KR20160021938A - Touch sensing device - Google Patents

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    • G06F3/0448Details of the electrode shape, e.g. for enhancing the detection of touches, for generating specific electric field shapes, for enhancing display quality

Abstract

Provided is a touch sensing device capable of reducing resistive-capacitive delay variations. The touch sensing device comprises: an external wiring region in which a plurality of external wires are disposed; a plurality of patch electrodes arranged in a first direction away from the external wiring region; and a plurality of internal wires disposed in a dead zone defined on one side of the patch electrodes and each having one end connected to each patch electrode and the other end connected to one of the external wires. Each of the internal wires includes: a detour wiring unit of which at least a portion extends in a direction away from the external wiring region or in a direction parallel to the external wires from one end; and a main wiring unit which extends in a direction approaching the external wiring region to the other end. The length of the detour wiring unit of a first internal wire, which is connected to a first patch electrode among the patch electrodes, is longer than the length of the detour wiring unit of a second internal wire connected to a second patch electrode, which is positioned further away from the external wiring region than the first patch electrode, among the patch electrodes.

Description

접촉 감지 장치{TOUCH SENSING DEVICE}TOUCH SENSING DEVICE

본 발명은 접촉 감지 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 사용자의 접촉 여부와 위치를 감지하여 이를 전기적인 신호로 변환하는 접촉 감지 장치에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a touch sensing apparatus, and more particularly, to a touch sensing apparatus for sensing whether a user touches and /

터치 스크린이 장착된 휴대폰이 널리 보급되고 다양한 종류의 스마트 폰이 대중화되면서 접촉 감지 기술에 대한 연구가 활발하게 진행되고 있다. 대표적인 접촉 감지 장치인 터치 스크린은 그 동작 방식에 따라 저항막, 정전용량, 초음파, 적외선 방식 등으로 구분할 수 있으며, 이 가운데 정전용량 방식 터치 스크린은 내구성이 뛰어나고 수명이 길어 멀티 터치 기능을 지원한다는 장점이 있어, 최근 그 적용 분야를 넓혀가고 있다.As mobile phones equipped with touch screens have become widespread and various types of smart phones have become popular, researches on touch sensing technology are being actively carried out. The touch screen, which is a typical touch sensing device, can be divided into resistance film, electrostatic capacity, ultrasonic wave, and infrared ray according to its operation method. Among them, capacitive touch screen has advantages of durability and long life, Has recently been expanding its application field.

정전용량 방식 터치 스크린은 디스플레이 윈도우 전면에 가해지는 사용자의 접촉에 의한 캐패시턴스 변화에 기초하여 접촉 위치를 검출하며, 내구성이 높고 멀티 터치 기능을 지원한다는 장점이 있어 그 적용 범위가 차츰 늘어나고 있다.The capacitance type touch screen detects contact position based on the capacitance change caused by the touch of the user applied on the front of the display window, and has a high durability and supports multi-touch function, and its application range is gradually increasing.

최근 상술한 터치 스크린이 적용되는 장치, 예컨대 스마트폰이나 노트북 등이 대형화됨에 따라 터치 스크린의 크기가 증가하고 있다. 그리고 상기 터치 스크린의 크기가 증가함에 따라 접촉 위치를 검출하기 위한 신호를 전달하는 배선들 간에 신호 전달 지연(RC DELAY) 편차가 발생할 수 있으며, 이에 따라 터치 스크린이 균일하게 터치를 감지하지 못할 수 있다.Recently, the size of a touch screen has been increasing as a device such as a smart phone, a notebook, or the like to which the above-mentioned touch screen is applied is enlarged. As the size of the touch screen increases, a signal delay (RC DELAY) may occur between the wirings for transmitting a signal for detecting the contact position. Accordingly, the touch screen may not uniformly detect the touch .

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 신호 전달 지연 편차를 감소시킨 접촉 감지 장치를 제공하는 것이다. SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a contact sensing device with reduced signal transmission delay variation.

본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The present invention has been made in view of the above problems, and it is an object of the present invention to provide a method of manufacturing the same.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 접촉 감지 장치는 복수의 외부 배선이 배치된 외부 배선 영역, 상기 외부 배선 영역으로부터 멀어지는 제1 방향으로 배열된 복수의 패치 전극 및 상기 복수의 패치 전극의 일측에 정의된 데드영역에 배치된 복수의 내부 배선으로서, 각각 일단이 상기 각 패치 전극에 연결되고, 타단이 상기 복수의 외부 배선 중 어느 하나에 연결된 복수의 내부 배선을 포함하되, 상기 각 내부 배선은 상기 일단을 기점으로 적어도 일부가 상기 외부 배선 영역과 멀어지는 방향으로 진행하는 우회 배선부, 및 상기 타단을 종점으로 하여 상기 외부 배선 영역과 가까워지는 방향으로 진행하는 주 배선부를 포함하며, 상기 복수의 패치 전극 중 제1 패치 전극에 연결된 제1 내부 배선의 우회 배선부 길이는 상기 복수의 패치 전극 중 상기 제1 패치 전극보다 상기 외부 배선 영역으로부터 더 멀리 위치하는 제2 패치 전극에 연결된 제2 내부 배선의 우회 배선부 길이보다 길 수 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided a touch sensing apparatus including an external wiring region in which a plurality of external wiring lines are arranged, a plurality of patch electrodes arranged in a first direction away from the external wiring region, A plurality of internal wirings arranged in a dead area defined on one side of the electrode and each having one end connected to each of the patch electrodes and the other end connected to one of the plurality of external wirings, Wherein the internal wiring includes a bypass wiring portion that extends from the one end to a direction at least partially away from the external wiring region and a main wiring portion that extends toward the external wiring region with the other end as an end point, The length of the bypass wiring portion of the first internal wiring connected to the first patch electrode among the plurality of patch electrodes is shorter than the length The length of the bypass wiring portion of the second internal wiring connected to the second patch electrode located further from the external wiring region than the first patch electrode in the tooth electrode may be longer than that of the second internal wiring.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 다른 실시예에 따른 접촉 감지 장치는, 복수의 외부 배선이 배치된 외부 배선 영역, 상기 외부 배선 영역으로부터 멀어지는 제1 방향으로 배열된 복수의 패치 전극, 상기 복수의 패치 전극의 일측에 정의된 데드영역에 배치된 복수의 내부 배선으로서, 각각 일단이 상기 각 패치 전극에 연결되고, 타단이 상기 복수의 외부 배선 중 어느 하나에 연결된 복수의 내부 배선 및 상기 복수의 내부 배선과 절연되어 중첩하는 커패시터 전극을 포함할 수 있다.According to another aspect of the present invention, there is provided a touch sensing apparatus including: an external wiring region in which a plurality of external wiring lines are arranged; a plurality of patch electrodes arranged in a first direction away from the external wiring region; A plurality of internal wirings, each having one end connected to each of the patch electrodes and the other end connected to any one of the plurality of external wirings, and a plurality of internal wirings arranged in the dead area defined at one side of the patch electrode, And a capacitor electrode which is insulated from the wiring and overlaps the capacitor electrode.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 접촉 감지 장치는, 복수의 외부 배선이 배치된 외부 배선 영역, 상기 외부 배선 영역으로부터 멀어지는 제1 방향으로 배열된 복수의 패치 전극, 상기 복수의 패치 전극의 일측에 정의된 데드영역 내에 배치된 복수의 내부 배선으로서, 각각 일단이 상기 각 패치 전극에 연결되고, 타단이 상기 복수의 외부 배선 중 어느 하나에 연결된 복수의 내부 배선 및 상기 복수의 외부 배선과 절연되어 중첩하는 커패시터 전극을 포함할 수 있다.According to another aspect of the present invention, there is provided a touch sensing apparatus including an external wiring region in which a plurality of external wiring lines are arranged, a plurality of patch electrodes arranged in a first direction away from the external wiring region, A plurality of internal wirings each having one end connected to each of the patch electrodes and the other end connected to one of the plurality of external wirings and a plurality of internal wirings connected to one of the plurality of external wirings, And may include a capacitor electrode which is insulated from the external wiring and overlaps with the external wiring.

기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.The details of other embodiments are included in the detailed description and drawings.

본 발명의 실시예들에 의하면 적어도 다음과 같은 효과가 있다.The embodiments of the present invention have at least the following effects.

본 발명에 따르면 신호 전달 지연 편차를 감소시킨 접촉 감지 장치를 제공할 수 있다. According to the present invention, it is possible to provide a contact sensing device with reduced signal transmission delay variation.

본 발명에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.The effects according to the present invention are not limited by the contents exemplified above, and more various effects are included in the specification.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 접촉 감지 장치의 개략적 적층 구조를 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 예시적인 일 실시예에 따른 접촉 감지 장치의 평면 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 3은 도 2에 도시된 접촉 감지 장치의 일부분을 확대 도시한 도면이다.
도 4a는 도 3에 도시된 접촉 감지 장치의 일부분을 확대 도시한 도면이다.
도 4b는 도 4a에 도시된 구조의 변형 실시예를 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 예시적인 다른 실시예에 따른 접촉 감지 장치의 평면 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 6은 도 5에 도시된 접촉 감지 장치의 일부분을 확대 도시한 도면이다.
도 7은 도 6에 도시된 커피세터 전극의 예시적인 평면 구조를 확대 도시한 도면이다.
도 8은 본 발명의 예시적인 또 다른 실시예에 따른 접촉 감지 장치의 평면 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 9는 도 8에 도시된 접촉 감지 장치의 일부분을 확대 도시한 도면이다.
도 10은 본 발명의 예시적인 또 다른 실시예에 따른 접촉 감지 장치의 평면 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 11은 도 10에 도시된 접촉 감지 장치의 일부분을 확대 도시한 도면이다.
1 is a view showing a schematic laminated structure of a touch sensing device according to an embodiment of the present invention.
2 is a schematic diagram illustrating a planar structure of a touch sensing apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention.
3 is an enlarged view of a part of the touch sensing apparatus shown in Fig.
4A is an enlarged view of a portion of the touch sensing apparatus shown in FIG.
FIG. 4B is a view showing a modified embodiment of the structure shown in FIG. 4A.
5 is a schematic view showing a planar structure of a touch sensing apparatus according to another exemplary embodiment of the present invention.
6 is an enlarged view of a part of the touch sensing apparatus shown in Fig.
Fig. 7 is an enlarged view of an exemplary planar structure of the coffee setter electrode shown in Fig. 6. Fig.
8 is a schematic view illustrating a planar structure of a touch sensing apparatus according to another exemplary embodiment of the present invention.
9 is an enlarged view of a part of the touch sensing apparatus shown in Fig.
10 is a schematic view showing a planar structure of a touch sensing device according to another exemplary embodiment of the present invention.
11 is an enlarged view of a part of the touch sensing apparatus shown in Fig.

본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 도면에서 층 및 영역들의 크기 및 상대적인 크기는 설명의 명료성을 위해 과장된 것일 수 있다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The advantages and features of the present invention and the manner of achieving them will become apparent with reference to the embodiments described in detail below with reference to the accompanying drawings. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as being limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, and will fully convey the scope of the invention to those skilled in the art. Is provided to fully convey the scope of the invention to those skilled in the art, and the invention is only defined by the scope of the claims. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification. The dimensions and relative sizes of layers and regions in the figures may be exaggerated for clarity of illustration.

비록 제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있음은 물론이다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 또한 "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는다.Although the first, second, etc. are used to describe various components, it goes without saying that these components are not limited by these terms. These terms are used only to distinguish one component from another. Therefore, it goes without saying that the first component mentioned below may be the second component within the technical scope of the present invention. The singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. It is also to be understood that the terms " comprises "or" having ", when used in this specification, specify a feature, a number, a step, an operation, an element, a part, or a combination thereof, But do not preclude the presence or addition of steps, operations, elements, parts, or combinations thereof.

