KR20200134085A - Injection apparatus for removing precipitate and substrate treating apparatus comprising the same - Google Patents

Injection apparatus for removing precipitate and substrate treating apparatus comprising the same Download PDF

Info

Publication number
KR20200134085A
KR20200134085A KR1020190059670A KR20190059670A KR20200134085A KR 20200134085 A KR20200134085 A KR 20200134085A KR 1020190059670 A KR1020190059670 A KR 1020190059670A KR 20190059670 A KR20190059670 A KR 20190059670A KR 20200134085 A KR20200134085 A KR 20200134085A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
injection
substrate
transfer
shaft
opening
Prior art date
Application number
KR1020190059670A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR102624822B1 (en
Inventor
조원호
백운영
Original Assignee
주식회사 케이씨텍
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 케이씨텍 filed Critical 주식회사 케이씨텍
Priority to KR1020190059670A priority Critical patent/KR102624822B1/en
Publication of KR20200134085A publication Critical patent/KR20200134085A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102624822B1 publication Critical patent/KR102624822B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67028Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
    • H01L21/6704Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
    • H01L21/67051Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing using mainly spraying means, e.g. nozzles
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/6715Apparatus for applying a liquid, a resin, an ink or the like
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67706Mechanical details, e.g. roller, belt
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/67748Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber horizontal transfer of a single workpiece
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67763Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
    • H01L21/67772Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving removal of lid, door, cover

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Weting (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

According to one embodiment of the present invention, a substrate processing device may comprise: a plurality of transfer shafts rotating around an axis and disposed in parallel with each other; a plurality of transfer contact members provided on each of the plurality of transfer shafts and contacting a lower surface of the substrate to transfer a substrate; an injection shaft disposed in parallel at a height corresponding to the plurality of transfer shafts and supplied with a chemical solution therein; and a plurality of injection nozzles provided on the injection shaft and injecting the chemical solution toward an opening and closing unit. Therefore, the transfer of the substrate can be assisted.

Description

석출물 제거를 위한 분사 장치 및 이를 포함하는 기판 처리 장치{INJECTION APPARATUS FOR REMOVING PRECIPITATE AND SUBSTRATE TREATING APPARATUS COMPRISING THE SAME}A spray device for removing precipitates and a substrate processing device including the same {INJECTION APPARATUS FOR REMOVING PRECIPITATE AND SUBSTRATE TREATING APPARATUS COMPRISING THE SAME}

아래의 실시 예는 석출물 제거를 위한 분사 장치 및 이를 포함하는 기판 처리 장치에 관한 것이다.The following embodiments relate to an injection device for removing precipitates and a substrate processing device including the same.

일반적으로 반도체는 리소그래피, 증착 및 에칭 등과 같은 일련의 공정들이 반복적으로 수행되어 제조된다. 각 공정마다 다양한 약액들이 공급되기 때문에, 챔버 내부에는 약액의 석출물이 형성될 수 있다. 이러한 약액 석출물 등이 형성되면, 반도체 품질에 영향을 줄 수 있으므로, 석출물을 제거하거나 방지하는 것이 중요할 수 있다. 일반적으로, 석출물을 제거하기 위하여 약액을 분사하는 분사 장치가 이용되고 있다. 다만, 종래의 분사 장치는 챔버의 바닥 부근에 위치되었다. 종래의 분사 장치에서 개폐부를 향해 약액을 분사하더라도, 이송부의 간섭으로 인하여 약액이 목표 지점까지 충분히 도달되지 못하는 문제가 있었다. 그에 따라 석출물 제거 효율이 저하되거나, 많은 양의 약액이 소모된다는 문제가 있었다. 따라서, 다른 구조물의 간섭 없이 석출물 발생 영역에 정확하고 효과적으로 약액을 분사할 수 있는 구조를 갖는 기판 처리 장치 및 분사 장치가 요구된다.In general, semiconductors are manufactured by repeatedly performing a series of processes such as lithography, deposition, and etching. Since various chemical solutions are supplied to each process, a precipitate of the chemical solution may be formed inside the chamber. When such a chemical liquid precipitate or the like is formed, it may affect the semiconductor quality, so it may be important to remove or prevent the precipitate. In general, an injection device for injecting a chemical solution to remove precipitates is used. However, the conventional injection device was located near the bottom of the chamber. Even if the chemical liquid is injected toward the opening and closing part in the conventional injection device, there is a problem that the chemical liquid cannot sufficiently reach the target point due to the interference of the transfer part. Accordingly, there is a problem that the efficiency of removing precipitates is lowered or a large amount of the chemical solution is consumed. Accordingly, there is a need for a substrate processing apparatus and a spraying apparatus having a structure capable of accurately and effectively spraying a chemical solution onto a precipitate generation region without interference from other structures.

전술한 배경기술은 발명자가 본 발명의 도출과정에서 보유하거나 습득한 것으로서, 반드시 본 발명의 출원 전에 일반 공중에 공개된 공지기술이라고 할 수는 없다.The above-described background technology is possessed or acquired by the inventor in the process of deriving the present invention, and is not necessarily a known technology disclosed to the general public prior to filing the present invention.

일 실시 예의 목적은, 다른 구조물의 간섭 없이 약액을 분사할 수 있는 분사 장치 및 이를 포함하는 기판 처리 장치를 제공하는 것이다.An object of an embodiment is to provide a spray device capable of spraying a chemical solution without interference from other structures, and a substrate processing device including the same.

일 실시 예의 목적은, 석출물 발생 영역에 정확하고 효과적으로 약액을 분사할 수 있는 분사 장치 및 이를 포함하는 기판 처리 장치를 제공하는 것이다.An object of an embodiment is to provide a spraying device capable of accurately and effectively spraying a chemical liquid onto a precipitate generation area, and a substrate processing device including the same.

일 실시 예의 목적은, 기판의 이송을 보조할 수 있는 분사 장치 및 이를 포함하는 기판 처리 장치를 제공하는 것이다.An object of an embodiment is to provide an injection device capable of assisting in transporting a substrate and a substrate processing device including the same.

