PL172996B1 - Laser-type meter for measuring flue gas pollution - Google Patents
Laser-type meter for measuring flue gas pollutionInfo
- Publication number
- PL172996B1 PL172996B1 PL94302177A PL30217794A PL172996B1 PL 172996 B1 PL172996 B1 PL 172996B1 PL 94302177 A PL94302177 A PL 94302177A PL 30217794 A PL30217794 A PL 30217794A PL 172996 B1 PL172996 B1 PL 172996B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- laser
- detectors
- plate
- semiconductor
- selective
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Laserowy miernik zanieczyszczenia gazów, posiadający półprzewodnikowy laser i przewód pomiarowy wypełniony badanym gazem oraz wyposażony w półprzepuszczalną dla światła płytkę, usytuowaną pod kątem 45° do kierunku wiązki promieniowania lasera, a ponadto posiadający na końcu pomiarowego przewodu ukośnie usytuowane dwa płaskie zwierciadła i dwa selektywne półprzewodnikowe detektory z elektronicznym układem pomiarowym, znamienny tym, że dwa selektywne detektory (8) i (9) są połączone elektronicznie jedną z elektrod z metalową płytką (13) i umieszczone po przeciwnych stronach tej płytki (13), a równocześnie detektory te są usytuowane po tej samej stronie półprzepuszczalnej płytki (7), natomiast na końcu drogi wiązki promieniowania lasera (4) ma trzecie zwierciadło (12) umieszczone w hermetycznej komorze (2).Laser gas pollution meter, with a semiconductor laser and a test lead filled with the tested gas and equipped with a light-translucent plate situated at an angle of 45 ° to the direction of the laser beam, and additionally having at the end of the measuring lead two flat mirrors and two selective semiconductor detectors with an electronic measuring system, characterized in that two selective detectors (8) and (9) are electronically connected with one of the electrodes to a metal plate (13) and placed on opposite sides of the plate (13), and at the same time these detectors are located on this the very side of the semipermeable plate (7), while at the end of the path of the laser beam (4) it has a third mirror (12) placed in the hermetic chamber (2).
Description
Przedmiotem wynalazku jest laserowy miernik zanieczyszczenia gazów, a zwłaszcza powietrza, przeznaczony do pomiarów stężeń zarówno dużych jak i bardzo małych, szczególnie pyłów i dymów w halach fabrycznych, młynach, cementowniach oraz w obiektach użyteczności publicznej, w których wymagany jest wysoki stopień czystości powietrza takie jak: sale operacyjne w szpitalach lub fabryki przyrządów półprzewodnikowych.The subject of the invention is a laser gas pollution meter, especially air, intended for measuring concentrations of both large and very small, especially dust and fumes in factory halls, mills, cement plants and in public facilities where a high degree of air purity is required, such as : operating rooms in hospitals or semiconductor device factories.
Znany z polskiego zgłoszenia patentowego nr P - 295 773, laserowy miernik zanieczyszczenia gazów, składa się z lasera półprzewodnikowego, układu optycznego, elektronicznego układu pomiarowego i przewodu pomiarowego wypełnionego badanym gazem. Na drodze wiązki promieniowania laserajest umieszczona pod kątem 45° półprzepuszczalna płytka. Po obu stronach tej płytki są umieszczone detektory selektywne, połączone z elektronicznym układem pomiarowym. Przewód pomiarowy jest wykonany w postaci perforowanej rurki, która stanowi część przewodu transportującego badany gaz. Na końcu przewodu pomiarowego jest umieszczone płaskie zwierciadło. Laser, płytka i detektory są umieszczone w hermetycznej komorze. Elektroniczny układ pomiarowy stanowią dwa wzmacniacze wstępne, których wyjścia są połączone przez układ dzielący ze wzmacniaczem logarytmicznym. Miernik końcowy układu pomiarowego może stanowić rejestrator, komputer lub miernik cyfrowy.The laser gas pollution meter known from the Polish patent application no. P - 295 773 consists of a semiconductor laser, an optical system, an electronic measuring system and a test lead filled with the tested gas. In the path of the laser beam there is a semi-permeable plate placed at an angle of 45 °. Selective detectors connected to the electronic measuring system are placed on both sides of this board. The measuring line is made in the form of a perforated tube, which is part of the pipe transporting the tested gas. A flat mirror is placed at the end of the test lead. The laser, plate and detectors are housed in an airtight chamber. The measurement electronics are two preamplifiers whose outputs are connected via a divider with a logarithmic amplifier. The end meter of the measurement system may be a recorder, computer or digital meter.
