KR960010759B1 - The upper opening and shutting type t.e.m. cell - Google Patents
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Abstract
Description
제1도는 TEM셀에 의한 감도 테스팅 시스템도.1 is a sensitivity testing system using a TEM cell.
제2도는 제1도의 TEM셀(110)의 사시도.2 is a perspective view of the TEM cell 110 of FIG.
제3도는 본 발명에 따른 TEM셀(110)의 사시도.3 is a perspective view of a TEM cell 110 according to the present invention.
제4,5도는 제3도의 TEM셀(110)내의 전계(E) 발생 및, 전,자계(E,H) 내부 발생을 표시하는 도면.4 and 5 are views showing generation of electric field E in the TEM cell 110 and generation of electric and magnetic fields E and H in FIG.
제6도는 본 발명 TEM셀 차폐문의 분리사시도 및 단면도.Figure 6 is an exploded perspective view and cross-sectional view of the TEM cell shield door of the present invention.
제7도는 본 발명의 다른 실시예인 TEM셀의 사시도.7 is a perspective view of a TEM cell which is another embodiment of the present invention.
제8도는 본 발명의 다른 실시예의 TEM셀 차폐문의 분리사시도.8 is an exploded perspective view of a TEM cell shield door of another embodiment of the present invention.
제9도는 제7도의 TEM셀 조립 단면도.9 is a cross-sectional view of the TEM cell assembly of FIG.
본 발명은 TEM셀(Transverse Electromagnetic Cell)에 관한 것으로, 특히 상부 개폐형 TEM셀에 관한 것이다.The present invention relates to a TEM cell (Transverse Electromagnetic Cell), and more particularly to a top-opening TEM cell.
일반적으로 TEM셀 또는 Crawford셀은 표준 전계발생 및 전파복수 측정용 장치로서 EMC측정에 널리 사용되고 있다. 이에 대해 더욱 상세한 것은 Crawford, M.L Generation of standard EM field using TEM transmission cells. IEEE Trans. Electrmagnetic Compatibility EM-16(4) PP 189-195; 1974 November에 상세히 게재되어 있음을 밝혀둔다. EMC측정을 위해서는 제1도와 같이 구성된 시스템에서 TEM셀(110)의 내부 피측정물(EUT:Equipment Unit Test)를 제2도와 같이 TEM셀(110)의 측면에 설치된 차폐문(201)을 통해 중간도체(202)상에 설치하고, TEM셀(110) 내부는 차폐문(201)에 의해 차폐되도록 닫는다. 그리고 신호 발생기(108)에서 발생된 RF신호를 입력 컨넥터(203)을 통해 TEM셀(110)의 중간도체(202)에 인가하여 전류(I)를 흘릴때 하기 ①,②식에 의해 전계(E)와 자계(H)가 제4도의 도시와 같이 TEM셀(110)의 내부에 형성된다.In general, TEM cell or Crawford cell is widely used for EMC measurement as a standard electric field generation and radio frequency measurement device. More details on this can be found in Crawford, M.L Generation of standard EM field using TEM transmission cells. IEEE Trans. Electromagnetic Compatibility EM-16 (4) PP 189-195; It is published in detail in November 1974. For the EMC measurement, an internal unit of measurement (EUT) of the TEM cell 110 is measured in a system configured as shown in FIG. 1 through a shield door 201 installed at the side of the TEM cell 110 as shown in FIG. It is installed on the conductor 202, and the inside of the TEM cell 110 is closed so as to be shielded by the shielding door 201. The RF signal generated by the signal generator 108 is applied to the intermediate conductor 202 of the TEM cell 110 through the input connector 203 to flow the current I. ) And the magnetic field H are formed inside the TEM cell 110 as shown in FIG.
