KR20210052849A - Gas valve assembly and substrate processing apparatus having the same - Google Patents
Gas valve assembly and substrate processing apparatus having the same Download PDFInfo
- Publication number
- KR20210052849A KR20210052849A KR1020190138336A KR20190138336A KR20210052849A KR 20210052849 A KR20210052849 A KR 20210052849A KR 1020190138336 A KR1020190138336 A KR 1020190138336A KR 20190138336 A KR20190138336 A KR 20190138336A KR 20210052849 A KR20210052849 A KR 20210052849A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- gas
- substrate
- blocking
- outlet
- inlet
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 162
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims abstract description 97
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims abstract description 121
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 53
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 38
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 22
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 8
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 8
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 8
- 239000002245 particle Substances 0.000 abstract description 14
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 244
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 26
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F16—ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
- F16K—VALVES; TAPS; COCKS; ACTUATING-FLOATS; DEVICES FOR VENTING OR AERATING
- F16K31/00—Actuating devices; Operating means; Releasing devices
- F16K31/44—Mechanical actuating means
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67126—Apparatus for sealing, encapsulating, glassing, decapsulating or the like
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67742—Mechanical parts of transfer devices
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Robotics (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 가스밸브조립체, 그를 가지는 기판처리장치 및 기판처리시스템에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 기판처리를 위한 가스가 공급되는 가스밸브조립체, 그를 가지는 기판처리장치 및 기판처리시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a gas valve assembly, a substrate processing apparatus having the same, and a substrate processing system, and more particularly, to a gas valve assembly supplying a gas for processing a substrate, a substrate processing apparatus having the same, and a substrate processing system.
기판처리장치는 밀폐된 처리공간에 전원을 인가하여 플라즈마를 형성함으로써 기판지지부 위에 안착된 기판의 표면을 증착, 식각하는 등 기판처리를 수행하는 장치를 말한다.The substrate processing apparatus refers to an apparatus that performs substrate processing such as depositing and etching the surface of a substrate mounted on a substrate support by applying power to a sealed processing space to form plasma.
이때, 상기 기판처리장치는 서로 결합되어 처리공간을 형성하는 탑리드 및 챔버본체와, 탑리드에 설치되어 기판처리를 위한 가스를 처리공간으로 분사하는 샤워헤드조립체와, 챔버본체에 설치되어 기판을 지지하는 기판지지부를 포함하여 구성된다.In this case, the substrate processing apparatus includes a top lead and a chamber body that are combined with each other to form a processing space, a showerhead assembly installed on the top lead to inject gas for substrate treatment into the processing space, and a substrate that is installed in the chamber body. It is configured to include a supporting substrate support.
한편, 기판처리장치는 샤워헤드조립체를 포함하여 기판처리를 위한 가스를 처리공간으로 분사할 수 있으며, 이때 사용되는 가스를 안정적으로 공급하는 것이 매우 중요하다.On the other hand, the substrate treatment apparatus can inject gas for substrate treatment into the treatment space including the showerhead assembly, and it is very important to stably supply the gas used at this time.
특히, 가스공급을 위한 가스밸브조립체 상에 지속적인 가스 공급으로 인해 파티클이 형성되는 경우 가스공급 과정에서 파티클이 처리공간 내에 유입되어 공정 정밀도가 떨어지는 문제점이 있다.In particular, when particles are formed on the gas valve assembly for gas supply due to continuous gas supply, there is a problem in that the process precision is deteriorated because particles are introduced into the processing space during the gas supply process.
이러한 문제점을 해결하기 위하여, 도 1에 도시된 바와 같이, 종래 가스공급 밸브는 가스공급유로를 개방하여 차단면을 노출시킨 상태에서 세정가스를 공급함으로써, 차단면에 증착된 파티클을 주기적으로 세정했으나, 이 경우, 차단면에 함께 설치되는 실링부재가 세정가스에 지속적으로 노출됨으로써, 실링부재에 데미지가 발생하는 문제점이 있다.In order to solve this problem, as shown in FIG. 1, the conventional gas supply valve periodically cleans the particles deposited on the blocking surface by supplying cleaning gas in a state where the gas supply passage is opened to expose the blocking surface. In this case, there is a problem in that the sealing member installed together on the blocking surface is continuously exposed to the cleaning gas, thereby causing damage to the sealing member.
이처럼 실링부재에 데미지가 발생함으로써, 실링부재에 의한 파티클이 추가적으로 발생되고, 차단부의 완전한 유로 폐쇄가 수행되지 못해 공정가스가 누출되는 문제점이 있다.As described above, when damage is caused to the sealing member, particles are additionally generated by the sealing member, and there is a problem in that the process gas leaks due to the inability to completely close the flow path of the blocking unit.
본 발명의 목적은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 실링부재의 공정가스로의 노출을 방지하는 구조가 적용된 가스밸브조립체, 그를 가지는 기판처리장치 및 기판처리시스템을 제공하는데 있다.An object of the present invention is to provide a gas valve assembly to which a structure for preventing exposure of a sealing member to a process gas is applied, a substrate processing apparatus and a substrate processing system having the same, in order to solve the above problems.
