RU2000119785A

RU2000119785A - Маркировка алмазов или драгоценных камней с помощью множества штрихов

Info

Publication number: RU2000119785A
Application number: RU2000119785/12A
Authority: RU
Inventors: Джеймс Гордон Чартерс СМИТ
Original assignee: Джерсан Эстаблишмент
Priority date: 1997-12-24
Filing date: 1998-12-23
Publication date: 2002-08-20

Claims

1. Способ формирования метки на поверхности алмаза или драгоценного камня, содержащей один или несколько единичных знаков, отличающийся тем, что способ содержит этап формирования множества штрихов (10) на поверхности алмаза или драгоценного камня, при этом штрихи (10) формируют знак или знаки, причем метка является такой, что ее нельзя визуально различить невооруженным глазом, при этом штрихи (10) производят видимый дифракционный эффект при определенных условиях подсветки и увеличения.

2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что метки не оказывают вредного воздействия на степень чистоты алмаза.

3. Способ формирования метки на поверхности алмаза или драгоценного камня, отличающийся тем, что содержит этап формирования множества штрихов (10) на поверхности алмаза или драгоценного камня, причем штрихи (10) производят видимый дифракционный эффект при определенных условиях подсветки и увеличения без вредного воздействия на степень чистоты алмаза или драгоценного камня.

4. Способ по п. 1, отличающийся тем, что метка выполнена в форме одного или более буквенно-цифровых знаков или тому подобных символов.

5. Способ по любому из предыдущих пунктов, отличающийся тем, что штрихи (10) сформированы посредством сфокусированного пучка ионов.

6. Способ по п. 5, отличающийся тем, что зоны поверхности алмаза или драгоценного камня, в которых происходит разупорядочение их кристаллической решетки за счет действия сфокусированного пучка ионов, удаляют посредством сильного окислителя.

7. Способ по п. 6, отличающийся тем, что сильным окислителем является расплавленный азотнокислый калий.

8. Способ по п. 6, отличающийся тем, что сильным окислителем является соединение в виде XnYm, где группа Х представляет собой Li⁺, Na⁺, К⁺, Rb⁺, Cs⁺ или другой катион или их смеси, и группа Y представляет собой ОН^-, NО₃ ^-, О₂ ^2-, О^2-, СО₃ ^2- или другой анион или их смеси, при этом целые числа n и m используются для поддержания баланса зарядов.

9. Способ по любому из пп. 5-8, отличающийся тем, что сфокусированный пучок ионов имеет энергию пучка 50 кэВ или менее.

10. Способ по любому из пп. 5-9, отличающийся тем, что сфокусированный пучок ионов имеет ток пучка приблизительно 0,5 нА.

11. Способ по любому из пп. 5-10, отличающийся тем, что дозировка ионов, полученных с помощью сфокусированного пучка ионов, составляет приблизительно 10¹³/см²-10¹⁷/см².

12. Способ по п. 1, отличающийся тем, что дозировка равна приблизительно 10¹⁴/cм²-10¹⁶/см².

13. Способ по любому из пп. 5-12, отличающийся тем, что область поверхности алмаза или драгоценного камня, который будут маркировать, облучают с помощью источника электронов низкой энергии для устранения накопления заряда.

14. Способ по п. 13, отличающийся тем, что источником электронов низкой энергии является электронный прожектор.

15. Способ по любому из предыдущих пунктов, отличающийся тем, что, по меньшей мере, некоторые из упомянутых штрихов (10) являются параллельными, протяженными и по существу размещенными отдельно друг от друга на равном расстоянии.

16. Способ по п. 15, отличающийся тем, что множество пересекающихся наборов штрихов (10) сформированы для получения эффекта перекрестной штриховки.

17. Способ по любому из предыдущих пунктов, отличающийся тем, что алмазом является драгоценный алмаз.