E=V/L(Volt/Meter)........................................................①E = V / L (Volt / Meter) ........................ ................ ①
(V:입력 RF전압, L:TEM셀의 중간도체로부터 상하 벽면까지의 높이)(V: input RF voltage, L: height from the middle conductor of the TEM cell to the top and bottom walls)
H=E/377(Ampere/Meter)..............................................②H = E / 377 (Ampere / Meter) ........................ ...... ②
따라서 TEM셀(110)의 차폐상태에서 전계(E), 자계(H)의 형성은 제5도(5A)와 같으며 입력 컨넥터(203)로 RF 입력에 따라 중간도체(202)에서 발생한 전계(E), 자계(H)는 피측정물(EUT)에 가해진다. 상기 피측정물(EUT)에 가해진 전계(E), 자계(H)로부터 피측정물(EUT)에 인가되는 EMC의 영향은 테스트 모니터(109)를 통해 표시된다.Therefore, the formation of the electric field (E) and the magnetic field (H) in the shielded state of the TEM cell 110 is the same as that of FIG. 5 (5A), and the electric field generated in the intermediate conductor 202 according to the RF input to the input connector 203 ( E), the magnetic field H is applied to the EUT. The influence of the EMC applied to the EUT from the electric field E and the magnetic field H applied to the EUT is displayed through the test monitor 109.
종래에는 제2도의 도시와 같이 TEM셀(110)의 측면에 설치된 차폐문(201)은 피측정물(EUT)의 EMC측정을 위해 TEM셀(110)의 내부로 삽입 또는 제거(Access)가 용이하도록 하되, 특히 차폐문(201)이 개폐따른 마모로부터 내부 전계(E)의 변화를 가장 적게 줄 수 있도록 TEM셀(110)의 측벽에 설치되도록 설계되어 있었다.Conventionally, as illustrated in FIG. 2, the shield door 201 installed at the side of the TEM cell 110 is easily inserted into or removed from the TEM cell 110 for EMC measurement of the EUT. In particular, the shield door 201 was designed to be installed on the side wall of the TEM cell 110 so as to give the least change in the internal electric field (E) from the opening and closing of the wear.
그러나 종래 제2도와 같이 설계된 TEM셀(110)의 구조를 ㎓대의 고주파 자계 측정용 소형 TEM셀(110)에 그대로 적용할 경우 TEM셀(110) 크기에 제한 때문에 피측정물(EUT)을 측면에 설치된 차폐문(201)을 열고 삽입하거나 제거하기가 용이하지 않다. 구조상 TEM셀(110)의 내부에 있는 상태에서 피측정물(EUT)의 EMC를 측정하면서 동시에 다른 특성을 조정하는 것이 불가능하므로 테스팅 작업의 효율을 떨어뜨리는 문제점이 있었다.However, when the structure of the TEM cell 110 designed as shown in FIG. 2 is applied to a small TEM cell 110 for measuring a high frequency magnetic field as it is, it is limited to the size of the TEM cell 110 so that the EUT is placed on the side. It is not easy to open, insert or remove the installed shield door 201. In the structure, it is impossible to adjust other characteristics while measuring the EMC of the EUT in the state inside the TEM cell 110, thereby reducing the efficiency of the testing operation.
따라서 본 발명의 목적은 차폐문을 TEM셀 상부에 두어 고주파용 TEM셀의 부피를 줄일 수 있도록 한 장치를 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a device to reduce the volume of the high-frequency TEM cell by placing a shield door on the TEM cell.
본 발명의 다른 목적은 무선호출기와 같은 자계 안테나를 사용하는 피측정물(EUT)를 실드룸없이 시험 조정할 수 있는 장치를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide an apparatus capable of performing test adjustment without using a shield under test (EUT) using a magnetic field antenna such as a pager.
본 발명의 다른 목적은 EMC 측정 및 다용도 응용이 가능하되, 정확하고 신뢰성을 요구하는 소형 무선 송수신장치의 개발, 생산, 서비스에서 공통으로 사용할 수 있는 장치를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide a device that can be used in common in the development, production, and service of a small radio transceiver capable of EMC measurement and multi-purpose applications, but requires accurate and reliable.
상기 목적을 수행하기 위한 본 발명은 TEM셀의 상면에 구멍을 이루어 차폐문을 상부에 설치하고 상기 차폐문의 내부에 피측정물(EUT)를 고정하여 수신감도 측정시 차폐문을 통해 상부에서 조정봉을 이용하여 피측정물(EUT)의 감도를 조정 및 방향 특성을 조정할 수 있도록 구성되어 있음을 특징으로 한다.The present invention for performing the above object is to make a hole in the upper surface of the TEM cell to install a shielding door on the top and to fix the measurement object (EUT) inside the shielding door to adjust the adjustment rod from the top through the shielding door during measurement of sensitivity It is characterized in that it is configured to adjust the sensitivity and direction characteristics of the EUT.