본 발명은 상기와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위하여 창출된 것으로서, 본 발명은, 가스가 통과하는 메인유로(S1)를 형성하는 메인유로부(100)와; 상기 메인유로부(100)로부터 연장형성되며, 상기 메인유로(S1)와 연통되는 가스유입통로(S2)를 형성하는 가스유입부(300)와; 상기 메인유로부(100)로부터 연장형성되며, 상기 메인유로(S1)와 연통되도록 유출구(410)가 형성되는 가스유출부(400)와; 상기 메인유로(S1) 상에서 구동을 통해 상기 유출구(410)를 개폐함으로써, 상기 가스를 공급 또는 차단하는 차단부(200)를 포함하며, 상기 가스유입부(300)는, 상기 가스유입통로(S2)를 통해 공급되는 가스가 상기 메인유로(S1)로 전달되도록 형성되는 적어도 하나의 유입구(310)와, 상기 유출구(410)의 개방 시 상기 차단부(200)가 밀착되는 유입부밀착면(320)을 포함하는 가스밸브조립체를 개시한다.The present invention was created to achieve the object of the present invention as described above, the present invention, the main
상기 차단부(200)는, 상기 유출구(410)를 개폐하는 차단면(211)과, 상기 차단면(211)의 가장자리에 구비되는 제1실링부재(212)를 포함하는 차단부재(210)와, 외부의 구동부와 상기 차단부재(210)를 연결하는 구동샤프트(220)를 포함할 수 있다.The blocking
상기 차단면(211)은, 상기 유출구(410)에 적어도 일부가 삽입되도록 상기 유출구(410)에 대응되는 형상으로 돌출되어 구비될 수 있다.The blocking
상기 가스유입부(300)는, 상기 차단부재(210)의 상기 유입부밀착면(320)으로의 밀착 시, 상기 차단면(211)이 상기 가스유입통로(S2)에 노출되도록 상기 유입부밀착면(320)의 중심부에 상기 차단면(211)에 대응되도록 관통형성되는 차단면노출구(330)를 추가로 포함할 수 있다.The
상기 유입구(310)는, 상기 차단면노출구(330)에 인접된 위치에서 상기 메인유로(S1)와 연통되도록 형성될 수 있다.The
상기 메인유로부(100)는, 상기 가스유입부(300)와 상기 가스유출부(400)로부터 연장되어 형성되는 메인유로형성부(140)와, 상기 메인유로형성부(140)에 결합되어 내부에 상기 메인유로(S1)를 형성하는 커버부(110)를 포함할 수 있다.The
상기 메인유로부(100)는, 상기 메인유로형성부(140)와 상기 커버부(110) 사이의 결합면에 구비되는 제2실링부재(130)를 추가로 포함할 수 있다.The
상기 가스유입부(300)는, 외부의 가스챔버 측과 연결되어 상기 가스유입통로(S2)의 적어도 일부를 형성하는 가스도입부(341)와, 상기 가스도입부(341)의 상기 메인유로부(100) 측 끝단에서 반경방향으로 확장되어 형성되는 확장부(350)를 포함할 수 있다.The
상기 가스유출부(400)는, 상기 유출구(410)의 상기 차단부(200)에 의한 폐쇄 시, 상기 차단부(200)가 밀착되는 유출부밀착면(430)을 포함할 수 있다.The
상기 차단부(200)는, 상기 제1실링부재(212)의 가스로의 노출을 방지하기 위하여, 상기 유출구(410)의 개방 시 상기 유입부밀착면(320)에 상기 유출구(410)의 폐쇄 시 상기 유출부밀착면(430)에 각각 밀착될 수 있다.When the
또한, 본 발명은, 기판처리를 위한 처리공간을 형성하는 공정챔버(10)와; 상기 공정챔버(10)에 설치되어 기판(1)을 지지하는 기판지지부(20)와; 상기 기판지지부(20)의 상부에 설치되어 공정수행을 위한 가스를 분사하는 샤워헤드(30)와; 상기 공정챔버(10)의 외부에 설치되어, 상기 샤워헤드(30)에 가스를 공급하는 가스챔버와; 상기 가스챔버로부터 상기 샤워헤드(30)로 가스를 공급하기 위한 배관에 설치되어, 상기 샤워헤드(30)로 공급되는 가스를 제어하는 가스밸브조립체(70)를 포함하는 기판처리장치를 개시한다.In addition, the present invention includes a
상기 가스챔버는, 플라즈마 상태의 가스를 공급하는 원격 플라즈마 공급챔버일 수 있다. The gas chamber may be a remote plasma supply chamber that supplies gas in a plasma state.
또한, 본 발명은, 밀폐된 처리공간를 형성하여 기판처리를 수행하는 복수의 기판처리장치(4)들과; 상기 복수의 기판처리장치(4)들이 결합되며, 상기 복수의 기판처리장치(4)들 각각에 상기 기판(1)을 반출하거나 도입하는 반송로봇(5)이 설치된 기판반송모듈(3)과; 상기 기판반송모듈(3)에 결합되어 상기 기판처리장치(4)를 통해 기판처리가 완료된 기판(1)을 외부로 반출하고, 외부로부터 기판처리될 기판(1)을 도입하는 기판교환모듈(2)을 포함하는 기판처리시스템을 개시한다. In addition, the present invention comprises a plurality of
본 발명에 따른 가스밸브조립체, 그를 가지는 기판처리장치 및 기판처리시스템은, 가스밸브조립체에 세정가스를 주기적으로 노출시켜 가스밸브조립체에 발생 및 증착되는 파티클을 제거함으로써 원활한 기판처리가 가능한 이점이 있다.The gas valve assembly, the substrate processing apparatus and the substrate processing system having the gas valve assembly according to the present invention have the advantage of enabling smooth substrate treatment by removing particles generated and deposited on the gas valve assembly by periodically exposing cleaning gas to the gas valve assembly. .
또한, 본 발명에 따른 가스밸브조립체, 그를 가지는 기판처리장치 및 기판처리시스템은, 실링부재의 공정가스와 세정가스로의 노출을 방지함으로써, 실링부재에 가스에 의한 데미지를 최소화할 수 있는 이점이 있다.In addition, the gas valve assembly according to the present invention, the substrate processing apparatus and the substrate processing system having the same, has the advantage of minimizing the damage caused by the gas to the sealing member by preventing the sealing member from being exposed to the process gas and the cleaning gas. .
이로써, 본 발명에 따른 가스밸브조립체, 그를 가지는 기판처리장치 및 기판처리시스템은, 실링부재의 내구성이 증대되고, 가스의 누출 및 실링부재로부터의 파티클 발생을 방지하여 안정적인 공정수행이 가능한 이점이 있다.Accordingly, the gas valve assembly, the substrate processing apparatus and the substrate processing system having the same according to the present invention have the advantage of increasing the durability of the sealing member, preventing gas leakage and the generation of particles from the sealing member, thereby enabling a stable process. .
또한, 본 발명에 따른 가스밸브조립체, 그를 가지는 기판처리장치 및 기판처리시스템은, 실링부재의 공정가스 및 세정가스로의 노출을 방지하면서 차단면은 세정가스에 노출되도록 함으로써, 차단면의 세정효과를 극대화할 수 있는 이점이 있다.In addition, the gas valve assembly according to the present invention, the substrate processing apparatus and the substrate processing system having the same, prevents the sealing member from being exposed to the process gas and the cleaning gas while allowing the blocking surface to be exposed to the cleaning gas, thereby improving the cleaning effect of the blocking surface. There is an advantage that can be maximized.
도 1은, 종래 가스밸브조립체의 모습을 보여주는 단면도이다.
도 2는, 본 발명에 따른 기판처리장치의 개략적인 모습을 보여주는 단면도이다.
도 3은, 본 발명에 따른 가스밸브조립체 중 커버부가 제거된 상태의 모습을 보여주는 사시도이다.
도 4a 및 도 4b는, 도 3의 가스밸브조립체의 작동모습을 보여주는 단면도들로서, 도 4a는, 가스밸브조립체가 폐쇄된 상태의 모습을 보여주는 단면도이며, 도 4b는, 가스밸브조립체가 개방된 상태의 모습을 보여주는 단면도이다.
도 5는, 도 3에 따른 가스밸브조립체의 내부 모습을 보여주는 A-A방향 단면도이다.
도 6은, 도 2에 따른 기판처리장치를 포함하는 기판처리시스템의 개략도이다.1 is a cross-sectional view showing a conventional gas valve assembly.
2 is a schematic cross-sectional view of a substrate processing apparatus according to the present invention.
3 is a perspective view showing a state in which the cover part is removed from the gas valve assembly according to the present invention.
4A and 4B are cross-sectional views showing the operation of the gas valve assembly of FIG. 3, and FIG. 4A is a cross-sectional view showing a state in which the gas valve assembly is closed, and FIG. 4B is a state in which the gas valve assembly is opened. It is a cross-sectional view showing the appearance of.