공간적으로 상대적인 용어인 "아래(below)", "아래(beneath)", "하부(lower)", "위(above)", "상부(upper)" 등은 도면에 도시되어 있는 바와 같이 하나의 소자 또는 구성 요소들과 다른 소자 또는 구성 요소들과의 상관관계를 용이하게 기술하기 위해 사용될 수 있다. 공간적으로 상대적인 용어는 도면에 도시되어 있는 방향에 더하여 사용시 또는 동작시 소자의 서로 다른 방향을 포함하는 용어로 이해되어야 한다. 예를 들면, 도면에 도시되어 있는 소자를 뒤집을 경우, 다른 소자의 "아래(below 또는 beneath)"로 기술된 소자는 다른 소자의 "위(above)"에 놓여질 수 있다. 따라서, 예시적인 용어인 "아래"는 아래와 위의 방향을 모두 포함할 수 있다. 소자는 다른 방향으로도 배향될 수 있으며, 이 경우 공간적으로 상대적인 용어들은 배향에 따라 해석될 수 있다.The terms spatially relative, "below", "beneath", "lower", "above", "upper" May be used to readily describe a device or a relationship of components to other devices or components. Spatially relative terms should be understood to include, in addition to the orientation shown in the drawings, terms that include different orientations of the device during use or operation. For example, when inverting an element shown in the figure, an element described as " below or beneath "of another element may be placed" above "another element. Thus, the exemplary term "below" can include both downward and upward directions. The elements can also be oriented in different directions, in which case spatially relative terms can be interpreted according to orientation.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들에 대하여 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 접촉 감지 장치의 개략적 적층 구조를 도시한 도면이다.1 is a view showing a schematic laminated structure of a touch sensing device according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명에 따른 접촉 감지 장치는 기판(100) 및 기판 상에 위치하는 도전 패턴층(200)을 포함할 수 있으며, 도전 패턴층(200) 상에 위치하는 윈도우(900)를 더 포함할 수 있다. 1, a touch sensing apparatus according to the present invention may include a substrate 100 and a conductive pattern layer 200 disposed on the substrate, and may include a window 900 disposed on the conductive pattern layer 200, As shown in FIG.

기판(100)은 투명 재질로 이루어질 수 있다. 몇몇 실시예에서 상기 투명 재질은 강화 글라스, 아크릴 수지, PET(Polyethylene Terephthalate), PC(Polycarbonate), PI(polyimide), PES(Polyethersulfone), PI(Polyimide), PMMA(PolyMethly MethaAcrylate), PEN(Polyethylene Naphthalate), Metal Foil, FRP(Fiber Reinforced Plastic)실리콘 고무(Silicon rubber) 등의 물질로 이루어질 수 있다. 기판(100)은으로 고강도 기판뿐만 아니라, 플렉서블 기판도 적용될 수도 있다. The substrate 100 may be made of a transparent material. In some embodiments, the transparent material is selected from the group consisting of reinforcing glass, acrylic resin, polyethylene terephthalate (PET), polycarbonate (PC), polyimide (PI), polyethersulfone (PES), polyimide, polymethly methacrylate (PMMA), polyethylene naphthalate ), Metal Foil, FRP (Fiber Reinforced Plastic), Silicone rubber and the like. The substrate 100 may be a high-strength substrate as well as a flexible substrate.

기판(100) 상에는 도전 패턴층(200)이 위치할 수 있다. 도전 패턴층(200)은 복수의 도전성 패턴을 포함하는 층으로서, 상기 복수의 도전성 패턴은 접촉 감지를 위한 전극일 수 있다. The conductive pattern layer 200 may be located on the substrate 100. The conductive pattern layer 200 is a layer including a plurality of conductive patterns, and the plurality of conductive patterns may be electrodes for contact detection.

도전 패턴층(200)은 광학적으로 투명할 수 있다. 여기서, 광학적으로 투명하다는 의미는 도전 패턴층(200)을 구성하는 물질 자체가 광학적으로 투명한 경우뿐만 아니라, 도전 패턴층(200)의 구성 물질 자체는 불투명하지만 구성 물질 기본 단위의 사이즈가 매우 작고 이들이 적절한 밀도로 배치됨에 따라 육안으로 보았을 때 투명하게 인식되는 경우를 모두 포함한다.The conductive pattern layer 200 may be optically transparent. Here, the meaning of optically transparent means that not only the material constituting the conductive pattern layer 200 is optically transparent but also the constituent material itself of the conductive pattern layer 200 is opaque, but the size of the constituent basic unit is very small, And cases in which they are recognized as being transparent when viewed with the naked eye as they are arranged at appropriate densities.

도전 패턴층(200)으로 적용 가능한 물질의 예로는 ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), ZO(Zinc Oxide) 등의 투명 도전성 산화물이나, 탄소나노물질, 나노와이어(Nano Wire), 전도성 폴리머 등의 도전체, 박막이나 메쉬(Mesh) 형태의 금속 입자나 금속을 들 수 있으며, 이들 중 하나 이상이 조합되어 적용될 수 있다. Examples of the material applicable to the conductive pattern layer 200 include transparent conductive oxides such as ITO (Indium Tin Oxide), IZO (Indium Zinc Oxide) and ZO (Zinc Oxide), carbon nano materials, nano wire, A conductor such as a conductive polymer, a metal particle or metal in the form of a thin film or a mesh, and one or more of these may be applied in combination.

상기 탄소나노물질은 싱글월 탄소나노튜브, 멀티월 탄소나노튜브, 탄소나노입자, 또는 그라핀(graphene)일 수 있다.The carbon nanomaterial may be a single wall carbon nanotube, a multiwall carbon nanotube, a carbon nanoparticle, or a graphene.

상기 나노 와이어는 은 나노 와이어, 구리 나노 와이어, 금 나노 와이어, 백금 나노 와이어, 또는 실리콘 나노 와이어일 수 있다.The nanowires can be silver nanowires, copper nanowires, gold nanowires, platinum nanowires, or silicon nanowires.

상기 전도성 폴리머의 예로는 폴리에틸렌 디옥시티오펜(polyethylene dioxythiophene: PEDOT), 폴리에틸렌 디옥시티오펜:폴리스티렌 술포네이트(Poly(3,4-ethylenedioxythiophene) Polystyrene sulfonate, PEDOT:PSS), 폴리(3-알킬)티오펜[poly(3-alkyl)thiophene: P3AT], 폴리(3-헥실)티오펜[poly( 3-hexyl)thiophene: P3HT], , 폴리아닐린 [polyaniline: PANI], 폴리아세틸렌(polyacetylene: PA), 폴리아줄렌(polyazulene), 폴리이소시아나프탈렌(polyisothianapthalene: PITN), 폴리이소티아나프텐(polyisothianaphthene), 폴리티에닐렌비닐렌(polythienylenevinylene) , 폴리티오펜(polythiophene: PT), 폴리파라페닐렌 {polyparapheny lene: PPP), , 폴리파라페닐렌 비닐렌(polyparaphenylene vinylene: PPV), 폴리페닐렌 설파이드(polyphenylene sulfide), 폴리페닐렌(polyphenylene), 폴리퓨란(polyfuran), 폴리피롤(polypyrrole: PPY), 폴리헵타디엔(polyheptadiyne: PHT) 등을 들 수 있다.Examples of the conductive polymer include polyethylene dioxythiophene (PEDOT), poly (3,4-ethylenedioxythiophene) polystyrene sulfonate, PEDOT: PSS, poly (3-alkyl) thiophene poly (3-alkyl) thiophene: P3AT, poly (3-hexyl) thiophene: P3HT, polyaniline PANI, polyacetylene polytetrafluoroethylene, polyazulene, polyisothianapthalene (PITN), polyisothianaphthene, polythienylenevinylene, polythiophene (PT), polyparaphenylene (PPP) , Polyparaphenylene vinylene (PPV), polyphenylene sulfide, polyphenylene, polyfuran, polypyrrole (PPY), polyheptadiene (polyphenylene sulfide) PHT).

상기 메쉬 형태의 금속 입자나 금속은 은(Ag), 알루미늄(Al), 구리(Cu), 크롬(Cr), 니켈(Ni) 등을 포함할 수 있다.The metal particles and the metal in the mesh form may include silver (Ag), aluminum (Al), copper (Cu), chromium (Cr), nickel (Ni)

상기 도전성 패턴은 다양한 형상으로 제공되어, 패치 전극(도면 미도시), 컬럼 전극(도면 미도시) 등과 같은 감지 및/또는 구동 전극이나 외부 배선 및 내부 배선(도면 미도시) 등으로 적용할 수 있다. The conductive pattern is provided in various shapes and can be applied to sensing and / or driving electrodes such as a patch electrode (not shown), a column electrode (not shown), an external wiring and an internal wiring (not shown) .

도전 패턴층(200) 상에는 투명 윈도우(900)가 더 배치될 수 있다. 투명 윈도우는 접촉 감지 장치의 입력부의 외형을 유지하는 역할을 하며, 적어도 일부 영역이 외부로 노출되어 사용자의 신체 또는 스타일러스 등의 도전성 물체에 의한 접촉입력을 수용할 수 있다. 또한 투명 윈도우(900)는 도전 패턴층(200) 내의 상기 도전성 패턴을 보호하는 역할을 수행할 수 있다. 몇몇 실시예에서 투명 윈도우(900)는 투명 접착제(도면 미도시) 등을 통해 기판(100) 및 도전 패턴층(200)과 결합할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 다른 몇몇 실시예에서는 투명 윈도우(900)와 투명 접착제는 생략될 수도 있다.A transparent window 900 may be further disposed on the conductive pattern layer 200. The transparent window serves to maintain the contour of the input portion of the touch sensing device, and at least some of the regions may be exposed to the outside to receive contact input by a conductive object, such as the user's body or stylus. In addition, the transparent window 900 may serve to protect the conductive pattern in the conductive pattern layer 200. In some embodiments, the transparent window 900 may be coupled to the substrate 100 and the conductive pattern layer 200 through a transparent adhesive (not shown) or the like, but is not limited thereto. In some other embodiments, the transparent window 900 and the transparent adhesive may be omitted.

도 2는 본 발명의 예시적인 일 실시예에 따른 접촉 감지 장치의 평면 구조를 개략적으로 도시한 도면이다.2 is a schematic diagram illustrating a planar structure of a touch sensing apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 기판(100)은 접촉 감지 영역(110) 및 접촉 감지 영역(110)의 외측에 배치된 외부 배선 영역(130)을 포함한다. Referring to FIG. 2, the substrate 100 includes a contact sensing region 110 and an external wiring region 130 disposed outside the contact sensing region 110.

접촉 감지 영역(110)은 사용자의 화면터치나 제스쳐에 의해 발생한 입력 정보를 감지하는 영역으로서, 접촉 감지 영역(110)에는 복수의 컬럼 전극(210), 복수의 패치 전극(230), 복수의 내부 배선(250) 등이 위치할 수 있다. The touch sensing area 110 is a region for sensing input information generated by a user's screen touch or gesture. The touch sensing area 110 includes a plurality of column electrodes 210, a plurality of patch electrodes 230, The wiring 250 and the like may be located.

외부 배선 영역(130)은 접촉 감지 영역(110)을 둘러싸는 영역으로서, 접촉 감지 영역(110)에서 발생한 감지 신호를 전달하는 복수의 제1 외부 배선(270), 복수의 제2 외부 배선(290) 등이 위치할 수 있다. 설명의 편의를 위해, 접촉 감지 영역(110)과 외부 배선 영역(130)을 구분하였으나, 몇몇 실시예에서는 접촉 감지 영역(110)과 외부 배선 영역(130)은 일체화될 수도 있고, 외부 배선 영역(130)에서도 사용자의 입력 정보를 감지할 수도 있다. The external wiring region 130 surrounds the contact detection region 110 and includes a plurality of first external wirings 270 for transmitting a detection signal generated in the contact detection region 110, ) Can be placed. The touch sensing area 110 and the external wiring area 130 may be integrated and the external wiring area 130 may be integrated with the external wiring area 130. [ 130 may also detect user input information.