일 실시 예에 따른 기판 처리 장치는, 축을 중심으로 회전하고, 서로 나란하게 배치되는 복수의 이송 샤프트; 상기 복수의 이송 샤프트 각각에 구비되고, 상기 기판의 하면에 접촉되어 상기 기판을 이송시키는 복수의 이송 접촉부재; 상기 복수의 이송 샤프트와 대응되는 높이에 나란하게 배치되고, 내부로 약액이 공급되는 분사 샤프트; 및 상기 분사 샤프트에 구비되고 상기 개폐부를 향해 약액을 분사하는 복수의 분사 노즐을 포함할 수 있다.A substrate processing apparatus according to an exemplary embodiment includes: a plurality of transfer shafts that are rotated about an axis and disposed in parallel with each other; A plurality of transfer contact members provided on each of the plurality of transfer shafts and contacting a lower surface of the substrate to transfer the substrate; A spray shaft disposed in parallel at a height corresponding to the plurality of transfer shafts and supplying a chemical liquid therein; And a plurality of spray nozzles provided on the spray shaft and spraying the chemical solution toward the opening and closing part.

상기 분사 샤프트에 구비되고, 상기 기판의 하면에 접촉되어 상기 기판의 이송에 따라 회전하는 복수의 아이들 접촉부재를 더 포함할 수 있다.It may further include a plurality of idle contact members provided on the injection shaft, in contact with the lower surface of the substrate to rotate according to the transfer of the substrate.

상기 기판이 수평 방향으로 이송되도록, 상기 복수의 이송 접촉부재 및 복수의 아이들 접촉부재는 서로 대응되는 높이에 위치될 수 있다.The plurality of transfer contact members and the plurality of idle contact members may be positioned at a height corresponding to each other so that the substrate is transferred in a horizontal direction.

상기 분사 샤프트는, 상기 복수의 이송 샤프트 중 상기 개폐부와 가장 인접한 이송 샤프트 및 상기 개폐부의 사이에 배치될 수 있다.The injection shaft may be disposed between a transfer shaft closest to the opening/closing part among the plurality of transfer shafts and the opening/closing part.

상기 복수의 이송 샤프트 및 분사 샤프트는 서로 등간격으로 배열될 수 있다.The plurality of transfer shafts and injection shafts may be arranged at equal intervals from each other.

상기 분사 샤프트를 지지하고, 높이 조절 가능한 분사 지지부를 더 포함할 수 있다.The injection shaft may be supported, and a height adjustable injection support may be further included.

상기 복수의 분사 노즐은 상기 분사 샤프트에 대하여 상기 개폐부를 향하는 방향으로 설치되되, 적어도 일부는 다른 일부와 다른 각도로 설치될 수 있다.The plurality of spray nozzles may be installed in a direction toward the opening/closing part with respect to the spray shaft, and at least some of them may be installed at different angles from other parts.

상기 분사 샤프트는 상기 분사 노즐의 분사 각도가 조절되도록 회전 가능할 수 있다.The injection shaft may be rotatable so that the injection angle of the injection nozzle is adjusted.

상기 개폐부는 타 챔버와 연결되는 연결 공간을 제공할 수 있다.The opening and closing part may provide a connection space connected to another chamber.

일 실시 예에 따른 챔버의 개폐부에 형성되는 석출물을 제거하기 위한 분사 장치는, 상기 챔버 내부에 구비되되 상기 개폐부와 인접하게 배치되고, 내부로 약액이 공급되는 분사 샤프트; 상기 분사 샤프트에 대하여 회전 가능하게 연결되고, 기판의 하면에 접촉되는 복수 개의 아이들 접촉부재; 및 상기 분사 샤프트에 구비되고 상기 개폐부를 향하여 상기 약액을 분사하는 복수 개의 분사 노즐을 포함할 수 있다.An injection device for removing precipitates formed on an opening and closing portion of a chamber according to an exemplary embodiment includes: an injection shaft provided in the chamber, disposed adjacent to the opening and closing portion, and supplying a chemical liquid therein; A plurality of idle contact members rotatably connected to the injection shaft and contacting a lower surface of the substrate; And a plurality of spray nozzles provided on the spray shaft and spraying the chemical solution toward the opening and closing part.

상기 분사 샤프트는, 상기 기판을 이송시키는 이송부 및 개폐부의 사이에 배치될 수 있다.The injection shaft may be disposed between a transfer unit and an opening/closing unit for transferring the substrate.

상기 분사 샤프트는, 상기 기판을 이송시키는 이송부와 대응되는 높이에 위치될 수 있다.The injection shaft may be located at a height corresponding to a transfer unit for transferring the substrate.

상기 아이들 접촉부재는, 상기 기판의 이송에 따라 회전되어 상기 기판의 이송을 보조할 수 있다.The idle contact member may be rotated according to the transfer of the substrate to assist the transfer of the substrate.

상기 복수 개의 분사 노즐은, 상기 분사 샤프트와 제1각도를 형성하는 제1군 분사 노즐; 및 상기 분사 샤프트와 제2각도를 형성하는 제2군 분사 노즐을 포함할 수 있다.The plurality of spray nozzles may include: a first group spray nozzle forming a first angle with the spray shaft; And a second group spray nozzle forming a second angle with the spray shaft.

상기 제1군 분사 노즐 및 제2군 분사 노즐은 서로 교대로 배열될 수 있다.The first group injection nozzles and the second group injection nozzles may be alternately arranged with each other.

일 실시 예에 따른 분사 장치 및 이를 포함하는 기판 처리 장치를 이용하면, 다른 구조물의 간섭 없이 약액을 분사하여 석출물을 제거할 수 있다.Using the spraying apparatus and the substrate processing apparatus including the same according to an embodiment, it is possible to remove the precipitate by spraying a chemical solution without interference from other structures.

