RU2660222C1 - Способ определения расстояния до неоднородности или повреждения двухпроводной линии по ее рефлектограмме - Google Patents

Способ определения расстояния до неоднородности или повреждения двухпроводной линии по ее рефлектограмме Download PDF

Info

Publication number
RU2660222C1
RU2660222C1 RU2017104591A RU2017104591A RU2660222C1 RU 2660222 C1 RU2660222 C1 RU 2660222C1 RU 2017104591 A RU2017104591 A RU 2017104591A RU 2017104591 A RU2017104591 A RU 2017104591A RU 2660222 C1 RU2660222 C1 RU 2660222C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
pulse
distance
inhomogeneity
damage
reflected
Prior art date
Application number
RU2017104591A
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Федорович Глаголев
Мария Сергеевна Былина
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет телекоммуникаций им. проф. М.А. Бонч-Бруевича"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет телекоммуникаций им. проф. М.А. Бонч-Бруевича" filed Critical Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет телекоммуникаций им. проф. М.А. Бонч-Бруевича"
Priority to RU2017104591A priority Critical patent/RU2660222C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2660222C1 publication Critical patent/RU2660222C1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/08Locating faults in cables, transmission lines, or networks
    • G01R31/11Locating faults in cables, transmission lines, or networks using pulse reflection methods

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

Изобретение относится к электротехнике, в частности к способам определения местоположения неоднородностей двухпроводных линий, и предназначено для использования с импульсными приборами (рефлектометрами). Сущность заявленного решения заключается в том, что в заявленном решении обеспечивается возможность определения расстояния до неоднородности или повреждения двухпроводной линии по ее рефлектограмме, при котором устанавливают в рефлектометре значение коэффициента укорочения ky, известное или рассчитанное по выражению ky=с⋅τz, и некоторую длительность зондирующего импульса tp, регистрируют рефлектограмму, обнаруживают на ней отраженный от неоднородности или повреждения импульс и определяют расстояние
Figure 00000031
до переднего фронта обнаруженного импульса, отличающемся тем, что после обнаружения отраженного от неоднородности импульса измеряют по шкале (или с помощью курсора) расстояние
Figure 00000032
до вершины отраженного импульса, после чего определяют
Figure 00000033
путем численного решения уравнения:
Figure 00000034
где τz - удельное время задержки сигнала, τ0 - конструктивная постоянная двухпроводной линии, tp - длительность зондирующего импульса, Q=1.371 - коэффициент аппроксимации. Техническим результатом изобретения является повышение точности определения расстояния до неоднородности (повреждения) в двухпроводной линии по ее рефлектограмме. 6 ил., 3 табл.

