RU2663301C1 - Устройство для измерения коэффициентов отражения и излучения материалов и покрытий - Google Patents
Устройство для измерения коэффициентов отражения и излучения материалов и покрытий Download PDFInfo
- Publication number
- RU2663301C1 RU2663301C1 RU2017119021A RU2017119021A RU2663301C1 RU 2663301 C1 RU2663301 C1 RU 2663301C1 RU 2017119021 A RU2017119021 A RU 2017119021A RU 2017119021 A RU2017119021 A RU 2017119021A RU 2663301 C1 RU2663301 C1 RU 2663301C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- ellipsoid
- radiation
- sample
- mirror
- reflection
- Prior art date
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 10
- 238000000576 coating method Methods 0.000 title claims abstract description 9
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 41
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims abstract description 6
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 2
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims description 2
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 claims description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 24
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 239000013074 reference sample Substances 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/02—Diffusing elements; Afocal elements
- G02B5/0273—Diffusing elements; Afocal elements characterized by the use
- G02B5/0284—Diffusing elements; Afocal elements characterized by the use used in reflection
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
Изобретение относится к оптической измерительной технике. Устройство для измерения коэффициентов отражения и излучения материалов и покрытий состоит: из зеркального эллипсоида с отверстием, выполненным под углом 5-20° к его оси, предназначенным для ввода излучения на образец, плоскость которого проходит через нижний фокус эллипсоида; небольшой интегрирующей сферы с пироэлектрическим приемником излучения, чувствительная поверхность которого расположена на поверхности сферы; и экрана, предназначенного для устранения прямого попадания излучения, отраженного от поверхности образца на фотоприемник. В качестве источника излучения, модулятора и зеркала содержит компактный, модулируемый электрическим током малоинерционный инфракрасный излучатель, частота модуляции которого синхронизована с частотой выборки АЦП регистрирующего устройства. Техническим результатом изобретения является линейная зависимость сигнала регистрации пироэлектрического приемника от мощности отраженного от образца излучения, которая не зависит от индикатрисы отражения образца, обеспечивая равенство условий для образцов с зеркальным и диффузным характером отражения. 4 з.п. ф-лы, 6 ил.
Description
Изобретение относится к измерительной технике для определения оптических характеристик поверхности материалов и изделий, точнее для измерения коэффициентов их теплового (инфракрасного) излучения и отражения, может использоваться в приборостроении, космической промышленности, энергетическом машиностроении в научных исследованиях в области физики. Известны терморадиометры типа ТИС, ТРМ-И, УИЛЛИ, которые определяют коэффициент теплового излучения (отражения) с использованием зеркального эллипсоида («Оптические свойства лакокрасочных покрытий» / Гуревич М.М., Ицко И.Ф., Середенко М.М., Спб.: Профессия, 210-220 с.). В приборах этого типа источник излучения, включающий нагреватель (2) и резистор (3), и тепловой приемник излучения (4) размещены в области верхнего фокуса эллипсоида (1), а измеряемая поверхность образца (5) проходит через нижний фокус эллипсоида (фиг. 1). При этом упавшее на образец излучение частично поглощается и частично отражается. Фактически терморадиометр измеряет коэффициент отражения при температуре источника излучения, близкой к температуре образца. Согласно закону Кирхгофа для непрозрачных тел коэффициент излучения ε связан с коэффициентом отражения образца ρ простой формулой:
Спектральный диапазон работы прибора составляет 4-40 мкм, а максимум чувствительности приходится на длину волны около 12 мкм.
Главным недостатками данного технического решения является регистрация приемником собственного излучения образца вместе с отраженным от него излучением. Это приводит к тому, что собственное излучение образца, вызванное разогревом его поверхности при падении зондирующего излучения, вносит значительный вклад в регистрируемый сигнал от образца. Для образцов материалов с низкой теплопроводностью в результате разогрева их поверхности возникают большие дополнительные ошибки определения коэффициента излучения в соответствии с формулой (1). Другим недостатком данного технического решения является существенное влияние индикатрисы отражения образца на величину регистрируемого сигнала, обусловленное малыми размерами теплового приемника излучения (4) - болометра, что приводит к значительным расхождениям при измерениях образцов с диффузным и зеркальным характером отражения.
