KR20210104927A

KR20210104927A - 데이터 패킷 신호 트랜시버를 테스트하는 시스템 및 방법

Info

Publication number: KR20210104927A
Application number: KR1020217025683A
Authority: KR
Inventors: 크리스찬 볼프 올가드; 루이즈 왕
Original assignee: 라이트포인트 코포레이션
Priority date: 2019-01-15
Filing date: 2020-01-08
Publication date: 2021-08-25
Also published as: TWI830818B; US10666542B1; TW202029671A; WO2020150051A3; WO2020150051A2; CN113302855A; JP2022517014A

Abstract

데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 성능을 테스트하는 시스템 및 방법. 다수의 DUT 신호로서, 각각 테스터에 의해 수신되는 각각의 DUT 전송 파워(RDTPn)를 가지고, n=1, …, m에 대해 최소 의도된 DUT 전송 파워(IDTP) 또는 최대 IDTP, 또는 그 사이의 중간 IDTP와 동일한 파워를 가지는 다수의 의도된 DUT 전송 파워(IDTP) 중 각각의 하나(IDTPn)에 대응하는 다수의 DUT 신호. 각각의 RDTPn을 자신의 IDTPn에 연관시키는 것에 후속하여, 트리거 프레임 및 테스터 전송 출력 파워(TTOP)를 가진 테스터 신호가 전송된다. 트리거 프레임은 보고된 테스터 전송 파워(RTTP)와 테스터에 의해 수신되는 DUT 데이터 패킷 신호의 원하는 신호 강도(TRSS)에 대응하는 데이터를 포함한다. RDTPn을 갖는 리턴 DUT 신호가 수신되고, 여기서 RDTPn에 대응하는 IDTPn이 판정되고 RTTP-TTOP+TRSS와 비교된다. 이러한 테스터 및 DUT 신호의 연속적인 반복과 TTOP, RTTP 및 DRSS 값의 다수의 조합에 대한 IDTPn 비교를 통해 테스터와 DUT 사이의 신호 상호 작용을 최소화하면서 RSSI 측정 추출을 포함하여 DUT의 수신 성능을 테스트할 수 있다.

Description

데이터 패킷 신호 트랜시버를 테스트하는 시스템 및 방법

본 발명은 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험장치(DUT)를 테스트하는 것에 관한 것이고, 특히 테스터와 DUT 사이에서 신호 상호작용을 최소로 요구하면서 DUT의 전송 및/또는 수신 성능을 테스트하는 것에 관한 것이다.

오늘날의 전자 장치의 다수는 접속 및 통신 목적 모두를 위해 무선 신호 기술을 이용한다. 무선 장치가 전자기 에너지를 송수신하고 2개 이상의 무선 장치가 자신의 신호 주파수 및 파워 스펙트럼 밀도에 의해 서로의 동작에 간섭할 가능성이 있기 때문에, 이들 장치들과 그 장치들의 무선 신호 기술은 다양한 무선 신호 기술 표준 규격을 준수해야 한다.

이러한 무선 장치들을 설계할 때, 엔지니어들은 장치들에 포함된 무선 신호 기술의 상술한 표준 기반 규격 각각을 이러한 장치들이 만족시키거나 또는 그것을 능가할 것을 보장하도록 특별히 유의한다. 추가로, 이들 장치가 추후에 대량으로 제조될 때, 이들 장치는, 장치들에 포함된 무선 신호 기술 표준 기반 규격에 대해 상기 장치들이 따르는 것을 포함하면서, 제조 결함이 부적절한 동작을 일으키지 않는 것을 보장하도록 테스트된다.

이러한 무선 장치의 테스트는 일반적으로 피시험 장치(DUT)의 수신 및 전송 서브 시스템의 테스트를 수반한다. 테스트 시스템은 예를 들어, DUT 수신 서브 시스템이 적절하게 동작하는지를 판정하기 위해 상이한 주파수, 파워 레벨 및/또는 신호 변조 기술을 사용하여 테스트 데이터 패킷 신호의 미리 규정된 시퀀스를 DUT에 전송할 것이다. 유사하게, DUT는 DUT 전송 서브 시스템이 적절하게 동작하는지를 판정하기 위해 테스트 시스템에 의한 수신 및 처리를 위해 다양한 주파수, 파워 레벨, 및/또는 변조 기술로 테스트 데이터 패킷 신호를 전송할 것이다.

이들 장치의 제조 및 조립에 후속하는 이들 장치의 테스트에 대해, 현재 무선 장치 테스트 시스템은 일반적으로 각각의 피시험장치(DUT)로 테스트 신호를 제공하고 각각의 DUT로부터 수신된 신호를 분석하는 다양한 서브시스템을 가지는 테스트 시스템을 채용한다. 일부 시스템(대개 "테스터"라고 하는)은 적어도 DUT에 전송될 소스 신호를 제공하는(예를 들어, 벡터 신호 생성기, 또는 "VSG"의 형태로 된) 테스트 신호의 하나 이상의 소스 및 DUT에 의해 생성된 신호를 분석하기 위한(예를 들어, 벡터 신호 분석기, 또는 "VSA"의 형태로 된) 하나 이상의 수신기를 포함한다. VSG에 의한 테스트 신호의 생성과 VSA에 의해 수행되는 신호 분석은 일반적으로 주파수 범위, 대역폭 및 신호 변조 특성을 변하게 하면서 다양한 무선 신호 기술 표준에 따라 다양한 장치를 테스트하는 데에 각각 이용될 수 있도록 프로그래밍가능하다(예를 들면, 내부 프로그래밍 가능한 컨트롤러 또는 개인용 컴퓨터와 같은 외부 프로그래밍 가능한 컨트롤러를 사용하여).

IEEE 802.11ax로 알려진 IEEE 802.11 사양 세트의 최근 무선 근거리 통신망(WLAN) 표준은 기존 2.4GHz 및 5GHz 스펙트럼에서 작동하며 사용 가능하게 되면 1GHz와 7GHz 사이의 추가 대역을 통합할 것이다. MIMO 및 MU-MIMO를 사용하는 것에 추가하여, OFDMA가 도입되어 전체 스펙트럼 효율성을 개선하고 고차 1024-QAM 변조를 지원하여 처리량을 높였다. 공칭 데이터 속도는 IEEE 802.11ac보다 37%만 높지만, 보다 효율적인 스펙트럼 활용과 밀집 배치를 위한 개선으로 인해 평균 사용자 처리량의 4배 증가를 달성할 것으로 예상된다. 그러나 장치의 전송(TX) 파워 및 RSSI(수신 신호 강도 표시기) 판독의 802.11ax 파워 정확도에 대한 요구사항은 WLAN 내에서의 호환성 및 동작을 보장하기 위해 훨씬 더 제한적이다.

따라서, TX 파워 및 RSSI는 제조 프로세스의 일부로 교정 및 테스트되어야 한다. TX 파워 테스트는 일반적으로 간단하고 MPS(다중 패킷 테스트)와 같은 기술을 사용하여 효율성을 위해 최적화될 수 있지만, RSSI 테스트는 일반적으로 측정되거나 보고된 RSSI 값에 대해 DUT에 쿼리하는 것이 필요하다. 그러나 DUT를 쿼리하는 것은 쿼리 및 응답 패킷의 교환을 수용하는 데 필요한 추가 테스트 시간으로 인해 비효율적이다.

또한, 제조 테스트를 위한 개발 소프트웨어는 DUT 교정이 종종 칩셋 제조업체뿐만 아니라 제조업체의 칩셋마다 다르게 구현된다는 사실로 인해 상당히 복잡하다. 예를 들어, 언급한 바와 같이, 수신(RX) 신호 동작의 교정은 수신기 작동 상태 및/또는 성능에 대해 DUT에 쿼리할 필요가 있기 때문에 종종 특히 시간이 많이 소요된다.