이하 본 발명의 바람직한 일실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명되어질 것이며, 도면의 구성요소들중 가능한 동일한 기능을 동일한 번호를 부여하였음을 유념하여야 한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, and it should be noted that like reference numerals denote like functions among the components of the drawings.
TEM셀(110)의 일측에 입력컨넥터(203)를 타측에는 50Ω 종단저항단(204)을 가지며, 상기 입력컨넥터(203)와 종단저항단(204)을 연결하는 중간도체(202)를 기준으로 TEM셀(110)의 상/하부가 분리되고, 상기 중간도체(202)의 상부에서 피측정물(EUT)의 EMC를 측정할 수 있도록 하며, TEM셀(110)의 상면(302)에 원형 차폐문(10)을 설치하되 상기 원형 차폐문(10)은 TEM셀(110)과 동일 재질로 이루어진 카바(11)와 절연판(13)의 2중구조를 가지며, 상기 카바(11)와 절연판(13)의 중앙에는 구멍(15,16)이 형성되며, 상기 카바(11)와 절연판(13) 사이에는 그리드(304)가 설치되고, 상기 카바(11)의 외측에는 차폐문(10)의 착,탈이 용이하도록 손잡이(12)를 구비하며, 절연판(13)의 하측에는 피측정물(EUT)를 착,탈하기 위한 체결장치(20)가 설치된다. 상기 체결장치(20)는 피측정물(EUT)를 가이드하기 위한 가이드(21)와 상기 피측정물(EUT)의 단자와 접촉하기 위한 접촉단자(22)와 상기 피측정물(EUT)를 지지하기 위한 지지판(23)으로 구성된다.The input connector 203 on one side of the TEM cell 110 has a 50 kΩ termination resistor end 204 on the other side, based on the intermediate conductor 202 connecting the input connector 203 and the termination resistor end 204. The upper and lower portions of the TEM cell 110 are separated and allow the EMC of the EUT to be measured on the upper portion of the intermediate conductor 202 and the circular difference between the upper surface 302 of the TEM cell 110. The closed door 10 is installed, but the circular shield door 10 has a double structure of the cover 11 and the insulating plate 13 made of the same material as the TEM cell 110, and the cover 11 and the insulating plate 13. Holes 15 and 16 are formed in the center of the cover, and a grid 304 is installed between the cover 11 and the insulating plate 13, and the shield door 10 is attached to the outside of the cover 11. A handle 12 is provided to facilitate removal, and a fastening device 20 for attaching and detaching an object to be measured EUT is installed below the insulating plate 13. The fastening device 20 supports the guide 21 for guiding the EUT and the contact terminal 22 for contacting the terminal of the EUT and the EUT. It consists of the support plate 23 for doing so.
상기 차폐문(10)의 상단에는 제1도의 테스트 모니터(109)와 연결할 수 있도록 컨넥터(406)가 설치되며, 상기 컨넥터(406)의 단자는 피측정물(EUT)의 단자와 접촉하는 접촉단자(22)로 연결된다.A connector 406 is installed at an upper end of the shielding door 10 to be connected to the test monitor 109 of FIG. 1, and the terminal of the connector 406 is in contact with the terminal of the object under test (EUT). Connected to (22).
이때 접촉단자(22)는 스프링 접점으로 구성하는 것이 바람직하다.At this time, the contact terminal 22 is preferably configured as a spring contact.
