KR20200122763A - 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 장치를 나타내는 단면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 지지 유닛 상에 유량 측정 유닛이 위치한 상태의 단면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 유량 측정 유닛의 구성을 나타내는 도면이다.
도 5 및 도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 유량 측정 유닛이 지지 유닛에 결합되는 구조를 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 바디의 구조는 나타내는 도면이다.
도 8 및 도 9는 본 발명의 일 실시 예에 따른 기판 처리 방법을 나타내는 흐름도이다.
340: 지지 유닛 384: 제1 노즐
394: 제2 노즐 400: 유량 측정 유닛
410: 바디 420: 플레이트
430: 무게 측정 부재 440: 제어 부재
450: 통신 부재
Claims (16)
- 기판을 처리하는 장치에 있어서,
내부에 기판 처리 공정이 수행되는 공간을 제공하는 하우징;
상기 하우징 내에서 기판을 지지하는 지지 유닛;
상기 지지 유닛에 놓인 기판에 처리액을 공급하는 제1 노즐; 및
상기 지지 유닛 상에 탈착 가능하게 제공되고, 상기 제1 노즐에서 토출되는 처리액의 토출량을 측정하는 유량 측정 유닛을 포함하되,
상기 유량 측정 유닛은,
상기 지지 유닛에 결합되는 바디;
상부가 개방되어 상기 제1 노즐로부터 토출되는 처리액이 수용되는 수용 공간을 가지는 플레이트;
상기 바디와 상기 플레이트 사이에 위치하여 상기 수용 공간에 수용된 처리액의 무게를 측정하는 무게 측정 부재;
상기 무게 측정 부재에서 측정되는 상기 처리액의 무게에 기초하여 상기 처리액의 토출량을 산출하는 제어 부재; 및
상기 제어 부재에서 산출된 상기 처리액의 토출량을 외부로 전송하는 통신 부재;를 포함하는 기판 처리 장치. - 제1항에 있어서,
상기 지지 유닛은,
회전 가능한 스핀 헤드; 및
상기 스핀 헤드로부터 상부로 돌출되어 기판을 지지하는 핀 부재를 포함하고,
상기 바디는, 상기 핀 부재가 삽입되는 홈이 형성되는 기판 처리 장치. - 제2항에 있어서,
상기 핀 부재는, 상기 스핀 헤드에 놓인 기판의 측부를 지지하는 척 핀을 포함하고,
상기 홈은, 상기 바디의 측면에 형성되는 제1 홈을 포함하며,
상기 바디가 상기 지지 유닛에 결합시 상기 척 핀이 상기 제1 홈에 삽입되는 기판 처리 장치. - 제2항에 있어서,
상기 핀 부재는, 상기 스핀 헤드에 놓인 기판의 저면을 지지하는 지지 핀을 포함하고,
상기 홈은, 상기 바디의 저면에 형성되는 제2 홈을 포함하며,
상기 바디가 상기 지지 유닛에 결합시 상기 지지 핀이 상기 제2 홈에 삽입되는 기판 처리 장치. - 제2항에 있어서,
상기 바디는, 가장자리 영역이 상기 바디의 외측 방향으로 경사지게 제공되는 기판 처리 장치. - 제5항에 있어서,
상기 가장자리 영역은, 10도 내지 50도의 각도로 아래 방향으로 경사지게 제공되는 기판 처리 장치. - 제6항에 있어서,
상기 바디는, 중심의 두께가 1.8 mm 내지 2.2 mm 이고, 최외곽의 두께가 0.8 mm 내지 1.2 mm 로 제공되는 기판 처리 장치. - 제2항에 있어서,
상기 바디의 하부는, 상기 기판과 동일한 크기로 제공되는 기판 처리 장치. - 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 무게 측정 부재는, 로드셀로 제공되는 기판 처리 장치. - 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 통신 부재는, 블루투스 모듈인 기판 처리 장치. - 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 유량 측정 유닛을 세정하는 세정액을 공급하는 제2 노즐;을 더 포함하는 기판 처리 장치. - 제1항의 기판 처리 장치를 이용하여 기판을 처리하는 방법에 있어서,
상기 유량 측정 유닛을 상기 지지 유닛 상에 결합하는 단계;
상기 제1 노즐로부터 상기 수용 공간으로 상기 처리액이 토출되는 단계;
상기 수용 공간에 수용된 처리액의 무게를 측정하는 단계; 및
측정된 상기 처리액의 무게에 기초하여 상기 처리액의 토출량을 산출하는 단계;를 포함하는 기판 처리 방법. - 제12항에 있어서,
상기 기판 처리 장치는, 상기 유량 측정 유닛을 세정하는 세정액을 공급하는 제2 노즐을 더 포함하며,
상기 처리액의 토출량을 측정하는 단계 이후, 상기 수용 공간 내의 처리액을 제거하는 단계; 및
상기 제2 노즐로부터 상기 수용 공간으로 상기 세정액을 공급하여 상기 유량 측정 유닛을 세정하는 단계;를 더 포함하는 기판 처리 방법. - 제13항에 있어서,
상기 수용 공간 내의 처리액을 제거하는 단계는, 상기 지지 유닛을 회전시켜 상기 바디의 회전에 의해 상기 처리액이 제거되는 기판 처리 방법. - 제14항에 있어서,
상기 유량 측정 유닛을 세정하는 단계 이후, 상기 지지 유닛에서 상기 유량 측정 유닛을 제거하고 상기 지지 유닛 상에 기판을 로딩하는 단계; 및
상기 제1 노즐로부터 상기 기판으로 상기 처리액을 공급하는 단계;를 더 포함하는 기판 처리 방법. - 제15항에 있어서,
상기 기판으로 상기 처리액을 공급하는 단계 전에, 상기 제1 노즐로부터 토출되는 상기 처리액의 토출량을 조절하는 단계;를 더 포함하는 기판 처리 방법.
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