데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하기 위한 시스템 및 방법이 제공된다. 테스터에 의해 다수의 연속적인 DUT 데이터 패킷 신호가 수신되고, 각각의 DUT 데이터 패킷 신호는 상기 테스터에 의해 수신되는 각각의 DUT 전송 파워(RDTPn)를 가지고, n=1, …, m에 대해 최소 IDTP 또는 최대 IDTP, 또는 상기 최소 IDTP와 상기 최대 IDTP 사이의 중간 IDTP와 동일한 파워를 가지는 다수의 의도된 DUT 전송 파워 중 각각의 하나(IDTPn)에 대응한다. 각 RDTPn과 자신의 대응하는 IDTPn의 연관에 후속하여, 트리거 프레임을 포함하고 테스터 전송 출력 파워(TTOP)를 갖는 테스터 데이터 패킷 신호가 전송되며, 여기서 상기 트리거 프레임은 상기 테스터 데이터 패킷 신호의 보고된 테스터 전송 파워(RTTP), 및 상기 DUT로부터 상기 테스터에 의해 수신되는 DUT 데이터 패킷 신호의 원하는 수신 신호 강도(TRSS)에 대응하는 데이터를 포함한다. RDTPn을 갖는 리턴 DUT 데이터 패킷 신호가 수신되고, 여기서 RDTPn에 대응하는 IDTPn이 판정되고 RTTP-TTOP+TRSS와 비교된다. 이러한 테스터 및 DUT 데이터 패킷 신호의 연속적인 반복 및 TTOP, RTTP 및 DRSS 값의 다수의 조합에 대한 IDTPn 비교를 통해 테스터와 DUT 간의 신호 상호 작용을 최소화하면서 RSSI 측정 추출을 포함하여 상기 DUT의 수신 성능을 테스트할 수 있다.

예시적인 실시 예에 따르면, 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법은: 테스터를 가지고, DUT로부터 발생한 복수의 연속적인 DUT 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계로서, 여기서 상기 복수의 연속적인 DUT 데이터 패킷 신호의 각각은 상기 테스터에 의해 수신되는 각각의 DUT 전송 파워(RDTPn)를 가지고, n=1, …, m에 대해 최소 IDTP 또는 최대 IDTP, 또는 상기 최소 IDTP와 상기 최대 IDTP 사이의 적어도 하나의 중간 IDTP 중 하나와 동일한 파워를 가지는 복수의 의도된 DUT 전송 파워 중 각각의 하나(IDTPn)에 대응하는 상기 수신하는 단계; 상기 테스터를 가지고, 각각의 RDTPn을 자신의 대응하는 IDTPn에 연관시키는 단계; 상기 DUT에 대한 테스터를 가지고, 트리거 프레임을 포함하고 테스터 전송 출력 파워(TTOP)를 갖는 테스터 데이터 패킷 신호를 전송하는 단계로서, 여기서 상기 트리거 프레임은 상기 테스터 데이터 패킷 신호의 보고된 테스터 전송 파워(RTTP)(여기서, 상기 RTTP 및 TTOP는 동일하지 않음), 및 상기 DUT로부터 상기 테스터에 의해 수신되는 DUT 데이터 패킷 신호의 원하는 수신 신호 강도(TRSS)에 대응하는 데이터를 포함하는 상기 전송하는 단계; 상기 DUT로부터 상기 테스터를 가지고, RDTPn을 갖는 DUT 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계; 상기 DUT로부터 상기 테스터를 가지고 수신된 상기 RDTPn에 대응하는 IDTPn을 판정하는 단계; 판정된 상기 IDTPn을 RTTP-TTOP+TRSS와 비교하는 단계; 및 상기 TTOP, RTTP 및 TRSS의 값의 복수 조합에 대해 테스터 데이터 패킷 신호를 상기 전송하는 단계 및 DUT 데이터 패킷 신호를 상기 수신하는 단계, IDTPn을 상기 판정하는 단계, 상기 판정된 IDTPn을 상기 비교하는 단계를 반복하는 단계;를 포함한다.

추가적인 예시적인 실시 예에 따르면, 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법은: 테스터에 대해 DUT를 가지고 복수의 연속적인 DUT 데이터 패킷 신호를 전송하는 단계로서, 상기 복수의 연속적인 DUT 데이터 패킷 신호의 각각은 상기 테스터에 의해 수신하기 위한 각각의 DUT 전송 파워(RDTPn)를 가지고, n=1, …, m에 대해 최소 IDTP 또는 최대 IDTP, 또는 상기 최소 IDTP와 상기 최대 IDTP 사이의 적어도 하나의 중간 IDTP 중 하나와 동일한 파워를 가지는 복수의 의도된 DUT 전송 파워 중 각각의 하나(IDTPn)에 대응하는 상기 전송하는 단계; 상기 테스터로부터 상기 DUT를 가지고, 트리거 프레임을 포함하고 테스터 전송 출력 파워(TTOP)를 갖는 테스터 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계로서, 상기 트리거 프레임은 상기 테스터 데이터 패킷 신호의 보고된 테스터 전송 파워(RTTP)(여기서, 상기 RTTP 및 TTOP는 동일하지 않음), 및 상기 DUT로부터 상기 테스터에 의해 수신되는 DUT 데이터 패킷 신호의 원하는 수신 신호 강도(TRSS)에 대응하는 데이터를 포함하는 상기 수신하는 단계; 상기 테스터에 대해 상기 DUT를 가지고, RDTPn을 갖는 DUT 데이터 패킷 신호를 전송하는 단계; 및 상기 TTOP, RTTP, 및 TRSS 값의 복수 조합에 대해 상기 테스터 데이터 패킷 신호를 전송하는 단계 및 DUT 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계를 반복하는 단계를 포함한다.

추가적인 예시적인 실시 예에 따르면, 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법은: DUT를 가지고 복수의 연속적인 DUT 데이터 패킷 신호를 전송하는 단계로서, 상기 복수의 연속적인 DUT 데이터 패킷 신호의 각각은 상기 테스터에 의해 수신되는 각각의 DUT 전송 파워(RDTPn)를 가지고, n=1, …, m에 대해 최소 IDTP 또는 최대 IDTP, 또는 상기 최소 IDTP와 상기 최대 IDTP 사이의 적어도 하나 중 하나의 중간 IDTP와 동일한 파워를 가지는 복수의 의도된 DUT 전송 파워 중 각각의 하나(IDTPn)에 대응하는 상기 전송하는 단계; 테스터를 가지고, 각각의 RDTPn을 자신의 대응하는 IDTPn과 연관시킴으로써 상기 복수의 연속적인 DUT 데이터 패킷 신호의 수신에 응답하는 단계; 상기 테스터를 가지고, 트리거 프레임을 포함하고 테스터 전송 출력 파워(TTOP)를 갖는 테스터 데이터 패킷 신호를 전송하는 단계로서, 여기서 상기 트리거 프레임은 상기 테스터 데이터 패킷의 보고된 테스터 전송 파워(RTTP)(여기서, 상기 RTTP 및 TTOP는 동일하지 않음), 및 상기 DUT로부터 상기 테스터에 의해 수신되는 DUT 데이터 패킷 신호의 원하는 수신 신호 강도(TRSS)에 대응하는 데이터를 포함하는 상기 전송하는 단계; 상기 DUT를 가지고, 상기 테스터 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계; 상기 DUT를 가지고, RDTPn을 갖는 DUT 데이터 패킷 신호를 전송하는 단계; 상기 DUT로부터 상기 테스터를 가지고 수신된 RDTPn에 대응하는 IDTPn을 판정함으로써 상기 RDTPn을 갖는 상기 DUT 데이터 패킷 신호의 수신에 상기 테스터를 가지고 응답하는 단계; 판정된 상기 IDTPn을 RTTP-TTOP+TRSS와 비교하는 단계; 및 상기 TTOP, RTTP, 및 TRSS 값의 복수 조합에 대해 상기 테스터 데이터 패킷 신호를 상기 전송하는 단계 및 상기 수신하는 단계, 상기 DUT 데이터 패킷 신호를 상기 전송하는 단계 및 상기 수신하는 단계, IDTPn을 판정하는 단계 및 판정된 상기 IDTPn을 비교하는 단계를 반복하는 단계를 포함한다.