상기 구성으로부터 피측정물(EUT)의 감도측정 및 조절을 위한 동작관계를 살펴보면, 차폐문(10)에 의해 TEM셀(110)의 상부를 닫고 입력컨넥터(203)에 RF신호를 인가하면 전압, 전류는 TEM셀(110)의 중앙에 있는 중간도체(202)를 따라 TEM파를 형성하면서 진행하고 상기 입력컨넥터(203)의 반대편 50Ω 종단저항단(204)에 반사됨이 없이 흡수된다. 따라서 중앙의 중간도체(202)와 상·하면(302,301) 사이에는 정재파가 없이 위치에 관계없이 균일한 전압이 가해지고, 이 전압과 비례하고 중간도체(202) 간격에 반비례하는 일정한 전계(E)와 상응하는 자계(H)가 제4도(4B)와 같이 형성된다. 이때 원형 차폐문(10)을 통하여 피측정물(EUT)를 TEM셀(110)의 내부에 위치하도록 원형 차폐문(10)의 하부의 착,탈장치에 고정시켜 삽입하면 피측정물(EUT)의 전자계의 대한 특성을 컨넥터(406)을 통해 테스트 모니터(109)에 연결하여 측정할 수 있게 되는데, 이때 차폐문(10)에 피측정물(EUT)를 고정하기 위하여 피측정물(EUT)을 가이드(21) 사이로 삽입하면 피측정물(EUT)의 접점이 절연판(13)에 설치된 접촉단자(22)와 접촉하게 된다. 이후 지지판(23)을 회전시켜 지지판(23)이 피측정물(EUT)을 가로질러 덮게한 다음 슬라이드시키면 지지판(23)을 지지하는 축(25)이 장공(23a)에 끼워져 가이드(21)에 고정되어 있으므로 장공(23a)의 길이만큼 슬라이드되는 것이며, 이때 지지판(23)의 타측홈(23b)이 걸림구(27)에 걸리게 되어 피측정물(EUT)이 체결장치(20)에 의해 고정된다.Looking at the operation relationship for the measurement and adjustment of the sensitivity (EUT) of the configuration from the above configuration, by closing the upper part of the TEM cell 110 by the shielding door 10 and applying an RF signal to the input connector 203 voltage, The current proceeds while forming a TEM wave along the intermediate conductor 202 in the center of the TEM cell 110 and is absorbed without being reflected by the 50 kΩ termination resistor end 204 opposite the input connector 203. Therefore, a uniform electric voltage is applied between the center intermediate conductor 202 and the upper and lower surfaces 302 and 301 without a standing wave regardless of the position, and is proportional to this voltage and inversely proportional to the interval between the intermediate conductors 202. And the corresponding magnetic field H is formed as shown in FIG. 4 (4B). At this time, if the EUT is fixed to the attachment and detachment device of the lower portion of the circular shield door 10 so as to be positioned inside the TEM cell 110 through the circular shield door 10, the EUT is measured. It is possible to measure the characteristics of the electromagnetic field of the connection to the test monitor 109 through the connector 406, wherein the measurement object (EUT) to fix the EUT to the shielding door 10 When inserted between the guides 21, the contact point of the object under test (EUT) comes into contact with the contact terminal 22 provided on the insulating plate 13. Thereafter, the support plate 23 is rotated so that the support plate 23 covers the object EUT, and then slides. Then, the shaft 25 supporting the support plate 23 is fitted into the long hole 23a to the guide 21. Since it is fixed, it is slid by the length of the long hole (23a), at this time the other groove (23b) of the support plate 23 is caught by the locking hole 27, the object to be measured (EUT) is fixed by the fastening device 20 .
이때 피측정물(EUT)을 받히는 접촉단자(22)의 일부가 탄력적으로 피측정물(EUT)에 접촉되며 피측정물(EUT)은 지지판(23)에 지지된다. 이후 입력컨넥터(203)에 RF신호를 인가하면 전압 전류는 중간도체(202)를 따라 TEM파를 형성하면서 진행하게 되며, 이때 발생되는 TEM파를 피측정물(EUT)이 수신하게 된다. 따라서 피측정물(EUT)의 각 접점에서 수신되는 신호는 접촉단자(22)를 통해 컨넥터(406)를 거쳐 테스트 모니터(109)에 인가되어 가시적으로 측정할 수 있게 된다.At this time, a portion of the contact terminal 22 receiving the EUT is elastically contacted with the EUT and the EUT is supported by the support plate 23. Subsequently, when the RF signal is applied to the input connector 203, the voltage current proceeds while forming a TEM wave along the intermediate conductor 202, and the measured object EUT receives the generated TEM wave. Therefore, the signal received at each contact point of the object to be measured EUT is applied to the test monitor 109 via the connector 406 through the contact terminal 22 to be measured visually.