5 is a cross-sectional view in the AA direction showing the interior of the gas valve assembly according to FIG. 3.
6 is a schematic diagram of a substrate processing system including the substrate processing apparatus according to FIG. 2.
이하 본 발명에 따른 가스밸브조립체, 그를 가지는 기판처리장치 및 기판처리시스템에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a gas valve assembly, a substrate processing apparatus and a substrate processing system having the same according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
본 발명에 따른 기판처리시스템은, 도 6에 도시된 바와 같이, 밀폐된 처리공간을 형성하여 기판처리를 수행하는 복수의 기판처리장치(4)들과; 복수의 기판처리장치(4)들이 결합되며, 복수의 기판처리장치(4)들 각각에 기판(1)을 반출하거나 도입하는 반송로봇(5)이 설치된 기판반송모듈(3)과; 기판반송모듈(3)에 결합되어 기판처리장치(4)를 통해 기판처리가 완료된 기판(1)을 외부로 반출하고, 외부로부터 기판처리될 기판(1)을 도입하는 기판교환모듈(2)을 포함한다.The substrate processing system according to the present invention includes a plurality of
본 발명의 처리대상인 기판(1)은, 증착, 식각 등 기판처리가 수행되는 구성으로서, 반도체 제조용기판, LCD 제조용기판, OLED 제조용기판, 태양전지 제조용기판, 투명 글라스기판 등 어떠한 기판도 가능하다.The
특히, 상기 기판(1)은, 처리공간내에 분사되는 공정가스를 통해 기판처리가 수행되는 구성일 수 있다.In particular, the
상기 기판반송모듈(3)은, 복수의 기판처리장치(4)들이 결합되며, 복수의 기판처리장치(4)들 각각에 기판(1)을 반출하거나 도입하는 반송로봇(5)이 설치된 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
예를 들면, 상기 기판반송모듈(3)은, 기판교환모듈(2)을 통해 외부로부터 반입되는 기판처리될 기판(1)을 내부에 설치된 반송로봇(5)을 통해 기판처리장치(4)로 이송할 수 있다.For example, the
또한, 상기 기판반송모듈(3)은, 기판처리장치(4)를 통해 기판처리가 완료된 기판(1)을 기판처리장치(4)로부터 기판교환모듈(2)로 이송하여 외부로 반출하도록 할 수 있다.In addition, the
상기 기판교환모듈(2)은, 기판반송모듈(3)에 결합되어 기판처리장치(4)을 통해 기판처리가 완료된 기판(1)을 외부로 반출하고, 외부로부터 기판처리될 기판(1)을 도입하는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
예를 들면, 상기 기판교환모듈(2)은, 대기압 상태의 외부로부터 기판처리될 기판(1)을 로딩하고 진공공간의 기판반송모듈(3)로 기판(1)이 이송될 수 있도록 할 수 있다.For example, the
또한, 상기 기판교환모듈(2)은, 기판처리장치(4)로부터 기판처리가 완료된 기판(1)을 기판반송모듈(3)을 통해 전달받아 진공공간의 내부로부터 대기압 상태의 외부로 처리가 완료된 기판(1)을 언로딩할 수 있다.In addition, the
상기 기판처리장치(4)은, 밀폐된 처리공간을 형성하여 기판처리를 수행하는 구성으로서, 기판반송모듈(3)에 복수개 설치되어, 서로 동일한 공정 또는 서로 상이한 공정을 수행할 수 있다.The
예를 들면, 상기 기판처리장치(4)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 기판처리를 위한 처리공간을 형성하는 공정챔버(10)와; 상기 공정챔버(10)에 설치되어 기판(1)을 지지하는 기판지지부(20)와; 상기 기판지지부(20)의 상부에 설치되어 공정수행을 위한 공정가스를 분사하는 샤워헤드(30)와; 상기 공정챔버(10)의 외부에 설치되어, 샤워헤드(30)에 가스를 공급하는 가스챔버와; 상기 가스챔버로부터 상기 샤워헤드(30)로 가스를 공급하기 위한 배관에 설치되어, 상기 샤워헤드(30)로 공급되는 가스를 제어하는 가스밸브조립체(70)를 포함한다.For example, the
상기 공정챔버(10)는, 기판처리를 위한 처리공간을 형성하는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
예를 들면, 상기 공정챔버(10)는, 상측이 개방된 챔버본체(11)와, 챔버본체(11)의 상부를 복개하여 기판처리를 위한 처리공간을 형성하는 탑리드(12)를 포함할 수 있다.For example, the
상기 챔버본체(11)는, 상부가 개방되고 기판처리를 위한 처리공간이 형성되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
특히, 상기 챔버본체(11)는, 후술하는 기판지지부(20)등이 설치되며, 처리공간에 기판(1)의 도입 및 배출을 위한 내측벽에 하나 이상의 게이트(13)가 형성될 수 있다.In particular, in the
상기 게이트(13)는, 처리공간에 기판(1)의 도입 및 배출을 위해 공정챔버(10) 중 챔버본체(11)에 형성되는 구조로서, 다양한 구조가 가능하다.The
상기 탑리드(12)는, 챔버본체(11)의 상부를 복개하여 기판처리를 위한 처리공간을 형성하는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
예를 들면, 상기 탑리드(12)는, 후술하는 샤워헤드(30)가 설치되도록 중심부가 개방되거나, 샤워헤드(30)의 상측에서 챔버본체(11)의 상부를 복개하도록 설치될 수 있다.For example, the
또한 상기 공정챔버(10)는, 후술하는 샤워헤드(30)와 가스밸브조립체(70) 사이에서 가스를 전달하는 가스공급관(14)을 추가로 포함할 수 있다.In addition, the
상기 기판지지부(20)는, 공정챔버(10) 내에 설치되어, 기판(1)이 안착되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
예를 들면, 상기 기판지지부(20)는, 기판(1)이 안착되는 기판안착부(21)와, 기판안착부(21)가 상하이동 가능하도록 기판안착부(21)의 하측에 설치되는 지지축(22)을 포함할 수 있다.For example, the
상기 기판지지부(20)는, 기판(1)의 도입 및 배출과, 기판처리를 위하여 기판(1) 및 기판안착부(21)가 상하이동 가능하도록 설치될 수 있으며, 더 나아가, 기판(1)을 가열하거나 냉각하는 등 온도제어를 위하여 히터를 포함하는 온도제어부재가 추가로 설치될 수 있다.The
또한, 상기 기판지지부(20)는, 기판처리를 위한 처리공간 내 플라즈마 분위기 형성을 위하여, 후술하는 샤워헤드(30)와 대향되는 위치에서 전극 또는 접지로서 구성될 수 있다.In addition, the
상기 샤워헤드(30)는, 기판지지부(20)의 상부에 설치되어 공정수행을 위한 가스를 분사하는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
상기 샤워헤드(30)는, 가스밸브조립체(70)와 연결되어 가스밸브조립체(70)를 거쳐 외부 가스챔버로부터 공급되는 가스를 기판지지부(20)의 상부면에 위치하는 기판(1)을 향해 균일하게 분사할 수 있다.The
상기 가스챔버는, 공정챔버(10)의 외부에 설치되어, 샤워헤드(30)에 가스를 공급하는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The gas chamber is installed outside the
이때, 상기 가스챔버는, 플라즈마 상태의 가스를 공급하는 RPG(Remote Plasma Generator)로서, 플라즈마 상태의 가스를 공급하는 구성일 수 있다.In this case, the gas chamber is a remote plasma generator (RPG) that supplies gas in a plasma state, and may be configured to supply gas in a plasma state.
