KR20160083765A - 곡면 소재 검사 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 곡면 형상을 가지는 소재에 대하여 평면 부분과 곡면 부분을 모두 정확하게 검사할 수 있는 곡면 소재 검사장치에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 곡면 소재 검사장치는, 피검사 대상 곡면 소재(1)를 장착하는 장착 지그(110); 상기 장착 지그(110)를 회동 및 상하 구동시키는 지그 구동부(120); 상기 장착 지그(110)의 상측에 설치되며, 상기 장착 지그(110)에 장착된 피검사 대상 곡면 소재(1)를 검사하는 검사 카메라(130); 상기 장착 지그(130)의 주변에 설치되며, 상기 곡면 소재(1)에 조명을 조사하는 조명부(150); 상기 장착 지그(110)를 상기 곡면 소재(1)의 검사 위치에 따라 상하 구동 및 회동시키면서 상기 검사 카메라(130)를 이용하여 검사하는 제어부(도면에 미도시);를 포함한다.

Description

곡면 소재 검사 장치{THE APPARATUS FOR INSPECTING THE GLASS HAVING A CURVED SURFACE}
본 발명은 소재 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 곡면 형상을 가지는 소재에 대하여 평면 부분과 곡면 부분을 모두 정확하게 검사할 수 있는 곡면 소재 검사장치에 관한 것이다.
필름과 같은 풍부한 신축성을 가져서 다양하게 변형될 수 있는 플렉서블(flexible)한 소재는 그 자체로 사용되는 경우보다 특정한 소재에 부착되어 일체로서 사용되는 경우가 많다. 따라서 플렉서블한 소재를 특정한 형상의 소재에 부착할 수 있는 기술의 개발이 많이 이루어지고 있다.
특히, 최근에는 휴대폰을 비롯한 디스플레이 장치와 터치스크린 패널을 사용하는 디바이스를 중심으로, 도 1에 도시된 바와 같이, 곡면형 윈도우 글래스(1)에 플렉서블한 소재를 합착한 구조를 사용하기 시작했다. 이러한 경우에는 곡면형 윈도우 글래스(1)에는 평면 부분(2)과 곡면 부분(3)이 병존하는 형상을 가진다. 이러한 형상을 가지는 곡면형 윈도우 글래스(1)에 전술한 바와 같이, 플렉서블한 소재를 모든 면에 대하여 균일하게 합착하기 위해서는 상기 곡면형 윈도우 글래스(1)의 평면 부분(2)과 곡면 부분(3)에 대한 완벽한 표면 검사가 필요하다.
그런데 종래에는 이러한 곡면형 윈도우 글래스(1)에 대한 표면 검사기술이 개발되지 못하여 원활한 제조 작업이 진행되지 못하는 문제점이 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 곡면 형상을 가지는 소재에 대하여 평면 부분과 곡면 부분을 모두 정확하게 검사할 수 있는 곡면 소재 검사장치를 제공하는 것이다.
전술한 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명에 따른 곡면 소재 검사장치는, 피검사 대상 곡면 소재(1)를 장착하는 장착 지그(110); 상기 장착 지그(110)를 회동 및 상하 구동시키는 지그 구동부(120); 상기 장착 지그(110)의 상측에 설치되며, 상기 장착 지그(110)에 장착된 피검사 대상 곡면 소재(1)를 검사하는 검사 카메라(130); 상기 장착 지그(130)의 주변에 설치되며, 상기 곡면 소재(1)에 조명을 조사하는 조명부(150); 상기 장착 지그(110)를 상기 곡면 소재(1)의 검사 위치에 따라 상하 구동 및 회동시키면서 상기 검사 카메라(130)를 이용하여 검사하는 제어부(도면에 미도시);를 포함한다.
그리고 본 발명에서 상기 조명부(150)는, 상기 검사 카메라(130)의 측부에 설치되어, 상기 검사 카메라(130)와 동일한 방향으로 조명을 조사하는 면광원인 것이 바람직하다.
또한 본 발명에서 상기 조명부(152)는, 상기 장착 지그(110)의 측부에 설치되며, 상기 곡면 소재(1) 방향으로 조명을 조사하는 면광원인 것이 바람직하다.
또한 본 발명의 곡면 소재 검사장치에는, 상기 검사 카메라(130)를 상하 방향 및 수평 방향으로 이동시키는 카메라 구동부(140)가 더 구비되는 것이 바람직하다.
