микроанализатора.The present utility model is illustrated by a detailed description, a diagram showing a technical drawing of a sample holder for a scanning electron microscope and an electron probe microanalyzer.

Держатель образца для сканирующего электронного микроскопа и электронно-зондового микроанализатора содержит основание 1, снабженное ласточкиным хвостом и двумя резьбовыми отверстиями 2. Каждое из последних расположено на взаимно перпендикулярных гранях основания 1 и в одном из резьбовых отверстий установлен стопорный винт 3. На основании 1 зафиксирован крепежным винтом 4, установленном в одном из трех крепежных отверстий 5, пенал 6. Пенал 6 оснащен закрепленными на нем эталоном 7 левым 8 и правым 9 ограничителями и соответственно левым 10 и правым 11 установочными винтами. Левый 10 и правый 11 установочные винты расположены в резьбовых отверстиях, выполненных на противоположных гранях пенала 1. Концы левого 10 и правого 11 установочных винтов снабжены соответственно левым 12 и правым 13 упорами, каждый из которых выполнен в виде зубчатой шайбы. Кроме того, на горизонтальной гране пенала 6 размещены на концах диагоналей четыре установочных штифта 14 и 15.The sample holder for a scanning electron microscope and an electron probe microanalyzer contains a base 1 equipped with a swallow tail and two threaded holes 2. Each of the latter is located on mutually perpendicular faces of the base 1 and a locking screw 3 is installed in one of the threaded holes. a screw 4, installed in one of the three mounting holes 5, a pencil case 6. The pencil case 6 is equipped with a standard 7 fixed on it left 8 and right 9 limiters and, accordingly, left 10 and p avym 11 mounting screws. The left 10 and right 11 set screws are located in threaded holes made on opposite sides of the pencil case 1. The ends of the left 10 and right 11 set screws are equipped with left 12 and right 13 stops, each of which is made in the form of a toothed washer. In addition, four installation pins 14 and 15 are placed on the horizontal edge of the pencil case 6 at the ends of the diagonals.

Держатель образца для сканирующего электронного микроскопа и электронно-зондового микроанализатора используют следующим образом.The sample holder for a scanning electron microscope and an electron probe microanalyzer is used as follows.

Пенал 6 устанавливают в отверстии основания 1 и фиксируют его положение стопорным винтом 3. Затем пенал 6 соединяют крепежным винтом с основанием 1.The case 6 is installed in the hole of the base 1 and fix its position with the locking screw 3. Then the case 6 is connected with a fixing screw to the base 1.

Исследуемый образец устанавливают в пенал 6 и при помощи винтов 14, 15 прижимают исследуемой поверхностью к ограничителям левым 8 и правым 9, а с торцов фиксируют между левым 12 и правым 13 упорами, которые выполняют в виде зубчатых шайб, и закрепляют установочными винтами левым 10 и правым 11. Таким образом, поверхность образца автоматически устанавливается на одном уровне с поверхностью эталона 7 (полированной пластиной кобальта).The test sample is installed in the pencil case 6 and, using screws 14, 15, press the test surface to the left 8 and right 9 stops, and from the ends fix between the left 12 and right 13 stops, which are made in the form of toothed washers, and fasten with the left set screws 10 and right 11. Thus, the surface of the sample is automatically installed at the same level with the surface of the standard 7 (polished cobalt plate).

Для возможности осуществления исследования цельных длинных образцов без их разрушения откручивают крепежный винт 4 и пенал переставляют в одно из отверстий 5, To enable the study of whole long samples without breaking them, unscrew the fixing screw 4 and the pencil case is rearranged in one of the holes 5,

после чего закрепляют крепежным винтом 4 с основанием 1. Таким образом, исследуемый длинный образец смещают, и появляется возможность исследования всей поверхности образца, целиком, не разрезая его на части и не теряя при этом часть исследуемого материала.after which they are fixed with a fixing screw 4 with the base 1. Thus, the studied long sample is displaced, and it becomes possible to study the entire surface of the sample, without cutting it into parts and without losing part of the test material.

Предлагаемая полезная модель позволяет, в частности, фиксировать образцы длинных трубчатых костей значительных размеров и выполнять их исследования одновременно при помощи сканирующего электронного микроскопа и электронно-зондового микроанализатора. Для этого ориентировочная: годовая потребность в держателях образца для сканирующего электронного микроскопа и электронно-зондового микроанализатора должна равняться количеству выпущенных промышленностью сканирующих электронных микроскопов, оснащенных электронно-зондовыми микроанализаторами.The proposed utility model allows, in particular, to record samples of long tubular bones of significant sizes and to carry out their research simultaneously using a scanning electron microscope and an electron probe microanalyzer. For this, an indicative: the annual need for sample holders for a scanning electron microscope and an electron probe microanalyzer should be equal to the number of scanning electron microscopes issued by the industry equipped with electron probe microanalysers.

