RU188170U1 - INSTALLATION FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF OPTICAL DIODE AMPLIFIERS - Google Patents

INSTALLATION FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF OPTICAL DIODE AMPLIFIERS Download PDF

Info

Publication number
RU188170U1
RU188170U1 RU2018141056U RU2018141056U RU188170U1 RU 188170 U1 RU188170 U1 RU 188170U1 RU 2018141056 U RU2018141056 U RU 2018141056U RU 2018141056 U RU2018141056 U RU 2018141056U RU 188170 U1 RU188170 U1 RU 188170U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
light
output
installation
cmos camera
mirror
Prior art date
Application number
RU2018141056U
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Владимир Хачатурович Багдасаров
Сергей Аркадьевич Бельков
Владимир Валентинович Букин
Сергей Григорьевич Гаранин
Сергей Владимирович Гарнов
Надежда Александровна Кудашева
Борис Дмитриевич Овчаренко
Владимир Борисович Цветков
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук (ИОФ РАН)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук (ИОФ РАН) filed Critical Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук (ИОФ РАН)
Priority to RU2018141056U priority Critical patent/RU188170U1/en
Application granted granted Critical
Publication of RU188170U1 publication Critical patent/RU188170U1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R15/00Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
    • G01R15/14Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
    • G01R15/24Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
    • G01R15/248Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices using a constant light source and electro-mechanically driven deflectors

Abstract

Полезная модель относится к устройствам для измерения характеристик лазерного излучения. Установка для измерения характеристик оптических диодных усилителей содержит задающий генератор накачки, выполненный в виде непрерывного лазера, делительное и поворотные зеркала, фотодетектор и блок анализа и управления, КМОП-камеру с объективом, диафрагму, светофильтр и светозаградительные элементы. При этом первое поворотное зеркало установлено на оптическом пути между выходом непрерывного лазера и светофильтром, оптически связанным со вторым поворотным зеркалом, за которым расположен первый светозаградительный элемент, а второй светозаградительный элемент расположен между объективом КМОП-камеры и светоделительным зеркалом, оптически связанным через диафрагму с фотодетектором, выход которого подключен к первому информационному входу блока анализа и управления, второй информационный вход которого соединен с выходом КМОП-камеры, а выход подключен к управляющему входу непрерывного лазера, причем исследуемый оптический диодный усилитель расположен между первым светозаградительным элементом и светоделительным зеркалом. Технический результат заключается в расширении функциональных возможностей. 1 з.п. ф-лы, 5 ил.

Figure 00000001
The utility model relates to devices for measuring the characteristics of laser radiation. The installation for measuring the characteristics of optical diode amplifiers contains a master pump made in the form of a continuous laser, dividing and rotary mirrors, a photodetector and an analysis and control unit, a CMOS camera with a lens, an aperture, a light filter and light protection elements. In this case, the first rotary mirror is mounted on the optical path between the output of the continuous laser and the optical filter optically coupled to the second rotary mirror, behind which the first light-reflecting element is located, and the second light-reflecting element is located between the CMOS camera lens and the light-splitting mirror optically connected through the diaphragm to the photodetector the output of which is connected to the first information input of the analysis and control unit, the second information input of which is connected to the output of the CMOS camera ry, and the output is connected to the control input of a continuous laser, and the studied optical diode amplifier is located between the first light-protective element and the beam-splitting mirror. The technical result is to expand the functionality. 1 s.p. f-ly, 5 ill.
Figure 00000001

Description

Полезная модель относится к измерительной технике, а именно - к устройствам для измерения характеристик лазерного излучения, и применяется в лазерной технике для исследования оптических диодных усилителей.The utility model relates to measuring equipment, namely, to devices for measuring the characteristics of laser radiation, and is used in laser technology to study optical diode amplifiers.

Известны способы и установки для измерения характеристик лазерного излучения (Зубов В.А. Методы измерения характеристик лазерного излучения, М.: Наука. Главная редакция физико-математической литературы, 1973. - С. 45-66).Known methods and settings for measuring the characteristics of laser radiation (Zubov VA Methods for measuring the characteristics of laser radiation, M .: Nauka. Main edition of the physics and mathematics literature, 1973. - P. 45-66).