일 실시 예에 따른 분사 장치 및 이를 포함하는 기판 처리 장치를 이용하면, 석출물 발생 영역에 정확하고 효과적으로 약액을 분사할 수 있다.Using the spraying device and the substrate processing device including the same according to an embodiment, it is possible to accurately and effectively spray the chemical liquid onto the precipitate generation area.

일 실시 예에 따른 분사 장치 및 이를 포함하는 기판 처리 장치는, 기판의 이송을 보조할 수 있다.The spraying apparatus and the substrate processing apparatus including the same according to an exemplary embodiment may assist transfer of a substrate.

일 실시 예에 따른 분사 장치 및 이를 포함하는 기판 처리 장치의 효과는 이상에서 언급된 것들에 한정되지 않으며, 언급되지 아니한 다른 효과들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.Effects of the spraying apparatus and the substrate processing apparatus including the same according to an exemplary embodiment are not limited to those mentioned above, and other effects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

본 명세서에 첨부되는 다음의 도면들은 본 발명의 바람직한 일 실시 예를 예시하는 것이며, 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술적 사상을 더욱 이해시키는 역할을 하는 것이므로, 본 발명은 그러한 도면에 기재된 사항에만 한정되어 해석되어서는 아니 된다.
도 1은 종래의 분사 장치의 개략도이다.
도 2는 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치 및 분사 장치의 개략도이다.
도 3은 일 실시 예에 따른 분사 장치의 사시도이다.
The following drawings attached to the present specification illustrate a preferred embodiment of the present invention, and serve to further understand the technical idea of the present invention together with the detailed description of the present invention, so the present invention is limited to the matters described in such drawings. It is limited and should not be interpreted.
1 is a schematic diagram of a conventional injection device.
2 is a schematic diagram of a substrate processing apparatus and an injection apparatus according to an exemplary embodiment.
3 is a perspective view of an injection device according to an embodiment.

이하, 실시 예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 실시 예를 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 실시 예에 대한 이해를 방해한다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, embodiments will be described in detail through exemplary drawings. In adding reference numerals to elements of each drawing, it should be noted that the same elements are assigned the same numerals as possible even if they are indicated on different drawings. In addition, in describing the embodiment, if it is determined that a detailed description of a related known configuration or function interferes with the understanding of the embodiment, a detailed description thereof will be omitted.

또한, 실시 예의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In addition, in describing the constituent elements of the embodiment, terms such as first, second, A, B, (a) and (b) may be used. These terms are only used to distinguish the component from other components, and the nature, order, or order of the component is not limited by the term. When a component is described as being "connected", "coupled" or "connected" to another component, that component may be directly connected or connected to that other component, but another component between each component It should be understood that may be “connected”, “coupled” or “connected”.

어느 하나의 실시 예에 포함된 구성요소와, 공통적인 기능을 포함하는 구성요소는, 다른 실시 예에서 동일한 명칭을 사용하여 설명하기로 한다. 반대되는 기재가 없는 이상, 어느 하나의 실시 예에 기재한 설명은 다른 실시 예에도 적용될 수 있으며, 중복되는 범위에서 구체적인 설명은 생략하기로 한다.Components included in one embodiment and components including common functions will be described using the same name in other embodiments. Unless otherwise stated, descriptions in one embodiment may be applied to other embodiments, and detailed descriptions in the overlapping range will be omitted.

도 1은 종래의 분사 장치의 개략도이다.1 is a schematic diagram of a conventional injection device.

도 1을 참조하면, 챔버의 개폐부에 형성되는 석출물을 제거하기 위한 종래의 분사 장치는 챔버의 바닥 부근에 위치되었다. 종래의 분사 장치에서 개폐부를 향해 약액을 분사하더라도, 이송부의 간섭으로 인하여 약액이 목표 지점까지 충분히 도달되지 못하는 문제가 있었다. 그에 따라 석출물 제거 효율이 저하되거나, 많은 양의 약액이 소모된다는 문제가 있었다.Referring to FIG. 1, a conventional injection device for removing precipitates formed on an opening and closing portion of a chamber is located near the bottom of the chamber. Even if the chemical liquid is injected toward the opening and closing part in the conventional injection device, there is a problem that the chemical liquid cannot sufficiently reach the target point due to the interference of the transfer part. Accordingly, there is a problem that the efficiency of removing precipitates is lowered or a large amount of the chemical solution is consumed.

도 2는 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치 및 분사 장치의 개략도이다. 도 3은 일 실시 예에 따른 분사 장치의 사시도이다.2 is a schematic diagram of a substrate processing apparatus and an injection apparatus according to an exemplary embodiment. 3 is a perspective view of an injection device according to an embodiment.

도 2 및 도 3을 참조하면, 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치 및 분사 장치를 이용하면, 석출물 발생 영역까지 약액을 정확하고 효과적으로 분사할 수 있으며, 그에 따라 석출물 제거 효율을 상승시킬 수 있다.Referring to FIGS. 2 and 3, when the substrate processing apparatus and the spraying apparatus according to an exemplary embodiment are used, a chemical solution can be accurately and effectively sprayed to a precipitate generation area, thereby increasing the efficiency of removing precipitates.

일 실시 예에 따른 기판 처리 장치(1)는 챔버(10), 이송부(11) 및 분사 장치(12)를 포함할 수 있다.The substrate processing apparatus 1 according to an exemplary embodiment may include a chamber 10, a transfer unit 11, and an injection device 12.

챔버(10)는 기판(W)의 처리가 수행되는 챔버일 수 있다. 예를 들어, 챔버(10)는 에칭 공정이 수행되는 챔버일 수 있다. 챔버(10)는 증착, 세정 또는 연마 공정 등이 수행되는 챔버일 수 있다. 챔버(10)는 개폐부(101)를 포함할 수 있다. 기판(W)은 개폐부(101)를 통하여 챔버(10)에 입출될 수 있다. 개폐부(101)는 기판(W)이 입출 가능하도록 개방 또는 폐쇄될 수 있다. 개폐부(101)는 타 챔버와 연결되는 연결 공간을 제공할 수 있다. 즉, 개폐부(101)는 챔버끼리 서로 연결되는 부위를 의미할 수 있다.The chamber 10 may be a chamber in which the substrate W is processed. For example, the chamber 10 may be a chamber in which an etching process is performed. The chamber 10 may be a chamber in which a deposition, cleaning, or polishing process is performed. The chamber 10 may include an opening/closing part 101. The substrate W may enter and exit the chamber 10 through the opening and closing part 101. The opening/closing part 101 may be opened or closed to allow the substrate W to be input/exited. The opening/closing part 101 may provide a connection space connected to another chamber. That is, the opening/closing part 101 may mean a portion where the chambers are connected to each other.