Наиболее близким к заявленному техническому решению является патент США US 005659397 A «Метод и устройство для измерения зеркальных и диффузных оптических характеристик от поверхностей объектов», опубл. 29.08.1997. В данном техническом решении модулированное излучение вводится в эллипсоид (1) через отверстие под углом 15° к его оси (фиг. 2). Т.к. отраженное от поверхности образца (5) излучение, в отличие от его собственного излучения, является модулированным, то использование схемы синхронного детектирования устраняет влияние собственного излучения образца на результаты измерений его коэффициента отражения, к тому же пироэлектрический приемник (10), в отличие от болометра, реагирует только на изменения теплового потока. С другой стороны, большая чувствительная площадка пироэлектрического приемника, проходящая через верхний фокус эллипсоида, почти полностью перекрывает сечение эллипсоида плоскостью, перпендикулярной его оси, что снижает влияние индикатрисы отражения образца на величину регистрируемого сигнала.
Недостатками данного технического решения являются: остающееся расхождение при измерениях образцов с диффузным и зеркальным характером отражения, которое может быть устранено только использованием пироэлектрического приемника с коэффициентом поглощения, равным 1, вне зависимости от угла падения; нелинейная зависимость регистрируемого сигнала от мощности отраженного от образца потока излучения, связанная с отражением от металлических элементов конструкции приемника; необходимость использования дорогостоящего пироэлектрического приемника (10) с большой площадью чувствительной поверхности, фокусирующего зеркала (8) и механического модулятора-прерывателя излучения (7), которые увеличивают габариты изделия и его стоимость.
Задачами, на решение которых направлено заявляемое изобретение, являются увеличение точности измерений оптических характеристик образцов с зеркальным и диффузным характером отражения, повышение надежности измерений, а также снижение габаритов и стоимости устройства для измерения коэффициентов отражения и излучения материалов и покрытий (терморадиометра).
Поставленные задачи решаются за счет того, что устройство для измерения коэффициентов отражения и излучения материалов и покрытий (фиг. 3), содержащее зеркальный эллипсоид (1) с отверстием, выполненным под углом 5-20° к его оси и предназначенным для ввода излучения на образец, плоскость которого проходит через нижний фокус эллипсоида, отличается тем, что:
1) дополнительно содержит малогабаритную интегрирующую сферу (11) с пироэлектрическим приемником излучения (10), чувствительная поверхность которого расположена на поверхности сферы и экраном (9), предназначенным для устранения прямого попадания излучения, отраженного от поверхности образца на фотоприемник;
2) в качестве источника излучения, модулятора и фокусирующего зеркала содержит компактный, модулируемый электрическим током малоинерционный инфракрасный излучатель EMIRS200 (12), частота модуляции которого синхронизована с частотой выборки АЦП регистрирующего устройства.
Измерительная камера устройства (фиг. 4) конструктивно может быть выполнена из трех частей: первая - нижняя половина эллипсоида (13); вторая - верхняя половина эллипсоида вместе с нижней половиной интегрирующей сферы (14); третья - верхняя половина интегрирующей сферы (15).
Эллипсоид с зеркальной поверхностью может быть изготовлен из никеля с использованием механической полировки, интегрирующая сфера с диффузно отражающей поверхностью может быть изготовлена из никеля с использованием пескоструйной обработки поверхности, причем зеркальная поверхность эллипсоида и диффузно рассеивающая поверхность интегрирующей сферы могут быть покрыты тонким слоем золота, обеспечивающим увеличение их коэффициентов отражения.
Экран, может быть изготовлен из тонкого листового металла и расположен под углом, обеспечивающим максимальное прохождение излучения, входящего из эллипсоида в сферу.
Техническим результатом, обеспечиваемым приведенной совокупностью признаков, являются: линейная зависимость сигнала регистрации пироэлектрического приемника от мощности отраженного от образца излучения, которая не зависит от индикатрисы отражения образца, обеспечивая равенство условий для образцов с зеркальным и диффузным характером отражения.
