KR20090091790A

KR20090091790A - 알 검란 방법 및 알 검란 장치

Info

Publication number: KR20090091790A
Application number: KR1020097012909A
Authority: KR
Inventors: 존 헤브랭크; 모니카 갈렐
Original assignee: 엠브렉스, 인코포레이티드
Priority date: 2006-12-21
Filing date: 2007-08-07
Publication date: 2009-08-28
Also published as: WO2008088382A1; RU2428664C2; EP2097726A1; ES2603837T3; US20080149033A1; JP5744951B2; EP2097726B1; JP2010522539A; RU2009121622A; US7611277B2; BRPI0720120A2; BRPI0720120B1; IL199065A; JP2013150627A; JP5377324B2; CN102016526B; AU2007343851A1; EP2097726A4; CA2672711A1; MX2009006726A

Abstract

비생란, 역전된 알, 및 측부 기실란을 신속히 식별할 수 있는 알 검란 방법 및 장치가 제공된다. 알 검란 방법은 복수의 포란된 알을 알이 포란된 온도와 상이한 온도의 환경에 노출시키는 단계, 알의 열 화상을 취득하는 단계, 및 상기 열 화상을 분석하여 각각의 알에 대한 표면 온도 정보를 취득하는 단계를 포함한다. 상기 표면 온도 정보는 각각의 알을 생란/비생란, 역전된 알, 또는 측부 기실을 갖는 알로 지정하는데 사용된다.

Description

알 검란 방법 및 알 검란 장치{METHODS AND APPARATUS FOR CANDLING AVIAN EGGS VIA THERMAL CAMERAS}

본 발명은 일반적으로 알(egg)에 관한 것이며, 보다 구체적으로는 알을 검란하기 위한 방법 및 장치에 관한 것이다.

특정한 관찰가능한 품질에 기초하여 계란을 식별하는 것은 양계 산업에서 주지되어 있으며 오래 사용된 관습이다. "검란(檢卵: candling)"이란 이러한 하나의 기술에 대한 보통 명사로서, 캔들(candle: 초)의 빛을 사용하여 알을 검사하는 초기의 관습에 그 뿌리를 두고 있는 단어이다. 알에 익숙한 사람들에게 알려져 있듯이, 난각(egg shell)은 대부분의 조명 조건 하에서는 불투명하게 보이지만, 실제로는 다소 반투명하며, 직접 조명 앞에 놓일 때는 알의 내용물을 볼 수 있다.

살아있는 가금류에게 부화될 알은 통상 확실하게, 부패한, 죽은 알["비생란(non-live egg)"으로 총칭됨]을 식별하기 위해 배아 발생(embryonic development) 중에 검란된다. 비생란은 통상 이용가능한 인큐베이터 공간을 증대시키기 위해 부화에서 제거된다. 또한, 비생란의 제거는 늙은 집단(old flock)(집 단 나이: 58 내지 62주)에 있어서 부화율을 2.0% 향상시킬 수 있다. 이 부화 향상은 미국에서 병아리당 약 0.2 내지 0.4 센트의 직접적인 가치 증가를 가져올 수 있다.

많은 경우에, 부화 이전에 생란(live egg)에 물질을 주입하는 것이 바람직하다. 조류 알에 각종 물질을 난내(卵內: in ovo) 주입하는 것은 통상 상업적인 양계 산업에서 부화후 치사율을 감소시키기 위해 또는 부화된 새의 성장율을 증가시키기 위해 채용되고 있다. 난내 주입에 사용된 또는 이를 위해 제안된 물질의 예로는 백신, 항생제 및 비타민이 포함된다. 난내 처리 물질 및 난내 주입 방법은 예를 들어 샤르마(Sharma) 등의 미국 특허 제 4,458,630 호 및 프레더릭슨(Fredericksen) 등의 미국 특허 제 5,028,421 호에 기재되어 있다.

물질의 난내 주입은 통상 (예를 들어, 펀치, 드릴 등을 사용하여) 주사 바늘로 난각을 찔러서 알의 내부까지(및 일부 경우에는 그 안에 담긴 조류 배아 내부까지) 관통 구멍을 생성하고 바늘을 통해서 하나 이상의 처리 물질을 주입함으로써 이루어진다. 난내 주입 장치의 일례가 헤브랭크(Hebrank)의 미국 특허 제 4,681,063 호에 개시되어 있다. 이 장치는 알과 주사 바늘을 상호 고정된 위치에 배치하고, 복수의 알을 고속으로 자동 주입하도록 설계되어 있다. 주입 처리의 장소(site) 및 시간의 선택은 주입되는 물질의 효과뿐 아니라, 주입된 알 또는 처리된 배아의 치사율에 영향을 미칠 수 있다. 예를 들어, 샤르마 등의 미국 특허 제 4,458,630 호, 헤브랭크의 미국 특허 제 4,681,063 호, 및 쉬크스(Sheeks) 등의 미국 특허 제 5,158,038 호를 참조하기 바란다.

상업적인 양계에 있어서, 통상적으로 상업적인 계란의 약 60% 내지 90%만이 부화한다. 부화하지 않는 알은 무정란뿐 아니라 죽어버린 유정란을 포함한다. 무정란은 한 세트에서 전체 알의 약 5% 내지 약 25%까지를 포함할 수 있다. 상업적인 양계에서 겪게 되는 무정란의 개수, 자동화된 난내 주입 방법의 사용 증가, 및 처리 물질의 비용으로 인해, 생란을 정확히 식별하고 생란만 선택적으로 주입하기 위한 자동화된 방법이 요망된다.

생란과 비생란을 식별가능한 것이 중요한 다른 적용이 있다. 이들 적용 중 하나는 생란에 백신을 배양 및 채취하는 것이다("백신 생산란"으로 지칭됨). 예를 들어, 인간 인플루엔자 백신 생산은 배아 발생의 약 11일째 시기의 계란(Day-11 egg)에 종균(seed virus)을 주입하고, 바이러스를 약 이틀 동안 성장할 수 있게 하며, 알을 냉각시켜 배아를 안락사시킨 후, 알에서 양수를 채취함으로써 달성된다. 통상적으로, 알은 비생란의 제거를 용이하게 하기 위해 종균 주입 전에 검란된다. 백신 생산란은 종균이 주입되기 전에 하루 이상 검란될 수 있다. 백신 생산에 있어서 생란의 식별은, 종균이 비생란에서 폐기되는 것을 방지하고 비생란의 수송 및 폐기와 관련한 비용을 절감할 필요가 있으므로 중요한 일이다.

헤브랭크의 미국 특허 제 4,955,728 호 및 제 4,914,672 호는 생란을 무정란과 식별하기 위해 알에서 방출되는 적외선 및 적외선 검출기를 사용하는 검란 장치를 기재하고 있다. 헤브랭크 등의 미국 특허 제 5,745,228 호는 알의 대향하는 양쪽에 배치되도록 구성되는 광검출기 및 광출사기를 구비하는 검란 장치를 기재하고 있다. 빛은 각각의 광출사기로부터 짧은 연속 발사 간격으로 발생되고 대응하는 광검출기는 그 대응 광출사기가 작동하는 동안 감시한다. 알 판(egg flat)은 각각의 검출기-소스 쌍이 활동하고 다른 모든 쌍은 활동하지 않는 상태에서 검란 장치를 통해서 이동하는 동안 "스캐닝"된다.