보다 구체적으로 접촉 감지 영역(110)에는 투명 도전성 패턴으로 이루어진 복수의 전극이 위치할 수 있다. 상기 복수의 전극은 복수의 컬럼 전극(210) 및 복수의 패치 전극(230)을 포함할 수 있다.More specifically, a plurality of electrodes made of a transparent conductive pattern may be disposed in the touch sensing area 110. The plurality of electrodes may include a plurality of column electrodes 210 and a plurality of patch electrodes 230.

복수의 컬럼 전극(210)은 제1 방향(또는 Y축 방향)으로 연장된 형상일 수 있다. 설명의 편의를 위해, 도 2에서는 복수의 컬럼 전극(210)을 바(bar)형상으로 도시하였으나, 이는 하나의 예시일 뿐이며, 복수의 컬럼 전극(210)은 제1 방향(또는 Y축 방향)으로 연장된 다른 형상일 수도 있음은 자명하다. 몇몇 실시예에서 복수의 컬럼 전극(210)은 접촉을 감지하는 감지 전극으로 사용될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니며, 복수의 컬럼 전극(210)은 구동 전극으로 사용될 수도 있다.The plurality of column electrodes 210 may have a shape extending in the first direction (or the Y-axis direction). A plurality of column electrodes 210 are formed in a first direction (or a Y-axis direction), and the plurality of column electrodes 210 are formed in a first direction (or a Y-axis direction) It may be another shape elongated to the right side. In some embodiments, the plurality of column electrodes 210 may be used as a sensing electrode for sensing contact, but not limited thereto, and the plurality of column electrodes 210 may be used as a driving electrode.

복수의 컬럼 전극(210) 각각은 복수의 제2 외부 배선(290) 각각과 전기적으로 연결될 수 있다. 복수의 제2 배선(290)은 복수의 컬럼 전극(210)과 전기적으로 연결되어 컬럼 전극(210)으로부터 감지된 신호를 컨트롤러 등으로 전달하거나, 또는 컨트롤러 등으로부터 인가되는 구동 신호를 컬럼 전극(210)에 전달할 수 있다. 복수의 제2 외부 배선(290)은 상술한 바와 같이 대부분이 외부 배선 영역(130)에 위치할 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며 복수의 제2 외부 배선(290)중 적어도 일부가 접촉 감지 영역(110) 내에 위치할 수도 있다.Each of the plurality of column electrodes 210 may be electrically connected to each of the plurality of second external wirings 290. The plurality of second wirings 290 are electrically connected to the plurality of column electrodes 210 to transmit a signal sensed from the column electrodes 210 to a controller or the like and drive signals applied from a controller or the like to the column electrodes 210 ). The plurality of second external wirings 290 may be located in the external wiring region 130 as described above, but the present invention is not limited thereto. At least a part of the plurality of second external wirings 290 may be formed in the contact detection region 110).

복수의 패치 전극(230)은 컬럼 전극(210)의 일측에 인접하도록 배치되고, 제1 방향(또는 Y축 방향)을 따라 일렬로 배치되어 패치 전극열을 이룰 수 있다. 도면에는 상기 패치 전극열이 총 8개의 패치 전극(230), 즉 a번째 행 내지 h번째 행에 위치하는 패치 전극(230)을 포함하는 것으로 도시되어 있으나, 이는 하나의 예시일 뿐이다. 즉, 상기 패치 전극열에 포함되는 패치 전극(230)의 개수는 필요에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 한편 도면에는 상기 패치 전극열이 하나의 컬럼 전극(210)을 기준으로 좌측에 배치된 것으로 도시되어 있으나, 이는 하나의 예시일 뿐이다. 각 패치 전극열에 속하는 패치 전극(230)들은 상호 물리적으로 이격될 수 있으며, 일정한 피치를 가지고 일렬로 배열될 수 있다. 하나의 컬럼 전극(210)과 그에 인접한 패치 전극열을 하나의 전극 쌍이라 지칭하면, 상기 전극 쌍은 제2 방향(또는 X축 방향)으로 반복하여 배치될 수 있다. The plurality of patch electrodes 230 are arranged adjacent to one side of the column electrodes 210 and arranged in a line along the first direction (or the Y axis direction) to form a patch electrode row. In the figure, the patch electrode row is shown to include a total of eight patch electrodes 230, that is, patch electrodes 230 located in the a-th row to the h-th row, but this is only one example. That is, the number of the patch electrodes 230 included in the patch electrode row may be variously changed as needed. On the other hand, the patch electrode row is shown on the left side with respect to one column electrode 210, but this is only one example. The patch electrodes 230 belonging to each patch electrode row may be physically spaced from each other, and may be arranged in a line with a constant pitch. When one column electrode 210 and a patch electrode column adjacent thereto are referred to as one electrode pair, the electrode pair may be repeatedly arranged in the second direction (or the X axis direction).

상기 패치 전극열의 일측에는 데드영역(Dead zone)이 정의될 수 있다. 여기서, 데드영역이란, 접촉 감지 영역(110) 내에서 패치 전극(230) 또는 컬럼 전극(210)이 배치되지 않아 직접적인 입력 감지를 수행할 수 없는 영역을 의미할 수 있다. 상기 데드영역 또한 컬럼 전극(210)과 유사하게 제1 방향(또는 Y 방향)으로 연장된 형상을 가질 수 있다. A dead zone may be defined at one side of the patch electrode row. Here, the dead area may refer to an area where the patch electrode 230 or the column electrode 210 is not disposed in the touch sensing area 110, so that direct input sensing can not be performed. The dead region may have a shape extending in the first direction (or the Y direction) similarly to the column electrode 210.

상기 데드영역의 위치는 상기 패치 전극열과 쌍을 이루는 컬럼 전극(210)의 위치와 반대 방향일 수 있다. 예를 들어, 제2 방향(또는 X축 방향)으로 진행할수록 컬럼 전극(210), 패치 전극열(또는 제1 방향으로 배열된 복수의 패치 전극), 및 상기 데드영역이 순차 배치될 수 있다. 예컨대, 도면에 도시된 바와 같이 제1 방향으로 배열된 복수의 패치 전극(230) 또는 패치 전극열의 우측에 컬럼 전극(210)이 위치하는 경우, 상기 데드영역은 상기 패치 전극열의 좌측에 위치할 수 있다. 또는 도면에 도시된 바와 같이 컬럼 전극(210)을 기준으로 컬럼 전극(210)의 좌측에 제1 방향(또는 Y축 방향)으로 배열된 복수의 패치 전극(230) 또는 패치 전극열이 위치하는 경우, 상기 데드영역은 컬럼 전극(210)의 우측에 위치할 수 있다. 다만 이는 하나의 예시일 뿐이며, 상기 데드영역의 위치는 필요에 따라 변경될 수도 있다. The position of the dead region may be opposite to the position of the column electrode 210 paired with the patch electrode row. For example, the column electrode 210, the patch electrode row (or a plurality of patch electrodes arranged in the first direction), and the dead region may be sequentially arranged in the second direction (or the X axis direction). For example, in the case where the plurality of patch electrodes 230 arranged in the first direction or the column electrodes 210 are positioned on the right side of the patch electrode row as shown in the figure, the dead region may be located on the left side of the patch electrode row have. When a plurality of patch electrodes 230 or patch electrode columns arranged in the first direction (or Y-axis direction) are positioned on the left side of the column electrodes 210 with respect to the column electrodes 210 as shown in the drawing , And the dead region may be located on the right side of the column electrode 210. However, this is only an example, and the position of the dead zone may be changed as needed.

상기 데드영역에는 복수의 내부 배선(250)이 위치할 수 있다. 복수의 내부 배선(250)은 패치 전극(230)으로부터 감지된 신호를 컨트롤러 등으로 전달하거나, 또는 컨트롤러 등으로부터 인가되는 구동 신호를 패치 전극(230)으로 전달하는 역할을 할 수 있다. 복수의 내부 배선(250) 각각의 일단은 복수의 패치 전극(230) 각각과 연결될 수 있으며, 복수의 내부 배선(250) 각각의 타단은 복수의 제1 외부 배선(270) 각각과 연결될 수 있다. 복수의 내부 배선(250)에 대한 보다 구체적인 설명은 후술한다. A plurality of internal wirings 250 may be positioned in the dead zone. The plurality of internal wirings 250 may transmit a signal sensed by the patch electrode 230 to a controller or transmit a driving signal applied from a controller or the like to the patch electrode 230. One end of each of the plurality of internal wirings 250 may be connected to each of the plurality of patch electrodes 230 and the other end of each of the plurality of internal wirings 250 may be connected to each of the plurality of first external wirings 270. A more detailed description of the plurality of internal wirings 250 will be described later.

몇몇 실시예에서 하나의 패치 전극(230)과 그에 인접한 컬럼 전극(210)의 일부분(상기 하나의 패치 전극과 제2 방향(또는 X축 방향)으로 동일한 위치에 있는 부분)은 쌍을 이루어 단위 감지 영역(SC)을 구성할 수 있다. 예컨대, 도면에 도시된 바와 같이 하나의 패치 전극(230) 및 상기 하나의 패치 전극(230)의 우측에 위치하는 컬럼 전극(210)의 일부분은 쌍을 이루어 단위 감지 영역(SC)을 구성할 수 있다.In some embodiments, one patch electrode 230 and a portion of the column electrode 210 adjacent thereto (a portion in the same position in the second direction (or X-axis direction) with the one patch electrode) The area SC can be formed. For example, as shown in the figure, one patch electrode 230 and a part of the column electrode 210 located on the right side of the one patch electrode 230 may form a pair of unit sensing areas SC have.

단위 감지 영역(SC)은 매트릭스 형상으로 배열될 수 있다. 예시적으로 도면에서는 제1 방향(또는 Y축 방향)으로 8개의 패치 전극들(230)이 배열되고, 제2 방향(또는 X축 방향)으로 7개의 컬럼 전극들(210)과 7개의 패치 전극들(230)이 배열된 경우를 도시하고 있다. 이러한 경우 단위 감지 영역(SC)은 7 X 8 매트릭스를 구성할 수 있다. 다만 이는 설명의 편의를 위한 하나의 예시일 뿐이며, 단위 감지 영역(SC)의 개수 및 배열은 다양하게 변경될 수 있다.The unit sensing areas SC may be arranged in a matrix shape. Illustratively, eight patch electrodes 230 are arranged in the first direction (or Y axis direction), seven column electrodes 210 and seven patch electrodes 210 are arranged in the second direction (or X axis direction) 230 are arranged in this order. In this case, the unit sensing area SC may constitute a 7 x 8 matrix. However, this is only one example for convenience of explanation, and the number and arrangement of the unit sensing areas SC can be variously changed.

외부 배선 영역(130)에는 복수의 제1 외부 배선(270) 및 복수의 제2 외부 배선(290) 이 배치될 수 있다. 복수의 제1 외부 배선(270) 및 상기 복수의 제2 외부 배선(290)은 제2 방향(또는 X축 방향)을 따라 연장될 수 있으며, 상호 평행하게 배열될 수 있다. 복수의 제1 외부 배선(270) 및 복수의 제2 외부 배선(290)은 컨트롤러와 연결될 수 있다.내부 배선(250)의 일단은 패치 전극(230)에 연결되고, 내부 배선(250)의 타단은 제1 외부 배선(270)에 연결된다. 서로 다른 패치 전극(230)은 서로 다른 내부 배선(210)에 의해 연결된다. 동일 행에 위치하는 패치 전극(210)에 연결된 내부 배선(210)들의 타단은 동일한 외부 배선(270)에 연결될 수 있다. 상이한 행에 위치하는 패치 전극(270)에 연결된 내부 배선들의 타단은 서로 상이한 외부 배선(270)에 연결될 수 있다. A plurality of first external wirings 270 and a plurality of second external wirings 290 may be disposed in the external wiring region 130. The plurality of first external wirings 270 and the plurality of second external wirings 290 may extend along the second direction (or the X-axis direction) and may be arranged in parallel with each other. A plurality of first external wirings 270 and a plurality of second external wirings 290 may be connected to the controller 250. One end of the internal wiring 250 is connected to the patch electrode 230, Is connected to the first external wiring 270. The different patch electrodes 230 are connected by different internal wirings 210. The other ends of the internal wirings 210 connected to the patch electrodes 210 located on the same row may be connected to the same external wiring 270. The other ends of the internal wirings connected to the patch electrodes 270 located in different rows may be connected to external wirings 270 that are different from each other.