도 1은 예시적인 실시 예에 따라 데이터 패킷 신호 트랜시버 장치를 테스트하기 위한 유선 또는 도전성 테스트 환경을 도시한다.
도 2는 예시적인 실시 예에 따라 데이터 패킷 신호 트랜시버 장치를 테스트하기 위한 무선 또는 방사 테스트 환경을 도시한다.
도 3은 예시적인 실시 예에 따라 데이터 패킷 신호 트랜시버 장치를 테스트하기 위한 미리 정해진 의도된 파워 레벨을 갖는 다중 데이터 패킷의 DUT에 의한 전송을 도시한다.
도 4는 도 3의 데이터 패킷에 대해 미리 정해진 의도된 파워 레벨 및 대응하는 수신 파워 레벨의 테이블을 도시한다.
도 5는 예시적인 실시 예에 따라 데이터 패킷 신호 트랜시버 장치를 테스트하기 위한 테스터와 DUT 사이의 데이터 패킷 신호 교환의 예시적인 시퀀스를 도시한다.
도 6은 DUT로부터 최소에서 최대까지의 이상적이고 실제의 가용한 전송 파워 레벨의 비교 그래프를 도시한다.
도 6a는 2개의 예시적인 단계 크기 분해능에 따라 대응하는 의도되거나 프로그래밍된 DUT 출력 파워에 응답하여 생성된 실제 DUT 출력 파워의 다수의 값을 정성적으로 도시한다.
도 7은 DUT에 의한 수신 신호 강도 표시(RSSI) 측정의 이상적이고 실제의 선형성의 비교 그래프를 도시한다.
도 8은 예시적인 실시 예에 따라 데이터 패킷 신호 트랜시버 장치를 테스트하기 위해 테스터와 DUT 사이의 데이터 패킷 신호 교환의 또 다른 예시적인 시퀀스를 도시한다.
도 9는 도 8의 데이터 패킷에 대한 의도된 파워 레벨 및 실제 파워 레벨의 테이블을 도시한다.

하기의 상세한 설명은 첨부 도면을 참조한 본 발명의 예시적인 실시 예이다. 이러한 설명은 본 발명의 범위에 대한 예시이고 그에 대해 한정하는 것을 의도하지 않는다. 이러한 실시 예들은 당업자로 하여금 본 발명을 실시할 수 있도록 충분히 상세히 기술되고, 다른 실시 예들이 본 발명의 범위 또는 취지를 벗어나지 않고 일부 변형을 하여 실시될 수 있다는 것이 이해될 것이다.

문맥으로부터 명시적으로 반대로 지시하지 않는다면 본 명세서 전체에서, 기술된 바와 같은 개별 회로 엘리먼트는 단수이거나 복수일 수 있다는 것이 이해될 것이다. 예를 들면, "circuit" 및 "circuitry"와 같은 용어들은 단일한 컴포넌트 또는 복수의 컴포넌트 중 어느 하나를 포함할 수 있고, 이는 능동 및/또는 수동이고, 연결되거나 또는 그렇지 않으면 함께 결합되어(예를 들면 하나 이상의 집적회로 칩으로서) 기술된 기능을 제공한다. 추가로, "신호"라는 용어는 하나 이상의 전류, 하나 이상의 전압 또는 데이터 신호를 가리킨다. 도면 내에서, 유사하거나 연관된 엘리먼트들은 유사하거나 연관된 문자, 숫자 또는 문자숫자 지시어를 가질 것이다. 추가로, 본 발명은 이산 전자 회로(바람직하게는 하나 이상의 집적회로 칩의 형태로 된)를 이용하는 실시의 측면에서 개시되었지만, 신호 주파수 또는 처리될 데이터 속도에 따라 이러한 회로의 임의의 부분의 기능은 대안적으로 하나 이상의 적절하게 프로그래밍된 프로세서를 이용하여 구현될 수 있다. 추가로, 도면이 다양한 실시 예의 기능 블록도의 다이어그램을 예시하는 정도로, 기능 블록은 필수적으로 하드웨어 회로 사이의 분할을 지시하지는 않는다.

휴대폰, 스마트폰, 태블릿 등과 같은 무선 장치는 IEEE 802.11a/b/g/n/ac("Wi-Fi"), 3GPP LTE, 블루투스, Zigbee, Z-wAVE 등과 같은 표준 기반 기술을 사용한다. 이러한 기술의 기반이 되는 표준은 신뢰할 수 있는 무선 연결 및/또는 통신을 제공하도록 설계되었다. 상기 표준은 일반적으로 에너지 효율적이고 무선 스펙트럼에 인접하거나 그를 공유하는 동일한 기술 또는 다른 기술을 사용하여 장치 사이의 간섭을 최소화하도록 설계된 물리적 및 고급 규격을 규정한다.

이러한 표준에 의해 규정된 테스트는 그러한 장치가 표준 규정된 규격을 준수하도록 설계되고 제조된 장치가 계속해서 규정된 규격을 준수하도록 보장하기 위한 것이다. 대부분의 장치는 하나 이상의 수신기와 하나 이상의 송신기를 포함하는 트랜시버이다. 따라서 테스트는 수신기와 송신기가 모두 준수하는지 확인하기 위한 것이다. DUT의 수신기(들)의 테스트(RX 테스트)에는 일반적으로 테스트 시스템(테스터)이 테스트 패킷을 수신기(들)로 보내고 DUT 수신기(들)가 이러한 테스트 패킷에 응답하는 방식을 판정하는 방법이 포함된다. DUT의 송신기(들)의 테스트(TX 테스트)는 테스트 시스템에 패킷을 보내도록 하여 수행되며, 그런 다음 테스트 시스템은 DUT로부터의 신호의 다양한 물리적 특성을 평가할 수 있다.

Wi-Fi, 블루투스, Zigbee 및 Z-Wave 장치와 같은 무선 장치의 테스트는 테스터와 DUT 간의 빈번한 양방향 메시징으로부터 테스트 흐름의 주요 부분이 내부에서 실행되고 고유한 장치 식별자와 PHY의 일부만 활성화된 비링크 테스트 솔루션을 사용하여 테스터와 DUT 간에 조정되는 빈번하지 않은 메시징으로 진행된다. 그러나 이러한 테스트의 결과는 일반적으로 프로토콜 스택의 상위 레벨이 활성화되지 않아 데이터가 전송된 패킷으로 쉽게 전달되지 않도록 방지하기 때문에 통신 포트 및 경로를 통해 DUT에서 테스터로 전달된다. 따라서 DUT와 테스터 사이의 유일한 연결이 전도 또는 방사 신호 경로이고 교환된 데이터가 데이터 패킷을 통해 이루어지는 경우, 가능하다고 하더라도, DUT가 테스트 결과를 비링크 테스트 방법을 이용하여 테스터로 전달하는 것이 어려울 수 있다. 아래에서 더 상세히 논의되는 바와 같이, 본 발명의 예시적인 실시 예에 따르면, RF 데이터 패킷 트랜시버의 테스트는 네트워크 데이터 패킷 신호 통신 프로토콜의 하위 계층에서 테스트함으로써 적어도 부분적으로 수행될 수 있다.

도 1을 참조하면, 전형적인 테스트 환경(10a)은 테스터(12) 및 DUT(16)를 포함하며, 테스트 데이터 패킷 신호(2lt) 및 DUT 데이터 패킷 신호(21d)는 일반적으로 동축 RF 케이블(20c) 및 RF 신호 커넥터(20tc, 20dc)의 형태인 도전성 신호 경로(20a)를 통해 테스터(12)와 DUT(16) 사이에 전달되는 RF 신호로서 교환된다. 상술한 바와 같이, 테스터는 일반적으로 신호 소스(14g)(예를 들어, VSG) 및 신호 분석기(14a)(예를 들어, VSA)를 포함한다. 테스터(12) 및 DUT(16)는 또한 테스터(12) 내의 펌웨어(14f) 및 DUT(16) 내의 펌웨어(18f)에서 일반적으로 구현되는 미리 정해진 테스트 시퀀스에 관한 미리 로드된 정보를 포함할 수 있다. 미리 정해진 테스트 흐름에 대한 이 펌웨어(14f, 18f) 내의 테스트 세부 사항은 일반적으로 데이터 패킷 신호(2lt, 2ld)를 통한 일반적으로 테스터(12)와 DUT(16) 사이의 명시적 동기화의 일부 형태를 요구한다.

대안적으로, 테스트는 테스터(12)에 통합될 수 있거나 또는 여기에 도시된 바와 같이 외부(예를 들어, 로컬 또는 네트워크로 프로그래밍된 개인용 컴퓨터)에 있는 컨트롤러(30)에 의해 제어될 수 있다. 컨트롤러(30)는 명령 및 데이터를 전달하기 위해 하나 이상의 신호 경로(예를 들어, 이더넷 케이블, 네트워크 스위치 및/또는 라우터 등)(31d)를 통해 DUT(16)와 통신할 수 있다. 테스터(12)의 외부에 있다면, 컨트롤러(30)는 추가 명령 및 데이터를 전달하기 위해 하나 이상의 추가 신호 경로(예를 들어, 이더넷 케이블, 네트워크 스위치 및/또는 라우터 등)(3lt)를 통해 테스터(12)와 더 통신할 수 있다.