기판(W)은 LCD(liquid crystal display), PDP(plasma display panel)와 같은 평판 디스플레이 장치(flat panel display device, FPD)용 글라스를 포함할 수 있다. 그러나, 기판(W)의 종류가 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 기판(W)은 반도체 장치(semiconductor) 제조용 실리콘 웨이퍼(silicon wafer)일 수도 있다.The substrate W may include glass for a flat panel display device (FPD) such as a liquid crystal display (LCD) and a plasma display panel (PDP). However, the type of the substrate W is not limited thereto. For example, the substrate W may be a silicon wafer for manufacturing a semiconductor device (semiconductor).

이송부(11)는 기판(W)을 이송시킬 수 있다. 이송부(11)는 챔버(10) 내부에 구비될 수 있다. 이송부(11)는 기판(W)을 챔버(10) 내에서 일측에서 타측으로 이송시킬 수 있다. 이송부(11)는 기판(W)을 챔버(10) 내부로 반입하거나, 외부로 반출할 수 있다. 이송부(11)는 기판(W)을 타 챔버로 이송시킬 수 있다.The transfer unit 11 may transfer the substrate W. The transfer unit 11 may be provided inside the chamber 10. The transfer unit 11 may transfer the substrate W from one side to the other side within the chamber 10. The transfer unit 11 may carry the substrate W into or out of the chamber 10. The transfer unit 11 may transfer the substrate W to another chamber.

이송부(11)는 이송 샤프트(111) 및 이송 접촉부재(112)를 포함할 수 있다.The transfer unit 11 may include a transfer shaft 111 and a transfer contact member 112.

이송 샤프트(111)는 챔버(10) 내부에 구비될 수 있다. 이송 샤프트(111)는 축을 중심으로 회전할 수 있다. 이송 샤프트(111)는 복수 개 구비될 수 있다. 복수 개의 이송 샤프트(111)는 서로 나란하게 배치될 수 있다. 복수 개의 이송 샤프트(111)는 서로 대응되는 높이에 위치될 수 있다. 복수 개의 이송 샤프트(111)는 서로 등간격으로 배치될 수 있다.The transfer shaft 111 may be provided inside the chamber 10. The transfer shaft 111 may rotate around an axis. A plurality of transfer shafts 111 may be provided. The plurality of transfer shafts 111 may be disposed in parallel with each other. The plurality of transfer shafts 111 may be located at a height corresponding to each other. The plurality of transfer shafts 111 may be disposed at equal intervals from each other.

이송 접촉부재(112)는 이송 샤프트(111)에 구비될 수 있다. 이송 접촉부재(112)는 기판(W)의 하면에 접촉되어 기판(W)을 이송시킬 수 있다. 예를 들어, 이송 접촉부재(112)는 롤러 등을 포함할 수 있다. 이송 접촉부재(112)는 이송 샤프트(111)와 일체로 회전할 수 있다. 즉, 이송 접촉부재(112)는 이송 샤프트(111)와 함께 회전함으로써, 이송 접촉부재(112)에 접촉된 기판(W)을 회전 방향의 접선 방향으로 이송시킬 수 있다. 이송 접촉부재(112)는 복수 개 구비될 수 있다. 복수 개의 이송 접촉부재(112)는 복수 개의 이송 샤프트(111) 각각에 구비될 수 있다. 복수 개의 이송 접촉부재(112)는 이송 샤프트(111)의 길이 방향에 대하여 이격되어 배치될 수 있다. 예를 들어, 복수 개의 이송 접촉부재(112)는 이송 샤프트(111)의 길이 방향에 대하여 등간격으로 배치될 수 있다.The transfer contact member 112 may be provided on the transfer shaft 111. The transfer contact member 112 may be in contact with the lower surface of the substrate W to transfer the substrate W. For example, the transfer contact member 112 may include a roller or the like. The transfer contact member 112 may rotate integrally with the transfer shaft 111. That is, the transfer contact member 112 rotates together with the transfer shaft 111 to transfer the substrate W in contact with the transfer contact member 112 in the tangential direction of the rotation direction. A plurality of transfer contact members 112 may be provided. The plurality of transfer contact members 112 may be provided on each of the plurality of transfer shafts 111. The plurality of transfer contact members 112 may be disposed to be spaced apart with respect to the longitudinal direction of the transfer shaft 111. For example, the plurality of transfer contact members 112 may be disposed at equal intervals with respect to the longitudinal direction of the transfer shaft 111.

분사 장치(12)는 개폐부(101)에 형성되는 석출물을 제거하기 위한 분사 장치일 수 있다. 분사 장치(12)는 개폐부(101)를 향하여 약액을 분사함으로써, 개폐부(101)에 형성된 석출물을 제거하거나, 개폐부(101)에 석출물이 형성되는 것을 방지할 수 있다. 이와 동시에, 분사 장치(12)는 기판(W)의 이송을 보조할 수 있다. 약액은 약품, 순수, 공기 또는 기체 등을 포함할 수 있다.The injection device 12 may be an injection device for removing precipitates formed on the opening and closing portion 101. By spraying the chemical liquid toward the opening and closing portion 101, the spraying device 12 can remove precipitates formed in the opening and closing portion 101 or prevent formation of precipitates in the opening and closing portion 101. At the same time, the injection device 12 can assist the transfer of the substrate W. The chemical liquid may contain chemicals, pure water, air or gas.

