KR20140018389A - 터치 스크린의 구동 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 터치 스크린의 구동 방법에 관한 것이며, 상기 방법은 하나의 주기에 적어도 2개의 제1 시간 시퀀스와 적어도 2개의 제2 시간 시퀀스를 설정하고, 서로 다른 제1 시간 시퀀스에서 표시 패널의 서로 다른 표시 스캔 라인을 스캔하고, 하나의 주기내의 모든 제1 시간 시퀀스에서 표시 패널의 모든 표시 스캔 라인에 대한 신호 전달을 완료하고, 각각의 제2 시간 시퀀스에서 다수의 스캔 신호를 발생시켜 상기 터치 패널의 모든 터치 스캔 라인에 차례로 전달함으로써, 하나의 주기에서 1회 주기에서 표시 패널에 대한 1회 표시 스캔과 상기 터치 패널에 대한 적어도 2회 터치 스캔을 수행한다. 따라서, 본 발명에 따른 터치 스크린의 구동 방법은 표시 스캔 주파수를 증가시키지 않으면서 터치 스캔 주파수를 대폭 증가시켜, 표시 패널이 명확하게 표시하도록 충분한 스캔 시간을 확보할 뿐만 아니라, 터치 스캔 주파수를 증가시키고 노이즈 간섭을 저감하고 나아가 터치 패널의 응답 속도와 검출 정확도를 향상시킨다.

Description

터치 스크린의 구동 방법{Touch display panel driving method}
본 발명은 표시 스크린의 구동 방법에 관한 것으로 특히 터치 스크린의 구동 방법에 관한 것이다.
과학 기술의 끊임없는 발전에 따라 더욱 편리하고 효과적인 조작 제어를 위해, 터치 패널은 이미 액정 표시 스크린에 광범위하게 정합되어 터치 스크린을 형성하였다. 통상의 터치 스크린은 주로 표시 패널, 터치 패널 및 제어 회로로 구성된다.
종래에 광범위하게 이용되는 표시 패널은 박막 트랜지스터 액정 표시 패널(TFT-LCD)이다. 도 1은 종래기술에 따른 표시 패널 구성의 개략도이다. 도 1에 나타낸 바와 같이, 표시 패널(10)은 다수의 어레이로 배열된 화소 유닛으로 구성되며, 칼라를 표시하는 표시 패널(10)에 있어서, 화소 유닛은 서로 다른 색상을 표시하는 다수의 서브 화소 유닛으로 구성될 수 있으며, 예를 들어 적녹청(RGB)을 각각 표시하는 3개의 서브 화소 유닛(11)으로 구성될 수 있다. 각각의 화소 유닛은 하나의 TFT(박막 트랜지스터)를 구동 스위치로 하며, 일반적으로 표시 패널(10)은 수평방향의 표시 스캔 라인(13)과 수직방향의 데이터 라인(12)을 통해 각각의 서브 화소 유닛(11)의 표시를 구현한다. 제어 회로는 게이트 구동 회로(31)와 소스 구동 회로(32)를 포함하며, 여기서 게이트구동 회로(31)는 시간 시퀀스에 따라 펄스형 구동 신호를 각각 발생시켜 표시 패널(10)의 표시 스캔 라인(13)에 전달함으로써, 당해 라인의 표시 스캔 라인(13)에 대응되는 서브 화소 유닛(11)을 오픈한다. 오픈된 서브 화소 유닛(11)은 소스 구동 회로(32)가 데이터 라인(12)을 통해 전달한 데이터 신호를 수신하여 서로 다른 전압의 데이터 신호를 토대로 상응한 계조를 표시한다.
도 2는 종래기술에 따른 터치 패널 구성의 개략도이다. 도 1과 도 2를 결합하여 살펴보면, 터치 패널(20)은 표시 패널(10)과 서로 오버랩되어 설치되며, 터치 패널(20)은 다수의 어레이로 배열된 감지 유닛(21)으로 구성된다. 터치 패널(20)은 수평방향의 터치 구동 라인(23)과 수직방향의 감지 라인(22)을 통해 각각의 감지 유닛(21)에 대한 감지를 구현한다. 제어 회로는 또한 터치 구동 회로(33)와 감지 구동 회로(34)를 더 포함하며, 여기서 터치 구동 회로(33)는 시간 시퀀스에 따라 펄스형 구동 신호를 각각 발생시켜 터치 패널(20)의 터치 스캔 라인(23)에 발송한다. 감지 구동 회로(34)는 당해 라인의 터치 스캔 라인(23)과 연결된 감지 유닛(21)을 차례로 검출하여 터치 발생과 터치 발생의 구체적인 위치를 정한다.
정확한 표시 효과를 얻기 위해 표시 패널(10)의 표시 스캔 라인(13)은 보통 수백개 내지 천여개의 라인으로 구성되며, 예를 들어 480개, 576개, 1024개 등의 라인으로 구성된다. 그리고 터치 패널(20)의 터치 스캔 라인(23)은 보통 십수개 내지 백개 라인으로 구성되며, 예를 들어 100개 라인 등으로 구성된다. 따라서, 스캔중에 표시 패널(10)에 대한 스캔 시간은 보통 터치 패널(20)에 대한 스캔 시간보다 길다.
실제 터치 표시 중에, 제어 회로는 다수의 주기적인 제어 신호를 발생시켜 표시 패널과 터치 패널에 대한 스캔을 구동시킨다. 도 3은 종래기술에 따른 터치 스크린의 구동 방법의 시간 시퀀스 할당 개략도이다. 도 3에 나타낸 바와 같이, 주기적 스캔 신호의 주파수(프레임 주파수)가 60Hz인 경우를 예로 들면, 각 주기(C0)의 시간은 16.67ms이며 두 개의 시간 시퀀스, 즉 제1 시간 시퀀스(C1)와 제2 시간 시퀀스(C2)를 포함하며, 시간 할당으로는, C1의 시간은 14.67ms, C2의 시간은 2ms로 할당되는 것이 바람직하다. 하나의 주기(C0)내에서, 제어 회로는 제1 시간 시퀀스(C1)의 시간 내에 다수의 스캔 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 모든 표시 스캔 라인에 차례로 전달함으로써 표시 패널에 대한 1회 스캔을 수행한다. 그리고 제2 시간 시퀀스(C2)의 시간 내에 다수의 스캔 신호를 발생시켜 상기 터치 패널의 터치 스캔 라인에 차례로 전달함으로써 터치 패널에 대한 1회 스캔을 수행한 후, 터치 패널의 스캔 결과를 처리 분석하며, 나아가 다음 주기에서의 표시 패널의 표시를 제어한다. 따라서 종래기술에 따른 스캔 방식에서, 터치 스크린의 스캔 주파수와 표시 스크린의 스캔 주파수는 일치한다.
다만, 터치 패널의 터치 감도에 대한 요구가 점점 높아짐에 따라, 터치 스크린의 스캔 주파수를 효과적으로 높이는 것이 필요하며, 100Hz이상 나아가 120Hz이상인 경우에만 바람직한 터치 응답 속도를 얻을 수 있다. 그러나, 표시 패널의 스캔 주파수는 그에 따라 과도하게 높일 수 없다. 이유는, 표시 패널의 스캔 주파수가 너무 높으면 각각의 표시 스캔 라인의 스캔 시간이 대폭 단축되어 표시 패널의 각각의 서브 화소 유닛의 충/방전시간이 대폭 단축되며 이에 따라 충/방전 시간이 충분하지 않으며 나아가 표시 패널의 표시 효과에 영향을 미치기 쉽기 때문이다. 따라서 종래기술에 따른 스캔 방식은 터치 스크린의 감도를 효과적으로 향상시키는 것과 표시 패널의 표시 효과를 유지하는 것을 양립시키기 어렵다.
본 발명의 목적은 터치 스크린의 감도를 효과적으로 향상시키면서 표시 패널의 표시 효과를 유지할 수 있는 터치 스크린의 구동 방법을 제공하는 것이다.