컨트롤러(30) 및 테스터(12)가 별개의 장치 또는 시스템으로 도시되어 있지만, 하기의 논의에서 "테스터"에 대한 언급은 여기에 도시된 바와 같은 별개의 장치 또는 시스템을 포함할 수 있고 또한 상술한 컨트롤러(30) 및 테스터(12)의 기능 및 능력이 공통 하드웨어 기반구조에 함께 위치될 수 있는 결합된 장치 또는 시스템을 포함할 수 있다. 따라서, 특별히 요구되거나 제한되지 않는 한, 다양한 제어 기능 및/또는 명령에 대한 참조는 테스터(12), 컨트롤러(30) 또는 결합된 테스터/컨트롤러 시스템(도시되지 않음)에서 발생하는 것으로 간주될 수 있다. 유사하게, 명령, 데이터 등의 저장은 테스터(12), 컨트롤러(30) 또는 결합된 테스터/컨트롤러 시스템에서, 또는 대안적으로 위에서 언급한 바와 같이 네트워크를 통해 원격으로 위치한 메모리 장치에서 수행되는 것으로 간주될 수 있다.

도 2를 참조하면, 대안적인 테스트 환경(10b)은 그를 통해 테스트 데이터 패킷 신호(2lt) 및 DUT 데이터 패킷 신호(21d)가 테스터(12) 및 DUT(16)의 각각의 안테나 시스템(20ta, 20da)을 통해 통신될 수 있는 무선 신호 경로(20b)를 이용한다.

아래에서 더 상세히 논의되는 바와 같이, 테스터가 트리거 프레임을 포함하는 데이터 패킷을 DUT에 전송하여 DUT로 하여금 주파수 보정 신호로 적시에 응답하게 하는 트리거 기반 테스트(TBT)가 이롭게도 사용될 수 있다. 당업계에 잘 알려진 바와 같이, IEEE 802.11 규격 세트에 따라, 트리거 프레임은 STA 장치(예를 들어, 테스트 환경 내의 DUT)에 대한 액세스 포인트(AP, 예를 들어, 테스트 환경 내의 테스터)에 의해 제공될 수 있고, AP 액세스 포인트를 에뮬레이트하는 테스터에서 전송된 신호에 대한 다양한 유형의 정보를 포함한다. 예를 들어, 테스터가 전송하는 실제 신호 파워(예를 들어, 그의 VSG를 통해)는 트리거 프레임에 포함된 보고된 테스터 파워 레벨 정보와 별도로 제어되어 패스로스(path loss)가 존재하지 않는 것을 에뮬레이트할 수 있다. 또한, DUT에 의해 응답으로 보내질 데이터 패킷 신호의 강도를 식별하는 원하는 RSSI 정보가 트리거 프레임에 포함될 수 있다. DUT는 테스터에 의해 보고된 전송 파워와 DUT 수신 신호 강도 간의 파워 차이로서 패스로스를 계산할 수 있으며, 그런 다음 전송 파워를 원하는 RSSI(테스터에서)에 계산된 패스로스를 더한 값으로 계산할 수 있다.

그러나 테스터에 의해 측정된 전송 파워는 의도된 전송 파워과 실제 전송 파워의 차이, RSSI 측정 에러의 두 가지 오류에 의해 영향을 받는다. 아래에서 더 자세히 논의되는 바와 같이, 이것은 TBT 테스트 이전에 DUT에 의해 지원되는 다수의 TX 파워의 전송을 "강제"함으로써 보상될 수 있다. MPS를 사용함으로써, 의도된 TX 파워는 전송을 위해 선택된 각 DUT TX 파워에 대해 선험적으로 알려지고 테스터에서 측정된 대응하는 실제 수신 TX 파워과 연관될 수 있다. 그런 다음 이것은 전형적인 TBT 테스트가 뒤따를 수 있으며, 측정된 전송 파워로부터 DUT가 선택한 의도된 파워 레벨이 판정될 수 있으므로 선택한 의도된 전송 파워를 선택하는 데에 DUT가 사용되어야 하는 RSSI(DUT에서)의 계산을 가능하게 할 수 있다. 이것은 DUT를 쿼리하지 않고 DUT RSSI의 판정(예를 들어, 추론)을 가능하게 한다. 이것은 DUT의 다른 RSSI 레벨에 대해 TBT 단계를 반복한 다음 검증 중에 RSSI 레벨을 스위핑함으로써 더 확장될 수 있다.

예를 들어, DUT의 TX 파워는 알려진 수의 전송 파워 레벨에 대해 스캔 및 측정될 수 있고(예를 들어, MPS를 사용하여), 그 다음에는 테스트될 상이한 RSSI 레벨에 대한 TBT 테스트가 후속될 수 있으며, 그 동안 타겟 파워 레벨은 고정된 상태로 유지되거나 변경될 수 있다. 고정된 타겟 파워(테스터가 수신한 DUT TX 신호의 파워)를 유지하면 테스트 데이터 패킷을 재사용할 수 있지만(예를 들어, VSG 출력 파워 레벨을 변경하여 DUT에 의해 표시되는 다른 패스로스를 효과적으로 모델링함으로써), 이것은 큰 RSSI 범위를 스위핑할 때 DUT 내의 파워 범위를 제한할 수 있다. 언급된 바와 같이, 일단 DUT에 의해 선택된 TX 파워 레벨이 식별되면, DUT 내의 대응하는 RSSI가 계산될 수 있다. 대안적으로, 상이한 트리거 프레임 패킷을 전송하는 동안 일정한 VSG 출력 파워가 유지될 수 있다(예를 들어, 수정된 보고된 VSG 출력 파워 및 타겟 테스터 RSSI 레벨로).

도 3 및 4를 참조하면, 미리 정해진 의도된 파워 레벨(102i)을 갖는 다수의 데이터 패킷 신호(예를 들어, 각각이 원하는 또는 필요에 따라 단일 또는 다수의 데이터 패킷을 가짐)의 시퀀스(102)가 DUT에 의해 전송되고 테스터에 의해 수신되어 각각의 전송에 대한 대응하는 실제 파워 레벨(102r)을 판정할 수 있다. 예를 들어, MPS는 DUT 내의 주어진 TX 파워 설정에 대해 테스터에 의해(예를 들어, VSA에서) 측정된 DUT TX 파워를 판정하는 데 먼저 사용될 수 있다. 이는 DUT TX 파워 정확도를 검증하는 데 이로울 수 있다. DUT는 원하거나 필요에 따라 예를 들어 제1 파워 TX10(10dbm)으로 시작하여 하나 이상의 유사한 데이터 패킷 전송, 예를 들어 TX11, TX12, …, TX20에 의해 후속되는 것과 같은 단일 데이터 패킷 또는 다수의 데이터 패킷(그 수는 일반적으로 미리 알려짐)을 전송할 수 있다(이 예의 목적을 위해, TX10, TX11, TX12, …, TX20은 각각 +10dBm, +11dBm, +12dBm, …, +20dBm의 의도된 파워 레벨(102i)을 나타내지만, 다른 파워 범위가 원하거나 필요에 따라 사용될 수 있다.).

테스터(예를 들어, VSA)는 각각의 전송된 신호의 수신된 파워(102r)를 측정하고 도시된 바와 같이 각각의 대응하는 의도된(102i) 및 수신된(102r)(예를 들어, VSA에 의해 측정된 바와 같은) 파워 레벨의 테이블을 생성한다. 예를 들어, DUT TX 신호는 15dBm이 되도록 의도되었지만(예를 들어, DUT 송신기 회로의 설계에 의해) VSA는 실제 수신 파워를 14.5dBm으로 측정할 수 있다. 이러한 대응하는 값은 나중에 사용하기 위해(하기에서 논의됨) (예를 들어, 테스터 내에서 로컬로 또는 네트워크를 통해 액세스 가능한 메모리 내에서 원격으로) 메모리에 저장될 수 있다(아래에서 논의됨). 그런 다음 DUT는 TBT 모드에서 작동하도록 프로그래밍될 수 있다.