В известной установке пучок излучения оптического излучающего прибора, находящегося в климатической камере, направляется на прибор через прозрачное окно. При этом для смены оптического излучающего прибора, характеристики излучения которого измеряются, требуется открыть климатическую камеру. При открывании камеры изменяются условия внутри нее, что требует дополнительного времени для установления климатических условий внутри камеры и в оптическом излучающем приборе, и увеличивает время измерения.In a known installation, the radiation beam of an optical emitting device located in a climate chamber is directed to the device through a transparent window. At the same time, to change the optical emitting device, the radiation characteristics of which are measured, it is necessary to open the climate chamber. When the camera is opened, the conditions inside it change, which requires additional time to establish the climatic conditions inside the camera and in the optical emitting device, and increases the measurement time.

Известная установка требует много времени для измерения характеристик, например, энергетических, пространственных или спектральных, излучения оптических излучающих приборов, находящихся в климатических камерах.The known installation requires a lot of time to measure characteristics, for example, energy, spatial or spectral, radiation of optical emitting devices located in climatic chambers.

Известно устройство для определения параметров СВЧ-излучения (патент РФ №151737, МПК G01J 15/24, опублик. 10.04.2015), содержащее источник лазерного излучения, связанный через соответствующие оптический коллиматор и оптоволоконный кабель со входом интерферометра с электрооптическим кристаллом, при этом выход интерферометра соединен через другой оптический коллиматор и оптоэлектронный кабель с оптическим входом фотоэлектрического преобразователя, выход которого подключен к анализатору параметров СВЧ-излучения, при этом интерферометр выполнен в виде интерферометра Маха-Цандера, состоящего из попарно расположенных в противоположных углах прямоугольной зоны полупрозрачных зеркал и глухих зеркал, ориентированных под углом 45° к оптической оси интерферометра, причем в одном плече интерферометра расположен электрооптический кристалл типа DAST. Устройство позволяет измерять параметры сверхширокополосных электромагнитных импульсовA device is known for determining the parameters of microwave radiation (RF patent No. 151737, IPC G01J 15/24, published. 04/10/2015), comprising a laser source coupled through an appropriate optical collimator and fiber optic cable to the input of the interferometer with an electro-optical crystal, while the output the interferometer is connected via another optical collimator and an optoelectronic cable to the optical input of the photoelectric converter, the output of which is connected to the microwave radiation analyzer, while the interferometer is made in in the form of a Mach-Zander interferometer, consisting of translucent mirrors and blind mirrors pairwise located in opposite corners of the rectangular zone, oriented at an angle of 45 ° to the optical axis of the interferometer, with an electro-optical crystal of the DAST type located in one arm of the interferometer. The device allows you to measure the parameters of ultra-wideband electromagnetic pulses

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому техническому решению является известное устройство для контроля лазерного излучения (патент РФ №2038573, МПК G01J 1/04, опублик. 27.06.1995), содержащее активный элемент, который установлен в резонаторе, образованном двумя зеркалами, и приемник излучения, причем в него введен по крайней мере один дополнительный приемник излучения, который выполнен в виде матрицы приемных элементов и установлен внутри резонатора лазера так, чтобы регистрировать лучи, отраженные от зеркал и не попадающие в активный элемент.The closest in technical essence to the proposed technical solution is a known device for monitoring laser radiation (RF patent No. 2038573, IPC G01J 1/04, published. 06/27/1995), containing an active element that is installed in a resonator formed by two mirrors, and a receiver radiation, and at least one additional radiation receiver is introduced into it, which is made in the form of a matrix of receiving elements and is installed inside the laser cavity so as to register rays reflected from mirrors and not falling into the active explicit element.

Недостатком таких устройств является ограниченные функциональные возможности, обусловленные недостаточно полной информацией о параметрах излучения и технических характеристиках устройств, генерируемых лазерное излучение, что не позволяет объективно оценить эксплуатационные возможности исследуемых устройств.The disadvantage of such devices is the limited functionality due to insufficient information on the radiation parameters and technical characteristics of the devices generated by laser radiation, which does not allow to objectively evaluate the operational capabilities of the studied devices.