또한 본 발명에서 상기 제어부는, 상기 곡면 소재(1)의 평면 부분(2)에 대해서는 상기 검사 카메라(130)를 수평 이동시키면서 검사하고, 곡면 부분(3)에 대해서는 상기 장착 지그(130)을 회전 구동 및 상하 구동시키면서 검사하도록 제어하는 것이 바람직하다.
또한 본 발명에서 상기 검사 카메라(130)는, 자동 초점 맞춤(Auto Focusing) 기능을 구비하는 카메라인 것이 바람직하다.
또한 상기 검사 카메라(130)는, MEMS 제조방법을 이용하여 제조되는 자동 초점 맞춤(Auto Focusing) 기능을 구비하는 카메라인 것이 더욱 바람직하다.
한편 본 발명에서 상기 장착 지그(110)는 면광원으로 구성되는 것이 바람직하다.
또한 본 발명은, 피검사 대상 곡면 소재(1)를 그리핑(GRIPPING)하는 그리핑 수단(210); 상기 그리핑 수단(210)를 회동 및 상하 방향으로 구동시키는 그리핑 구동부(220); 상기 그리핑 수단(210)의 상측에 설치되며, 상기 그리핑 수단(210)에 장착된 피검사 대상 곡면 소재(1)를 검사하는 검사 카메라(230); 상기 검사 카메라(230)를 상하 방향 및 수평 방향으로 이동시키는 카메라 구동부(240); 상기 검사 카메라(230)의 주변에 설치되며, 상기 곡면 소재(1)에 조명을 조사하는 조명부(250); 상기 피검사 대상 곡면 소재(1) 하측에 설치되며, 상기 조명부(250)에서 조사되는 빛이 상기 피검사 대상 곡면 소재(1) 방향으로 재반사되는 것을 방지하는 반사 방지부재(260); 상기 그리핑 수단(210)를 상기 곡면 소재(1)의 검사 위치에 따라 상하 구동 및 회동시키면서 상기 검사 카메라(230)를 이용하여 검사하는 제어부(도면에 미도시);를 포함하는 곡면 소재 검사장치도 제공한다.
한편 본 발명은 피검사 대상 곡면 소재(1)를 그리핑(GRIPPING)하는 그리핑 수단(310); 상기 그리핑 수단(310)를 회동 및 상하 구동시키는 그리핑 구동부(320); 상기 그리핑 수단(310)의 상측에 설치되며, 상기 그리핑 수단(310)에 장착된 피검사 대상 곡면 소재(1)를 검사하는 검사 카메라(330); 상기 검사 카메라(330)를 상하 방향 및 수평 방향으로 이동시키는 카메라 구동부(340); 상기 피검사 대상 곡면 소재(1) 하측에 설치되며, 상기 곡면 소재(1)에 조명을 조사하는 조명부(350); 상기 그리핑 수단(310)를 상기 곡면 소재(1)의 검사 위치에 따라 상하 구동 및 회동시키면서 상기 검사 카메라(330)를 이용하여 검사하는 제어부(도면에 미도시);를 포함하는 곡면 소재 검사장치도 제공한다.
본 발명의 곡면 소재 검사장치에 의하면 평면 부분과 곡면 부분을 모두 포함하는 곡면 소재에 대하여 평면 부분과 곡면 부분에 대한 표면 검사 및 이물 검사 등을 자동으로 진행할 수 있는 장점이 있다.
도 1은 피검사 대상 곡면 소재의 형상을 도시하는 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 곡면 소재 검사장치의 구조를 도시하는 도면이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 곡면 소재 검사장치의 구조를 도시하는 도면이다.
도 4 내지 7은 본 발명이 일 실시예에 따른 곡면 소재 검사장치를 이용하여 곡면 소재를 검사하는 과정을 도시하는 도면들이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 곡면 소재 검사장치의 구조를 도시하는 도면이다.
도 9, 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 곡면 소재 검사장치를 이용하여 곡면 소재를 검사하는 과정을 도시하는 도면들이다.
도 11은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 곡면 소재 검사장치의 구조를 도시하는 도면이다.
이하에서는 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 구체적인 실시예들을 상세하게 설명한다.
< 실시예 1 >
본 실시예에 따른 곡면 소재 검사장치(100)는 도 2에 도시된 바와 같이, 장착 지그(110), 지그 구동부(120), 검사 카메라(130), 조명부(150) 및 제어부를 포함하여 구성될 수 있다.