분사 장치(12)는 분사 샤프트(121), 아이들 접촉부재(122), 분사 노즐(123) 및 분사 지지부(124)를 포함할 수 있다.The injection device 12 may include an injection shaft 121, an idle contact member 122, an injection nozzle 123, and an injection support 124.

분사 샤프트(121)는 챔버(10) 내부에 구비될 수 있다. 분사 샤프트(121)는 내부로 약액이 공급될 수 있다. 분사 샤프트(121)는 복수 개의 이송 샤프트(111)와 나란하게 배치될 수 있다. 분사 샤프트(121)는 이송부(11)에 대응되는 높이에 위치될 수 있다. 예를 들어, 분사 샤프트(121)는 복수 개의 이송 샤프트(111)와 대응되는 높이에 위치될 수 있다. 분사 샤프트(121)는 이송부(11)와 개폐부(101) 사이에 배치될 수 있다. 분사 샤프트(121)는, 개폐부(101)와 가장 인접한 이송 샤프트(111) 및 개폐부(101)의 사이에 배치될 수 있다. 다시 말해, 분사 샤프트(121)는 개폐부(101)에 가장 인접하게 설치되는 샤프트일 수 있다. 분사 샤프트(121) 및 복수 개의 이송 샤프트(111)는 서로 등간격으로 배치될 수 있다.The injection shaft 121 may be provided in the chamber 10. The injection shaft 121 may be supplied with a chemical liquid therein. The injection shaft 121 may be disposed in parallel with the plurality of transfer shafts 111. The injection shaft 121 may be located at a height corresponding to the transfer unit 11. For example, the injection shaft 121 may be located at a height corresponding to the plurality of transfer shafts 111. The injection shaft 121 may be disposed between the transfer unit 11 and the opening/closing unit 101. The injection shaft 121 may be disposed between the opening and closing portion 101 and the transport shaft 111 closest to the opening and closing portion 101 and the opening and closing portion 101. In other words, the injection shaft 121 may be a shaft installed closest to the opening and closing unit 101. The injection shaft 121 and the plurality of transfer shafts 111 may be disposed at equal intervals from each other.

아이들 접촉부재(122)는 분사 샤프트(121)에 구비될 수 있다. 아이들 접촉부재(122)는 분사 샤프트(121)에 대하여 회전 가능하게 연결될 수 있다. 즉, 아이들 접촉부재(122)는 분사 샤프트(121)를 중심으로, 분사 샤프트(121)에 대하여 회전할 수 있다. 예를 들어, 아이들 접촉부재(122)는 베어링 등을 포함할 수 있다. 아이들 접촉부재(122)는 기판(W)의 하면에 접촉되어 기판(W)의 이송에 따라 회전할 수 있다. 즉, 이송부(11)에 의하여 기판(W)이 이송되어지면, 아이들 접촉부재(122)는 이송되는 기판(W)의 하면에 접촉되어 기판(W)의 이송에 따라 회전함으로써, 기판(W)의 이송을 보조할 수 있다. 이와 같은 구조에 의하면, 아이들 접촉부재(122)가 기판(W)의 이송을 보조할 수 있으므로, 분사 장치(12)가 이송부(11)와 대응되는 높이에 위치되더라도 기판(W)의 이송에 영향을 주지 않을 수 있다. 아이들 접촉부재(122)는 복수 개 구비될 수 있다. 복수 개의 아이들 접촉부재(122)는 분사 샤프트(121)의 길이 방향에 대하여 이격되어 배치될 수 있다. 복수 개의 아이들 접촉부재(122)가 분사 샤프트(121)의 길이 방향을 따라 배열되는 패턴은, 복수 개의 이송 접촉부재(112)가 이송 샤프트(111)의 길이 방향을 따라 배열되는 패턴에 대응될 수 있다. 예를 들어, 복수 개의 아이들 접촉부재(122)는 분사 샤프트(121)의 길이 방향에 대하여 등간격으로 배치될 수 있다. 기판(W)이 수평 방향으로 이송되도록, 이송 접촉부재(112) 및 아이들 접촉부재(122)는 서로 대응되는 높이에 위치될 수 있다. 즉, 복수 개의 이송 접촉부재(112) 및 아이들 접촉부재(122)와 기판(W)이 서로 접촉되는 접점들은, 일 평면상에 위치될 수 있다. 이와 같은 구조에 의하면, 기판(W)이 이송 접촉부재(112)에 의하여 이송되는 중에 아이들 접촉부재(122)를 지나더라도, 기판(W)의 이송 경로가 수평 방향으로 유지될 수 있다.The idle contact member 122 may be provided on the injection shaft 121. The idle contact member 122 may be rotatably connected to the injection shaft 121. That is, the idle contact member 122 may rotate about the injection shaft 121 with respect to the injection shaft 121. For example, the idle contact member 122 may include a bearing or the like. The idle contact member 122 is in contact with the lower surface of the substrate W and may rotate according to the transfer of the substrate W. That is, when the substrate W is transferred by the transfer unit 11, the idle contact member 122 comes into contact with the lower surface of the transferred substrate W and rotates according to the transfer of the substrate W, so that the substrate W Can assist in the transfer of According to this structure, since the idle contact member 122 can assist the transfer of the substrate W, even if the injection device 12 is positioned at a height corresponding to the transfer unit 11, it affects the transfer of the substrate W. May not give. The idle contact member 122 may be provided in plural. The plurality of idle contact members 122 may be disposed to be spaced apart with respect to the longitudinal direction of the injection shaft 121. The pattern in which the plurality of idle contact members 122 are arranged along the length direction of the injection shaft 121 may correspond to the pattern in which the plurality of transfer contact members 112 are arranged along the length direction of the transfer shaft 111. have. For example, the plurality of idle contact members 122 may be disposed at equal intervals with respect to the longitudinal direction of the injection shaft 121. The transfer contact member 112 and the idle contact member 122 may be positioned at a height corresponding to each other so that the substrate W is transferred in the horizontal direction. That is, the plurality of transfer contact members 112, the idle contact member 122, and the contact points in which the substrate W contacts each other may be located on one plane. According to this structure, even if the substrate W passes through the idle contact member 122 while being transferred by the transfer contact member 112, the transfer path of the substrate W can be maintained in the horizontal direction.