도 5를 참조하면, 테스터 데이터 패킷 신호 시퀀스(202t) 및 DUT 데이터 패킷 신호 시퀀스(202d)의 예가 도시된 바와 같이 교환될 수 있다. 이들 예는 DUT TX 파워를 일정한 15dBm으로 간접적으로 제어하기 위해 상이한 설정을 사용할 수 있는 방법을 보여준다. 다른 레벨 및 레벨의 조합은 원하거나 필요에 따라 사용될 수 있다. 어떤 경우에도, 성능 특성에 영향을 미치는 다른 요인(예를 들어, 열 변화 등)을 검출할 수 있도록 하나의 파라미터를 일정하게 유지하는 것이 바람직할 수 있다.

제1 테스터 시퀀스(203ta)에서 테스터는 +10dBm의 보고된 테스터 전송 파워 RTTP를 식별하는 데이터 및 테스터에 의해 수신되는 DUT 데이터 패킷 신호에 대한 -35dBm의 원하는 또는 예상되는 수신 신호 강도 TRSS를 식별하는 데이터를 포함하는 트리거 프레임으로 -40dBm의 테스터 전송 출력 파워 TTOP에서 데이터 패킷 신호를 전송할 수 있다. 제1 DUT 시퀀스(203da)에서 DUT는 자신의 수신 신호 강도 DRSS를 -40dBm으로 판정하고 다음과 같이 감지된 패스로스 PPL을 계산한다:

PPL = RTTP - DRSS = +10dBm -(-40dBm) = 50dB

따라서, 50dB 패스로스 및 -35dBm의 테스터에서 원하는 RSSI(패스로스를 고려한 후)로 DUT는 다음과 같이 의도된 DUT 전송 파워 IDTP를 전송해야 한다:

IDTP = TRSS + PPL = -35dBm + 50dB = +15dBm

테스터는 +14.4dBm의 수신 파워로 DUT로부터 응답 데이터 패킷 신호를 캡처하고 이를 +15dBm의 대응하는 IDTP와 비교한다(도 4). 따라서 이는 예상했던 대로 DUT에 의해 판정된 RSSI가 정확한 것으로 간주된다.

다음 테스터 시퀀스(203tb)에서, 테스터는 +8dBm의 보고된 테스터 전송 파워 RTTP를 식별하는 데이터(예를 들어, 이전의 +10dBm의 TTOP에 대해) 및 테스터가 수신하는 DUT 데이터 패킷 신호에 대해 -35dBm의 동일한 원하는 또는 예상되는 수신 신호 강도 TRSS를 식별하는 데이터를 포함하는 트리거 프레임으로 -42dBm의 테스터 전송 출력 파워 TTOP에서 데이터 패킷 신호를 전송할 수 있다. 응답 DUT 시퀀스(203db)에서 DUT는 수신 신호 강도 DRSS를 -42dBm으로 판정하고 다음과 같이 감지된 패스로스 PPL을 계산한다:

PPL = RTTP - DRSS = +8dBm -(-42dBm) = 50dB

따라서, 50dB 패스로스 및 -35dBm의 테스터에서 원하는 RSSI(패스로스를 고려한 후)로 DUT는 +15dBm의 의도된 DUT 전송 파워 IDTP를 다시 전송해야 한다. 따라서 테스터는 +14.4dBm의 수신 파워로 DUT로부터 응답 데이터 패킷 신호를 캡처하고 이를 +15dBm의 대응하는 IDTP와 비교한다(도 4). 다시, 예상했던 대로 DUT에 의해 판정된 RSSI는 정확한 것으로 간주된다.

제3 테스터 시퀀스(203tc)에서, 테스터는 +10dBm의 보고된 테스터 전송 파워 RTTP를 식별하는 데이터(예를 들어, 제1 시퀀스(203ta)에서), 및 테스터에 의해 수신되는 DUT 데이터 패킷 신호에 대해 -39dBm의 동일한 원하는 또는 예상되는 수신 신호 강도 TRSS를 식별하는 데이터를 포함하는 트리거 프레임으로 -44dBm의 테스터 전송 출력 파워 TTOP에서 데이터 패킷 신호를 전송할 수 있다. 응답 DUT 시퀀스(203dc)에서 DUT는 수신 신호 강도 DRSS를 -44dBm으로 판정하고 다음과 같이 인지된 패스로스 PPL을 계산한다:

PPL = RTTP - DRSS = +10dBm -(-44dBm) = 54dB

따라서, 54dB 패스로스 및 -39dBm의 테스터에서 원하는 RSSI(패스로스를 고려한 후)로 DUT는 +15dBm의 의도된 DUT 전송 파워 IDTP를 다시 전송해야 한다. 따라서 테스터는 +14.4dBm의 수신 파워로 DUT로부터의 응답 데이터 패킷 신호를 캡처하고 이를 +15dBm의 자신의 대응하는 IDTP와 비교한다(도 4). 다시, 역시나 예상했던 대로, DUT에 의해 판정된 RSSI는 정확한 것으로 간주된다.

마지막 테스터 시퀀스(203td)에서, 잘못된 DUT 수신 신호 강도 DRSS가 검출될 수 있다. 예를 들어, 테스터는 +10dBm의 보고된 테스터 전송 파워 RTTP를 식별하는 데이터 및 테스터가 수신하는 DUT 데이터 패킷 신호에 대한 -33dBm의 동일한 원하는 또는 예상되는 수신 신호 강도 TRSS를 식별하는 데이터를 포함하는 트리거 프레임으로 -38dBm의 테스터 전송 출력 파워 TTOP에서 데이터 패킷 신호를 전송할 수 있다. 응답 DUT 시퀀스(203dc)에서, DUT는 자신의 수신 신호 강도 DRSS를 -39dBm(전송된 -38dBm 대비)으로 판정하고 다음과 같이 인지된 패스로스 PPL을 계산한다:

PPL = RTTP - DRSS = +10dBm -(-39dBm) = 49dB

따라서, 49dB 패스로스 및 -33dBm의 테스터에서 원하는 RSSI(패스로스를 고려한 후)로 DUT는 다음과 같이 의도된 DUT 전송 파워 IDTP를 전송해야 한다:

IDTP = TRSS + PPL = -33dBm + 49dB = +16dBm

테스터는 +15.5dBm의 수신 파워로 DUT로부터의 응답 데이터 패킷 신호를 캡처하고 이를 +16dBm의 자신의 대응하는 IDTP와 비교한다(도 4). 따라서 이는 예상과 달리 DUT에 의해 판정된 RSSI가 잘못된 것으로 간주된다.

당업자에 의해 용이하게 이해되는 바와 같이, 이 프로세스의 많은 변형이 예를 들어 TTOP, RTTP 및 TRSS의 값의 다양한 조합에 대해 실시될 수 있다. 예를 들어, DUT TX 파워가 반드시 일정하게 유지될 필요는 없지만 그것을 일정하게 유지하면 이롭게도 온도 및 온도 보상 메커니즘과 같은 1차 효과를 추적할 수 있다(예를 들어, DUT는 그것이 온도 상승으로 인해 감소한 것으로 검출되는 경우 자신의 TX 파워를 증가시키도록 설계될 수 있다).

도 6을 참조하면, DUT가 특정 전송 신호 성능 특성(302i)을 제공하도록 설계될 수 있지만, 그 실제 성능 특성(302r)은 종종 변한다. 예를 들어, DUT가 최소 파워(303ia)에서 최대 파워(303ib)까지 선형 범위(303ic)에 걸쳐 전송 파워 레벨을 이상적으로 제공하도록 설계될 수 있지만, 그것의 실제 전송 파워 레벨은 상이한 최소 파워(303ir) 및 최대 파워(303ir)로 대신에 비선형 범위(303ir)에 걸쳐 제공될 수 있다.

