NL1016473C2 - Device and method for the adjustment of a collimator. - Google Patents

Device and method for the adjustment of a collimator. Download PDF

Info

Publication number
NL1016473C2
NL1016473C2 NL1016473A NL1016473A NL1016473C2 NL 1016473 C2 NL1016473 C2 NL 1016473C2 NL 1016473 A NL1016473 A NL 1016473A NL 1016473 A NL1016473 A NL 1016473A NL 1016473 C2 NL1016473 C2 NL 1016473C2
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
collimator
detection
device
characterized
device according
Prior art date
Application number
NL1016473A
Other languages
Dutch (nl)
Other versions
NL1016473A1 (en
Inventor
Frank Cordes
Martin Hartick
Original Assignee
Heimann Systems Gmbh & Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to DE1999154661 priority Critical patent/DE19954661C2/en
Priority to DE19954661 priority
Application filed by Heimann Systems Gmbh & Co filed Critical Heimann Systems Gmbh & Co
Publication of NL1016473A1 publication Critical patent/NL1016473A1/en
Application granted granted Critical
Publication of NL1016473C2 publication Critical patent/NL1016473C2/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/02Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions

Description

Korte aanduiding:, Inrichting en werkwijze voor het justeren van een collimator. :, SPECIFICATION Apparatus and method for the adjustment of a collimator.

De uitvinding heeft betrekking op een inrichting voor het 5 justeren van een collimator volgens de aanhef van conclusie 1 en een werkwijze volgens de aanhef van conclusie 12. The present invention relates to a device for the adjustment of a collimator 5, according to the preamble of claim 1 and a method according to the preamble of claim 12.

De justering van een collimatie- en detectie-inrichting. The adjustment of a collimator and detection device. in een röntgenstelsel heeft beslissende invloed op de selectiviteit en daardoor op de materiaalherkenbaarheid en detectiewaarschijnlijkheid 10 van een door te lichten object. in an x-ray system has a decisive influence on the selectivity and hence on the material recognition and probability of detection of 10 by an object to be lights. In het bijzonder bij röntgenstelsels die het fysische buigingseffeet van röntgenstralen toepassen is een exacte justering noodzakelijk opdat de exacte hoekpositie van de collimatie- en detectie-inrichting tot de röntgenstraal een exacte meting en bepaling van het gedetecteerde materiaal mogelijk maakt. In particular in x-ray systems, which makes the use physical buigingseffeet of X-rays is an exact adjustment is necessary in order that the exact angular position of the collimator, and detection device of the x-ray an exact measurement and determination of the detected material.

15 Een dergelijke werkwijze voor het bepalen van de ruimtelijke verdeling van de verstrooiingsdoorsnede voor elastisch verstrooide röntgenstraling en een inrichting voor het uitvoeren van de werkwijze zijn bekend uit DE-A-3526015. 15 Such a method for the determination of the spatial distribution of the scattering cross-section for elastically scattered X-ray radiation, and a device for carrying out the method are known from DE-A-3526015.

Volgens DE-A-19510168 is een soortgelijk uitvoeringsvoorbeeld 20 voor het justeren van een collimatie- en detectie-inrichting van een röntgenteststelsel bekend. According to DE-A-19510168 is a similar embodiment 20 for the adjustment of a collimator and an X-ray detecting device of the test system is known. Daarbij wordt voor elke meting automatisch een nieuwe justering uitgevoerd. It is carried out a new adjustment automatically for each measurement. De collimator- en detectie-inrichting, die uit meerdere collimators met respectieve daarachter aanwezige detectors bestaat, is daarbij op een 25 gemeenschappelijke dragereenheid aangebracht, waarbij de dragereenheid verder een centrale collimator heeft die op het brandpunt van een de röntgenstraling opwekkende röntgenbron gericht is respectievelijk bij elke nieuwe justering daarop gericht wordt. is then applied to a 25 common support unit, wherein the support unit further has a central collimator which focused on the focal point of the x-ray generating X-ray source is, respectively, on the collimator, and detection device, which consists of a plurality of collimators with respective behind existing detectors, each new adjustment directed thereon.

Bij een justering treft de door de röntgenbron uitgezonden centrale 30 straal (primaire straal), die bij een exacte uitrichting door de centrale collimator gaat, daarachter aanwezige, naast elkaar aangebrachte afzonderlijke detectoren die daarbij detectiesignalen opwekken die bij exacte justering even groot zijn. In an adjustment affects the center 30 beam emitted by the X-ray source (primary beam), which passes through the central collimator at an exact alignment, behind that present, of individual sensors arranged next to each other, thereby generating detection signals which are the same size for exact adjustment.

Uit JP 10246797 AA is het bekend een collimator door rotatie 35 op een röntgenstraal uit te richten. From JP 10246797 AA, it is known a collimator 35 by rotation to align in a x-ray. Daartoe heeft de collimator een To this end, the collimator has a

Λ Λ <· A —1 O Λ Λ <· A -1 O

I langwerpige doorgang door welke de straal gestuurd wordt. I elongate passage which is controlled by the jet. De I collimator wordt rondom zijn as bewogen tot de straal door de doorgang een teller treft en deze de straal detecteert. The I exceeds collimator is moved about its axis to the radius, a counter through the passage and this detects the beam.

Uit JP 5215898 AA is het gebruik van afscherming voor I 5 detectie-inrichtingen bekend. From JP 5215898 AA is the use of shielding for I 5-detection devices are known. Uit DE-A-4137242 is een collimator met een centrale boring voor het uitlichten van röntgenstralen bekend. From DE-A-4137242 is a collimator having a central bore for extracting X-rays are known.

H Verder is uit DE-A-4130039 een inrichting voor het opwekken I van een gespreide röntgenstraalbundel met kleine doorsnede bekend. H is further known from DE-A-4130039 a device for generating a spread I of X-ray beam of small cross-section are known.

Hierbij wordt een röntgenstraalbundel met de vorm van een holle 10 kegel door een collimator met een ronde sleuf opgewekt. Is then generated an X-ray beam with the shape of a hollow cone through a collimator 10 with a circular slot.