Zasadniczą niedogodnością znanego miernika jest brak stabilizacji zera podczas dłuższej pracy przyrządu, co powoduje obniżenie z czasem jego czułości i dokładności pomiarów.The main disadvantage of the known meter is the lack of zero stabilization during longer operation of the device, which reduces its sensitivity and measurement accuracy over time.
Znany z niemieckiego opisu patentowego nr 2 438 294, laserowy miernik zanieczyszczenia gazów, charakteryzuje się tym, że wiązka promieniowania z lasera poprzez płytkę półprzepuszczalną dociera do końca przewodu pomiarowego, który ma ukośnie usytuowane dwa płaskie zwierciadła. Po odbiciu od drugiego zwierciadła wiązka promieniowania jest skierowana do detektora. Detektor jest połączony z elektronicznym układem pomiarowym.The laser gas pollution meter known from the German patent specification No. 2 438 294 is characterized in that the radiation beam from the laser reaches the end of the measuring wire through a semi-permeable plate, which has two planar mirrors arranged obliquely. After reflection from the second mirror, the radiation beam is directed towards the detector. The detector is connected to an electronic measuring system.
Przedmiotem wynalazku jest laserowy miernik zanieczyszczenia gazów, posiadający półprzewodnikowy laser i przewód pomiarowy wypełniony badanym gazem oraz wyposażony w półprzepuszczalną dla światła płytkę, usytuowaną pod kątem 45° do kierunku wiązki promieniowania lasera, a ponadto posiadający na końcu pomiarowego przewodu ukośnie usytuowane dwa płaskie zwierciadła i dwa selektywne półprzewodnikowe detektory z elektronicznym układem pomiarowym.The subject of the invention is a laser gas pollution meter, having a semiconductor laser and a test lead filled with the tested gas, and equipped with a light-translucent plate situated at an angle of 45 ° to the direction of the laser beam, and additionally having two plane mirrors and two diagonally arranged at the end of the measuring lead. selective semiconductor detectors with an electronic measuring system.
Istota miernika polega na tym, że dwa selektywne detektory są połączone elektrycznie jedną z elektrod z metalową płytką i umieszczone po przeciwnych stronach tej płytki. Równocześnie detektory te są usytuowane po tej samej stronie półprzepuszczalnej płytki. Na końcu drogi wiązki promieniowania lasera ma trzecie zwierciadło umieszczone w hermetycznej komorze.The essence of the meter lies in the fact that two selective detectors are electrically connected with one of the electrodes to a metal plate and placed on opposite sides of this plate. At the same time, these detectors are located on the same side of the semipermeable plate. At the end of the path of the laser beam it has a third mirror placed in an airtight chamber.
172 996172 996
W konstrukcji laserowego miernika zanieczyszczenia gazów, zastosowano optymalny wybór drogi wiązki promieniowania lasera, wzdłuż której wykorzystano osłabienie wiązki przez cząstki zanieczyszczeń oraz zastosowano niekonwencjonalny sposób usytuowania receptorów, co umożliwia wielokrotne zwiększenie czułości pomiarowej, jak również znaczne obniżenie poziomu szumów w porównaniu ze znanymi miernikami co w znaczący sposób rozszerza zakres stosowalności miernika. Laserowy miernik zanieczyszczenia gazów, według wynalazku, charakteryzują niewielkie wymiary, a w przypadku zastosowania karty analogowo-cyfrowej składa się tylko z niewielkiej części optycznej i komputera. Mały ciężar, praca przy niskich napięciach, duża dokładność i stabilność pomiarów, możliwość wykonania układu pomiarowego technologią obwodów scalonych daje szeroki zakres pomiarowy a więc szerokie możliwości aplikacyjne. Brak mechanicznych części ruchomych wpływa na zwiększenie niezawodności działania i ułatwia obsługę miernika.In the construction of the laser gas pollution meter, the optimal choice of the laser beam path was used, along which the weakening of the beam by pollution particles was used, and an unconventional way of positioning the receptors was used, which allows for multiple increases in measuring sensitivity, as well as a significant reduction in noise level compared to known meters, which in significantly extends the scope of the meter applicability. The laser gas pollution meter according to the invention is characterized by small dimensions, and when an analogue-digital card is used, it consists of only a small optical part and a computer. Low weight, work at low voltages, high accuracy and stability of measurements, the possibility of making the measuring system with the integrated circuit technology gives a wide measuring range, and therefore a wide application possibilities. The lack of mechanical moving parts increases the operational reliability and facilitates the service of the meter.
Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykładzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat układu optycznego laserowego miernika zanieczyszczenia gazów, fig. 2 - schemat blokowy elektronicznego układu pomiarowego miernika.The subject of the invention is presented in the embodiment in the drawing, in which Fig. 1 shows a diagram of the optical system of a laser gas pollution meter, Fig. 2 - a block diagram of the measuring electronic system of the meter.
Laserowy miernik zanieczyszczenia powietrza ma metalową obudowę 1, wewnątrz której znajduje się hermetyczna komora 2, dwa elektroniczne układy wzmacniaczy wstępnych 3, półprzewodnikowy laser 4 o mocy 10 mW o działaniu ciągłym i stabilizowany przy pomocy stabilizatora mocy lasera 14. Hermetyczna komora 2 jest wyposażona w dwa szklane okna 5 i 6, umieszczone na tej samej ścianie. Wewnątrz hermetycznej komory 2 między laserem 4 a szklanym oknem 5 jest umieszczona półprzepuszczalna dla światła płytka 7, która jest usytuowana pod kątem 45° w stosunku do wiązki promieniowania półprzewodnikowego lasera 4 i umieszczona na drodze tej wiązki. Po jednej stronie półprzepuszczalnej dla światła płytki 7 i na tej samej wysokości co ta płytka 7, w kierunku wiązki odbitej od niej znajdują się półprzewodnikowe selektywne detektory 8 i 9, z których każdy połączony jest z wejściem jednego z dwóch elektronicznych układów wzmacniaczy wstępnych 3. Półprzewodnikowe selektywne detektory 8 i 9, połączone są jedną z elektrod o tym samym znaku, z metalową płytką 13, stanowiącą radiator, przy czym umieszczone one są po przeciwnych stronach metalowej płytki 13. Półprzewodnikowy detektor selektywny 8 jest umieszczony prostopadle do kierunku wiązki promieniowania lasera 4 odbitej od półprzepuszczalnej dla światła płytki 7, a drugi półprzewodnikowy detektor selektywny 9 prostopadle do wiązki promieniowania lasera 4 odbitej od płaskiego zwierciadła 12, umieszczonego pod kątem 45° do kierunku wiązki pomiarowej, wychodzącej z komory pomiarowej 22. Część metalowej obudowy 1 stanowi perforowaną od spodu komorę pomiarową 22, w której naprzeciw wylotowego szklanego okna 5 hermetyczne komory 2 umieszczono pod kątem 45° do kierunku padającej wiązki promieniowania lasera I, płaskie zwierciadło 10, a naprzeciw okna szklanego 6, również pod kątem 45° do kierunku wiązki promieniowania lasera 1 lecz odbitego od płaskiego zwierciadła 10, umieszczono płaskie zwierciadło 11. Na tej samej wysokości, lecz wewnątrz hermetycznej komory 2 umieszczono pod kątem 45° płaskie zwierciadło 12, z możliwością regulacji tego kąta w stosunku do wiązki promieniowania lasera 4 odbitej od płaskiego zwierciadła 11.The laser air pollution meter has a metal housing 1, inside which there is a hermetic chamber 2, two electronic preamplifier circuits 3, a semiconductor laser 4 with a power of 10 mW with continuous operation and stabilized by a laser power stabilizer 14. The hermetic chamber 2 is equipped with two glass windows 5 and 6, located on the same wall. Inside the hermetic chamber 2, between the laser 4 and the glass window 5, a light-translucent plate 7 is placed, which is situated at an angle of 45 ° to the radiation beam of the semiconductor laser 4 and placed in the path of this beam. On one side of the semiconductor wafer 7 and at the same height as this wafer 7, in the direction of the beam reflected from it, there are semiconductor selective detectors 8 and 9, each of which is connected to the input of one of the two electronic preamplifier circuits 3. Semiconductor selective detectors 8 and 9, connected with one of the electrodes of the same sign, with a metal plate 13, constituting a heat sink, they are placed on opposite sides of the metal plate 13. The semiconductor selective detector 8 is placed perpendicular to the direction of the reflected laser beam 4 from the semi-transparent plate 7, and the second semiconductor selective detector 9 perpendicular to the laser beam 4 reflected from a flat mirror 12, placed at an angle of 45 ° to the direction of the measuring beam, coming out of the measuring chamber 22. Part of the metal housing 1 is a chamber perforated on the bottom measuring 22, in which it is opposite the outlet of the glass window 5, hermetic chambers 2 were placed at an angle of 45 ° to the direction of the incident laser beam I, a flat mirror 10, and opposite the glass window 6, also at an angle of 45 ° to the direction of the laser beam 1, but reflected from a flat mirror 10, were placed flat mirror 11. At the same height, but inside the hermetic chamber 2, a flat mirror 12 was placed at an angle of 45 °, with the possibility of adjusting this angle in relation to the laser beam 4 reflected from the flat mirror 11.
