KR20240058909A - 디스플레이 장치 - Google Patents

디스플레이 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20240058909A
KR20240058909A KR1020247011226A KR20247011226A KR20240058909A KR 20240058909 A KR20240058909 A KR 20240058909A KR 1020247011226 A KR1020247011226 A KR 1020247011226A KR 20247011226 A KR20247011226 A KR 20247011226A KR 20240058909 A KR20240058909 A KR 20240058909A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
assembly
partition
light emitting
thickness
display device
Prior art date
Application number
KR1020247011226A
Other languages
English (en)
Inventor
고지수
이민우
문성민
성준호
Original Assignee
엘지전자 주식회사
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지전자 주식회사, 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지전자 주식회사
Publication of KR20240058909A publication Critical patent/KR20240058909A/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/075Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/15Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission
    • H01L27/153Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars
    • H01L27/156Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission in a repetitive configuration, e.g. LED bars two-dimensional arrays
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/075Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
    • H01L25/0753Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/124Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or layout of the wiring layers specially adapted to the circuit arrangement, e.g. scanning lines in LCD pixel circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/15Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components having potential barriers, specially adapted for light emission
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/483Containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

디스플레이 장치는 복수의 조립 영역과 비 조립 영역을 갖는 기판과, 복수의 조립 영역 상에 배치되고, 조립 홀을 갖는 제1 격벽과, 비 조립 영역 상에 배치되는 제2 격벽과, 조립 홀에 반도체 발광 소자를 포함하고, 제2 격벽의 두께가 제1 격벽의 두께보다 크다.

Description

디스플레이 장치
실시예는 디스플레이 장치에 관한 것이다.
디스플레이 장치는 발광 다이오드(Light Emitting Diode)와 같은 자발광 소자를 화소의 광원으로 이용하여 고화질의 영상을 표시한다. 발광 다이오드는 열악한 환경 조건에서도 우수한 내구성을 나타내며, 장수명 및 고휘도가 가능하여 차세대 디스플레이 장치의 광원으로 각광받고 있다.
최근, 신뢰성이 높은 무기 결정 구조의 재료를 이용하여 초소형의 발광 다이오드를 제조하고, 이를 디스플레이 장치의 패널(이하, "디스플레이 패널"이라 함)에 배치하여 차세대 광원으로 이용하기 위한 연구가 진행되고 있다.
이러한 디스플레이 장치는 평판 디스플레이를 넘어, 플렉서블 디스플레이, 폴더블(folderable) 디스플레이, 스트레처블(strechable) 디스플레이, 롤러블(rollable) 디스플레이 등과 같이 다양한 형태로 확대되고 있다.
고해상도를 구현하기 위해서 점차 화소의 사이즈가 작아지고 있고, 이와 같이 작아진 사이즈의 수많은 화소에 발광 소자가 정렬되어야 하므로, 마이크로 또는 나노 스케일 정도로 작은 초소형의 발광 다이오드의 제조에 대한 연구가 활발하게 이루어지고 있다.
통상 디스플레이 장치는 수 천만 개 이상의 화소를 포함한다. 따라서, 사이즈가 작은 수 천만 개 이상의 화소 각각에 적어도 하나 이상의 발광 소자들을 정렬하는 것이 매우 어렵기 때문에, 최근 디스플레이 패널에 발광 소자들을 정렬하는 방안에 대한 다양한 연구가 활발하게 진행되고 있다.
발광 소자의 사이즈가 작아짐에 따라, 이들 발광 소자를 기판 상에 신속하고 정확하게 전사하는 것이 매우 중요한 해결 과제로 대두되고 있다. 최근 개발되고 있는 전사 기술에는 픽앤-플레이스 공법(pick and place process), 레이저 리프트 오프 방식(Laser Lift-off method) 또는 자가 조립 방식(self-assembly method) 등이 있다. 특히, 자성체(또는 자석)를 이용하여 발광 소자를 기판 상에 전사하는 자가 조립 방식이 최근 각광받고 있다.
자가 조립 방식에서는 유체가 수용된 소조 내에 수많은 발광 소자가 투하되고 자성체의 이동에 따라 유체 속에 투하된 발광 소자를 기판의 화소로 이동시켜, 발광 소자가 각 화소에 정렬되고 있다. 따라서, 자가 조립 방식은 수많은 발광 소자를 신속하고 정확하게 기판 상에 전사할 수 있어 차세대 전사 방식으로 각광받고 있다.
도 1은 출원인의 비공개 기술에 따른 디스플레이 장치를 도시한 평면도이고, 도 2는 출원인의 비공개 기술에 따른 디스플레이 장치를 도시한 단면도이다.
도 1 및 도 2에 도시한 바와 같이, 자기 조립 방식을 이용하여 LED(5a, 5b)를 조립하기 위해, 기판(1) 상에 조립 배선(2a, 2b)이 배치된다.
제1 조립 배선(2a)과 제2 조립 배선(2b) 사이에 형성된 유전영동힘(F)에 의해 LED(5a, 5b)가 조립 홀(3a, 3b)에 조립된다. 즉, 적색 조립 홀(3a)에 적색 LED(5a)가 조립되고, 녹색 조립 홀(5b)에 녹색 LED(5b)가 조립된다.
하지만, 조립 홀(3a, 3b)뿐망 아니라 조립 홀(3a, 3b) 사이의 격벽(3) 위에도 유전영동힘(F)이 형성되므로, 이 유전영동힘(F)에 의해 격벽(3) 상면에 적색 LED(5a)가 부착될 수 있다. 도면에는 격벽(3) 상면에 적색 LED(5a)가 부착되는 것으로 도시되고 있지만, 녹색 LED(5b)나 청색 LED가 부착될 수도 있다.
격벽(3) 상면에 적색 LED(5a)가 부착되는 경우, 격벽(3) 상의 적색 LED(5a)에 의해 다른 LED, 즉 녹색 LED(5b)나 청색 LED의 유동이 방해되어 다른 LED가 해당 조립 홀(3b)에 조립되지 못하는 경우가 빈번해져, 조립율이 감소되는 문제가 있다.
또한, 격벽(3) 상에 부착되는 LED(5a, 5b)는 버려지는 것으로서, 재료비가 상승되는 문제가 있다.
또한, 녹색 LED(5b)에 대한 조립 공정시, 녹색 조립 홀(5b)에 격벽(3) 상에 부착된 적색 LED(5a)가 조립되는 조립 에러가 발생되는 문제가 있다.
또한, 격벽(3) 상에 부착된 적색 LED(5a)애 의해 전극 배선 연결 공정시 전극 배선의 단선과 같은 연결 불량이 발생되는 문제가 있다.
아울러, 격벽(3) 상에 부착된 LED(5a, 5b)를 제거하는 공정이 추가되는 경우, 제조 공정이 복잡해지고 제조 공정 시간이 늘어나 생산성 저하가 야기되는 문제가 있다. 설사 격벽(3) 상에 부착된 LED(5a, 5b)를 제거하는 공정이 추가된다 하더라도 격벽(3) 상에 부착된 LED(5a, 5b)가 완벽하게 제거하는 것은 사실 상 불가능하여 여전히 다양한 문제가 야기될 수 있다.
실시예는 전술한 문제 및 다른 문제를 해결하는 것을 목적으로 한다.
실시예의 다른 목적은 조립율을 향상시킬 수 잇는 디스플레이 장치를 제공하는 것이다.
또한 실시예의 또 다른 목적은 재료비를 낮출 수 있는 디스플레이 장치를 제공하는 것이다.
또한 실시예의 또 다른 목적은 조립 에러를 방지할 수 있는 디스플레이 장치를 제공하는 것이다.
또한 실시예의 또 다른 목적은 전기적 연결 불량을 방지할 수 있는 디스플레이 장치를 제공하는 것이다.
또한 실시예의 또 다른 목적은 생산성을 높일 수 있는 디스플레이 장치를 제공하는 것이다.
실시예의 기술적 과제는 본 항목에 기재된 것에 한정되지 않으며, 발명의 설명을 통해 파악될 수 있는 것을 포함한다.
상기 또는 다른 목적을 달성하기 위해 실시예의 일 측면에 따르면, 디스플레이 장치는, 복수의 조립 영역과 비 조립 영역을 갖는 기판; 상기 복수의 조립 영역 상에 배치되고, 조립 홀을 갖는 제1 격벽; 상기 비 조립 영역 상에 배치되는 제2 격벽; 및 상기 조립 홀에 반도체 발광 소자를 포함하고, 상기 제2 격벽의 두께가 상기 제1 격벽의 두께보다 크다.
상기 복수의 조립 영역에 배치되는 돌출부를 포함할 수 있다.
상기 제2 격벽이 두께와 상기 제1 격벽의 두께 사이의 차이 값은 상기 돌출부의 두께 이상일 수 있다.
상기 돌출는 절연 부재일 수 있다.
상기 돌출부는 상기 기판의 일부일 수 있다.
상기 제2 격벽은, 상기 제1 조립 배선 및 상기 제2 조립 배선 상에 제2-1 격벽; 및 상기 기판 상에 배치된 제2-2 격벽을 포함할 수 있다.
상기 제2-1 격벽의 두께 상기 제1 격벽의 두께보다 크고, 상기 제2-2 격벽의 두께는 제2-1 격벽의 두께보다 클 수 있다.
상기 돌출부는 상기 제1 조립 패턴 및 상기 제2 조립 패턴일 수 있다.
상기 제1 조립 패턴은, 상기 제1 조립 배선의 두께보다 큰 두께를 갖고,
상기 제2 조립 패턴은, 상기 제2 조립 배선의 두께보다 큰 두께를 가질 수 있다.
상기 제1 격벽, 상기 제2-1 격벽 및 상기 제2-2 격벽 각각의 상면은 동일한 평면 상에 위치되고, 상기 제1 격벽, 상기 제2-1 격벽 및 상기 제2-2 격벽 각각의 하면은 동일한 평면 상에 위치되지 않을 수 있다.
실시예는 도 10, 도 13 및 도 15에 도시한 바와 같이, 조립 영역(310a)에 돌출부(330, 340, 350)를 배치하여, 조립 영역(310a)에 해당하는 제1 격벽(321)의 두께보다 비조립 영역(310b)에 해당하는 제2 격벽(322)의 두께가 더 크도록 할 수 있다. 이에 따라, 제1 격벽(321)에 형성된 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)에 반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B)에만 조립되고, 제2 격벽(322)의 상면에는 반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B)가 부착되지 않도록 할 수 있다.
이와 같은 구조에 의해 다음과 같은 기술적 효과가 있다.
제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않으므로, 제2 격벽(322) 상의 반도체 발광 소자에 의해 다른 반도체 발광 소자의 유동이 방해되지 않아 다른 반도체 발광 소자가 해당 조립 홀에 조립될 수 있어, 조립율이 향상될 수 있다.
또한, 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않아 반도체 발광 소자가 제2 격벽(322) 상에 부착되어 버려지지 않으므로, 재료비를 절감할 수 있다.
또한, 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않아 다른 반도체 발광 소자의 조립 공정시 제2 격벽(322) 상면에 부착되었던 반도체 발광 소자가 다른 반도체 발광 소자가 조립될 조립 홀에 조립되는 조립 에러를 방지할 수 있다.
또한, 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않아 전극 배선 연결 공정시 전극 배선의 단선과 같은 연결 불량을 방지할 수 있다.
아울러, 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않아 제2 격벽(322) 상면에 부착된 반도체 발광 소자를 제거하는 추가 공정이 필요하지 않아, 제조 공정이 단순하고 제조 공정 시간이 단축되어 생산성이 향상될 수 있다.
한편, 기판(310)의 일부를 돌출부(340)로 사용하거나(도 13) 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312)를 돌출부(350)로 사용함으로써, 별도의 돌출부가 구비될 필요가 없어, 구조가 단순하고 비용이 절감될 수 있다.