H De uitvinding heeft als doel een inrichting en een werkwijze I voor het justeren van een collimator in een röntgenstelsel te I verschaffen, waarbij het justeren constructief eenvoudig uitgevoerd is en volautomatisch kan verlopen. H The invention aims a device and provide a method I for the adjustment of a collimator in an x-ray system to I, wherein the adjustment is carried out structurally simple and can take place fully automatically.

15 Dit doel wordt bereikt door middel van de maatregelen volgens de conclusies 1 en 12. 15, this object is achieved by means of the measures according to the claims 1 and 12.

De uitvinding is gebaseerd op het idee de justering met behulp I van een in de collimator aangebracht detectiestelsel, bestaande uit ten minste twee plaatselijk gescheiden, op afstand achter elkaar I 20 aangebrachte detectie-inrichtingen uit te voeren. The invention is based on the idea to perform the adjustment by using I of a collimator arranged in the detection system, consisting of at least two spatially separated, at a distance one behind the other I 20 mounted detection devices. In geval van een homogene verzwakking van een door een röntgenstraalbron uitgezonden primaire straal door de eerste detectie-inrichting van het detectiestelsel wordt de resterende stralingssterkte nogmaals voor de einduitrichting van de collimator met behulp van de tweede 25 detectie-inrichting gebruikt. In case of a homogeneous attenuation of a transmitted X-ray source by a primary beam by the first detection device of the detection system, the remaining radiation strength is once again for the einduitrichting of the collimator by means of the second detection device 25 used. Op deze wijze is een exacte, coaxiale uitrichting van de collimator met het in de collimator aanwezige detectiestelsel op respectievelijk langs de primaire straal mogelijk, waardoor binnen een röntgenstelsel een hogere meetnauwkeurigheid verzekerd wordt. In this way, an exact, coaxial alignment of the collimator with the detection system, respectively, along the primary beam present in the collimator as possible, thereby ensuring a higher accuracy of measurement within an x-ray system. Naarmate de detectie- I 30 inrichtingen verder van elkaar verwijderd zijn des te nauwkeuriger wordt de uitrichting van de collimator binnen een röntgenstelsel. As the detecting devices I 30 further away from each other are removed the more precise the alignment of the collimator in an x-ray system is.

Voor de ruimtelijk plaatselijke uitrichting van de collimator in een eerste punt wordt de eerste detectie-inrichting zolang in de primaire straal verplaatst totdat een daarbij opgewekt signaal 35 maximaal, dat wil zeggen het sterkst is. For the spatial local alignment of the collimator in a first point, the first detection device as long as in the primary beam moved until a signal is thereby generated a maximum of 35, that is to say it is strongest. Voor optimale uitrichting van de collimator langs de primaire straal volgt daarna de uitrichting op een verder punt in de collimator. For optimal alignment of the collimator along the primary beam then follows the alignment at a further point in the collimator. Dit wordt met behulp van de tweede detectie-inrichting bereikt, waarbij de 3 collimator zolang in een (bovenste) vlak om een imaginair punt, dat zich zo dicht mogelijk bij het centrum van de eerste detectie-inrichting bevindt, in twee onafhankelijke vlakken gedraaid tot ook hier het signaal maximaal is zonder dat daarbij het signaal van de 5 eerste detectie-inrichting geminimaliseerd wordt. This is achieved with the aid of the second detection device, wherein the third collimator as long as in a (upper) plane about an imaginary point which is located as close as possible to the center of the first detection device, rotated in two independent planes to here, too, the signal is a maximum, without being thereby minimizing the signal from the first detection device 5. Nadat aldus het maximum van het eerste draaivlak ingesteld is, wordt een verdere verdraaiing in het tweede draaivlak uitgevoerd, waarbij ook hier het draaicentrum zo mogelijk dicht bij het centrum van de eerste detectie-inrichting ligt. After it has been set according to the maximum of the first plane of rotation, a further rotation is carried out in the second plane of rotation, wherein here also the center of rotation as possible, is close to the center of the first detection device. De optimale uitrichting is verzekerd 10 wanneer in alle drie draaivlakken het maximum van de sterkte van de twee detectie-inrichtingen ingesteld is. The optimal alignment is insured 10 when in all three planes of rotation, the maximum of the strength of the two detection devices is set.

Gunstige uitvoeringsvormen zijn in de afhankelijke conclusies beschreven. Advantageous embodiments are described in the dependent claims.

Zo kan in een eenvoudige uitvoeringsvorm voor de twee 15 detectie-inrichtingen in de collimator een respectieve blindeerinrichting, bijvoorbeeld bestaande uit een gatdiafragma, aangebracht zijn die voor het aan de straaldiameter van de primaire straal aanpassen van het detectievlak dienen. Thus, in a simple embodiment for the two detection devices 15 in the collimator have a respective blind device, consisting for example of an aperture plate, is provided which serve to adjust the beam diameter of the primary beam of the detection face.

Bij gebruik van detectie-inrichtingen waarvan de opneemvlakken 20 voldoende met de stralingsdiameter overeenstemmen kan de blindeerinrichting achterwege blijven. When using detecting devices of which the receiving faces 20 are sufficiently similar to the blind apparatus can be dispensed with, the radiation diameter.

Als eerste detectie-inrichting kan bijvoorbeeld een halfgeleider-, gas- of sintillatieteller gebruikt worden die voldoende dun en homogeen is, waardoor de primaire straal slechts 25 weinig verzwakt wordt en een sterkteverdeling in hoofdzaak behouden blijft. As the first detection device, for example, may be used a semiconductor, gas or sintillatieteller which is sufficiently thin and uniform, so that the primary beam 25 is attenuated only a little, and an intensity distribution is substantially retained.

Als tweede detectie-inrichting kan eveneens een halfgeleider-, gas- of sintillatieteller gebruikt worden waarvan de absorptie-eigenschappen echter afgestemd moeten zijn op de gemiddeld hogere 30 kwantumenergie die als gevolg van de transmissie door de eerste detectie-inrichting optreedt. If the second detection device may also be a semiconductor, gas or sintillatieteller are used, the absorption properties, however, must be adjusted to the higher average quantum energy 30, which occurs by the first detection device as a result of the transmission.

