RU2012132557A - Способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность - Google Patents
Способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность Download PDFInfo
- Publication number
- RU2012132557A RU2012132557A RU2012132557/28A RU2012132557A RU2012132557A RU 2012132557 A RU2012132557 A RU 2012132557A RU 2012132557/28 A RU2012132557/28 A RU 2012132557/28A RU 2012132557 A RU2012132557 A RU 2012132557A RU 2012132557 A RU2012132557 A RU 2012132557A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- solid
- ions
- energy spectra
- reflected
- inert
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
1. Способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность, заключающийся в измерении энергетических спектров ионов, отраженных и выбитых из поверхности твердого тела, отличающийся тем, что измеряют энергетические спектры непосредственно в процессе внешнего воздействия на поверхность твердого тела или сразу после него путем поочередного облучения во времени поверхности твердого тела масс-сепарированными по отношению масс к заряду ионами водорода и ионами инертных газов путем подачи соответствующего ускоряющего напряжения на ионный источник, работающего на смеси инертных газов и водорода, при этом об элементном составе поверхностного слоя твердого тела судят по энергетическим спектрам отраженных ионов инертных газов, а о толщине пленки - по энергетическим спектрам отраженных ионов водорода.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что в качестве ионов инертных газов используют гелий, неон, аргон или ксенон.3. Способ по п.1, отличающийся тем, что внешнее воздействие осуществляют путем травления ионным пучком, или путем напыления с помощью ионных пучков, или путем облучения плазмой, или путем воздействия атомов или молекул газовой среды, или с помощью нагрева.
Claims (3)
1. Способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность, заключающийся в измерении энергетических спектров ионов, отраженных и выбитых из поверхности твердого тела, отличающийся тем, что измеряют энергетические спектры непосредственно в процессе внешнего воздействия на поверхность твердого тела или сразу после него путем поочередного облучения во времени поверхности твердого тела масс-сепарированными по отношению масс к заряду ионами водорода и ионами инертных газов путем подачи соответствующего ускоряющего напряжения на ионный источник, работающего на смеси инертных газов и водорода, при этом об элементном составе поверхностного слоя твердого тела судят по энергетическим спектрам отраженных ионов инертных газов, а о толщине пленки - по энергетическим спектрам отраженных ионов водорода.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что в качестве ионов инертных газов используют гелий, неон, аргон или ксенон.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что внешнее воздействие осуществляют путем травления ионным пучком, или путем напыления с помощью ионных пучков, или путем облучения плазмой, или путем воздействия атомов или молекул газовой среды, или с помощью нагрева.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2012132557/28A RU2522667C2 (ru) | 2012-07-30 | 2012-07-30 | Способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2012132557/28A RU2522667C2 (ru) | 2012-07-30 | 2012-07-30 | Способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2012132557A true RU2012132557A (ru) | 2014-02-10 |
RU2522667C2 RU2522667C2 (ru) | 2014-07-20 |
Family
ID=50031788
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2012132557/28A RU2522667C2 (ru) | 2012-07-30 | 2012-07-30 | Способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2522667C2 (ru) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2656129C1 (ru) * | 2017-06-14 | 2018-05-31 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский политехнический университет" | Способ послойного анализа тонких пленок |
RU2655666C1 (ru) * | 2017-06-16 | 2018-05-29 | Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" | Способ определения скорости эрозии и осаждения тонких слоев на обращенных к плазме элементах плазменных установок (варианты) |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2008655C1 (ru) * | 1991-02-04 | 1994-02-28 | Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе РАН | Способ элементного анализа поверхностного монослоя материала |
RU2017143C1 (ru) * | 1991-04-23 | 1994-07-30 | Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе РАН | Способ определения элементарного состава твердого тела |
EP0646786A1 (en) * | 1993-09-29 | 1995-04-05 | Sumitomo Electric Industries, Limited | Improved ion scattering spectroscopy and apparatus for the same |
RU2221236C1 (ru) * | 2002-09-16 | 2004-01-10 | Калачев Алексей Александрович | Способ анализа физических и/или химических свойств поверхностного слоя твердого тела (варианты) |
RU2212650C1 (ru) * | 2002-09-16 | 2003-09-20 | Калачев Алексей Александрович | Устройство для анализа физических и/или химических свойств поверхностного слоя твердого тела |
KR101161956B1 (ko) * | 2010-05-03 | 2012-07-04 | 삼성전기주식회사 | 화학성분 분석 방법 및 화학성분 분석 장치 |
-
2012
- 2012-07-30 RU RU2012132557/28A patent/RU2522667C2/ru not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
RU2522667C2 (ru) | 2014-07-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Zeil et al. | The scaling of proton energies in ultrashort pulse laser plasma acceleration | |
TW200608489A (en) | Plasma treatment method and plasma etching method | |
Kling et al. | Imaging of carrier-envelope phase effects in above-threshold ionization with intense few-cycle laser fields | |
KR102496134B1 (ko) | 대기압 플라즈마 증착을 이용하여 규칙적인 중합체 박막을 형성하는 방법 | |
EA201500839A1 (ru) | Способ обработки стеклянного материала пучком однозарядных и многозарядных ионов газа для получения антиотражающего стеклянного материала | |
EA201591877A1 (ru) | Способ обработки стеклянных материалов ионным лучом для получения сверхгидрофильных стеклянных материалов | |
ATE518409T1 (de) | Vorrichtung und prozess zum erzeugen, beschleunigen und ausbreiten von strahlen von elektronen und plasma | |
EA201692406A1 (ru) | Способ обработки сапфирового материала для модификации отраженного цвета поверхности сапфирового материала | |
Xu et al. | Observation of a transition in the dynamics of strong-field atomic excitation | |
JP2015525438A5 (ja) | ガリウムイオンを有するイオンビームを発生する方法及び装置 | |
RU2015137774A (ru) | Устройство для ионной бомбардировки и способ его применения для очистки поверхности подложки | |
Hartman et al. | Large molecules reveal a linear length scaling for double photoionization | |
MX2012011702A (es) | Dispositivo de rayo plasmatico no termico como fuente de ionizacion espacial para espectrometria de masa ambiental y metodo para su aplicacion. | |
RU2012132557A (ru) | Способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность | |
GB201307089D0 (en) | Ion Generation in Mass Spectrometers by Cluster Bombardment | |
Liu et al. | Coherent x-ray generation from below-threshold harmonics | |
Cao et al. | Dynamic modification of the fragmentation of CO q+ excited states generated with high-order harmonics | |
Fushitani et al. | Nonresonant EUV-UV two-color two-photon ionization of He studied by single-shot photoelectron spectroscopy | |
Gordon et al. | Superponderomotive regime of tunneling ionization | |
JP2015533626A5 (ru) | ||
Nubbemeyer et al. | Excitation of He atoms in the strong-field tunneling regime | |
RU2016103225A (ru) | Приготовление мишени | |
MX352186B (es) | Metodo para grabado definido por adn de una nanoestructura de grafeno. | |
Okamoto et al. | Effect of Ultrahigh-Density Ionization of Resist Films on Sensitivity Using Extreme-Ultraviolet Free-Electron Laser | |
Matsuda et al. | Time-resolved Coulomb Explosion Imaging of Ultrafast Fragmentation of CS2 in Highly Charged States |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20150731 |
|
NF4A | Reinstatement of patent |
Effective date: 20170118 |
|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20180731 |