실시예의 적용 가능성의 추가적인 범위는 이하의 상세한 설명으로부터 명백해질 것이다. 그러나 실시예의 사상 및 범위 내에서 다양한 변경 및 수정은 당업자에게 명확하게 이해될 수 있으므로, 상세한 설명 및 바람직한 실시예와 같은 특정 실시예는 단지 예시로 주어진 것으로 이해되어야 한다.
도 1은 출원인의 비공개 기술에 따른 디스플레이 장치를 도시한 평면도이다.
도 2는 출원인의 비공개 기술에 따른 디스플레이 장치를 도시한 단면도이다.
도 3은 실시예에 따른 디스플레이 장치가 배치된 주택의 거실을 도시한다.
도 4는 실시예에 따른 디스플레이 장치를 개략적으로 보여주는 블록도이다.
도 5는 도 4의 화소의 일 예를 보여주는 회로도이다.
도 6은 도 3의 디스플레이 장치에서 제1 패널영역의 확대도이다.
도 7은 도 6의 A2 영역의 확대도이다.
도 8는 실시예에 따른 발광 소자가 자가 조립 방식에 의해 기판에 조립되는 예를 나타내는 도면이다.
도 9는 제1 실시예에 따른 디스플레이 장치를 도시한 평면도이다.
도 10은 제1 실시예에 따른 디스플레이 장치를 도시한 단면도이다.
도 11은 제1 실시예에 따른 디스플레이 장치에서 유전영동힘의 분포를 도시한다.
도 12는 4.1㎛의 높이(또는 두께)를 갖는 칩이 조립 홀에 조립될 때, 칩의 에지와 컵 에지 각각에 대한 전기장 세기를 보여주는 그래프이다.
도 13은 제2 실시예에 따른 디스플레이 장치를 도시한 단면도이다.
도 14는 제2 실시예에 따른 디스플레이 장치에서 유전영동힘의 분포를 도시한다.
도 15는 제3 실시예에 따른 디스플레이 장치를 도시한 단면도이다.
도 16은 제3 실시예에 따른 디스플레이 장치에서 유전영동힘의 분포를 도시한다.
도면들에 도시된 구성 요소들의 크기, 형상, 수치 등은 실제와 상이할 수 있다. 또한, 동일한 구성 요소들에 대해서 도면들 간에 서로 상이한 크기, 형상, 수치 등으로 도시되더라도, 이는 도면 상의 하나의 예시일 뿐이며, 동일한 구성 요소들에 대해서는 도면들 간에 서로 동일한 크기, 형상, 수치 등을 가질 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 명세서에 개시된 실시예를 상세히 설명하되, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 유사한 구성요소는 동일한 참조 번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 이하의 설명에서 사용되는 구성요소에 대한 접미사 '모듈' 및 '부'는 명세서 작성의 용이함이 고려되어 부여되거나 혼용되는 것으로서, 그 자체로 서로 구별되는 의미 또는 역할을 갖는 것은 아니다. 또한, 첨부된 도면은 본 명세서에 개시된 실시예를 쉽게 이해할 수 있도록 하기 위한 것이며, 첨부된 도면에 의해 본 명세서에 개시된 기술적 사상이 제한되는 것은 아니다. 또한, 층, 영역 또는 기판과 같은 요소가 다른 구성요소 '상(on)'에 존재하는 것으로 언급될 때, 이것은 직접적으로 다른 요소 상에 존재하거나 또는 그 사이에 다른 중간 요소가 존재할 수도 있는 것을 포함한다.
본 명세서에서 설명되는 디스플레이 장치에는 TV, 샤이니지, 휴대폰, 스마트 폰(smart phone), 자동차용 HUD(head-Up Display), 노트북 컴퓨터(laptop computer)용 백라이트 유닛, VR이나 AR용 디스플레이 등이 포함될 수 있다. 그러나, 본 명세서에 기재된 실시예에 따른 구성은 추후 개발되는 새로운 제품형태이라도, 디스플레이가 가능한 장치에도 적용될 수 있다.
이하 실시예에 따른 발광 소자 및 이를 포함하는 디스플레이 장치에 대해 설명한다.
도 3은 실시예에 따른 디스플레이 장치가 배치된 주택의 거실을 도시한다.
도 3을 참조하면, 실시예의 디스플레이 장치(100)는 세탁기(101), 로봇 청소기(102), 공기 청정기(103) 등의 각종 전자 제품의 상태를 표시할 수 있고, 각 전자 제품들과 IOT 기반으로 통신할 수 있으며 사용자의 설정 데이터에 기초하여 각 전자 제품들을 제어할 수도 있다.
실시예에 따른 디스플레이 장치(100)는 얇고 유연한 기판 위에 제작되는 플렉서블 디스플레이(flexible display)를 포함할 수 있다. 플렉서블 디스플레이는 기존의 평판 디스플레이의 특성을 유지하면서, 종이와 같이 휘어지거나 말릴 수 있다.
플렉서블 디스플레이에서 시각정보는 매트릭스 형태로 배치되는 단위 화소(unit pixel)의 발광이 독자적으로 제어됨에 의하여 구현될 수 있다. 단위 화소는 하나의 색을 구현하기 위한 최소 단위를 의미한다. 플렉서블 디스플레이의 단위 화소는 발광 소자에 의하여 구현될 수 있다. 실시예에서 발광 소자는 Micro-LED나 Nano-LED일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.
도 4는 실시예에 따른 디스플레이 장치를 개략적으로 보여주는 블록도이고, 도 5는 도 4의 화소의 일 예를 보여주는 회로도이다.
도 4 및 도 5를 참조하면, 실시예에 따른 디스플레이 장치는 디스플레이 패널(10), 구동 회로(20), 스캔 구동부(30) 및 전원 공급 회로(50)를 포함할 수 있다.
실시예의 디스플레이 장치(100)는 액티브 매트릭스(AM, Active Matrix)방식 또는 패시브 매트릭스(PM, Passive Matrix) 방식으로 발광 소자를 구동할 수 있다.
구동 회로(20)는 데이터 구동부(21)와 타이밍 제어부(22)를 포함할 수 있다.
디스플레이 패널(10)은 직사각형으로 이루어질 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. 즉, 디스플레이 패널(10)은 원형 또는 타원형으로 형성될 수 있다. 디스플레이 패널(10)의 적어도 일 측은 소정의 곡률로 구부러지도록 형성될 수 있다.
디스플레이 패널(10)은 표시 영역(DA)과 표시 영역(DA)의 주변에 배치된 비표시 영역(NDA)으로 구분될 수 있다. 표시 영역(DA)은 화소(PX)들이 형성되어 영상을 디스플레이하는 영역이다. 디스플레이 패널(10)은 데이터 라인들(D1~Dm, m은 2 이상의 정수), 데이터 라인들(D1~Dm)과 교차되는 스캔 라인들(S1~Sn, n은 2 이상의 정수), 고전위 전압이 공급되는 고전위 전압 라인(VDDL), 저전위 전압이 공급되는 저전위 전압 라인(VSSL) 및 데이터 라인들(D1~Dm)과 스캔 라인들(S1~Sn)에 접속된 화소(PX)들을 포함할 수 있다.
화소(PX)들 각각은 제1 서브 화소(PX1), 제2 서브 화소(PX2) 및 제3 서브 화소(PX3)를 포함할 수 있다. 제1 서브 화소(PX1)는 제1 주 파장의 제1 컬러 광을 발광하고, 제2 서브 화소(PX2)는 제2 주 파장의 제2 컬러 광을 발광하며, 제3 서브 화소(PX3)는 제3 주 파장의 제3 컬러 광을 발광할 수 있다. 제1 컬러 광은 적색 광, 제2 컬러 광은 녹색 광, 제3 컬러 광은 청색 광일 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 또한, 도 4에서는 화소(PX)들 각각이 3 개의 서브 화소들을 포함하는 것을 예시하였으나, 이에 한정되지 않는다. 즉, 화소(PX)들 각각은 4 개 이상의 서브 화소들을 포함할 수 있다.
제1 서브 화소(PX1), 제2 서브 화소(PX2) 및 제3 서브 화소(PX3) 각각은 데이터 라인들(D1~Dm) 중 적어도 하나, 스캔 라인들(S1~Sn) 중 적어도 하나 및 고전위 전압 라인(VDDL)에 접속될 수 있다. 제1 서브 화소(PX1)는 도 5과 같이 발광 소자(LD)들과 발광 소자(LD)들에 전류를 공급하기 위한 복수의 트랜지스터들과 적어도 하나의 커패시터(Cst)를 포함할 수 있다.
도면에 도시되지 않았지만, 제1 서브 화소(PX1), 제2 서브 화소(PX2) 및 제3 서브 화소(PX3) 각각은 단지 하나의 발광 소자(LD)와 적어도 하나의 커패시터(Cst)를 포함할 수도 있다.
발광 소자(LD)들 각각은 제1 전극, 복수의 도전형 반도체층 및 제2 전극을 포함하는 반도체 발광 다이오드일 수 있다. 여기서, 제1 전극은 애노드 전극, 제2 전극은 캐소드 전극일 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.
발광 소자(LD)는 수평형 발광 소자, 플립칩형 발광 소자 및 수직형 발광 소자 중 하나일 수 있다.
복수의 트랜지스터들은 도 5와 같이 발광 소자(LD)들에 전류를 공급하는 구동 트랜지스터(DT), 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극에 데이터 전압을 공급하는 스캔 트랜지스터(ST)를 포함할 수 있다. 구동 트랜지스터(DT)는 스캔 트랜지스터(ST)의 소스 전극에 접속되는 게이트 전극, 고전위 전압이 인가되는 고전위 전압 라인(VDDL)에 접속되는 소스 전극 및 발광 소자(LD)들의 제1 전극들에 접속되는 드레인 전극을 포함할 수 있다. 스캔 트랜지스터(ST)는 스캔 라인(Sk, k는 1≤k≤n을 만족하는 정수)에 접속되는 게이트 전극, 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극에 접속되는 소스 전극 및 데이터 라인(Dj, j는 1≤j≤m을 만족하는 정수)에 접속되는 드레인 전극을 포함할 수 있다.
커패시터(Cst)는 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극과 소스 전극 사이에 형성된다. 스토리지 커패시터(Cst)는 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전압과 소스 전압의 차이값을 충전한다.
구동 트랜지스터(DT)와 스캔 트랜지스터(ST)는 박막 트랜지스터(thin film transistor)로 형성될 수 있다. 또한, 도 5에서는 구동 트랜지스터(DT)와 스캔 트랜지스터(ST)가 P 타입 MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)으로 형성된 것을 중심으로 설명하였으나, 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 구동 트랜지스터(DT)와 스캔 트랜지스터(ST)는 N 타입 MOSFET으로 형성될 수도 있다. 이 경우, 구동 트랜지스터(DT)와 스캔 트랜지스터(ST)들 각각의 소스 전극과 드레인 전극의 위치는 변경될 수 있다.
또한, 도 5에서는 제1 서브 화소(PX1), 제2 서브 화소(PX2) 및 제3 서브 화소(PX3) 각각이 하나의 구동 트랜지스터(DT), 하나의 스캔 트랜지스터(ST) 및 하나의 커패시터(Cst)를 갖는 2T1C (2 Transistor - 1 capacitor)를 포함하는 것을 예시하였으나, 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 제1 서브 화소(PX1), 제2 서브 화소(PX2) 및 제3 서브 화소(PX3) 각각은 복수의 스캔 트랜지스터(ST)들과 복수의 커패시터(Cst)들을 포함할 수 있다.
제2 서브 화소(PX2)와 제3 서브 화소(PX3)는 제1 서브 화소(PX1)와 실질적으로 동일한 회로도로 표현될 수 있으므로, 이들에 대한 자세한 설명은 생략한다.