열에 기초한(thermal-based) 검란 시스템은 시간당 약 50,000개 내지 100,000개의 알 스트림(egg stream) 중에서 썩은 알을 검출할 수 있다. 불행히도, 알 마다의 열 편차로 인해, 열에 기초한 검란 시스템은 생란과 비생란을 잘못 식별할 수도 있다. 또한, 열에 기초한 검란 시스템은 17일째 알(day 17 egg)보다 적은 열을 발생하는 배아에서는 덜 정확할 수 있다.

생란을 고도의 정확성으로 검출할 수 있는 배아 심장박동(맥박) 검출 방법이 공지되어 있다. 예를 들어, 헤브랭크의 미국 특허 제 6,860,225 호는 광 강도의 주기적인 변동이 배아 맥박의 존재를 나타내는 검란 방법을 기재하고 있다. 미첼(Mitchell)의 미국 특허 제 5,173,737 호는 배아 운동을 자극하기 위해 알에 빛을 조사하여 그 결과적인 배아 운동을 측정함으로써 알이 생 배아를 포함하고 있는지를 식별하는 방법을 기재하고 있다. 불행히도, 미첼의 방법은 시간 소모적일 수 있으며, 빛의 자극에 대해 움직이지 않는 생 배아를 정확히 검출할 수 없다.

종래에는, 알을 그 안의 기실(air cell)이 위로 향하도록 좁은 단부를 아래로 하여 부화 및 난내 처리를 위한 캐리어 내에 배치하는 것이 바람직했다. 불행히도, 일부 알은 거의 구형 형상이므로, 어느 단부가 알의 좁은 단부인지를 판정하기 어려울 수 있다. 역전된(inverted) 알(즉, 기실이 아래쪽에 있거나 측부에 있도록 캐리어 내에 배치된 알)은 기실이 위로 향하여 배치된 알에 비해 약 30% 정도 가 덜 부화된다. 또한, 역전된 알의 난내 주입은 정확히 양막을 찌르는 대신 배아 및 난황을 찌를 수 있으며, 하나 이상의 난각막(membrane)을 손상시킬 수 있다. 역전된 알이 백신 생산에 사용되면, 종균이 정확한 난 구획(egg compartment)에 배치되지 못할 수 있으며, 채취 작업 중에 그것으로로부터 물질이 누설될 수 있는 바, 이는 바람직하지 않다. 마찬가지로, 측부 기실을 갖는 알 역시 채취 중에 내용물이 누설되는 경향이 있으므로 백신 생산에 바람직하지 않은 것으로 간주된다.

불행히도, 기존의 검란 기술들은 역전된 알을 검출할 수 없다. 따라서, 생란과 비생란을 신속히 검출할 수 있고 또한 캐리어 내의 역전된 알을 검출할 수 있는 검란 기술이 요구되고 있다.

전술한 내용을 감안하여, 비생란, 역전된 알, 및 측부 기실란을 신속히 식별할 수 있는 알 검란 방법 및 장치가 제공된다. 본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 알 검란 방법은 복수의 포란된 알(incubated egg)을 알이 포란된 온도와 상이한 온도의 환경에 노출시키는 단계, 알의 열 화상을 취득하는 단계, 및 열 화상을 분석하여 각각의 알에 대한 표면 온도 정보를 취득하는 단계를 포함한다. 본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 알의 열 화상을 취득하는 단계는, 캐리어 내의 알의 하향 표면의 열 화상을 취득하는 단계, 및 알의 하향 표면의 중심 구역의 표면 온도가 인접한 알들의 하향 표면의 중심 구역의 표면 온도에 비해 소정량만큼 낮으면 비생란으로 지정하는 단계를 포함한다.

본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 알의 열 화상을 취득하는 단계는, 캐리어 내의 알의 하향 또는 상향 표면의 열 화상을 취득하는 단계, 및 알의 표면 온도가 인접한 알들의 대응하는 하향 또는 상향 표면의 표면 온도에 비해 소정량만큼 낮거나 높으면 역전된 알로 지정하는 단계를 포함한다.

본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 알의 열 화상을 취득하는 단계는, 캐리어 내의 알의 하향 표면의 열 화상을 취득하는 단계, 및 상기 하향 표면이 각각 상이한 온도의 두 구역을 가지면 역전된 알로 지정하는 단계를 포함하며, 상기 온도 차이는 소정량보다 크다.

본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 캐리어 내의 각각의 알의 상향 표면 온도와 인접한 알들의 평균 표면 온도 사이의 차이가 계산된다. 알의 표면 온도가 인접한 알들의 이 평균 표면 온도를 소정량만큼 초과하면 그 알은 역전된 것으로 지정된다.

본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 알의 열 화상을 취득하는 단계는 상향 및 하향 알 표면의 상부 및 하부 열 화상을 각각 취득하는 단계를 포함한다. 이후 각각의 알의 어느 표면이 더 높은 온도를 갖는지를 판정하기 위해 각각의 알의 각 상부 및 하부 열 화상이 비교된다. 상향 표면의 온도가 각각의 하향 표면의 온도보다 높으면 역전된 알로 지정된다.

본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 알의 열 화상을 취득하는 단계는, 캐리어 내의 알의 상향 표면의 열 화상을 취득하는 단계, 및 알의 상향 표면의 온도가 그 표면에 걸쳐서 균일하면 역전된 알로 지정하는 단계를 포함한다.

본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 알의 열 화상을 취득하는 단계는, 캐리어 내의 알의 하향 또는 상향 표면의 열 화상을 취득하는 단계를 포함하고, 알 표면의 에지 부분의 온도가 알 표면의 잔여 부분의 온도보다 낮으면 측부에 기실이 위치한 알로 지정하는 단계를 추가로 포함한다.

본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 알은 열 화상이 취득되고 있을 때 캐리어로부터 취출되고 회전된다.

본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 알 검란 장치는 캐리어에 지지되는 복수의 알의 열 화상을 취득하도록 구성된 열 촬상(thermal imaging) 카메라, 및 알의 열 화상을 분석하고 각각의 알에 대한 표면 온도 정보를 취득하며 각각의 알을 생란/비생란, 역전된 알, 또는 측부 기실란으로 지정하도록 구성되고 상기 열 촬상 카메라와 연결되는 프로세서를 구비한다.

도 1은 본 발명의 몇몇 실시예에 따른, 생란/비생란, 역전된 알, 및 측부 기실란을 검출하기 위한 동작의 흐름도,

도 2는 본 발명의 몇몇 실시예에 따른, 열 카메라를 통해서 알 위에서 찍은 알 판의 열 화상 도시도,

도 3a 내지 도 3c는 본 발명의 몇몇 실시예에 따른, 알을 생란/비생란 또는 역전된 알로 지정하도록 구성되는 식별 알고리즘의 동작을 나타내는 흐름도,

도 4a 내지 도 4c는 본 발명의 몇몇 실시예에 따른, 역전된 알을 식별하기 위한 동작을 나타내는 흐름도,

도 4d 및 도 4e는 본 발명의 몇몇 실시예에 따른, 측부 기실란을 식별하기 위한 동작을 나타내는 흐름도,

도 5는 기실이 단부에 위치한 알의 단부의 열 화상의 외관 도시도,

도 6은 기실이 측부에 위치한 알의 단부의 열 화상의 외관 도시도,

도 7은 본 발명의 몇몇 실시예에 따른, 열 카메라가 알의 열 화상을 취득할 때 한 쌍의 이격된 롤러에 의해 회전되는 알의 도시도,

도 8은 본 발명의 몇몇 실시예에 따른, 알 처리 시스템의 블록도.