상기 과제를 해결하기 위해 본 발명은 터치 스크린의 구동 방법을 제공하며, 상기 터치 스크린은 표시 패널, 터치 패널 및 제어 회로를 포함하고, 상기 제어 회로는 다수의 주기적인 스캔 제어 신호를 발송하고, 각 주기는 적어도 2개의 제1 시간 시퀀스와 적어도 2개의 제2 시간 시퀀스를 포함하며, 상기 제1 시간 시퀀스와 제2 시간 시퀀스는 차례로 교대로 진행되며, 각각의 제1 시간 시퀀스에서, 상기 제어 회로는 다수의 스캔 제어 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 표시 스캔 라인 구동 회로에 전달함으로써, 상기 표시 스캔 라인 구동 회로를 제어하여 각 주기내의 서로 다른 제1 시간 시퀀스에서 표시 패널의 서로 다른 표시 스캔 라인에 스캔 신호를 발송하도록 하며, 각 주기내의 모든 제1 시간 시퀀스에서 상기 표시 스캔 라인 구동 회로는 표시 패널의 모든 표시 스캔 라인에 대한 스캔 신호 발송을 완료하며; 각각의 제2 시간 시퀀스에서, 상기 제어 회로는 다수의 스캔 제어 신호를 발생시켜 상기 터치 패널의 터치 스캔 라인 구동 회로에 전달함으로써, 상기 터치 스캔 라인 구동 회로를 제어하여 상기 터치 패널의 모든 터치 스캔 라인에 스캔 신호를 차례로 발송하도록 한다.
추가적으로는, 각 주기내의 각각의 제2 시간 시퀀스의 시간은 모두 동일하고 각각의 제1 시간 시퀀스의 시간은 모두 동일하다.
추가적으로는, 각 주기는 2개의 제1 시간 시퀀스와 2개의 제2 시간 시퀀스를 포함한다.
추가적으로는, 상기 표시 스캔 라인은 제1 유형 표시 스캔 라인과 제2 유형 표시 스캔 라인으로 이루어지고, 첫번째 제1 시간 시퀀스에서 상기 제어 회로는 다수의 스캔 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 제1 유형 표시 스캔 라인에 차례로 전달하고, 두번째 제1 시간 시퀀스에서 상기 제어 회로는 다수의 스캔 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 제2 유형 표시 스캔 라인에 차례로 전달한다.
추가적으로는, 상기 제1 유형 표시 스캔 라인과 제2 유형 표시 스캔 라인은 1라인 건너 교대로 배열된다.
추가적으로는, 상기 표시 스캔 라인은 모두 K개 라인이며, 상기 제1 유형 표시 스캔 라인은 제1 라인 내지 제L 라인의 표시 스캔 라인이고, 상기 제2 유형 표시 스캔 라인은 제L+1 라인 내지 제K 라인의 표시 스캔 라인이며, 상기 K는 양의 정수이고, 상기 L은 K보다 작은 양의 정수이다.
추가적으로는, 상기 표시 스캔 라인은 모두 2n개 라인이고, 상기 제1 유형 표시 스캔 라인은 제1 라인 내지 제n 라인의 표시 스캔 라인이고, 상기 제2 유형 표시 스캔 라인은 제n+1 라인 내지 제2n 라인의 표시 스캔 라인이며, 상기 n은 양의 정수이다.
추가적으로는, 상기 표시 스캔 라인 구동 회로는 적어도 하나의 비정질 실리콘 게이트 구동 회로를 포함하고, 각각의 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 다수의 비정질 실리콘 시프트 레지스터 회로를 포함하고, 상기 비정질 실리콘 시프트 레지스터 회로는 상기 표시 스캔 라인과 하나씩 대응되며, 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터 회로의 출력단은 현재 표시 스캔 라인에 전기적으로 연결된다.
추가적으로는, 상기 표시 스캔 라인 구동 회로는 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로와 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로를 포함하고, 상기 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로와 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 상기 표시 패널의 일측에 함께 위치한다.
추가적으로는, 상기 표시 스캔 라인은 모두 K개 라인이고, 상기 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 제1 라인 내지 제L 라인의 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 제L+1 라인 내지 제K 라인의 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되며, 여기서 상기 K는 양의 정수이고, 상기 L은 K보다 작은 양의 정수이다.
추가적으로는, 상기 표시 스캔 라인은 모두 2n개 라인이고, 상기 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 제1 라인 내지 제n 라인의 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 제2 유형 표시 스캔 라인은 제n+1 라인 내지 제2n 라인의 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 n은 양의 정수이다.
추가적으로는, 상기 표시 스캔 라인 구동 회로는 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로와 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로를 포함하고, 상기 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로와 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 각각 상기 표시 패널의 양측에 분리되어 배치된다.
추가적으로는, 상기 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로의 비정질 실리콘 시프트 레지스터 회로는 제1 유형의 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로의 비정질 실리콘 시프트 레지스터 회로는 제2 유형의 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 여기서 제1 유형의 표시 스캔 라인과 제2 유형의 표시 스캔 라인은 1라인 건너 교대로 배치된다.
추가적으로는, 상기 표시 스캔 라인 구동 회로는 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로, 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로, 제3 비정질 실리콘 게이트 구동 회로 및 제4 비정질 실리콘 게이트 구동 회로를 포함하고, 상기 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로와 제3 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 상기 표시 패널의 일측에 위치하고, 상기 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로와 제4 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 상기 표시 패널의 타측에 위치한다.
추가적으로는, 상기 표시 스캔 라인은 모두 K개 라인이며, 상기 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 제1 라인 내지 제L 라인중 제1 유형 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 제1 라인 내지 제L라인중 제2 유형 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 제3 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 제L+1 라인 내지 제K 라인중 제1 유형 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 제4 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 상기 제2 유형 표시 스캔 라인이 제L+1 라인 내지 제K 라인중 제2 유형 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 여기서 상기 K는 양의 정수이고, 상기 L은 K보다 작은 양의 정수이다.
추가적으로는, 상기 표시 스캔 라인은 모두 4n개 라인이고, 상기 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 제1 라인 내지 제2n 라인중 제1 유형 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 제1 라인 내지 제2n 라인중 제2 유형 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 제3 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 제2n+1 라인 내지 제4n 라인중 제1 유형 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 제4 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 상기 제2 유형 표시 스캔 라인이 제2n+1 라인 내지 제4n 라인중 제2 유형 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 여기서 상기 n은 양의 정수이다.
추가적으로는, 상기 제어 회로에서 발송된 주기적 스캔 신호의 주파수는 50Hz~70Hz이다.
추가적으로는, 상기 제어 회로에서 발송된 주기적 스캔 신호의 주파수는 60Hz이다.
추가적으로는, 각 주기는 2개의 제1 시간 시퀀스와 2개의 제2 시간 시퀀스를 포함하고, 각각의 제2 시간 시퀀스의 시간은 1ms~2ms이다.
따라서, 본 발명에 따른 터치 스크린의 구동 방법은 하나의 주기에 적어도 2개의 제1 시간 시퀀스와 적어도 2개의 제2 시간 시퀀스를 설정하고, 서로 다른 제1 시간 시퀀스에서 표시 패널의 서로 다른 표시 스캔 라인을 스캔하고, 하나의 주기내의 모든 제1 시간 시퀀스에서 표시 패널의 모든 표시 스캔 라인에 대한 신호 스캔을 완료하고, 각각의 제2 시간 시퀀스에서 다수의 스캔 신호를 발생시켜 상기 터치 패널의 모든 터치 스캔 라인에 차례로 전달함으로써, 하나의 주기에서 1회 주기에서 표시 패널에 대한 1회 표시 스캔과 상기 터치 패널에 대한 적어도 2회 터치 스캔을 구현한다. 본 발명에 따른 터치 스크린의 구동 방법은 표시 스캔 주파수를 증가시키지 않으면서 터치 스캔 주파수를 대폭 증가시켜, 표시 패널이 명확하게 표시하도록 충분한 스캔 시간을 확보할 뿐만 아니라, 터치 스캔 주파수를 증가시키고 노이즈 간섭을 저감하고 나아가 터치 패널의 응답 속도와 검출 정확도를 향상시킨다.