Преимуществами предлагаемого устройства являются: повышение точности, надежности измерений коэффициента отражения (излучения); отсутствие необходимости использования дорогостоящего пироэлектрического приемника с большой чувствительной площадкой, что, в свою очередь, ведет к снижению габаритов устройства и его стоимости.
Сущность изобретения поясняется чертежами, на которых изображено:
фиг. 1 - оптическая схема аналога - схема измерений коэффициента излучения в терморадиометре ТРМ «И» с использованием зеркального эллипсоида: 1 - зеркальный эллипсоид; 2 - нагреватель; 3 - резистор; 4 - тепловой приемник излучения (болометр); 5 - измеряемая поверхность образца;
фиг. 2 - оптическая схема прототипа - патент США US 005659397 A «Метод и устройство для измерения зеркальных и диффузных оптических характеристик от поверхностей объектов»: 1 - зеркальный эллипсоид; 5 - измеряемая поверхность образца; 6 - источник излучения; 7 - модулятор -прерыватель; 8 - фокусирующее зеркало; 9 - экран; 10 - приемник пироэлектрический;
фиг. 3 - оптическая схема устройства для измерения коэффициентов отражения и излучения материалов и покрытий: 1 - зеркальный эллипсоид; 5 - измеряемая поверхность образца; 9 - экран; 10 - приемник пироэлектрический (ПП-06); 11 - интегрирующая сфера; 12 - модулируемый инфракрасный излучатель EMIRS200;
фиг. 4 - конструкция измерительной камеры устройства (3D-вид), состоящая из трех частей: 13 - нижняя половина эллипсоида; 14 - верхняя половина эллипсоида и нижняя половина сферы; 15 - верхняя половина сферы;
фиг. 5 - функциональная схема электронных блоков: 10 - пироэлектрический приемник; 12 - модулируемый инфракрасный излучатель; 16 - датчик температуры; 17 - усилитель тока источника излучения; 18 - усилители сигнала измерительного канала; 19 - АЦП датчика температуры; 20 - ЦАП, задающий ток через излучатель; 21 - АЦП измерительного канала; 22 - клавиши управления; 23 - микропроцессор; 24 - ОЗУ; 25 - ЖКИ;
фиг. 6 - внешний вид прибора для измерения коэффициентов отражения и излучения (3D-модель): 26 - измерительная камера; 27 - корпус; 28 - TFT-дисплей; 29 - источник питания; 30 - кнопка "Пуск".
В основу работы устройства положен метод измерения интегрального коэффициента отражения от исследуемой поверхности непрозрачных образцов материалов и покрытий с использованием собирающего зеркального эллипсоида и интегрирующей сферы.
Работает устройство (фиг. 3) следующим образом. Излучение инфракрасного излучателя EMIRS200 (12), модулированное частотой 9,375 Гц, через отверстие в зеркальном эллипсоиде (1) падает на поверхность образца (5) под углом 12° к нормали от его поверхности. Отражаясь от поверхности образца во всех направлениях, излучение собирается зеркальным эллипсоидом вблизи верхнего фокуса зеркального эллипсоида, проходя в интегрирующую сферу (11) через отверстие. При этом экран (9) устраняет прямое попадание излучения на поверхность чувствительной площадки пироэлектрического приемника (10), который регистрирует усредненную освещенность на поверхности интегрирующей сферы.
Конструкция измерительной камеры устройства (фиг. 4), состоит из трех частей, которые имеют направляющие проточки во фланцах для соединения в одну измерительную камеру с использованием стягивающих винтов.
В основу метода регистрации модулированных сигналов, поступающих с пироэлектрического приемника (10), положен метод синхронного детектирования (фиг. 5). Суть метода состоит в синхронизации частоты выборки АЦП (21) преобразования сигналов, поступающих с пироэлектрического приемника, и частоты модуляции источника излучения (12). Для этой цели используется высокостабильный кварцевый генератор, который кратно основной частоте задает частоту модуляции 9,375 Гц и частоту выборки АЦП преобразования с коэффициентом умножения 64. Значения, полученные в результате цифровых сверток сигнала с синхронными опорными гармоническими функциями, являются данными для определения коэффициентов отражения и нормального излучения измеряемого образца. Необходимая температура излучателя может устанавливаться в пределах от 50 до 300°С путем установки тока, протекающего через малоинерционный инфракрасный излучатель (12) с использованием ЦАП (20) и усилителя тока (17), при этом спектральный диапазон работы прибора составляет 3-40 мкм.