이때 TEM셀(110)의 상면(302)에 형성된 구멍(305)에 장착된 원형 차폐문(10)을 손잡이(12)를 이용하여 상부로 열면, TEM셀(110)의 내부의 전계(E) 및 자계(H)의 모양은 제5도(5B)와 같이 변화되나 피측정물(EUT)에 대한 자계의 대한 변화는 약 1dB 이하로 미소하므로 통상적인 측정조건으로 볼 때 큰 영향을 주지 않는다. 상기한 바와같이 원형 차폐문(10)에는 피측정물(EUT)의 수신신호를 테스트 모니터(109)에서 측정할 수 있도록 하는 상기 테스트 모니터(109)와 연결을 위한 컨넥터(406)가 설치되어 있고, 상기 컨넥터(406)을 통해 테스트 모니터(109)인 오실로스코프나 VTVM을 연결시키고 피측정물(EUT)의 조정을 위한 그리드(금속망)(304)의 망사이로 조정봉을 통과시켜 안테나의 감도를 조절할 수 있으며, 방향 특성을 측정할 경우 원형 차폐문을 회전하면서 측정할 수 있게 된다.At this time, when the circular shield door 10 mounted on the hole 305 formed in the upper surface 302 of the TEM cell 110 is opened upward by using the handle 12, the electric field E inside the TEM cell 110 is opened. And the shape of the magnetic field (H) is changed as shown in Fig. 5 (5B), but the change of the magnetic field for the EUT is small to about 1dB or less, so it does not have a great effect when viewed under normal measurement conditions. As described above, the circular shielding door 10 is provided with a connector 406 for connection with the test monitor 109 for measuring the received signal of the object under test (EUT) on the test monitor 109. Connect the oscilloscope or VTVM that is the test monitor 109 through the connector 406, and adjust the sensitivity of the antenna by passing the adjusting rod between the grid of the grid (metal mesh) 304 for adjusting the EUT. If the direction characteristic is measured, it is possible to measure while rotating the circular shielding door.
상기한 바와같이 본 발명에 의하면 차폐문을 TEM셀의 상부에 설치하므로써 TEM셀의 피측정물을 삽입 또는 제거하기 용이하며 TEM셀의 부피를 줄일 수 있으며 측정과 동시에 피측정물의 조정작업을 행할 수 있어 사용에 편리를 기할 수 있게 하는 것이다.As described above, according to the present invention, it is easy to insert or remove the measured object of the TEM cell by installing the shielding door on the upper part of the TEM cell, reduce the volume of the TEM cell, and perform the adjusting operation of the measured object simultaneously with the measurement. It is to make it convenient for use.
이하 본 발명의 바람직한 다른 실시예를 첨부된 도면의 제7도 내지 제9도를 참조하여 상세히 설명되어 질 것이며, 도면의 구성요소들중 가능한 동일한 기능을 동일한 번호를 부여하였음을 유념하여야 한다.Hereinafter, other preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 7 to 9 of the accompanying drawings, and it should be noted that like reference numerals denote like functions among the components of the drawings.
TEM셀(110)의 일측에 입력컨넥터(203)를 타측에는 50Ω 종단저항단(204)을 가지며, 후방에는 테스트 모니터(109)와 연결할 수 있도록 컨넥터(406)를 설치하고, 상기 입력컨넥터(203)와 종단저항단(204)을 연결하는 중간도체(202)를 기준으로 TEM셀(110)의 상/하부가 분리되고, 상기 중간도체(202)의 상부에서 피측정물(EUT)의 EMC를 측정할 수 있도록 상기 중간도체(202)의 중앙 상부에 저유전율의 절연체인 고무판(405)을 고정되게 하여 상부에 피측정물(EUT)를 올려 놓을 수 있도록 하고, 상기 컨넥터(406)의 단자는 피측정물(EUT)의 단자와 접촉되게 하고, 상기 TEM셀(110)의 상면(302)에 형성된 원형의 구멍(305)에 차폐문(10)을 설치하되 상기 원형 차폐문(10)은 TEM셀(110)과 동일 재질로 이루어진 카바(11)의 중앙에는 적정크기의 작은 원형의 조정홀(14)을 다수개 형성하며, 상기 카바(11)의 하단 외주에는 실드(15)가 고정되게 중앙에 구멍을 이룬 카바 플레이트(16)를 하단에 고정하고, 상기 카바(11)의 상면 후방과 TEM셀(110)의 후면에 힌지(18)를 이룬 카바홀더(17)를 고정하고, 상기 카바(11)의 상면 전방에는 손잡이(12)를 이룬 손잡이 홀더(19)를 고정하고, 상기 손잡이(12)를 상,하로 이동시키면 상기 차폐문(10)이 개폐되도록 구성된 것이다.The input connector 203 on one side of the TEM cell 110 has a 50 Ω terminating resistor end 204 on the other side, and a connector 406 is installed on the rear to connect the test monitor 109 to the input connector 203. ) And the upper and lower portions of the TEM cell 110 are separated based on the intermediate conductor 202 connecting the terminating resistor terminal 204 and the EMC of the