De twee plaatselijk gescheiden detectie-inrichtingen kunnen respectievelijk uit een vier-kwadrantendetector, ten minste twee afzonderlijke detectors, een detectormatrix of plaatsgevoelige 35 detectors met meervoudig gesegmenteerde dioden bestaan. The two spatially separated detection devices may, respectively, of a four-quadrant detector, at least two individual detectors, a detector matrix or position-sensitive detectors 35 with multiple-segmented diodes exist.

Bij voorkeur wordt de werkwijze voor het justeren van ronde-sleufcollimators met een daarachter aanwezige kristaldetector gebruikt, waarbij het totale stelsel voor een exacte meting met 1016473“ I behulp van de röntgenbuiging onder een vooraf bepaalde hoek tot de I primaire straal ingesteld wordt. Preferably, the method is used for the adjustment of round-sleufcollimators with a downstream present crystal detector, which establishes the overall system for a precise measurement with 1016473 "I using the X-ray diffraction at a predetermined angle to the I primary beam.

I Het is ook mogelijk een eenvoudige collimator-/detectie- inrichting te justeren die bijvoorbeeld voor gebruikelijke I 5 materiaaldetectie gebruikt wordt, waarbij de eerste detectie- I inrichting als detector voor het laag-energetische aandeel van de H straling uitgevoerd is en de tweede detectie-inrichting als detector I voor het hoog-energetische aandeel uitgevoerd is. I It is also possible a simple collimator / for adjustment detection device which is used, for example, for conventional I 5 material detection, wherein the first detection device I as a detector for the low-energy portion of the radiation-H has been performed and the second detection -inrichting is designed as I detector for high-energy share.

De uitvinding zal hierna toegelicht worden met een in de 10 tekeningen getoonde uitvoeringsvorm. The invention will be explained in the following with an embodiment shown in the 10 drawings. In de tekening tonen: fig. 1 een principevoorstelling van een meettraject volgens de I stand van de techniek; In the drawing: Figure 1 is a schematic diagram of a measuring section according to the I state of the art; Fig. fig. 2 een ronde-sleufcollimator met een inrichting volgens de uitvinding; Fig. 2 shows a round-sleufcollimator with a device according to the invention; 15 fig. 3 de inrichting volgens de uitvinding in een eenvoudige collimator; . 15, Fig 3, the device according to the invention in a simple collimator; I fig· 4 een eerste uitvoeringsvorm van de inrichting volgens de uitvinding; I · Figure 4 shows a first embodiment of the device according to the invention; fig. 5 een verdere uitvoeringsvorm van de inrichting; Fig. 5 shows a further embodiment of the device; en 20 fig. 6 een schematische voorstelling van het uitrichten van de I collimator op een primaire straal. 20 and FIG. 6 is a schematic representation of the alignment of the I collimator on a primary beam.

Fig. Fig. 1 toont een meettraject in een niet nader getoond I röntgen(test)stelsel. 1 shows a measuring section in a not further shown X-ray I (test) system. Zoals bekend wordt door een röntgenstraalbron 1 een röntgenstraling FX opgewekt en op een door te lichten, op een 25 transportinrichting 3 geplaatst object 2 gestraald. As is known, by an X-ray source 1 generates an X-ray radiation, and FX a by highlighting, on a transport device 25, object 3 is placed two blasted. Door middel van een blindeerinrichting 4a, 4b wordt bij voorkeur een primaire straal FXj als potloodbundel opgewekt. By means of a shutter device 4a, 4b is preferably a primary beam FXJ generated as a pencil beam. Afhankelijk van de kristalroosterstructuur van het door te lichten materiaal van het object 2 wordt de primaire straal FXx op bekende wijze op meerdere 30 roosterpunten G (hier slechts één maal getoond) gebroken, waarbij de primaire straal FXi bij een bepaalde stralingsenergie in een van het materiaal afhankelijke hoek % als straling FXï'afgebogen wordt. Depending on the crystal lattice structure of the by highlighting material of the object 2 (shown only once), the primary beam FXX in a known manner on a plurality of 30 of grid points G broken, in which the primary beam FXI at a specific radiation energy in one of the material % as angle-dependent radiation is FXï'afgebogen.

Onder toepassing van deze eigenschap wordt op bekende wijze op basis van het fysische röntgenbuigingseffect (Braggsche 35 interferentievorming) het materiaal bepaald dat gedetecteerd werd, waarbij door gebruik van een bepaalde hoek ΘΜ verschillende energieën gemeten worden (volgens Bragg) en met bekende waarden vergeleken worden. Under the application of this property is in a known manner on the basis of the physical X-ray diffraction effect (Bragg Sche 35 interference formation), the material lays down that was detected, which are measured by use of a certain angle ΘΜ different energies (according to Bragg's), and are compared with known values.

5 5

Fig. Fig. 2 toont een collimator 6 met behulp waarvan het materiaal respectievelijk de materiaalsoort van het met de primaire straal FX! 2 shows a collimator 6, respectively, by means of which the material, the material type of the primary beam with the FX! . . door te lichten object 2 (van fig. 1) bepaald kan worden. by lifting object 2 (of FIG. 1) can be determined. De collimator 6 is hierbij een ronde-sleufcollimator met een zich 5 daarachter bevindende kristaldetector 11 die beide voor een meting met behulp van röntgenbuiging gebruikt worden. The collimator 6 is attached a round-sleufcollimator with a 5 located behind standing crystal detector 11, which are both used for a measurement with the aid of X-ray diffraction. In de collimator 6 is in het midden een als centrale collimator werkende, zakgatvormige opening 7 geïntegreerd. In the collimator 6 is in the middle a collimator acting as a central, integrated zakgatvormige opening 7. Op afstand van de centrale opening 7 heeft de collimator 6 een zich conisch verbredende ronde sleuf 10 die een 10 hoekverloop met de eerder genoemde hoek ΘΜ heeft. At a distance from the central opening 7 of the collimator 6 has a conically widening circular slot 10 which has a 10 angle gradient with the above-mentioned angle ΘΜ. In de opening 7 zijn een eerste detectie-inrichting 8 en op een bepaalde afstand daarachter een tweede detectie-inrichting 9 aangebracht. In the opening 7, a first detection-device 8 and arranged at a certain distance behind that a second detection device 9. Het oppervlak van de kristaldetector 11 is zo groot dat de uit de ronde sleuf 10 tredende strooikegelstraling (straling FXi') opgenomen 15 kunnen worden en het heeft bij voorkeur een cirkelvormig, naar de collimator 6 gekeerd röntgenstraalgevoelig oppervlak 12. The surface of the crystal detector 11 is so large that the circular slot 10 out of the emerging cone of radiation scatter (radiation FXI ') 15 may be included, and it preferably has a circular, towards the collimator 6 facing X-ray-sensitive surface 12.

