KR20150010224A - Gas scrubber - Google Patents

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KR20150010224A
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    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Abstract

Disclosed is a gas scrubber which is capable of processing waste gas such as semiconductor process gas. A gas scrubber according to the present invention includes a processing chamber unit for processing waste gas; a waste gas supply pipe unit connected to the processing chamber to supply the waste gas to the processing chamber unit; a heat recovery chamber unit partially or entirely surrounding the processing chamber unit; a circular line unit to supply a heat transfer medium to the heat recovery chamber unit and recover the heat transfer medium; and a heating unit disposed to heat the waste gas passing through the waste gas supply pipe unit, wherein the heating unit is connected to the circular line unit to receive heat from the heat transfer medium so that the heat is used to heat the waste gas. In addition, powder is prevented from being accumulated in the chamber or the pipe by prohibiting moisture from being introduced from a wet processing apparatus disposed at the rear end.

Description

가스 스크러버{GAS SCRUBBER}Gas scrubber {GAS SCRUBBER}

본 발명은 가스 처리 분야에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 반도체 제조에서 이용되는 공정 가스를 정화 처리하는 가스 스크러버에 관한 것이다.
Field of the Invention The present invention relates to the field of gas treatment, and more particularly, to a gas scrubber for purifying a process gas used in semiconductor manufacturing.

최근 스마트폰이나 디스플레이 등과 같이 반도체 소재를 이용하는 디바이스들이 산업 생산의 주력 제품으로 자리 잡고 있다. 이러한 반도체 장치의 제조에서는 다량의 유해가스를 발생시키는 공정들을 많이 포함된다.Recently, devices using semiconductor materials such as smart phones and displays are becoming the main products of industrial production. The production of such a semiconductor device includes many processes for generating a large amount of noxious gas.

예를 들어 반도체 디바이스 제조 공정에는 도핑, 에칭, 증착, 세정 등에 NH4, ClF4, SF6 등이 이용되고, 최근에는 반도체 디스플레이 수요증가에 따라 PFCs, NF3 등의 불소화합물 사용도 지속적으로 증가하고 있다.For example, NH 4 , ClF 4 , and SF 6 are used in semiconductor device manufacturing processes such as doping, etching, deposition, and cleaning. In recent years, the use of fluorine compounds such as PFCs and NF 3 has been continuously increased .

이러한 공정가스에 따른 부산물로는 SiH4, F2, HF, SiF4, ClF3, Cl2, HCl, SOxFy, WF6 등이 있고, Ti, W, Cu와 같이 배선 증착에 이용되는 금속 성분들을 포함하여 공정가스의 일부도 챔버 내에서 반응되지 않고 그대로 배출된다.As a byproduct of the process gas, SiH 4 , F 2 , HF, SiF 4 , ClF 3 , Cl 2 , HCl, SO x F y and WF 6 are used. Some of the process gases, including the metal components, are also released in the chamber without being reacted.

이들 유해 가스의 정화 처리에 이용되는 핵심 장치를 가스 스크러버라고 하며, 일반적으로 가스 스크러버는 크게 습식과 연소식으로 나뉜다.A key device used for purifying these toxic gases is called a gas scrubber. In general, a gas scrubber is divided into a wet type and a combustion type.

습식 가스 스크러버는 챔버를 통과하는 가스에 물을 분사하여 정화와 냉각을 수행한다. 이러한 습식 장치는 비교적 제작이 용이하고 대용량 처리가 가능하지만 불용성 가스의 처리가 불가능하다는 단점이 있다. 연소식은 배기가스를 직접 연소시키는 직접연소식과 고온의 챔버를 통과시켜서 연소시키는 간접연소식이 있다. 최근에는 상술한 습식과 건식을 혼합한 혼합식을 많이 이용한다.A wet gas scrubber performs cleaning and cooling by spraying water through the gas passing through the chamber. Such a wet type apparatus has a disadvantage in that it is relatively easy to manufacture and can handle a large capacity but can not process an insoluble gas. The combustion type is a direct combustion type in which the exhaust gas is directly combusted and an indirect combustion type in which the exhaust gas is combusted by passing through a high temperature chamber. In recent years, a large number of mixing methods using a mixture of the above-mentioned wet type and dry type are used.

도 1a 및 1b는 각각 기존의 가스 스크러버(1)와, 가스 스크러버(1)를 채용한 가스 정화 시스템을 개략적으로 도시한 도면이다.1A and 1B are diagrams schematically showing a conventional gas scrubber 1 and a gas purifying system employing the gas scrubber 1, respectively.

도시한 바와 같이, 기존의 반도체 제조 공정에 적용되는 일반적인 가스 정화 시스템에서는 가스 스크러버(1)가 공정장비(2)에 진공펌프(3)와 히팅자켓(4) 통해 연결된다. 또한 기존 시스템에서는 가스 스크러버(1)에 고온 질소(N2)를 공급하는 고온질소공급부(5)가 연결된다. 이렇게 공정가스를 전달받은 가스 스크러버(1)는 공정가스를 정화 처리한 후 덕트부(6)를 통해 배기한다. 또한 기존의 시스템에서의 가스 스크러버(1)는 일반적으로 2개의 챔버로 구성되어 덕트부(6)로부터 배기가스를 회수하여 2차 처리를 수행한다.The gas scrubber 1 is connected to the process equipment 2 through the vacuum pump 3 and the heating jacket 4 in a conventional gas purification system applied to a conventional semiconductor manufacturing process. Also, in the existing system, a high-temperature nitrogen supply unit 5 for supplying high-temperature nitrogen (N 2 ) to the gas scrubber 1 is connected. The gas scrubber 1, which has received the process gas in this way, processes the process gas, and exhausts the process gas through the duct unit 6. The gas scrubber 1 in the conventional system generally comprises two chambers to recover the exhaust gas from the duct section 6 to perform the secondary treatment.

기존의 일반적인 가스 스크러버(1)는 도시한 바와 같이 연소처리부(1-1)의 배기관(1-3)이 습식처리부(1-2)로 연결된다.In the conventional general gas scrubber 1, as shown in the figure, the exhaust pipe 1-3 of the combustion processing unit 1-1 is connected to the wet processing unit 1-2.