EUT at the upper portion of the intermediate conductor 202. The rubber plate 405, which is a low dielectric constant insulator, is fixed to the center upper portion of the intermediate conductor 202 so that the measured object EUT can be placed thereon, and the terminal of the connector 406 The shielding door 10 is installed in the circular hole 305 formed in the upper surface 302 of the TEM cell 110, and the circular shielding door 10 is connected to the terminal of the EUT. In the center of the cover 11 made of the same material as the cell 110, a plurality of small circular adjustment holes 14 of appropriate size are formed, and the cover 11 The outer periphery of the shield 15 is fixed to the bottom cover plate (16) formed in the center of the hole to be fixed, and the hinge (18) formed on the rear of the upper surface of the cover 11 and the back of the TEM cell (110). The cover holder 10 is fixed, and the handle holder 19 having the handle 12 is fixed to the front surface of the cover 11, and the handle 12 is moved up and down to shield the door 10. It is configured to open and close.
상기 구성으로부터 피측정물(EUT)의 감도측정 및 조절을 위한 동작관계를 살펴보면, 차폐문(10)에 의해 TEM셀(110)의 상부에 형성된 구멍(305)을 닫고 입력컨넥터(203)에 RF신호를 인가하면 전압, 전류는 TEM셀(110)의 중앙에 있는 중간도체(202)를 따라 TEM파를 형성하면서 진행하고, 상기 입력컨넥터(203)의 반대편 50Ω 종단저항단(204)에 반사됨이 없이 흡수된다. 따라서 중앙의 중간도체(202)와 상·하면(302,301) 사이에는 정재파가 없이 위치에 관계없이 균일한 전압이 가해지고, 이 전압과 비례하고 중간도체(202) 간격에 반비례하는 일정한 관계(E)와 상응하는 자계(H)가 제4도(4B)와 같이 형성된다. 이때 원형 차폐문(10)의 손잡이(12)를 상향으로 들면 후방에 설치된 카바홀더(17)의 중안 힌지(18)를 중심으로 차폐문(10)이 상향으로 열기게 되므로 피측정물(EUT)를 TEM셀(110)의 상면에 형성된 원형의 구멍(305)을 통하여 내부에 고정된 저유전율의 절연체인 고무판(405) 상면에 위치하도록 올려놓고, 손잡이(12)를 하향으로 내려 차폐문(10)을 닫고 나서 상기 피측정물(EUT)의 전자계에 대한 특성을 컨넥터(406)와 연결된 테스트 모니터(109)를 통해 측정할 수 있게 되는데 이때 피측정물(EUT)의 접점이 컨넥터(406)의 접속단자와 연결된다.Looking at the operation relationship for measuring and adjusting the sensitivity of the EUT from the above configuration, by closing the hole 305 formed in the upper portion of the TEM cell 110 by the shielding door 10 and RF to the input connector 203 When the signal is applied, the voltage and current proceed while forming a TEM wave along the intermediate conductor 202 in the center of the TEM cell 110, and is reflected by the 50 kΩ termination resistor end 204 opposite to the input connector 203. Absorbed without it. Therefore, a uniform voltage is applied between the middle intermediate conductor 202 and the upper and lower surfaces 302 and 301 without a standing wave regardless of the position, and is proportional to this voltage and inversely proportional to the interval between the intermediate conductors 202 (E). And the corresponding magnetic field H is formed as shown in FIG. 4 (4B). In this case, when the handle 12 of the circular shield door 10 is lifted upward, the shield door 10 is opened upward with respect to the central hinge 18 of the carbage holder 17 installed at the rear. To the upper surface of the rubber plate 405, which is an insulator of low dielectric constant fixed therein, through the circular hole 305 formed on the upper surface of the TEM cell 110, and lowers the handle 12 downward to shield the door (10). ) And then the characteristics of the electromagnetic field of the EUT can be measured through the test monitor 109 connected to the connector 406, wherein the contact point of the EUT is connected to the connector 406. It is connected to the connection terminal.