Description

Изобретение относится к электротехнике, в частности к способам определения местоположения неоднородностей двухпроводных линий, и предназначено для использования с импульсными приборами (рефлектометрами).
Известен импульсный или рефлектометрический метод измерений параметров двухпроводных линий (см. 1. Воронцов А.С. Импульсные измерения коаксиальных кабелей связи / А.С. Воронцов, П.А. Фролов. - М.: Радио и связь, 1985. - с. 5-10) и реализующие его устройства, называемые импульсными приборами или рефлектометрами и предназначенные для обнаружения неоднородностей и повреждений в двухпроводных линиях и определения расстояний до них (см. например, 2. Патент РФ на изобретение №2098838, М. кл. G01R 31/11, опубл. 10.12.1997; 3. Патент РФ на изобретение №2142142, М. кл. G01R 31/11, опубл. 27.11.1999; 4. Патент США на изобретение №6856138 В2, М.кл. G01R 31/11 опубл. 15.02.2005; 5. Патент США на изобретение №2007/0108989 А1, М.кл. G01R 31/11 опубл. 17.05.2007). Способ определения расстояния до неоднородностей или повреждений в этих устройствах основан на зондировании линии импульсами напряжения и последующей регистрации обратного потока - совокупности импульсов, отраженных от имеющихся неоднородностей и повреждений. Зависимость обратного потока, который может быть представлен электрическим напряжением U(t) или отношением Y(t) этого напряжения к амплитуде зондирующего импульса, от интервала времени t между началом зондирующего импульса и моментом регистрации обратного потока (далее «время») называется рефлектограммой.
Рефлектограмма несет информацию о распределении и параметрах неоднородностей и повреждений в исследуемой линии. В большинстве импульсных приборов шкала времени t градуируется в единицах расстояния
Figure 00000001
с использованием выражения
Figure 00000002
где с - скорость света в вакууме, ν - скорость распространения электрических импульсов напряжения по исследуемой линии, ky=с/ν=с⋅τz - коэффициент укорочения, который устанавливается оператором перед измерениями, τz=1/ν - удельное время задержки сигнала в линии. Тогда под рефлектограммой линии понимают зависимость обратного потока от расстояния Y(
Figure 00000001
). Отметим, что переход от времени к расстоянию на рефлектограмме сопровождается погрешностью, связанной с неточным знанием коэффициента укорочения или удельного времени задержки сигнала. Обратный переход от установленного расстояния к времени при знании выбранного оператором коэффициента укорочения происходит практически без погрешности.
Известна математическая модель обратного потока из неоднородной двухпроводной линии [см. 6. Былина М.С. Исследование импульсного метода измерений параметров двухпроводных кабельных цепей: Автореф. дис. на соискание степени канд. техн. наук: 05.12.13 / М.С. Былина; С.-Петерб. гос. ун-т телекоммуникаций им. проф. М.А. Бонч-Бруевича. – СПб: 2006], позволяющая описать импульсную характеристику отражения от одиночной неоднородности:
Figure 00000003
где τ0 - конструктивная постоянная цепи, l(t) - функция Хэвисайда, r - коэффициент отражения от неоднородности, расположенной на расстоянии
Figure 00000004
. Параметры τz и τ0 определяются конструкцией линии. Их значения приводятся в справочной литературе (см., например, 7. Андреев, В.А. Временные характеристики кабельных линий связи / В.А. Андреев. - М.: Радио и связь, 1986 - с. 8), а также могут определяться экспериментально (см. 8. Былина М.С. Экспериментальное определение удельной конструктивной постоянной двухпроводной кабельной цепи / М.С. Былина, С.Ф. Глаголев // Информационные технологии и телекоммуникации. - 2014. - №1. - c. 9-20).
Известен способ экспериментального определения расстояния
Figure 00000005