Технический результат, заключающийся в расширении функциональных возможностей за счет определения приосевого коэффициента усиления и распределения люминесценции по сечению активного элемента оптических диодных усилителей, достигается в предлагаемой установке для измерения характеристик оптических диодных усилителей, содержащая задающий генератор накачки, выполненный в виде непрерывного лазера, светоделительное и поворотные зеркала, фотодетектор и блок анализа и управления, тем, что она содержит КМОП-камеру с объективом, диафрагму, светофильтр и светозаградительные элементы, при этом первое поворотное зеркало установлено на оптическом пути между выходом непрерывного лазера и светофильтром, оптически связанным со вторым поворотным зеркалом, за которым расположен первый светозаградительный элемент, а второй светозаградительный элемент расположен между объективом КМОП-камеры и светоделительным зеркалом, оптически связанным через диафрагму с фотодетектором, выход которого подключен к первому информационному входу блока анализа и управления, второй информационный вход которого соединен с выходом КМОП-камеры, а выход подключен к управляющему входу непрерывного лазера, причем исследуемый оптический диодный усилитель расположен между первым светозаградительным элементом и светоделительным зеркалом.The technical result, which consists in expanding the functionality by determining the axial gain and luminescence distribution over the cross section of the active element of optical diode amplifiers, is achieved in the proposed installation for measuring the characteristics of optical diode amplifiers, which contains a master pump generator made in the form of a continuous laser, beam splitting and rotary mirrors, a photodetector and an analysis and control unit, in that it contains a CMOS camera with a lens, apertures , a light filter and light-blocking elements, wherein the first rotary mirror is mounted on the optical path between the output of the continuous laser and the light filter optically coupled to the second rotary mirror, behind which the first light-reflecting element is located, and the second light-reflecting element is located between the CMOS camera lens and the beam-splitting mirror, optically connected through a diaphragm with a photodetector, the output of which is connected to the first information input of the analysis and control unit, the second information ny input coupled to an output of the CMOS camera, and an output connected to the control input of the continuous laser, wherein the monitoring diode optical amplifier disposed between the first member and svetozagraditelnym beamsplitter mirror.

При этом детали и функциональные узлы установки смонтированы на опорной пластине, в которой выполнены сквозные отверстия, расположенные с регулярным шагом по двум осям с возможностью регулировки пространственного взаимного положения упомянутых деталей и функциональных узлов, что обеспечивает удобство в эксплуатации (настройку и юстировку узлов).At the same time, the details and functional units of the installation are mounted on a support plate, in which through holes are made, arranged at regular intervals along two axes with the possibility of adjusting the spatial relative position of the said parts and functional units, which ensures ease of use (setting and adjustment of units).

Сущность полезной модели поясняется чертежами, где:The essence of the utility model is illustrated by drawings, where:

- на фиг. 1 приведена структурная схема устройства;- in FIG. 1 shows a structural diagram of a device;

- на фиг. 2 представлен общий вид установки;- in FIG. 2 shows a general view of the installation;

- на фиг. 3 изображена форма усиленного импульса, полученная на фоне непрерывного сигнала задающего генератора накачки;- in FIG. Figure 3 shows the shape of the amplified pulse obtained against the background of a continuous signal of a driving pump oscillator;

- на фиг. 4 показано распределение люминесценции и профиль однородности/неоднородности по сечению активного элемента оптического диодного усилителя;- in FIG. 4 shows the luminescence distribution and the uniformity / inhomogeneity profile over the cross section of the active element of the optical diode amplifier;

- на фиг. 5 приведено сечение активного элемента с диаметром 5 мм исследуемого. оптического диодного усилителя.- in FIG. 5 shows a cross section of the active element with a diameter of 5 mm of the investigated. optical diode amplifier.

Установка предназначена для измерения временного профиля приосевого коэффициента усиления импульсной оптической диодной усилительной головки (например, по патенту РФ №184832, МПК H01S 3/09, опублик. 12.11.2018) с помощью непрерывного задающего генератора (ЗГ), а также для измерения распределения люминесценции по сечению активного элемента с целью оценки однородности/неоднородности засветки и эффективности накачки активного элемента импульсной оптической диодной усилительной головки.The setup is designed to measure the temporal profile of the axial gain of a pulsed optical diode amplifier head (for example, according to RF patent No. 184832, IPC H01S 3/09, published 12.11.2018) using a continuous master oscillator (ZG), as well as to measure the distribution of luminescence cross-section of the active element in order to assess the uniformity / inhomogeneity of illumination and the pump efficiency of the active element of a pulsed optical diode amplifier head.