패치 전극열에 연결된 내부 배선(250)들은 상호 교차하거나 접하지 않고 물리적으로 이격된다. 이를 위해 하나의 패치 전극열에 위치하는 복수의 패치 전극(230) 중 상대적으로 상위 행의 패치 전극(예컨대 a행의 패치 전극)에 연결된 내부 배선(250)은 그보다 외부 배선 영역(130)으로부터 더 멀리 위치하는 하위 행의 패치 전극(예컨대 b행의 패치 전극)에 연결된 내부 배선(230)보다 내측에 할 수 있다. 즉, 하위 행의 패치 전극에 연결된 내부 배선은 상위 행 패치 전극에 연결된 내부 배선의 바깥쪽을 감쌀 수 있다.The internal wirings 250 connected to the patch electrode row are physically separated from each other without crossing or contacting with each other. For this purpose, the internal wiring 250 connected to the patch electrode of a relatively higher row among the plurality of patch electrodes 230 located in one patch electrode row (for example, the patch electrode of row a) is farther from the external wiring region 130 (For example, a row electrode of a row b) of the lower row where the row electrodes are located. That is, the internal wiring connected to the patch electrode of the lower row can surround the outside of the internal wiring connected to the upper row patch electrode.

내부 배선(250), 제1 외부 배선(270) 및 제2 외부 배선(290)은 도전성 물질로 이루어질 수 있다. 상기 도전성 물질로는 ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), ZO(Zinc Oxide) 등의 투명 도전성 산화물이나, 탄소나노물질, 나노와이어(Nano Wire), 전도성 폴리머 등의 도전체, 박막이나 메쉬(Mesh) 형태의 금속 입자나 금속을 들 수 있으며, 이들 중 하나 이상이 조합되어 적용될 수 있다. 또한 몇몇 실시예에서 내부 배선(250), 제1 외부 배선(270) 및 제2 외부 배선(290)은 광학적으로 투명할 수도 있다. 아울러 몇몇 실시예에서 내부 배선(250), 제1 외부 배선(270) 및 제2 외부 배선(290) 중 적어도 어느 하나는 컬럼 전극(230) 및 패치 전극(250) 중 적어도 어느 하나와 동일 물질로 이루어질 수도 있다. The internal wiring 250, the first external wiring 270, and the second external wiring 290 may be made of a conductive material. Examples of the conductive material include transparent conductive oxides such as ITO (Indium Tin Oxide), IZO (Indium Zinc Oxide) and ZO (zinc oxide), conductive materials such as carbon nanomaterials, nanowires, conductive polymers, Or metal particles in the form of a mesh or metal, and one or more of these may be applied in combination. Also, in some embodiments, the inner wiring 250, the first outer wiring 270, and the second outer wiring 290 may be optically transparent. At least one of the internal wiring 250, the first external wiring 270 and the second external wiring 290 may be formed of the same material as at least one of the column electrode 230 and the patch electrode 250 .

도 3은 도 2에 도시된 접촉 감지 장치의 일부분을 확대 도시한 도면으로서, 보다 구체적으로는 도 2의 A부분을 확대 도시한 도면이다.Fig. 3 is an enlarged view of a part of the touch sensing apparatus shown in Fig. 2, and more specifically, a view showing part A of Fig. 2 in an enlarged scale.

도 2 내지 도 3을 참조하여 복수의 내부 배선(250), 복수의 제1 외부 배선(270)에 대하여 설명한다. A plurality of internal wirings 250 and a plurality of first external wirings 270 will be described with reference to Figs. 2 to 3. Fig.

이하에서는 설명의 편의를 위해 하나의 패치 전극열에 포함된 복수의 패치 전극(230) 중, a행의 패치 전극을 제1 패치 전극(230a), b행의 패치 전극을 제2 패치 전극(230b), c행의 패치 전극을 제3 패치 전극(230c), d행의 패치 전극을 제4 패치 전극(230d)라 지칭한다. Hereinafter, for convenience of explanation, among the plurality of patch electrodes 230 included in one patch electrode row, the first row of patch electrodes 230a, the row b patch electrodes are referred to as second patch electrodes 230b, the patch electrode in row c is referred to as a third patch electrode 230c, and the patch electrode in row d is referred to as a fourth patch electrode 230d.

또한, 복수의 내부 배선(250) 중, 제1 패치 전극(230a)과 연결된 내부 배선을 제1 내부 배선(251), 제2 패치 전극(230b)과 연결된 내부 배선을 제2 내부 배선(252), 제3 패치 전극(230c)과 연결된 내부 배선을 제3 내부 배선(253), 제4 패치 전극(230d)과 연결된 내부 배선을 제4 내부 배선(254)이라 지칭한다.The internal wiring connected to the first patch electrode 230a among the plurality of internal wirings 250 is connected to the first internal wiring 251 and the second internal wiring 252 connected to the second patch electrode 230b, The internal wiring connected to the third patch electrode 230c is referred to as a fourth internal wiring 254 and the internal wiring connected to the third internal wiring 253 and the fourth patch electrode 230d is referred to as a fourth internal wiring 254. [

아울러, 복수의 제1 외부 배선(270) 중, 제1 내부 배선(251)과 연결된 제1외부 배선을 제1 서브 외부 배선(271), 제2 내부 배선(253)과 연결된 제1 외부 배선을 제2 서브 외부 배선(273), 제3 내부 배선(255)과 연결된 제1 외부 배선을 제3 서브 외부 배선(275), 제4 내부 배선(257)과 연결된 제 1외부 배선을 제4 서브 외부 배선(277)이라 지칭한다.패치 전극열에 속하는 복수의 패치 전극(230) 각각으로부터 외부 배선 영역(130)에까지 이르는 거리는 서로 상이하다. 즉, 하나의 패치 전극열에 속하는 복수의 패치 전극(230)은 행의 알파벳 순서가 증가할수록 외부 배선 영역(130)으로부터의 더 멀어진다. 예컨대, a행에 위치하는 제1 패치 전극(230a)보다 b행에 위치하는 제2 패치 전극(230b)이 외부 배선 영역(130)으로부터 더 멀리 위치하며, 제2 패치 전극(230b)보다 c행에 위치하는 제3 패치 전극(230c)이 외부 배선 영역(130)으로부터 더 멀리 위치한다. 마찬가지로 d행에 위치하는 제4 패치 전극(230d)은 제3 패치 전극(230c)에 비해 외부 배선 영역(130)으로부터 더 멀리 위치한다. 각 내부 배선이 패치 전극과 외부 배선 사이를 데드영역(DZ) 내에서 최단거리로 연결한다면 각 내부 배선의 길이는 패치 전극의 위치에 따라 상이해질 것이다. 예컨대, a행에 위치하는 제1 패치 전극(230a)에 연결된 내부 배선의 길이가 가장 짧고, a행의 하부행으로 갈수록 패치 전극에 연결된 내부 배선의 길이가 더 길어지게 된다. The first external wiring connected to the first internal wiring 251 among the plurality of first external wiring 270 is connected to the first external wiring connected to the first sub external wiring 271 and the second internal wiring 253 The first external wiring connected to the second sub external wiring 273 and the third internal wiring 255 is referred to as a third sub external wiring 275 and the first external wiring connected to the fourth internal wiring 257 is referred to as a fourth sub external Is called a wiring 277. The distances from each of the plurality of patch electrodes 230 belonging to the patch electrode row to the external wiring region 130 are different from each other. That is, the plurality of patch electrodes 230 belonging to one patch electrode row are farther from the external wiring region 130 as the alphabetical order of the rows is increased. For example, the second patch electrode 230b positioned on the b-th row from the first patch electrode 230a located on the row a is located farther from the external wiring region 130, The third patch electrode 230c located at the farthest from the external wiring region 130 is located farther away. Similarly, the fourth patch electrode 230d located at the d-th row is located farther from the external wiring region 130 than the third patch electrode 230c. If each internal wiring is connected at the shortest distance in the dead zone DZ between the patch electrode and the external wiring, the length of each internal wiring will be different depending on the position of the patch electrode. For example, the length of the internal wiring connected to the first patch electrode 230a located in the row a is the shortest, and the length of the internal wiring connected to the patch electrode becomes longer as it goes to the bottom row of the row a.

제1 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257) 각각의 폭이 동일하다고 가정할 때, 제1 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257) 각각의 길이가 상이하면 제1 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257) 각각의 저항값이 달라지고, 그에 따라 패치 전극 행별로 제1 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257) 각각의 RC 딜레이(RC delay) 편차가 발생한다. 각 내부 배선의 저항값과 용량값의 곱은 신호 전달의 지연시간과 직접적으로 관계되기 때문이다. 이처럼 RC 딜레이 편차가 발생하면, 원활한 접촉 입력 감지가 이루어지지 않을 수 있으며, 접촉 입력 감지 여부 판정시 노이즈로 작용할 수도 있다. Assuming that the widths of the first to fourth internal wirings 251, 253, 255 and 257 are the same, when the lengths of the first to fourth internal wirings 251, 253, 255 and 257 are different, 253, 255, and 257 of the first to fourth internal wirings 251, 253, 255, and 257 are different from each other, delay variation occurs. Since the product of the resistance value and the capacitance value of each internal wiring is directly related to the delay time of signal transmission. If RC delay deviation occurs, smooth contact input detection may not be performed, and noise may be determined when a contact input is detected.

본 발명에 따르면, 이러한 RC딜레이 편차 발생을 방지하기 위하여, 각 내부 배선들은 각 패치 전극과 제 외부 배선 사이를 최단 거리로 연결하지 않고, 위치별로 상이하게 우회하여 연결한다. According to the present invention, in order to prevent such an RC delay deviation from occurring, the internal wirings are bypassed by connecting the patch electrodes and the external wirings differently at the shortest distance, and connected by different positions.

더욱 구체적으로 설명하면, 제1 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257) 각각은 일단을 기점으로 적어도 일부가 외부 배선 영역(130)으로부터 멀어지는 방향으로 진행하는 우회 배선부(251a, 253a, 255a, 257a)과 타단을 종점으로 하여 외부 배선 영역(130)과 가까워지는 방향으로 진행하는 주 배선부(251b, 253b, 255b, 257b)를 포함할 수 있다. More specifically, each of the first to fourth internal wirings 251, 253, 255, and 257 is provided with bypass wiring portions 251a and 253a (at least part of which starts from one end in the direction away from the external wiring region 130) 255b and 257b extending in the direction of approaching the external wiring region 130 with the other end as an end point. The main wiring portion 251b, 253b, 255b,

우회 배선부(251a, 253a, 255a, 257a)와 주 배선부(251b, 253b, 255b, 257b)는 연속될 수 있다. 우회 배선부(251a, 253a, 255a, 257a)와 주 배선부(251b, 253b, 255b, 257b)의 연속점인 경계(P1, P2, P3, P4)는 외부 배선 영역(130)으로부터 제1 방향(또는 Y축 방향)으로 가장 멀리 떨어진 최원거리 지점일 수 있다. 한편, 외부 배선 영역(130)으로부터 제1 방향(또는 Y축 방향)으로 가장 멀리 떨어진 최원거리 지점이 복수개 존재하는 경우, 우회 배선부(251a, 253a, 255a, 257a)와 주 배선부(251b, 253b, 255b, 257b)의 경계(P1, P2, P3, P4)는 상기 복수개의 최원거리 지점 중, 제1 내지 제4 패치 전극(230a, 230b, 230c, 230d)로부터 제2 방향(또는 X축 방향)으로 가장 멀리 떨어진 최원거리 지점일 수 있다. The bypass wiring portions 251a, 253a, 255a, and 257a and the main wiring portions 251b, 253b, 255b, and 257b may be continuous. The boundaries P1, P2, P3 and P4 which are continuous points of the bypass wiring portions 251a, 253a, 255a and 257a and the main wiring portions 251b, 253b, 255b and 257b are separated from the external wiring region 130 in the first direction (Or in the Y-axis direction). 253a, 255a, and 257a and the main wiring portions 251b, 251b, and 253a are provided in the case where a plurality of the maximum distance points farthest from the external wiring region 130 in the first direction (or the Y- The boundaries P1, P2, P3 and P4 of the plurality of patch electrodes 253a, 253b, 255b and 257b from the first to fourth patch electrodes 230a, 230b, 230c and 230d in the second direction Direction) at the farthest distance.