Предлагаемая полезная модель позволяет сократить рабочее время, необходимое для проведения исследований, повышает их точность и используется в научном процессе в научном экспериментально-клиническом отделе морфологических исследований ФГУН «РНЦ «ВТО» им. академика Г.А.Илизарова Росздрава».The proposed utility model allows to reduce the working time necessary for research, increases their accuracy and is used in the scientific process in the scientific experimental clinical department of morphological studies of the Federal State Institution Scientific and Research Center “WTO” named after Academician G.A. Ilizarov of Roszdrav ".

Claims (1)

Держатель образца для сканирующего электронного микроскопа и электронно-зондового микроанализатора содержит основание, с расположенным и зафиксированным в нем пеналом, стопорный винт, эталон, отличающийся тем, что пенал выполнен в виде призмы и соединен горизонтальной гранью с основанием посредством отверстий, расположенных на ней по оси симметрии и крепежного винта, установленного в одном из них, при этом горизонтальная грань снабжена, размещенными на концах ее диагоналей, четырьмя установочными штифтами, кроме того, на двух противоположных гранях установлены с возможностью перемещения напротив друг друга установочные винты, а на верхней гране закреплены эталон и ограничители.
Figure 00000001
The sample holder for a scanning electron microscope and an electron probe microanalyzer contains a base, with a canister located and fixed in it, a locking screw, a standard, characterized in that the canister is made in the form of a prism and is connected by a horizontal face to the base by means of holes located on it along the axis symmetry and a fixing screw installed in one of them, while the horizontal face is equipped with four mounting pins located at the ends of its diagonals, in addition, on two false faces are movably mounted opposite to each other fixing screws, and fixed etalon and guides on the upper face.
Figure 00000001
RU2006123916/22U 2006-07-04 2006-07-04 SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELECTRON PROBE MICROANALYZER RU58027U1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2006123916/22U RU58027U1 (en) 2006-07-04 2006-07-04 SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELECTRON PROBE MICROANALYZER

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2006123916/22U RU58027U1 (en) 2006-07-04 2006-07-04 SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELECTRON PROBE MICROANALYZER

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU58027U1 true RU58027U1 (en) 2006-11-10

Family

ID=37501253

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2006123916/22U RU58027U1 (en) 2006-07-04 2006-07-04 SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELECTRON PROBE MICROANALYZER

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU58027U1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2712043C1 (en) * 2018-12-20 2020-01-24 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Воронежский государственный медицинский университет им. Н.Н. Бурденко" Министерства здравоохранения Российской Федерации Method of predicting mechanical properties of dental materials on a polymer base based on scanning electron microscopy

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2712043C1 (en) * 2018-12-20 2020-01-24 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Воронежский государственный медицинский университет им. Н.Н. Бурденко" Министерства здравоохранения Российской Федерации Method of predicting mechanical properties of dental materials on a polymer base based on scanning electron microscopy

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20170199108A1 (en) Mechanical Property Tester of Biological Soft Tissue
Woodcock et al. A method for mounting 4μ resin sections routinely for ultra‐thin sectioning
US6825478B1 (en) MALDI plate with removable magnetic insert
CN104183453B (en) Sample stage and microscopic system
RU58027U1 (en) SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELECTRON PROBE MICROANALYZER
CN108398776A (en) A kind of general level adjusting apparatus adapted on microscope
US11387088B2 (en) Target holder assembly of ion probe and method for preparing sample target thereof
US9446402B2 (en) Specimen supplying tool and specimen analysing instrument using the same
CN111521627A (en) EBSD test sample platform
CN201936840U (en) Specimen holder for analysis of scanning electron microscope
US8941916B2 (en) Filter holder for correlative particle analysis
CN107015027B (en) Sample positioning and fixing method and device of scanning probe microscope
CN202471629U (en) Sample rack
CN202230039U (en) Sample bearing and position adjusting bracket used in electron probe tests
CN209447760U (en) A kind of scanning electron microscope sample stage for observing sample fracture
US20140065036A1 (en) Tray Support for Chromatographic Equipment
CN208255103U (en) The irregular sample stage of electron probe
KR20100003682U (en) Jig for fixing test-plate
JP2000230912A (en) X-ray analysis sample holder and x-ray analyzer
KR20210141595A (en) Sample Holders, Systems and Methods
JP2010249760A (en) Sample holder
CN208284450U (en) A kind of multipurpose sample platform of scanning electronic microscope
CN110793434A (en) Calibration device and calibration method for target base of laser tracker
JP2011064476A (en) Jig for parallel-feeding of samples
CN204966443U (en) Scanning electron microscope objective table

Legal Events

Date Code Title Description
MM1K Utility model has become invalid (non-payment of fees)

Effective date: 20070705