도 1은 종래기술에 따른 표시 패널 구성의 개략도이다.
도 2은 종래기술에 따른 터치 패널 구성의 개략도이다.
도 3은 종래기술에 따른 터치 스크린의 구동 방법의 시간 시퀀스의 할당 개략도이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 터치 스크린의 구동 방법의 시간 시퀀스의 할당 개략도이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 표시 스캔 라인 구동 회로 구성의 개략도이다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 표시 스캔 라인 구동 회로의 동작 시간 시퀀스도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 스캔 라인 구동 회로 구성의 개략도이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 스캔 라인 구동 회로의 동작 시간 시퀀스도이다.
도 9은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 표시 스캔 라인 구동 회로 구성의 개략도이다.
도 10은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 표시 스캔 라인 구동 회로의 동작 시간 시퀀스도이다.
본 발명의 내용이 더욱 명료해지도록 이하 도면을 결부하여 본 발명의 내용을 더 설명하기로 한다. 물론 본 발명은 이들 구체적인 실시예에 한정되지 않으며, 당업자에게 익숙한 통상의 교체도 본 발명의 보호 범위에 포함된다.
또한, 본 발명은 개략도를 이용하여 상세한 설명을 한다. 본 발명의 실예를 상세히 설명할 때 설명의 편의를 위해 개략도는 일반적인 비율에 따르지 않고 부분적으로 확대 표시하였으나 이를 본 발명의 한정으로 보아서는 안된다.
본 발명은 터치 스크린의 구동 방법에 관한 것이다. 상기 터치 스크린은 표시 패널, 터치 패널 및 제어 회로를 포함하며, 상기 제어 회로는 다수의 주기적인 스캔 제어 신호를 발송하며, 각 주기에 적어도 2개의 제1 시간 시퀀스(time-sequence)와 적어도 2개의 제2 시간 시퀀스를 포함한다. 상기 제1 시간 시퀀스와 제2 시간 시퀀스는 차례로 교대로 진행된다. 각각의 제1 시간 시퀀스에서 상기 제어 회로는 다수의 스캔 제어 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 표시 스캔 라인 구동 회로에 전달함으로써, 상기 표시 스캔 라인 구동 회로를 제어하여 각 주기 내의 서로 다른 제1 시간 시퀀스에서 표시 패널의 서로 다른 표시 스캔 라인에 스캔 신호를 발송하도록 하며, 각 주기내의 모든 제1 시간 시퀀스에서 상기 표시 스캔 라인 구동 회로는 표시 패널의 모든 표시 스캔 라인에 대한 스캔 신호 발송을 완료한다. 각각의 제2 시간 시퀀스에서 상기 제어 회로는 다수의 스캔 제어 신호를 발생시켜 상기 터치 패널의 터치 스캔 라인 구동 회로에 전달하고 상기 터치 스캔 라인 구동 회로는 상기 터치 패널의 모든 터치 스캔 라인에 스캔 신호를 차례로 발송하고, 표시 패널의 터치 스캔 라인은 터치 패널상에 터치 현상의 발생 여부 및 터치 발생 위치를 스캔 구동한다.
여기서 표시 스캔 라인 구동 회로는 상기 표시 패널의 표시 스캔 라인에 표시 스캔 신호를 제공하기 위한 것이며, 터치 스캔 라인 구동 회로는 상기 터치 패널의 터치 스캔 라인에 터치 스캔 신호를 제공하기 위한 것이다. 각각의 제1 시간 시퀀스에서 상기 표시 패널의 표시 스캔 라인 구동 회로는 시간 시퀀스에 따라 다수의 스캔 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 표시 스캔 라인에 차례로 전달하여 스캔하도록 하며, 각각의 스캔 신호는 하나의 표시 스캔 라인에 대응된다. 각각의 제2 시간 시퀀스에서 상기 터치 스캔 라인 구동 회로는 시간 시퀀스에 따라 다수의 스캔 신호를 발생시켜 상기 터치 패널의 터치 스캔 라인에 차례로 전달하여 스캔하도록 하며, 각각의 스캔 신호는 하나의 터치 스캔 라인에 대응된다.
본 발명에 따른 상기 터치 스크린의 구동 방법은 하나의 주기에 적어도 2개의 제1 시간 시퀀스와 적어도 2개의 제2 시간 시퀀스를 포함하고, 서로 다른 제1 시간 시퀀스에서 상기 제어 회로는 다수의 스캔 제어 신호를 발생시킴으로써, 상기 표시 스캔 라인 구동 회로를 제어하여 표시 패널의 서로 다른 표시 스캔 라인을 스캔하고, 하나의 주기내의 모든 제1 시간 시퀀스에서 표시 패널의 모든 표시 스캔 라인에 대한 스캔을 완료하며, 각각의 제2 시간 시퀀스에서 다수의 스캔 신호를 발생시켜 상기 터치 패널의 모든 터치 스캔 라인에 차례로 전달함으로써, 하나의 주기에서 1회 주기에서 표시 패널에 대한 1회 표시 스캔과 상기 터치 패널에 대한 적어도 2회 터치 스캔을 구현하도록 한다. 따라서, 본 발명에 따른 터치 스크린의 구동 방법은 표시 스캔 주파수를 증가시키지 않으면서 터치 스캔 주파수를 대폭 증가시킬수 있어, 표시 패널이 명확하게 표시하도록 충분한 스캔 시간을 확보할 뿐만 아니라, 터치 스캔 주파수를 증가시키고 노이즈 간섭을 저감하고 나아가 터치 패널의 응답 속도와 검출 정확도를 향상시킨다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 터치 스크린의 구동 방법의 시간 시퀀스 할당 개략도이다. 도 4에 나타낸 바와 같이 본 실시예에서 각 주기(C0)는 2개의 제1 시간 시퀀스(C11, C12), 2개의 제2 시간 시퀀스(C21, C22)를 포함하며, 상기 제1 시간 시퀀스와 제2 시간 시퀀스는 차례로 교대로 진행된다. 먼저, 첫번째 제1 시간 시퀀스(C11)에서 상기 제어 회로는 다수의 스캔 제어 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 표시 스캔 라인 구동 회로에 전달함으로써, 상기 표시 스캔 라인 구동 회로가 다수의 스캔 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 일부 표시 스캔 라인에 차례로 전달하도록 제어한다. 그런 후, 첫번째 제2 시간 시퀀스(C12)에서 제어 회로는 다수의 스캔 제어 신호를 발생시켜 상기 터치 패널의 터치 스캔 라인 구동 회로에 제공하며, 상기 터치 스캔 라인 구동 회로는 상기 터치 패널의 모든 터치 스캔 라인에 차례로 전달한다. 이어서, 두번째 제1 시간 시퀀스(C21)에서 상기 제어 회로는 다수의 스캔 제어 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 표시 스캔 라인 구동 회로에 전달함으로써, 상기 표시 스캔 라인 구동 회로가 다수의 스캔 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 나머지 모든 표시 스캔 라인에 차례로 전달하도록 제어하며, 첫번째 제1 시간 시퀀스(C11)와 두번째 제1 시간 시퀀스(C12)의 공통의 시간내에 제어 회로는 표시 스캔 라인 구동 회로가 표시 패널의 모든 표시 스캔 라인에 대한 스캔 신호 전달을 완료하도록 제어한다. 마지막으로, 두번째 제2 시간 시퀀스(C22)에서 제어 회로는 다시 상기 터치 패널의 터치 스캔 라인 구동 회로에 제공하여, 상기 터치 스캔 라인 구동 회로가 다수의 스캔 신호를 발생시켜 상기 터치 패널의 모든 터치 스캔 라인에 전달하도록 제어한다.
각 주기내의 서로 다른 제1 시간 시퀀스에서 제어 회로가 표시 패널의 표시 스캔 라인 구동 회로에 스캔 제어 신호를 전달함으로써, 상기 표시 스캔 라인 구동 회로를 제어하여 서로 다른 표시 스캔 라인에 스캔 신호를 전달하도록 하고, 각 주기내의 모든 제1 시간 시퀀스에서 상기 제어 회로가 표시 패널의 표시 스캔 라인 구동 회로에 스캔 제어 신호를 전달함으로써, 표시 스캔 라인 구동 회로를 제어하여 표시 패널의 모든 표시 스캔 라인에 스캔 신호를 전달하도록 하므로, 각각의 제1 시간 시퀀스에서 표시 스캔 라인을 선택하여 스캔을 진행하는 것은 여러가지 방식으로 구현할 수 있다. 이하 각 주기에 2개의 제1 시간 시퀀스가 포함되고, 상기 표시 스캔 라인이 제1 유형 표시 스캔 라인과 제2 유형 표시 스캔 라인으로 구성된 것을 예로 들어 몇가지 스캔 방식을 설명하기로 한다. 명확해야 할 것은, 본 발명은 하기 몇가지 스캔 방식에 한정되지 않고, 그밖의 예를 들어 2개의 제1 시간 시퀀스의 시간이 서로 다르고, 2개의 제1 시간 시퀀스의 시간 할당 비율과 각각의 제1 시간 시퀀스에서 대응되는 표시 스캔 라인의 개수의 비율이 서로 같은것 등의 다수의 제1 시간 시퀀스에서 표시 패널에 대한 스캔을 구현하는 방식도 본 발명의 범위에 속한다.
일실시예에서, 상기 제어 회로는 다수의 스캔 제어 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 표시 스캔 라인 구동 회로에 전달함으로써 상기 표시 스캔 라인 구동 회로를 제어하여 2개의 제1 시간 시퀀스에서 1라인 건너 교대로 배열된 홀수 라인과 짝수 라인의 표시 스캔 라인을 각각 스캔하도록 한다. 구체적으로 제1 유형 표시 스캔 라인은 모든 홀수 라인의 표시 스캔 라인, 즉 제1 라인, 제3 라인, 제5 라인……등의 표시 스캔 라인이고, 제2 유형 표시 스캔 라인은 모든 짝수 라인의 표시 스캔 라인, 즉 제2 라인, 제4 라인, 제6 라인……등의 표시 스캔 라인이다. 첫번째 제1 시간 시퀀스에서, 상기 제어 회로는 다수의 스캔 제어 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 표시 스캔 라인 구동 회로에 전달함으로써 상기 표시 스캔 라인 구동 회로를 제어하여 다수의 스캔 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 제1 유형 표시 스캔 라인에 차례로 전달하도록 하며, 두번째 제1 시간 시퀀스에서, 상기 제어 회로는 다수의 스캔 제어 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 표시 스캔 라인 구동 회로에 전달함으로써 상기 표시 스캔 라인 구동 회로를 제어하여 다수의 스캔 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 제2 유형 표시 스캔 라인에 차례로 전달하도록 하므로써 하나의 주기내의 모든 제1 시간 시퀀스에서 상기 표시 패널의 모든 표시 스캔 라인에 대한 1회의 스캔을 완료한다.
다른 실시예에서, 상기 제어 회로는 2개의 제1 시간 시퀀스에서 표시 스캔 라인 구동 회로를 각각 제어하여 앞부분과 뒷부분의 표시 스캔 라인을 스캔하도록 한다. 즉 상기 표시 스캔 라인은 모두 K개 라인을 구비하며, 상기 제1 유형 표시 스캔 라인은 제1 라인 내지 제L 라인의 표시 스캔 라인이고, 상기 제2 유형 표시 스캔 라인은 제L+1 라인 내지 제K 라인의 표시 스캔 라인이며, 상기 K는 양의 정수이고, 상기 L은 K보다 작은 양의 정수이다. 표시 스캔 라인 구동 회로는 첫번째 제1 시간 시퀀스에서 제1 유형 표시 스캔 라인을 스캔하고, 표시 스캔 라인 구동 회로는 두번째 제1 시간 시퀀스에서 제2 유형 표시 스캔 라인을 스캔한다. 바람직한 일실시예에서, 제1 유형 표시 스캔 라인과 제2 유형 표시 스캔 라인의 수가 서로 같고 첫번째 제1 시간 시퀀스의 시간과 두번째 제1 시간 시퀀스의 시간이 서로 같으므로 터치 스크린 전체의 회로 설계와 시간 시퀀스의 제어에 편리하다. 즉, 표시 스캔 라인이 모두 2n개 라인이며, 그중 n가 양의 정수이면, 상기 제1 유형 표시 스캔 라인은 제1 라인 내지 제n 라인의 표시 스캔 라인이고, 상기 제2 유형 표시 스캔 라인은 제n+1 라인 내지 제2n 라인의 표시 스캔 라인이다. 즉 첫번째 제1 시간 시퀀스에서 제어 회로는 제1 라인 내지 제n 라인의 표시 스캔 라인에 스캔 신호를 발송하고, 첫번째 제2 시간 시퀀스에서, 제어 회로는 제n+1 라인 내지 제2n 라인의 표시 스캔 라인에 스캔 신호를 발송한다. 예를 들어 상기 표시 스캔 라인이 모두 480라인이면, 제1 유형 표시 스캔 라인은 제1 라인의 표시 스캔 라인 내지 제240 라인의 표시 스캔 라인을 포함하고, 제2 유형 표시 스캔 라인은 제241 라인의 표시 스캔 라인 내지 제480 라인의 표시 스캔 라인을 포함한다.
바람직한 실시예에서, 각 주기내의 서로 다른 제2 시간 시퀀스의 시간은 모두 같고, 서로 다른 제1 시간 시퀀스의 시간은 모두 같다. 또한, 각 주기에는 2개의 제1 시간 시퀀스와 2개의 제2 시간 시퀀스가 포함되며, 상기 제어 회로에서 발송되는 주기적 스캔 신호의 주파수는 50Hz~70Hz, 예를 들어 60Hz이다. 상기 주파수 범위내에서는 하나의 주기에서 상기 제어 회로가 다수의 스캔 제어 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 표시 스캔 라인 구동 회로에 전달함으로써 상기 표시 스캔 라인 구동 회로를 제어하여 다수의 스캔 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 표시 스캔 라인에 차례로 전달하도록 하는데 충분하다. 또한 각각의 스캔 신호는 표시 스캔 라인중 서브 화소 유닛이 충방전을 진행하여 표시 패널의 명확한 표시를 구현하는데 충분히 대응한다. 각 주기에는 2개의 제2 시간 시퀀스가 포함되며, 제2 시간 시퀀스의 시간 범위는 1ms~2ms, 예를 들어 2ms일 수 있다. 즉 각 주기에서 터치 패널에 대한 전면적인 스캔을 2회 수행하면, 터치 패널의 스캔 주파수는 사실상 120Hz이며 이로써 터치 패널의 스캔 주파수를 대폭 증가시키고 노이즈 간섭을 저감시키며 나아가 터치 패널의 응답 속도와 검출 정확도를 향상시킨다. 물론, 각 주기의 제1 시간 시퀀스와 제2 시간 시퀀스는 2개에 한정되지 않으며, 그밖에도 예를 들어 각 주기에 3개의 제1 시간 시퀀스와 3개의 제2 시간 시퀀스를 포함하는 것, 즉 각각의 주기에서 터치 패널에 대한 전면적인 스캔을 3회 수행하여 터치 패널의 스캔 주파수를 사실상 180Hz으로 증가시키는 것 등도 본 발명의 사상 범위에 속한다.
본 실시예에서, 상기 표시 스캔 라인 구동 회로는 적어도 하나의 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG circuit)를 포함하며, 각각의 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 다수의 비정질 실리콘 시프트 레지스터 회로를 포함한다. 상기 비정질 실리콘 시프트 레지스터 회로와 상기 표시 스캔 라인은 하나씩 대응되며, 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터 회로의 출력단은 현재 표시 스캔 라인에 전기적으로 연결된다. 상기 비정질 실리콘 제어 회로는 실제 공정 요구에 따라 서로 다른 시간 시퀀스의 스캔 신호를 설계하는데 편리하도록 공정 요구에 따라 회로 연결 방식으로 설계될 수 있다. 이하 몇몇의 실시예와 결부하여 상기 표시 스캔 라인 구동 회로의 구성 및 그 동작 시간 시퀀스를 설명하고 나아가 본 발명에 따른 터치 스크린의 동작 과정을 구체적으로 설명한다. 물론 표시 스캔 라인 구동 회로의 구성은 하기 몇몇의 실시예에 한정되지 않는다.
실시예 1
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 표시 스캔 라인 구동 회로 구성의 개략도이고, 도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 표시 스캔 라인 구동 회로의 시간 시퀀스도이다. 본 실시예에서 도시된 표시 패널(10)의 일측에 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1L)와 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG2L)가 설치되어 있다. 도 5에 나타낸 바와 같이 본 실시예에서 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1L)와 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG2L)는 도시된 표시 패널(10)의 좌측에 함께 설치되어 있다. 또한, 도시된 표시 패널(10)의 우측에 함께 설치될 수도 있다.
제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1L)는 첫번째 제1 시간 시퀀스에서 앞부분의 표시 스캔 라인, 즉 제1 유형 표시 스캔 라인을 스캔하고, 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASGR)는 두번째 제1 시간 시퀀스에서 뒷부분의 표시 스캔 라인, 즉 제2 유형 표시 스캔 라인을 스캔하면 첫번째 제1 시간 시퀀스와 두번째 제1 시간 시퀀스의 시간 비율은 제1 유형 표시 스캔 라인과 제2 유형 표시 스캔 라인 수의 비율과 상응하다. 구체적으로, 상기 표시 스캔 라인은 모두 K라인이며, 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASGL)는 L개의 비정질 실리콘 시프트 레지스트가 차례로 배열되어 이루어지고, 제1 라인 내지 제L 라인의 표시 스캔 라인과 하나씩 대응된다. 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASGR)는 K-L개의 비정질 실리콘 시프트 레지스트가 차례로 배열되어 이루어지고 제L+1 라인 내지 제K 라인의 표시 스캔 라인과 하나씩 대응된다. 여기서 상기 K는 양의 정수이고, 상기 L은 K보다 작은 양의 정수이다.
바람직한 실시예에서, 상기 표시 스캔 라인은 모두 2n개 라인이고, n은 양의 정수이며, 제1 유형 표시 스캔 라인과 제2 유형 표시 스캔 라인의 수는 동일하다. 상기 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 n개 비정질 실리콘 시프트 레지스터가 차례로 배열되어 이루어지고, 제1 라인 내지 제n 라인의 표시 스캔 라인과 하나씩 대응된다. 상기 제2 유형 표시 스캔 라인은 n개 비정질 실리콘 시프트 레지스터가 차례로 배열되어 이루어지고, 제n+1 라인 내지 제2n 라인의 표시 스캔 라인과 하나씩 대응된다. 예를 들어 표시 패널(10)이 모두 480개 표시 스캔 라인이면 n은 240이며, 표시 패널(10)의 표시 스캔 라인은 제1 유형 표시 스캔 라인과 제2 유형 표시 스캔 라인을 포함하며, 상기 제1 유형 표시 스캔 라인은 제1 내지 제240라인의 표시 스캔 라인이고, 제2 유형 표시 스캔 라인은 제241 내지 제480 라인의 모든 표시 스캔 라인과 연결된다. 이하 바람직한 본 실시예를 예로 들어 표시 스캔 라인 구동 회로의 작동 과정을 설명하고 나아가 터치 스크린의 구동 과정을 설명한다.
제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1L)의 첫번째 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L1)의 설정단(Set)은 제1 작동 신호(STV1L)에 연결되고 그밖의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L2, L3, ……L(n-1))의 설정단(Set)은 이전 비정질 실리콘 시프트 레지스터인 L1, L2, ……Ln의 출력단(Out)에 연결되고, 마지막 비정질 실리콘 시프트 레지스터(Ln)의 리셋단(Reset)은 제1 리셋 신호(Reset1L)에 연결되며, 그밖의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L(n-1), ……L2, L1)의 리셋단(Reset)은 그 다음 비정질 실리콘 시프트 레지스터인 Ln, ……L3, L2의 출력단(Out)에 연결된다. 같은 이치로, 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG2L)의 첫번째 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L(n+1))의 설정단(Set)은 제2 작동 신호(STV2L)에 연결되고, 그후 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L(n+2), L(n+3), ……L(2n))의 설정단(Set)은 이전 비정질 실리콘 시프트 레지스터인 L(n+1), L(n+2), ……L(2n-1)의 출력단(Out)에 연결되며, 마지막 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L2n)의 리셋단(Reset)은 제2 리셋 신호(Reset2L)에 연결되며, 그밖의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L(2n-1), ……L(n+2), L(n+1))의 리셋단(Set)은 그 다음 비정질 실리콘 시프트 레지스터인 L(2n), ……L(n+3), L(n+2)의 출력단(Out)에 연결된다.
도 6에 나타낸 바와 같이, 첫번째 제1 시간 시퀀스(C11)에서, 제1 작동 신호(STV1L)가 신호를 출력하면, 클록 신호의 제어하에서 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1L)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L1, L2, L3……Ln)가 차례로 출력하고, 마지막에 제1 리셋 신호(Reset1L)가 신호를 출력하면 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1L)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터는 제1 유형 표시 스캔 라인에 대한 스캔을 완료한다.
첫번째 제2 시간 시퀀스(C21)에서, 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1L)와 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG2L)는 모두 신호를 출력하지 않으며 이때 터치 패널은 제1회 터치 스캔을 완료한다.
두번째 제1 시간 시퀀스(C12)에서, 제2 작동 신호(STV2L)가 신호를 출력하면, 제1 클록 신호(CKL1)와 제2 클록 신호(CKL2)의 제어하에서 제2 좌측 회로군(ASG2L)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L(n+1), L(n+2)……L2n)가 차례로 출력하고, 마지막에 제2 리셋 신호(Reset2L)가 신호를 출력하면 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG2L)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터가 제2 유형 표시 스캔 라인에 대한 스캔을 완료한다.
두번째 제2 시간 시퀀스(C22)에서, 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1L)와 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG2L)는 모두 신호를 출력하지 않으며 이때 터치 패널은 제2회 터치 스캔을 완료한다. 여기까지 하나의 시간 시퀀스 주기(C0)가 완료된다.
따라서 하나의 스캔 주기에서, 표시 패널은 1회의 표시 스캔을 수행하고, 터치 패널은 2회의 터치 스캔을 수행한다. 본 실시예에서 각 회의 터치 스캔은 1라인씩 스캔하는 방법을 취할 수 있으며, 그 스캔 방식은 당업자에게 있어 익숙한 방법이므로 더 설명하지 않는다.
실시예 2
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 표시 스캔 라인 구동 회로 구성의 개략도이다. 도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 표시 스캔 라인 구동 회로의 시간 시퀀스도이다. 본 실시예에서 도 7에 나타낸 바와 같이 표시 패널(10)의 양측에 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASGL)와 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASGR)가 각각 설치된다. 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASGL)와 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASGR)는 각각 n개 비정질 실리콘 시프트 레지스터가 차례로 배열되어 이루어지고, n은 양의 정수이고, 그 수는 실제 공정 요구에 따라 구체적으로 정할 수 있다. 예를 들어 표시 패널(10)이 모두 480개 표시 스캔 라인을 가지면, n은 240이다.
표시 패널(10)의 표시 스캔 라인은 제1 유형 표시 스캔 라인과 제2 유형 표시 스캔 라인을 포함한다. 상기 제1 유형 표시 스캔 라인은 모든 홀수 라인의 표시 스캔 라인이며 예를 들어 제1 라인, 제3 라인, 제5 라인……등의 표시 스캔 라인이다. 제2 유형 표시 스캔 라인은 모든 짝수 라인의 표시 스캔 라인이며 예를 들어 제2 라인, 제4 라인, 제6 라인……등의 표시 스캔 라인이다. 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASGL)는 상기 표시 패널(10)의 모든 홀수 라인의 표시 스캔 라인과 하나씩 대응되며, 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASGR)는 표시 패널(10)의 모든 짝수 라인의 표시 스캔 라인과 하나씩 대응된다. 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASGL)의 첫번째 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L1)의 설정단(Set)은 제1 작동 신호(STVL)에 연결되고 그밖의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L2, L3, ……Ln)의 설정단(Set)은 이전 비정질 실리콘 시프트 레지스터인 L1, L2, ……L(n-1)의 출력단(Out)에 연결되고, 마지막 비정질 실리콘 시프트 레지스터(Ln)의 리셋단(Reset)은 제1 리셋 신호(ResetL)에 연결되며 그밖의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L(n-1), ……L2, L1)의 리셋단(Reset)은 다음 비정질 실리콘 시프트 레지스터인 Ln, ……L3, L2의 출력단(Out)에 연결된다. 같은 이치로, 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASGR)의 첫번째 비정질 실리콘 시프트 레지스터(R1)의 설정단(Set)은 제2 작동 신호(STVR)에 연결되고 그밖의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(R2, R3, ……Rn)의 설정단(Set)은 이전 비정질 실리콘 시프트 레지스터인 R1, R2, ……R(n-1)의 출력단(Out)에 연결되며, 마지막 비정질 실리콘 시프트 레지스터(Rn)의 리셋단(Reset)은 제2 리셋 신호(ResetR)에 연결되며, 그밖의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(R(n-1), ……R2, R1)의 리셋단(Reset)은 다음 비정질 실리콘 시프트 레지스터인 Rn, ……R3, R2의 출력단(Out)에 연결된다.
이하 표시 스캔 라인 구동 회로의 작동 과정을 설명하고 나아가 터치 스크린의 구동 과정을 설명한다.
도 8에 나타낸 바와 같이 첫번째 제1 시간 시퀀스(C11)에서 제1 작동 신호(STVL)가 신호를 출력하고 클록 신호(CKL1, CKL2)의 제어하에서 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASGL)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L1, L2, L3……)가 차례로 출력하고 마지막에 제1 리셋 신호(ResetL)가 출력되면 좌측 회로군(ASGL)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터가 제1 유형 표시 스캔 라인에 대한 스캔을 완료한다.
첫번째 제2 시간 시퀀스(C21)에서, 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASGL)와 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASGR)는 모두 신호를 출력하지 않으며 이때 터치 패널은 제1회 터치 스캔을 완료한다.
두번째 제1 시간 시퀀스(C12)에서, 제2 작동 신호(STVR)가 신호를 출력하고 클록 신호(CKR1, CKR2)의 제어하에서 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASGR)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(R1, R2, R3……)가 차례로 출력하며 마지막에 제2 리셋 신호(ResetR)가 출력되면, 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASGR)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터는 제2 유형 표시 스캔 라인에 대한 스캔을 완료한다.
두번째 제2 시간 시퀀스(C22)에서, 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASGL)와 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASGR)는 신호를 출력하지 않으며 이때 터치 패널은 제2회 터치 스캔을 완료한다. 여기까지 하나의 시간 시퀀스 주기(C0)가 완료된다.
하나의 스캔 주기에서, 표시 패널은 1회의 표시 스캔을 완료하고, 터치 패널은 2회의 터치 스캔을 완료한다. 각 회의 터치 스캔은 1라인씩 스캔하는 방법을 취할 수 있으며, 그 스캔 방식은 당업자에게 있어 익숙한 방법이므로 더 설명하지 않는다.
실시예 3
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 스캔 라인 구동 회로 구성의 개략도이고, 도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 스캔 라인 구동 회로의 시간 시퀀스도이다. 도 9에 나타낸 바와 같이, 표시 패널(10)의 양측에 각각 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1L), 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1R), 제3 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG2L), 제4 우측 회로군(ASG2R)이 설치된다.
표시 패널(10)의 표시 스캔 라인은 제1 유형 표시 스캔 라인과 제2 유형 표시 스캔 라인을 포함하고, 상기 제1 유형의 스캔 라인과 제2 유형의 스캔 라인은 1라인 건너 교대로 배열된다.
제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1L)는 첫번째 제1 시간 시퀀스에서 앞부분의 표시 스캔 라인중 제1 유형 표시 스캔 라인을 스캔하고, 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1R)는 두번째 제1 시간 시퀀스에서 앞부분의 표시 스캔 라인중 제2 유형 표시 스캔 라인을 스캔하며, 제3 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG2L)는 두번째 제1 시간 시퀀스에서 뒷부분의 표시 스캔 라인중 제1 유형 표시 스캔 라인을 스캔하고, 제4 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG2R)는 두번째 제1 시간 시퀀스에서 뒷부분의 표시 스캔 라인중 제2 유형 표시 스캔 라인을 스캔한다. 그러면 첫번째 제1 시간 시퀀스와 두번째 제1 시간 시퀀스의 시간 비율은 앞부분의 표시 스캔 라인과 뒷부분의 표시 스캔 라인의 수의 비율과 상응한다. 구체적으로, 상기 표시 스캔 라인은 모두 K개 라인이고, 앞부분의 표시 스캔 라인은 제1 라인 내지 제L 라인을 포함하고, 뒷부분의 스캔라인은 제L+1 라인 내지 제K 라인을 포함하며 여기서 상기 K는 양의 정수이고 상기 L은 K보다 작은 양의 정수이다.
바람직한 실시예에서, 상기 표시 스캔 라인은 모두 4n개 라인이고 n은 양의 정수이다. 앞부분의 표시 스캔 라인은 2n개 라인을 포함하고, 앞부분의 제1 유형 표시 스캔 라인은 n개이고, 앞부분의 제2 유형 표시 스캔 라인은 n개이다. 뒷부분의 표시 스캔 라인은 2n개 라인이고, 뒷부분의 제1 유형 표시 스캔 라인은 n개이며, 뒷부분의 제2 유형 표시 스캔 라인은 n개이다. 각 회로군은 각각 n개 비정질 실리콘 시프트 레지스터를 가지고, 각 회로군은 각각 표시 패널의 n개 표시 스캔 라인에 하나씩 대응된다. 이하 바람직한 본 실시예를 예로 들어 표시 스캔 라인 구동 회로의 작동 과정을 설명하고 나아가 터치 스크린의 구동 과정을 설명한다.
제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1L)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L1, L2……Ln)는 상기 표시 패널(10)의 전반부 홀수 라인의 표시 스캔 라인에 연결되며, 예를 들어 제1 라인, 제3 라인, 제5 라인……제2n-1 라인의 표시 스캔 라인에 연결된다. 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1R)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(R1, R2……Rn)는 표시 패널(10)의 전반부 짝수 라인의 표시 스캔 라인에 연결되며, 예를 들어 제2 라인, 제4 라인, 제6 라인……제2n 라인의 표시 스캔 라인에 연결된다. 제3 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG2L)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L(n+1), L(n+2)……L2n)는 상기 표시 패널(10)의 후반부 홀수 라인의 표시 스캔 라인에 연결되며, 예를 들어 제2n+1 라인, 제2n+3 라인, 제2n+5 라인……제4n-1 라인의 표시 스캔 라인에 연결된다. 제4 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG2R)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(R(n+1), R(n+2)……R2n)는 표시 패널(10)의 후반부 짝수 라인의 표시 스캔 라인에 연결되며, 예를 들어 제2n+2 라인, 제2n+4 라인, 제2n+6 라인……제4n 라인의 표시 스캔 라인에 연결된다.
제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1L)의 첫번째 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L1)의 설정단(Set)은 제1 작동 신호(STV1L)에 연결되고, 그 이후의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L2, L3, ……Ln)의 설정단(Set)은 이전 비정질 실리콘 시프트 레지스터인 L1, L3, ……L(n-1)의 출력단(Out)에 연결되며, 마지막 비정질 실리콘 시프트 레지스터(Ln)의 리셋단(Reset)은 제1 리셋 신호(Reset1L)에 연결되며, 그밖의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L(n-1), ……L2, L1)의 리셋단(Set)은 그 다음 비정질 실리콘 시프트 레지스터인 Ln, ……L3, L2의 출력단(Out)에 연결된다.
제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1R)의 첫번째 비정질 실리콘 시프트 레지스터(R1)의 설정단(Set)은 제2 작동 신호(STV1R)에 연결되고, 그 이후의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(R2, R3, ……Rn)의 설정단(Set)은 이전 비정질 실리콘 시프트 레지스터인 R1, R3, ……R(n-1)의 출력단(Out)에 연결되며, 마지막 비정질 실리콘 시프트 레지스터(Rn)의 리셋단(Reset)은 제2 리셋 신호(Reset1R)에 연결되며, 그밖의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(Rn, ……R2, R1)의 설정단(Set)은 이전 비정질 실리콘 시프트 레지스터인 R(n-1), ……R2, R1의 출력단(Out)에 연결된다.
제3 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG2L)의 첫번째 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L(n+1))의 설정단(Set)은 제3 작동 신호(STV2L)에 연결되고, 그 이후의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L(n+2), L(n+3), ……L(2n))의 설정단(Set)은 이전 비정질 실리콘 시프트 레지스터인 L(n+1), L(n+2), ……L(2n-1)의 출력단(Out)에 연결되며, 마지막 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L2n)의 리셋단(Reset)은 제3 리셋 신호(Reset2L)에 연결되고, 그밖의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L(2n-1), ……L(n+2), L(n+1))의 리셋단(Set)은 다음 비정질 실리콘 시프트 레지스터인 L(2n), ……L(n+3), L(n+2)의 출력단(Out)에 연결된다.
제4 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG2R)의 첫번째 비정질 실리콘 시프트 레지스터R(n+1)의 설정단(Set)은 제4 작동 신호(STV2R)에 연결되고, 그밖의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(R(n+2), R(n+3), ……R(2n))의 설정단(Set)은 이전 비정질 실리콘 시프트 레지스터인 R(n+1), R(n+2), ……R(2n-1)의 출력단(Out)에 연결되며, 마지막 비정질 실리콘 시프트 레지스터(R2n)의 리셋단(Reset)은 제4 리셋 신호(Reset2R)에 연결되고, 그밖의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(R(2n-1), ……R(n+2), R(n+1))의 리셋단(Set)은 다음 비정질 실리콘 시프트 레지스터인 R(2n), ……R(n+3), R(n+2)의 출력단(Out)에 연결된다.
도 10에 나타낸 바와 같이, 첫번째 제1 시간 시퀀스(C11)에서, 제1 작동 신호(STV1L)가 신호를 출력하면, 클록 신호(CKL1, CKL2)의 제어하에서 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1L)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L1, L2, L3……Ln)는 차례로 출력한다. 비정질 실리콘 시프트 레지스터의 출력방식이 실시예 1의 좌측 회로군의 출력방식과 동일하므로, 도 8에서 더 이상 설명하지 않는다. 제1 작동 신호(STV1L)가 정지한 후 바로 제2 작동 신호(STV1R)가 신호를 출력하며, 클록 신호(CKR1, CKR2)의 제어하에서 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1R)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(R1, R2, R3……Rn)가 차례로 출력한다. 비정질 실리콘 시프트 레지스터의 출력방식이 실시예 1의 우측 회로군의 출력방식과 동일하므로 도 8에서도 마찬가지로 더 이상 설명하지 않는다. 마지막에 제1 리셋 신호(Reset1L)가 신호를 출력하면 제1 좌측 회로군(ASG1L)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터가 스캔을 완료하고 이어서 제2 리셋 신호(Reset1R)가 신호를 출력한다. 그러면 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1R)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터가 전반부 표시 스캔 라인의 제2 유형 표시 스캔 라인에 대한 스캔을 완료한다.
첫번째 제2 시간 시퀀스(C21)에서, 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1L), 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1R), 제3 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG2L), 제4 우측 회로군(ASG2R)은 모두 신호를 출력하지 않으며, 이때 터치 패널은 제1회 터치 스캔을 완료한다.
두번째 제1 시간 시퀀스(C12)에서, 제3 작동 신호(STV2L)가 신호를 출력하면, 클록 신호(CKL1, CKL2)의 제어하에서 제3 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG2L)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(L(n+1), L(n+2)……L2n)가 차례로 출력하며, 제3 작동 신호(STV2L)가 중지한 후 바로 제4 작동 신호(STV2R)가 신호를 출력하며, 클록 신호(CKL1, CKL2)의 제어하에서 제3 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG2R)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터(R(n+1), R(n+2)……R2n)가 차례로 출력한다. 마지막에 제3 리셋 신호(Reset2L)가 신호를 출력하면 제3 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG1R)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터는 후반부 표시 스캔 라인중 제1 유형 표시 스캔 라인에 대한 스캔을 완료한다. 이어서 제4 리셋 신호(Reset2R)가 신호를 출력하면 제3 비정질 실리콘 게이트 구동 회로(ASG2R)의 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터는 후반부 표시 스캔 라인중 제2 유형 표시 스캔 라인에 대한 스캔을 완료한다. 각 회의 터치 스캔은 1라인씩 스캔하는 방법을 취할 수 있으며 그 스캔 방식은 당업자에게 있어 익숙한 방법이므로 더 이상 설명하지 않는다.
명확해야 할 것은, 본 발명에 따른 표시 스캔 라인 구동 회로의 구성도 상기 몇가지 실시예의 구성에 한정되지 않으며, 다른 방식으로 하나의 주기에서 표시 패널에 대한 1회 스캔 및 터치 패널에 대한 적어도 2회 스캔을 수행하는 구성을 구현할 수 있으며 이들은 모두 본 발명의 범위에 속한다. 또한, 표시 스캔 라인 구동 회로중 각각의 비정질 실리콘 게이트 구동 회로의 비정질 실리콘 시프트 레지스터는 2개의 클록 신호에 의해 제어되는 것에 한정되지 않고, 예를 들어 4개, 6개 등의 클록 신호에 의해 제어 및 출력될 수 있다. 상응하는 각각의 비정질 실리콘 게이트 구동 회로중 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터 사이의 출력단, 설정단, 리셋단의 연결 관계도 상기 3가지 실시예에 기술된 연결 관계에 한정되지 않으며, 시프트 레지스트 기능을 구현할 수 있고 출력 신호를 차례로 출력할 수 있는 비정질 실리콘 게이트 구동 회로의 구성도 본 발명의 범위에 속한다. 또한, 본 발명에 따른 터치 스크린의 구동 방법에 있어서 터치 패널에 대한 스캔 방식과 터치 패널의 회로 구성도 한정되지 않는다. 즉 상기 터치 스크린의 구동 방법은 다양한 터치 스크린의 구성에 적용될 수 있으며 광범위하게 적용되고 표시 회로와 제어 회로 구성에 대한 변경이 적고 쉽게 구현할 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 터치 스크린의 구동 방법은 하나의 주기에 적어도 2개의 제1 시간 시퀀스와 적어도 2개의 제2 시간 시퀀스를 설정하고, 서로 다른 제1 시간 시퀀스에서 표시 패널의 서로 다른 표시 스캔 라인을 스캔하고, 하나의 주기내의 모든 제1 시간 시퀀스에서 표시 패널의 모든 표시 스캔 라인에 대한 신호 전달을 완료하고, 각각의 제2 시간 시퀀스에서 다수의 스캔 신호를 발생시켜 상기 터치 패널의 모든 터치 스캔 라인에 차례로 전달함으로써, 하나의 주기에서 1회 주기에서 표시 패널에 대한 1회 표시 스캔과 상기 터치 패널에 대한 적어도 2회 터치 스캔을 구현한다.
따라서, 본 발명에 따른 터치 스크린의 구동 방법은 표시 스캔 주파수를 증가시키지 않으면서 터치 스캔 주파수를 대폭 증가시켜, 표시 패널이 명확하게 표시하도록 충분한 스캔 시간을 확보할 뿐만 아니라, 터치 스캔 주파수를 증가시키고 노이즈 간섭을 저감시키고 나아가 터치 패널의 응답 속도와 검출 정확도를 향상시킨다.
본 발명은 바람직한 실시예를 들어 위와 같이 개시되었으나, 상기 실시예는 본 발명을 한정하지 않는다. 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 구비한 당업자라면 본 발명의 취지와 범위를 벗어나지 않으면서 일부 변경 및 수정을 할 수 있다. 따라서 본 발명의 보호 범위는 특허청구범위에 한정된 사항을 기준으로 한다.

Claims (19)

  1. 터치 스크린의 구동 방법에 있어서,
    상기 터치 스크린은 표시 패널, 터치 패널 및 제어 회로를 포함하고, 상기 제어 회로는 다수의 주기적인 스캔 제어 신호를 발송하고, 각 주기는 적어도 2개의 제1 시간 시퀀스와 적어도 2개의 제2 시간 시퀀스를 포함하며, 상기 제1 시간 시퀀스와 제2 시간 시퀀스는 차례로 교대로 진행되며,
    각각의 제1 시간 시퀀스에서, 상기 제어 회로는 다수의 스캔 제어 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 표시 스캔 라인 구동 회로에 전달함으로써, 상기 표시 스캔 라인 구동 회로를 제어하여 각 주기내의 서로 다른 제1 시간 시퀀스에서 표시 패널의 서로 다른 표시 스캔 라인에 스캔 신호를 발송하도록 하며, 각 주기내의 모든 제1 시간 시퀀스에서 상기 표시 스캔 라인 구동 회로는 표시 패널의 모든 표시 스캔 라인에 대한 스캔 신호 발송을 완료하며;
    각각의 제2 시간 시퀀스에서, 상기 제어 회로는 다수의 스캔 제어 신호를 발생시켜 상기 터치 패널의 터치 스캔 라인 구동 회로에 전달함으로써, 상기 터치 스캔 라인 구동 회로를 제어하여 상기 터치 패널의 모든 터치 스캔 라인에 스캔 신호를 차례로 발송하도록 하는 터치 스크린의 구동 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    각 주기내의 각각의 제2 시간 시퀀스의 시간은 모두 동일하고 각각의 제1 시간 시퀀스의 시간은 모두 동일한 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 구동 방법.
  3. 제1항에 있어서,
    각 주기는 2개의 제1 시간 시퀀스와 2개의 제2 시간 시퀀스를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 구동 방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 표시 스캔 라인은 제1 유형 표시 스캔 라인과 제2 유형 표시 스캔 라인으로 이루어지고, 첫번째 제1 시간 시퀀스에서 상기 제어 회로는 다수의 스캔 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 제1 유형 표시 스캔 라인에 차례로 전달하고, 두번째 제1 시간 시퀀스에서 상기 제어 회로는 다수의 스캔 신호를 발생시켜 상기 표시 패널의 제2 유형 표시 스캔 라인에 차례로 전달하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 구동 방법.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제1 유형 표시 스캔 라인과 제2 유형 표시 스캔 라인은 1라인 건너 교대로 배열된 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 구동 방법.
  6. 제4항에 있어서,
    상기 표시 스캔 라인은 모두 K개 라인이며, 상기 제1 유형 표시 스캔 라인은 제1 라인 내지 제L 라인의 표시 스캔 라인이고, 상기 제2 유형 표시 스캔 라인은 제L+1 라인 내지 제K 라인의 표시 스캔 라인이며, 상기 K는 양의 정수이고, 상기 L은 K보다 작은 양의 정수인 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 구동 방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 표시 스캔 라인은 모두 2n개 라인이고, 상기 제1 유형 표시 스캔 라인은 제1 라인 내지 제n 라인의 표시 스캔 라인이고, 상기 제2 유형 표시 스캔 라인은 제n+1 라인 내지 제2n 라인의 표시 스캔 라인이며, 상기 n은 양의 정수인 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 구동 방법.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 표시 스캔 라인 구동 회로는 적어도 하나의 비정질 실리콘 게이트 구동 회로를 포함하고, 각각의 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 다수의 비정질 실리콘 시프트 레지스터 회로를 포함하고, 상기 비정질 실리콘 시프트 레지스터 회로와 상기 표시 스캔 라인은 하나씩 대응되며, 각각의 비정질 실리콘 시프트 레지스터 회로의 출력단은 현재 표시 스캔 라인에 전기적으로 연결된 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 구동 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 표시 스캔 라인 구동 회로는 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로와 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로를 포함하고, 상기 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로와 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 상기 표시 패널의 일측에 함께 위치하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 구동 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 표시 스캔 라인은 모두 K개 라인이고, 상기 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 제1 라인 내지 제L 라인의 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 제L+1 라인 내지 제K 라인의 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되며, 상기 K는 양의 정수이고, 상기 L은 K보다 작은 양의 정수인 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 구동 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 표시 스캔 라인은 모두 2n개 라인이고, 상기 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 제1 라인 내지 제n 라인의 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 제2 유형 표시 스캔 라인은 제n+1 라인 내지 제2n 라인의 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 n은 양의 정수인 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 구동 방법.
  12. 제8항에 있어서,
    상기 표시 스캔 라인 구동 회로는 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로와 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로를 포함하고, 상기 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로와 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 각각 상기 표시 패널의 양측에 분리되어 배치된 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 구동 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로의 비정질 실리콘 시프트 레지스터 회로는 제1 유형의 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로의 비정질 실리콘 시프트 레지스터 회로는 제2 유형의 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 여기서 제1 유형의 표시 스캔 라인과 제2 유형의 표시 스캔 라인은 1라인 건너 교대로 배열된 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 구동 방법.
  14. 제8항에 있어서,
    상기 표시 스캔 라인 구동 회로는 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로, 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로, 제3 비정질 실리콘 게이트 구동 회로 및 제4 비정질 실리콘 게이트 구동 회로를 포함하고, 상기 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로와 제3 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 상기 표시 패널의 일측에 위치하고, 상기 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로와 제4 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 상기 표시 패널의 타측에 위치한 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 구동 방법.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 표시 스캔 라인은 모두 K개 라인이며, 상기 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 제1 라인 내지 제L 라인중 제1 유형 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 제1 라인 내지 제L 라인중 제2 유형 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 제3 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 제L+1 라인 내지 제K 라인중 제1 유형 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 제4 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 상기 제2 유형 표시 스캔 라인이 제L+1 라인 내지 제K 라인중 제2 유형 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 여기서 상기 K는 양의 정수이고, 상기 L은 K보다 작은 양의 정수인 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 구동 방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 표시 스캔 라인은 모두 4n라인이고, 상기 제1 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 제1 라인 내지 제2n 라인중 제1 유형 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 제2 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 제1 라인 내지 제2n 라인중 제2 유형 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 제3 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 제2n+1라인 내지 제4n 라인중 제1 유형 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 상기 제4 비정질 실리콘 게이트 구동 회로는 상기 제2 유형 표시 스캔 라인이 제2n+1 라인 내지 제4n 라인중인 제2 유형 표시 스캔 라인에 하나씩 대응되고, 여기서 상기 n은 양의 정수인 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 구동 방법.
  17. 제1항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제어 회로에서 발송되는 주기적 스캔 신호의 주파수는 50Hz~70Hz인 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 구동 방법.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 제어 회로에서 발송된 주기적 스캔 신호의 주파수는 60Hz인 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 구동 방법.
  19. 제18항에 있어서,
    각 주기는 2개의 제1 시간 시퀀스와 2개의 제2 시간 시퀀스를 포함하고, 각각의 제2 시간 시퀀스의 시간은 1ms~2ms인 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 구동 방법.
KR1020137033791A 2012-06-28 2012-11-08 터치 스크린의 구동 방법 KR101556460B1 (ko)

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