Коэффициент отражения измеряемого образца определяется методом сравнения с эталоном по следующей формуле:
где Rэт - коэффициент отражения эталонного образца,
Nоб - сигнал, возникающий на пироэлектрическом приемнике при отражении от измеряемого образца,
Nф - сигнал, возникающий на пироэлектрическом приемнике, определяемый уровнем фона,
Nэт - сигнал, возникающий на пироэлектрическом приемнике при отражении от эталонного образца.
Опытный образец устройства (терморадиометра), получившего обозначение «ТРМ-3», прошел испытания в целях утверждения типа средств измерений во ФГУП «ВНИИОФИ», передан комплект документации в Единый центр Госстандарта для его включения в госреестр средств измерений. Прибор компактен, имеет современный дизайн, автономное питание, успешно используется для проведения измерений коэффициента излучения на образцах материалов и покрытий для изделий космической отрасли. Внешний вид прибора в виде 3D-модели представлен на фиг. 6.
Claims (6)
1. Устройство для измерения коэффициентов отражения и излучения материалов и покрытий, содержащее зеркальный эллипсоид с отверстием, выполненным под углом 5-20° к его оси и предназначенным для ввода излучения на образец, плоскость которого проходит через нижний фокус эллипсоида, отличается тем, что:
дополнительно содержит небольшую интегрирующую сферу с пироэлектрическим приемником излучения, чувствительная поверхность которого расположена на поверхности сферы, и экран, предназначенный для устранения прямого попадания излучения, отраженного от поверхности образца на фотоприемник;
в качестве источника излучения, модулятора и зеркала содержит компактный, модулируемый электрическим током малоинерционный инфракрасный излучатель, частота модуляции которого синхронизована с частотой выборки АЦП регистрирующего устройства.
2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что зеркальный эллипсоид и интегрирующая сфера конструктивно выполнены из трех частей: первая - нижняя половина эллипсоида; вторая - верхняя половина эллипсоида вместе с нижней половиной интегрирующей сферы; третья - верхняя половина интегрирующей сферы.
3. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что эллипсоид с зеркальной поверхностью изготовлен из никеля с использованием механической полировки, интегрирующая сфера с диффузно отражающей поверхностью может быть изготовлена из никеля с использованием пескоструйной обработки поверхности, причем зеркальная поверхность эллипсоида и диффузно рассеивающая поверхность интегрирующей сферы могут быть покрыты тонким слоем золота, обеспечивающим увеличение их коэффициентов отражения.
4. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что экран изготовлен из тонкого листового металла и размещен под некоторым углом, обеспечивающим максимальное прохождение излучения, входящего из эллипсоида в сферу.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2017119021A RU2663301C1 (ru) | 2017-06-01 | 2017-06-01 | Устройство для измерения коэффициентов отражения и излучения материалов и покрытий |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2017119021A RU2663301C1 (ru) | 2017-06-01 | 2017-06-01 | Устройство для измерения коэффициентов отражения и излучения материалов и покрытий |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2663301C1 true RU2663301C1 (ru) | 2018-08-03 |
Family
ID=63142609
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2017119021A RU2663301C1 (ru) | 2017-06-01 | 2017-06-01 | Устройство для измерения коэффициентов отражения и излучения материалов и покрытий |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2663301C1 (ru) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU211394U1 (ru) * | 2021-09-09 | 2022-06-02 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт ядерных исследований Российской академии наук (ИЯИ РАН) | Стенд для измерения коэффициентов диффузного и зеркального отражений |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4360275A (en) * | 1980-08-11 | 1982-11-23 | Litton Systems Inc. | Device for measurement of optical scattering |