이제, 본 발명의 바람직한 실시예가 도시되어 있는 첨부도면을 참조하여 본 발명을 보다 충실하게 설명할 것이다. 본 발명은 그러나, 여러가지 다른 형태로 구체화될 수 있으며, 본 명세서에 기재된 실시예에 한정되는 것으로 해석되지 않아야 하며, 이들 실시예는 본 명세서가 충실하게 완성되도록 그리고 본 발명의 범위를 당업자에게 충실히 전달하기 위해 제공되는 것이다.

명세서 전체에 걸쳐서 유사한 구성요소는 유사한 도면부호로 지칭된다. 도면에서, 특정 선, 층, 부품, 요소 또는 특징부의 두께는 명료함을 위해 과장될 수 있다. 파선은 달리 언급되지 않는 한 선택적인 특징부 또는 작동을 나타낸다. 본 명세서에서 언급되는 모든 공보, 특허 출원, 특허 및 기타 참조문헌들은 그 전체가 본 명세서에 참고로 포함된다.

본 명세서에 사용되는 용어는 특정 실시예를 설명하기 위한 목적일 뿐이며, 본 발명을 제한하려는 의도가 아닌 것이다. 본 명세서에서 사용되는 단수 형태는 달리 언급되지 않는 한 복수 형태를 포함하도록 의도된다. 또한, "포함한다" 및/또는 "포함하는"이라는 용어가 본 명세서에 사용될 때, 이는 기술된 특징부, 정수, 단계, 동작, 요소 및/또는 부품의 존재를 특정하지만 그 하나 이상의 다른 특징부, 정수, 단계, 동작, 요소, 부품 및/또는 그룹을 배제하지는 않음을 알 것이다. 본 명세서에서 사용되는 "및/또는"이란 용어는 관련한 열거된 물품 중 하나 이상의 물품의 임의의 및 모든 조합을 포함한다. 본 명세서에서 사용되는 "X와 Y 사이" 및 "약 X와 Y 사이"라는 문구는 X와 Y를 포함하는 것으로 해석되어야 한다. 본 명세서에서 "약 X와 Y 사이"와 같은 문구는 "약 X와 약 Y 사이"를 의미한다. 본 명세서에서 "약 X에서 Y까지"와 같은 문구는 "약 X에서 약 Y까지"를 의미한다.

달리 규정되지 않는 한, 본 명세서에 사용되는 모든 용어(기술 용어 및 과학 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술 분야에서의 당업자가 통상 이해하는 것과 같은 의미를 갖는다. 또한 보편적으로 사용되는 사전에서 정의된 것과 같은 용어는 본 명세서 및 관련 기술에 관한 그 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석되어야 하며, 일부러 정의되지 않는 한 이상적이거나 지나치게 형식적인 의미로 해석되지 않아야 함을 알 것이다. 주지의 기능 또는 구조는 간명함을 위해 상세히 설명되지 않을 수 있다.

어떤 요소가 다른 요소에 대해 "그 위에(on)" 위치하거나, 그것에 "부착"되거나, 그것과 "결합"되거나, 그것과 "접촉"되는 등으로 언급될 때, 이는 상기 다른 요소에 대해 직접 그 위에 위치하거나, 그것에 부착되거나, 그것과 결합되거나, 그것과 접촉될 수 있거나, 또는 중개(intervening) 요소가 존재할 수도 있음을 알 것이다. 대조적으로, 어떤 요소가 다른 요소에 대해 예를 들어 "직접 그 위에" 위치하거나, "직접 그것에 부착"되거나, "직접 그것과 결합"되거나, "직접 그것과 접촉"하는 것으로 언급되어 있을 때는 중개 요소가 전혀 존재하지 않는 것이다. 당업자라면 또한, 다른 특징부에 대해 "인접하여" 배치되는 구조물 또는 특징부에 대한 언급은 인접한 특징부에 중첩되거나 그 아래에 놓이는 부분을 가질 수 있음을 알 것이다.

"하위(under)", "아래(below)", "하부(lower)", "위(over)", "상부(upper)" 등과 같은 공간적으로 상대적인 용어들은 본 명세서에서 도면에 도시하듯이 다른 요소(들) 또는 특징부(들)에 대한 하나의 요소 또는 특징부의 관계를 설명하기 위해 사용될 수 있다. 공간적으로 상대적인 용어들은 도면에 도시된 배향에 추가적으로 사용 중이거나 작동 중인 장치의 다양한 배향을 망라하도록 의도된 것임을 알 것이다. 예를 들어, 도면의 장치가 역전되면, 다른 요소 또는 특징부의 "하위" 또는 "아래"로 기술된 요소들은 다른 요소 또는 특징부의 "위"에 배향될 것이다. 따라서, 예시적인 "아래"라는 용어는 "위"와 "아래"의 배향을 둘 다 망라할 수 있다. 장치는 달리 배향될 수도 있으며(90도 회전되거나 다른 배향으로 있을 수 있음) 본 명세서에 사용되는 공간적으로 상대적인 기술어는 그에 따라 해석될 수 있다. 마찬가지로, "상향", "하향", "수직", "수평" 등의 용어는 본 명세서에서 달린 언급되지 않는 한 단지 설명을 위해서 사용되고 있다.

본 명세서에서 "제 1", "제 2" 등과 같은 용어가 각종 요소, 부품, 영역, 층 및/또는 섹션을 기술하기 위해 사용될 수 있지만, 이들 요소, 부품, 영역, 층 및/또는 섹션은 이들 용어에 의해 제한되지 않아야 함을 알 것이다. 이들 용어는 단지 하나의 요소, 부품, 영역, 층 또는 섹션을 다른 요소, 부품, 영역, 층 또는 섹션과 식별하기 위해 사용된다. 따라서, 후술되는 "제 1" 요소, 부품, 영역, 층 또는 섹션은 또한 본 발명의 사상을 벗어나지 않으면서 "제 2" 요소, 부품, 영역, 층 또는 섹션으로 지칭될 수 있다. 작동(또는 단계)의 순서는 달리 언급되지 않는 한 청구범위나 도면에 제시된 순서에 한정되지 않는다.

본 명세서에 사용되는 "역전된 알(inverted egg)"이란 용어는 그 내부의 기실이 알의 상향 단부가 아닌 알의 바닥에 배치되도록 캐리어 내에 배치된 알을 의미한다.

본 명세서에 사용되는 "측부 기실란(side air cell egg)"이란 용어는 그 내부의 기실이 완전히 알의 상향 또는 하향 단부에 배치되지 않고 알의 측부에 배치되도록 캐리어 내에 배치된 알을 의미한다.

