RU2012132557A - Способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность - Google Patents

Способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность Download PDF

Info

Publication number
RU2012132557A
RU2012132557A RU2012132557/28A RU2012132557A RU2012132557A RU 2012132557 A RU2012132557 A RU 2012132557A RU 2012132557/28 A RU2012132557/28 A RU 2012132557/28A RU 2012132557 A RU2012132557 A RU 2012132557A RU 2012132557 A RU2012132557 A RU 2012132557A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
solid
ions
energy spectra
reflected
inert
Prior art date
Application number
RU2012132557/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2522667C2 (ru
Inventor
Валерий Александрович Курнаев
Никита Вадимович Мамедов
Дмитрий Николаевич Синельников
Original Assignee
Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" filed Critical Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом"
Priority to RU2012132557/28A priority Critical patent/RU2522667C2/ru
Publication of RU2012132557A publication Critical patent/RU2012132557A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2522667C2 publication Critical patent/RU2522667C2/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Abstract

1. Способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность, заключающийся в измерении энергетических спектров ионов, отраженных и выбитых из поверхности твердого тела, отличающийся тем, что измеряют энергетические спектры непосредственно в процессе внешнего воздействия на поверхность твердого тела или сразу после него путем поочередного облучения во времени поверхности твердого тела масс-сепарированными по отношению масс к заряду ионами водорода и ионами инертных газов путем подачи соответствующего ускоряющего напряжения на ионный источник, работающего на смеси инертных газов и водорода, при этом об элементном составе поверхностного слоя твердого тела судят по энергетическим спектрам отраженных ионов инертных газов, а о толщине пленки - по энергетическим спектрам отраженных ионов водорода.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что в качестве ионов инертных газов используют гелий, неон, аргон или ксенон.3. Способ по п.1, отличающийся тем, что внешнее воздействие осуществляют путем травления ионным пучком, или путем напыления с помощью ионных пучков, или путем облучения плазмой, или путем воздействия атомов или молекул газовой среды, или с помощью нагрева.

Claims (3)

1. Способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность, заключающийся в измерении энергетических спектров ионов, отраженных и выбитых из поверхности твердого тела, отличающийся тем, что измеряют энергетические спектры непосредственно в процессе внешнего воздействия на поверхность твердого тела или сразу после него путем поочередного облучения во времени поверхности твердого тела масс-сепарированными по отношению масс к заряду ионами водорода и ионами инертных газов путем подачи соответствующего ускоряющего напряжения на ионный источник, работающего на смеси инертных газов и водорода, при этом об элементном составе поверхностного слоя твердого тела судят по энергетическим спектрам отраженных ионов инертных газов, а о толщине пленки - по энергетическим спектрам отраженных ионов водорода.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что в качестве ионов инертных газов используют гелий, неон, аргон или ксенон.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что внешнее воздействие осуществляют путем травления ионным пучком, или путем напыления с помощью ионных пучков, или путем облучения плазмой, или путем воздействия атомов или молекул газовой среды, или с помощью нагрева.
RU2012132557/28A 2012-07-30 2012-07-30 Способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность RU2522667C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2012132557/28A RU2522667C2 (ru) 2012-07-30 2012-07-30 Способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2012132557/28A RU2522667C2 (ru) 2012-07-30 2012-07-30 Способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2012132557A true RU2012132557A (ru) 2014-02-10
RU2522667C2 RU2522667C2 (ru) 2014-07-20

Family

ID=50031788

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2012132557/28A RU2522667C2 (ru) 2012-07-30 2012-07-30 Способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2522667C2 (ru)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2656129C1 (ru) * 2017-06-14 2018-05-31 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский Томский политехнический университет" Способ послойного анализа тонких пленок
RU2655666C1 (ru) * 2017-06-16 2018-05-29 Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" Способ определения скорости эрозии и осаждения тонких слоев на обращенных к плазме элементах плазменных установок (варианты)

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2008655C1 (ru) * 1991-02-04 1994-02-28 Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе РАН Способ элементного анализа поверхностного монослоя материала
RU2017143C1 (ru) * 1991-04-23 1994-07-30 Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе РАН Способ определения элементарного состава твердого тела
EP0646786A1 (en) * 1993-09-29 1995-04-05 Sumitomo Electric Industries, Limited Improved ion scattering spectroscopy and apparatus for the same
RU2221236C1 (ru) * 2002-09-16 2004-01-10 Калачев Алексей Александрович Способ анализа физических и/или химических свойств поверхностного слоя твердого тела (варианты)
RU2212650C1 (ru) * 2002-09-16 2003-09-20 Калачев Алексей Александрович Устройство для анализа физических и/или химических свойств поверхностного слоя твердого тела
KR101161956B1 (ko) * 2010-05-03 2012-07-04 삼성전기주식회사 화학성분 분석 방법 및 화학성분 분석 장치

Also Published As

Publication number Publication date
RU2522667C2 (ru) 2014-07-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Zeil et al. The scaling of proton energies in ultrashort pulse laser plasma acceleration
TW200608489A (en) Plasma treatment method and plasma etching method
Kling et al. Imaging of carrier-envelope phase effects in above-threshold ionization with intense few-cycle laser fields
KR102496134B1 (ko) 대기압 플라즈마 증착을 이용하여 규칙적인 중합체 박막을 형성하는 방법
EA201500839A1 (ru) Способ обработки стеклянного материала пучком однозарядных и многозарядных ионов газа для получения антиотражающего стеклянного материала
EA201591877A1 (ru) Способ обработки стеклянных материалов ионным лучом для получения сверхгидрофильных стеклянных материалов
ATE518409T1 (de) Vorrichtung und prozess zum erzeugen, beschleunigen und ausbreiten von strahlen von elektronen und plasma
EA201692406A1 (ru) Способ обработки сапфирового материала для модификации отраженного цвета поверхности сапфирового материала
Xu et al. Observation of a transition in the dynamics of strong-field atomic excitation
JP2015525438A5 (ja) ガリウムイオンを有するイオンビームを発生する方法及び装置
RU2015137774A (ru) Устройство для ионной бомбардировки и способ его применения для очистки поверхности подложки
Hartman et al. Large molecules reveal a linear length scaling for double photoionization
MX2012011702A (es) Dispositivo de rayo plasmatico no termico como fuente de ionizacion espacial para espectrometria de masa ambiental y metodo para su aplicacion.
RU2012132557A (ru) Способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность
GB201307089D0 (en) Ion Generation in Mass Spectrometers by Cluster Bombardment
Liu et al. Coherent x-ray generation from below-threshold harmonics
Cao et al. Dynamic modification of the fragmentation of CO q+ excited states generated with high-order harmonics
Fushitani et al. Nonresonant EUV-UV two-color two-photon ionization of He studied by single-shot photoelectron spectroscopy
Gordon et al. Superponderomotive regime of tunneling ionization
JP2015533626A5 (ru)
Nubbemeyer et al. Excitation of He atoms in the strong-field tunneling regime
RU2016103225A (ru) Приготовление мишени
MX352186B (es) Metodo para grabado definido por adn de una nanoestructura de grafeno.
Okamoto et al. Effect of Ultrahigh-Density Ionization of Resist Films on Sensitivity Using Extreme-Ultraviolet Free-Electron Laser
Matsuda et al. Time-resolved Coulomb Explosion Imaging of Ultrafast Fragmentation of CS2 in Highly Charged States

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20150731

NF4A Reinstatement of patent

Effective date: 20170118

MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20180731