KR20150036042A - Alkali development type resin, and photosensitive resin composition using same - Google Patents

Alkali development type resin, and photosensitive resin composition using same Download PDF

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Abstract

본 발명은 페놀 수지(a)의 수산기에 분자 중에 알콜성 수산기와 1개의 에폭시기를 갖는 화합물(b)을 반응시켜서 얻어지는 반응 생성물 X 중의 수산기에 포화 및/또는 불포화 다염기산 무수물(c)을 더 반응시켜서 얻어지는 알칼리 현상형 수지 및 (A) 상기 알칼리 현상형 수지, (B) 에폭시 수지, (C) 광중합 개시제, 및 (D) 희석제를 함유하는 감광성 수지 조성물에 관한 것으로, 상기 수지 조성물은 건조성 및 알칼리 현상성이 우수하고 또한 경화 후의 도막은 밀착성, 땜납 내열성, 무전해 금도금 내성, PCT 내성, 가요성, 냉열충격 내성, HAST특성 등의 여러가지 특성이 우수하고, 프린트 배선판의 제조시에 사용되는 솔더 레지스트, 에칭 레지스트, 도금 레지스트, 층간 절연재 등에 유용하다.The present invention is characterized in that a saturated and / or unsaturated polybasic acid anhydride (c) is further reacted with a hydroxyl group in a reaction product X obtained by reacting a hydroxyl group of a phenol resin (a) with a compound (b) having an alcoholic hydroxyl group and an epoxy group in a molecule (B) an epoxy resin, (C) a photopolymerization initiator, and (D) a diluent, wherein the resin composition has a dryness and an alkali The coating film having excellent developability and cured has excellent properties such as adhesion, solder heat resistance, electroless gold plating resistance, PCT resistance, flexibility, cold and heat shock resistance and HAST characteristics, and is excellent in solder resist , An etching resist, a plating resist, an interlayer insulating material, and the like.

Description

알칼리 현상형 수지, 그것을 사용한 감광성 수지 조성물{ALKALI DEVELOPMENT TYPE RESIN, AND PHOTOSENSITIVE RESIN COMPOSITION USING SAME}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to an alkali developing resin and a photosensitive resin composition using the same,

본 발명은 알칼리 현상형 수지 및 그것을 포함하는 감광성 수지 조성물에 관한 것이다. 더욱 상세하게는 프린트 배선판 솔더 레지스트, 고밀도 다층판 층간 절연막, 반도체 패키지용 솔더 레지스트 등의 전자 재료 분야에 사용되는 알칼리 현상형 수지 및 감광성 수지 조성물에 관한 것이다.The present invention relates to an alkali-developable resin and a photosensitive resin composition containing the same. More particularly, the present invention relates to an alkali developing resin and a photosensitive resin composition used in electronic materials such as a printed wiring board solder resist, a high density multilayered interlayer insulating film, and a semiconductor package solder resist.

종래, 프린트 배선판 제조에 있어서의 영구 마스크 레지스트는 열 또는 자외선 경화형 레지스트 잉크를 스크린 인쇄하는 방법으로 제조되어 왔지만, 현재는 생산성의 면으로부터 알칼리 현상형의 액상 솔더 포토레지스트로 이행하고 있다.Conventionally, a permanent mask resist in the production of a printed wiring board has been produced by a method of screen printing a thermal or ultraviolet curing type resist ink. From the productivity point of view, however, the transition from a liquid developer to a liquid type solder photoresist has been made.

그러나, 종래 시판의 알칼리 현상형 솔더 레지스트를 실시한 프린트 배선판에서는 패키지의 장기 신뢰성 시험인 PCT(Pressure Cooker Test) 내성이 열악하고, 경화물의 박리가 발생하고 있다.However, in the conventional printed wiring board on which the alkali developing type solder resist is applied, resistance to PCT (Pressure Cooker Test), which is a long term reliability test of the package, is poor and peeling of the cured product occurs.

또한, 솔더 레지스트의 흡습에 의해, 패키지 실장시의 리플로우 중에 패키지 내부로 흡습된 수분이 비등하여 패키지 내부의 솔더 레지스트 피막 및 그 주변에 크랙이 발생하는, 소위 팝콘 현상이 문제시 되고 있다. 이러한 내흡습성이나 장기 신뢰성의 문제는, 상기 실장 기술의 경우에만 한정되는 것은 아니고, 일반적인 프린트 배선판의 솔더 레지스트나 플렉시블 프린트 배선판이나 테이프 캐리어 패키지의 제조에 사용되는 솔더 레지스트나 빌드업 기판 등의 다층 배선판의 층간 절연층 등, 다른 용도의 제품에 있어서도 바람직하지 않다.In addition, due to the moisture absorption of the solder resist, so-called popcorn phenomenon, in which the moisture absorbed into the package during the reflow of the package is boiled, and cracks are generated in the solder resist film and its surroundings. The problems of moisture absorption resistance and long term reliability are not limited only to the case of the above mounting technique, but may be applied to a solder resist of a general printed wiring board, a multilayer wiring board such as a solder resist used for manufacturing a flexible printed wiring board or a tape carrier package, But also for other applications such as an interlayer insulating layer of a dielectric layer.

이와 같이, 최근의 전기 산업, 반도체 산업의 발전에 따라서, 1층의 특성 향상, 예를 들면 내열성, 강인성, 가요성, 내수성, 내약품성의 향상이 요구되고, 이것을 만족시키기 위해서 각종 신규한 감광성 수지가 개발되고 있다.As described above, according to recent developments of the electric industry and the semiconductor industry, it is required to improve the properties of one layer such as heat resistance, toughness, flexibility, water resistance and chemical resistance. Is being developed.

종래, 구체적으로는 노볼락형 에폭시 수지를 출발 원료로 한 감광성 수지는, 그 뛰어난 접착성, 내열성, 내약품성, 전기절연성 등을 위해서 솔더 레지스트, 에칭 레지스트 등 전자 재료의 많은 분야에 널리 사용되고 있다. 특히, 내열성이 우수한 카르복시기 함유 감광성 수지로서, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지와 불포화기함유 모노 카르복실산의 반응 생성물에 다염기산 무수물을 반응시켜서 얻어지는 수지가 많이 사용되고 있다(특허문헌 1). 그러나, 이 수지는 내열성이 우수하지만, 경화시의 수축이 크고, 신장이 적고, 강인성이 결여되기 때문에, 열쇼크에 의한 크랙이 발생하기 쉽다고 하는 난점이 있다. 이것을 해결하는 감광성 수지로서, 비스페놀형 에폭시 수지의 측쇄 수산기를 부분 에폭시화한 수지와 (메타)아크릴산과 다염기산 무수물의 반응 생성물인 감광성 프리폴리머(특허문헌 2), 크레졸 노볼락형 에폭시 수지와 아크릴산과 p-히드록시페네틸알콜의 반응 생성물에 테트라히드로프탈산 무수물을 반응시켜서 얻어지는 불포화기 함유 폴리카르복실산 수지(특허문헌 3) 등이 제안되고 있다. 그러나, 이들의 수지도 내열성과 강인성을 모두 만족시키기 위해서는 아직도 불충분하다.Conventionally, photosensitive resins using novolak-type epoxy resins as starting materials have been widely used in many fields of electronic materials such as solder resists and etching resists for their excellent adhesiveness, heat resistance, chemical resistance, electrical insulation and the like. Particularly, a resin obtained by reacting a reaction product of a cresol novolak type epoxy resin and an unsaturated group-containing monocarboxylic acid with a polybasic acid anhydride is widely used as a photosensitive resin containing a carboxyl group excellent in heat resistance (Patent Document 1). However, this resin is excellent in heat resistance, but has a drawback that it is liable to cause cracks due to heat shock because it shrinks at the time of curing, is small in elongation, and lacks toughness. As a photosensitive resin for solving this problem, a photosensitive prepolymer (Patent Document 2) which is a reaction product of a resin obtained by partially epoxidizing a branched chain hydroxyl group of a bisphenol-type epoxy resin, a (meth) acrylic acid and a polybasic acid anhydride (Patent Document 2), a cresol novolak- Unsaturated group-containing polycarboxylic acid resin obtained by reacting a reaction product of hydroxyphenethyl alcohol with tetrahydrophthalic anhydride (Patent Document 3) and the like have been proposed. However, these resins are still insufficient to satisfy both heat resistance and toughness.

또한, 우수한 장기 신뢰성을 갖는 수지로서, 노볼락 수지를 알킬렌옥사이드로 변성한 후, (메타)아크릴산을 부가하고, 또한 다염기산 무수물을 부가시킨 카르복시기 함유 감광성 수지(특허문헌 4)가 제안되어 있다. 그러나, 잉크 도포 후의 건조성에 개량의 여지가 있었다. 즉, 이들의 조성물에서는 희알카리 수용액으로 현상을 행하기 위해서 산가를 높게 할 필요가 있다. 그 때문에 잉크 배합한 것을 기판에 도포한 후의 용제의 건조 공정에 있어서, 건조 시간을 짧게 하지 않으면 안되거나, 건조부터 노광해서 현상한다고 하는 일련의 공정에 있어서, 건조 후 장시간을 필요로 한 경우에는 도막의 미노광부가 신속하게 제거될 수 없게 되는 등의 문제점이 있었다.Further, as a resin having excellent long-term reliability, there has been proposed a photosensitive resin containing a carboxyl group (hereinafter referred to as patent document 4) in which a novolac resin is modified with an alkylene oxide and then a (meth) acrylic acid is added and a polybasic acid anhydride is added. However, there was room for improvement in drying property after ink application. That is, in these compositions, it is necessary to increase the acid value in order to perform development with a dilute aqueous alkali solution. For this reason, in a series of processes in which the drying time must be shortened in the drying step of the solvent after coating the ink-blended material on the substrate, or in the series of steps of drying and exposing, The unexposed portion of the photoreceptor can not be removed quickly.

일본특허공개 평1-54390호 공보Japanese Unexamined Patent Publication No. Hei 1-54390 일본특허공개 평9-54434호 공보Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-54434 일본특허공개 평11-288091호 공보Japanese Patent Laid-Open No. 11-288091 일본특허 제 3964326호 공보Japanese Patent No. 3964326

본 발명은 상기의 문제를 감안하여 이루어진 것이고, 양호한 현상성, 내열성, 내습성, 접착성 등의 여러가지 물성과 더불어, 건조성이 우수한 잉크 조성물이 얻어지는 카르복시기 함유 수지를 제공하는 것을 목적으로 하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a carboxyl group-containing resin which can obtain an ink composition excellent in dryness and various physical properties such as good developing properties, heat resistance, moisture resistance and adhesiveness.

또한, 본 발명은 하기의 여러가지의 용도에서 요구되는 여러가지 특성이 우수한 경화막을 형성할 수 있고, 또한 프린트 배선판의 고밀도화 및 면실장화에 대응 가능하고, 희알카리 수용액으로 현상 가능하다고 하는 특성을 갖는 액상의 경화성 수지 조성물을 제공하는 것을 목적으로 하는 것이다. 즉, 일반적인 프린트 배선판의 솔더 레지스트나, 플렉시블 프린트 배선판이나 테이프 캐리어 패키지의 제조에 사용되는 솔더 레지스트나, 빌드업 기판 등의 다층 배선판의 층간 절연층등에 있어서는 우수한 현상성, 밀착성, 땜납내열성, 내흡습성, PCT 내성, 전기 절연성 등의 여러가지 특성을 갖는 경화막이 요구되고, 특히 IC 패키지에 있어서는 내흡습성 및 PCT(프레셔 쿠커 테스트) 내성 등의 특성이 우수한 경화막이 요구된다. 본 발명에 있어서는, 그들의 각종 용도에서 요구되는 여러가지 특성이 우수한 경화막을 형성하는 것이 가능하고, 또한 상기의 특성을 갖는 경화성 수지 조성물을 제공하는 것을 목적으로 한다.It is another object of the present invention to provide a cured film which is capable of forming a cured film excellent in various properties required for various uses as described below and capable of coping with high density and cotton boom of a printed wiring board, And it is an object of the present invention to provide a curable resin composition. That is, the solder resist of a general printed wiring board, the solder resist used for manufacturing a flexible printed wiring board or a tape carrier package, and the interlayer insulating layer of a multilayer wiring board such as a build-up board have excellent developability, adhesiveness, solder heat resistance, , PCT resistance, electrical insulation, and the like. In particular, a cured film excellent in properties such as moisture absorption resistance and PCT (pressure cooker test) resistance is required in an IC package. In the present invention, it is an object of the present invention to provide a curable resin composition capable of forming a cured film excellent in various properties required for various uses thereof and having the above-mentioned properties.

본 발명자들은 이들의 종래 기술의 과제를 해결하기 위해서, 페놀 수지를 골격으로 하고, 이것에 1급의 수산기와 반응성 관능기를 도입해서 얻어지는 반응물에, 관능기로서 카르복시기를 더 도입한 알칼리 현상형 수지, 즉 페놀 수지(a)의 수산기에, 분자 중에 알콜성 수산기와 1개의 에폭시기를 갖는 화합물(b)을 반응시켜서 얻어지는 반응 생성물 X(수지) 중의 수산기에, 포화 및/또는 불포화 다염기산 무수물(c)을 반응시켜서 얻어지는 카르복시기 함유 수지, 즉 알칼리 현상형 수지가 상기의 목적을 달성할 수 있는 것을 발견하고, 본 발명을 완성하였다.In order to solve these problems of the prior art, the present inventors have proposed an alkali developing type resin in which a carboxyl group is further introduced as a functional group into a reaction product obtained by introducing a primary hydroxyl group and a reactive functional group into a skeleton of a phenol resin, (C) is reacted with a hydroxyl group in a reaction product X (resin) obtained by reacting a hydroxyl group of the phenol resin (a) with a compound (b) having an alcoholic hydroxyl group and an epoxy group in the molecule, , That is, the alkali developing resin can achieve the above object, and have completed the present invention.

또한, 본 명세서에 있어서의 「알칼리 현상형 수지」란 수지 조성물에 알칼리 현상성을 부여할 수 있는 수지의 의미, 즉 알칼리 현상성 부여성 수지의 의미로 사용된다. 따라서, 본 발명의 알칼리 현상형 수지는 알칼리 현상 감광성 수지 조성물용에 가장 적합하지만, 그 이외의 용도에도 사용 가능하다.The term " alkali-developing resin " in the present specification means a resin capable of imparting alkali developability to the resin composition, that is, an alkali developable resin. Therefore, the alkali-developing resin of the present invention is most suitable for the alkali developing photosensitive resin composition, but can be used for other purposes.

또한, (메타)아크릴산의 용어는 아크릴산 또는 메타크릴산 중 적어도 어느 하나의 의미로 사용되고, (메타)아크릴레이트(아크릴레이트 또는 메타크릴레이트 중 적어도 어느 하나) 등도 같은 의미로 사용된다.The term (meth) acrylic acid is used in the meaning of at least one of acrylic acid and methacrylic acid, and (meth) acrylate (at least one of acrylate and methacrylate) is used in the same meaning.

보다 상세하게는 본 발명은, 하기의 (1)∼(21)에 기재된 발명에 관한 것이다.More particularly, the present invention relates to the invention described in the following (1) to (21).

(1) 페놀 수지(a)의 수산기에, 분자 중에 알콜성 수산기와 1개의 에폭시기를 갖는 화합물(b)(이하, 단지 화합물 b라고도 한다)을 반응시켜서 얻어지는 반응 생성물 X(이하 간략하게 「중간체 X」라고도 한다) 중의 수산기에, 상기 다염기산 무수물(c)(이하, 단지 「다염기산 무수물(c)」이라고도 한다)을 반응시켜서 얻어지는 알칼리 현상형 수지(이하, 본 발명의 수지 Y 또는 단지 수지 Y라고도 한다).(Hereinafter, simply referred to as "intermediate X") obtained by reacting (1) a compound (b) having an alcoholic hydroxyl group and an epoxy group in the molecule in the hydroxyl group of the phenol resin (a) (Hereinafter also referred to as the resin Y or the resin Y of the present invention) obtained by reacting the above polybasic acid anhydride (c) (hereinafter also simply referred to as "polybasic acid anhydride (c)") ).

(2) 페놀 수지(a)의 페놀성 수산기 1당량에 대하여, 상기 화합물(b)을 0.1∼0.9몰이 되는 비율로 반응시키는 것을 특징으로 하는 상기 (1)에 기재된 알칼리 현상형 수지.(2) The alkali-developing resin according to (1) above, wherein the amount of the compound (b) is 0.1 to 0.9 mol based on 1 equivalent of the phenolic hydroxyl group of the phenol resin (a).

(3) 반응 생성물 X의 수산기 1당량에 대하여, 상기 다염기산 무수물(c)을 0.05∼0.9몰이 되는 비율로 반응시키는 것을 특징으로 하는 상기 (1) 또는 (2)에 기재된 알칼리 현상형 수지.(3) The alkali-developing resin according to (1) or (2) above, wherein the polybasic acid anhydride (c) is reacted at a rate of 0.05 to 0.9 mol based on 1 equivalent of the hydroxyl group of the reaction product X.

(4) 알칼리 현상형 수지 중에 잔존하는 페놀성 수산기의 비율이 페놀 수지(a) 중의 전체 페놀성 수산기수에 대하여, 10∼90%인 상기 (1)∼ (3) 중 어느 하나에 기재된 알칼리 현상형 수지.(4) The alkaline developer according to any one of (1) to (3), wherein the proportion of the phenolic hydroxyl groups remaining in the alkali-developable resin is 10 to 90% based on the total number of phenolic hydroxyl groups in the phenolic resin (a) Type resin.

(5) 페놀 수지(a)가 비페닐 골격을 포함하는 페놀 수지(a)인 상기 (1)∼(4) 중 어느 하나에 기재된 알칼리 현상형 수지.(5) The alkali-developable resin according to any one of (1) to (4), wherein the phenol resin (a) is a phenol resin (a) containing a biphenyl skeleton.

(6) 페놀 수지(a)가 하기 일반식(1)으로 나타내어지는 페놀 수지(a1)인 상기 (1)∼(5) 중 어느 하나에 기재된 알칼리 현상형 수지.(6) The alkali-developable resin according to any one of (1) to (5), wherein the phenolic resin (a) is a phenolic resin (a1) represented by the following general formula (1).

Figure pct00001
Figure pct00001

[식 중 m1, m2 및 m3은 각각 독립적으로 1 또는 2의 정수이고, n은 0∼10의 정수를 나타낸다]M1, m2 and m3 each independently represent an integer of 1 or 2 and n represents an integer of 0 to 10,

(7) 페놀 수지(a1)가 그 중에, 레조르신 구조를 포함하는 페놀 수지인 상기 (6)에 기재된 알칼리 현상형 수지.(7) The alkali-developable resin according to (6), wherein the phenol resin (a1) is a phenol resin containing a resorcin structure.

(8) 레조르신 구조를 포함하는 페놀 수지의 수산기 당량이 70∼170g/eq인 상기 (7)에 기재된 알칼리 현상형 수지.(8) The alkali-developable resin according to (7), wherein the phenolic resin having a resorcin structure has a hydroxyl equivalent of 70 to 170 g / eq.

(9) 화합물(b)이 글리시돌인 상기 (1)∼(8) 중 어느 하나에 기재된 알칼리 현상형 수지.(9) The alkali-developable resin according to any one of (1) to (8), wherein the compound (b) is glycidol.

(10) 상기 다염기산 무수물(c)이 카르복시기를 2개 또는 3개 갖는 다염기산의 무수물인 상기 (1)∼(9) 중 어느 하나에 기재된 알칼리 현상형 수지.(10) The alkali-developing resin according to any one of (1) to (9), wherein the polybasic acid anhydride (c) is an anhydride of a polybasic acid having two or three carboxyl groups.

(11) (A) 상기 (1)∼(10) 중 어느 하나에 기재된 알칼리 현상형 수지,(11) A photosensitive resin composition comprising (A) the alkali-developable resin according to any one of (1) to (10)

(B) 에폭시 수지,(B) an epoxy resin,

(C) 광중합 개시제, 및(C) a photopolymerization initiator, and

(D) 희석제를 함유하는 것을 특징으로 하는 감광성 수지 조성물.(D) a diluent.

(12) 희석제는 중합성 불포화 화합물 및/또는 용제인 것을 특징으로 하는 상기 (11)에 기재된 감광성 수지 조성물.(12) The photosensitive resin composition according to (11), wherein the diluent is a polymerizable unsaturated compound and / or a solvent.

(13) (A) 알칼리 현상형 수지가 조성물의 총량에 대하여 10∼80중량%,(13) A positive resist composition comprising (A) 10 to 80% by weight, based on the total amount of the composition,

(B) 에폭시 수지가 조성물의 총량에 대하여 1∼50중량%,(B) an epoxy resin in an amount of 1 to 50% by weight,

(C) 광중합 개시제가 조성물의 총량에 대하여 0.5∼20중량%, 및(C) a photopolymerization initiator in an amount of 0.5 to 20% by weight based on the total amount of the composition, and

(D) 희석제가 알칼리 현상형 수지 100중량부에 대하여 10∼200중량부인 것을 특징으로 하는 상기 (11) 또는 (12)에 기재된 감광성 수지 조성물.The photosensitive resin composition according to (11) or (12) above, wherein the diluent (D) is 10 to 200 parts by weight based on 100 parts by weight of the alkali developing resin.

(14) 희석제로서, 중합성 불포화 화합물을 알칼리 현상형 수지 100중량부에 대하여, 5∼200중량%의 범위로 함유하는 상기 (11)∼(13) 중 어느 하나에 기재된 감광성 수지 조성물.(14) The photosensitive resin composition according to any one of (11) to (13), wherein as the diluent, the polymerizable unsaturated compound is contained in an amount of 5 to 200% by weight based on 100 parts by weight of the alkali developing resin.

(15) 중합성 불포화 화합물이 (메타)아크릴레이트 화합물인 상기 (14)에 기재된 감광성 수지 조성물.(15) The photosensitive resin composition according to (14), wherein the polymerizable unsaturated compound is a (meth) acrylate compound.

(16) 상기 (11)∼(15) 중 어느 하나에 기재된 감광성 수지 조성물의 경화물.(16) A cured product of the photosensitive resin composition according to any one of (11) to (15).

(17) 광에 의한 초미세 가공이 가능한 포토리소그래프법을 이용하여 패터닝 된 경화물인 상기 (16)에 기재된 감광성 수지 조성물의 경화물.(17) A cured product of the photosensitive resin composition described in (16), which is a patterned cured product by using a photolithographic method capable of ultrafine processing by light.

(18) 상기 (16) 또는 (17)에 기재된 경화물의 층을 갖는 기재.(18) A substrate having a layer of the cured product according to (16) or (17).

(19) 상기 (18)에 기재된 기재를 갖는 물품.(19) An article having a substrate according to (18) above.

(20) 상기 (11)∼(15) 중 어느 하나에 기재된 감광성 수지 조성물을 프린트 배선판에 도포해서 도막을 형성하고, 노광하고, 현상한 후, 자외선의 조사 및/또는 가열에 의해 경화시키는 것을 특징으로 하는 경화 도막의 형성 방법.(20) The photosensitive resin composition according to any one of (11) to (15) above is applied to a printed wiring board to form a coating film, exposed and developed, and then cured by irradiation with ultraviolet light and / To form a cured coating film.

(21) 상기 (1)에 기재된 알칼리 현상형 수지를 제조하기 위한, 페놀 수지(a)의 수산기에 분자 중에 알콜성 수산기와 1개의 에폭시기를 갖는 화합물(b)을 반응시켜서 얻어지는 페놀성 수산기와 알콜성 수산기의 양자를 갖는 반응 생성물 X의 사용.(21) A process for producing the alkali-developable resin as described in (1) above, which comprises reacting a phenolic resin (a) with a compound (b) having an alcoholic hydroxyl group and an epoxy group in the molecule, Use of the reaction product X with both of the hydroxyl groups.

(발명의 효과)(Effects of the Invention)

본 발명의 감광성 수지 조성물은 건조성이나 알칼리 현상성이 우수하고, 또한 경화 후의 도막은 밀착성, 땜납 내열성, 무전해 금도금 내성, PCT 내성, 가요성, 냉열충격 내성, HAST특성 등의 여러가지 특성이 우수하다. 경화막을 저비용으로 양호한 생산성으로 형성할 수 있기 때문에, 활성 에너지선을 이용하여 경화시키는 자외선 경화형 인쇄 잉크 용도 등에 사용 가능한 것 이외에, 프린트 배선판의 제조시에 사용되는 솔더 레지스트, 에칭 레지스트, 도금 레지스트, 층간 절연재 등에 유용하다.The photosensitive resin composition of the present invention is excellent in dryness and alkali developability, and the coated film after curing has excellent properties such as adhesion, solder heat resistance, electroless gold plating resistance, PCT resistance, flexibility, cold shock resistance and HAST characteristics Do. Since the cured film can be formed at a low cost with good productivity, it can be used for an ultraviolet curable printing ink application for curing using an active energy ray, and the like. In addition, the solder resist, etching resist, It is useful for insulation materials and so on.

이하에, 본 발명을 더욱 상세하게 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail.

우선, 본 발명의 수지 Y에 있어서는 골격 수지로서 페놀 수지(a)를 사용한다. 본 발명에 있어서의 페놀 수지(a)는 광의에 있어서의 페놀 수지를 의미하고, 페놀성 수산기를 1분자 중에 적어도 2개 갖는 수지를 의미한다. 따라서, 페놀 수지(a)로서는, 1분자 중에 페놀성 수산기를 적어도 2개 이상 갖는 페놀 수지를 사용한다. 이 페놀 수지(a)는 레졸계, 노볼락계, 크레졸계 등의 모든 페놀 수지를 사용할 수 있다. 또한, 다관능 페놀 화합물을 에폭시 화합물로 변성한 에폭시 변성 타입이나 부타디엔 (공)중합체에 페놀류를 부가시킨 페놀류 부가 부타디엔 (공)중합체, 페놀류와 디시클로펜타디엔의 중합 수지, 페놀류와 비페닐의 중합 수지 등도 사용할 수 있다.First, in the resin Y of the present invention, a phenol resin (a) is used as a skeleton resin. The phenol resin (a) in the present invention means a phenol resin in a broad sense, and means a resin having at least two phenolic hydroxyl groups in one molecule. Therefore, as the phenol resin (a), a phenol resin having at least two phenolic hydroxyl groups in one molecule is used. The phenol resin (a) may be any phenol resin such as a resol-based, novolac-based, or cresol-based resin. Further, it is also possible to use an epoxy-modified type in which a polyfunctional phenol compound is modified with an epoxy compound, a phenol-modified butadiene (co) polymer in which a phenol is added to a butadiene (co) polymer, a polymerization resin of a phenol and dicyclopentadiene, Resin can also be used.

구체적으로는 페놀 노볼락 수지, 크레졸 노볼락 수지, 비페닐 노볼락형 레조르신 수지 등의 노볼락형 페놀 수지, 파라크실릴렌 변성 노볼락 수지, 메타크실릴렌 변성 노볼락 수지, 오르토크실릴렌 변성 노볼락 수지 등의 변성된 노볼락형 페놀 수지; 비스페놀 A, 비스페놀 F 등의 비스페놀 화합물; 비페닐형 페놀 수지; 레졸형 페놀 수지; 페놀아랄킬 수지, 비페닐아랄킬형 페놀 수지 등의 아랄킬형 페놀 수지; 트리페놀알칸형 수지 및 그 중합체 등의 알칸형 페놀 수지; 나프탈렌환 함유 페놀 수지, 디시클로펜타디엔 변성 페놀 수지, 지환식 페놀 수지, 복소환형 페놀 수지 등이 예시된다. 이들 페놀 수지는 1종 또는 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다.Specific examples thereof include novolak type phenol resins such as phenol novolac resins, cresol novolak resins and biphenyl novolac type resorcin resin, paraxylylene modified novolak resins, meta-xylylene modified novolak resins, Modified novolac phenolic resins such as phenol-modified novolac resins; Bisphenol compounds such as bisphenol A and bisphenol F; Biphenyl-type phenolic resins; Resol type phenolic resin; Phenolic aralkyl resins, biphenyl aralkyl type phenol resins; Alkane type phenol resins such as triphenol alkane type resins and polymers thereof; Naphthalene ring-containing phenol resin, dicyclopentadiene-modified phenol resin, alicyclic phenol resin, and heterocyclic phenol resin. These phenolic resins may be used alone or in combination of two or more.

상기 페놀 수지(a)의 분자량으로서는 300∼30,000 정도의 페놀 수지가 사용되고, 바람직하게는 400∼15,000정도이다. 수지에 분자량으로서는 수평균 분자량 또는 중량 평균 분자량이 사용되지만, 어느 하나가 상기의 범위에 들어가면 된다.The phenol resin (a) has a molecular weight of about 300 to 30,000, preferably about 400 to 15,000. As the molecular weight of the resin, a number average molecular weight or a weight average molecular weight is used, but any one of them may fall within the above range.

상기 페놀 수지(a)의 바람직한 수지로서는 노볼락형 페놀 수지를 들 수 있고, 보다 바람직하게는 그 구조 중에 크레졸 골격 또는 비페닐 골격을 갖는 페놀 수지를 들 수 있고, 더욱 바람직하게는 비페닐 골격을 갖는 페놀 수지를 들 수 있다. 구체적으로는 크레졸 골격을 갖는 노볼락형 페놀 수지로서는 크레졸형 노볼락 수지, 비페닐 골격을 갖는 페놀 수지로서는 비페닐아랄킬형 페놀 수지, 비페닐노볼락형 페놀 수지 등을 열거할 수 있다.A preferred resin of the phenol resin (a) is a novolak type phenol resin, more preferably a phenol resin having a cresol skeleton or biphenyl skeleton in its structure, more preferably a biphenyl skeleton And the like. Specifically, cresol type novolak resins having a cresol skeleton include bresyl phenol resins, biphenyl aralkyl type phenol resins and biphenyl novolac type phenol resins as a phenol resin having a biphenyl skeleton.

보다 바람직하게는 비페닐 골격 함유 노볼락형 페놀 수지이고, 더욱 바람직하게는 하기 일반식(1)으로 나타내어지는 페놀 수지(a1)이다.More preferred is a biphenyl skeleton-containing novolak-type phenol resin, more preferably a phenol resin (a1) represented by the following general formula (1).

Figure pct00002
Figure pct00002

(식 중 m1, m2 및 m3은 각각 독립적으로 1 또는 2의 정수이고, n은 0∼10의 정수를 나타낸다) (Wherein m1, m2 and m3 are each independently an integer of 1 or 2 and n is an integer of 0 to 10)

또한, 상기 일반식(1)의 페놀 수지(a1)(이하, 단지 페놀 수지(a1)라고도 한다) 중에서는, 페놀 수지(a1)의 골격 중의 적어도 일부에, 2개의 수산기를 갖는 벤젠환(바람직하게는 레조르신 구조)을 갖는 페놀 수지가 보다 바람직하다.In the phenol resin (a1) of the general formula (1) (hereinafter also simply referred to as the phenol resin (a1)), a benzene ring having two hydroxyl groups Is a phenol resin having a resorcin structure).

페놀 수지(a1) 중의 전체 페놀성 수산기수에 대한, 2개의 수산기를 갖는 벤젠환(바람직하게는 레조르신 구조) 중의 수산기의 수의 비율이 5∼100%가 되는 비율이 바람직하다. 이 비율은 페놀 수지(a1)의 합성에 있어서 사용한, 페놀과 디히드록시벤젠(바람직하게는 레조르신)의 몰비율로부터 산출되는 비율이고, 사용한 페놀의 몰수 d1, 디히드록시벤젠(바람직하게는 레조르신)의 몰수를 d2라고 하면, 다음 식에 의해 산출된다.The ratio of the number of hydroxyl groups in the two benzene rings having a hydroxyl group (preferably a resorcin structure) to the total number of phenolic hydroxyl groups in the phenol resin (a1) is preferably 5 to 100%. This ratio is calculated from the molar ratio of phenol to dihydroxybenzene (preferably resorcinol) used in the synthesis of the phenol resin (a1). The molar ratio d1 of the phenol used, the dihydroxybenzene Resorcin) is d2, it is calculated by the following equation.

{(d2×2)/(d1+d2×2)}×100{(d2x2) / (d1 + d2x2)} x100

페놀 수지(a1)로서는 평균 분자량은 500∼15,000 정도의 페놀 수지를 사용하는 것이 바람직하다.As the phenol resin (a1), it is preferable to use a phenol resin having an average molecular weight of about 500 to 15,000.

또한, 이들 일반식(1)의 페놀 수지(a1)는 공지 문헌에 기재된 방법에 따라서 제조해서 얻을 수 있고, 예를 들면 일본특허공개 평 8-143648호 공보, 일본특허공개 평7-292066호 공보 등의 기재에 따라서, 또는 그것에 준하여 용이하게 얻을 수 있다. 즉, 비스(메톡시메틸)비페닐 또는 비스(클로로메틸)비페닐 등과 페놀 또는/및 레조르신을 반응시킴으로써 얻을 수 있다.The phenol resin (a1) of the general formula (1) can be obtained by producing the phenol resin (a1) according to the methods described in the known documents, and examples thereof include those disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 8-143648 and 7-292066 And the like, or can be easily obtained therefrom. That is, it can be obtained by reacting phenol or / and resorcin with bis (methoxymethyl) biphenyl or bis (chloromethyl) biphenyl.

페놀 수지(a1)의 수산기 당량의 바람직한 범위는 70∼170g/eq 정도, 경우에 의해 102∼140g/eq정도이다. 페놀 수지의 수산기 당량의 측정은 통상의 방법에 의해 행할 수 있다.The preferred range of the hydroxyl group equivalent of the phenol resin (a1) is about 70 to 170 g / eq, and in some cases about 102 to 140 g / eq. The hydroxyl group equivalent of the phenol resin can be measured by a conventional method.

상기의 페놀 수지(a)와 반응시키는 분자 중에 알콜성 수산기와 1개의 에폭시기를 갖는 화합물(b)로서는, 분자 중에 알콜성 수산기와 1개의 에폭시기를 갖는 화합물이면, 공지의 여러가지의 것을 사용할 수 있고, 예를 들면 글리시돌 또는 에틸렌글리콜모노글리시딜에테르 등의 탄소수 2∼4개의 글리콜의 모노글리시딜에테르 등이 열거된다. 본 발명에서는 특히 글리시돌이 바람직하다.As the compound (b) having an alcoholic hydroxyl group and an epoxy group in the molecule to be reacted with the phenol resin (a), any known compound may be used as long as it is a compound having an alcoholic hydroxyl group and an epoxy group in the molecule, And monoglycidyl ethers of glycols having 2 to 4 carbon atoms such as glycidol or ethylene glycol monoglycidyl ether. In the present invention, glycidol is particularly preferable.

페놀 수지(a)와 화합물(b)의 반응에 있어서는, 바람직하게는 화합물(b)을 페놀 수지(a)의 페놀성 수산기 1당량에 대하여, 0.1∼0.9몰, 보다 바람직하게는 0.1∼0.8몰, 더욱 바람직하게는 0.2∼0.8몰이 되는 비율로 반응시킨다. 또한, 경우에 의해, 화합물(b)을 페놀 수지(a)의 페놀성 수산기 1당량에 대하여, 0.1∼0.7몰의 비율 또는 0.1∼0.6몰의 비율, 또한 0.2∼0.6몰이 되는 비율로 반응시키는 것은 매우 바람직하다.In the reaction of the phenol resin (a) with the compound (b), the compound (b) is preferably used in an amount of 0.1 to 0.9 mol, more preferably 0.1 to 0.8 mol, per mol of the phenolic hydroxyl group of the phenol resin (a) , And more preferably 0.2 to 0.8 mol. In some cases, the compound (b) may be reacted at a ratio of 0.1 to 0.7 mol, or 0.1 to 0.6 mol, and preferably 0.2 to 0.6 mol, based on 1 equivalent of the phenolic hydroxyl group of the phenol resin (a) Very desirable.

화합물(b)의 양이 지나치게 많으면, 다음 다염기산 산무수물(c)을 반응시켜서 얻어지는 본 발명의 수지 X의 수용성이 지나치게 높게 되어서, 수지 X를 배합한 수지 조성물의 경화물의 내수성이 저하하는 경우가 있다.If the amount of the compound (b) is excessively high, the water-solubility of the resin X of the present invention obtained by reacting the polybasic acid anhydride (c) is excessively high, and the water resistance of the cured product of the resin composition containing the resin X may be lowered .

이 반응에서는, 화합물(b)의 에폭시기가 페놀 수지(a)의 페놀성 수산기에 개환 부가하고, 에테르 결합함과 아울러 2급의 알콜성 수산기가 형성된다.In this reaction, the epoxy group of the compound (b) is ring-opened to the phenolic hydroxyl group of the phenol resin (a) to form an ether bond, and a secondary alcoholic hydroxyl group is formed.

페놀 수지(a)와 화합물(b)의 반응에 있어서는 페놀 수지(a)의 모든 페놀성 수산기가 화합물(b)과 반응하는(이하, 알콜 변성이라고도 한다) 것은 아니고, 일부미반응의 페놀성 수산기가 잔존하도록 반응시키는 것이 바람직하다. 그 결과, 바람직한 중간체 X는 미반응의 페놀성 수산기와 알콜성 수산기의 양자를 포함한다. 중간체 X 중에 잔존하는 페놀성 수산기의 비율은 출발 물질의 페놀 수지(a)의 페놀성 수산기의 총량(중간체 X 중에서는, 알콜 변성된 페놀성 수산기와 잔존 페놀성 수산기의 총량)을 1이라고 하면, 그것에 대해서 0.1∼0.9정도의 비율이고, 바람직하게는 0.2∼0.9정도의 비율이며, 더욱 바람직하게는, 0.3∼0.9정도의 비율이다.In the reaction between the phenol resin (a) and the compound (b), not all of the phenolic hydroxyl groups of the phenol resin (a) react with the compound (b) (hereinafter also referred to as alcohol denaturation) Is left to remain. As a result, the preferred intermediate X includes both an unreacted phenolic hydroxyl group and an alcoholic hydroxyl group. The ratio of the phenolic hydroxyl groups remaining in the intermediate X is 1 when the total amount of the phenolic hydroxyl groups of the phenolic resin (a) of the starting material (the total amount of the alcohol-modified phenolic hydroxyl group and the residual phenolic hydroxyl group in the intermediate X) And the ratio thereof is about 0.1 to 0.9, preferably about 0.2 to 0.9, and more preferably about 0.3 to 0.9.

또한, 중간체 X의 잔존 페놀성 수산기는 수지 Y에 있어서도 그대로 유지된다. 그것은, 상기 중간체 X에, 이어서 반응되는 다염기산 무수물(c)과의 반응에 있어서는 다염기산 무수물(c)이 상기 중간체 X 중의 알콜성 수산기와 반응하고, 페놀성 수산기에는 반응하지 않기 때문이다.In addition, the remaining phenolic hydroxyl group of the intermediate X is retained in the resin Y as it is. This is because the polybasic acid anhydride (c) reacts with the alcoholic hydroxyl group in the intermediate X and does not react with the phenolic hydroxyl group in the reaction of the intermediate X with the polybasic acid anhydride (c) which is subsequently reacted.

중간체 X의 제조에 있어서, 페놀 수지(a)와 화합물(b)의 반응에는 용제를 사용할 수 있다. 사용하는 용제로서는 공지의 것을 사용할 수 있고, 예를 들면 메틸에틸케톤, 시클로헥사논 등의 케톤류; 톨루엔, 크실렌, 테트라메틸벤젠 등의 방향족 탄화수소류; 디프로필렌글리콜디메틸에테르, 디프로필렌글리콜디메틸에테르, 디프로필렌글리콜디메틸에테르, 디프로필렌글리콜디에틸에테르 등의 글리콜에테르류; 아세트산 에틸, 에틸렌글리콜모노에틸에테르아세테이트, 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트, 디에틸렌글리콜모노에틸에테르아세테이트, 디에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트, 디프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트, 부틸셀로솔브아세테이트, 카르비톨아세테이트 등의 에스테르류; 옥탄, 데칸 등의 지방족 탄화수소; 석유에테르, 석유나프타, 수첨 석유 나프타, 솔벤트나프타 등의 석유계 용제; 등의 유기 용제류를 들 수 있다.In the preparation of the intermediate X, a solvent may be used for the reaction of the phenol resin (a) and the compound (b). As the solvent to be used, known solvents can be used, and examples thereof include ketones such as methyl ethyl ketone and cyclohexanone; Aromatic hydrocarbons such as toluene, xylene, and tetramethylbenzene; Glycol ethers such as dipropylene glycol dimethyl ether, dipropylene glycol dimethyl ether, dipropylene glycol dimethyl ether, and dipropylene glycol diethyl ether; But are not limited to, ethyl acetate, ethylene glycol monoethyl ether acetate, ethylene glycol monobutyl ether acetate, diethylene glycol monoethyl ether acetate, diethylene glycol monobutyl ether acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate, dipropylene glycol monomethyl ether acetate, Esters such as rosorb acetate and carbitol acetate; Aliphatic hydrocarbons such as octane and decane; Petroleum solvents such as petroleum ether, petroleum naphtha, hydrogenated naphtha and solvent naphtha; And the like.

또한, 카르비톨(메타)아크릴레이트, 펜타에리스리톨테트라(메타)아크릴레이트, 트리메틸올프로판(메타)아크릴레이트, 트리스(히드록시에틸)이소시아누레이트 트리(메타)아크릴레이트, 디펜타에리스리톨헥사(메타)아크릴레이트 등의 반응성 단량체류를 사용하는 것도 가능하다.Further, it is also possible to use at least one monomer selected from the group consisting of carbitol (meth) acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, trimethylolpropane (meth) acrylate, tris (hydroxyethyl) isocyanurate tri (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (Meth) acrylate can also be used.

또한, 페놀 수지(a)과 화합물(b)의 반응을 촉진하기 위해서 촉매를 사용하는 것이 바람직하고, 이 경우의 에폭시기와 페놀성 수산기의 반응 촉매로서는 공지의 것을 사용할 수 있다. 이러한 촉매로서는, 예를 들면 트리에틸아민, 벤질디메틸아민, 메틸트리에틸암모늄클로라이드, 벤질트리메틸암모늄브로마이드, 벤질트리메틸 암모늄아이오다이드, 트리페닐포스핀, 트리페닐스티빈, 옥탄산 크롬, 옥탄산 지르코늄 등을 들 수 있다. 이러한 촉매의 사용량은 반응 원료 혼합물에 대하여, 바람직하게는 0.01∼1중량%이다. 반응 온도는 바람직하게는 60∼150℃이다. 또한, 반응 시간은 바람직하게는 5∼24시간이다. 이렇게 하여, 중간체 X를 얻을 수 있다.Further, it is preferable to use a catalyst in order to accelerate the reaction between the phenol resin (a) and the compound (b), and in this case, a known catalyst for reaction between the epoxy group and the phenolic hydroxyl group can be used. Examples of such catalysts include triethylamine, benzyldimethylamine, methyltriethylammonium chloride, benzyltrimethylammonium bromide, benzyltrimethylammonium iodide, triphenylphosphine, triphenylstibine, chromium octanoate, zirconium octanoate And the like. The amount of such a catalyst to be used is preferably 0.01 to 1% by weight based on the reaction mixture. The reaction temperature is preferably 60 to 150 占 폚. The reaction time is preferably 5 to 24 hours. In this way, intermediate X can be obtained.

수지 Y는 상기한 바와 같이 해서 얻은 중간체 X의 수산기(알콜성 수산기)에 상기 다염기산 무수물(c)을 더 반응시켜서 얻어진다. 상기 다염기산 무수물(c)로서는 무수 말레산, 무수 숙신산, 무수 이타콘산, 무수 프탈산, 테트라하이드로 무수 프탈산, 헥사하이드로 무수 프탈산, 엔도메틸렌테트라하이드로 무수 프탈산, 메틸테트라하이드로무수 프탈산, 무수 클로렌드산 등의 2염기 산무수물, 무수 트리멜리트산, 무수 피로멜리트산, 벤조페논테트라카르복실산 무수물, 비페닐테트라카르복실산 무수물 등의 다염기산 무수물이 열거된다. 통상, 1무수물이 바람직하고, 특히, 무수 트리멜리트산, 테트라히드로무수 프탈산, 무수 숙신산, 헥사하이드로 무수 프탈산 등의 카르복시기를 2개 또는 3개 갖는 다염기산의 무수물이 바람직하고, 보다 바람직하게는 탄소수 2∼6개의 탄화수소 상에 카르복시기를 2개 또는 3개 갖는 다염기산의 1무수물이고, 더욱 바람직하게는 탄소 6원환 상에 카르복시기를 2개 또는 3개 갖는 다염기산의 1무수물이다. 상기 탄소 6원환은 방향환이어도 또한 지방족환이어도 된다. 가장 바람직하게는 트리멜리트산 무수물 또는 테트라히드로 무수 프탈산이다.Resin Y is obtained by further reacting the polybasic acid anhydride (c) with the hydroxyl group (alcoholic hydroxyl group) of the intermediate X obtained as described above. Examples of the polybasic acid anhydride (c) include maleic anhydride, succinic anhydride, itaconic anhydride, phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, endomethylenetetrahydrophthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride, Polybasic acid anhydrides such as dibasic acid anhydride, anhydrous trimellitic acid, anhydrous pyromellitic acid, benzophenonetetracarboxylic acid anhydride, and biphenyltetracarboxylic acid anhydride. In general, monoanhydrides are preferable, and anhydrides of polybasic acids having two or three carboxyl groups such as trimellitic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, succinic anhydride, and hexahydrophthalic anhydride are preferable, and more preferred are anhydrides of 2 Is a monobutic acid of a polybasic acid having 2 or 3 carboxyl groups on 6 hydrocarbons, and more preferably a monobutic acid of a polybasic acid having 2 or 3 carboxyl groups on a 6-membered carbon ring. The carbon 6-membered ring may be an aromatic ring or an aliphatic ring. Most preferably trimellitic anhydride or tetrahydrophthalic anhydride.

수지 Y의 제조에는, 통상 상기 중간체 X 중의 수산기(알콜성 수산기) 1당량에 대하여 포화 또는 불포화 다염기산 무수물(c)을 0.05∼0.9몰이 되는 비율로 반응시킨다.In the production of Resin Y, a saturated or unsaturated polybasic acid anhydride (c) is usually reacted at a ratio of 0.05 to 0.9 mol based on 1 equivalent of the hydroxyl group (alcoholic hydroxyl group) in the intermediate X.

바람직하게는 상기의 포화 또는 불포화 다염기산 무수물(c)을, 중간체 X 중의 수산기(알콜성 수산기) 1당량에 대하여, 0.1∼0.8몰, 보다 바람직하게는 0.1∼0.7몰의 비율로 반응시킨다. 반응시키는 다염기산 무수물(c)의 양(부가량)이 지나치게 적으면, 산성기의 비율이 적기 때문에 알칼리에 대한 용해성이 나빠지고, 충분한 알칼리 현상성이 얻어지지 않는 경우가 있고, 지나치게 많으면, 경화 도막의 전기 특성이 저하해버리는 경우가 있다. Preferably, the saturated or unsaturated polybasic acid anhydride (c) is reacted at a ratio of 0.1 to 0.8 mol, more preferably 0.1 to 0.7 mol, per 1 equivalent of the hydroxyl group (alcoholic hydroxyl group) in the intermediate X. If the amount (added amount) of the polybasic acid anhydride (c) to be reacted is too small, the solubility in alkali is deteriorated due to the small proportion of the acidic groups, and sufficient alkali developability may not be obtained in some cases. The electrical characteristics of the semiconductor device may be deteriorated.

또한, 얻어진 수지 Y 중에는, 통상 중간체 X 중에 잔존하는 페놀성 수산기가 그대로 잔존한다. 상기 수지 Y 중에 잔존하는 페놀성 수산기수의 원료 페놀 수지(a)의 페놀성 수산기수(전체 페놀성 수산기수)에 대한 비율은 통상, 10∼90% 정도이고, 바람직하게는 20∼90%이고, 보다 바람직하게는 30∼80%이다.Further, in the obtained resin Y, the phenolic hydroxyl group remaining in the intermediate X usually remains as it is. The ratio of the phenolic resin (a) to the phenolic hydroxyl group (the total number of phenolic hydroxyl groups) of the phenolic hydroxyl group remaining in the resin Y is usually about 10 to 90%, preferably 20 to 90% , And more preferably 30 to 80%.

또한, 상기의 상기 수지 Y 중에 잔존하는 페놀성 수산기수의 원료 페놀 수지(a)의 페놀성 수산기수(전체 페놀성 수산기수)에 대한 비율은 반응이 대략 정량적으로 진행한다는 점에서 원료의 투입량으로부터 산출할 수 있다.The ratio of the phenolic resin (a) of the raw phenolic hydroxyl group remaining in the resin Y to the phenolic hydroxyl group (total phenolic hydroxyl group number) of the resin Y is such that the reaction proceeds approximately quantitatively, Can be calculated.

수지 Y를 감광성 수지 조성물에 사용한 경우, 잔존하는 페놀성 수산기가 많은 수지 Y는 경화물의 내열성의 향상에 유리하다고 판단되었다.When the resin Y was used in the photosensitive resin composition, it was judged that the resin Y having a large amount of phenolic hydroxyl groups remained favorable for improving the heat resistance of the cured product.

또한, 수지 Y에는 상기의 다염기산 무수물(c)과의 반응에서 도입된 카르복시 기가 존재한다. 그 결과, 본 발명의 바람직한 수지 Y는 상기의 잔존 페놀성 수산기, 카르복시기 및 다염기산 무수물(c)과 반응하지 않고 남은 알콜성 수산기의 3자를 포함하는 수지이다.In addition, in the resin Y, there is a carboxyl group introduced in the reaction with the above polybasic acid anhydride (c). As a result, the preferred resin Y of the present invention is a resin containing the remaining three alcoholic hydroxyl groups without reacting with the residual phenolic hydroxyl group, carboxyl group and polybasic acid anhydride (c).

본 발명의 바람직한 수지 Y를 예시하면 하기와 같다.Preferred examples of the resin Y of the present invention are as follows.

I.페놀 수지(a)의 수산기 1당량에 대하여, 분자 중에 알콜성 수산기와 1개의 에폭시기를 갖는 화합물(b)을 0.1∼0.9몰이 되는 비율로 반응시켜서 얻어지는 반응 생성물 X 중의 수산기(알콜성 수산기)에, 반응 생성물 X 중의 수산기(알콜성 수산기)의 1당량에 대하여, 포화 및/또는 불포화 다염기산 무수물(c)을 0.05∼0.9몰이 되는 비율로 더 반응시켜서 얻어지는 알칼리 현상형 수지.(Hydroxyl group) in the reaction product X obtained by reacting the compound (b) having an alcoholic hydroxyl group and an epoxy group in the molecule in a ratio of 0.1 to 0.9 mole based on 1 equivalent of the hydroxyl group of the phenol resin (a) (C) in an amount of 0.05 to 0.9 mol based on 1 equivalent of the hydroxyl group (alcoholic hydroxyl group) in the reaction product X. The alkali developing resin is obtained by reacting the unsaturated polybasic acid anhydride (c)

II.분자 중에 알콜성 수산기와 1개의 에폭시기를 갖는 화합물(b)이 글리시돌 또는 탄소수 2∼4개의 글리콜의 모노글리시딜에테르인 상기 I에 기재된 알칼리 현상형 수지.(II) The alkali-developing resin according to (I), wherein the compound having an alcoholic hydroxyl group and an epoxy group in the molecule (b) is a glycidol or a monoglycidyl ether of a glycol having 2 to 4 carbon atoms.

III.상기 화합물(b)이 글리시돌인 상기 II에 기재된 알칼리 현상형 수지.(III) The alkali-developable resin according to (II), wherein the compound (b) is glycidol.

IV.페놀 수지(a)가 크레졸 골격 또는 비페닐 골격을 포함하는 페놀 수지인 상기 I∼III 중 어느 하나에 기재된 알칼리 현상형 수지.IV. The alkali-developable resin according to any one of the above-mentioned I to III, wherein the phenol resin (a) is a phenol resin containing a cresol skeleton or a biphenyl skeleton.

V.비페닐 골격을 포함하는 페놀 수지가 상기 일반식(1)으로 나타내어지는 페놀 수지(a1)인 상기 IV에 기재된 알칼리 현상형 수지.V. The alkali-developable resin according to the above IV, wherein the phenol resin containing a biphenyl skeleton is the phenol resin (a1) represented by the general formula (1).

VI.상기 페놀 수지(a1)가 레조르신 구조를 포함하고, 수산기 당량이 70∼140g/eq인 상기 V에 기재된 알칼리 현상형 수지.VI. The alkali-developable resin according to the above V, wherein the phenolic resin (a1) comprises a resorcin structure and the hydroxyl equivalent is 70 to 140 g / eq.

VII.상기 다염기산 무수물(c)이 카르복시기를 2개 또는 3개 갖는 다염기산의 무수물인 상기 I∼VI 중 어느 하나에 기재된 알칼리 현상형 수지.VII. The alkali-developing resin according to any one of the above-mentioned I-VI, wherein the polybasic acid anhydride (c) is an anhydride of a polybasic acid having two or three carboxyl groups.

VIII.카르복시기를 2개 또는 3개 갖는 다염기산의 무수물이 무수 트리멜리트산, 테트라히드로 무수 프탈산, 무수 숙신산 및 헥사하이드로 무수 프탈산으로 이루어진 군으로부터 선택되는 적어도 하나인 상기 VII에 기재된 알칼리 현상형 수지.VIII The alkali-developable resin according to the above VII, wherein the anhydride of the polybasic acid having two or three carboxyl groups is at least one selected from the group consisting of trimellitic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, succinic anhydride and hexahydrophthalic anhydride.

IX.카르복시기를 2개 또는 3개 갖는 다염기산의 무수물이 탄소 6원환 상에 카르복시기를 2개 또는 3개 갖는 다염기산의 무수물인 상기 VIII에 기재된 알칼리 현상형 수지IX An alkali developing resin as described in VIII above, wherein the anhydride of a polybasic acid having two or three carboxyl groups is an anhydride of a polybasic acid having two or three carboxyl groups on a carbon six-

X.탄소 6원환 상에 카르복시기를 2개 또는 3개 갖는 다염기산의 무수물이 트리멜리트산 무수물 또는 테트라히드로 무수 프탈산인 상기 IX에 기재된 알칼리 현상형 수지.X. The alkali-developable resin according to the above IX wherein the anhydride of the polybasic acid having two or three carboxyl groups on the carbon 6-membered ring is trimellitic anhydride or tetrahydrophthalic anhydride.

본 발명은 또한, (A) 본 발명의 수지 Y, (B) 에폭시 수지, (C) 광중합 개시제, 및 (D) 희석제를 함유하는 것을 특징으로 하는 감광성 수지 조성물에도 관한 것이다. 희석제로서, 중합성 불포화 화합물, 예를 들면 (메타)아크릴레이트 화합물을 포함하는 형태가 특히 바람직하다.The present invention also relates to a photosensitive resin composition comprising (A) the resin Y of the present invention, (B) an epoxy resin, (C) a photopolymerization initiator, and (D) a diluent. As the diluent, a form containing a polymerizable unsaturated compound such as a (meth) acrylate compound is particularly preferable.

본 발명의 감광성 수지 조성물에 포함되는 수지 Y의 양은 감광성 수지 조성물의 총량에 대하여 10∼80중량% 정도가 바람직하고, 보다 바람직하게는, 15∼60 중량%정도이며, 더욱 바람직하게는 30∼60중량%이다.The amount of the resin Y contained in the photosensitive resin composition of the present invention is preferably about 10 to 80% by weight, more preferably about 15 to 60% by weight, and still more preferably 30 to 60% by weight based on the total amount of the photosensitive resin composition Weight%.

본 발명의 감광성 수지 조성물에 사용하는 에폭시 수지(B)로서는 통상 1분자 중에 에폭시기를 2개 이상 갖는 것이 사용된다.As the epoxy resin (B) used in the photosensitive resin composition of the present invention, those having two or more epoxy groups in one molecule are usually used.

예를 들면, 비페닐노볼락형 에폭시 수지, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 수첨 비스페놀 A형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지, 페놀아랄킬형 에폭시 수지, 디시클로펜타디엔-페놀노볼락형 에폭시 수지, 페놀-크레졸 노볼락 공축합형 에폭시 수지, 비스페놀 A 노볼락형 에폭시 수지, 비스페놀 F 노볼락형 에폭시 수지 또는 그들의 할로겐화 에폭시 화합물, 트리페닐올메탄형 에폭시 수지, 알킬 치환 트리메틸올메탄형 에폭시 수지, 테트라페닐올에탄형 에폭시 수지 등의 다관능 페놀에 에피클로로히드린을 반응시켜서 얻어지는 에폭시 수지, 다관능 히드록시 나프탈렌류에 에피클로로히드린을 반응시켜서 얻어지는 에폭시 수지, 실리콘 변성 에폭시 수지, ε-카프로락톤 변성 에폭시 수지, 에피클로로히드린과 1급 또는 2급 아민과의 반응에 의해 얻어지는 글리시딜아민형 에폭시 수지, 트리글리시딜이소시아네이트 등의 복소환식 에폭시 수지 등이 열거된다. 이들 에폭시 수지의 1종 또는 2종 이상을 병용해도 된다. 또한, 유리 전위점(Tg)을 확보한 상에서 인성을 향상시키는 목적으로부터 이소시아네이트 변성 에폭시 수지를 사용하는 것 또는 난연성 부여의 관점으로부터 인 함유 에폭시 수지 등을 사용하는 것도 유효하다.Examples of the epoxy resin include biphenyl novolak type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, hydrogenated bisphenol A type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, phenol aralkyl type epoxy resin , Dicyclopentadiene-phenol novolak type epoxy resin, phenol-cresol novolac co-condensation type epoxy resin, bisphenol A novolak type epoxy resin, bisphenol F novolak type epoxy resin or halogenated epoxy compound thereof, triphenylol methane type Epoxy resins obtained by reacting polyfunctional phenols such as epoxy resins, alkyl-substituted trimethylolmethane type epoxy resins and tetraphenylol ethane type epoxy resins with epichlorohydrin, polyfunctional hydroxy naphthalenes are reacted with epichlorohydrin Epoxy resin obtained, silicone-modified epoxy resin,? -Caprolactone-modified epoxy resin, This gave Lorient and primary or glycidyl amine-type epoxy resin obtained by the reaction of a secondary amine, such as triglycidyl heterocyclic epoxy resins such as glycidyl isocyanates are exemplified. One or more of these epoxy resins may be used in combination. It is also effective to use an isocyanate-modified epoxy resin for the purpose of improving the toughness at which the glass transition point (Tg) is ensured or to use a phosphorus-containing epoxy resin or the like from the viewpoint of imparting flame retardancy.

상기 에폭시 수지(B)는 밀착성, 내열성, 내도금성 등의 솔더 레지스트로서의 여러가지 특성을 향상시키기 위해서, 열경화 성분으로서 조성물 중에 배합되고, 프린트 배선판 등의 제조에 있어서 희알카리 수용액으로 현상한 후, 가열에 의해 수지를 경화시켜서, 보다 우수한 배선판으로의 밀착성, 내열성, 내도금성 등을 부여한다.The epoxy resin (B) is blended in the composition as a thermosetting component in order to improve various properties as a solder resist such as adhesion, heat resistance and resistance to electrolysis, and after development with a dilute aqueous alkali solution in the production of a printed wiring board and the like, The resin is cured by the adhesive agent to give a more excellent adhesion to the wiring board, heat resistance, and resistance to electrolysis.

에폭시 수지(B)는 단독 또는 2종 이상의 혼합물로서 사용되고, 본 발명의 감광성 수지 조성물에 포함되는 에폭시 수지의 양은 조성물의 총량에 대하여, 통상 1∼50중량% 정도, 바람직하게는 3∼45중량% 정도, 보다 바람직하게는 5∼45중량% 정도이다.The epoxy resin (B) is used alone or as a mixture of two or more kinds. The amount of the epoxy resin contained in the photosensitive resin composition of the present invention is usually about 1 to 50% by weight, preferably 3 to 45% , More preferably about 5 to 45 wt%.

상기 열경화 성분으로서의 에폭시 수지(B)를 사용하는 경우에는, 밀착성, 내약품, 내열성 등의 특성을 보다 한층 향상시키기 위해서 에폭시 수지 경화제를 병용하는 것이 바람직하다. 이러한 에폭시 수지 경화제로서는, 이미다졸 유도체, 페놀 유도체, 디시안디아미드, 디시안디아미드 유도체, 히드라지드 유도체, 아민류, 산무수물 등이 열거된다. 이들 경화제는 1종류 또는 2종류 이상을 혼합해서 사용해도 된다. 경화제의 사용량은 상기 에폭시 수지의 에폭시기 1당량에 대하여 경화제의 활성 수소량이 0.5∼1.2당량이 되는 비율이 바람직하다.In the case of using the epoxy resin (B) as the thermosetting component, it is preferable to use an epoxy resin curing agent in combination in order to further improve the properties such as adhesion, chemical resistance and heat resistance. Examples of such epoxy resin curing agents include imidazole derivatives, phenol derivatives, dicyandiamide, dicyandiamide derivatives, hydrazide derivatives, amines, and acid anhydrides. These curing agents may be used alone or in combination of two or more. The amount of the curing agent to be used is preferably such that the amount of active hydrogen of the curing agent is 0.5 to 1.2 equivalents based on 1 equivalent of the epoxy group of the epoxy resin.

본 발명의 감광성 수지 조성물에 사용하는 광중합 개시제(C)의 구체예로서는 벤조인류, 아세토페논류, 안트라퀴논류, 티오크산톤류, 벤조페논류 등이 열거되고, 예를 들면 벤조인류에서는 벤조인, 벤조인메틸에테르, 벤조인이소프로필에테르 등의 유도체, 아세토페논류에서는 아세토페논, 2,2-디메톡시-2-페닐아세토페논, 2,2-디에톡시-2-페닐아세토페논, 1,1-디클로로아세토페논, 1-히드록시시클로헥실페닐케톤, 2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르폴리노프로판-1-온, N,N-디메틸아미노아세토페논 등의 유도체, 안트라퀴논류에서는 2-메틸안트라퀴논, 2-클로로안트라퀴논, 2-에틸안트라퀴논, 2-t-부틸안트라퀴논, 2-아밀안트라퀴논, 2-아미노안트라퀴논 등의 유도체, 티오크산톤류에서는 티오크산톤, 2,4-디메틸티오크산톤, 2,4-디에틸티오크산톤, 2-클로로티오크산톤, 2-이소프로필티오크산톤, 2,4-디이소프로필티오크산톤 등의 유도체, 벤조페논류에서는 벤조페논, 4-벤조일-4'-메틸디페닐술파이드, 4,4'―디클로로벤조페논, N,N-디메틸아미노벤조페논, 메틸벤조페논, 4,4'-비스디에틸아미노벤조페논, 미힐러케톤, 4-벤조일-4'-메틸디페닐술파이드 등의 유도체, 2,4,6-트리메틸벤조일디페닐포스핀옥사이드 등이 있고, 단독 또는 2종류 이상을 조합시켜서 사용할 수 있다.Specific examples of the photopolymerization initiator (C) used in the photosensitive resin composition of the present invention include benzoins, acetophenones, anthraquinones, thioxanthones and benzophenones, and, for example, benzoin, Benzoin methyl ether, benzoin isopropyl ether and the like, acetophenones such as acetophenone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, 2,2-diethoxy- -Dichloroacetophenone, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholinopropane-1-one, N, N- Derivatives such as 2-methyl anthraquinone, 2-chloro anthraquinone, 2-ethyl anthraquinone, 2-t-butyl anthraquinone, 2-amylanthraquinone and 2-amino anthraquinone in the case of anthraquinones, In the acid type, thioxanthone, 2,4-dimethylthioxanthone, 2,4-diethylthioxanthone, 2-chlorothioic acid 2-isopropylthioxanthone, and 2,4-diisopropylthioxanthone; benzophenones such as benzophenone, 4-benzoyl-4'-methyldiphenylsulfide, 4,4'-dichloro Derivatives such as benzophenone, N, N-dimethylaminobenzophenone, methylbenzophenone, 4,4'-bisdiethylaminobenzophenone, Michler's ketone and 4-benzoyl-4'-methyldiphenyl sulfide, 4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide, and the like, which may be used alone or in combination of two or more.

또한, 광중합 개시제(C)는 3급 아민류와 같은 공지의 광증감제를 병용해도 된다. 구체적으로는, 트리에탄올아민, 트리프로판올아민, 트리에틸아민, N,N-디메틸아미노산벤조산 에틸에스테르, N, N-디메틸아미노벤조산 이소아밀에스테르, 펜틸-4-디메틸아미노벤조에이트 등이 열거된다.A known photosensitizer such as tertiary amines may be used in combination with the photopolymerization initiator (C). Specific examples thereof include triethanolamine, tripropanolamine, triethylamine, N, N-dimethylamino benzoic acid ethyl ester, N, N-dimethylaminobenzoic acid isoamyl ester, pentyl-4-dimethylaminobenzoate and the like.

상기의 광중합 개시제(C)는 1종류 또는 2종류 이상 혼합하고, 또한 공지의 광증감제를 병용해서 사용해도 된다. 광중합 개시제(C)의 사용 비율은 감광성 수지 조성물의 총량 중에 0.5∼20중량% 정도이고, 바람직하게는 1.0∼15중량% 정도이다.The above-mentioned photopolymerization initiator (C) may be used alone or in combination of two or more, and a known photosensitizer may be used in combination. The use ratio of the photopolymerization initiator (C) is about 0.5 to 20% by weight, preferably about 1.0 to 15% by weight, based on the total amount of the photosensitive resin composition.

본 발명의 감광성 수지 조성물에는 희석제(D)로서 중합성 불포화 화합물 및/또는 용제를 사용한다. 희석제(D)로서 사용되는 중합성 불포화 화합물 및/또는 용제는 활성 에너지 광선에 대한 경화성 및/또는 감광성 수지 조성물을 레지스트 잉크로서 사용할 경우의 도포성을 향상시키는 목적으로 사용하는 것이다.A polymerizable unsaturated compound and / or a solvent is used as the diluent (D) in the photosensitive resin composition of the present invention. The polymerizable unsaturated compound and / or the solvent used as the diluent (D) is used for the purpose of improving the curability against the active energy ray and / or improving the applicability in the case of using the photosensitive resin composition as a resist ink.

이러한 중합성 불포화 화합물로서는 활성 에너지 광선 경화성이 있는 모노머류가 바람직하고, 2-히드록시에틸아크릴레이트, 2-히드록시프로필아크릴레이트, N-피롤리돈, N-아크릴로일모르폴린, N,N-디메틸아크릴아미드, N,N-디에틸아크릴아미드, N,N-디메틸아미노에틸아크릴레이트, N,N-디메틸아미노프로필아크릴레이트, 메톡시폴리에틸렌글리콜아크릴레이트, 에톡시폴리에틸렌글리콜아크릴레이트, 멜라민아크릴레이트, 페녹시에틸아크릴레이트, 페녹시프로필아크릴레이트, 에틸렌글리콜디아크릴레이트, 디프로필렌글리콜디아크릴레이트, 폴리디프로필렌글리콜디아크릴레이트, 트리메틸올프로판트리아크릴레이트, 펜타에리스리톨트리아크릴레이트, 펜타에리스리톨테트라아크릴레이트, 디펜타에리스리톨헥사아크릴레이트, 글리세린디아크릴레이트, 이소보로닐아크릴레이트, 디시클로펜테닐옥시에틸아크릴레이트 및 이들에 대응하는 각종 메타크릴레이트 등의 (메타)아크릴레이트 화합물이 열거된다. 이들 중합성 불포화 화합물의 1종 또는 2종 이상을 병용해도 된다.As such polymerizable unsaturated compounds, monomers having an active energy ray-curable property are preferable, and 2-hydroxyethyl acrylate, 2-hydroxypropyl acrylate, N-pyrrolidone, N-acryloylmorpholine, N, N, N-dimethylaminoethyl acrylate, N, N-dimethylaminopropylacrylate, methoxypolyethylene glycol acrylate, ethoxypolyethylene glycol acrylate, melamine Acrylate, phenoxyethyl acrylate, phenoxypropyl acrylate, ethylene glycol diacrylate, dipropylene glycol diacrylate, polydipropylene glycol diacrylate, trimethylolpropane triacrylate, pentaerythritol triacrylate, penta Erythritol tetraacrylate, dipentaerythritol hexaacrylate, glycerin diacrylate (Meth) acrylate compounds such as isobornyl acrylate, dicyclopentenyloxyethyl acrylate, and various methacrylates corresponding thereto. One or more of these polymerizable unsaturated compounds may be used in combination.

통상, 상기의 (메타)아크릴레이트 화합물이 바람직하고, (메타)아크릴레이트 화합물 중에서는 다관능 (메타)아크릴레이트 화합물이 바람직하고, 통상 2∼6관능 (메타)아크릴레이트 화합물이 보다 바람직하다.The (meth) acrylate compound is preferably the above, and among the (meth) acrylate compounds, a polyfunctional (meth) acrylate compound is preferable, and a 2- to 6-functional (meth) acrylate compound is more preferable.

본 발명에 있어서는 감광성 수지 조성물로 하기 위해서, 중합성 불포화 화합물을 포함하는 형태가 바람직하다.In the present invention, a form containing a polymerizable unsaturated compound is preferable in order to form a photosensitive resin composition.

상기 중합성 불포화 화합물의 배합량은 수지 Y의 총량 100중량부에 대하여, 통상 3∼200중량부, 바람직하게는 5∼200중량부, 보다 바람직하게는 5∼100중량부정도, 더욱 바람직하게는 7∼50중량부이다.The blending amount of the polymerizable unsaturated compound is usually 3 to 200 parts by weight, preferably 5 to 200 parts by weight, more preferably 5 to 100 parts by weight, still more preferably 7 To 50 parts by weight.

한편, 용제로서는 메틸에틸케톤, 메틸이소부틸케톤, 시클로헥사논 등의 케톤류, 톨루엔, 크실렌 등의 방향족 탄화수소, 에틸셀로솔브, 부틸셀로솔브, 카르비톨, 부틸카르비톨 등의 카르비톨류, 아세트산 에틸, 아세트산 부틸, 셀로솔브아세테이트, 부틸셀로솔브아세테이트, 에틸카르비톨아세테이트, 에틸렌글리콜모노에틸에테르아세테이트, 에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트, 디에틸렌글리콜모노에틸에테르아세테이트, 디에틸렌글리콜모노부틸에테르아세테이트, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트(PGMEA), 디프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 등이 열거된다. 이들의 용제는 1종 또는 2종 이상을 병용해도 된다.Examples of the solvent include ketones such as methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone and cyclohexanone, aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, carbitols such as ethyl cellosolve, butyl cellosolve, carbitol and butyl carbitol, Examples of the solvent include ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, butyl cellosolve acetate, ethylcarbitol acetate, ethylene glycol monoethyl ether acetate, ethylene glycol monobutyl ether acetate, diethylene glycol monoethyl ether acetate, diethylene glycol monobutyl ether acetate , Propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA), dipropylene glycol monomethyl ether acetate, and the like. These solvents may be used alone or in combination of two or more.

희석제(D)로서 사용하는 중합성 불포화 화합물 또는 용제는, 단독 또는 2종류 이상의 혼합물로서 사용된다. 그리고, 중합성 불포화 화합물 및/또는 용제의 사용량은, 상기 수지 Y의 100중량부에 대하여, 중합성 불포화 화합물 및/또는 용제의 총량으로 10∼200중량부 정도, 바람직하게는 20∼150중량부 정도이다. 그 중에서도 중합성 불포화 화합물은 활성 에너지 광선에 대한 수지의 경화성의 부여에도 기여하는 것이고, 그 사용량은 상기 수지 Y의 100중량부에 대하여, 통상 3중량부 이상이고, 바람직하게는 5중량부 이상, 보다 바람직하게는 7중량부 이상, 가장 바람직하게는 10중량부 이상이고, 지나치게 적으면, 지나치게 광 감도가 낮아지는 경우가 있고, 한편 200중량부를 초과하면 감광성 수지 조성물을 레지스트 잉크로서 사용하는 경우에 점도가 지나치게 낮아져 경화 도막으로서의 특성이 불충분해질 경우가 있다. 따라서, 본 발명에 있어서는 바람직하게는, 적당량의 중합성 불포화 화합물과 용제를 병용하고, 액상 조성물로서, 예를 들면 양호한 도포성과 경화 도막 특성이 얻어지도록 조제한다.The polymerizable unsaturated compound or solvent used as the diluent (D) may be used alone or as a mixture of two or more thereof. The amount of the polymerizable unsaturated compound and / or solvent used is about 10 to 200 parts by weight, preferably about 20 to 150 parts by weight, based on 100 parts by weight of the resin Y, based on the total amount of the polymerizable unsaturated compound and / Respectively. In particular, the polymerizable unsaturated compound contributes to imparting the curing property of the resin to the active energy ray. The amount of the polymerizable unsaturated compound to be used is usually 3 parts by weight or more, preferably 5 parts by weight or more, More preferably not less than 7 parts by weight and most preferably not less than 10 parts by weight. When the amount is too small, the photosensitivity may be excessively low. On the other hand, when the amount of the photosensitive resin composition is more than 200 parts by weight, The viscosity becomes too low and the properties as a cured coating film may become insufficient. Therefore, in the present invention, a suitable amount of a polymerizable unsaturated compound and a solvent are preferably used in combination so as to obtain, for example, a good coating property and a cured coating film characteristic as a liquid composition.

본 발명의 감광성 수지 조성물에는 이 밖에, 밀착성, 경도 등의 특성을 향상시키는 목적으로, 또한 필요에 따라서, 무정형 실리카, 탄산 칼슘, 탄산 마그네슘, 황산 바륨, 클레이, 탈크, 산화 규소 분말, 운모 분말 등의 무기 충전제, 프탈로시아닌 그린, 프탈로시아닌 블루, 산화티탄, 카본블랙 등의 착색 안료, 소포제, 레벨링제등의 각종 첨가제 외, 하이드로퀴논, 레조르신(레조르시놀), 카테콜, 피로갈롤, 하이드로퀴논모노메틸에테르, t-부틸카테콜, 페노티아진 등의 중합방지제를 사용해도 된다.The photosensitive resin composition of the present invention may further contain additives such as amorphous silica, calcium carbonate, magnesium carbonate, barium sulfate, clay, talc, silicon oxide powder, mica powder and the like for the purpose of improving properties such as adhesion and hardness And various additives such as coloring pigments such as phthalocyanine green, phthalocyanine blue, titanium oxide and carbon black, antifoaming agents and leveling agents, as well as various additives such as hydroquinone, resorcin (resorcinol), catechol, pyrogallol, hydroquinone mono A polymerization inhibitor such as methyl ether, t-butyl catechol, or phenothiazine may be used.

본 발명의 감광성 수지 조성물은 상기의 각 배합 성분을, 바람직하게는 상기한 비율로 배합하고, 3개의 롤밀 등으로 균일하게 혼합함으로써 얻어진다.The photosensitive resin composition of the present invention is obtained by blending each of the above-mentioned respective blending components, preferably in the above-mentioned ratio, and uniformly mixing the blend with three roll mills or the like.

본 발명의 바람직한 감광성 수지 조성물로서는, 하기의 수지 조성물을 들 수 있다.Examples of the preferable photosensitive resin composition of the present invention include the following resin compositions.

I. (A) 과제를 해결하기 위한 수단 부분의 (1)∼(9) 중 어느 하나에 기재된 알칼리 현상형 수지, 또는 상기 본 발명의 바람직한 수지 Y로서 기재된 I∼X 중 어느 하나에 기재된 알칼리 현상형 수지가 조성물의 총량에 대하여 10∼80중량%,I. The alkali developing resin according to any one of (1) to (9) of the present invention for solving the problem (A), or the alkali developing agent described in any one of I to X described as the preferable resin Y of the present invention Type resin is 10 to 80% by weight based on the total amount of the composition,

(B) 에폭시 수지가 조성물의 총량에 대하여 1∼50중량%,(B) an epoxy resin in an amount of 1 to 50% by weight,

(C) 광중합 개시제가 조성물의 총량에 대하여 0.5∼20중량%,및(C) a photopolymerization initiator in an amount of 0.5 to 20% by weight based on the total amount of the composition, and

(D) 희석제가 알칼리 현상형 수지 100중량부에 대하여 10∼200중량부인 감광성 수지 조성물.(D) the diluent is 10 to 200 parts by weight based on 100 parts by weight of the alkali developing resin.

II.에폭시 수지가 노볼락형 에폭시 수지 또는 아랄킬형 에폭시 수지인 상기 I에 기재된 감광성 수지 조성물.(II) The photosensitive resin composition according to (I), wherein the epoxy resin is a novolak type epoxy resin or an aralkyl type epoxy resin.

III.에폭시 수지가 비페닐 골격을 함유하는 에폭시 수지인 상기 I 또는 II에 기재된 감광성 수지 조성물.III. The photosensitive resin composition according to the above I or II, wherein the epoxy resin is an epoxy resin containing a biphenyl skeleton.

IV.희석제로서, 중합성 불포화 화합물을 알칼리 현상형 수지 100중량부에 대하여, 3∼200중량부 포함하는 상기 I∼III 중 어느 하나에 기재된 감광성 수지 조성물.(IV) The photosensitive resin composition according to any one of (I) to (III), wherein the diluent comprises 3 to 200 parts by weight of a polymerizable unsaturated compound per 100 parts by weight of the alkali developing resin.

V.중합성 불포화 화합물의 함량이 알칼리 현상형 수지 100중량부에 대하여, 5∼100중량부인 상기 IV에 기재된 감광성 수지 조성물.V. The photosensitive resin composition according to the above IV, wherein the content of the polymerizable unsaturated compound is 5 to 100 parts by weight based on 100 parts by weight of the alkali developing resin.

VI.중합성 불포화 화합물이 (메타)아크릴레이트 화합물인 상기 IV 또는 V에 기재된 감광성 수지 조성물.VI. The photosensitive resin composition according to the above IV or V, wherein the polymerizable unsaturated compound is a (meth) acrylate compound.

VII.희석제로서, 용제를 포함하고, 중합성 불포화 화합물과 용제의 총량이 알칼리 현상형 수지 100중량부에 대하여, 10∼200중량부인 상기 IV∼VI 중 어느 하나에 기재된 감광성 수지 조성물.(VII) The photosensitive resin composition according to any one of (IV) to (VI) above, wherein the diluent is a solvent and the total amount of the polymerizable unsaturated compound and the solvent is 10 to 200 parts by weight based on 100 parts by weight of the alkali developing resin.

VIII.또한 무기 충전제를, 알칼리 현상형 수지 100중량부에 대하여, 1∼100중량부의 범위에서 함유하는 상기 I∼VII 중 어느 하나에 기재된 감광성 수지 조성물.VIII. The photosensitive resin composition according to any one of the above I to VII, wherein the inorganic filler is contained in an amount of 1 to 100 parts by weight based on 100 parts by weight of the alkali developing resin.

또한, 본 발명의 감광성 수지 조성물은 통상, 액상의 조성물이고, 예를 들면 다음과 같이 해서 경화함으로써 경화물이 얻어진다. 즉, 프린트 배선판에 스크린인쇄법, 스프레이법, 롤코터법, 정전도장법, 커튼 코팅법 등의 방법에 의해 10∼160㎛의 막두께로 본 발명의 조성물을 도포하고, 도막을 60∼110℃에서 건조시키고, 이어서 네거티브 필름을 이 도막에 직접 접촉시키고(또는 접촉하지 않는 상태에서 도막 상에 두고), 이어서 자외선을 조사해서 조성물을 노광시키고, 미노광 부분을 희알카리 수용액으로 용해해서 제거하여 현상한 후, 여러가지 물성의 향상을 위해서 자외선 조사 및/또는 가열(예를 들면 100∼200℃에서, 0.5∼1.0시간)에 의해 충분한 경화를 더 행하여 경화 도막이 얻어진다.Further, the photosensitive resin composition of the present invention is usually a liquid composition, and for example, a cured product is obtained by curing as follows. That is, the composition of the present invention is applied to the printed wiring board by a screen printing method, a spraying method, a roll coater method, an electrostatic coating method, a curtain coating method or the like to a thickness of 10 to 160 탆 and the coated film is dried at 60 to 110 캜 And then the negative film is brought into direct contact with the coating film (or placed on the coating film in a state where it is not contacted), followed by exposure to ultraviolet light to expose the composition, dissolving the unexposed light portion in a diluted aqueous alkaline solution, , Curing is further performed by ultraviolet irradiation and / or heating (for example, at 100 to 200 DEG C for 0.5 to 1.0 hour) for further improvement of various physical properties to obtain a cured coating film.

본 발명의 감광성 수지 조성물은 액상으로 직접 기재에 도포하는 방법 이외에도, 미리 폴리에틸렌테레프탈레이트 등의 필름에 솔더 레지스트를 도포 건조해서 형성한 솔더 레지스트층을 갖는 드라이 필름의 형태로 사용할 수도 있다. 드라이 필름은 캐리어 필름과 솔더 레지스트층과 필요에 따라서 사용되는 박리 가능한 커버 필름이 이 순서로 적층된 구조를 갖는 것이다.The photosensitive resin composition of the present invention may be used in the form of a dry film having a solder resist layer formed by applying and drying a solder resist to a film such as polyethylene terephthalate in advance, The dry film has a structure in which a carrier film, a solder resist layer, and a peelable cover film, which is used as needed, are laminated in this order.

드라이 필름을 이용하여 프린트 배선판 상에 보호막을 제작하기 위해서는 커버 필름을 박리하고, 솔더 레지스트층과 회로가 형성된 기재를 중첩하고, 라미네이터 등을 이용하여 접합하고, 회로가 형성된 기재 상에 솔더 레지스트층을 형성한다. 형성된 솔더 레지스트층에 대하여, 상기와 동일하게 노광, 현상, 가열 경화하면, 경화 도막을 형성할 수 있다.In order to manufacture a protective film on a printed wiring board using a dry film, the cover film is peeled off, the solder resist layer and the substrate on which the circuit is formed are superimposed and bonded together using a laminator or the like, . The cured coating film can be formed on the formed solder resist layer by exposure, development, and heat curing in the same manner as described above.

실시예Example

이하, 실시예와 비교예에 의해 본 발명을 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이들의 실시예만으로 한정되는 것은 아니다. 또한, 각 예 중의 「부」 및 「%」라고하고 있는 것은, 특별히 기재하지 않는 한 각각 「중량부」 및 「중량%」를 나타낸다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to examples and comparative examples, but the present invention is not limited to these examples. In the examples, "parts" and "%" mean "parts by weight" and "% by weight", respectively, unless otherwise specified.

합성예 1(수지 Y-1의 합성예):Synthesis Example 1 (Synthesis Example of Resin Y-1):

크레졸 노볼락 수지[쇼놀 CRG-951, SHOWA KOBUNSHI K.K. 제품, 수산기 당량 118, 연화점 96℃, 수평균 분자량 750] 118부(1.0당량) 및 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 124.71부를 투입하고, 80℃에서 가열하고, 상기 혼합물을 균일하게 용해했다. 용해를 확인 후, 여기에 글리시돌 37.04부(0.5몰) 및 트리페닐포스핀 0.47부를 가하고, 120℃에서 가열하여 약 8시간 반응시키고, 반응 생성물 X(수지:중간체 X)을 얻었다. GPC(Gel Permeation Chromatography) 측정에 의해 반응율을 구한 바, 글리시돌의 반응율은 98%이었다. 계속해서 이 반응 생성물 X를 포함하는 반응액에, 무수 트리멜리트산 32.03부(0.17몰)를 가하고, 100℃에서 약 6시간 반응시켜, 본 발명의 경화성 수지(Y-1)를 얻었다(고형분 산가 100mg KOH/g, 고형분 농도 60%). 이 수지 Y-1의 평균 분자량 Mw은 3,200이었다.Cresol novolak resin [Shonol CRG-951, SHOWA KOBUNSHI K.K. 118 parts (1.0 equivalent) and 124.71 parts of propyleneglycol monomethyl ether acetate were charged and heated at 80 占 폚 to dissolve the mixture uniformly. After confirming the dissolution, 37.04 parts (0.5 mol) of glycidol and 0.47 part of triphenylphosphine were added thereto, and the mixture was reacted for about 8 hours by heating at 120 DEG C to obtain reaction product X (resin: Intermediate X). The reaction rate was determined by GPC (Gel Permeation Chromatography) measurement, and the reaction rate of glycidol was 98%. Subsequently, 32.03 parts (0.17 mol) of trimellitic anhydride was added to the reaction solution containing the reaction product X and reacted at 100 ° C for about 6 hours to obtain the curable resin (Y-1) of the present invention 100 mg KOH / g, solids concentration 60%). The average molecular weight Mw of the resin Y-1 was 3,200.

합성예 2(수지 Y-2의 합성예):Synthesis Example 2 (Synthesis Example of Resin Y-2):

비페닐아랄킬형 페놀 수지[GPH-103, Nippon Kayaku Co., Ltd.제품, 수산기 당량 239, 연화점 103℃, 페놀성 수산기 모두가 레조르신 수산기(레조르신 수산기100%), 중량 평균 분자량 3220] 239부(1.0당량) 및 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 222.04부를 투입하고, 80℃에서 가열하고, 상기 혼합물을 균일하게 용해했다. 용해를 확인 후, 여기에 글리시돌 37.04부(0.5몰) 및 트리페닐포스핀 0.83부를 가하고, 120℃에서 가열하고 약 8시간 반응시켜, 반응 생성물 X(수지:중간체 X)를 얻었다. GPC 측정에 의해 반응율을 구한 바, 글리시돌의 반응율은 98%이었다. 이어서, 이 반응 생성물 X를 포함하는 반응액에, 무수 트리멜리트산 57.02부(0.3몰)를 가하고, 100℃에서 약 6시간 반응시키고, 본 발명의 경화성 수지(Y-2)를 얻었다(고형분 산가 100mg KOH/g, 고형분 농도 60%). 이 수지 Y-2의 평균 분자량(Mw)은 15,000이었다.Biphenyl aralkyl type phenol resin [GPH-103, product of Nippon Kayaku Co., Ltd., hydroxyl equivalent weight 239, softening point 103 캜, all of phenolic hydroxyl groups resorcinol hydroxyl group (resorcinol hydroxyl group 100%), weight average molecular weight 3220] 239 (1.0 equivalent) and 222.04 parts of propylene glycol monomethyl ether acetate were charged and heated at 80 DEG C to dissolve the mixture uniformly. After confirming the dissolution, 37.04 parts (0.5 mol) of glycidol and 0.83 part of triphenylphosphine were added thereto, and the mixture was reacted for about 8 hours by heating at 120 ° C to obtain a reaction product X (resin: Intermediate X). When the reaction rate was determined by GPC measurement, the reaction rate of glycidol was 98%. Then, 57.02 parts (0.3 mol) of trimellitic anhydride was added to the reaction solution containing the reaction product X and reacted at 100 DEG C for about 6 hours to obtain the curable resin (Y-2) of the present invention 100 mg KOH / g, solids concentration 60%). The average molecular weight (Mw) of the resin Y-2 was 15,000.

비교 합성예 1(경화성 수지 Z의 합성예):Comparative Synthesis Example 1 (Synthesis Example of Curable Resin Z):

크레졸 노볼락형 에폭시 수지[EOCN-104s, Nippon Kayaku Co., Ltd.제품, 에폭시 당량 219, 연화점 90℃] 219부(1.0당량), 아크릴산 72부(1.0몰), 열중합 금지제로서 2,6-디제3부틸-p-크레졸을 1.3부 및 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 216.65부를 투입하고, 95℃에서 가열하고, 상기 혼합물을 균일하게 용해했다. 용해를 확인 후, 여기에 트리페닐포스핀 1.3부를 투입하고, 100℃에서 가열하고, 약 24시간 반응시켜, 반응 생성물(고형분 산가 3.0mg KOH/g 이하)을 얻었다. 이것에 테트라히드로 무수 프탈산 109.10부(0.72몰)를 가하고, 98℃에서 가열하고 약 6시간 반응시켜, 비교용의 경화성 수지 Z를 얻었다(고형분 산가 100mg KOH/g, 고형분 농도 65%). 이 경화성 수지 Z의 평균 분자량(Mw)은 6,500이었다.219 parts (1.0 equivalent) of cresol novolac epoxy resin [EOCN-104s, epoxy equivalent of 219, product of Nippon Kayaku Co., Ltd., softening point 90 캜], 72 parts (1.0 mol) of acrylic acid, 3-butyl-p-cresol and 216.65 parts of propylene glycol monomethyl ether acetate were charged and heated at 95 占 폚 to dissolve the mixture uniformly. After confirming the dissolution, 1.3 parts of triphenylphosphine was added thereto, and the mixture was heated at 100 占 폚 and allowed to react for about 24 hours to obtain a reaction product (solid acid value of 3.0 mg KOH / g or less). 109.10 parts (0.72 mol) of tetrahydrophthalic anhydride was added to the mixture, and the mixture was heated at 98 占 폚 and reacted for about 6 hours to obtain a comparative curable resin Z (solid content: 100 mg KOH / g, solid content: 65%). The average molecular weight (Mw) of this curable resin Z was 6,500.

실시예 1∼3 및 비교예 1:Examples 1 to 3 and Comparative Example 1:

상기의 합성예 1 및 2, 및 비교 합성예 1에서 얻어진 감광성 수지 및 중합체를 사용하고, 표 1에 나타내는 배합 비율에 따라서, 3개 롤밀로 혼련하여 본 발명의 실시예 및 비교예의 감광성 수지 조성물을 조제했다. 표 1에 나타내는 배합 비율로 조제한 실시예 1∼3 및 비교예 1의 각 조성물을 메틸에틸케톤으로 희석하고, PET 필름 상에 도포해서 80℃에서 30분 건조하여 두께 20㎛의 드라이필름 상의 감광성 수지 조성물층을 제작했다. 또한, 80℃에서 30분간 예비 건조 후, 실온까지 냉각해 건조 도막을 얻었다. 이 도막에 레지스트 패턴을 갖는 네거티브 필름을 밀착시키고, 자외선 노광 장치를 이용하여, 350mJ/cm2 노광하고, 네거티브 필름을 박리한 후, 1% 탄산나트륨 수용액을 사용하고, 스프레이 압 2.0kgf/cm2로 60초간 현상하고, 미노광 부분을 용해 제거했다. 그 후, 열풍 건조기를 사용하고, 150℃에서 60분간 가열 경화를 행하여 레지스트 패턴을 갖는 경화물 피막을 조제했다.The photosensitive resin and the polymer obtained in the above Synthesis Examples 1 and 2 and Comparative Synthesis Example 1 were used and kneaded by a three roll mill according to the mixing ratio shown in Table 1 to obtain a photosensitive resin composition of Examples and Comparative Examples It was prepared. Each of the compositions of Examples 1 to 3 and Comparative Example 1 prepared as shown in Table 1 was diluted with methyl ethyl ketone and applied on a PET film and dried at 80 DEG C for 30 minutes to obtain a photosensitive resin To prepare a composition layer. Further, preliminary drying was performed at 80 캜 for 30 minutes, and the resultant was cooled to room temperature to obtain a dried coating film. The negative film having a resist pattern was closely adhered to the coating film and exposed at 350 mJ / cm 2 using an ultraviolet ray exposure apparatus. The negative film was peeled off, and then a 1% aqueous solution of sodium carbonate was used at a spray pressure of 2.0 kgf / cm 2 And developed for 60 seconds to dissolve and remove the unexposed portion. Thereafter, a hot-air dryer was used and heated and cured at 150 DEG C for 60 minutes to prepare a cured coating film having a resist pattern.

Figure pct00003
Figure pct00003

*1 NC-3000H CA75 : 비페닐노볼락형 에폭시 수지[Nippon Kayaku Co., Ltd.제품]* 1 NC-3000H CA75: biphenyl novolak type epoxy resin [product of Nippon Kayaku Co., Ltd.]

*2 Irg.907 : 2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르폴리노프로판온-1[일가큐어 907, Chib·Japan Co., Ltd. 제품]* 2 Irg.907: 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholinopropanone-1 [Irgacure 907, Chib. product]

*3 DETEX-S : 2,4-디에틸티옥산톤[KAYACURE DETEX-S, Nippon Kayaku Co., Ltd.제품]* 3 DETEX-S: 2,4-diethylthioxanthone (KAYACURE DETEX-S, product of Nippon Kayaku Co., Ltd.)

*4 TMPTA : 트리메틸올프로판트리아크릴레이트[라이트아크릴레이트 TMP-A, Kyoeisha Chemical Co., LTD. 제품]* 4 TMPTA: trimethylolpropane triacrylate [light acrylate TMP-A, manufactured by Kyoeisha Chemical Co., LTD. product]

상기한 바와 같이 해서 얻은 경화 피막을 갖는 본 발명 및 비교품의 각 시험편을 이용하여, 하기에 나타내는 시험 방법에 따라서, 현상성, 밀착성, 땜납 내열성, 무전해 금도금 내성, PCT 내성, 가요성 시험, 냉열충격내성 시험, HAST특성 시험을 행하고, 도막의 각종 물성 평가를 행했다. 이들의 시험 평가 결과를 표 2 및 표 3에 나타낸다. 단, 현상성은 80℃의 예비 건조 시간을 30분 이외로 여러 가지로 변경한 도막을 공시체로서 평가했다.Each test piece of the present invention and the comparative test piece having the cured coatings obtained as described above was tested for developing properties, adhesion, solder heat resistance, electroless gold plating resistance, PCT resistance, flexibility test, An impact resistance test, and an HAST characteristic test were conducted to evaluate various properties of the coating film. The results of the test evaluation are shown in Tables 2 and 3. However, the developability was evaluated as a specimen in which the preliminary drying time at 80 캜 was changed to several times other than 30 minutes.

<현상성><Developability>

예비 건조 시간을 20분, 40분, 60분, 80분, 100분으로 한 각 건조 도막에 대해서, 1% 탄산나트륨 수용액을 사용하고, 스프레이 압 2.0kgf/cm2로 60초간 현상을 행하고, 현상 후의 도막의 유무를 관찰하고, 이하의 기준으로 평가했다.Each dry film having the preliminary drying time of 20 minutes, 40 minutes, 60 minutes, 80 minutes and 100 minutes was subjected to development for 60 seconds at a spray pressure of 2.0 kgf / cm 2 using an aqueous 1% sodium carbonate solution, The presence or absence of a coating film was observed and evaluated according to the following criteria.

○ : 현상 후에 완전하게 도막이 제거되어, 완전하게 현상할 수 있었던 것.○: The coating film was completely removed after development, and it was able to completely develop.

× : 현상 후에 조금이라도 제거되지 않은 도막이 남아 현상이 불완전한 것.X: The coating film which has not been removed even after development is left incomplete.

<밀착성>&Lt; Adhesion >

JIS D 0202의 시험 방법에 따라서, 각 시험편의 경화막에 바둑판상으로 크로스컷을 넣고, 이어서 셀로판 테이프에 의한 필링 테스트를 행하고, 테스트 후의 박리의 상태를 육안 판정했다.A cross-cut was placed on the cured film of each test piece as a checkerboard in accordance with the test method of JIS D 0202, followed by peeling test with a cellophane tape, and the state of peeling after the test was visually judged.

평가는 이하의 기준으로 행했다.The evaluation was made based on the following criteria.

○ : 전혀 박리가 없는 것.○: No peeling at all.

△ : 크로스컷부가 약간 박리된 것.B: The crosscut portion was slightly peeled off.

× : 도막에 박리가 있는 것.X: The coating film is peeled off.

<땜납 내열성>&Lt; Soldering heat resistance &

JIS C 6481의 시험 방법에 따라서, 각 시험편을 280℃의 땜납욕에 10초간, 3회 침지를 행하고, 인출한 후, 외관의 변화를 관찰했다. 평가는 이하의 기준으로 행했다.According to the test method of JIS C 6481, each test piece was immersed in a soldering bath at 280 占 폚 for 10 seconds for 3 times, and after the withdrawal, a change in appearance was observed. The evaluation was made based on the following criteria.

○ : 경화막의 외관에 변화가 없는 것.?: No change in appearance of the cured film.

△ : 경화막에 변색이 확인된 것.?: Discoloration was confirmed on the cured film.

× : 경화막의 들뜸, 박리, 땜납 디핑이 있는 것.X: Cured film peeling, peeling, solder dipping.

<무전해 금도금 내성><Electroless gold plating resistance>

시험편의 전처리로서, 각 시험편에 대해서, 30℃의 산성 탈지액에 침지→침지 수세→소프트 에칭 처리→침지 수세→촉매의 부여(30℃의 니켈 도금 촉매액에 7분간 침지)→침지 수세 공정을 행했다. 다음에 무전해 니켈 도금 공정으로서, 각 시험편을 니켈 도금액(85℃, pH 4.6)에 20분간 침지→1분간 산침지(실온에서 10vol% 황산 수용액→침지 수세를 행하고, 최후에 무전해 금도금 공정으로서 각 시험편을 금도금액(95℃, pH6, 시안화 금칼륨 3vol% 수용액)에 10분간 침지→침지 수세→60℃의 온수에서 침지 온수 세정→충분하게 수세 후→물을 잘 제거→건조 공정에서 무전해 금도금을 행하고, 그들의 시험편에 대해서 외관 변화의 관찰 및 셀로판 테이프를 사용한 필링 시험을 행해 도막을 평가했다. 평가는 이하의 기준으로 행했다.As the pretreatment of the test pieces, the test pieces were immersed in an acidic degreasing solution at 30 ° C, immersed in water, soft-etched, immersed in water, applied with a catalyst (immersed in a nickel plating catalyst solution at 30 ° C for 7 minutes) I did. Next, as the electroless nickel plating process, each of the test pieces was immersed in a nickel plating solution (85 ° C, pH 4.6) for 20 minutes, followed by acid immersion for 1 minute (10 vol% sulfuric acid aqueous solution at room temperature → immersion water washing and finally as an electroless gold plating process Immerse each specimen in gold plating solution (95 ° C, pH 6, 3vol% aqueous solution of potassium cyanide gold) for 10 minutes → Immersion water → Immerse the immersion water in 60 ° C hot water → Sufficiently wash water → Remove water well → Electrolize in drying process Gold plating was carried out and the test piece was observed for appearance change and peeling test was performed using a cellophane tape to evaluate the coating film.

○ : 외관 변화도 없고, 레지스트의 박리도 전혀 없는 것.&Amp; cir &amp;: No appearance change and no peeling of the resist at all.

△ : 외관의 변화는 없지만, 레지스트의 박리가 약간 보이는 것.?: There is no change in appearance, but the resist peeling is slightly visible.

× : 레지스트의 들뜸이나 도금 디핑이 보이고, 필링 시험에서 레지스트의 박리가 큰 것.X: Exfoliation of resist or plating dipping is observed, and peeling of resist is large in peeling test.

<PCT 시험><PCT test>

각 시험편을 121℃, 2atm, 포화 증기 분위기 하에서 100시간 방치한 후의 도막의 외관을 육안으로 판단했다. 평가는 이하의 기준으로 행했다.Each test piece was allowed to stand at 121 DEG C and 2 atm in a saturated steam atmosphere for 100 hours, and then the appearance of the coated film was visually observed. The evaluation was made based on the following criteria.

○ : 도막에 팽윤, 박리가 없는 것.○: The coating film is free from swelling and peeling.

× : 팽윤, 박리가 있는 것.X: Swelling and peeling.

<가요성 시험>&Lt; Flexibility test >

JIS K5400에 준하여 JIS B7729A법에서 규정하는 에릭슨 시험기를 이용하여, 상기의 각 감광성 수지 조성물을 본데 강판 상에 도포→건조→노광→현상→가열해서 시험편을 조제했다. 얻어진 각 시험편에 대해서 이면으로부터 강구(剛球)를 압출하고, 시험편을 변형시킨 때에 도막의 붕괴 및 박리를 발생할 때까지의 압출거리를 측정했다. 평가는 이하의 기준으로 행했다.Each of the above-mentioned photosensitive resin compositions was coated on a bond steel sheet by using an Ericsson tester specified in JIS B7729A according to JIS K5400, followed by drying, light exposure, development, and heating to prepare test pieces. Each of the obtained test specimens was extruded from the back surface thereof to measure the extrusion distance until the collapse and peeling of the coating film occurred when the specimen was deformed. The evaluation was made based on the following criteria.

○ : 강구를 압출한 거리가 4mm 이상으로 도막의 붕괴 및 박리가 발생하지 않은 것.?: The coating film was not collapsed or peeled with a distance of 4 mm or more when the steel ball was extruded.

△ : 강구를 압출한 거리가 2mm 이상 4mm 미만까지로 도막의 붕괴 및 박리가 발생하지 않은 것.?: No collapse or peeling of the coating film occurred when the distance at which the steel ball was extruded was 2 mm or more and less than 4 mm.

× : 강구를 압출한 거리가 2mm 미만으로 도막의 붕괴 및 박리가 발생한 것.X: The distance of the extrusion of steel balls was less than 2 mm, and the coating film collapsed and peeled.

<냉열충격내성><Resistance to cold and heat shock>

□ 없고, ○ 없는 패턴을 형성한 솔더 레지스트 경화 도막을 갖는 평가 기판을 제작했다. 얻어진 평가 기판을 냉열충격 시험기(Etac사 제품)로 -55℃/30분∼150℃/30분을 1사이클로 하여 1000사이클의 내성시험을 행했다. 시험 후, 처리 후의 경화막을 육안으로 관찰하고, 크랙의 발생 상황을 하기의 기준으로 판단했다.An evaluation board having a solder resist cured coating film on which no pattern was formed was prepared. The resulting evaluation substrate was subjected to an immunity test for 1000 cycles with a cold / impact tester (manufactured by Etac Co.) at -55 ° C / 30 minutes to 150 ° C / 30 minutes as one cycle. After the test, the cured film after the treatment was visually observed, and the occurrence of cracks was judged based on the following criteria.

○ : 크랙 발생율 30% 미만○: Less than 30% of crack occurrence rate

△ : 크랙 발생율 30∼50%DELTA: Crack occurrence rate 30 to 50%

× : 크랙 발생율 50% 이상×: Crack occurrence rate 50% or more

<HAST 특성><HAST characteristics>

빗형 전극(라인/스페이스=30㎛/30㎛)이 형성된 BT 기판에, 솔더 레지스트 경화 도막을 형성하고, 평가 기판을 작성했다. 이 평가 기판을 130℃, 습도 85%의 분위기 하의 고온 고습조에 넣고, 전압 5.5V를 하전하고, 여러가지 시간, 조내 HAST 시험(절연성 시험)을 행했다. 여러가지 시간 경과시의 조내 절연 저항값을 하기의 판단 기준에 따라서 평가했다.A solder resist cured coating film was formed on a BT substrate on which interdigital electrodes (line / space = 30 占 퐉 / 30 占 퐉) were formed to prepare evaluation substrates. The evaluation board was placed in a high-temperature and high-humidity bath under an atmosphere at 130 캜 and a humidity of 85%, charged at a voltage of 5.5 V, and subjected to a HAST test (insulation test) in the bath for various times. The in-house insulation resistance value at various time passes was evaluated according to the following criteria.

○ : 240시간 경과 후, 108Ω 이상?: After 240 hours, 108?

× : 240시간 경과 시, 108Ω 이하X: 108 hours or less after elapse of 240 hours

Figure pct00004
Figure pct00004

Figure pct00005
Figure pct00005

표 2 및 표 3의 평가 결과로부터 명백한 바와 같이, 본 발명의 알칼리 현상형 수지는 종래 공지의 에폭시계의 감광성 수지에 비하여, 건조성이나 알칼리 현상성이 우수하고, 그 경화물은 밀착성, 땜납 내열성, 무전해 금도금 내성, PCT 내성, 가요성, 냉열충격 내성, HAST특성 등이 우수하다.As apparent from the evaluation results of Tables 2 and 3, the alkali-developable resin of the present invention is superior to the conventionally known epoxy-based photosensitive resin in dryness and alkali developability, and the cured product has adhesiveness, , Electroless gold plating resistance, PCT resistance, flexibility, resistance to cold and heat shock, and HAST characteristics.

합성예 3(수지 Y-3의 합성예):Synthesis Example 3 (Synthesis Example of Resin Y-3):

일본특허공개 평8-143648호의 기재에 준하여 페놀 화합물로서, 페놀 및 레조르신의 양자를, 거의 페놀 9몰에 대하여 레조르신 1몰의 비율로 사용해서 제조한 비페닐노볼락형 레조르신 함유 페놀 수지[수산기 당량 134g/eq, 연화점 93.4℃, 레조르신 수산기의 비율{(레조르신 수산기의 수/페놀 수지(a1) 중의 전체 페놀성 수산기의 수)×100} = 약 20%] 134부(수산기 당량:1.0당량), 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 179.56부를 투입하고, 80℃에서 가열하여 상기 혼합물을 균일하게 용해했다. 용해를 확인 후, 여기에 글리시돌 14.82부(0.2몰), 트리페닐포스핀 0.45부를 투입하고, 120℃에서 가열해서 약 8시간 반응시켜 반응 생성물 X (수지; 중간체 X)를 얻었다. GPC 측정에서 의해 반응율을 구한 바, 글리시돌의 반응율은 98%이었다. 이어서, 이 반응 생성물 X를 포함하는 반응액에, 무수 트리멜리트산 30.74부(0.16몰)를 가하고, 100℃에서 약 6시간 반응시켜, 본 발명의 경화성 수지(Y-3)을 얻었다(고형분 농도 50%, 고형분 산가 100mg KOH/g). 이 수지 Y-3의 평균 분자량(Mw)은 1,900이었다.A phenol resin having a biphenyl novolac type resorcinol-containing phenol resin prepared by using phenol and resorcin in a ratio of 1 mole of resorcin to 9 mole of phenol as a phenol compound in accordance with the description of JP-A-8-143648 (Hydroxyl group equivalent: 134 g / eq; softening point: 93.4 DEG C; ratio of resorcinol hydroxyl group (number of resorcinol hydroxyl groups / total number of phenolic hydroxyl groups in phenol resin (a1) x 100) = about 20%] 134 parts : 1.0 equivalent) and 179.56 parts of propylene glycol monomethyl ether acetate were charged, and the mixture was uniformly dissolved by heating at 80 占 폚. After confirming the dissolution, 14.82 parts (0.2 mol) of glycidol and 0.45 part of triphenylphosphine were added thereto, and the mixture was heated at 120 캜 for about 8 hours to obtain a reaction product X (resin, intermediate X). When the reaction rate was determined by GPC measurement, the reaction rate of glycidol was 98%. Then, 30.74 parts (0.16 mol) of trimellitic anhydride was added to the reaction solution containing the reaction product X and reacted at 100 DEG C for about 6 hours to obtain a curable resin (Y-3) of the present invention 50%, solid acid value of 100 mg KOH / g). The average molecular weight (Mw) of this resin Y-3 was 1,900.

합성예 4(수지 Y-4의 합성예):Synthesis Example 4 (Synthesis Example of Resin Y-4):

일본특허공개 평7-292066호의 실시예 1을 따라서 합성한 비페닐노볼락형 레조르신 수지[수산기 당량 102, 연화점 85.2℃] 102부(1.0당량) 및 프로필렌글리콜 모노메틸에테르아세테이트 192.09부를 투입하고, 80℃에서 가열하여 상기 혼합물을 균일하게 용해했다. 용해를 확인 후, 여기에 글리시돌 37.04부(0.5몰), 트리페닐포스핀 0.42부를 가하고, 120℃에서 가열하고 약 8시간 반응시켜, 반응 생성물 X (수지:중간체 X)를 얻었다. GPC 측정에 의해 반응율을 구한 바, 글리시돌의 반응율은 98%이었다. 이어서, 이 반응 생성물 X를 포함하는 반응액에, 테트라히드로 무수 프탈산 51.05부(0.34몰)를 가하고, 100℃에서 약 6시간 반응시켜, 본 발명의 경화성 수지(Y-4)를 얻었다(고형분 농도 50%, 고형분 산가 100mg KOH/g). 이 수지 Y-4의 평균 분자량(Mw)은 1,200이었다.102 parts (1.0 equivalent) of biphenyl novolak type resorcin resin (hydroxyl group equivalent 102, softening point 85.2 占 폚) synthesized according to Example 1 of Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-292066 and 192.09 parts of propylene glycol monomethyl ether acetate were charged, And the mixture was uniformly dissolved by heating at 80 占 폚. After confirming the dissolution, 37.04 parts (0.5 mol) of glycidol and 0.42 part of triphenylphosphine were added thereto, and the mixture was reacted for about 8 hours by heating at 120 DEG C to obtain a reaction product X (resin: Intermediate X). When the reaction rate was determined by GPC measurement, the reaction rate of glycidol was 98%. Subsequently, 51.05 parts (0.34 mol) of tetrahydrophthalic anhydride was added to the reaction solution containing the reaction product X and reacted at 100 DEG C for about 6 hours to obtain a curable resin (Y-4) of the present invention (solid content concentration 50%, solid acid value of 100 mg KOH / g). The average molecular weight (Mw) of the resin Y-4 was 1,200.

실시예 4∼7 및 비교예 2:Examples 4 to 7 and Comparative Example 2:

상기의 합성예 2, 3, 4 및 상기 비교 합성예 1에서 얻어진 수지 Y-2, Y-3, Y-4 및 경화성 수지 Z의 각각을 사용하고, 표 4에 나타내는 배합 비율에 따라서 3개 롤밀로 혼련하여 본 발명의 실시예 및 비교예의 감광성 수지 조성물을 조제했다. 표 4에 나타내는 배합 비율로 조제한 실시예 4∼7 및 비교예 2의 각 조성물을 메틸에틸케톤으로 희석하고, PET 필름 상에 도포해서 80℃에서 30분 건조하고, 두께 20㎛의 드라이필름 상의 감광성 수지 조성물층을 제작했다. 또한, 80℃에서 30분간 예비 건조 후, 실온까지 냉각하여 건조 도막을 얻었다. 이 도막에 레지스트 패턴을 갖는 네거티브 필름을 밀착시키고, 자외선 노광 장치를 이용하여, 350mJ/cm2 노광하고, 네거티브 필름을 박리한 후, 1% 탄산나트륨 수용액을 사용하고, 스프레이 압 2.0kgf/cm2로 60초간 현상하여 미노광 부분을 용해 제거했다. 그 후, 열풍 건조기를 사용하고, 150℃에서 60분간 가열 경화를 행하여 레지스트 패턴을 갖는 경화물 피막(본 발명의 시험편 및 비교용 시험편)을 제작했다.Using each of Resins Y-2, Y-3, Y-4 and Resin Z obtained in Synthesis Examples 2, 3 and 4 and Comparative Synthesis Example 1 described above, Kneaded with a mill to prepare photosensitive resin compositions of Examples and Comparative Examples of the present invention. Each of the compositions of Examples 4 to 7 and Comparative Example 2 prepared in the formulation ratios shown in Table 4 was diluted with methyl ethyl ketone and applied on a PET film and dried at 80 DEG C for 30 minutes to obtain a photosensitive To prepare a resin composition layer. Further, preliminary drying was conducted at 80 캜 for 30 minutes, and the resultant was cooled to room temperature to obtain a dried coating film. The negative film having a resist pattern was closely adhered to the coating film and exposed at 350 mJ / cm 2 using an ultraviolet ray exposure apparatus. The negative film was peeled off, and then a 1% aqueous solution of sodium carbonate was used at a spray pressure of 2.0 kgf / cm 2 And developed for 60 seconds to dissolve and remove the unexposed portion. Thereafter, a hot-air dryer was used and cured by heating at 150 DEG C for 60 minutes to produce a cured coating film having a resist pattern (a test piece of the present invention and a test piece for comparison).

Figure pct00006
Figure pct00006

*1 NC-3000H CA75 : 비페닐노볼락형 에폭시 수지[Nippon Kayaku Co., Ltd.제품]* 1 NC-3000H CA75: biphenyl novolak type epoxy resin [product of Nippon Kayaku Co., Ltd.]

*2 Irg.907 : 2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르폴리노프로판온-1[일가큐어 907, Chib·Japan Co., Ltd. 제품]* 2 Irg.907: 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholinopropanone-1 [Irgacure 907, Chib. product]

*3 DETEX-S : 2,4-디에틸티옥산톤[KAYACURE DETEX-S, Nippon Kayaku Co., Ltd.제품]* 3 DETEX-S: 2,4-diethylthioxanthone (KAYACURE DETEX-S, product of Nippon Kayaku Co., Ltd.)

*4 DPHA : 디펜타에리스리톨헥사아크릴레이트[KAYARAD DPHA, Nippon Kayaku Co., Ltd.제품]* 4 DPHA: dipentaerythritol hexaacrylate [KAYARAD DPHA, product of Nippon Kayaku Co., Ltd.]

상기한 바와 같이 해서 얻은 경화 피막을 갖는 본 발명 및 비교용의 각 시험편을 이용하여, 상기한 시험 방법에 따라서, 현상성, 밀착성, 땜납 내열성, 무전해 금도금 내성, PCT 내성, 가요성 시험을 행하고, 도막의 각종 물성 평가를 행했다. 이들 시험의 평가 결과를 표 5 및 표 6에 나타낸다. 단, 현상성은 80℃의 예비 건조 시간을 30분 이외로 여러가지로 변경한 도막을 공시체로서 평가했다. 평가 기준은 표 2의 경우와 같다.The developability, adhesion, solder heat resistance, electroless gold plating resistance, PCT resistance, and flexibility test were carried out using the test pieces having the cured coatings obtained as described above and the comparative test pieces according to the test methods described above , And various properties of the coated film were evaluated. The evaluation results of these tests are shown in Tables 5 and 6. However, the developability was evaluated as a specimen in which the preliminary drying time at 80 캜 was changed to various conditions other than 30 minutes. The evaluation criteria are the same as in Table 2.

Figure pct00007
Figure pct00007

Figure pct00008
Figure pct00008

표 5 및 표 6의 평가 결과로부터 명백한 바와 같이, 본 발명의 알칼리 현상형 수지는 종래 공지의 에폭시계의 감광성 수지에 비하여 건조성이나 알칼리 현상성이 우수하고, 그 경화물은 밀착성, 땜납 내열성, 무전해 금도금 내성, PCT 내성, 가요성, 냉열충격 내성, HAST특성 등이 우수하다.As apparent from the evaluation results of Tables 5 and 6, the alkali-developable resin of the present invention is superior in drying property and alkali development property to the conventionally known epoxy-based photosensitive resin, and the cured product is excellent in adhesiveness, Resistance to electroless gold plating, resistance to PCT, flexibility, resistance to cold and heat shock, and HAST characteristics.

특히, 비페닐노볼락형 레조르신 함유 페놀 수지를 포함하는 본 발명의 알칼리 현상형 수지는 본 발명의 알칼리 현상형 수지 중에서도, 건조성 및 알칼리 현상성에 있어서, 다른 것보다 우수하다.In particular, the alkali-developing resin of the present invention containing a biphenyl novolac-type resorcinol-containing phenol resin is superior to the others in dryability and alkali developability among the alkali-developable resins of the present invention.

(산업상 이용 가능성)(Industrial applicability)

본 발명의 감광성 수지 조성물은 건조성이나 알칼리 현상성이 우수하고, 또한 경화 후의 도막은, 밀착성, 땜납내열성, 무전해 금도금 내성, PCT 내성, 가요성, 냉열충격 내성, HAST특성 등의 여러가지 특성이 우수하다. 경화막을 저비용으로 좋은 생산성으로 형성할 수 있기 때문에, 활성 에너지선을 이용하여 경화시키는 자외선 경화형 인쇄 잉크 용도 등에 사용 가능한 것 이외에, 프린트 배선판의 제조시에 사용되는 솔더 레지스트, 에칭 레지스트, 도금 레지스트, 층간 절연재 등에 유용하다.The photosensitive resin composition of the present invention is excellent in dryness and alkali developability, and the cured film has various properties such as adhesion, solder heat resistance, electroless gold plating resistance, PCT resistance, flexibility, cold shock resistance and HAST characteristics great. The cured film can be formed at a low cost with good productivity. Therefore, the curable film can be used for an ultraviolet curable printing ink application for curing using an active energy ray, and the like. In addition to the use of a solder resist, an etching resist, It is useful for insulation materials and so on.

Claims (21)

페놀 수지(a)의 수산기에 분자 중에 알콜성 수산기와 1개의 에폭시기를 갖는 화합물(b)을 반응시켜서 얻어지는 반응 생성물 X 중의 수산기에 포화 및/또는 불포화 다염기산 무수물(c)을 더 반응시켜서 얻어지는 것을 특징으로 하는 알칼리 현상형 수지.Is obtained by further reacting a saturated and / or unsaturated polybasic acid anhydride (c) with a hydroxyl group in a reaction product X obtained by reacting a hydroxyl group of the phenol resin (a) with a compound (b) having an alcoholic hydroxyl group and an epoxy group in the molecule By weight. 제 1 항에 있어서,
페놀 수지(a)의 페놀성 수산기 1당량에 대하여, 상기 화합물(b)을 0.1∼0.9몰이 되는 비율로 반응시키는 것을 특징으로 하는 알칼리 현상형 수지.
The method according to claim 1,
Wherein the amount of the compound (b) is 0.1 to 0.9 mol based on 1 equivalent of the phenolic hydroxyl group of the phenol resin (a).
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
반응 생성물 X의 알콜성 수산기 1당량에 대하여, 상기 다염기산 무수물(c)을 0.05∼0.9몰이 되는 비율로 반응시키는 것을 특징으로 하는 알칼리 현상형 수지.
3. The method according to claim 1 or 2,
Reacting the polybasic acid anhydride (c) in an amount of 0.05 to 0.9 mol based on 1 equivalent of the alcoholic hydroxyl group of the reaction product X.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
알칼리 현상형 수지 중에 잔존하는 페놀성 수산기의 비율이 페놀 수지(a) 중의 전체 페놀성 수산기수에 대하여, 10∼90%인 것을 특징으로 하는 알칼리 현상형 수지.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
Wherein the proportion of the phenolic hydroxyl groups remaining in the alkali-developable resin is 10 to 90% based on the total number of phenolic hydroxyl groups in the phenolic resin (a).
제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
페놀 수지(a)는 비페닐 골격을 포함하는 페놀 수지(a)인 것을 특징으로 하는 알칼리 현상형 수지.
5. The method according to any one of claims 1 to 4,
The phenolic resin (a) is a phenol resin (a) containing a biphenyl skeleton.
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
페놀 수지(a)는 하기 일반식(1)으로 나타내어지는 페놀 수지(a1)인 것을 특징으로 하는 알칼리 현상형 수지.
Figure pct00009

[식 중 m1, m2 및 m3은 각각 독립적으로 1 또는 2의 정수이고, n은 0∼10의 정수를 나타낸다]
6. The method according to any one of claims 1 to 5,
The phenolic resin (a) is a phenol resin (a1) represented by the following general formula (1).
Figure pct00009

M1, m2 and m3 each independently represent an integer of 1 or 2 and n represents an integer of 0 to 10,
제 6 항에 있어서,
페놀 수지(a1)는 그 중에 레조르신 구조를 포함하는 페놀 수지인 것을 특징으로 하는 알칼리 현상형 수지.
The method according to claim 6,
The phenolic resin (a1) is a phenolic resin containing a resorcin structure.
제 7 항에 있어서,
레조르신 구조를 포함하는 페놀 수지의 수산기 당량은 70∼170g/eq인 것을 특징으로 하는 알칼리 현상형 수지.
8. The method of claim 7,
Wherein the phenolic resin having a resorcin structure has a hydroxyl group equivalent of 70 to 170 g / eq.
제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
화합물(b)은 글리시돌인 것을 특징으로 하는 알칼리 현상형 수지.
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
Wherein the compound (b) is a glycidol.
제 1 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 다염기산 무수물(c)은 카르복시기를 2개 또는 3개 갖는 다염기산의 무수물인 것을 특징으로 하는 알칼리 현상형 수지.
10. The method according to any one of claims 1 to 9,
Wherein the polybasic acid anhydride (c) is an anhydride of a polybasic acid having two or three carboxyl groups.
(A) 제 1 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 기재된 알칼리 현상형 수지,
(B) 에폭시 수지,
(C) 광중합 개시제, 및
(D) 희석제를 함유하는 것을 특징으로 하는 감광성 수지 조성물.
(A) an alkali developing resin according to any one of claims 1 to 10,
(B) an epoxy resin,
(C) a photopolymerization initiator, and
(D) a diluent.
제 11 항에 있어서,
희석제는 중합성 불포화 화합물 및/또는 용제인 것을 특징으로 하는 감광성 수지 조성물.
12. The method of claim 11,
Wherein the diluent is a polymerizable unsaturated compound and / or a solvent.
제 11 항 또는 제 12 항에 있어서,
(A) 알칼리 현상형 수지는 조성물의 총량에 대하여 10∼80중량%,
(B) 에폭시 수지는 조성물의 총량에 대하여 1∼50중량%,
(C) 광중합 개시제는 조성물의 총량에 대하여 0.5∼20중량%, 및
(D) 희석제는 알칼리 현상형 수지 100중량부에 대하여 10∼200중량부인 것을 특징으로 하는 감광성 수지 조성물.
13. The method according to claim 11 or 12,
(A) the alkali-developing resin is contained in an amount of 10 to 80% by weight,
(B) the epoxy resin is contained in an amount of 1 to 50% by weight,
(C) the photopolymerization initiator is used in an amount of 0.5 to 20% by weight based on the total amount of the composition, and
(D) the diluent is 10 to 200 parts by weight based on 100 parts by weight of the alkali developing resin.
제 11 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 있어서,
희석제로서 중합성 불포화 화합물을 알칼리 현상형 수지 100중량부에 대하여 5∼200중량%의 범위로 함유하는 것을 특징으로 하는 감광성 수지 조성물.
14. The method according to any one of claims 11 to 13,
Wherein the polymerizable unsaturated compound as a diluent is contained in an amount of 5 to 200% by weight based on 100 parts by weight of the alkali developing resin.
제 14 항에 있어서,
중합성 불포화 화합물은 (메타)아크릴레이트 화합물인 것을 특징으로 하는 감광성 수지 조성물.
15. The method of claim 14,
Wherein the polymerizable unsaturated compound is a (meth) acrylate compound.
제 11 항 내지 제 15 항 중 어느 한 항에 기재된 감광성 수지 조성물의 경화물.A cured product of the photosensitive resin composition according to any one of claims 11 to 15. 제 16 항에 있어서,
광에 의한 초미세 가공이 가능한 포토리소그래프법을 이용하여 패터닝된 경화물인 것을 특징으로 하는 감광성 수지 조성물의 경화물.
17. The method of claim 16,
A cured product of a photosensitive resin composition characterized by being patterned using a photolithographic method capable of ultrafine processing by light.
제 16 항 또는 제 17 항에 기재된 감광성 수지 조성물의 경화물의 층을 갖는 것을 특징으로 하는 기재.A substrate comprising a layer of a cured product of the photosensitive resin composition according to claim 16 or 17. 제 18 항에 기재된 기재를 갖는 것을 특징으로 하는 물품.An article characterized by having the substrate according to claim 18. 제 11 항 내지 제 15 항 중 어느 한 항에 기재된 감광성 수지 조성물을 프린트 배선판에 도포하여 도막을 형성하고, 노광하고, 현상한 후, 자외선 조사 및/또는 가열에 의해 경화시키는 것을 특징으로 하는 경화 도막의 형성 방법.A cured coating film characterized by coating the printed wiring board with the photosensitive resin composition described in any one of claims 11 to 15 to form a coating film, exposing it to light, developing it and then curing it by irradiation with ultraviolet rays and / / RTI &gt; 제 1 항에 기재된 알칼리 현상형 수지를 제조하기 위한 페놀 수지(a)의 수산기에 분자 중에 알콜성 수산기와 1개의 에폭시기를 갖는 화합물(b)을 반응시켜서 얻어지는 페놀성 수산기와 알콜성 수산기의 양자를 갖는 것을 특징으로 하는 반응 생성물 X의 사용.
A process for producing the alkali-developable resin according to any one of claims 1 to 5, wherein the phenolic hydroxyl group and the alcoholic hydroxyl group obtained by reacting the hydroxyl group of the phenol resin (a) with a compound (b) having an alcoholic hydroxyl group and an epoxy group in the molecule are reacted Lt; RTI ID = 0.0 &gt; X. &Lt; / RTI &gt;
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