Verwijzingsnummer 1 geeft de röntgenstraalbron van fig. 1 aan. Reference numeral 1 indicates the X-ray source of FIG. 1.

Fig. Fig. 3 toont een andere collimator 26, die in een centrale, zakgatvormige opening 27 een eerste detectie-inrichting 28 en op een 20 bepaalde afstand, bij voorkeur bij het achterste uiteinde van de doorgang 27, een verdere detectie-inrichting 29 heeft. 3 shows another collimator 26, which is in a central, zakgatvormige opening 27 a first detection device 28 and at a certain distance 20, preferably at the rear end of the passage 27, has a further detection device 29. Daarbij zijn de eerste detectie-inrichting 28 en de tweede detectie-inrichting 29 als detector voor respectievelijk lagere en hogere röntgenenergieën uitgevoerd. Here, the first detection device 28 and the second detection device 29, constructed as a detector for, respectively, lower and higher x-ray energies. Deze collimator-/detectie-inrichting wordt bijvoorbeeld 25 voor gebruikelijke materiaaldetectie toegepast. This collimator / detection device 25, for example, is the usual material detection used.

Fig. Fig. 4 toont de inwendige opbouw van de collimator 6, 26 met de voor de justering noodzakelijke elektrische aansluitingen voor de signaalverwerking. 4 shows the internal structure of the collimator 6, 26 with the electrical connections for the signal processing necessary for the adjustment. Daarbij zijn voor de detectie-inrichting 8, 28 een gatblindeerinrichting 13a, 13b en voor de detectie-inrichting 9, 30 29 een gatblindeerinrichting 14a, 14b aangebracht die dienen om het detectievlak van de detectie-inrichting 8, 28 respectievelijk de detectie-inrichting 9, 29 aan de diameter van de primaire straal aan te passen. In addition, for the detection device 8, 28 is a gatblindeerinrichting 13a, 13b and in front of the detection device 9, 30, 29, a gatblindeerinrichting 14a, 14b are provided which serve to the detection face of the detection device 8, 28, respectively, the detection device 9, , 29, to adapt to the diameter of the primary beam. Verwijzingsnummers 15 en 17 geven signaalversterkertrappen aan die noodzakelijk zijn voor het 35 versterken van de van de respectieve detectie-inrichtingen 8, 28 en 9, 29 verkregen signalen. Reference numerals 15 and 17 show signal amplifier stages that are necessary for the reinforce 35 of the of the respective detecting devices 8, 28 and 9, 29 acquired signals. Deze versterkertrappen 15 en 17 zijn met een respectieve weergeefeenheid 16 en 18 met parallel daaraan een microprocessor 23 verbonden De tevens getoonde kristaldetector 11 H vervalt wanneer in plaats van een ring-sleufcollimator 6 een eenvoudige collimator 26 gejusteerd moet worden. These amplifier stages 15 and 17 are to a respective display unit 16 and 18 to a microprocessor 23, connected in parallel, also shown, the crystal detector 11 expires when H in place of a ring-sleufcollimator 6 a simple collimator 26 must be adjusted.

In een verdere uitvoering volgens fig. 5 worden detectie- inrichtingen 8, 28 en 9, 29 gebruikt waarmee het mogelijk is het 5 zwaartepunt van de sterkteverdeling van de deze inrichtingen treffende röntgen- respectievelijk primaire straal FXi te bepalen. In a further embodiment shown in FIG. 5 are detection devices 8, 28 and 9, 29 are using which it is possible to determine the 5 center of gravity of the intensity distribution of the X-ray striking these devices FXI primary beam, respectively.

Deze inrichtingen kunnen uit meerdere aparte detectoren, een detectormatrix, vier-kwadranten detectors of plaatsgevoelige detectors met meervoudig gesegmenteerde dioden zijn. These devices may be of a plurality of separate detectors, a detector array, four-quadrant detector or position-sensitive detectors with multiple-segmented diodes. Deze detectie- 10 inrichtingen 8, 28 en 9, 29 zijn met parallel werkende versterkertrappen verbonden die voor het overzicht en de I duidelijkheid slechts met de nummers 19 en 21 aangegeven zijn, waarbij elke afzonderlijke detector, elke detector in de matrix en I ook elke diode in de detectie-inrichting 8, 28, 9, 29 met een 15 versterker van de respectieve versterkertrap 19 of 21 verbonden is. This detection 10 devices 8, 28 and 9, 29 are operating in parallel amplifier stages connected which are given for the overview and the I clarity, only with the numbers 19 and 21, each individual detector, each detector in the array, and I are also each diode in the detection device 8, 28, 9, 29 with an amplifier 15 of the respective amplifier stage 19 or 21 is connected.

Deze versterkertrappen 19, 21 zijn bij voorkeur met een respectieve weergeefeenheid 20, 22 verbonden. This amplifier stages 19, 21 are preferably with a respective display unit 20, 22 is connected. Parallel daaraan zijn de I versterkertrappen 19, 21 elektrisch met de microprocessor 23 verbonden. In parallel, the I amplifier stages 19, 21 are electrically connected to the microprocessor 23. Hierbij kunnen de eerste blindeerinrichting 13a, 13b en 20 de tweede blindeerinrichting 14a, 14b of alleen de tweede blindeerinrichting 14a, 14b van fig. 4 vervallen wanneer het I uitrichten in een potloodbundel (puntstraal) FXi plaatsvindt. Here, the first blind device 13a, 13b and 20, the second shutter device 14a, 14b or only the second shutter apparatus 14a, 14b of FIG. 4, cease when the I alignment takes place in a pencil beam (tip radius) FXI.