Установка (фиг. 1, 2) содержит задающий генератор 1 накачки, выполненный в виде непрерывного лазера, светоделительное 2 и поворотные зеркала 3 и 4, фотодетектор 5 и блок 6 анализа и управления, КМОП-камеру 7 с объективом 8, диафрагму 9, светофильтр 10 и светозаградительные элементы 11 и 12.The installation (Fig. 1, 2) contains a driving pump generator 1, made in the form of a continuous laser, a beam splitter 2 and rotary mirrors 3 and 4, a photodetector 5 and an analysis and control unit 6, a CMOS camera 7 with a lens 8, an aperture 9, a light filter 10 and light-protective elements 11 and 12.

Первое поворотное зеркало 3 установлено на оптическом пути между выходом непрерывного лазера 1 и светофильтром 10, оптически связанным со вторым поворотным зеркалом 4, за которым расположен первый светозаградительный элемент 11, а второй светозаградительный элемент 12 расположен между объективом 8 КМОП-камеры 7 и светоделительным зеркалом 2, оптически связанным через диафрагму 9 с фотодетектором 5, выход которого подключен к первому информационному входу блока 6 анализа и управления, второй информационный вход которого соединен с выходом КМОП-камеры 7, а выход подключен к управляющему входу непрерывного лазера 1, причем исследуемая импульсная оптическая диодная усилительная головка (ИУГ) 13 расположена между первым светозаградительным элементом 11 и светоделительным зеркалом 2.The first rotary mirror 3 is mounted on the optical path between the output of the continuous laser 1 and the filter 10, which is optically coupled to the second rotary mirror 4, behind which the first light-protective element 11 is located, and the second light-protective element 12 is located between the lens 8 of the CMOS camera 7 and the beam-splitting mirror 2 optically connected through a diaphragm 9 to a photodetector 5, the output of which is connected to the first information input of the analysis and control unit 6, the second information input of which is connected to the output of the CMO P-cameras 7, and the output is connected to the control input of a continuous laser 1, and the investigated pulse optical diode amplifier head (IUG) 13 is located between the first light-blocking element 11 and the beam splitting mirror 2.

Детали и функциональные узлы установки смонтированы на опорной пластине 14 (фиг. 2), в которой выполнены сквозные отверстия, расположенные с регулярным шагом по двум осям с возможностью регулировки пространственного взаимного положения упомянутых деталей и функциональных узлов, что обеспечивает удобство в эксплуатации (настройку и юстировку узлов).Parts and functional units of the installation are mounted on a support plate 14 (Fig. 2), in which through holes are made, arranged at regular intervals along two axes with the possibility of adjusting the spatial relative position of the said parts and functional units, which ensures ease of use (adjustment and adjustment nodes).

Поворотные зеркала 3 и 4 предназначены для облегчения юстировки и направления излучения от непрерывного лазера 1 в оптический диодный усилитель 13.Rotary mirrors 3 and 4 are designed to facilitate alignment and directing radiation from a continuous laser 1 into an optical diode amplifier 13.

Светофильтр 10 предназначен для уменьшения влияния излучения, исходящего от ИУГ в обратную сторону.The filter 10 is designed to reduce the effect of radiation coming from the IUG in the opposite direction.

Светоделительное зеркало 2 предназначено для разделения излучения с целью измерения распределения люминесценции, либо временного профиля коэффициента усиления.The beam splitting mirror 2 is designed to separate radiation in order to measure the distribution of luminescence, or the time profile of the gain.

Диафрагма 9 служит для устранения паразитной люминесценции, которая искажает истинное значение измеряемого коэффициента усиления оптического диодного усилителя 13.The diaphragm 9 serves to eliminate stray luminescence, which distorts the true value of the measured gain of the optical diode amplifier 13.

Фотодетектор 5 предназначен для регистрации временного профиля сигнала для определения коэффициента усиления ИУГ с помощью блока 6.Photodetector 5 is designed to record the temporal profile of the signal to determine the gain of the IHG using block 6.