이와 같은 기존의 가스 정화 시스템은 공정 가스를 예열하기 위해 많은 에너지가 소요되는 구성을 가지고 있다. 더구나 각 공정장비마다 상술한 정화 라인(스크러버 라인)이 다수개가 연결되기 때문에 기존 시스템에서의 실제 에너지 소비량이 매우 높고 이는 결과적으로 제조원가를 높이는 요인이 되고 있다. 또한 이러한 기존 시스템은 처리 공정이 복잡하고 시스템이 차지하는 전체 면적이 크다는 단점이 있다.Such conventional gas purification systems have a high energy consumption to preheat the process gas. Moreover, since a plurality of the above-described purifying lines (scrubber lines) are connected to each process equipment, the actual energy consumption in the existing system is very high, which is a factor for increasing the manufacturing cost. In addition, these conventional systems have disadvantages in that the processing steps are complicated and the total area occupied by the system is large.

또한 기존 가스 스크러버(1)에서는 처리 후 발생되는 파우더가 제대로 배출되지 않아서 배관이나 챔버가 막히는 문제점이 있다. 특히, 기존의 가스 스크러버(1)는 습식처리부(1-2)와 단순히 배기관(1-3)으로 연결되기 때문에 습식처리부(1-2)로부터의 습기가 유입되며, 이러한 습기 유입이 막힘 현상의 주요 원인이 되고 있다. 이러한 습기 유입의 문제는 도 1a에 도시한 바와 같은 연소처리부(1-1)과 습식처리부(1-2)가 일체로 형성된 장치는 물론, 별개로 설치되어 배관으로 연결된 구성에서도 유사하게 발생한다.Further, in the conventional gas scrubber 1, the powder generated after the treatment is not properly discharged, and thus the piping or the chamber is clogged. Particularly, since the existing gas scrubber 1 is connected to the wet processing unit 1-2 through the exhaust pipe 1-3, the moisture from the wet processing unit 1-2 is introduced, It is becoming a major cause. Such a problem of the inflow of moisture occurs similarly in the apparatus in which the combustion processing unit 1-1 and the wet processing unit 1-2 are integrally formed as shown in Fig.

따라서, 에너지 효율적이면서도 파우더 적체 발생이 감소된 가스 스크러버가 요구되고 있다.
Therefore, there is a demand for a gas scrubber that is energy efficient and has a reduced powder build-up.

한국특허출원공개 2003-0080447호Korean Patent Application Publication No. 2003-0080447

본 발명은 상술한 종래의 문제점을 해결하기 위해, 에너지 소비가 적은 저에너지 가스 스크러버를 제공한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a low-energy gas scrubber with low energy consumption for solving the above-described conventional problems.

본 발명은 또한 처리 후 발생하는 파우더를 효과적으로 배출할 수 있는 가스 스크러버를 제공한다.The present invention also provides a gas scrubber capable of efficiently discharging powder generated after treatment.

본 발명은 또한 후단의 습식처리 장치로부터의 습기가 유입되는 것을 방지할 수 있는 가스 스크러버를 제공한다.The present invention also provides a gas scrubber capable of preventing moisture from being introduced from the downstream wet processing apparatus.

본 발명은 또한 처리 후 발생하는 파우더가 챔버나 배관에 적체되는 현상이 감소된 가스 스크러버를 제공한다.
The present invention also provides a gas scrubber in which the phenomenon of powder accumulating in the chamber or the piping after the treatment is reduced.

본 발명은 가스 스크러버를 제공하며, 이는: 폐가스의 처리가 수행되는 처리챔버부; 상기 처리챔버부로 폐가스를 공급하도록 연결되는 폐가스 공급관부; 상기 처리챔버부의 일부 또는 전부를 감싸도록 배치되는 열회수챔버부; 상기 열회수챔버부로 열전달매체를 공급하고 회수하는 순환라인부; 및 상기 폐가스 공급관을 통과하는 폐가스를 가열하도록 배치되는 가열부;를 포함하고, 상기 가열부는 상기 순환라인부와 연결되어 상기 열전달매체로부터 열을 전달받아 상기 폐가스의 가열에 이용한다.The present invention provides a gas scrubber comprising: a processing chamber portion in which the treatment of waste gas is performed; A waste gas supply pipe portion connected to supply waste gas to the processing chamber portion; A heat recovery chamber portion disposed to surround at least a part of the processing chamber portion; A circulation line part for supplying and recovering the heat transfer medium to the heat recovery chamber part; And a heating unit arranged to heat the waste gas passing through the waste gas supply pipe, wherein the heating unit is connected to the circulation line unit and receives heat from the heat transfer medium to use the waste gas for heating.

본 발명의 상기 가스 스크러버는 상기 처리챔버 하부측에 배치되어 처리된 가스를 외부로 배출하는 배출관; 상기 배출관이 측면으로 연통되는 배기관; 및 상기 배기관을 일단에 연결되는 냉각공기를 불어넣는 송풍기;를 더 포함한다.The gas scrubber of the present invention includes: a discharge pipe disposed at a lower side of the processing chamber to discharge treated gas to the outside; An exhaust pipe through which the discharge pipe communicates laterally; And a blower blowing cooling air connected to the exhaust pipe at one end.

또한 본 발명의 상기 가스 스크러버는 상기 배기관의 풍압을 측정하도록 배치되는 압력계와, 상기 배기관의 개방 정도를 조절 가능하도록 배치되는 게이트밸브가 더 포함하고, 상기 게이트밸브는 상기 압력계의 측정값에 따라 상기 배기관의 개방 정도를 결정한다.The gas scrubber of the present invention may further comprise a pressure gauge arranged to measure the wind pressure of the exhaust pipe and a gate valve arranged to adjust the opening degree of the exhaust pipe, And determines the degree of opening of the exhaust pipe.

본 발명의 상기 가스 스크러버는 상기 처리챔버부로 플라즈마발생용 가스를 공급하는 플라즈마발생용 가스 공급관부; 상기 처리챔버부 내에 플라즈마를 발생시키도록 배치되는 플라즈마발생부; 상기 처리챔버부의 하부에 배치되어 상기 처리챔버부와 연통하는 산화챔버부; 및 상기 산화챔버부로 산소를 공급하는 산소 공급관부;를 더 포함하고, 상기 배출관은 상기 산화챔버부에 연결된다.The gas scrubber of the present invention includes a gas supply tube for generating plasma for supplying a plasma generating gas to the processing chamber; A plasma generator arranged to generate a plasma in the processing chamber portion; An oxidation chamber portion disposed at a lower portion of the processing chamber portion and communicating with the processing chamber portion; And an oxygen supply pipe for supplying oxygen to the oxidation chamber, wherein the discharge pipe is connected to the oxidation chamber.