몇몇 실시예에서 주 배선부(251b, 253b, 255b, 257b) 각각은 최원거리 지점(P1, P2, P3, P4)으로부터 타단까지 진행하는데, 진행 과정에서 우회하는 경로 없이 최단거리로 진행할 수 있다. 즉, 몇몇 실시예에서 주 배선부(251b, 253b, 255b, 257b)는 직선 형상으로 형성될 수 있다.In some embodiments, each of the main wiring portions 251b, 253b, 255b, and 257b travels from the most distant point (P1, P2, P3, P4) to the other end. That is, in some embodiments, the main wiring portions 251b, 253b, 255b, and 257b may be formed in a linear shape.

우회 배선부(251b, 253b, 255b, 257b)는 제1 내지 제4 패치 전극(230a, 230b, 230c, 230d) 각각과 연결된 제1 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257)각각의 일단으로부터 최원거리 지점(P1, P2, P3, P4)까지 진행한다. 외부 배선 영역(130)으로부터 제1 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257)각각의 일단까지의 거리는 외부 배선 영역(130)으로부터 최원거리 지점(P1, P2, P3, P4)까지의 거리보다 더 크다. 따라서, 우회 배선부(251b, 253b, 255b, 257b)는 외부 배선 영역(130)으로부터 멀어지는 방향으로 진행하는 부분을 포함할 수 있다. 다만, 우회 배선부(251b, 253b, 255b, 257b)의 모든 구간이 외부 배선 영역(130)으로부터 멀어지는 방향으로 진행할 필요는 없다. 예를 들면 우회 배선부(251b, 253b, 255b, 257b)는 제2 방향(또는 X축 방향)으로 이동하는 구간을 포함할 수도 있다. 더 나아가, 도면에는 미도시하였으나 우회 배선부(251b, 253b, 255b, 257b)의 일부는 외부 배선 영역(130)과 가까워지는 방향으로 진행할 수도 있다. 이 경우, 외부 배선 영역(130)으로부터 멀어지는 부분의 길이는 더 길어질 것이다. 아울러, 우회 배선부(251b, 253b, 255b, 257b)중 외부 배선 영역(130)으로부터 가장 멀리 위치하는 우회 배선부(257a)는 도면에 도시된 바와 같이 외부 배선 영역(130)으로부터 멀어지는 방향으로 진행하는 부분을 포함하지 않을 수 있으며, 제2 방향(또는 X축 방향)으로 이동하는 부분만을 포함할 수도 있다.The bypass wiring portions 251b, 253b, 255b and 257b are connected to the first to fourth internal wirings 251, 253, 255 and 257 connected to the first to fourth patch electrodes 230a, 230b, 230c and 230d, Proceed from one end to the most distant point (P1, P2, P3, P4). The distance from the external wiring region 130 to one end of each of the first to fourth internal wirings 251, 253, 255 and 257 is the distance from the external wiring region 130 to the most distant points P1, P2, P3 and P4 It is bigger than the street. Therefore, the bypass wiring portions 251b, 253b, 255b, and 257b may include a portion extending in a direction away from the external wiring region 130. [ However, it is not necessary that all sections of the bypass wiring portions 251b, 253b, 255b, and 257b move in the direction away from the external wiring region 130. [ For example, the bypass wiring portions 251b, 253b, 255b, and 257b may include a section that moves in the second direction (or the X-axis direction). Furthermore, although not shown in the drawings, a part of the bypass wiring portions 251b, 253b, 255b, and 257b may be moved in a direction approaching the external wiring region 130. [ In this case, the length of the portion away from the external wiring region 130 will become longer. The bypass wiring portion 257a located farthest from the external wiring region 130 among the bypass wiring portions 251b, 253b, 255b, and 257b is moved in a direction away from the external wiring region 130 as shown in the figure And may include only a portion moving in the second direction (or the X-axis direction).

우회 배선부 우회 배선부(251b, 253b, 255b, 257b) 중 적어도 어느 하나는 복수의 직선 구간과 이들 사이에 정의되는 적어도 하나의 절곡부를 포함할 수 있다. 절곡부는 진행 방향을 전환시킨다. 도면에서, 제1 내부 배선 내지 제3 내부 배선(251, 253, 255)의 경우, 2개의 행방향 직선 구간과 이들 사이를 연결하는 1개의 열방향(외부 배선 영역으로부터 멀어지는 방향) 직선 구간을 포함하고, 각 직선 구간 사이에 절곡부가 형성되어 우회 배선부가 총 2개의 절곡부를 포함하는 경우가 예시되어 있다. 우회 배선부와 주 배선부가 만나는 곳에서도 절곡부가 형성된다.At least one of the bypass wiring portion bypass wiring portions 251b, 253b, 255b, and 257b may include a plurality of straight portions and at least one bending portion defined therebetween. The bending portion changes the direction of travel. In the figure, in the case of the first internal wiring to the third internal wiring 251, 253, and 255, two row direction linear sections and one column direction (direction away from the external wiring area) And a bent portion is formed between each straight line section, so that the bypass wiring portion includes a total of two bent portions. The bent portion is formed even where the bypass wiring portion and the main wiring portion meet.

d행의 패치 전극, 즉 제4 패치 전극(230d)에 연결된 우회 배선부(257b)는 절곡부 없이 행방향 직선 구간만을 포함할 수도 있다. the patch electrode in the d row, that is, the bypass wiring portion 257b connected to the fourth patch electrode 230d, may include only the row straight line section without the bent portion.

상위행의 패치 전극(예시적으로 제1 패치 전극, 230a)에 연결된 내부 배선(예시적으로 제1 내부 배선, 251)은 하위행의 패치 전극(예시적으로 제2 패치 전극, 230b)에 연결된 내부 배선(예시적으로 제2 내부 배선, 253)의 주 배선부(예시적으로 제2 내부 배선의 주 배선부, 253b)보다 내측에 위치할 수 있다. 따라서 상위행 내부 배선의 주 배선부(예시적으로 제1 내부 배선의 주 배선부, 251b)의 길이는 하위행 내부 배선의 주 배선부(예시적으로 제2 내부 배선의 주 배선부, 253b)의 길이보다 짧을 수 있다. 이 경우, 상위행 내부 배선의 우회 배선부(예시적으로 제1 내부 배선의 우회 배선부, 251a) 길이를 하위행 내부 배선의 우회 배선부(예시적으로 제2 내부 배선의 우회 배선부, 253a) 길이보다 더 길게 함으로써, 상위행 내부 배선(예시적으로 제1 내부 배선, 251)의 전체 길이와 하위행 내부 배선(예시적으로 제2 내부 배선, 253)의 전체 길이를 동일하게 조절할 수 있다. 이처럼, 각 내부 배선의 길이가 실질적으로 균일하게 조절되면 각 내부 배선의 총 저항값이 균일해지므로, 불균일한 RC 딜레이에 따른 노이즈를 방지할 수 있다. The internal wiring (illustratively, the first internal wiring 251) connected to the patch electrode (illustratively, the first patch electrode 230a) of the upper row is connected to the patch electrode (illustratively, the second patch electrode 230b) And may be located inside the main wiring portion (illustratively, the main wiring portion 253b of the second internal wiring) of the internal wiring (illustratively, the second internal wiring 253). Therefore, the length of the main wiring portion (illustratively, the main wiring portion of the first internal wiring, 251b) of the upper row internal wiring is equal to the length of the main wiring portion (exemplarily, the main wiring portion of the second internal wiring) As shown in FIG. In this case, the length of the bypass wiring portion (illustratively, the bypass wiring portion of the first internal wiring) 251a of the upper row internal wiring is set to be the bypass wiring portion (the bypass wiring portion of the second internal wiring, for example) ), The total length of the upper row internal wiring (illustratively, the first internal wiring 251) and the total length of the lower row internal wiring (illustratively, the second internal wiring 253) can be adjusted equally . As described above, when the lengths of the internal wirings are substantially uniformly adjusted, the total resistance value of the internal wirings becomes uniform, thereby preventing noise due to uneven RC delay.

도 4a는 도 3에 도시된 접촉 감지 장치의 일부분을 확대 도시한 도면으로서, 보다 구체적으로는 도 3의 B부분을 확대 도시한 도면이며, 도 4b는 도 4a에 도시된 구조의 변형 실시예를 도시한 도면이다.FIG. 4A is an enlarged view of a part of the touch sensing apparatus shown in FIG. 3, more specifically, an enlarged view of a portion B in FIG. 3, and FIG. 4B shows a modification of the structure shown in FIG. Fig.

도 3 내지 도 4b를 참조하면, 본 발명에 따른 복수의 내부 배선(도 3의 230)은 메쉬(mesh) 형상으로 이루어질 수 있다. 예시적으로 제1 내부 배선(도 3의 251)은 도 4a에 도시된 바와 같이 제 1방향(또는 Y축 방향)을 기준으로 적어도 두개의 금속 라인이 서로 사선 방향으로 배열되고 서로 결합 및 분리가 반복되는 메쉬 형상을 가질 수 있다. 상기 적어도 두개의 직선이 결합 및 분리를 반복하여 이루는 형상은 도 4a에 도시된 바와 같이 사각형 형상을 가질 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며 도 4b에 도시된 바와 같이 가장자리가 곡선으로 이루어진 형상을 가질 수도 있다. 이와 같이 복수의 내부 배선(도 3의 230)을 메쉬 형상으로 형성하는 경우, 복수의 내부 배선(도 3의 230)이 외부에서 시인되는 것을 보다 효과적으로 방지할 수 있는 이점 등 시인성이 향상되는 이점이 발생할 수 있다.Referring to FIGS. 3 to 4B, a plurality of internal wirings (230 in FIG. 3) according to the present invention may be formed in a mesh shape. As shown in FIG. 4A, at least two metal lines are arranged in a diagonal direction with respect to a first direction (or a Y-axis direction), and the first inner wiring (251 in FIG. 3) It can have a repeating mesh shape. The shape in which the at least two straight lines are repeatedly combined and separated may have a rectangular shape as shown in FIG. 4A, but the present invention is not limited thereto. Alternatively, as shown in FIG. 4B, the edge may have a curved shape have. When the plurality of internal wirings (230 in Fig. 3) are formed in a mesh shape, an advantage that the plurality of internal wirings (230 in Fig. 3) can be more effectively prevented from being visually recognized, Lt; / RTI >

도 5는 본 발명의 예시적인 다른 실시예에 따른 접촉 감지 장치의 평면 구조를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 6은 도 5에 도시된 접촉 감지 장치의 일부분을 확대 도시한 도면으로서 보다 구체적으로 도 5의 A 부분을 확대 도시한 도면이다. 본 실시예에 따른 접촉 감지 장치는 도 2에 도시된 접촉 감지 장치와는 달리 커패시터 전극을 포함할 수 있다. 이외의 구성은 도 2 내지 도 4b의 설명에서 상술한 접촉 감지 장치와 동일하거나 유사한 바, 설명의 편의를 위해서 차이점을 위주로 설명한다.FIG. 5 is a view schematically showing a planar structure of a touch sensing apparatus according to another exemplary embodiment of the present invention, FIG. 6 is an enlarged view of a part of the touch sensing apparatus shown in FIG. 5, 5 is an enlarged view of a portion A of FIG. The touch sensing apparatus according to the present embodiment may include a capacitor electrode unlike the touch sensing apparatus shown in FIG. Other configurations are the same as or similar to those of the above-described contact sensing device in the description of Figs. 2 to 4B, and the differences will be mainly described for convenience of explanation.

