KR20140107244A - 플렉시블 광학 측정용 지그 - Google Patents

플렉시블 광학 측정용 지그 Download PDF

Info

Publication number
KR20140107244A
KR20140107244A KR1020147015739A KR20147015739A KR20140107244A KR 20140107244 A KR20140107244 A KR 20140107244A KR 1020147015739 A KR1020147015739 A KR 1020147015739A KR 20147015739 A KR20147015739 A KR 20147015739A KR 20140107244 A KR20140107244 A KR 20140107244A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
flexible optical
display panel
measurement
holding member
optical display
Prior art date
Application number
KR1020147015739A
Other languages
English (en)
Inventor
아키라 다카기
Original Assignee
수미토모 케미칼 컴퍼니 리미티드
도아고세이가부시키가이샤
다이니폰 인사츠 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP2011007435U external-priority patent/JP3173958U/ja
Priority claimed from JP2012265186A external-priority patent/JP5963263B2/ja
Application filed by 수미토모 케미칼 컴퍼니 리미티드, 도아고세이가부시키가이샤, 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 filed Critical 수미토모 케미칼 컴퍼니 리미티드
Publication of KR20140107244A publication Critical patent/KR20140107244A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/0002—Arrangements for supporting, fixing or guiding the measuring instrument or the object to be measured
    • G01B5/0004—Supports
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/133305—Flexible substrates, e.g. plastics, organic film

Abstract

[과제] 임의의 곡률을 가지는 플렉시블 광학 표시 패널의 어떤 측정에서도, 항상 측정 위치를 법선 방향으로부터 측정할 수 있는 플렉시블 광학 측정용 지그를 제공한다.
[해결 수단] 플렉시블 광학 측정용 지그(1)는, 임의의 곡률을 가지는 플렉시블 광학 표시 패널(2)을 유지하는 것이 가능한 소정의 곡률을 가진 유지 부재(10)와, 유지 부재(10)를 이동시키기 위한 유지 부재(10)와 동일한 곡률을 가지고, 또한 유지 부재(10)를 이동시키기 위한 받침대 부재(20)로 이루어지며, 받침대 부재(20)에 의해 유지 부재(10)가 이동 가능하여, 플렉시블 광학 표시 패널(2)을 이동하여 측정하는 어떤 측정에서도, 측정 위치를 법선 방향으로부터 측정 가능하게 한다. 　

