RU2016143023A - Способ измерения параметров сверхпроводимости материалов с помощью мессбауэровского сенсора - Google Patents

Claims (10)

1. Способ измерения параметров сверхпроводимости материалов с помощью мессбауэровского сенсора, включающий приложение внешнего магнитного поля к образцу материала, находящемуся внутри рабочей камеры испытательного стенда, отличающийся тем, что последовательно проводят следующие действия: подготавливают образец к исследованию в соответствии с его фазовым состоянием, подготавливают сенсор магнитного потока, в качестве которого применяют материал, содержащий мессбауэровский изотоп, размещают образец материала, подготовленный к исследованию вместе с предварительно установленным внутри него мессбауэровским сенсором, в рабочей камере испытательного стенда, создают условия для перехода исследуемого образца в сверхпроводящее состояние, прикладывают к образцу внешнее магнитное поле, а затем направляют на образец от источника мессбауэровского излучения сфокусированный пучок мессбауэровского гамма-излучения и фиксируют сигнал ядерного гамма-резонанса, по виду которого определяют наступление сверхпроводящего состояния испытуемого образца по эффекту экранирования или вытеснения магнитного поля из испытуемого образца.

2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что приготовление образца материала, находящегося в газообразном фазовом состоянии, ведут при криогенной температуре с целью конденсации газа, заполняют сжиженным образцом рабочий объем камеры высокого давления с алмазными наковальнями, в который предварительно помещают мессбауэровский сенсор магнитного поля микронных размеров, создают условия возникновения сверхпроводимости образца путем понижения температуры, прикладывают внешнее магнитное поле, измеряют величину магнитного поля с помощью мессбауэровского сенсора, и меняют величину давления в рабочем объеме

камеры высокого давления с алмазными наковальнями с целью измерения параметров сверхпроводимости при различных давлениях.

3. Способ по п. 1, отличающийся тем, что в качестве мессбауэровского источника излучения используют радиоактивные мессбауэровские источники и/или синхротронные источники мессбауэровского излучения, которые позволяют сфокусировать пучок излучения в пятно микронных размеров, что позволяет проводить исследования на образцах микронного и нано размеров, в том числе и находящихся в камерах высокого давления с алмазными наковальнями.

4. Способ по п. 1, отличающийся тем, что в качестве мессбауэровского изотопа применяют изотоп олова Sn-119.

5. Способ по п. 1 и п. 2, отличающийся тем, что измерение параметров сверхпроводимости проводят при воздействии на образец высоких и сверхвысоких давлений до нескольких мегабар, создаваемых в камерах с алмазными наковальнями.

6. Способ по п. 1,отличающийся тем, что критические параметры материала увеличивают путем воздействия на его образец сверхвысоких давлений.

7. Способ по п. 1, отличающийся тем, что условия для перехода исследуемого образца в сверхпроводящее состояние обеспечивают путем его охлаждения до криогенных температур.

8. Способ по п. 1, отличающийся тем, что магнитное поле прикладывают перпендикулярно или параллельно плоскости образца

9. Способ по п. 1 и 2, отличающийся тем, что в качестве испытуемых образцов используют гидриды различных элементов, например, сероводород, причем для того, чтобы предотвратить химическое разложение сероводорода его поддерживают под давлением выше 130 ГПа.