분사 노즐(123)은 분사 샤프트(121)에 구비될 수 있다. 분사 노즐(123)은 분사 샤프트(121)로 공급된 약액을 분사할 수 있다. 분사 노즐(123)은 챔버(10)의 개폐부(101)를 향해 약액을 분사할 수 있다. 분사 노즐(123)은 개폐부(101)를 향하는 방향으로 분사 샤프트(121)에 설치될 수 있다. 분사 노즐(123)이 개폐부(101)를 향해 약액을 분사함으로써, 개폐부(101)에 형성되는 석출물을 제거할 수 있으며 개폐부(101)에 석출물이 형성되는 것을 방지할 수 있다. 분사 노즐(123)은 복수 개 구비될 수 있다. 복수 개의 분사 노즐(123)은 분사 샤프트(121)의 길이 방향을 따라 배열될 수 있다. 복수 개의 분사 노즐(123)은 복수 개의 아이들 접촉부재(122)의 사이사이에 배치될 수 있다. 복수 개의 분사 노즐(123)은 개폐부(101)를 향하는 방향으로 설치되되, 서로 다른 각도로 설치될 수 있다. 즉, 복수 개의 분사 노즐(123) 중 적어도 일부는, 분사 샤프트(121)와 이루는 각도가 다른 분사 노즐(123)과 다르게 설정될 수 있다. 예를 들어, 제1군을 이루는 분사 노즐(123)은 분사 샤프트(121)에 대하여 제1각도를 형성하고, 제2군을 이루는 분사 노즐(123)은 분사 샤프트(121)에 대하여 제2각도를 형성할 수 있다. 제1군을 이루는 분사 노즐(123)과 제2군을 이루는 분사 노즐(123)은 서로 교대로 배열될 수 있다. 이와 같은 구조에 의하면, 분사 노즐(123)에서 분사되는 약액이 도달되는 범위를 넓힐 수 있고, 석출물 제거 및 방지 효과를 상승시킬 수 있다. 한편 이는 예시적인 것으로, 복수 개의 분사 노즐(123)은 2개 이상의 군을 이루는 분사 노즐(123)을 포함할 수 있다.The spray nozzle 123 may be provided on the spray shaft 121. The spray nozzle 123 may spray the chemical liquid supplied to the spray shaft 121. The spray nozzle 123 may spray a chemical solution toward the opening and closing portion 101 of the chamber 10. The spray nozzle 123 may be installed on the spray shaft 121 in a direction toward the opening and closing part 101. By spraying the chemical solution toward the opening and closing portion 101 by the spray nozzle 123, the precipitate formed on the opening and closing portion 101 can be removed, and the formation of the precipitate on the opening and closing portion 101 can be prevented. A plurality of spray nozzles 123 may be provided. The plurality of spray nozzles 123 may be arranged along the length direction of the spray shaft 121. The plurality of spray nozzles 123 may be disposed between the plurality of idle contact members 122. The plurality of spray nozzles 123 are installed in a direction toward the opening/closing unit 101, but may be installed at different angles. That is, at least some of the plurality of spray nozzles 123 may be set differently from the other spray nozzles 123 at an angle formed with the spray shaft 121. For example, the injection nozzles 123 constituting the first group form a first angle with respect to the injection shaft 121, and the injection nozzle 123 constituting the second group is at a second angle with respect to the injection shaft 121 Can be formed. The injection nozzles 123 constituting the first group and the injection nozzles 123 constituting the second group may be alternately arranged with each other. According to such a structure, the range to which the chemical liquid sprayed from the spray nozzle 123 reaches can be widened, and the effect of removing and preventing precipitates can be increased. Meanwhile, this is exemplary, and the plurality of spray nozzles 123 may include the spray nozzles 123 constituting two or more groups.

상술한 구조에 의하면, 분사 샤프트(121)가 이송 샤프트(111)와 대응되는 높이에 위치할 수 있으므로, 분사 노즐(123)에서 분사되는 약액이 다른 구조물에 의하여 간섭되지 않을 수 있다. 따라서, 개폐부(101)에서 석출물이 자주 발생되는 영역까지 충분한 양의 약액을 분사할 수 있으며, 약액이 분사되는 강도 또한 향상될 수 있다. 그에 따라, 석출물 제거 및 방지 효과가 상승될 수 있고, 소모되는 약액의 양을 줄일 수 있다. 나아가, 아이들 접촉부재(122)가 기판(W)의 이송에 따라 회전하면서 기판(W)의 이송을 보조하기 때문에, 이와 같은 구조에 의하여도 기판(W)은 안정적으로 이송될 수 있다. 또한, 분사 장치(12)가 약액을 분사함과 동시에 기판의 이송 보조라는 2가지 기능을 동시에 수행하기 때문에, 챔버(10) 내부의 공간을 효율적으로 활용할 수 있다.According to the above-described structure, since the injection shaft 121 may be located at a height corresponding to the transfer shaft 111, the chemical liquid injected from the injection nozzle 123 may not be interfered with by other structures. Accordingly, a sufficient amount of the chemical liquid can be sprayed from the opening/closing part 101 to a region where precipitates are frequently generated, and the strength at which the chemical liquid is sprayed can also be improved. Accordingly, the effect of removing and preventing precipitates can be increased, and the amount of chemical liquid consumed can be reduced. Furthermore, since the idle contact member 122 assists the transfer of the substrate W while rotating according to the transfer of the substrate W, the substrate W can be stably transferred even with this structure. In addition, since the spraying device 12 simultaneously performs two functions of injecting the chemical solution and assisting the transfer of the substrate, the space inside the chamber 10 can be efficiently utilized.