Elektroniczny układ pomiarowy miernika, analizujący sygnał z dwóch elektronicznych układów wzmacniaczy wstępnych 3, których wyjścia są połączone z układem dzielącym 15, skąd sygnał jest podawany na układ logarytmujący 16, a następnie wzmacniany przez wzmacniacz operacyjny 17, którego wyjście jest połączone z miernikiem cyfrowym 18, układem programującym 19 oraz komputerem 20 lub rejestratorem 21.The meter electronic measurement system, analyzing the signal from two electronic preamplifier circuits 3, whose outputs are connected to the divider 15, from where the signal is fed to the logarithmic circuit 16, and then amplified by the operational amplifier 17, the output of which is connected to the digital meter 18, with the programming system 19 and a computer 20 or a recorder 21.
Pomiar zanieczyszczenia powietrza w badanym pomieszczeniu przebiega następująco. Stabilizowana stabilizatorem mocy lasera 14 wiązka promieniowania lasera 4 pada na półprzepuszczalną dla światła płytkę 7. Część wiązki promieniowania lasera 4 ulega odbiciu i pada na półprzewodnikowy selektywny detektor 8, pozostała część po przejściu przez szklane okno 5 przechodzi do wnętrza komory pomiarowej 22, po czym odbija się od płaskich zwierciadeł 10 oraz 11 i powraca przez szklane okno 6 do hermetycznej komory 2, wewnątrz której odbija się od płaskiego zwierciadła 12 i pada na drugi półprzewodnikowy selektywny detektor 9. Wiązka promieniowania lasera 4 o natężeniu I ulega podziałowi, w wyniku czego część wiązki o stałym natężeniu promieniowania I1 w czasie, zależna tylko od współczynnika odbicia półprzepuszczal4The measurement of air pollution in the tested room is as follows. Stabilized by a laser power stabilizer 14, the laser beam 4 hits the light-translucent plate 7. Part of the laser beam 4 is reflected and hits the semiconductor selective detector 8, the remaining part, after passing through the glass window 5, passes into the measurement chamber 22 and then reflects from the flat mirrors 10 and 11 and returns through the glass window 6 to the hermetic chamber 2, inside which it reflects from the flat mirror 12 and falls on the second semiconductor selective detector 9. The laser beam 4 of intensity I is divided, as a result of which part of the beam with constant irradiance I1 over time, depending only on the reflectance semi-transmissive4
172 996 nej dla światła płytki 7, który jest wartością stałą, pada na półprzewodnikowy selektywny detektor 8, a druga część wiązki o osłabionym przez zanieczyszczenia natężeniu promieniowania I2, uzależnionym od stopnia zanieczyszczenia gazu, pada na półprzewodnikowy selektywny detektor 9. Umieszczenie po przeciwnych stronach płytki metalowej 13 półprzewodnikowych selektywnych detektorów 8 i 9 oraz połączenie z nią jednej z elektrod o tym samym znaku, dla każdego z tych detektorów 8 i 9 stwarza identyczne warunki pracy pod względem termicznym i elektrycznym i daje bardzo dobrą izolację sygnałów padających na nie. Wynikiem tego jest bardzo dobra stabilizacja pracy układu i jego wysoka czułość.172 996 for the light of the wafer 7, which is a constant value, it falls on the semiconductor selective detector 8, and the second part of the beam with the radiation intensity I2 weakened by the pollution, depending on the degree of gas pollution, falls on the semiconductor selective detector 9. Placement on the opposite sides of the wafer of the metal 13 of the semiconductor selective detectors 8 and 9 and the connection to it of one of the electrodes of the same sign, for each of these detectors 8 and 9, creates identical operating conditions in thermal and electrical terms and gives a very good isolation of the signals incident on them. The result is a very good stabilization of the system operation and its high sensitivity.