18. Устройство для формирования метки на поверхности алмаза или драгоценного камня, причем метка содержит один или несколько единичных знаков, отличающееся тем, что устройство включает в себя программное обеспечение для формирования множества штрихов (10) на поверхности алмаза или драгоценного камня, причем метка является такой, что ее нельзя визуально различить невооруженным глазом, при этом штрихи (10) формируют знак или знаки и производят видимый дифракционный эффект при определенных условиях подсветки и увеличения.

19. Устройство для формирования метки на поверхности алмаза или драгоценного камня, причем метка содержит один или несколько единичных знаков, отличающееся тем, что устройство содержит средство, включающее в себя программное обеспечение для формирования множества штрихов (10) на поверхности алмаза, причем штрихи формируют знак или знаки и производят видимый дифракционный эффект при определенных условиях подсветки и увеличения без оказания вредного воздействия на степень чистоты алмаза или драгоценного камня.

20. Устройство по п. 18 или 19, отличающееся тем, что средство для формирования множества штрихов (10) содержит средство для облучения частей алмаза или драгоценного камня для получения разупорядочения их кристаллической решетки и получения разупорядоченного слоя, а также средство для удаления разупорядоченного слоя.

21. Устройство по любому из пп. 18-20, отличающееся тем, что средство для облучения частей алмаза содержит сфокусированный пучок ионов.

22. Устройство по п. 21, отличающееся тем, что сфокусированный пучок ионов имеет энергию пучка 50 кэВ или менее.

23. Устройство по п. 21 или 22, отличающееся тем, что сфокусированный пучок ионов имеет ток пучка приблизительно 0,5 нА.

24. Устройство по любому из пп. 21-23, отличающееся тем, что дозировка ионов, которая обеспечивается сфокусированным пучком ионов, равна приблизительно 10¹³/см²-10¹⁷/см².

25. Устройство по п. 24, отличающееся тем, что дозировка ионов равна приблизительно 10¹⁴/см²-10¹⁶/см².

26. Устройство по любому из пп. 18-25, отличающееся тем, что дополнительно содержит средство для облучения области поверхности алмаза, который необходимо маркировать с помощью источника электронов низкой энергии для устранения накопления заряда.

27. Алмаз или драгоценный камень, имеющий метку, сформированную на нем посредством способа по любому из пп. 1-17.

28. Устройство для просмотра метки на поверхности алмаза или драгоценного камня, причем метка содержит множество штрихов (10), которые производят видимый дифракционный эффект при освещении и увеличении, отличающееся тем, что содержит два средства (106) для освещения метки лучами света, каждый из которых падает под углом, который соответствует дифракционному углу света с предварительно определенной длиной волны и диапазоном длин волн, причем средство (106) освещения является таким, что лучи света падают по существу под тем же углом (θ) к нормали (Y) к упомянутой поверхности, но, как просматривается нормаль к поверхности, находятся по существу в противоположных направлениях, и средство просмотра и увеличения для просмотра метки и для увеличения рассматриваемого изображения метки.

29. Устройство по п. 28, отличающееся тем, что угол и направление, под которым падают освещающие лучи света, является таким, что метку можно рассматривать на относительно темном фоне.

30. Способ просмотра метки на поверхности алмаза или драгоценного камня, причем метка содержит множество штрихов, которые производят видимый дифракционный эффект при освещении и увеличении, отличающийся тем, что способ содержит этапы: освещают метку лучами (106) света, каждый из которых падает под углом (θ) который соответствует дифракционному углу света с предварительно определенной длиной волны или диапазоном длин волн, и лучи света падают под тем же самым углом (θ) к нормали поверхности, но, как просматривается нормаль к поверхности, находятся по существу в противоположных направлениях и рассматривают метку и увеличивают рассматриваемое изображение метки.

31. Способ по п. 30, отличающийся тем, что содержит этап выбора угла (θ) и направления, в котором падает осветительный свет, для рассмотрения метки на относительно темном фоне.