до неоднородности (повреждения) в линии по ее рефлектограмме (см. 9. Косолапенко, Г.Б. Специальные измерения в проводной связи / Г.Б. Косолапенко С.Г. Милейковский. - М.: Связьиздат, 1961. - с. 286-287; 10. Шалыт Г.М. Определение мест повреждения линий электропередачи импульсными методами. - М.: Энергия, 1968. - с.89; 11. Рефлектометр цифровой РЕЙС-205. Руководство по эксплуатации / НПП «СТЭЛЛ». - Брянск - с. 98-100), основанный на связи шкал времени t и расстояния
Figure 00000001
при известном коэффициенте укорочения ky или известном удельном времени задержки сигнала τz в исследуемой линии, между которыми существует однозначное соотношение:
Figure 00000006
где τz - удельное время задержки сигнала, с - скорость света в вакууме, и предусматривающий установку в рефлектометре известного или рассчитанного по выражению (3) значения коэффициента укорочения ky и некоторую длительность зондирующего импульса tp, регистрацию рефлектограммы и обнаружение на ней отраженного от неоднородности импульса, после чего определение по шкале (или с помощью курсора) расстояния до начала его переднего фронта
Figure 00000007
(Фиг. 1), которое и принимается за действительное расстояние до неоднородности
Figure 00000008
.
Полученный результат
Figure 00000007
имеет погрешности, связанные с неточным знанием коэффициента укорочения или удельного времени задержки сигнала (мультипликативная погрешность), а также неточным определением начала отраженного от неоднородности импульса (аддитивная погрешность). Последняя погрешность
Figure 00000009
обусловлена тем, что начальный участок переднего фронта импульса, отраженного от неоднородности (повреждения), имеет очень малую крутизну и его трудно обнаружить (Фиг. 2). Эта погрешность возрастает с увеличением
Figure 00000010
и сложным образом зависит от параметров измеряемой линии и длительности зондирующего импульса. Эта погрешность подробно исследована в [6].
Прототипом настоящего изобретения является способ определения расстояния до неоднородности (повреждения) в двухпроводной линии по ее рефлектограмме, описанный в [9].
Техническим результатом изобретения является повышение точности определения расстояния до неоднородности (повреждения) в двухпроводной линии по ее рефлектограмме, достижение которого обеспечивается путем определения расстояния не до начала отраженного импульса, а до его вершины, которая обычно хорошо видна на рефлектограмме даже в присутствии шумовых колебаний сигнала обратного потока в отличие от начала переднего фронта.
Достижение указанного технического результата обеспечивается в способе определения расстояния до неоднородности или повреждения двухпроводной линии по ее рефлектограмме, при котором устанавливают в рефлектометре значение коэффициента укорочения ky, известное или рассчитанное по выражению ky=с⋅τz, и некоторую длительность зондирующего импульса tp, регистрируют рефлектограмму, обнаруживают на ней отраженный от неоднородности или повреждения импульс и определяют расстояние
Figure 00000007
до переднего фронта обнаруженного импульса, отличающемся тем, что после обнаружения отраженного от неоднородности импульса измеряют по шкале (или с помощью курсора) расстояние
Figure 00000011
до вершины отраженного импульса, после чего определяют
Figure 00000007
путем численного решения уравнения:
Figure 00000012
где τz - удельное время задержки сигнала, τ0 - конструктивная постоянная двухпроводной линии, tp - длительность зондирующего импульса, Q=1.371 - коэффициент аппроксимации.
Поясним возможность достижения указанного технического результата.
В предлагаемом способе расстояние до неоднородности определяется по результатам теоретического расчета обратного потока из неоднородной двухпроводной линии с известными параметрами или, по крайней мере, известной конструкции.
В основу теоретического расчета положена математическая модель, предложенная и исследованная в [6]. В соответствии с ней отраженный от неоднородности импульс ur(t) можно описать выражением:
Figure 00000013
где u1(t-τ) - зондирующий импульс напряжения длительностью tp, смещенный на время τ, gr(τ) - импульсная характеристика отражения от одиночной неоднородности, определяемая выражением (2). Многократные расчеты отраженных импульсов по выражению (5) для разных значений tp,
Figure 00000014
и τ0, сопровождающиеся оценкой Δtr для каждого расчета и обобщением полученных результатов, позволили авторам получить аналитическое выражение для длительности переднего фронта Δtr, отраженного от неоднородности импульса:
Figure 00000015
где
Figure 00000016
- коэффициент аппроксимации. Из выражения (6) было получено уравнение:
Figure 00000017
где
Figure 00000018
- расстояние до вершины отраженного импульса (измеренная по рефлектограмме величина),
Figure 00000019
- расстояние до начала его переднего фронта (искомая величина, получаемая решением приведенного выше уравнения), τz - удельное время задержки сигнала, τ0 - конструктивная постоянная двухпроводной линии, tp - длительность зондирующего импульса, Q=1.371 - коэффициент аппроксимации.
Полученное уравнение прошло экспериментальную проверку, результаты которой доказали реальное повышение точности определения расстояния до неоднородности двухпроводной линии при использовании предлагаемого способа и определения расстояния до вершины отраженного от неоднородности импульса по рефлектограмме.
Предлагаемое изобретение поясняется чертежами, где на фиг. 1 представлена типичная рефлектограмма двухпроводной линии с одним отражением от ее разомкнутого конца.
На фиг. 2 представлен фрагмент рефлектограммы двухпроводной линии, содержащий импульс, отраженный от неоднородности, и показана причина возникновения погрешности измерения расстояния до неоднородности известным способом.
На фиг. 3 представлен фрагмент рефлектограммы двухпроводной линии, содержащий импульс, отраженный от неоднородности, проиллюстрирован предлагаемый способ измерения расстояния до неоднородности и использованные в формулах обозначения.
На фиг. 4 приведен пример устройства для реализации предлагаемого способа.
В соответствии с фиг. 4 устройство содержит исследуемую двухпроводную линию 1 (ДЛ), выход которой нагружен на некоторое сопротивление нагрузки 2. К входу ДЛ 1 подключен вход-выход рефлектометра, состоящего из функциональных блоков 3-15. Работой рефлектометра управляет микроконтроллер 3 (МК), который осуществляет предварительную обработку сигнала обратного потока, управляет коэффициентом усиления усилителя 4 (УС), параметрами формирователя импульсов 5 (ФИ) и устройства ввода-вывода 6 (УВВ). Управляющие команды от МК 3 к ФИ 5, УС 4, УВВ 6 и информационные сигналы о состоянии ФИ 5, УС 4 и УВВ 6 передаются на МК по двухпроводной шине управления 7 (ШУ1). ФИ 5 формирует зондирующие импульсы (ЗИ) с заданной от МК 3 длительностью и периодом следования, а также стробимпульсы, управляющие работой аналого-цифрового преобразователя 8 (АЦП). ФИ 5 определяет амплитуду и форму ЗИ. Кроме того, ФИ 5 формирует на шине адреса 9 (ША) код ячейки памяти МК 3, в которую должна записываться цифровая информация от АЦП 8, передаваемая по шине данных 10 (ШД) в МК 3. ЗИ от ФИ 5 через УВВ 6 поступает в ДЛ 1. МК 3 управляет выходным сопротивлением УВВ 6. УВВ 6 выполняет функции разделения направлений передачи ЗИ в исследуемую ДЛ 1, приема обратного потока из ДЛ 1 и направления его к УС 4, а также функции согласования выходного сопротивления рефлектометра с волновым сопротивлением ДЛ 1. Обратный поток из ДЛ 1 через УВВ 6 поступает на усилитель напряжения УС 4, а усиленный сигнал обратного потока поступает на вход АЦП 8. Цифровой сигнал (код) с выхода АЦП 8 от определенной точки, имеющей адрес, установленный на ША 9, поступает по ШД 10 в МК 3, где он подвергается цифровой обработке, которая включает вывод цифрового кода из ячейки с указанным адресом, суммирование его с кодом АЦП 8 и помещение результата в ту же ячейку, где накапливается сигнал обратного потока. За один период следования ЗИ память МК 3 полностью заполняется. МК 3 управляет процессом измерения в реальном масштабе времени. МК 3 задает момент начала первого измерения, управляет процессом накопления сигнала обратного потока и задает количество отдельных измерений, т.