Część wiązki o osłabionym przez zanieczyszczenia natężeniu promieniowania I2 podczas przechodzenia przez wnętrze komory pomiarowej 22 ulega osłabieniu, które jest proporcjonalne do logarytmu stosunku natężeń wiązek 11 do I2, czyli do stopnia zanieczyszczenia badanego gazu. Wyjściowe sygnały U1 i U2 półprzewodnikowych selektywnych detektorów 8 i 9 są więc proporcjonalne do natężenia odpowiednich części wiązki I1, I2 i natężenia promieniowania lasera I, który jest zasilany sygnałem stabilizującym moc lasera U3. Sygnały U1 i U2 po wstępnym wzmocnieniu w elektronicznym układzie wzmacniaczy wstępnych 3 są podawane poprzez układ dzielący do układu logarytmującego 16 i wzmacniacza 17. Sygnał wyjściowy wzmacniacza 17 jest proporcjonalny do koncentracji stężenia zanieczyszczenia badanego gazu, co pozwala na odpowiednie wyskalowanie końcowych mierników, takichjak miernik cyfrowy 18, komputer 20 czy rejestrator 21 w bezwzględnych lub względnych jednostkach zawartości mierzonych zanieczyszczeń. Układ programujący 19 pozwala zaprogramować minimalny dopuszczalny zgodnie z normą poziom zanieczyszczeń gazu, powyżej którego zostają uruchomione odpowiednie urządzenia wentylacyjno-klimatyzacyjne sterowane miernikiem według wynalazku. Szybką wymianę gazów w komorze pomiarowej zapewnia umieszczony wewnątrz niej wentylator 23. Czas pracy wentylatora 23 jest regulowany zależnie od szybkości zmian koncentracji zanieczyszczenia badanych gazów.The part of the beam with the radiation intensity I2 attenuated by the impurities while passing through the interior of the measuring chamber 22 weakens, which is proportional to the logarithm of the ratio of the intensity of the beams 11 to I2, i.e. the degree of pollution of the tested gas. The output signals U1 and U2 of the semiconductor selective detectors 8 and 9 are therefore proportional to the intensity of the respective parts of the beam I1, I2 and the intensity of the laser radiation I, which is supplied with the signal stabilizing the laser power U3. After initial amplification in the electronic circuit of preamplifiers 3, the signals U1 and U2 are fed through the divider to the logarithm 16 and the amplifier 17. The output signal of the amplifier 17 is proportional to the concentration of the pollutant concentration of the tested gas, which allows for appropriate scaling of the final meters, such as a digital meter 18, computer 20 or recorder 21 in absolute or relative units of the content of the pollutants to be measured. The programming system 19 makes it possible to program the minimum level of gas contamination acceptable in accordance with the standard, above which the appropriate ventilation and air-conditioning devices controlled by the meter according to the invention are activated. Quick gas exchange in the measuring chamber is ensured by a fan 23 located inside it. The operating time of the fan 23 is regulated depending on the rate of changes in the contamination concentration of the tested gases.
Laserowy miernik zanieczyszczeń gazów stosuje się również w przewodach kominowych i wentylacyjnych. W takich przypadkach stanowią one komorę pomiarową bez konieczności stosowania wentylatora.The laser gas pollution meter is also used in chimney and ventilation ducts. In such cases, they constitute a measuring chamber without the need for a fan.