따라서, 플라즈마 상태의 가스가 공급되므로, 후술하는 차단면(211)에 설치되는 제1실링부재(212)가 가스에 노출되는 경우 손상이 쉬워, 제1실링부재(212)의 가스, 특히 세정가스로의 노출을 최소화하는 기술이 필요하다.Therefore, since the gas in the plasma state is supplied, damage is easy when the
더 나아가, 차단면(211)은 유출구(410)의 폐쇄 시, 공정챔버(10) 측으로부터 역류하는 가스에 지속적으로 노출되는 바, 세정가스에의 노출이 필요하나, 제1실링부재(212)의 경우 플라즈마 상태의 세정가스에 노출되는 경우 데미지가 발생하므로, 차단면(211)은 세정가스에 노출하면서도 제1실링부재(212)의 노출을 최소화하는 기술이 필요하다.Further, when the
상기 가스밸브조립체(70)는, 가스챔버로부터 샤워헤드(30)로 가스를 공급하기 위한 배관에 설치되어, 샤워헤드(30)로 공급되는 가스를 제어하는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
이때, 상기 가스밸브조립체(70)는, 공정을 위한 가스가 전달되는 구성인 바, 이물질, 파티클 등이 없이 공정을 위해 공급되는 가스의 전달이 매우 중요하며, 이를 위하여 주기적으로 세정가스를 공급할 수 있다.At this time, since the
특히, 상기 가스밸브조립체(70)는, 가스밸브의 차단 시, 공정챔버(10) 측에 위치하는 공간을 통해 공정을 위한 가스가 위치하는 바, 차단을 위한 차단면(211)이 가스에 지속적으로 노출되고 이에 따라 파티클이 누적되고 누적된 파티클이 가스 공급 시 함께 공급되는 문제점이 있다.In particular, in the
이를 위해 종래 가스밸브조립체는, 도 1에 도시된 바와 같이, 가스가 유입되는 가스유입부(50)와 유입된 가스를 공정챔버(10)로 전달하는 가스유출부(60)와, 가스유로를 개폐하는 차단부재(40)를 포함하고, 차단부재(40)가 가스유로를 개방한 상태에서 세정가스를 공급하여 차단부재(40)에 증착된 파티클을 제거하였다.To this end, as shown in FIG. 1, the conventional gas valve assembly includes a
그러나 종래 가스밸브조립체는, 도 1에 도시된 바와 같이, 차단부재(40)에 구비되는 실링부재(41) 또한 세정가스에 노출되는 구조인 바, 실링부재(41)의 내구성이 저하되고 실링부재(41)의 손상으로 인해 파티클이 발생되는 문제점이 있다.However, the conventional gas valve assembly has a structure in which the sealing
이러한 문제점을 극복하기 위하여, 본 발명에 따른 가스밸브조립체는, 도 2에 도시된 바와 같이, 가스가 통과하는 메인유로(S1)를 형성하는 메인유로부(100)와; 상기 메인유로부(100)로부터 연장형성되며, 상기 메인유로(S1)와 연통되는 가스유입통로(S2)를 형성하는 가스유입부(300)와; 상기 메인유로부(100)로부터 연장형성되며, 상기 메인유로(S1)와 연통되도록 유출구(410)가 형성되는 가스유출부(400)와; 상기 메인유로(S1) 상에서 구동을 통해 상기 유출구(410)를 개폐함으로써, 상기 가스를 공급 또는 차단하는 차단부(200)를 포함한다.In order to overcome this problem, the gas valve assembly according to the present invention includes, as shown in FIG. 2, a
한편 본 발명에 가스밸브조립체는, 메인유로부(100), 가스유입부(300) 및 가스유출부(400)의 구성이 원바디로 가공을 통해 형성될 수 있으며, 다른 예로써 각각의 구성의 물리적 결합을 통해 구성될 수도 있다.Meanwhile, in the gas valve assembly according to the present invention, the configuration of the main
여기서, 상기 가스는, 기판(1)의 처리를 위한 공정에 사용되는 공정가스와, 가스밸브조립체의 세정을 위하여 사용되는 세정가스를 포함하는 구성으로서, 기판처리에 사용되거나 가스밸브조립체의 세정을 위하여 사용되는 종래 개시된 어떠한 가스도 적용 가능하다.Here, the gas is a configuration including a process gas used in a process for processing the
상기 메인유로부(100)는, 가스가 통과하는 메인유로(S1)를 형성하는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
예를 들면, 상기 메인유로부(100)는, 일측에 형성되는 가스유입부(300)와 가스유출부(400)로부터 타측으로 연장형성되어 메인유로(S1)를 위한 공간을 형성하는 메인유로형성부(140)와, 메인유로형성부(140)에 결합되어 메인유로형성부(140)와 함께 내부에 메인유로(S1)를 형성하는 커버부(110)를 포함할 수 있다.For example, the
또한, 상기 메인유로부(100)는, 차단부(200)의 구동을 위하여 외부에 설치되는 구동부와 연결되는 구동샤프트(220)가 관통되는 관통구(120)를 추가로 포함할 수 있다.In addition, the
또한, 상기 메인유로부(100)는, 메인유로형성부(140)와 커버부(110) 사이의 결합면에 구비되는 제2실링부재(130)를 추가로 포함할 수 있다.In addition, the
이때, 상기 메인유로부(100)는, 독립된 부재로서, 가스유입부(300) 및 가스유출부(400)와 연통되도록 결합되며 메인유로(S1)를 가지는 구성일 수 있음은 또한 물론이다.At this time, the
상기 메인유로형성부(140)는, 도 4a 및 도 4b에 도시된 바와 같이, 일측에 상하로 형성되는 가스유입부(300)와 가스유출부(400)로부터 타측으로 연장되어 형성되며, 이때 내부에 메인유로(S1)가 형성되도록 내부공간을 가질 수 있다.The main flow
상기 메인유로형성부(140)는, 커버부(110)의 결합을 통해 내부에 메인유로(S1)를 형성할 수 있으며, 이를 통해 가스유입부(300)를 통해 공급되는 가스가 메인유로(S1)를 거쳐 가스유출부(400)로 전달될 수 있다.The main flow
한편, 가스 차단 시, 가스유입부(300)를 통해 공급되는 가스가 가스유출부(400)의 차단으로 메인유로(S1)에 위치할 수 있다.Meanwhile, when gas is blocked, the gas supplied through the
즉, 상기 메인유로(S1)는, 상기 가스유입부(300)와 가스의 통과 또는 차단과는 무관하게 연통되도록 형성될 수 있다.That is, the main flow path S1 may be formed to communicate with the
상기 커버부(110)는, 메인유로형성부(140)에 결합되어 내부에 메인유로(S1)를 형성하는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
예를 들면, 상기 커버부(110)는, 가스유입부(300) 및 가스유출부(400)로부터 연장형성되는 메인유로형성부(140)에 가스유입부(300) 및 가스유출부(400)의 반대측에서 결합되어 메인유로(S1)인 내부공간을 형성할 수 있다.For example, the
즉, 상기 커버부(110)는, 일측에 위치하는 가스유입부(300) 및 가스유출부(400)와 대향되는 위치에서 메인유로형성부(140)에 결합될 수 있다.That is, the
한편, 상기 커버부(110)는, 메인유로(S1)를 형성하는 내부면이 평평하게 형성될수 있으며, 다른 예로써, 가스유입부(300) 측으로부터 공급되는 가스의 가스유출부(400) 측으로의 원활한 유체흐름을 유도하기 위하여, 내부면이 곡선 및 돌출부분을 가지도록 형성될 수 있다.On the other hand, the