| SU1693486A2 (ru) * | 1988-11-21 | 1991-11-23 | Предприятие П/Я Г-4149 | Устройство дл измерени пропускани и рассе ни оптических элементов |
| US5659397A (en) * | 1995-06-08 | 1997-08-19 | Az Technology | Method and apparatus for measuring total specular and diffuse optical properties from the surface of an object |
| WO2007131162A2 (en) * | 2006-05-05 | 2007-11-15 | Agc Flat Glass North America, Inc. | Apparatus and method for angular colorimetry |
| US20110108741A1 (en) * | 2009-11-12 | 2011-05-12 | Vela Technologies, Inc. | Integrating Optical System and Methods |
-
2017
- 2017-06-01 RU RU2017119021A patent/RU2663301C1/ru active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4360275A (en) * | 1980-08-11 | 1982-11-23 | Litton Systems Inc. | Device for measurement of optical scattering |
| SU1693486A2 (ru) * | 1988-11-21 | 1991-11-23 | Предприятие П/Я Г-4149 | Устройство дл измерени пропускани и рассе ни оптических элементов |
| US5659397A (en) * | 1995-06-08 | 1997-08-19 | Az Technology | Method and apparatus for measuring total specular and diffuse optical properties from the surface of an object |
| WO2007131162A2 (en) * | 2006-05-05 | 2007-11-15 | Agc Flat Glass North America, Inc. | Apparatus and method for angular colorimetry |
| US20110108741A1 (en) * | 2009-11-12 | 2011-05-12 | Vela Technologies, Inc. | Integrating Optical System and Methods |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU211394U1 (ru) * | 2021-09-09 | 2022-06-02 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт ядерных исследований Российской академии наук (ИЯИ РАН) | Стенд для измерения коэффициентов диффузного и зеркального отражений |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4184768A (en) | Self-calibrating photoacoustic apparatus for measuring light intensity and light absorption | |
| Mouza et al. | Measurement of liquid film thickness using a laser light absorption method | |
| KR101698022B1 (ko) | 무색수차 광소자-회전형 타원계측기 및 이를 이용한 시편의 뮬러-행렬 측정 방법 | |
| TWI297767B (en) | Measuring apparatus and method using surface plasmon resonance | |
| US20060067376A1 (en) | Emissivity measuring device | |
| CN105352583B (zh) | 一种测量超声波声压和声强的光学方法和装置及其应用 | |
| Adibekyan et al. | Emissivity Measurement Under Vacuum from 4\,\upmu m 4 μ m to 100\,\upmu m 100 μ m and from-40\,^ ∘ C-40∘ C to 450\,^ ∘ C 450∘ C at PTB | |
| US3245306A (en) | Photometer and method | |
| Underwood et al. | An improved non-contact thermometer and hygrometer with rapid response | |
| CN113324663B (zh) | 一种外场目标发射率的测量方法及系统 | |
| RU2663301C1 (ru) | Устройство для измерения коэффициентов отражения и излучения материалов и покрытий | |
| US3400266A (en) | Infrared radiometric microscope | |
| Peest et al. | Instrumentation-related uncertainty of reflectance and transmittance measurements with a two-channel spectrophotometer | |
| RU2660765C1 (ru) | Способ бесконтактного измерения температуры in situ | |
| JP3689276B2 (ja) | 粒径分布測定装置および粒径分布測定方法 | |
| Firago et al. | Radiometric calibration of fiber optic spectrophotometers | |
| US3424912A (en) | Optical instrument for character print quality analysis | |
| RU2491533C1 (ru) | Способ определения глубины проникновения поля терагерцовых поверхностных плазмонов в окружающую среду | |
| Wabnitz et al. | Characterization of homogeneous tissue phantoms for performance tests in diffuse optics | |
| Saunders et al. | A compact combinatorial device for measurement of nonlinearity of radiation detectors | |
| Makino et al. | A new spectrophotometer system for measuring hemispherical reflectance and normal emittance of real surfaces simultaneously | |
| KR100732118B1 (ko) | 회전 보상기형 외축 타원 해석기 | |
| RU2629909C1 (ru) | Статическое устройство для определения распределения интенсивности поля инфракрасной поверхностной электромагнитной волны вдоль её трека | |
| Sánchez-Pérez et al. | Spectroscopic refractometer for transparent and absorbing liquids by reflection of white light near the critical angle | |
| RU2196306C2 (ru) | Оптический пирометр |