도 5 및 도 6을 참조하면, 본 실시예에 따른 접촉 감지 장치는, RC 딜레이 보상을 위한 복수의 커패시터 전극(310)을 더 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 5 and 6, the touch sensing apparatus according to the present embodiment may further include a plurality of capacitor electrodes 310 for RC delay compensation.

더욱 구체적으로 설명하면, 커패시터 전극(310)은 각 내부 배선(250)의 미세한 길이 차이에 의해 발생하는 RC 딜레이 편차를 보상해주는 역할을 수행한다. More specifically, the capacitor electrode 310 serves to compensate for the RC delay deviation caused by the minute difference in length of each internal wiring 250.

커패시터 전극(310)은 접촉 감지 영역(110)에 위치할 수 있으며, 내부 배선(250) 각각의 길이 차이에 의해 발생하는 RC 딜레이의 차이를 보상해주기 위해, 각 내부 배선(250)과 커패시터를 형성할 수 있다. 그리고 각 내부 배선(250)과 커패시터 전극(310)간의 중첩면적을 조절하여 커패시턴스 값을 조절할 수 있으며, 이에 따라 각 내부 배선(250)의 RC 딜레이를 균일하게 할 수 있다.The capacitor electrode 310 may be located in the contact sensing region 110 and may be formed by forming each internal wiring 250 and a capacitor to compensate for the difference in RC delay caused by the length difference of each of the internal wiring 250 can do. The capacitance value can be adjusted by adjusting the overlapping area between the internal wiring 250 and the capacitor electrode 310, thereby making the RC delay of each internal wiring 250 uniform.

커패시터 전극(310)은 내부 배선(250)과 중첩하도록 배치될 수 있으며, 몇몇 실시예에서 커패시터 전극(310)은 내부 배선(250)의 상부 또는 하부에 위치할 수 있다. The capacitor electrode 310 may be disposed to overlap the internal wiring 250 and in some embodiments the capacitor electrode 310 may be located at the top or bottom of the internal wiring 250. [

커패시터 전극(310)은 내부 배선(250)과 절연될 수 있다.The capacitor electrode 310 may be insulated from the internal wiring 250.

몇몇 실시예에서 커패시터 전극(310)은 플로팅 전극일 수 있다. 즉, 커패시터 전극(310)에는 별도의 전압이 외부에서 제공되지 않을 수 있다.In some embodiments, the capacitor electrode 310 may be a floating electrode. That is, the capacitor electrode 310 may not be provided with a separate voltage from the outside.

커패시터 전극(310)은 도전성 재질로 이루어질 수 있으며, 몇몇 실시예에서 커패시터 전극(310)은 광학적으로 투명할 수 있다. 커패시터 전극(310)으로 적용 가능한 물질의 예로는 ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), ZO(Zinc Oxide) 등의 투명 도전성 산화물이나, 탄소나노물질, 나노와이어(Nano Wire), 전도성 폴리머 등의 도전체, 박막이나 메쉬(Mesh) 형태의 금속 입자나 금속을 들 수 있으며, 이들 중 하나 이상이 조합되어 적용될 수 있다. The capacitor electrode 310 may be made of a conductive material, and in some embodiments, the capacitor electrode 310 may be optically transparent. Examples of the material applicable to the capacitor electrode 310 include transparent conductive oxides such as ITO (Indium Tin Oxide), IZO (Indium Zinc Oxide) and ZO (Zinc Oxide), carbon nano materials, nano wire, A polymer or the like, a thin film or a metal particle in the form of a mesh or a metal, and one or more of these may be applied in combination.

커패시터 전극(310)은 접촉 감지 영역(110) 중 데드영역(DZ)에 위치할 수 있으며, 내부 배선(250)과 중첩할 수 있다.The capacitor electrode 310 may be located in the dead region DZ of the contact sensing region 110 and overlap the internal wiring 250.

이하에서는 설명의 편의를 위해 커패시터 전극(310) 중, 제1 내부 배선(251)과 중첩하는 커패시터 전극을 제1 커패시터 전극(311), 제2 내부 배선(253)과 중첩하는 커패시터 전극을 제2 커패시터 전극(313), 제3 내부 배선(255)과 중첩하는 커패시터 전극을 제3 커패시터 전극(315), 제4 내부 배선(257)과 중첩하는 커패시터 전극을 제4 커패시터 전극(317)이라 지칭한다.Hereinafter, for convenience of explanation, a capacitor electrode which overlaps with the first internal wiring 251 is referred to as a first capacitor electrode 311, and a capacitor electrode which overlaps with the second internal wiring 253 is referred to as a second The capacitor electrode overlapping with the capacitor electrode 313 and the third internal wiring 255 is referred to as a third capacitor electrode 315 and the capacitor electrode overlapping with the fourth internal wiring 257 is referred to as a fourth capacitor electrode 317 .

본 실시예에 따르면 제1 내지 제4 커패시터 전극(311, 313, 315, 317) 각각은 상호 물리적으로 분리될 수 있으며, 상호 전기적으로 절연될 수 있다.According to this embodiment, each of the first to fourth capacitor electrodes 311, 313, 315, and 317 may be physically separated from each other and electrically insulated from each other.

제1 내부 배선 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257) 각각의 폭이 모두 동일하고, 제1 내부 배선(251)의 길이가 제2 내부 배선(253)의 길이보다 짧다고 가정하면, 제1 내부 배선(251)의 저항 R1은 제2 내부 배선(253)의 저항 R2보다 작은 값을 갖게 된다. 즉, R1<R2의 관계를 갖게 된다. 이러한 경우, RC 딜레이의 차이를 보상해 주기 위하여 제1 커패시터 전극(311)과 제1 내부 배선(251)간의 커패시턴스 C1은, 제2 커패시터 전극(313)과 제2 내부 배선(253)간의 커패시턴스 C2보다 큰 값을 가져야 한다. 즉, C1>C2의 관계를 가져야 RC 딜레이 편차를 줄일 수 있다. 따라서 제1 커패시터 전극(311)과 제1 내부 배선(251) 간의 중첩 면적은 제2 커패시터 전극(313)과 제2 내부 배선(253)간의 중첩 면적보다 클 수 있다. 정리하자면 제1 내지 제4 커패시터 전극(311, 313, 315, 317) 각각과 제1 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257) 각각이 중첩하는 면적은 제1 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257) 의 길이와 반비례할 수 있다.Assuming that the widths of the first internal wirings to the fourth internal wirings 251, 253, 255 and 257 are all the same and the length of the first internal wirings 251 is shorter than the length of the second internal wirings 253, The resistance R1 of the first internal wiring 251 is smaller than the resistance R2 of the second internal wiring 253. [ That is, R1 <R2. In this case, the capacitance C1 between the first capacitor electrode 311 and the first internal wiring 251 is larger than the capacitance C2 between the second capacitor electrode 313 and the second internal wiring 253 in order to compensate for the difference in RC delay Should have a larger value. In other words, the relationship of C1> C2 is required to reduce the RC delay deviation. The overlapping area between the first capacitor electrode 311 and the first internal wiring 251 may be larger than the overlapping area between the second capacitor electrode 313 and the second internal wiring 253. [ The area where each of the first to fourth capacitor electrodes 311, 313, 315 and 317 overlap with the first to fourth internal wirings 251, 253, 255 and 257 is the first to fourth internal wirings 251, 253, 255, 257).

제1 내지 제4 커패시터 전극(311, 313, 315, 317) 각각의 형상에는 제한이 없다. 도 5 및 도 6에는 제1 내지 제4 커패시터 전극(311, 313, 315, 317) 각각이 직사각형 형태로 구현된 것으로 도시되어 있으나, 이는 하나의 예시일 뿐이다. 이외에도 제1 내지 제4 커패시터 전극(311, 313, 315, 317) 각각의 형상은 다각형, 반원형, 원형 또는 이들의 조합 형상 등 다양한 형상으로 구현될 수 있다. 또한 제1 내지 제4 커패시터 전극(311, 313, 315, 317) 각각의 형상은 서로 상이할 수도 있다. 아울러 도면에는 하나의 내부 배선(예시적으로 제1 내부 배선, 251)과 중첩하는 커패시터 전극(예시적으로 제1 커패시터 전극, 311)이 하나 구비된 것으로 도시되어 있으나, 이는 하나의 예시일 뿐이며, 하나의 내부 배선과 중첩하는 커패시터 전극은 복수개 구비될 수도 있다.The shape of each of the first to fourth capacitor electrodes 311, 313, 315, and 317 is not limited. In FIGS. 5 and 6, each of the first to fourth capacitor electrodes 311, 313, 315, and 317 is illustrated as being formed in a rectangular shape, but this is only one example. In addition, the shape of each of the first to fourth capacitor electrodes 311, 313, 315, and 317 may be various shapes such as polygonal, semicircular, circular, or a combination thereof. Further, the shape of each of the first to fourth capacitor electrodes 311, 313, 315, and 317 may be different from each other. In the figure, one capacitor electrode (illustratively, the first capacitor electrode 311) is shown as being overlapped with one internal wiring (illustratively, the first internal wiring 251), but this is only one example, A plurality of capacitor electrodes overlapping one internal wiring may be provided.

한편, 본 실시예에 따른 접촉 감지 장치는, 도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이 내부 배선(250)이 도 2 및 도 3에 도시된 접촉 감지 장치와 유사하게 우회 배선부 및 주 배선부를 포함할 수도 있다.5 and 6, the internal wiring 250 includes a bypass wiring portion and a main wiring portion similarly to the contact sensing apparatus shown in FIGS. 2 and 3 You may.

보다 구체적으로 제1 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257) 각각은 일단을 기점으로 적어도 일부가 외부 배선 영역(130)으로부터 멀어지는 방향으로 진행하는 우회 배선부(251a, 253a, 255a, 257a)과 타단을 종점으로 하여 외부 배선 영역(130)과 가까워지는 방향으로 진행하는 주 배선부(251b, 253b, 255b, 257b)를 포함할 수도 있다. 이러한 경우, 각 제1 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257)의 저항값 및 각 제1 내지 제4 커패시터 전극(311, 313, 315, 317)과 각 제1 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257)이 형성하는 커패시턴스 값을 모두 조절하여 각 내부 배선들 간에 RC 딜레이 편차를 감소시킬 수 있다.More specifically, each of the first to fourth internal wirings 251, 253, 255, and 257 has bypass wiring portions 251a, 253a, 255a, and 255a extending from one end to at least a portion in a direction away from the external wiring region 130, 257a and 257b and 253b, 253b, 255b, and 257b extending in the direction toward the external wiring region 130 with the other end as an end point. In this case, the resistance value of each of the first to fourth internal wirings 251, 253, 255, and 257 and the resistance value of each of the first to fourth capacitor electrodes 311, 313, 315, and 317, It is possible to reduce the RC delay deviation between the respective internal wirings by adjusting all of the capacitance values formed by the first to third delay lines 251, 253, 255, and 257.

도 7은 도 6에 도시된 접촉 감지 장치 일부를 확대하여 도시한 도면으로서, 보다 구체적으로 제1 커패시터 전극을 확대 도시한 도면이다.FIG. 7 is an enlarged view of a part of the touch sensing apparatus shown in FIG. 6, and more specifically, an enlarged view of a first capacitor electrode.