De justeerwerkwijze is daarbij onafhankelijk van de uitvoeringsvorm als volgt: I 25 Zoals getoond in fig. 6 ligt de binnen de doorgang 7 uitgezonden röntgenstraal als primaire straal FXi voor de justering I buiten het centrum van de eerste en tweede detectie-inrichtingen 8, I 28 en 9, 29. Een voor de justering vooraf bepaald eerste punt PI en I een tweede punt P2 op de primaire straal komen daarbij niet met het I 30 respectieve middelpunt (centrum) van de respectieve detectie- I inrichting 8, 28 en 9, 29 overeen. The justeerwerkwijze is thereby independent of the embodiment is as follows:. I 25 As shown in Figure 6 is the front of the adjustment ring I FXI as a primary beam, X-ray emitted within the passage 7 out of the center of the first and second detection devices 8, I 28 and 9, 29. an adjustment of the predetermined first point PI and I, a second point P2 on the primary beam thereby does not come up with the I 30, respective center point (center) of the respective I detection device 8, 28 and 9, 29 match. Hierdoor moet de collimator 6, 26 I ruimtelijk, dat wil zeggen in drie vlakken uitgericht worden om I zonder schuinstand ten opzichte van de primaire straal FXi zijn optimale ruimtelijke positie te bereiken. As a result, the collimator 6, 26 I spatially, that is to say, to be aligned in three planes to I without inclination with respect to the primary beam FXI to reach its optimum spatial position.

H 35 In een eerste stap wordt bij het justeren de collimator 6, 26 zolang verplaatst dat het in de eerste detectie-inrichting 8, 28 I opgewekte signaal maximaal is, waarbij er nog geen volledige I overeenstemming tussen het middelpunt van de detectie-inrichting 8, 7 28 en het punt PI van de primaire straal FXi aanwezig is. H 35 In a first step is the adjustment of the collimator 6, 26 as long as displaced that it is in the first detection-device 8, 28 I-induced signal is a maximum, whereby there is no complete I currently line between the center of the detection device 8 , 28, 7 and the point PI of the primary beam FXI is present. De primaire straal FXx ligt hierbij in het punt P2 buiten het centrum van de tweede detectie-inrichting 9, 29. Op de weergeefeenheid 16, 20 wordt het door de respectieve detectie-inrichting 8, 28 en 9, 29 opgewekte 5 signaal getoond. The primary beam FXX here lies in the point P2 outside the center of the second detection device 9, 29. On the display unit 16, 20 the by the respective detection-device 8, 28 and 9, 29 is shown generated 5 signal.

Voor optimale uitrichting van de collimator 6, 26 is in een tweede stap het uitrichten van het tweede punt P2 noodzakelijk. For optimum orientation of the collimator 6, 26 is in a second step, the alignment of the second point P2 is necessary. Voor het uitrichten op dit tweede punt P2 wordt de collimator 6, 26 in twee onafhankelijke vlakken om een imaginair punt P3, die bij 10 voorkeur in de buurt van het centrum van de detectie-inrichting 8, 28 ligt, gedraaid of verplaatst totdat ook het signaal vanaf de tweede detectie-inrichting 9, 29 maximaal is. For the alignment at the second point P2, the collimator 6, 26 in two separate planes at an imaginary point P3, which is at 10, preferably in the vicinity of the center of the detection device 8, 28 is located, rotate, or move until also the signal from the second detection device 9, 29 is maximum. Dit draaivlak omvat een kegelvormig bereik (zie pijl) vanuit het punt P3. This plane of rotation comprises a cone-shaped range (see arrow) from the point P3. Na deze tweede stap is het maximum van het eerste (draai-)vlak ingesteld, waardoor 15 een eerste plaatselijke uitrichting vanaf de collimator 6, 26 uitgevoerd is. After this second step is the maximum of the first (rotary) face is set, so that 15 is carried out a first local alignment from the collimator 6, 26.

Na het bepalen van het sterktemaximum in het eerste vlak wordt voor een verdere ruimtelijke uitrichting met de draaiing in het tweede (draai-)vlak begonnen. After the determination of the maximum strength in the first plane is for further spatial alignment with the rotation in the second (rotational) plane begun. Ook voor deze uitrichting is een punt 20 dichtbij het centrum van de eerste detectie-inrichting 8, 28 te kiezen, waarbij op het punt P3 teruggevallen kan worden. Also for this alignment is a point 20 near the center of the first detection-device 8, to choose 28, it being possible to fall back to the point P3. Ook hierbij wordt de collimator 6, 26 zodanig binnen het kegelvormige bereik gedraaid dat in de respectieve detectie-inrichtingen 8, 28 en 9, 29 het sterktemaximum ingesteld wordt. Also in this case, the collimator is 6, 26, in such a manner rotated within the cone-shaped range in the respective detecting devices 8, 28 and 9, 29, the maximum strength is set. Dit is vervolgens ook in het 25 derde (draai-)vlak uit te voeren, zodat de primaire straal FXx vervolgens loodrecht en in het midden op de eerste en tweede detectie-inrichtingen 8, 28 en 9, 29, dat wil zeggen in een centrum, valt. This is then also in the third 25 (rotary) plane to carry out, so that the primary beam FXX then perpendicularly and in the middle on the first and second detection devices 8, 28 and 9, 29, that is, in a center , falls.

De afzonderlijke signalen van de detectie-inrichtingen 8, 28 30 en 9, 29 worden bij gebruik van meerdere plaatsgevoelige detectors eerst stapsgewijs in de microprocessor 23 op hun amplitude geanalyseerd en verder verwerkt, waarbij uit de afzonderlijke signalen de actuele positie van het centrum van de primaire straal FXx bepaald wordt en met het centrum van de respectieve detectie-35 inrichtingen 8, 28 en 9, 29 vergeleken wordt. The individual signals from the detection devices 8, 28, 30 and 9, 29 are analyzed with the use of a plurality of position-sensitive detectors first step by step in the controller 23 on their amplitude and further processed, wherein out of the individual signals the actual position of the center of the FXX primary beam is determined and with the center of the respective detection-35 devices 8, 28 and 9, 29 is compared. Het naregelen van het detectiecentrum op het straalcentrum van de primaire straal FXx wordt zolang uitgevoerd tot de verkregen signaalwaarden maximaal zijn. The readjustment of the detection center on the radius center of the primary beam FXX is carried out as long as the obtained signal values ​​are maximum. Daardoor kan met behulp van een eenmalige kalibratie een verzet Η I tussen het respectieve detectiecentrum en het centrum van de primaire straal eenduidig bepaald en in een stap gecorrigeerd worden. As a result, with the aid of a one-time calibration can be an objection Η I between the respective detection center and the center of the primary beam can be corrected precisely determined and in a step.