КМОП-камера 7 с объективом 8 предназначены для регистрации распределения люминесценции оптического диодного усилителя 13.CMOS camera 7 with lens 8 are designed to register the luminescence distribution of the optical diode amplifier 13.

Светозаградительный элемент 11 в закрытом состоянии обеспечивает измерение распределения люминесценции, а в открытом - измерение временного профиля коэффициента усиления оптического диодного усилителя 13.The light-protective element 11 in the closed state provides a measurement of the distribution of luminescence, and in the open - the measurement of the time profile of the gain of the optical diode amplifier 13.

Светозаградительный элемент 12 в закрытом состоянии обеспечивает измерение временного профиля коэффициента усиления, а в открытом - измерение распределения люминесценции оптического диодного усилителя 13.The light-blocking element 12 in the closed state provides a measurement of the time profile of the gain, and in the open - the measurement of the luminescence distribution of the optical diode amplifier 13.

Установка работает следующим образом.Installation works as follows.

Оптический диодный усилитель 13 устанавливается между светозаградительным элементом 11 и светоделительным делительным зеркалом 2.An optical diode amplifier 13 is installed between the light-protective element 11 and the beam-splitting dividing mirror 2.

При открытом элементе 11 и закрытом элементе 12, блок 6 осуществляет измерение временного профиля приосевого коэффициента усиления по специальной программе. Излучение от непрерывного лазера 1 мощностью ~100 мВт и диаметром апертуры лазерного луча ~0,8 мм проходит через светофильтр 10 и поворотными зеркалами 3 и 4 направляется в центр активного элемента усилителя 13, от которого затем поступает на делительное зеркало 2, от которого отражается в фотодетектор 5. Информационный сигнал с фотодетектора поступает на блок 6, с помощью которого задаются параметры накачки, а на экране (не показан) блока 6 отображается форму импульс усиления с амплитудой Y на фоне непрерывного сигнала X (фиг. 3).With the open element 11 and the closed element 12, the unit 6 measures the time profile of the axial gain factor according to a special program. Radiation from a continuous laser 1 with a power of ~ 100 mW and a laser beam aperture diameter of ~ 0.8 mm passes through a filter 10 and is rotated by mirrors 3 and 4 to the center of the active element of amplifier 13, from which it then passes to a fission mirror 2, from which it is reflected photodetector 5. The information signal from the photodetector is fed to block 6, with which the pump parameters are set, and on the screen (not shown) of block 6, the shape of an amplification pulse with amplitude Y against a continuous signal X is shown (Fig. 3).

Коэффициент усиления G определяется как отношение усиленного импульса к непрерывному сигналу G=Y/X.The gain G is defined as the ratio of the amplified pulse to the continuous signal G = Y / X.

При закрытом элементе 11 и открытом элементе 12 перекрывается излучение от лазера 1 и происходит измерение распределения люминесценции по сечению активного элемента на КМОП камере 7, в результате которого блоком 6 фиксируется изображение картины люминесценции активного элемента усилителя 13, которая обрабатывается блоком 6 с помощью специальной программы в среде «LabView». При этом можно управлять параметрами накачки, задавать необходимые параметры и измерять коэффициент усиления и анализировать распределение люминесценции в автоматическом режимеWhen the element 11 is closed and the element 12 is open, the radiation from the laser 1 is blocked and the luminescence distribution over the cross section of the active element is measured on the CMOS camera 7, as a result of which block 6 captures the luminescence pattern of the active element of the amplifier 13, which is processed by block 6 using a special program in LabView environment. In this case, it is possible to control the pump parameters, set the necessary parameters and measure the gain and analyze the luminescence distribution in automatic mode

Значение коэффициента усиления и его временную форму можно отслеживать в режиме реального времени, меняя параметры накачки.The gain value and its temporal shape can be monitored in real time by changing the pump parameters.

В режиме измерения распределения люминесценции ИУГ на КМОП камере программа автоматически выдает картинку засветки в псевдоцветах, чтобы наглядно оценить равномерность распределения засветки по сечению, а также профили сечений (горизонтальное, вертикальное, произвольное), с помощью которых можно точно оценить однородность распределения по сечению.In the measurement mode of the LHG luminescence distribution on a CMOS camera, the program automatically displays a picture of the illumination in pseudo colors to visually assess the uniformity of the distribution of illumination over the cross section, as well as section profiles (horizontal, vertical, arbitrary), with which you can accurately assess the uniformity of the distribution over the cross section.