한편, 상기 커버부(110)는, 메인유로형성부(140)에 결합되는 구성인 바, 결합 해제 시, 메인유로(S1)를 외부로 개방하여 가스밸브조립체 등 구성의 유지보수가 용이하도록 할 수 있다.On the other hand, the
즉, 상기 커버부(110)는, 메인유로형성부(140)로부터 분리되는 경우, 메인유로(S1)를 개방하여 내부 구성의 유지보수가 용이하도록 설치될 수 있다.That is, when the
상기 관통구(120)는, 차단부(200)의 구동을 위하여 외부에 설치되는 구동부와 연결되는 구동샤프트(220)가 관통되도록 형성되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The through
상기 관통구(120)는, 구동샤프트(220)에 대응되는 크기로 형성될 수 있으며, 이때, 전달되는 가스의 누출을 방지하기 위하여 벨로우즈 등이 구동샤프트(220)에 추가로 설치될 수 있다.The through
상기 제2실링부재(130)는, 메인유로형성부(140)와 커버부(110) 사이의 결합면에 구비되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
예를 들면, 상기 제2실링부재(130)는, O링으로서, 메인유로형성부(140)와 커버부(110) 사이의 결합면에서 가스가 누출되는 것을 방지하도록 결합면에 구비될 수 있으며, 보다 바람직하게는 메인유로형성부(140) 커버부(110)의 결합면 중 적어도 하나에 홈이 형성되어 홈에 끼워져 결합됨으로써 실링을 보다 완전하게 수행할 수 있다.For example, the
상기 차단부(200)는, 메인유로(S1) 상에서 구동을 통해 유출구(410)를 개폐함으로써, 가스를 공급 또는 차단하는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The blocking
예를 들면, 상기 차단부(200)는, 유출구(410)를 개폐하는 차단부재(210)와, 외부에서 차단부재(210)를 구동하는 구동부와, 구동부와 차단부재(210)를 연결하는 구동샤프트(220)를 포함할 수 있다.For example, the blocking
상기 차단부재(210)는, 유출구(410)를 개폐하는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The blocking
예를 들면, 상기 차단부재(210)는, 유출구(410)를 개폐하는 차단면(211)과, 차단면(211)의 가장자리에 구비되는 제1실링부재(212)를 포함할 수 있다.For example, the blocking
즉, 상기 차단부재(210)는, 가스유출부(400)와 메인유로(S1)가 연통되는 유출구(410)를 개폐함으로써, 가스를 공급 또는 차단할 수 있다.That is, the blocking
상기 차단면(211)는, 유출구(410)를 직접 개폐하는 구성으로서, 다양한 구성일 수 있다.The blocking
예를 들면, 상기 차단면(211)은, 적어도 일부가 가스유출부(400)에 면접촉되어 유출구(410)를 차단할 수 있으며, 다른 예로서, 유출구(410)에 적어도 일부가 삽입되도록 유출구(410)에 대응되는 형상으로 돌출되어 구비될 수 있다.For example, at least a part of the blocking
즉, 상기 유출구(410)에 적어도 일부가 삽입되도록 유출구(410)에 대응되는 크기 및 형상으로 일부가 돌출되어 형성될 수 있으며, 그 자장자리에서 가스유출부(400)에 접촉함으로써 가스 공급을 차단할 수 있다.That is, a portion may be formed to protrude in a size and shape corresponding to the
상기 제1실링부재(212)는, 차단면(211)의 가장자리에 구비되어 가스유출부(400)와 차단부재(210) 사이에 접촉되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
상기 제1실링부재(212)는, 가스 차단 시, 차단부재(210)와 가스유출부(400) 사이의 공간을 통해 가스가 공급되는 현상을 방지하기 위하여, 차단부재(210)와 가스유출부(400) 사이에 접촉되는 오링일 수 있으며, 보다 완전한 가스차단효과를 위하여 고무재질 등이 사용될 수 있다.The
상기 구동샤프트(220)는, 차단부재(210)와 외부의 구동부 사이를 연결하는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The driving
예를 들면, 상기 구동샤프트(220)는, 일단에 차단부재(210)에 결합되고 타단이 외부의 구동부에 연결되어 차단부재(210)를 구동할 수 있으며, 메인유로부(100)에 형성되는 관통구(120)를 관통하여 설치될 수 있다.For example, the driving
상기 구동샤프트(220)는, 다양한 방식을 통해 구동되어 차단부재(210)가 가스 차단 시 유출구(410)를 폐쇄하고 가스 공급 시 유출구(410)를 개방하고 가스유입부(300)에 형성되는 유입부밀착면(320)에 밀착되도록 할 수 있다.The driving
예를 들면, 상기 구동샤프트(220)는, 외부의 구동부를 통해 L모션으로 구동될 수 있으며, 캠구동, 유압구동, 모터구동 및 이들의 조합으로 구동될 수 있다.For example, the driving
상기 가스유입부(300)는, 도 4a 및 도 4b에 도시된 바와 같이, 메인유로부(100)로부터 연장형성되며, 메인유로(S1)와 연통되는 가스유입통로(S2)를 형성하는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
예를 들면, 상기 가스유입부(300)는, 가스유입통로(S2)를 통해 공급되는 가스가 메인유로(S1)로 전달되도록 형성되는 적어도 하나의 유입구(310)와, 유출구(410)의 개방 시, 차단부(200)가 밀착되는 유입부밀착면(320)을 포함할 수 있다.For example, the
또한, 상기 가스유입부(300)는, 차단부재(210)의 유입부밀착면(320)으로의 밀착 시, 차단면(211)이 가스유입통로(S2)에 노출되도록 유입부밀착면(320)의 중심부에 차단면(211)에 대응되도록 관통형성되는 차단면노출구(330)를 추가로 포함할 수 있다.In addition, when the
또한, 상기 가스유입부(300)는, 외부의 가스챔버 측과 연결되어 가스유입통로(S2)의 적어도 일부를 형성하는 가스도입부(341)와, 가스도입부(341)의 메인유로부(100) 측 끝단에서 반경방향으로 확장되어 형성되는 확장부(350)를 포함할 수 있다.In addition, the
상기 유입구(310)는, 가스가 공급되는 가스유입통로(S2)와 메인유로(S1)가 연통되도록 형성되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
예를 들면, 상기 유입구(310)는, 가스유입통로(S2)와 메인유로(S1) 사이에 위치하는 유입부밀착면(320)에 의해 공급되는 가스가 차단되는 것을 방지하기 위하여, 가스유입통로(S2)와 메인유로(S1)가 서로 연통되도록 형성될 수 있다.For example, the
이때, 상기 유입구(310)는, 복수 개 형성되며, 차단면노출구(330)를 중심으로 양측에서 메인유로(S1)와 연통되도록 형성될 수 있다.At this time, the
보다 구체적으로, 상기 유입구(310)는, 가스유입통로(S2)를 통해 공급되는 가스가 확장부(350)를 통해 확산되어 메인유로(S1)로 전달되도록 차단면노출구(330)를 중심으로 양측에 형성될 수 있다.More specifically, the
즉, 상기 유입구(310)는 차단면노출구(330)에 인접하여 형성됨으로써, 가스유입통로(S2)를 통해 공급되는 가스, 특히 차단면(211)을 세정하기 위한 플라즈마 상태의 세정가스가 차단면노출구(330)를 통해 차단면(211)과 접촉하게 되고, 이로써 차단면(211)의 세정효율을 증대시킬 수 있다.That is, the