도 7을 참조하면, 본 실시예에 따른 접촉 감지 장치의 커패시터 전극(예시적으로 제1 커패시터 전극, 311)은 제 1방향(또는 Y축 방향)을 기준으로 금속 라인이 사선방향의 교차구조로 중첩된 형태를 포함하는 메쉬 형상으로 이루어질 수 있다. 이와 같이 커패시터 전극을 메쉬 형상으로 형성하는 경우, 커패시터 전극과 내부 배선을 상호 중첩하여 배치하더라도 간섭에 의한 모아레 현상이 발생하는 것을 방지할 수 있다.Referring to FIG. 7, the capacitor electrodes (illustratively, the first capacitor electrodes 311) of the touch sensing device according to the present embodiment are arranged such that the metal lines cross each other in the first direction (or the Y axis direction) And may have a mesh shape including an overlapped shape. In the case where the capacitor electrodes are formed in a mesh shape in this way, it is possible to prevent the occurrence of moire phenomenon due to interference even when the capacitor electrodes and the internal wiring are arranged so as to overlap with each other.

도 8은 본 발명의 예시적인 또 다른 실시예에 따른 접촉 감지 장치의 평면 구조를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 9는 도 8에 도시된 접촉 감지 장치의 일부분을 확대 도시한 도면으로서 보다 구체적으로 도 8의 A부분을 확대 도시한 도면이다.8 is a view schematically showing a planar structure of a touch sensing device according to another exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 9 is an enlarged view of a part of the touch sensing device shown in FIG. 8, 8 is an enlarged view of a portion A in Fig.

도 8 및 도 9를 참조하면, 본 실시예에 따른 접촉 감지 장치는 도 5 및 도 6에 도시된 접촉 감지 장치와는 달리 하나의 데드영역(DZ)에 위치하고 각 내부 배선(250)과 중첩하는 커패시터 전극(330)이 일체로 이루어지는 점에서 차이점이 존재한다. 8 and 9, unlike the touch sensing apparatus shown in FIGS. 5 and 6, the touch sensing apparatus according to the present embodiment is located in one dead zone DZ and overlaps each internal wiring 250 There is a difference in that the capacitor electrode 330 is integrally formed.

즉, 본 실시예에 따른 접촉 감지 장치의 커패시터 전극(330)은 일체로 이루어질 수 있으며, 다만 커패시터 전극(330)과 제1 내부 배선(251), 제2 내부 배선(253), 제3 내부 배선(255) 및 제4 내부 배선(257)중첩하는 면적이 서로 상이할 수 있다. 몇몇 실시예에서 커패시터 전극(330)과 제1 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257) 각각이 중첩하는 면적은 제1 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257) 의 길이와 반비례할 수 있다.In other words, the capacitor electrode 330 of the touch sensing device according to the present embodiment can be formed integrally with the capacitor electrode 330, and the capacitor electrode 330 is electrically connected to the first internal wiring 251, the second internal wiring 253, The first internal wiring 255 and the fourth internal wiring 257 overlap each other. In some embodiments, the area where the capacitor electrode 330 overlaps with the first to fourth internal wirings 251, 253, 255, and 257 is the length of the first to fourth internal wirings 251, 253, 255, and 257 . &Lt; / RTI &gt;

이외의 구성은 도 5 및 도 6의 설명에서 상술한 접촉 감지 장치와 동일하거나 유사한 바, 구체적 설명을 생략한다.Other configurations are the same as or similar to those of the above-described contact sensing device in the description of Figs. 5 and 6, and a detailed description thereof will be omitted.

도 10은 본 발명의 예시적인 또 다른 실시예에 따른 접촉 감지 장치의 평면 구조를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 11은 도 10에 도시된 접촉 감지 장치의 일부분을 확대 도시한 도면으로서 보다 구체적으로 도 10의 A부분을 확대 도시한 도면이다.FIG. 10 is a schematic view showing a planar structure of a touch sensing apparatus according to another exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 11 is an enlarged view of a part of the touch sensing apparatus shown in FIG. 10, 10 is an enlarged view of a portion A in Fig.

본 실시예에 따른 접촉 감지 장치는 도 5 및 도 6에 도시된 접촉 감지 장치와는 커패시터 전극 형성 위치가 상이하다. 이외의 구성은 도 5 내지 도 7의 설명에서 상술한 접촉 감지 장치와 동일하거나 유사한 바, 설명의 편의를 위해서 차이점을 위주로 설명한다.The contact sensing device according to the present embodiment differs from the contact sensing device shown in Figs. 5 and 6 in the capacitor electrode formation positions. The rest of the configuration is the same as or similar to the touch sensing apparatuses described in Figs. 5 to 7, and the difference will be mainly described for convenience of explanation.

도 10 및 도 11을 참조하면, 본 실시예에 따른 접촉 감지 장치는 도 5 및 도 6에 도시된 접촉 감지 장치와는 달리 외부 배선 영역(130)에 위치하고 각 제1 외부 배선(270)과 중첩하는 커패시터 전극(350)이 일체로 이루어지는 점에서 차이점이 존재한다. 10 and 11, the touch sensing apparatus according to the present embodiment is different from the touch sensing apparatus shown in FIGS. 5 and 6, and is located in the external wiring region 130 and overlaps with the first external wiring 270 And the capacitor electrode 350 is formed integrally.

커패시터 전극(350)은 각 내부 배선(250)의 미세한 길이 차이에 의해 발생하는 RC 딜레이 편차 및 각 내부 배선(250)과 각 제1외부 배선(270)간의 연결부분 위치 차이에 의한 RC 딜레이 편차를 보상해주는 역할을 수행한다. The capacitor electrode 350 has an RC delay deviation caused by a minute difference in length of each internal wiring 250 and an RC delay deviation due to a difference in position of a connecting portion between each internal wiring 250 and each first external wiring 270 It plays a role of compensation.

커패시터 전극(350)은 외부 배선 영역(130)에 위치할 수 있으며, 각 제1 외부 배선(270)과 커패시터를 형성할 수 있다. 그리고 각 제1 외부 배선(270)과 커패시터 전극(350)간의 중첩면적을 조절하여 커패시턴스 값을 조절할 수 있으며, 이에 따라 RC 딜레이를 균일하게 할 수 있다.The capacitor electrode 350 may be located in the external wiring region 130 and may form a capacitor with the first external wiring 270. The capacitance value can be adjusted by adjusting the overlapping area between each of the first external wirings 270 and the capacitor electrode 350, thereby making the RC delay uniform.

커패시터 전극(350)은 제1 외부 배선(270)과 중첩하도록 배치될 수 있으며, 몇몇 실시예에서 커패시터 전극(350)은 제1 외부 배선(270)의 상부 또는 하부에 위치할 수 있다. The capacitor electrode 350 may be disposed to overlap the first outer wiring 270 and in some embodiments the capacitor electrode 350 may be located at the top or bottom of the first outer wiring 270. [

커패시터 전극(350)은 제1 외부 배선(270)과 절연될 수 있다.The capacitor electrode 350 may be insulated from the first external wiring 270.

몇몇 실시예에서 커패시터 전극(350)은 플로팅 전극일 수 있다. 즉, 커패시터 전극(350)에는 별도의 전압이 외부에서 제공되지 않을 수 있다.In some embodiments, the capacitor electrode 350 may be a floating electrode. That is, the capacitor electrode 350 may not be provided with a separate voltage from outside.

이하에서는 설명의 편의를 위해 커패시터 전극(350) 중, 제1 내부 배선(251)과 연결된 제1서브 외부 배선(271)과 중첩하는 커패시터 전극을 제1 커패시터 전극(351), 제2 내부 배선(253)과 연결된 제2서브 외부 배선(273)과 중첩하는 커패시터 전극을 제2 커패시터 전극(353), 제3 내부 배선(255)과 연결된 제3 서브 외부 배선(275)과 중첩하는 커패시터 전극을 제3 커패시터 전극(355), 제4 내부 배선(257)과 연결된 제4 서브 외부 배선(277)과 중첩하는 커패시터 전극을 제4 커패시터 전극(357)이라 지칭한다.Hereinafter, for convenience of explanation, the capacitor electrode overlapping the first sub-outer wiring line 271 connected to the first inner wiring line 251 is referred to as a first capacitor electrode 351 and the second inner wiring line The second capacitor electrode 353 overlapped with the second sub-outer wiring line 273 connected to the third sub-wiring line 253 and the third sub-outer wiring line 275 connected to the third internal wiring 255, The third capacitor electrode 355 and the capacitor electrode overlapping the fourth sub-external wiring 277 connected to the fourth internal wiring 257 are referred to as a fourth capacitor electrode 357.

제1 내지 제4 커패시터 전극(351, 353, 355, 357) 각각은 상호 물리적으로 분리될 수 있으며, 상호 전기적으로 절연될 수 있다.Each of the first to fourth capacitor electrodes 351, 353, 355, and 357 may be physically separated from each other and electrically insulated from each other.

제1 내부 배선 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257) 각각의 폭이 모두 동일하고, 제1 내부 배선(251)의 길이가 제2 내부 배선(253)의 길이보다 짧다고 가정하면, 제1 내부 배선(251)의 저항 R1은 제2 내부 배선(253)의 저항 R2보다 작은 값을 갖게 된다. 즉, R1<R2의 관계를 갖게 된다. 각 내부 배선(251, 253, 255, 257)을 통해 신호를 전달시 각 내부 배선(251, 253, 255, 257)별로 RC 딜레이 편차가 발생할 수 있다. 이러한 RC 딜레이 편차를 보상해 주기 위하여 제1 커패시터 전극(351)과 제1 서브 외부 배선(271)간의 커패시턴스 C3는, 제2 커패시터 전극(353)과 제2 서브 외부 배선(273)간의 커패시턴스 C4보다 큰 값을 가져야 한다. 즉, C3>C4의 관계를 가져야 RC 딜레이 편차를 줄일 수 있다. 따라서 제1 커패시터 전극(351)과 제1 서브 외부 배선(271) 간의 중첩 면적은 제2 커패시터 전극(353)과 제2 서브 외부 배선(273)간의 중첩 면적보다 클 수 있다. 정리하자면 제1 내지 제4 커패시터 전극(351, 353, 355, 357) 각각과 제1 내지 제4 서브 외부 배선(271, 273, 275, 277) 각각이 중첩하는 면적은 제1 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257) 의 길이와 반비례할 수 있다.Assuming that the widths of the first internal wirings to the fourth internal wirings 251, 253, 255 and 257 are all the same and the length of the first internal wirings 251 is shorter than the length of the second internal wirings 253, The resistance R1 of the first internal wiring 251 has a smaller value than the resistance R2 of the second internal wiring 253. That is, R1 <R2. An RC delay deviation may be generated for each of the internal wirings 251, 253, 255, and 257 when signals are transmitted through the internal wirings 251, 253, 255, and 257. The capacitance C3 between the first capacitor electrode 351 and the first sub external wiring 271 is larger than the capacitance C4 between the second capacitor electrode 353 and the second sub external wiring 273 in order to compensate for the RC delay deviation It should have a large value. That is, the relation of C3> C4 can reduce the RC delay deviation. The overlap area between the first capacitor electrode 351 and the first sub external wiring 271 may be larger than the overlap area between the second capacitor electrode 353 and the second sub external wiring 273. [ The areas where the first to fourth capacitor electrodes 351, 353, 355, and 357 overlap with the first to fourth sub-external wirings 271, 273, 275, and 277, respectively, (251, 253, 255, 257).