본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 비생란은 알의 열 화상을 분석함으로써 검출될 수 있다. 알 내의 기실 위치도 알의 열 화상을 분석함으로써 검출될 수 있다. 본 발명의 당업자에게 알려져 있듯이, 임의의 주어진 환경에서, 대부분의 알에 대한 껍질 온도는 알의 내용물의 온도에 근접할 것이다. 예를 들어, 17일 내지 18일란(Day 17 to 18 egg)의 내용물은 부화 도중의 알을 둘러싸는 환경의 온도보다 약 1℃ 높다. 알을 인큐베이터에서 취출할 때, 알과 그 내용물은 약 한 시간 내지 두 시간에 걸쳐서 실온으로 서서히 냉각된다. 기실의 온도는 실온과 알 내용물의 온도 사이의 대략 중간에 있다. 기실 위의 껍질의 온도는 알이 인큐베이터에서 취출된 후 1분 이내에 주위 환경에 보다 가까운 온도로 떨어진다.

본 발명의 몇몇 실시예에 따른 열 카메라(즉, 적외선 카메라)는 알의 기실과 주변부 사이의 비교적 큰 온도차로 인해 알 내의 기실을 검출할 수 있다. 위로 향하는 기실은 열 화상에서 예를 들어 알 직경의 약 2/3의 직경을 갖는 저온의(cool) 대체로 원형의 영역으로서 나타날 것이다. 기실이 알의 바닥에 위치하는 역전된 알은 열 화상에서 위로 향하는 저온 영역이 거의 또는 전혀 없는 것으로 나타날 것이다. 그 측부에 기실이 위치하는 알은 열 화상에서 작은 저온 영역이 알의 측부를 따라서 나타날 것이다.

먼저 도 1을 참조하면, 본 발명의 몇몇 실시예에 따른, 생란, 역전된 알 및 측부 기실란 검출 방법이 도시되어 있다. 복수의 생란으로 추정되는 알이 인큐베이터로부터 취출되어 알이 포란된 온도와 상이한 온도를 갖는 환경에 놓인다(블록 100). 이 환경의 온도는 부화 온도보다 높거나 낮을 수 있다.

당업자라면 알 수 있듯이, 알은 알 판과 같은 캐리어 내에서 부화 및 처리된다. 알 판은 일곱 줄의 횡열(row)과 같은 임의의 횡열 수의 알을 수용할 수 있으며, 여섯 및 일곱 횡열이 가장 보편적이다. 또한, 인접한 횡열에 있는 알들은 "사각형" 판에서와 같이 서로 평행하거나, 또는 "오프셋" 판에서와 같이 지그재그 관계에 있을 수 있다. 적합한 상업적 판의 예로는 "CHICKMASTER 54" 판, "JAMESWAY 42" 판 및 "JAMESWAY 84" 판(각각의 경우에, 숫자는 판에 의해 운반되는 알의 수를 나타냄)이 포함되지만, 이것에 한정되지는 않는다. 알 판은 당업자에게 주지되어 있으므로 본 명세서에서 더 설명할 필요가 없을 것이다. "판" 및 "캐리어"라는 용어는 본 명세서에서 상호 교환가능하게 사용되도록 의도된 것이다.

인큐베이터에서 취출된 후, 캐리어 내의 알의 열 화상이 열 카메라(즉, 적외선 파장 화상을 캡처하도록 구성된 카메라)를 통해서 취득된다(블록 110). 캐리어 내의 복수의 알의 예시적인 열 화상이 도 2에 도시되어 있다. 본 발명의 실시예에 따라 사용될 수 있는 예시적인 열 카메라로는 윌슨빌 오레곤 소재의 FLIR Systems, Inc.로부터 입수가능한 FLIR Thermovision® A20 및 FLIR Thermovision® 320 카메라가 포함되지만 이것에 한정되지는 않는다. 열 화상을 취득하는 단계는 알의 상향 표면의 화상을 취득하는 단계, 알의 하향 표면의 화상을 취득하는 단계, 또는 알의 상향 및 하향 표면의 화상을 둘 다 취득하는 단계를 포함할 수 있다. 본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 외부 소스로부터의 적외선 방출로부터 알과 열 카메라를 보호하는 인클로저 내에 알 캐리어가 설치될 수 있다.

각각의 알에 대한 표면 온도 정보를 취득하기 위해 알의 열 화상은 디지털화된 후 분석된다(블록 120). 표면 온도 정보를 사용하여, 각각의 알이 이후 식별 알고리즘을 거쳐서 생란/비생란, 역전된 알 또는 측부에 기실이 위치하는 알(즉, 측부 기실란)로 지정된다(블록 130).

알의 열 화상은 터진 썩은 알["포퍼(popper)"로 지칭됨]로부터의 잔해를 포함하는 잔해와 깃털에 의해 방해받을 수 있다. 예를 들어 Mathworks' Matlab Image Toolbox와 같은 시중에서 구입할 수 있는 화상 분석 프로그램은 깃발 및 잔 해의 효과를 최소화하기 위해 사용될 수 있는 히스토그램 평활화 및 스트레칭, 화상의 형태학적 개방 또는 폐쇄, 화상 팽창 및 침식(dilation and erosion), 에지 파인더(edge finder), 및 최대값/최소값 변환(maxima/minima transform)과 같은 각종 디지털 화상 처리 및 알고리즘 개발 도구를 제공한다. 예를 들어, 최대값/최소값 변환과 결합된 화상 팽창 및 침식은 개별 알의 고온 영역을 격리될 수 있게 함으로써 고강도 영역에 집중하기 위해 사용될 수 있다. 고강도는 고온에 직접 대응하므로, 본 출원인은 외래 물질 및 잔해로부터의 영향이 없이 알의 온도가 측정될 수 있음을 알아냈다. 화상 팽창은 화상 중의 객체의 외곽선에 소정의 방식으로 픽셀을 추가하여 효과적인 객체 영역을 증가시키는 반면에, 화상 침식은 소정 영역보다 작은 모든 객체가 화상으로부터 침식되도록 객체의 외곽선에서 픽셀을 제거한다. 추가되거나 제거되는 픽셀의 양은 소정 요소에 의해 제어된다.

히스토그램 평활화 및 히스토그램 스트레칭은 열 화상이 취득되는 일정하지 않은 열 환경에 의해 제공되는 문제들을 극복하기 위해 사용될 수 있다. 예를 들어, "타일(tile)"로 지칭되는 화상 중의 작은 영역에서 작동하는 "콘트라스트-제한된 적응형 히스토그램 평활화"로 불리는 기술이 사용될 수 있다. 타일은 열 화상의 사각형 영역이며, 정해진 관심 구역으로 설명될 수 있다. 타일의 크기는 각각의 개별 알이 판에 안착되는 크레이들(cradle)의 크기와 일치한다. 평활화 공정은 각각의 타일에서의 콘트라스트를 향상시킬 수 있으며, 따라서 각각의 출력 부분의 히스토그램은 소정 히스토그램에 근사한다. 이들 타일은 이후, 예를 들어 인공으로 유도된 외곽선을 제거하기 위한 양선형 보간법(bilinear interpolation)을 사용 하여 재조합될 수 있다.

일단 깃털 및 잔해의 효과를 감소시키고 일정하지 않은 열 환경의 효과를 극복하기 위해 알의 열 화상에 대해 각종 촬상 기술이 적용되면, 열 화상은 어느 알이 생란/비생란, 역전된 알, 또는 측부 기실란인지를 식별하기 위해 후술하듯이 분석될 수 있다.