е. определяет момент окончания измерений. Процессом измерения управляет оператор (измеритель) с помощью клавиатуры 11, которая подключена к устройству управления и цифровой обработки сигналов 12 (УУ ЦОС) с помощью шины управления 13 (ШУ2). УУ ЦОС 12 связан с МК 3 с помощью шины передачи данных 14 (ШПД), по которой передаются от УУ ЦОС 12 к МК 3 управляющие команды, определяющие длительность и период следования ЗИ, количество накоплений и предполагаемое волновое сопротивление ДЛ 1. От МК 3 к УУ ЦОС 12 передается цифровая информация о содержимом памяти МК 3, т.е. о накопленном сигнале обратного потока. В программном обеспечении МК 3 должна быть предусмотрена (желательно стандартная) процедура обмена информацией между МК 3 и УУ ЦОС 12. Апостериорная обработка информации осуществляется в УУ ЦОС 12. Она включает операции: логарифмирования сигнала обратного потока, учета установленного коэффициента укорочения, а также дополнительной цифровой фильтрации сигнала. УУ ЦОС 12 управляет выводом информации (рефлектограммы) на дисплей 15 с учетом команд оператора, вводимых через клавиатуру 11. Программное обеспечение УУ ЦОС 12 позволяет: устанавливать на изображении рефлектограммы один или несколько курсоров, выводить на экран расстояния до курсоров и значения соответствующих сигналов обратного потока, выводить на экран фрагменты рефлектограмм и запоминать их в памяти УУ ЦОС 12, одновременно выводить на экран несколько рефлектограмм или их фрагментов из памяти и сравнивать их между собой. В предлагаемом техническом решении предусмотрена методика определения расстояния до неоднородности, которая реализуется совмещением курсора с вершиной отраженного от выбранной неоднородности импульса и запуском специальной программы для расчета расстояния до выбранной неоднородности путем решения уравнения (7) относительно величины
Figure 00000020
.
Предлагаемый способ осуществляется в данном устройстве следующим образом. С помощью клавиатуры УУ 11 устанавливаются параметры рефлектометра, согласованные с известными данными об исследуемой ДЛ 1: ее длина, тип (марка), волновое сопротивление, сопротивление нагрузки. Оператор выбирает диапазон расстояния, длительность ЗИ, устанавливает коэффициент укорочения. Регистрирует и наблюдает рефлектограмму, аналогичную показанной на фиг. 1. Корректирует установленные в рефлектометре параметры для получения наглядной рефлектограммы. Выделяет фрагмент рефлектограммы, аналогичный фрагменту, показанному на фиг. 2 и 3, содержащий неоднородность, расстояние до которой хочет определить оператор. Определяет с помощью курсора расстояние до вершины отраженного импульса
Figure 00000021
и запускает процедуру расчета расстояния до начала отраженного импульса
Figure 00000022
Выполнение блоков устройства для осуществления предлагаемого способа можно пояснить следующим образом.
Функции блоков 11, 12, 13, и 15 можно реализовать в виде специализированного или универсального персонального компьютера с внешними или встроенными клавиатурой и дисплеем. Для решения перечисленных задач апостериорной обработки сигналов обратного потока может использоваться компьютер с 32- или 64-разрядным процессором с тактовой частотой не менее 1 ГГц и объемом оперативной памяти не менее 2 ГБ, работающий под управлением операционной системы Microsoft Windows версии 7.0 или выше. Для связи МК 3 и УУ ЦОС 12 могут использоваться порты USB версии не ниже 2.0.