더 나아가, 세정가스의 공급 시, 차단면노출구(330)를 통해 가스유입통로(S2) 측으로 노출되는 차단부(200)의 차단면(211)에 세정가스가 전달되고 확장부(350)를 통해 좌우로 확산되어 유입구(310)를 통해 메인유로(S1)로 전달될 수 있다.Furthermore, when the cleaning gas is supplied, the cleaning gas is transmitted to the blocking
상기 유입부밀착면(320)은, 유출구(410)의 개방 시, 차단부(200)가 밀착되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The inlet
상기 유입부밀착면(320)은, 가스유입통로(S2)와 메인유로(S1)를 구분하는 구성으로서, 가스유입부(300)와 메인유로부(100) 사이에 형성될 수 있다.The inlet
이때, 상기 유입부밀착면(320)은, 유출구(410)의 개방을 통한 가스 공급 시, 차단부재(210)가 밀착됨으로써, 제1실링부재(212)가 가스에 노출되는 것을 방지할 수 있다.At this time, the inlet
이때, 상기 유입부밀착면(320)은, 차단면(211)의 적어도 일부와 제1실링부재(212)가 밀착되도록 형성될 수 있으며, 제1실링부재(212)가 삽입되어 가스로의 노출을 완전히 방지하기 위한 삽입홈이 추가로 형성될 수 있다.At this time, the inlet
상기 차단면노출구(330)는, 차단부재(210)의 유입부밀착면(320)으로의 밀착 시, 차단면(211)이 가스유입통로(S2)에 노출되도록 유입부밀착면(320)의 중심부에 차단면(211)에 대응되도록 관통형성되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The blocking
즉, 상기 차단면노출구(330)는, 차단부재(210)의 차단면(211) 중 적어도 일부가 가스유입통로(S2) 측에 노출되도록 함으로써, 세정가스가 차단면(211)에 증착된 파티클을 제거하도록 할 수 있다.That is, the blocking
이를 위하여, 상기 차단면노출구(330)는, 유입부밀착면(320)의 차단면(211)에 대응되는 위치에 관통형성되어, 가스유입통로(S2)를 통해 공급되는 세정가스가 차단면(211)에 전달되도록 할 수 있다.To this end, the blocking
상기 가스도입부(341)는, 가스유입부(300)의 일단에 형성되어 외부의 가스챔버와 연결되는 플랜지(340)에 형성되어 가스유입통로(S2)의 적어도 일부를 형성하는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
상기 가스도입부(341)는, 가스유입통로(S2)의 적어도 일부가 형성되도록 가스유입부(300)의 내부에 가공을 통해 형성될 수 있으며, 다른 예로서, 가스유입부(300)의 내부에 설치되는 배관일 수 있다.The
이때, 상기 가스도입부(341)는, 공급되는 가스, 특히 세정가스가 차단면노출구(330)를 통해 가스유입통로(S2) 측에 노출되는 차단면(211)에 전달될 수 있도록, 직경이 차단면노출구(330)의 직경과 같거나 작게 형성될 수 있다.At this time, the
즉, 상기 가스도입부(341)는, 차단면노출구(330)와 중심이 같고 직경이 같거나 작게 형성됨으로써, 가스유입통로(S2)를 통해 공급되는 세정가스가 차단면(211)에 전달되어 차단면(211)에 증착된 파티클의 제거효율을 증대할 수 있다.That is, the
상기 확장부(350)는, 가스도입부(341)의 메인유로부(100) 측 끝단에서 반경방향으로 확장되어 형성되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
예를 들면, 상기 확장부(350)는, 가스도입부(341)의 메인유로부(100) 측 끝단에서 단차부(351)를 가지고 반경방향으로 확장됨으로써, 가스도입부(341) 측에 형성되는 가스유입통로(S2)를 통해 공급되는 가스가 차단면노출구(330)의 양측에 구비되는 유입구(310)를 통과하여 메인유로(S1)로 전달되도록 할 수 있다.For example, the
이때, 상기 확장부(350)는, 가스도입부(341)로부터 단차부(351)를 가지고 반경방향으로 확장되며, 공급되는 가스의 원활한 유체흐름을 위하여, 단차부(351)가 곡선 또는 돌출부분을 가지도록 형성될 수 있다.At this time, the
상기 가스유출부(400)는, 메인유로부(100)로부터 연장형성되며, 메인유로(S1)와 연통되도록 유출구(410)가 형성되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
예를 들면, 상기 가스유출부(400)는, 공정챔버(10) 측과 연결되도록 일단이 플랜지(420) 형상을 가지며, 메인유로(S1)와 연통되도록 메인유로부(100)와의 경계에 유출구(410)가 형성될 수 있다.For example, the
또한, 상기 가스유출부(400)는, 유출구(410)의 차단부(200)에 의한 폐쇄 시, 차단부(200)가 밀착되는 유출부밀착면(430)을 포함할 수 있다.In addition, the
상기 유출구(410)는, 가스유입통로(S2)를 거쳐 메인유로(S1)에 도달한 가스를 공정챔버(10)로 공급 또는 차단하기 위하여 형성되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
상기 유출구(410)는, 전술한 차단부(200)를 통해 개방 또는 폐쇄됨으로써, 가스가 공급 또는 차단되도록 할 수 있다.The
상기 유출부밀착면(430)은, 도 4a 및 도 4b에 도시된 바와 같이, 차단부(200)에 의한 유출구(410)의 폐쇄 시, 유출구(410)의 가장자리에 형성되어, 차단부(200)의 적어도 일부가 밀착되는 구성으로서, 다양한 구성이 가능하다.The
특히, 상기 유출부밀착면(430)은, 유출구(410)의 폐쇄 시, 차단부(200)에 형성되는 제1실링부재(212)가 가스에 노출되는 것을 방지함으로써, 제1실링부재(212)를 보호하고, 유출구(410)의 완전한 폐쇄가 가능하도록 할 수 있다.In particular, the
한편, 이때 상기 차단부(200)는, 제1실링부재(212)의 가스로의 노출을 방지하기 위하여, 유출구(410)의 개방 시 유입부밀착면(320)에 유출구(410)의 폐쇄 시 유출부밀착면(430)에 각각 밀착될 수 있다.On the other hand, at this time, in order to prevent the
이로써, 상기 차단부(200)의 가스의 공급 및 차단에도 제1실링부재(212)의 가스로의 노출을 최소화함으로써, 제1실링부재(212)의 손상을 최소화할 수 있다.Accordingly, even when the gas is supplied and blocked by the blocking
이상은 본 발명에 의해 구현될 수 있는 바람직한 실시예의 일부에 관하여 설명한 것에 불과하므로, 주지된 바와 같이 본 발명의 범위는 위의 실시예에 한정되어 해석되어서는 안 될 것이며, 위에서 설명된 본 발명의 기술적 사상과 그 근본을 함께하는 기술적 사상은 모두 본 발명의 범위에 포함된다고 할 것이다.Since the above has been described only with respect to some of the preferred embodiments that can be implemented by the present invention, as well known, the scope of the present invention should not be limited to the above embodiments and should not be interpreted. It will be said that both the technical idea and the technical idea together with the fundamental are included in the scope of the present invention.