I Bij gebruik van een vier-kwadranten-detector in de respectieve I 5 detectie-inrichting 8, 28 en 9, 29 vindt de verwerking van de per kwadrant opgewekte signalen, waarvoor het detectiecentrum dan ingesteld is, plaats wanneer de primaire straal FXt op het H gemeenschappelijke kruis van de kwadranten valt en even grote signalen opwekt. I By using a four-quadrant-detector in the respective I 5 detection device 8, 28 and 9, 29, the processing of the per quadrant signals generated, for which the detection center than the setting, takes place when the primary beam fxt on the H falls common cross of the quadrants, and here generates large signals.

10 Hierdoor wordt met eenvoudige middelen een optimale uitrichting van de collimator 6, 26 langs een primaire straal ΕΧχ I gerealiseerd. 10 As a result, by simple means, an optimum alignment of the collimator 6, 26 realized along a primary beam ΕΧχ I. De positie van een collimator in een hier niet nader getoond röntgenteststelsel wordt met behulp van een eveneens niet nader getoonde regelinrichting sequentieel gevarieerd totdat beide I 15 detectie-inrichtingen 8, 28 en 9, 29 maximaal door de primaire straal FXi getroffen worden. The position of a collimator in a here not further shown X-ray test system, with the aid of a likewise not shown, control device sequentially varied until both I 15 detection devices 8, 28 and 9, 29 up to be struck by the primary beam FXI.

Het telkens verdraaien van de collimator 6, 26 in de afzonderlijke vlakken vindt stapsgewijs plaats door middel van in het röntgenstelsel aangebrachte mechanische middelen die automatisch 20 door een door de microprocessor 23 gestuurd programma gestuurd en geregeld worden. In each case rotation of the collimator 6, 26 in the individual planes takes place step by step by means of mechanical means arranged in the x-ray system 20 that is automatically controlled by a program controlled by the microprocessor 23 and be controlled. De bij de eerste justering bepaalde intensiteitmaxima kunnen voor verder gebruik opgeslagen worden. The can be stored for further use certain intensity maxima at the first adjustment.

Bij gebruik van een gekalibreerde collimator 6, 26 met meerdere plaatsgevoelige detectors kan met een eenmalige meting 25 meteen het verzet tussen het maximum van de primaire straal en het detectiecentrum bepaald worden en door deze werkwijze gecorrigeerd H worden. When using a calibrated collimator 6, 26 with a plurality of position-sensitive detectors can be determined with a single measurement 25 once the resistance between the maximum of the primary beam and the center of detection and can be corrected by this method H. Er kunnen meerdere, achter elkaar aangebrachte detectie- H inrichtingen in de doorgang 7 toegepast worden, wat voor het H justeren zelf echter niet noodzakelijk is omdat het dit anders H 30 complexer maakt. There may be more than one, arranged one behind the other H of detection devices can be used in the passage 7, which for H adjustment itself, however, is not needed because it is otherwise H 30 allows more complex.

Claims (12)