이때 피측정물(EUT)는 저유전율의 절연체인 고무판(405)과 밀착되어 접촉되며 지지된다. 이후 입력컨넥터(203)에 RF신호를 인가하면 전압 전류는 중간도체(202)를 따라 TEM파를 형성하면서 진행하게 되며, 이때 발생되는 TEM파를 피측정물(EUT)이 수신하게 된다. 따라서 피측정물(EUT)의 각 접점에서 수신되는 신호는 접촉단자를 통해 컨넥터(406)를 거쳐 테스트 모니터(109)에 인가되어 가시적으로 측정할 수 있게 된다.At this time, the object to be measured (EUT) is in contact with and supported by the rubber plate 405 which is an insulator of low dielectric constant. Subsequently, when the RF signal is applied to the input connector 203, the voltage current proceeds while forming a TEM wave along the intermediate conductor 202, and the measured object EUT receives the generated TEM wave. Therefore, the signal received at each contact point of the object to be measured (EUT) is applied to the test monitor 109 via the connector 406 through the contact terminal to be measured visually.
이때 원형 차폐문(10)을 열면 TEM셀(110)의 내부의 전계(E) 및 자계(H)의 모양은 제5도(5B)와 같이 변화되나 피측정물(EUT)에 대한 자계의 대한 변화는 약 1dB 이하로 미소하므로 차폐 효과를 고려하지 않는다면 통상측정에서는 차폐문을 열어놓고 측정하여도 큰 영향을 주지 않는다. 상기한 바와같이 TEM셀(110) 후면에는 피측정물(EUT)의 수신 신호를 테스트 모니터(109)에서 측정할 수 있도록 하는 상기 테스트 모니터(109)와 연결을 위한 컨넥터(406)가 설치되어 있고, 상기 컨넥터(406)를 통해 테스트 모니터(109)인 오실로스코프나 VTVM을 연결시키고 피측정물(EUT)의 조정을 위한 카바(11)에 형성된 다수개의 작은 원형의 조정홀(14)을 이용하여 조정봉을 통과시켜 안테나의 감도를 조절할 수 있으며, 방향 특성을 측정할 수 있게 된다.At this time, the shape of the electric field (E) and the magnetic field (H) inside the TEM cell 110 is changed as shown in FIG. 5 (5B) when the circular shield door 10 is opened, but the magnetic field of the measured object (EUT) Since the change is less than about 1 dB, the shielding door is left open in the normal measurement, unless the shielding effect is considered. As described above, the rear surface of the TEM cell 110 is provided with a connector 406 for connection with the test monitor 109 for measuring the received signal of the object under test (EUT) in the test monitor 109. By connecting the oscilloscope or the VTVM which is the test monitor 109 through the connector 406, and using a plurality of small circular adjustment holes 14 formed in the cover 11 for adjusting the EUT. Through this, the sensitivity of the antenna can be adjusted and the direction characteristic can be measured.
상기한 바와같이 본 발명에 의하면 차폐문을 TEM셀의 상부에 카바홀더(17)의 힌지(18)와 손잡이 홀더(19)의 손잡이(12)를 이용하여 차폐문(10)을 개폐할 수 있도록 설치하므로써 TEM셀의 내부에 고정된 저유전율의 절연체인 고무판(405) 위에 피측정물(EUT)을 삽입 또는 제거하기 용이하며, TEM셀에 의해 측정과 동시에 피측정물(EUT)의 조정작업을 차폐문에 형성된 다수개의 조정홀을 통하여 조정봉으로 쉽게 행할 수 있어 사용에 편리를 기할수 있는 잇점이 있다.As described above, according to the present invention, the shield door can be opened and closed by using the hinge 18 of the cover holder 17 and the handle 12 of the handle holder 19 on the upper part of the TEM cell. It is easy to insert or remove the EUT on the rubber plate 405, which is a low dielectric constant insulator fixed inside the TEM cell, and adjust the EUT simultaneously with the TEM cell. Through a plurality of adjustment holes formed in the shield door can be easily performed by the adjustment rod has the advantage that can be convenient for use.
Claims (8)
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