먼저 상기 장착 지그(110)는 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 피검사 대상 곡면 소재(1)를 장착하는 구성요소이다. 본 실시예에서 상기 장착 지그(110)는 상기 피검사 대상 곡면 소재(1)와 동일한 형상을 가지는 장착면을 가지는 것이 바람직하다. 한편 본 실시예에서 상기 장착 지그(110) 자체가 면광원으로 구성되어 조명부 역할을 수행할 수도 있다. 이 경우 별도로 조명부가 구비되지 않는다.
다음으로 상기 지그 구동부(120)는 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 장착 지그(110)의 하측에 결합되어 상기 장착 지그(110)를 회동 및 상하 구동시키는 구성요소이다. 상기 장착 지그(110)는 상기 피검사 대상 곡면 소재(1)의 평면 부분 및 곡면 부분을 모두 검사하기 위하여 상기 피검사 대상 곡면 소재(1)를 회동시키거나 상하 방향으로 이동시킬 필요가 있다. 따라서 상기 지그 구동부(120)가 상기 곡면 소재(1)를 장착한 상태의 장착 지그(110)를 제어부의 제어에 따라 구동시키는 것이다.
다음으로 상기 카메라(130)는 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 장착 지그(110)의 상측에 설치되며, 상기 장착 지그(110)에 장착된 피검사 대상 곡면 소재(1)를 검사하는 구성요소이다. 본 실시예에서 상기 검사 카메라(130)는 자동 초점 맞춤(Auto Focusing) 기능을 구비하는 카메라인 것이, 곡면 부분 및 평면 부분을 용이하게 검사할 수 있어서 바람직하다. 또한 상기 검사 카메라(130)는, MEMS 제조방법을 이용하여 제조되는 자동 초점 맞춤(Auto Focusing) 기능을 구비하는 카메라인 것이 더욱 바람직하다.
다음으로 상기 조명부(150)는 상기 장착 지그(130)의 주변에 설치되며, 상기 곡면 소재(1)에 조명을 조사하는 구성요소이다. 상기 조명부(150)는 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 검사 카메라(130)의 측부에 설치되어, 상기 검사 카메라(130)와 동일한 방향으로 조명을 조사하는 면광원으로 구성될 수 있다. 한편 본 실시예에서 상기 상기 조명부(152)는, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 장착 지그(110)의 측부에 설치되며, 상기 곡면 소재(1) 방향으로 조명을 조사하는 면광원으로 구성될 수도 있다.
다음으로 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 검사 카메라(130)를 상하 방향 및 수평 방향으로 이동시키는 카메라 구동부(140)가 더 구비될 수도 있다. 상기 카메라 구동부(140)는 상기 제어부의 제어에 의하여 검사 과정에 부합되게 상기 카메라(130)을 수평 또는 수직 방향으로 이동시키게 된다.
다음으로 상기 제어부는 상기 장착 지그(110)를 상기 곡면 소재(1)의 검사 위치에 따라 상하 구동 및 회동시키면서 상기 검사 카메라(130)를 이용하여 검사하는 구성요소이다. 구체적으로 상기 제어부는, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 곡면 소재(1)의 평면 부분(2)에 대해서는 상기 검사 카메라(130)를 수평 이동시키면서 검사하고, 도 5 내지 7에 도시된 바와 같이, 곡면 부분(3)에 대해서는 상기 장착 지그(130)을 회전 구동 및 상하 구동시키면서 검사하도록 제어할 수 있다.
< 실시예 2 >
본 실시예에 따른 곡면 소재 검사장치(200)는 도 8에 도시된 바와 같이, 그리핑 수단(210), 그리핑 구동부(220), 검사 카메라(230), 카메라 구동부(240), 조명부(250), 반사 방지부재(260) 및 제어부를 포함하여 구성될 수 있다.
먼저 상기 그리핑 수단(210)은 도 8에 도시된 바와 같이, 피검사 대상 곡면 소재(1)를 그리핑(GRIPPING)하는 구성요소이다. 상기 그리핑 수단(210)에 의하여 검사 과정에서 상기 피검사 대상 곡면 소재(1)가 견고하게 장착되어 유지되는 것이다.