식별 알고리즘

도 3a 내지 도 3c를 참조하면, 본 발명의 몇몇 실시예에 따른, 생란/비생란 또는 역전된 알을 각각 지정하기 위한 동작 순서가 도시되어 있다. 캐리어 내의 알에 대한 열 화상 및 광 불투명도 데이터는 초기에 수집되고(블록 200) 캐리어 내의 각각의 알은 불투명도 데이터에 기초하여 선명, 비선명 또는 불명으로 지정된다(블록 202). 캐리어 내의 다른 모든 알은 생란으로 지정되며, 이 지정은 추가 처리에서 정보가 취득됨에 따라 수정될 수 있다. 캐리어 내의 각 알의 자세 추적 및 각 알의 대응 지정[즉, 생란, 선명, 불명, 쿨(cool), 콜드(cold)]을 유지하는 매트릭스가 생성된다(블록 204).

열 카메라에 의해 캡처되는 캐리어내 알의 상향 표면의 열 화상("상부 화상"으로 지칭됨)은 이후 각각의 알의 중심에서의 단일 온도를 제공하도록 분석된다(블록 206). 이후 상부 화상 온도는 인접한 비선명 알에 대한 지정된 선명한 알의 표면 온도 사이의 평균 차이를 계산함으로써 수정되고, 그 값은 선명한 알 표면 온도에 추가된다(블록 208). 주위 알의 평균 온도에 대한 각각의 알의 온도 사이의 차이가 계산된다(블록 210). 이 차이가 1.0℃보다 크면(즉, 알이 그 이웃보다 따뜻 하면), 그 알은 알 상태 매트릭스에서 뒤집히거나(upside down) 역전된 것으로 지정되는 바, 즉 그 알은 알 상태 매트릭스에서 뒤집히거나 역전된 알로 식별된다(블록 212).

열 카메라에 의해 캡처되는 캐리어내 알의 하향 표면의 화상("하부 화상"으로 지칭됨)을 사용하여, 그 화상 처리는 각각의 알에 대한 하부 표면 온도(BST: bottom surface temperature)를 확립한다(블록 214). 매우 찬 BST를 갖는 알(예를 들어, 평균 판 온도보다 적어도 2℃ 낮은 BST를 갖는 알)은 콜드로 지정된다(블록 216). 선명한 알로 지정된 알의 BST와 각각의 선명한 알의 살아있는 이웃(즉, 알 상태 매트릭스에서 살아있는 것으로 지정되는 특정 선명 알에 인접한 알)의 BST 사이의 차이가 계산되고(블록 218), 캐리어 내의 모든 선명한 알에 대해 평균 차이가 계산된다(블록 220). 평균 계산은 콜드, 역전 또는 불명으로 지정된 알을 배제한다. 평균 생/비생(live/non-live) 차이가 모든 선명한 알의 BST에 추가된다(블록 222). 역전, 불명, 및 콜드 알의 BST는 선명, 불명, 콜드 또는 역전이 아닌 그 각각의 이웃 알의 이 평균 BST로 대체된다(블록 224).

이후 각 횡열에서의 중간 BST를 비교함으로써 캐리어를 가로지르는 알 온도의 차이에 대해 수정이 실시된다(블록 226). 이 수정은 모든 횡열에서의 중간 BST 알을 평균처리한 후 각 횡열에서의 중간 BST를 전체 평균에 비교함으로써 이루어진다. 각 횡열에서의 모든 알에 대한 BST 온도는 이후 횡열의 중간 BST가 전체 평균에 못 미치는 양만큼 상승된다. 이 작업은 모든 횡열에 대해 실시된다. 수정은 이후 각 캐리어 내의 알의 종열(column)에 대해 이루어진다(블록 228). 종열 수정 은 먼저 각각의 종열에서의 중간 BST를 평균 처리하고 이어서 각각의 종열에서의 중간 BST를 전체 평균에 비교함으로써 이루어진다. 각 종열에서의 모든 알에 대한 BST 온도는 이후 종열의 중간 BST가 전체 평균에 못미치는 양만큼 상승된다. 이 작업은 모든 종열에 대해 실시된다. 각각의 알의 BST와 그 이웃하는 알의 평균 BST 사이의 차이가 계산된다(블록 230). 이 차이가 -0.7℃ 미만이면, 그 알은 알 상태 매트릭스에서 차가운 것으로 지정되며 그 BST는 평균 생 온도로 대체된다(블록 232). 블록 230 내지 232의 단계는 차가운 알이 추가로 일절 발견되지 않을 때까지 반복된다.

비생란 지정

본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 어떤 알의 하향 표면의 중심 구역의 표면 온도가 인접한 알의 하향 표면의 중심 구역의 표면 온도에 비해서 소정량만큼 낮으면 비생란으로 지정된다. "인접한 알"이란 용어는 캐리어 내에서 특정 알과 바로 이웃하는 알을 지칭한다. 본 출원인은 하향 표면의 중심 구역 온도가 이웃하는 알보다 대체로 0.5℃ 내지 2.5℃ 낮은 알은 비생란이 될 것임을 알아냈다. 특히, 본 출원인은 인접한 알보다 2℃ 이상 낮은 알은 비생란이거나 역전된 알이라는 것을 알아냈다. 또한, 본 출원인은, 판을 가로지르는 온도 차이에 대한 수정 이후, 알 주변의 생란의 평균 온도보다 1℃ 이상 차가운 알 역시 비생란임을 알아냈다.

캐리어내 알의 온도가 불균일할 수 있기(예를 들어, 바깥쪽 횡열과 종열은 빠른 속도로 차가워지는 반면 판의 안쪽에 있는 알은 차가운 외기에 덜 노출되어 서로 따뜻하게 유지될 수 있음) 때문에, 본 발명의 실시예에 따르면 식별 알고리즘 은 표면 온도 정보를 분석할 때 알이 캐리어 내의 어디에 위치하는지를 고려한다. 또한, 복수의 캐리어가 통상 동시에 부화되고 통상 적층 배치되므로, 적층체 내에서의 캐리어의 위치 또한 식별 알고리즘에 의해 고려된다. 본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 식별 알고리즘은, 횡열과 종열에서의 알의 중간 온도를 비교하고 각각의 횡열 또는 종열에서의 중간 알의 온도에 기초하여 횡열 또는 종열에서의 모든 알을 조절하는 평균화 처리를 이용한다. 중간 온도는 이것이 매우 높거나 매우 낮은 온도에서의 평균화에 기인한 편차를 회피함으로써 통계적으로 평균 온도보다 안정적이기 때문에 사용된다.

역전된 알 지정

본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 알의 하향 표면의 온도가 인접한 알의 하향 표면의 온도에 비해 소정량만큼 낮을 경우 역전된 알로서 지정된다. 알의 기실이 열 절연체로서 작용하므로, 알의 기실 단부는 알의 다른 부분보다 온도가 낮을 것이다. 따라서, 알의 하향 표면이 캐리어 내의 인접한 알의 하향 표면보다 낮은 온도에 있으면, 그 알은 캐리어 내에서 뒤집힐(즉, 역전될) 가능성이 있다. 예를 들어, 도 4a를 참조하면, 알 판의 열 화상을 아래로부터 촬상한다(블록 300). 이 화상은 각각의 알의 하부 중심 구역의 온도를 결정하기 위해 분석된다(블록 302). 각각의 알에 인접한 알들의 평균 온도가 계산되고(블록 304), 그 이웃보다 2.0도 이상 낮은 온도의 알은 역전된 것으로 지정된다(블록 306).

또한, 알의 하향 표면이 각각 다른 온도의 두 부분을 갖고 온도 차이가 소정량보다 크면 역전된 알로 지정될 수 있다. 도 5에 도시하듯이, 기실을 갖는 알(10)의 단부의 열 화상이 중심 구역(12) 및 상기 중심 구역(12)을 둘러싸는 주변 구역(14)의 두 구역으로 나타날 것이다. 중심 구역(12)의 표면 온도는 주변 구역(14)의 표면 온도보다 낮을 것이다. 또한, 상기 두 구역(도 5에서의 12, 14)은 통상 각각, 열 화상에서의 알의 전체 표면적의 적어도 10%를 포함할 것이다. 예를 들어, 도 4b를 참조하면, 알 판의 열 화상이 아래로부터 촬상된다(블록 310). 이 화상을 분석하여 각각의 알에 대해 두 개의 온도 구역이 있는지를 판정한다(블록 312). 하나의 구역이 1.0도 더 따뜻한 두 개의 온도 구역을 갖는 알은 역전된 것으로 지정된다(블록 314).

또한, 알의 상향 표면의 표면 온도가 인접한 알의 상향 표면 온도보다 높으면 역전된 알로 지정될 수 있다. 도 5에 도시하듯이, 알 안의 기실은 절연체로서 작용할 것이며, 기실이 위치하는 알의 단부에서의 표면 온도는 알의 다른 부분보다 낮을 것이다. 따라서, 알이 역전되면, 기실은 상향 단부에 존재하지 않을 것이며 그 상향 단부의 표면 온도는 상향 단부에 기실을 갖는 인접한 알의 상향 단부의 표면 온도에 비해 높을 것이다. 예를 들어, 도 4c를 참조하면, 알 판의 열 화상이 위로부터 촬상된다(블록 320). 이 화상을 분석하여 각각의 알의 상부 중심 구역의 온도를 결정한다(블록 322). 각각의 알에 인접한 알의 평균 온도가 계산되고(블록 324), 그 이웃보다 2.0도 이상 따뜻한 알은 역전된 것으로 지정된다(블록 326).

본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 알의 상향 표면의 온도가 인접한 알의 평균 표면 온도를 소정량만큼 초과할 경우 역전된 알로 지정될 수 있다.

본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 알의 상향 및 하향 표면 양자의 열 화상이 취득되고 상향 표면의 온도가 하향 표면의 온도보다 높을 경우 역전된 알로 지정될 수 있다.

본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 알의 상향 표면의 온도가 그 표면에 걸쳐서 균일할 경우 역전된 알로 지정될 수 있다. 전술했듯이, 기실을 갖는 알의 단부의 열 화상은 도 5에 도시하듯이 나타날 것이며, 기실의 존재로 인해 균일한 온도를 갖지 않을 것이다. 따라서, 역으로, 기실을 갖지 않는 알의 단부의 표면 온도는 실질적으로 균일할 것이다.

측부 기실란 지정

본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 알 표면의 에지 부분에서의 온도가 알 표면의 잔여 부분의 온도보다 낮을 경우 측부 기실란으로 지정될 수 있다. 도 6에 도시하듯이, 기실이 단부가 아닌 측부에 위치한 알(10)의 단부의 열 화상은 측부 부분/구역에 있는 저온 구역(16) 및 이보다 높은 온도를 갖는 잔여 구역(18)의 두 구역으로 나타날 것이다. 이는 알의 상향 표면 또는 하향 표면의 열 화상에 적용된다. "측부 부분(side portion)"이란 용어는 알의 상부 또는 하부의 열 화상에서 볼 수 있는 임의의 에지 및/또는 측부 구역을 포함하도록 의도된 것이다. 예를 들어, 도 4d를 참조하면, 알 판의 열 화상이 위로부터 촬상된다(블록 330). 이 화상을 분석하여 각각의 알에 대해 두 개의 온도 구역이 존재하는지를 판정한다(블록 332). 하나의 구역이 1.0도 더 따뜻하고, 상대적으로 더 차가운 구역이 알의 측부로 연장되는 두 온도 구역을 갖는 알은 측부 기실란으로 지정된다(블록 334).

도 4e를 참조하면, 알 판의 열 화상이 아래로부터 촬상된다(블록 340). 이 화상을 분석하여 각각의 알에 대해 두 개의 온도 구역이 존재하는지를 판정한다(블록 342). 하나의 구역이 1.0도 더 차갑고, 상대적으로 더 차가운 구역이 알의 측부로 연장되는 두 온도 구역을 갖는 알은 측부 기실란으로 지정된다(블록 344).

도 7을 참조하면, 본 발명에 따르면, 알은 캐리어로부터 제거될 수 있고, 알의 열 화상이 취득되고 있을 때 알을 회전시키는 장치 내에 배치될 수 있다. 예를 들어, 도시된 실시예에서, 알(10)은 같은 방향으로 회전하는 두 개의 롤러(20, 22) 사이에 배치된다. 회전 롤러(20, 22)는 알(10)이 그 축 주위로 회전하게 만든다. 회전하는 알(10) 위에 열 카메라(30)가 배치되며, 이는 알이 그 축 주위로 회전할 때 알(10)의 전체 표면의 열 화상을 캡처한다.

알 처리 시스템

도 8을 참조하면, 본 발명의 몇몇 실시예에 따른 알 처리 시스템(400)의 블록도가 도시되어 있다. 도시된 시스템(400)은, 알(10)의 판(또는 다른 캐리어)(5)을 이송하는 컨베이어 시스템(410)과, 상기 컨베이어 시스템(410) 및 전술한 생란/비생란, 역전된 알 및 측부 기실란을 식별하는 콘트롤러(460)와 작동적으로 연관된 열 검란 스테이션(420)을 구비한다. 도시된 시스템(400)은 또한, 알 판(5)으로부터 알(예를 들면, 생란 또는 비생란, 역전된 알, 측부 기실란)을 선택적으로 제거하도록 구성되는 알 제거 스테이션(430), 및 알 처리 스테이션(440)을 구비한다.

작동 시에, 알(10)의 판(5)은 인큐베이터로부터 컨베이어 시스템(410)을 거쳐서 열 검란 스테이션(420)으로 이송된다. 각종 형태의 컨베이어 시스템이 본 발명의 실시예와 함께 사용될 수 있다. 알 이송 시스템은 당업자에게 주지되어 있으 며, 따라서 본 명세서에서 더 설명할 필요가 없을 것이다. 열 검란 스테이션(420)은 판(5)에 있는 알(10)의 일부 또는 전부의 열 화상을 캡처하도록 구성되는 하나 이상의 열 카메라(예를 들면, FLIR Thermovision® A20, FLIR Thermovision® 320 카메라 등)를 포함한다. 본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 열 카메라는 알(10)의 상향 표면의 열 화상을 취득하도록 구성될 수 있으며, 다른 열 카메라는 알(10)의 하향 표면의 열 화상을 취득하도록 구성될 수 있다. 이들 열 카메라는 예를 들어 알(10)의 각 단부 근처에 배치될 수 있다. 본 발명의 몇몇 실시예에 따르면, 단일의 열 카메라는 알의 양 단부를 동시에 또는 순차적으로 보기 위해 하나 이상의 거울과 함께 사용될 수 있다.