Зададимся некоторыми основными параметрами рефлектометра. Для примера рассмотрим рефлектометр для двухпроводных линий связи с длиной до 30 км. В таблице 1 приведены диапазоны расстояний L, длительности зондирующих импульсов tu, расстояние Δtu, соответствующее длительности ЗИ, расстояние между соседними отсчетами на рефлектограмме Δt по времени и
Figure 00000023
по расстоянию при общем количестве точек на рефлектограмме 2048 и коэффициенте укорочения 1.5.
Figure 00000024
При выбранных параметрах рефлектометра ФИ 5 (фиг. 5) может быть выполнен в виде задающего генератора импульсов 16 (ГИ) с частотой следования импульсов ƒ=1/Δt=400 МГц, двоичного счетчика 17 (СЧ1) с переменным коэффициентом деления K1 от 1 до 64, который задает диапазон измерения расстояния от L=512 м при K1=1 до L=32768 м при K1=64. На выходе СЧ1 17 формируется стробимпульс (СИ) для управления АЦП 8. Частота дискретизации изменяется в зависимости от диапазона расстояний от ƒd=400 МГц до 6.25 МГц. Счетчик 18 (СЧ2) с коэффициентом K2=2048 задает адрес (номер точки на рефлектограмме) и выводит код адреса на шину адреса 19 (ША). На выходе СЧ2 18 формируется ЗИ. Счетчик 20 (СЧЗ) формирует количество накоплений K3=n, которое можно изменять в широких пределах. Время измерения одной рефлектограммы равно tu1=K1⋅K2⋅K3/ƒ. При этом величины ƒ, K1, К2 имеют определенные значения для выбранного диапазона расстояний, а время измерения можно изменять с помощью коэффициента K3. Время измерения можно сделать одинаковым для всех диапазонов, если выбрать K1=K3. В таблице 2 приведены диапазоны по расстоянию, коэффициенты деления двоичных счетчиков при одинаковом времени регистрации рефлектограммы tiz=1.34 с для всех диапазонов расстояния. Управление счетчиками СЧ1 17 и СЧ3 20 осуществляется от МК 3 (Фиг. 4) по шине управления ШУ1 7.
Figure 00000025
УВВ может быть выполнено в виде мостовой схемы, один из вариантов которой приведен на фиг. 6. ЗИ от ФИ 5 поступает на первичную обмотку симметрирующего трансформатора 21 (СТ). В одно плечо мостовой схемы включается ДЛ 1 с волновым сопротивлением Zν, а в другое балансный контур 22 (БК) с сопротивлением Zbk, величиной которого можно управлять с помощью кода, передаваемого по ШУ1 7. При Zbk=Zν достигается режим согласования выходного сопротивления рефлектометра с волновым сопротивлением ДЛ 1.
УС 4 представляет собой усилитель напряжения, который усиливает напряжение обратного потока до уровня, необходимого для работы АЦП 8. Для оценки величины коэффициента усиления были проведены расчеты амплитуды напряжения, отраженного от неоднородности с коэффициентом отражения равным R=1 при амплитуде ЗИ Um=10 В. Результаты расчетов для симметричного кабеля UTP, у которого удельная конструктивная постоянная составляет τ0=400 нс/км2, приведены в таблице 3.
Figure 00000026
Примем амплитуду максимального сигнала Um=10 В, а минимального отраженного сигнала равной
Figure 00000027
мВ. Тогда принимая опорное напряжение АЦП равным 1 В, оценим пределы изменения коэффициента передачи усилителя от 0.1 до 10000. Количество разрядов АЦП примем равным nАЦП=12. Тогда объем памяти С1 одной ячейки в бичах при количестве накоплений K3=64 составит С1 = 262144 бит = 32.768 кбайт.
Figure 00000028
Общее количество ячеек памяти и объем оперативной памяти составит
Figure 00000029
Микроконтроллер МК 3 должен обеспечить высокую скорость обработки сигнала обратного потока. Максимальная частота дискретизации АЦП 8 должна быть равна 400 МГц, а элементарная операция накопления, включающая считывание из памяти, суммирование и запись в память, должна выполняться за время 2.5 нс.
Перечисленным требованиям удовлетворяют множество АЦП и микроконтроллеров, изготавливаемых компаниями INTEL, Texas Instruments и другими.