구동 회로(20)는 디스플레이 패널(10)을 구동하기 위한 신호들과 전압들을 출력한다. 이를 위해, 구동 회로(20)는 데이터 구동부(21)와 타이밍 제어부(22)를 포함할 수 있다.
데이터 구동부(21)는 타이밍 제어부(22)로부터 디지털 비디오 데이터(DATA)와 소스 제어 신호(DCS)를 입력 받는다. 데이터 구동부(21)는 소스 제어 신호(DCS)에 따라 디지털 비디오 데이터(DATA)를 아날로그 데이터 전압들로 변환하여 디스플레이 패널(10)의 데이터 라인들(D1~Dm)에 공급한다.
타이밍 제어부(22)는 호스트 시스템으로부터 디지털 비디오 데이터(DATA)와 타이밍 신호들을 입력받는다. 타이밍 신호들은 수직동기신호(vertical sync signal), 수평동기신호(horizontal sync signal), 데이터 인에이블 신호(data enable signal) 및 도트 클럭(dot clock)을 포함할 수 있다. 호스트 시스템은 스마트폰 또는 태블릿 PC의 어플리케이션 프로세서, 모니터, TV의 시스템 온 칩 등일 수 있다.
타이밍 제어부(22)는 데이터 구동부(21)와 스캔 구동부(30)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 제어신호들을 생성한다. 제어신호들은 데이터 구동부(21)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 소스 제어 신호(DCS)와 스캔 구동부(30)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 스캔 제어 신호(SCS)를 포함할 수 있다.
구동 회로(20)는 디스플레이 패널(10)의 일 측에 마련된 비표시 영역(NDA)에서 배치될 수 있다. 구동 회로(20)는 집적회로(integrated circuit, IC)로 형성되어 COG(chip on glass) 방식, COP(chip on plastic) 방식, 또는 초음파 접합 방식으로 디스플레이 패널(10) 상에 장착될 수 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 구동 회로(20)는 디스플레이 패널(10)이 아닌 회로 보드(미도시) 상에 장착될 수 있다.
데이터 구동부(21)는 COG(chip on glass) 방식, COP(chip on plastic) 방식, 또는 초음파 접합 방식으로 디스플레이 패널(10) 상에 장착되고, 타이밍 제어부(22)는 회로 보드 상에 장착될 수 있다.
스캔 구동부(30)는 타이밍 제어부(22)로부터 스캔 제어 신호(SCS)를 입력 받는다. 스캔 구동부(30)는 스캔 제어 신호(SCS)에 따라 스캔 신호들을 생성하여 디스플레이 패널(10)의 스캔 라인들(S1~Sn)에 공급한다. 스캔 구동부(30)는 다수의 트랜지스터들을 포함하여 디스플레이 패널(10)의 비표시 영역(NDA)에 형성될 수 있다. 또는, 스캔 구동부(30)는 집적 회로로 형성될 수 있으며, 이 경우 디스플레이 패널(10)의 다른 일 측에 부착되는 게이트 연성 필름 상에 장착될 수 있다.
회로 보드는 이방성 도전 필름(anisotropic conductive film)을 이용하여 디스플레이 패널(10)의 일 측 가장자리에 마련된 패드들 상에 부착될 수 있다. 이로 인해, 회로 보드의 리드 라인들은 패드들에 전기적으로 연결될 수 있다. 회로 보드는 연성 인쇄 회로 보드(flexible printed circuit board), 인쇄 회로 보드(printed circuit board) 또는 칩온 필름(chip on film)과 같은 연성 필름(flexible film)일 수 있다. 회로 보드는 디스플레이 패널(10)의 하부로 벤딩(bending)될 수 있다. 이로 인해, 회로 보드의 일 측은 디스플레이 패널(10)의 일 측 가장자리에 부착되며, 타 측은 디스플레이 패널(10)의 하부에 배치되어 호스트 시스템이 장착되는 시스템 보드에 연결될 수 있다.
전원 공급 회로(50)는 시스템 보드로부터 인가되는 메인 전원으로부터 디스플레이 패널(10)의 구동에 필요한 전압들을 생성하여 디스플레이 패널(10)에 공급할 수 있다. 예를 들어, 전원 공급 회로(50)는 메인 전원으로부터 디스플레이 패널(10)의 발광 소자(LD)들을 구동하기 위한 고전위 전압(VDD)과 저전위 전압(VSS)을 생성하여 디스플레이 패널(10)의 고전위 전압 라인(VDDL)과 저전위 전압 라인(VSSL)에 공급할 수 있다. 또한, 전원 공급 회로(50)는 메인 전원으로부터 구동 회로(20)와 스캔 구동부(30)를 구동하기 위한 구동 전압들을 생성하여 공급할 수 있다.
도 6은 도3의 디스플레이 장치에서 제1 패널영역의 확대도이다.
도 6을 참조하면, 실시예의 디스플레이 장치(100)는 제1 패널영역(A1)과 같은 복수의 패널영역들이 타일링에 의해 기구적, 전기적 연결되어 제조될 수 있다.
제1 패널영역(A1)은 단위 화소(도 4의 PX) 별로 배치된 복수의 발광 소자(150)를 포함할 수 있다.
예컨대, 단위 화소(PX)는 제1 서브 화소(PX1), 제2 서브 화소(PX2) 및 제3 서브 화소(PX3)를 포함할 수 있다. 예컨대, 복수의 적색 발광 소자(150R)가 제1 서브 화소(PX1)에 배치되고, 복수의 녹색 발광 소자(150G)가 제2 서브 화소(PX2)에 배치되며, 복수의 청색 발광 소자(150B)가 제3 서브 화소(PX3)에 배치될 수 있다. 단위 화소(PX)는 발광 소자가 배치되지 않는 제4 서브 화소를 더 포함할 수도 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.
도 7은 도 6의 A2 영역의 확대도이다.
도 7을 참조하면, 실시예의 디스플레이 장치(100)는 기판(200), 조립 배선(201, 202), 절연층(206) 및 복수의 발광 소자(150)를 포함할 수 있다. 이보다 더 많은 구성 요소들이 포함될 수 있다.
조립 배선은 서로 이격된 제1 조립 배선(201) 및 제2 조립 배선(202)을 포함할 수 있다. 제1 조립 배선(201) 및 제2 조립 배선(202)은 발광 소자(150)를 조립하기 위해 유전영동힘을 생성하기 위해 구비될 수 있다. 예컨대, 발광 소자(150)는 수평형 발광 소자, 플립칩형 발광 소자 및 수직형 발광 소자 중 하나일 수 있다.
발광 소자(150)는 각각 단위 화소(sub-pixel)를 이루기 위하여 적색 발광 소자(150), 녹색 발광 소자(150G) 및 청색 발광 소자(150B0를 포함할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니며, 적색 형광체와 녹색 형광체 등을 구비하여 각각 적색과 녹색을 구현할 수도 있다.
기판(200)은 그 기판(200) 상에 배치되는 구성 요소들을 지지하는 지지 부재이거나 구성 요소들을 보호하는 보호 부재일 수 있다.
기판(200)은 리지드(rigid) 기판이거나 플렉서블(flexible) 기판일 수 있다. 기판(200)은 사파이어, 유리, 실리콘이나 폴리이미드(Polyimide)로 형성될 수 있다. 또한 기판(200)은 PEN(Polyethylene Naphthalate), PET(Polyethylene Terephthalate) 등의 유연성 있는 재질을 포함할 수 있다. 또한, 기판(200)은 투명한 재질일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.
기판(200)은 도 4 및 도 5에 도시된 서브 화소(PX1, PX2, PX3) 내의 회로, 예컨대 트랜지스터(ST, DT), 커패시터(Cst), 신호 배선 등이 구비된 백플레인(backplane)일 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.
절연층(206)은 폴리이미드, PAC, PEN, PET, 폴리머 등과 같이 절연성과 유연성 있는 유기물 재질이나 실리콘 옥사이드(SiO2)나 실리콘 나이트라이드 계열(SiNx) 등을 같은 무기물 재질을 포함할 수 있으며, 기판(200)과 일체로 이루어져 하나의 기판을 형성할 수도 있다.
절연층(206)은 접착성과 전도성을 가지는 전도성 접착층일 수 있고, 전도성 접착층은 연성을 가져서 디스플레이 장치의 플렉서블 기능을 가능하게 할 수 있다. 예를 들어, 절연층(206)은 이방성 전도성 필름(ACF, anisotropy conductive film)이거나 이방성 전도매질, 전도성 입자를 함유한 솔루션(solution) 등의 전도성 접착층일 수 있다. 전도성 접착층은 두께에 대해 수직방향으로는 전기적으로 전도성이나, 두께에 대해 수평방향으로는 전기적으로 절연성을 가지는 레이어일 수 있다.
절연층(206)은 발광 소자(150)가 삽입되기 위한 조립 홀(203)을 포함할 수 있다. 따라서, 자가 조립시, 발광 소자(150)가 절연층(206)의 조립 홀(203)에 용이하게 삽입될 수 있다. 조립 홀(203)은 삽입 홀, 고정 홀, 정렬 홀 등으로 불릴 수 있다.
조립 홀(203)은 발광 소자(150)의 형상에 따라 상이할 수 있다. 예컨대, 적색 발광 소자, 녹색 발광 소자 및 청색 발광 소자 각각은 상이한 형상을 가지며, 이들 발광 소자 각각의 형상에 대응하는 형상을 갖는 조립 홀(203)을 가질 수 있다. 예컨대, 조립 홀(30)은 적색 발광 소자가 조립되기 위한 제1 조립 홀, 녹색 발광 소자가 조립되기 위한 제2 조립 홀 및 청색 발광 소자가 조립되기 위한 제3 조립 홀을 포함할 수 있다. 예컨대, 적색 발광 소자는 원형을 가지고, 녹색 발광 소자는 제1 단축과 제2 장축을 갖는 제1 타원형을 가지며, 청색 발광 소자는 제2 단축과 제2 장축을 갖는 제2 타원형을 가질 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. 청색 발광 소자의 타원형의 제2 장축은 녹색 발광 소자의 타원형의 제2 장축보다 크고, 청색 발광 소자의 타원형의 제2 단축은 녹색 발광 소자의 타원형의 제1 단축보다 작을 수 있다.
한편, 발광 소자(150)를 기판(200) 상에 장착하는 방식은 예컨대, 자가 조립 방식(도 8)과 전사 방식 등이 있을 수 있다.
도 8는 실시예에 따른 발광 소자가 자가 조립 방식에 의해 기판에 조립되는 예를 나타내는 도면이다.
도 7 및 도 8를 참조하여 발광 소자의 자가 조립 방식을 설명한다.
기판(200)은 디스플레이 장치의 패널 기판일 수 있다. 이후 설명에서는 기판(200)은 디스플레이 장치의 패널 기판인 경우로 설명하나 실시예가 이에 한정되는 것은 아니다.
기판(200)은 유리나 폴리이미드(Polyimide)로 형성될 수 있다. 또한 기판(200)은 PEN(Polyethylene Naphthalate), PET(Polyethylene Terephthalate) 등의 유연성 있는 재질을 포함할 수 있다. 또한, 기판(200)은 투명한 재질일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.
도 8를 참조하면, 발광 소자(150)는 유체(1200)가 채워진 챔버(1300)에 투입될 수 있다. 유체(1200)는 초순수 등의 물일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. 챔버는 수조, 컨테이너, 용기 등으로 불릴 수 있다.
이 후, 기판(200)이 챔버(1300) 상에 배치될 수 있다. 실시예에 따라, 기판(200)은 챔버(1300) 내로 투입될 수도 있다.
도 7에 도시한 바와 같이, 기판(200)에는 조립될 발광 소자(150) 각각에 대응하는 한 쌍의 조립 배선(201, 202)이 배치될 수 있다.