Description

플렉시블 광학 측정용 지그{JIG FOR FLEXIBLE OPTICAL MEASUREMENT}
본 발명은, 임의의 곡률을 가지는 플렉시블 광학 표시 패널의 광학 특성을 측정할 수 있는 플렉시블 광학 측정용 지그에 관한 것이다.
최근, 전자 간판(디지털 사이니지(digital signage))이 주목을 끌고 있으며, 어느 형상으로도 설치 가능한 플렉시블 광학 표시 패널의 개발이 진행되고 있다. 이와 같은 플렉시블 광학 표시 패널에 대해서 광학 특성의 측정을 행할 필요가 있어, 종래부터 디스플레이 장치의 제조 공정에서, 디스플레이 장치의 표시부의 휘도, 색도 등의 물리량을 측정함으로써, 표시부의 광학 특성을 측정하는 것이 행해지고 있다(특허 문헌 1).
특허 문헌 1 : 일본특허공개 2010－91509호 공보
그렇지만, 종래의 광학 측정 장치는, 플랫 패널을 측정하는 것을 전제로 한 구조로 되어 있어, 플렉시블 광학 표시 패널을 구부려서 측정하면, 단부와 중앙부에서는 초점 위치가 달라 측정 스포트(spot) 지름이 변화하거나 측정면에 대해서 경사지게 평가하게 되어, 정확한 값이 얻어지지 않았다.
본 발명은, 이러한 실정을 감안하여 이루어진 것으로, 임의의 곡률을 가지는 플렉시블 광학 표시 패널의 어떤 측정에서도, 항상 측정 위치를 법선 방향으로부터 측정할 수 있는 플렉시블 광학 측정용 지그를 제공하는 것을 목적으로 한다. 　
상기 과제를 해결하고, 또한 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은, 이하와 같이 구성했다.
청구항 1에 기재된 발명은, 임의의 곡률을 가지는 플렉시블 광학 표시 패널을 유지하는 것이 가능한 소정의 곡률을 가진 유지 부재와, 상기 유지 부재를 이동시키기 위한 상기 유지 부재와 동일한 곡률을 가지고, 또한 상기 유지 부재를 이동시키기 위한 받침대 부재로 이루어지며, 상기 받침대 부재에 의해 상기 유지 부재가 이동 가능하여, 상기 플렉시블 광학 표시 패널을 이동하여 측정하는 어떤 측정에서도, 측정 위치를 법선 방향으로부터 측정 가능하게 하는 것을 특징으로 하는 플렉시블 광학 측정용 지그이다.
청구항 2에 기재된 발명은, 상기 유지 부재는, 소정의 곡률의 표면을 가지는 판 모양이며, 상기 플렉시블 광학 표시 패널을 상기 소정의 곡률의 표면으로 유지할 수 있는 유지부와, 상기 유지부에 형성된 광학 측정을 위한 개구부와, 상기 유지부의 양단에 상기 받침대 부재로 이동 가능하게 하는 슬라이드부를 가지는 것을 특징으로 하는 청구항 1에 기재된 플렉시블 광학 측정용 지그이다.
청구항 3에 기재된 발명은, 상기 받침대 부재는, 놓는 것을 가능하게 하는 받침대부와, 상기 받침대부에 형성된 광학 측정을 위한 개구부와, 상기 받침대부에 마련된 상기 유지 부재를 이동 가능하게 하는 가이드부를 가지는 것을 특징으로 하는 청구항 1에 기재된 플렉시블 광학 측정용 지그이다.
청구항 4에 기재된 발명은, 상기 받침대 부재는, 상기 유지 부재의 이동량을 표시하는 눈금과, 상기 플렉시블 광학 표시 패널의 측정 위치를 표시하는 측정표시를 가지는 것을 특징으로 하는 청구항 1에 기재된 플렉시블 광학 측정용 지그이다.
청구항 5에 기재된 발명은, 상기 받침대 부재는, 상기 플렉시블 광학 표시 패널을 측정 위치에서 고정시키기 위해서 상기 유지 부재를 조이는 체결 부재를 가지는 것을 특징으로 하는 청구항 1에 기재된 플렉시블 광학 측정용 지그이다.
상기 구성에 의해, 본 발명은, 이하와 같은 효과를 가진다.
청구항 1 내지 청구항 5에 기재된 발명에서는, 받침대 부재는, 유지 부재와 동일한 곡률을 가지고, 또한 유지 부재를 이동시켜, 유지 부재가 받침대 부재에 의해 이동함으로써, 플렉시블 광학 표시 패널을 이동하여 측정하는 어떤 측정에서도, 측정 위치를 법선 방향으로부터 측정 가능하고, 초점 위치가 달라, 측정 스포트 지름이 변화하는 것이나 측정면에 대해서 경사지게 평가하는 것 없이, 정확한 측정값이 얻어지며, 정밀도 좋게 플렉시블 광학 표시 패널을 평가할 수 있다.
도 1은 플렉시블 광학 측정용 지그의 사시도이다.
도 2는 유지 부재의 사시도이다.
도 3은 유지 부재에 플렉시블 광학 표시 패널을 고정한 상태의 사시도이다.
도 4는 받침대 부재의 사시도이다.
도 5는 체결 부재의 배치 위치를 나타내는 단면도이다.
도 6은 플렉시블 광학 측정용 지그와 광학 측정 장치에서의 측정 위치 관계를 나타내는 도면이다.
도 7은 광학 측정의 개념도이다.
이하, 본 발명의 플렉시블 광학 측정용 지그의 실시 형태에 대해서 설명한다. 본 발명의 실시 형태는, 발명의 가장 바람직한 형태를 나타내는 것이며, 본 발명은 이것에 한정되지 않는다.
(플렉시블 광학 측정용 지그의 구성)
도 1은 플렉시블 광학 측정용 지그의 사시도, 도 2는 유지 부재의 사시도, 도 3은 유지 부재에 플렉시블 광학 표시 패널을 고정한 상태의 사시도, 도 4는 받침대 부재의 사시도, 도 5는 체결 부재의 배치 위치를 나타내는 단면도이다.
본 실시 형태의 플렉시블 광학 측정용 지그(1)는, 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 제조 공정에서, 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 표시부의 휘도, 색도, 셀 갭(cell gap) 등의 광학 특성을 측정하는 것이며, 임의의 곡률을 가지는 플렉시블 광학 표시 패널(2)을 유지하는 것이 가능한 소정의 곡률을 가진 유지 부재(10)와, 유지 부재(10)를 이동시키기 위한 유지 부재(10)와 동일한 곡률을 가지고, 또한 유지 부재(10)를 이동시키기 위한 받침대 부재(20)로 이루어지며, 받침대 부재(20)에 의해 유지 부재(10)가 이동 가능하여, 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 어떤 측정에서도, 측정 위치를 법선 방향으로부터 측정 가능하게 한다.
유지 부재(10)는, 소정의 곡률의 표면을 가지는 판 모양이며, 플렉시블 광학 표시 패널(2)을 소정의 곡률의 표면으로 유지할 수 있는 유지부(11)와, 유지부(11)에 형성된 광학 측정을 위한 개구부(12)와, 유지부(11)의 양단에 받침대 부재(20)로 이동 가능하게 하는 슬라이드부(13)를 가진다. 　
유지 부재(10)는, 두께 t, 곡률 반경 R을 가지며, 유지부(11)의 곡률 반경 R측의 볼록 표면에 플렉시블 광학 표시 패널(2)을 고정한다. 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 고정 방법에 관해서는, 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 표시 영역에 영향을 주지 않고, 취급시에 플렉시블 광학 표시 패널(2)과 유지 부재(10)의 위치가 어긋나지 않도록 고정한다.
예를 들면, 유지 부재(10)와 플렉시블 광학 표시 패널(2)에 나사 구멍을 마련하여 체결 수단에 의해 체결 고정하는 방법이나 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 외주부, 혹은 굽힘 방향의 단부만을 브라켓이나 플라스틱판으로 고정하는 방법, 또는 간이하게 강력 점착 테이프로 고정하는 방법 등이 있다. 본 실시 형태에서는, 강력 점착 테이프(19)에 의해 고정하고 있지만, 본 발명에서의 고정 방법에 관해서는, 이것에 한정되지 않는다.
유지 부재(10)는, 유지부(11)에 하나 내지 복수의 개구부(12)를 가지며, 이 개구부(12)의 크기 및 수는, 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 측정 스포트(spot) 지름이나 측정 개소에 준하기 때문에, 임의로 한다.
이 받침대 부재(20)는, 놓는 것을 가능하게 하는 받침대부(21)와, 받침대부에 형성된 광학 측정을 위한 개구부(22)와, 받침대부(21)에 마련된 유지 부재(10)를 이동 가능하게 하는 가이드부(23)를 가진다. 가이드부(23)에는, 유지 부재(10)의 지지부(13)를 이동 가능하게 하기 위한 유지 부재(10)와 동일한 곡률 반경 R을 가지고 또한 유지 부재(10)의 슬라이드부(13)를 가동하기 위한 가이드 홈부(24)가 형성되어 있다.
받침대 부재(20)의 가이드부(23)는, 유지 부재(10)의 이동량을 표시하는 눈금(25)과, 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 측정 위치를 표시하는 측정표시(26)를 가진다. 눈금(25) 및 측정표시(26)는, 가이드부(23)의 가이드 홈부(24)에 형성되어 있기 때문에 유지 부재(10)는 투명 수지로 성형된다. 또, 눈금(25)과 측정표시(26)를 가이드부(23)의 측면에 가이드 홈부(24)를 따라서 형성하는 것이면, 유지 부재(10)도 투명 수지에 한정되지 않는다. 이와 같이 하여, 눈금(25) 및 측정표시(26)를 외부로부터 용이하게 눈으로 볼 수 있게 되어 있다.
또, 받침대 부재(20)는, 플렉시블 광학 표시 패널(2)을 측정 위치에서 고정시키기 위해서 유지 부재(10)를 조이는 체결 부재(27)를 가진다. 체결 부재(27)는, 체결 나사로 형성되며, 도 5의 (a)에 나타내는 바와 같이, 가이드부(23)의 상단으로부터 가이드 홈부(24)에 위치하는 유지 부재(10)의 표면측 단면(端面)을 조여 고정하는 구조라도, 도 5의 (b)에 나타내는 바와 같이, 가이드부(23)의 외측으로부터 가이드 홈부(24)에 위치하는 유지 부재(10)의 두께측 단면(端面)을 조여 고정하는 구조라도 좋다.
받침대 부재(20)는, 유지 부재(10)의 크기에 따라서 어느 정도 정해지지만, 반드시 유지 부재(10)의 크기에 비례하여 크게 성형할 필요는 없다. 받침대 부재(20)에는, 유지 부재(10)를 받침대 부재(20)에 고정하는 체결 부재(27)를 가지고 있으며, 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 측정 위치에서 체결 부재(27)를 조이는 것에 의해서 충분히 측정 가능하다.
측정표시(26)는 가이드 홈부(24)의 높이 D1의 가장 낮은 위치 D2이며, 또한 곡면 반경 R 상에 일정한 길이마다 표시를 붙인 눈금(25)을 가진다. 측정표시(26)와 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 측정하고 싶은 개소를 일치시키고, 또한 유지 부재(10)를 이동시킴으로써, 어떤 측정에서도, 측정 위치를 법선 방향으로부터 측정 가능하게 한다.
또, 눈금(25)은, 유지 부재(10)의 이동량을 표시하고, 눈금(25)에 기초하여 유지 부재(10)를 이동하여, 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 측정 위치를 변화시킬 수 있다. 이 눈금(25)을 이용함으로써, 반복 측정의 재현성이 향상된다.
(플렉시블 광학 측정용 지그를 이용한 광학 측정)
다음으로, 플렉시블 광학 측정용 지그를 이용한 광학 측정을, 도 6에 기초하여 설명한다. 도 6은 플렉시블 광학 측정용 지그와 광학 측정 장치에서의 측정 위치 관계를 나타내는 도면이다.
이 광학 측정 장치(50)는, 발광부(51)와 수광부(52)를 구비하며, 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 제조 공정에서, 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 표시부의 휘도, 색도 등의 물리량을 측정함으로써, 표시부의 광학 특성을 측정하며, 이 광학 특성의 측정은 발광부(51)로부터의 광을 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 표시부에 조사하고, 수광부(52)에 의해서 수광함으로써 행한다.
이 광학 측정 장치(50)를 이용한 측정시에, 플렉시블 광학 측정용 지그(1)를 광학 측정 장치(50)의 광선(S) 상에, 대향하는 가이드부(23)의 측정표시(26)를 연결하는 선(K)과 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 측정하고 싶은 개소가 일치하도록 설정한다. 이 광학 측정 장치(50)의 광선(S)과 선(K)의 교점(交点) 상에 있는 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 위치는, 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 측정 개소를 법선 방향으로부터 측정한 위치에 해당한다. 이 광학 특성의 측정은, 플렉시블 광학 측정용 지그(1)의 유지 부재(10)가 받침대 부재(20)에 의해 이동함으로써, 어떤 측정에서도, 측정 위치를 법선 방향으로부터 측정 가능하게 한다. 이 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 이동은, 눈금(25)에 기초하여 유지 부재(10)를 이동하여, 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 측정 위치를 변화시킨다.
도 7의 광학 측정의 개념도에 나타내는 바와 같이, 본 실시 형태에서는, 플렉시블 광학 측정용 지그(1)를 이용하여 광학 측정 장치(50)에 의해 임의의 곡률을 가지는 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 광학 측정을 행한다. 이 광학 측정 장치(50)에서는, 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 측정 포인트 A1의 법선 방향을 광학 측정 장치(50)의 광선(S)과 일치시켜 측정을 행하고(도 7의 (a)), 측정 포인트 A1에서의 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 두께는 D1으로, 광선(S)과 일치하는 법선 방향에서의 두께이다. 그리고, 이 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 측정 위치를 바꾸기 위해서, 플렉시블 광학 측정용 지그(1)를 이용하여 플렉시블 광학 표시 패널(2)을 이동하여 측정 포인트 A2에서 측정하면(도 7의 (b)), 이 측정 포인트 A2에서도 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 법선 방향과 광학 측정 장치(50)의 광선(S)은 일치하고 있으며, 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 두께는 D1으로, 법선 방향에서의 두께이다. 이와 같이, 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 측정 위치를 변화시키는 어떤 측정에서도 측정 포인트에서의 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 두께는 항상 D1의 법선 방향에서의 두께이며, 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 측정 개소를 법선 방향으로부터 평가할 수 있다.
플렉시블 광학 측정용 지그(1)를 이용하지 않는 비교예에서는, 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 측정 포인트 A2의 법선 방향을 광학 측정 장치(50)의 광선(S)과 일치시키지 않게 측정을 행하면(도 7의 (c)), 측정 포인트 A2에서의 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 두께는 D1보다 긴 D2가 된다. 이와 같이, 비교예에서는, 플렉시블 광학 측정용 지그(1)를 이용하지 않고 측정을 행하면, 법선 방향으로부터 어긋난 두께로 측정하게 된다.
이와 같이, 본 실시의 형태에서는, 임의의 곡률을 가지는 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 측정 위치를 변화시키는 어떤 측정에서도, 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 법선 방향으로부터 측정하게 되고, 측정의 초점 위치가 달라, 측정 스포트 지름이 변화하는 것이나 측정면에 대해서 경사지게 평가하는 것 없이, 정확한 측정값이 얻어지며, 정밀도 좋게 플렉시블 광학 표시 패널(2)을 평가할 수 있다.
예를 들면, 전압-투과율 측정에서는, 플렉시블 광학 표시 패널(2)에 소정의 전압을 인가시켜, 그 때의 휘도를 측정한다. 플렉시블 광학 표시 패널(2)에 대해서 법선 방향으로부터 측정하지 않으면, 플렉시블 광학 표시 패널(2)을 통과하는 거리가 길어져, 정확한 휘도가 얻어지지 않는다. 　
또, 예를 들면, 셀 갭 측정에서는, 어느 소정의 직선 편광을 플렉시블 광학 표시 패널(2)에 맞추어, 위상이 어떻게 변했는지에 의해 셀의 갭을 측정한다. 플렉시블 광학 표시 패널(2)에 대해서 법선 방향으로부터 측정하지 않으면, 플렉시블 광학 표시 패널(2)을 통과하는 거리가 길어져, 정확한 위상의 변화를 측정할 수 없다.
또, 플렉시블 광학 측정용 지그(1)는, 유지 부재(10)가 일정한 곡률을 가지고 있기 때문에, 플렉시블 광학 표시 패널(2)을 유지 부재(10)를 따르게 하는 것만으로 균일하게 구부리는 것이 가능하다. 또, 이 유지 부재(10)는, 내열성이나 내습성이 높은 재질을 이용하면, 플렉시블 광학 표시 패널(2)을 고정한 채로 신뢰성 시험에 투입할 수 있고, 용이하게 곡면 플렉시블 광학 표시 패널(2)의 특성을 평가할 수 있다. 게다가, 플렉시블 광학 측정용 지그(1)는, 세로로도 가로로도 설치 가능하여, 여러 가지 광학 측정 장치에 장착할 수 있다.
[산업상의 이용 가능성]
본 발명은, 임의의 곡률을 가지는 플렉시블 광학 표시 패널의 광학 특성을 측정할 수 있는 플렉시블 광학 측정용 지그에 적용 가능하고, 임의의 곡률을 가지는 플렉시블 광학 표시 패널의 어떤 측정 위치에서도, 항상 측정 위치를 법선 방향으로부터 측정할 수 있다.
1 … 플렉시블 광학 측정용 지그 2 … 플렉시블 광학 표시 패널
10 … 유지 부재 11 … 유지부
12 … 개구부 13 … 슬라이드부
20 … 받침대 부재 21 … 받침대부
22 … 개구부 23 … 가이드부
24 … 가이드 홈부 25 … 눈금
26 … 측정표시 27 … 체결 부재

Claims (5)

  1. 임의의 곡률을 가지는 플렉시블 광학 표시 패널을 유지하는 것이 가능한 소정의 곡률을 가진 유지 부재와, 상기 유지 부재를 이동시키기 위한 상기 유지 부재와 동일한 곡률을 가지고, 또한 상기 유지 부재를 이동시키기 위한 받침대 부재로 이루어지며, 상기 받침대 부재에 의해 상기 유지 부재가 이동 가능하여, 상기 플렉시블 광학 표시 패널을 이동하여 측정하는 어떤 측정에서도, 측정 위치를 법선(法線) 방향으로부터 측정 가능하게 하는 것을 특징으로 하는 플렉시블 광학 측정용 지그.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 유지 부재는, 소정의 곡률의 표면을 가지는 판 모양이며, 상기 플렉시블 광학 표시 패널을 상기 소정의 곡률의 표면으로 유지할 수 있는 유지부와, 상기 유지부에 형성된 광학 측정을 위한 개구부와, 상기 유지부의 양단에 상기 받침대 부재로 이동 가능하게 하는 슬라이드부를 가지는 것을 특징으로 하는 플렉시블 광학 측정용 지그.
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 받침대 부재는, 놓는 것을 가능하게 하는 받침대부와, 상기 받침대부에 형성된 광학 측정을 위한 개구부와, 상기 받침대부에 마련된 상기 유지 부재를 이동 가능하게 하는 가이드부를 가지는 것을 특징으로 하는 플렉시블 광학 측정용 지그.
  4. 청구항 1에 있어서,
    상기 받침대 부재는, 상기 유지 부재의 이동량을 표시하는 눈금과, 상기 플렉시블 광학 표시 패널의 측정 위치를 표시하는 측정표시를 가지는 것을 특징으로 하는 플렉시블 광학 측정용 지그.
  5. 청구항 1에 있어서,
    상기 받침대 부재는, 상기 플렉시블 광학 표시 패널을 측정 위치에서 고정시키기 위해서 상기 유지 부재를 조이는 체결 부재를 가지는 것을 특징으로 하는 플렉시블 광학 측정용 지그.
KR1020147015739A 2011-12-16 2012-12-06 플렉시블 광학 측정용 지그 KR20140107244A (ko)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-U-2011-007435 2011-12-16
JP2011007435U JP3173958U (ja) 2011-12-16 2011-12-16 フレキシブル光学測定用治具
JPJP-P-2012-265186 2012-12-04
JP2012265186A JP5963263B2 (ja) 2012-12-04 2012-12-04 フレキシブル光学測定用治具
PCT/JP2012/081687 WO2013089017A1 (ja) 2011-12-16 2012-12-06 フレキシブル光学測定用治具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20140107244A true KR20140107244A (ko) 2014-09-04

Family

ID=48614213

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020147015739A KR20140107244A (ko) 2011-12-16 2012-12-06 플렉시블 광학 측정용 지그

Country Status (5)

Country Link
US (1) US9194809B2 (ko)
KR (1) KR20140107244A (ko)
CN (1) CN104067100B (ko)
TW (1) TWI457552B (ko)
WO (1) WO2013089017A1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170016553A (ko) * 2015-08-03 2017-02-14 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널의 곡률 측정 장치

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102229364B1 (ko) * 2014-09-18 2021-03-19 삼성디스플레이 주식회사 표시장치의 테스트 장치 및 그 장치를 이용한 테스트 방법
KR102250051B1 (ko) 2014-10-30 2021-05-11 삼성디스플레이 주식회사 커브드 디스플레이 장치 제조방법
TW201616467A (zh) 2014-10-31 2016-05-01 中華映管股份有限公司 曲面裝飾板以及曲面顯示裝置的製作方法
JP6556269B2 (ja) * 2016-02-08 2019-08-07 堺ディスプレイプロダクト株式会社 検査用装置
CN105807212B (zh) * 2016-05-26 2018-03-13 深圳市华星光电技术有限公司 电路板测试装置及电路板测试方法
CN112903253B (zh) * 2021-01-21 2024-01-30 昆山国显光电有限公司 柔性显示面板的测试治具及测试方法
CN114146875A (zh) * 2021-12-13 2022-03-08 越达光电科技(浙江)有限公司 一种装夹治具及其灌胶系统

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4563088A (en) * 1983-02-15 1986-01-07 Rca Corporation Device for maintaining a moving curved surface a constant distance from a stationary point
US4525735A (en) * 1983-02-15 1985-06-25 Rca Corporation System for measuring and identifying line spacing on a curved surface
US6314199B1 (en) * 1991-12-18 2001-11-06 Novartis Ag Process and apparatus for examining optical components, especially optical components for the eye and device for illuminating clear-transparent
US5343288A (en) * 1992-11-23 1994-08-30 Libbey-Owens-Ford Co. Optical evaluation of automotive glass
TW325744U (en) * 1993-07-21 1998-01-21 Ciba Geigy Ag Two-sided contact lens mold
US5781288A (en) * 1995-09-27 1998-07-14 Central Glass Company, Limited Method of inspecting location of optical film and system for carrying out the method
JP2003185596A (ja) * 2001-12-20 2003-07-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd 薄型板状体の撮像処理方法および撮像処理装置
NL1022293C2 (nl) * 2002-12-31 2004-07-15 Tno Inrichting en werkwijze voor het vervaardigen of bewerken van optische elementen en/of optische vormelementen, alsmede dergelijke elementen.
JP2008058274A (ja) 2006-09-04 2008-03-13 Sumitomo Jukikai Advanced Machinery Kk 発光体の発光特性測定装置
US7966861B2 (en) * 2007-12-27 2011-06-28 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Jig frame for drop test of flat panel display device
TWI374263B (en) * 2008-04-28 2012-10-11 Ind Tech Res Inst Vacuum bending apparatus and method for the same
JP5187117B2 (ja) * 2008-10-10 2013-04-24 コニカミノルタオプティクス株式会社 光学特性測定装置
JP2010127910A (ja) 2008-12-01 2010-06-10 Ricoh Co Ltd フィルムの検査装置及びこれを備えた光透過性のフィルムの製造装置、並びにフィルムの検査方法及びこれを用いた光透過性のフィルムの製造方法
CN102213848B (zh) * 2010-04-09 2013-03-13 北京京东方光电科技有限公司 液晶面板透过率的测量方法及系统

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170016553A (ko) * 2015-08-03 2017-02-14 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널의 곡률 측정 장치

Also Published As

Publication number Publication date
TWI457552B (zh) 2014-10-21
US9194809B2 (en) 2015-11-24
WO2013089017A1 (ja) 2013-06-20
CN104067100A (zh) 2014-09-24
US20140307257A1 (en) 2014-10-16
TW201337230A (zh) 2013-09-16
CN104067100B (zh) 2016-11-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20140107244A (ko) 플렉시블 광학 측정용 지그
US9212991B2 (en) Refractive index measurment apparatus and refractive index measurment method
JP5963263B2 (ja) フレキシブル光学測定用治具
US8947650B2 (en) Refractive index measuring device and refractive index measuring method
JPS60210704A (ja) 顕微鏡を用いた操作装置の精密校正・整合器具及び方法
CN110082668A (zh) 一种用于亥姆霍兹线圈磁场测试的元件固定装置
CN101908293B (zh) 一种磁性摆单摆综合实验仪
CN103837091A (zh) 一种玻璃翘曲度测试装置及方法
CN103411534B (zh) 一种测量光斑大小的方法和装置
CN107202557A (zh) 对标测量装置、校准镜头与图卡相对位置的系统及方法
JP3173958U (ja) フレキシブル光学測定用治具
JP2013171236A (ja) 光学機器
CN210803766U (zh) 一种新型阵列式指示光栅结构
CN210803767U (zh) 一种阵列式指示光栅结构
CN203784771U (zh) 一种背光源调试装置
KR200450894Y1 (ko) 고체의 굴절률 측정장치
CN100523769C (zh) 多用途无穷远目标模拟装置
RU140028U1 (ru) Стенд для поверки уровнемеров
JP6522329B2 (ja) 測定治具及び測定装置
CN220305586U (zh) 能量检测装置
CN215065171U (zh) 测试装置
CN208636609U (zh) 一种精密可调液晶模组测试平台
KR101225263B1 (ko) Ｅｐｍａ 분석기 필라멘트 센터링 가이드 및 그 구동 장치
KR100381329B1 (ko) 광학계의 ｆ넘버 측정장치
JP2006203374A (ja) アンテナ設置角度調整装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right