Wykaz oznaczeńList of designations
- metalowa obudowa- metal housing
- hermetyczna komora- hermetic chamber
- elektroniczny układ wzmacniaczy wstępnych- electronic circuit of preamplifiers
- laser półprzewodnikowy- semiconductor laser
- okno szklane- glass window
- okno szklane- glass window
- płytka półprzepuszczalna dla światła- a plate that is translucent to light
- Półprzewodnikowy detektor selektywny- Selective semiconductor detector
- Półprzewodnikowy detektor selektywny- Selective semiconductor detector
- płaskie zwierciadło- flat mirror
- płaskie zwierciadło- flat mirror
- płaskie zwierciadło- flat mirror
- metalowa płytka- metal plate
- stabilizator mocy lasera- laser power stabilizer
- układ dzielący s układ logrnytmujący s wzmacniacz s miernik cyfrowy s układ programujący- divider s programming circuit s amplifier s digital meter s programming circuit
- komputer- computer
- r'^^jtϊίttlalt^or- r '^^ jtϊίttlalt ^ or
- komora pomiarowa- measuring chamber
- wentylator- fan
I - natężenie wiipkd promieniowania laseraI - laser radiation intensity
II - część wiązki o stałym natężeniu promieniowaniaII - part of the beam with constant radiation intensity
I2 - część wu^ki o osłabionym przez zanieczyszczenia natężeniu promieniowaniaI2 - a part of the garden with the radiation intensity weakened by the pollution
U1 - sygnał wyjściowy detektoraU1 - detector output signal
U2 - sygnał wyjściowy drugiego detektoraU2 - the output of the second detector
U3 - sygnał stabilizujący moc laseraU3 - signal stabilizing the laser power
172 996 υ3 u2 172 996 υ 3 u 2
UlUl
Fig. 2Fig. 2
172 996172 996
Fig. 1Fig. 1
Departament Wydawnictw UP RP. Nakład 90 egz. Cena 2,00 złPublishing Department of the UP RP. Circulation of 90 copies. Price PLN 2.00
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL94302177A PL172996B1 (en) | 1994-02-07 | 1994-02-07 | Laser-type meter for measuring flue gas pollution |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL94302177A PL172996B1 (en) | 1994-02-07 | 1994-02-07 | Laser-type meter for measuring flue gas pollution |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL302177A1 PL302177A1 (en) | 1995-08-21 |
| PL172996B1 true PL172996B1 (en) | 1998-01-30 |
Family
ID=20061764
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL94302177A PL172996B1 (en) | 1994-02-07 | 1994-02-07 | Laser-type meter for measuring flue gas pollution |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL172996B1 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| PL234435B1 (en) * | 2018-04-12 | 2020-02-28 | Glowny Instytut Gornictwa | Optical dust meter casing |
| PL234434B1 (en) * | 2018-04-12 | 2020-02-28 | Glowny Instytut Gornictwa | Laser optical dust meter |
-
1994
- 1994-02-07 PL PL94302177A patent/PL172996B1/en unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL302177A1 (en) | 1995-08-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5650624A (en) | Passive infrared analysis gas sensor | |
| US5721430A (en) | Passive and active infrared analysis gas sensors and applicable multichannel detector assembles | |
| US5781306A (en) | Measuring apparatus for gas analysis | |
| US3614450A (en) | Apparatus for measuring the amount of a substance that is associated with a base material | |
| US9194794B2 (en) | Optical absorption spectroscopy | |
| Parrish et al. | Routine, continuous measurement of carbon monoxide with parts per billion precision | |
| JP2010536042A (en) | Long-path atmospheric monitoring and measuring device | |
| US5874737A (en) | Gas analyzer | |
| US3984688A (en) | Monitor for detection of chemiluminescent reactions | |
| US20080011952A1 (en) | Non-Dispersive Infrared Gas Analyzer | |
| US6583417B2 (en) | Infrared optical gas-measuring device and gas-measuring process | |
| US3675019A (en) | Apparatus for measuring the amount of a substance that is associated with a base material | |
| JPH06167456A (en) | Calibration method of scanner and generation apparatus of prescribed scattered-light amplitude | |
| PL172996B1 (en) | Laser-type meter for measuring flue gas pollution | |
| Huang et al. | Experimental techniques | |
| Zelinger et al. | Laser photoacoustic spectrometry and its application for simulation of air pollution in a wind tunnel | |
| US4297577A (en) | Radiation detection of gas compositions | |
| US4251727A (en) | Gas detection | |
| RU2210070C2 (en) | Optical dust meter in system for controlling ventilation of industrial rooms | |
| US3920993A (en) | Piggyback optical bench | |
| Ashraf et al. | Evaluation of a CO 2 sensitive thermopile with an integrated multilayered infrared absorber by using a long path length NDIR platform | |
| Mezrin | Humidity measurement from aircraft | |
| Buhr et al. | The measurement of diffuse optical densities. Part II: The German standard reference densitometers | |
| JPH11304706A (en) | Infrared gas analyser | |
| JPH05249038A (en) | Oil mist concentration measuring apparatus |