Пиковое значение приосевого коэффициента усиления и распределение люминесценции по сечению активного элемента оптического диодного усилителя 13 являются взаимодополняющими характеристиками, с помощью которых возможно оценить распределение коэффициента усиления по всей апертуре активного элемента.The peak value of the axial gain and the luminescence distribution over the cross section of the active element of the optical diode amplifier 13 are complementary characteristics by which it is possible to estimate the distribution of the gain over the entire aperture of the active element.

Измерение распределения люминесценции вместе с горизонтальным профилем однородности (фиг. 4) расширяет функциональные возможности и позволяет наиболее объективно оценить параметры усиленного излучения.The measurement of the luminescence distribution together with the horizontal homogeneity profile (Fig. 4) expands the functionality and allows the most objective assessment of the amplified radiation parameters.

Чем выше однородность распределения люминесценции по сечению активного элемента, тем более равномерно распределение коэффициента усиления в выходном импульсе.The higher the uniformity of the distribution of luminescence over the cross section of the active element, the more uniform the distribution of the gain in the output pulse.

Устройство реализовано на доступных элементах вычислительной и оптоэлектронной техники и показало высокую надежность и удобство в эксплуатации.The device is implemented on accessible elements of computing and optoelectronic technology and has shown high reliability and ease of use.

Claims (2)

1. Установка для измерения характеристик оптических диодных усилителей, содержащая задающий генератор накачки, выполненный в виде непрерывного лазера, делительное и поворотные зеркала, фотодетектор и блок анализа и управления, отличающаяся тем, что она содержит КМОП-камеру с объективом, диафрагму, светофильтр и светозаградительные элементы, при этом первое поворотное зеркало установлено на оптическом пути между выходом непрерывного лазера и светофильтром, оптически связанным со вторым поворотным зеркалом, за которым расположен первый светозаградительный элемент, а второй светозаградительный элемент расположен между объективом КМОП-камеры и светоделительным зеркалом, оптически связанным через диафрагму с фотодетектором, выход которого подключен к первому информационному входу блока анализа и управления, второй информационный вход которого соединен с выходом КМОП-камеры, а выход подключен к управляющему входу непрерывного лазера, причем исследуемый оптический диодный усилитель расположен между первым светозаградительным элементом и светоделительным зеркалом.1. Installation for measuring the characteristics of optical diode amplifiers, containing a master pump made in the form of a continuous laser, dividing and rotary mirrors, a photodetector and an analysis and control unit, characterized in that it contains a CMOS camera with a lens, aperture, a light filter and light protection elements, the first rotary mirror mounted on the optical path between the output of a continuous laser and a filter optically coupled to the second rotary mirror, behind which the first a light-blocking element, and a second light-blocking element is located between the CMOS camera lens and a beam-splitting mirror optically connected through a diaphragm to a photodetector, the output of which is connected to the first information input of the analysis and control unit, the second information input of which is connected to the output of the CMOS camera, and the output is connected to the control input of a continuous laser, and the investigated optical diode amplifier is located between the first light-protective element and the beam-splitting mirror. 2. Установка по п. 1, отличающаяся тем, что детали и функциональные узлы установки смонтированы на опорной пластине, в которой выполнены сквозные отверстия, расположенные с регулярным шагом по двум осям с возможностью регулировки пространственного взаимного положения упомянутых деталей и функциональных узлов.2. Installation according to claim 1, characterized in that the parts and functional units of the installation are mounted on a support plate in which through holes are made, arranged at regular intervals along two axes with the possibility of adjusting the spatial relative position of the said parts and functional units.
RU2018141056U 2018-11-21 2018-11-21 INSTALLATION FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF OPTICAL DIODE AMPLIFIERS RU188170U1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2018141056U RU188170U1 (en) 2018-11-21 2018-11-21 INSTALLATION FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF OPTICAL DIODE AMPLIFIERS

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2018141056U RU188170U1 (en) 2018-11-21 2018-11-21 INSTALLATION FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF OPTICAL DIODE AMPLIFIERS