1. Inrichting voor het justeren van een collimator in een röntgenteststelsel, omvattende een röntgenbron voor het opwekken van 5 een röntgenstraling en middelen voor het opwekken van een primaire straal, en twee detectie-inrichtingen voor het op de primaire straal uitrichten van de collimator, met het kenmerk, dat de collimator (6, 26) een centrale zakvormige opening (7, 27) heeft waarin zich twee gescheiden, achter elkaar en op afstand van 10 elkaar detectie-inrichtingen (8, 9, 28, 29) bevinden. 1. A device for the adjustment of a collimator in an x-ray test system, comprising an X-ray source for generating 5 an X-ray radiation, and means for generating a primary beam, and two detecting devices for the alignment of the collimator on the primary jet, with characterized in that the collimator (6, 26) has a central pocket-like opening (7, 27) which are two separated, behind one another and at a distance 10 from each other detection devices (8, 9, 28, 29) are located.
2. Inrichting volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat de collimator (6) verder op afstand van de centrale opening (7) een conisch divergerende ronde sleuf (10) onder een bepaalde hoek 15 (Ojfl) heeft. 2. A device according to claim 1, characterized in that the collimator (6) further at a distance from the central opening (7) has a conically diverging circular slot (10) at a predetermined angle 15 (Ojfl).
3. Inrichting volgens conclusie 2, met het kenmerk, dat in de zakvormige opening (7) voor de eerste detectie-inrichting (8, 28) een blindeerinrichting (13a, 13b) aangebracht is. 3. A device according to claim 2, characterized in that, in the pocket-like opening (7) has a shutter device (13a, 13b) is arranged in front of the first detection device (8, 28). 20 20
4. Inrichting volgens één van de conclusies 1 t/m 3, met het kenmerk, dat in de zakvormige opening (7) voor de tweede detectie-inrichting (9, 29) een blindeerinrichting (14a, 14b) aangebracht is. 4. A device according to any one of claims 1 t / m 3, characterized in that, in the pocket-like opening (7) has a shutter device (14a, 14b) is arranged in front of the second detector means (9, 29). 25 25
5. Inrichting volgens één van de conclusies 1 t/m 4, met het kenmerk, dat aan de collimator (6) een kristaldetector (11) bevestigd is die een naar de collimator (6) gekeerd röntgenstralingsgevoelig 30 oppervlak (12) heeft die zodanig op de bepaalde hoek (Θ^) van de ronde sleuf (10) uitgericht is dat de uit de ronde sleuf (10) tredende strooikegelstralen (FX^) opgenomen worden. 5. A device according to any one of claims 1 t / m 4, characterized in that it is fastened to the collimator (6) a crystal detector (11) which has a towards the collimator (6) facing the X-ray radiation-sensitive 30 area (12) in such a way at the given angle (Θ ^) of the circular slot (10) is aligned to be absorbed from the circular slot (10) emerging scattering cone beams (FX ^).
6. Inrichting volgens één of meer van de conclusies 1 t/m 5, met 35 het kenmerk, dat de detectie-inrichtingen (8, 28, 9, 29) elk uit een detector met vier kwadranten bestaan. 6. A device according to one or more of the Claims 1 / to 5, 35 characterized in that the detection devices (8, 28, 9, 29) each consist of a detector with four quadrants. 1016473 1016473
7. Inrichting volgens één of meer van de conclusies 1 t/m 5, met I het kenmerk, dat de detectie-inrichtingen (8, 28, 9, 29) elk uit ten I minste twee afzonderlijke detectoren bestaan. 7. A device according to one or more of the Claims 1 / to 5, I characterized in that the detection devices (8, 28, 9, 29) each consist of at least two separate detectors I exist.
58. Inrichting volgens één of meer van de conclusies 1 t/m 5, met I het kenmerk, dat de detectie-inrichtingen (8, 28, 9, 29) uit I plaatsgevoelige detectors met meervoudig gesegmenteerde dioden I bestaan. 58. Device according to one or more of the Claims 1 / to 5, I characterized in that the detection devices (8, 28, 9, 29) from I position sensitive detectors with multiple-segmented diodes I exist. I 10 9. Inrichting volgens één of meer van de conclusies 1 t/m 6, met I het kenmerk, dat de detectie-inrichtingen (8, 28, 9, 29) elk uit een H detectormatrix bestaan. I 10 9. A device according to one or more of the claims 1 / m 6, with I, characterized in that the detection devices (8, 28, 9, 29) each consisting of a detector matrix H exist.
10 Inrichting volgens één of meer van de conclusies 1 t/ra 8, met 15 het kenmerk, dat de eerste detectie-inrichting (8, 28) als detector H voor lagere röntgenenergieën uitgevoerd is en de tweede detectie- I inrichting (9, 29) als detector voor hogere röntgenenergieën H uitgevoerd is. 10 Device according to one or more of the claims 1 / ra 8, 15, characterized in that the first detection-device (8, 28) as the detector H is carried out at lower x-ray energies and the second detection I device (9, 29 ) as the detector for higher X-ray energies is H is carried out. I 20 11. Inrichting volgens één of meer van de conclusies 1 t/m 10, met I het kenmerk, dat de eerste detectie-inrichting (8, 28) elektrisch I met een versterkertrap (15, 19) verbonden is, de tweede detectie- I inrichting (9, 29) elektrisch met een versterkertrap (17, 21) I verbonden is, en met de versterkertrappen een centrale 25 microprocessor (23) verbonden is. I 20 11. A device according to one or more of the claims 1 / m 10, I characterized in that the first detection-device (8, 28) is electrically I with an amplifier stage (15, 19) is connected, the second detection - I device (9, 29) electrically connected to an amplifier stage (17, 21), I is connected, and the amplifier stages 25, a central microprocessor (23) is connected.
12. Werkwijze voor het justeren van een collimator in een I röntgenteststelsel met behulp van een uitgezonden röntgenstraling en I een opgewekte primaire straal, waarbij het uitrichten van de I 30 collimator op de primaire straal met behulp van twee detectie- I inrichtingen plaatsvindt, met het kenmerk, dat I - de collimator met behulp van ruimtelijk gescheiden, achter I elkaar en op afstand van elkaar gelegen detectie-inrichtingen (8, I 28, 9, 29) ruimtelijk uitgericht wordt, I 35 waarbij de collimator (6, 26) zo lang verplaatst wordt dat een I met de eerste detectie-inrichting (8, 28) opgewekt signaal maximaal I wordt, en « w de collimator (6, 26) in een draaivlak dat een scherp kegelvormig gebied omvat gedraaid wordt tot ook het met de tweede detechtie-inrichting (9, 29) opgewekte signaal maximaal wordt, zodat voor de twee detectie-inrichtingen (8, 28, 9, 29) de respectieve 5 intensiteitsmaxima ingesteld zijn. 12. A method for the adjustment of a collimator in an I X-ray test system with the aid of a transmitted X-ray radiation, and I, a generated primary beam, whereby the alignment of the I 30 collimator on the primary jet is carried out with the aid of two detection I establishments, with a characterized in that I - the collimator by means of spatially separated, behind I each other and at a distance from each other detection devices (8, I 28, 9, 29) being spatially aligned, I 35 in which the collimator (6, 26) so becomes long displaced such that a I with the first detection-device (8, 28) generated signal will be a maximum of I, and "w the collimator (6, 26) in a pivot plane which is encompassed rotated about a sharp cone-shaped area to also with the second detechtie-device (9, 29) generated signal is a maximum, so that for the two detection devices (8, 28, 9, 29), the respective 5-intensity maxima have been set.
13. Werkwijze volgens conclusie 12, met het kenmerk, dat het uitrichten bij voorkeur plaatsvindt rond een punt (P3) dat bij voorkeur in de buurt van het centrum van de eerste detectie-10 inrichting (8, 28) ligt, en na het bepalen van het intensiteitsmaximum in het eerste vlak de verplaatsing van de collimator (6, 26) in het tweede vlak en vervolgens in het derde vlak tot dit punt (P3) plaatsvindt. 13. A method according to claim 12, characterized in that the alignment preferably occurs around a point (P3) which is preferably in the vicinity of the center of the first detection device 10 (8, 28) is situated, and after determining of the maximum intensity in the first plane the displacement of the collimator (6, 26) in the second plane and is subsequently made up to this point (P3) in the third plane.
14. Werkwijze volgens conclusie 12 of 13, met het kenmerk, dat met behulp van een microprocessor (23) de signalen bepaald worden en de maximum sterkte van het in te stellen draaivlak bepaald wordt, waarbij met behulp van verrekening van de afzonderlijke signalen een directe bepaling van het bij te regelen verschil tussen een centrum 20 van de primaire straal (FX1) en het detectiecentrum van de detectie-inrichtingen (8, 28, 9, 29) bepaald wordt. 14. A method according to claim 12 or 13, characterized in that, with the aid of a microprocessor (23) can be determined, the signals and the maximum strength of the to be set rotation plane is determined, wherein a direct by means of set-off of the individual signals determination of the to be determined by a difference between a center 20 of the primary beam (FX1) and the detection center of the detection devices (8, 28, 9, 29) is determined. 1016473 1016473
NL1016473A 1999-11-13 2000-10-24 Device and method for the adjustment of a collimator. NL1016473C2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1999154661 DE19954661C2 (en) 1999-11-13 1999-11-13 Device and method for adjusting a collimator
DE19954661 1999-11-13

Publications (2)

Publication Number Publication Date
NL1016473A1 NL1016473A1 (en) 2001-05-15
NL1016473C2 true NL1016473C2 (en) 2004-06-18

Family

ID=7928936

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL1016473A NL1016473C2 (en) 1999-11-13 2000-10-24 Device and method for the adjustment of a collimator.