한편, 도면에는 미도시하였으나, 커패시터 전극(350)은 도 8 및 도 9에 도시된 커패시터 전극(도 8의 330)과 유사하게 일체로 이루어질 수 있다. 즉 커패시터 전극(350)은 제1 서브 외부 배선(271), 제2 서브 외부 배선(273), 제3 서브 외부 배선(275) 및 제4 서브 외부 배선(277)중첩하는 면적이 서로 상이할 수 있다. 몇몇 실시예에서 커패시터 전극(350)과 제1 내지 제4 서브 외부 배선(271, 273, 275, 277) 각각이 중첩하는 면적은 제1 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257) 의 길이와 반비례할 수 있다.Although not shown in the drawing, the capacitor electrode 350 may be formed integrally similar to the capacitor electrode 330 shown in FIGS. 8 and 9 (FIG. 8). That is, the area of the capacitor electrode 350 where the first sub-outer wiring 271, the second sub-outer wiring 273, the third sub-outer wiring 275 and the fourth sub-outer wiring 277 overlap may be different from each other have. In some embodiments, the area where the capacitor electrode 350 overlaps with the first to fourth sub-external wirings 271, 273, 275, and 277 is the area of the first to fourth internal wirings 251, 253, 255, It can be inversely proportional to length.

이외 본 실시예에 따른 접촉 감지 장치는, 도 10 및 도 11에 도시된 바와 같이 내부 배선(250)이 우회 배선부 및 주 배선부를 포함할 수도 있다. In addition, the touch sensing apparatus according to the present embodiment may include a bypass wiring portion and a main wiring portion as shown in FIGS. 10 and 11.

보다 구체적으로 제1 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257) 각각은 일단을 기점으로 적어도 일부가 외부 배선 영역(130)으로부터 멀어지는 방향으로 진행하는 우회 배선부(251a, 253a, 255a, 257a)과 타단을 종점으로 하여 외부 배선 영역(130)과 가까워지는 방향으로 진행하는 주 배선부(251b, 253b, 255b, 257b)를 포함할 수도 있다. 이러한 경우, 각 제1 내지 제4 내부 배선(251, 253, 255, 257)의 저항값 및 각 제1 내지 제4 커패시터 전극(311, 313, 315, 317)과 각 제1 내지 제4 서브 외부 배선(271, 273, 275, 277)이 형성하는 커패시턴스 값을 모두 조절하여 각 내부 배선들 간에 RC 딜레이 편차를 감소시킬 수도 있다.More specifically, each of the first to fourth internal wirings 251, 253, 255, and 257 has bypass wiring portions 251a, 253a, 255a, and 255a extending from one end to at least a portion in a direction away from the external wiring region 130, 257a and 257b and 253b, 253b, 255b, and 257b extending in the direction toward the external wiring region 130 with the other end as an end point. In this case, the resistance value of each of the first to fourth internal wirings 251, 253, 255, and 257 and the resistance values of the first to fourth capacitor electrodes 311, 313, 315, and 317, It is also possible to reduce the RC delay deviation between the respective internal wirings by adjusting all of the capacitance values formed by the wirings 271, 273, 275, and 277.

아울러, 도면에는 미도시 하였으나, 본 실시예에 따른 접촉 감지 장치는, 도 5 내지 도 6에 도시된 바와 같이 내부 배선(250) 상에 별도의 커패시터 전극(도 5의 310)을 더 포함할 수도 있다.Although not shown in the drawing, the touch sensing apparatus according to the present embodiment may further include another capacitor electrode (310 in FIG. 5) on the internal wiring 250 as shown in FIGS. 5 to 6 have.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, You will understand. It is therefore to be understood that the above-described embodiments are illustrative in all aspects and not restrictive.

Claims (20)

복수의 외부 배선이 배치된 외부 배선 영역;
상기 외부 배선 영역으로부터 멀어지는 제1 방향으로 배열된 복수의 패치 전극; 및
상기 복수의 패치 전극의 일측에 정의된 데드영역 내에 배치된 복수의 내부 배선으로서, 각각 일단이 상기 각 패치 전극에 연결되고, 타단이 상기 복수의 외부 배선 중 어느 하나에 연결된 복수의 내부 배선을 포함하되,
상기 각 내부 배선은 상기 일단을 기점으로 적어도 일부가 상기 외부 배선 영역과 멀어지거나 상기 복수의 외부 배선과 평행한 방향으로 진행하는 우회 배선부, 및 상기 타단을 종점으로 하여 상기 외부 배선 영역과 가까워지는 방향으로 진행하는 주 배선부를 포함하며,
상기 복수의 패치 전극 중 제1 패치 전극에 연결된 제1 내부 배선의 우회 배선부 길이는 상기 복수의 패치 전극 중 상기 제1 패치 전극보다 상기 외부 배선 영역으로부터 더 멀리 위치하는 제2 패치 전극에 연결된 제2 내부 배선의 우회 배선부 길이보다 긴 접촉 감지 장치.
An external wiring region in which a plurality of external wiring lines are arranged;
A plurality of patch electrodes arranged in a first direction away from the external wiring region; And
A plurality of internal wirings arranged in the dead area defined on one side of the plurality of patch electrodes, each of the plurality of internal wirings including one end connected to each of the patch electrodes and the other end connected to any one of the plurality of external wirings However,
Wherein each of the internal wirings has a detour wiring part at least a part of which extends away from the external wiring area starting from the one end or in a direction parallel to the plurality of external wirings, And a main wiring portion extending in the direction of the main wiring,
Wherein a length of a bypass wiring portion of a first internal wiring connected to a first patch electrode of the plurality of patch electrodes is equal to or greater than a length of a bypass wiring portion connected to a second patch electrode located further from the external wiring region than the first patch electrode among the plurality of patch electrodes 2 A contact sensing device that is longer than the bypass wiring part of the internal wiring.
제1항에 있어서,
상기 제2 내부 배선의 주 배선부 길이는 상기 제1 내부 배선의 주 배선부 길이보다 긴 접촉 감지 장치.
The method according to claim 1,
Wherein a length of a main wiring portion of the second internal wiring is longer than a length of a main wiring portion of the first internal wiring.
제2항에 있어서,
상기 제1 내부 배선의 길이와 상기 제2 내부 배선의 길이는 상호 동일한 접촉 감지 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the length of the first internal wiring and the length of the second internal wiring are mutually the same.
제1항에 있어서,
상기 주 배선부는 상기 우회 배선부와 연속하고,
상기 주 배선부와 상기 우회 배선부의 경계는, 상기 내부 배선에서 상기 외부 배선 영역으로부터 가장 멀리 떨어진 지점인 접촉 감지 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the main wiring portion is continuous with the bypass wiring portion,
Wherein the boundary between the main wiring portion and the bypass wiring portion is the farthest point from the external wiring region in the internal wiring.
제1항에 있어서,
상기 우회 배선부는,
적어도 하나의 절곡부를 포함하는 접촉 감지 장치.
The method according to claim 1,
The bypass wiring portion
And at least one bend.
제1항에 있어서,
상기 복수의 내부 배선과 절연되어 중첩하는 커패시터 전극을 더 포함하는 접촉 감지 장치.
The method according to claim 1,
And a capacitor electrode which is insulated from and overlapped with the plurality of internal wirings.
제6항에 있어서,
상기 커패시터 전극은 플로팅 전극인 접촉 감지 장치.
The method according to claim 6,
Wherein the capacitor electrode is a floating electrode.
제6항에 있어서,
상기 커패시터 전극은,
메쉬 형상으로 이루어진 접촉 감지 장치.
The method according to claim 6,
Wherein the capacitor electrode comprises:
A touch sensing device in mesh form.
제6항에 있어서,
상기 커패시터 전극은,
상기 제1 내부 배선과 중첩하는 제1 커패시터 전극 및 상기 제2 내부 배선과 중첩하는 제2 커패시터 전극을 포함하고,
상기 제1 내부 배선과 상기 제1 커패시터 전극이 중첩하는 면적은,
상기 제2 내부 배선과 상기 제2 커패시터 전극이 중첩하는 면적과 상이한 접촉 감지 장치.
The method according to claim 6,
Wherein the capacitor electrode comprises:
A first capacitor electrode overlapping the first internal wiring, and a second capacitor electrode overlapping the second internal wiring,
Wherein an area where the first internal wiring and the first capacitor electrode overlap is larger than an area
And the second internal electrode and the second capacitor electrode are overlapped with each other.
제6항에 있어서,
상기 커패시터 전극은 복수개 구비되고 상호 전기적으로 절연되어 있는 접촉 감지 장치.
The method according to claim 6,
Wherein the plurality of capacitor electrodes are electrically insulated from each other.
제10항에 있어서,
상기 커패시터 전극은 하나의 몸체로 이루어진 접촉 감지 장치.
11. The method of claim 10,
Wherein the capacitor electrode comprises one body.
제1항에 있어서,
상기 복수의 외부 배선과 절연되어 중첩하는 커패시터 전극을 더 포함하는 접촉 감지 장치.
The method according to claim 1,
And a capacitor electrode which is insulated from and overlapped with the plurality of external wirings.
제1항에 있어서,
상기 복수의 내부 배선 각각은, 하나 이상의 절곡부를 포함하는 접촉 감지 장치.
The method according to claim 1,
Wherein each of the plurality of internal wirings includes one or more bent portions.
제13항에 있어서,
상기 복수의 내부 배선 중 적어도 어느 하나는, 메쉬 형상으로 이루어진 접촉 감지 장치.
14. The method of claim 13,
Wherein at least one of the plurality of internal wirings has a mesh shape.
복수의 외부 배선이 배치된 외부 배선 영역;
상기 외부 배선 영역으로부터 멀어지는 제1 방향으로 배열된 복수의 패치 전극;
상기 복수의 패치 전극의 일측에 정의된 데드영역 내에 배치된 복수의 내부 배선으로서, 각각 일단이 상기 각 패치 전극에 연결되고 타단이 상기 복수의 외부 배선 중 어느 하나에 연결된 복수의 내부 배선; 및
상기 복수의 내부 배선과 절연되어 중첩하는 커패시터 전극을 포함하는 접촉 감지 장치.
An external wiring region in which a plurality of external wiring lines are arranged;
A plurality of patch electrodes arranged in a first direction away from the external wiring region;
A plurality of internal wirings arranged in the dead region defined at one side of the plurality of patch electrodes, each internal wiring having one end connected to each of the patch electrodes and the other end connected to any one of the plurality of external wirings; And
And a capacitor electrode which is insulated from and overlapped with the plurality of internal wirings.
제15항에 있어서,
상기 커패시터 전극은,
플로팅 전극인 접촉 감지 장치.
16. The method of claim 15,
Wherein the capacitor electrode comprises:
A contact sensing device which is a floating electrode.
제15항에 있어서,
상기 커패시터 전극은,
메쉬 형상으로 이루어진 접촉 감지 장치.
16. The method of claim 15,
Wherein the capacitor electrode comprises:
A touch sensing device in mesh form.
복수의 외부 배선이 배치된 외부 배선 영역;
상기 외부 배선 영역으로부터 멀어지는 제1 방향으로 배열된 복수의 패치 전극;
상기 복수의 패치 전극의 일측에 정의된 데드영역 내에 배치된 복수의 내부 배선으로서, 각각 일단이 상기 각 패치 전극에 연결되고, 타단이 상기 복수의 외부 배선 중 어느 하나에 연결된 복수의 내부 배선; 및
상기 복수의 외부 배선과 절연되어 중첩하는 커패시터 전극을 포함하는 접촉 감지 장치.
An external wiring region in which a plurality of external wiring lines are arranged;
A plurality of patch electrodes arranged in a first direction away from the external wiring region;
A plurality of internal wirings, each having one end connected to each of the patch electrodes and the other end connected to any one of the plurality of external wirings, the plurality of internal wirings disposed in a dead region defined on one side of the plurality of patch electrodes; And
And a capacitor electrode which is insulated from and overlapped with the plurality of external wirings.
제18항에 있어서,
상기 커패시터 전극은,
플로팅 전극인 접촉 감지 장치.
19. The method of claim 18,
Wherein the capacitor electrode comprises:
A contact sensing device which is a floating electrode.
제18항에 있어서,
상기 커패시터 전극은,
메쉬 형상으로 이루어진 접촉 감지 장치.
19. The method of claim 18,
Wherein the capacitor electrode comprises:
A touch sensing device in mesh form.
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