다음으로 상기 그리핑 구동부(220)는 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 그리핑 수단(210)과 결합되어 설치되며, 상기 그리핑 수단(210)를 회동 및 상하 방향으로 구동시키는 구성요소이다. 본 실시예에 따른 곡면 소재 검사장치에서는 검사 과정에서 도 9, 10에 도시된 바와 같이, 상기 곡면 소재(1)가 장착된 상태에서 상기 그리핑 수단(210)을 회동시키면서 검사 과정이 진행된다. 이때 상기 그리핑 구동부(220)가 상기 제어부의 제어에 따라 상기 그리핑 수단(210)을 구동시키는 것이다.
상기 그리핑 구동부(220)는 구체적으로 도 8에 도시된 바와 같이, 구동 궤도를 제공하는 구동 레일과 구동 동력을 제공하는 구동 수단으로 구성될 수 있다. 이 때 상기 그리핑 수단(210)은 상기 구동 레일에 슬라이딩 구동가능하게 결합되어 설치된다.
다음으로 상기 검사 카메라(230)는 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 그리핑 수단(210)의 상측에 설치되며, 상기 그리핑 수단(210)에 장착된 피검사 대상 곡면 소재(1)를 검사하는 구성요소이다. 상기 검사 카메라(230)는 실시예 1의 그것과 실질적으로 동일한 구조 및 기능을 수행하므로 이에 대한 반복설명은 생략한다.
다음으로 상기 카메라 구동부(240)는 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 검사 카메라(230)를 상하 방향 및 수평 방향으로 이동시키는 구성요소이다. 본 실시예에서 상기 카메라 구동부(240)는 상기 제어부의 제어에 따라 상기 검사 카메라(230)를 구동시키게 되는데, 필요에 따라서는 구비되지 않을 수도 있다.
다음으로 상기 조명부(25)는 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 검사 카메라(230)의 주변에 설치되며, 상기 곡면 소재(1)에 조명을 조사하는 구성요소이다. 물론 상기 조명부(250)는 상기 그리핑 수단(210)의 측부에 설치될 수도 있을 것이다.
다음으로 상기 반사 방지부재(260)는 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 피검사 대상 곡면 소재(1) 하측에 설치되며, 상기 조명부(250)에서 조사되는 빛이 상기 피검사 대상 곡면 소재(1) 방향으로 재반사되는 것을 방지하는 구성요소이다. 따라서 본 실시예에서 상기 반사 방지부재(260)는 도 8에 도시된 바와 같이, 상기 조명부(230)와 비스듬한 방향으로 설치되어, 입사되는 조명을 곡면 소재(1)가 아닌 다른 방향으로 반사시킨다.
이때 상기 반사 방지부재(260)는 상기 그리핑 수단(210)과 함께 구동되는 구조를 가질 수도 있다.
다음으로 상기 제어부는 상기 그리핑 수단(210)를 상기 곡면 소재(1)의 검사 위치에 따라 상하 구동 및 회동시키면서 상기 검사 카메라(230)를 이용하여 검사하는 제어부(도면에 미도시)구성요소이다.
< 실시예 3 >
본 실시예에 따른 곡면 소재 검사장치(300)는 도 11에 도시된 바와 같이, 그리핑 수단(310), 그리핑 구동부(320), 검사 카메라(330), 카메라 구동부(340), 조명부(350) 및 제어부를 포함하여 구성될 수 있다. 이때 본 실시예의 그리핑 수단(310), 그리핑 구동부(320), 검사 카메라(330), 카메라 구동부(340) 및 제어부는 실시예 2의 그것과 실질적으로 동일하므로 이에 대한 반복 설명은 생략한다.
다만, 본 실시예에서 상기 조명부(35)는 도 11에 도시된 바와 같이, 상기 피검사 대상 곡면 소재(1) 하측에 설치되며, 상기 곡면 소재(1)에 조명을 조사하는 구성요소이다. 이렇게 상기 조명부(350)를 상기 곡면 소재(1)의 하측에 설치하면, 반사 방지 부재 등은 구비될 필요가 없으며, 장비의 구동이 단순해지는 장점이 있다.