분사 지지부(124)는 분사 샤프트(121)를 지지할 수 있다. 분사 지지부(124)는 높이 조절 가능할 수 있다. 분사 지지부(124)는 분사 샤프트(121)의 높이를 조절함으로써, 분사 노즐(123)에서 약액이 분사되는 범위를 조절할 수 있다.The injection support 124 may support the injection shaft 121. The spray support 124 may be height adjustable. The spray support part 124 may adjust a range in which the chemical solution is sprayed from the spray nozzle 123 by adjusting the height of the spray shaft 121.

한편, 분사 샤프트(121)는 회전 가능하도록 구성될 수 있다. 분사 샤프트(121)는 분사 노즐(123)의 분사 각도가 조절되도록 회전 가능할 수 있다. 분사 샤프트(121)가 회전함으로써, 분사 노즐(123)에서 약액이 분사되는 범위를 조절할 수 있다. 다만, 이 경우에도, 분사 샤프트(121) 및 아이들 접촉부재(122)는 서로 독립되어 회전할 수 있다. 즉, 아이들 접촉부재(122)는 분사 샤프트(121)의 회전에 종속되지 않을 수 있다.Meanwhile, the injection shaft 121 may be configured to be rotatable. The injection shaft 121 may be rotatable so that the injection angle of the injection nozzle 123 is adjusted. As the injection shaft 121 rotates, the range in which the chemical solution is injected from the injection nozzle 123 may be adjusted. However, even in this case, the injection shaft 121 and the idle contact member 122 may rotate independently of each other. That is, the idle contact member 122 may not be dependent on the rotation of the injection shaft 121.

이상과 같이 비록 한정된 도면에 의해 실시 예들이 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기의 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 구조, 장치 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.As described above, although the embodiments have been described by the limited drawings, various modifications and variations are possible from the above description to those of ordinary skill in the art. For example, the described techniques are performed in a different order from the described method, and/or components such as the described structure, device, etc. are combined or combined in a form different from the described method, or in other components or equivalents. Even if substituted or substituted by, appropriate results can be achieved.

1: 기판 처리 장치
10: 챔버
101: 개폐부
11: 이송부
111: 이송 샤프트
112: 이송 접촉부재
12: 분사 장치
121: 분사 샤프트
122: 아이들 접촉부재
123: 분사 노즐
124: 분사 지지부
1: substrate processing device
10: chamber
101: opening and closing part
11: Transfer section
111: transfer shaft
112: transfer contact member
12: injection device
121: injection shaft
122: idle contact member
123: spray nozzle
124: spray support

Claims (15)