상기 처리챔버부는 서로 연통된 상부챔버와 하부챔버로 이루어지고, 상기 열회수챔버부는 상기 하부챔버의 둘레에 배치되고, 상기 폐가스 공급관부는 상기 상부챔버로 연결된다.The process chamber portion comprises an upper chamber and a lower chamber communicated with each other, the heat recovery chamber portion is disposed around the lower chamber, and the waste gas supply pipe portion is connected to the upper chamber.

상기 폐가스 공급관부는 하나 이상의 개별관이 상기 처리챔버부의 상기 상부챔버를 형성하는 상부챔버 하우징의 측면부위로 연결되고, 상기 폐가스 공급관부의 하나 이상의 개별관은 상부챔버 하우징의 외면과의 사잇각이 직각보다 작은 각도를 이루도록 측방향으로 연결되어 폐가스가 상기 처리챔버부 내에서 회전하게 된다.Wherein the waste gas supply pipe portion is connected to a side portion of an upper chamber housing forming one of the upper chambers of the processing chamber portion and at least one of the individual pipes of the waste gas supply pipe portion is formed so that an angle with an outer surface of the upper chamber housing is perpendicular So that the waste gas is rotated in the processing chamber portion.

상기 산소 공급관부는 하나 이상의 개별관이 상기 산화챔버부를 형성하는 산화챔버 하우징의 측면부위로 연결되고, 상기 산소 공급관부의 하나 이상의 개별관은 상기 산화챔버 하우징의 외면과의 사잇각이 직각보다 작은 각도를 이루도록 측방향으로 연결되어 폐가스가 상기 산화챔버부 내에서 회전하게 된다.Wherein the oxygen supply pipe portion is connected to a side surface portion of the oxidation chamber housing in which at least one individual pipe forms the oxidation chamber portion and at least one individual pipe of the oxygen supply pipe portion has an angle smaller than a right angle with the outer surface of the oxidation chamber housing So that the waste gas is rotated in the oxidation chamber portion.

본 발명의 가스 스크러버는 연소식일 수 있고, 이 경우 상기 처리챔버부 내의 폐가스를 연소시키도록 배치되는 연소수단을 포함한다. 상기 연소식 가스 스크러버의 상기 폐가스 공급관부는 하나 이상의 개별관을 포함하고, 상기 폐가스 공급관부의 개별관을 통해 투입되는 폐가스의 둘레로 불활성가스 쉴드층을 형성하도록 불활성가스를 공급하는 불활성가스 공급관을 더 포함할 수 있다.
The gas scrubber of the present invention may include combustion means, which may be combustion and, in this case, are arranged to combust offgas in the process chamber portion. The waste gas supply pipe portion of the combustion gas scrubber includes at least one individual pipe and further includes an inert gas supply pipe for supplying an inert gas to form an inert gas shield layer around the waste gas introduced through the individual pipe of the waste gas supply pipe portion .

본 발명에 따르면, 에너지 효율이 높은 가스 스크러버가 제공된다. 이러한 가스 스크러버는 처리챔버부에서 발생하는 열을 회수하여 폐가스의 가열에 이용함으로써 저에너지 스크러버를 구현할 수 있다. 또한 본 발명의 가스 스크러버는 벤츄리 효과를 이용하는 배출/배기관 구조에 의해 파우더의 외부 배출이 원활하게 이루어지게 된다. 더구나 본 발명의 배기/배출 구조는 후단에 배치되는 습식처리 장치로부터의 습기가 유입되는 것을 원천적으로 차단하게 되어 파우더가 챔버 내부나 배관 내부에 적체되어 막힘을 일으키는 문제점을 해결한다. 본 발명의 가스 스크러버가 채용하는 송풍 압력 자동 제어 메커니즘은 적정한 풍압을 유지하도록 함으로써 배기나 파우더의 배출이 잘 이루어지게 될 뿐만 아니라 적정한 냉각 목표를 안정적으로 유지할 수 있게 된다. 결과적으로 가열장치 등과 같은 부수적인 장치의 사용을 줄일 수 있어서 장치 전체의 크기를 대폭 감소시킬 수 있고, 긍극적인 원가 절감의 효과가 얻어지게 된다.
According to the present invention, a gas scrubber with high energy efficiency is provided. Such a gas scrubber can recover the heat generated in the processing chamber and use it for heating the waste gas, thereby realizing a low energy scrubber. Further, the gas scrubber of the present invention smoothly discharges the powder by the discharge / exhaust pipe structure using the venturi effect. In addition, the exhaust / exhaust structure of the present invention essentially prevents the moisture from being introduced from the wet processing apparatus disposed at the rear end, thereby solving the problem that the powder is accumulated inside the chamber or inside the pipe to cause clogging. The automatic pressure control mechanism of the blowing pressure adopted by the gas scrubber of the present invention maintains the appropriate wind pressure so that exhaust gas and powder are discharged well and the proper cooling target can be stably maintained. As a result, it is possible to reduce the use of ancillary apparatus such as a heating apparatus, thereby greatly reducing the size of the entire apparatus, and obtaining an effect of cost reduction.

도 1a 및 도 1b는 기존의 가스 스크러버 및 그를 채용한 가스 정화 시스템을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 가스 스크러버를 개략적으로 도시한 단면도이다.
도 3은 도 2의 가스 스크러버에 대한 개략적인 평면도이다.
도 4는 도 2의 가스 스크러버의 일부분을 도시한 도면이다.
도 5는 도 2의 가스 스크러버를 채용하는 가스 정화 시스템을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 제2실시예에 따른 가스 스크러버의 일부분을 개략적으로 도시한 도면이다.
Figs. 1A and 1B are schematic views of a conventional gas scrubber and a gas purifying system employing it.
2 is a cross-sectional view schematically showing a gas scrubber according to a first embodiment of the present invention.
Figure 3 is a schematic plan view of the gas scrubber of Figure 2;
FIG. 4 is a view showing a part of the gas scrubber of FIG. 2; FIG.
Fig. 5 is a schematic view of a gas purifying system employing the gas scrubber of Fig. 2;
6 is a schematic view showing a part of a gas scrubber according to a second embodiment of the present invention.

이하 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세하게 설명한다. 본 발명의 실시예를 설명함에 있어서, 관련된 공지기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description of the embodiments of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.