100: 메인유로부
200: 차단부
300: 가스유입부
400: 가스유출부100: main passage part 200: blocking part
300: gas inlet 400: gas outlet
Claims (13)
상기 메인유로부(100)로부터 연장형성되며, 상기 메인유로(S1)와 연통되는 가스유입통로(S2)를 형성하는 가스유입부(300)와;
상기 메인유로부(100)로부터 연장형성되며, 상기 메인유로(S1)와 연통되도록 유출구(410)가 형성되는 가스유출부(400)와;
상기 메인유로(S1) 상에서 구동을 통해 상기 유출구(410)를 개폐함으로써, 상기 가스를 공급 또는 차단하는 차단부(200)를 포함하며,
상기 가스유입부(300)는,
상기 가스유입통로(S2)를 통해 공급되는 가스가 상기 메인유로(S1)로 전달되도록 형성되는 적어도 하나의 유입구(310)와, 상기 유출구(410)의 개방 시 상기 차단부(200)가 밀착되는 유입부밀착면(320)을 포함하는 것을 특징으로 하는 가스밸브조립체.A main passage part 100 forming a main passage S1 through which gas passes;
A gas inlet 300 extending from the main passage part 100 and forming a gas inlet passage S2 communicating with the main passage S1;
A gas outlet portion 400 extending from the main passage portion 100 and having an outlet port 410 formed to communicate with the main passage portion S1;
It includes a blocking portion 200 for supplying or blocking the gas by opening and closing the outlet 410 through driving on the main flow path S1,
The gas inlet 300 is,
At least one inlet 310 formed so that the gas supplied through the gas inlet passage S2 is transmitted to the main passage S1, and the blocking part 200 is in close contact with each other when the outlet 410 is opened. Gas valve assembly, characterized in that it comprises an inlet contact surface (320).
상기 차단부(200)는,
상기 유출구(410)를 개폐하는 차단면(211)과, 상기 차단면(211)의 가장자리에 구비되는 제1실링부재(212)를 포함하는 차단부재(210)와, 외부의 구동부와 상기 차단부재(210)를 연결하는 구동샤프트(220)를 포함하는 것을 특징으로 하는 가스밸브조립체.The method according to claim 1,
The blocking part 200,
A blocking member 210 including a blocking surface 211 for opening and closing the outlet 410, a first sealing member 212 provided at an edge of the blocking surface 211, an external driving unit and the blocking member Gas valve assembly, characterized in that it comprises a drive shaft (220) to connect 210.
상기 차단면(211)은,
상기 유출구(410)에 적어도 일부가 삽입되도록 상기 유출구(410)에 대응되는 형상으로 돌출되어 구비되는 것을 특징으로 하는 가스밸브조립체.The method according to claim 2,
The blocking surface 211 is,
A gas valve assembly, characterized in that it is provided to protrude in a shape corresponding to the outlet port 410 so that at least a portion of the outlet port 410 is inserted.
상기 가스유입부(300)는,
상기 차단부재(210)의 상기 유입부밀착면(320)으로의 밀착 시, 상기 차단면(211)이 상기 가스유입통로(S2)에 노출되도록 상기 유입부밀착면(320)의 중심부에 상기 차단면(211)에 대응되도록 관통형성되는 차단면노출구(330)를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 가스밸브조립체.The method according to claim 2,
The gas inlet 300 is,
When the blocking member 210 is in close contact with the inlet contact surface 320, the blocking surface 211 is blocked at the center of the inlet contact surface 320 so that the blocking surface 211 is exposed to the gas inflow passage S2. A gas valve assembly, characterized in that it further comprises a blocking surface exposure hole 330 formed through the surface so as to correspond to the surface 211.
상기 유입구(310)는,
상기 차단면노출구(330)에 인접된 위치에서 상기 메인유로(S1)와 연통되도록 형성된 것을 특징으로 하는 가스밸브조립체.The method of claim 4,
The inlet 310 is,
Gas valve assembly, characterized in that formed to communicate with the main flow path (S1) at a position adjacent to the blocking surface exposure port (330).
상기 메인유로부(100)는,
상기 가스유입부(300)와 상기 가스유출부(400)로부터 연장되어 형성되는 메인유로형성부(140)와, 상기 메인유로형성부(140)에 결합되어 내부에 상기 메인유로(S1)를 형성하는 커버부(110)를 포함하는 것을 특징으로 하는 가스밸브조립체. The method according to claim 1,
The main passage part 100,
The gas inlet 300 and the main flow path forming portion 140 formed extending from the gas outlet 400, and the main flow path forming portion 140 is coupled to form the main flow path (S1) therein. Gas valve assembly, characterized in that it comprises a cover portion (110).
상기 메인유로부(100)는,
상기 메인유로형성부(140)와 상기 커버부(110) 사이의 결합면에 구비되는 제2실링부재(130)를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 가스밸브조립체.The method of claim 6,
The main passage part 100,
A gas valve assembly, characterized in that it further comprises a second sealing member (130) provided on a coupling surface between the main flow path forming part (140) and the cover part (110).