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU188170U1 true RU188170U1 (en) 2019-04-02

Family

ID=66088011

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2018141056U RU188170U1 (en) 2018-11-21 2018-11-21 INSTALLATION FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF OPTICAL DIODE AMPLIFIERS

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU188170U1 (en)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2076335C1 (en) * 1989-01-12 1997-03-27 Новиков Игорь Евгеньевич Stand to measure optical characteristics
RU78586U1 (en) * 2008-07-30 2008-11-27 Федеральное государственное унитарное предприятие "Производственное объединение "Уральский оптико-механический завод" имени Э.С. Яламова" (ФГУП "ПО "УОМЗ") DEVICE FOR ADJUSTING AND CHECKING THE FUNCTIONING OF MULTI-CHANNEL OPTICAL SYSTEMS
RU104699U8 (en) * 2010-12-23 2011-09-10 Закрытое акционерное общество "НПП Техноимпорт" STAND FOR TESTING LASER RANGE AND SPEED MEASURERS

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2076335C1 (en) * 1989-01-12 1997-03-27 Новиков Игорь Евгеньевич Stand to measure optical characteristics
RU78586U1 (en) * 2008-07-30 2008-11-27 Федеральное государственное унитарное предприятие "Производственное объединение "Уральский оптико-механический завод" имени Э.С. Яламова" (ФГУП "ПО "УОМЗ") DEVICE FOR ADJUSTING AND CHECKING THE FUNCTIONING OF MULTI-CHANNEL OPTICAL SYSTEMS
RU104699U8 (en) * 2010-12-23 2011-09-10 Закрытое акционерное общество "НПП Техноимпорт" STAND FOR TESTING LASER RANGE AND SPEED MEASURERS

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
MINGJUN CHI статья "RED TUNABLE HIGH-POWER NARROW-SPECTRUM EXTERNAL-CAVITY DIODE LASER BASED ON TAPERED AMPLIFIER" в журнале "SELECTED TOPICS ON OPTICAL AMPLIFIERS IN PRESENT SCENARIO", 02.2012. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9273994B2 (en) Method and apparatus for optical asynchronous sampling signal measurements
CN106769952B (en) Gas differential absorption lidar based on incoherent light source
CN103048053B (en) single laser Signal-to-Noise detection device
Anastasi et al. Test of candidate light distributors for the muon (g− 2) laser calibration system
CN107063456B (en) Time resolution diffraction efficiency of grating spectral measurement device in situ and method
CN103134600A (en) Autocorrelator
CN201072406Y (en) Pump detecting device based on 4f phase coherent imaging
CN105092477A (en) Optical nonlinearity measuring device and measuring method for nonlinearity thick photonics materials
CN109060150B (en) Ultra-short pulse time width measuring device and method based on spectral interference
CN101261224B (en) Optical non-linear method for measuring material based on 4f phase coherent imaging system
CN102426062A (en) Quasi-phase-matching-based laser pulse high-fidelity signal-to-noise ratio single measurement device
CN205015147U (en) A integrated test system for semiconductor laser chamber face failure analysis
RU188170U1 (en) INSTALLATION FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF OPTICAL DIODE AMPLIFIERS
CN204903381U (en) Nonlinearity thin film materials's optical nonlinearity measuring device
Li et al. Quantum efficiency calibration of opto-electronic detector by means of correlated photons method
CA2130307A1 (en) Non-linear, real-time, micrometer resolution optical time domain relectometers for optoelectronic circuits diagnostic and sensing applications
CN105953929A (en) Single-pulse width and energy measurement device
CN107356914B (en) Calibration system for satellite-borne laser radar detector
CN106855437B (en) A kind of single-shot ultraviolet ultrashort-pulse pulse width measure device and method
CN106404695B (en) Spectrophotometer
CN202362081U (en) Autocorrelation apparatus
CN105136329B (en) A kind of CARS spectroscopic temperature measurement experimental provisions based on bifocal lens
CN212693587U (en) Femtosecond time-resolved absorption spectrum detection system
CN110274885B (en) Broadband time-resolved absorption spectrum single measurement device
RU172412U1 (en) METHANE CONCENTRATION METER MULTI-CHANNEL FIBER OPTIC