조립 배선(201, 202)은 투명 전극(ITO)으로 형성되거나, 전기 전도성이 우수한 금속물질을 포함할 수 있다. 예를 들어, 조립 배선(201, 202)은 티탄(Ti), 크롬(Cr), 니켈(Ni), 알루미늄(Al), 백금(Pt), 금(Au), 텅스텐(W), 몰리브덴(Mo) 중 적어도 어느 하나 또는 이들의 합금으로 형성될 수 있다.
조립 배선(201, 202)은 외부에서 공급된 전압에 의해 전기장이 형성되고, 이 전기장에 의해 유전영동힘이 조립 배선(201, 202) 사이에 형성될 수 있다. 이 유전영동힘에 의해 기판(200) 상의 조립 홀(203)에 발광 소자(150)를 고정시킬 수 있다.
조립 배선(201, 202) 간의 간격은 발광 소자(150)의 폭 및 조립 홀(203)의 폭보다 작게 형성되어, 전기장을 이용한 발광 소자(150)의 조립 위치를 보다 정밀하게 고정할 수 있다.
조립 배선(201, 202) 상에는 절연층(206)이 형성되어, 조립 배선(201, 202)을 유체(1200)로부터 보호하고, 조립 배선(201, 202)에 흐르는 전류의 누출을 방지할 수 있다. 절연층(206)은 실리카, 알루미나 등의 무기물 절연체 또는 유기물 절연체가 단일층 또는 다층으로 형성될 수 있다.
또한 절연층(206)은 폴리이미드, PEN, PET 등과 같이 절연성과 유연성 있는 재질을 포함할 수 있으며, 기판(200)과 일체로 이루어져 하나의 기판을 형성할 수도 있다.
절연층(206)은 접착성이 있는 절연층일 수 있거나, 전도성을 가지는 전도성 접착층일 수 있다. 절연층(206)은 연성이 있어서 디스플레이 장치의 플렉서블 기능을 가능하게 할 수 있다.
절연층(206)은 격벽을 가지고, 이 격벽에 의해 조립 홀(203)이 형성될 수 있다. 예컨대, 기판(200)의 형성 시, 절연층(206)의 일부가 제거됨으로써, 발광 소자(150)들 각각이 절연층(206)의 조립 홀(203)에 조립될 수 있다.
기판(200)에는 발광 소자(150)들이 결합되는 조립 홀(203)이 형성되고, 조립 홀(203)이 형성된 면은 유체(1200)와 접촉할 수 있다. 조립 홀(203)은 발광 소자(150)의 정확한 조립 위치를 가이드할 수 있다.
한편, 조립 홀(203)은 대응하는 위치에 조립될 발광 소자(150)의 형상에 대응하는 형상 및 크기를 가질 수 있다. 이에 따라, 조립 홀(203)에 다른 발광 소자가 조립되거나 복수의 발광 소자들이 조립되는 것을 방지할 수 있다.
다시 도 8를 참조하면, 기판(200)이 배치된 후, 자성체를 포함하는 조립 장치(1100)가 기판(200)을 따라 이동할 수 있다. 자성체로 예컨대, 자석이나 전자석이 사용될 수 있다. 조립 장치(1100)는 자기장이 미치는 영역을 유체(1200) 내로 최대화하기 위해, 기판(200)과 접촉한 상태로 이동할 수 있다. 실시예에 따라서는, 조립 장치(1100)가 복수의 자성체를 포함하거나, 기판(200)과 대응하는 크기의 자성체를 포함할 수도 있다. 이 경우, 조립 장치(1100)의 이동 거리는 소정 범위 이내로 제한될 수도 있다.
조립 장치(1100)에 의해 발생하는 자기장에 의해, 챔버(1300) 내의 발광 소자(150)는 조립 장치(1100)를 향해 이동할 수 있다.
발광 소자(150)는 조립 장치(1100)를 향해 이동 중, 조립 홀(203)로 진입하여 기판(200)과 접촉될 수 있다.
이때, 기판(200)에 형성된 조립 배선(201, 202)에 의해 가해지는 전기장에 의해, 기판(200)에 접촉된 발광 소자(150)가 조립 장치(1100)의 이동에 의해 이탈되는 것이 방지될 수 있다.
즉, 상술한 전자기장을 이용한 자가 조립 방식에 의해, 발광 소자(150)들 각각이 기판(200)에 조립되는 데 소요되는 시간을 급격히 단축시킬 수 있으므로, 대면적 고화소 디스플레이를 보다 신속하고 경제적으로 구현할 수 있다.
기판(200)의 조립 홀(203) 상에 조립된 발광 소자(150)와 기판(200) 사이에는 소정의 솔더층(미도시)이 더 형성되어 발광 소자(150)의 결합력을 향상시킬 수 있다.
이후 발광 소자(150)에 전극 배선(미도시)이 연결되어 전원을 인가할 수 있다.
다음으로 도시되지 않았지만, 후공정에 의해 적어도 하나 이상의 절연층이 형성될 수 있다. 적어도 하나 이상의 절연층은 투명 레진이거나 또는 반사물질, 산란물질이 포함된 레진일 수 있다.
한편, 실시예는 제1 전극 패턴 및 제2 전극 패턴이 배치된 조립 영역의 조립 홀 주변의 제1 격벽의 두께보다 비조립 영역의 제2 격벽의 두께를 더 크게 하여, 제2 격벽 상에 유전영동힘이 미치지 않도록 하여 반도체 발광 소자가 제2 격벽의 상면에 부착되지 않도록 하는 디스플레이 장치를 제공한다.
이하에서 누락된 설명은 도 3 내지 도 8 및 해당 도면과 관련하여 상술된 설명으로부터 용이하게 이해될 수 있다.
[제1 실시예]
도 9는 제1 실시예에 따른 디스플레이 장치를 도시한 평면도이고, 도 10은 제1 실시예에 따른 디스플레이 장치를 도시한 단면도이다.
도 9 및 도 10을 참조하면, 제1 실시예에 따른 디스플레이 장치(300)는 복수의 화소(PX)를 포함할 수 있다. 복수의 화소(PX)는 매트릭스로 배열될 수 있다. 예컨대, 복수의 화소(PX)는 제1 방향(x 방향)을 따라 배열된 화소 행과 제2 방향(y 방향)을 따라 배열된 화소 열을 가질 수 있다.
복수의 화소(PX) 각각은 복수의 서브 화소(PX1, PX2, PX3)를 포함할 수 있다. 복수의 화소(PX) 각각은 단위 영상을 디스플레이할 수 있다. 즉, 복수의 화소(PX) 각각은 풀 컬러 구현이 가능하다.
복수의 서브 화소는 제1 서브 화소(PX1), 제2 서브 화소(PX2) 및 제3 서브 화소(PX3)를 포함할 수 있다. 도면에는 제1 서브 화소(PX1), 제2 서브 화소(PX2) 및 제3 서브 화소(PX3)가 서로 동일한 사이즈를 갖는 것으로 도시되고 있지만, 서로 상이할 수도 있다.
예컨대, 제1 서브 화소(PX1)에 제1 반도체 발광 소자(150_R)가 배치되고, 제2 서브 화소(PX2)에 제2 반도체 발광 소자(150_G)가 배치되며, 제3 서브 화소(PX3)에 제3 반도체 발광 소자가 배치될 수 있다. 예컨대, 제1 반도체 발광 소자(150_R)는 적색 반도체 발광 소자를 포함하고, 제2 반도체 발광 소자(150_G)는 녹색 반도체 발광 소자를 포함하며, 제3 반도체 발광 소자(150_B)는 청색 반도체 발광 소자를 포함할 수 있다. 예컨대, 제1 반도체 발광 소자(150_R), 제2 반도체 발광 소자(150_G) 및 제3 반도체 발광 소자(150_B) 각각은 마이크로미터 사이즈를 갖는 반도체 발광 소자 또는 나노미터 사이즈를 가질 수 있다. 예컨대, 제1 반도체 발광 소자(150_R), 제2 반도체 발광 소자(150_G) 및 제3 반도체 발광 소자(150_B) 각각은 10㎛이하의 직경을 가지므로, 초 고해상도의 디스플레이가 가능할 수 있다.
제1 서브 화소(PX1), 제2 서브 화소(PX2) 및 제3 서브 화소(PX3) 각각은 제1 방향을 따라 동일한 서브 화소가 반복적으로 배열될 수 있다. 예컨대, 제1 서브 화소(PX1)은 제1 방향을 따라 반복적으로 배열되고, 제2 서브 화소(PX2)는 제1 방향을 따라 반복적으로 배열되며, 제3 서브 화소(PX3)는 제1 방향을 따라 반복적으로 배열될 수 있다. 제1 방향을 따라 동일한 서브 화소가 반복적으로 배열되는 것은 스트라이프열(stripe column) 배열이라 불릴 수 있다. 예컨대, 제1 스트라이프열은 제1 방향을 따라 반복적으로 배열된 제1 서브 화소(PX1)가 포함되고, 제2 스트라이프열은 제1 방향을 따라 반복적으로 배열된 제2 서브 화소(PX2)가 포함되며, 제3 스트라이프열은 제1 방향을 따라 반복적으로 배열된 제3 서브 화소(PX3)가 포함될 수 있다.
제1 서브 화소(PX1), 제2 서브 화소(PX2) 및 제3 서브 화소(PX3)는 제2 방향을 따라 반복적으로 배열될 수 있다. 예컨대, 제2 방향을 따라 제1 서브 화소(PX1), 제2 서브 화소(PX2) 및 제3 서브 화소(PX3)의 순서로 배열되고, 제3 서브 화소(PX3)에 인접하여 다시 제1 서브 화소(PX1), 제2 서브 화소(PX2) 및 제3 서브 화소(PX3)의 순서로 배열될 수 있다.
한편, 제1 실시예에 따른 디스플레이 장치(300)는 기판(310), 격벽(321, 322) 및 반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B)를 포함할 수 있다. 제1 실시예에 따른 디스플레이 장치(300)는 이보다 더 많은 구성 요소를 포함할 수도 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.
기판(310)은 그 기판(310) 상에 배치되는 구성 요소들을 지지하는 지지 부재이거나 구성 요소들을 보호하는 보호 부재일 수 있다.
기판(310)은 복수의 조립 영역(310a)과 비조립 영역(310b)을 가질 수 있다. 예컨대, 조립 영역(310a)은 반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B)가 조립되는 영역이고, 비조립 영역(310b)는 반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B)가 조립되지 않는 영역일 수 있다. 예컨대, 조립 영역(310a)은 반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B)에서 광이 생성되는 발광 영역일 수 있다. 예컨대, 비조립 영역(310b)은 반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B)가 배치되지 않으므로, 광이 발광되지 않는 비발광 영역일 수 있다.
격벽(321, 322)은 기판(310) 상에 배치될 수 있다. 격벽(321, 322)은 반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B)가 조립되기 위한 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)을 가질 수 있다. 예컨대, 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B) 내에 절연층(315)이 노출될 수 있다. 예컨대, 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)의 바닥면은 절연층(315)의 상면일 수 있다. 예컨대, 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)은 서브 화소(PX1, PX2, PX3) 각각에 배치될 수 있다.
격벽(321, 322)은 반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B)의 두께(t11)를 고려하여 그 두께(t1, t2, t3)가 결정될 수 있다. 예컨대, 격벽(321, 322)의 두께(t1)는 반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B)의 두께(t11)보다 작을 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다. 따라서, 반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B)의 상측은 격벽(321, 322)의 상면보다 더 높게 위치될 수 있다. 즉, 반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B)의 상측은 격벽(321, 322)의 상면으로부터 상부 방향으로 돌출될 수 있다.