Claims (3)

  1. Способ определения расстояния до неоднородности или повреждения двухпроводной линии по ее рефлектограмме, при котором устанавливают в рефлектометре значение коэффициента укорочения ky, известное или рассчитанное по выражению ky=с⋅τz, и некоторую длительность зондирующего импульса tp, регистрируют рефлектограмму, обнаруживают на ней отраженный от неоднородности или повреждения импульс и определяют расстояние ld exp до переднего фронта обнаруженного импульса, отличающийся тем, что после обнаружения отраженного от неоднородности импульса измеряют по шкале (или с помощью курсора) расстояние ld max до вершины отраженного импульса, после чего определяют ld exp путем численного решения уравнения:
  2. Figure 00000030
  3. где τz - удельное время задержки сигнала, τ0 - конструктивная постоянная двухпроводной линии, tp - длительность зондирующего импульса, Q=1.371 - коэффициент аппроксимации.
RU2017104591A 2017-02-13 2017-02-13 Способ определения расстояния до неоднородности или повреждения двухпроводной линии по ее рефлектограмме RU2660222C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017104591A RU2660222C1 (ru) 2017-02-13 2017-02-13 Способ определения расстояния до неоднородности или повреждения двухпроводной линии по ее рефлектограмме

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017104591A RU2660222C1 (ru) 2017-02-13 2017-02-13 Способ определения расстояния до неоднородности или повреждения двухпроводной линии по ее рефлектограмме

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2660222C1 true RU2660222C1 (ru) 2018-07-05

Family

ID=62815578

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2017104591A RU2660222C1 (ru) 2017-02-13 2017-02-13 Способ определения расстояния до неоднородности или повреждения двухпроводной линии по ее рефлектограмме

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2660222C1 (ru)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU97831U1 (ru) * 2010-03-23 2010-09-20 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный университет телекоммуникаций им. проф. М.А. Бонч-Бруевича" Устройство оценки количественных и статистических характеристик внутренних неоднородностей электрических кабелей
EP2977774A1 (en) * 2011-02-11 2016-01-27 Teraview Limited Reflectometer test device for integrated circuits

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU97831U1 (ru) * 2010-03-23 2010-09-20 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный университет телекоммуникаций им. проф. М.А. Бонч-Бруевича" Устройство оценки количественных и статистических характеристик внутренних неоднородностей электрических кабелей
EP2977774A1 (en) * 2011-02-11 2016-01-27 Teraview Limited Reflectometer test device for integrated circuits

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Диссертация: "Исследование импульсного метода измерений параметров двухпроводных цепей", 05.12.13. *
Диссертация: "Исследование импульсного метода измерений параметров двухпроводных цепей", 05.12.13. Статья: "Особенности практического использования рефлектометров во временной области", 4/2014, с. 69-79. *
Статья: "Особенности практического использования рефлектометров во временной области", 4/2014, с. 69-79. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102109333B (zh) 小曲率半径复杂曲面智能超声波测厚系统
Cataldo et al. A new measurement algorithm for TDR-based localization of large dielectric permittivity variations in long-distance cable systems
CN105929222A (zh) 适用于高稳射频信号功率稳定度的测试系统及方法
CN110261830B (zh) 一种针对雷达回波模拟器的性能校准器
CN102193029B (zh) 非常规采样时间短期频率稳定度测量方法
RU2660222C1 (ru) Способ определения расстояния до неоднородности или повреждения двухпроводной линии по ее рефлектограмме
CN113406389B (zh) 盘装线缆导体质量测量装置
RU2654958C1 (ru) Устройство для измерения расстояния до места повреждения линий электропередачи
JP2005526965A (ja) システム校正されたベクトル・ネットワークアナライザの実効指向性および/または実効ソースポート整合性の測定方法
CN109164427A (zh) 一种雷达接收机噪声功率的检测方法
RU97831U1 (ru) Устройство оценки количественных и статистических характеристик внутренних неоднородностей электрических кабелей
CN113639804B (zh) 一种检测电缆导管质量的方法和系统
CN112240780A (zh) 放大倍数实时动态分段调节的otdr采样系统及方法
CN110609172A (zh) 脉冲调制信号载波频率测量系统及方法
RU2491519C1 (ru) Уровнемер
CN205210296U (zh) 用于检测局部放电检测仪的检测系统
RU2273017C2 (ru) Устройство для измерения влажности сыпучих материалов
JPH0339270B2 (ru)
RU154431U1 (ru) Автоматический измеритель отражений
CN108872906A (zh) 一种利用连续电荷量标定被测传感器线性度的方法及系统
RU2208223C2 (ru) Измеритель скорости звука в жидких средах
US20070197169A1 (en) Systems and methods for transmitter and channel characterization
CN115372920B (zh) 一种雷达结露补偿方法、装置、设备及存储介质
RU2757929C1 (ru) Способ измерения начальной скорости снаряда лазерной волоконно-оптической системой
RU2523102C2 (ru) Устройство для измерения параметров морских волн