콘트롤러(460)는 열 검란 스테이션(420), 컨베이어 시스템(410), 알 제거 스테이션(430), 및 알 처리 스테이션(440)의 작동을 제어한다. 콘트롤러(460)는 열 검란 스테이션(420)의 열 카메라를 알(10) 판에 대해 정확하고 신속하게 배치하도록 구성된다. 콘트롤러(460)는 도 3a 내지 도 3c 및 도 4a 내지 도 4e를 참조하여 전술한 바와 같이 열 검란 스테이션(420)에 의해 포착된 알의 열 화상을 저장 및 분석하도록 구성된다. 대안적으로, 콘트롤러(460)는 캡처된 열 화상을 분석을 위해 외부 처리기로 전송할 수도 있다. 조작자가 콘트롤러(460)와 상호작용할 수 있도록 조작자 인터페이스(예를 들면, 디스플레이)(470)가 제공될 수 있다.

비생란, 역전된 알, 또는 측부 기실란으로 지정된 알은 알 제거 스테이션(430)을 통해서 판(5)으로부터 제거될 수 있다. 대안적으로, 역전된 알은 캐리어 내에서 기실 단부가 위로 향하도록 재배향될 수도 있다. 알 제거 스테이 션(430)은 지정된 비생란이 손으로 제거되는 수동 스테이션일 수 있다. 대안적으로, 알 제거 스테이션(430)은 자동으로 또는 로봇 방식으로 작동할 수도 있다. 예를 들어, 알 제거 스테이션(430)은 미국 특허 제 4,681,063 호 또는 미국 특허 제 5,017,003 호에 개시된 흡입형 리프팅 장치를 채용할 수도 있다. 알을 판에서 자동으로 및 로봇 방식으로 제거하여 다른 장소로 수송하기 위한 다양한 장치 및 방법이 제한없이 본 발명의 실시예와 함께 사용될 수도 있다. 알 제거 스테이션(430)의 기능을 발휘할 수 있는 예시적인 알 제거 장치가 미국 특허 제 6,145,668 호, 제 6,149,375 호, 제 6,213,709 호, 및 제 6,224,316 호에 기재되어 있다.

컨베이어(410) 상의 이 지점에서의 판(5)은 역전되지 않은 생란만을 수납하며, 처리 스테이션(440)(예를 들면, 접종, 백신 생산, 재료 샘플링 등)으로 진행할 수 있다. 예시적인 처리 스테이션(440)은 INOVOJECT® 자동 주사 시스템(미국 노쓰 캐롤라이나주 리서치 트라이앵클 파크 소재의 엠브렉스, 인코포레이티드)이다. 그러나, 본 발명의 몇몇 실시예에 따르면 난내 송출 및/또는 제거가 가능한 다양한 기타 처리 스테이션이 사용될 수 있다.

실험 결과

<18일째 결과>

다른 3일에 걸쳐서, 젊은 집단 및 늙은 집단(33주 및 51주)의 양자로부터의 28,800개의 18일째(Day 18) 알 모두를 처리하고 분석하였다. 99.93% 정확히 식별된 생란, 99.91% 정확히 식별된 비생란, 및 99.95% 정확히 식별된 뒤집어진 알을 달성한 후 국면(phase) Ⅱ가 종료되었으며, 집단 나이는 생/사 판정의 정확성에 영향을 미치지 않는 것으로 판명되었다. (테스트 데이터의 완전한 표는 부록에서 찾아볼 수 있음).

<16일째 결과>

또한, 젊은 집단(33주)으로부터 9,600개의 16일째 알(Day 15.5)을 촬상 및 분석하였다. 18일째 분석에 의하면 젊은 집단 및 늙은 집단 알의 분석을 위한 정확성에 있어서 차이가 전혀 없었기에, 늙은 집단 나이는 이 연구에서 배제되었다. 발생 이후, 생란의 99.98%가 정확히 식별되고, 비생란의 99.32%뿐 아니라 뒤집혀 배치된 알의 100%가 정확히 검출되었음이 확립되었다.

높은 에러에 가장 크게 기여하는 인자는 "중간 후기 사망(late middle dead)"으로 식별되는 알에 기인하는 것이 밝혀졌다. 본 출원인의 분류에 있어서 사용되는 "중간 후기 사망"은 15일째 내지 18일째 사이에 죽은 배아를 지칭한다. 이들 "중간 후기 사망" 배아는 실제로 15.5일째에 여전히 살아있었을 것으로 합리적으로 추정될 수 있으므로, 수정된 통계는 다음과 같이 판독된다: 99.98% 정확히 식별된 생란, 99.90% 정확히 식별된 비생란, 및 100% 정확히 식별된 뒤집힌 알.

정확히 식별됨	18일째	15.5일째	15.5일째 (LM* 없음)
생란	99.93%	99.98%	99.98%
비생란	99.91%	99.32%	99.90%
뒤집힌 알	99.95%	100.00%	100.00%

*LM = Late Middle Dead(중간 후기 사망)(부화의 15일 내지 18일 사이에 발생한 사망)

정확성은 다음과 같이 정의된다:

이상은 본 발명을 예시한 것이며, 본 발명을 한정하는 것으로 간주되지 않아야 한다. 본 발명의 몇 가지 예시적인 실시예를 설명했지만, 당업자라면 본 발명의 신규한 사상 및 장점을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 수정예가 있을 수 있음을 쉽게 알 것이다. 따라서, 이러한 모든 수정예는 청구범위에서 한정되는 본 발명의 범위에 포함되도록 의도된다. 본 발명은 후술하는 청구범위와 그것에 포함되어야 하는 등가의 범위에 의해 한정된다.

Claims

알 검란 방법에 있어서,

복수의 포란된 알(incubated egg)을 알이 포란된 온도와 상이한 온도의 환경에 노출시키는 단계,

알의 열 화상(thermal image)을 취득하는 단계, 및

상기 열 화상을 분석하여 각각의 알에 대한 표면 온도 정보를 취득하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는

알 검란 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 알은 캐리어 내에 지지되며,

상기 알의 열 화상을 취득하는 단계는,

캐리어 내의 알의 하향 표면의 열 화상을 취득하는 단계를 포함하고,

알의 하향 표면의 중심 구역의 표면 온도가 인접한 알들의 하향 표면의 중심 구역의 표면 온도에 비해 소정량만큼 낮으면 비생란(non-live egg)으로 지정하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는

알 검란 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 알은 캐리어 내에 지지되며,

상기 알의 열 화상을 취득하는 단계는,

캐리어 내의 알의 하향 표면의 열 화상을 취득하는 단계를 포함하고,

알의 표면 온도가 인접한 알들의 표면 온도에 비해 소정량만큼 낮으면 역전된 알로 지정하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는