조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)의 형성을 위한 공차 마진과 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B) 내에 반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B)가 용이하게 조립되도록 하기 위한 마진 등을 고려하여 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)의 사이즈가 결정될 수 있다. 예컨대, 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)의 사이즈는 반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B)의 사이즈보다 클 수 있다. 예컨대, 반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B)가 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)의 중심에 조립되었을 때, 반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B)의 외 측면은 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)의 내 측면으로부터 이격될 수 있다.
반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B) 각각은 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)에 조립되어, 소정의 광을 생성할 수 있다. 반도체 발광 소자는 복수의 적색 반도체 발광 소자(150_R), 녹색 반도체 발광 소자(150_G) 및 청색 반도체 발광 소자(150_B)를 포함할 수 있다. 예컨대, 적색 반도체 발광 소자(150_R)는 제1 서브 화소(PX1)의 제1 조립 홀(325_R)에 배치되고, 녹색 반도체 발광 소자(150_G)는 제2 서브 화소(PX2)의 제2 조립 홀(325_G)에 배치되며, 청색 반도체 발광 소자(150_B)는 제3 서브 화소(PX3)의 제3 조립 홀(325_B)에 배치될 수 있다.
한편, 제1 실시예에 따른 디스플레이 장치(300)는 제1 조립 패턴(311), 제2 조립 패턴(312)(312), 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324)을 포함할 수 있다. 제1 조립 패턴(311), 제2 조립 패턴(312), 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324)은 유전영동힘을 형성하기 위해 전기장을 생성할 수 있다.
제1 조립 패턴(311), 제2 조립 패턴(312), 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324)은 기판(310)과 격벽 사이에 배치될 수 있다.
제1 조립 배선(313)과 제2 조립 배선(324)은 제1 방향을 따라 배치될 수 있다. 제1 조립 패턴(311)과 제2 조립 패턴(312)은 제2 방향을 따라 배치될 수 있다. 제1 조립 패턴(311)은 제1 조립 배선(313)에 연결되고, 제2 조립 패턴(312)은 제2 조립 배선(324)에 연결될 수 있다. 예컨대, 제1 조립 패턴(311)은 제1 조립 배선(313)으로부터 제2 방향을 따라 연장되고, 제2 조립 패턴(312)은 제2 조립 배선(324)으로부터 제1 조립 패턴(311)을 향해 연장될 수 있다. 예컨대, 제1 조립 패턴(311)과 제2 조립 패턴(312)은 서로 마주보도록 배치될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.
제1 전압과 제2 전압이 제1 조립 패턴(311)과 제2 조립 패턴(312)에 교번적으로 공급될 수 있다. 예컨대, 제1 주기동안 제1 전압이 제1 조립 배선(313)을 경유하여 제1 조립 패턴(311)에 공급되고, 제2 전압이 제2 조립 배선(324)을 경유하여 제2 조립 패턴(312)에 공급될 수 있다. 예컨대, 제2 주기동안 제2 전압이 제1 조립 배선(313)을 경유하여 제1 조립 패턴(311)에 공급되고, 제1 전압이 제2 조립 배선(324)을 경유하여 제2 조립 패턴(312)에 공급될 수 있다. 예컨대, 제1 전압은 (+) 전압이고, 제2 전압은 (-) 전압일 수 있다. 예컨대, 제1 전압은 (+) 전압 또는 (-) 전압이고, 제2 전압은 그라운드 접지될 수 있다.
제1 전압과 제2 전압에 의해 제1 조립 패턴(311)과 제2 조립 패턴(312) 사이에 전기장이 생성될 수 있다. 유전영동힘이 전기장, 반도체 발광 소자의 반경, 절연층(315)의 유전율 등에 의해 결정될 수 있다. 이에 따라, 제1 조립 패턴(311)과 제2 조립 패턴(312) 사이에 유전영동힘이 형성될 수 있다.
도 9에 도시한 바와 같이, 제1 조립 배선(313)과 제2 조립 배선(324)이 제2 방향을 따라 교대로 배치되므로, 조립 영역(310a)뿐만 아니라 비조립 영역(310b)에서도 유전영동힘이 형성될 수 있다.
통상, 유전영동힘이 조립 영역(310a)에서 격벽 상면이나 그 위에까지 형성되도록 격벽의 두께(t1, t2, t3)가 결정된다.
도 2에 도시한 바와 같이, 출원인의 비공개 기술에 따르면, 조립 영역과 비조립 영역에서 격벽(3)의 두께가 동일한 경우, 조립 영역뿐만 아니라 비조립 영역에서 격벽(3) 위에 유전영동힘이 형성된다. 이에 따라, 적색 반도체 발광 소자(5a)의 조립 공정시, 적색 반도체 발광 소자(5a)가 적색 조립 홀(3a)에 조립될 뿐만 아니라 비조립 영역의 격벽(3)의 상면에도 부착된다.
이와 같이, 비조립 영역의 격벽(3)의 상면에 적색 반도체 발광 소자(5a)가 부착되는 경우, 다음과 같은 문제가 발생할 수 있다.
격벽(3) 상면에 적색 LED(5a)가 부착되는 경우, 격벽(3) 상의 적색 LED(5a)에 의해 다른 LED, 즉 녹색 LED(5b)나 청색 LED의 유동이 방해되어 다른 LED가 해당 조립 홀(3b)에 조립되지 못하는 경우가 빈번해져, 조립율이 감소되는 문제가 있다.
또한, 격벽(3) 상에 부착되는 LED(5a, 5b)는 버려지는 것으로서, 재료비가 상승되는 문제가 있다.
또한, 녹색 LED에 대한 조립 공정시, 녹색 조립 홀(5b)에 격벽(3) 상에 부착된 적색 LED(5a)가 조립되는 조립 에러가 발생되는 문제가 있다.
또한, 격벽(3) 상에 부착된 적색 LED(5a)애 의해 전극 배선 연결 공정시 전극 배선의 단선과 같은 연결 불량이 발생되는 문제가 있다.
아울러, 격벽(3) 상에 부착된 LED(5a, 5b)를 제거하는 공정이 추가되는 경우, 제조 공정이 복잡해지고 제조 공정 시간이 늘어나 생산성 저하가 야기되는 문제가 있다. 설사 격벽(3) 상에 부착된 LED(5a, 5b)를 제거하는 공정이 추가된다 하더라도 격벽(3) 상에 부착된 LED(5a, 5b)가 완벽하게 제거하는 것은 사실 상 불가능하여 여전히 다양한 문제가 야기될 수 있다.
제1 실시예에 따르면, 비조립 영역(310b) 상의 격벽(이하, 제2 격벽(322)이라 함)의 두께(t2, t3)가 조립 영역(310a) 상의 격벽(이하, 제1 격벽(321)이라 함)의 두께(t1)보다 크도록 하여, 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않도록 함으로써, 상술한 문제가 해결될 수 있다. 즉, 반도체 발광 소자가 조립 영역(310a)의 격벽에 형성된 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)에만 배치되고, 그 외 영역, 즉 비조립 영역(310b)에는 위치되지 않도록 할 수 있다. 비조립 영역(310b) 상의 제2 격벽(322)의 두께(t2, t3)가 커, 유전영동힘이 제2 격벽(322) 위에 미치지 않아, 유전영동힘에 의해 고정되는 반도체 발광 소자가 제2 격벽(322)의 상면에 부착되지 않을 수 있다.
격벽은 조립 영역(310a) 상에 배치되고, 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)을 갖는 제1 격벽(321)과 비조립 영역(310b) 상에 배치되는 제2 격벽(322)를 포함할 수 있다.
예컨대, 제2 격벽(322)의 두께(t2, t3)는 제1 격벽(321)의 두께(t1)보다 클 수 있다.
제1 격벽(321) 및 제2 격벽(322) 아래에 제1 조립 패턴(311), 제1 조립 배선(313), 제2 조립 패턴(312) 및 제2 조립 배선(324)이 배치될 수 있다. 예컨대, 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312)은 조립 영역(310a)에 해당하는 제1 격벽(321) 아래에 배치되고, 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324)은 비조립 영역(310b)에 해당하는 제2 격벽(322) 아래에 배치될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.
예컨대, 제1 격벽(321) 및 제2 격벽(322) 각각의 상면이 동일한 평면 상에 위치되고, 제2 격벽(322)의 두께(t2, t3)는 제1 격벽(321)의 두께(t1)보다 큰 경우, 제1 격벽(321) 및 제2 격벽(322)의 하면은 서로 상이하게 위치될 수 있다.
예컨대, 제1 격벽(321) 및 제2 격벽(322)은 동일한 평면 상에 위치되지 않을 수 있다. 즉, 제2 격벽(322)의 하면은 제1 격벽(321)의 하면으로부터 아래로 돌출될 수 있다. 제1 격벽(321) 및 제2 격벽(322) 아래에 제1 조립 패턴(311), 제1 조립 배선(313), 제2 조립 패턴(312) 및 제2 조립 배선(324)이 배치되므로, 비조립 영역(310b)에 해당하는 제2 격벽(322) 아래에 배치된 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324)은 조립 영역(310a)에 해당하는 제1 격벽(321) 아래에 배치된 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312)보다 더 아래에 위치될 수 있다.
따라서, 도 11에 도시한 바와 같이, 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)에 의해 노출된 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312)에 의해 형성된 유전영동힘은 제1 격벽(321) 위에도 영향을 미치므로, 조립 영역(310a)에 해당하는 제1 격벽(321) 위에 위치된 반도체 발광 소자는 해당 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)로 당겨져 해당 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)에 조립될 수 있다. 이에 반해, 제2 조립 배선(324) 및 제2 조립 배선(324)에 의해 형성된 유전영동힘은 제2 격벽(322)의 두꺼움으로 인해 제2 격벽(322) 위에 영향을 미치지 않으므로, 제2 격벽(322) 상에 위치된 반도체 발광 소자는 제2 격벽(322)의 상면에 부착되지 않고 자유롭게 이동 가능하다.
한편, 도 12는 4.1㎛의 높이(또는 두께)를 갖는 칩이 조립 홀에 조립될 때, 칩의 에지와 컵 에지 각각에 대한 전기장 세기를 보여주는 그래프이다.
도 12에 도시한 바와 같이, 격벽의 높이(또는 두께)에 따라 컵 에지 및 칩 에지의 전기장 세기가 상이함을 알 수 있다. 컵은 격벽을 나타내고, 칩은 반도체 발광 소자를 나타낼 수 있다.
컵의 높이가 2㎛ 이상에서 컵 에지가 2 이하의 전기장 세기를 보이고 있는데 반해, 컵의 높이가 3㎛ 내지 4.5㎛에서 칩 에지가 2 이하의 전기장 세기를 보이고 있다. 따라서, 도 12로부터, 칩 높이 대비 ±20%의 범위에서 조립 영역(310a)에 해당하는 제1 격벽(321)의 높이(또는 두께)가 결정될 수 있다. 이와 같이 결정된 제1 격벽(321)의 높이에서 컵 에지의 전기장 세기와 칩 에지의 전기장 세기가 2 이하로 낮아, 다른 칩(반도체 발광 소자)에 조립 홀에 조립된 칩에 중복으로 부착되지 않을 수 있다.
한편, 제2 격벽(322)은 제2-1 격벽(322_1) 및 제2-2 격벽(322_2)를 포함할 수 있다. 제2-1 격벽(322_1)은 제2 격벽(322)으로 명명되고, 제2-2 격벽(322_2)는 제3 격벽으로 명명될 수도 있다.
제2-1 격벽(322_1)은 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324) 상에 배치될 수 있다. 제2-2 격벽(322_2)은 기판(310) 상에 배치될 수 있다. 즉, 제2-2 격벽(322_2)은 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324) 각각과 수직으로 중첩되지 않을 수 있다.
제1 격벽(321), 제2-1 격벽(322_1) 및 제2-2 격벽(322_2) 각각의 상면은 동일한 평면 상에 위치되고, 제1 격벽(321), 제2-1 격벽(322_1) 및 제2-2 격벽(322_2) 각각의 하면은 동일한 평면 상에 위치되지 않을 수 있다. 즉, 제1 격벽(321), 제2-1 격벽(322_1) 및 제2-2 격벽(322_2) 각각의 하면은 서로 상이하게 위치될 수 있다.
예컨대, 제2-1 격벽(322_1)의 두께(t2)는 제1 격벽(321)의 두께(t1)보다 클 수 있다. 제1 격벽(321), 제2-1 격벽(322_1) 및 제2-2 격벽(322_2) 각각의 상면이 동일한 평면 상에 위치되는 경우, 제2-1 격벽(322_1)은 제1 격벽(321)의 하면으로부터 아래로 돌출될 수 있다. 따라서, 제2-1 격벽(322_1) 아래에 배치된 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324)은 제1 격벽(321) 아래에 배치된 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312)보다 더 아래에 위치될 수 있다. 이러한 경우, 제1 조립 패턴(311)과 제2 조립 패턴(312) 사이 그리고 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324) 사이 각각에서 유전영동힘이 형성되더라도, 이 유전영동힘이 조립 영역(310a)에 해당하는 제1 격벽(321) 위에는 영향을 미칠 수 있다. 하지만, 제1 격벽(321)의 두께(t1)보다 큰 두께(t2)를 갖는 제2-1 격벽(322_1)으로 인해, 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324)이 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312)보다 더 아래에 위치되므로, 제2-1 격벽(322_1) 위에 영향을 미치지 않는다. 따라서, 제1 격벽(321)에 형성된 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)에 반도체 발광 소자가 조립될 수 있지만, 제2 격벽(322)의 상면에는 반도체 발광 소자가 부착되지 않는다.
예컨대, 제2-2 격벽(322_2)의 두께(t3)는 제2-1 격벽(322_1)의 두께(t2)보다 클 수 있다. 제1 격벽(321), 제2-1 격벽(322_1) 및 제2-2 격벽(322_2) 각각의 상면이 동일한 평면 상에 위치되는 경우, 제2-2 격벽(322_2)은 제2-1 격벽(322_1)의 하면으로부터 아래로 돌출될 수 있다. 따라서, 제2-2 격벽(322_2) 아래에는 제1 조립 패턴(311), 제2 조립 패턴(312), 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324)이 배치되지 않으므로, 제2-2 격벽(322_2) 아래, 제2 격벽(322) 내부 그리고 제2-2 격벽(322_2) 위에 유전영동힘이 형성되지 않으므로, 제2-2 격벽(322_2)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않는다.
한편, 제2-1 격벽(322_1)의 두께(t2)는 반도체 발광 소자의 두께(t11)보다 클 수 있다. 예컨대, 제2-1 격벽(322_1)의 두께(t2)는 반도체 발광 소자의 두께(t11)의 1. 2배 이상일 수 있다. 예컨대, 제2-1 격벽(322_1)의 두께(t2)는 반도체 발광 소자의 두께(t11)의 1.5배 이상일 수 있다.
예컨대, 제2-1 격벽(322_1)의 두께(t2)는 제1 격벽(321)의 두께(t1)의 1.2배 이상일 수 있다. 예컨대, 제2-1 격벽(322_1)의 두께(t2)는 제1 격벽(321)의 두께(t1)의 1.5배 이상일 수 있다.
정리하면, 제1 실시예에 따르면, 제1 격벽(321)의 두께(t1)보다 더 두꺼운 두께(t2, t3)를 갖도록 제2 격벽(322), 특히 제2-1 격벽(322_1)을 형성함으로써, 제1 격벽(321) 아래에 배치된 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312)에 의해 형성된 유전영동힘이 제1 격벽(321) 상에 영향을 미쳐, 제1 격벽(321) 상에 위치된 반도체 발광 소자가 제1 격벽(321)에 형성된 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)에 용이하게 조립될 수 있다. 이에 반해, 제2-1 격벽(322_1) 아래에 배치된 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324)에 의해 형성된 유전영동힘은 제2 격벽(322)의 두꺼움으로 인해 제2 격벽(322) 위에 영향을 미치지 않아 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않을 수 있다. 따라서, 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않아 다음과 같은 기술적 장점을 가질 수 있다.
제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않으므로, 제2 격벽(322) 상의 반도체 발광 소자에 의해 다른 반도체 발광 소자의 유동이 방해되지 않아 다른 반도체 발광 소자가 해당 조립 홀에 조립될 수 있어, 조립율이 향상될 수 있다.
또한, 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않아 반도체 발광 소자가 제2 격벽(322) 상에 부착되어 버려지지 않으므로, 재료비를 절감할 수 있다.
또한, 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않아 다른 반도체 발광 소자의 조립 공정시 제2 격벽(322) 상면에 부착되었던 반도체 발광 소자가 다른 반도체 발광 소자가 조립될 조립 홀에 조립되는 조립 에러를 방지할 수 있다.
또한, 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않아 전극 배선 연결 공정시 전극 배선의 단선과 같은 연결 불량을 방지할 수 있다.
아울러, 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않아 제2 격벽(322) 상면에 부착된 반도체 발광 소자를 제거하는 추가 공정이 필요하지 않아, 제조 공정이 단순하고 제조 공정 시간이 단축되어 생산성이 향상될 수 있다.
한편, 제1 실시예에 따른 디스플레이 장치(300)는 돌출부(330)를 포함할 수 있다.
돌출부(330)는 조립 영역(310a)에 배치될 수 있다. 예컨대, 돌출부(330)는 조립 영역(310a)에 해당하는 제1 격벽(321) 아래에 배치될 수 있다. 예컨대, 돌출부(330)는 제1 격벽(321)에 형성된 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B) 아래에 배치될 수 있다 예컨대, 돌출부(330)는 제1 격벽(321) 아래의 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312) 아래에 배치될 수 있다.
예컨대, 돌출부(330)는 조립 영역(310a)에서 기판(310)과 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312) 사이에 배치될 수 있다. 예컨대, 돌출부(330)는 조립 영역(310a)에서 기판(310)과 제1 조립 패턴(311) 사이에 배치되고, 기판(310)과 제2 조립 패턴(312) 사이에 배치될 수 있다. 예컨대, 돌출부(330)는 조립 영역(310a)에서 제1 조립 패턴(311)과 수직으로 중첩되고, 제2 조립 패턴(312)과 수직으로 중첩될 수 있다.
예컨대, 돌출부(330)는 아일랜드 패턴일 수 있다. 즉, 돌출부(330)는 복수의 서브 화소(PX1, PX2, PX3) 각각의 조립 영역(310a)에 위치될 수 있다. 따라서, 돌출부(330)는 서로 이격된 패턴일 수 있다. 예컨대, 제1 서브 화소(PX1)의 제1 조립 영역에 제1 돌출부가 위치되고, 제2 서브 화소(PX2)의 제2 조립 영역에 제2 돌출부가 위치되며, 제3 서브 화소(PX3)의 제3 조립 영역에 제3 돌출부가 위치될 수 있다.
제2 격벽(322)의 두께(t2, t3)와 제1 격벽(321)의 두께(t1) 사이의 차이 값은 돌출부(330)의 두께(t21) 이상일 수 있다. 예컨대, 제2 격벽(322)의 두께(t2, t3)와 제1 격벽(321)의 두께(t1) 사이의 차이 값은 돌출부(330)의 두께(t21)와 동일할 수 있다. 예컨대, 두께(t2, t3)와 제1 격벽(321)의 두께(t1) 사이의 차이 값은 돌출부(330)의 두께(t21)보다 클 수 있다. 조립 영역(310a)에 해당하는 제1 격벽(321) 아래에 돌출부(330)가 배치되지만, 비조립 영역(310b)에 해당하는 제2 격벽(322) 아래에 돌출부(330)가 배치되지 않아, 제1 격벽(321)의 두께(t1)와 제2 격벽(322)의 두께(t2, t3)가 달라질 수 있다. 즉, 제1 격벽(321) 및 제2 격벽(322) 각각의 상면이 동일한 평면 상에 위치되는 경우, 비조립 영역(310b)에 해당하는 제2 격벽(322) 아래에 돌출부(330)가 배치되지 않고 제1 격벽(321) 및 제2 격벽(322) 각각의 하면은 동일한 평면 상에 위치되지 않음으로써, 제1 격벽(321)의 두께(t1)와 제2 격벽(322)의 두께(t2, t3)가 달라질 수 있다.
예컨대, 돌출부(330)는 절연 부재(330)일 수 있다. 즉, 돌출부(330)는 무기 물질이나 유기 물질로 이루어질 수 있다. 절연 부재(330)는 기판(310)과 제1 격벽(321) 사이에 배치될 수 있다. 예컨대, 유전영동힘을 증가시키기 위해 절연 부재(330)는 유전율을 갖는 재질로 형성될 수 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.
도 9에서 도시한 바와 같이, 돌출부(330)는 위에서 보았을 때 사각형일 수 있지만, 원형, 타원형 등과 같이 다양한 형상이 가능하다. 예컨대, 돌출부(330)의 사이즈(또는 면적)는 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)의 사이즈(또는 면적)보다 크기만 하면, 돌출부(330)가 어떤 형상을 갖든지 간에 무방하다.
도면에는 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312) 각각의 하면이 절연 부재(330)의 상면과 접하는 것으로 도시되고 있지만, 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312)과 절연 부재 사이에 적어도 하나 이상의 층이 배치될 수도 있다.
돌출부(330)의 폭(w2)는 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)의 폭(w1) 이상일 수 있다. 예컨대, 돌출부(330)의 폭(w2)는 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)의 폭(w1)과 동일할 수 있다. 예컨대, 돌출부(330)의 폭(w2)는 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)의 폭(w1)보다 클 수 있다. 돌출부(330)의 폭(w2)이 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)의 폭(w1) 이상일 때, 제2 격벽(322)의 두께(t2, t3)가 제1 격벽(321)의 두께(t1)보다 커질 수 있다.
한편, 반도체 발광 소자는 제1 방향을 따라 제1 조립 배선(313)과 제2 조립 배선(324) 사이의 복수의 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)에 배치된 동일한 컬러 광을 생성하는 복수의 반도체 발광 소자를 포함할 수 있다. 이러한 경우, 돌출부(330)는 동일한 컬러 광을 생성하는 복수의 반도체 발광 소자 각각의 아래에 배치될 수 있다. 복수의 반도체 발광 소자가 적색 반도체 발광 소자인 경우, 돌출부(330)가 복수의 적색 반도체 발광 소자 각각의 아래에 배치될 수 있다.
도면에는 제1 격벽(321) 제2 격벽(322) 각각의 상면이 동일한 평면 상에 위치되고, 제1 격벽(321) 제2 격벽(322) 각각의 하면이 동일한 평면 상에 위치되지 않는 것으로 도시되고 있지만, 이와 반대가 될 수도 있다. 즉, 제1 격벽(321) 제2 격벽(322) 각각의 상면이 동일한 평면 상에 위치되지 않고, 제1 격벽(321) 제2 격벽(322) 각각의 하면이 동일한 평면 상에 위치될 수 있다.
[제2 실시예]
도 13은 제2 실시예에 따른 디스플레이 장치를 도시한 단면도이다.
제2 실시예는 기판(310)의 일부가 돌출부(340)로 사용되는 것을 제외하고 제1 실시예와 동일하다. 제2 실시예에서 제1 실시예와 동일한 형상, 구조 및/또는 기능을 갖는 구성 요소에 대해 동일한 도면 부호를 부여하고 상세한 설명을 생략한다.