상기 가스유입부(300)는,
외부의 가스챔버 측과 연결되어 상기 가스유입통로(S2)의 적어도 일부를 형성하는 가스도입부(341)와, 상기 가스도입부(341)의 상기 메인유로부(100) 측 끝단에서 반경방향으로 확장되어 형성되는 확장부(350)를 포함하는 것을 특징으로 하는 가스밸브조립체.The method according to claim 1,
The gas inlet 300 is,
The gas introduction part 341 is connected to the external gas chamber side and forms at least a part of the gas inlet passage S2, and the gas introduction part 341 extends radially from the end of the main passage part 100 side. Gas valve assembly, characterized in that it comprises an expansion portion (350) to be formed.
상기 가스유출부(400)는,
상기 유출구(410)의 상기 차단부(200)에 의한 폐쇄 시, 상기 차단부(200)가 밀착되는 유출부밀착면(430)을 포함하는 것을 특징으로 하는 가스밸브조립체.The method according to claim 2,
The gas outlet 400,
A gas valve assembly comprising an outlet contact surface 430 to which the shut-off part 200 is in close contact when the outlet port 410 is closed by the shut-off part 200.
상기 차단부(200)는,
상기 제1실링부재(212)의 가스로의 노출을 방지하기 위하여, 상기 유출구(410)의 개방 시 상기 유입부밀착면(320)에 상기 유출구(410)의 폐쇄 시 상기 유출부밀착면(430)에 각각 밀착되는 것을 특징으로 하는 가스밸브조립체.The method of claim 9,
The blocking part 200,
In order to prevent exposure of the first sealing member 212 to gas, the outlet contact surface 430 when the outlet 410 is closed to the inlet contact surface 320 when the outlet 410 is opened. Gas valve assembly, characterized in that in close contact with each.
상기 공정챔버(10)에 설치되어 기판(1)을 지지하는 기판지지부(20)와;
상기 기판지지부(20)의 상부에 설치되어 공정수행을 위한 가스를 분사하는 샤워헤드(30)와;
상기 공정챔버(10)의 외부에 설치되어, 상기 샤워헤드(30)에 가스를 공급하는 가스챔버와;
상기 가스챔버로부터 상기 샤워헤드(30)로 가스를 공급하기 위한 배관에 설치되어, 상기 샤워헤드(30)로 공급되는 가스를 제어하는 청구항 제1항 내지 제10항 중 어느 하나의 항에 따른 가스밸브조립체(70)를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판처리장치. A process chamber 10 for forming a processing space for processing a substrate;
A substrate support part 20 installed in the process chamber 10 to support the substrate 1;
A shower head 30 installed on the substrate support part 20 to inject gas for performing a process;
A gas chamber installed outside the process chamber 10 to supply gas to the shower head 30;
A gas according to any one of claims 1 to 10, which is installed in a pipe for supplying gas from the gas chamber to the showerhead 30 and controls the gas supplied to the showerhead 30 A substrate processing apparatus comprising a valve assembly (70).
상기 가스챔버는,
플라즈마 상태의 가스를 공급하는 원격 플라즈마 공급챔버인 것을 특징으로 하는 기판처리장치.The method of claim 11,
The gas chamber,
A substrate processing apparatus comprising a remote plasma supply chamber for supplying a gas in a plasma state.
상기 복수의 기판처리장치(4)들이 결합되며, 상기 복수의 기판처리장치(4)들 각각에 상기 기판(1)을 반출하거나 도입하는 반송로봇(5)이 설치된 기판반송모듈(3)과;
상기 기판반송모듈(3)에 결합되어 상기 기판처리장치(4)를 통해 기판처리가 완료된 기판(1)을 외부로 반출하고, 외부로부터 기판처리될 기판(1)을 도입하는 기판교환모듈(2)을 포함하는 것을 특징으로 하는 기판처리시스템. A plurality of substrate processing apparatuses (4) according to claim 10 for performing substrate processing by forming an enclosed processing space;
A substrate transfer module (3) in which the plurality of substrate processing apparatuses (4) are coupled, and a transfer robot (5) for carrying out or introducing the substrate (1) is installed in each of the plurality of substrate processing apparatuses (4);
A substrate exchange module (2) that is coupled to the substrate transfer module (3) to carry out a substrate (1) that has been subjected to substrate treatment to the outside through the substrate processing apparatus (4), and to introduce a substrate (1) to be processed from the outside. A substrate processing system comprising a).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020190138336A KR20210052849A (en) | 2019-11-01 | 2019-11-01 | Gas valve assembly and substrate processing apparatus having the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020190138336A KR20210052849A (en) | 2019-11-01 | 2019-11-01 | Gas valve assembly and substrate processing apparatus having the same |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20210052849A true KR20210052849A (en) | 2021-05-11 |
Family
ID=75914857
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020190138336A KR20210052849A (en) | 2019-11-01 | 2019-11-01 | Gas valve assembly and substrate processing apparatus having the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20210052849A (en) |
-
2019
- 2019-11-01 KR KR1020190138336A patent/KR20210052849A/en not_active Application Discontinuation
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11986868B2 (en) | System dedicated for parts cleaning | |
US6915809B2 (en) | Single wafer type substrate cleaning method and apparatus | |
KR100758298B1 (en) | Apparatus and method for treating substrates | |
KR100902330B1 (en) | Apparatus for Semiconductor Process | |
KR101758214B1 (en) | Exhaust device of wafer processing apparatus | |
KR20070049693A (en) | Apparatus for manufacturing a substrate | |
TWI618115B (en) | Substrate processing apparatus and method of cleaning chamber | |
KR20210052849A (en) | Gas valve assembly and substrate processing apparatus having the same | |
US20160326648A1 (en) | Apparatus for selectively sealing a gas feedthrough | |
KR100614656B1 (en) | Valve assembly, apparatus for manufacturing semiconductor devices with this, and method for cleaning trap | |
US20220223367A1 (en) | Reduced substrate process chamber cavity volume | |
JP2022548648A (en) | Clean isolation valve for reduced dead volume | |
KR100439036B1 (en) | Semiconductor manufacturing equipment | |
KR101428519B1 (en) | Valve Assembly and Vacuum Processing Apparatus having the Same | |
KR200458798Y1 (en) | Apparatus for processing substrate | |
KR101891825B1 (en) | Opening and closing apparatus for chemical vapor deposition | |
KR102612086B1 (en) | Particle free remote plasma source isolation valve | |
JP3950084B2 (en) | High pressure processing equipment | |
KR200285964Y1 (en) | Semiconductor wafer etcher | |
KR20240097348A (en) | Valve assembly and substrate processing apparatus including the same | |
KR100977146B1 (en) | Fluid supply unit and substrate treating apparatus having the same | |
KR102460312B1 (en) | Valve assembly and Substrate processing apparatus | |
KR102190971B1 (en) | manifold and substrate treating apparatus the same | |
KR102386544B1 (en) | Valve assembly and Substrate processing apparatus | |
KR100725348B1 (en) | Apparatus and method of cleaning the chamber for manufacturing semiconductor device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E90F | Notification of reason for final refusal |