기판이 입출되는 개폐부를 포함하고, 상기 기판의 처리가 수행되는 챔버;
축을 중심으로 회전하고, 서로 나란하게 배치되는 복수의 이송 샤프트;
상기 복수의 이송 샤프트 각각에 구비되고, 상기 기판의 하면에 접촉되어 상기 기판을 이송시키는 복수의 이송 접촉부재;
상기 복수의 이송 샤프트와 대응되는 높이에 나란하게 배치되고, 내부로 약액이 공급되는 분사 샤프트; 및
상기 분사 샤프트에 구비되고 상기 개폐부를 향해 약액을 분사하는 복수의 분사 노즐을 포함하는, 기판 처리 장치.
A chamber including an opening/closing part through which a substrate is input and output, and in which the substrate is processed;
A plurality of transfer shafts that rotate around an axis and are disposed in parallel with each other;
A plurality of transfer contact members provided on each of the plurality of transfer shafts and contacting a lower surface of the substrate to transfer the substrate;
A spray shaft disposed in parallel at a height corresponding to the plurality of transfer shafts and supplying a chemical liquid therein; And
A substrate processing apparatus comprising a plurality of spray nozzles provided on the spray shaft and spraying a chemical solution toward the opening and closing portion.
제1항에 있어서,
상기 분사 샤프트에 구비되고, 상기 기판의 하면에 접촉되어 상기 기판의 이송에 따라 회전하는 복수의 아이들 접촉부재를 더 포함하는, 기판 처리 장치.
The method of claim 1,
The substrate processing apparatus further comprises a plurality of idle contact members provided on the injection shaft and contacting a lower surface of the substrate to rotate according to the transfer of the substrate.
제2항에 있어서,
상기 기판이 수평 방향으로 이송되도록, 상기 복수의 이송 접촉부재 및 복수의 아이들 접촉부재는 서로 대응되는 높이에 위치되는, 기판 처리 장치.
The method of claim 2,
The substrate processing apparatus, wherein the plurality of transfer contact members and the plurality of idle contact members are positioned at corresponding heights so that the substrate is transferred in a horizontal direction.
제1항에 있어서,
상기 분사 샤프트는, 상기 복수의 이송 샤프트 중 상기 개폐부와 가장 인접한 이송 샤프트 및 상기 개폐부의 사이에 배치되는, 기판 처리 장치.
The method of claim 1,
The injection shaft is disposed between the opening and closing portion and a transport shaft closest to the opening and closing portion among the plurality of transmission shafts.
제4항에 있어서,
상기 복수의 이송 샤프트 및 분사 샤프트는 서로 등간격으로 배열되는, 기판 처리 장치.
The method of claim 4,
The plurality of transfer shafts and injection shafts are arranged at equal intervals from each other.
제5항에 있어서,
상기 분사 샤프트를 지지하고, 높이 조절 가능한 분사 지지부를 더 포함하는, 기판 처리 장치.
The method of claim 5,
A substrate processing apparatus supporting the injection shaft and further comprising a height-adjustable injection support.
제1항에 있어서,
상기 복수의 분사 노즐은 상기 분사 샤프트에 대하여 상기 개폐부를 향하는 방향으로 설치되되, 적어도 일부는 다른 일부와 다른 각도로 설치되는, 기판 처리 장치.
The method of claim 1,
The plurality of spray nozzles are installed in a direction toward the opening and closing part with respect to the spray shaft, and at least some of them are installed at different angles from other parts.
제1항에 있어서,
상기 분사 샤프트는 상기 분사 노즐의 분사 각도가 조절되도록 회전 가능한, 기판 처리 장치.
The method of claim 1,
The spray shaft is rotatable so that the spray angle of the spray nozzle is adjusted.
제1항에 있어서,
상기 개폐부는 타 챔버와 연결되는 연결 공간을 제공하는, 기판 처리 장치.
The method of claim 1,
The opening and closing part provides a connection space connected to another chamber.
챔버의 개폐부에 형성되는 석출물을 제거하기 위한 분사 장치에 있어서,
상기 챔버 내부에 구비되되 상기 개폐부와 인접하게 배치되고, 내부로 약액이 공급되는 분사 샤프트;
상기 분사 샤프트에 대하여 회전 가능하게 연결되고, 기판의 하면에 접촉되는 복수 개의 아이들 접촉부재; 및
상기 분사 샤프트에 구비되고 상기 개폐부를 향하여 상기 약액을 분사하는 복수 개의 분사 노즐을 포함하는, 분사 장치.
In the injection device for removing precipitates formed in the opening and closing portion of the chamber,
A spray shaft provided inside the chamber, disposed adjacent to the opening and closing part, and supplying a chemical liquid therein;
A plurality of idle contact members rotatably connected to the injection shaft and contacting a lower surface of the substrate; And
An injection device including a plurality of injection nozzles provided on the injection shaft and spraying the chemical solution toward the opening and closing part.
제10항에 있어서,
상기 분사 샤프트는, 상기 기판을 이송시키는 이송부 및 개폐부의 사이에 배치되는, 분사 장치.
The method of claim 10,
The injection shaft is disposed between a transfer unit and an opening/closing unit for transferring the substrate.
제10항에 있어서,
상기 분사 샤프트는, 상기 기판을 이송시키는 이송부와 대응되는 높이에 위치되는, 분사 장치.
The method of claim 10,
The injection shaft, the injection device is located at a height corresponding to the transfer unit for transferring the substrate.
제10항에 있어서,
상기 아이들 접촉부재는, 상기 기판의 이송에 따라 회전되어 상기 기판의 이송을 보조하는, 분사 장치.
The method of claim 10,
The idle contact member is rotated according to the transfer of the substrate to assist the transfer of the substrate, spraying device.
제10항에 있어서,
상기 복수 개의 분사 노즐은,
상기 분사 샤프트와 제1각도를 형성하는 제1군 분사 노즐; 및
상기 분사 샤프트와 제2각도를 형성하는 제2군 분사 노즐을 포함하는, 분사 장치.
The method of claim 10,
The plurality of spray nozzles,
A first group injection nozzle forming a first angle with the injection shaft; And
The injection device comprising a second group injection nozzles forming a second angle with the injection shaft.
제14항에 있어서,
상기 제1군 분사 노즐 및 제2군 분사 노즐은 서로 교대로 배열되는, 분사 장치.
The method of claim 14,
The injection device, wherein the first group injection nozzles and the second group injection nozzles are alternately arranged with each other.
KR1020190059670A 2019-05-21 2019-05-21 Injection apparatus for removing precipitate and substrate treating apparatus comprising the same KR102624822B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190059670A KR102624822B1 (en) 2019-05-21 2019-05-21 Injection apparatus for removing precipitate and substrate treating apparatus comprising the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190059670A KR102624822B1 (en) 2019-05-21 2019-05-21 Injection apparatus for removing precipitate and substrate treating apparatus comprising the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20200134085A true KR20200134085A (en) 2020-12-01
KR102624822B1 KR102624822B1 (en) 2024-01-15

Family

ID=73790604

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020190059670A KR102624822B1 (en) 2019-05-21 2019-05-21 Injection apparatus for removing precipitate and substrate treating apparatus comprising the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102624822B1 (en)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20090116915A (en) * 2008-05-08 2009-11-12 세메스 주식회사 Roller unit and apparatus for processing a glass including the same
JP2010089014A (en) * 2008-10-08 2010-04-22 Jpe:Kk Plasma cleaning apparatus

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20090116915A (en) * 2008-05-08 2009-11-12 세메스 주식회사 Roller unit and apparatus for processing a glass including the same
JP2010089014A (en) * 2008-10-08 2010-04-22 Jpe:Kk Plasma cleaning apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
KR102624822B1 (en) 2024-01-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10289005B2 (en) Unit for supplying liquid, apparatus for treating a substrate, and method for treating a substrate
KR101217371B1 (en) Substrate processing apparatus
US20180061631A1 (en) Substrate processing method
KR20150090943A (en) Apparatus and method for treating substrate
US7926439B2 (en) Substrate processing apparatus
KR20220116134A (en) Substrate processing apparatus
JP6929652B2 (en) Substrate processing equipment and gap cleaning method
US10923326B2 (en) Gas spraying apparatus for substrate processing apparatus and substrate processing apparatus
KR102624822B1 (en) Injection apparatus for removing precipitate and substrate treating apparatus comprising the same
KR20080009645A (en) Apparatus for treating substrates
KR20080062342A (en) Apparatus for processing substrate
US11361985B2 (en) Substrate supporting device and substrate processing apparatus
KR101402235B1 (en) Substrate processing appratus and method for treating subtrate
JP2007207973A (en) Surface treatment method and surface treatment device
JP3866856B2 (en) Substrate processing equipment
KR101097932B1 (en) Spray Device of chemical liquid and substrate processing apparatus having the same
KR20200035249A (en) Etching apparatus
KR101629471B1 (en) Wafer cleanning apparatus
KR102374023B1 (en) Substrate treatment apparatus
TW202040648A (en) Substrate processing apparatus
KR20080078303A (en) Apparatus of treating flat panel
KR102620773B1 (en) Substrate treatment apparatus
KR20180067115A (en) Substrate treatment apparatus and substrate treatment method
KR102338095B1 (en) Subtrate processing apparatus
KR102415323B1 (en) Nozzle unit and apparatus for treating substrate

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant