KR20190103000A - Projection exposure apparatus - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a projection exposure apparatus which prevents the degradation of the light quantity by installing a relay optical system. The projection exposure apparatus comprises: an illumination optical system in which the emitted light of a light source is incident on an illumination light uniforming means, and the emitted light of the illumination light uniforming means illuminates reticle; a light shielding means, which is installed on an exit part of the illumination light uniforming means, and capable of displacing a light shielding area by blocking a part of the luminous flux of the emitted light.

Description

투영 노광 장치 {PROJECTION EXPOSURE APPARATUS}Projection exposure apparatus {PROJECTION EXPOSURE APPARATUS}

본 발명은, 스텝 앤드 리피트(step-and-repeat)에 의해서 웨이퍼에 패턴을 노광하는 투영 노광 장치에 관한 것이다.TECHNICAL FIELD This invention relates to the projection exposure apparatus which exposes a pattern to a wafer by step-and-repeat.

투영 노광(投影露光) 장치는, 반도체 디바이스나 액정표시장치 등의 제조 공정에 포함되는 리소그래피(lithography) 공정에서, 원판으로서의 레티클의 패턴을, 투영 광학계를 통해 감광성의 기판(표면에 레지스터층이 형성된 웨이퍼)에 전사하는 장치이다. 웨이퍼를 이동시켜 순차적 패턴을 노광하는 스텝 앤드 리피트 방식으로는, 웨이퍼의 스텝 이동과 노광이 교대로 반복된다. 노광 위치가 웨이퍼 엣지(주변부)에 왔을 때에, 엣지단으로부터 소정의 범위를 노광하지 않는 기능이 존재한다. 이러한 웨이퍼 주변 비노광 기능은, WEM(웨이퍼 엣지 마스킹, wafer edge masking)이라고 칭한다.In a lithography process included in a manufacturing process such as a semiconductor device or a liquid crystal display, a projection exposure apparatus uses a pattern of a reticle as an original as a photosensitive substrate (a resist layer is formed on a surface thereof) through a projection optical system. Wafer). In the step and repeat method of moving a wafer to expose a sequential pattern, step movement and exposure of the wafer are alternately repeated. When the exposure position comes to the wafer edge (peripheral portion), there is a function of not exposing a predetermined range from the edge end. This wafer peripheral non-exposure function is referred to as WEM (wafer edge masking).

WEM은, 예를 들면, 네거티브형 포토레지스트(photoresist)의 경우는, 주변부를 노광하지 않음으로써, 현상 시에 웨이퍼 엣지의 여분의 포토레지스트가 제거된다. 혹은, 포지티브형 포토레지스트의 경우는, 별도 주변 노광 장치를 이용하여 웨이퍼 엣지를 노광할 때의, 웨이퍼 엣지의 노광 얼룩(투영 노광 장치와 주변 노광 장치에 의한 부분적인 이중 노광)을 막기 위해서 WEM이 사용된다.For example, in the case of a negative photoresist, the WEM does not expose the peripheral portion, thereby removing excess photoresist at the wafer edge during development. Alternatively, in the case of a positive photoresist, a WEM is used to prevent exposure spots (partial double exposure by the projection exposure apparatus and the peripheral exposure apparatus) of the wafer edge when the wafer edge is exposed using a separate peripheral exposure apparatus. Used.

WEM의 기술로서는, 웨이퍼 상에 차광판을 설치하는 기구와, 레티클 공역 위치(共役位置)에 차광판을 설치하는 기구가 알려져 있다. 예를 들면 특허문헌 1에는, 워크 척(work chuck) 상에 링상(ring 狀) 차광판을 반입·반출하는 기구가 기재되어 있다. 또, 특허문헌 2에는, 웨이퍼의 상방에 차광대(遮光帶)를 설치하는 것이 기재되어 있다. 차광대가 복수의 곡률을 갖고, 차광대를 회전 및 이동시키는 것이 특허문헌 2에 기재되어 있다. 또한, 특허문헌 3에는, 레티클 공역 위치에 차광판을 설치하는 기구가 기재되어 있다.As a technique of WEM, the mechanism which installs a light shielding plate on a wafer, and the mechanism which provides a light shielding plate in a reticle conjugate space position are known. For example, Patent Document 1 describes a mechanism for carrying in and carrying out a ring-shaped light shielding plate on a work chuck. In addition, Patent Document 2 describes that a light shielding band is provided above the wafer. Patent Document 2 describes that the light shielding band has a plurality of curvatures and rotates and moves the light shielding band. In addition, Patent Document 3 describes a mechanism for providing a light shielding plate at a reticle airspace position.

웨이퍼 상에서 차광하는 WEM은, 구조가 비교적 간단하고, 복잡한 제어를 필요로 하지 않는다. 그 반면, 웨이퍼 상에 설치되어, 차광체를 움직이기 위한 가동부로부터의 파티클에 의한 웨이퍼의 오염, 혹은 차광부와 웨이퍼의 접촉 등에 의한 웨이퍼 손상에 대해서, 부품 선정, 메인터넌스 등에 관해서 주의가 필요하다. 또, 웨이퍼에서 이간하여 차광판을 설치하므로, 그 만큼, 차광 경계에 흐릿함이 발생하는 문제가 있었다.WEMs shielding on wafers are relatively simple in structure and do not require complex control. On the other hand, attention should be paid to the selection of parts, maintenance, and the like, for wafer contamination caused by particles from the movable portion for moving the light shielding body or wafer damage due to contact between the light shielding portion and the wafer. Moreover, since the light shielding plate is provided apart from the wafer, there is a problem that blur occurs at the light shielding boundary.

레티클 공역 위치에서 차광하는 WEM은, 릴레이 렌즈 등의 광학 요소가 증가함에 따라, 광량이 저하하고, 또, 차광판의 이동 기구나 제어가 복잡하다고 하는 문제가 있었다. 그 반면, 웨이퍼의 오염이나 데미지의 걱정이 없고, 차광 경계의 흐릿함도 적은 이점이 있다. 이러한 두 개의 방식의 특징을 고려하면, 고정밀의 노광이 요구되는 투영 노광 장치가 되는 만큼, 레티클 공역 위치에서의 WEM을 채용하는 메리트가 크다.The WEM shielding at the reticle conjugate position has a problem that the amount of light decreases as the optical elements such as the relay lens increase, and the movement mechanism and control of the light shielding plate are complicated. On the other hand, there is no worry of contamination or damage of the wafer, and there is little advantage in blurring of the light shielding boundary. In consideration of the features of these two systems, the merits of adopting the WEM at the reticle conjugate position are large as it becomes a projection exposure apparatus requiring high-precision exposure.

일본 특허 특표2005-505147호 공보Japanese Patent Publication No. 2005-505147 일본 공개특허 특개2005-045160호 공보Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2005-045160 일본 공개특허 특개2011-233781호 공보Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2011-233781

1회의 노광 범위(노광 에어리어)를 대형화하기 위해서, 조명 광학계에 조명광 균일화 수단으로서 예를 들면 로드 렌즈를 이용하여, 조도 분포의 개선을 도모하는 것을 생각할 수 있다. 조명 광학계에 로드 렌즈와 릴레이 광학계를 설치하면, 광량의 저하가 문제가 된다. 이 문제를 해결하기 위해서, 릴레이 광학계를 설치하지 않고 레티클 공역면으로의 WEM을 실현하기 위해, 로드 렌즈 출구면의 바로 옆에 WEM 기구를 설치하는 것을 생각할 수 있다.In order to increase the size of one exposure range (exposure area), it is conceivable to improve the illuminance distribution by using, for example, a rod lens as the illumination light uniforming means in the illumination optical system. When the rod lens and the relay optical system are provided in the illumination optical system, a decrease in the amount of light becomes a problem. In order to solve this problem, in order to realize WEM to the reticle conjugate plane without providing the relay optical system, it is conceivable to install a WEM mechanism next to the rod lens exit surface.

광학 설계 상은, 차광판과 로드 렌즈 출구는, 어느 하나를 레티클 공역 위치에 설치하는 것이 이상적이다. 그렇지만, 가동부의 간섭을 피하기 위해서, 양자 간에 갭을 설치할 필요가 있다. 이 갭을 넓혔을 경우에는, 이하와 같은 단점이 생긴다.In the optical design, it is ideal that the light shield plate and the rod lens exit are provided at the reticle conjugate position. However, in order to avoid interference of the movable part, it is necessary to provide a gap between them. When this gap is widened, the following disadvantages arise.

로드 렌즈 출구가 레티클 공역 위치로부터 멀어지는 만큼, 레티클을 조사하는 빛의 조도(照度) 분포가 나빠진다.The farther the rod lens exit is from the reticle conjugate position, the worse the illuminance distribution of the light irradiating the reticle.

차광판이 레티클 공역 위치로부터 멀어지는 만큼, 차광판의 투영상(投影像)의 엣지부에 흐릿함이 생기고, 현상 했을 때 흐릿함의 부분에서 포토레지스트(photoresist) 단면이 기울어진 형상이 된다.As the light shielding plate moves away from the reticle airspace position, blur occurs at the edge portion of the projected image of the light shielding plate, and when developed, the cross section of the photoresist becomes inclined at the blur.

한편, 로드 렌즈 출구면에 차광판이 접촉하여 긁히면, 그 흠이 그대로 웨이퍼에 투영 되어 버리므로, 갭을 좁게 하기 위해서는 높은 강성, 확실한 동작이나, 용이한 메인터넌스성이 필요하다. 또한, 로드 렌즈 출구면과 그 다음의 렌즈(크리티컬 조명 렌즈군) 사이의 스페이스가 좁고, 이 스페이스에 WEM 기구를 설치하는 것이 필요하게 된다. 특허문헌 2에는, 차광대를 회전 및 이동시키는 기구에 대한 개시가 없고, 좁은 스페이스에 차광대를 설치하는 것에 대한 고려가 전혀 없다.On the other hand, when the light blocking plate contacts and scratches the rod lens exit surface, the defect is projected onto the wafer as it is, so high rigidity, reliable operation, and easy maintenance are necessary to narrow the gap. In addition, the space between the rod lens exit surface and the next lens (critical illumination lens group) is narrow, and it is necessary to provide a WEM mechanism in this space. In Patent Document 2, there is no disclosure about a mechanism for rotating and moving the light shielding band, and there is no consideration about providing the light shielding band in a narrow space.

따라서, 본 발명의 목적은, 조명광 균일화 수단의 출구에 근접하여 배치 가능한 공간절약인 구성의 가변 차광 수단을 갖는 투영 노광 장치를 제공하는 것에 있다.It is therefore an object of the present invention to provide a projection exposure apparatus having variable light shielding means having a space-saving configuration that can be disposed close to the exit of the illumination light uniforming means.

본 발명은, 광원의 출사광을 조명광 균일화 수단에 입사하여, 조명광 균일화 수단의 출사광이 레티클을 조명하는 조명 광학계와, 조명광 균일화 수단의 출구부에 설치되어, 출사광의 광속의 일부를 차광하여, 차광 영역을 변위하는 것이 가능한 차광 수단을 구비하는 투영 노광 장치이다.According to the present invention, the light emitted from the light source is incident on the illumination light uniforming means, and the light emitted from the illumination light uniforming means is provided with an illumination optical system for illuminating the reticle, and an exit portion of the illumination light uniforming means to shield a part of the luminous flux of the emitted light. It is a projection exposure apparatus provided with the light shielding means which can displace a light shielding area | region.

적어도 하나의 실시 형태에 의하면, 소망한 비노광 영역을 형성하는 가변 차광 수단을 공간절약인 구성으로 할 수 있다. 따라서, 조명광 균일화 수단의 출구부에 가변 차광 수단을 설치하는 것이 가능하고, 광량의 저하를 방지할 수 있다. 또, 여기에 기재된 효과는 반드시 한정되는 것이 아니고, 본 발명 중에 기재된 어느 하나의 효과 또는 그와 이질의 효과여도 좋다.According to at least one embodiment, the variable light-shielding means which forms a desired non-exposed area can be made space-saving. Therefore, it is possible to provide the variable light shielding means at the exit of the illumination light uniforming means, and to prevent the decrease in the amount of light. In addition, the effect described here is not necessarily limited, Any effect described in this invention, or the effect of heterogeneity may be sufficient.

[도 1] 도 1은, 본 발명의 일 실시 형태에 따른 노광 장치의 구성을 나타내는 도이다.
[도 2] 도 2는, 일 실시의 형태에서의 차광판의 정면도, 평면도 및 측면도이다.
[도 3] 도 3은, 일 실시의 형태에서의 차광 기구의 단면도이다.
[도 4] 도 4는, 일 실시의 형태에서의 차광판 이동 기구를 나타내는 도이다.
[도 5] 도 5는, 노광 동작의 설명에 사용하는 웨이퍼의 평면도이다.
[도 6] 도 6은, 차광판의 다른 예의 정면도이다.
[도 7] 도 7은, 차광판 이동 기구의 다른 구성예를 나타내는 도이다.
[도 8] 도 8은, 차광판 이동 기구의 또 다른 구성예를 나타내는 도이다.
1 is a diagram illustrating a configuration of an exposure apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a front view, a plan view, and a side view of a light shielding plate in one embodiment. FIG.
3 is a cross-sectional view of the light shielding mechanism in one embodiment.
FIG. 4 is a diagram illustrating the light shielding plate moving mechanism in the embodiment. FIG.
FIG. 5 is a plan view of a wafer used for describing the exposure operation. FIG.
FIG. 6 is a front view of another example of a light shielding plate. FIG.
FIG. 7: is a figure which shows the other structural example of a light shielding plate movement mechanism.
FIG. 8 is a diagram showing still another configuration example of the light shielding plate moving mechanism.

이하, 본 발명의 실시 형태 등에 대해 도면을 참조하면서 설명한다. 또, 설명은 이하의 순서로 실시한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, it demonstrates, referring drawings for embodiment of this invention. In addition, description is given in the following procedure.

<1. 일 실시의 형태><1. Embodiment of work>

<2. 변형예><2. Variation>

이하에 설명하는 실시의 형태 등은 본 발명의 매우 적합한 구체적인 예이며, 본 발명의 내용이 이러한 실시 형태 등으로 한정되는 것은 아니다.Embodiments described below are very suitable specific examples of the present invention, and the content of the present invention is not limited to these embodiments and the like.

<1. 일 실시의 형태><1. Embodiment of work>

「장치 구성」`` Device configuration ''

도 1은 본 발명의 투영 노광 장치의 일 실시의 형태의 개략 구성도이다. 투영 노광 장치는, 광원(1)과, 광원(1)의 출사광을 균일한 조도의 조명광으로 하는 조명 광학계(4)를 갖는다. 조명 광학계(4)로부터의 조명광이 패턴의 원판인 레티클(포토마스크(photomask))(8)에 조사된다. 레티클(8)의 상이 투영 광학계(12)에 의해서 웨이퍼(13)에 투영된다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a schematic block diagram of one Embodiment of the projection exposure apparatus of this invention. The projection exposure apparatus has the light source 1 and the illumination optical system 4 which makes the emission light of the light source 1 into illumination light of uniform illuminance. Illumination light from the illumination optical system 4 is irradiated to a reticle (photomask) 8 which is a disc of a pattern. The image of the reticle 8 is projected onto the wafer 13 by the projection optical system 12.

웨이퍼(13)는, 노광 스테이지(워크 척)(14) 상에 재치되고 있다. 노광 스테이지(14)는, 스테이지 이동 기구(15)에 의해서 이동된다. 스테이지 이동 기구(15) 및 광학계(광원(1), 조명 광학계(4), 투영 광학계(12))가 발판(架台)(16)에 의해서 지지를 받는다. 또, 도 1에서, 각 요소는 주요한 광축에 따른 단면도로 표시되고 있고, 그 때의 해칭은 생략되고 있다.The wafer 13 is mounted on the exposure stage (work chuck) 14. The exposure stage 14 is moved by the stage moving mechanism 15. The stage moving mechanism 15 and the optical system (light source 1, illumination optical system 4, projection optical system 12) are supported by the scaffold 16. As shown in FIG. In addition, in FIG. 1, each element is represented by sectional drawing along the main optical axis, and hatching at that time is abbreviate | omitted.

광원(1)은, g, h, i선을 포함하는 브로드 밴드인 빛을 방사하는 UV램프이다. 또, 집광 미러로서 타원 미러(2)가 설치되고 있다. 광원(1)의 빛을 미러(3)에 의해서 반사하여 조명 광학계(4)의 로드 렌즈(5)의 입구를 향해서 집광한다. 로드 렌즈(5)는, 로드 렌즈 지지부(6)에 의해서 지지를 받고 있다. 광원(1)으로서 수은 램프, 레이저 등을 사용해도 좋다.The light source 1 is a UV lamp which emits light which is a broadband including g, h and i lines. Moreover, the elliptical mirror 2 is provided as a condensing mirror. The light of the light source 1 is reflected by the mirror 3 and condenses toward the entrance of the rod lens 5 of the illumination optical system 4. The rod lens 5 is supported by the rod lens support part 6. As a light source 1, a mercury lamp, a laser, etc. may be used.

조명 광학계(4)는, 로드 렌즈(5)와, 크리티컬 조명 렌즈군(7)을 구비한다. 로드 렌즈(5)는, 다각형의 단면을 갖는 투명체이며, 내면 반사에 의해서 조명광 균일화 수단으로서 기능한다. 조명광 균일화 수단으로서는, 로드 렌즈에 한정하지 않고, 내면 반사경(복수의 거울을 내향으로 접합한 다각형의 통)을 사용해도 좋다. 또, 조명 광학계(4)는, 후술하는 차광 기구(WEM 기구)(11)를 구비하고 있다.The illumination optical system 4 includes a rod lens 5 and a critical illumination lens group 7. The rod lens 5 is a transparent body having a polygonal cross section and functions as illumination light uniforming means by internal surface reflection. As illumination light uniforming means, you may use not only a rod lens but an inner surface reflector (polygon cylinder which bonded several mirrors inwardly). Moreover, the illumination optical system 4 is equipped with the light shielding mechanism (WEM mechanism) 11 mentioned later.

패턴 노광 영역 뿐만 아니라, 웨이퍼(13)의 주변부의 적어도 일부에도 포토레지스트(photoresist)가 도포되고 있다. 포토레지스트(photoresist)는, 자외선을 이용하여 패턴을 형성하는 감광 재료이다. 포토레지스트(photoresist)로서는, 포지티브형, 네거티브형의 어느 것이라도 좋다. 웨이퍼(13)의 주변부에는 소정의 비노광 영역이 설정되어 있다. 예를 들면 웨이퍼(13)의 엣지 전 둘레에 걸쳐서 폭 5mm가 비노광 영역이 된다. 웨이퍼(13)의 주변에, 웨이퍼의 각도 얼라이먼트를 위한 노치나 오리엔테이션 플랫(orientation flat)을 설치해도 좋다.In addition to the pattern exposure region, photoresist is applied to at least a portion of the periphery of the wafer 13. A photoresist is a photosensitive material which forms a pattern using ultraviolet rays. As photoresist, any of a positive type and a negative type may be sufficient. A predetermined non-exposed area is set at the periphery of the wafer 13. For example, a width of 5 mm becomes a non-exposed area over the entire edge of the edge of the wafer 13. In the periphery of the wafer 13, a notch or orientation flat for angular alignment of the wafer may be provided.

일 실시의 형태에서는, 조명 광학계(4)의 웨이퍼(13)의 공역면에 차광판(17)이 설치되어 있다. 또, 차광판(17)은 로드 렌즈(5)의 출구부에 위치한다. 구체적으로는, 차광판(17)에 근접한 위치에 로드 렌즈(5)의 출구면이 위치하게 된다. 이와 같이, 로드 렌즈(5)의 출구면으로부터 약간 이간된 위치까지를 로드 렌즈(5)의 출구부라고 칭한다. 이간 거리는, 예를 들면 차광판(17)에 대해서 3mm의 간격으로 로드 렌즈(5)의 출구면이 위치한다. 또, 3mm 이외의 간격이라도 좋지만, 가능한 한 좁은 간격이 바람직하다. 또, 로드 렌즈(5)의 출구면을 공역면과 일치시켜도 좋다. 도 2는 웨이퍼(13)의 주변 비노광 영역을 따라서 빛을 차광하기 위한 차광판(17)의 일례의 정면도, 평면도 및 측면도를 나타내고, 도 3은, 차광 기구(11)를 확대하여 나타내고, 도 4는, 출사면에서 본 차광 기구(11)를 나타낸다.In one embodiment, the light shielding plate 17 is provided on the conjugate plane of the wafer 13 of the illumination optical system 4. In addition, the light shielding plate 17 is located at the exit of the rod lens 5. Specifically, the exit surface of the rod lens 5 is positioned at a position close to the light shielding plate 17. In this way, the position from the exit surface of the rod lens 5 to the position slightly apart is called the exit portion of the rod lens 5. As for the separation distance, the exit surface of the rod lens 5 is located at an interval of 3 mm with respect to the light shielding plate 17, for example. Moreover, although intervals other than 3 mm may be sufficient, the interval as narrow as possible is preferable. In addition, the exit surface of the rod lens 5 may coincide with the conjugate surface. FIG. 2 shows a front view, a plan view, and a side view of an example of a light shielding plate 17 for shielding light along a peripheral non-exposed area of the wafer 13, and FIG. 3 shows an enlarged view of the light shielding mechanism 11. 4 shows the light shielding mechanism 11 seen from the emission surface.

차광판(17)은, 레티클(8)과 동일한 재질 예를 들면 석영 유리의 판에 대해서 흑색의 차광제를 피착(被着)시킨 것이다. 차광판(17)은, 내주 측에 원호상 노치(切欠, notch)(R0)를 갖고, 외주 측에 반경이 다른(즉, 곡률이 다른) 4개의 원호상의 엣지(R1, R2, R3 및 R4)를 갖는 형상이다. 또, 취부혈(取付穴)(18a, 18b 및 18c)이 형성되고, 취부혈(18a, 18b 및 18c)에 의해서 도 4에 나타내듯이, 링상 홀더(19)가 취부된다. 링상 홀더(19)는, 예를 들면 금속으로 이루어지고, 차광판(17)이 보강되고 있다.The light shielding plate 17 is obtained by depositing a black light shielding agent on the same material as the reticle 8, for example, a plate of quartz glass. The light shielding plate 17 has four arc-shaped edges R1, R2, R3, and R4 having an arc-shaped notch R0 on the inner circumferential side and having a radius (i.e., different curvature) on the outer circumferential side. It has a shape. Moreover, mounting blood 18a, 18b, and 18c are formed, and ring-shaped holder 19 is attached by mounting blood 18a, 18b, and 18c as shown in FIG. The ring holder 19 is made of metal, for example, and the light shielding plate 17 is reinforced.

또한, 차광판(17)의 원호상의 엣지 부분은, 조명 광학계의 NA(개구율)에 대응하는 테이퍼 형상의 단면을 갖는다. 테이퍼 형상은, 비노광 영역 이외에서는 출사광의 광량의 감소를 방지하기 위함이다. 또, 실시예로의 차광판의 원호상의 엣지는 4개 있지만, 이것으로 한정할 필요는 없다. 예를 들면 2개의 원호상 엣지를 갖는 차광판이라고 해도 좋다. 다른 곡률의 엣지를 차광판(17)이 가지므로, 다른 반경의 웨이퍼(13)의 비노광 영역에 대응하는 것이 가능하고, 차광판(17)을 웨이퍼(13)의 비노광 영역의 반경에 따라 교환할 필요가 없는 이점이 있다.In addition, the edge part of the circular arc shape of the light shielding plate 17 has a tapered cross section corresponding to NA (opening ratio) of an illumination optical system. The tapered shape is for preventing a decrease in the amount of light emitted from the non-exposed areas. Moreover, although there are four edges on the circular arc of the light shielding plate in an Example, it is not necessary to limit to this. For example, it may be a light shielding plate having two circular arc edges. Since the light shielding plate 17 has edges of different curvature, it is possible to correspond to the non-exposed areas of the wafer 13 of different radii, and the light shielding plate 17 can be replaced according to the radius of the non-exposed areas of the wafer 13. There is an advantage that does not need to.

「차광판 이동 기구」`` Light shield plate moving mechanism ''

차광판(17)은, 차광판 이동 기구에 의해서 그 위치가 변위된다. 차광판 이동 기구는, 직동 기구(23)와 제1θ 축기구와 제2θ 축기구를 구비하고 있다. 그리고, 차광판(17) 및 차광판 이동 기구에 의해서 가변 차광 수단이 구성되어 있다. 도 4에 나타내듯이, 차광판(17)의 내측의 원호상 노치(R0) 또는 링상 홀더(19)의 내측의 원호가 원호 전환 모터(20)의 회전축에 취부되고 있다. 원호 전환 모터(20)이 베이스 플레이트(21)에 대해서 고정되고 있다. 베이스 플레이트(21)가 착탈용 나사(22a 및 22b)에 의해서 직동 기구(23)에 대해서 장착된다. 즉, 차광판(17) 및 원호 전환 모터(20)가 미리 취부되어 있는 베이스 플레이트(21)가 직동 기구(23)에 대해서 착탈 자재(着脫自在, detachable)로 되어 있다. 따라서, 원호 전환 모터(20) 및 베이스 플레이트(21)와 일체로 차광판(17)이 교환된다. 또, 원호 전환 모터(20)에 의해서 차광판(17)을 회전시키기 위한 기구를 제2θ 축기구라 칭한다.The position of the light shielding plate 17 is displaced by the light shielding plate moving mechanism. The light shielding plate moving mechanism includes a linear motion mechanism 23, a first θ axis mechanism and a second θ axis mechanism. And the variable light shielding means is comprised by the light shielding plate 17 and the light shielding plate moving mechanism. As shown in FIG. 4, the circular arc notch R0 inside the light shielding plate 17 or the circular arc inside the ring holder 19 is attached to the rotating shaft of the arc switching motor 20. The arc switching motor 20 is fixed to the base plate 21. The base plate 21 is attached to the linear motion mechanism 23 by the detachable screws 22a and 22b. That is, the base plate 21 to which the light shielding plate 17 and the circular arc switching motor 20 are previously attached is made detachable with respect to the linear motion mechanism 23. Therefore, the light shielding plate 17 is exchanged integrally with the arc switching motor 20 and the base plate 21. In addition, the mechanism for rotating the light shielding plate 17 by the arc switching motor 20 is called a 2θ shaft mechanism.

직동 기구(23)는, 볼 나사 등의 단축 액츄에이터이며, 차광판(17) 및 원호 전환 모터(20)를 직선적으로 변위시키는 기구이다. 직동 기구(23)에 의해서, 조명 광학계(4)의 광축에 대해서 차광판(17)의 엣지를 접근 또는 이간한다. 직동 기구(23)는, 비노광 영역의 폭에 대응해서 차광판(17)의 엣지의 위치를 설정하는 것이다.The linear motion mechanism 23 is a single axis actuator such as a ball screw, and is a mechanism for linearly displacing the light shielding plate 17 and the arc switching motor 20. By the linear motion mechanism 23, the edge of the light shielding plate 17 approaches or is spaced apart from the optical axis of the illumination optical system 4. The linear motion mechanism 23 sets the position of the edge of the light shielding plate 17 corresponding to the width of the non-exposed area.

제1θ 축기구는, 조명 광학계의 광축을 중심으로 하여 차광판(17)을 회전시키는 회전 기구이다. 도 3에 나타내듯이, 중공 모터(24)가 설치되어, 중공 모터(24)에 의해서 중공 샤프트(25)가 회전된다. 중공 모터(24)는, 슬립 링 등의 회전 케이블부(26)을 구비하고 있다. 중공 샤프트(25) 내에 로드 렌즈(5)를 갖는 로드 렌즈 지지부(6)가 설치되고, 중공 샤프트(25)의 중심과 로드 렌즈(5)의 광축이 일치하게 된다.The 1θ axis mechanism is a rotation mechanism that rotates the light shielding plate 17 around the optical axis of the illumination optical system. As shown in FIG. 3, the hollow motor 24 is provided and the hollow shaft 25 is rotated by the hollow motor 24. As shown in FIG. The hollow motor 24 is equipped with rotary cable parts 26, such as a slip ring. The rod lens support part 6 which has the rod lens 5 is provided in the hollow shaft 25, and the center of the hollow shaft 25 and the optical axis of the rod lens 5 will correspond.

중공 샤프트(25)의 로드 렌즈(5)의 출구 측에 회전 스테이지(28)(회전체)가 취부(取付, attach)되고 있다. 회전 스테이지(28)는, 원판상(圓板狀)에서 그 중심 위치에 중공 샤프트(25)의 선단이 고착된다. 회전 스테이지(28)에는, 취부부를 통해 직동 기구(23)가 취부되고 있다. 예를 들면 회전 스테이지(28)의 지름 방향과 직동 기구(23)의 직선 운동의 방향이 일치하도록 되고 있다. 상술한 것처럼, 직동 기구(23)에 대해서는, 차광판(17) 및 원호 전환 모터(20)를 갖는 제2θ 축기구가 취부되고 있다. 따라서, 중공 샤프트(25)가 중공 모터(24)에 의해서 회전되면, 회전 스테이지(28), 직동 기구(23) 및 제2θ 축기구가 일체로 회전한다.The rotating stage 28 (rotating body) is attached to the exit side of the rod lens 5 of the hollow shaft 25. As for the rotation stage 28, the front-end | tip of the hollow shaft 25 is fixed to the center position in the disk shape. The linear motion mechanism 23 is attached to the rotating stage 28 via a mounting portion. For example, the radial direction of the rotating stage 28 and the direction of the linear motion of the linear motion mechanism 23 are made to correspond. As described above, the second θ shaft mechanism having the light shielding plate 17 and the arc switching motor 20 is attached to the linear motion mechanism 23. Therefore, when the hollow shaft 25 is rotated by the hollow motor 24, the rotation stage 28, the linear motion mechanism 23, and the 2θ shaft mechanism rotate integrally.

또한, 차광판 이동 기구에는, 광축을 사이에 두고 차광판(17)과 대향하는 위치에, 차광판(17)의 위치 검출 센서(29)가 설치되고 있다. 위치 검출 센서(29)는, 차광판(17)과 함께 회전하도록, 회전 스테이지(28)에 취부되어 있고, 항상 차광판(17)에 대향하는 위치를 보관 유지하고, 차광판(17)이 목표 위치에 대해서 올바른 위치에 있는지(예를 들면 차광판(17)의 돌출량이 설정치 대로인지)는, 그때마다, 위치 검출 센서(29)에 의해서 확인되고 있다. 위치 검출 센서(29)로서는, 레이저를 이용한 위치 계측 센서나, 카메라를 이용한 화상 인식 센서 등이 이용된다.In addition, the position detection sensor 29 of the light shielding plate 17 is provided in the light shielding plate moving mechanism at a position facing the light shielding plate 17 with the optical axis therebetween. The position detection sensor 29 is attached to the rotation stage 28 so as to rotate together with the light shielding plate 17, and always holds a position facing the light shielding plate 17, and the light shielding plate 17 is directed to a target position. It is confirmed by the position detection sensor 29 every time whether it is in the correct position (for example, whether the amount of protrusion of the light shielding plate 17 is according to a set value). As the position detection sensor 29, the position measurement sensor using a laser, the image recognition sensor using a camera, etc. are used.

「차광 동작」`` Blocking behavior ''

도 5는 웨이퍼(13)에 대한 스텝 앤드 리피트 노광 동작을 나타내는 도면이다. 도 5의 예에서는, 41회의 노광을 실시한다. 1회의 노광 범위(이하 샷(shot)이라고 적당하게 칭한다)를 직사각형으로 나타내고, 십자는 샷의 중심(광축의 위치)을 나타내고 있다. 1회의 샷의 직사각형은, 기본적으로는 레티클(8)에 의해서 정해진다. 샷을 규정하기 위한 블라인드 등을 설치해도 좋다.5 is a diagram illustrating a step and repeat exposure operation on the wafer 13. In the example of FIG. 5, 41 exposures are performed. One exposure range (hereinafter referred to as a shot suitably) is represented by a rectangle, and the cross represents the center of the shot (position of the optical axis). The rectangle of one shot is basically determined by the reticle 8. A blind or the like for defining the shot may be provided.

웨이퍼(13)의 외주로부터 내측의 경계까지의 소정의 폭의 비노광 영역(MA)이 설정된다. 차광판(17)에 의해서 비노광 영역(MA)에 대해서 빛이 입사하지 않게 된다. 비노광 영역(MA)이 포함되는 주변의 샷에서 차광이 된다. 샷이 비노광 영역(MA)에 걸리지 않는 위치의 노광 동작 시에는, 차광판(17)이 로드 렌즈(5)로부터 퇴피하는 위치로 후퇴하고 있다.The non-exposed area MA of a predetermined width from the outer circumference of the wafer 13 to the inner boundary is set. Light is not incident on the non-exposed area MA by the light blocking plate 17. The light is shielded from the surrounding shot including the non-exposed area MA. In the exposure operation of the position where the shot does not catch the non-exposed area MA, the light shielding plate 17 is retracted to the position to retract from the rod lens 5.

도 5에서는, 웨이퍼(13)의 좌상(左上)의 부분의 예에 관해서, 차광판(17)에 의한 차광 영역을 SA로 나타내고, 비노광 영역(MA)이 걸리는 샷을 EA1 및 EA2로 나타내고 있다. 노광 에리어가 비노광 영역(MA)에 걸리는 샷(EA1, EA2)에서는, 차광판(17)이 비노광 영역(MA)을 차광하는 만큼 로드 렌즈(5)의 광축을 향해 접근하고, 조명광의 일부를 차광한다. 또, 샷(EA1, EA2)에서의 비노광 영역(MA)의 각도에 따라, 제1θ 축기구(중공 모터(24), 회전 스테이지(28)를 가짐)가 회전한다. 즉, 차광판(17)의 엣지가 비노광 영역(MA)을 규정하는 내측의 경계의 원호와 일치하게 된다. 그 결과, 차광 영역(SA)이 노광 영역(EA1, EA2)과 비노광 영역(MA)에 따라 위치 결정된다.In FIG. 5, the light shielding area by the light shielding plate 17 is represented by SA and the shots on which the non-exposed area MA is applied are shown by EA1 and EA2 in the example of the upper left portion of the wafer 13. In shots EA1 and EA2 in which the exposure area is exposed to the non-exposed area MA, the light shielding plate 17 approaches the optical axis of the rod lens 5 as much as the light-shielding plate 17 shields the non-exposed area MA, and a part of the illumination light is applied. Shading. Moreover, according to the angle of the non-exposure area | region MA in shot EA1, EA2, a 1 (theta) shaft mechanism (having hollow motor 24 and rotation stage 28) rotates. That is, the edge of the light shielding plate 17 coincides with the arc of the inner boundary defining the non-exposed area MA. As a result, the light shielding area SA is positioned according to the exposure areas EA1 and EA2 and the non-exposure area MA.

웨이퍼(13)의 비노광 영역(MA)의 폭을 변경하는 경우, 또는 비노광 영역(MA)의 폭을 바꾸지 않고 웨이퍼(13)를 다른 반경의 것으로 교환하는 경우에는, 차광 영역(SA)의 곡률을 변경할 필요가 생긴다. 이러한 경우는, 원호 전환 모터(20)를 갖는 제2θ 축기구(원호 전환 모터(20)를 가짐)에 의해서 차광판(17)을 회전시키고, 차광판(17)의 원호상 엣지를 바꿈으로써 대응하는 것이 가능하다. 차광판(17)이 복수의 곡률의 엣지를 갖는 것에 의해서, 차광판(17)을 교환하지 않고, 비노광 영역을 규정하는 경계의 곡률을 변경할 수 있다.When the width of the non-exposed area MA of the wafer 13 is changed, or when the wafer 13 is replaced with one of a different radius without changing the width of the non-exposed area MA, There is a need to change the curvature. In this case, by responding by rotating the light shielding plate 17 by the 2θ shaft mechanism having the arc switching motor 20 (having the arc switching motor 20) and changing the arcuate edge of the light shielding plate 17, It is possible. By having the edges of a some curvature, the light shielding plate 17 can change the curvature of the boundary which defines a non-exposed area | region without replacing the light shielding plate 17. FIG.

「차광판의 형상의 다른 예」`` Another example of the shape of the light shield plate ''

도 6에 나타내듯이, 두 개의 곡률 R5 및 R6의 엣지를 갖고, 내측에 원호상 노치(R0)를 갖는 차광판(17')을 사용해도 좋다. 즉, 차광판은, 2 이상의 다른 곡률의 엣지를 갖는 것이 필요하다.As shown in FIG. 6, you may use the light shielding plate 17 'which has the edge of two curvatures R5 and R6, and has circular arc notch R0 inside. That is, the light shielding plate needs to have an edge of two or more different curvatures.

「직동 기구의 다른 예」`` Another example of linear mechanism ''

도 7에 나타내듯이, 직동 기구의 축(변위 방향)을 광축과 수직으로 교차하지 않도록, 직동 기구를 비스듬하게 배치해도 좋다. 상술한 직동 기구를 나타내는 도 4와 동일한 참조 부호를 교부하여 나타낸다. 이러한 배치에 의해서 차광판 이동 기구의 높이를 낮게 할 수 있다.As shown in FIG. 7, the linear motion mechanism may be arranged obliquely so as not to intersect the axis (displacement direction) of the linear motion mechanism perpendicularly to the optical axis. The same reference numerals as in FIG. 4 showing the aforementioned linear motion mechanism are issued and shown. By such arrangement, the height of the light shielding plate moving mechanism can be reduced.

「직동 기구의 또 다른 예」`` Another example of linear mechanism ''

도 8에 나타내듯이, 암(30)의 일단 측에 차광판(17), 링상 홀더(19) 및 원호 전환 모터(20)를 취부하고, 암(30)의 타단측을 직동 기구(31)에 취부한다. 암(30)의 연장 방향과 직동 기구(31)의 축 방향(변위 방향)이 직교하도록 된다. 이러한 구성에 의해서 직동 기구 및 제2θ 축기구의 형상을 소형화할 수 있다.As shown in FIG. 8, the light shielding plate 17, the ring-shaped holder 19, and the arc switching motor 20 are attached to one end side of the arm 30, and the other end side of the arm 30 is attached to the linear motion mechanism 31. As shown in FIG. do. The extending direction of the arm 30 and the axial direction (displacement direction) of the linear motion mechanism 31 become orthogonal. By such a configuration, the shapes of the linear motion mechanism and the 2θ shaft mechanism can be miniaturized.

<2.변형예><2. Variation>

이상, 본 기술의 일 실시의 형태에 대해 구체적으로 설명했지만, 본 발명은, 상술의 일 실시의 형태로 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상에 근거하는 각종의 변형이 가능하다. 또, 상술의 실시 형태에 대해 든 구성, 방법, 공정, 형상, 재료 및 수치 등은 어디까지나 예에 지나지 않고, 필요에 따라서 이것과 다른 구성, 방법, 공정, 형상, 재료 및 수치 등을 이용해도 좋다.As mentioned above, although one Embodiment of this technology was described concretely, this invention is not limited to one embodiment mentioned above, Various deformation | transformation based on the technical idea of this invention is possible. In addition, the structure, the method, the process, the shape, the material, the numerical value, etc. which were mentioned about embodiment mentioned above are only examples, and if necessary, the structure, method, process, shape, material, numerical value, etc. which differ from this may be used. good.

이상, 본 발명에 의하면, 소망한 비노광 영역을 형성하는 가변 차광 수단을 공간절약인 구성으로 할 수 있다. 따라서, 조명광 균일화 수단의 출구부에 가변 차광 수단을 설치하는 것이 가능하고, 광량의 저하를 방지할 수 있다.As mentioned above, according to this invention, the variable light-shielding means which forms a desired non-exposed area | region can be set as a space saving structure. Therefore, it is possible to provide the variable light shielding means at the exit of the illumination light uniforming means, and to prevent the decrease in the amount of light.

또 본 발명에 의하면, 엣지의 전환부를 포함한 유닛 단위로 차광판의 교환을 가능하게 함으로써, 교환 작업이 용이하고, 로드 렌즈 등의 광학 소자를 손상시키는 것을 방지 가능하고, 설치 정밀도를 높일 수 있다.According to the present invention, the light shielding plate can be replaced in units of units including the edge switching unit, whereby the replacement operation can be easily performed, and damage to optical elements such as rod lenses can be prevented, and installation accuracy can be improved.

1···광원, 4···조명 광학계, 5···로드 렌즈,
6···로드 렌즈 지지부, 8···레티클, 10···얼라이먼트 카메라,
11···차광 기구, 12···투영 광학계, 13···웨이퍼,
14···노광 스테이지, 15···스테이지 이동 기구, 17···차광판,
19···링상 홀더, 20···원호 전환 모터, 23···직동 기구,
24···중공 모터, 25···중공 샤프트, 28···회전 스테이지
1 light source, 4 illumination optical system, 5 rod lens,
6 rod lens support, 8 reticles, 10 alignment cameras,
11 shading mechanism, 12 projection optical system, 13 wafer,
14 exposure stage, 15 stage moving mechanisms, 17 shading plates,
19 ... ring holder, 20 arc switching motor, 23 direct mechanism,
24 hollow motors, 25 hollow shafts, 28 rotating stages

Claims (13)

광원의 출사광을 조명광 균일화 수단에 입사하여, 상기 조명광 균일화 수단의 출사광이 레티클을 조명하는 조명 광학계와,
상기 조명광 균일화 수단의 출구부에 설치되어, 상기 출사광의 광속의 일부를 차단하여, 차광 영역을 변위하는 것이 가능한 차광 수단
을 구비하는 투영 노광 장치.
An illumination optical system in which the emitted light of the light source is incident on the illumination light uniforming means, and the emission light of the illumination light uniforming means illuminates the reticle;
Light shielding means which is provided in the exit part of the said illumination light equalization means, can block a part of the luminous flux of the said exit light, and can displace the light shielding area.
Projection exposure apparatus provided with.
제1항에 있어서,
상기 레티클과 공역 위치에 상기 차광 수단이 배치된 투영 노광 장치.
The method of claim 1,
And the light shielding means is disposed at the conjugate position with the reticle.
제1항에 있어서,
상기 조명광 균일화 수단이 로드 렌즈에 의해서 구성되고,
상기 로드 렌즈의 길이 방향이 중심부를 관통하는 회전 구동부가 설치되고,
상기 차광 수단이 상기 회전 구동부에 의해서 상기 로드 렌즈를 통과하는 광축을 중심으로 회전 방향으로 변위하는 투영 노광 장치.
The method of claim 1,
The illumination light uniforming means is constituted by a rod lens,
A rotation drive unit in which a length direction of the rod lens penetrates a central portion thereof is provided,
And the light shielding means is displaced in a rotational direction about an optical axis passing through the rod lens by the rotation driving unit.
제3항에 있어서,
상기 차광 수단을 상기 회전 구동부에 의해서 회전되는 회전체의 취부면에 설치한 투영 노광 장치.
The method of claim 3,
The projection exposure apparatus provided with the said light shielding means in the mounting surface of the rotating body rotated by the said rotation drive part.
제4항에 있어서,
상기 차광 수단을 상기 로드 렌즈의 광축에 접근 또는 이간하도록 직선적으로 변위시키는 직동 기구를 상기 회전체의 취부면에 설치한 투영 노광 장치.
The method of claim 4, wherein
And a linear motion mechanism for linearly displacing the light blocking means so as to approach or be separated from the optical axis of the rod lens on the mounting surface of the rotating body.
제5항에 있어서,
상기 차광 수단은, 다른 곡률을 갖는 복수의 차광부를 갖고,
상기 직동 기구에 대해서 설치된 회동부에 회전 가능한 상태로 취부된 투영 노광 장치.
The method of claim 5,
The light shielding means has a plurality of light shielding portions having different curvatures,
The projection exposure apparatus attached to the rotating part provided with respect to the said linear motion mechanism in the state rotatable.
제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 차광 수단은, 상기 웨이퍼의 외주로부터 소정의 폭만큼 내측의 경계선과 겹쳐지는 원호상의 엣지를 갖고, 상기 경계선보다 외측의 영역에 빛이 입사하지 않도록 빛을 차단하는 차광판인 투영 노광 장치.
The method according to any one of claims 1 to 6,
And said light shielding means is a light shielding plate having an arc-shaped edge overlapping an inner boundary line by a predetermined width from an outer circumference of said wafer, and blocking light so that light does not enter an area outside said boundary line.
제1항에 있어서,
상기 차광 수단이 상기 출사광의 광속의 일부를 차광하는 곡률이 다른 복수의 엣지를 갖는 차광판을 갖고,
상기 조명 광학계의 광축을 중심으로 회동하는 회전체를 갖는 회전 구동부와,
상기 회전 구동부의 회전체에 취부되어, 상기 조명 광학계의 광축에 접근 또는 이간하도록 상기 차광판을 직선적으로 변위시키는 직동 기구와,
상기 직동 기구에 취부되어, 상기 조명 광학계의 광축과 수직인 평면 상으로 상기 차광판을 회동시키는 회동부를 구비하는 투영 노광 장치.
The method of claim 1,
The light shielding means has a light shielding plate having a plurality of edges having different curvatures for shielding a part of the luminous flux of the emitted light,
A rotation drive unit having a rotating body rotating about an optical axis of the illumination optical system;
A linear actuating mechanism mounted on a rotating body of the rotation driving unit to linearly displace the light shielding plate so as to approach or be separated from the optical axis of the illumination optical system;
And a rotating part attached to the linear motion mechanism to rotate the light blocking plate on a plane perpendicular to the optical axis of the illumination optical system.
제8항에 있어서,
상기 차광판은, 외주 측에 상기 엣지를 갖고, 내주 측에 원호상 노치가 형성된 투영 노광 장치.
The method of claim 8,
The said light shielding plate has the said edge on the outer peripheral side, and the projection exposure apparatus in which the arc-shaped notch was formed in the inner peripheral side.
제9항에 있어서,
상기 차광판의 외주 측에 상기 엣지가 적어도 3개 설치되고 있는 투영 노광 장치.
The method of claim 9,
At least three edges are provided in the outer peripheral side of the said light shielding plate.
제9항에 있어서,
상기 원호상 노치의 내측에, 상기 회동부의 회동 액츄에이터가 위치하는 투영 노광 장치.
The method of claim 9,
The rotation exposure actuator of the said rotation part is located inside the said arc-shaped notch.
제8항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 차광판과 상기 회동부는, 상기 직동 기구에 대해서 일체로 착탈 자재의 구성으로 한 투영 노광 장치.
The method according to any one of claims 8 to 11,
The said light shielding plate and the said rotation part were the projection exposure apparatuses which consisted of the structure of a detachable material integrally with respect to the said linear motion mechanism.
제8항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 회전체에 취부되어, 상기 회전체에 대한 상기 차광판의 위치를 측정하는 측정 수단을 구비하는 투영 노광 장치.
The method according to any one of claims 8 to 11,
Projection exposure apparatus mounted to the said rotating body and provided with the measuring means which measures the position of the said light shielding plate with respect to the said rotating body.
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