도 6a를 참조하면, 쉽게 이해할 수 있는 바와 같이, DUT에 의한 생산을 위해 테스터에 의해 지정된 특정 파워 레벨(307, 309)에 따라, 더 많은 수의 파워 레벨이 지정되고 테스트 동안 측정되는 것이 바람직할 수 있다. 따라서, 최소(303a) 및 최대(303b) 실제 파워 레벨이, 예를 들어 가변 파워(303c)에서 최소(303a) 또는 최대(303b) 파워로 트랜지션됨에 따라 파워가 일정하게 되는 파워 레벨(307b, 307f)에서 정확하게 판정되는 것을 보장하기 위해, 더 많은 수의 파워 단계를 지정하는 것이 바람직할 수 있다. 예를 들어, 최소(303a) 및 최대(303b) 출력 파워 레벨이 최초 발생하는 파워 레벨(307b, 307f)을 식별할 뿐만 아니라 최소(303a) 및 최대(303b) 출력 파워 레벨이 일정하게 유지되는 것을 벗어나는 파워 레벨(307a, 307g)을 식별하는 대응하는 출력 파워 단계 간격(303cob)("사각형"으로 표시됨)을 초래하는 더 작은 입력 파워 단계 간격(303cib)을 사용하는 것이 바람직할 수 있다. 이와 대조적으로, 더 큰 입력 파워 단계 간격(303cia)이 사용되는 경우, 대응하는 더 큰 출력 파워 단계 간격(303coa)("원"으로 표시됨)은 최소(303a) 및 최대(303b) 출력 파워 레벨이 처음에 발생하는 트랜지션 파워 레벨(307b)을 캡처하는 것을 실패하는 것을 초래한다.

도 7을 참조하면, 유사하게, DUT가 특정 수신 신호 성능 특성을 제공하도록 설계될 수 있지만, 그 실제 성능 특성은 종종 변할 것이다. 예를 들어, DUT가 예상 수신 신호(303ic)의 범위에 걸쳐 선형으로 수신 신호 강도(305i)를 이상적으로 판정하도록 설계될 수 있지만, 그의 실제 측정된 수신 신호 강도(305r)는 비선형 변동을 나타낼 수 있다.

추가 예시적인 실시 예에 따르면, 트리거 기반 테스트(TBT)는 DUT에 제공되는 정보가 그의 거동을 제어하고 교정(예를 들어, 초기 디폴트 교정은 일반적으로 설계 및 초기 제조 공정 중에 수행되었기 때문에, 트림 교정의 형태)을 수행하는 데 필요한 파라미터의 추출을 허용하는데 사용될 수 있다. TBT의 일부로서 DUT로 전송되는 패킷은 데이터 패킷 전송 파워(예를 들어, 테스터로부터) 및 원하는 RSSI(테스터에서)에 대한 정보를 포함할 수 있다. DUT는 이를 사용하여 데이터 패킷의 소스(테스터)와 DUT(패스로스 = 데이터 패킷의 전송 파워 - DUT에서 RSSI) 사이의 패스로스를 판정할 수 있으며, 이를 통해 DUT는 데이터 패킷 소스에서 원하는 RSSI(DUT TX 파워 = 테스터 RSSI + 패스로스)를 얻기 위해 적절한 DUT TX 파워를 선택할 수 있다. 테스터를 소스로 사용하면 상당한 제어가 가능하다. 예를 들어, 주어진 데이터 패킷으로 DUT에 대한 입력 파워를 제어하기만 하면 DUT TX 파워를 제어할 수 있다. 예를 들어, 동일한 데이터 패킷이 2개의 상이한 테스터 전송 파워 레벨에서 DUT로 전송되면, DUT는 2개의 테스터 전송 파워 레벨 간의 차이와 일치하는 2개의 상이한 패스로스를 추정해야 하고, 데이터 패킷이 같기 때문에, 결과인 DUT TX 파워 레벨은 이상적으로는 2개의 전송된 데이터 패킷 간의 차이여야 한다. 유사하게, 실제 테스터 전송 파워는 테스터에서 원하는 RSSI 및/또는 보고된 테스터 전송 파워를 변경하는 동안 일정하게 유지될 수 있으며, 이로써 DUT가 다른 TX 파워에서 전송하게 할 수 있다.

이러한 기술로 DUT 전송 파워의 선형성은 DUT에 대한 RSSI를 일정하게 유지함으로써(예를 들어, 테스터로부터의 일정한 전송 파워를 사용함으로써) 측정될 수 있고 DUT가 다른 파워 레벨로 전송하게 하도록 데이터 패킷 내용을 제어하여, 파워 제어 범위를 효과적으로 스위핑하도록 할 수 있다. 지원되는 파워 범위가 알려져 있다고 가정하면(예를 들어, DUT가 자신의 최소 및 최대 파워 레벨을 제한하면), DUT가 전송 파워 수정을 중단하여 자신의 내부 TX 값을 드러내고 본질적으로 스위핑된 곡선을 절대 값으로 만드는 레벨이 판정될 수 있다. 그런 다음 사용되는 RSSI 레벨을 알고 사용된 TX 파워 단계도 알고 있으면, DUT에 의해 측정된 RSSI가 판정될 수 있다. 그러면 이는 추가적으로 RSSI 입력 레벨을 DUT로 스위핑할 수 있으며, 이상적으로는 데이터 패킷 내용을 제어하여 DUT가 DUT에 제공된 주어진 RSSI에 대해 동일한 파워 레벨을 전송하도록 강제하여 DUT TX 파워를 일정하게 유지하게 할 수 있다. 따라서, RSSI는 스위치 오버 포인트가 있는 위치를 판정하기 위해 DUT RSSI 레벨 보고 기능보다 더 미세한 증분으로 스테핑될 수 있다. 전체 RSSI 스위핑을 수행하면 예상("이상적인") RSSI 곡선으로부터의 오프셋을 기반으로 실제 RSSI 곡선을 수정할 수 있다.

도 8 및 9를 참조하면, 테스터 데이터 패킷 신호 시퀀스(402t) 및 DUT 데이터 패킷 신호 시퀀스(402d)의 다른 예(예를 들어, 원하거나 필요에 따라 단일 또는 다중 데이터 패킷을 갖는 각 신호(402t, 402d)를 가진)가 DUT에 의해 전송되고 테스터에 의해 수신되어 각 전송에 대한 대응하는 실제 파워 레벨(402dr)을 판정하기 위해 미리 정해진 의도된 파워 레벨(402di)을 가지고 교환될 수 있다. 예를 들어, 대응하는 의도된 실제 DUT TX 파워 레벨(예를 들어, 도 4와 유사)의 테이블이 일단 판정되면, 대응하는 RSSI 값의 유사한 판정이 이루어질 수 있다. (이 예는 파워 스위핑이 거의 끝날 무렵에 선택되므로 테스트에서 이 지점에 도달하기 전에 유사한 측정을 수행할 수 있다.)

제1 테스터 시퀀스(403ta)에서, +17dBm의 타겟 DUT TX 파워로, 테스터는 +10dBm의 보고된 테스터 전송 파워 RTTP를 식별하는 데이터 및 테스터가 수신하는 DUT 데이터 패킷 신호에 대해 -33dBm의 원하는 또는 예상되는 수신 신호 강도 TRSS를 식별하는 데이터를 포함하는 트리거 프레임으로 -40dBm의 테스터 전송 출력 파워 TTOP에서 데이터 패킷 신호를 전송할 수 있다. 제1 DUT 시퀀스(403da)에서 DUT는 수신 신호 강도 DRSS를 -41dBm으로 잘못 판정하고 다음과 같이 인지된 패스로스 PPL을 계산한다:

PPL = RTTP - DRSS = +10dBm -(-41dBm) = 51dB

따라서, 잘못된 51dB 패스로스 및 -33dBm의 테스터에서 원하는 RSSI(패스로스를 고려한 후)로 DUT는 다음과 같이 의도된 DUT 전송 파워 IDTP를 전송해야 한다:

IDTP = TRSS + PPL = -33dBm + 51dB = +18dBm

테스터(예를 들어, VSA)는 +19.0dBm의 수신 파워로 DUT로부터 응답 데이터 패킷 신호를 캡처하지만 DUT TX 파워가 2dB만큼 오프되어 있는지 또는 RSSI가 2dB만큼 오프되어 있는지, 또는 일부 다른 조합에 의해 둘 다 오프되어 있는지(예를 들어, 각각이 1dB 만큼 오프됨) 판정할 수 없다.

