RU2003125042A - Способ спектрометрии и устройство для его осуществления - Google Patents

Claims (3)

1. Способ спектрометрии, заключающийся в измерении амплитуды светового излучения с длиной волны λ в любом из возможных направлений поляризации, основанный на регистрации интерференционных полос стоячей световой волны посредством тонкого частично пропускающего слоя толщиной не более λ/2, рассеивающего или поглощающего энергию электрического поля стоячей световой волны, расположенного между источником светового излучения и отражающим зеркалом, которое выполнено частично пропускающим световое излучение, при этом регистрацию упомянутых интерференционных полос стоячей световой волны осуществляют путем проецирования изображения интерференционных полос на периодическую систему, содержащую фотоэлементы, полученные с упомянутых фотоэлементов электрические сигналы регистрируют в виде их зависимости от местоположения этих фотоэлементов в упомянутой периодической системе и анализируют, отличающийся тем, что упомянутый тонкий частично пропускающий слой располагают на внешней выпуклой поверхности сферической выпукло-вогнутой линзы, а отражающее зеркало располагают на внутренней вогнутой поверхности упомянутой линзы, при этом выпуклую и вогнутую поверхности упомянутой линзы выполняют с радиусами кривизны, которые выбирают таким образом, чтобы угол между касательными к радиусам кривизны поверхностей линз в угловом поле более 10° находился в диапазоне 0,01-1°.

2. Способ спектрометрии по п.1, отличающийся тем, что угловое поле сферической выпукло-вогнутой линзы задают не более 180°.

3. Интерферометр, содержащий оптически сопряженные источник светового излучения с длиной волны λ, отражающее зеркало, выполненное частично пропускающим световое излучение, тонкий частично пропускающий слой толщиной не более λ/2, рассеивающий или поглощающий энергию электрического поля стоячей световой волны, расположенный между источником светового излучения и отражающим зеркалом, периодическую систему, содержащую фотоэлементы и расположенную позади отражающего зеркала, и спектроанализатор, отличающийся тем, что упомянутый тонкий частично пропускающий слой расположен на внешней выпуклой поверхности сферической выпукло-вогнутой линзы, а отражающее зеркало расположено на внутренней вогнутой поверхности упомянутой линзы, при этом выпуклая и вогнутая поверхности упомянутой линзы выполнены с радиусами кривизны, которые выбраны таким образом, чтобы угол между касательными к радиусам кривизны поверхностей линз в угловом поле более 10° находится в диапазоне 0,01-1°.