Country Status (4)

Country Link
DE (1) DE19954661C2 (en)
FR (1) FR2801134B1 (en)
GB (1) GB2359717B (en)
NL (1) NL1016473C2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005011467B4 (en) 2005-03-12 2008-02-28 Smiths Heimann Gmbh Collimator with an adjustable focal length, then directed method and X-ray inspection
GB0710579D0 (en) 2007-06-02 2007-07-11 Univ Cranfield Detecion of x-ray scattering

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2202938A (en) * 1987-03-17 1988-10-05 Dea Spa Measuring device employing laser interferometry
DE4130039A1 (en) * 1991-09-10 1993-03-11 Philips Patentverwaltung X=ray beam expander used in computer tomograph - has beam shaping aperture formed by confinement bodies
DE4137242A1 (en) * 1991-11-13 1993-05-19 Philips Patentverwaltung Spiral formed collimator for screening or X=ray radiation - having easy construction and giving improved spatial and angular resolution
US5787145A (en) * 1995-03-21 1998-07-28 Heimann Systems Gmbh Method and arrangement for identifying crystalline and polycrystalline materials
JPH10246797A (en) * 1997-03-03 1998-09-14 Rigaku Corp Collimator setting device
US5917880A (en) * 1997-05-29 1999-06-29 Eg&G Astrophysics X-ray inspection apparatus

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4203037A (en) * 1977-08-01 1980-05-13 University Of Pittsburgh Collimated radiation apparatus
DE3526015A1 (en) * 1985-07-20 1987-01-22 Philips Patentverwaltung A method for determining the spatial distribution of the scattering cross-sections for elastically scattered x-ray and arrangement for performing the method
JPH05215898A (en) * 1992-02-03 1993-08-27 Hitachi Ltd X-ray collimator

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2202938A (en) * 1987-03-17 1988-10-05 Dea Spa Measuring device employing laser interferometry
DE4130039A1 (en) * 1991-09-10 1993-03-11 Philips Patentverwaltung X=ray beam expander used in computer tomograph - has beam shaping aperture formed by confinement bodies
DE4137242A1 (en) * 1991-11-13 1993-05-19 Philips Patentverwaltung Spiral formed collimator for screening or X=ray radiation - having easy construction and giving improved spatial and angular resolution
US5787145A (en) * 1995-03-21 1998-07-28 Heimann Systems Gmbh Method and arrangement for identifying crystalline and polycrystalline materials
JPH10246797A (en) * 1997-03-03 1998-09-14 Rigaku Corp Collimator setting device
US5917880A (en) * 1997-05-29 1999-06-29 Eg&G Astrophysics X-ray inspection apparatus

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
HOEHLER R ET AL: "A contrast- and brightness-insensitive optoelectronic edge detector", SENS. ACTUATORS A, PHYS. (SWITZERLAND), SENSORS AND ACTUATORS A (PHYSICAL), ELSEVIER, SWITZERLAND, vol. A60, no. 1-3, May 1997 (1997-05-01), pages 62 - 64, XP002273082, ISSN: 0924-4247 *
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 1998, no. 14 31 December 1998 (1998-12-31) *

Also Published As

Publication number Publication date
GB0027193D0 (en) 2000-12-27
FR2801134B1 (en) 2005-03-11
FR2801134A1 (en) 2001-05-18
DE19954661C2 (en) 2001-12-06
GB2359717A (en) 2001-08-29
GB2359717B (en) 2003-10-08
NL1016473A1 (en) 2001-05-15
DE19954661A1 (en) 2001-05-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Heeschen et al. A radio survey of galaxies
Sarantites et al. “The microball” Design, instrumentation and response characteristics of a 4π-multidetector exit channel-selection device for spectroscopic and reaction mechanism studies with Gammasphere
JP6000549B2 (en) Systems and methods using an intensity modulation x-ray source
US5949847A (en) X-ray analyzing apparatus and x-ray irradiation angle setting method
JP2862253B2 (en) Asymmetry analyzer particles
US4348111A (en) Optical particle analyzers
JP3782142B2 (en) Pulse transfer spectrum measuring apparatus of elastically scattered x-ray photons
US6532276B1 (en) Method and apparatus for determining a material of a detected item
RU2126550C1 (en) Process and device for scanning of body
RU2253861C2 (en) Method and device for detecting prohibited objects
US5745543A (en) Apparatus for simultaneous X-ray diffraction and X-ray fluorescence measurements
US5055679A (en) Surface analysis method and apparatus
EP0793804A1 (en) Detecting explosives or other contraband by employing transmitted and scattered x-rays
US5787145A (en) Method and arrangement for identifying crystalline and polycrystalline materials
US5008911A (en) X-ray quanta measuring device including diaphragm for producing conical radiation beam on object being measured
WO2007025363A1 (en) Apparatus and method for tracking an object
EP3124960B1 (en) Use of nearly monochromatic and tunable photon sources with nuclear resonance fluorescence in non-intrusive inspection of containers for material detection and imaging
US8270566B2 (en) Adaptive scanning in an imaging system
US5159617A (en) Explosive detection method and apparatus using selective gamma ray resonance absorption
CN102695544B (en) Rack for particle beam therapy comprises Analyzer
JPH09506700A (en) Photothermal inspection apparatus of surface
EP0752133A1 (en) Flow cytometer
DK149672B (en) Optical system for a smoke detector by light scattering
KR100776067B1 (en) Analysing system and charged particle beam device
US20120000893A1 (en) Precision Laser Ablation

Legal Events

Date Code Title Description
AD1A A request for search or an international type search has been filed
RD2N Patents in respect of which a decision has been taken or a report has been made (novelty report)

Effective date: 20040406

PD2B A search report has been drawn up