다음 테스터 시퀀스(403tb)에서, +18dBm의 타겟 DUT TX 파워로, 테스터는 +10dBm의 일정한 보고된 테스터 전송 파워 RTTP를 식별하는 데이터 및 테스터에 의해 수신되는 DUT 데이터 패킷 신호에 대해 -32dBm의 증가된 원하는 또는 예상되는 수신 신호 강도 TRSS를 식별하는 데이터를 포함하는 트리거 프레임으로 -40dBm의 일정한 테스터 전송 출력 파워 TTOP를 유지한다. 응답 DUT 시퀀스(403db)에서 DUT는 수신 신호 강도 DRSS를 -41dBm으로 다시 잘못 판정하고 인지 패스로스 PPL을 51dB로 다시 잘못 계산한다. 따라서 DUT는 다음과 같이 의도된 DUT 전송 파워 IDTP를 전송해야 한다고 판정한다.

IDTP = TRSS + PPL = -32dBm + 51dB = +19dBm

테스터는 +20.0dBm의 수신 파워로 DUT로부터 응답 데이터 패킷 신호를 캡처하지만, 다시, 오류의 소스(들)는 알 수 없다.

제3 테스터 시퀀스(403tc)에서, +18dBm의 타겟 DUT TX 파워로, 테스터는 +10dBm의 일정한 보고된 테스터 전송 파워 RTTP를 식별하는 데이터 및 테스터에 의해 수신되는 DUT 데이터 패킷 신호에 대해 -31dBm의 추가로 증가된 원하는 또는 예상되는 수신 신호 강도 TRSS를 식별하는 데이터를 포함하는 트리거 프레임으로 -40dBm의 일정한 테스터 전송 출력 파워 TTOP를 유지한다. 응답 DUT 시퀀스(403dc)에서 DUT는 자신의 수신 신호 강도 DRSS를 -41dBm으로 다시 잘못 판정하고 인지 패스로스 PPL을 51dB로 다시 잘못 계산한다. 따라서 DUT는 다음과 같이 의도된 DUT 전송 파워 IDTP를 전송해야 한다고 판정한다:

IDTP = TRSS + PPL = -31dBm + 51dB = +20dBm

테스터는 +20.8dBm의 수신 파워로 DUT로부터 응답 데이터 패킷 신호를 캡처한다.

다음 테스터 시퀀스(403td)에서, 테스터는 +10dBm의 일정한 보고된 테스터 전송 파워 RTTP를 식별하는 데이터 및 테스터에 의해 수신되는 DUT 데이터 패킷 신호에 대해 추가로 증가된 원하는 또는 예상되는 -30dBm의 수신 신호 강도 TRSS를 식별하는 데이터를 포함하는 트리거 프레임으로 -40dBm의 일정한 테스터 전송 출력 파워 TTOP를 유지한다. 응답 DUT 시퀀스(403dd)에서 DUT는 자신의 수신 신호 강도 DRSS를 -41dBm으로 다시 잘못 판정하고 다시 51dB의 인지된 패스로스 PPL을 잘못 계산한다. 따라서 DUT는 다음과 같이 의도된 DUT 전송 파워 IDTP를 전송해야 한다고 판정한다:

IDTP = TRSS + PPL = -30dBm + 51dB = +21dBm

테스터는 +20.8dBm의 수신 파워로 DUT로부터 응답 데이터 패킷 신호를 다시 캡처한다.

마지막 테스터 시퀀스(403te)에서, +20dBm의 증가된 목표 DUT TX 파워로, 테스터는 +10dBm의 일정하게 보고된 테스터 전송 파워 RTTP를 식별하는 데이터, 및 테스터에 의해 수신되는 DUT 데이터 패킷 신호에 대해 -29dBm의 추가로 증가된 원하는 수신 신호 강도 TRSS를 식별하는 데이터를 포함하는 트리거 프레임으로 -40dBm의 일정한 테스터 전송 출력 파워 TTOP를 유지한다. 응답 DUT 시퀀스(403de)에서 DUT는 수신 신호 강도 DRSS를 -41dBm으로 다시 잘못 판정하고 다시 51dB의 인지된 패스로스 PPL을 잘못 계산한다. 따라서 DUT는 다음과 같이 의도된 DUT 전송 파워 IDTP를 전송해야 한다고 판정한다:

IDTP = TRSS + PPL = -29dBm + 51dB = +22dBm

그러나, DUT TX 파워가 최대 +20dBm으로 제한되는 것으로 알려져 있으므로, DUT가 +20dBm을 전송하고 DUT가 +20dBm DUT TX 파워를 결정하기 위해 51dB의 패스로스를 잘못 계산한 결과 그렇게 해야 하기 때문에, DUT에 의해 전송되는 +20dBm을 가져오는 -31dBm의 TRSS로, DRSS는 1dB만큼 오프된다고 결론지을 수 있다. 따라서, 대응하는 의도된 402di 및 수신된 402dr DUT TX 파워의 테이블(도 9)이 도출될 수 있다.

본 발명의 동작의 구조 및 방법에서의 다양한 기타 변형 및 대안이 본 발명의 범위 및 취지를 벗어나지 않고 당업자에게 명확할 것이다. 본 발명이 특정한 바람직한 실시 예와 관련하여 설명되었지만, 본 발명은 이러한 특정한 실시 예에 과도하게 한정되지 않아야 한다는 것이 이해되어야 한다. 후속하는 청구 범위는 본 발명의 범위를 정의하고, 이들 청구 범위 및 그 등가물의 범위 내에서의 구조 및 방법이 그에 의해 커버되는 것으로 의도된다.