알 검란 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 알은 캐리어 내에 지지되며,

상기 알의 열 화상을 취득하는 단계는,

캐리어 내의 알의 하향 표면의 열 화상을 취득하는 단계를 포함하고,

상기 하향 표면이 각각 상이한 온도의 두 구역을 가지면 역전된 알로 지정하는 단계를 추가로 포함하며,

상기 온도 차이는 소정량보다 큰 것을 특징으로 하는

알 검란 방법.
제 4 항에 있어서,

상기 두 구역은 각각 열 화상에서의 알의 전체 표면적의 적어도 10%를 포함하는 것을 특징으로 하는

알 검란 방법.
제 4 항에 있어서,

상기 두 구역은 중심 구역, 및 상기 중심 구역을 둘러싸는 주변 구역을 포함하며,

상기 중심 구역의 표면 온도는 상기 주변 구역의 표면 온도보다 낮은 것을 특징으로 하는

알 검란 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 알은 캐리어 내에 지지되며,

상기 알의 열 화상을 취득하는 단계는,

캐리어 내의 알의 상향 표면의 열 화상을 취득하는 단계를 포함하고,

알의 표면 온도가 인접한 알들의 표면 온도에 비해 소정량만큼 높으면 역전된 알로 지정하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는

알 검란 방법.
제 1 항에 있어서,

각각의 알의 표면 온도와 인접한 알들의 평균 표면 온도 사이의 차이를 계산하는 단계, 및

알의 표면 온도가 인접한 알들의 평균 표면 온도를 소정량만큼 초과하면 역 전된 알로 지정하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는

알 검란 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 알은 그 상향 및 하향 표면이 보일 수 있도록 캐리어 내에 지지되며,

상기 알의 열 화상을 취득하는 단계는,

상향 및 하향 알 표면의 상부 및 하부 열 화상을 각각 취득하는 단계를 포함하고,

각각의 알의 어느 표면이 더 높은 온도를 갖는지를 판정하기 위해 각각의 상부 및 하부 열 화상을 비교하는 단계, 및

상향 표면의 온도가 각각의 하향 표면의 온도보다 높으면 역전된 알로 지정하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는

알 검란 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 알은 캐리어 내에 지지되며,

상기 알의 열 화상을 취득하는 단계는,

캐리어 내의 알의 상향 표면의 열 화상을 취득하는 단계를 포함하고,

알의 상향 표면의 온도가 그 표면에 걸쳐서 균일하면 역전된 알로 지정하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는

알 검란 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 알은 캐리어 내에 지지되며,

상기 알의 열 화상을 취득하는 단계는,

캐리어 내의 알의 하향 표면의 열 화상을 취득하는 단계를 포함하고,

알 표면의 측부 부분의 온도가 알 표면의 잔여 부분의 온도보다 낮으면 측부에 기실이 위치한 알로 지정하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는

알 검란 방법.
제 1 항에 있어서,

상기 알은 캐리어 내에 지지되며,

상기 알의 열 화상을 취득하는 단계는,

캐리어 내의 알의 상향 표면의 열 화상을 취득하는 단계를 포함하고,

알 표면의 측부 부분의 온도가 알 표면의 잔여 부분의 온도보다 낮으면 측부에 기실이 위치한 알로 지정하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는

알 검란 방법.
제 1 항에 있어서,

열 화상이 취득되고 있을 때 알을 회전시키는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는

알 검란 방법.
제 1 항에 있어서,

복수의 포란된 알을 알이 포란된 온도와 상이한 온도의 환경에 노출시키는 단계는, 알을 알이 포란된 온도보다 높은 온도에 노출시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는

알 검란 방법.
제 1 항에 있어서,

복수의 포란된 알을 알이 포란된 온도와 상이한 온도의 환경에 노출시키는 단계는, 알을 알이 포란된 온도보다 낮은 온도에 노출시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는

알 검란 방법.
알 검란 장치에 있어서,

캐리어에 지지되는 복수의 알의 열 화상을 취득하도록 구성된 열 촬상 카메라, 및

알의 열 화상을 분석하고 각각의 알에 대한 표면 온도 정보를 취득하도록 구성되며 상기 열 촬상 카메라와 연결되는 프로세서를 포함하는 것을 특징으로 하는

알 검란 장치.
제 16 항에 있어서,

상기 열 촬상 카메라는 캐리어 내의 알의 하향 표면의 열 화상을 취득하도록 구성되고,

상기 프로세서는 알의 하향 표면의 중심 구역의 표면 온도가 인접한 알들의 하향 표면의 중심 구역의 표면 온도에 비해 소정량만큼 낮으면 비생란으로 지정하도록 구성되는 것을 특징으로 하는

알 검란 장치.
제 16 항에 있어서,

상기 열 촬상 카메라는 캐리어 내의 알의 하향 표면의 열 화상을 취득하도록 구성되고,

상기 프로세서는 알의 표면 온도가 인접한 알들의 표면 온도에 비해 소정량만큼 낮으면 역전된 알로 지정하도록 구성되는 것을 특징으로 하는

알 검란 장치.
제 16 항에 있어서,

상기 열 촬상 카메라는 캐리어 내의 알의 하향 표면의 열 화상을 취득하도록 구성되고,

상기 프로세서는 상기 하향 표면이 각각 상이한 온도의 두 구역을 갖고 온도 차이가 소정량보다 크면 역전된 알로 지정하도록 구성되는 것을 특징으로 하는

알 검란 장치.
제 16 항에 있어서,

상기 열 촬상 카메라는 캐리어 내의 알의 상향 표면의 열 화상을 취득하도록 구성되고,

상기 프로세서는 알의 표면 온도가 인접한 알들의 표면 온도에 비해 소정량만큼 높으면 역전된 알로 지정하도록 구성되는 것을 특징으로 하는

알 검란 장치.
제 16 항에 있어서,

상기 프로세서는 각각의 알의 표면 온도와 인접한 알들의 평균 표면 온도 사이의 차이를 계산하고 알의 표면 온도가 인접한 알들의 평균 표면 온도를 소정량만큼 초과하면 역전된 알로 지정하도록 구성되는 것을 특징으로 하는

알 검란 장치.
제 16 항에 있어서,

상기 열 촬상 카메라는 알의 상향 및 하향 단부의 열 화상을 취득하도록 구성되고,

상기 프로세서는, 각각의 알의 어느 표면이 더 높은 온도를 갖는지를 판정하기 위해 각각의 상부 및 하부 열 화상을 비교하고, 상향 표면의 온도가 각각의 하향 표면의 온도보다 높으면 역전된 알로 지정하도록 구성되는 것을 특징으로 하는

알 검란 장치.
제 16 항에 있어서,

상기 열 촬상 카메라는 캐리어 내의 알의 상향 표면의 열 화상을 취득하도록 구성되고,

상기 프로세서는 알의 상향 표면의 온도가 그 표면에 걸쳐서 균일하면 역전된 알로 지정하도록 구성되는 것을 특징으로 하는

알 검란 장치.
제 16 항에 있어서,

상기 열 촬상 카메라는 캐리어 내의 알의 하향 표면의 열 화상을 취득하도록 구성되고,

상기 프로세서는 알 표면의 측부 부분의 온도가 알 표면의 잔여 부분의 온도보다 낮으면 측부에 기실이 위치한 알로 지정하도록 구성되는 것을 특징으로 하는

알 검란 장치.
제 16 항에 있어서,

상기 열 촬상 카메라는 캐리어 내의 알의 상향 표면의 열 화상을 취득하도록 구성되고,

상기 프로세서는 알 표면의 측부 부분의 온도가 알 표면의 잔여 부분의 온도보다 낮으면 측부에 기실이 위치한 알로 지정하도록 구성되는 것을 특징으로 하는

알 검란 장치.
제 16 항에 있어서,

열 화상이 취득되고 있을 때 알을 회전시키도록 구성되는 복수의 평행 롤러를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는

알 검란 장치.