도 13을 참조하면, 제2 실시예에 따른 디스플레이 장치(300A)는 기판(310), 돌출부(340), 제1 조립 패턴(311), 제2 조립 패턴(312), 격벽(321, 322) 및 반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B)를 포함할 수 있다. 제2 실시예에 따른 디스플레이 장치(300A)는 이보다 더 많은 구성 요소를 포함할 수도 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.
기판(310)은 복수의 조립 영역(310a)과 비조립 영역(310b)을 가질 수 있다.
돌출부(340)는 복수의 조립 영역(310a) 각각에 배치될 수 있다. 돌출부(340)는 기판(310)과 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312) 사이에 배치될 수 있다. 예컨대, 돌출부(340)는 기판(310)과 제1 조립 패턴(311) 사이에 배치될 수 있다. 예컨대, 돌출부(340)는 기판(310)과 제2 조립 패턴(312) 사이에 배치될 수 있다.
돌출부(340)는 기판(310)의 일부일 수 있다. 예컨대, 돌출부(340)는 기판(310)의 상면으로부터 위로 돌출될 수 있다. 예컨대, 돌출부(340)는 기판(310)의 상면으로부터 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B) 또는 반도체 발광 소자를 향해 돌출될 수 있다. 이러한 경우, 별도의 돌출부가 구비될 필요가 없어, 구조가 단순하고 비용이 절감될 수 있다.
돌출부(340)에 의해 제1 조립 패턴(311)은 제1 조립 배선(313)보다 위로 높게 위치되고, 제2 조립 패턴(312)은 제2 조립 배선(324)보다 위로 높게 위치될 수 있다.
격벽은 제1 조립 패턴(311), 제2 조립 패턴(312), 제1 조립 배선(313), 제2 조립 배선(324) 및 기판(310) 상에 배치될 수 있다.
격벽은 제1 격벽(321) 및 제2 격벽(322)을 가질 수 있다. 제2 격벽(322)은 제2-1 격벽(322_1) 및 제2-2 격벽(322_2)을 가질 수 있다. 제2-1 격벽(322_1)은 제2 격벽(322)으로 명명되고, 제2-2 격벽(322_2)는 제3 격벽으로 명명될 수도 있다.
조립 영역(310a)에 배치된 제1 격벽(321)에 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)이 형성되고, 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)에 반도체 발광 소자가 배치될 수 있다.
예컨대, 조립 영역(310a)에 제1 격벽(321)이 배치되고, 비조립 영역(310b)에 제2 격벽(322)이 배치될 수 있다. 예컨대, 제1 격벽(321) 아래에 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312)이 배치될 수 있다. 예컨대, 제2 격벽(322), 특히 제2-1 격벽(322_1) 아래에 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324)이 배치될 수 있다.
제2 격벽(322)이 두께(t2, t3)와 제1 격벽(321)의 두께(t1) 사이의 차이 값은 돌출부(340)의 두께(t21) 이상일 수 있다. 예컨대, 제2-1 격벽(322_1)의 두께(t2)와 제1 격벽(321)의 두께(t1) 사이의 차이 값은 돌출부(340)의 두께(t21) 이상일 수 있다. 예컨대, 제2-1 격벽(322_1)의 두께(t2)와 제1 격벽(321)의 두께(t1) 사이의 차이 값은 돌출부(340)의 두께(t21)와 동일할 수 있다. 예컨대, 제2-1 격벽(322_1)의 두께(t2)와 제1 격벽(321)의 두께(t1) 사이의 차이 값은 돌출부(340)의 두께(t21)보다 클 수 있다.
제1 격벽(321), 제2-1 격벽(322_1) 및 제2-2 격벽(322_2) 각각의 상면이 수평 면 상에 위치되는 경우, 돌출부(340)의 배치 여부에 따라 제1 격벽(321), 제2-1 격벽(322_1) 및 제2-2 격벽(322_2) 각각의 두께(t1, t2, t3)가 상이할 수 있다. 예컨대, 제1 격벽(321) 아래에 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312) 그리고 돌출부(340)가 배치되므로, 제1 격벽(321)의 두께(t1)은 제2-1 격벽(322_1)의 두께(t2) 또는 제2-2 격벽(322_2)의 두께(t3)보다 작을 수 있다. 예컨대, 제2-1 격벽(322_1) 아래에 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324)이 배치되므로, 제2-1 격벽(322_1)의 두께(t2)는 제1 격벽(321)의 두께(t1)보다 크고, 제2-2 격벽(322_2)의 두께(t3)보다 작을 수 있다. 예컨대, 제2-2 격벽(322_2) 아래에 제1 조립 패턴(311), 제2 조립 패턴(312), 제1 조립 배선(313), 제2 조립 배선(324) 및/또는 돌출부(340)가 배치되지 않으므로, 제2-2 격벽(322_2)의 두께(t3)는 제1 격벽(321)의 두께(t1)나 제2-1 격벽(322_1)의 두께(t2)보다 클 수 있다.
예컨대, 도 14에 도시한 바와 같이, 조립 영역(310a)에서의 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312)에 의해 형성된 유전영동힘이 제1 격벽(321) 위에 영향을 미치도록 설계되어, 유전영동힘에 의해 제1 격벽(321) 위에 반도체 발광 소자가 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B) 안으로 당겨져 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)에 조립될 수 있다.
예컨대, 제2-1 격벽(322_1)의 두께(t2)가 제1 격벽(321)의 두께(t1)보다 크므로, 비조립 영역(310b)에 배치된 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324)에 의해 형성된 유전영동힘이 제2 격벽(322) 위에 미치지 않게 된다. 따라서, 제2 격벽(322) 상에 위치된 반도체 발광 소자가 유전영동힘에 의해 고정되지 않으므로, 제2 격벽(322)의 상면에 부착되지 않는다.
예컨대, 제2-2 격벽(322_2)의 두께(t3)가 제1 격벽(321)의 두께(t1)보다 클뿐만 아니라 제1 조립 패턴(311), 제2 조립 패턴(312), 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324)이 배치되지 않아 유전영동힘이 형성되지 않아, 제2-2 격벽(322_2) 상에 반도체 발광 소자가 부착되지 않는다.
따라서, 기판(310)의 일부를 돌출부(340)로 사용하여 제1 격벽(321)의 두께(t1)보다 제2 격벽(322)의 두께(t2, t3)가 크도록 함으로써, 다음과 같은 기술적 장점을 가질 수 있다.
제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않으므로, 제2 격벽(322) 상의 반도체 발광 소자에 의해 다른 반도체 발광 소자의 유동이 방해되지 않아 다른 반도체 발광 소자가 해당 조립 홀에 조립될 수 있어, 조립율이 향상될 수 있다.
또한, 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않아 반도체 발광 소자가 제2 격벽(322) 상에 부착되어 버려지지 않으므로, 재료비를 절감할 수 있다.
또한, 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않아 다른 반도체 발광 소자의 조립 공정시 제2 격벽(322) 상면에 부착되었던 반도체 발광 소자가 다른 반도체 발광 소자가 조립될 조립 홀에 조립되는 조립 에러를 방지할 수 있다.
또한, 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않아 전극 배선 연결 공정시 전극 배선의 단선과 같은 연결 불량을 방지할 수 있다.
아울러, 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않아 제2 격벽(322) 상면에 부착된 반도체 발광 소자를 제거하는 추가 공정이 필요하지 않아, 제조 공정이 단순하고 제조 공정 시간이 단축되어 생산성이 향상될 수 있다.
한편, 도면에는 돌출부(340)가 제1 조립 패턴(311)과 제2 조립 패턴(312) 사이의 이격 공간 아래에도 배치되는 것으로 도시되고 있지만, 돌출부(340)는 제1 조립 패턴(311)과 제2 조립 패턴(312) 사이이 이격 공간 아래에 배치되지 않을 수 있다. 즉, 돌출부(340)는 제1 조립 패턴(311) 아래에 배치되는 제1 돌출부와 제2 조립 패턴(312) 아래에 배치되는 제2 돌출부를 포함할 수 있다. 이때, 제1 돌출부와 제2 돌출부는 수평으로 서로 이격될 수 있다.
[제3 실시예]
도 15는 제3 실시예에 따른 디스플레이 장치를 도시한 단면도이다.
제3 실시예는 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312)이 돌출부(350)로 사용되는 것을 제외하고 제1 실시예와 동일하다. 제3 실시예에서 제1 실시예 또는 제2 실시예와 동일한 형상, 구조 및/또는 기능을 갖는 구성 요소에 대해 동일한 도면 부호를 부여하고 상세한 설명을 생략한다.
도 15를을 참조하면, 제3 실시예에 따른 디스플레이 장치(300B)는 기판(310), 돌출부(350), 제1 조립 패턴(311), 제2 조립 패턴(312), 격벽(321, 322) 및 반도체 발광 소자(150_R, 150_G, 150_B)를 포함할 수 있다. 제3 실시예에 따른 디스플레이 장치(300B)는 이보다 더 많은 구성 요소를 포함할 수도 있지만, 이에 대해서는 한정하지 않는다.
기판(310)은 복수의 조립 영역(310a)과 비조립 영역(310b)을 가질 수 있다.
돌출부(350)는 복수의 조립 영역(310a) 각각에 배치될 수 있다. 돌출부(350)는 기판(310)과 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312)일 수 있다. 예컨대, 제1 조립 패턴(311)은 제1 조립 배선(313)의 두께(t31)보다 큰 두께(t32)를 가질 수 있다. 예컨대, 제2 조립 패턴(312)은 제2 조립 배선(324)의 두께(t41)보다 큰 두께(t42)를 가질 수 있다.
따라서, 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312)은 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)에 반도체 발광 소자를 조립하도록 유전영동힘을 형성하는 부재로 사용할 수 있다. 또한, 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312)은 제1 격벽(321)의 두께(t1)와 제2 격벽(322)의 두께(t2, t3)를 다르게 하는 돌출부(350)로 사용할 수 있다. 이러한 경우, 별도의 돌출부가 구비될 필요가 없어, 구조가 단순하고 비용이 절감될 수 있다.
돌출부(350)에 의해 제1 조립 패턴(311)은 제1 조립 배선(313)보다 위로 높게 위치되고, 제2 조립 패턴(312)은 제2 조립 배선(324)보다 위로 높게 위치될 수 있다.
격벽은 제1 조립 패턴(311), 제2 조립 패턴(312), 제1 조립 배선(313), 제2 조립 배선(324) 및 기판(310) 상에 배치될 수 있다.
격벽은 제1 격벽(321) 및 제2 격벽(322)을 가질 수 있다. 제2 격벽(322)은 제2-1 격벽(322_1) 및 제2-2 격벽(322_2)을 가질 수 있다. 제2-1 격벽(322_1)은 제2 격벽(322)으로 명명되고, 제2-2 격벽(322_2)는 제3 격벽으로 명명될 수도 있다.
조립 영역(310a)에 배치된 제1 격벽(321)에 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)이 형성되고, 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)에 반도체 발광 소자가 배치될 수 있다.
예컨대, 조립 영역(310a)에 제1 격벽(321)이 배치되고, 비조립 영역(310b)에 제2 격벽(322)이 배치될 수 있다. 예컨대, 제1 격벽(321) 아래에 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312)이 배치될 수 있다. 예컨대, 제2 격벽(322), 특히 제2-1 격벽(322_1) 아래에 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324)이 배치될 수 있다.
제2 격벽(322)이 두께(t2, t3)와 제1 격벽(321)의 두께(t1) 사이의 차이 값은 제1 조립 패턴(311)의 두께(t31)와 제1 조립 배선(313)의 두께(t32) 사이의 차이 값 이상이거나 제2 조립 패턴(312)의 두께(t41)와 제2 조립 배선(324)의 두께(t42) 사이의 차이 값 이상일 수 있다.
제1 격벽(321), 제2-1 격벽(322_1) 및 제2-2 격벽(322_2) 각각의 상면이 수평 면 상에 위치되는 경우, 돌출부(350)의 배치 여부에 따라 제1 격벽(321), 제2-1 격벽(322_1) 및 제2-2 격벽(322_2) 각각의 두께(t1, t2, t3)가 상이할 수 있다. 예컨대, 제1 격벽(321) 아래에 돌출부(350)로 사용되는 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312)이 배치되므로, 제1 격벽(321)의 두께(t1)은 제2-1 격벽(322_1)의 두께(t2) 또는 제2-2 격벽(322_2)의 두께(t3)보다 작을 수 있다. 예컨대, 제2-1 격벽(322_1) 아래에 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324)이 배치되므로, 제2-1 격벽(322_1)의 두께(t2)는 제1 격벽(321)의 두께(t1)보다 크고, 제2-2 격벽(322_2)의 두께(t3)보다 작을 수 있다. 예컨대, 제2-2 격벽(322_2) 아래에 제1 조립 패턴(311), 제2 조립 패턴(312), 제1 조립 배선(313), 제2 조립 배선(324) 및/또는 돌출부(350)가 배치되지 않으므로, 제2-2 격벽(322_2)의 두께(t3)는 제1 격벽(321)의 두께(t1)나 제2-1 격벽(322_1)의 두께(t2)보다 클 수 있다.
예컨대, 도 16에 도시한 바와 같이, 조립 영역(310a)에서의 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312)에 의해 형성된 유전영동힘이 제1 격벽(321) 위에 영향을 미치도록 설계되어, 유전영동힘에 의해 제1 격벽(321) 위에 반도체 발광 소자가 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B) 안으로 당겨져 조립 홀(325_R, 325_G, 325_B)에 조립될 수 있다.
예컨대, 제2-1 격벽(322_1)의 두께(t2)가 제1 격벽(321)의 두께(t1)보다 크므로, 비조립 영역(310b)에 배치된 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324)에 의해 형성된 유전영동힘이 제2 격벽(322) 위에 미치지 않게 된다. 따라서, 제2 격벽(322) 상에 위치된 반도체 발광 소자가 유전영동힘에 의해 고정되지 않으므로, 제2 격벽(322)의 상면에 부착되지 않는다.
예컨대, 제2-2 격벽(322_2)의 두께(t3)가 제1 격벽(321)의 두께(t1)보다 클뿐만 아니라 제1 조립 패턴(311), 제2 조립 패턴(312), 제1 조립 배선(313) 및 제2 조립 배선(324)이 배치되지 않아 유전영동힘이 형성되지 않아, 제2-2 격벽(322_2) 상에 반도체 발광 소자가 부착되지 않는다.
따라서, 제1 조립 패턴(311) 및 제2 조립 패턴(312)을 돌출부(350)로 사용하여 제1 격벽(321)의 두께(t1)보다 제2 격벽(322)의 두께(t2, t3)가 크도록 함으로써, 다음과 같은 기술적 장점을 가질 수 있다.
제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않으므로, 제2 격벽(322) 상의 반도체 발광 소자에 의해 다른 반도체 발광 소자의 유동이 방해되지 않아 다른 반도체 발광 소자가 해당 조립 홀에 조립될 수 있어, 조립율이 향상될 수 있다.
또한, 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않아 반도체 발광 소자가 제2 격벽(322) 상에 부착되어 버려지지 않으므로, 재료비를 절감할 수 있다.
또한, 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않아 다른 반도체 발광 소자의 조립 공정시 제2 격벽(322) 상면에 부착되었던 반도체 발광 소자가 다른 반도체 발광 소자가 조립될 조립 홀에 조립되는 조립 에러를 방지할 수 있다.
또한, 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않아 전극 배선 연결 공정시 전극 배선의 단선과 같은 연결 불량을 방지할 수 있다.
아울러, 제2 격벽(322)의 상면에 반도체 발광 소자가 부착되지 않아 제2 격벽(322) 상면에 부착된 반도체 발광 소자를 제거하는 추가 공정이 필요하지 않아, 제조 공정이 단순하고 제조 공정 시간이 단축되어 생산성이 향상될 수 있다.
상기의 상세한 설명은 모든 면에서 제한적으로 해석되어서는 아니되고 예시적인 것으로 고려되어야 한다. 실시예의 범위는 첨부된 청구항의 합리적 해석에 의해 결정되어야 하고, 실시예의 등가적 범위 내에서의 모든 변경은 실시예의 범위에 포함된다.
실시예는 영상이나 정보를 디스플레이하는 디스플레이 분야에 채택될 수 있다.
실시예는 반도체 발광 소자를 이용하여 영상이나 정보를 디스플레이하는 디스플레이 분야에 채택될 수 있다. 반도체 발광 소자는 마이크로급 반도체 발광 소자나 나노급 반도체 발광 소자일 수 있다.

Claims (19)

  1. 복수의 조립 영역과 비 조립 영역을 갖는 기판;
    상기 복수의 조립 영역 상에 배치되고, 조립 홀을 갖는 제1 격벽;
    상기 비 조립 영역 상에 배치되는 제2 격벽; 및
    상기 조립 홀에 반도체 발광 소자를 포함하고,
    상기 제2 격벽의 두께가 상기 제1 격벽의 두께보다 큰
    디스플레이 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 복수의 조립 영역에 배치되는 돌출부를 포함하는
    디스플레이 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 돌출부는 서로 이격된 패턴인
    디스플레이 장치.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 제2 격벽이 두께와 상기 제1 격벽의 두께 사이의 차이 값은 상기 돌출부의 두께 이상인
    디스플레이 장치.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 돌출는 절연 부재인
    디스플레이 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 절연 부재는 상기 기판과 상기 제1 격벽 사이에 배치되는
    디스플레이 장치.
  7. 제2항에 있어서,
    상기 돌출부는 상기 기판의 일부인
    디스플레이 장치.
  8. 제2항에 있어서,
    상기 기판 상에 제1 조립 패턴;
    상기 제1 조립 패턴에 연결되고 제1 방향을 따라 배치된 제1 조립 배선;
    상기 기판 상에 제2 방향을 따라 제1 조립 패턴과 마주보는 제2 조립 패턴; 및
    상기 제2 조립 패턴에 연결되고 상기 제1 방향을 따라 배치된 제2 조립 배선을 포함하는
    디스플레이 장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 반도체 발광 소자는 상기 제1 방향을 따라 상기 제1 조립 배선과 상기 제2 조립 배선 사이의 복수의 조립 홀에 배치된 복수의 반도체 발광 소자를 포함하고,
    상기 돌출부는 상기 복수의 반도체 발광 소자 각각의 아래에 배치되는
    디스플레이 장치.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 복수의 반도체 발광 소자는 동일한 컬러 광을 발광하는
    디스플레이 장치.
  11. 제8항에 있어서,
    상기 제2 격벽은,
    상기 제1 조립 배선 및 상기 제2 조립 배선 상에 제2-1 격벽; 및
    상기 기판 상에 배치된 제2-2 격벽을 포함하는
    디스플레이 장치.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 제2-1 격벽의 두께는 상기 제1 격벽의 두께보다 큰
    디스플레이 장치.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 제2-2 격벽의 두께는 제2-1 격벽의 두께보다 큰
    디스플레이 장치.
  14. 제11항에 있어서,
    상기 돌출부는
    상기 제1 조립 패턴 및 상기 제2 조립 패턴인
    디스플레이 장치.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 제1 조립 패턴은,
    상기 제1 조립 배선의 두께보다 큰 두께를 갖고,
    상기 제2 조립 패턴은,
    상기 제2 조립 배선의 두께보다 큰 두께를 갖는 디스플레이 장치.
  16. 제11항에 있어서,
    상기 제1 격벽, 상기 제2-1 격벽 및 상기 제2-2 격벽 각각의 상면은 동일한 평면 상에 위치되고,
    상기 제1 격벽, 상기 제2-1 격벽 및 상기 제2-2 격벽 각각의 하면은 동일한 평면 상에 위치되지 않는
    디스플레이 장치.
  17. 제16항에 있어서,
    상기 제2-1 격벽의 하면은 상기 제1 격벽의 하면으로부터 아래로 돌출되는
    디스플레이 장치.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 제2-2 격벽의 하면은 상기 제2-1 격벽의 하면으로부터 아래로 돌출되는
    디스플레이 장치.
  19. 제2항에 있어서,
    상기 돌출부의 폭은 상기 상기 조립 홀의 폭보다 큰
    디스플레이 장치.
KR1020247011226A 2021-09-06 2021-09-06 디스플레이 장치 KR20240058909A (ko)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/KR2021/012005 WO2023033212A1 (ko) 2021-09-06 2021-09-06 디스플레이 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20240058909A true KR20240058909A (ko) 2024-05-07

Family

ID=85412544

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020247011226A KR20240058909A (ko) 2021-09-06 2021-09-06 디스플레이 장치

Country Status (4)

Country Link
EP (1) EP4383336A1 (ko)
KR (1) KR20240058909A (ko)
CN (1) CN117916887A (ko)
WO (1) WO2023033212A1 (ko)

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9601659B2 (en) * 2015-01-06 2017-03-21 Apple Inc. LED structures for reduced non-radiative sidewall recombination
KR102173349B1 (ko) * 2019-06-28 2020-11-03 엘지전자 주식회사 디스플레이 장치 제조를 위한 기판 및 디스플레이 장치의 제조방법
JP7317635B2 (ja) * 2019-08-29 2023-07-31 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
WO2021080028A1 (ko) * 2019-10-22 2021-04-29 엘지전자 주식회사 마이크로 led를 이용한 디스플레이 장치 및 이의 제조 방법
KR20200021966A (ko) * 2020-02-11 2020-03-02 엘지전자 주식회사 반도체 발광 소자를 이용한 디스플레이 장치

Also Published As

Publication number Publication date
CN117916887A (zh) 2024-04-19
WO2023033212A1 (ko) 2023-03-09
EP4383336A1 (en) 2024-06-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102494527B1 (ko) Led 디스플레이 패널 및 이를 이용한 디스플레이 장치
KR102206782B1 (ko) 디스플레이 장치
KR20190099149A (ko) 반도체 발광 소자를 이용한 디스플레이 장치
KR20240118794A (ko) 반도체 발광 소자 및 디스플레이 장치
KR102668393B1 (ko) 디스플레이 화소용 반도체 발광소자 패키지 및 이를 포함하는 디스플레이 장치
EP4391093A1 (en) Semiconductor light emitting element and display device
EP4383336A1 (en) Display device
KR102698081B1 (ko) 디스플레이 장치
KR102682779B1 (ko) 기판
KR20240090424A (ko) 디스플레이 장치
KR20240047364A (ko) 디스플레이 장치
KR20240090975A (ko) 디스플레이 장치
US20240047506A1 (en) Light-emitting element and display device
KR102698079B1 (ko) 화소용 반도체 발광소자의 전사를 위한 기판 구조 및 이를 포함하는 디스플레이 장치
KR20240046784A (ko) 디스플레이 장치
KR20240060799A (ko) 디스플레이 장치
US20240038823A1 (en) Semiconductor light emitting device package and a display device
KR20240122940A (ko) 디스플레이 장치
US20230060259A1 (en) Assembly substrate structure of semiconductor light emitting device and display device including the same
US20230061915A1 (en) Semiconductor light emitting device for a display panel, a substrate structure for a display panel, and a display device including the same
KR20240035866A (ko) 디스플레이 장치
KR20240065862A (ko) 반도체 발광 소자를 포함하는 디스플레이 장치
KR20240093642A (ko) 디스플레이 장치
KR20240046554A (ko) 디스플레이 장치
KR20240050446A (ko) 반도체 발광 소자 및 디스플레이 장치