Claims

데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법에 있어서,
테스터를 가지고, DUT로부터 발생하는 복수의 연속적인 DUT 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계로서, 상기 복수의 연속적인 DUT 데이터 패킷 신호 각각은 상기 테스터에 의해 수신되는 각각의 DUT 전송 파워(RDTPn)를 가지고, n=1, …, m에 대해 최소 의도된 DUT 전송 파워(IDTP: intended DUT transmit powers) 또는 최대 IDTP, 또는 상기 최소 IDTP와 상기 최대 IDTP 사이의 적어도 하나의 중간 IDTP 중 하나와 동일한 파워를 가진 복수의 의도된 DUT 전송 파워(IDTP) 중 각각의 하나(IDTPn)에 대응하는 상기 수신하는 단계;
상기 테스터를 가지고, 각각의 RDTPn을 자신의 대응하는 IDTPn과 연관시키는 단계;
상기 DUT에 대해 상기 테스터를 가지고, 트리거 프레임을 포함하고 테스터 전송 출력 파워(TTOP)를 갖는 테스터 데이터 패킷 신호를 전송하는 단계로서, 상기 트리거 프레임은
상기 테스터 데이터 패킷 신호의 보고된 테스터 전송 파워(RTTP)(상기 RTTP 및 상기 TTOP는 동일하지 않음), 및
상기 DUT로부터 상기 테스터에 의해 수신되는 DUT 데이터 패킷 신호의 원하는 수신 신호 강도(TRSS),
에 대응하는 데이터를 포함하는 상기 전송하는 단계;
상기 DUT로부터 상기 테스터를 가지고, RDTPn을 갖는 DUT 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계;
상기 DUT로부터 상기 테스터를 가지고 수신된 상기 RDTPn에 대응하는 IDTPn을 판정하는 단계;
판정된 상기 IDTPn을 RTTP-TTOP+TRSS와 비교하는 단계; 및
상기 TTOP, 상기 RTTP 및 상기 TRSS의 값의 복수의 조합에 대해 테스터 데이터 패킷 신호를 상기 전송하는 단계, DUT 데이터 패킷 신호를 상기 수신하는 단계, IDTPn을 상기 판정하는 단계, 및 상기 판정된 IDTPn을 상기 비교하는 단계를 반복하는 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법.
제1 항에 있어서, 상기 TTOP, 상기 RTTP 및 상기 TRSS의 값의 복수의 조합에 대해 테스터 데이터 패킷 신호를 상기 전송하는 단계, DUT 데이터 패킷 신호를 상기 수신하는 단계, IDTPn을 상기 판정하는 단계, 및 상기 판정된 IPTPn을 상기 비교하는 단계는 상기 RDTPn에 대한 일정한 값을 갖는 DUT 데이터 패킷 신호의 상기 수신하는 단계를 반복하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법.
제1 항에 있어서, 상기 TTOP, 상기 RTTP 및 상기 TRSS의 값의 복수의 조합에 대해 테스터 데이터 패킷 신호를 상기 전송하는 단계, DUT 데이터 패킷 신호를 상기 수신하는 단계, IDTPn을 상기 판정하는 단계, 및 상기 판정된 IPTPn을 상기 비교하는 단계는 상기 RDTPn에 대한 복수의 상호 구별되는 값을 갖는 DUT 데이터 패킷 신호의 상기 수신하는 단계를 반복하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법.
제1 항에 있어서, 상기 테스터를 가지고, 각각의 RDTPn을 자신의 대응하는 IDTPn과 상기 연관시키는 단계는 자신의 대응하는 IDTPn에 따라 각각의 RDTPn을 저장하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법.
제1 항에 있어서, 상기 RTTP는 상기 TTOP보다 큰 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법.
데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법에 있어서,
테스터에 대해 DUT를 가지고, 복수의 연속적인 DUT 데이터 패킷 신호를 전송하는 단계로서, 상기 복수의 연속적인 DUT 데이터 패킷 신호 각각은 상기 테스터에 의한 수신을 위한 각각의 DUT 전송 파워(RDTPn)를 가지고, n=1, …, m에 대해 최소 의도된 DUT 전송 파워(IDTP: intended DUT transmit powers) 또는 최대 IDTP, 또는 상기 최소 IDTP와 상기 최대 IDTP 사이의 적어도 하나의 중간 IDTP 중 하나와 동일한 파워를 가진 복수의 의도된 DUT 전송 파워(IDTP) 중 각각의 하나(IDTPn)에 대응하는 상기 전송하는 단계;
상기 테스터로부터 상기 DUT를 가지고, 트리거 프레임을 포함하고 테스터 전송 출력 파워(TTOP)를 갖는 테스터 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계로서, 상기 트리거 프레임은
상기 테스터 데이터 패킷 신호의 보고된 테스터 전송 파워(RTTP)(상기 RTTP 및 상기 TTOP는 동일하지 않음), 및
상기 DUT로부터 상기 테스터에 의해 수신되는 DUT 데이터 패킷 신호의 원하는 수신 신호 강도(TRSS),
에 대응하는 데이터를 포함하는 상기 수신하는 단계;
상기 테스터에 대해 상기 DUT를 가지고, RDTPn을 갖는 DUT 데이터 패킷 신호를 전송하는 단계; 및
상기 TTOP, 상기 RTTP 및 상기 TRSS의 값들의 복수의 조합에 대해 테스터 데이터 패킷 신호를 상기 전송하는 단계 및 DUT 데이터 패킷 신호를 상기 수신하는 단계를 반복하는 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법.
제6 항에 있어서, 상기 TTOP, 상기 RTTP 및 상기 TRSS의 값의 복수 조합에 대해 테스터 데이터 패킷 신호를 상기 전송하는 단계 및 DUT 데이터 패킷 신호를 상기 수신하는 단계를 상기 반복하는 단계는 상기 RDTPn에 대해 일정한 값을 갖는 DUT 데이터 패킷 신호를 상기 수신하는 단계를 반복하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법.
제6 항에 있어서, 상기 TTOP, 상기 RTTP 및 상기 TRSS의 값의 복수 조합에 대해 테스터 데이터 패킷 신호를 상기 전송하는 단계 및 DUT 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계를 상기 반복하는 단계는 상기 RDTPn에 대해 복수의 상호 구별되는 값을 갖는 DUT 데이터 패킷 신호를 상기 수신하는 단계를 반복하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법.
제6 항에 있어서, 상기 RTTP는 상기 TTOP보다 큰 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법.
제6 항에 있어서, 상기 테스터를 가지고, 각각의 RDTPn을 자신의 대응하는 IDTPn에 따라 저장함으로써 각각의 RDTPn을 자신의 대응하는 IDTPn과 연관시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법.
제6 항에 있어서, 상기 테스터에 대해 상기 DUT를 가지고, RDTPn을 갖는 DUT 데이터 패킷 신호를 전송하는 단계에 후속하여, 상기 DUT로부터 상기 테스터를 가지고 수신된 상기 RDTPn에 대응하는 IDTPn을 판정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법.
제6 항에 있어서, 상기 판정된 IDTPn을 RTTP-TTOP+TRSS와 비교하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법.
데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법에 있어서,
DUT를 가지고, 복수의 연속적인 DUT 데이터 패킷 신호를 전송하는 단계로서, 상기 복수의 연속적인 DUT 데이터 패킷 신호 각각은 상기 테스터에 의해 수신되는 각각의 DUT 전송 파워(RDTPn)를 가지고, n=1, …, m에 대해 최소 의도된 DUT 전송 파워(IDTP: intended DUT transmit powers) 또는 최대 IDTP, 또는 상기 최소 IDTP와 상기 최대 IDTP 사이의 적어도 하나의 중간 IDTP 중 하나와 동일한 파워를 가진 복수의 의도된 DUT 전송 파워(IDTP) 중 각각의 하나(IDTPn)에 대응하는 상기 전송하는 단계;
테스터를 가지고, 각각의 RDTPn을 자신의 대응하는 IDTPn과 연관시킴으로써 상기 복수의 연속적인 DUT 데이터 패킷 신호의 수신에 응답하는 단계;
상기 테스터를 가지고, 트리거 프레임을 포함하고 테스터 전송 출력 파워(TTOP)를 갖는 테스터 데이터 패킷 신호를 전송하는 단계로서, 상기 트리거 프레임은
상기 테스터 데이터 패킷 신호의 보고된 테스터 전송 파워(RTTP)(상기 RTTP 및 상기 TTOP는 동일하지 않음), 및
상기 DUT로부터 상기 테스터에 의해 수신되는 DUT 데이터 패킷 신호의 원하는 수신 신호 강도(TRSS),
에 대응하는 데이터를 포함하는 상기 전송하는 단계;
상기 DUT를 가지고, 상기 테스터 데이터 패킷 신호를 수신하는 단계;
상기 DUT를 가지고, RDTPn을 갖는 DUT 데이터 패킷 신호를 전송하는 단계;
상기 테스터를 가지고, 상기 DUT로부터 상기 테스터를 가지고 수신된 RDTPn에 대응하는 IDTPn을 판정함으로써 상기 RDTPn을 갖는 상기 DUT 데이터 패킷 신호의 수신에 응답하는 단계;
판정된 상기 IDTPn을 RTTP-TTOP+TRSS와 비교하는 단계; 및
상기 TTOP, 상기 RTTP 및 상기 TRSS의 값들의 복수의 조합에 대해 상기 테스터 데이터 패킷 신호를 상기 전송하는 단계 및 상기 수신하는 단계, 상기 DUT 데이터 패킷 신호를 상기 전송하는 단계 및 상기 수신하는 단계, IDTPn을 상기 판정하는 단계, 및 상기 판정된 IDTPn을 상기 비교하는 단계를 반복하는 단계;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법.
제13 항에 있어서, 상기 TTOP, 상기 RTTP 및 상기 TRSS의 값들의 복수의 조합에 대해 상기 테스터 데이터 패킷 신호를 상기 전송하는 단계 및 상기 수신하는 단계, 상기 DUT 데이터 패킷 신호를 상기 전송하는 단계 및 상기 수신하는 단계, IDTPn을 상기 판정하는 단계, 및 상기 판정된 IDTPn을 상기 비교하는 단계를 상기 반복하는 단계는 상기 RDTPn에 대한 일정한 값을 갖는 DUT 데이터 패킷 신호의 상기 수신하는 단계를 반복하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법.
제13 항에 있어서, 상기 TTOP, 상기 RTTP 및 상기 TRSS의 값들의 복수의 조합에 대해 상기 테스터 데이터 패킷 신호를 상기 전송하는 단계 및 상기 수신하는 단계, 상기 DUT 데이터 패킷 신호를 상기 전송하는 단계 및 상기 수신하는 단계, IDTPn을 상기 판정하는 단계, 및 상기 판정된 IDTPn을 상기 비교하는 단계를 상기 반복하는 단계는 상기 RDTPn에 대한 복수의 상호 구별되는 값을 갖는 DUT 데이터 패킷 신호의 상기 수신하는 단계를 반복하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법.
제13 항에 있어서, 각각의 RDTPn을 자신의 대응하는 IDTPn과 상기 연관시키는 단계는 자신의 대응하는 IDTPn에 따라 각각의 RDTPn을 상기 테스터를 가지고 저장하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법.
제13 항에 있어서, 상기 RTTP는 상기 TTOP보다 큰 것을 특징으로 하는 데이터 패킷 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 수신 성능을 테스트하는 방법.