1 : 곡면 소재 2 : 평면 부분
3 : 곡면 부분
100 : 본 발명의 일 실시예에 따른 곡면 소재 검사장치
110 : 장착 지그 120 : 지그 구동부
130 : 검사 카메라 140 : 카메라 구동부
150 : 조명부

Claims (10)

  1. 피검사 대상 곡면 소재(1)를 장착하는 장착 지그(110);
    상기 장착 지그(110)를 회동 및 상하 구동시키는 지그 구동부(120);
    상기 장착 지그(110)의 상측에 설치되며, 상기 장착 지그(110)에 장착된 피검사 대상 곡면 소재(1)를 검사하는 검사 카메라(130);
    상기 장착 지그(130)의 주변에 설치되며, 상기 곡면 소재(1)에 조명을 조사하는 조명부(150);
    상기 장착 지그(110)를 상기 곡면 소재(1)의 검사 위치에 따라 상하 구동 및 회동시키면서 상기 검사 카메라(130)를 이용하여 검사하는 제어부(도면에 미도시);를 포함하는 곡면 소재 검사장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 조명부(150)는,
    상기 검사 카메라(130)의 측부에 설치되어, 상기 검사 카메라(130)와 동일한 방향으로 조명을 조사하는 면광원인 것을 특징으로 하는 곡면 소재 검사장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 조명부(152)는,
    상기 장착 지그(110)의 측부에 설치되며, 상기 곡면 소재(1) 방향으로 조명을 조사하는 면광원인 것을 특징으로 하는 곡면 소재 검사장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 검사 카메라(130)를 상하 방향 및 수평 방향으로 이동시키는 카메라 구동부(140)가 더 구비되는 것을 특징으로 하는 곡면 소재 검사장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 제어부는,
    상기 곡면 소재(1)의 평면 부분(2)에 대해서는 상기 검사 카메라(130)를 수평 이동시키면서 검사하고, 곡면 부분(3)에 대해서는 상기 장착 지그(130)을 회전 구동 및 상하 구동시키면서 검사하도록 제어하는 것을 특징으로 하는 곡면 소재 검사장치.
  6. 제1항에 있어서, 상기 검사 카메라(130)는,
    자동 초점 맞춤(Auto Focusing) 기능을 구비하는 카메라인 것을 특징으로 하는 곡면 소재 검사장치.
  7. 제6항에 있어서, 상기 검사 카메라(130)는,
    MEMS 제조방법을 이용하여 제조되는 자동 초점 맞춤(Auto Focusing) 기능을 구비하는 카메라인 것을 특징으로 하는 곡면 소재 검사장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 장착 지그(110)는 면광원으로 구성되는 것을 특징으로 하는 곡면 소재 검사장치.
  9. 피검사 대상 곡면 소재(1)를 그리핑(GRIPPING)하는 그리핑 수단(210);
    상기 그리핑 수단(210)를 회동 및 상하 방향으로 구동시키는 그리핑 구동부(220);
    상기 그리핑 수단(210)의 상측에 설치되며, 상기 그리핑 수단(210)에 장착된 피검사 대상 곡면 소재(1)를 검사하는 검사 카메라(230);
    상기 검사 카메라(230)를 상하 방향 및 수평 방향으로 이동시키는 카메라 구동부(240);
    상기 검사 카메라(230)의 주변에 설치되며, 상기 곡면 소재(1)에 조명을 조사하는 조명부(250);
    상기 피검사 대상 곡면 소재(1) 하측에 설치되며, 상기 조명부(250)에서 조사되는 빛이 상기 피검사 대상 곡면 소재(1) 방향으로 재반사되는 것을 방지하는 반사 방지부재(260);
    상기 그리핑 수단(210)를 상기 곡면 소재(1)의 검사 위치에 따라 상하 구동 및 회동시키면서 상기 검사 카메라(230)를 이용하여 검사하는 제어부(도면에 미도시);를 포함하는 곡면 소재 검사장치.
  10. 피검사 대상 곡면 소재(1)를 그리핑(GRIPPING)하는 그리핑 수단(310);
    상기 그리핑 수단(310)를 회동 및 상하 구동시키는 그리핑 구동부(320);
    상기 그리핑 수단(310)의 상측에 설치되며, 상기 그리핑 수단(310)에 장착된 피검사 대상 곡면 소재(1)를 검사하는 검사 카메라(330);
    상기 검사 카메라(330)를 상하 방향 및 수평 방향으로 이동시키는 카메라 구동부(340);
    상기 피검사 대상 곡면 소재(1) 하측에 설치되며, 상기 곡면 소재(1)에 조명을 조사하는 조명부(350);
    상기 그리핑 수단(310)를 상기 곡면 소재(1)의 검사 위치에 따라 상하 구동 및 회동시키면서 상기 검사 카메라(330)를 이용하여 검사하는 제어부(도면에 미도시);를 포함하는 곡면 소재 검사장치.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11257208B2 (en) 2018-11-13 2022-02-22 Samsung Display Co., Ltd. Defect inspection system for specimen and defect inspection method for specimen
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