본 발명은 플라즈마 생성시에 발생되는 열을 회수하여 이용함으로써 에너지 효율이 높은 저에너지 가스 스크러버를 제공한다. 또한 본 발명의 가스 스크러버에서는 후단의 습식처리장치로부터의 습기가 유입되지 않음으로써 챔버 내부나 배관에 파우더가 적체되는 현상이 대폭 감소된다. 또한 본 발명은 자동압력 제어를 통한 적정한 풍압으로 냉각 송풍을 수행함으로써 원할한 배기는 물론, 안정적으로 냉각의 목표치를 달성한다. 이러한 본 발명의 특징들은 플라즈마 스크러버나 연소식 스크러버에 모두 적용될 수 있다. 아래에서는 플라즈마 스크러버를 제1실시예로, 연소식 스크러버를 제2실시예로 설명한다.
The present invention provides a low energy gas scrubber with high energy efficiency by recovering and utilizing heat generated during plasma generation. In addition, in the gas scrubber of the present invention, since the moisture from the downstream wet processing apparatus is not introduced, the phenomenon of powder accumulation in the chamber and the piping is significantly reduced. Further, the present invention achieves a target of cooling stably as well as satisfactory exhausting by performing cooling blowing with appropriate wind pressure through automatic pressure control. These features of the present invention can be applied to both the plasma scrubber and the combustion scrubber. Hereinafter, the plasma scrubber will be described as the first embodiment, and the combustion scrubber will be described as the second embodiment.

도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 가스 스크러버(10)를 개략적으로 도시한 단면도이다. 도 3은 도 2의 가스 스크러버(10)에 대한 개략적인 평면도이다. 도 4는 도 2의 가스 스크러버(10)의 일부분을 도시한 도면이다. 도 5는 도 2의 가스 스크러버(10)를 채용하는 가스 정화 시스템을 개략적으로 도시한 도면이다.2 is a cross-sectional view schematically showing a gas scrubber 10 according to a first embodiment of the present invention. 3 is a schematic plan view of the gas scrubber 10 of Fig. Figure 4 is a view showing a portion of the gas scrubber 10 of Figure 2; FIG. 5 is a schematic view of a gas purifying system employing the gas scrubber 10 of FIG. 2;

상술한 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 가스 가스 스크러버(10)는 플라즈마 스크러버이다.As described above, the gas gas scrubber 10 according to the first embodiment of the present invention is a plasma scrubber.

도면을 참조하여, 본 발명의 제1실시예에 따른 가스 가스 스크러버(10)는 폐가스 처리가 수행되는 처리챔버부(100)를 포함한다. 이러한 처리챔버부(100)는 바람직하게는 상부챔버(110)와 하부챔버(120)로 나뉠 수 있고, 이들은 각각의 하우징(111, 121)에 의해 형성된다. 이들 상부챔버 하우징(111)과 하부챔버 하우징(121)은 도시한 바와 같이 플랜지 결합방식을 통해 결합될 수 있다.Referring to the drawings, a gas gas scrubber 10 according to the first embodiment of the present invention includes a processing chamber portion 100 in which waste gas treatment is performed. This processing chamber portion 100 is preferably divided into an upper chamber 110 and a lower chamber 120, which are formed by the respective housings 111, 121. The upper chamber housing 111 and the lower chamber housing 121 can be coupled through a flange coupling method as shown in the figure.

상부챔버 하우징(111)에는 플라즈마 발생부(112)가 설치되고, 질소나 아르곤과 같은 플라즈마발생용 가스를 공급하기 위한 플라즈마발생용가스 공급관(113)이 연결된다. 또한 상부챔버 하우징(111)에는 반도체 공정가스와 같은 처리될 폐가스를 공급하는 하나 이상의 폐가스 공급관부(114)가 연결된다. 도시한 제1실시예에서는 4개의 개별관이 폐가스 공급관부(114)를 이루며, 이들은 상부챔버 하우징(111)의 측면으로 연결되어 처리챔버부(100) 내에서 폐가스가 싸이클론 회전을 일으키도록 설치된다. 이에 대해서는 도 3과 4를 참조하여 아래에서 상세하게 설명된다.A plasma generating part 112 is provided in the upper chamber housing 111 and a plasma generating gas supplying pipe 113 for supplying a plasma generating gas such as nitrogen or argon is connected. The upper chamber housing 111 is also connected to one or more waste gas supply tubes 114 for supplying waste gases to be treated, such as semiconductor process gases. In the illustrated first embodiment, four individual tubes constitute a waste gas supply tube section 114, which are connected to the side of the upper chamber housing 111 and installed in the process chamber section 100 to cause cyclone rotation of the waste gas do. This will be described in detail below with reference to FIGS. 3 and 4.

하부챔버 하우징(121)은 측벽이 내벽(121a)과 외벽(121b)으로 이루어진 이중벽 구조를 가진다. 내벽(121a)의 안쪽이 실질적으로 처리챔버 또는 반응챔버가 되며, 이는 상부챔버(110)의 공간과 연통된다.The lower chamber housing 121 has a double wall structure in which the side walls are formed by an inner wall 121a and an outer wall 121b. The inside of the inner wall 121a substantially becomes the processing chamber or the reaction chamber, and this communicates with the space of the upper chamber 110. [

이러한 처리챔버부는 플라즈마 챔버라고도 칭할 수 있다. 내벽(121a)과 외벽(121b) 사이의 공간은 열회수챔버(130)가 되며, 이 열회수챔버(130)에는 열전달매체의 순환라인부(160)가 그 내부로 열전달매체를 공급하고 회수하도록 연결된다. 열전달매체의 순환라인부(160)는 예를 들어 공급관과 회수관으로 이루어진다. 이들 공급관과 회수관은 소위 히터자켓과 같은 가열부(150)에 연결되며, 가열부(150)에 의해 순환라인부(160)를 순환하는 열전달매체가 가열된다.Such a processing chamber portion may be referred to as a plasma chamber. The space between the inner wall 121a and the outer wall 121b serves as a heat recovery chamber 130 in which the circulation line portion 160 of the heat transfer medium is connected to supply and recover the heat transfer medium into the heat recovery chamber 130 . The circulation line portion 160 of the heat transfer medium is composed of, for example, a supply pipe and a return pipe. These supply pipes and the return pipe are connected to a heating unit 150 such as a so-called heater jacket, and the heat transfer medium circulating through the circulation line unit 160 is heated by the heating unit 150.

본 발명의 제1실시예에 따른 가스 스크러버(10)에서는 폐가스 공급관부(114)들도 가열부(150)를 통과하도록 설치되어 가열부(150)에 의해 폐가스가 가열된다. 이미 위에서도 언급한 바와 같이 금속분말, Ti, W, Cu, NH4Cl, NH4F 가스는 170도 높거나 낮을 경우 겔상태로 진행되므로 배관내에서 딱딱하게 굳는 현상이 발생 한다. 따라서 가열부(150)는 폐가스를 가열하여야 한다.In the gas scrubber 10 according to the first embodiment of the present invention, the waste gas supply pipes 114 are also installed to pass through the heating unit 150, and the waste gas is heated by the heating unit 150. As already mentioned above, when the metal powder, Ti, W, Cu, NH 4 Cl, and NH 4 F gases are in a gel state when the temperature is 170 ° C or higher, a hardening phenomenon occurs in the pipe. Therefore, the heating unit 150 must heat the waste gas.

이와 같이 열회수챔버(130)를 통해 열을 회수하여 폐가스 공급관부(114)를 가열함으로써 소모 에너지가 대폭 감소할 뿐만 아니라 가열을 위한 장치가 대폭 축소될 수 있다.As described above, the heat is recovered through the heat recovery chamber 130 and the waste gas supply pipe 114 is heated, so that the consumed energy is greatly reduced and the apparatus for heating can be greatly reduced.

처리챔버부(100)의 하부에는 산화챔버부(140)가 배치된다. 산화챔버부(140)는 산화챔버를 형성하는 산화챔버 하우징(141)이 플랜지 결합 방식으로 처리챔버부(100)의 하부챔버 하우징(121)에 결합되어, 상부의 처리챔버부(100)와 연통된다.The oxidation chamber part 140 is disposed below the processing chamber part 100. The oxidation chamber part 140 is formed by connecting the oxidation chamber housing 141 forming the oxidation chamber with the lower chamber housing 121 of the processing chamber part 100 in a flange coupling manner and communicating with the upper processing chamber part 100 do.

산화챔버부(140)에는 산화챔버부로 산소를 공급하기 위한 산소 공급관부(142)가 연결된다. 이때 투입되는 산소는 제1실시예에서는 플라즈마의 산화 및 냉각에 이용된다.The oxidation chamber part 140 is connected to an oxygen supply pipe part 142 for supplying oxygen to the oxidation chamber part. In this case, oxygen is used for oxidation and cooling of the plasma in the first embodiment.

또한 산화챔버부(140)의 하부에는 처리된 가스를 외부로 배출하는 배출관(161)이 연결된다. 이러한 배출관(161)은 별도로 마련되는 배기관(162)의 측면부위로 연결된다. 또한 배기관(162)의 일단에는 냉각공기를 불어넣는 송풍기(163)가 배치된다. 이러한 구조는 벤츄리 효과를 발생시켜서 배출관(161) 및 배기관(162)을 통해 처리된 가스와 파우더가 용이하게 배출될 수 있다. 더욱이, 이러한 구조에 의해, 본 발명의 가스 스크러버(10)가 그 후단에 배치되는 습식처리 장치(50)(도 5 참조)와 실질적으로 분리되기 때문에 습식처리 장치(50)로부터의 습기가 거의 유입되지 않게 된다. 따라서 습기 유입으로 인해 챔버 내부나 배관에 파우더가 적체되는 현상이 현저하게 줄어들게 된다.A discharge pipe 161 for discharging the processed gas to the outside is connected to the lower portion of the oxidation chamber part 140. The discharge pipe 161 is connected to a side portion of the exhaust pipe 162 provided separately. A blower 163 for blowing cooling air is disposed at one end of the exhaust pipe 162. This structure generates the venturi effect, so that the treated gas and the powder through the discharge pipe 161 and the exhaust pipe 162 can be easily discharged. Furthermore, because of this structure, since the gas scrubber 10 of the present invention is substantially separated from the wet processing apparatus 50 (see FIG. 5) disposed at the rear end thereof, the moisture from the wet processing apparatus 50 is substantially introduced . Therefore, the phenomenon that the powder is accumulated in the chamber or the pipe due to the inflow of moisture is remarkably reduced.

바람직하게는 배기관(162)의 풍압을 측정하도록 배치되는 압력계(164)와, 배기관(162)에 설치되어 배기관을 개폐하는 게이트밸브(165)를 더 포함할 수 있다. 더 바람직하게는 게이트밸브(165)는 개방 정도의 조절이 가능해서 압력계(164)의 측정값에 따라 배기관(162)의 개방 정도를 결정하도록 할 수 있다. 게이트밸브(165)는 솔레노이드밸브 등으로 구현될 수 있고, 송풍량과 풍압을 조절함으로써 원하는 목표치의 냉각을 안정적이고 지속적으로 유지할 수 있게 된다.A pressure gauge 164 disposed to measure the wind pressure of the exhaust pipe 162 and a gate valve 165 installed in the exhaust pipe 162 for opening and closing the exhaust pipe. More preferably, the opening degree of the gate valve 165 is adjustable, so that the opening degree of the exhaust pipe 162 can be determined according to the measured value of the pressure gauge 164. The gate valve 165 can be implemented as a solenoid valve or the like, and the cooling of the desired target value can be stably and continuously maintained by controlling the blowing amount and the wind pressure.

또한 본 발명의 제1실시예에 따른 가스 스크러버(10)는 처리챔버부(100) 내의 폐가스나 산화챔버부(140)은 내의 산소가 싸이클론 회전을 하도록 하는 메커니즘을 갖는다. 이러한 싸이클론 회전은 배관의 결합구조에 의해 구현되며, 이에 대해서는 폐가스 공급관부(114)의 결합구조를 대표 예로서 설명한다.The gas scrubber 10 according to the first embodiment of the present invention also has a mechanism for causing waste gas in the process chamber portion 100 and oxygen in the oxidation chamber portion 140 to undergo cyclone rotation. This cyclone rotation is realized by the coupling structure of the piping, and the coupling structure of the waste gas supply pipe 114 is described as a representative example.

도 3은 도 2에 도시된 본 발명의 제1실시예에 따른 가스 스크러버(10)에 대한 개략적인 평면도이다. 도 4는 도 2에 도시된 본 발명의 제1실시예에 따른 가스 스크러버(10)의 일부분을 도시한 도면이다3 is a schematic plan view of the gas scrubber 10 according to the first embodiment of the present invention shown in FIG. 4 is a view showing a part of the gas scrubber 10 according to the first embodiment of the present invention shown in Fig. 2

도 3 및 도 4를 참조하여, 폐가스 공급관부(114)는 하나 이상의 개별관이 처리챔버부(100)의 상부챔버(110)를 형성하는 상부챔버 하우징(111)의 측면부위로 연결된다. 이때, 폐가스 공급관부(114)의 개별관은 상부챔버 하우징(111)의 외면과의 사잇각(θ)이 직각보다 작은 각도를 이루도록 측방향으로 배치되어 챔버 내부로 투입된 폐가스가 처리챔버부(100) 내에서 회전하게 된다. 이러한 싸이클론 회전은 파우더 등이 처리챔버부(100)의 내벽면에 적체되는 것을 크게 감소시키게 된다.3 and 4, the waste gas supply tube portion 114 is connected to a side portion of the upper chamber housing 111 in which one or more individual tubes form the upper chamber 110 of the processing chamber portion 100. [ At this time, the individual pipe of the waste gas supply pipe portion 114 is laterally arranged so that an angle (θ) with the outer surface of the upper chamber housing 111 is smaller than a right angle, so that the waste gas introduced into the chamber flows into the processing chamber portion 100, . Such cyclone rotation significantly reduces the accumulation of powder or the like on the inner wall surface of the processing chamber portion 100.

도시하지는 않았지만, 산소 공급관부(142)의 하나 이상의 개별관이 산화챔버부(140)은를 형성하는 산화챔버 하우징(141)의 측면부위로 연결된다. 또한 마찬가지로, 이들 산소 공급관부(142)의 하나 이상의 개별관이 산화챔버 하우징(141)의 외면과의 사잇각이 직각보다 작은 각도를 이루도록 측방향으로 배치되어 산소가 산화챔버부(140)은 내에서 싸이클론 회전을 하게 된다. 따라서 산화챔버부(140)의 내에서도 파우더 등이 챔버 내벽면에 적체되는 것을 현저하게 감소시킨다.Although not shown, one or more individual tubes of the oxygen supply tube 142 are connected to the side portions of the oxidation chamber housing 141 forming the oxidation chamber portion 140. Likewise, one or more individual tubes of these oxygen supply tubes 142 are laterally arranged so that the angle of the angle with the outer surface of the oxidation chamber housing 141 is less than a right angle, Cyclone rotation is performed. Therefore, even in the oxidation chamber part 140, powder and the like are significantly reduced in the inner wall surface of the chamber.

이상과 같은 본 발명의 제1실시예에 따른 가스 스크러버(10)는 예를 들어 다음과 같이 동작하며, 이는 도 2 내지 도 5를 참조하여 설명한다.The gas scrubber 10 according to the first embodiment of the present invention operates as follows, which will be described with reference to FIGS. 2 to 5. FIG.

먼저 반도체 제조 공정의 공정장비(30)에서 이용된 공정가스(SiH4, NF3)가 진공펌프(30)에 의해 펌핑된 후 가열부(150)를 통과하는 폐가스 공급관부(114)를 통해 가스 스크러버(10)의 처리챔버부(100)로 투입된다. 또한 질소(N2)가 플라즈마발생용가스 공급관(113)을 통해 처리챔버부(100)로 투입된다. 이때 상술한 바와 같이 투입되는 가스들은 처리챔버부(100) 내에서 싸이클론 회전을 하게 된다. 그러면 플라즈마 발생부(112)의 방전에 의해 N+, N, F2, Si, H+, H, H2, N2 등을 포함하는 플라즈마가 처리챔버부(100)에서 생성된다. 이러한 플라즈마 생성시 처리챔버부(100)에서 발생되는 열은 열회수챔버(130)에서 열전달매체로 전달되고, 이러한 열은 가열부(150)로 회수되어 처리챔버부(100)로 투입되는 폐가스의 가열에 이용된다. 처리챔버부(100)의 플라즈마들은 이후 산화챔버부(140)로 하강하여 투입되는 산소에 의해 산화된다. 산화챔버부(140)에서도 마찬가지로 산소 공급관부(142)의 하나 이상의 개별관을 통해 투입되는 산소가 싸이클론 회전을 발생시키게 되어 파우더가 내벽면에 적체되는 것을 방지한다. 산화챔버부(140)에서 산화된 가스와 분말들은 배출관(161)과 배기관(162)을 통하여 배출되어 후단의 습식처리장치(50)로 전달된다. 이렇게 배출/배기되는 과정에서 송풍기(163)로 외기를 불어넣어 배출과 냉각을 안정적으로 수행하게 된다. 특히, 압력계(164)와 게이트밸브(165)를 포함하는 자동 압력 제어 메커니즘을 채용하여 풍압을 자동으로 조절함으로써 파우더의 배출과 더불어 소망하는 목표 온도 유지가 달성된다. 습식처리장치(50)로 전달된 가스는 습식처리 후에 덕트부(60)를 통해 외부로 배출된다. 여기서 습식처리장치(50)는 예를 들어 습식 전기집진기일 수 있다.
First, the process gas (SiH 4 , NF 3 ) used in the process equipment 30 of the semiconductor manufacturing process is pumped by the vacuum pump 30 and then supplied through the waste gas supply pipe portion 114 passing through the heating portion 150 And is introduced into the processing chamber portion 100 of the scrubber 10. Further, nitrogen (N 2 ) is introduced into the processing chamber portion 100 through the plasma generating gas supply pipe 113. At this time, the gases to be introduced as described above are subjected to the cyclone rotation in the processing chamber portion 100. A plasma containing N + , N, F 2 , Si, H + , H, H 2 , N 2 and the like is generated in the processing chamber part 100 by the discharge of the plasma generating part 112. The heat generated in the processing chamber unit 100 during the plasma generation is transferred to the heat transfer medium in the heat recovery chamber 130. This heat is recovered by the heating unit 150 and the heating of the waste gas introduced into the processing chamber unit 100 . Plasmas of the processing chamber portion 100 are then oxidized by the introduced oxygen to the oxidation chamber portion 140. Similarly, in the oxidation chamber part 140, oxygen introduced through one or more individual pipes of the oxygen supply pipe 142 generates a cyclone rotation to prevent the powder from being accumulated on the inner wall surface. The oxidized gas and powders in the oxidation chamber part 140 are discharged through the discharge pipe 161 and the exhaust pipe 162 and transferred to the wet treatment device 50 at the downstream stage. In this process of discharging / exhausting, outside air is blown into the blower 163 to stably perform discharge and cooling. In particular, an automatic pressure control mechanism including a pressure gauge 164 and a gate valve 165 is employed to automatically adjust the wind pressure to achieve desired target temperature maintenance along with discharge of the powder. The gas delivered to the wet processing apparatus 50 is discharged to the outside through the duct section 60 after the wet processing. Here, the wet processing apparatus 50 may be, for example, a wet electrostatic precipitator.

이하에서는 본 발명의 제2실시예에 따른 가스 스크러버를 설명한다. 제2실시예에 따른 가스 스크러버는 연소식 스크러버이다. 이는 상술한 제1실시예의 가스 스크러버(10)와 대부분의 요소들이 동일하거나 유사하며, 여기에서는 차이점 위주로 설명하고 동일 또는 유사한 요소에 대해서는 설명을 생략하기로 한다. 이를테면, 제2실시예에 따른 가스 스크러버에서도 제1실시예에서 설명한 바와 같은, 열회수챔버의 열을 회수하여 가열부에서 이용하는 구조, 싸이클론 회전을 발생시키는 공급관 결합구조, 그리고 벤츄리 효과를 발생시키는 배기구조는 동일하게 적용될 수 있다.Hereinafter, a gas scrubber according to a second embodiment of the present invention will be described. The gas scrubber according to the second embodiment is a combustion scrubber. This is because the gas scrubber 10 of the first embodiment has the same or similar elements as those of the gas scrubber 10 of the first embodiment described above, and the description of the same or similar elements will be omitted. For example, in the gas scrubber according to the second embodiment, as described in the first embodiment, the structure for recovering the heat of the heat recovery chamber and used in the heating section, the pipe structure for generating cyclone rotation, and the exhaust gas generating venturi effect The structure can be applied equally.

본 발명의 제2실시예에 따른 가스 스크러버는 산화챔버부(140)가 별도로 구비되지 않고 챔버 전체가 처리챔버부로 이루어질 수도 있다. 제2실시예에 따른 가스 스크러버는 산화챔버부(140)에서 냉각 기능을 수행하는 냉각챔버로 이용될 수 있다. 처리챔버부(100) 내의 폐가스를 연소시키도록 배치되는 버너와 같은 연소수단이 배치되어 처리챔버 내의 폐가스를 연소시킨다. 또한 제2실시예의 가스 스크러버는 열회수챔버(130)에 히팅자켓이 배치되어 예열동작을 수행할 수 있고, 이때 발생되는 열을 가열부(150)로 회수하여 폐가스의 가열에 이용할 수 있다.In the gas scrubber according to the second embodiment of the present invention, the oxidation chamber part 140 may not be separately provided, and the entire chamber may be a processing chamber part. The gas scrubber according to the second embodiment can be used as a cooling chamber that performs a cooling function in the oxidation chamber portion 140. [ Combustion means, such as a burner, disposed to combust the waste gas in the processing chamber portion 100 is disposed to combust the waste gas in the processing chamber. In the gas scrubber of the second embodiment, a heating jacket is disposed in the heat recovery chamber 130 to perform a preheating operation, and heat generated at this time can be recovered by the heating unit 150 and used for heating the waste gas.

특히, 연소식 가스 스크러버(20)인 제2실시예에서는 도 6에 도시한 바와 같이 폐가스에 Si가 포함될 경우 처리챔버부(100) 내의 폐가스 공급관부(214)의 개별관들의 출구에서 산소와 반응하여 적체물을 생성할 수 있다. 따라서, 폐가스 공급관부(214)의 개별관을 통해 투입되는 폐가스의 둘레로 불활성가스 쉴드층을 형성하도록 질소나 아르곤과 같은 불활성가스를 공급하는 불활성가스 공급관(215)을 더 포함할 수 있다. 이는 다수개의 불활성가스 공급관(215)이 폐가스 공급관부(214)의 각 개별관의 둘레에 배치되는 형태로 구현될 수도 있고, 폐가스를 공급하는 중앙관과 그 둘레를 감싸는 불활성가스 공급관으로 이루어지는 이중관 형태로 구현될 수도 있다.
Particularly, in the second embodiment, as shown in FIG. 6, when Si is contained in the waste gas, the exhaust gas scrubber 20 is operated to react with oxygen at the outlet of the individual tubes of the waste gas supply pipe portion 214 in the processing chamber portion 100 So that a roughened material can be produced. Therefore, it is possible to further include an inert gas supply pipe 215 for supplying an inert gas such as nitrogen or argon to form the inert gas shield layer around the waste gas introduced through the individual pipe of the waste gas supply pipe 214. This may be realized in the form of a plurality of inert gas supply pipes 215 disposed around each individual pipe of the waste gas supply pipe section 214 or in the form of a double pipe composed of a central pipe for supplying waste gas and an inert gas supply pipe .

이상, 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시예에 관해서 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어서 자명하다 할 것이다.
While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments.

10: 가스 스크러버 20: 연소식 가스 스크러버
30: 공정장비 50: 습식처리 장치
60: 덕트부 100: 처리챔버부
110: 상부챔버 111: 상부챔버 하우징
120: 하부챔버 121: 하부챔버 하우징
121a: 내벽 121b: 외벽
130: 열회수챔버 140: 산화챔버부
141: 산화챔버 하우징 142: 산소 공급관부
150: 가열부 160: 열전달매체 순환라인부
161: 배출관 162: 배기관
163: 송풍기 164: 압력계
165: 게이트밸브
10: Gas scrubber 20: Combustion gas scrubber
30: Process equipment 50: Wet processing device
60: duct part 100: processing chamber part
110: upper chamber 111: upper chamber housing
120: lower chamber 121: lower chamber housing
121a: inner wall 121b: outer wall
130: Heat recovery chamber 140: Oxidation chamber part
141: Oxidation chamber housing 142: Oxygen supply pipe
150: heating section 160: heat transfer medium circulation line section
161: exhaust pipe 162: exhaust pipe
163: blower 164: pressure gauge
165: Gate valve

Claims (9)

가스 스크러버로서:
폐가스의 처리가 수행되는 처리챔버부;
상기 처리챔버부로 폐가스를 공급하도록 연결되는 폐가스 공급관부;
상기 처리챔버부의 일부 또는 전부를 감싸도록 배치되는 열회수챔버부;
상기 열회수챔버부로 열전달매체를 공급하고 회수하는 순환라인부; 및
상기 폐가스 공급관을 통과하는 폐가스를 가열하도록 배치되는 가열부;를 포함하고,
상기 가열부는 상기 순환라인부와 연결되어 상기 열전달매체로부터 열을 전달받아 상기 폐가스의 가열에 이용하는 것인,
가스 스크러버.
As a gas scrubber:
A processing chamber portion in which processing of waste gas is performed;
A waste gas supply pipe portion connected to supply waste gas to the processing chamber portion;
A heat recovery chamber portion disposed to surround at least a part of the processing chamber portion;
A circulation line part for supplying and recovering the heat transfer medium to the heat recovery chamber part; And
And a heating unit arranged to heat the waste gas passing through the waste gas supply pipe,
Wherein the heating unit is connected to the circulation line unit and receives heat from the heat transfer medium and is used for heating the waste gas.
Gas scrubber.
청구항 1에 있어서,
상기 처리챔버 하부측에 배치되어 처리된 가스를 외부로 배출하는 배출관;
상기 배출관이 측면으로 연통되는 배기관; 및
상기 배기관을 일단에 연결되는 냉각공기를 불어넣는 송풍기;를 더 포함하는,
가스 스크러버.
The method according to claim 1,
A discharge pipe disposed at the lower side of the processing chamber and discharging the treated gas to the outside;
An exhaust pipe through which the discharge pipe communicates laterally; And
And a blower for blowing cooling air to one end of the exhaust pipe,
Gas scrubber.
청구항 2에 있어서,
상기 배기관의 풍압을 측정하도록 배치되는 압력계와,
상기 배기관의 개방 정도를 조절 가능하도록 배치되는 게이트밸브를 더 포함하고,
상기 게이트밸브는 상기 압력계의 측정값에 따라 상기 배기관의 개방 정도를 결정하는 것인,
가스 스크러버.
The method of claim 2,
A pressure gauge arranged to measure the wind pressure of the exhaust pipe,
Further comprising a gate valve arranged to adjust the degree of opening of the exhaust pipe,
Wherein the gate valve determines an opening degree of the exhaust pipe according to a measured value of the pressure gauge.
Gas scrubber.
청구항 1 내지 3 중 어느 하나에 있어서,
상기 처리챔버부로 플라즈마발생용 가스를 공급하는 플라즈마발생용 가스 공급관부;
상기 처리챔버부 내에 플라즈마를 발생시키도록 배치되는 플라즈마발생부;
상기 처리챔버부의 하부에 배치되어 상기 처리챔버부와 연통하는 산화챔버부; 및
상기 산화챔버부로 산소를 공급하는 산소 공급관부;를 더 포함하고,
상기 배출관은 상기 산화챔버부에 연결되는 것인,
가스 스크러버.
The method according to any one of claims 1 to 3,
A plasma generating gas supply pipe for supplying a plasma generating gas to the processing chamber;
A plasma generator arranged to generate a plasma in the processing chamber portion;
An oxidation chamber portion disposed at a lower portion of the processing chamber portion and communicating with the processing chamber portion; And
And an oxygen supply pipe for supplying oxygen to the oxidation chamber,
Wherein the discharge tube is connected to the oxidation chamber portion.
Gas scrubber.
청구항 4에 있어서,
상기 처리챔버부는 서로 연통된 상부챔버와 하부챔버로 이루어지고,
상기 열회수챔버부는 상기 하부챔버의 둘레에 배치되고,
상기 폐가스 공급관부는 상기 상부챔버로 연결되는 것인,
가스 스크러버.
The method of claim 4,
Wherein the processing chamber portion comprises an upper chamber and a lower chamber communicated with each other,
Wherein the heat recovery chamber portion is disposed around the lower chamber,
And the waste gas supply pipe portion is connected to the upper chamber.
Gas scrubber.
청구항 5에 있어서,
상기 폐가스 공급관부는 하나 이상의 개별관이 상기 처리챔버부의 상기 상부챔버를 형성하는 상부챔버 하우징의 측면부위로 연결되고,
상기 폐가스 공급관부의 하나 이상의 개별관은 상부챔버 하우징의 외면과의 사잇각이 직각보다 작은 각도를 이루도록 측방향으로 연결되어 폐가스가 상기 처리챔버부 내에서 회전하는 것인,
가스 스크러버.
The method of claim 5,
The waste gas supply pipe portion is connected to a side portion of an upper chamber housing in which at least one individual pipe forms the upper chamber of the processing chamber portion,
Wherein at least one individual tube of the waste gas supply tube is laterally connected so that an angle with an outer surface of the upper chamber housing is less than a right angle so that the waste gas rotates within the processing chamber portion.
Gas scrubber.
청구항 5에 있어서,
상기 산소 공급관부는 하나 이상의 개별관이 상기 산화챔버부를 형성하는 산화챔버 하우징의 측면부위로 연결되고,
상기 산소 공급관부의 하나 이상의 개별관은 상기 산화챔버 하우징의 외면과의 사잇각이 직각보다 작은 각도를 이루도록 측방향으로 연결되어 폐가스가 상기 산화챔버부 내에서 회전하는 것인,
가스 스크러버.
The method of claim 5,
Wherein the oxygen supply pipe portion is connected to a side portion of the oxidation chamber housing in which at least one individual pipe forms the oxidation chamber portion,
Wherein the at least one individual tube of the oxygen supply tube portion is laterally connected so that an angle with an outer surface of the oxidation chamber housing is less than a right angle so that waste gas rotates within the oxidation chamber portion.
Gas scrubber.
청구항 1 내지 3 중 어느 하나에 있어서,
상기 처리챔버부 내의 폐가스를 연소시키도록 배치되는 연소수단을 포함하는 것인,
가스 스크러버.
The method according to any one of claims 1 to 3,
And combustion means arranged to burn waste gas in the processing chamber portion.
Gas scrubber.
청구항 8에 있어서,
상기 폐가스 공급관부는 하나 이상의 개별관을 포함하고,
상기 폐가스 공급관부의 개별관을 통해 투입되는 폐가스의 둘레로 불활성가스 쉴드층을 형성하도록 불활성가스를 공급하는 불활성가스 공급관을 더 포함하는 것인,
가스 스크러버.
The method of claim 8,
The waste gas supply pipe portion includes at least one individual pipe,
Further comprising an inert gas supply pipe for supplying an inert gas to form an inert gas shield layer around the waste gas injected through the individual pipe of the waste gas supply pipe section.
Gas scrubber.
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